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JP4006854B2 - Light switch - Google Patents
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光通信システムにおいて、光データを高速に切り替えるための光スイッチに関するものであり、特に半導体層を有するスイッチ部の切り替えを高速に動作させることが可能な光スイッチに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、光通信システムの拡大に伴うデータ転送の大容量化の需要が高まり、高速に処理が可能な光スイッチが必要となっている。
光スイッチは、例えば半導体層を有するスイッチ部に光を照射することにより、生じる電子と、ホールとの対の数に応じて生じる半導体層の光学応答特性(例えば誘電率など)の変化をスイッチのON/OFFに対応付けるように構成したものである。
光スイッチは例えば、光を照射し生じる電子、ホールの対が多くなった状態をON状態、電子、ホールの数が少ない状態をOFF状態としている。
【0003】
上述のような光スイッチは、光の強さを調節することにより、OFF状態からON状態への変化に要する時間を短くすることは可能であるが、ON状態からOFF状態へ変化させるのに要する時間は半導体層を構成する物質の物理的な性質に依存する。
【0004】
一般に光スイッチには高速性が要求されており、例えばJpn. J. Appl. Phys. 28 (1989) L1098に示された従来の光スイッチでは幅の狭い量子井戸の両端を幅の広い量子井戸で挟んだ構造において、狭い量子井戸から広い量子井戸へのトンネル現象を利用してスイッチング時間の高速化を図っている。
【0005】
また、Surface Science 267(1992) 634に示された光スイッチではAlGaAs量子井戸層のΓ点からAlAsバリア層のX点への電子の緩和を利用してスイッチング時間の高速化を図っている。
これは、光を照射することにより基底状態からΓ点と称するエネルギー準位に遷移した電子をこのエネルギー準位よりも低く、かつ基底状態のエネルギー準位よりも高いエネルギー準位であって、かつ安定または準安定なエネルギー準位であるX点に電子を高速に遷移させることにより、励起した電子を安定状態にすることができるため、Γ点に電子が存在することに伴う光学応答の変化を戻すことができるため、ON状態からOFF状態への変化に要する時間を短縮させ、スイッチング動作の高速化が可能となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
従来のトンネル現象やΓ点からX点への電子状態の移動を利用する光スイッチは、少ない回数までは光スイッチは正常に動作するが、所定の回数を超えると、電子の数が多くなり、次第に光スイッチ内部に過剰に蓄積され、光スイッチが正常に動作しなくなるという問題があった。
特に、Γ点からX点への電子状態の移動を利用する光スイッチにおいては、X点に遷移させることができる電子の数には限りがある。
従って短い時間間隔の間に複数回光スイッチに光を照射し、X点に遷移させることができる数よりも多くの電子が生じた場合、所定回数以降ON状態からOFF状態へ遷移しなくなり、正常なスイッチング動作が行われなくなる。つまり、短い時間間隔の間にON/OFFの動作の切り替えを所定回数以上行うとスイッチング動作が極めて悪くなるといった問題があった。
【0007】
この発明は上述のような問題を解決するためになされたものであり、複数回光スイッチに光を照射することにより、所定回数以上ON/OFF動作の切り替えを行っても動作性能が悪くならない光スイッチを得ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る光スイッチは、光の照射によりその光学応答特性が変化する半導体層を有するスイッチ部と、前記スイッチ部に電圧を印加する電圧印加部とを備え、前記スイッチ部で光を照射するスイッチング動作を所定回数行う毎に、前記電圧印加部から前記スイッチ部へ電圧印加を行う時間を設けるように動作することを特徴とするものである。
【0009】
この発明に係る光スイッチは、スイッチ部は、半導体層の一方の端部にn型ドーピング層、他方の端部にp型ドーピング層を設けたことを特徴とするものである。
【0010】
この発明に係る光スイッチは、半導体層としてGaAs/AlGaAs多重量子井戸構造、またはInGaAs/InAlGaAs多重量子井戸構造を有することを特徴とするものである。
【0011】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
図1は実施の形態1の光スイッチを説明するための図である。
図において、10はスイッチ部であり、スイッチ部10は半導体層を有する。
スイッチ部10の半導体層は例えば、光を照射することにより、生じる自由電子と、ホールとの対の数に応じて生じる光学応答特性(例えば誘電率、屈折率など)の変化をスイッチのON/OFFに対応付けるように構成したものである。
スイッチ部10には制御光13、信号光14が照射される。制御光13はスイッチ部10の光により光学応答特性が変化する半導体層で透過または反射する光の割合を制御するものである。
スイッチ部10は、照射する制御光13の強さに応じて、半導体層内部でΓ点に遷移した自由電子、ホールの対が生じる。
20はスイッチ部に電圧を印加する電圧印加部である。電圧印加部20は例えば直流電源などを有する。
【0012】
図2は実施の形態1の光スイッチを説明するための図であり、具体的には実施の形態1のスイッチ部10の具体的な一例を説明するための図である。
スイッチ部10の半導体層は例えば、光により誘電率が変化する半導体層101、n型ドーピング層電極102、p型ドーピング層103を有するものである。
【0013】
電圧印加部20はスイッチング部10のn型ドーピング層102へ電子、p型ドーピング層103側へホールが注入されやすくなる方向(ここでは、n型ドーピング層102からp型ドーピング層103へ向かう方向)に電圧を印加するものである。
図3は実施の形態1の光スイッチを説明するための図であり、具体的には光スイッチの動作の一例を説明するための図である。図において、横軸は時間である。
図において、t1はスイッチング動作を複数回行うのに要する時間、t2は電圧印加部20が動作する時間である。
電圧印加部20は例えば、スイッチング部10でスイッチング動作(つまり光の照射)を複数回行う毎にスイッチング部10に電圧を印加するような構成にしている。
【0014】
実施の形態1の光スイッチは上述のような構成を有しているので、スイッチ部10に光を照射させることによりスイッチ部10(特に半導体層101)の内部で励起した電子(特にエネルギー準位がΓ点、X点にある電子)を半導体層101からn型ドーピング層102へ、ホールを半導体層101からp型ドーピング層103へ移動させることができるため、半導体層101内部の過剰な電子、ホールの数を効率良く減少させることができる。
従って、所定回数を超える光の照射(つまりスイッチング動作)を行った後に、電圧印加部20を動作させるようにすれば光スイッチを効率良く動作させることができる。
【0015】
また、実験などにより半導体層を有するスイッチ部10がどのくらいの時間間隔で何回光を照射すれば(ON/OFF動作をすれば)そのスイッチング性能が悪化するかを予め調べておくとともに、その回数毎に電圧印加部20を動作させるように構成すれば、安定かつ、最も効率良く光スイッチを動作させることが可能となる。
【0016】
実施の形態2.
実施の形態2の光スイッチにおいて、半導体層101は例えばGaAs層、AlGaAs層を有するTypeIIのGaAs/AlGaAs多重量子井戸構造を有するものを用いたことを特徴とする。
TypeIIのGaAs/AlGaAs多重量子井戸構造を有するものでは、電子が高速でGaAs層のΓ点からAlGaAs層のX点にピコ秒程度で緩和する。
【0017】
この緩和過程を用いてピコ秒のスイッチ演算が可能となるが、電子、ホールキャリアの再結合発光寿命はμ秒オーダーなのでピコ秒の間隔でスイッチ演算を進めていくと次第にキャリアが蓄積され、スイッチング動作が低下してしまう。
実施の形態1の光スイッチは、n型ドーピング層102を半導体層101に接合するとともに、p型のドーピング層103を半導体層101に接合することにより、半導体層101の内部に過剰に発生した電子、ホールをn型ドーピング層102、p型ドーピング層103へ注入させるように構成したものである。
【0018】
図4は、実施の形態1の光スイッチを説明するための図であり、具体的には電圧印加部により電圧が印加されたときの光スイッチのエネルギー準位を説明するための図である。
図において1011a、1011bはGaAs層のエネルギー準位図、1012a、1012bはAlGaAs層のエネルギー準位図である。
11はGaAs層のΓ点、11a、11bはGaAs層内のサブバンド準位である。
12はAlGaAs層のX点、12aはAlGaAs層内のサブバンド準位である。
図に示すように多重量子井戸層の一方にn型ドーピング層102、他方にp型ドーピング層103を接合しており、電圧印加部20が動作している間はn型ドーピング層102からp型ドーピング層103方向へ電圧が印加される。
【0019】
電子はn型ドーピング層102に、ホールはp型ドーピング層103に注入され多重量子井戸層中の電子、ホールを消滅させることができる。
また、隣り合う量子井戸層に与えられるエネルギーev1(e:電子の電荷量、v1:隣り合う量子井戸間に与えられる電圧)、量子井戸内のサブバンド準位11a、11b、12aを一致するように電圧印加部20により印加される印加電圧v、GaAs/AlGaAs多重量子井戸構造を有するGaAs/AlGaAs多重量子井戸層の量子井戸間距離を調節すれば、トンネル効果によりX点にある電子の一部がサブバンド準位11a、11bへ、ホールの一部がサブバンド準位12aへ遷移しながらが移動するため、より高速に電子をn型ドーピング層102へ、ホールをp型ドーピング層103側へ移動させることが可能となるので、より高速に電子、ホールを消滅させることができるようになり、スイッチングの動作がより高速になる。
また、照射する光の波長を700(nm)〜800(nm)とすれば効率良くスイッチング動作を行わせることが可能となった。
【0020】
実施の形態2の光スイッチは上述のような構成を有しているので、スイッチ部10に光を照射させることにより半導体層の内部で発生した電子、ホールをn型ドーピング層102、p型ドーピング層103に移動させることができるため、X点に遷移した電子の数を減少させることができるので、所定回数を超えるスイッチング動作を行っても動作が悪くなることはなくなる。
【0021】
ここでは、半導体層101としてGaAs層、AlGaAs層を有するTypeIIのGaAs/AlGaAs多重量子井戸構造を有するものを用いたものを例に説明したが、これに限定されるわけではなく、InGaAs/InAlGaAs多重量子井戸構造を有するものを用いたものでも上述と同様の効果を奏する。
このとき、照射する光の波長を1300(nm)〜1600(nm)としたとき効率良くスイッチングの動作をさせることが可能となった。
【0022】
【発明の効果】
この発明に係る光スイッチによれば、スイッチング動作を悪化させることなく動作させることができる。
【0023】
この発明に係る光スイッチによれば、スイッチ部は、半導体層の一方の端部にn型ドーピング層、他方の端部にp型ドーピング層を設けたので、半導体層の内部で発生した電子をn型ドーピング層へ、半導体内部で発生したホールをp型ドーピング層へそれぞれ注入させ再結合により消滅するため、半導体層の内部に過剰に発生した電子、ホールを効率良く少なくすることができ、スイッチング動作を悪化させることなく動作させることができる。
【0024】
この発明に係る光スイッチによれば、半導体層としてGaAs/AlGaAs多重量子井戸構造、またはInGaAs/InAlGaAs多重量子井戸構造を有するので、半導体層の内部で発生した電子をn型ドーピング層へ、半導体内部で発生したホールをp型ドーピング層へそれぞれ注入させ再結合により消滅するため、半導体層の内部に過剰に発生した電子、ホールを効率良く少なくすることができ、スイッチング動作を悪化させることなく動作させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態1の光スイッチを説明するため図である。
【図2】 実施の形態1の光スイッチを説明するため図である。
【図3】 実施の形態1の光スイッチを説明するため図である。
【図4】 実施の形態2光スイッチを説明するため図である。
【符号の説明】
10 スイッチ部 20 電圧印加部
13 制御光 14 信号光
101 半導体層
102 n型ドーピング層 103 p型ドーピング層
1011a、1011b GaAs層のエネルギー準位
1012a、1012b AlGaAs層のエネルギー準位
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical switch for switching optical data at high speed in an optical communication system, and more particularly to an optical switch capable of operating switching of a switch unit having a semiconductor layer at high speed.
[0002]
[Prior art]
In recent years, the demand for increasing the capacity of data transfer accompanying the expansion of optical communication systems has increased, and an optical switch capable of high-speed processing is required.
An optical switch, for example, irradiates light to a switch unit having a semiconductor layer, and changes the optical response characteristics (for example, dielectric constant) of the semiconductor layer depending on the number of pairs of electrons and holes generated. It is configured to be associated with ON / OFF.
For example, in the optical switch, a state where the number of pairs of electrons and holes generated by irradiating light increases is an ON state, and a state where the number of electrons and holes is small is an OFF state.
[0003]
The optical switch as described above can shorten the time required to change from the OFF state to the ON state by adjusting the light intensity, but it is necessary to change from the ON state to the OFF state. The time depends on the physical properties of the materials that make up the semiconductor layer.
[0004]
In general, optical switches are required to have high speed. For example, in the conventional optical switch shown in Jpn. J. Appl. Phys. 28 (1989) L1098, both ends of a narrow quantum well are connected with a wide quantum well. In the sandwiched structure, the tunneling phenomenon from a narrow quantum well to a wide quantum well is used to increase the switching time.
[0005]
In the optical switch shown in Surface Science 267 (1992) 634, the switching time is increased by utilizing the relaxation of electrons from the Γ point of the AlGaAs quantum well layer to the X point of the AlAs barrier layer.
This is because an electron that has transitioned from a ground state to an energy level called a Γ point by irradiating light is lower than this energy level and higher than the energy level of the ground state, and Since the excited electrons can be brought into a stable state by rapidly transitioning electrons to the X point, which is a stable or metastable energy level, the change in optical response due to the presence of electrons at the Γ point Therefore, the time required for the change from the ON state to the OFF state can be shortened, and the switching operation can be speeded up.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
The conventional optical switch using the tunnel phenomenon or the movement of the electronic state from the Γ point to the X point operates normally until a small number of times, but when the number exceeds a predetermined number, the number of electrons increases. There is a problem that the optical switch gradually accumulates excessively and the optical switch does not operate normally.
In particular, in an optical switch that uses the movement of an electronic state from the Γ point to the X point, the number of electrons that can be transitioned to the X point is limited.
Therefore, if the number of electrons generated more than the number that can be transferred to the X point by irradiating light to the optical switch a plurality of times during a short time interval does not change from the ON state to the OFF state after a predetermined number of times Switching operation is not performed. That is, there is a problem that the switching operation becomes extremely poor if the ON / OFF operation is switched over a predetermined number of times during a short time interval.
[0007]
The present invention has been made to solve the above-described problems. By irradiating light to the optical switch a plurality of times, the optical performance does not deteriorate even if the ON / OFF operation is switched over a predetermined number of times. The purpose is to obtain a switch.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
An optical switch according to the present invention includes a switch unit having a semiconductor layer whose optical response characteristics change by light irradiation , and a voltage application unit that applies a voltage to the switch unit, and the switch unit irradiates light. Each time the switching operation is performed a predetermined number of times, the voltage application unit operates so as to provide time for voltage application from the voltage application unit to the switch unit.
[0009]
The optical switch according to the present invention is characterized in that the switch portion is provided with an n-type doping layer at one end of the semiconductor layer and a p-type doping layer at the other end.
[0010]
The optical switch according to the present invention has a GaAs / AlGaAs multiple quantum well structure or an InGaAs / InAlGaAs multiple quantum well structure as a semiconductor layer.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a diagram for explaining the optical switch according to the first embodiment.
In the figure, reference numeral 10 denotes a switch unit, and the switch unit 10 includes a semiconductor layer.
For example, when the semiconductor layer of the switch unit 10 is irradiated with light, a change in optical response characteristics (for example, dielectric constant, refractive index, etc.) generated according to the number of pairs of free electrons and holes generated is changed to ON / OFF of the switch. It is configured to be associated with OFF.
The switch unit 10 is irradiated with control light 13 and signal light 14. The control light 13 controls the ratio of light transmitted or reflected by the semiconductor layer whose optical response characteristics change due to the light of the switch unit 10.
The switch unit 10 generates a pair of free electrons and holes that have transitioned to the Γ point inside the semiconductor layer in accordance with the intensity of the control light 13 to be irradiated.
Reference numeral 20 denotes a voltage application unit that applies a voltage to the switch unit. The voltage application unit 20 includes, for example, a DC power source.
[0012]
FIG. 2 is a diagram for explaining the optical switch according to the first embodiment. Specifically, FIG. 2 is a diagram for explaining a specific example of the switch unit 10 according to the first embodiment.
The semiconductor layer of the switch unit 10 includes, for example, a semiconductor layer 101 whose dielectric constant is changed by light, an n-type doping layer electrode 102, and a p-type doping layer 103.
[0013]
The voltage application unit 20 is a direction in which electrons and holes are more likely to be injected into the n-type doping layer 102 of the switching unit 10 (here, the direction from the n-type doping layer 102 toward the p-type doping layer 103). A voltage is applied to.
FIG. 3 is a diagram for explaining the optical switch according to the first embodiment. Specifically, FIG. 3 is a diagram for explaining an example of the operation of the optical switch. In the figure, the horizontal axis is time.
In the figure, t 1 is the time required for performing the switching operation a plurality of times, and t 2 is the time for which the voltage application unit 20 operates.
For example, the voltage application unit 20 is configured to apply a voltage to the switching unit 10 every time the switching unit 10 performs a switching operation (that is, light irradiation) a plurality of times.
[0014]
Since the optical switch according to the first embodiment has the above-described configuration, electrons (particularly energy levels) excited inside the switch unit 10 (particularly the semiconductor layer 101) by irradiating the switch unit 10 with light. Can be moved from the semiconductor layer 101 to the n-type doping layer 102 and holes can be moved from the semiconductor layer 101 to the p-type doping layer 103. The number of holes can be reduced efficiently.
Therefore, the optical switch can be operated efficiently if the voltage application unit 20 is operated after the light irradiation (that is, switching operation) exceeding the predetermined number of times.
[0015]
In addition, by investigating in advance how many times the switch unit 10 having a semiconductor layer emits light (when ON / OFF operation is performed) the switching performance deteriorates, and the number of times If the voltage application unit 20 is configured to operate every time, the optical switch can be operated stably and most efficiently.
[0016]
Embodiment 2. FIG.
The optical switch of the second embodiment is characterized in that the semiconductor layer 101 has, for example, a type II GaAs / AlGaAs multiple quantum well structure having a GaAs layer and an AlGaAs layer.
In the Type II GaAs / AlGaAs multiple quantum well structure, electrons relax at high speed from the Γ point of the GaAs layer to the X point of the AlGaAs layer in about picoseconds.
[0017]
Using this relaxation process, it is possible to perform picosecond switch calculations. However, since the recombination emission lifetime of electrons and hole carriers is on the order of microseconds, carriers are gradually accumulated by switching operations at picosecond intervals. Operation will be reduced.
In the optical switch according to the first embodiment, the n-type doping layer 102 is bonded to the semiconductor layer 101 and the p-type doping layer 103 is bonded to the semiconductor layer 101, whereby excessive electrons are generated in the semiconductor layer 101. , Holes are injected into the n-type doping layer 102 and the p-type doping layer 103.
[0018]
FIG. 4 is a diagram for explaining the optical switch according to the first embodiment. Specifically, FIG. 4 is a diagram for explaining the energy level of the optical switch when a voltage is applied by the voltage application unit.
In the figure, 1011a and 1011b are energy level diagrams of the GaAs layer, and 1012a and 1012b are energy level diagrams of the AlGaAs layer.
11 is a Γ point of the GaAs layer, and 11a and 11b are subband levels in the GaAs layer.
12 is the X point of the AlGaAs layer, and 12a is the subband level in the AlGaAs layer.
As shown in the figure, an n-type doping layer 102 is joined to one of the multiple quantum well layers, and a p-type doping layer 103 is joined to the other, and the n-type doping layer 102 is changed to a p-type while the voltage application unit 20 is operating. A voltage is applied in the direction of the doping layer 103.
[0019]
Electrons are injected into the n-type doping layer 102 and holes are injected into the p-type doping layer 103 so that electrons and holes in the multiple quantum well layer can be eliminated.
Further, the energy ev1 (e: the amount of charge of electrons, v1: the voltage applied between the adjacent quantum wells) given to the adjacent quantum well layers and the subband levels 11a, 11b, 12a in the quantum well are made to coincide. If the applied voltage v applied by the voltage application unit 20 and the distance between the quantum wells of the GaAs / AlGaAs multiple quantum well layer having a GaAs / AlGaAs multiple quantum well structure are adjusted, a part of electrons at the X point by the tunnel effect Moves to the subband levels 11a and 11b while some of the holes move to the subband level 12a, so that electrons move to the n-type doping layer 102 and holes move to the p-type doping layer 103 side at a higher speed. Since it can be moved, electrons and holes can be annihilated at a higher speed, and the switching operation can be performed at a higher speed. That.
Further, when the wavelength of the irradiated light is set to 700 (nm) to 800 (nm), it is possible to perform the switching operation efficiently.
[0020]
Since the optical switch according to the second embodiment has the above-described configuration, electrons and holes generated in the semiconductor layer by irradiating the switch unit 10 with light are converted into the n-type doping layer 102 and the p-type doping. Since it can be moved to the layer 103, the number of electrons that have transitioned to the X point can be reduced. Therefore, even if a switching operation exceeding a predetermined number of times is performed, the operation does not deteriorate.
[0021]
Here, the semiconductor layer 101 having a type II GaAs / AlGaAs multiple quantum well structure having a GaAs layer and an AlGaAs layer has been described as an example. However, the present invention is not limited to this. Even those using a quantum well structure have the same effects as described above.
At this time, when the wavelength of light to be irradiated is 1300 (nm) to 1600 (nm), the switching operation can be efficiently performed.
[0022]
【The invention's effect】
The optical switch according to the present invention can be operated without deteriorating the switching operation.
[0023]
According to the optical switch of the present invention, since the switch unit is provided with the n-type doping layer at one end of the semiconductor layer and the p-type doping layer at the other end, the electrons generated inside the semiconductor layer are generated. The holes generated inside the semiconductor are injected into the n-type doping layer into the p-type doping layer and disappear by recombination. Therefore, excessive electrons and holes generated inside the semiconductor layer can be efficiently reduced, and switching is performed. The operation can be performed without deteriorating the operation.
[0024]
According to the optical switch of the present invention, since the semiconductor layer has a GaAs / AlGaAs multiple quantum well structure or an InGaAs / InAlGaAs multiple quantum well structure, electrons generated inside the semiconductor layer are transferred to the n-type doping layer. The holes generated in step 1 are injected into the p-type doping layer and disappear by recombination, so that excessively generated electrons and holes in the semiconductor layer can be efficiently reduced, and the switching operation is not deteriorated. be able to.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram for explaining an optical switch according to a first embodiment.
FIG. 2 is a diagram for explaining the optical switch according to the first embodiment.
FIG. 3 is a diagram for explaining the optical switch according to the first embodiment;
FIG. 4 is a diagram for explaining an optical switch according to a second embodiment.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Switch part 20 Voltage application part 13 Control light 14 Signal light 101 Semiconductor layer 102 N-type doping layer 103 p-type doping layer 1011a, 1011b Energy level of GaAs layer 1012a, 1012b Energy level of AlGaAs layer

Claims (3)

光の照射によりその光学応答特性が変化する半導体層を有するスイッチ部と、
前記スイッチ部に電圧を印加する電圧印加部とを備え、
前記スイッチ部で光を照射するスイッチング動作を所定回数行う毎に、前記電圧印加部から前記スイッチ部へ電圧印加を行う時間を設けるように動作することを特徴とする光スイッチ。
A switch unit having a semiconductor layer whose optical response characteristics change by light irradiation;
A voltage application unit that applies a voltage to the switch unit;
An optical switch that operates so as to provide time for voltage application from the voltage application unit to the switch unit every time a switching operation of irradiating light in the switch unit is performed a predetermined number of times .
光スイッチ部は、半導体層の一方の端部にn型ドーピング層、他方の端部にp型ドーピング層を設けたことを特徴とする請求項1記載の光スイッチ。  2. The optical switch according to claim 1, wherein the optical switch part is provided with an n-type doping layer at one end of the semiconductor layer and a p-type doping layer at the other end. 半導体層としてGaAs/AlGaAs多重量子井戸構造、またはInGaAs/InAlGaAs多重量子井戸構造を有することを特徴とする請求項1記載の光スイッチ。  2. The optical switch according to claim 1, wherein the semiconductor layer has a GaAs / AlGaAs multiple quantum well structure or an InGaAs / InAlGaAs multiple quantum well structure.
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