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JP4030294B2 - IC socket - Google Patents
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JP4030294B2 - IC socket - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ICソケットに関し、特に、バンプがICの底面にマトリクス状に配列形成される面実装タイプのICに使用されるICソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来例を図5ないし図7を参照して説明する。図5はICソケットの従来例の一部断面を示す図、図6は図5の要部を拡大して示した図、図7はICソケットにICを装着したところを示す図である。
プリント配線基板11の表面には複数の接点電極12が配列形成されており、これら接点電極12の配列ピッチは装着されるIC28のバンプ29の配列ピッチに対応して形成されている。プリント配線基板11の裏面には、各接点電極12に対応接続された端子電極13が形成されている。この従来例においては、端子電極13同志の間のピッチは接点電極12同志の間のピッチと比較して拡大されている。端子電極13にはピン端子14が取り付け固定され、ピン端子14は図示されないバーンインボードに対してこれに形成されるスルーホールに嵌合して電気機械的に接続される。
【0003】
プリント配線基板11の接点電極12が形成される表面には、異方導電性シート16を介してガイド板15が配置されている。異方導電性シート16は加圧加熱により導電接着作用を示し、ガイド板15はこれを介してプリント配線基板11に接着固定される。
ガイド板15には導電材料より成る複数のスルーホール17が形成され、これらスルーホール17は各接点電極12上に位置して配列形成されている。各スルーホール17の両端縁には図6に示される通りのスルーホール電極18、19が形成されており、電極19は異方導電性シート16を介して対向する接点電極12と導通される。
【0004】
各スルーホール17にはコイル接点21が収容される。コイル接点21は一端がスルーホール17より突出し、他端は異方導電性シート16上に位置されて異方導電性シート16に固定され、異方導電性シート16を介して対向する接点電極12と導通する。図6において、矢印22はこれらコイル接点21および電極19と接点電極12との間の導通方向を示す。
23はガイド板15を収容するフレームであり、プリント配線基板11表面に取り付け固定されている。フレーム23に設けられた開口とガイド板15の板面とにより凹部24が構成され、ここにIC28が位置決め収容される。
【0005】
25はフレーム23の端縁に設けられている軸受部であり、この軸受部25を中心として図示されないカバーを回動自在に取り付ける。フレーム23の他方の端縁に形成されている突起26はカバーを引っかけロックである。
ここで、ソケット27の凹部24にIC28が装着されると、IC28のバンプ29によりコイル接点21は押圧され、これによりコイル接点21はその弾性復元力によりバンプ29と良好に電気接触することができる。この場合、コイル接点21は押圧により湾曲してスルーホール17の内壁と接触し、スルーホール17もバンプ29と接点電極12との間の接続導体として動作し、これによりバンプ29と接点電極12との間の電気抵抗値を低減する役割を果している。
【0006】
ソケット27の凹部24にIC28が装着されると、IC28のバンプ29と接点電極12との間は、コイル接点21とスルーホール17と異方導電性シート16を介して電気接続するに到る。IC28は、接点電極12から、更に、プリント配線基板11、端子電極13、ピン端子14を介してバーンインボードに接続し、最終的にIC試験装置に接続する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
IC28の小型化が急速に進行しており、隣接するバンプ29の間隔は0. 5mm迄のファインピッチに到達している。そして、IC28の取り扱う電気信号の周波数はGHzのオーダーにも及ぶ高周波化が進行している。この場合、IC28のバンプ29と接点電極12の間に存在してこの間の電気信号の伝送路の一部を構成するコイル接点21は、取り扱う電気信号の高周波化に伴ってこの伝送路のインダクタンスを高める副作用をする。このコイル接点21を板バネにより置換すれば、IC28のバンプ29と接点電極12の間のインダクタンスを容易に小さくすることができるが、IC28の小型化に伴ってバンプ29と接点電極12の間の距離も益々小さくなり、この間の電気信号の伝送路としては弾性係数の小さいコイルバネより成るコイル接点を使用せざるを得ない。これを弾性係数の大きい板バネに置換することに依っては、多数のIC28のバンプ29と接点電極12の間の製造上の寸法誤差を充分には吸収することができず、IC28とバネ接点との間の接触不良を生起する恐れが生ずる。
【0008】
ところで、先の先行例におけるピン端子14をコイル接点21の内部にまで延伸せしめたものに相当する従来例が特開平11−26112号公報に記載されている。これにより、コイル接点21の両端間のインダクタンスを低減することはできが、この低減効果は極く僅かであり、GHzのオーダーにも及ぶ高周波の電気信号におけるインダクタンス低減効果は格別に大きい訳ではない。そして、IC28の取り扱う電気信号は直流の場合もあり、この場合にコイル接点21の示す純抵抗の影響も無視することはできない。
【0009】
この発明は、ICのバンプと接点電極の間に存在するコイル接点のインダクタンスおよび純抵抗を直流電気信号からGHzのオーダーにも及ぶ高周波の電気信号に亘って低減する上述の問題を解消するICソケットを提供するものである。
【0010】
請求項1:ICの底面にマトリクス状に配列形成されるバンプとピン端子14の間をコイル接点21を介して電気機械的に接続するICソケットにおいて、コイル接点21は上半部の先端をテーパ状に捲回したテーパ状小径コイル211とすると共に下半部を大径コイル212とするものであり、ピン端子14の全長の上半部であって、先端がテーパ状に形成され、コイル接点21の全長と比較して短いテーパ部143を有し、コイル接点21の内側にテーパ部143を挿通した状態でコイル接点21をバンプとピン端子14の間に介在させ、テーパ状小径コイル211にテーパ部143の先端を圧し込みコイルの変位が停止した時にテーパ部143にコイルが密着巻き状態となるよう、テーパ状小径コイル211の内側形状とテーパ部143の先端部の外側形状とがほぼ相似形となる形状寸法にテーパ状小径コイル211とテーパ部143を形成したICソケットを構成した。
【0011】
そして、請求項2:請求項1に記載されるICソケットにおいて、テーパ状小径コイル211とテーパ部143は、テーパ状小径コイル211にテーパ部143の先端を圧し込んでもテーパ部143の先端が突き抜けることがない形状寸法に形成したICソケットを構成した。
また、請求項3:請求項2に記載されるICソケットにおいて、中間部を膨出した端子電極141とし、下半部ピン接触部142形成すると共に上半部テーパ部143形成したピン端子14を具備し、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にピン端子挿通孔101を形成した端子ガイド10を具備し、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にコイル接点挿通孔151を形成したガイド板15を具備し、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に貫通孔201を形成すると共に、スプリング嵌入孔204とこれに連通するフロートピン嵌合孔43が形成されるフロート20を具備し、フロート20をバイアスするフロートスプリング45を具備し、端子ガイド10のピン端子挿通孔101にピン接触部142を挿入し、ガイド板15のコイル接点挿通孔151にピン端子14のテーパ部143およびコイル接点21の大径コイル212をこの順に挿入して、フロート20をフロートピン44およびコイル接点21に対して組み付けたICソケットを構成した。
【0012】
請求項4:請求項3に記載されるICソケットにおいて、コイル接点21の下端部とピン端子14の膨出した端子電極141の上面との間に柔軟性異方導電性接着シート50を介在させたICソケットを構成した
【0013】
【発明の実施の形態】
の発明の実施の形態を図1および図2の実施例を参照して説明する。図1(a)はICを測定しない定常状態を示す図、図1(b)はICの測定状態を示す図である。図2はフロートピンを説明する図である。実施例において、従来例と共通する部材には共通する参照符号を付与している。
14はピン端子である。ピン端子14はその中間部を膨出した端子電極141とし、下半部をピン接触部142とし、上半部をテーパ部143としている。
【0014】
10は端子ガイドであり、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にピン端子挿通孔101が形成されている。
21はコイル接点であり、先端をテーパ状に捲回したテーパ状小径コイル211とすると共に下半部を大径コイル212としている。ここで、テーパ状小径コイル211の内側形状とテーパ部143の先端部の外側形状はほぼ相似形とし、寸法はテーパ状小径コイル211にテーパ部143の先端を圧し込んでもテーパ部143が突き抜けることがない形状寸法に形成される。そして、ピン端子14のテーパ部143を構成する上半部はコイル接点21の全長と比較してい全長を有している。
【0015】
15はガイド板であり、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にコイル接点挿通孔151を形成している。152はガイド板15の下面に形成された端子電極凹部であり、端子電極141を収容する。
20はフロートであり、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に貫通孔201を形成している。このフロート20はフロートスプリング45により上向きにバイアスされ、IC28を測定しない定常状態においては図1(a)に示されるレベルにある。フロートスプリング45には44により示されるフロートピンが挿通され、これにより案内されている。4はベースを示す。41はベース4を貫通して形成されるピン端子コイル接点収容部であり、下部には内向きに突出して支持鍔42が形成されている。このベース4にはフロートピン嵌合孔43が相互に離隔してベース4に上下方向に穿設されている。フロート20にはフロートピン嵌合孔43に対応してフロートピン案内孔205が形成されている。フロートピン44はフロートピン嵌合孔43に嵌合固定されている。フロート20にはフロートスプリング45が嵌入位置決めされるスプリング嵌入孔204が形成されている。
【0016】
ベース4はこれに回動係合せしめられる図示されないフレームが具備されている。IC28は、測定に際して、このフレームに保持された状態で、フロート20に形成される開口206に対して回動位置決めされる。
次いで、ICソケットの組み立ての順序を説明する。
(1) ベース4のピン端子コイル接点収容部41の支持鍔42に端子ガイド10を載置する。ここで、フロートピン44はフロートピン嵌合孔43に予め嵌合固定しておく。
【0017】
(2) 端子ガイド10のピン端子挿通孔101にピン端子14のピン接触部142を上から挿入する。
(3) ガイド板15のコイル接点挿通孔151に、ピン端子14のテーパ部143およびコイル接点21の大径コイル212をこの順に挿入して、ピン端子14に対してガイド板15とコイル接点21を組付ける。
(4) フロートピン44にフロートスプリング45を挿入する。
(5) フロート20の各スプリング嵌入孔204およびフロートピン案内孔205をそれぞれのフロートピン44に対応させると共に、フロート20のマトリクス状に形成された各貫通孔201をそれぞれのコイル接点21のテーパ状小径コイル211に対応させて、フロート20をフロートピン44およびコイル接点21に対して組み付ける。
【0018】
(6) 以上の(5)までの工程で、ICソケットの組み立ては終了した。
ここで、図1を参照してICの測定の仕方を説明する。
IC28は、図示されないフレームに保持された状態で、フロート20に形成される開口206に対して図1(a)に示される状態に回動位置決めされる。フレームを更に回動してIC28を下向きに押圧すると、IC28の下面はフロートスプリング45を圧縮しながらフロート20を下向きに変位して、IC28のバンプ29はコイル接点21のテーパ状小径コイル211の上端に接触するに到る。フレームを更に回動してIC28を下向きに押圧すると、IC28の下面はフロート20を下向きに変位しながらバンプ29はコイル接点21を下向きに圧縮変形し、テーパ状小径コイル211にピン端子14のテーパ部143のテーパ状の先端が嵌合し、強く係合したところでテーパ状小径コイル211の変位は停止せしめられる。ここで、IC28のバンプ29とピン端子14のピン接触部142との間は、コイル接点21がバンプ29と端子電極141の間に介在してその弾性復元力により両者に強く圧接することにより、良好な電気接触が確保される。IC28のバンプ29は、コイル接点21のテーパ状小径コイル211を介してピン端子14のテーパ部143に強く圧接することにより、密着巻き状態とされて実質上円筒体のテーパ状小径コイル211とピン端子14のテーパ部143とを介して端子電極141に電気接続しており、コイル接点21の内の弾性コイルとして動作している大径コイル212の部分を橋絡している。結局、IC28のバンプ29とピン端子14のピン接触部142との間に電気コイルとして動作する部分が存在しないので、高周波の電気信号におけるこのICソケットのインダクタンス低減効果は大きく、バンプ29とピン接触部142との間の純抵抗値も低減する。
【0019】
ここで、図1および図2を参照して第1の実施例の変形例を説明する。
この変形例においては、ガイド板15の下面全面に、図2に示される通りに柔軟性異方導電性接着シート50を接合し、コイル接点21の下端部とピン端子14の膨出した端子電極141の上面との間に介在させる。図2はIC28を下向きに押圧した状態を示しており、このIC28の下向きの押圧状態においては、柔軟性異方導電性接着シート50はコイル接点21の下端部とピン端子14の端子電極141の上面との間に圧縮挟持されて両者間の電気接続を確実にする。即ち、コイル接点21およびピン端子14の製造のバラツキに起因して両者間の機械的接触が不充分となって適正な電気接続が保証されない場合も生ずるが、この機械的接触の不充分さは両者間に柔軟性異方導電性接着シート50を介在させることにより吸収解消される。
【0020】
図3および図4を参照して第2の実施例を説明する。図3(a)は接触前の状態を示し、図3(b)は測定時の接触状態を示す。図4はフロートピンを説明する図である。第2の実施例において、第1の実施例と共通する部材には共通する参照符号を付与している。
ピン端子は、第1の実施例においてはピン端子14が1個のみであったが、第2の実施例においてはピン端子14の他に、更に、これとほぼ同等の構成の可動ピン端子14’の2個を使用する。これに対応して、可動ピン端子14’を案内する可動ピン端子ガイド10’を具備する。可動ピン端子ガイド10’には、IC28のバンプ29の配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に可動ピン端子挿通孔101’が形成されている。ピン端子14は、その中間部を膨出した端子電極141とし、下半部をピン接触部142に形成すると共に上半部を力が加わると容易に変形する弾性細長片144に形成している。可動ピン端子14’はピン端子14を倒立したものとほぼ同様の構成を有し、中間部を膨出した端子電極141’に形成し、上半部をピン接触部142’に形成すると共に、下半部を弾性細長片144’に形成している。この第2の実施例は、ピン端子14と可動ピン端子14’とは、端子電極141’の径がピン端子14の端子電極141の径と比較して僅かに小径に構成されていることになる。第2の実施例のコイル接点21は、全長に亘って同一径に捲回構成された単純な形状の円筒コイルバネより成る。ここで、コイル接点21の全長はピン端子14の弾性細長片144の全長と可動ピン端子14’の弾性細長片144’の全長の和より僅かに大に構成されている。図4のフロートピンは上述された図2のフロートピンと同一構成を有している。
【0021】
次に、第2の実施例の組み立て方について説明する。
(1) ベース4のピン端子コイル接点収容部41の支持鍔42に端子ガイド10を載置する。ここで、フロートピン44はフロートピン嵌合孔43に予め嵌合固定しておく。
(2) 端子ガイド10のピン端子挿通孔101にピン端子14のピン接触部142を上から挿通する。
(3) ガイド板15の各コイル接点挿通孔151にそれぞれのピン端子14の弾性細長片144を挿入し、ピン端子14にガイド板15を組み付ける。
【0022】
(4) コイル接点21をその内側に弾性細長片144を位置せしめた状態にしてコイル接点挿通孔151に挿入し、コイル接点21に可動ピン端子14’の弾性細長片144’を挿入する。
(5) フロートピン44にフロートスプリング45を挿入する。
(6) 可動ピン端子ガイド10’のマトリクス状に形成される可動ピン端子挿通孔101’をそれぞれの可動ピン端子14’のピン接触部142’に対応させ、可動ピン端子ガイド10’をピン接触部142’に対して組み付ける。
【0023】
(7) フロート20の各スプリング嵌入孔204およびフロートピン案内孔205をそれぞれのフロートピン44に対応させると共に、フロート20のマトリクス状に形成された各貫通孔201をそれぞれの可動ピン端子14’のピン接触部142’に対応させて、フロート20をフロートピン44およびピン接触部142’に対して組み付ける。
以上の(7)までの工程で、ICソケットの第2の実施例の組み立ては終了した。
IC28は、第1の実施例の場合と同様に、図示されないフレームに保持された状態で、フロート20に形成される開口206に対して図3(a)に示される状態に回動位置決めされる。フレームを更に回動してIC28を下向きに押圧すると、IC28の下面はフロートスプリング45を圧縮しながらフロート20を下向きに変位し、IC28のバンプ29は可動ピン端子14’のピン接触部142’の上端に接触するに到る。フレームを回動してIC28を更に下向きに押圧すると、IC28の下面はフロート20を下向きに変位しながらバンプ29は、可動ピン端子14’のピン接触部142’および端子電極141’を介してコイル接点21を下向きに徐々に圧縮変位する。この変位が進行する中に、可動ピン端子14’の弾性細長片144’がピン端子14の弾性細長片144に接触し、両者が変形して強く係合したところでコイル接点21の変位および弾性細長片144’と弾性細長片144の変形は停止せしめられる。
【0024】
この場合、IC28のバンプ29とピン端子14のピン接触部142の間は可動ピン端子14’とピン端子14の間にコイル接点21が介在してその弾性復元力により両者に強く圧接すると共に可動ピン端子14’のピン接触部142’がバンプ29に強く圧接することにより、良好な電気接触が確保される。ここで、IC28のバンプ29は、可動ピン端子14’の弾性細長片144’がピン端子14の弾性細長片144に接触、変形して強く係合することにより、棒状体の可動ピン端子14’とピン端子14とを介して直接にピン接触部142に電気接続することとなり、弾性コイルとして動作しているコイル接点21を介さずにバンプ29とピン接触部142の間が直接電気接続されるので、高周波の電気信号におけるこのICソケットのインダクタンス低減効果は大きく、バンプ29とピン接触部142との間の純抵抗値も低減する。
【0025】
また、第2の実施例のコイル接点21は、上述した通り、全長に亘って同一径に捲回構成された単純な形状のコイルバネより成るので、簡単容易、廉価に製造することができる。ただ、図3の実施例においては、ピン端子として見かけ上はピン端子14と可動ピン端子14’の2種類必要とされるが、これらは端子電極141’の径がピン端子14の端子電極141の径と比較して僅かに小径に構成されているに過ぎないほぼ同型のものである。端子電極141’の径と端子電極141の径とを同一に設計変更して、ピン端子14と可動ピン端子14’とを共通にすることができる。
【0026】
ところで、第2の実施例においても、ガイド板15の下面全面に柔軟性異方導電性接着シート50を接合し、コイル接点21の下端部とピン端子14の端子電極141の上面との間に介在させることにより、両者間の機械的接触の不充分さは両者間に柔軟性異方導電性接着シート50を介在させることにより吸収解消することができる。
【0027】
【発明の効果】
以上の通りであって、この発明の第1の実施例によれば、IC28のバンプ29とピン端子14のピン接触部142の間は、コイル接点21がバンプ29と端子電極141の間に介在してその弾性復元力により両者に強く圧接することにより、良好な電気接触が確保される。ここで、IC28のバンプ29は、コイル接点21の先端部をテーパ状に捲回したテーパ状小径コイル211がピン端子14のテーパ部143のテーパ状先端に強く圧接することにより、テーパ状小径コイル211は密着巻き状態に圧縮された実質上円筒体とされ、この実質上円筒体の小径コイル211とピン端子14のテーパ部143とを介して端子電極141に電気接続することになり、コイル接点21の弾性コイルとして動作している大径コイル212の部分は橋絡されて電流は流通しない。結局、IC28のバンプ29とピン端子14のピン接触部142との間に電気的にコイルとして動作する部分が存在しないので、高周波の電気信号におけるこのICソケットのインダクタンス低減効果は大きく、バンプ29とピン接触部142との間の純抵抗値も低減する。
【0028】
そして、第2の実施例によれば、IC28のバンプ29とピン端子14のピン接触部142の間は、可動ピン端子14’とピン端子14の間にコイル接点21が介在してその弾性復元力により両者に強く圧接すると共に可動ピン端子14’のピン接触部142’がバンプ29に強く圧接することにより、良好な電気接触が確保される。ここで、IC28のバンプ29は、可動ピン端子14’の弾性細長片144’がピン端子14の弾性細長片144に接触、変形して強く係合することにより、棒状体の可動ピン端子14’とピン端子14とを介して直接にピン接触部142に電気接続することとなり、コイルとして動作しているコイル接点21を介さずにバンプ29とピン接触部142の間が電気接続されるので、高周波の電気信号におけるこのICソケットのインダクタンス低減効果は大きく、バンプ29とピン接触部142との間の純抵抗値も低減する。
【0029】
また、第2の実施例のコイル接点21は、全長に亘って同一径に捲回構成された単純な形状のコイルバネより成るので、簡単容易、廉価に製造することができる。ただ、ピン端子として見かけ上はピン端子14と可動ピン端子14’の2種類必要とされるが、これらは端子電極141’の径がピン端子14の端子電極141の径と比較して僅かに小径に構成されているに過ぎないほぼ同型のものである。端子電極141’の径と端子電極141の径とを同一に設計変更して、ピン端子14と可動ピン端子14’とを共通にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1の実施例を説明する図。
【図2】 第1の実施例とフロートピンを説明する図。
【図3】 第2の実施例を説明する図。
【図4】 第2の実施例とフロートピンを説明する図。
【図5】 従来例を説明する図。
【図6】 図5の一部を拡大して示した図。
【図7】 ICソケットにICを装着したところを示す図。
【符号の説明】
14 ピン端子 211 テーパ状小径コイル
143 テーパ部 212 大径コイル
21 コイル接点 28 IC
29 バンプ
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an IC socket, and more particularly to an IC socket used for a surface mount type IC in which bumps are arranged in a matrix on the bottom surface of an IC.
[0002]
[Prior art]
A conventional example will be described with reference to FIGS. FIG. 5 is a diagram showing a partial cross section of a conventional example of an IC socket, FIG. 6 is a diagram showing an enlarged main part of FIG. 5, and FIG. 7 is a diagram showing a state where an IC is mounted on the IC socket.
A plurality of contact electrodes 12 are arranged on the surface of the printed wiring board 11, and the arrangement pitch of the contact electrodes 12 is formed corresponding to the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28 to be mounted. On the back surface of the printed wiring board 11, terminal electrodes 13 correspondingly connected to the contact electrodes 12 are formed. In this conventional example, the pitch between the terminal electrodes 13 is enlarged as compared with the pitch between the contact electrodes 12. A pin terminal 14 is attached and fixed to the terminal electrode 13, and the pin terminal 14 is electromechanically connected to a burn-in board (not shown) by fitting into a through hole formed therein.
[0003]
A guide plate 15 is disposed on the surface of the printed wiring board 11 on which the contact electrode 12 is formed via an anisotropic conductive sheet 16. The anisotropic conductive sheet 16 exhibits a conductive adhesive action by pressure heating, and the guide plate 15 is bonded and fixed to the printed wiring board 11 through this.
A plurality of through holes 17 made of a conductive material are formed in the guide plate 15, and these through holes 17 are arranged on the contact electrodes 12 in an array. Through-hole electrodes 18 and 19 as shown in FIG. 6 are formed at both ends of each through-hole 17, and the electrode 19 is electrically connected to the opposing contact electrode 12 through the anisotropic conductive sheet 16.
[0004]
A coil contact 21 is accommodated in each through hole 17. One end of the coil contact 21 protrudes from the through hole 17, and the other end is positioned on the anisotropic conductive sheet 16 and fixed to the anisotropic conductive sheet 16, and the contact electrode 12 is opposed to the anisotropic conductive sheet 16. Conducted with. In FIG. 6, the arrow 22 indicates the direction of conduction between the coil contact 21 and the electrode 19 and the contact electrode 12.
A frame 23 accommodates the guide plate 15 and is fixedly attached to the surface of the printed wiring board 11. A recess 24 is formed by the opening provided in the frame 23 and the plate surface of the guide plate 15, and the IC 28 is positioned and accommodated therein.
[0005]
Reference numeral 25 denotes a bearing portion provided at an edge of the frame 23, and a cover (not shown) is rotatably attached around the bearing portion 25. Projections formed on the other edge of the frame 23 26 is locked that hooking the cover.
Here, when the IC 28 is mounted in the concave portion 24 of the socket 27, the coil contact 21 is pressed by the bump 29 of the IC 28, whereby the coil contact 21 can be in good electrical contact with the bump 29 by its elastic restoring force. . In this case, the coil contact 21 is curved by pressing and comes into contact with the inner wall of the through hole 17, and the through hole 17 also operates as a connection conductor between the bump 29 and the contact electrode 12. It plays the role of reducing the electrical resistance value between the two.
[0006]
When the IC 28 is mounted in the recess 24 of the socket 27, the bump 29 of the IC 28 and the contact electrode 12 are electrically connected via the coil contact 21, the through hole 17, and the anisotropic conductive sheet 16. The IC 28 is further connected to the burn-in board from the contact electrode 12 via the printed wiring board 11, the terminal electrode 13, and the pin terminal 14, and finally connected to the IC test apparatus.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
The miniaturization of the IC 28 is rapidly progressing, and the interval between the adjacent bumps 29 has reached a fine pitch of up to 0.5 mm. The frequency of electrical signals handled by the IC 28 is increasing to the order of GHz. In this case, the coil contact 21 that exists between the bump 29 of the IC 28 and the contact electrode 12 and constitutes a part of the transmission path of the electric signal between them has an inductance of the transmission path as the electric signal to be handled becomes higher in frequency. Increase side effects. If the coil contact 21 is replaced by a leaf spring, the inductance between the bump 29 of the IC 28 and the contact electrode 12 can be easily reduced. However, as the IC 28 is downsized, the gap between the bump 29 and the contact electrode 12 can be reduced. The distance is becoming increasingly smaller, and a coil contact made up of a coil spring having a small elastic coefficient must be used as an electric signal transmission path during this period. By replacing this with a leaf spring having a large elastic coefficient, manufacturing dimensional errors between the bumps 29 and the contact electrodes 12 of a large number of ICs 28 cannot be sufficiently absorbed. There is a risk of poor contact between the two.
[0008]
By the way, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-26112 discloses a conventional example corresponding to the pin terminal 14 extended in the previous example to the inside of the coil contact 21. Thereby, although the inductance between the both ends of the coil contact 21 can be reduced, this reduction effect is very slight, and the inductance reduction effect in the high-frequency electric signal reaching the order of GHz is not particularly large. . The electrical signal handled by the IC 28 may be a direct current, and in this case, the influence of the pure resistance indicated by the coil contact 21 cannot be ignored.
[0009]
The present invention eliminates the above-described problem of reducing the inductance and pure resistance of a coil contact existing between a bump and contact electrode of an IC over a high-frequency electrical signal ranging from a DC electrical signal to a GHz order. Is to provide.
[0010]
In an IC socket in which bumps arranged in a matrix on the bottom surface of an IC and pin terminals 14 are electromechanically connected via a coil contact 21, the coil contact 21 tapers the tip of the upper half. The tapered small-diameter coil 211 is wound in the shape of a coil, and the lower half is the large-diameter coil 212. The upper half of the entire length of the pin terminal 14 is tapered, and the coil contacts The coil contact 21 is interposed between the bump and the pin terminal 14 in a state where the taper portion 143 is inserted inside the coil contact 21 and the tapered small diameter coil 211 is formed. as the coil to the tapered portion 143 when the displacement of the coil narrowing divide the tip of the tapered portion 143 is stopped is closely wound-up state, the inner shape of the tapered small-diameter coil 211 and the tapered portion 14 An outer shape of the tip portion is constituted of IC socket to form a tapered diameter coil 211 and the tapered portion 143 on the geometry of the substantially similar shape.
[0011]
Then, according to claim 2: IC socket as set forth in claim 1, tapered small-diameter coil 211 and the tapered portion 143, also crowded divide the tip of the tapered portion 143 to the tape over path shaped small-diameter coil 211 of the tapered portion 143 tip An IC socket formed to have a shape and dimension that does not penetrate through is formed.
Further, in the IC socket according to claim 2, the terminal electrode 141 bulged in the middle part is formed , the pin contact part 142 is formed in the lower half part, and the taper part 143 is formed in the upper half part. The pin guide 14 is provided, and the terminal guide 10 in which the pin terminal insertion holes 101 are formed in a matrix form at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28 is provided, and in the matrix form at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. A guide plate 15 having a coil contact insertion hole 151 is provided, through holes 201 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28, and a spring insertion hole 204 and a float pin connected to the spring insertion hole 204 are fitted. A float 20 in which a hole 43 is formed; a float spring 45 for biasing the float 20; The pin contact part 142 is inserted into the 10 pin terminal insertion hole 101, the taper part 143 of the pin terminal 14 and the large diameter coil 212 of the coil contact 21 are inserted in this order into the coil contact insertion hole 151 of the guide plate 15, An IC socket in which 20 is assembled to the float pin 44 and the coil contact 21 is configured.
[0012]
[4] The IC socket according to [3], wherein a flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is interposed between the lower end of the coil contact 21 and the upper surface of the terminal electrode 141 where the pin terminal 14 bulges. IC socket was constructed .
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The embodiments of this invention with reference to the embodiment of FIGS. 1 and 2 will be described. FIG. 1A is a diagram showing a steady state where IC is not measured, and FIG. 1B is a diagram showing a measurement state of IC. FIG. 2 is a diagram illustrating the float pin. In the embodiment, the same reference numerals are given to the members common to the conventional example.
Reference numeral 14 denotes a pin terminal. The pin terminal 14 has a terminal electrode 141 bulged at the middle part thereof, a lower half part as a pin contact part 142, and an upper half part as a taper part 143.
[0014]
A terminal guide 10 has pin terminal insertion holes 101 formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28.
Reference numeral 21 denotes a coil contact, which has a tapered small-diameter coil 211 whose tip is wound in a tapered shape and a large-diameter coil 212 in the lower half. Here, the inner shape of the tapered small diameter coil 211 and the outer shape of the distal end portion of the tapered portion 143 are substantially similar, and the taper portion 143 penetrates even when the distal end of the tapered portion 143 is pressed into the tapered small diameter coil 211. It is formed in the shape and dimension without. Then, the upper half constituting a tapered portion 143 of the pin terminal 14 has a total length not shorter compared to the total length of the coil contact 21.
[0015]
Reference numeral 15 denotes a guide plate, in which coil contact insertion holes 151 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. A terminal electrode recess 152 is formed on the lower surface of the guide plate 15 and accommodates the terminal electrode 141.
Reference numeral 20 denotes a float, and through holes 201 are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. The float 20 is biased upward by a float spring 45 and is at a level shown in FIG. 1A in a steady state where the IC 28 is not measured. The float spring 45 is float pin insertion indicated by 44, it is thereto by Ri draft within. 4 indicates a base. Reference numeral 41 denotes a pin terminal coil contact accommodating portion formed through the base 4, and a support rod 42 is formed in the lower portion so as to protrude inward. Float pin fitting holes 43 are formed in the base 4 so as to be spaced apart from each other in the vertical direction. A float pin guide hole 205 is formed in the float 20 corresponding to the float pin fitting hole 43. The float pin 44 is fitted and fixed in the float pin fitting hole 43. A spring insertion hole 204 into which the float spring 45 is inserted and positioned is formed in the float 20.
[0016]
The base 4 is provided with a frame (not shown) that is rotationally engaged with the base 4. During measurement, the IC 28 is rotationally positioned with respect to the opening 206 formed in the float 20 while being held by the frame.
Next, the order of assembling the IC socket will be described.
(1) The terminal guide 10 is placed on the support rod 42 of the pin terminal coil contact accommodating portion 41 of the base 4. Here, the float pin 44 is fitted and fixed in advance to the float pin fitting hole 43.
[0017]
(2) The pin contact portion 142 of the pin terminal 14 is inserted into the pin terminal insertion hole 101 of the terminal guide 10 from above.
(3) The tapered portion 143 of the pin terminal 14 and the large-diameter coil 212 of the coil contact 21 are inserted in this order into the coil contact insertion hole 151 of the guide plate 15, and the guide plate 15 and the coil contact 21 are inserted into the pin terminal 14. Assemble.
(4) Insert the float spring 45 into the float pin 44.
(5) The spring insertion holes 204 and the float pin guide holes 205 of the float 20 are made to correspond to the float pins 44, and the through holes 201 formed in a matrix form of the float 20 are tapered to the coil contacts 21. The float 20 is assembled to the float pin 44 and the coil contact 21 in correspondence with the small diameter coil 211.
[0018]
(6) The assembly of the IC socket is completed through the processes up to (5) above.
Here, a method of measuring the IC will be described with reference to FIG.
The IC 28 is rotationally positioned in the state shown in FIG. 1A with respect to the opening 206 formed in the float 20 while being held by a frame (not shown). When the frame is further rotated and the IC 28 is pressed downward, the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward while compressing the float spring 45, and the bump 29 of the IC 28 is the upper end of the tapered small diameter coil 211 of the coil contact 21. To come into contact. When the frame is further rotated and the IC 28 is pressed downward, the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward, while the bump 29 compresses and deforms the coil contact 21 downward, and the tapered small-diameter coil 211 is tapered. When the tapered tip of the portion 143 is fitted and strongly engaged, the displacement of the tapered small-diameter coil 211 is stopped. Here, between the bump 29 of the IC 28 and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14, the coil contact 21 is interposed between the bump 29 and the terminal electrode 141 and is strongly pressed against both by the elastic restoring force. Good electrical contact is ensured. The bumps 29 of the IC 28 are in close contact with the tapered portion 143 of the pin terminal 14 via the tapered small diameter coil 211 of the coil contact 21, thereby being brought into a tightly wound state and being substantially pinned with the tapered small diameter coil 211 of the cylindrical body. It is electrically connected to the terminal electrode 141 via the taper portion 143 of the terminal 14, and bridges the portion of the large-diameter coil 212 operating as an elastic coil in the coil contact 21. In the end, there is no portion that operates as an electric coil between the bump 29 of the IC 28 and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14, so that the effect of reducing the inductance of the IC socket in a high-frequency electric signal is great. The pure resistance value with the part 142 is also reduced.
[0019]
Here, a modification of the first embodiment will be described with reference to FIGS.
In this modified example, a flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is joined to the entire lower surface of the guide plate 15 as shown in FIG. 2, and the lower end portion of the coil contact 21 and the terminal electrode in which the pin terminal 14 bulges out. It is interposed between the upper surface of 141. FIG. 2 shows a state in which the IC 28 is pressed downward. In the downward pressed state of the IC 28, the flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is formed between the lower end portion of the coil contact 21 and the terminal electrode 141 of the pin terminal 14. It is compressed and sandwiched between the upper surface and the electrical connection between the two is ensured. That is, due to manufacturing variations of the coil contact 21 and the pin terminal 14, there may be a case where the mechanical contact between the two is insufficient and proper electrical connection is not ensured, but this mechanical contact is insufficient. Absorption is eliminated by interposing a flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 between them.
[0020]
A second embodiment will be described with reference to FIGS. 3A shows a state before contact, and FIG. 3B shows a contact state at the time of measurement. FIG. 4 is a diagram illustrating the float pin. In the second embodiment, the same reference numerals are assigned to the members common to the first embodiment.
The pin terminal has only one pin terminal 14 in the first embodiment, but in the second embodiment, in addition to the pin terminal 14, the movable pin terminal 14 having substantially the same configuration as this. Use two of '. Correspondingly, a movable pin terminal guide 10 ′ for guiding the movable pin terminal 14 ′ is provided. In the movable pin terminal guide 10 ′, movable pin terminal insertion holes 101 ′ are formed in a matrix at the same pitch as the arrangement pitch of the bumps 29 of the IC 28. The pin terminal 14 is formed as a terminal electrode 141 having a bulged middle portion, the lower half portion is formed in the pin contact portion 142, and the upper half portion is formed in the elastic elongated piece 144 that is easily deformed when a force is applied. . The movable pin terminal 14 ′ has substantially the same configuration as that of the inverted pin terminal 14, the intermediate portion is formed on the bulged terminal electrode 141 ′, the upper half portion is formed on the pin contact portion 142 ′, and The lower half is formed into an elastic strip 144 '. In the second embodiment, the pin terminal 14 and the movable pin terminal 14 ′ are configured such that the diameter of the terminal electrode 141 ′ is slightly smaller than the diameter of the terminal electrode 141 of the pin terminal 14. Become. The coil contact 21 of the second embodiment is composed of a simple-shaped cylindrical coil spring that is wound to the same diameter over the entire length. Here, the total length of the coil contact 21 is slightly larger than the sum of the total length of the elastic strip 144 of the pin terminal 14 and the total length of the elastic strip 144 ′ of the movable pin terminal 14 ′. The float pin of FIG. 4 has the same configuration as the float pin of FIG. 2 described above.
[0021]
Next, how to assemble the second embodiment will be described.
(1) The terminal guide 10 is placed on the support rod 42 of the pin terminal coil contact accommodating portion 41 of the base 4. Here, the float pin 44 is fitted and fixed in advance to the float pin fitting hole 43.
(2) The pin contact portion 142 of the pin terminal 14 is inserted into the pin terminal insertion hole 101 of the terminal guide 10 from above.
(3) The elastic strip 144 of each pin terminal 14 is inserted into each coil contact insertion hole 151 of the guide plate 15, and the guide plate 15 is assembled to the pin terminal 14.
[0022]
(4) The coil contact 21 is inserted into the coil contact insertion hole 151 with the elastic strip 144 positioned inside thereof, and the elastic strip 144 ′ of the movable pin terminal 14 ′ is inserted into the coil contact 21.
(5) Insert the float spring 45 into the float pin 44.
(6) The movable pin terminal insertion holes 101 ′ formed in a matrix of the movable pin terminal guides 10 ′ correspond to the pin contact portions 142 ′ of the respective movable pin terminals 14 ′, and the movable pin terminal guides 10 ′ are in pin contact. It is assembled to the part 142 ′.
[0023]
(7) The spring insertion holes 204 and the float pin guide holes 205 of the float 20 are made to correspond to the float pins 44, and the through holes 201 formed in a matrix of the float 20 are connected to the movable pin terminals 14 ′. The float 20 is assembled to the float pin 44 and the pin contact portion 142 ′ in correspondence with the pin contact portion 142 ′.
The assembly of the second embodiment of the IC socket is completed through the steps up to (7) above.
As in the first embodiment, the IC 28 is rotationally positioned in the state shown in FIG. 3A with respect to the opening 206 formed in the float 20 while being held by a frame (not shown). . When the frame is further rotated and the IC 28 is pressed downward, the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward while compressing the float spring 45, and the bumps 29 of the IC 28 are formed on the pin contact portion 142 ′ of the movable pin terminal 14 ′. It reaches the upper end. When the IC 28 is further pressed downward by rotating the frame, the lower surface of the IC 28 displaces the float 20 downward, while the bump 29 is coiled via the pin contact portion 142 ′ of the movable pin terminal 14 ′ and the terminal electrode 141 ′. The contact 21 is gradually compressed and displaced downward. As this displacement progresses, the elastic elongated piece 144 ′ of the movable pin terminal 14 ′ contacts the elastic elongated piece 144 of the pin terminal 14, and when both are deformed and strongly engaged, the displacement of the coil contact 21 and the elastic elongated piece are increased. The deformation of the piece 144 'and the elastic elongated piece 144 is stopped.
[0024]
In this case, the coil contact 21 is interposed between the movable pin terminal 14 ′ and the pin terminal 14 between the bump 29 of the IC 28 and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14, and is strongly pressed against both by the elastic restoring force. As the pin contact portion 142 ′ of the pin terminal 14 ′ is in strong pressure contact with the bump 29, good electrical contact is ensured. Here, the bumps 29 of the IC 28 are formed so that the elastic elongated piece 144 ′ of the movable pin terminal 14 ′ is in contact with, deformed and strongly engaged with the elastic elongated piece 144 of the pin terminal 14, so that the movable pin terminal 14 ′ of the rod-shaped body is engaged. And the pin terminal 14 are directly connected to the pin contact portion 142, and the bump 29 and the pin contact portion 142 are directly electrically connected without the coil contact 21 operating as an elastic coil. Therefore, the effect of reducing the inductance of the IC socket in the high-frequency electric signal is great, and the pure resistance value between the bump 29 and the pin contact portion 142 is also reduced.
[0025]
Further, as described above, the coil contact 21 of the second embodiment is formed of a coil spring having a simple shape wound to the same diameter over the entire length, so that it can be manufactured easily and inexpensively. However, in the embodiment of FIG. 3, two types of pin terminals 14 and a movable pin terminal 14 ′ are apparently required as pin terminals. However, the terminal electrode 141 ′ has a diameter of the terminal electrode 141 ′. The diameter is substantially the same as that of the diameter. The pin terminal 14 and the movable pin terminal 14 ′ can be made common by changing the design of the diameter of the terminal electrode 141 ′ and the diameter of the terminal electrode 141.
[0026]
Incidentally, also in the second embodiment, a flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 is joined to the entire lower surface of the guide plate 15, and between the lower end portion of the coil contact 21 and the upper surface of the terminal electrode 141 of the pin terminal 14. By interposing, the insufficiency of the mechanical contact between them can be eliminated by interposing a flexible anisotropic conductive adhesive sheet 50 between them.
[0027]
【The invention's effect】
As described above, according to the first embodiment of the present invention, the coil contact 21 is interposed between the bump 29 and the terminal electrode 141 between the bump 29 of the IC 28 and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14. In this way, a good electrical contact can be ensured by strongly pressing both of them due to their elastic restoring force. Here, the bumps 29 of the IC 28 are formed so that the tapered small-diameter coil 211 obtained by winding the tip end portion of the coil contact 21 in a tapered shape strongly presses against the tapered tip end of the tapered portion 143 of the pin terminal 14. 211 is a substantially cylindrical body compressed in a tightly wound state, and is electrically connected to the terminal electrode 141 via the small-diameter coil 211 of this substantially cylindrical body and the taper portion 143 of the pin terminal 14, and coil contacts The portion of the large-diameter coil 212 operating as the elastic coil 21 is bridged so that no current flows. Eventually, there is no portion that electrically operates as a coil between the bump 29 of the IC 28 and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14. Therefore, the effect of reducing the inductance of the IC socket in a high-frequency electric signal is great. The pure resistance value with the pin contact portion 142 is also reduced.
[0028]
According to the second embodiment, between the bump 29 of the IC 28 and the pin contact portion 142 of the pin terminal 14, the coil contact 21 is interposed between the movable pin terminal 14 ′ and the pin terminal 14, and its elastic recovery is performed. A strong electrical contact is ensured by strongly pressing the two together with the force and by the pin contact portion 142 ′ of the movable pin terminal 14 ′ pressing strongly against the bump 29. Here, the bumps 29 of the IC 28 are formed so that the elastic elongated piece 144 ′ of the movable pin terminal 14 ′ is in contact with, deformed and strongly engaged with the elastic elongated piece 144 of the pin terminal 14, so The pin 29 and the pin contact 14 are directly connected to the pin contact portion 142, and the bump 29 and the pin contact portion 142 are electrically connected without the coil contact 21 operating as a coil. The effect of reducing the inductance of the IC socket in a high-frequency electric signal is great, and the pure resistance value between the bump 29 and the pin contact portion 142 is also reduced.
[0029]
Further, since the coil contact 21 of the second embodiment is composed of a coil spring having a simple shape wound to the same diameter over the entire length, it can be manufactured easily and inexpensively. However, two types of pin terminals 14 and a movable pin terminal 14 ′ are apparently required as pin terminals, but these have a slightly smaller diameter of the terminal electrode 141 ′ than the diameter of the terminal electrode 141 of the pin terminal 14. It is almost the same type that is only configured to have a small diameter. The pin terminal 14 and the movable pin terminal 14 ′ can be made common by changing the design of the diameter of the terminal electrode 141 ′ and the diameter of the terminal electrode 141.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram for explaining a first embodiment;
FIG. 2 is a diagram illustrating a first embodiment and a float pin.
FIG. 3 is a diagram for explaining a second embodiment.
FIG. 4 is a diagram illustrating a second embodiment and a float pin.
FIG. 5 illustrates a conventional example.
6 is an enlarged view of a part of FIG.
FIG. 7 is a diagram showing a state where an IC is mounted on an IC socket.
[Explanation of symbols]
14 pin terminal 211 tapered small diameter coil 143 tapered portion 212 large diameter coil 21 coil contact 28 IC
29 Bump

Claims (4)

ICの底面にマトリクス状に配列形成されるバンプとピン端子の間をコイル接点を介して電気機械的に接続するICソケットにおいて、
コイル接点は上半部の先端をテーパ状に捲回したテーパ状小径コイルとすると共に下半部を大径コイルとするものであり、
ピン端子の全長の上半部であって、先端部がテーパ状に形成され、コイル接点の全長と比較して短いテーパ部を有し、
コイル接点の内側にテーパ部を挿通した状態で、コイル接点をバンプとピン端子の間に介在させ、
テーパ状小径コイルにテーパ部の先端を圧し込み、コイルの変位が停止した時にテーパ部にコイルが密着巻き状態となるよう、テーパ状小径コイルの内側形状とテーパ部の先端部の外側形状とがほぼ相似形となる形状寸法にテーパ状小径コイルとテーパ部を形成したことを特徴とするICソケット。
In an IC socket for electromechanically connecting between bumps and pin terminals arranged in a matrix on the bottom surface of the IC via coil contacts,
The coil contact is a tapered small-diameter coil in which the tip of the upper half is wound in a tapered shape, and the lower half is a large-diameter coil.
It is the upper half of the total length of the pin terminal , the tip is formed in a tapered shape, and has a shorter tapered portion than the total length of the coil contact ,
With the taper portion inserted inside the coil contact, the coil contact is interposed between the bump and the pin terminal,
The inner shape of the tapered small-diameter coil and the outer shape of the distal end of the tapered portion are arranged so that the coil is tightly wound around the tapered portion when the tip of the tapered portion is pressed into the tapered small-diameter coil and the displacement of the coil stops. An IC socket characterized in that a tapered small-diameter coil and a tapered portion are formed in a shape that is substantially similar.
請求項1に記載されるICソケットにおいて、
テーパ状小径コイルとテーパ部は、テーパ状小径コイルにテーパ部の先端を圧し込んでもテーパ部の先端が突き抜けることがない形状寸法に形成したことを特徴とするICソケット。
In the IC socket according to claim 1,
Tapered small diameter coil and the tapered portion, IC socket, characterized in that also crowded divide the tip of the tapered portion to the tape over path shaped small-diameter coil formed in the absence geometry that penetrate the tip of the tapered portion.
請求項2に記載されるICソケットにおいて、
中間部を膨出した端子電極とし、下半部ピン接触部形成すると共に上半部テーパ部形成したピン端子を具備し、
ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にピン端子挿通孔を形成した端子ガイドを具備し、
ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状にコイル接点挿通孔を形成したガイド板を具備し、
ICのバンプの配列ピッチと同一ピッチでマトリクス状に貫通孔を形成すると共にスプリング嵌入孔とこれに連通するフロートピン嵌合孔が形成されるフロートを具備し、
フロートをバイアスするフロートスプリングを具備し、
端子ガイドのピン端子挿通孔にピン接触部を挿入し、
ガイド板のコイル接点挿通孔にピン端子のテーパ部およびコイル接点の大径コイルをこの順に挿入し、
フロートをフロートピンおよびコイル接点に対して組み付けたことを特徴とするICソケット。
In the IC socket according to claim 2,
An intermediate portion and bulged terminal electrode, comprising a pin terminal which is formed a tapered portion on the upper half to form a pin contact portion in the lower half,
A terminal guide having pin terminal insertion holes formed in a matrix at the same pitch as the IC bump arrangement pitch,
A guide plate having coil contact insertion holes formed in a matrix at the same pitch as the IC bump arrangement pitch,
It has a float in which through holes are formed in a matrix with the same pitch as the bump pitch of the IC and a spring insertion hole and a float pin fitting hole communicating with this are formed,
A float spring for biasing the float;
Insert the pin contact part into the pin terminal insertion hole of the terminal guide,
Insert the taper part of the pin terminal and the large diameter coil of the coil contact in this order into the coil contact insertion hole of the guide plate,
An IC socket characterized in that a float is assembled to a float pin and a coil contact.
請求項3に記載されるICソケットにおいて、
コイル接点の下端部とピン端子の膨出した端子電極の上面との間に柔軟性異方導電性接着シートを介在させたことを特徴とするICソケット。
In the IC socket according to claim 3,
An IC socket characterized in that a flexible anisotropic conductive adhesive sheet is interposed between a lower end portion of a coil contact and an upper surface of a terminal electrode in which a pin terminal is expanded.
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