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JP3972872B2 - Tape carrier for semiconductor device and manufacturing method thereof - Google Patents
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体装置用テープキャリアおよびその製造方法に係り、特に、配線パターンをフォトリソ工程ではなく転写型を用いて形成する半導体装置用テープキャリアおよびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のプリント基板は、一般的にフォトリソ工程により配線パターンが形成されてきた。すなわち、基材表面の導体層上に露光現象によりレジストパターンを形成し、これをマスクとしてウェットエッチングにより導体層に配線パターンを形成する方式である。
【0003】
しかし、半導体装置用テープキャリアでは、実装の高密度化により配線幅、間隔も狭くなってきており、フォトリソ工程を用いた従来方式では安定的に配線を形成することが困難となってきた。
【0004】
これを補う方法として、型を転写することによって配線パターンを形成する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。これは、型によって基材表面の配線領域のみを化学的に変性させて、その変性させた領域に配線を形成するものである。具体的には、図3に示すように、突起部5からなる配線用パターンが形成された型(スタンパ)1の突起部5に、基材2の表層を変性させる物質を塗布し(a)、このスタンパ1の突起部5を基材2の表面に接触させて変性物質を付着させ(b)、これにより化学的に変性した変性層3のパターンを基材2の表面に形成する(c)。ここで変性物質としては、例えば無電解めっきの触媒を用いる。この後に、機能性材料、例えば銅めっきなどの導電層4を変性層3の上に積み上げて配線パターンを形成して、パターン形成体を完成する(d)。
【0005】
また、同様に型を転写する方法であるが、型を押し込むことによって配線パターンを形成する方法も提案されている(例えば、特許文献2参照)。具体的には、図4に示すように、配線パターンにしたがって形成された突起部5を有するスタンパ1を用意し(a)、基材2の表面にシート状体6を配置して構成した積層体に、離型シート7を介在させてスタンパ1を押し込み(b)、これにより転写溝である配線用パターン溝8を形成するとともに積層体を一体化し(c)、その配線用パターン溝8に導体9を埋め込んで配線を形成する方法である(d)。
【0006】
【特許文献1】
特開2002−184752号公報(図1)
【0007】
【特許文献2】
特開2001−230526号公報(図1、図2)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、特許文献1に記載されたものでは、型を接触させて表面を変性させることにより配線パターンを形成するので、基材との接着強度が高いが、断面積の大きな配線パターンを一度に形成することができない。したがって変性層上に機能性材料を別個に積み上げて付着させる必要があった。その結果、プロセスが複雑になるという欠点があった。
【0009】
また、特許文献2に記載されたものでは、配線用パターン溝を直接転写するので、断面積の大きな配線パターンを形成できるが、配線用パターン溝の形成と同時に積層体を一体化させているため、シート状体を加熱する必要がありプロセスが複雑になるという欠点があった。また、配線形成には導電性の樹脂、あるいは銅めっきなどを、基材に形成した配線用パターン溝に埋め込む形を取っているが、積層体は表面が平滑であるため、導電性の物質あるいは銅めっきとの接着強度が弱く、配線が積層体から脱落するおそれがあった。さらに、積層体に対する型離れを良くするために、積層体とは別体の離型シートを介在させる必要があった。
【0010】
本発明の課題は、スタンパを基材に押し込んで配線パターンを形成する方式において、上述した従来技術の問題点を解消して、簡単なプロセスで、断面積の大きな配線パターンを一度に形成することが可能な半導体装置用テープキャリアを提供することにある。また本発明の課題は、導体と基材との密着性が良好な半導体装置用テープキャリアを提供することにある。また、本発明の課題は、離型シートを介在させることなく基材に対する型離れが容易な半導体装置用テープキャリアを提供することにある。また、本発明の課題は、信頼性の高い配線パターンを得ることが可能な半導体装置用テープキャリアの製造方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
第1の発明は、一体化した基材に、突起部の凸面が粗化された前記突起部からなる配線用パターンが形成された型を押圧して、前記基材上に配線用パターン溝を転写し、前記配線用パターン溝に導体を設けて配線を形成することにより得られる半導体装置用テープキャリアであって、前記基材上に配線用パターン溝を転写したときに、配線用パターン溝の溝底部が粗化されるようになっていることを特徴とする半導体装置用テープキャリアである。ここで一体化した基材とは、型による押圧前に既に一体化されているものをいい、単層体又は積層体で構成されており、積層体の場合には、押圧時にはじめて一体化されるものではなく、押圧時には既に一体化されているものである。また、導電性の材料を充填させることにより、あるいはメッキすることにより、配線用パターン溝に導体を設けて配線を形成することができる。
【0012】
型を押圧して基材上に配線用パターン溝を直接転写するので、型を接触させて表面を変性させるものと比べて、断面積の大きな配線パターンを一度に形成することができる。また既に一体化している基材上に配線用パターン溝を転写するプロセスだけなので、同時に積層体を一体化させるものと比べて、プロセスが単純である。
【0014】
また、型に形成された凸状の配線用パターンの凸面が粗化されていると、基材と配線用パターン溝に設けられる導体との密着性が良好となる。
【0015】
の発明は、第1の発明において、前記型の基材に接触する面が潤滑性の皮膜で覆われている半導体装置用テープキャリアである。
【0016】
型の基材に接触する面が潤滑性の皮膜で覆われていると、基材からの型離れが容易となる。
【0017】
の発明は、一体化した基材に、凸面を粗化した突起部からなる配線用パターンが形成された型を押圧して、前記基材上に溝底部が粗化された配線用パターン溝を転写する工程と、前記配線用パターン溝に導電性の材料を充填して配線を形成する工程と、を含むことを特徴とする半導体装置用テープキャリアの製造方法半導体装置用テープキャリアの製造方法である。
【0018】
導電性材料と基材に転写された配線用パターン溝との密着性が良好となるので、信頼性の高い半導体装置用テープキャリアを製造することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施の形態を説明する。実施の形態では型(スタンパ)を基材に押し込んで配線パターンを形成する方式を採用している。
【0020】
図2は、そのスタンパの製造方法の一例を示す工程図である。スタンパ用の基材19としては、表面に粗化面22を有するものを用いる(a)。このとき粗化面22の形成方法は化学的処理でも、機械的処理でもよく、均一に処理できるものが望ましい。次に、スタンパ用の基材19の表面の配線パターンに相当する部分にレジスト膜23をフォトリソなどのプロセスにより形成する(b)。プラズマなどのドライエッチング手法により溝加工を行って、突起部21からなる配線用パターンを有するスタンパ20を作製する(c)。最後にレジスト膜23を除去し、突起部21からなる配線用パターンの突起部21の凸面が粗化されて粗化面22となっているスタンパ20が完成する(d)。
【0021】
ここでスタンパ材質としてはSi、レジスト膜としてはSiO2、エッチングガスにはSF6などの組合わせが考えられるが、その他の組合わせでもよい。また、スタンパ20に形成された突起部21の粗化面22の表面粗さ(粗化)はRa=0.2〜5.0μmとするのが好ましい。粗化が不足した状態では、基材と導体との密着力が十分取れず、後述する導体が基材から剥離する可能性がある。また、粗化が過度になった粗化面22では配線表面の平坦度を阻害することになる。したがって、上記粗化の範囲が適正範囲となる。
【0022】
図1は、上記のように作製されたスタンパ20(a)を用いて、半導体装置用テープキャリアなどの実装基板を製造する方法を示す工程図である。スタンパ20に設けた突起部21からなる配線パターンを、基材11上の配線パターン形成予定領域に押圧する(b)。ここで、基材11は単層体である。例えば高耐熱性、且つ熱硬化性の樹脂、より具体的にはポリイミド樹脂等が考えられるが、Bステージの半硬化状態の材料を用いれば加圧力が少なくても良くなり、成形が容易になる。なお、基材11は積層体であってもよいが、その場合、一体化したものを用いる。
【0023】
スタンパ20の押圧により、基材11上に配線用パターン溝12を形成する(c)。スタンパ20の押圧後には配線用パターン溝12の溝底部としての溝底面に粗化面13が転写される。スタンパ20を基材11から離した後、この配線用パターン溝12内に導体として、導電性ペーストなどの導電性の材料15を充填することによって配線が形成され、実装基板が完成する(d)。
【0024】
上述した実施の形態によれば、既に一体化されている基材にスタンパを押圧するだけで、この押圧で基材を一体化することまでを要求しないので、基材などを加熱する必要がなく、したがって積層体を一体化させるときに同時に配線用パターン溝を転写するものと比べて、プロセスを単純化できる。また、スタンパを用いて基材上に配線用パターン溝を押圧により直接転写するので、スタンパを基材に接触させて表面を変性させるものと比べて、断面積の大きな配線パターンを基材に一度に形成することができる。また、スタンパに形成された突起部の凸面が粗化されており、突起部によって形成される配線用パターン溝の溝底面が粗化されるので、導電性材料と基材に転写された配線用パターン溝との密着性が良好となり、導電性の物質が配線が基材から脱落するおそれがなくなる。導電性材料と基材に転写された配線用パターン溝との密着性が良好となり、信頼性の高い半導体装置用テープキャリアを製造することができる。
【0025】
なお、上述した実施の形態では、配線用パターン溝の形成時に基材11とスタンパ20が密着する場合があり、特に連続的な製品製作時には基材に対する型離れが悪くなり、良好な製品形状が得られないおそれがある。そこで、スタンパ20は、配線用パターン溝形成後に容易に剥離できることが必要となる。したがって、スタンパ20の少なくとも基材11と接触する面に、潤滑性に富む皮膜を形成するとよい。このように、基材11に対する型離れを良くするために、離型材としてスタンパ20に表面加工して皮膜を形成するので、押圧時に第3の部材である離型シートを介在させる必要がなくなり、また押圧後に離型シートを剥がす必要もなくなる。したがって、より良好な加工が可能となり、良好な製品形状が得られる。潤滑性に富む皮膜としては、例えば、テフロン(登録商標)、DLC(Diamond Like Carbon)、TiN、Si34、TiCなどがよく、これらからなる皮膜を基材と接触するスタンパ面に表面加工して設けるとよい。
【0026】
【発明の効果】
本発明の半導体装置用テープキャリアによれば、簡単なプロセスで、断面積の大きな高い配線パターンを一度に形成することができる。また、導体と基材との密着性を良好にでき、信頼性を向上できる。また、離型シートを介在させることなく、基材に対する型離れを容易に行うことができる。また、半導体装置用テープキャリアの製造方法によれば、信頼性の高い配線パターンを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態による半導体装置用テープキャリアの製造方法を示す工程図である。
【図2】第2の実施の形態による半導体装置用テープキャリアの製造方法を示す工程図である。
【図3】従来例によるパターン形成体の製造方法を示す工程図である。
【図4】他の従来例による実装基板の製造方法を示す工程図である。
【符号の説明】
11 基材
12 配線パターン溝
13 溝底部の粗化面
15 導体
20 スタンパ(型)
21 突起部
22 突起部の粗化面
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a tape carrier for a semiconductor device and a method for manufacturing the same, and more particularly to a tape carrier for a semiconductor device in which a wiring pattern is formed using a transfer mold instead of a photolithography process and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
Conventional printed circuit boards generally have a wiring pattern formed by a photolithography process. That is, a resist pattern is formed on the conductor layer on the surface of the substrate by an exposure phenomenon, and a wiring pattern is formed on the conductor layer by wet etching using this as a mask.
[0003]
However, in the tape carrier for semiconductor devices, the wiring width and interval are becoming narrower due to the higher mounting density, and it has become difficult to stably form the wiring by the conventional method using the photolithography process.
[0004]
As a method for compensating for this, a method of forming a wiring pattern by transferring a mold has been proposed (for example, see Patent Document 1). In this method, only the wiring region on the surface of the base material is chemically modified by a mold, and wiring is formed in the modified region. Specifically, as shown in FIG. 3, a substance that modifies the surface layer of the substrate 2 is applied to the protrusions 5 of the mold (stamper) 1 on which the wiring pattern made of the protrusions 5 is formed (a). The protruding portion 5 of the stamper 1 is brought into contact with the surface of the base material 2 to attach the modified substance (b), thereby forming a chemically modified pattern of the modified layer 3 on the surface of the base material 2 (c). ). Here, as the modifying substance, for example, an electroless plating catalyst is used. Thereafter, a conductive material 4 such as a copper plating is stacked on the modified layer 3 to form a wiring pattern, thereby completing a pattern forming body (d).
[0005]
Similarly, as a method of transferring a mold, a method of forming a wiring pattern by pushing the mold is also proposed (see, for example, Patent Document 2). Specifically, as shown in FIG. 4, a stamper 1 having protrusions 5 formed according to a wiring pattern is prepared (a), and a laminate in which a sheet-like body 6 is arranged on the surface of a substrate 2. The stamper 1 is pushed into the body with the release sheet 7 interposed therebetween (b), thereby forming a wiring pattern groove 8 as a transfer groove and integrating the laminate (c). In this method, the conductor 9 is embedded to form a wiring (d).
[0006]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laying-Open No. 2002-184752 (FIG. 1)
[0007]
[Patent Document 2]
JP 2001-230526 A (FIGS. 1 and 2)
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the one described in Patent Document 1, since the wiring pattern is formed by bringing the mold into contact with the surface to modify the surface, the wiring pattern having a large cross-sectional area is formed at a time although the adhesive strength with the base material is high. Can not do it. Therefore, it was necessary to deposit the functional material separately on the modified layer. As a result, the process is complicated.
[0009]
In addition, since the wiring pattern groove is directly transferred in the one described in Patent Document 2, a wiring pattern having a large cross-sectional area can be formed. However, since the laminated body is integrated at the same time as the wiring pattern groove is formed. The sheet-like body has to be heated and the process becomes complicated. The wiring is formed by embedding a conductive resin or copper plating in a wiring pattern groove formed on the base material. However, since the laminate has a smooth surface, the conductive material or Adhesive strength with copper plating was weak, and there was a possibility that the wiring might fall off the laminate. Furthermore, in order to improve mold release from the laminate, it is necessary to interpose a release sheet separate from the laminate.
[0010]
An object of the present invention is to form a wiring pattern having a large cross-sectional area at a time in a simple process by solving the above-mentioned problems of the prior art in a method of forming a wiring pattern by pushing a stamper into a substrate. An object of the present invention is to provide a tape carrier for semiconductor devices. Moreover, the subject of this invention is providing the tape carrier for semiconductor devices with favorable adhesiveness of a conductor and a base material. Moreover, the subject of this invention is providing the tape carrier for semiconductor devices with which mold release with respect to a base material is easy, without interposing a release sheet. Moreover, the subject of this invention is providing the manufacturing method of the tape carrier for semiconductor devices which can obtain a highly reliable wiring pattern.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
According to a first aspect of the present invention, a wiring pattern groove is formed on the base material by pressing a mold in which a wiring pattern composed of the protrusions with the convex surfaces of the protrusions roughened is pressed on the integrated base material. A tape carrier for a semiconductor device obtained by transferring and forming a wiring by providing a conductor in the wiring pattern groove, and when the wiring pattern groove is transferred onto the substrate, the wiring pattern groove A tape carrier for a semiconductor device, characterized in that a groove bottom is roughened . The base material integrated here means one that has already been integrated before pressing with a mold, and is composed of a single layer body or a multilayer body. They are not integrated, but are already integrated when pressed. Further, by filling a conductive material or by plating, a conductor can be provided in the wiring pattern groove to form a wiring.
[0012]
Since the pattern groove for wiring is directly transferred onto the substrate by pressing the mold, a wiring pattern having a large cross-sectional area can be formed at a time as compared with the case where the surface is modified by contacting the mold. Further, since only the process of transferring the wiring pattern groove onto the already integrated base material is performed, the process is simpler than that in which the laminated body is integrated at the same time.
[0014]
Further, when the convex surface of the convex wiring pattern formed on the mold is roughened, the adhesion between the substrate and the conductor provided in the wiring pattern groove is improved.
[0015]
A second invention is the tape carrier for a semiconductor device according to the first invention, wherein a surface that contacts the base material of the mold is covered with a lubricating film.
[0016]
When the surface of the mold that comes into contact with the base material is covered with a lubricating film, it is easy to separate the mold from the base material.
[0017]
According to a third aspect of the present invention, there is provided a wiring pattern in which a groove bottom portion is roughened on the base material by pressing a mold in which a wiring pattern made of a protrusion having a roughened convex surface is formed on an integrated base material. A method of manufacturing a tape carrier for a semiconductor device, comprising: a step of transferring a groove; and a step of forming a wiring by filling the wiring pattern groove with a conductive material. Is the method.
[0018]
Since the adhesion between the conductive material and the wiring pattern groove transferred to the base material is improved, a highly reliable tape carrier for a semiconductor device can be manufactured.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below. In the embodiment, a method is employed in which a wiring pattern is formed by pressing a mold (stamper) into a base material.
[0020]
FIG. 2 is a process diagram showing an example of the stamper manufacturing method. As the base material 19 for the stamper, a material having a roughened surface 22 on the surface is used (a). At this time, the method of forming the roughened surface 22 may be chemical treatment or mechanical treatment, and is preferably one that can be uniformly treated. Next, a resist film 23 is formed in a portion corresponding to the wiring pattern on the surface of the stamper base material 19 by a process such as photolithography (b). Groove processing is performed by a dry etching method such as plasma to produce a stamper 20 having a wiring pattern composed of protrusions 21 (c). Finally, the resist film 23 is removed, and the stamper 20 having the roughened surface 22 is completed by roughening the convex surface of the protruding portion 21 of the wiring pattern comprising the protruding portion 21 (d).
[0021]
Here, Si can be used as the stamper material, SiO 2 can be used as the resist film, and SF 6 can be used as the etching gas, but other combinations may be used. The surface roughness (roughening) of the roughened surface 22 of the protrusion 21 formed on the stamper 20 is preferably Ra = 0.2 to 5.0 μm. In the state where the roughening is insufficient, the adhesion between the base material and the conductor cannot be sufficiently obtained, and the conductor described later may be peeled off from the base material. Further, the roughened surface 22 where the roughening becomes excessive hinders the flatness of the wiring surface. Therefore, the roughening range is an appropriate range.
[0022]
FIG. 1 is a process diagram showing a method of manufacturing a mounting substrate such as a tape carrier for a semiconductor device using the stamper 20 (a) manufactured as described above. A wiring pattern composed of the protrusions 21 provided on the stamper 20 is pressed against a wiring pattern formation scheduled area on the substrate 11 (b). Here, the base material 11 is a single layer body. For example, a highly heat-resistant and thermosetting resin, more specifically a polyimide resin can be considered, but if a B-stage semi-cured material is used, the applied pressure can be reduced and molding is facilitated. . In addition, although the base material 11 may be a laminated body, in that case, what was integrated is used.
[0023]
By pressing the stamper 20, the wiring pattern groove 12 is formed on the substrate 11 (c). After the stamper 20 is pressed, the roughened surface 13 is transferred to the groove bottom as the groove bottom of the wiring pattern groove 12. After separating the stamper 20 from the base material 11, a wiring is formed by filling the wiring pattern groove 12 with a conductive material 15 such as a conductive paste as a conductor, thereby completing a mounting substrate (d). .
[0024]
According to the above-described embodiment, it is not necessary to press the stamper against the already integrated base material, and it is not necessary to integrate the base material by this pressing, so there is no need to heat the base material or the like. Therefore, the process can be simplified as compared with the case where the wiring pattern groove is simultaneously transferred when the laminated body is integrated. Also, since the wiring pattern groove is directly transferred onto the substrate by pressing using a stamper, a wiring pattern having a large cross-sectional area is once applied to the substrate as compared with the case where the stamper is brought into contact with the substrate to modify the surface. Can be formed. Also, the convex surface of the protrusion formed on the stamper is roughened, and the groove bottom surface of the wiring pattern groove formed by the protrusion is roughened, so that the wiring material transferred to the conductive material and the base material is used. Adhesiveness with the pattern groove is improved, and there is no possibility that the conductive substance is detached from the base material. Adhesiveness between the conductive material and the wiring pattern groove transferred to the base material is improved, and a highly reliable tape carrier for a semiconductor device can be manufactured.
[0025]
In the embodiment described above, the base material 11 and the stamper 20 may be in close contact with each other when forming the wiring pattern groove. In particular, when the product is continuously manufactured, the mold separation from the base material becomes worse, and a good product shape is obtained. May not be obtained. Therefore, it is necessary that the stamper 20 can be easily peeled off after the formation of the wiring pattern groove. Therefore, it is preferable to form a film having high lubricity on at least the surface of the stamper 20 that contacts the base material 11. Thus, in order to improve mold release with respect to the base material 11, the stamper 20 is surface-processed as a release material to form a film, so that it is not necessary to interpose a release sheet as a third member at the time of pressing, Further, it is not necessary to peel off the release sheet after pressing. Therefore, better processing is possible and a good product shape can be obtained. For example, Teflon (registered trademark), DLC (Diamond Like Carbon), TiN, Si 3 N 4 , TiC and the like are good as the film having high lubricity. It is good to provide.
[0026]
【The invention's effect】
According to the tape carrier for a semiconductor device of the present invention, a wiring pattern having a large cross-sectional area can be formed at a time by a simple process. Further, the adhesion between the conductor and the substrate can be improved, and the reliability can be improved. Moreover, mold release with respect to a base material can be performed easily without interposing a release sheet. Moreover, according to the manufacturing method of the tape carrier for semiconductor devices, a highly reliable wiring pattern can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a process diagram showing a method for manufacturing a semiconductor device tape carrier according to a first embodiment;
FIG. 2 is a process diagram showing a method for manufacturing a semiconductor device tape carrier according to a second embodiment;
FIG. 3 is a process diagram showing a method of manufacturing a pattern forming body according to a conventional example.
FIG. 4 is a process diagram showing a method of manufacturing a mounting board according to another conventional example.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Base material 12 Wiring pattern groove | channel 13 Roughening surface 15 of a groove bottom part Conductor 20 Stamper (type)
21 Protrusion 22 Roughened surface of protrusion

Claims (3)

一体化した基材に、突起部の凸面が粗化された前記突起部からなる配線用パターンが形成された型を押圧して、前記基材上に配線用パターン溝を転写し、前記配線用パターン溝に導体を設けて配線を形成することにより得られる半導体装置用テープキャリアであって、前記基材上に配線用パターン溝を転写したときに、配線用パターン溝の溝底部が粗化されるようになっていることを特徴とする半導体装置用テープキャリアA wiring pattern groove is transferred onto the substrate by pressing a mold in which a wiring pattern composed of the protrusions with the convex surfaces of the protrusions roughened is pressed on the integrated substrate, and the wiring A tape carrier for a semiconductor device obtained by forming a wiring by providing a conductor in a pattern groove, and the groove bottom of the wiring pattern groove is roughened when the wiring pattern groove is transferred onto the substrate. A tape carrier for a semiconductor device, wherein the tape carrier is for a semiconductor device . 前記型の基材に接触する面が潤滑性の皮膜で覆われている請求項1に記載の半導体装置用テープキャリア。The tape carrier for a semiconductor device according to claim 1, wherein a surface that contacts the base material of the mold is covered with a lubricating film. 一体化した基材に、凸面を粗化した突起部からなる配線用パターンが形成された型を押圧して、前記基材上に溝底部が粗化された配線用パターン溝を転写する工程と、
前記配線用パターン溝に導電性の材料を充填して配線を形成する工程と、
を含むことを特徴とする半導体装置用テープキャリアの製造方法。
A step of pressing a mold on which a wiring pattern made of a projection having a roughened convex surface is formed on an integrated base material to transfer a wiring pattern groove having a roughened groove bottom on the base material; ,
Forming a wiring by filling the wiring pattern groove with a conductive material; and
A method for producing a tape carrier for a semiconductor device, comprising:
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