JP3974009B2 - 光ピックアップ装置、および光記録再生装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ピックアップ装置、光記録再生装置および検査装置に関するものであり、より詳細には、例えば光を光記録媒体に照射して情報の記録または再生を行うために用いられる光ピックアップ装置、それを備えた光記録再生装置および光ピックアップ装置を検査するための検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光記録再生装置は、光ピックアップ装置を備え、光記録媒体に光を照射し、反射光を読取ることによって、情報の再生を行う。また、光記録媒体の所望の位置に光を照射して、光記録媒体への情報の記録を行う。
【０００３】
ここで、例えば光記録再生装置としてのＣＤ(Compact Disc)プレーヤにおいて、光記録媒体としてのＣＤの再生を行うためには、ＣＤ上への光の照射位置を非常に微妙に調整する必要がある。すなわち、情報記録のためのピットが形成されたＣＤ上のトラックに対して光を照射するように調整する必要がある。このため、ＣＤ上のトラックと光の照射位置との横ずれを調整するトラッキングサーボや、ＣＤの厚み方向における光の照射位置（焦点位置）をピットに合わせるフォーカシングサーボなどが行われる。
【０００４】
これらのサーボ動作は、フィードバック制御によって行われるので、サーボ動作を行うためには、光の照射強度などに応じて、所定のゲイン値を設定する必要がある。そして、このゲイン値を設定した後に、フィードバック制御によって、目標値に対して測定値を一致させるように制御量を変化させるサーボ動作が行われ、情報の記録または再生がなされる。
【０００５】
ここで、従来のＣＤプレーヤは、例えばＣＤの再生を正確に行うために、ＣＤを交換する度に、所定のゲイン値を新たに設定するようになっていた。
【０００６】
例えば、サーボゲイン調整として、ＣＤの交換の度に、光ピックアップの誤差信号検出感度、アクチュエータの駆動感度、ディスクの反射率、トラックピッチなどの様々なばらつき要因によるサーボゲイン変化の影響を、種々の検査項目を検査することによって補正して、ゲイン値を設定する。そしてその後にサーボ動作を行っていた。また、デフォーカス等についてもサーボゲイン調整と同様にディスク交換の度に調整を行っていた。
【０００７】
なお、日本国の公開特許公報「特開平５−２１７３１５号公報」には、光ディスク装置のフォーカス/トラッキングサーボループのゲインを、ループを閉じた状態で自動調整する構成が開示されている。
【０００８】
また、日本国の公開特許公報「特開平２−２６５０２５号公報」には、ゲインテストモードにおいて設定されたフォーカスサーボループゲインおよびトラッキングサーボループゲインの設定値の良否を判定して表示することにより、生産性の向上を図る構成が開示されている。
【０００９】
また、日本国の公開特許公報「特開昭６３−１０６００３号公報」には、サーボループの開状態において得られる所定エラー信号の正負の波高値の差（ｐ−ｐ値）を検出し、この検出値に基づいてゲイン定数を設定し、このゲイン定数に応じてゲイン可変アンプのゲインを制御することにより、常に安定したサーボ動作が得られるようにする構成が開示されている。
【００１０】
【特許文献１】
特開平５−２１７３１５号公報
【００１１】
【特許文献２】
特開平２−２６５０２５号公報
【００１２】
【特許文献３】
特開昭６３−１０６００３号公報
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の技術においては、光記録媒体の再生または記録の開始までの立ち上げ時間を短縮できないという問題を生ずる。
【００１４】
すなわち、上記従来の技術においては、光記録媒体の交換の度に上述のような種々の検査項目を行う。この検査項目には、光記録媒体ごとにそれぞれ異なっている特性に関するものに加えて、光記録再生装置の光ピックアップ装置の特性に関するものが含まれている。
【００１５】
このように、光ディスクの交換によって変化しない特性についても、検査して調整を行うので、装置の立ち上げに余分の時間が必要となり、立ち上げ時間を短縮できない。
【００１６】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、光記録媒体の再生または記録のための調整に要する立ち上げ時間を短縮できる光ピックアップ装置、光記録再生装置および検査装置を提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記課題を解決するために、光源からの光を光記録媒体に照射する照射手段と、この照射手段が照射した光の上記光記録媒体による反射光を検出して検出信号を出力する検出手段と、上記照射手段および上記検出手段を移動させる移動手段とを含み、少なくとも上記検出信号を用いて設定されるサーボパラメータに応じて上記照射手段および上記移動手段を動作させることによって、上記光記録媒体の所望の位置に光を照射するサーボ動作を行う光ピックアップ装置において、上記サーボ動作における、上記照射手段、上記検出手段および上記移動手段の動作特性を記憶するための記憶手段を備えていることを特徴としている。
【００１８】
上記光ピックアップ装置は、例えば、光記録媒体の再生または記録を行う光記録再生装置に備えられて用いられる。上記光ピックアップ装置は、光記録再生装置に備えられているときは、光ピックアップ装置本体または光記録媒体のばらつきに応じて精度良く読取りまたは記録を行うために、ばらつき要素に応じた調整を行って設定されたサーボパラメータに基づいて、光記録再生装置からの制御に応じてサーボ動作を行う。光記録再生装置は、光ピックアップ装置にサーボ動作をさせることによって、光記録媒体の読取りまたは光記録媒体への記録を行う。このため、光記録再生装置において、光記録媒体の読取りまたは光記録媒体への記録を行うためには、上記の調整を行う立ち上げ時間が必要となる。
【００１９】
より詳細には、光記録再生装置が、ばらつき要素としての検出信号と記憶手段に記憶されている動作特性とを用いて、サーボパラメータを設定する。そして、このサーボパラメータに応じて駆動を行って、上記光ピックアップ装置がサーボ動作を行う。
【００２０】
ここで、サーボ動作における、照射手段、検出手段および移動手段の動作特性とは、例えば、照射手段における光源を駆動する点滅時間と光源出力とに関する動作特性（レーザ出力のばらつき）、光記録媒体からの戻り光を受光する検出手段の動作特性（取り付け位置のばらつき、感度のばらつき）、照射手段または検出手段としての対物レンズを移動させるための移動手段におけるアクチュエータの配置による動作特性（配置のばらつき）、このアクチュエータを駆動する電圧印加手段としての移動手段の動作特性を含むものとする。これらの動作特性は、光ピックアップ装置に特有のばらつきによって生ずる動作特性であり、サーボパラメータを設定するために用いることができる。
【００２１】
ここで、サーボパラメータとは、サーボ動作において要素（各手段）を駆動して所望の目標値へと変化させる際に、この変化を特徴づけるパラメータ（ゲイン）であり、例えばこの変化における倍率のようなものである。サーボ動作の際には、このサーボパラメータに応じて要素を駆動して所望の目標値へと変化させる。
【００２２】
ここで、上記光ピックアップ装置は、動作特性を記憶するための記憶手段を有している。この記憶手段とは、例えば不揮発性の記憶手段である。したがって、例えば上記光ピックアップ装置を光記録再生装置が備えているときには、記憶されている動作特性を所望のタイミングにて読み出すことができる。これによって、光ピックアップ装置に特有のデータを正確に入手して、サーボパラメータを設定できる。また、記憶手段に記憶されている動作特性をも用いてサーボパラメータを設定するので、このサーボパラメータの設定が容易となる。
【００２３】
また、上記光ピックアップ装置は、光記録再生装置に備えられると、サーボパラメータの設定を容易にするので、この光記録再生装置における光記録媒体の再生または光記録媒体への記録への立ち上げ時間を短縮できる。
【００２４】
なお、光ピックアップ装置のばらつきについての、上述の光ピックアップ装置の動作特性は、光ピックアップ装置または光記録再生装置の生産時に、記憶手段に記憶させてもよい。または、サーボ動作時に測定して記憶させたものを次回に使用する構成であってもよい。すなわち、上記光記録再生装置が、光ピックアップ装置の動作特性を測定して、記憶手段に記憶させる検査装置として機能してもよい。
【００２５】
また、上記光ピックアップ装置における調整は、以下のように表現することもできる。まず、ばらつき要素のうち、光ピックアップ装置に関するものとしては、例えば、移動させるためのアクチュエータのばらつき、検出手段の取り付け位置のばらつき、検出手段の感度のばらつき、レーザ出力のばらつきなどがある。これらについては、記憶手段に記憶させておく。一方、ばらつき要素のうち、光記録媒体自身の性能に関するものとして、光記録媒体の反射率のばらつきがある。これについては、記録または再生の際に光記録媒体ごとに、検出信号を用いて読取を行う。このように、記憶手段に記憶された動作特性と検出信号とを用いて、サーボパラメータを設定すれば、精度良く、短時間にて調整が可能となる。
【００２６】
なお、上記光ピックアップ装置を、光源と、上記光源から出射されたビームを記録媒体に合焦せしめる対物レンズと、上記対物レンズを移動せしめて、フォーカス制御およびトラッキング制御するアクチュエータと、上記アクチュエータを駆動せしめる電圧印加手段と、上記記録媒体からの戻り光を受光する受光手段と、上記光源の点滅時間と光源出力を制御する手段とを備える光ピックアップ装置であって、記憶手段を備え、この記憶手段に、上記アクチュエータを駆動せしめる電圧印加手段の出力電圧と上記アクチュエータによる上記対物レンズの移動量との関係に対応するデータ、上記受光手段の設置位置と正規の位置からのずれに関するデータ、上記受光手段の光電変換感度に関するデータ、上記光源を点滅させるための時間管理データ、上記光源の点灯させるための出力に関するデータを記憶させた光ピックアップ装置である、と表現することもできる。
【００２７】
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記課題を解決するために、上記構成において、温度を測定するための温度測定手段を備えており、上記記憶手段には、上記動作特性に関する所定の温度が記憶されていることを特徴としている。
【００２８】
ここで、記憶手段に記憶される、上記動作特性に関する所定の温度とは、例えば上記光ピックアップ装置に備えられる各手段（照射手段、検出手段、移動手段）の動作特性を測定した際の温度であってもよいし、また例えば光記録再生装置が適切に動作するための、仕様上の所定の基準温度であってもよい。
【００２９】
そして、上記光ピックアップ装置が光記録再生装置に備えられると、光記録再生装置は、温度測定手段の測定した温度と記憶手段に記憶されている所定の温度とを用いて、サーボパラメータを設定する。より詳細には、まず例えば、記憶手段に記憶されている所定の温度において測定された、記憶手段に記憶されている動作特性と、検出信号とを用いて、サーボパラメータを計算する。そして、温度測定手段の測定した温度に応じて温度換算することによって、適切なサーボパラメータが設定される。例えば、検出手段の取り付け位置のばらつきについて、この検出手段の各部材の温度変形を計算して、サーボパラメータの変化が計算される。他の項目についても同様である。
【００３０】
したがって、例えば光ピックアップ装置の生産時に測定した動作特性と、その測定の際の温度とに応じて、温度測定手段にて測定して温度を用いて温度換算されるので、温度に依存するデータであっても補正を加えて使用できる。したがって、上記光ピックアップ装置が光記録再生装置に備えられると、サーボパラメータの設定の精度を高めることができる。
【００３１】
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記課題を解決するために、上記構成において、上記記憶手段には、光ピックアップ装置本体の生産日時、ロット番号および上記光源に関するデータが記憶されていることを特徴としている。
【００３２】
ここで、光源に関するデータとは、例えば光源の寿命に関するデータを含んでいる。
【００３３】
この構成によれば、例えば光記録再生装置の故障、修理時において、光ピックアップ装置の生産日時や測定データ、ロット番号、または光源に関するデータを活用して、故障原因解析や修理対応等について迅速な対応が可能となる。
【００３４】
本発明に係る光記録再生装置は、上記課題を解決するために、上述のいずれかの光ピックアップ装置と、光記録再生装置本体の制御をする制御手段とを備え、上記制御手段が、上記記憶手段に記憶された上記動作特性と上記検出手段の上記検出信号とを用いて、上記光ピックアップ装置のサーボ動作を制御することを特徴としている。
【００３５】
上記光記録再生装置は、光記録媒体の再生または記録を行う際には、光ピックアップ装置の有する記憶手段から動作特性を読み出して、この動作特性と検出信号とを用いて、サーボ制御のためのサーボパラメータの設定を行う。
【００３６】
より詳細には、光ピックアップ装置のばらつきについては、例えば光ピックアップ装置の生産時の動作特性（検査項目データ）を、光ピックアップ装置に搭載された記憶手段から読み出す。また、光記録媒体のばらつき（反射率）については、光記録再生装置におけるエラー信号の振幅を検出信号として得ることができる。したがって、調整の簡素化を図るとともに、短時間に精度の良い調整が可能となる。
【００３７】
なお、上記光記録再生装置を、上述のいずれかの光ピックアップ装置を搭載し、上記記憶手段からのデータに基づいて調整項目を省略し、光記録媒体を記録再生する光記録再生装置である、と表現することもできる。
【００３８】
本発明に係る光記録再生装置は、上記課題を解決するために、上述のいずれかの光ピックアップ装置と、光記録再生装置本体の制御をする制御手段とを備え、上記制御手段は、上記記憶手段に記憶されている上記動作特性を光記録再生装置本体の本体記憶手段に取り込み、上記制御手段は、上記本体記憶手段に記憶された上記動作特性と上記検出手段の上記検出信号とを用いて、上記光ピックアップ装置のサーボ動作を制御することを特徴としている。
【００３９】
上記光記録再生装置は、光ピックアップ装置に搭載された記憶手段から動作特性を読みだして、光記録再生装置本体側の本体記憶手段に取り込む。そして、光記録再生装置は、光記録媒体の再生または記録を行う際には、本体記憶手段から動作特性を読み出して、この動作特性と検出信号とを用いて、サーボ制御のためのサーボパラメータの設定を行う。
【００４０】
このため、上記光記録再生装置は、装置の立ち上げ毎、または光記録媒体の交換毎に、光ピックアップ装置の記憶手段に記憶されている動作特性（検査項目データ）を読みに行くことがなく、光記録再生装置本体の本体記憶手段のデータを基に調整を行う。これによって、さらに立ち上げ時間の短縮を図ることができる。
【００４１】
本発明に係る光記録再生装置は、上記課題を解決するために、上記構成において、上記光ピックアップ装置の交換を検出する交換検出手段を備え、上記制御手段は、上記交換検出手段による交換の検出に応じて、上記光ピックアップ装置の上記記憶手段に記憶されている上記動作特性を、光記録再生装置本体の本体記憶手段に取り込むことを特徴としている。
【００４２】
ここで、上記光記録再生装置は、修理等で光ピックアップ装置を交換したときには、本体記憶手段に記憶されている内容を書き換える必要がある。なぜなら、このような書き換えを行わなければ、不適切なサーボパラメータの設定を行うことになって、適切なサーボ動作を行わせることができない可能性があるからである。
【００４３】
上記構成によれば、光ピックアップ装置が交換された場合に、交換検出手段が交換を検出し、これに応じて制御手段が、光ピックアップ装置の記憶手段に記憶されている動作特性を本体記憶手段に取り込む。したがって、光ピックアップ装置が交換された場合であっても、この光ピックアップ装置に特有の動作特性を得て、適切なサーボパラメータの設定を行い、適切なサーボ動作を行わせることができる。
【００４４】
なお、交換検出手段は、例えば、光ピックアップ装置のロット番号を読取り、このロット番号の変化の有無を検出するという方法で実現できる。
【００４５】
本発明に係る検査装置は、上記課題を解決するために、光源からの光を光記録媒体に照射する照射手段と、この照射手段が照射した光の上記光記録媒体による反射光を検出して検出信号を出力する検出手段と、上記照射手段および上記検出手段を移動させる移動手段とを含む光ピックアップ装置を検査するための検査装置において、上記光ピックアップ装置を制御して、上記光記録媒体の所望の位置に光を照射するサーボ動作を行わせる制御手段と、上記サーボ動作における、上記照射手段、上記検出手段および上記移動手段の動作特性を測定する測定手段とを備え、上記光ピックアップ装置に、上記サーボ動作における、上記照射手段、上記検出手段および上記移動手段の上記動作特性を記憶するための記憶手段が備えられているときには、上記制御手段が、上記測定手段の測定した動作特性を上記記憶手段に記憶させることを特徴としている。
【００４６】
上記検査装置は、光ピックアップ装置の動作特性を測定し、光ピックアップ装置に記憶手段が備えられているときには、測定した動作特性をこの記憶手段に記憶させる。
【００４７】
したがって、この検査装置が本発明に係る光ピックアップ装置を検査すれば、この光ピックアップ装置に動作特性を記憶させることができる。そして、この光ピックアップ装置を本発明に係る光記録再生装置に備えれば、この光記録再生装置の再生または記録時の装置の立ち上げ時間を短縮できる。
【００４８】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態について図１ないし図３に基づいて説明すると以下の通りである。
【００４９】
本実施形態の光記録再生装置１は、図１に示すように、光ピックアップ（光ピックアップ装置）２、システムコントローラ（制御手段、本体記憶手段、交換検出手段）３、ＲＦ（高周波）処理回路４、ＡＤＣ(Analog Digital Converter)５、信号処理回路６、ディジタルサーボ処理回路（制御手段）７、ＰＷＭ(Pulse Width Modulation)信号生成回路（制御手段）８、ＰＷＭドライバ（制御手段）９、スピンドルモータドライバ（制御手段）１０、スレッドモータ（移動手段）１１、およびスピンドルモータ（移動手段）１２を備えている。
【００５０】
光ピックアップ２は、ＬＤ(Laser Diode)（照射手段）１３、ＬＤドライバ（照射手段）１４、対物レンズ１５、光検出器（検出手段）１６、対物レンズ駆動アクチュエータ（移動手段）１７、メモリ（記憶手段）１８、および温度測定器（温度測定手段）１９を備えている。
【００５１】
光ピックアップ２は、パルス光を光ディスク（光記録媒体）Ｄに照射して情報の再生または記録を行うためのものである。パルス光として非常に狭いピッチの信号を出力するので、高密度記録再生が可能となる。また、光ピックアップ２は、スレッドモータ１１などによって移動されて、フォーカシングサーボ及びトラッキングサーボを行う。このサーボ動作の際には、光ピックアップ２は、例えばスレッドモータ１１の回転駆動を直線駆動に変換する図示しない中間伝達手段によって移動する。
【００５２】
ＬＤ１３は、ＬＤドライバ１４によってパルス発光制御されて、パルス光を光ディスクＤに照射するためのものである。ＬＤドライバ１４は、システムコントローラ３および信号処理回路６からの信号に応じて、ＬＤ１３のパルス発光時のパルス生成やレーザパワーの制御を行う。
【００５３】
対物レンズ１５は、ＬＤ１３からの光を光ディスクＤに集光し、または光ディスクＤからの光を光検出器１６へ導くためのものである。この対物レンズ１５は、対物レンズ駆動アクチュエータ１７によって駆動される。
【００５４】
光検出器１６は、第１光検出器（検出手段）１６ａと第２光検出器（検出手段）１６ｂとを含んでいる。第１光検出器１６ａは、対物レンズ１５を介して光検出器１６に入射された光からＲＦ信号を得るためのものである。第１光検出器１６ａによる検出信号は、位相が正反対の２つの信号からなる。第２光検出器１６ｂは、対物レンズ１５を介して光検出器１６に入射された光から、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号を得るためのものである。第１光検出器１６ａおよび第２光検出器１６ｂは、受光して得た検出信号をＲＦ処理回路４に出力する。
【００５５】
対物レンズ駆動アクチュエータ１７は、ＰＷＭドライバ９からの駆動信号に応じて対物レンズ１５を駆動する。この駆動によっても、サーボ動作がなされる。
【００５６】
メモリ１８は、不揮発性のメモリである。このメモリ１８には、システムコントローラ３からのデータの読み書きが行われる。また、本実施形態のシステムコントローラ３は、メモリ１８に記憶されているデータに応じて、光ピックアップ２の交換を検出するようになっている。
【００５７】
本実施形態のメモリ１８には、光ピックアップ２の動作特性が記憶されている。この動作特性は、例えば工場での光ピックアップ２の製作後に、光ピックアップ２について所定の検査項目について検査を行い、得られた動作特性を記憶させたものである。なお、この動作特性の検査については、後述する。
【００５８】
光記録再生装置１が光ディスクＤの記録または再生を行う際には、システムコントローラ３が、メモリ１８に記憶されているデータを読み込む。そして、システムコントローラ３は、サーボ動作のための調整として、このデータを基にして、ディジタルサーボ処理回路７に関係するデータを演算し、例えば所定のゲイン値（サーボパラメータ）を設定する。
【００５９】
温度測定器１９は、光ピックアップ２に備えられる、温度を測定するための装置である。温度測定器１９は、例えば光ピックアップ２の温度を測定する。温度測定器１９による測定結果は、システムコントローラ３に読み込まれる。
【００６０】
このように、本実施形態のシステムコントローラ３は、メモリ１８に記憶されているデータに加えて、さらに温度測定器１９による測定結果をも用いて、上述のように所定のゲイン値を設定する。
【００６１】
例えば、温度測定器１９を用いて温度を測定し、この測定した温度に応じて、上記のゲイン値の設定を変更してもよい。
【００６２】
また、本実施形態のシステムコントローラ３は、メモリ１８に記憶されている内容を、本体記憶手段としてのシステムコントローラ３に取り込む構成であってもよい。この取り込みは、所望のタイミングにて行うことができる。例えば光ピックアップ２のメモリ１８とシステムコントローラ３との接続時であってもよいし、または例えば光記録再生装置１の電源投入時であってもよい。
【００６３】
また、本実施形態のシステムコントローラ３は、光ピックアップ２の交換を検出し、この検出に応じて、メモリ１８に記憶されている内容を、本体記憶手段としてのシステムコントローラ３に取り込む構成であってもよい。本実施形態においては、システムコントローラ３は、メモリ１８を用いて光ピックアップ２の交換を検出するようになっている。
【００６４】
ここで、システムコントローラ３は、光記録再生装置１の制御を行うためのものである。システムコントローラ３は、信号処理回路６およびディジタルサーボ処理回路７との間で制御信号などの送受信をおこなって、必要に応じて信号処理回路６およびディジタルサーボ処理回路７を制御する。また、制御信号を送信してＬＤドライバ１４を制御する。
【００６５】
ＲＦ処理回路４は、光ピックアップ２から送られる信号を、電流信号から電圧信号へのＩＶ変換をして、信号処理回路６およびＡＤＣ５へと出力する。
【００６６】
特に、第１光検出器１６ａからの検出信号は、ＲＦ処理回路４にて、２つの信号の差信号が計算され（実質和信号）、ＡＧＣ(Automatic Gain Control)処理が施されて信号処理回路６へと出力される。一方、第２光検出器１６ｂからの信号は、ＲＦ処理回路４にて、トラッキング用、フォーカス用の各エラー信号へと変換され、ＡＤＣ５へと出力される。
【００６７】
ＡＤＣ５は、ＲＦ処理回路４からの各エラー信号を、アナログ信号からディジタル信号に変換（ＡＤ変換）し、ディジタルサーボ処理回路７へと出力する。
【００６８】
信号処理回路６は、ＲＦ処理回路４からの信号に対して、エラー訂正、デインタリーブ、ＮＲＺＩ変換、ビタビ復号等を行う。信号処理回路６は、システムコントローラ３との間で制御信号などの送受信を行うとともに、ＬＤドライバ１４に制御信号を出力する。
【００６９】
ディジタルサーボ処理回路７は、ＡＤＣ５から入力されるディジタル信号から最終的なエラー信号を生成する。より詳細には、ＡＤＣ５からのディジタル信号を基に、すなわちＲＦ信号から得られる同期信号を基にスピンエラー信号を生成する。そして、このエラー信号を、図示しない位相補償回路によってイコライジングして、システムコントローラ３およびＰＷＭ信号生成回路８へと出力する。このディジタルサーボ処理回路７は、主にＤＳＰ（ディジタルシグナルプロセッサ）で構成されている。
【００７０】
ＰＷＭ信号生成回路８は、フォーカシング、トラッキングを行うためのＰＷＭ信号を生成し、ＰＷＭドライバ９およびスピンドルモータドライバ１０へと出力する。
【００７１】
ＰＷＭドライバ９は、ＰＷＭ信号生成回路８からのＰＷＭ信号を、所定のタイミングにてスレッドモータ１１および対物レンズ駆動アクチュエータ１７へと出力する。
【００７２】
このように、ＰＷＭドライバ９によって、対物レンズ駆動アクチュエータ１７のフォーカス制御及びトラッキング制御がなされる。すなわち、ＰＷＭ信号である対物レンズ駆動信号は、ＲＦ処理回路４からの信号を基に、ＡＤＣ５にてアナログ信号をディジタル信号に変換され、ディジタルサーボ処理回路７にてさらに変換されて、ＰＷＭ信号生成回路８、ＰＷＭドライバ９を介して、光ピックアップ２内に設けられた対物レンズ駆動アクチュエータ１７に供給される。
【００７３】
また、ＰＷＭドライバ９は、ＰＷＭ信号生成回路８からのＰＷＭ信号を、スレッドモータ１１に出力して、光ピックアップ２のフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。
【００７４】
スピンドルモータドライバ１０は、ＰＷＭ信号生成回路８からのＰＷＭ信号を、スピンドルモータへ１２と出力して、スピンドルモータ１２の回転を制御する。スピンドルモータ１２は、光ディスクＤを回転させる。
【００７５】
ここで、本実施形態の光ディスクＤは、情報の記録または再生が可能な相変化型の光ディスクである。本発明に係る光記録媒体は、この構成に限るものではなく、例えば再生専用の光ディスクであってもよいし、または光磁気ディスクであってもよい。
【００７６】
この相変化型の光ディスクＤは、多元素系物質が結晶質と非結晶質とで可逆的に変化する特性を利用するものである。記録時には、レーザ光をパルス照射して、記録膜の所望の位置を融点以上に急熱し、急冷過程によって非晶質化する。
【００７７】
また、消去時には、レーザ光により記録膜の所望の位置を結晶化温度以上、融点以下の温度とし、徐熱、徐冷して、非晶質化された部分を結晶状態に戻す。
【００７８】
この光ディスクＤは、結晶相（高反射率）と非結晶相（低反射率）とで反射率が異なる。そこで、光記録再生装置１は、この反射光量の変化を検出して再生を行う。
【００７９】
上記構成の光記録再生装置１が、光ディスクＤに記録された情報の再生を行う際には、後述する調整工程を経て、例えば所定のゲイン値を設定した後に、フィードバック制御を行いながら、光ディスクＤの読取を行う。すなわち、光記録再生装置１において、装置起動から光ディスクＤの情報の読取開始までには、光照射の位置などを調整する調整過程が必要となる。また、光ディスクＤへの記録を行う場合にも、同様に調整過程が必要となる。
【００８０】
ここで、光記録再生装置１における、光ディスクＤの読取開始までの調整過程について、図２に基づいて説明する。なお、図２において、各ステップの説明の後に付した括弧書きは、その動作に必要な概略の時間を示すものである。例えば、Ｓ１の動作には、ほぼ3000ｍｓが必要である。
【００８１】
ステップＳ１において、光記録再生装置１に光ディスクＤが挿入される。Ｓ２では、光記録再生装置１の温度を温度測定器１９が測定する。Ｓ３では、光記録再生装置１内の回路オフセット調整を行う。
【００８２】
Ｓ４では、メモリ１８から光ピックアップ２に関するデータ（動作特性）を読み出す。このデータは、光ピックアップ２の生産時に検査され、記録されたデータであり、より詳細には、検査時の温度データと光ピックアップ２の各検査項目のデータである。この生産時における検査、およびデータの記録については後述する。この読み出しは、システムコントローラ３によって短時間（約５ｍｓ）に行われる。
【００８３】
なお、光ピックアップ２の検査項目としては、例えば以下のものを含んでいてもよい。対物レンズ駆動アクチュエータ１７を駆動する電圧印加手段としてのＰＷＭドライバ９の出力電圧と、対物レンズ駆動アクチュエータ１７による対物レンズ１５の移動量との関係に対応するデータであってもよい。光検出器１６の設置位置と、正規の位置からのずれに関するデータであってもよい。また、光検出器１６の光電変換感度に関するデータであってもよい。また、ＬＤ１３をパルス発光させ、点滅させるための時間管理データであってもよい。また、ＬＤ１３を発光させて点灯する際の出力に関するデータであってもよい。本実施形態においては、これらの例示したデータの全てが検査項目として検査され、メモリ１８に記録されている。しかしながら、本発明はこれに限るものではなく、これらのデータのうちのいくつかがメモリ１８に記録されていれば、それに応じて調整工程に要する時間を節約できる。
【００８４】
Ｓ５では、光ピックアップ２を検査してメモリ１８にデータを記録した際の温度と、Ｓ２において測定した温度とを比較して、各検査項目のデータの換算を行う。より詳細には、例えば光ピックアップ２の各部材の温度変形を計算しておき、これに応じて、光検出器１６の設置位置のずれを計算して、光検出器１６の設置位置と正規の位置からのずれを補正する。その他の項目についても同様である。
【００８５】
Ｓ６〜Ｓ８では、Ｓ５にて換算されたデータに基づいて、それぞれ、換算されたフォーカスバランス、トラッキングバランス、アクチュエータ感度のデータの設定を行う。例えば、温度変化に応じた光検出器１６の光電変換感度のずれを、第１光検出器１６ａおよび第２光検出器１６ｂの仕様に応じた補正テーブルから算出して、データの補正を行う。これによって、光検出器１６からの出力信号の温度変化が分かるので、フォーカスバランス、トラッキングバランス、アクチュエータ感度のデータについての補正を行うことができる。その他の項目についても同様である。
【００８６】
Ｓ９においては、光ディスクＤを回転させるために、スピンドルモータ１２を起動する。Ｓ１０において、光ディスクＤの回転が規定回転数に達した時点で、光ピックアップ２のＬＤ１３をオンする。
【００８７】
Ｓ１１にて、フォーカスサーチを行う。フォーカスサーチ時には、ＬＤ１３から照射した光が、光ディスクＤから反射され、この反射光を基にフォーカスエラー信号が生成される。Ｓ１２にて、そのフォーカスエラー信号の振幅を計測する。Ｓ１３にて、フォーカスゲインの設定を行う。このようにフォーカスゲインを設定すれば、このゲイン値を用いてフォーカシングサーボを行うことができる。
【００８８】
そして、Ｓ１４として、次のフォーカスエラーの出現タイミングにてフォーカスサーボをオンする。Ｓ１５にて、トラッキングエラー信号の振幅を計測する。Ｓ１６にて、トラッキングゲインの設定を行い、調整が終了する。
【００８９】
以上のように、本発明に係る光記録再生装置１は、予め検査され、記録された光ピックアップ２の検査データ（動作特性）を用いて調整工程を行うので、この調整工程に必要な時間を短くできる。
【００９０】
ここで、一般に、光記録再生装置において装置の立ち上げフロー時間がいかに短いかという点は、装置の使いやすさを判断する上での重要なファクターの一つであると思われる。この立ち上げフロー時間において、最も長い時間を必要とするのが、上述のような調整工程である。本実施形態の光記録再生装置１は、上述のように、この調整工程に必要な時間を短くできるので、使用者にとって使いやすい装置となる。
【００９１】
この後、光記録再生装置１において、光ディスクＤの読取は以下のように行われる。光ピックアップ２から射出され、第１光検出器１６ａおよび第２光検出器１６ｂにて読取られた信号がそれぞれＲＦ処理回路４に入力される。ＲＦ処理回路４は、第１光検出器１６ａからの信号を信号処理回路６へ、第２光検出器１６ｂからの信号をエラー信号としてＡＤＣ５へと出力する。
【００９２】
信号処理回路６は、ＲＦ処理回路４からのＲＦ信号を上述のように変換してシステムコントローラ３へ出力するとともに、生成した制御信号を光ピックアップ装置２のＬＤドライバ１４へと出力する。なお、ＲＦ信号に含まれる、光ディスクＤに記録された情報は、例えばシステムコントローラ３から、例えばスピーカのような外部の装置へと出力される。
【００９３】
一方、ＡＤＣ５は、エラー信号を、ディジタルサーボ処理回路７へと出力する。この信号がＰＷＭ信号生成回路８を介してそれぞれＰＷＭドライバ９、スピンドルモータドライバ１０へと出力され、スレッドモータ１１、スピンドルモータ１２、対物レンズ駆動アクチュエータ１７が駆動されて、サーボ動作が行われる。
【００９４】
また、光記録再生装置１による光ディスクＤへの記録は、再生と同様の調整の後に行われる。上述のようにメモリ１８から読み出したデータを用いれば、調整工程を短くできる。
【００９５】
次に、光ピックアップ２の検査を行い、光ピックアップ２の動作特性をメモリ１８に記憶させる処理について説明する。
【００９６】
光ピックアップ２を検査するための検査装置２０は、図３に示すように、制御回路（制御手段）２１、コントロールユニット（制御手段）２２、ジッタメータ（測定手段）２３、ストレージオシロ（測定手段）２４、モニタ２５、パワーメータ（測定手段）２６、モータドライバ２７、自動Ｚ軸ステージ２８、自動Ｘ軸ステージ２９、スピンモータ３０、自動ゴニオステージ３１、およびピックアップ受け治具３２を備えている。
【００９７】
この検査装置２０は、光ピックアップ２が着脱可能となっている。検査装置２０は、光ピックアップ２を装着して検査を行い、検査終了の後には得られた検査データを光ピックアップ２のメモリ１８へと書込むようになっている。
【００９８】
検査装置２０の制御回路２１は、図示しないＩＶ変換器、ＡＤ(Analog Digital)コンバータ、エラー生成部および演算器を備えている。このＩＶ変換器は、光記録再生装置１のＲＦ処理回路４に相当する。また、ＡＤコンバータはＡＤＣ５に相当する。また、エラー生成部はディジタルサーボ処理回路７に相当する。
【００９９】
制御回路２１は、光ピックアップ２の光検出器１６から入力される光信号を、ＩＶ変換器にて、電流信号から電圧信号へとＩＶ変換する。光ピックアップ２の第１光検出器１６ａにて受光した信号は、ＩＶ変換器にてＩＶ変換された後に、演算器にて演算処理され、ＲＦ信号としてジッタメータ２３へ出力される。光ピックアップ２の第２光検出器１６ｂにて受光した信号は、ＩＶ変換器にてＩＶ変換された後に、ＡＤコンバータにてＡＤ変換され、さらにエラー生成部にてフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号へと変換されて、ストレージオシロ２４へ出力される。
【０１００】
ジッタメータ２３は、入力される信号をジッタ計測し、結果をコントロールユニット２２に出力する。モニタ２５には、ジッタ計測にて得られた計測値が表示される。
【０１０１】
ストレージオシロ２４は、それぞれのエラー信号の振幅を計測し、コントロールユニット２２に出力する。モニタ２５には、得られたエラー信号の振幅も表示される。
【０１０２】
また、光ピックアップ２の動作中に、パワーメータ２６は、光ピックアップ２のレーザパワーを計測し、結果をコントロールユニット２２に出力する。
【０１０３】
一方、コントロールユニット２２は、モータドライバ２７を用いて、自動Ｚ軸ステージ２８、自動Ｘ軸ステージ２９、自動ゴニオステージ３１を駆動する。
【０１０４】
この自動Ｚ軸ステージ２８・自動Ｘ軸ステージ２９は、光ディスクＤが装着され、光ディスクＤを回転させるスピンモータ３０が固定されたステージＳを、モータドライバ２７とコントロールユニット２２との指示に応じて、それぞれＺ軸方向・Ｘ軸方向に制御する。
【０１０５】
また、自動ゴニオステージ３１は、光ピックアップ２を固定したピックアップ受け治具３２を、モータドライバ２７とコントロールユニット２２とによって、２軸方向に制御する。
【０１０６】
以上の制御を行いつつ、光ピックアップ２の特性を検査する。なお、検査を行う際の光ディスクＤについては、特に限るものではなく、任意の光ディスクＤを用いることができる。
【０１０７】
ここでは、以下の検査項目について測定をする。例えば、合焦ずれ量、フォーカスバランス、トラッキングバランス、フォーカスエラー振幅、トラッキングエラー振幅、ＲＦ振幅、ジッタ、アクチュエータ感度のような項目である。なお、この検査項目はこれに限るものではなく、例えばその他の検査項目を有していてもよい。または、検査項目は、上述の検査項目のうちの少なくとも一つ以上を含んでおればよい。
【０１０８】
そして、コントロールユニット２２は、上述の検査により得られた信号から、光ピックアップ２内のメモリ１８に書込むデータを生成し、メモリ１８に書き込みを行う。これらの検査項目のデータが、上述した光ピックアップ２のメモリ１８に記憶される各検査項目のデータに相当する。すなわち、ＰＷＭドライバ９の出力電圧と対物レンズ１５の移動量との関係に対応するデータ、光検出器１６の設置位置のずれに関するデータ、光検出器１６の光電変換感度に関するデータ、ＬＤ１３をパルス発光させるための時間管理データ、ＬＤ１３の発光出力に関するデータなどが、生成されてメモリ１８に書込まれる。
【０１０９】
また、コントロールユニット２２は、光ピックアップ２内の温度測定器１９を用いて測定した温度のデータを、光ピックアップ２内のメモリ１８に書込む。
【０１１０】
このように、本実施形態の検査装置２０を用いれば、光ピックアップ２のメモリ１８に、各検査項目のデータを記憶させることができる。したがって、上述のように、調整を簡略化し、装置の立ち上げ時間が短縮された光記録再生装置１を提供できる。
【０１１１】
また、コントロールユニット２２は、光ピックアップ２の生産日時、ロット番号、光源に関するデータを、さらに光ピックアップ２内のメモリ１８に書込んでもよい。このように、光ピックアップ２のより詳細なデータをメモリ１８に記憶させれば、例えば光記録再生装置１の故障の際に、原因究明や修理時間の短縮が図れる。また、上述の調整工程を行う際に、この詳細なデータを用いて、より精度良く調整を行うこともできる。
【０１１２】
なお、従来から、光ピックアップ装置の品質を確かめ、出荷判定のための検査を行う検査装置が用いられていた。しかしながら、このような従来の検査装置は、光ピックアップ装置に記憶手段が備えられていないため、測定したデータを記憶手段に書込むことはなかった。このため、せっかく検査装置によって測定されたデータは、利用されていなかった。そして、従来は、例えば、光ピックアップ装置の誤差信号検出感度、アクチュエータの駆動感度、光ディスクＤの反射率、トラックピッチなどの様々なばらつき要因によるサーボゲイン変化の影響を補正するために、光記録再生装置において、毎回サーボゲイン調整を行っていた。また、デフォーカス等についてもサーボゲイン調整と同様に光ディスクＤの交換の度に調整を行っていた。なお、このデフォーカスの調整とは、フォーカスからのずれに応じて見かけ上のレーザパワーの変動を考慮して、フォーカスエラー信号を取り扱うことを意味する。従来は、このように毎回の調整をフルにおこなっていたため、立ち上げ時間を短縮できなかった。
【０１１３】
また、本発明に係る光ピックアップ２は、ＬＤドライバ１４内に、メモリ１８を備える構成であってもよい。この場合、このメモリ１８には、動作特性に加えて、レーザの点滅時間やレーザパワーを設定するためのデータが記憶される。すなわち、メモリ１８を、ＬＤドライバ１４内に備えられる、レーザ（ＬＤ１３）の点滅時間やレーザパワーを設定するためのディジタル回路として用いてもよい。この構成であれば、部品点数を削減し、装置を小型化できる。
【０１１４】
また、光記録再生装置１は、光ピックアップ２のメモリ１８に記憶されているデータを、システムコントローラ３内の図示しない記憶手段に読み込む構成であってもよい。
【０１１５】
すなわち、光記録再生装置１は、メモリ１８に記憶されているデータをシステムコントローラ３内の図示しない記憶手段に読み込んでおき、光ディスクＤの再生または記録の際には、この記憶手段から読み出したデータを参照して、例えば所定のゲイン値を設定して調整を行ってもよい。
【０１１６】
この構成によれば、光ピックアップ２にデータを読みに行く必要がないので、さらに立ち上げ時間を短縮できる。
【０１１７】
また、光記録再生装置１は、上述のように、システムコントローラ３が光ピックアップ２の交換を検出する交換検出手段として機能して、この交換毎に、光ピックアップ２のメモリ１８のデータを、上述の記憶手段に取り込む構成であってもよい。このようにすれば、光ピックアップ２を交換した場合であっても、確実に調整できる。
【０１１８】
また、本実施形態においては、光記録再生装置１として、光ディスクＤに記録された情報の再生、または光ディスクＤへの情報の記録を行う光記録再生装置について説明したが、本発明はこれに限るものではない。本発明に係る光記録再生装置は、光記録媒体の再生のみが可能であってもよい。また、本発明に係る光記録再生装置は、光記録媒体への記録のみが可能であってもよい。
【０１１９】
例えば、光ディスクＤが再生専用の光ディスクの場合には、本発明に係る光ピックアップ装置および本発明に係る光記録再生装置は、再生のみが可能であってもよい。
【０１２０】
また、光ディスクＤが光磁気ディスクの場合には、本発明に係る光記録再生装置に、さらに磁気ヘッドが備えられる。この場合、光ディスクＤへの記録時には、あらかじめ一様に磁化された記録膜の所望の位置に、レーザ光をパルス照射して、記録膜の温度を局部的に上昇させる。記録膜の温度がキューリ温度近くまで上昇すると、記録膜の保持力が減少するので、磁気ヘッドを用いて記録膜に磁界を印加することにより、記録膜のその位置は磁界方向に磁化される。一方、消去時には、記録の際の磁界と反対に、磁気ヘッドを用いて消去磁界を印加し、レーザ光を連続的に照射する。また、再生時には、反射光の偏向面が磁化の方向によりわずかに回転するカー効果を利用して、記録された情報の読取を行う。
【０１２１】
ここで、従来の光記録再生装置の立ち上げ動作について、図４に基づいて説明をする。なお、図４において、各ステップの説明の後に付した括弧書きは、その動作に必要な概略の時間を示すものである。例えば、Ｓ２１の動作には、ほぼ3000ｍｓが必要である。
【０１２２】
Ｓ２１において、従来の光記録再生装置に光ディスクが挿入される。Ｓ２２にて装置内の温度を測定する。Ｓ２３において、装置内の回路オフセット調整を行う。Ｓ２４において、光ディスクを回転させるために、スピンドルモータを起動する。
【０１２３】
その後、Ｓ２５にて、規定回転数に達した時点で光ピックアップ装置のレーザをオンする。Ｓ２６にて、フォーカスサーチを行う。フォーカスサーチ時に光ディスクからの反射光をもとに、フォーカスエラー信号が生成される。Ｓ２７にて、そのフォーカスエラー信号の振幅を計測する。Ｓ２８では、フォーカスゲインの仮設定を行う。
【０１２４】
そして、Ｓ２９では、次のフォーカスエラーの出現タイミングにおいて、フォーカスサーボをオンする。Ｓ３０では、フォーカスサーボをオンした後に、アクチュエータの感度ばらつき等を補正するためにフォーカスサーボの閉ループ調整を行う。
【０１２５】
フォーカスサーボ調整が終了した段階で、Ｓ３１にてトラッキングエラー信号の振幅を計測する。Ｓ３２にてトラッキングゲインの仮設定を行う。Ｓ３３にてトラッキングのバランス調整を行う。上記調整が終了したら、Ｓ３４にてトラッキングサーボをオンする。次に、Ｓ３５にてトラッキングサーボの閉ループ調整を行う。最後に、Ｓ３６にて、ＲＦ信号をモニタしながら、フォーカスバランスをＲＦ信号最大になるように調整する。
【０１２６】
以上のように、従来の光記録再生装置においては、例えばＳ２８のゲインの仮設定の後にＳ３０にて閉ループ調整を行うステップが必要であった。また、例えばＳ３２のゲインの仮設定の後にＳ３５にて閉ループ調整を行うステップが必要であった。また、その後に、Ｓ３６にてフォーカスバランスを調整するステップが必要であった。ところが、このような閉ループ調整、フォーカスバランスの調整には、比較的長時間が必要であった。このため、装置の立ち上げに要する時間を短縮できないという問題がある。
【０１２７】
このように、従来の光記録再生装置によれば、光ディスクを交換する場合に、例えば微妙な反りの形状が異なる光ディスクが交換されるのみであり、光記録再生装置の側には変化がないにもかかわらず、光記録再生装置側の変化についても測定を行って調整していた。言い換えると、従来は、光記録再生装置の調整のために、光ディスクのばらつきと、光ピックアップ装置のばらつきと、装置内の回路系のばらつきとを、まとめて扱う形式で調整を行っていた。このため、長い調整時間が必要となっていた。また、光ディスク交換時の調整は、光ディスクのばらつきを調整するのみでよいのにもかかわらず、上記のようにまとめて扱う形式で調整していた。このため、余計な調整も行っていたことになる。
【０１２８】
一方、本発明に係る光ピックアップ装置、および本発明に係る光記録再生装置によれば、上述のように、調整を簡略化し、装置の立ち上げ時間を短縮し、より精度の高い調整を行うことができる。
【０１２９】
すなわち、調整時間を短くするために、光ピックアップ装置については生産時に測定した検査データを利用して調整を行い、光記録再生装置の例えば回路系のばらつきについては、装置側で生産時に調整を行う。そして、光ディスクの交換時には、光ディスクの反射率、トラックピッチ等によるばらつきのみを調整する。これによって、調整時間を短縮することができる。
【０１３０】
例えば、サーボゲインに着目すると、光記録再生装置１は、光ピックアップ装置２のアクチュエータ（対物レンズ駆動アクチュエータ１７、スレッドモータ１１など）の感度、受光素子（第１光検出器１６ａ、第２光検出器１６ｂ）の感度をメモリ１８に記憶している。したがって、光記録再生装置１に光ディスクＤが挿入されたときには、光ディスクＤからの反射光量を測定（Ｓ１２、Ｓ１５）すれば、即座に適正なサーボゲイン（サーボパラメータ）を計算して設定（Ｓ１３、Ｓ１６）が完了する。
【０１３１】
また、例えば、光ピックアップ２に依存する調整である、フォーカス系、トラッキング系の受光素子の感度ばらつきや、受光素子の配置ずれから発生する受光素子間のバランスずれの調整については、光記録再生装置１のメモリ１８に記憶されたデータを用いて行っている。
【０１３２】
これに対して、従来の光記録再生装置においては、受光素子の感度ばらつきや受光素子間のバランスずれの調整について、ＲＦ信号振幅やジッタ等が最良となる点を求めている（Ｓ３６）。
【０１３３】
しかしながら、上記のような調整は、光ピックアップ装置に依存する部分が多いため、本発明のように、光ピックアップ装置の検査項目データを使用する方が好ましい。
【０１３４】
また、上述した光記録再生装置１の調整方法は、検出媒体に与えた検出外場に対する応答を検出して読取を行う読取装置の、応答の精度を確保するための調整方法であって、記憶媒体から動作設定のデータを読取る工程と、上記動作設定のデータに応じて、調整する工程とを含むことを特徴とする読取装置の調整方法である、と表現することもできる。
【０１３５】
また、上述の実施の形態においては、光記録再生装置１における検出動作として、フィードバック制御によるサーボ動作についてのみ説明したが、本発明はこれに限るものではなく、他の検出動作であってもよい。また、動作特性を用いてゲイン値を設定する場合について説明したが、本発明はこれに限るものではない。
【０１３６】
以上のように、本発明は、光ディスクを記録再生するために重要な光ピックアップ装置において、光ピックアップ装置内に記憶素子（記憶手段）を配置し、光ピックアップを生産するときに検査した項目を記憶させ、その項目データを利用して、例えばアクチュエータ感度のばらつきや受光素子のばらつきの調整を行うための自動調整を省略する。これにより、短時間で光記録再生装置を立ち上げることが可能となる。
【０１３７】
また、温度に依存するばらつきについては、光ピックアップ装置内に温度測定手段を設けることによって、その温度データを用いて検査項目データを換算して利用できる。したがって、光記録再生装置が調整に必要とする時間をさらに短縮することが可能である。
【０１３８】
また、記憶素子としてのメモリに、光ピックアップの生産時のデータとして、光ピックアップ装置本体の生産日時、ロット番号および光源に関するデータを記憶させているので、光記録再生装置の故障、修理を行う際に、光ピックアップの生産時のデータを読み出すことができる。したがって、そのデータを参考に故障原因の診断や修理を行うことが可能となる。
【０１３９】
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、実施形態に開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても、本発明の技術的範囲に含まれる。
【０１４０】
上述の具体的な実施形態は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、本発明はそのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、特許請求の範囲に示した範囲で種々の変更が可能であり、変更した形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
【０１４１】
【発明の効果】
本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、サーボ動作における、照射手段、検出手段および移動手段の動作特性を記憶するための記憶手段を備えている構成である。
【０１４２】
それゆえ、光ピックアップ装置の記憶手段から、記憶されている動作特性を読み出すことができるという効果を奏する。また、光ピックアップ装置に特有のデータを正確に入手できるという効果を奏する。また、記憶手段に記憶されている動作特性をも用いてサーボパラメータを設定するので、このサーボパラメータの設定が容易になるという効果を奏する。
【０１４３】
また、上記光ピックアップ装置は、光記録再生装置に備えられると、サーボパラメータの設定を容易にするので、この光記録再生装置における光記録媒体の再生または光記録媒体への記録への立ち上げ時間を短縮できるという効果を奏する。
【０１４４】
本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、上記構成において、温度を測定するための温度測定手段を備えており、上記記憶手段には、上記動作特性に関する所定の温度が記憶されている構成である。
【０１４５】
それゆえ、光ピックアップ装置の生産時に測定した動作特性と、その測定の際の温度とに応じて、温度測定手段にて測定して温度を用いて例えば温度換算が行われてサーボパラメータが設定されるので、温度に依存するデータであっても補正を加えて使用でき、より精度良く調整させることができるという効果を奏する。
【０１４６】
本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、上記構成において、上記記憶手段には、光ピックアップ装置本体の生産日時、ロット番号および上記光源に関するデータが記憶されている構成である。
【０１４７】
それゆえ、光記録再生装置の故障、修理時において、光ピックアップ装置の生産日時や測定データ、ロット番号、または光源に関するデータを活用でき、故障原因解析や修理対応等について迅速な対応が可能となるという効果を奏する。
【０１４８】
本発明に係る光記録再生装置は、以上のように、上述のいずれかの光ピックアップ装置と、光記録再生装置本体の制御をする制御手段とを備え、上記制御手段が、上記記憶手段に記憶された上記動作特性と上記検出手段の上記検出信号とを用いて、上記光ピックアップ装置のサーボ動作を制御する構成である。
【０１４９】
それゆえ、光ピックアップ装置の生産時の動作特性（検査項目データ）を、光ピックアップ装置に搭載された記憶手段から読み出すとともに、光記録媒体のばらつき（反射率）については、光記録再生装置におけるエラー信号の振幅を検出信号として得ることができるので、調整の簡素化を図るとともに、短時間に精度の良い調整が可能となるという効果を奏する。
【０１５０】
本発明に係る光記録再生装置は、以上のように、上述のいずれかの光ピックアップ装置と、光記録再生装置本体の制御をする制御手段とを備え、上記制御手段は、上記記憶手段に記憶されている上記動作特性を光記録再生装置本体の本体記憶手段に取り込み、上記制御手段は、上記本体記憶手段に記憶された上記動作特性と上記検出手段の上記検出信号とを用いて、上記光ピックアップ装置のサーボ動作を制御する構成である。
【０１５１】
それゆえ、装置の立ち上げ毎、または光記録媒体の交換毎に、光ピックアップ装置の記憶手段に記憶されている動作特性を読みに行くことは不要であり、光記録再生装置本体の本体記憶手段のデータを基に調整を行うので、さらに立ち上げ時間の短縮を図ることができるという効果を奏する。
【０１５２】
本発明に係る光記録再生装置は、以上のように、上記構成において、上記光ピックアップ装置の交換を検出する交換検出手段を備え、上記制御手段は、上記交換検出手段による交換の検出に応じて、上記光ピックアップ装置の上記記憶手段に記憶されている上記動作特性を、光記録再生装置本体の本体記憶手段に取り込む構成である。
【０１５３】
それゆえ、光ピックアップ装置が交換された場合に、交換検出手段が交換を検出し、これに応じて制御手段が、光ピックアップ装置の記憶手段に記憶されている動作特性を本体記憶手段に取り込むので、光ピックアップ装置が交換された場合であっても、この光ピックアップ装置に特有の動作特性を得て、適切なサーボパラメータの設定を行い、適切なサーボ動作を行わせることができるという効果を奏する。
【０１５４】
本発明に係る検査装置は、以上のように、光ピックアップ装置を制御して、光記録媒体の所望の位置に光を照射するサーボ動作を行わせる制御手段と、サーボ動作における、照射手段、検出手段および移動手段の動作特性を測定する測定手段とを備え、上記光ピックアップ装置に、上記サーボ動作における、上記照射手段、上記検出手段および上記移動手段の上記動作特性を記憶するための記憶手段が備えられているときには、上記制御手段が、上記測定手段の測定した動作特性を上記記憶手段に記憶させる構成である。
【０１５５】
それゆえ、この検査装置が本発明に係る光ピックアップ装置を検査すれば、この光ピックアップ装置に動作特性を記憶させることができ、この光ピックアップ装置を本発明に係る光記録再生装置に備えれば、この光記録再生装置の再生または記録時の装置の立ち上げ時間を短縮できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ピックアップ装置を備えた、本発明に係る光記録再生装置の概略の構成を示すブロック図である。
【図２】上記光記録再生装置における、光記録媒体の再生または記録のための調整動作を説明するフローチャートである。
【図３】本発明に係る検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【図４】従来の光記録再生装置における、光記録媒体の再生または記録のための調整動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
１ 光記録再生装置
２ 光ピックアップ（光ピックアップ装置）
３ システムコントローラ（制御手段、本体記憶手段、交換検出手段）
７ ディジタルサーボ処理回路（制御手段）
８ ＰＷＭ信号生成回路（制御手段）
９ ＰＷＭドライバ（制御手段）
１０ スピンドルモータドライバ（制御手段）
１１ スレッドモータ（移動手段）
１２ スピンドルモータ（移動手段）
１３ ＬＤ(Laser Diode)（照射手段）
１４ ＬＤドライバ（照射手段）
１６ 光検出器（検出手段）
１６ａ 第１光検出器（検出手段）
１６ｂ 第２光検出器（検出手段）
１７ 対物レンズ駆動アクチュエータ（移動手段）
１８ メモリ（記憶手段）
１９ 温度測定器（温度測定手段）
２０ 検査装置
２１ 制御回路（制御手段）
２２ コントロールユニット（制御手段）
２３ ジッタメータ（測定手段）
２４ ストレージオシロ（測定手段）
２５ モニタ
２６ パワーメータ（測定手段）
Ｄ 光ディスク（光記録媒体）

Claims (6)

1. 光源からの光をパルス光として光記録媒体に照射するレーザダイオードおよび該レーザダイオードをパルス発光制御するレーザドライバから成る照射手段と、この照射手段が照射したパルス光の上記光記録媒体による反射光を検出して検出信号を出力する検出手段と、上記照射手段および上記検出手段を移動させる移動手段とを含み、少なくとも上記検出信号を用いて設定されるサーボパラメータに応じて上記照射手段および上記移動手段を動作させることによって、上記光記録媒体の所望の位置に光を照射するサーボ動作を行う光ピックアップ装置において、
   上記サーボ動作における、上記照射手段、上記検出手段および上記移動手段の動作特性が記憶されたディジタル回路としての記憶手段が上記レーザドライバに備えられており、
   上記記憶手段には、上記レーザダイオードの点滅時間を設定するためのデータおよび上記レーザダイオードのレーザパワーを設定するためのデータのうち少なくともいずれかのデータがさらに記憶されていることを特徴とする光ピックアップ装置。
2. 温度を測定するための温度測定手段を備えており、
   上記記憶手段には、上記動作特性に関する所定の温度が記憶されていることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
3. 上記記憶手段には、光ピックアップ装置本体の生産日時、ロット番号および上記光源に関するデータが記憶されていることを特徴とする請求項１または２に記載の光ピックアップ装置。
4. 請求項１ないし３のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置と、
   光記録再生装置本体の制御をする制御手段とを備え、
   上記制御手段が、上記記憶手段に記憶された上記動作特性と上記検出手段の上記検出信号とを用いて、上記光ピックアップ装置のサーボ動作を制御することを特徴とする光記録再生装置。
5. 請求項１ないし３のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置と、
   光記録再生装置本体の制御をする制御手段とを備え、
   上記制御手段は、上記記憶手段に記憶されている上記動作特性を光記録再生装置本体の本体記憶手段に取り込み、
   上記制御手段は、上記本体記憶手段に記憶された上記動作特性と上記検出手段の上記検出信号とを用いて、上記光ピックアップ装置のサーボ動作を制御することを特徴とする光記録再生装置。
6. 上記光ピックアップ装置の交換を検出する交換検出手段を備え、
   上記制御手段は、上記交換検出手段による交換の検出に応じて、上記光ピックアップ装置の上記記憶手段に記憶されている上記動作特性を、光記録再生装置本体の本体記憶手段に取り込むことを特徴とする請求項４または５に記載の光記録再生装置。

Images