JP4011201B2 - 測定信号処理方法および装置並びに放射線断層撮影装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定信号処理方法および装置並びに放射線断層撮影装置に関し、特に、測定信号からノイズ(noise)を除去する測定信号処理方法および装置、並びに、ノイズを除去する測定信号処理装置を備えた放射線断層撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
放射線断層撮影装置の一例として、例えば、X線CT(computed tomography)装置がある。X線CT装置においては、放射線としてはX線が利用される。X線発生にはX線管が使用される。そして、放射線照射・検出装置すなわちX線照射・検出装置を被検体の周りで回転(スキャン(scan))させて、被検体の周囲の複数のビュー(view)方向でそれぞれX線による被検体の投影データ(data)を測定し、それら投影データに基づいて断層像を生成(再構成)するようになっている。
【0003】
X線照射装置は、撮影範囲を包含する幅を持ちそれに垂直な方向に所定の厚みを持つX線ビーム(beam)を照射する。X線検出装置は、X線ビームの幅の方向に多数のX線検出素子をアレイ(array)状に配列してなる多チャンネル(channel)のX線検出器によってX線を検出する。X線検出器を通じて測定した測定信号にはランダム(random)なフォトンノイズ(photon noise)が重畳しているので、測定信号をローパスフィルタ(lowpass filter)で処理してノイズを除去することが行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
測定信号をローパスフィルタで処理した場合、測定信号の高周波成分が失われ、これによって再構成画像の精細さが損なわれるという問題があった。
【0005】
本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、測定信号の高周波成分を損なうことなくノイズを除去する測定信号処理方法および装置、並びに、そのような測定信号処理装置を備えた放射線断層撮影装置を実現することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
(1)上記の課題を解決する第1の発明は、測定信号の各測定値につきその近傍の測定値からの補間演算によって求めた推定値と前記測定値との差の符号に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の符号を推定し、前記推定値または前記測定値の平方根に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の大きさを推定し、前記推定したノイズ成分の符号と大きさとに基づいて、ノイズが相殺されるように前記測定値を補正する、ことを特徴とする測定信号処理方法である。
【0007】
第1の発明において、前記ノイズ成分の大きさを、前記平方根に基づく値の5%から65%までの範囲で推定するのが、補正を効率よく行う点で好ましい。
【0008】
また、第1の発明において、前記推定値と前記測定値との差が、前記測定値の0.1%以下または20%以上のときは、補正を省略することが補正を効率良く行う点で好ましい。
【0010】
(2)上記の課題を解決する第2の発明は、測定信号の各測定値につきその近傍の測定値からの補間演算によって求めた推定値と前記測定値との差の符号に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の符号を推定するとともに、前記推定値または前記測定値の平方根に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の大きさを推定するノイズ推定手段と、前記推定したノイズ成分の符号と大きさとに基づいて、ノイズが相殺されるように前記測定値を補正する測定値補正手段と、を具備することを特徴とする測定信号処理装置である。
【0011】
(3)上記の課題を解決する第3の発明は、放射線ビームを照射する放射線照射手段と、複数の放射線検出素子をアレイ状に配列した放射線検出素子アレイを有し前記放射線照射手段から照射される複数ビューの放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線検出手段を通じて得た各測定値につきその近傍の測定値からの補間演算によって求めた推定値と前記測定値との差の符号に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の符号を推定するとともに、前記推定値または前記測定値の平方根に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の大きさを推定するノイズ推定手段と、前記推定したノイズ成分の符号と大きさとに基づいて、ノイズが相殺されるように前記測定値を補正する測定値補正手段と、前記補正された測定値に基づいて前記放射線ビームの通過領域についての断層像を生成する断層像生成手段と、を具備することを特徴とする放射線断層撮影装置である。
【0013】
第2の発明または第3の発明において、前記ノイズ成分の大きさを、前記平方根に基づく値の5%から65%までの範囲で推定するのが、補正を効率よく行う点で好ましい。また、前記測定値と前記推定値との差が、前記測定値の0.1%以下または20%以上のときは、補正を省略することが補正を効率良く行う点で好ましい。
【0014】
(作用)
本発明では、推定値と測定値との差の符号に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の符号を推定し、推定値または測定値の平方根に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の大きさを推定し、推定したノイズ成分の符号と大きさとに基づいて、ノイズが相殺されるように測定値を補正する。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態に限定されるものではない。図1にX線CT装置のブロック(block)図を示す。本装置は本発明の放射線断層撮影装置の実施の形態の一例である。本装置の構成によって、本発明の装置に関する実施の形態の一例が示される。本装置の動作によって、本発明の方法に関する実施の形態の一例が示される。
【0016】
図1に示すように、本装置は、走査ガントリ(gantry)2と、撮影テーブル(table)4と、操作コンソール(console)6を備えている。走査ガントリ2は、放射線源としてのX線管20を有する。X線管20から放射された図示しないX線は、コリメータ22により例えば扇状のX線ビームすなわちファンビーム(fanbeam)となるように成形され、検出器アレイ24に照射されるようになっている。X線管20とコリメータ22は、本発明における放射線照射手段の実施の形態の一例である。
【0017】
検出器アレイ24は、本発明における放射線検出素子アレイの実施の形態の一例である。また、本発明における放射線検出手段の実施の形態の一例である。検出器アレイ24は、扇状のX線ビームの幅の方向にアレイ状に配列された複数のX線検出素子を有する。検出器アレイ24の構成については後にあらためて説明する。
【0018】
X線管20、コリメータ22および検出器アレイ24は、X線照射・検出装置を構成する。X線照射・検出装置の構成については後にあらためて説明する。検出器アレイ24にはデータ収集部26が接続されている。データ収集部26は検出器アレイ24の個々のX線検出素子の検出データを収集するようになっている。
【0019】
X線管20からのX線の照射は、X線コントローラ(controller)28によって制御されるようになっている。なお、X線管20とX線コントローラ28との接続関係については図示を省略する。コリメータ22は、コリメータコントローラ30によって制御されるようになっている。なお、コリメータ22とコリメータコントローラ30との接続関係については図示を省略する。
【0020】
以上のX線管20乃至コリメータコントローラ30が、走査ガントリ2の回転部32に搭載されている。回転部32の回転は、回転コントローラ34によって制御されるようになっている。なお、回転部32と回転コントローラ34との接続関係については図示を省略する。
【0021】
撮影テーブル4は、図示しない被検体を走査ガントリ2のX線照射空間に搬入および搬出するようになっている。被検体とX線照射空間との関係については後にあらためて説明する。
【0022】
操作コンソール6は、中央処理装置60を有している。中央処理装置60は、本発明の測定信号処理装置の実施の形態の一例である。また、本発明におけるノイズ推定手段の実施の形態の一例である。また、本発明における測定値補正手段の実施の形態の一例である。また、本発明における断層像生成手段の実施の形態の一例である。
【0023】
中央処理装置60は、例えばコンピュータ(computer)等によって構成される。中央処理装置60には、制御インタフェース(interface)62が接続されている。制御インタフェース62には、走査ガントリ2と撮影テーブル4が接続されている。
【0024】
中央処理装置60は制御インタフェース62を通じて走査ガントリ2および撮影テーブル4を制御するようになっている。走査ガントリ2内のデータ収集部26、X線コントローラ28、コリメータコントローラ30および回転コントローラ34が制御インタフェース62を通じて制御される。なお、それら各部と制御インタフェース62との個別の接続については図示を省略する。
【0025】
中央処理装置60には、また、データ収集バッファ64が接続されている。データ収集バッファ64には、走査ガントリ2のデータ収集部26が接続されている。データ収集部26で収集されたデータがデータ収集バッファ64に入力される。データ収集バッファ64は、入力データを一時的に記憶する。中央処理装置60には、また、記憶装置66が接続されている。記憶装置66は、各種のデータや再構成画像およびプログラム(program)等を記憶する。
【0026】
中央処理装置60には、また、表示装置68と操作装置70がそれぞれ接続されている。表示装置68は、中央処理装置60から出力される再構成画像やその他の情報を表示するようになっている。操作装置70は、操作者によって操作され、各種の指示や情報等を中央処理装置60に入力するようになっている。
【0027】
図2に、検出器アレイ24の模式的構成を示す。検出器アレイ24は、多数(例えば1000個)のX線検出素子24(i)を円弧状に配列した多チャンネルのX線検出器を形成している。iはチャンネル番号であり例えばi=1〜1000である。X線検出素子24(i)は、本発明における放射線検出素子の実施の形態の一例である。
【0028】
図3に、X線照射・検出装置におけるX線管20とコリメータ22と検出器アレイ24の相互関係を示す。なお、図3の(a)は正面図、(b)は側面図である。同図に示すように、X線管20から放射されたX線は、コリメータ22により扇状のX線ビーム40となるように成形され、検出器アレイ24に照射されるようになっている。図3の(a)においては、扇状のX線ビーム40の広がりすなわちX線ビーム40の幅を示している。図3の(b)では、X線ビーム40の厚みを示している。
【0029】
このようなX線ビーム40の扇面に体軸を交叉させて、例えば図4に示すように、撮影テーブル4に載置された被検体8がX線照射空間に搬入される。X線ビーム40によってスライス(slice)された被検体8の投影像が検出器アレイ24に投影される。被検体8のアイソセンタ(isocenter)におけるX線ビーム40の厚みが、被検体8のスライス厚thを与える。スライス厚thは、コリメータ22のアパーチャによって定まる。
【0030】
本装置の動作を説明する。図5に、本装置の動作のフロー(flow)図を示す。同図に示すように、ステップ(step)502で、操作者は、操作装置70を通じて撮影条件を設定する。
【0031】
次に、ステップ504で、操作者からの指令の基づきスキャンが行われる。すなわち、中央処理装置60による制御の下で、X線管20とコリメータ22と検出器アレイ24とからなるX線照射・検出装置がそれらの相互関係を保ったまま被検体8の体軸の周りを回転(スキャン)し、スキャンの1回転当たり複数(例えば1000)のビュー角度で被検体の投影データを収集する。投影データの収集は、検出器アレイ24−データ収集部26−データ収集バッファ64の系統によって行われる。収集されたデータは記憶装置66に記憶される。記憶装置66に記憶された1ビュー分の投影データ(測定データ)のプロファイル(profile)の一例を図6に示す。同図において、縦軸が信号強度、横軸がチャンネル番号である。
【0032】
次に、ステップ506で、収集された投影データの前処理を行う。前処理の中には、測定データからノイズを除去するためのデータ補正、および、その他オフセット補正、X線強度補正、感度補正等、所定の補正が含まれる。なお、ノイズ除去用のデータ補正の詳細については後にあらためて説明する。
【0033】
次に、ステップ508で、中央処理装置60が断層像の生成すなわち画像再構成を行なう。画像再構成は、1回転のスキャンで得られた例えば1000ビューの投影データを、例えばフィルタード・バックプロジェクション(filtered back projection)法等によって処理することにより行われる。再構成画像は、記憶装置66に記憶される。また、ステップ510で、表示装置68により可視像として表示される。
【0034】
ステップ506での前処理におけるノイズ除去用のデータ補正の詳細なフロー図を図7に示す。このノイズ除去用のデータ補正は、全ての測定データについて行う。同図に示すように、ステップ702で、補正しようとする測定データDmをメモリから読み出す。これによって、例えば図8に示す測定データDmが読み出される。測定データDmは、本発明における測定値の実施の形態の一例である。測定データDmは、それに重畳しているランダムなフォトンノイズのために、真の値に対して誤差がある可能性があるものである。なお、測定データは、Dmばかりでなく全てのものがランダムなフォトンノイズによる誤差を含む可能性がある。
【0035】
次に、ステップ704で、測定データDmに関する推定データDnを生成する。推定データDnは、本発明における推定値の実施の形態の一例である。推定データDnの生成は、例えば図8に示すように、測定データDmの近傍の測定データDm−1およびDm+1からの補間演算によって行う。測定データDm−1,Dm,Dm+1は、例えば2点差線で示すような被検体8の投影像のプロファイルに関するデータであるから相関性を有する。したがって、測定データDmに関し、その近傍の測定値からの補間によって求めた推定データDnは、少なくとも、測定データDmよりはプロファイルの真値に近い可能性が高いデータと見ることができる。なお、推定データDnは、次に述べるように、ランダムノイズの符号を推定するためのもので、必ずしも測定データDmの真値とするものではない。
【0036】
また、補間演算に用いる測定データの数は2に限るものではなく、それ以上の適宜の数としても良いのはいうまでもない。補間演算に用いる測定データの数を多くするほど真値に近いデータが得られる可能性が高くなる。また、1次元のデータ列ばかりでなく、例えば図9に示すような測定データのビュー・チャンネル平面において、位置5の推定データを求めるのに、その近傍の位置1〜4および6〜9の測定データから補間するようにしても良いのはもちろんである。
【0037】
推定データDnを測定データDmよりも真値に近いデータであるとした場合、測定データDmと推定データDnの間に差がある場合は、ノイズが重畳しているとすることができる。また、差の符号によってノイズ成分の符号を推定することができる。すなわち、Dm−Dn<0の場合は負のノイズが重畳しており、Dm−Dn>0の場合は正のノイズが重畳しているとすることができる。
【0038】
X線透過信号に含まれるフォトンノイズは、そのピーク値がX線透過信号のレベル(evel)の平方根に比例するという性質がある。そして、フォトンノイズは、そのようなピーク値の範囲内でランダムな値をとる。すなわち、ピーク値の範囲内でどの値をとるかは確率的に決まる。
【0039】
そこで、このようなフォトンノイズの性質に基づき、ステップ706で、ノイズを削減するための補正データを生成する。すなわち、まず、推定データDnの平方根を計算し、それに基づいて、このデータに重畳し得るフォトンノイズのピーク値を求める。なお、平方根は、推定データDnの代わりに測定データDmについて求めるようにしても良い。どちらから求めてもフォトンノイズのピーク値には大差がない。
【0040】
次に、このピーク値の範囲内に属する数値をランダムに選択し、それをノイズの絶対値とする。ランダムな数値の選択には例えば乱数等を利用する。現実的には、フォトンノイズに対しては、ランダムな数値を選択する範囲をピーク値の5%程度から65%程度までとするのが、補正データ生成の効率を良くする点で好ましい。また、Dm−Dnの値が、Dmの値の例えば0.1%以下のように小さいとき、または、例えば20%以上のように大きいときは、補正データの生成を省略することが能率向上の点で好ましい。
【0041】
次に、ノイズの絶対値に符号を付ける。符号は、Dm−Dnの符号に従って定める。これによって、測定データDmに重畳している可能性が高いノイズと絶対値が等しく符号が反対なデータ、すなわち、補正データが生成される。
【0042】
次に、ステップ708で、上記のようにして生成した補正データで測定データを補正する。すなわち、補正データを測定データDmに加算し、測定データDmに重畳している可能性が高いノイズと相殺する。
【0043】
次に、ステップ710で、全ての測定データについて上記の処理が終了したかどうかを判定し、未処理のデータがある場合はステップ702に戻り、次の測定データについて上記と同様な処理を行う。これを繰り返すことによって、収集された全ての測定データについて、ノイズ相殺のためのデータ補正が行われる。
【0044】
補正データは、その絶対値がフォトンノイズの取り得るピーク値の範囲内で確率的に決定されるので、ノイズの実態に即したものとなっている。このため、個々の測定データに重畳しているノイズが、補正データにより必ずしも1対1に相殺されるとは限らないものの、収集された測定データ全体としては、ノイズは効果的に削減される。しかも、従来のようにローパスフィルタでノイズを除去する場合のように測定データの高周波成分が損なわれることがない。したがって、補正がなされた測定データに基づいて再構成された画像は、高精細でありながらノイズの少ない画像となる。
【0045】
以上、放射線としてX線を用いた例について説明したが、放射線はX線に限るものではなく、例えばγ線等の他の種類の放射線であっても良い。ただし、現時点では、X線がその発生、検出および制御等に関し実用的な手段が最も充実している点で好ましい。
【0046】
また、測定データが放射線透過データである例について説明したが、測定データは放射線透過データに限るものではなく、例えば電気的な測定信号に含まれる熱雑音等、フォトンノイズと同様な性質を持つノイズについて、本発明の方法により、効果的に削減することができる。
【0047】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明によれば、測定信号の高周波成分を損なうことなくノイズを除去する測定信号処理方法および装置、並びに、そのような測定信号処理装置を備えた放射線断層撮影装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図である。
【図2】本発明の実施の形態の一例の装置における検出器アレイの模式的構成図である。
【図3】本発明の実施の形態の一例の装置におけるX線照射・検出装置の模式的構成図である。
【図4】本発明の実施の形態の一例の装置におけるX線照射・検出装置の模式的構成図である。
【図5】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロー図である。
【図6】本発明の実施の形態の一例の装置で収集した測定データのプロファイルを示すグラフである。
【図7】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロー図である。。
【図8】本発明の実施の形態の一例の装置による推定データ生成を説明するグラフである。
【図9】本発明の実施の形態の一例の装置による推定データ生成を説明するグラフである。
【符号の説明】
2 走査ガントリ
20 X線管
22 コリメータ
24 検出器アレイ
24(i) X線検出素子
26 データ収集部
28 X線コントローラ
30 コリメータコントローラ
32 回転部
34 回転コントローラ
4 撮影テーブル
6 操作コンソール
60 中央処理装置
62 制御インタフェース
64 データ収集バッファ
14 レファレンスチャンネル
40 X線ビーム
8 被検体
Claims (3)
- 測定信号の各測定値につきその近傍の測定値からの補間演算によって求めた推定値と前記測定値との差の符号に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の符号を推定し、
前記推定値または前記測定値の平方根に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の大きさを推定し、
前記推定したノイズ成分の符号と大きさとに基づいて、ノイズが相殺されるように前記測定値を補正する、
ことを特徴とする測定信号処理方法。 - 測定信号の各測定値につきその近傍の測定値からの補間演算によって求めた推定値と前記測定値との差の符号に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の符号を推定するとともに、前記推定値または前記測定値の平方根に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の大きさを推定するノイズ推定手段と、
前記推定したノイズ成分の符号と大きさとに基づいて、ノイズが相殺されるように前記測定値を補正する測定値補正手段と、
を具備することを特徴とする測定信号処理装置。 - 放射線ビームを照射する放射線照射手段と、
複数の放射線検出素子をアレイ状に配列した放射線検出素子アレイを有し前記放射線照射手段から照射される複数ビューの放射線を検出する放射線検出手段と、
前記放射線検出手段を通じて得た各測定値につきその近傍の測定値からの補間演算によって求めた推定値と前記測定値との差の符号に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の符号を推定するとともに、前記推定値または前記測定値の平方根に基づいて測定値に含まれるノイズ成分の大きさを推定するノイズ推定手段と、
前記推定したノイズ成分の符号と大きさとに基づいて、ノイズが相殺されるように前記測定値を補正する測定値補正手段と、
前記補正された測定値に基づいて前記放射線ビームの通過領域についての断層像を生成する断層像生成手段と、
を具備することを特徴とする放射線断層撮影装置。
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