Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP3784222B2 - Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP3784222B2 - Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same - Google Patents

Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same Download PDF

Info

Publication number
JP3784222B2
JP3784222B2 JP29020399A JP29020399A JP3784222B2 JP 3784222 B2 JP3784222 B2 JP 3784222B2 JP 29020399 A JP29020399 A JP 29020399A JP 29020399 A JP29020399 A JP 29020399A JP 3784222 B2 JP3784222 B2 JP 3784222B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rib
forming
stripping solution
rib pattern
photopolymerizable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP29020399A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2001109167A (en
Inventor
竜馬 水澤
洋之 帯谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd filed Critical Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority to JP29020399A priority Critical patent/JP3784222B2/en
Publication of JP2001109167A publication Critical patent/JP2001109167A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3784222B2 publication Critical patent/JP3784222B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、光重合性感光材料用の剥離液及びそれを用いたリブパターンの形成方法に関し、さらに詳しくはプラズマディスプレイパネルの製造に用いるリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液及びそれを用いたリブパターンの形成方法に関する。
【0002】
【従来技術】
従来のプラズマディスプレイパネル(以下PDPという)の製造にあっては電極間のスペーサーやセルの隔壁などのためリブを形成する工程があるが、このリブの形成法としては、基板上に絶縁ペースト組成物からなるリブ形成層を形成し、その上に感光層パターンを設け、この感光層パターンを保護マスクとして露出したリブ形成層をサンドブラスト処理で切削除去し、次いで残存する感光層パターンを剥離液で除去する方法、または基板上に感光層パターンを形成したのち絶縁性ペースト組成物からなるリブ形成層を形成し、前記感光層パターン上のリブ形成層を研摩除去したのち、剥離液で感光層パターンを除去するリフトオフ法などが挙げられる。前記感光層パターンを形成する光重合性感光材料としては一般的にはアクリル系感光材料が用いられ、その感光層パターンの除去には、例えば特開平1−158444号公報にみるように(a)アルコール系溶剤、(b)ハロゲン系溶剤、エーテル系溶剤および芳香族系溶剤の中から選ばれた少なくとも1種および(c)第四級アンモニウム塩からなる剥離液や、特開昭61−20947号公報にみるように塩化メチレン、アルコール類及び1,2−ジクロロエタンを必須成分とする剥離液などが用いられてきた。しかし、前記特開平1−158444号公報記載の剥離液は感光層パターンの溶解除去が十分でなく、パターンの欠落が起き高精度のリブパターンの形成を困難にしていた。また、特開昭61−20947号公報記載の剥離液は感光層パターンを膨潤させ剥離させるところから、剥離した光重合性感光材料が基板やリブ層に再付着し、残渣として残り不良品を発生させる原因となる欠点があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
こうした現状に鑑み、本発明者等は、鋭意研究を続けた結果、少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液として有機アミン、第四級アンモニウム塩及び水を含有する溶液を用いることで感光層パターンが良好に溶解除去でき、高精度のリブパターンが容易に形成できることを見出して、本発明を完成したものである。すなわち、
【0004】
本発明は、PDPの製造に使用する少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するプラズマディスプレイパネルのリブパターン形成用光重合性感光材料を良好に溶解除去できる剥離液を提供することを目的とする。
【0005】
また、本発明は、上記剥離液を用いる高精度のリブパターンの形成方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明は、少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するリブパターン形成用光重合性感光材料の剥離液であって、前記剥離液が(a)有機アミン、(b)第四級アンモニウム塩及び(c)水を含有することを特徴とするリブパターン形成用光重合性感光材剥離液及びそれを用いたリブパターンの形成方法に係る。
【0007】
以下、本発明を詳細に説明する。
本発明におけるリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液の(a)有機アミンは、一般式化2
【0008】
【化2】
(式中、R、Rは同一又は異なる置換基で、水素原子、炭素数1〜4のアル キル基、炭素数2〜6のアルカノール基、アルコキシ基を表わし、Rは水 酸基、アミノ基、シクロアルキル基、フェニル基を表わし、nは1〜6の整 数を表わし、Rはさらに置換基を有してもよい。)
で表わされるアミンが用いられ、具体的にはモノエタノールアミン、ジエタノールアミン、ジイソプロピルアミン、N−メチルエタノールアミン、N−メチルジエタノールアミン、3−アミノ−1−プロパノール、4−アミノ−1−ブタノール、シクロヘキシルアミン、ジアリルアミン、N−メチルベンジルアミン、N,N−ジメチルベンジルアミン、N−アルキルモルホリン、1,2ジアミノエタン、1,3−ジアミノプロパン,1,4−ジアミノブタン、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミンなどを挙げることができる。特にモノエタノールアミンが好ましい。前記有機アミンは単独でも2種以上を組み合わせて用いてもよい。
【0009】
また、本発明の(b)第四級アンモニウム塩としては、具体的にテトラメチルアンモニウムヒドロキシド、コリン、テトラヒドロキシエチルアンモニウムヒドロキシド、モノメチルトリヒドロキシエチルアンモニウムヒドロキシドなどを挙げることができ、特にテトラメチルアンモニウムヒドロキシド及びコリンが好ましい。前記第四級アンモニウム塩は単独でも2種以上を組み合わせて用いてもよい。
【0010】
本発明のリブパターン形成用光重合性感光材剥離液は上記(a)及び(b)成分を水に溶解して調製されるが、その配合割合は(a)成分0.5〜15重量%、(b)成分0.5〜15重量%及び水70〜90重量%の範囲が選ばれる。
【0011】
また、リブ形成層を形成する絶縁性ペーストとしては、絶縁性材料、有機バインダー及び有機溶媒からなるペースト組成物が用いられる。前記絶縁性材料としてはAl、PbO、B、SiO、ZnO、MgO、SnOなどの無機物質が用いられ、好ましくはこれに焼成時に結合剤となる低融点ガラス粉末を含有せしめてもよい。前記低融点ガラス粉末としては、低融点鉛ガラス、低融点亜鉛ガラスなど軟化点が約350〜600℃のガラスが挙げられる。
【0012】
さらに、感光層を形成する少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するリブパターン形成用光重合性感光材料は、耐サンドブラスト性を有し、容易に剥離除去できる材料であり、例えば特開平9−127692号公報に記載する少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有する光重合性感光材料が挙げられる。前記少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物としては、ジオール化合物とジイソシアネート化合物とが反応した末端イソシアネート基(−NCO基)を有する化合物と、ヒドロキシル基を有する(メタ)アクリレート化合物との反応生成物が挙げられ、特に分子内に少なくとも3個以上のウレタン結合を有するウレタンアクリレートが好適でる。アルカリ可溶性高分子化合物としては、アクリル酸樹脂、メタクリル酸樹脂、アクリル酸又はメタクリル酸共重合体、カルボキシメチルセルロース、酢酸フタル酸セルロースなどが挙げられ、前記アクリル酸又はメタクリル酸共重合体の共重合成分としては、フマル酸、マレイン酸、クロトン酸、ケイ皮酸、アクリル酸メチル、メタクリル酸メチル、アクリル酸エチル、メタクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、メタクリル酸ブチル、アクリル酸イソブチル、メタクリル酸イソブチル、フマル酸モノメチル、フマル酸モノエチル、フマル酸モノプロピル、マレイン酸モノメチル、マレイン酸モノエチル、マレイン酸モノプロピル、ソルビン酸などが挙げられ、またセルロースの部分酢酸エステルとしては、ジカルボン酸又はトリカルボン酸、例えばコハク酸、アジピン酸、トリメリット酸などを反応させて得たセルロース化合物が好ましく挙げられる。
【0013】
上記光重合開始剤としては、具体的にベンゾフェノン、4、4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、3,3−ジメチル−4−メトキシ−ベンゾフェノン等のベンゾフェノン誘導体、アントラキノン、2−メチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、tert−ブチルアントラキノン,1−クロロアントラキノン等のアントラキノン誘導体、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインプロピルエーテルなどのベンゾインアルキルエーテル誘導体、アセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、4’−イソプロピル−2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、2−メチル−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−モルフォリノ−1−プロパノンなどのアセトフェノン誘導体、2−クロロチオキサントン、ジエチルチオキサントン、イソプロピルチオキサントン、ジイソプロピルチオキサントンなどのチオキサントン誘導体、ベンジル、2,4,6−(トリハロメチル)−s−トリアジン、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾリル二量体、9−フェニルアクリジン、1,7−ビス(9−アクリジニル)ヘプタン、1,5−ビス(9−アクリジニル)ペンタン、1,3−ビス(9−アクリジニル)プロパン、ジメチルベンジルケタール、トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド、トリブロモメチルフェニルスルホン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタン−1−オンなどが挙げられる。これらの光重合開始剤は単独でも、2種以上を組み合わせても用いることができる。
【0014】
上記リブパターン形成用光重合性感光材料の配合割合は、少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物が50〜90重量%、アルカリ可溶性樹脂セルロースが5〜50重量%からなるとともに、光重合開始剤がウレタンアクリレートおよびアルカリ可溶性樹脂セルロースとの合計量に対して0.1〜20重量%の範囲がよい。
【0015】
本発明のリブパターン形成用光重合性感光材料の剥離液を用いたリブパターンの形成方法としては、(i)リブ形成ペーストをガラスなどの基板上に塗布し、乾燥してリブ形成層を形成し、その上に少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するリブパターン形成用光重合性感光材料を塗布し、乾燥するか、または可撓性支持フィルムと離型フィルムとの間に前記光重合性感光材料を配したドライフィルムを用いて、離型フィルムを剥離してリブ形成層上に圧着して光重合性感光層を形成し、乾燥したのち所定のマスクパターンを備えたマスクを密着させ、マスクパターンの上から活性光線を照射し、現像して感光層パターンを作成し、次いで該感光層パターンを保護パターンとして露出したリブ形成層をサンドブラスト材でサンドブラスト処理して研削除去し、残存する感光層パターンを本発明のリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液で除去し、焼成する方法及び(ii)基板上に少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するリブパターン形成用光重合性感光材料を用いて感光層を設け、マスクパターンを介して活性光線を照射し、現像して感光層パターンを作成し、その上にリブ形成ペーストを基板全面に塗布し、乾燥してリブ形成層を形成したのち、感光層パターン上のリブ形成層を研摩除去し、次いで本発明のリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液を用いて基板上の感光層パターンを除去し、焼成する方法(リフトオフ法)が挙げられる。前記剥離処理としては浸漬、シャワー、スプレイなどの方法が挙げられ、好ましくは浸漬する方法がよい。この剥離処理は15〜60℃の温度で1〜10分間の範囲で行われる。また、サンドブラスト処理で使用するサンドブラスト材としてはガラスビーズ、SiC、SiO、Al、ZrO、有機プラスチック材などの1〜500μm程度の微粒子が挙げられる。
【0016】
【発明の実施の形態】
次に実施例に基づいて本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によって何ら限定されるものではない。
【0017】
【実施例】
実施例1
PbOを含む白色低融点ガラスフリット100重量部、エチルセルロース2重量部、フタル酸ジブチル(可塑剤)5重量部、α−テルピネオール20重量部及びOil Yellow 105(アゾ系染料、オリエント化学工業社製)5重量部を三本ロールで練り混み混合して得たリブ形成ペーストを乾燥後の膜厚が150μmとなるように、ソーダガラス上にスクリーン印刷法で塗布し、乾燥してリブ形成層を得た。次に該リブ形成層上にリブパターン形成用光重合性材料のドライフィルムであるオーディルBF−703(東京応化工業社製)を基板温度80℃、ラミネート温度105℃、ラミネート圧2.5kg/cmでラミネートして感光性ドライフィルムレジスト層を形成し、テストマスクを介して3.5Wの超高圧水銀灯で200mJ/cmの強度で露光した。露光後、0.2重量%炭酸ナトリウム水溶液でスプレー現像を行い、感光層パターンを得た。
【0018】
次に、上記感光層パターンをマスクとしてガラスビーズ#800(東芝パロティーニ社製)の研磨材でサンドブラスト処理し、露出したリブ形成層を切削除去したのち、モノエタノールアミン1重量%、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド1重量%及び水98重量%からなる剥離液の40℃水溶液に浸漬して残存する感光層パターンを剥離除去した。剥離に要した時間は25秒であった。残存感光層パターンはなく、またリブパターンの欠陥が確認されなかった。
【0019】
比較例1
実施例1と同様に感光層パターンを形成し、1重量%のモノエタノールアミン水溶液からなる剥離液の40℃溶液に浸漬して残存する感光層パターンを剥離除去した。残存感光層パターンに要した時間は40秒間であり、部分的にレジスト残渣が確認された。
【0020】
比較例2
実施例1と同様に感光層パターンを形成し、1重量%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液からなる剥離液の40℃溶液に浸漬して残存する感光層パターンを剥離除去した。残存感光層パターンに要した時間は40秒間であり、部分的にレジスト残渣が確認された。また、リブパターンの欠陥も確認された。
【0021】
【発明の効果】
本発明のリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液は、耐サンドブラスト性を有するリブパターン形成用光重合性感光材を良好に溶解除去し感光層パターンの残渣がなく高精度のリブパターンが容易に製造できる。
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention relates to a method for forming a peeling liquid and ribs pattern using the same for the photopolymerizable light-sensitive material, more particularly a stripping solution of the rib pattern forming photopolymerizable light-sensitive material for use in the manufacture of plasma display panels and it The present invention relates to a rib pattern forming method used.
[0002]
[Prior art]
In the manufacture of a conventional plasma display panel (hereinafter referred to as PDP), there is a process of forming ribs for spacers between electrodes, cell partition walls, etc. As a method of forming this rib, an insulating paste composition is formed on a substrate. A rib forming layer made of a product is formed, a photosensitive layer pattern is provided thereon, the exposed rib forming layer is removed by sand blasting using the photosensitive layer pattern as a protective mask, and then the remaining photosensitive layer pattern is removed with a peeling solution. A method of removing, or forming a photosensitive layer pattern on a substrate, forming a rib forming layer made of an insulating paste composition, polishing and removing the rib forming layer on the photosensitive layer pattern, and then removing the photosensitive layer pattern with a peeling solution For example, a lift-off method for removing slag. As the photopolymerizable photosensitive material for forming the photosensitive layer pattern, an acrylic photosensitive material is generally used. For removing the photosensitive layer pattern, for example, see JP-A-1-158444 (a). A stripping solution comprising an alcohol solvent, (b) at least one selected from a halogen solvent, an ether solvent and an aromatic solvent and (c) a quaternary ammonium salt, and JP-A 61-20947 As seen in the publication, a stripping solution containing methylene chloride, alcohols, and 1,2-dichloroethane as essential components has been used. However, the stripping solution described in JP-A-1-158444 does not sufficiently dissolve and remove the photosensitive layer pattern, causing pattern loss and making it difficult to form a highly accurate rib pattern. Further, the stripping solution described in JP-A-61-20947 swells and strips the photosensitive layer pattern, so that the peeled photopolymerizable photosensitive material is reattached to the substrate and the rib layer, and a defective product remains as a residue. There were drawbacks that caused it to occur.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
In view of such a current situation, the present inventors have conducted extensive research, and as a result, have made photopolymerizable urethane (meth) acrylate compounds having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups, alkali-soluble polymer compounds, and initiation of photopolymerization. The photosensitive layer pattern can be dissolved and removed satisfactorily by using a solution containing an organic amine, quaternary ammonium salt and water as a stripping solution for the photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation containing an agent, and a highly accurate rib pattern The present invention has been completed by finding that it can be easily formed. That is,
[0004]
The present invention relates to a plasma display panel comprising a photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups, an alkali-soluble polymer compound, and a photopolymerization initiator, which are used for producing a PDP . An object of the present invention is to provide a stripping solution that can satisfactorily dissolve and remove the photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation .
[0005]
Another object of the present invention is to provide a method for forming a highly accurate rib pattern using the above stripping solution.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The present invention that achieves the above object is a rib pattern forming light comprising a photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups, an alkali-soluble polymer compound, and a photopolymerization initiator. A photopolymerizable photosensitive resin for rib pattern formation , which is a stripping solution for a polymerizable photosensitive material, and the stripping solution contains (a) an organic amine, (b) a quaternary ammonium salt, and (c) water. according to wood charge stripping solution and method of forming a rib pattern using the same.
[0007]
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
The (a) organic amine of the photopolymerizable photosensitive material stripping solution for forming a rib pattern in the present invention has the general formula 2
[0008]
[Chemical 2]
(Wherein, R 1, R 2 identical or different substituents, hydrogen atom, Al kill group having 1 to 4 carbon atoms, an alkanol group having 2 to 6 carbon atoms, an alkoxy group, R 3 is water group Represents an amino group, a cycloalkyl group, or a phenyl group, n represents an integer of 1 to 6, and R 3 may further have a substituent.)
Specifically, monoethanolamine, diethanolamine, diisopropylamine, N-methylethanolamine, N-methyldiethanolamine, 3-amino-1-propanol, 4-amino-1-butanol, cyclohexylamine are used. , Diallylamine, N-methylbenzylamine, N, N-dimethylbenzylamine, N-alkylmorpholine, 1,2 diaminoethane, 1,3-diaminopropane, 1,4-diaminobutane, diethylenetriamine, triethylenetetramine, etc. be able to. Monoethanolamine is particularly preferable. The organic amines may be used alone or in combination of two or more.
[0009]
Specific examples of the quaternary ammonium salt (b) of the present invention include tetramethylammonium hydroxide, choline, tetrahydroxyethylammonium hydroxide, monomethyltrihydroxyethylammonium hydroxide, and particularly tetra. Methyl ammonium hydroxide and choline are preferred. The quaternary ammonium salts may be used alone or in combination of two or more.
[0010]
Although the rib pattern forming photopolymerizable photosensitive materials stripping solution of the present invention is prepared by the the components (a) and (b) were dissolved in water. The mixing ratio of component (a) 0.5 to 15 weight %, Component (b) 0.5 to 15% by weight and water 70 to 90% by weight are selected.
[0011]
As the insulating paste for forming the rib forming layer, a paste composition made of an insulating material, an organic binder, and an organic solvent is used. As the insulating material, an inorganic substance such as Al 2 O 3 , PbO, B 2 O 3 , SiO 2 , ZnO, MgO, SnO 2 is used. Preferably, a low melting glass powder that becomes a binder during firing is used. It may be included. Examples of the low melting point glass powder include glasses having a softening point of about 350 to 600 ° C. such as low melting point lead glass and low melting point zinc glass.
[0012]
Further, a photopolymerizable sensation for rib pattern formation comprising a photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups forming the photosensitive layer , an alkali-soluble polymer compound and a photopolymerization initiator . The optical material is a material that has sandblast resistance and can be easily peeled and removed . For example, a photopolymerizable urethane (meta) having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups described in JP-A-9-127692 is disclosed. ) A photopolymerizable photosensitive material containing an acrylate compound, an alkali-soluble polymer compound and a photopolymerization initiator . The photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups includes a compound having a terminal isocyanate group (—NCO group) obtained by reacting a diol compound and a diisocyanate compound, and a hydroxyl group. The reaction product with the (meth) acrylate compound which has this is mentioned, The urethane acrylate which has at least 3 or more urethane bond in a molecule | numerator is especially suitable. Examples of the alkali-soluble polymer compound include acrylic acid resin, methacrylic acid resin, acrylic acid or methacrylic acid copolymer, carboxymethyl cellulose, cellulose acetate phthalate, and the like, and a copolymer component of the acrylic acid or methacrylic acid copolymer. As fumaric acid, maleic acid, crotonic acid, cinnamic acid, methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, butyl acrylate, butyl methacrylate, isobutyl acrylate, isobutyl methacrylate, fumaric acid Monomethyl, monoethyl fumarate, monopropyl fumarate, monomethyl maleate, monoethyl maleate, monopropyl maleate, sorbic acid and the like, and as partial acetate of cellulose, dicarboxylic acid or tricarboxylic acid, Example, if succinic acid, adipic acid, cellulose compound obtained by reacting trimellitic acid are preferred.
[0013]
Specific examples of the photopolymerization initiator include benzophenone derivatives such as benzophenone, 4,4′-bis (dimethylamino) benzophenone, 3,3-dimethyl-4-methoxy-benzophenone, anthraquinone, 2-methylanthraquinone, 2- Anthraquinone derivatives such as ethyl anthraquinone, tert-butylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, benzoin alkyl ether derivatives such as benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin propyl ether, acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone, 2-hydroxy-2-methylpropiophenone, 4′-isopropyl-2-hydroxy-2-methylpropiophenone, 2-methyl- Acetophenone derivatives such as-[4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-1-propanone, thioxanthone derivatives such as 2-chlorothioxanthone, diethylthioxanthone, isopropylthioxanthone, diisopropylthioxanthone, benzyl, 2,4,6- (trihalo) Methyl) -s-triazine, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazolyl dimer, 9-phenylacridine, 1,7-bis (9-acridinyl) heptane, 1,5-bis (9- Acridinyl) pentane, 1,3-bis (9-acridinyl) propane, dimethylbenzyl ketal, trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, tribromomethylphenylsulfone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholine Nophenyl) -butan-1-one and the like. These photopolymerization initiators can be used alone or in combination of two or more.
[0014]
The proportion of the photopolymerizable photosensitive material for forming the rib pattern is 50 to 90% by weight of the photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups, and 5 of the alkali-soluble resin cellulose. The amount of the photopolymerization initiator is preferably in the range of 0.1 to 20% by weight with respect to the total amount of urethane acrylate and alkali-soluble resin cellulose.
[0015]
As a rib pattern forming method using the stripping solution of the photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation of the present invention, (i) a rib forming paste is applied on a substrate such as glass and dried to form a rib forming layer. And a photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation comprising a photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups thereon , an alkali-soluble polymer compound and a photopolymerization initiator. Apply and dry, or use a dry film with the photopolymerizable photosensitive material disposed between the flexible support film and the release film, peel the release film and press-fit on the rib-forming layer To form a photopolymerizable photosensitive layer, and after drying, attach a mask with a predetermined mask pattern, irradiate actinic light from above the mask pattern, and develop Create a photosensitive layer pattern, then the rib forming layer exposed the photosensitive layer pattern as a protective pattern by sandblasting with sand blasting material is ground and removed, the rib pattern forming photopolymerizable photosensitive of the present invention the photosensitive layer pattern remaining removed material stripping solution, the photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl or methacryloyl groups in the firing method and (ii) on the substrate, alkali-soluble polymeric compound and a photopolymerization initiator A photosensitive layer is formed using a photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation containing, and actinic rays are irradiated through a mask pattern, developed to create a photosensitive layer pattern, and a rib forming paste is applied on the entire surface of the substrate. After applying to and drying to form a rib-forming layer, the rib-forming layer on the photosensitive layer pattern is polished and removed. In removing the photosensitive layer pattern on the substrate by using a rib pattern forming photopolymerizable photosensitive material stripping solution of the present invention include a method of baking (liftoff method). Examples of the peeling treatment include dipping, showering, spraying, and the like, and a dipping method is preferable. This peeling treatment is performed at a temperature of 15 to 60 ° C. for 1 to 10 minutes. Examples of the sandblasting material used in the sandblasting treatment include fine particles of about 1 to 500 μm such as glass beads, SiC, SiO 2 , Al 2 O 3 , ZrO 2 , and organic plastic materials.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
EXAMPLES Next, although this invention is demonstrated further in detail based on an Example, this invention is not limited at all by these examples.
[0017]
【Example】
Example 1
White low melting point glass frit containing PbO 100 parts by weight, ethyl cellulose 2 parts by weight, dibutyl phthalate (plasticizer) 5 parts by weight, α-terpineol 20 parts by weight and Oil Yellow 105 (azo dye, manufactured by Orient Chemical Industries) 5 A rib-forming paste obtained by kneading and mixing parts by weight with three rolls was applied onto soda glass by a screen printing method so that the film thickness after drying was 150 μm, and dried to obtain a rib-forming layer. . Next, Audil BF-703 (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.), which is a dry film of a photopolymerizable material for rib pattern formation , is placed on the rib forming layer with a substrate temperature of 80 ° C., a lamination temperature of 105 ° C., and a lamination pressure of 2.5 kg / cm Then , a photosensitive dry film resist layer was formed by laminating at 2 and exposed at an intensity of 200 mJ / cm 2 with a 3.5 W ultrahigh pressure mercury lamp through a test mask. After exposure, spray development was performed with a 0.2 wt% aqueous sodium carbonate solution to obtain a photosensitive layer pattern.
[0018]
Next, using the photosensitive layer pattern as a mask, sandblasting was performed with an abrasive of glass beads # 800 (manufactured by Toshiba Parrotini Co., Ltd.), and the exposed rib-forming layer was removed by cutting. Then, 1% by weight of monoethanolamine, tetramethylammonium hydroxy The remaining photosensitive layer pattern was peeled and removed by dipping in a 40 ° C. aqueous solution of a stripping solution comprising 1% by weight of water and 98% by weight of water. The time required for peeling was 25 seconds. There was no residual photosensitive layer pattern, and defects in the rib pattern were not confirmed.
[0019]
Comparative Example 1
A photosensitive layer pattern was formed in the same manner as in Example 1, and the remaining photosensitive layer pattern was peeled and removed by dipping in a 40 ° C. solution of a stripping solution composed of a 1 wt% monoethanolamine aqueous solution. The time required for the remaining photosensitive layer pattern was 40 seconds, and a resist residue was partially confirmed.
[0020]
Comparative Example 2
A photosensitive layer pattern was formed in the same manner as in Example 1, and the remaining photosensitive layer pattern was peeled and removed by dipping in a 40 ° C. solution of a stripping solution composed of a 1% by weight tetramethylammonium hydroxide aqueous solution. The time required for the remaining photosensitive layer pattern was 40 seconds, and a resist residue was partially confirmed. Moreover, the defect of the rib pattern was also confirmed.
[0021]
【The invention's effect】
The photopolymerizable photosensitive material stripping solution for rib pattern formation of the present invention dissolves and removes the photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation having sandblast resistance, and there is no residue of the photosensitive layer pattern and a highly accurate rib pattern can be obtained. Easy to manufacture.

Claims (4)

少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するプラズマディスプレイパネルのリブパターン形成用光重合性感光材料の剥離液であって、前記剥離液が(a)一般式化1で表わされる有機アミン
(式中、R 、R は同一又は異なる置換基で、水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、炭素数2〜6のアルカノール基、アルコキシ基を表わし、R は水酸基、アミノ基、シクロアルキル基、フェニル基を表わし、nは1〜6の整数を表わし、R はさらに置換基を有してもよい。)、(b)テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、コリン、テトラヒドロキシエチルアンモニウムヒドロキシド、モノメチルトリヒドロキシエチルアンモニウムヒドロキシド群から選ばれる少なくとも1種の第四級アンモニウム塩及び(c)水を含有することを特徴とするリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液。
A photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation of a plasma display panel, comprising a photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups, an alkali-soluble polymer compound and a photopolymerization initiator. A stripping solution, wherein the stripping solution is (a) an organic amine represented by the general formula 1
(Wherein R 1 and R 2 are the same or different substituents and represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkanol group having 2 to 6 carbon atoms, or an alkoxy group, and R 3 represents a hydroxyl group or an amino group. , A cycloalkyl group and a phenyl group, n represents an integer of 1 to 6, and R 3 may further have a substituent.) , (B) tetramethylammonium hydroxide, choline, tetrahydroxyethylammonium A photopolymerizable photosensitive material stripping solution for forming a rib pattern, comprising at least one quaternary ammonium salt selected from a hydroxide, a monomethyltrihydroxyethylammonium hydroxide group, and (c) water.
(a)有機アミンが、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、ジイソプロピルアミン、シクロヘキシルアミン、ジアリルアミン、N−メチルベンジルアミン、N,N−ジメチルベンジルアミン、N−アルキルモルホリン、N−メチルエタノールアミン、N−メチルジエタノールアミンから選ばれることを特徴とする請求項1記載のリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液。(A) The organic amine is monoethanolamine, diethanolamine, diisopropylamine, cyclohexylamine, diallylamine, N-methylbenzylamine, N, N-dimethylbenzylamine, N-alkylmorpholine, N-methylethanolamine, N-methyldiethanolamine The photopolymerizable photosensitive material stripping solution for forming a rib pattern according to claim 1, wherein (b)第四級アンモニウム塩が、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、コリンから選ばれることを特徴とする請求項1記載のリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液。(B) The photopolymerizable photosensitive material stripping solution for forming a rib pattern according to claim 1, wherein the quaternary ammonium salt is selected from tetramethylammonium hydroxide and choline. 基板上に形成したリブ形成層に少なくとも2個以上のアクリロイル基又はメタクリロイル基を有する光重合可能なウレタン(メタ)アクリレート化合物、アルカリ可溶性高分子化合物及び光重合開始剤を含有するリブパターン形成用光重合性感光材料層を設け、マスクフィルムを介して活性光線を照射し、現像処理を施し、活性光線の未照射部分を除去して感光層パターンを形成し、その感光層パターンをマスクとして露出したリブ形成層をサンドブラスト処理で切削除去したのち、前記感光層パターンを請求項1記載のリブパターン形成用光重合性感光材料剥離液で除去することを特徴とするリブパターンの形成方法。A rib pattern forming light comprising a photopolymerizable urethane (meth) acrylate compound having at least two acryloyl groups or methacryloyl groups in a rib forming layer formed on a substrate, an alkali-soluble polymer compound, and a photopolymerization initiator. A polymerizable photosensitive material layer is provided, irradiated with actinic rays through a mask film, subjected to a development process, a portion not irradiated with actinic rays is removed to form a photosensitive layer pattern, and the photosensitive layer pattern is exposed as a mask. 2. A rib pattern forming method comprising: removing a rib forming layer by sandblasting and then removing the photosensitive layer pattern with the photopolymerizable photosensitive material stripping solution for forming a rib pattern according to claim 1.
JP29020399A 1999-10-12 1999-10-12 Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same Expired - Lifetime JP3784222B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29020399A JP3784222B2 (en) 1999-10-12 1999-10-12 Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29020399A JP3784222B2 (en) 1999-10-12 1999-10-12 Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001109167A JP2001109167A (en) 2001-04-20
JP3784222B2 true JP3784222B2 (en) 2006-06-07

Family

ID=17753097

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29020399A Expired - Lifetime JP3784222B2 (en) 1999-10-12 1999-10-12 Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3784222B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030017247A (en) * 2001-08-24 2003-03-03 주식회사 유피디 Paste composite for barrier rib in plasma display panel and method of forming barrier rib using thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001109167A (en) 2001-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201543162A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for forming resist pattern and method for producing touch panel
TW201512779A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, mask material for sand blast, and surface processing method of object
KR100706585B1 (en) Photosensitive resin composition and the photosensitive dry film containing this
JP3784222B2 (en) Stripping solution for photopolymerizable photosensitive material for rib pattern formation and rib pattern forming method using the same
JP2002214779A (en) Photosensitive resin laminate for sandblasting
JP2000066391A (en) Photosensitive composition for sandblast and photosensitive film using same
KR100868550B1 (en) Photosensitive insulative paste composition and photosensitive film using the same
JP2004012783A (en) Separating liquid and separation method
JP3805438B2 (en) Alkali-developable photo-curable glass paste composition and method for manufacturing plasma display panel partition using the same
TW201439674A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, mask material for sandblast and surface processing method of workpiece
JPH1069851A (en) Manufacture of barrier plate
JP2002062645A (en) Photosensitive resin laminate for sandblasting
JPH06161097A (en) Photosensitive resin composition for sand blasting and laminated film formed by using the same
JP2720238B2 (en) Photopolymerizable composition, color filter using the same, and method for producing the same
JP2005004197A (en) Apparatus and method for processing developing solution
JP5284742B2 (en) PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, PHOTOSENSITIVE RESIN LAMINATE, SUBSTRATE PROCESSING METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING PLASMA DISPLAY PANEL BACK
JPH06161098A (en) Photosensitive resin composition for sand blasting and photosensitive film formed by using the same
JP2000268633A (en) Insulating paste composition for forming ribs and method for forming rib pattern using the same
JP2002006484A (en) Photopolymerizable composition
JP3329777B2 (en) Photopolymerizable composition for microfabrication
JP4111293B2 (en) Anti-reflective film forming solution for rib processing, laminate for forming rib applied with the same, and method for forming rib pattern
JPH11269424A (en) Photopolymer composition for cured coating film, color filter protective film made therefrom, and color filter protected therewith
JP3406233B2 (en) Photopolymerizable composition
JP2000105453A (en) Photosetting glass paste composition and fired material pattern forming method using same
JP2005057019A (en) Photosensitive resist ink

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050613

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050616

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050810

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051122

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060119

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060314

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060314

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100324

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 5

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110324

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110324

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120324

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130324

Year of fee payment: 7