JP4018092B2 - A device that automatically determines the cause of a given surface condition of an inspection object - Google Patents
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Description
この発明は、検査対象物の所定の表面状態を画像分析により判定した結果に応じて、該所定の表面状態の原因を自動的に求める技術に関する。 The present invention relates to a technique for automatically determining a cause of a predetermined surface state according to a result of determining a predetermined surface state of an inspection object by image analysis.
ギアその他の加工品の表面の傷その他の表面状態の検査は、目視によって行われることが多いが、作業が単純である反面、集中力を必要とし、困難な作業とされている。このため、目視に依存することなくギアその他の加工品の検査を行うことのできる装置が必要とされている。 Inspection of scratches and other surface conditions on the surface of gears and other processed products is often performed by visual inspection. However, while the operation is simple, it requires concentration and is difficult. Therefore, there is a need for an apparatus that can inspect gears and other processed products without depending on visual observation.
特許文献1には、ギア歯面を撮影し、得られた画像の輝度を評価してギア歯面の打痕等の傷の有無を判別する方法が記載されている。1つのギアについて所定の間隔をおいて検査すべきギア歯面およびその歯面と異なるギア歯面を撮影して、異なる歯面に関する実質的に同一方向からの複数の画像を作成し、画像間の輝度の差を表す差分画像を作成する。この差分画像を加算して加算画像を作成し、加算画像の輝度と基準値とを比較することにより、打痕の有無を判別する。
ギアの傷、打痕、剥離などの傷その他の所定の表面状態は、製造工程および保管工程などの様々な工程でつけられるおそれがある。検出された傷その他の所定の表面状態から、該所定の表面状態が生成された原因を自動的に求めることができれば、ギアの生産および保管等の管理の改善を効率的に行うことができる。 Gear scratches, dents, scratches such as peeling, and other predetermined surface conditions may be applied in various processes such as a manufacturing process and a storage process. If the cause of the generation of the predetermined surface state can be automatically determined from the detected scratches and other predetermined surface states, the management of gear production and storage can be improved efficiently.
本願発明は、傷その他の所定の表面状態が検出されることに応じて、該所定の表面状態の原因を自動的に求めることのできる装置を提供する。 The present invention provides an apparatus capable of automatically determining the cause of a predetermined surface condition in response to detection of a scratch or other predetermined surface condition.
この発明は、一形態(請求項1)では、検査対象物における所定の表面状態の判定に応じて、該所定の表面状態の原因を自動的に求める装置である。該装置は、自己組織化マップにおいて対象物の所定の表面状態の原因ごとにニューロンがクラスタ化された原因追求マップを記憶する記憶手段と、対象物を撮像する撮像手段と、撮像手段から取得した対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を検出し、該要判定領域を含むよう検査領域を特定する手段と、検査領域が所定の表面状態を含むかどうか判定する判定手段と、所定の表面状態を含むと判定された検査領域について、該検査領域の該対象物における位置情報を特定する手段と、該位置情報から、該所定の表面状態の該対象物上の位置を表す位置ベクトルを抽出する手段と、抽出された位置ベクトルを、原因追求マップに入力する手段と、原因追求マップに入力した位置ベクトルと、結合ベクトルとの距離が最小となるニューロンを、該原因追求マップ内で特定する手段と、該特定されたニューロンの属するクラスタに従って、該所定の表面状態の原因を求める手段と、を備える。 In one form (Claim 1), the present invention is an apparatus that automatically determines the cause of the predetermined surface state in response to the determination of the predetermined surface state of the inspection object. The apparatus is obtained from a storage means for storing a cause pursuit map in which neurons are clustered for each cause of a predetermined surface state of an object in a self-organizing map, an imaging means for imaging an object, and an imaging means. Means for detecting a required determination area having a luminance difference exceeding a predetermined threshold with respect to another area in the image of the object, and specifying the inspection area so as to include the required determination area; A determination means for determining whether or not a surface state is included; a means for specifying position information of the inspection region in the object with respect to the inspection area determined to include a predetermined surface state; and Means for extracting a position vector representing the position of the surface state on the object, means for inputting the extracted position vector into the cause pursuit map, and a position vector input into the cause pursuit map Includes neurons distance between the combining vectors is minimized, means for identifying in the cause pursued map in accordance with the cluster Field of the identified neurons, means for determining the cause of the predetermined surface condition, the.
この発明によれば、所定の表面状態を含むと判定された検査領域の位置情報から、自動的に該所定の表面状態の原因を求めることができる。所定の表面状態の原因が自動的に求まるので、該対象物に係わるどの工程の管理を向上すべきかを効率的に判断することができる。 According to the present invention, the cause of the predetermined surface state can be automatically obtained from the positional information of the inspection area determined to include the predetermined surface state. Since the cause of the predetermined surface state is automatically obtained, it is possible to efficiently determine which process related to the object should be improved.
この発明の一形態(請求項2)では、対象物はギアであり、上記の位置ベクトルは、該ギアの歯幅方向の位置によって表される。 In one form of this invention (Claim 2), a target object is a gear and said position vector is represented by the position of the gear width direction of this gear.
この発明の一形態(請求項3)では、対象物について、所定の表面状態の原因ごとに、該所定の表面状態の該対象物上の位置が特定された学習用位置ベクトルを、自己組織化マップに入力して学習させることにより、原因追求マップが作成される。 In one form of this invention (Claim 3), the position vector for learning in which the position on the target object in the predetermined surface state is specified for each target of the predetermined surface state is self-organized. A cause pursuit map is created by learning by inputting into the map.
次に図面を参照して、この発明の実施形態を説明する。図1は、検査の対象物がギア11であるときの撮像装置の構成を示す。ギア11は、回転テーブル15に取り付けられ、台座17に設けられた図示しないステップモータによってギア歯のピッチでステップ状に回転される。ギア11は、照明装置19によって照射されている。CMOSイメージセンサを備えたカメラ21が、ギア11の歯面を撮影する。撮影は、ギア11のステップ状の回転と同期して行われ、一歯回転するたびに、歯面ごとに静止画像が撮影される。一実施例では、照明装置19は、青色発光ダイオードを用いるが、ランプその他の照明装置を使用することもできる。また、カメラ21には、測定可能な輝度レンジの広いワイドダイナミックレンジCMOSカメラを用いることにより、傷の判定に適した良好な画像が得られる。対象物によっては、CCDイメージセンサを用いたカメラを使用することもできる。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of an imaging apparatus when an object to be inspected is a
位置決めセンサ18は、一般に近接センサと呼ばれるもので、検出コイルにより高周波磁界を発生する。この磁界に金属の検出物体が近づくと電磁誘導により、検出物体に誘導電流(渦電流)が流れる。この電流によって検出コイルのインピーダンスが変化して、高周波の発振が停止することで、検出物体の接近を検出する。この実施例では、ギアの山の接近をこの近接センサによって検出する。位置決めセンサ18からの信号は、コンピュータ23(図2)に送られ、タイミング部24がギア歯検出に応じてカメラ21に信号を送る。カメラ21は、この信号に応答してギアを撮影する。
The
図2は、カメラ21で撮影した画像を処理するコンピュータ23の機能ブロックを示す。コンピュータ23は、パーソナル・コンピュータ、ワークステーションその他のコンピュータであってよい。コンピュータ23は、演算を実行するプロセッサ(CPU)、様々なデータおよびプログラムを記憶する記憶装置、ユーザが該プロセッサに処理をさせるためのデータを入力するマウスおよびキーボードなどの入力装置、および該プロセッサによる処理結果を表示する表示装置(ディスプレイ)、および該処理結果を出力するプリンタなどの出力装置を備えることができる。記憶装置は、ROMおよびRAMなどのメモリおよびディスク装置などの補助記憶装置を含むことができる。図の各機能ブロックによる処理は、プロセッサにより実行される。
FIG. 2 shows functional blocks of the
画像取得部25は、カメラ21から歯面ピッチごとに撮影される画像を受け取り、差分画像生成部27に渡す。差分画像生成部27は、今回取得した画像と、前回取得した画像、すなわち1ピッチ前のギア歯面の画像との差分をとる。傷その他の表面状態のないギアの歯面は、どれも実質的に同じであるから、差分をとると、全体的に輝度の小さい画像になる。ギア歯面に打痕および剥離などの傷がついていると、傷の部分の輝度が他の部分と異なるため、差分画像に大きな輝度の部分として現れる。
The
2つの画像の差分をとると、輝度値が負の値をとる画素があるので、差分の輝度値に中間輝度の128を加算して、すべての画素の輝度値を正の値にする。128を加算することによって輝度値が255を超える画素は、輝度値を255とし、128を加算しても負の値になる画素は、輝度値を0とする。こうして、差分画像の輝度値のレンジを0から255に整える。
When the difference between the two images is taken, there is a pixel having a negative luminance value, so that the
図3の(A)を参照すると、検査領域設定部28は、差分画像からしきい値より大きい輝度の領域を潜在的な傷領域31として検出し、この領域を囲む領域33を検査領域として設定する。検査領域33の形状は、この実施例では四角形であるが、その他の多角形であってもよく、または円形もしくは楕円形であってもよい。その大きさは、潜在的な傷領域31に応じて、傷領域31を囲むに十分な大きさに設定される。
Referring to FIG. 3A, the inspection
図4を参照すると、ギアを回転させて、一歯ごとにギアの歯面を撮影した場合の、連続した3枚の画像61の例が示されている。符号62は、該画像61に撮影されたギアを示す。ギアの歯幅は、長さWで表されている。撮影サイクルをnにより表すと、図4の(A)は、nサイクル目に撮影された画像であり、(B)は(n+1)サイクル目に撮影された画像であり、(C)は(n+2)サイクル目に撮影された画像である。これらの画像には、検査領域33が設定されている。これらの3枚の画像は、ギアが一歯回転するたびに撮影されたものなので、検査領域33が、n、(n+1)、(n+2)サイクルにわたり、画像の高さ方向においては、h1、h2、h3と移動しているが、歯幅方向における位置は、w’と一定である。
Referring to FIG. 4, there is shown an example of three
ギアの表面における打痕および剥離などの傷その他の表面状態は、色むらなどの過検出とは異なり、様々な方向に照明光を反射するという特性を有する。傷その他の表面状態がこのような特性を持つので、ギアをカメラに対して相対的に回転させながら画像を順次取得すると、傷は、連続した複数の画像にわたって、ギアの歯幅方向の同じ位置に検出される。言い換えると、検査領域が傷を含んでいれば、該検査領域は、図4に示すように、連続した複数の画像にわたって、ギアの歯幅方向の同じ位置に検出される。こうして、検査領域が、連続した複数の画像にわたって設定されるかどうかに従い、色むらや汚れのような過検出と区別して、傷その他の表面状態を良好に検出することができる。 Scratches and other surface conditions such as dents and delamination on the surface of the gear have a characteristic of reflecting illumination light in various directions, unlike over-detection such as color unevenness. Since scratches and other surface conditions have such characteristics, if images are acquired sequentially while rotating the gear relative to the camera, the scratches are located at the same position in the gear width direction across multiple consecutive images. Detected. In other words, if the inspection area includes a flaw, the inspection area is detected at the same position in the gear width direction of the gear over a plurality of consecutive images as shown in FIG. In this way, depending on whether the inspection region is set over a plurality of continuous images, it is possible to detect flaws and other surface conditions satisfactorily by distinguishing from overdetection such as color unevenness and dirt.
検査領域設定部28は、検査領域の位置情報(この例では、歯幅方向の位置、および該検査領域が設定されたサイクル)、および該検査領域の画像を、たとえば図5に示すようなマップとして、コンピュータ23の記憶装置に記録することができる。図5を参照すると、横軸は、ギアの歯幅方向の位置を表しており、縦軸はサイクルを表す。この例では、ギアの歯幅Wを20等分し、ギアの歯幅方向の位置をw0〜w19により特定する。また、この例では、撮影は一歯ごとに行われ、ギアの歯数が39個であるので、サイクルは、0〜38により特定される。サイクルの値により、ギアの歯を特定することができる。A1〜A4は、歯幅方向に対する位置w4において、30番目のサイクルから34番目のサイクルにわたって検査領域33が特定されたことを示す。B1〜B3は、歯幅方向に対する位置w19において、30番目のサイクルから32番目のサイクルにわたって検査領域33が特定されたことを示す。C1は、歯幅方向に対する位置w10において、16番目のサイクルにおいて検査領域33が特定されたことを示す。D1およびD2は、歯幅方向に対する位置w19において、16番目のサイクルおよび17番目のサイクルにおいて検査領域33が特定されたことを示す。
The inspection
図2に戻り、第1の判定部29は、記憶装置に記憶された、検査領域の歯幅方向の位置およびサイクルについての情報を参照する。第1の判定部29は、連続して、歯幅方向の同じ位置に検査領域33が所定回数(たとえば、3回)以上設定されたかどうかを判断する。A1〜A4およびB1〜B3のように、歯幅方向の同じ位置に検査領域33が該所定回数以上設定されたならば、図3を参照して説明したように、該検査領域33は傷その他の表面状態を含むと判定する。C1およびD1〜D2のように、傷その他の表面状態と判定された検査領域以外の検査領域については、検査必要領域と判定する。記憶装置に登録された検査領域に対し、該判定結果が記憶される。検査必要領域については、より精細に、傷その他の表面状態を含むかどうかを判断する必要があるので、特徴抽出部41および第2の判定部42による処理に供される。
Returning to FIG. 2, the
特徴抽出部41は、第1の判定部29によって検査必要領域と判断された検査領域33について、次の6つのパラメータを抽出する。
The
(1)潜在的な傷領域31の面積SA
検査領域を、縦軸をi、横軸をjとする座標で表示し、傷領域31の境界線の座標を用いた積分演算により面積SAを求める。
(1) Area S A of
The inspection area is displayed in coordinates with i as the vertical axis and j as the horizontal axis, and the area S A is obtained by integration calculation using the coordinates of the boundary line of the
(2)傷領域31を楕円近似したときの歯スジに対する長軸の傾きθA
ギアに生じることの多い打痕は、楕円近似することができる。図3の(B)において、図形の近似プログラムを用いて傷領域31を近似する楕円の近似式を求める。近似式は、既知のプログラムを用いて求めることができる。典型的には、多変量の非線形最小二乗法によるあてはめプログラムを用いて近似式を求める。こうして求めた楕円の長軸37とギアの歯スジ13(図1)に平行な直線35とのなす角度θAを求める。
(2) Long axis inclination θ A with respect to the tooth streak when the
A dent often occurring in a gear can be approximated to an ellipse. In FIG. 3B, an approximate equation of an ellipse that approximates the
(3)検査領域33の輝度値エントロピーentB
潜在的な傷領域31を含む検査領域33の輝度値のエントロピーを次の式により求める。輝度値エントロピーは、輝度値分布の情報量を表し、情報量が大きいことは、輝度値分布の乱雑度が大きいことを表す。
The entropy of the luminance value of the
この実施例では、輝度値エントロピーとして、輝度値0から255までの輝度値分布の乱雑性を用いた。数1で、pは輝度値、rel[p]は、輝度値pの頻度である。
In this embodiment, the randomness of the luminance value distribution from
図6は、輝度値ヒストグラムの例を示す。打痕その他の傷を有するギア歯面の場合、その画像の差分の画像に傷が多様な輝度値をもつ画素領域として現れるので、輝度値エントロピーが大きい。図6の(A)は、種々の輝度値を有する画素がランダムに存在する画像の輝度値ヒストグラムである。中間輝度128を中心に広く輝度値が分布しており、エントロピーが大きい。(B)は、輝度値のばらつきが小さい画像の輝度値ヒストグラムであり、エントロピーが小さい。
FIG. 6 shows an example of a luminance value histogram. In the case of a gear tooth surface having dents or other scratches, since the scratches appear as pixel areas having various brightness values in the difference image, the brightness value entropy is large. FIG. 6A is a luminance value histogram of an image in which pixels having various luminance values are present at random. Brightness values are widely distributed around the
(4)検査領域33の輝度値アニソトロピーansB
検査領域33の輝度値のアニソトロピーは、次の式で表される。アニソトロピーは、輝度値分布の対称性の度合いを示す。
The anisotropy of the luminance value of the
この式で、kは、出現頻度が最小の輝度値である。つまり、ansBは、検査領域33における0から最小の輝度値までの輝度値エントロピーを0から全輝度値のエントロピーで割った値である。輝度値分布が中間輝度値125の左右で対称のとき、ansB = -0.5 となる。ansB が-0.5に近づくほど対称性が高く、アニソトロピーが小さい。ansBが-0.5から離れて0または-1に近づくほど対称性が低く、アニソトロピーが大きい。
In this expression, k is a luminance value with the lowest appearance frequency. That is, ansB is a value obtained by dividing the luminance value entropy from 0 to the minimum luminance value in the
図7を参照すると、(A)のような輝度値ヒストグラムは、輝度値が中間値の128を中心として偏りなく分布しているので、対称性が高く、アニソトロピーは小さい。図7の(B)の輝度値ヒストグラムは、中間値128の左側と右側で輝度値の分布が異なり、対称性が低く、アニソトロピーが大きい。(B)で出現頻度が最小の輝度値が230であるとすると、ansBが-1に近い値となる。
Referring to FIG. 7, the luminance value histogram as shown in FIG. 7A has a high luminance symmetry and a small anisotropy because the luminance values are distributed without any bias around the
(5)潜在的傷領域31の円形度CA
傷領域31の円形度CA は、次の式で表される。
Circularity C A wound
この式で、SA は、傷領域31の面積、rmax は、傷領域31の重心から領域33の端部までの最大距離である。
In this equation, S A is the area of the
(6)検査領域33のエッジ画像の平均輝度edgB
検査領域33の面積をSBで表すと、検査領域33のエッジ画像の平均輝度edgB は、次の式で求められる。
If represents the area of the
ここで、i、j は、画素の座標を示し、P(i,j)は、座標i, j の画素の輝度値を示す。ΔP(i,j) は、P(i,j) の上下(i軸方向)に隣接する2つの画素の輝度値の差分の二乗と、左右(j軸方向)に隣接する2つの画素の輝度値の差分の二乗との和の平方根である。ΔP(i,j)は、隣接する画素の輝度値の差分の大きさを表す。隣接画素の輝度値の差分をとることは、画像において輝度値の変化の大きいエッジ部分を強調した画像、すなわちエッジ画像、を生成することに相当する。edgB は、隣接画素の輝度値の差分の大きさの総和を領域33の面積で割ったもので、エッジ画像の平均輝度を示す。
Here, i and j indicate the coordinates of the pixel, and P (i, j) indicates the luminance value of the pixel at the coordinates i and j. ΔP (i, j) is the square of the difference between the luminance values of two pixels adjacent to the upper and lower sides (i-axis direction) of P (i, j) and the luminance of the two pixels adjacent to the left and right (j-axis direction) This is the square root of the sum of the difference squared. ΔP (i, j) represents the magnitude of the difference between the luminance values of adjacent pixels. Taking the difference between the luminance values of adjacent pixels corresponds to generating an image in which an edge portion having a large change in luminance value in the image is emphasized, that is, an edge image. edgB is obtained by dividing the sum of the magnitudes of the luminance values of adjacent pixels by the area of the
こうして求めた6つのパラメータのそれぞれについて、たくさんの検査領域のサンプルについての最大値および最小値を用いて、次の式により正規化する。 For each of the six parameters obtained in this way, normalization is performed according to the following equation using the maximum and minimum values for many samples in the inspection region.
正規化=(得られた値 ― 最小値)/(最大値 ― 最小値)
この正規化により、それぞれのパラメータは、0から1の範囲の値をとる。こうして、潜在的傷領域31を含む検査領域33は、6つの特徴パラメータの数値ベクトルで表すことができる。
Normalization = (obtained value-minimum value) / (maximum value-minimum value)
By this normalization, each parameter takes a value in the range of 0 to 1. Thus, the
図8は、こうして得られた特徴ベクトルを示す。図8の(A)は、打痕に対応する特徴ベクトルを示す。図8の(B)は、ギア歯面の色ムラ(過検出)の特徴ベクトルを示す。潜在的傷領域の面積パラメータSA、楕円近似したときの長軸の傾きθA 、およびアニソトロピーansB については両者の間に大きな相違はないが、輝度値エントロピーentB 、円形度CA、およびエッジ画像の平均輝度edgB について大きな相違があることがわかる。 FIG. 8 shows the feature vector thus obtained. FIG. 8A shows a feature vector corresponding to a dent. FIG. 8B shows a feature vector of color unevenness (overdetection) of the gear tooth surface. Potential wound region area parameter S A, the long axis of inclination theta A when the elliptic approximation, and a large difference is not between the two is about anisotropy ansB, luminance values entropy entB, circularity C A, and the edge image It can be seen that there is a large difference in the average luminance edgB.
図2に戻ると、特徴抽出部41は、上述のようにして検査領域33から特徴ベクトルを抽出する。一実施例では、特徴抽出部41は、上述の6つのパラメータからなる特徴ベクトルを抽出する。代替実施例では、特徴抽出部41は、検査領域の輝度値エントロピー、潜在的傷領域の円形度および検査領域のエッジ画像の平均輝度の3つのパラメータからなる特徴ベクトルを抽出する。
Returning to FIG. 2, the
第2の判定部42は、予め多数のサンプルでのテストに基づいて生成した傷モデルの特徴ベクトルと特徴抽出部41で抽出された特徴ベクトルとの距離を算出し、距離が判定のしきい値より小さい傷モデルがあるとき、傷ありの判定を行う。距離が判定しきい値より小さい傷モデルがないときは、検査領域に含まれるのは、傷ではなく、過検出であると判定する。記憶装置に登録されている該検査領域について、該判定結果が記憶される。
The
代替実施例では、第2の判定部42は、ニューロンを用いて自己組織化マップを生成し、このマップを用いて傷の判定を行う。この代替実施例について、説明する。この実施例では、40×40 のニューロンを用いて自己組織化マップを生成する。図9は、3つのニューロンNj-1、Nj、Nj+1を示す。ωj=(ωj0、ωj1、・・・、ωjm )は、ニューロンNjの結合係数ベクトルであり、χ=(χ0、χ1、・・・、χm )は、入力ベクトルである。自己組織化マップは、自己組織化特徴マップとも呼ばれ、学習なしアルゴリズムである。このマップは、入力データ中の隠れた特徴を抽出して自動的に学習を行い、入力データに対して選択的に反応するマップを生成する。自己組織化マップは、コホーネン(Kohonen)が提案したもので、たとえば産業図書株式会社発行の「ニューロ・ファジイ・遺伝的アルゴリズム」1994年、に解説されている。
In an alternative embodiment, the
この実施例での入力ベクトルは、複数のサンプルの検査領域33について、特徴抽出部41(図2)により抽出された特徴ベクトルである。自己組織化マップは、次のステップで作成される。
The input vector in this embodiment is a feature vector extracted by the feature extraction unit 41 (FIG. 2) for a plurality of
1)ステップ1:ネットワーク初期化:
ニューロンの結合ベクトルωj=(ωj0、ωj1、・・・、ωjm )をすべてのニューロンについて乱数を用いて決定する。
1) Step 1: Network initialization:
The neuron connection vector ω j = (ω j0 , ω j1 ,..., Ω jm ) is determined for all neurons using random numbers.
2)ステップ2:入力ベクトル入力:
入力ベクトルχ=(χ0、χ1、・・・、χm )をそれぞれのニューロンに与える。各ニューロンと入力ベクトルとの関係は図8に示すとおりである。
2) Step 2: Input vector input:
An input vector χ = (χ 0 , χ 1 ,..., Χ m ) is given to each neuron. The relationship between each neuron and the input vector is as shown in FIG.
3)ステップ3:ニューロンの結合係数ベクトルと入力ベクトルの距離計算:
それぞれのニューロンの結合ベクトルと入力ベクトルとの距離を次の式により計算する。
The distance between the connection vector of each neuron and the input vector is calculated by the following equation.
4)ステップ4:勝者ニューロン決定:
距離dj が最小となるニューロンを選定する。このニューロンを勝者ニューロンと呼び、j*で表す。
4) Step 4: Determine winner neuron:
The neuron with the smallest distance d j is selected. This neuron is called the winner neuron and is represented by j *.
5)ステップ5:結合係数ベクトルの学習:
勝者ニューロンとその近傍のニューロンのそれぞれの結合係数(重み)を次の式に従い更新する。
The coupling coefficients (weights) of the winner neuron and nearby neurons are updated according to the following formula.
ηは、正の定数で、この実施例では0.05とする。h(j,j*)は、近傍関数と呼ばれ、次の式で表される。
σ(t)は学習経過とともに小さくなっていく。したがって、近傍関数の範囲は、図10に円で示すように学習の初期は広く、学習の進行とともに狭くなっていく。つまり、学習の進行とともに粗調整から微調整へと変化する。このように近傍関数は、マップを効果的に生成させる。図10は、勝者ニューロンを小さい円91で示し、これを囲む近傍関数を大きい円93で表している。
σ (t) decreases as the learning progresses. Therefore, the range of the neighborhood function is wide at the initial stage of learning, as indicated by a circle in FIG. 10, and becomes narrower as the learning progresses. In other words, the coarse adjustment changes to the fine adjustment as the learning progresses. Thus, the neighborhood function effectively generates a map. FIG. 10 shows the winner neuron as a
6)ステップ6:t更新、入力ベクトル入力にもどる:
学習回数tをt+1に更新し、ステップ2の入力ベクトルの入力にもどり、ステップ2〜6を繰り返し、結合係数ベクトルの更新を繰り返す。
6) Step 6: t update, return to input vector input:
The learning count t is updated to t + 1, the input vector input in
自己組織化マップでは、勝者ニューロンとその近くのニューロンはすべてその時の入力ベクトルに近づく。学習の初期は、近傍関数によって多くのニューロンが近くとみなされ、おおまかなマップが形成される。学習の進行とともに近傍関数によって勝者ニューロンの近くとみなされるニューロン数が少なくなる。そのため、局所的な微調整が進み、空間的な解像度が上がる。 In the self-organizing map, the winner neuron and nearby neurons all approach the current input vector. At the beginning of learning, many neurons are considered to be close by the neighborhood function, and a rough map is formed. As the learning progresses, the number of neurons considered to be close to the winner neuron by the neighborhood function decreases. For this reason, local fine adjustment progresses and spatial resolution increases.
複数のサンプルについて取得した、傷その他の表面状態または過検出を含む検査領域33の特徴ベクトルをすべて順番に、またはランダムに選択して自己組織化マップに入力して学習させることで、入力した特徴ベクトルの類似関係を反映した自己組織化マップを生成することができる。すなわち、類似した特徴を持つクラスタが自己組織化マップ上で寄り集まる結果になる。図11は、このようにして得られた自己組織化マップを示す。実施例では、40×40のニューロンを用いたが、図11では簡単のために20×20のマップとして示す。図11でそれぞれの升目が一つのニューロンに対応する。実線で区切られた(1)、(2)、・・・(28)のブロックは、次のようにして決定されたクラスタを表す。
Features obtained by learning by selecting all the feature vectors of the
自己組織化マップのそれぞれのニューロン位置に、その結合係数ベクトルとの距離が最も小さい特徴ベクトルを有する検査領域の画像を配置する。この検査領域は、自己組織化マップの生成に使用された複数のサンプルのうちの一つである。同じ画像を有する隣接するニューロンを選択してグループ化する。こうして形成されたニューロンのグループをクラスタと呼ぶ。ここでのグループ化は、既存の描画プログラムで使われているグループ化機能と同じで、グループ化されたニューロンは、グループ全体として選択し、プロパティを設定することができる。 An image of the examination region having a feature vector having the smallest distance from the coupling coefficient vector is arranged at each neuron position of the self-organizing map. This examination area is one of a plurality of samples used for generating the self-organizing map. Adjacent neurons with the same image are selected and grouped. A group of neurons formed in this way is called a cluster. The grouping here is the same as the grouping function used in the existing drawing program, and the grouped neurons can be selected as a whole group and the properties can be set.
次いで、それぞれのクラスタに配置された画像を目視で確認して、この検査領域33に含まれるのが傷その他の表面状態であるのか、あるいは表面ムラのような過検出であるのかを判定する。この判定結果をクラスタのプロパティとして設定する。具体的には、初期状態としてすべてのクラスタのプロパティ・フィールドに「過検出」が入力されている状態で、コンピュータのディスプレイ上に自己組織化マップを表示し、傷と判定されたクラスタをマウスで右クリックして「傷」に変更入力する。このようにクラスタ単位でニューロンを分類することができるので、作業時間を短縮することができる。
Next, the images arranged in the respective clusters are visually confirmed, and it is determined whether the
図12は、こうしてクラスタが分類されたマップ(判定データマップ)を示す。図においてハッチングを施されたクラスタ(1)、(2)、(6)、(10)、(11)、(12)、(13)、(15)、(16)、(22)、(27)、(28)が「傷」に分類されたクラスタであり、ハッチングのないクラスタが「過検出」のクラスタである。この判定データマップをコンピュータ23(図2)の記憶装置に登録し、これが、第2の判定部42によって傷の判定に使用される。
FIG. 12 shows a map (determination data map) in which clusters are classified in this way. In the figure, hatched clusters (1), (2), (6), (10), (11), (12), (13), (15), (16), (22), (27 ), (28) are clusters classified as “scratches”, and clusters without hatching are “overdetected” clusters. This determination data map is registered in the storage device of the computer 23 (FIG. 2), and this is used by the
第2の判定部42によって実施される、傷判定の具体的手法について説明する。第2の判定部42は、特徴抽出部41から受け取った特徴ベクトルと、判定データマップの結合係数ベクトルとの距離を求める。この距離は、上に示した[数5]に従って算出される。この距離が小さい順にニューロンを選択し、予め定めた数、たとえば10個以下のニューロンを選び、これを囲む円または楕円を近傍領域とする。判定データマップの生成過程から明らかなように、結合係数ベクトルが近似したニューロンがクラスタとしてグループ化されているので、上記のようにして距離が小さい順にニューロンを選択すると、互いに隣接したニューロンのかたまりが選択される。このニューロンのかたまりを囲む円または楕円を近傍領域とする。たとえば、図13を参照すると、円57が近傍領域を規定している。
A specific method for determining scratches performed by the
円57は、選択されたニューロンのかたまりの判定データマップ上の配列からこれらのニューロンのかたまりの中心位置を求め、この中心からこのニューロンの固まりの最も遠くにあるニューロンまでの距離を半径とする円として求めることができる。
A
こうして選ばれた円または楕円で規定される近傍領域に含まれる傷クラスタに属するニューロンの数(K)と近傍領域内のニューロンの総数(S)との比、(K)/(S)に基づいて傷の判定を行う。(K)/(S)≧D のとき、傷と判定し、(K)/(S)<D のとき、過検出と判定する。Dは予め設定したしきい値であり、たとえば0.5である。このようにして、傷その他の表面状態と過検出とを判別する。図13の例では、円57の中に傷クラスタ(12)に属するニューロンが7個あり、円57内のニューロンの総数は、12であるので、(K)/(S) = 8/12 = 0.67 であり、よって、今回の検査領域33に含まれているのは、傷であると判定される。記憶装置に登録されている該検査領域について、該判定結果が記憶される。
Based on the ratio (K) / (S) of the number of neurons (K) belonging to the wound cluster included in the neighboring area defined by the circle or ellipse thus selected and the total number of neurons (S) in the neighboring area Check for scratches. When (K) / (S) ≧ D, it is judged as a scratch, and when (K) / (S) <D, it is judged as overdetection. D is a preset threshold value, for example, 0.5. In this way, the scratch and other surface conditions and overdetection are discriminated. In the example of FIG. 13, since there are seven neurons belonging to the wound cluster (12) in the
図2に戻り、傷位置ベクトル抽出部45は、記憶装置から、傷その他の表面状態と判定された検査領域の歯幅方向の位置を参照し、それぞれのギアについて、傷位置ベクトルを算出する。傷位置ベクトルは、傷その他の表面状態を含むと判定された検査領域が歯幅方向のどの位置に存在するかを示し、次の式により表される。
Returning to FIG. 2, the wound position
傷位置ベクトル=(w0, w1, w2, …, w19)
ベクトル成分w0〜w19は、前述したように、ギアの歯幅方向の位置を表している。傷その他の表面状態が判定された位置に対応するベクトル成分に、値1がセットされ、残りのベクトル成分にはゼロがセットされる。たとえば、図5に示されるギアの例では、傷はw4とw19の位置にあるので、傷位置ベクトルは、(0, 0, 0, 0, 1, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 0, 1)と表される。
Scratch position vector = (w0, w1, w2,…, w19)
As described above, the vector components w0 to w19 represent positions in the gear width direction of the gear. A
原因追求部46は、傷位置ベクトルを、原因追求マップに入力する。原因追求マップは、傷その他の表面状態の発生原因ごとにニューロンをクラスタリングした自己組織化マップであり、コンピュータ23の記憶装置に記憶されている。原因追求マップの一例を、図14に示す。それぞれの升目は、ニューロンを表している。この例ではギアの生産工程に傷の原因がある生産工程クラスタ、生産されたギアを積み重ねる積層行程に傷の原因がある積層行程クラスタ、ギアを運搬する行程に傷の原因がある運搬行程クラスタ、ギアを倉庫等に保管する保管行程に傷の原因がある保管行程クラスタに、ニューロンがクラスタ化(クラスタリング)されている。
The
原因追求部46は、第2の判定部42の代替実施例で説明した上記の判定と同様の手法で、原因を判定する。具体的には、原因追求部46は、傷位置ベクトル抽出部45によって抽出された傷ベクトルと、原因追求マップのそれぞれのニューロンの結合ベクトルとの距離を求める。この距離は、[数5]を参照して説明したのと同様の手法に従って算出される。この距離が最小となるニューロンを抽出する。該抽出したニューロンが属するクラスタを判別し、このクラスタを、傷その他の表面状態が発生した工程と判断する。たとえば、或るギアについての傷位置ベクトルと結合ベクトルとの距離が最小となるニューロンが、符号59(図14)で示されるニューロンである場合、該ギアの傷は、生産工程で生じたと推定することができる。
The
次に、原因追求マップの作成手法について述べる。原因追求マップは、学習用の傷位置ベクトルを入力として作成される。学習用の傷位置ベクトルの一例を、図15に示す。これらのベクトルは、複数のギアについて傷その他の表面状態の位置とその発生原因との関係を調べることによって、予め用意されたものである。たとえば、積層工程は、ギアを積み重ねる工程であり、該工程では、ギアの一方のエッジ(端)部分、すなわち歯幅方向のw16〜w19の部分に傷がつきやすいことが判明している。したがって、積層工程用の学習用傷位置ベクトルは、w16〜w19のベクトル成分に1がセットされる。 Next, a method for creating a cause pursuit map is described. The cause pursuit map is created using a scratch position vector for learning as an input. An example of the flaw position vector for learning is shown in FIG. These vectors are prepared in advance by examining the relationship between the positions of scratches and other surface states and the causes of the occurrence of a plurality of gears. For example, the laminating step is a step of stacking gears, and it has been found that one edge (end) portion of the gear, that is, the portion of w16 to w19 in the tooth width direction is easily damaged. Therefore, the learning flaw position vector for the stacking process is set to 1 in the vector components w16 to w19.
学習用傷位置ベクトルを入力として自己組織化マップを作成する手法は、上記の判定データマップのための自己組織化マップを作成する手法と同様である。すなわち、ステップ1のネットワーク初期化を実行した後、ステップ2からステップ6を繰り返す。学習用傷位置ベクトルを繰り返し自己組織化マップに入力して学習させるにつれ、それぞれの学習用傷位置ベクトルに反応するニューロンの範囲が、図14に示すようなクラスタによって画定されていく。こうして、傷その他の表面状態が生成される原因ごとにニューロンがクラスタリングされた原因追求マップが生成される。生成された原因追求マップは、記憶装置に登録される。
The method of creating a self-organizing map with the learning flaw position vector as an input is the same as the method of creating a self-organizing map for the determination data map. That is, after the network initialization in
図16は、この発明の一実施例における、ギアの傷その他の表面状態の判定に応じて該表面状態の原因を追求するプロセスを示すフローチャートである。ギア11を図1の回転テーブルに取り付け、照明装置19を起動させてから処理に入る。ステップS101でギア11のすべてのギア歯面が検査されたかどうかを判定し、未了であればステップS103に移る。すべてのギア歯面が検査されたかどうかの判定は、ギア11の歯数をカウンタにセットしておき、1つの歯についての処理が終了するごとにカウンタをデクリメントし、このカウンタの値を点検することによって行う。
FIG. 16 is a flowchart showing a process for pursuing the cause of the surface condition in response to the determination of a gear scratch or other surface condition in one embodiment of the present invention. The
ステップS103では、ギア11を一歯分、回転させ、位置決めセンサ18がオンになった位置で停止し、位置決めをする。位置決めセンサ18は、ギア11の回転位置が所定の位置になったとき信号を出すよう設定されている。
In step S103, the
続いてステップS105で、ギア11を撮影し、その画像を画像処理用パーソナル・コンピュータ23に送る。撮影回数が1であるとき(S107)、すなわちギア11の最初の歯の撮影をしたばかりのときは、差分画像を用いた画像処理ができないので、この画像は保存しておき、次の歯を撮影するため、ステップS101に戻る。
In step S105, the
ステップS109では、上述したように2つの連続する歯の画像から差分画像を生成し、潜在的傷領域31(図3)を囲む検査領域33を設定する。次にステップS111では、設定した検査領域33について、ギアの歯幅方向に対する位置、上記のカウンタの値(これは、サイクルを識別する)、および該検査領域の画像を記憶する。その後、ステップS101に戻る。
In step S109, as described above, a difference image is generated from two consecutive tooth images, and an
こうして、ステップS101の判断がNoになったとき、ギアの全歯について、検査領域の歯幅方向の位置、該検査領域が設定されたサイクル、および該検査領域の画像が記憶されている。 Thus, when the determination in step S101 is No, the position in the tooth width direction of the inspection region, the cycle in which the inspection region is set, and the image of the inspection region are stored for all teeth of the gear.
ステップS113では、ステップS111で記憶装置に記憶された検査領域に関する情報を参照して、所定回数以上の連続したサイクルにわたって、歯幅方向の同じ位置に設定された検査領域が存在するかどうかを調べる。存在するならば、該検査領域内が傷その他の表面状態を含むと判定する(第1の判定)。傷その他の表面状態を含むと判定された検査領域が識別されるように、ステップS111で記憶装置に記憶された検査領域に関する情報が更新される。 In step S113, it is checked whether or not there is an inspection region set at the same position in the tooth width direction over a predetermined number of consecutive cycles with reference to the information on the inspection region stored in the storage device in step S111. . If it exists, it is determined that the inside of the inspection region includes a scratch or other surface condition (first determination). In step S111, information related to the inspection area stored in the storage device is updated so that the inspection area determined to include a scratch or other surface condition is identified.
ステップS115において、記憶装置に記憶された検査領域に関する情報を参照し、傷その他の表面状態を含むと判定された検査領域以外の検査領域、すなわち検査必要領域が存在するかどうかを調べる。検査必要領域が存在するならば、ステップS117において、該検査必要領域から特徴ベクトルを抽出し、ステップS119において、該特徴抽出ベクトルを用いて、該検査必要領域が傷その他の表面状態を含むかどうかを判定する(第2の判定)。第2の判定は、前述した2つの実施例のいずれでもよい。再び、傷その他の表面状態を含むと判定された検査領域が識別されるように、ステップS111で記憶装置に記憶された検査領域に関する情報が更新される。ステップS121において、傷その他の表面状態の原因を算出するルーチン(図17)を実行する。 In step S115, information on the inspection area stored in the storage device is referred to, and it is checked whether or not there is an inspection area other than the inspection area determined to include a scratch or other surface condition, that is, an inspection required area. If the inspection-necessary area exists, a feature vector is extracted from the inspection-necessary area in step S117, and in step S119, whether the inspection-necessary area includes a flaw or other surface state using the feature extraction vector. Is determined (second determination). The second determination may be any of the two embodiments described above. The information regarding the inspection area stored in the storage device in step S111 is updated so that the inspection area determined to include scratches and other surface conditions is identified again. In step S121, a routine (FIG. 17) for calculating the cause of scratches and other surface conditions is executed.
図17は、図16のステップS121で実行される、傷その他の表面状態の原因を算出するプロセスのフローチャートである。ステップS131において、図14に示されるような原因追求マップを記憶装置から読み込む。ステップS132において、記憶装置の検査領域に関する情報を参照し、図16のステップS113およびS119で傷その他の表面状態と判定された検査領域の歯幅方向の位置から、傷位置ベクトルを算出する。ステップS133において、傷位置ベクトルと、原因追求マップのそれぞれのニューロンの結合ベクトルとの距離を求め、該距離が最小となるニューロンを、該原因追求マップ内で特定する。ステップS134において、該抽出したニューロンが属するクラスタを判別し、このクラスタを、傷その他の表面状態が発生した工程と判断する。 FIG. 17 is a flowchart of a process for calculating the cause of a scratch or other surface condition, which is executed in step S121 of FIG. In step S131, a cause pursuit map as shown in FIG. 14 is read from the storage device. In step S132, the information on the inspection area of the storage device is referred to, and a flaw position vector is calculated from the position in the tooth width direction of the inspection area determined to be a flaw or other surface state in steps S113 and S119 in FIG. In step S133, the distance between the wound position vector and the connection vector of each neuron in the cause pursuit map is obtained, and the neuron with the minimum distance is specified in the cause pursuit map. In step S134, a cluster to which the extracted neuron belongs is determined, and this cluster is determined to be a process in which a scratch or other surface condition has occurred.
上記の実施例では、第1の段階では、傷その他の表面状態の特性を用いて、より簡単な手法で傷を判定し、第1の判定で判定できなかった検査領域については、特徴ベクトルを用いたより精細な手法で判定を実施することにより、判定の精度を向上しつつ、判定を効率的に行うことができるようにした。しかしながら、代替的に、第1の判定部によって判定された傷その他の表面状態についてのみ、傷位置ベクトルを算出して、原因追求マップに入力してもよい。または、すべての検査領域について第2の判定によって傷その他の表面状態を判定し、判定された傷その他の表面状態について傷位置ベクトルを抽出するようにしてもよい。 In the above embodiment, in the first stage, scratches and other surface state characteristics are used to determine the scratches by a simpler method. For the inspection area that cannot be determined by the first determination, a feature vector is used. By carrying out the determination with the finer technique used, the determination can be performed efficiently while improving the accuracy of the determination. However, alternatively, the flaw position vector may be calculated and input to the cause pursuit map only for the flaw and other surface states determined by the first determination unit. Alternatively, scratches and other surface states may be determined by the second determination for all inspection regions, and a scratch position vector may be extracted for the determined scratches and other surface states.
以上この発明を具体的な実施例について説明したが、この発明はこのような実施例に限定されるものではない。 Although the present invention has been described with respect to specific embodiments, the present invention is not limited to such embodiments.
11 ギア
19 照明装置(LED)
21 カメラ
23 コンピュータ
11
21
Claims (6)
自己組織化マップにおいて前記対象物の所定の表面状態の原因ごとにニューロンがクラスタ化された原因追求マップを記憶する記憶手段と、
前記対象物を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段から取得した前記対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を検出し、該要判定領域を含むよう検査領域を特定する手段と、
前記検査領域が、前記所定の表面状態を含むかどうか判定する判定手段と、
前記所定の表面状態を含むと判定された検査領域について、該検査領域の該対象物における位置情報を特定する手段と、
前記位置情報から、該所定の表面状態の該対象物上の位置を表す位置ベクトルを抽出する手段と、
前記抽出された位置ベクトルを、前記原因追求マップに入力する手段と、
前記原因追求マップに入力した位置ベクトルと、結合ベクトルとの距離が最小となるニューロンを、該原因追求マップ内で特定する手段と、
前記特定されたニューロンの属するクラスタに従って、前記判定された所定の表面状態の原因を求める手段と、
を備える、装置。 In response to the determination of the predetermined surface state in the inspection object, an apparatus that automatically determines the cause of the predetermined surface state,
Storage means for storing a cause seeking map in which neurons are clustered for each cause of a predetermined surface state of the object in a self-organizing map;
Imaging means for imaging the object;
Means for detecting a required determination area having a luminance difference exceeding a predetermined threshold with respect to another area in the image of the object acquired from the imaging means, and specifying an inspection area to include the required determination area When,
Determining means for determining whether the inspection region includes the predetermined surface state;
Means for specifying position information of the inspection region in the object for the inspection region determined to include the predetermined surface state;
Means for extracting from the position information a position vector representing the position of the predetermined surface state on the object;
Means for inputting the extracted position vector into the cause pursuit map;
Means for identifying in the cause pursuit map a neuron in which the distance between the position vector input to the cause pursuit map and the coupling vector is minimum;
Means for determining a cause of the determined predetermined surface state according to a cluster to which the identified neuron belongs;
An apparatus comprising:
請求項1に記載の装置。 The object is a gear, and the position vector is represented by a position of the gear in the tooth width direction.
The apparatus of claim 1.
請求項1に記載の装置。 Further, the learning position vector in which the position of the predetermined surface state on the target object is specified for each cause of the predetermined surface state is input to the self-organizing map to be learned. A means for creating the cause pursuit map.
The apparatus of claim 1.
該コンピュータは、自己組織化マップにおいて前記対象物の所定の表面状態の原因ごとにニューロンがクラスタ化された原因追求マップを記憶する記憶装置を備えており、
前記対象物を撮像する撮像装置から取得した前記対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を検出し、該要判定領域を含むよう検査領域を特定する機能と、
前記検査領域が、前記所定の表面状態を含むかどうか判定する判定機能と、
前記所定の表面状態を含むと判定された検査領域について、該検査領域の該対象物における位置情報を特定する機能と、
前記位置情報から、該所定の表面状態の該対象物上の位置を表す位置ベクトルを抽出する機能と、
前記抽出された位置ベクトルを、前記原因追求マップに入力する機能と、
前記原因追求マップに入力した位置ベクトルと、結合ベクトルとの距離が最小となるニューロンを、該原因追求マップ内で特定する機能と、
前記特定されたニューロンの属するクラスタに従って、前記判定された所定の表面状態の原因を求める機能と、
を実現させるコンピュータ・プログラム。 A program for causing a computer to automatically determine the cause of the predetermined surface state according to the determination of the predetermined surface state in the inspection object,
The computer includes a storage device that stores a cause search map in which neurons are clustered for each cause of a predetermined surface state of the object in a self-organizing map;
In the image of the object acquired from the imaging device that images the object, a required determination area having a luminance difference exceeding a predetermined threshold with respect to another area is detected, and an inspection is performed to include the required determination area The ability to identify areas,
A determination function for determining whether the inspection region includes the predetermined surface state;
For the inspection area determined to include the predetermined surface state, a function for specifying position information on the object of the inspection area;
A function of extracting a position vector representing the position of the predetermined surface state on the object from the position information;
A function of inputting the extracted position vector into the cause pursuit map;
A function for specifying in the cause pursuit map a neuron that minimizes the distance between the position vector input to the cause pursuit map and the coupling vector;
A function for determining the cause of the determined predetermined surface state according to the cluster to which the identified neuron belongs;
A computer program that realizes
請求項4に記載のコンピュータ・プログラム。 The object is a gear, and the position vector is represented by a position of the gear in the tooth width direction.
The computer program according to claim 4.
請求項4に記載のコンピュータ・プログラム。 Further, the learning position vector in which the position of the predetermined surface state on the target object is specified for each cause of the predetermined surface state is input to the self-organizing map to be learned. By providing a function to create the cause pursuit map,
The computer program according to claim 4.
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