JP3849953B2 - Automatic alignment mechanism of particle size distribution analyzer - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は光源からの光を試料に照射することによって得られる散乱光を光検出器で検出し、その散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒度分布を測定するようにした粒度分布測定装置におけるオートアライメント機構に関する。
【0002】
【従来の技術】
散乱式の粒度分布測定装置の構成は、例えば図9に示され、同図において、符号aはレーザ光bを発生させるレーザ管、cはレーザ光を拡大して平行光束とするビーム拡大器、dは試料eを収容するセル、fはセルdの後方に配置される集光レンズ、gは集光レンズfから出射される散乱光を検出するためのフォトダイオードよりなる光検出器、hは光検出器gからの信号を取り込むマルチプレクサ、iはマルチプレクサhからの信号が入力され、散乱光強度パターンに基づいて演算をおこない粒度分布を求めるCPUである。
【0003】
このような粒度分布測定装置では、レーザ管aと光検出器gの光軸が精度よく一致していなければならないが、レーザ管aが熱歪みを起こしたり、セルd,集光レンズf,光検出器g等を設けたベンチ(図示省略)が熱で歪んだり、また、セルdを交換したりする場合、その取付位置が変化するなどにより、光軸にずれが生じることがあり、測定の度毎に光軸の調整がおこなわれる。
【0004】
そのために、光検出器gの光軸中心部に、図示は省略するが、例えばフォトダイオードよりなる4分割の光軸調整用受光部を設け、その光軸調整用受光部を構成する4つの受光素子からそれぞれ出力される強度信号の大きさが等しくなるように、光検出器gをXY軸方向に移動させることにより、測定に先立って光軸合わせがおこなわれていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上述の光検出器gをXY軸方向に移動させるために、通常、図9に示すように、圧電素子やステッピングモータ等の2つのアクチュエータm,nが用いられ、かつ、その光検出器gはリングディテクタとも称されるように円弧状に形成した複数個のフォトダイオードよりなる受光素子を板面に扇形状に配列して大きな板状体に形成されていた。従って、光軸調整のために必要とされる移動量(またはステップ数)を確保するためには装置内に比較的大きなスペースを要し、また、構成も複雑になるという難点があった。
【0006】
本発明はこのような実情に鑑みてなされ、光検出器を移動させることなく光軸の自動調整をおこなうことのできる構成が簡易でコンパクトな、粒度分布測定装置のオートアライメント機構を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は上述の課題を解決するための手段を以下のように構成している。
すなわち、請求項1に記載の発明では、光源と、第1レンズ系と、光束を集光させるための第2レンズ系と、光検出器とを具備し、試料に光を照射させて発生した散乱光を前記光検出器で検出することにより得られる散乱光強度パターンに基づいて試料の粒度分布を測定するようにした散乱式の粒度分布測定装置のオートアライメント機構であって、前記光検出器の受光面に、複数の受光素子よりなる、光軸調整用の透過光検出用測定部としてのチェックパターンを設けると共に、前記光源を前記光検出器の受光面に対してXY軸方向に揺動操作するための一対のアクチュエータを球面でなるその先端部が互いに直交し合う方向に設け、これら一対のアクチュエータに対向させて戻しばねを設け、更に、光源の基部を中心として前記XY軸方向に揺動自在となるように前記基部が支持部材で支持されると共に、光源の先端部が前記一対のアクチュエータの前記先端部と戻しばねとの間に挟持される一方、予め設定・記憶させた光軸調整プログラムに従い、前記チェックパターンからの検出信号に基づいて、前記チェックパターンの前記複数の受光素子における各受光強度が全て等しくなるように前記光軸を調整するために前記光源を揺動させるための制御信号を前記アクチュエータに送出する光軸調整処理部を設けてなることを特徴としている。
【0008】
請求項2に記載の発明では、光源と、第1レンズ系と、光束を集光させるための第2レンズ系と、光検出器とを具備し、試料に光を照射させて発生した散乱光を前記光検出器で検出することにより得られる散乱光強度パターンに基づいて試料の粒度分布を測定するようにした散乱式の粒度分布測定装置のオートアライメント機構であって、前記光検出器の受光面に、複数の受光素子よりなる、光軸調整用の透過光検出用測定部としてのチェックパターンを設けると共に、前記光源を前記第1レンズ系、または、第1レンズ系及び第2レンズ系と一体化させ、その光源と第1レンズ系、または、第1レンズ系及び第2レンズ系を前記光検出器の受光面に対してXY軸方向に揺動操作するための一対のアクチュエータを球面でなるその先端部が互いに直交し合う方向に設け、これら一対のアクチュエータに対向させて戻しばねを設け、更に、前記光源と前記第1レンズ系、または、第1レンズ系及び第2レンズ系をケース体内に固定状態に収納し、前記ケース体の一端側を支持部材で支持させ、前記ケース体の他端側を前記XY軸方向に揺動操作できるように前記ケース体の他端側が前記一対のアクチュエータの前記先端部と戻しばねとの間に挟持される一方、予め設定・記憶させた光軸調整プログラムに従い、前記チェックパターンからの検出信号に基づいて、前記チェックパターンの前記複数の受光素子における各受光強度が全て等しくなるように前記光軸を調整するために前記光源とレンズ系とを揺動させるための制御信号を前記アクチュエータに送出する光軸調整処理部を設けてなることを特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の散乱式の粒度分布装置のオートアライメント機構の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1は装置の構成を示し、符号1はレーザ光を発生する光源(レーザ管)、2はレーザ光を適宜に拡大して平行光束とするビーム拡大器(本発明でいう第1レンズ系)で、例えば2つの凸レンズ21,22(図4(A)参照)よりなる。上述の光源1はその基部を中心として紙面に垂直な面内におけるXY軸方向に揺動自在となるようにその基部が支持部材3で支持されると共に、球面でなるその先端部が互いに直交し合う方向に設けられる一対のアクチュエータ4,5とこれらアクチュエータ4,5に対向して設けた戻しばね41,51(図示省略)によって支持され、その光源1の揺動操作によって光軸11をXY軸方向に移動調整できるようになっている(図2参照)。
【0010】
上述のアクチュエータ4,5は例えばステップモータよりなり、その回転によりその回転軸と連係させた作動軸が進退動作するものであり、上述のように、この作動軸の前記球面でなる先端部と戻しばね41,51との間に光源1の先端部を挟持させることによってその光源1を揺動させることができるが、スプッテモータに代えて圧電抵抗素子(PZT)を用いてもよい。
【0011】
6はフローセル、7は凸レンズよりなる集光レンズ(本発明でいう第2レンズ系)、9はフォトダイオードよりなる受光素子を配列した光検出器(図3参照)で、4つの受光素子よりなる光軸調整用の透過光検出用測定部(チェックパターン)91と、その透過光検出用測定部91を含む一つの検出平面(受光面)に設けられる散乱光検出用測定部92よりなる。10は光検出器9からの検出信号を取り込むマルチプレクサ、12はCPUであり、マルチプレクサ10からの信号が入力され、予め設定・記憶されている所定の制御プログラムに従い、散乱光強度パターンに基づいて粒度分布の測定をおこなうと共に、その測定に先立ち、光軸11を調整するためにアクチュエータ4,5に制御信号を送出する光軸調整処理部を含むものである。
【0012】
このような構成により、フローセル6内の試料にレーザ光を照射すると、レーザ光の一部が試料中の粒子を照射して散乱光となり、残りの光は粒子と粒子との間を通過して透過光となり、共に光検出器9に至る。
【0013】
このような構成の粒度分布測定装置では、測定に先立ち、測定対象となる試料をフローセル6内に注入した状態にて、まず、光軸調整処理部からの指令によってオートアライメント(光軸自動調整)がおこなわれる。すなわち、透過光検出用測定部91の4つの受光素子911〜914における各受光強度が全て等しくなるように両アクチュエータ4,5に対して制御信号が送出され、光源1が光検出器9の受光面に対してXY軸方向に揺動されることにより光軸11が自動調整される(図2参照)。
【0014】
この場合、第1レンズ系2から嵩高い光検出器9に至るまでの構成は固定状態として、寸法形状の比較的小さな光源1をわずかに揺動させるのみでよく、余分なスペースを別途要することなく、また、その光源1のわずかな揺動によって光軸11の調整量を大きくとれるので、従来よりも迅速にオートアライメントが可能となり、また、装置をコンパクトに形成することも可能となる。
【0015】
上述のオートアライメントが完了した後に、散乱光検出用測定部92により粒度分布の測定がおこなわれる。その散乱光検出用測定部92は、図3に示されるように、円弧状に形成した複数個の受光素子列92(921〜925)を扇形状に配列したものである。
【0016】
なお、本発明は光検出器9における受光素子の配列を図3に示すものに限定するものではなく、少なくとも受光面にチェックパターンと散乱光検出用測定部とが適宜な受光素子の配列で形成されていればよい。
【0017】
一方、上述のフローセル6の位置は図1に示す位置に限られることなく、集光レンズ7と光検出器9との間に配置してもよい。また、ビーム拡大器を構成する第1レンズ系2のレンズの組み合わせは、例えば図4(A)〜(C)および図5(A)〜(C)に示される中から適宜に選択されてよい。なお、図4(A)は凸レンズ21,22の組み合わせであり、図4(B)は凹レンズ23と凸レンズ24、図4(C)は凹レンズ23と合わせレンズ(凹レンズ24と凸レンズ25)、図5(A)は凸レンズ26と27、図5(B)は合わせレンズ(凸レンズ26と凹レンズ23)、(凹レンズ24と凸レンズ25)同士、図5(C)は合わせレンズ(凸レンズ26と凹レンズ23)、(凹レンズ24と凸レンズ25)同士の組み合わせである。
【0018】
図6,図7は異なる実施形態を示し、この場合、光源1と第1レンズ系2を一体化すると共に、ケース体8内にその第1レンズ系2とフローセル6および集光レンズ7を固定状態に収納し、そのケース体8の一端側を支持部材3で揺動自在に支持させる一方、その他端側を互いに直交し合う方向に設けた一対のアクチュエータ4,5の球面でなる先端部と戻しばね41,51(図示省略)によって支持させ、そのケース体8の他端側を紙面に垂直な面内のXY軸方向に揺動操作できるように構成されている。このような構成によっても、嵩高い光検出器9を動かすことなく、光軸11の自動調整を迅速に済ませることができ、かつ、装置をコンパクトに形成することができる。この場合もフローセル6が集光レンズ7と光検出器9との間にあってもよい。
【0019】
図8は別の実施形態を示し、この場合、ケース体8内には光源1と一体化された第1レンズ系2と集光レンズ7を固定状態に収納し、フローセル6はそのケース体8と光検出器9の間に固定状態に配置し、両アクチュエータ4,5によって光源1と第1レンズ系2および集光レンズ7を一体的にXY軸方向に揺動させることにより光軸11の自動調整ができる。
【0020】
この場合においても、その自動調整を迅速におこなうことができ、かつ、装置をコンパクトに形成することもできる。また、図示は省略するが、ケース体8内に光源1と一体化させた第1レンズ系2を固定状態に収納し、この光源1と第1レンズ系2を揺動させるようにしてもよい。
【0021】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明では、光源と、第1レンズ系と、光束を集光させるための第2レンズ系と、光検出器とを具備し、試料に光を照射させて発生した散乱光を前記光検出器で検出することにより得られる散乱光強度パターンに基づいて試料の粒度分布を測定するようにした散乱式の粒度分布測定装置のオートアライメント機構であって、前記光検出器の受光面に、複数の受光素子よりなる、光軸調整用の透過光検出用測定部としてのチェックパターンを設けると共に、前記光源を前記光検出器の受光面に対してXY軸方向に揺動操作するための一対のアクチュエータを球面でなるその先端部が互いに直交し合う方向に設け、これら一対のアクチュエータに対向させて戻しばねを設け、更に、光源の基部を中心として前記XY軸方向に揺動自在となるように前記基部が支持部材で支持されると共に、光源の先端部が前記一対のアクチュエータの前記先端部と戻しばねとの間に挟持される一方、予め設定・記憶させた光軸調整プログラムに従い、前記チェックパターンからの検出信号に基づいて、前記チェックパターンの前記複数の受光素子における各受光強度が全て等しくなるように前記光軸を調整するために前記光源を揺動させるための制御信号を前記アクチュエータに送出する光軸調整処理部を設けることにより、アクチュエータの駆動量を少なくしてより迅速に光軸の調整が可能となり、装置の構成が簡易なものとなり、コンパクト化も可能となる。
また、本発明では、光源と、第1レンズ系と、光束を集光させるための第2レンズ系と、光検出器とを具備し、試料に光を照射させて発生した散乱光を前記光検出器で検出することにより得られる散乱光強度パターンに基づいて試料の粒度分布を測定するようにした散乱式の粒度分布測定装置のオートアライメント機構であって、前記光検出器の受光面に、複数の受光素子よりなる、光軸調整用の透過光検出用測定部としてのチェックパターンを設けると共に、前記光源を前記第1レンズ系、または、第1レンズ系及び第2レンズ系と一体化させ、その光源と第1レンズ系、または、第1レンズ系及び第2レンズ系を前記光検出器の受光面に対してXY軸方向に揺動操作するための一対のアクチュエータを球面でなるその先端部が互いに直交し合う方向に設け、これら一対のアクチュエータに対向させて戻しばねを設け、更に、前記光源と前記第1レンズ系、または、第1レンズ系及び第2レンズ系をケース体内に固定状態に収納し、前記ケース体の一端側を支持部材で支持させ、前記ケース体の他端側を前記XY軸方向に揺動操作できるように前記ケース体の他端側が前記一対のアクチュエータの前記先端部と戻しばねとの間に挟持される一方、予め設定・記憶させた光軸調整プログラムに従い、前記チェックパターンからの検出信号に基づいて、前記チェックパターンの前記複数の受光素子における各受光強度が全て等しくなるように前記光軸を調整するために前記光源とレンズ系とを揺動させるための制御信号を前記アクチュエータに送出する光軸調整処理部を設けることにより、迅速に光軸の調整が可能となり、装置の構成が簡易なものとなり、コンパクト化も可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の粒度分布測定装置のオートアライメント機構の一実施形態を示す構成図である。
【図2】 同光軸調整時の説明図である。
【図3】 同光検出器の受光素子の配列の一例を示す正面図である。
【図4】 (A)〜(C)は同第1レンズ系のレンズの組み合わせの例を示す図面である。
【図5】 (A)〜(C)は同第1レンズ系のレンズの組み合わせの例を示す図面である。
【図6】 同異なる実施形態を示す構成図である。
【図7】 同光軸調整時の説明図である。
【図8】 同別の実施形態を示す構成図である。
【図9】 従来の粒度分布測定装置の一例を示す構成図である。
【符号の説明】
1…光源、2…第1レンズ系、3…支持部材、4,5…アクチュエータ、7…第2レンズ系、9…光検出器、91…チェックパターン、11…光軸、12…光軸調整処理部(CPU)、41,51…戻しばね、911〜914…受光素子。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a particle size distribution measuring apparatus in which scattered light obtained by irradiating a sample with light from a light source is detected by a photodetector and the particle size distribution in the sample is measured based on the scattered light intensity pattern. The present invention relates to an automatic alignment mechanism.
[0002]
[Prior art]
The configuration of the scattering type particle size distribution measuring apparatus is shown in FIG. 9, for example, in which the symbol a is a laser tube that generates laser light b, c is a beam expander that expands the laser light into a parallel beam, d is a cell containing the sample e, f is a condensing lens arranged behind the cell d, g is a photodetector comprising a photodiode for detecting scattered light emitted from the condensing lens f, and h is A multiplexer that takes in a signal from the light detector g, i is a CPU that receives the signal from the multiplexer h and performs a calculation based on the scattered light intensity pattern to obtain a particle size distribution.
[0003]
In such a particle size distribution measuring apparatus, the optical axes of the laser tube a and the light detector g must coincide with each other with high precision. However, the laser tube a is subject to thermal distortion, cell d, condenser lens f, light When the bench (not shown) provided with the detector g or the like is distorted by heat, or when the cell d is replaced, the optical axis may be displaced due to a change in the mounting position. The optical axis is adjusted every degree.
[0004]
For this purpose, although not shown in the figure, a four-part optical axis adjustment light-receiving unit made of a photodiode is provided at the center of the optical axis of the photodetector g, and the four light-receiving components constituting the optical axis adjustment light-receiving unit are provided. Optical axis alignment was performed prior to measurement by moving the photodetector g in the XY axis directions so that the magnitudes of the intensity signals output from the elements were equal.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In order to move the above-described photodetector g in the XY axis direction, normally, as shown in FIG. 9, two actuators m and n such as a piezoelectric element and a stepping motor are used, and the photodetector g is A light receiving element made up of a plurality of photodiodes formed in an arc shape so as to be called a ring detector is arranged in a fan shape on the plate surface to form a large plate. Therefore, in order to secure the amount of movement (or the number of steps) required for adjusting the optical axis, a relatively large space is required in the apparatus, and the configuration is complicated.
[0006]
The present invention has been made in view of such circumstances, and provides an automatic alignment mechanism of a particle size distribution measuring apparatus that has a simple and compact configuration that can automatically adjust an optical axis without moving a photodetector. It is aimed.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In the present invention, means for solving the above-described problems are configured as follows.
That is, in the first aspect of the present invention, the light source, the first lens system, the second lens system for condensing the light beam, and the photodetector are provided, and the light is emitted by irradiating the sample. An auto alignment mechanism of a scattering type particle size distribution measuring apparatus for measuring a particle size distribution of a sample on the basis of a scattered light intensity pattern obtained by detecting scattered light with the light detector, wherein the light detector A check pattern as a measurement unit for detecting transmitted light for adjusting the optical axis is provided on the light receiving surface, and the light source is swung in the XY-axis direction with respect to the light receiving surface of the photodetector. a pair of actuators for manipulating the direction in which the tip made of a spherical mutually orthogonal to each other, is opposed to the pair of actuator spring disposed back, further, the XY-axis direction of the base of the light source as the center Together with the base portion is supported by the support member so as to be swingable, while the distal end portion of the light source is sandwiched between the return spring and the distal end portion of said pair of actuators, were pre-set and stored According to the optical axis adjustment program, based on the detection signal from the check pattern, the light source is oscillated to adjust the optical axis so that the received light intensities of the plurality of light receiving elements of the check pattern are all equal. An optical axis adjustment processing unit for sending a control signal to the actuator is provided.
[0008]
The invention according to
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of an auto-alignment mechanism of a scattering type particle size distribution apparatus of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
FIG. 1 shows the configuration of the apparatus.
[0010]
The
[0011]
6 is a flow cell, 7 is a condensing lens (second lens system in the present invention) made of a convex lens, and 9 is a photodetector (see FIG. 3) in which light receiving elements made of photodiodes are arranged. transmitted light detection measurement unit for adjusting the optical axis (check pattern) 91 and, by one of the detection plane scattered light
[0012]
With such a configuration, when the sample in the
[0013]
In the particle size distribution measuring apparatus having such a configuration, in a state where a sample to be measured is injected into the
[0014]
In this case, the configuration from the
[0015]
After the above-described auto alignment is completed, the particle size distribution is measured by the
[0016]
In the present invention, the arrangement of the light receiving elements in the
[0017]
On the other hand, the position of the above-described
[0018]
6 and 7 show different embodiments. In this case, the
[0019]
FIG. 8 shows another embodiment, in which case the
[0020]
Even in this case, the automatic adjustment can be performed quickly, and the apparatus can be compactly formed. Although not shown, the
[0021]
【The invention's effect】
As described above, in the present invention, the light source, the first lens system, the second lens system for condensing the light beam, and the photodetector, and the scattering generated by irradiating the sample with light. An auto-alignment mechanism of a scattering-type particle size distribution measuring apparatus configured to measure a particle size distribution of a sample based on a scattered light intensity pattern obtained by detecting light with the light detector. The light receiving surface is provided with a check pattern as a measurement unit for detecting transmitted light for adjusting the optical axis, which includes a plurality of light receiving elements, and the light source is operated to swing in the XY axis direction with respect to the light receiving surface of the photodetector. a pair of actuators for the direction in which the tip made of a spherical mutually orthogonal to each other, is opposed to the pair of actuator spring disposed back, further, the XY-axis direction about the base of the light source Together with the base portion is supported by the support member so as to be freely moving, whereas the tip of the light source is sandwiched between the tip and the return spring of the pair of actuators, the optical axis is preliminarily set and stored In accordance with an adjustment program, based on a detection signal from the check pattern, the light source is oscillated to adjust the optical axis so that the light receiving intensities of the plurality of light receiving elements of the check pattern are all equal. By providing an optical axis adjustment processing unit that sends control signals to the actuator, it is possible to adjust the optical axis more quickly by reducing the drive amount of the actuator, making the device configuration simple and compact. It becomes.
In the present invention, the light source, the first lens system, the second lens system for condensing the light beam, and the photodetector are provided, and the scattered light generated by irradiating the sample with the light is the light. An auto-alignment mechanism of a scattering-type particle size distribution measuring apparatus that measures a particle size distribution of a sample based on a scattered light intensity pattern obtained by detecting with a detector, on the light receiving surface of the light detector, A check pattern is provided as a transmitted light detecting measurement unit for adjusting the optical axis, and includes a plurality of light receiving elements, and the light source is integrated with the first lens system or the first lens system and the second lens system. A tip of a spherical surface that is a pair of actuators for swinging the light source and the first lens system or the first lens system and the second lens system in the XY-axis direction with respect to the light receiving surface of the photodetector. part is orthogonal to each other Fit provided in a direction, are opposed to the pair of actuator spring disposed back, further, the light source and the first lens system, or housed in a fixed state of the first lens system and the second lens system to the case body, The one end side of the case body is supported by a support member, and the other end side of the case body is swingable in the XY axis direction so that the other end side of the case body is the tip of the pair of actuators and the return spring. In accordance with an optical axis adjustment program set and stored in advance, the received light intensities of the plurality of light receiving elements of the check pattern are all equal based on detection signals from the check pattern. Providing an optical axis adjustment processing unit for sending a control signal for swinging the light source and the lens system to the actuator to adjust the optical axis. Ri, quickly becomes possible to adjust the optical axis, the configuration of the device becomes as simple, it becomes possible compactness.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of an automatic alignment mechanism of a particle size distribution measuring apparatus of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram when adjusting the optical axis.
FIG. 3 is a front view showing an example of an array of light receiving elements of the photodetector.
4A to 4C are diagrams showing examples of lens combinations of the first lens system. FIG.
FIGS. 5A to 5C are drawings showing examples of lens combinations of the first lens system. FIGS.
FIG. 6 is a block diagram showing the same different embodiment.
FIG. 7 is an explanatory diagram when adjusting the optical axis.
FIG. 8 is a configuration diagram showing another embodiment.
FIG. 9 is a block diagram showing an example of a conventional particle size distribution measuring apparatus.
[Explanation of symbols]
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1997
- 1997-08-21 JP JP24182797A patent/JP3849953B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JPH1164205A (en) | 1999-03-05 |
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