JP3759643B2 - Cmosインバータ回路 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、CMOS集積回路デバイス、特に電力消費量を低減したCMOSインバータ集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
インバータや論理ゲートなどの従来のCMOSデバイスでは、p型チャンネル・デバイスもn型チャンネル・デバイスも、切り替えの遷移中に両デバイスとも「オン」になると、直線領域を通過する。電源から地面まで両デバイスを通過するドレイン電流は無駄になる(「通過」電流)。通過電流は、電源電流を監視しながら、負荷をかけずにこのような回路の遷移分析シミュレーションを行うことにより、正確に求めることができる。インバータの典型的な通過電流を、図1の6に示す。図1は、時間に対する通過電流を示す。
【0003】
この問題は、チャンネルが短いCMOSテクノロジーで製造された数百キロヘルツという比較的遅いクロック速度で作動する回路の設計により、さらに悪化する。このテクノロジーは、数百キロヘルツの範囲のクロック速度で作動でき、ゲートの遅延は1ナノ秒未満である。クロック速度が比較的遅いと、p型チャンネルとn型チャンネルとの両デバイスが「オン」になる時間が長くなり、「オン」が長くなると、その結果、電源から地面までに電流が流れる時間が長くなる。
【0004】
この問題は、バッテリー駆動の発振器回路、および電力消費量が特に重要なパラメータとなる場合に、明瞭である。バッテリー駆動の発振器のこのような用途は、ペン入力コンピュータに見られることがある。ペン入力コンピュータでは、ペンが信号を発し、信号は、ペンとパッドまたはテンプレートとの間の位置を一致させるのに使用される。ペンに使用される発振器の周波数は、外部のコンポーネントによって規定される。信号の波形は正弦波である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
改良型のインバータ回路を提供することが、本発明の目的である。
【0006】
改良型のCMOSインバータ回路を提供することが、本発明の別の目的である。
【0007】
電力消費量を低減したインバータ回路を提供することが、本発明の別の目的である。
【0008】
発振器用の改良型のインバータ回路を提供することが、本発明のさらなる目的である。
【0009】
ペン入力コンピュータのペンなどの電気/電子ペンで、電力損失を低減した回路を提供することが、本発明のさらに別の目的である。
【0010】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明は、消費電力を低減化させるCMOSインバータ回路であって、第1のpチャンネルトランジスタと第1のnチャンネルトランジスタが直列接続されたインバータ回路と、前記インバータ回路の入力端子にその入力端子の一つが接続された第1のNAND回路と、前記第1のNAND回路の出力端子にその入力端子の一つが接続された第2のNAND回路と、そのゲート端子が前記第2のNAND回路の出力端子に、そのソース端子が第1電源電圧に、そして、そのドレイン端子が前記インバータ回路を構成する前記pチャンネルトランジスタのドレイン端子に、それぞれ接続された第2のpチャンネルトランジスタと、前記インバータ回路の入力端子にその入力端子の一つが接続された第1のNOR回路と、前記第1のNOR回路の出力端子にその入力端子の一つが接続された第2のNOR回路と、そのゲート端子が前記第2のNOR回路の出力端子に、そのソース端子が第2電源電圧に、そして、そのドレイン端子が前記インバータ回路を構成する前記nチャンネルトランジスタのソース端子に、それぞれ接続された第2のnチャンネルトランジスタと、から構成されたことを特徴とするCMOCインバータ回路を提供するものである。
【0011】
本発明のもう一つの長所は、出力信号の大きさが増大することである。このように、電力消費量を低減しながら、出力信号が増大すると、発振器などのCMOS回路の効率は著しく高くなる。
【0012】
【実施例】
まず、図2に示した、無負荷の従来技術のインバータ回路10について考察する。このようなインバータ回路は、従来は、リング発振器の遅延ステージとして使用され、このような発振器の一つが、「可変電流源および静電容量を有する制御可能な多相リング発振器」と題した米国特許第5,302,920号に記載され、この特許は、参照により本明細書に組み込まれる。電界効果トランジスタ(FET)とも呼ばれるp型チャンネル12およびn型チャンネル14の両デバイスは、両ゲートに同時に与えられる経時変化の入力信号によって作動する。入力信号VINの低から高の遷移について、まず説明する。入力信号VINが低い状態の場合は、p型チャンネル・デバイス12が完全に「オン」で、n型チャンネル・デバイス14が完全に「オフ」であり、したがって、電源電圧VDDおよびGROUNDからの電流を遮断する。入力信号が低から高に遷移する間、入力信号がn型チャンネル・デバイス14の閾値電圧に到達すると、MN1が導通し始め、MP1デバイスによって供給された電圧を低下させる。入力信号がインバータのトリップ・ポイントを通過する時点で、MN1を通過する通過電流は、ほぼ最高になる。入力電圧がさらに増加すると、MP1デバイスから得られる電流が減少し、これが「オフ」になる。時間に対する通過電流のおおよその形状は、図1の6に示すように、ほぼ三角形である。平均電流は、この三角形の面積を入力信号の半分の期間で割ることにより得られる。半分の期間を用いるのは、通過電流が1期間に2回ずつ流れるからである。
【0013】
「通過」電流の流れを中断させるために、図3に示すよう、1対のMP2およびMN2デバイス16および18を、回路に挿入する。この2個のデバイスは、MP1およびMN1デバイスと直列に接続される。MP2およびMN2の両デバイスのゲートは、バッファ22が制御する。バッファ22の伝搬の遅延は、MP1/MN1インバータ10の遷移時間よりはるかに短いことに留意しなければならない。低から高への遷移中に、入力信号VINが徐々に上昇し始めると、バッファ22が、それを出力側に表れる高速立ち上がりパルスに変換し、これによって波を形成する回路として働く(図4のBUFFER OUT信号で示す)。この高速パルスは、MP1/MN1インバータがトリップ・ポイント(図4のVTRIP)に到達するはるか以前に、MP2デバイスを切り、通過電流の流れが遮断される。同様の事象のシーケンスが、入力信号の高から低への遷移でも生じる。バッファ22は、MP1/MN1インバータのトリップ・ポイント(VTRIP)に到達する前にMN2を切り、この場合も、入力信号の負の遷移により、通過電流の流れが低減する。
【0014】
インバータのトリップ・ポイントは、通常、1/2VDDであるが、この値は、設計で絶対必要な値ではない。この設計の絶対必要な部分は、バッファ22がMP1/MN1インバータの入力信号の遷移時間より高速である(すなわち、伝搬の遅延が短い)ことである。
【0015】
通過電流を除去または低減すると、電力消費量が著しく減少する。それにより、(ペン入力コンピュータのペンなどの)バッテリーで動くシステムの電力供給の寿命が長くなるか、あるいはいわゆる「グリーンPC」などの環境にとって健全な製品の電力消費量が少なくなる。計算上では、ペン型発振器の場合、電力消費量の減少は40%を上回る。電力効率がどの程度上昇するかは、システムの速度およびシステムの製造に用いたCMOSテクノロジーの差に左右される。サブミクロンの形状でCMOSテクノロジーが高速になるほど、システムの比較的低速の作動部分で、より多くの電力を節約できる。これは、CMOSテクノロジーが高速になると、チャンネルの長さが短くなり、したがって、同じチャンネル幅で送れる電流が大きくなるからである(その結果、「通過電流」が大きくなる)。 本発明の2番目の重要な側面は、出力信号の大きさが増大することである。本明細書の例では、VOUTの振幅増加量は約10%である。この増加は、通過電流低減の副産物である。負荷(図示せず)は、通常は駆動回路の電流の一部を奪う通過電流によって生じる損失もなく、駆動/減衰デバイスMP1/MN1によって供給される全電流で印加/解放される。改良の割合は、本発明を用いた特定の回路の速度および適用されたCMOSテクノロジーの差によって異なる。CMOSテクノロジーの速度が上がると、それだけ大きく改善される。
【0016】
インバータ/駆動回路がトライステートであることが必要な場合のために、修正された回路を導入した状態を図5に示す。NANDおよびNORゲートを2段階にすることにより、制御信号の適切な極性が得られる。
【0017】
前述したように、図3のバッファは、インバータの入力信号VINの遷移時間より、はるかに高速でなければならない。同様に、図5の制御ロジック(すなわちNANDおよびNORゲート)は、インバータの入力信号VINの遷移時間より、はるかに高速でなければならない。追加的なこれらのデバイスのチャンネルの方が長いにもかかわらず、これは達成可能である。というのは、出力トランジスタMP1およびMN1の遷移時間は、本質的に、産業で使用されている標準的なNANDおよびNORゲートの遷移時間より遅い。
【0018】
図5の作動を、表1に示す真理表で、以下に示す。
【0019】
【表1】
低電力モードを起動するには、電力低下信号PDをLOW(低)に設定し(したがって、逆の信号PD/はHIGH(高)に設定される)、イネーブル信号ENをLOWに設定する(したがって、逆のEN信号EN/はHIGHに設定される)。その結果、NOR2Aゲート32およびNOR2Bゲート34は、トランジスタMN2のゲートへの入力信号VINを通過させる。同様に、NAN2Aゲート36およびNAN2Bゲート38は、トランジスタMP2のゲートへの入力信号VINを通過させる。したがって、回路は図3と同様の方法で作動する。
【0020】
トライステート・モードを起動するには、電力低下信号PDをHIGHに設定する(したがって、逆のPD信号PD/はLOWに設定される)。その結果、LOW電圧レベルがNOR2Bゲート34から出力され、したがって、トランジスタMN2が「オフ」になる。同様に、その結果、HIGH電圧レベルがNAN2Bゲート38から出力され、したがって、トランジスタMP2が「オフ」になる。トランジスタMP2およびMN2が両方とも「オフ」であるので、出力Voutはトライステートになる。
【0021】
何らかの理由で、図5の回路を、たとえば本明細書に記載した電力節約の技術を用いた場合と用いない場合との両方で、電力消費量を試験/比較するため、通常モードまたは高電力モードにすることが望ましい場合は、高電力モードが提供される。PDを「低」、ENを「高」に設定すると、NOR2Aゲートの出力が「低」になり、NOR2Bゲート34の出力が「高」になる。これでトランジスタMN2がオンになり、これが実際に、MN1の電源をGROUNDにつなぐ。同様に、NAN2Aゲート36の出力が「高」になると、NAN2Bゲート38の出力は「低」になる。これでトランジスタMP2がオンになり、これが実際に、MP1の電源をVDDにつなぐ。したがって、回路は、図2のインバータ20と同様の方法で作動するよう構成される。
【0022】
同様に、追加的なp型チャンネルおよびn型チャンネルのトランジスタを、既存のp型チャンネルおよびn型チャンネルのトランジスタ対のインバータと直列に設けることにより、インバータのトランジスタが同時に「オン」になる時間の長さが短縮するか取り除かれ、これによって、VDDからGROUNDに流れる電流の量が減少する。
【0023】
本発明の好ましい実施例を図示し、説明してきたが、本明細書で開示された構造に厳密に制限するものではなく、特許請求の範囲で規定された本発明の範囲内で行われるすべての変更または修正に対して権利が留保されることを理解されたい。
【0024】
【発明の効果】
本願発明は以上の簡単な回路構成により、CMOSインバータのp型チャンネル及びn型チャンネルのデバイスを同時に流れる電流の量を大幅に減少させ、これによりCMOS発振器、インバータ、ゲートおよびその他のCMOS回路の電力効率を飛躍的に向上させることができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図2および4の回路の電力消費量のグラフである。
【図2】 従来のCMOSインバータの略図である。
【図3】 本願発明に係る電力消費量を低減させた改良型のCMOSインバータの略図である。
【図4】 図3の回路のタイミング図である。
【図5】 本願発明に係るトライステートの能力を有する改良型の低電力CMOSインバータの略図である。
【符号の説明】
6 時間に対する典型的な通過電流
10 インバータ
12 p型チャンネル・デバイス
14 n型チャンネル・デバイス
16 MP2デバイス
18 MN2デバイス
22 バッファ
32 NOR2Aゲート
34 NOR2Bゲート
36 NAN2Aゲート
38 NAN2Bゲート
Claims (1)
- 消費電力を低減化させるCMOSインバータ回路であって、
第1のpチャンネルトランジスタと第1のnチャンネルトランジスタが直列接続されたインバータ回路と、
前記インバータ回路の入力端子にその入力端子の一つが接続された第1のNAND回路と、
前記第1のNAND回路の出力端子にその入力端子の一つが接続された第2のNAND回路と、
そのゲート端子が前記第2のNAND回路の出力端子に、そのソース端子が第1電源電圧に、そして、そのドレイン端子が前記インバータ回路を構成する前記pチャンネルトランジスタのドレイン端子に、それぞれ接続された第2のpチャンネルトランジスタと、
前記インバータ回路の入力端子にその入力端子の一つが接続された第1のNOR回路と、
前記第1のNOR回路の出力端子にその入力端子の一つが接続された第2のNOR回路と、
そのゲート端子が前記第2のNOR回路の出力端子に、そのソース端子が第2電源電圧に、そして、そのドレイン端子が前記インバータ回路を構成する前記nチャンネルトランジスタのソース端子に、それぞれ接続された第2のnチャンネルトランジスタと、
から構成されたことを特徴とするCMOCインバータ回路。
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Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0179820B1 (ko) * | 1996-02-01 | 1999-04-15 | 문정환 | 반도체 메모리의 번인 감지 회로 |
| US6046648A (en) * | 1996-12-27 | 2000-04-04 | Seiko Epson Corporation | Crystal oscillator circuit having low power consumption |
| US6411169B1 (en) | 1996-12-27 | 2002-06-25 | Seiko Epson Corporation | Oscillation circuit, electronic circuit using the same, and semiconductor device, electronic equipment, and timepiece using the same |
| US6246259B1 (en) * | 1998-02-23 | 2001-06-12 | Xilinx, Inc. | High-speed programmable logic architecture having active CMOS device drivers |
| US6025739A (en) * | 1998-04-21 | 2000-02-15 | International Business Machines Corporation | CMOS driver circuit for providing a logic function while reducing pass-through current |
| US6169419B1 (en) * | 1998-09-10 | 2001-01-02 | Intel Corporation | Method and apparatus for reducing standby leakage current using a transistor stack effect |
| US6191606B1 (en) | 1998-09-10 | 2001-02-20 | Intel Corporation | Method and apparatus for reducing standby leakage current using input vector activation |
| US20020000872A1 (en) | 1998-09-11 | 2002-01-03 | Yibin Ye | Method and apparatus for reducing standby leakage current using a leakage control transistor that receives boosted gate drive during an active mode |
| KR100516693B1 (ko) * | 2003-04-02 | 2005-09-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 프로그래머블 로직 회로 |
| US6696873B2 (en) * | 1999-12-23 | 2004-02-24 | Intel Corporation | Single event upset hardened latch |
| US6870895B2 (en) * | 2002-12-19 | 2005-03-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Shift register and driving method thereof |
| US6992512B1 (en) * | 2003-03-25 | 2006-01-31 | National Semiconductor Corporation | Output buffer |
| KR100594227B1 (ko) | 2003-06-19 | 2006-07-03 | 삼성전자주식회사 | 피크 전류가 감소된 인버터를 가지는 저전력 저잡음 비교기 |
| KR100724270B1 (ko) * | 2005-01-12 | 2007-05-31 | 주식회사 만도 | 액츄에이터 전류 제어 방법 |
| KR20070012972A (ko) * | 2005-07-25 | 2007-01-30 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치, 그 구동 장치 및 방법 |
| FR2890803A1 (fr) * | 2005-09-14 | 2007-03-16 | St Microelectronics Sa | Inverseur a consommation statique controlee. |
| US20080115023A1 (en) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Honeywell International Inc. | Set hardened register |
| JP4991436B2 (ja) * | 2007-08-02 | 2012-08-01 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
| TWI406120B (zh) * | 2010-04-20 | 2013-08-21 | Novatek Microelectronics Corp | 展頻電路 |
| JP2012227657A (ja) * | 2011-04-18 | 2012-11-15 | New Japan Radio Co Ltd | スタンバイ機能付き増幅器 |
Family Cites Families (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0102670A3 (en) * | 1982-09-03 | 1984-07-04 | Lsi Logic Corporation | Tri-state circuit element |
| JPS607224A (ja) * | 1983-06-27 | 1985-01-16 | Toshiba Corp | デ−タラツチ回路 |
| JPS635553A (ja) * | 1986-06-25 | 1988-01-11 | Fujitsu Ltd | バツフア回路 |
| JPS63120522A (ja) * | 1986-11-07 | 1988-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
| JPS63124133A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | 全加算回路 |
| JPS63284925A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-22 | Nec Corp | 出力バッファ回路 |
| JPS6469119A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-15 | Nec Corp | Output buffer circuit |
| US5075570A (en) * | 1987-11-25 | 1991-12-24 | Honeywell Inc. | Switching state retention circuit having a feedback loop stabilizing capacitance |
| JPH01305616A (ja) * | 1988-06-02 | 1989-12-08 | Toshiba Corp | 半導体集積回路の出力回路 |
| JP2542678B2 (ja) * | 1988-06-17 | 1996-10-09 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
| US5198699A (en) * | 1988-09-09 | 1993-03-30 | Texas Instruments Incorporated | Capacitor-driven signal transmission circuit |
| US5051625B1 (en) * | 1988-10-28 | 1993-11-16 | Nissan Motor Co.,Ltd. | Output buffer circuits for reducing noise |
| US4972101A (en) * | 1989-09-19 | 1990-11-20 | Digital Equipment Corporation | Noise reduction in CMOS driver using capacitor discharge to generate a control voltage |
| US5187686A (en) * | 1990-02-14 | 1993-02-16 | Zilog, Inc. | Control circuit having outputs with differing rise and fall times |
| US5179297A (en) * | 1990-10-22 | 1993-01-12 | Gould Inc. | CMOS self-adjusting bias generator for high voltage drivers |
| JPH04217116A (ja) * | 1990-12-18 | 1992-08-07 | Nec Kyushu Ltd | 出力回路 |
| JP2567172B2 (ja) * | 1992-01-09 | 1996-12-25 | 株式会社東芝 | 半導体回路の出力段に配置される出力回路 |
| JPH05211434A (ja) * | 1992-01-30 | 1993-08-20 | Nec Corp | BiCMOS回路 |
| US5182529A (en) * | 1992-03-06 | 1993-01-26 | Micron Technology, Inc. | Zero crossing-current ring oscillator for substrate charge pump |
| US5281869A (en) * | 1992-07-01 | 1994-01-25 | Digital Equipment Corporation | Reduced-voltage NMOS output driver |
| US5302920A (en) * | 1992-10-13 | 1994-04-12 | Ncr Corporation | Controllable multi-phase ring oscillators with variable current sources and capacitances |
-
1994
- 1994-09-16 US US08/307,111 patent/US5491429A/en not_active Expired - Lifetime
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