JP3817198B2 - Optical path control device, optical path control method, and optical device - Google Patents
Optical path control device, optical path control method, and optical device Download PDFInfo
- Publication number
- JP3817198B2 JP3817198B2 JP2002159849A JP2002159849A JP3817198B2 JP 3817198 B2 JP3817198 B2 JP 3817198B2 JP 2002159849 A JP2002159849 A JP 2002159849A JP 2002159849 A JP2002159849 A JP 2002159849A JP 3817198 B2 JP3817198 B2 JP 3817198B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- optical path
- medium
- optical
- moving mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、装置における光路制御装置、光路制御方法および光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、光ディスク装置における光学系は、図8に示すように、媒体をリードする場合、レーザ71から発した光は、コリメーターレンズ72を透過し偏光面がそろえられビームスプリッタ(1)73により立上ミラー74により媒体76へと向かう。対物レンズ75は、媒体76に向かった光を媒体76で焦点を結ぶように働く。媒体76の磁場によるカー効果で偏光面が変えられた光は、対物レンズ75,立上ミラー74,ビームスプリッタ(1)73を通りビームスプリッタ(2)77に向かう。ビームスプリッタ(2)77では、トラック,フォーカス制御を行うためのサーボ系の光学系と媒体76に書かれた信号を読み取る光学系へと2つに分けられる。
【0003】
媒体76に書かれた信号を読み取る光学系は、波長板78により、光の偏光面を+45度して、偏光ビームスプリッタ79で、光を分割する。MOディテクター80は、その2つの光を電気信号に変える。その電気信号をヘッドアンプ23で加算増幅,差動増幅し、ID信号,MO信号を読み取る。MO信号を変調しリードデータを得る。
【0004】
ビームスプリッタ(2)77で分けられたトラック,フォーカス制御を行うためのサーボ系の光学系光路は、ビームスプリッタ(3)82でTES(TRACK ERROR SIGNAL)を分け、2分割したTESディテクター83で電気信号に変換し、ヘッドアンプ23で増幅する。
【0005】
FES(FOCUS ERROR SIGNAL)は、Sレンズ84,ビームスプリッタ(3)82,Sプリズム85を介してFESディテクタ86で電気信号に変換し、ヘッドアンプ23で増幅する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
近年、レーザーダイオードの発達により、今まで赤色レーザーから青色レーザーが使用されビーム径が小さくなり、それに伴い、大容量記録が可能になっている。光の周波数が上がったこと(E∝f2)とビーム径が小さくなったことにより、光エネルギー密度も増加しかつ光の通る光路は常に一定であるために、ビームスプリッターやディテクターの余剰なエネルギーにより結晶格子またはセンサー粒子を傷つけて劣化が徐々に始まる。結晶格子またはセンサー粒子のほんの少数が破壊されても装置での機能上はさほど問題にはならないが、欠陥が増え過ぎたり、変色して部分的な大きな欠陥となると、MO,TES,FES信号の信号レベルが低下しノイズが増大するために大幅にS/Nが低下し、装置としての機能を満たさなくなる。
【0007】
このため、上述した劣化が、光ディスク装置としての寿命を短くすることとなる。ここで、欠陥が増えて機能をなさなくなった部分,変色等により部分的に機能をなさなくなった部分を以降、「焼け」と呼ぶようにします。
【0008】
そこで、いつも光路は一定であるので、ビームスプリッターやディテクターの光のあたる部分のみ結晶格子の破壊やセンサー粒子の破壊が徐々に進んでしまう。また、光のあたっていなかった部分は結晶格子やセンサー粒子は正常なので、現在光があたっている部分に焼けが発生した場合、光のあたる部分を少しずらすことにより焼けが発生しても正常に動作させることが望まれている。
【0009】
本発明は、これらの問題を解決するため、光ディスク装置の光路中の素子へのビームの照射位置を移動させて当該素子へのビーム照射による焼けなどを自動的に回避し、寿命を改善して素子の交換の手間を回避することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】
図1を参照して課題を解決するための手段を説明する。
【0011】
図1において、媒体76は、レーザ光を照射してデータを読み書きするものである。
【0012】
キャリッジ102は、媒体76の該当位置にフォーカスしたレーザ光を照射したり、反射したレーザ光を取り込んだりなどするためのものである。
【0013】
固定光学系103は、レーザ光を発生させてキャリッジ102を経由して媒体26にレーザ光を照射したり、反射して帰ってきたレーザ光を電気信号に変換したり、フォーカス、トラックサーボなどの各種制御を行うための信号を検出したりなどするものである。
【0014】
移動機構101は、固定光学系103で使用される素子についてレーザ光の照射される位置を移動させるための機構である(図中の34ないし40)。
【0015】
次に、動作を説明する。
固定光学系103を構成するレーザ71から放射されたレーザ光をキャリッジ102を介して媒体76に照射し、反射して帰ってきたレーザ光を固定光学系103を構成するディテクタで検出すると共に、レーザ照射源から放射されたレーザ光が媒体に到達するまでの経路上に配置された素子群、および媒体から反射されたレーザ光が検出素子で検出されるまでの経路上に配置された素子群のうちの1つあるいは複数の素子に当該レーザ光の照射される位置を移動させる移動機構101を設け、検出素子で検出される信号の強度あるいはS/N比が低下したときに、移動機構101を調整して大きくなる位置に移動させるようにしている。
【0016】
この際、媒体76のロード時に信号の強度あるいはS/N比が所定値よりも小さいときに、移動機構101により大きくなる位置に素子を移動させるようにしている。
【0017】
従って、光ディスク装置の光路中の素子へのビームの照射位置を移動させて当該素子へのビーム照射による焼けなどを自動的に回避し、寿命を改善して素子の交換の手間を回避することが可能となる。
【0018】
【発明の実施の形態】
次に、図1から図7を用いて本発明の実施の形態および動作を順次詳細に説明する。ここで、図1の71から80、82から86、および23は、図8と同様であるので説明を省略する。
【0019】
図1は、本発明のシステム構成図を示す。
図1において、移動機構101は、レーザ光の当たる素子の位置を移動させる機構であって、図中のビームスプリッタ(1)昇降機34、ビームスプリッタ(2)昇降機35、波長板昇降機36、偏向ビームスプリッタ昇降機37、MOディテクタ昇降機38、ビームスプリッタ(3)昇降機39、TESディテクタ昇降機40などから構成されるものである。これらをディテクタおよびビームスプリッタに分けて以下順次説明する。
【0020】
図2は、本発明の焼損例を示す。
図2の(a)は、ディテクタ焼損例を示す。左側に示すようにディテクタにレーザ光が照射されて図示の損傷部のS/Nが所定閾値よりも低下したと検出された場合、点線の円で示すように移動させ(移動機構101については図3参照)、右側に示すように、S/N比を元の値にほぼ復元することが可能となる。
【0021】
図2の(b)は、ビームスプリッタ焼損例を示す。これもディテクタと同様に、左側に示すようにビームスプリッタにレーザ光が照射されて図示の損傷部のS/Nが所定閾値よりも低下したと検出された場合、点線の円で示すように移動させ(移動機構101については図3参照)、右側に示す、透過光および反射光の両者について、S/N比を元の値にそれぞれほぼ復元することが可能となる。
【0022】
図3は、本発明の移動機構例を示す。
図3の(a)は、昇降の場合の移動機構の具体例を示す。
【0023】
図3の(a−1)は、昇降機構(手動)の例を示す。上段は側面断面図を示し、下段は底面図を示す。ここで、テーブル111上に昇降対象の素子(例えば図1のMOディテクタ38)を搭載し、エンクロジャ112内に設けたネジ113を操作者がドライバなどで回転させると、当該ネジ113の回転に伴いテーブル111上の素子が昇降する。この際、回転防止棒114でテーブル111の回転が防止されると共に、スプリング115でネジ113のガタ(隙間)などによる影響が生じないようにテーブル111を上方向に押し上げている。
【0024】
図3の(a−2)は、昇降機構(自動)の例を示す。上段は側面断面図を示し、下段は底面図を示す。ここで、電磁石116に通電して力(所定の吸引力あるいは所定の反発力)を発生させることで図3の(a−1)と同様に、テーブル11を昇降させ、媒体76のロード時などにS/N比が所定閾値以下となったときに自動的にS/N比を元に復元することが可能となる。
【0025】
図3の(b)は、左右移動の場合の移動機構(手動)の具体例を示す。
図3の(b−1)は、移動機(手動)の例を示す。左側は左側面図を示し、右側は正面断面図を示す。ここで、テーブル111上に左右移動対象の素子を搭載し、エンクロジャ112内に設けたネジ113を操作者がドライバなどで回転させると、当該ネジ113の回転に伴いテーブル111上の素子が左右移動する。
【0026】
図3の(b−2)は、左右移動の場合の移動機構(自動)の具体例を示す。左側は左側面図を示し、右側は正面断面図を示す。ここで、磁石118の間に設けた電磁石120に通電して力(所定の吸引力あるいは所定の反発力)を発生させることで図3の(b−1)と同様に、テーブル11を左右方向移動させ、媒体76のロード時などにS/N比が所定閾値以下となったときに自動的にS/N比を元に復元することが可能となる。
【0027】
尚、光学素子自体の光の当たる部分がピンポイントであり、移動することにより機能を失ってしまう素子,または、移動することにより光路が変わってしまい再調整が必要な素子については移動はできないので対象外となる。ここで、図1により固定光学系の各素子を分類すると、移動できない素子としては、レーザー71,コリメートレンズ72,Sレンズ84,Sプリズム85,FESディテクタ86であり、上下方向のみ移動可能な素子は、MOディテクタ81,TESディテクタ83であり、光路に対して上下左右移動可能な素子は、ビームスプリッタ(1)73,ビームスプリッタ(2)77,偏光ビームスプリッタ79,ビームスプリッタ(3)83である。
【0028】
図4および図5は、本発明の制御フローチャートを示す。以下、図6の回路ブロック図によって制御する場合の動作を説明する。
【0029】
図4において、S1は、MPUがメモリより34〜40の各昇降機の位置電流の設定値を取得する。
【0030】
S2は、MPUがDSPを介して各ドライバ16〜22に位置電流設定値通り電流を流し33〜40の位置を決める。
【0031】
S3は、光ディスク(媒体76)に書かれた製造情報を読み込む。
S4は、TES信号が異常か判別する。YESの場合には、TES信号が異常で、本願発明に係わる移動機構によるレーザ光の素子への照射位置に焼けが発生したと判明したので、図5のS11に進む。NOの場合には、正常と判明したので、S5に進む。
【0032】
S5は、FES信号が異常か判別する。YESの場合には、FES信号が異常で、本願発明に係わる移動機構によるレーザ光の素子への照射位置に焼けが発生したと判明したので、S31に進む。NOの場合には、正常と判明したので、S6に進む。
【0033】
S6は、ID信号が異常か判別する。YESの場合には、ID信号が異常で、本願発明に係わる移動機構によるレーザ光の素子への照射位置に焼けが発生したと判明したので、図5のS21に進む。NOの場合には、正常と判明したので、終了する。
【0034】
(1) S4のYESでTES信号の異常(信号の劣化)と判明した場合:
図5において、S11は、DSPがドライバ22を制御しTESディテクタ40を上下し信号が改善する電流を探す。
【0035】
S12は、改善する電流がないか判別する。YESの場合には、S13でDSPがドライバ22を制御してTESディテクタを元の位置に戻す。そして、図4のS31に進む。一方、S12のNOの場合には、図4のS41に進む。
【0036】
(2) S5のYESでFES信号の異常(信号の劣化)と判明した場合:
図4において、S31は、DSPがドライバ21を制御しビームスプリッタ(3)39を上下して信号が改善する電流を探す。
【0037】
S32は、改善する電流がないか判別する。YESの場合には、S33に進む。NOの場合には、改善する電流が有りと判明したので、S41に進む。
【0038】
S33は、DSPがドライバ21を制御しビームスプリッタ(3)39を元の位置に戻す。
【0039】
S34は、DSPがドライバ17を制御しビームスプリッタ(2)35を上下し信号が改善する電流を探す。
【0040】
S35は、改善する電流がないか判別する。YESの場合には、S36に進む。NOの場合には、改善する電流が有りと判明したので、S41に進む。
【0041】
S36は、DSPがドライバ17を制御しビームスプリッタ(2)35を元の位置に戻す。
【0042】
S37は、DSPがドライバ16を制御しビームスプリッタ(1)を上下して信号が改善する電流を探す。
【0043】
S38は、改善する電流がないか判別する。YESの場合には、S39に進む。NOの場合には、改善する電流が有りと判明したので、S41に進む。
【0044】
S39は、DSPがドライバ16を制御しビームスプリッタ(1)34を元の位置に戻す。
【0045】
S40は、DSPがMPUにアラーム(素子を移動させてもS/N改善不可の旨のメッセージ)を表示する。そして、終了する。
【0046】
(3) S6のYESでID信号の異常(信号の劣化)と判明した場合:
図5において、S21は、DSPがドライバ20を制御しMOディテクタ38を上下し信号が改善する電流を探す。
【0047】
S22は、改善する電流がないか判別する。YESの場合には、S23に進む。NOの場合には、改善する電流があると判明したので、図4のS41に進む。
【0048】
S23は、DSPがドライバ20を制御しMOディテクタ38を元の位置に戻す。
【0049】
S24は、DSPがドライバ19を制御し偏向ビームスプリッタ37を上下し信号が改善する電流を探す。
【0050】
S25は、改善する電流がないか判別する。YESの場合には、S26に進む。NOの場合には、改善する電流があると判明したので、図4のS41に進む。
【0051】
S26は、DSPがドライバ19を制御し偏向ビームスプリッタ37を元の位置に戻す。
【0052】
S27は、DSPがドライバ18を制御し波長板36を上下し信号が改善する電流を探す。
【0053】
S28は、改善する電流がないか判別する。YESの場合には、S29に進む。NOの場合には、改善する電流があると判明したので、図4のS41に進む。
【0054】
S29は、DSPがドライバ18を制御し波長板36を元の位置に戻す。そして、図4のS34に進む。
【0055】
図4において、S41は、DSPがMPUに改善した場所と電流値を通知する。
【0056】
S42は、MPUがメモリに改善した電流値を書き換える。
S43は、MPUがメモリに改善前の電流値を焼損履歴として残す。そして、終了する。
【0057】
以上によって、媒体76から読出した信号をもとに、TES信号、FES信号、ID信号の異常(信号劣化)が検出されたときに、図1の移動機構101(34から40)を所定の順番で順次制御(上下移動、左右移動)させ、信号が改善されたときにその改善された電流値に更新すると共にメモリに当該更新した電流値を記憶、および直前の電流値を損傷した場所の履歴として保存することにより、逐次、TES信号、FES信号、ID信号のS/N比などが所定閾値以下となって異常と判明した場合に、自動的にレーザ光の照射される場所を移動させてS/N比を自動的に改善することが可能となる。
【0058】
図6は、本発明の回路ブロック図を示す。これは、既述した図1の構成に対して使用する回路ブロック図であって、既述した図4および図5のフローチャートに従い、レーザ光の照射する素子の位置を移動させて、S/N比を自動的に改善するときの回路ブロック図である。
【0059】
図6において、MPU1は、マイクロプロセッサであって、プログラムに従い全体を統括制御するものである。
【0060】
メモリ2は、データを記憶するものであって、ここでは、移動機構101(図1の34〜40の移動機構)に対して、良好なS/N比が得られる電流値を記憶するものである。
【0061】
インタフェース3は、ホスト装置との間でデータの授受を行うためのインタフェースである。
【0062】
水晶振動子4は、クロックを発生するものである。
ODC光ディスクコントローラ5は、光ディスクをフォーマットしたり、ECC処理を行ったりなどの制御を行うものである。
【0063】
リード/ライトLSI回路6は、光ディスク(媒体76)にデータをライトしたり、リードしたりするものである。
【0064】
DSP7は、高速に各種制御を行うものであって、ここでは、ドライバなどを駆動したり、TES検出回路9、FES検出回路10などからの信号を取り込んで各種制御を行ったりなどするものである。
【0065】
ドライバ11から22は、モータ、アクチュエータ、昇降機などを駆動するものである。
【0066】
移動機構101は、スプリッタなどを上下、あるいは左右に移動させるものである。
【0067】
図7は、本発明のMO波形例を示す。
図7の(a)は焼損時の波形を示し、図7の(b)は焼損回避あるいは焼損前の波形を示す。ここで、素子にレーザ光が照射されて焼損した時には、MO信号の波形として、高調波成分がのり振幅が図示のように小さくなる。ここで、高調波成分はノイズであり、Nが大きくなったのとSが小さくなったのでS/N比が結果的に低下している。当該S/N比が所定値よりも低下したときは、既述したようにして、移動機構101により上下、あるいは左右にレーザ光の照射場所を既述した図2に示すように、移動させてS/N比の回復した電流値(場所)に設定し、自動的にS/N比の劣化を復元することが可能となる。
【0068】
(付記1)
装置における光路制御装置において、
レーザ照射源から放射されたレーザ光が媒体に到達するまでの経路上に配置された素子群、および媒体から反射されたレーザ光が検出素子で検出されるまでの経路上に配置された素子群のうちの1つあるいは複数の素子に当該レーザ光の照射される位置を移動させる移動機構を備えたことを特徴とする光路制御装置。
【0069】
(付記2)
前記検出素子で検出される信号の強度あるいはS/N比が低下したときに、前記移動機構を調整して大きくなる位置に移動させる手段を備えたことを特徴とする付記1記載の光路制御装置。
【0070】
(付記3)
前記媒体のロード時に前記信号の強度あるいはS/N比が所定値よりも小さいときに、前記移動機構により大きくなる位置に前記素子を移動させることを特徴とする付記1あるいは付記2記載の光路制御装置。
【0071】
(付記4)
装置における光路制御方法において、
レーザ照射源から放射されたレーザ光が媒体に到達するまでの経路上に配置された素子群、および媒体から反射されたレーザ光が検出素子で検出されるまでの経路上に配置された素子群のうちの1つあるいは複数の素子に当該レーザ光の照射される位置を当該素子に設けた移動機構により移動させて、前記検出素子で検出される信号の強度あるいはS/N比を大きくすることを特徴とする光路制御方法。
【0072】
(付記5)
前記検出素子で検出される信号の強度あるいはS/N比が所定値よりも小さくなったときに前記移動機構により素子を移動させて当該信号の強度あるいはS/N比を大きくしたことを特徴とする付記4記載の光路制御方法。
【0073】
(付記6)
光装置において、
レーザ照射源から放射されたレーザ光が媒体に到達するまでの経路上に配置された素子群、および媒体から反射されたレーザ光が検出素子で検出されるまでの経路上に配置された素子群のうちの1つあるいは複数の素子に当該レーザ光の照射される位置を移動させる移動機構を備えたことを特徴とする光装置。
【0074】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光ディスク装置の光路中の素子へのビームの照射位置を移動させて当該素子へのビーム照射による焼けなどを自動的に回避し、寿命を改善して素子の交換の手間を回避することが可能となる。これにより、
(1)光学素子をマニュアルで移動可能にして、光学素子に焼けが発生した場合、焼けのない部分に移動するだけで修理可能となり、交換部品が少なくてすむ。
【0075】
(2)光学素子を媒体ロード時に、焼けと思われる箇所の光学素子を動かし、焼けのない部分に移動させ、光学素子の焼けを自動的に回避し、光学素子の焼けによる光ディスク装置の機能停止を防止できる。
(3)履歴として、焼けた素子と焼けた電流値を記録し、光学素子の状況を容易に把握できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ディスク装置の光学系概略図である。
【図2】本発明の焼損例である。
【図3】本発明の移動機構例である。
【図4】本発明の制御フローチャート(その1)である。
【図5】本発明の制御フローチャート(その2)である。
【図6】本発明回路ブロック図である。
【図7】本発明のMO波形例である。
【図8】従来の光ディスク装置の光学系概略図である。
【符号の説明】
1:MPU
2:メモリ
11〜22:ドライバ
34:ビームスプリッタ(1)昇降機
35:ビームスプリッタ(2)昇降機
36:波長板昇降機
37:偏向ビームスプリッタ昇降機
38:MOディテクタ昇降機
39:ビームスプリッタ(3)昇降機
40:TESディテクタ昇降機
71:レーザ
72:コリメータレンズ
73:ビームスプリッタ(1)
74:立上ミラー
75:対物レンズ
76:媒体
77:ビームスプリッタ(2)
78:波長板
79:偏向ビームスプリッタ
80:MOディテクタ
83:TESディテクタ
86:FESディテクタ
101:移動機構
102:キャリッジ
103:固定光学系[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical path control device, an optical path control method, and an optical device in an apparatus.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in an optical system in an optical disk apparatus, as shown in FIG. 8, when reading a medium, light emitted from a laser 71 is transmitted through a
[0003]
In the optical system that reads a signal written on the medium 76, the polarization plane of the light is +45 degrees by the wave plate 78, and the light is split by the polarization beam splitter 79. The MO detector 80 converts the two lights into electrical signals. The electric signal is subjected to addition amplification and differential amplification by the
[0004]
The optical system optical path of the servo system for performing the track and focus control divided by the beam splitter (2) 77 is divided by the TES (TRACK ERROR SIGNAL) by the beam splitter (3) 82, and the
[0005]
FES (FOCUS ERROR SIGNAL) is converted into an electrical signal by the
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In recent years, with the development of laser diodes, a red laser to a blue laser have been used so far, and the beam diameter has been reduced, and accordingly, large-capacity recording has become possible. Because the light frequency is increased (E∝f2) and the beam diameter is reduced, the light energy density is also increased and the optical path through which the light passes is always constant. Therefore, the excess energy of the beam splitter and detector Degradation begins gradually with damage to the crystal lattice or sensor particles. Even if only a small number of crystal lattices or sensor particles are destroyed, there is not much problem with the function of the device. However, if the number of defects increases or discolors into partial large defects, the MO, TES, and FES signals Since the signal level is reduced and the noise is increased, the S / N is significantly reduced, and the function as the device is not satisfied.
[0007]
For this reason, the above-described deterioration shortens the life of the optical disc apparatus. Here, the part that does not function due to an increase in defects, or the part that does not function partially due to discoloration, etc. will be referred to as “burn”.
[0008]
Therefore, since the optical path is always constant, the destruction of the crystal lattice and the destruction of the sensor particles proceed gradually only in the portion where the light from the beam splitter or detector is irradiated. In addition, since the crystal lattice and sensor particles are normal in the part that was not exposed to light, if the part that is currently exposed to light is burnt, it will be normal even if the part that is exposed to light is slightly burned. It is desired to operate.
[0009]
In order to solve these problems, the present invention moves the irradiation position of the beam to the element in the optical path of the optical disk apparatus to automatically avoid the burning due to the beam irradiation on the element, thereby improving the life. The object is to avoid the trouble of replacing elements.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
Means for solving the problem will be described with reference to FIG.
[0011]
In FIG. 1, a medium 76 reads and writes data by irradiating a laser beam.
[0012]
The carriage 102 is for irradiating a focused laser beam on a corresponding position of the medium 76 or taking in a reflected laser beam.
[0013]
The fixed optical system 103 generates a laser beam and irradiates the
[0014]
The moving mechanism 101 is a mechanism for moving the position irradiated with the laser light for the elements used in the fixed optical system 103 (34 to 40 in the figure).
[0015]
Next, the operation will be described.
The laser beam emitted from the laser 71 constituting the fixed optical system 103 is irradiated onto the medium 76 via the carriage 102, and the reflected laser beam is detected by the detector constituting the fixed optical system 103, and the laser An element group arranged on the path until the laser light emitted from the irradiation source reaches the medium, and an element group arranged on the path until the laser beam reflected from the medium is detected by the detection element One or a plurality of elements are provided with a moving mechanism 101 that moves the position irradiated with the laser light, and the moving mechanism 101 is moved when the intensity of the signal detected by the detecting element or the S / N ratio decreases. It is adjusted and moved to a larger position.
[0016]
At this time, when the signal strength or S / N ratio is smaller than a predetermined value when the medium 76 is loaded, the element is moved to a position where the element is increased by the moving mechanism 101.
[0017]
Accordingly, it is possible to automatically avoid the burning due to the beam irradiation to the element by moving the irradiation position of the beam in the optical path of the optical disk apparatus, to improve the life and to avoid the trouble of replacing the element. It becomes possible.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, embodiments and operations of the present invention will be described sequentially in detail with reference to FIGS. Here, 71 to 80, 82 to 86, and 23 in FIG. 1 are the same as those in FIG.
[0019]
FIG. 1 shows a system configuration diagram of the present invention.
In FIG. 1, a moving mechanism 101 is a mechanism for moving the position of an element that is exposed to laser light. In FIG. 1, a beam splitter (1)
[0020]
FIG. 2 shows an example of burnout according to the present invention.
FIG. 2A shows an example of detector burnout. When the detector is irradiated with laser light as shown on the left and it is detected that the S / N of the damaged portion shown in the figure is lower than a predetermined threshold value, the detector is moved as indicated by the dotted circle (the moving mechanism 101 is shown in FIG. 3), as shown on the right side, the S / N ratio can be almost restored to the original value.
[0021]
FIG. 2B shows an example of beam splitter burning. Similarly to the detector, as shown on the left side, when the beam splitter is irradiated with the laser beam and the S / N of the damaged portion shown in the figure is detected to be lower than the predetermined threshold, it moves as indicated by a dotted circle. (For the moving mechanism 101, see FIG. 3), it is possible to almost restore the S / N ratio to the original value for both transmitted light and reflected light shown on the right side.
[0022]
FIG. 3 shows an example of the moving mechanism of the present invention.
FIG. 3A shows a specific example of a moving mechanism in the case of raising and lowering.
[0023]
(A-1) of FIG. 3 shows the example of a raising / lowering mechanism (manual). The upper part shows a side sectional view, and the lower part shows a bottom view. Here, when an element to be moved up and down (for example, the
[0024]
(A-2) in FIG. 3 shows an example of an elevating mechanism (automatic). The upper part shows a side sectional view, and the lower part shows a bottom view. Here, by energizing the
[0025]
FIG. 3B shows a specific example of a moving mechanism (manual) in the case of left-right movement.
FIG. 3B-1 shows an example of a mobile device (manual). The left side shows a left side view, and the right side shows a front sectional view. Here, when an element to be moved left and right is mounted on the table 111 and the operator rotates the screw 113 provided in the enclosure 112 with a screwdriver or the like, the element on the table 111 moves to the left and right as the screw 113 rotates. To do.
[0026]
(B-2) of FIG. 3 shows a specific example of the moving mechanism (automatic) in the case of left-right movement. The left side shows a left side view, and the right side shows a front sectional view. Here, by energizing the
[0027]
It should be noted that the portion of the optical element itself that is exposed to light is a pinpoint, and an element that loses its function by movement or an element that changes its optical path due to movement and cannot be moved cannot be moved. Not applicable. Here, when each element of the fixed optical system is classified according to FIG. 1, the elements that cannot be moved are the laser 71, the collimating
[0028]
4 and 5 show a control flowchart of the present invention. Hereinafter, the operation in the case of control will be described with reference to the circuit block diagram of FIG.
[0029]
In FIG. 4, in S <b> 1, the MPU acquires a set value of the position current of each
[0030]
In S2, the MPU passes the currents to the
[0031]
In S3, manufacturing information written on the optical disk (medium 76) is read.
S4 determines whether the TES signal is abnormal. In the case of YES, it is found that the TES signal is abnormal and that the laser beam has been irradiated onto the element by the moving mechanism according to the present invention, so the process proceeds to S11 in FIG. In the case of NO, since it is found to be normal, the process proceeds to S5.
[0032]
S5 determines whether the FES signal is abnormal. If YES, it is determined that the FES signal is abnormal and that the laser beam has been irradiated onto the element by the moving mechanism according to the present invention, so that the process proceeds to S31. In the case of NO, since it is found to be normal, the process proceeds to S6.
[0033]
In S6, it is determined whether the ID signal is abnormal. In the case of YES, since the ID signal is abnormal and it has been found that the laser beam is irradiated on the element by the moving mechanism according to the present invention, the process proceeds to S21 in FIG. In the case of NO, since it is found to be normal, the process is terminated.
[0034]
(1) If it is determined that the TES signal is abnormal (deterioration of signal) in S4 YES:
In FIG. 5, in S11, the DSP controls the
[0035]
In step S12, it is determined whether there is a current to be improved. If YES, the DSP controls the
[0036]
(2) If YES in S5 indicates that the FES signal is abnormal (deterioration of signal):
In FIG. 4, in S31, the DSP controls the
[0037]
In step S32, it is determined whether there is a current to be improved. If YES, the process proceeds to S33. In the case of NO, since it has been found that there is a current to be improved, the process proceeds to S41.
[0038]
In S33, the DSP controls the
[0039]
In S34, the DSP controls the
[0040]
In S35, it is determined whether there is a current to be improved. If YES, the process proceeds to S36. In the case of NO, since it has been found that there is a current to be improved, the process proceeds to S41.
[0041]
In S36, the DSP controls the
[0042]
In S37, the DSP controls the
[0043]
In S38, it is determined whether or not there is a current to be improved. If YES, the process proceeds to S39. In the case of NO, since it has been found that there is a current to be improved, the process proceeds to S41.
[0044]
In S39, the DSP controls the
[0045]
In S40, the DSP displays an alarm (message indicating that the S / N cannot be improved even if the element is moved) on the MPU. And it ends.
[0046]
(3) If it is determined that the ID signal is abnormal (deterioration of signal) in S6 YES:
In FIG. 5, in S21, the DSP controls the
[0047]
In step S22, it is determined whether there is a current to be improved. If YES, the process proceeds to S23. In the case of NO, since it has been found that there is a current to be improved, the process proceeds to S41 in FIG.
[0048]
In S23, the DSP controls the
[0049]
In S24, the DSP controls the
[0050]
In S25, it is determined whether there is a current to be improved. If YES, the process proceeds to S26. In the case of NO, since it has been found that there is a current to be improved, the process proceeds to S41 in FIG.
[0051]
In S26, the DSP controls the
[0052]
In S27, the DSP controls the
[0053]
In S28, it is determined whether or not there is a current to be improved. If YES, the process proceeds to S29. In the case of NO, since it has been found that there is a current to be improved, the process proceeds to S41 in FIG.
[0054]
In S29, the DSP controls the
[0055]
In FIG. 4, S41 notifies the location where the DSP has improved to the MPU and the current value.
[0056]
In S42, the MPU rewrites the improved current value in the memory.
In S43, the MPU leaves the current value before improvement as a burnout history in the memory. And it ends.
[0057]
As described above, when an abnormality (signal deterioration) in the TES signal, the FES signal, and the ID signal is detected based on the signal read from the medium 76, the moving mechanism 101 (34 to 40) in FIG. , Sequentially control (up and down movement, left and right movement), when the signal is improved, it is updated to the improved current value, the updated current value is stored in the memory, and the history of the place where the previous current value was damaged If the S / N ratio of the TES signal, FES signal, ID signal, etc. falls below a predetermined threshold and is found to be abnormal, the location where the laser beam is irradiated is automatically moved. It is possible to automatically improve the S / N ratio.
[0058]
FIG. 6 shows a circuit block diagram of the present invention. This is a circuit block diagram used for the configuration of FIG. 1 described above, and according to the flowcharts of FIG. 4 and FIG. It is a circuit block diagram when improving a ratio automatically.
[0059]
In FIG. 6, an MPU 1 is a microprocessor and performs overall control according to a program.
[0060]
The
[0061]
The
[0062]
The
The ODC
[0063]
The read / write
[0064]
The DSP 7 performs various controls at high speed. Here, the DSP 7 drives a driver or the like, and performs various controls by taking in signals from the TES detection circuit 9 and the
[0065]
Drivers 11 to 22 drive motors, actuators, elevators and the like.
[0066]
The moving mechanism 101 moves a splitter or the like up and down or left and right.
[0067]
FIG. 7 shows an example of the MO waveform of the present invention.
7A shows a waveform at the time of burning, and FIG. 7B shows a waveform before burning avoidance or before burning. Here, when the element is irradiated with laser light and burned out, the harmonic component of the MO signal waveform is reduced and the amplitude is reduced as shown in the figure. Here, the harmonic component is noise, and the S / N ratio is lowered as a result of the increase in N and the decrease in S. When the S / N ratio falls below a predetermined value, as described above, the laser beam irradiation place is moved up and down or left and right by the moving mechanism 101 as shown in FIG. It is possible to set the current value (location) where the S / N ratio has been recovered to automatically restore the deterioration of the S / N ratio.
[0068]
(Appendix 1)
In the optical path control device in the device,
Element group arranged on the path until the laser beam emitted from the laser irradiation source reaches the medium, and element group arranged on the path until the laser beam reflected from the medium is detected by the detection element An optical path control device comprising a moving mechanism for moving one or a plurality of elements to a position irradiated with the laser light.
[0069]
(Appendix 2)
The optical path control device according to claim 1, further comprising means for adjusting the moving mechanism to move it to a position where it increases when the intensity or S / N ratio of the signal detected by the detecting element decreases. .
[0070]
(Appendix 3)
3. The optical path control according to appendix 1 or
[0071]
(Appendix 4)
In the optical path control method in the apparatus,
Element group arranged on the path until the laser beam emitted from the laser irradiation source reaches the medium, and element group arranged on the path until the laser beam reflected from the medium is detected by the detection element The position where the laser beam is irradiated to one or a plurality of elements is moved by a moving mechanism provided in the element, and the intensity or S / N ratio of the signal detected by the detection element is increased. An optical path control method characterized by the above.
[0072]
(Appendix 5)
When the intensity or S / N ratio of the signal detected by the detection element becomes smaller than a predetermined value, the element is moved by the moving mechanism to increase the intensity or S / N ratio of the signal. The optical path control method according to
[0073]
(Appendix 6)
In the optical device,
Element group arranged on the path until the laser beam emitted from the laser irradiation source reaches the medium, and element group arranged on the path until the laser beam reflected from the medium is detected by the detection element An optical device comprising a moving mechanism for moving one or a plurality of elements to a position irradiated with the laser light.
[0074]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the irradiation position of the beam to the element in the optical path of the optical disk apparatus is moved to automatically avoid the burning due to the beam irradiation on the element, thereby improving the life. It is possible to avoid the trouble of exchanging elements. This
(1) If the optical element can be moved manually and the optical element is burnt, it can be repaired by simply moving it to a non-burned part, and the number of replacement parts can be reduced.
[0075]
(2) When the optical element is loaded on the medium, the optical element at the spot that seems to be burned is moved and moved to the non-burned area, and the burn of the optical element is automatically avoided, and the optical disk device stops functioning due to the burning of the optical element. Can be prevented.
(3) The burned element and burned current value are recorded as the history, and the status of the optical element can be easily grasped.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram of an optical system of an optical disc apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is an example of burnout according to the present invention.
FIG. 3 is an example of a moving mechanism of the present invention.
FIG. 4 is a control flowchart (No. 1) according to the present invention.
FIG. 5 is a control flowchart (No. 2) according to the present invention.
FIG. 6 is a circuit block diagram of the present invention.
FIG. 7 is an example of an MO waveform according to the present invention.
FIG. 8 is a schematic diagram of an optical system of a conventional optical disc apparatus.
[Explanation of symbols]
1: MPU
2: Memory 11-22: Driver 34: Beam splitter (1) Elevator 35: Beam splitter (2) Elevator 36: Wave plate elevator 37: Deflection beam splitter elevator 38: MO detector elevator 39: Beam splitter (3) Elevator 40: TES detector lift 71: laser 72: collimator lens 73: beam splitter (1)
74: Upright mirror 75: Objective lens 76: Medium 77: Beam splitter (2)
78: Wave plate 79: Deflection beam splitter 80: MO detector 83: TES detector 86: FES detector 101: Moving mechanism 102: Carriage 103: Fixed optical system
Claims (5)
レーザ照射源から放射されたレーザ光が媒体に到達するまでの経路上に配置された素子群、および媒体から反射されたレーザ光が検出素子で検出されるまでの経路上に配置された素子群のうちの1つあるいは複数の素子に当該レーザ光の照射される位置を移動させる移動機構を備えたことを特徴とする光路制御装置。In the optical path control device in the device,
Element group arranged on the path until the laser beam emitted from the laser irradiation source reaches the medium, and element group arranged on the path until the laser beam reflected from the medium is detected by the detection element An optical path control device comprising a moving mechanism for moving one or a plurality of elements to a position irradiated with the laser light.
レーザ照射源から放射されたレーザ光が媒体に到達するまでの経路上に配置された素子群、および媒体から反射されたレーザ光が検出素子で検出されるまでの経路上に配置された素子群のうちの1つあるいは複数の素子に当該レーザ光の照射される位置を当該素子に設けた移動機構により移動させて、前記検出素子で検出される信号の強度あるいはS/N比を大きくすることを特徴とする光路制御方法。In the optical path control method in the apparatus,
Element group arranged on the path until the laser beam emitted from the laser irradiation source reaches the medium, and element group arranged on the path until the laser beam reflected from the medium is detected by the detection element The position where the laser beam is irradiated to one or a plurality of elements is moved by a moving mechanism provided in the element, and the intensity or S / N ratio of the signal detected by the detection element is increased. An optical path control method characterized by the above.
レーザ照射源から放射されたレーザ光が媒体に到達するまでの経路上に配置された素子群、および媒体から反射されたレーザ光が検出素子で検出されるまでの経路上に配置された素子群のうちの1つあるいは複数の素子に当該レーザ光の照射される位置を移動させる移動機構を備えたことを特徴とする光装置。In the optical device,
Element group arranged on the path until the laser beam emitted from the laser irradiation source reaches the medium, and element group arranged on the path until the laser beam reflected from the medium is detected by the detection element An optical device comprising a moving mechanism for moving one or a plurality of elements to a position irradiated with the laser light.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002159849A JP3817198B2 (en) | 2002-05-31 | 2002-05-31 | Optical path control device, optical path control method, and optical device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002159849A JP3817198B2 (en) | 2002-05-31 | 2002-05-31 | Optical path control device, optical path control method, and optical device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004005831A JP2004005831A (en) | 2004-01-08 |
| JP3817198B2 true JP3817198B2 (en) | 2006-08-30 |
Family
ID=30429463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002159849A Expired - Fee Related JP3817198B2 (en) | 2002-05-31 | 2002-05-31 | Optical path control device, optical path control method, and optical device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3817198B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5849182B2 (en) * | 2011-06-28 | 2016-01-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Exposure method |
-
2002
- 2002-05-31 JP JP2002159849A patent/JP3817198B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004005831A (en) | 2004-01-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100702563B1 (en) | Light output adjusting device and light output adjusting method | |
| JP2005332449A (en) | Optical pickup device, optical recording / reproducing device, and tilt control method | |
| JP3817198B2 (en) | Optical path control device, optical path control method, and optical device | |
| JPH07134865A (en) | Optical disk device | |
| JP2010055678A (en) | Optical disk device | |
| JP5452542B2 (en) | Optical pickup device and optical disk device | |
| JPS60214432A (en) | Optical information recording and reproducing device | |
| JPH09270175A (en) | Write-once optical disc device | |
| US7046609B2 (en) | Focus search method and reproducing apparatus | |
| JPH0661134B2 (en) | Optical recording / reproducing device | |
| CN103493136B (en) | Optical disk device | |
| JP2830346B2 (en) | Optical disk protection device | |
| JP3931774B2 (en) | Defect detection device | |
| JP4555721B2 (en) | Optical disk device | |
| US7626906B2 (en) | Tilt control method and apparatus for optical disc recording and playback apparatus | |
| US7577069B2 (en) | Tilt control method and apparatus for optical disc recording and playback apparatus | |
| JPH05182224A (en) | Optical disk device | |
| JP3635815B2 (en) | Tracking servo control circuit | |
| JPH04302831A (en) | High frequency driving device for laser diode | |
| JP2003263752A (en) | Optical disk recording and playback device | |
| JP2008123647A (en) | Optical disc apparatus and recording power correction method thereof | |
| JPH03116553A (en) | Optical disk device | |
| JPH052765A (en) | Actuator for optical pickup | |
| JPH0756699B2 (en) | Focus position control device | |
| JPH11353685A (en) | Optical disk drive |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041026 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060421 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060523 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060609 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090616 Year of fee payment: 3 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090616 Year of fee payment: 3 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |