JP4048811B2 - Three-dimensional circuit board and manufacturing method thereof - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路を基板の表面に三次元立体的に設けて形成した立体回路板及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
基板回路1に回路部5を形成するにあたって、物理蒸着法(PVD)で回路形成する方法が普及しつつある。図32はPVD法によって回路部5を形成する方法の一例を示すものであり、図32(a)のような基板1の表面にスパッタリングなどで、図32(b)のように基板1の全面に導体膜36を形成し、次に回路形成部分37の輪郭に沿って導体膜36にレーザーを照射して、回路形成部分37の輪郭部38を図32(c)のように除去する。この後、回路形成部分37の導体膜36に通電して電気メッキをして厚付けすることによって、図32(d)のように回路部5を形成し、そして必要に応じて、ソフトエッチング処理することによって図32(e)のように回路部5以外の部分の導体膜36を除去し、さらに回路部5にニッケルメッキや金メッキをして仕上げるようにしてある。
【0003】
図32は平板状の基板1について説明をしたが、図33に示すような凹凸を有する立体的な基板1についても、同様に、スパッタリングによる導体膜36の形成、レーザーLの照射による回路形成部分37の輪郭部38の除去の工程を経て、回路部5を形成することができるものである。尚、特に立体基板の場合は、一括露光パターンニング方法における露光の際に露光マスクを付着させるのが困難であり、レーザーの照射パターンニング方法による回路形成のほうが優れている。
【0004】
ここで、上記の方法は特開平7−66532号公報や特開平7−66533号公報によって提供されている方法であるが、基板1の表面にスパッタリングなどで導体膜36を形成した後に、レーザーを照射して回路を形成する部分の周囲の導体膜36を除去する必要がある。従って、レーザーを照射する工程が必要になって製造工数や製造コストが増大するという問題がある。またレーザーの照射による基板1の表面の熱ダメージで、回路部5の端部が図34のように剥がれ、基板1に対する回路部5の密着性が低下するおそれがあり、特に基板1の材料が樹脂であると、レーザーの照射部分が炭化し、回路部5間の絶縁抵抗が劣化する可能性があるという問題もある。
【0005】
一方、このようなレーザーの照射を行なう必要なく、PVD法で回路部5を形成する方法が特開2000−216504号公報や特開2000−216505号公報で提供されている。図35はその一例を示すものであり、図35(a)のように表面に凹凸を設けた基板1を用い、基板1の表面にスパッタリングなどPVD法で導体を付着させるようにしたものであり、PVD法では一般的にターゲットのそれぞれの表面部分から導体粒子はある角度範囲をもって放射され、ガス粒子やプラズマのイオンにぶつかりながら基板1の表面に向かって飛翔するので、凹部39の内部には入り込み難く、少なくともこの飛翔方向と平行になる凹凸の凸部24と凹部39の間の側面である段差側面部2には導体が付着し難くなる。従って、凸部24の頂面に付着した導体は、導体が付着し難い凹部39によって不連続になるので、図35(b)のように凹部39の部分が回路間の絶縁部となった回路部5を凸部24の頂面に形成することができるものであり、回路部5の輪郭をレーザーで除去するような必要がなくなるのである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように特開2000−216504号公報や特開2000−216505号公報で提供されている方法では、表面に凹凸を設けた基板1を用いてPVD法で導体を付着させることによって、レーザーの照射を行なう必要なく凸部24の頂面に回路部5を形成することができるのである。
【0007】
しかし、凸部24の頂部に形成された回路部5は凹部39を介して配置されているものであり、基板1の表面のうち凹部39の部分は回路が形成されない部分となるので、基板1の表面の回路配置密度が低くなるという問題があった。回路配置密度を高くするためには、凹部39の幅を狭くすることが必要であるが、樹脂の射出成形で基板1を作製する場合、凹部39の幅を狭く形成するのには限界があって、凹部39の幅を100μm以下にすることは困難であり、回路配置密度を高くするのには限度があるものであった。
【0008】
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、回路の配置密度を高くすることができる立体回路板及びその製造方法を提供することを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項1に係る立体回路板は、基板1の表面に段差側面部2を介して複数の高さに層別される複数段の平面部4を設け、段差側面部2を導体が被覆されない非回路部3として形成すると共に、平面部4に物理蒸着法で導体を被覆して回路部5を形成して成ることを特徴とするものである。
また請求項1の発明は、基板1の表面の凹凸の凸部24の頂面に平面部4を形成すると共に凸部24の側面に段差側面部2を形成し、凸部24の側面にアンダーカット部25を形成して成ることを特徴とするものである。
【0010】
また請求項2の発明は、請求項1において、平面部4を高さが異なる3段以上に形成して成ることを特徴とするものである。
【0011】
また請求項3の発明は、請求項1又は2において、複数段の平面部4のうち一部の平面部4を導体が被覆されない非回路部3として形成して成ることを特徴とするものである。
【0012】
また請求項4の発明は、請求項1乃至3のいずれかにおいて、基板1の表面に高さの異なる平面部4間を連絡する傾斜面6を設け、傾斜面6に導体を被覆して高さの異なる平面部4の回路部5を電気的に接続する接続回路部7を形成して成ることを特徴とするものである。
【0013】
また請求項5の発明は、請求項1乃至4のいずれかにおいて、端部同士が対向する平面部4の端部間に、これらの平面部4より低い平面部を配置し、上記端部同士が対向する平面部4に形成した回路部5の端部間を電気的に接続して成ることを特徴とするものである。
【0014】
また請求項6の発明は、請求項5において、接続用部材8によって、上記端部同士が対向する平面部4に形成した回路部5の端部間を電気的に接続して成ることを特徴とするものである。
【0015】
また請求項7の発明は、請求項6において、接続用部材8として、ワイヤーとジャンパー部品の少なくとも一方を用いて成ることを特徴とするものである。
【0016】
また請求項8の発明は、請求項6において、上記端部同士が対向する平面部4の各端部を基板1の表面側へ下り傾斜する端部傾斜面9として形成すると共に端部傾斜面9に導体を被覆して平面部4の回路部5と電気的に接続された端部回路部10を形成し、接続用部材8として、両端面にこの各端部傾斜面9と平行に傾斜する接合用傾斜面11を設けると共に各接合用傾斜面11及び表面に導通用回路部12を形成したものを用い、上記端部同士が対向する平面部4の端部間に接続用部材8を配置すると共に端部傾斜面9の端部回路部10と接合用傾斜面11の導通用回路部12を接合させて成ることを特徴とするものである。
【0017】
また請求項9の発明は、請求項6において、上記端部同士が対向する平面部4の端部間に配置される高さの低い平面部4を電気絶縁性の被覆材13で被覆し、接続用部材8として導電材料を用いると共に被覆材の表面に導電材料を設けることによって、上記端部同士が対向する平面部4に形成した回路部5の端部間を電気的に接続することを特徴とするものである。
【0018】
また請求項10の発明は、請求項1乃至4のいずれかにおいて、端部同士を対向させた平面部4の端部間に、これらの平面部4より低い平面部4を配置し、上記端部同士を対向させた平面部4に形成した回路部5の各端部を電子部品実装端子部14として、この端部同士を対向させた平面部5の端部上に配置される電子部品15を実装して成ることを特徴とするものである。
【0019】
また請求項11の発明は、請求項10において、上記電子部品実装端子部14が形成された平面部4より低い平面部4の回路部5に、他の電子部品実装端子部14を形成し、上記実装された電子部品15の下方に他の電子部品15が重なるように、他の電子部品実装端子部14に他の電子部品15を実装して成ることを特徴とするものである。
【0020】
また請求項12の発明は、請求項1乃至11のいずれかにおいて、基板1に基板1の表裏に貫通するスルーホール16を形成し、基板1の表面側の平面部4に形成した回路部5と電気的に接続されるスルーホール回路部17をスルーホール16の内周に設け、基板1の裏面に形成した裏面回路部18とスルーホール回路部16とを電気的に接続して成ることを特徴とするものである。
【0021】
また請求項13の発明は、請求項12において、回路部5を形成した平面部4の端部と、スルーホール16を形成した基板1の表面との間に、つづら折り状あるいは螺旋状に傾斜する屈曲傾斜面19を形成し、回路部5とスルーホール回路部17とを電気的に接続する連絡用回路部20を屈曲傾斜面19に形成して成ることを特徴とするものである。
【0022】
また請求項14の発明は、請求項12又は13において、スルーホール回路部17と裏面回路部18との接続部分に導電ペースト21を塗布して成ることを特徴とするものである。
【0023】
また請求項15の発明は、請求項1乃至14のいずれかにおいて、複数段の各平面部4をメッキ用傾斜面22を介してこれらの平面部4より少なくとも高い段の平面部4に連絡させ、この高い平面部4及びメッキ用傾斜面22に、上記の複数段の平面部4に電気メッキをする際に通電を行なうためのメッキ通電用回路部23を形成して成ることを特徴とするものである。
【0024】
また請求項16の発明は、請求項15において、メッキ通電用回路部23は、電気メッキの後にエッチングして除去されるものであることを特徴とするものである。
【0025】
また請求項17の発明は、請求項15において、基板1のうちメッキ通電用回路部23を形成した平面部4を設けた部分は、電気メッキの後に少なくとも基板1の一部とともに切除されるものであることを特徴とするものである。
【0026】
また請求項18の発明は、請求項1乃至17のいずれかにおいて、複数段の平面部4のうち、高さの低い平面部4に形成した回路部5を電気絶縁性の被覆材13で被覆すると共に高さの高い平面部4に形成した回路部5をこの被覆材13の表面に露出させて成ることを特徴とするものである。
【0027】
また請求項19の発明は、請求項1乃至18のいずれかにおいて、基板1の表面の凹凸の凸部24の頂面に平面部4を形成し、凸部24の頂面の角部をテーパ面あるいはアール面に形成して成ることを特徴とするものである。
【0029】
また請求項20の発明は、請求項1乃至19のいずれかにおいて、平面部4にバンプ用凸部26を突設し、バンプ用凸部26に導体を被覆して電子部品実装用のバンプ端子27を形成して成ることを特徴とするものである。
【0030】
また請求項21の発明は、請求項1乃至20のいずれかにおいて、段差側面部2の表面を粗面に形成して成ることを特徴とするものである。
【0031】
また請求項22の発明は、請求項1乃至21のいずれかにおいて、基板1の表面に物理蒸着法で導体を付着させることによって、導体が付着し難い段差側面部2に非回路部3を形成すると共に、導体が付着し易い平面部4に回路部5を形成して成ることを特徴とするものである。
また請求項23の発明は、請求項22において、段差側面部2に付着した導体はエッチング除去されていることを特徴とするものである。
【0032】
また請求項24の発明は、請求項1乃至23のいずれかにおいて、基板1は、樹脂又はセラミックス材料を成形して形成されたものであることを特徴とするものである。
【0033】
また請求項25の発明は、請求項1乃至23のいずれかにおいて、基板1は、金属材29の表面に絶縁層30をコーティングして形成されたものであることを特徴とするものである。
【0034】
また本発明に係る請求項26の立体回路板の製造方法は、請求項1乃至25のいずれかに記載の立体回路板を製造するにあたって、基板1の表面に段差側面部2を介して複数の高さに層別される複数段の平面部4を設け、基板1の表面に物理蒸着法で導体を付着させた後、段差側面部2に付着した導体をエッチング除去することによって、段差側面部2に導体が被覆されない非回路部3を形成すると共に、導体が被覆された平面部4に回路部5を形成することを特徴とするものである。
【0035】
また請求項27の発明は、請求項26において、イオンビームスパッタリング法でターゲット31から導体粒子をスパッタリングして基板1の表面に付着させることを特徴とするものである。
【0036】
また請求項28の発明は、請求項26において、ターゲット31からスパッタリングされた導体粒子によってこのターゲット31をスパッタリングするセルフスパッタリング法で、ターゲット31からスパッタリングされた導体粒子を基板1の表面に付着させることを特徴とするものである。
【0037】
また請求項29の発明は、請求項26において、プラズマ生成ガスの雰囲気下でプラズマを発生させてスパッタリングを開始し、プラズマが発生した後にプラズマ生成ガスのガス圧を低くした状態で、ターゲット31からスパッタリングされた導体粒子を基板1の表面に付着させることを特徴とするものである。
【0038】
また請求項30の発明は、請求項26において、強磁場を発生させたマグネトロンスパッタリング法でターゲット31からスパッタリングされた導体粒子を基板1の表面に付着させることを特徴とするものである。
【0039】
また請求項31の発明は、請求項26において、ターゲット31から導体粒子をスパッタリングして基板1の表面に付着させるにあたって、ターゲット31と基板1の間に、ターゲット31と基板1の方向に開口する多数の孔33を有する多孔板32を配置し、ターゲット31から叩き出された導体粒子を多孔板32の孔33を通して基板1に飛翔させて付着させることを特徴とするものである。
【0040】
また請求項32の発明は、請求項31において、表面を粗化した多孔板32を用いることを特徴とするものである。
【0041】
また請求項33の発明は、請求項26乃至32のいずれかにおいて、ターゲット31から導体粒子をスパッタリングして基板1の表面に付着させるにあたって、基板1を冷却することを特徴とするものである。
【0042】
また請求項34の発明は、請求項26乃至33のいずれかにおいて、基板1の表面に導体との密着性が悪い樹脂層34を設け、これをプラズマエッチングして平面部4の樹脂層34を除去した後、基板1の表面に物理蒸着法で導体を付着させることを特徴とするものである。
【0043】
また請求項35の発明は、請求項26乃至33のいずれかにおいて、基板1の表面に導体との密着性が悪い樹脂層34を設け、これを酸素イオンビームエッチングして平面部4の樹脂層34を除去した後、基板1の表面に物理蒸着法で導体を付着させることを特徴とするものである。
【0044】
また請求項36の発明は、請求項26乃至35のいずれかにおいて、金属材29を放電加工して表面に凹凸を形成すると共に凸部24の側面にアンダーカット部25を形成し、この金属材29の表面を絶縁層30で被覆して作製した基板1を用いることを特徴とするものである。
【0045】
また請求項37の発明は、請求項36において、金属材29の表面に化学蒸着法で絶縁層30を形成することを特徴とするものである。
【0046】
また請求項38の発明は、請求項26乃至35のいずれかにおいて、樹脂製の基板1に設けられる凸部24の頂部を加熱加圧することによって、凸部24の頂部の側面に鍔部35を張り出させると共にその下側にアンダーカット部25を形成することを特徴とするものである。
【0047】
また請求項39の発明は、請求項26乃至35のいずれかに樹脂成形品で表面に凹凸を有する基板1を製造するにあたって、LIGAプロセスで基板1の製造を行なうことを特徴とするものである。
【0048】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を説明する。
【0049】
基板1はその表面に凸部24と凹部39からなる凹凸を設けて、例えば図1(a)に示すような三次元立体形状に形成してある。そして凸部24の頂面と凹部39の底面はそれぞれ平面部4として形成されるものであり、凹部39の底面と凸部24の頂面の間の側面は段差側面部2となっている。従って、基板1の表面には、段差側面部2を介して複数の高さに層別される複数段の平面部4が形成されるものである。ここで、凸部24と凹部39の間の側面である段差側面部2は、基板1の表面(凹部39の底面が相当する)に対してほぼ垂直な面に形成してある。
【0050】
そして基板1の表面に物理蒸着法(PVD法)で導体を付着させることによって、回路形成をするものであり、PVD法としては、例えば真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーティングによって行なうことができる。
【0051】
図2(a)は真空蒸着で基板1の表面に導体を付着させる方法の一例を示すものであり、チャンバー43内には銅などの導体を入れたルツボ44と基板ホルダー45が配置してあり、基板ホルダー45のルツボ44と対向する面には上記の基板1が保持してある。そしてチャンバー43内を減圧して高真空にすると共に、ルツボ44内の導体を抵抗加熱あるいは電子ビーム照射で加熱して気化させると、気化した導体粒子が矢印方向に飛翔して基板1の表面に堆積し、基板1の表面に導体を付着させることができるものである。
【0052】
ここで、チャンバー43内を高真空にすれば、ルツボ44から蒸発した導体粒子は散乱されることなく真っ直ぐ基板1に向かって飛翔し、基板1の表面のうち、ルツボ44と平行な平面部4は導体粒子の飛翔方向と垂直であるので、平面部4には導体粒子が堆積し易くて導体を付着させ易いが、ルツボ44に対して垂直な段差側面部2は導体粒子の飛翔方向と平行であるので、段差側面部2には導体粒子は堆積し難く導体が付着し難い。従って上記の真空蒸着によって、基板1の平面部4にのみ導体を付着させ、段差側面部2には導体を付着させないようにすることができるものである。
【0053】
図2(b)はスパッタリングで基板1の表面に導体を付着させる方法の一例を示すものであり、チャンバー43内には銅などの導体からなるターゲット31と基板ホルダー45が配置してあり、基板ホルダー45のターゲット31と対向する面には上記の基板1が保持してある。このターゲット31と基板ホルダー45の間にはRFなどの高周波電源やスパッタリング用のDC電源が接続してあり、ターゲット31と基板ホルダー45の間に高周波電圧や直流電圧を印加するようにしてある。そして、チャンバー43内を減圧し、チャンバー43内にアルゴンガスなどのプラズマ生成ガスを通しながら、ターゲット31と基板1の間に電圧を印加すると、ターゲット31と基板1の間でプラズマPが発生する。このプラズマP中のイオンがターゲット31に衝突することによって、ターゲット31から銅原子などの導体粒子が叩き出される。この導体粒子が矢印方向に基板1へ向かって飛翔して基板1の表面に堆積し、基板1の表面に導体を付着させることができるものである。
【0054】
ここで、基板1の表面のうち、ターゲット31と平行な平面部4は導体粒子の飛翔方向と垂直であるので、平面部4には導体粒子が堆積し易くて導体を付着させ易いが、ターゲット31に対して垂直な段差側面部2は導体粒子の飛翔方向と平行であるので、段差側面部2には導体粒子は堆積し難く導体が付着し難い。従ってスパッタリングによって、基板1の平面部4にのみ導体を付着させ、段差側面部2には導体を付着させないようにすることができるものである。
【0055】
図2(c)はイオンプレーティング法で基板1の表面に導体を付着させる方法の一例を示すものであり、チャンバー43内には銅などの導体を入れたルツボ44と基板ホルダー45が配置してあり、基板ホルダー45のルツボ44と対向する面には上記の基板1が保持してある。このルツボ44と基板ホルダー45の間にはRFを印加するアンテナ48が巻いてあり、また基板ホルダー45にバイアス印加用のRF電源が接続してある。図2(c)において46はRF電源、47は整合回路、48はコイル状のアンテナである。そして、チャンバー43内を減圧し、チャンバー43内にアルゴンガスなどのプラズマ生成ガスを通しながら、アンテナ48と基板ホルダー45にRFを印加すると、アンテナ48が巻かれている部分でプラズマPが発生する。このとき、ルツボ44内の導体を抵抗加熱あるいは電子ビーム照射で加熱して気化させると、気化した導体粒子がプラズマP中を移動する際にイオン化し、このイオン化した導体粒子が基板ホルダー45にかかるバイアス電圧によって加速されながら、矢印方向に基板1に向かって飛翔して基板1の表面に堆積し、基板1の表面に導体を付着させることができるものである。
【0056】
ここで、基板1の表面のうち、ルツボ44と平行な平面部4は導体粒子の飛翔方向と垂直であるので、平面部4には導体粒子が堆積し易くて導体を付着させ易いが、ルツボ44に対して垂直な段差側面部2は導体粒子の飛翔方向と平行であるので、段差側面部2には導体粒子は堆積し難く導体が付着し難い。特にイオンプレーティング法では、バアイスがかかるため、その電界により真っ直ぐに導体粒子が力を受けて飛翔する。従ってイオンプレーティング法によって、基板1の平面部4にのみ導体を付着させ、段差側面部2には導体を付着させないようにすることができるものである。
【0057】
上記のようにPVD法を用いて基板1の表面に導体を付着させることによって、平面部4にのみ導体を被覆することができると共に段差側面部2には導体が被覆されないようにすることができるものである。ここで、基板1の表面に導体を付着させて導体膜49を被覆するにあたって、段差被覆率は図3(a)のように、
段差被覆率=段差側面部の膜厚s/凸部の頂部での導体の膜厚t
とすると、上記で説明したPVD法は段差被覆率が小さい成膜方法であり、これを利用している。また凸部24の頂面に形成される平面部4の他に、凹部39の底面に形成される平面部4にも導体膜49を被覆するにあたって、底面被覆率は図3(a)のように、
底面被覆率=凹部の底面での導体の膜厚u/凸部の頂部での導体の膜厚t
であり、この底面被覆率を大きくするには、図3(b)のように凹部39のアスペクト比=h/wを小さくするのが好ましい。
【0058】
ここで、PVD法では段差側面部2に導体が付着し難くいが、各種の要因の影響で、段差側面部2に導体が全く被覆されないようすることは難しい。そこで本発明では、図4(a)のように基板1の表面にPVD法で導体を通常、0.4〜0.6μmの厚みで付着させて導体膜49を被覆した後、基板1をエッチング処理して、図4(b)のように段差側面部2に付着した導体膜49をエッチング除去するようにしてある。エッチング処理は、エッチング液に基板1を浸漬したり、基板1にエッチング液をスプレーしたりして行なうことができるが、段差側面部2に付着する導体膜49は通常0.15μm以下と薄くできるので、ライトエッチングで良く、平面部4に被覆した導体膜49を浸食する影響は殆どない。そして、平面部4に被覆した導体に必要に応じて電気メッキをして通常5〜15μmの厚付けすると共にニッケルメッキや金メッキなどの仕上げメッキをすることによって、図1(b)のように平面部4に所望の回路部5を形成した立体回路板を得ることができるものである。
【0059】
このようにして作製される立体回路板にあって、図1(b)に示すように、基板1の表面に段差側面部2を介して層別される複数段の各平面部4に形成される回路部5は、導体が被覆されない段差側面部2を非回路部3として、回路部5間の電気絶縁性が確保されているものである。そしてこの非回路部3となる段差側面部2は基板1の表面(平面部2)に対して垂直な面であるので、基板1の面方向において段差側面部2は面積として表われない。従って、基板1の面方向において回路部5間には見掛け上、段差側面部2の非回路部3は存在しないことになり、基板1の全面を利用して回路部5を形成することが可能になり、回路配置密度が高い立体回路板を形成することができるものである。すなわち、立体的に形成した基板1の構造を利用して、回路部5と隣接する回路部5との絶縁距離を高さ方向で確保することができるため、基板1の面方向において回路絶縁ギャップが零の高密度回路が可能となり、回路板の小型化にもつながるものである。
【0060】
図5は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、凹凸の凸部24を複数段に形成することによって、段差側面部2を介して複数段に層別される平面部4を3段以上に形成するようにしてある。このように平面部4を3段以上に形成することによって、平面部4に形成する回路部5を3段以上の多段に配置することができ、回路のパターンニングの自由度を向上することができるものである。
【0061】
図6は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、上記のように段差側面部2を介して複数段に層別される平面部4を形成するにあたって、複数段の平面部4のうち一部の段の平面部4を導体が被覆されない非回路部3として形成するようにしたものである。図6(a)の実施の形態では、一段目の平面部4を非回路部3として形成してあり、図6(b)の実施の形態では、二段目の平面部4を非回路部3として形成してある。隣合う平面部4間の段差側面部2は既述のように非回路部3となっているが、このように一部の段の回路部として不要な平面部4を非回路部3に形成することによって、回路部5間の絶縁距離を大きくとることができ、回路設計の自由度が増すと共に回路メッキ材料ロスも削減できるものである。ここで、平面部4のうち一部の段の平面部4に非回路部3を形成するにあたっては、PVDで導体膜を形成した各平面部4のうち、回路部として不要な平面部4の導体膜には電気メッキ工程にて給電せず、薄い膜厚のままにしておき、電気メッキ後のエッチング工程にてこの薄い導体膜を除去することによって行なうことができる。
【0062】
図7は本発明の実施の形態の他の一例を示すものである。基板1の表面に高さの異なる複数本の凸部24を畦道状に突設し、各凸部24の頂面や、凸部24間の凹部39の底面を平面部4として形成してある。各平面部4は段差側面部2を介して複数段に層別されており、各平面部4に回路部5が設けてある。例えば、最も低い段である凹部39の底面の平面部4に設けた回路部5はグランド回路層やパワー回路層として形成することができるものであり、各凸部24の頂面の平面部4に設けた回路部5は信号線として形成することができるものである。
【0063】
そして高さが異なる平面部4に設けた回路部5を接続する場合には、図7に示すように、この高さが異なる平面部4間において上面が傾斜する凸部24aを基板1の表面に突設し、この凸部24aの上面に高さが異なる平面部4間を連絡する傾斜面6を形成する。そしてこの傾斜面6に接続回路部7を設けることによって、接続回路部7で高さの異なる平面部4の回路部5を電気的に接続することができるものである。傾斜面6への接続回路部7の形成は、傾斜面6の傾斜が通常75°以下の傾斜角度であれば必要な膜厚で形成でき、平面部4にPVD法で回路部5を形成する際に同時に行なうことができる。このようにして高さの異なる平面部4の回路部5を接続することができ、自由度の高い立体配線をすることができるものである。
【0064】
また、2本の回路部5を交差させる場合には、図7に示すように、同じ高さの凸部24b,24bの端部同士を間隙を介して対向させ、この対向端部間を横切るように、この凸部24bより低い凸部24cを配置する。各凸部24b,24bの頂面の平面部4には回路部5がそれぞれ設けてあり、また凸部24cの頂面の平面部4にも回路部5が設けてある。そして凸部24cの回路部5の上を跨ぐようにして、凸部24b,24bの対向端部の回路部5同士を接続用部材8で電気的に接続することによって、凸部24b,24bの平面部4に形成される回路部5と凸部24cの平面部に形成される回路部5とを、立体的に交差させることができるものである。このようにして、高さの異なる回路部5を立体的に交差させて配線することができ、自由度の高い立体配線をすることができるものである。
【0065】
ここで、凸部24b,24bの対向端部の回路部5同士を電気的に接続するにあたって、上記のように接続用部材8を用いることによって、無理な回路の引き回しなどの必要なく、立体配線で回路部5の端部間の接続を行なうことができるものである。この接続用部材8としては、図7に示すようなワイヤー8aや、ジャンパー部品を用いることができる。ジャンパー部品としては、例えば金属板にバネ性を持たせてコネクタのように圧入できる形状にした部品や、抵抗値を0にしたチップ部品のような半田付けで接続することができる部品などを用いることができる。接続用部材8としてこのようなワイヤーや、ジャンパー部品を用いることによって、ワイヤーボンダーやジャンパー部品実装装置を用いて、自動化工程で接続を行なうことができるものである。
【0066】
図8は接続用部材8の他の実施の形態を示すものである。この実施の形態では、上記の端部同士を対向させた凸部24b,24bの各端部を基板1の表面側へ下り傾斜する端部傾斜面9として形成し、この端部傾斜面9に凸部24bの平面部4に設けた回路部5と電気的に接続された端部回路部10が形成してある。端部傾斜面9への端部回路部10の形成は、平面部4にPVD法で回路部5を形成する際に同時に行なうことができる。また接続用部材8は例えば樹脂成形品などで形成されるものであり、両端面にはこの各端部傾斜面9と平行に傾斜する接合用傾斜面11が設けてある。この各接合用傾斜面11と接続用部材8の下面には、連続する導通用回路部12が形成してある。そして、凸部24cの上側において、凸部24b,24bの対向する端部間に接続用部材8を配置し、端部傾斜面9の端部回路部10と接合用傾斜面11の導通用回路部12とを接合させることによって、接続用部材8の導通用回路部12で凸部24b,24bの平面部4に設けた回路部5の端部同士を電気的に接続することができるものである。
【0067】
このようにして、端部傾斜面9の端部回路部10と接合用傾斜面11の導通用回路部12を面同士で接合して、回路部5間の接続を行なうことができるものであり、接続信頼性を高く得ることができると共に、接続用部材8の位置合わせが容易になるものである。端部傾斜面9の端部回路部10と接合用傾斜面11の導通用回路部12の合わせ面には導電性接着剤などを注入して固定したり、バネ性や引っ掛け構造を持たせた部材を組み合わせた固定部材を圧接して固定したりすることができる。
【0068】
図9は接続用部材8の他の実施の形態を示すものである。この実施の形態では、上記の端部同士を対向させた凸部24b,24bの端部間に電気絶縁性の被覆材13を充填することによって、図9(a)のように凸部24cの平面部4に設けられた回路部5を被覆材13で被覆し、あるいは封止する。この被覆材13としては熱硬化性樹脂の接着剤などを用いることができる。そして接続用部材8として導電材料8bを用い、この被覆材13の表面に導電材料8bを塗布あるいは充填することによって、図9(b)のように凸部24b,24bの平面部4に設けた回路部5の端部同士を電気的に接続することができるものである。導電材料8bとしては、導電性接着剤や、半田などを用いることができるものであり、被覆材13や導電材料8bの充填によってコスト安価に回路部5の接続を行なうことができるものである。
【0069】
図10は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、同じ高さの凸部24b,24bを複数対、各端部同士を間隙を介して対向させて基板1の表面に突設してあり、この凸部24b,24bの対向端部間を横切るように、この凸部24bより低い凸部24cが基板1の表面に配置して設けてある。各凸部24bの頂面の平面部4や凸部24cの頂面の平面部4にはそれぞれ回路部5が設けてある。そして端部同士を間隙を介して対向させた凸部24b,24bの回路部5の各端部は電子部品実装端子部14として形成してあり、凸部24b,24bの対向端部の上側に配置した半導体チップなどの電子部品15をこの電子部品実装端子部14に接続することによって、図10(a)に示すように、立体回路板への電子部品15の実装を行なうことができるものである。このように実装した電子部品15の下側には、凸部24cに設けた回路部5が配置されており、回路部5と電子部品15を立体的に配置して回路の配置密度を高くすることができるものである。
【0070】
また、この高い凸部24bに設けた回路部5の他に、低い凸部24cに設けた回路部5にも電子部品実装端子部14を形成することによって、図10(b)に示すように、高い凸部24bの回路部5の電子部品実装端子部14に接続して実装した電子部品15の下側において、低い凸部24cの回路部5の電子部品実装端子部14に接続して他の電子部品15を実装することによって、複数の電子部品15を上下に重ねた状態で実装することが可能になるものである。
【0071】
このように、他の機構や部品を特に必要とせずに、立体回路の構造を利用して、異なる高さの平面部4の回路部5にそれぞれ電子部品実装端子部14を設けるだけで、電子部品15を上下に重ねた立体的な実装が簡単に行なえるので、実装の高密度化が容易となるとともに、実装端子部への回路配線の自由度が向上して回路配線のスペース削減の効果にもつながり、この立体回路板を用いた電子機器のより一層の小型化が低コストで実現できるものである。尚、図10(b)は電子部品15を2段重ねとしているが、3段以上に電子部品15を重ねることも同様にできる。また電子部品15の上下の重なりは一部分の重なりでもよく、上下の電子部品15は間隙を有していても、接触していてもよく、また、下方の段の電子部品15は複数個でもよい。さらには、上方の電子部品15が下方の電子部品15の機械的保護や電気的シールドを兼ねるようにすることもできる。
【0072】
図11は本発明のさらに他の実施の形態の一例を示すものであり、基板1の表面側の平面部4に形成した回路部5と基板1の裏面に形成した裏面回路部18とを、前述のPVDによる導体膜形成とその後の電気メッキとにより電気的に接続するようにしたものであり、基板1の表面側に設けた一対の回路部5を基板1の裏面の裏面回路部18を介して電気的に接続することが可能になるものである。すなわち、基板1にはPVDにて導体膜が形成し易いように内周面が開口するスルーホール16がその表裏に貫通して少なくとも一対形成してあり、基板1の表面側の平面部4に形成した一対の回路部5はそれぞれ一方のスルーホール16の内周に形成したスルーホール回路部17に電気的に接続してある。ここで、基板1の表面に突設した凸部24の平面部4に形成した回路部5をスルーホール回路部17に接続する場合には、この平面部4とスルーホール16との間に既述のように傾斜面6を形成すると共に傾斜面6に接続回路部7を形成し、接続回路部7を介して回路部5をスルーホール回路部17に電気的に接続することができる。そして基板1の裏面に設けた裏面回路部18に各スルーホール16のスルーホール回路部17を接続させることによって、基板1の表面側の平面部4に形成した一対の回路部5を基板1の裏面の裏面回路部18を介して電気的に接続することができるものである。尚、スルーホール16の内面が傾斜していることによって、前述のPVDによる導体膜形成とその後の電気メッキによりスルーホール16の内部も同時に回路形成することができるものであり、また裏面回路部18との接続部は電気メッキの厚みで連結することができるものである。従って図11に示すように、この一対の回路部5間に、高い凸部24が存在していても、この高い凸部24が障害となることなく、回路部5間の接続を行なうことが可能になるのである。ここで、裏面回路部18は凸部頂面に形成するようにしているが、基板1の裏面に凹部を形成し、凹部底面に接続回路を形成するようにすれば、裏面側の突出する形状を避けることもできる。
【0073】
図12は本発明のさらに他の実施の形態の一例を示すものである。図11の実施の形態では、基板1の表面に突設した凸部24の平面部4に形成した回路部5を傾斜内周面を有するスルーホール16のスルーホール回路部17に接続するにあたって、回路部5とスルーホール16の間に直線状の傾斜面6を形成し、傾斜面6に設けた接続回路部7によって回路部5とスルーホール回路部17を接続するようにしているが、凸部24の平面部4とスルーホール16との間の高低差が大きいと、PVDによって導体膜を形成し易い傾斜角度にするために傾斜面6の長さが長くなり、回路部5とスルーホール16の位置が離れて高密度な配置で配線することができなくなることがある。
【0074】
そこで、図12(a)(b)の実施の形態では、凸部24の頂面の回路部5を設けた平面部4とスルーホール16の間に、つづら折り状に蛇行して傾斜する屈曲傾斜面19を設け、この屈曲傾斜面19に形成した連絡用回路部20によって回路部5とスルーホール回路部17を接続するようにしている。また図12(c)の実施の形態では、螺旋状に傾斜する屈曲傾斜面19を設け、この屈曲傾斜面19に形成した連絡用回路部20によって回路部5とスルーホール回路部17を接続するようにしている。このようにして、PVDで導体膜を形成し易い所定の傾斜角度以下にすると共に、回路部5とスルーホール16の位置を接近させることができ、高密度な配置で配線することが容易になるものである。
【0075】
図13は本発明のさらに他の実施の形態の一例を示すものである。スルーホール16の内周に形成したスルーホール回路部17と基板1の裏面に形成した裏面回路部18とを電気的に接続した後、温度変化や機械的衝撃などにより、図13(a)に示すようにスルーホール回路部17と裏面回路部18との接続部分にクラックが生じるなどの導通不良が発生するおそれがある。特にスルーホール16は基板1の表面側の内径が大きく裏面側の内径が小さいすり鉢状に形成されており、スルーホール16の裏面への開口の周縁部の断面は鋭角になり、スルーホール回路部17と裏面回路部18の間に隙間が生じ易くなって導通不良が発生し易い。そこで図13(b)に示すように、スルーホール回路部17と裏面回路部18との接続部分に導電ペースト21を塗布し、スルーホール回路部17と裏面回路部18の間の隙間を導電ペースト21で埋めて電気的な接続を確保し、導通不良が発生することを防ぐようにしてある。
【0076】
図14は本発明のさらに他の実施の形態の一例を示すものである。基板1の表面には高さの異なる複数本の凸部24を突設し、各凸部24の上面や、凸部24間の凹部39の底面を平面部4として形成してある。また基板1の端部に、その端縁に沿ってメッキ用の凸部24dが突設してある。この凸部24dの高さは、基板1に突設されている上記の各凸部24より低くならないように設定してある。すなわち、基板1に突設されている上記の凸部24のうち最も高い凸部24と同じ高さか、これより高い高さに設定してある。そして凸部24dの頂面の平面部4aと、この平面部4aより低い上記の各平面部4とをそれぞれメッキ用傾斜面22を介して連絡してあり、またこの平面部4aと同じ平面部4とは面一に直接連絡させてある。
【0077】
このように形成される基板1の表面に既述のPVD法で導体49を付着させる処理を行なうと、導体49は図14(a)に示すように平面部4,4a及びメッキ用傾斜面22にのみ付着して、平面部4,4a及びメッキ用傾斜面22に導体膜49が被覆される。ここで、メッキ用傾斜面22とメッキ用の凸部24dの平面部4aに被覆される導体膜49は、各平面部4に被覆される導体膜49にそれぞれ電気的に接続されるメッキ通電用回路部23となる。従って、各平面部4の導体膜49は、段差側面部2の非回路部3を介して独立しているが、メッキ通電用回路部23を介して電気的に接続させることができるものである。そして各平面部4の導体膜49に電気メッキして厚付けすることによって回路部5を形成するにあたっては、メッキ用の凸部24dのメッキ通電用回路部23に電源を接続した状態で基板1をメッキ浴に浸漬し、メッキ用の凸部24d及びメッキ用傾斜面22のメッキ通電用回路部23を通して各平面部4の導体膜49に通電することによって、行なうことができるものである。このようにして、一箇所への電源の接続で独立した各平面部4の導体膜49に通電して、電気メッキを容易に行なうことができるものであり、しかもメッキ用の電源の接続は最も高く突出した凸部24aに形成したメッキ通電用回路部23に行なうために、通電治具の接続が容易になるものである。
【0078】
上記のように電気メッキを行なった後、図14(b)に示すように、メッキ用の凸部24aに設けたメッキ通電用回路部23を除去することによって、各平面部4に形成される回路部5を再度独立させることができるものである。メッキ用の凸部24aのメッキ通電用回路部23を除去するにあたっては、研削などの方法のほかに、化学的エッチングによって行なうことができる。メッキ通電用回路部23は最も高く突出した凸部24aの平面部4aに形成されているために、他の平面部4に形成された回路部5に影響を与えることなく、化学的エッチングでメッキ通電用回路部23の除去を容易に行なうことができるものである。
【0079】
また図15の実施の形態では、上記のようにして電気メッキを行なって基板1の各平面部4に回路部5を形成した後、基板1の端部を鎖線に沿って切断、あるいは研磨、切削し、少なくともメッキ通電用回路部23とこれを形成した凸部24aの少なくとも一部分を基板1から切り離すことによって、各平面部4に形成される回路部5を独立させるようにしてある。
【0080】
図16は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、基板1の表面に複数段に形成される平面部4のうち、高さの低い平面部4に設けた回路部5を電気絶縁性の被覆材13で被覆するようにしてあり、高さの高い平面部4に設けた回路部5をこの被覆材13の表面に露出させるようにしてある。例えば低い平面部4に設けた回路部5はグランド回路層やパワー回路層として用いることができ、高い平面部4に設けた回路部5は信号線として用いることができる。このように低い平面部4に設けた回路部5を被覆材13で被覆することによって、部品実装や検査等に必要な回路部5のみを露出させて、他の回路部5は被覆材13で保護することができ、回路の信頼性を向上させることができるものである。
【0081】
図17は本発明の実施の形態の他の一例を示すものである。上記のように基板1の表面にPVD法で導体を付着させて導体膜49を被覆した後、導体膜49に電気メッキして厚付けすることによって回路部5を形成するにあたって、基板1の表面に突設した凸部24の頂面の平面部4の角部が断面直角であると、図17(c)のように凸部24の平面部4に導体膜49を被覆した後に、導体膜49に通電して電気メッキを行なってメッキ膜51を付着させる際に、平面部4の角部の部分において導体膜49に電界集中が起こり易く、図17(d)のように電気メッキの際に金属イオンがこの部分に多く引き寄せられてメッキ膜51の膜厚が部分的に厚くなり、隣接する回路部5との間で短絡が発生するおそれがある。
【0082】
そこで図17(a)の実施の形態では、凸部24の頂面の角部をテーパ面52に形成するようにしてあり、図17(b)の実施の形態では凸部24の頂面の角部をアール面53に形成してある。このように凸部24の頂面の平面部4の角部をテーパ面52あるいはアール面53に形成することによって、電気メッキを行なう際に平面部4の角部の部分において電界集中が起こることを防止することができ、メッキ膜51の膜厚が部分的に厚くなって隣接する回路部5との間で短絡が発生することを防ぐことができるものである。
【0083】
図18は本発明の実施の形態の他の一例を示すものである。既述のように基板1の表面にPVD法で導体を付着させるにあたって、基板1の表面の凹凸の側面である段差側面部2には導体が付着し難いが、実際には各種の要因でこの段差側面部2にも導体が薄く付着してしまう。そこで、図18の実施の形態では、基板1の表面に突設した凸部24の側面である段差側面部2の基部にアンダーカット部25を形成するようにしてある。図18(a)の実施の形態では、凸部24の断面形状を逆台形に形成して段差側面部2を傾斜面に形成することによって、段差側面部2の基部にアンダーカット部25を設けるようにしてあり、図18(b)の実施の形態では、凸部24の上部の両側面を突出させることによって、段差側面部2の基部にアンダーカット部25を設けるようにしてある。このように段差側面部2の基部にアンダーカット部25を形成することによって、PVD法で基板1の表面に導体を付着させる際に、このアンダーカット部25の部分は飛翔する導体粒子にとって陰になるので、飛翔する導体粒子がこの部分に到達して導体が付着することを防ぐことができるものである。
【0084】
図19は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、基板1の表面に突設した凸部24の頂面の平面部4にバンプ用凸部26が突設してある。そして基板1の表面に導体を被覆して各平面部4に回路部5を形成する際に、バンプ用凸部26の頂面にも導体を被覆してバンプ端子27を形成するようにしてある。このようにして回路部5を形成する際にバンプ端子27を形成することができるものであり、このバンプ端子27を利用してICなどの電子部品を実装することができるものである。また図の実施の形態のように、基板1の表面から突設した凸部24の頂面に設けたバンプ用凸部26にバンプ端子27を形成することによって、凸部24とバンプ用凸部26の弾性によって基板1の熱変形に対してクッション作用を得ることができ、バンプ端子27への電子部品の実装の信頼性が向上するものであり、また基板1の表面と電子部品との間に空隙を確保して、この間に充填する接着剤の量を増大することができ、基板1に対する電子部品の接着強度を確保することができるものである。尚、バンプ端子26と回路部5との導通接続は、前述と同様に傾斜面6で行なうことができる。
【0085】
図20は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、基板1の表面をエッチング処理等することによって、基板1の表面を粗面に形成するようにしてある。このように基板1の表面を粗面に形成すると、凹凸の側面の段差側面部2も粗面に形成されるものである。そして、PVD法で基板1の表面に導体を付着させる際に、段差側面部2に形成される粗面の微細な凹凸において、飛翔する導体粒子にとって微細な凹は微細な凸の陰になるので、飛翔する導体粒子がこの陰になる微細な凹の部分に到達し難くなり、この部分に導体が付着することを防ぐことができるものである。また基板1の表面の平面部4に形成される粗面は、回路部5の密着性を高める作用をなすものである。
【0086】
上記の各実施の形態にあって、基板1としては、樹脂またはセラミックを材料として用い、これを射出成形などで成形して得られるものを用いることができる。このように基板1を樹脂やセラミックの成形で得ることによって、基板1の表面に任意の凹凸を設けた立体形状に容易に形成することができるものであり、基板1をコスト安価に形成することができるものである。尚、セラミックの場合は、射出成形後に燒結されて形状が固定されるものである。
【0087】
また、金属材29を用いて基板1を形成することもできる。金属材29を鋳造、鍛造、機械加工して表面に凹凸を成形した後、図21に示すように、金属材1の表面に有機材料や無機材料をコーティングして電気絶縁性の絶縁層30を形成することによって、基板1を作製することができるものである。絶縁層30は基板1の表面の全面、あるいは回路部5を形成する平面部4の表面に形成されるものである。このように基板1を金属材29で形成することによって、金属材29で放熱効果や、電気的シールド効果を得ることができ、また基板1の強度を高くすることができるものである。
【0088】
次に、基板1の表面にスパッタリングなどのPVD法で導体を付着させるにあたって、基板1の表面の凹凸の側面である段差側面部2に導体が付着し難い方法で、基板1の表面に導体を付着させる技術について説明する。
【0089】
図22は請求項27の発明の実施の形態の一例を示すものであり、チャンバー43内には銅などの金属からなるターゲット31と基板ホルダー45が配置してあり、基板ホルダー45のターゲット31と対向する面には上記の基板1が保持してある。またチャンバー43内にはイオンガン55が設けてある。さらにターゲット31と基板ホルダー45の間には前処理用に発生させるRFプラズマ用のRFなどの高周波電源が接続してあり、ターゲット31と基板ホルダー45の間に高周波電圧を印加するようにしてある。
【0090】
そしてチャンバー43内を減圧すると共にターゲット31と基板ホルダー45の間に電圧を印加し、表面改質を行なった後に、イオンガン55を作動させて、イオン生成室(図示省略)からアルゴンビームなどのイオンビームを引き出し、イオンガン55からイオンビームIをターゲット31に照射すると、ターゲット6から銅金属などの導体粒子が叩き出される。このように叩き出された導体粒子は矢印のように基板1に向けて飛翔し、基板1の表面に付着して導体膜49を形成することができるものである。
【0091】
このようなイオンビームスパッタリング法では、イオンの生成とスパッタリングを別の場所で行なうので、チャンバー43内にプラズマを発生させる通常のスパッタリングよりもチャンバー43内を高真空にすることができる。例えば、チャンバー43内にプラズマを発生させる通常のスパッタリングでは、チャンバー43内にプラズマ生成ガスを導入させてチャンバー43内は0.5Pa程度であるが、イオンビームスパッタリング法ではチャンバー43内を10-1〜10-2Pa程度の高真空下にしてスパッタリングを行なうことができる。従って、ターゲット31から叩き出された導体粒子がチャンバー43内のガス粒子などに衝突して散乱されることを低減することができ、導体粒子が散乱して基板1の凹凸の側面に形成される段差側面部2に付着することを防止することができるものである。
【0092】
図23は請求項28の発明の実施の形態の一例を示すものであり、図22の場合と同様にチャンバー43内には基板1を保持した基板ホルダー45とターゲット31が配置してあり、さらに基板1とターゲット31との間にシャッター56が配置してある。基板1はその表面(凸部24や凹部39の平面部4)がターゲット31とほぼ平行になり、側面の段差側面部2がターゲット31とほぼ垂直になるように配置されるものである。そしてセルフスパッタリング法でターゲット31の銅などの導体を基板1の表面に付着させるようにしたものである。
【0093】
すなわち図23(a)のようにシャッター56を閉じた状態で、まずチャンバー43内を減圧し、チャンバー43内にアルゴンガスなどのプラズマ生成ガスを導入して通しながら、ターゲット31とチャンバー43の間に電圧を印加すると、チャンバー43とシャッター56は電気的に導通しているため、ターゲット31とシャッター56の間でプラズマPが発生する。このプラズマP中のイオンがターゲット31に衝突することによって、ターゲット31から銅原子などの導体粒子が叩き出される。このときにはシャッター56でターゲット31と基板1の間を仕切っているので、ターゲット31から叩き出された導体粒子が基板1に付着することはない。次にある程度このスパッタリングが安定した状態で、チャンバー43内へのプラズマ生成ガスの導入を徐々に絞っていき、最終的にプラズマ生成ガスの導入を止めると、ターゲット31から叩き出された銅金属などの導体粒子の一部がイオン化されてプラズマP′が生成され、このプラズマP′中のイオン化された導体粒子がターゲット31に衝突して、ターゲット31から導体粒子を叩き出すセルフスパッタリングが開始される。このようにセルフスパッタリングが開始された後、図23(b)のようにシャッター56を開くと、セルフスパッタリングで生成された導体粒子は矢印のように基板1に向けて飛翔し、基板1の表面に付着して導体膜49を形成することができるものである。
【0094】
このようなセルフスパッタリング法では、チャンバー43内にプラズマ生成ガスを導入しない状態でスパッタリングを行なうことができるので、通常のスパッタリングよりもチャンバー43内を高真空にすることができる。例えば、チャンバー43内にプラズマを発生させる通常のスパッタリングでは、チャンバー43内にプラズマ生成ガスを導入してチャンバー43内は0.5Pa程度であるが、セルフスパッタリング法ではチャンバー43内を10-2〜10-4Pa程度の高真空にしてスパッタリングを行なうことができる。従って、ターゲット31から叩き出された導体粒子がチャンバー43内のプラズマのガス粒子などに衝突して散乱されることがなくなり、導体粒子が散乱して基板1の凹凸の側面に形成される段差側面部2に付着することを防止することができるものである。
【0095】
図24は請求項29の発明の実施の形態の一例を示すものであり、図22の場合と同様にチャンバー43内には基板1を保持した基板ホルダー45とターゲット31が配置してあり、さらに基板1とターゲット31の間にシャッター56が配置してある。基板1はその表面(凸部24や凹部39の平面部4)がターゲット31とほぼ平行になり、側面の段差側面部2がターゲット31とほぼ垂直になるように配置されるものである。
【0096】
そして図24(a)のようにシャッター56を閉じた状態で、まずチャンバー43内を減圧し、チャンバー43内にアルゴンガスなどのプラズマ生成ガスを導入して通しながら、ターゲット31とチャンバー43の間に電圧を印加すると、ターゲット31とシャッター56の間でプラズマPが発生する。このとき、プラズマ生成ガスのガス圧が低い状態では十分な電離が行なわれずプラズマPが発生し難いので、プラズマPを発生させる当初は0.5〜1Pa程度の高いガス圧でプラズマ生成ガスをチャンバー43に導入する。このように発生したプラズマP中のイオンがターゲット31に衝突することによって、ターゲット31から銅原子などの導体粒子が叩き出される。このときにはシャッター56でターゲット31と基板1の間を仕切っているので、ターゲット31から叩き出された導体粒子が基板1に付着することはない。次にこのスパッタリングが安定した状態で、チャンバー43内に導入するプラズマ生成ガスのガス圧を10-2〜10-1Pa程度の低いガス圧に低下させた後、図24(b)のようにシャッター56を開くと、スパッタリングで生成された導体粒子は矢印のように基板1に向けて飛翔し、基板1の表面に付着して導体膜49を形成することができるものである。
【0097】
このように低いガス圧のプラズマPでスパッタリングするので、ターゲット31から叩き出された導体粒子がチャンバー43内のガス粒子などに衝突して散乱されることを低減することができ、導体粒子が散乱して基板1の凹凸の側面に形成される段差側面部2に付着することを防止することができるものである。尚、上記の実施の形態では、プラズマPを発生させる当初は高いガス圧でプラズマ生成ガスをチャンバー43に導入し、高いガス圧によるトリガー作用でプラズマPが発生し易くなるようにしているが、これと併用して、あるいはこれに代えて、ターゲット31とシャッター56の間にスパッタリングの電源とは別に高電圧を発生する電極を設けたり、チャンバー43内に電子線(EB)発生器やフィラメントを設けて電子を放出させることによるトリガー作用で、プラズマPが発生し易くなるようにしてもよい。
【0098】
また請求項30の発明は、強磁場を発生させたマグネトロンスパッタリング法でターゲット31からスパッタリングした導体粒子を基板1の表面に付着させるようにしたものである。強磁場を発生させたマグネトロンスパッタリング法は、ターゲット31の裏側にその中心と外周部に沿って磁石を設置するようにしたものであり、電場と磁場からの力を受けて電子がN極とS極の間に捕捉されたまま、ターゲット31の直上を周回するような運動を行なうので、電子がプラズマ生成ガスと衝突する回数が増え、プラズマP中のイオンの量が増加し、10-2〜10-1Pa程度の低いガス圧でスパッタリングを行うことができる。従って、ターゲット31から叩き出された導体粒子が導入ガス粒子などに衝突して散乱されることを低減することができ、導体粒子が散乱して基板1の凹凸の側面に形成される段差側面部2に付着することを防止することができるものである。尚、マグネトロンスパッタリング法では磁石として一般にフェライト磁石が用いられるが、本実施の形態では磁石としてサマリウム系等の希土類磁石を用いて強磁場を発生させており、これによって、電子のトラップ性が向上し、低ガス圧下で安定したプラズマPを得ることができ、スパッタリングを安定して行なうことができるものである。
【0099】
図25は請求項31の発明の実施の形態の一例を示すものである。チャンバー43内には銅などの金属からなるターゲット31と基板ホルダー45が配置してあり、基板ホルダー45のターゲット31と対向する面には上記の基板1が保持してある。基板1はその表面(凸部24や凹部39の平面部4)がターゲット31とほぼ平行になり、側面の段差側面部2がターゲット31とほぼ垂直になるように配置されるものである。このターゲット31と基板ホルダー45の間にはRFなどの高周波電源が接続してあり、ターゲット31と基板ホルダー45の間に高周波電圧を印加するようにしてある。尚、図示はしていないが、前処理(表面改質)用にRF等の高周波電源やスパッタリング用のDC電源も接続されている。
【0100】
そして基板1とターゲット31の間には多孔板32が配置してある。多孔板32は基板1とターゲット31の方向に開口する多数の孔33を設けて図25(b)に示すようなコリメータ形状に形成されるものであり、この孔33は基板1とターゲット31に対して垂直な方向で連通している。
【0101】
そしてスパッタリング法で基板1の表面に導体を付着させるにあたっては、まずチャンバー43内を減圧し、チャンバー43内にアルゴンガスなどのプラズマ生成ガスを通しながら、ターゲット31と基板1の間に電圧を印加すると、ターゲット31と基板1の間でプラズマPが発生する。このプラズマP中のイオンがターゲット31に衝突することによって、ターゲット31から銅原子などの導体粒子57が叩き出され、この導体粒子57は基板1へ向かって飛翔する。ここで、図25(b)に示すように、飛翔する導体粒子57のうち、基板1に対して垂直な方向に飛翔しない導体粒子57は多孔板32の孔33を通過することができず、孔33の内周に付着し、基板1に対して垂直な方向に飛翔する導体粒子57のみが多孔板32の孔33を通過することができる。従って基板1に対して斜めの方向に飛翔する導体粒子57が基板1に到達することを防ぐことができ、導体粒子57が基板1の凹凸の側面に形成される段差側面部2に付着することを防止することができるものである。
【0102】
上記の多孔板32において、基板1に対して垂直な方向に飛翔する導体粒子57のみが孔33を通過するように、特に限定する趣旨ではないが、孔33の内径は0.1〜5mm、孔33の長さ(多孔板32の厚み)は10〜30mmの範囲に設定するのが好ましい。
【0103】
また、請求項32の発明では、上記の多孔板32として、表面(孔33の内周を含む)にブラスト処理などして粗面化したものを用いるようにしている。このように多孔板32の表面を粗面に形成することによって、多孔板32の孔33を通過することができない導体粒子57が多孔板32の表面に付着し易くなり、基板1の表面に対して斜めの方向に飛翔する導体粒子57を多孔板32で確実に捕捉して、基板1の凹凸の側面の段差側面部2に導体が付着することを確実に防ぐことができるものである。また多孔板32の表面が粗面であると、多孔板32に付着した導体の密着性が高くなり、多孔板32の表面から導体膜の剥がれをなくして、例えば剥がれた導体膜が装置の絶縁部分に落ちて悪影響を及ぼしたりするようなことを防ぐことができるものである。
【0104】
図26は請求項33の発明の実施の形態の一例を示すものであり、上記の各実施の形態のように、ターゲット31から導体粒子をスパッタリングして基板1の表面に付着させるにあたって、基板1を冷却するようにしたものである。図26の実施の形態では、基板ホルダー45を中空に形成して内部にジャケット部58を設け、ジャケット部58に流入口59と流出口60が接続してある。そして冷却水などの冷媒を流入口59からジャケット部58に供給すると共に流出口60から排出することによって、基板ホルダー45に保持した基板1をジャケット部58によって冷却するようにしてある。
【0105】
このように基板ホルダ−45を利用して基板1を冷却しながら、上記の各実施の形態のようにターゲット31から導体粒子をスパッタリングして基板1の表面に付着させるものである。ここで、基板1の表面に付着させた導体粒子の一部が再蒸発し、この蒸発した導体粒子が凹凸の側面の段差側面部2に付着するおそれがあるが、上記のように基板1を冷却することによって、基板1に付着した導体粒子のエネルギーを吸収して、導体粒子が再蒸発することを防ぐことができるものであり、導体粒子が基板1の凹凸の側面に形成される段差側面部2に付着することを防止することができるものである。
【0106】
図27は請求項34の発明の実施の形態の一例を示すものであり、まず図27(a)のように基板1の凹凸を有する表面に樹脂層34を形成する。この樹脂層34としては基板1の平面部4に付着して設ける回路部5の導体と密着性が悪いものを用いるものであり、例えばポリテトラフルオロエチレンなどを用いることができる。樹脂層34は湿式法で基板1の表面の全面に形成されるものであり、凹凸の側面の段差側面部2にも形成されている。次に図27(b)のように、酸素をプラズマ生成ガスとして用いて発生させたプラズマPによって、基板1の表面をエッチングする。プラズマPは基板1のうち、プラズマPの側を向く平面部4に主として作用し、側面の段差側面部2には作用し難いので、図27(b)に示すように基板1の表面に成膜された樹脂層34のうち、平面部4の樹脂層34はエッチング除去されるが、段差側面部2の樹脂層34は完全にはエッチングされずに残る。そしてこのように段差側面部2に樹脂層34を被覆した状態で、上記のようにPVD法で基板1の表面に導体を付着させ、図27(c)のように基板1の表面の平面部4に回路部5を形成するものである。このとき、段差側面部2の表面には導体との密着性が悪い樹脂層34が被覆されているので、PVDの際に段差側面部2に導体が付着しても、基板1の表面を高圧水洗等を行なうことによって、段差側面部2から導体は簡単に剥がれ、段差側面部2から導体を簡単に且つ確実に除去することができるものである。
【0107】
図27の実施の形態では、基板1の表面に成膜した樹脂層34をプラズマエッチングするようにしたが、請求項35の発明では、酸素イオンビームで基板1の表面の樹脂層34をエッチングするようにしている。酸素イオンビームBは低ガス圧下で基板1に照射することができ、図28に示すように直進性が高いので、基板1を平面部4が酸素イオンビームBの照射方向と垂直になるように配置することによって、酸素イオンビームBは平面部4に主として作用し、酸素イオンビームBの照射方向と平行な側面の段差側面部2には殆ど作用しないので、基板1の表面に成膜された樹脂層34のうち、平面部4の樹脂層34は完全にエッチング除去されるが、段差側面部2の樹脂層34は殆どエッチングされないで残すようにすることができるものである。また酸素イオンビームエッチングはプラズマエッチングよりも制御性にも優れるものである。
【0108】
図29は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、基板1を図21の実施の形態のように金属材29で作製するにあたって、基板1の表面の凹凸を放電加工により形成し、この放電加工の際に、凹凸の側面の段差側面部2にアンダーカット部25を形成するようにしてある。図29(a)の実施の形態では、凸部24の断面形状が逆台形になるように段差側面部2を傾斜面に加工することによって、段差側面部2の基部にアンダーカット部25を形成するようにしてあり、図29(b)の実施の形態では、凸部24の上部の両側面を突出させるように段差側面部2を加工することによって、段差側面部2の基部にアンダーカット部25を形成するようにしてある。この金属材29の表面に、図21の場合と同様に、電気絶縁性の絶縁層30を被覆して、基板1として用いることができるものである。そしてこのように段差側面部2の基部にアンダーカット部25を形成することによって、基板1の表面にPVD法で導体を付着させる際に、このアンダーカット部25の部分は陰になるので、飛翔する導体粒子がこの部分に到達して導体が付着することを防ぐことができるものである。
【0109】
請求項37の発明では、上記のように金属材29で基板1を作製するにあたって、段差側面部2にアンダーカット部25を加工した後に、金属材29の表面を絶縁層30で被覆するにあたって、化学蒸着法(CVD法)で絶縁層30の被覆を行なうようにしている。液状の塗料に金属材29をディッピングするなど、湿式工法で金属材29の表面に絶縁層30を付着させる場合、アンダーカット部25に塗料の液溜まり62が図30(b)のように発生し、アンダーカット部25が絶縁層30によって埋められてしまい、アンダーカット部25を設けることによって段差側面部2に導体が付着し難くする効果が低減される。そこで請求項37の発明では、CVD法で金属材29の表面を絶縁層30で被覆することによって、液溜まりなどが発生することを防止し、図30(a)のように金属材29の表面に絶縁層30を均一な厚みで付着させてアンダーカット部25が埋められないようにしたものである。CVD法としては、熱CVD、プラズマCVDなど任意の方法を採用することができる。
【0110】
図31は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、基板1を熱可塑性樹脂の成形品で製造するようにしたものである。そして図31(a)のように基板1の表面に形成した凹凸のうち凸部24の頂面をヒーター63で押圧して加熱・加圧することによって、凸部24の頂部を熱可塑性変形させ、図31(b)のように凸部24の頂部の両側に鍔部35を張り出させるようにしてある。このように凸部24の頂部の側面に鍔部35を張り出させることによって、鍔部35の下側において段差側面部2にアンダーカット部25を形成することができるものである。
【0111】
請求項39の発明では、基板1を樹脂成形品で作製するにあたって、LIGAプロセスで基板1の製造を行なうようにしてある。すなわち、LIGA(LIthographie Gavanoformung und Abformung:lithography gavanotorming and molding)は、リソグラフィ技術を用いた微細構造の金型を製造する技術であり、この金型を用いて基板1を製造するLIGAプロセスによって、凹部39のアスペクト比が高く、また各段の平面部4のピッチが狭い基板1を安価に大量に製造することが可能になり、回路の配置密度が高い立体回路板を得ることができるものである。
【0112】
【発明の効果】
上記のように本発明の請求項1に係る立体回路板は、基板の表面に段差側面部を介して複数の高さに層別される複数段の平面部を設け、段差側面部を導体が被覆されない非回路部として形成すると共に、平面部に物理蒸着法で導体を被覆して回路部を形成してあるので、段差側面部に形成される非回路部は基板の表面において面方向において面積として表われないものであり、基板の全面を利用して回路部を形成することが可能になり、回路配置密度が高い立体回路板を形成することができるものである。
また請求項1の発明は、基板の表面の凹凸の凸部の頂面に平面部を形成すると共に凸部の側面に段差側面部を形成し、凸部の側面にアンダーカット部を形成するようにしたので、基板にPVD法で導体を付着させるにあたって、アンダーカット部の部分は陰になって導体が付着することを防ぐことができ、段差側面部への導体の付着で回路部間の絶縁不良が発生することを防止することができるものである。
【0113】
また請求項2の発明は、請求項1において、平面部を高さが異なる3段以上に形成したので、回路部を多段に配置することができて、回路のパターンニングの自由度を向上することができるものである。
【0114】
また請求項3の発明は、請求項1又は2において、複数段の平面部のうち一部の平面部を導体が被覆されない非回路部として形成してあるので、段差側面部と共に平面部においても非回路部を形成することができ、回路部間の絶縁距離を大きくして絶縁性を高く得ることができるものである。
【0115】
また請求項4の発明は、請求項1乃至3のいずれかにおいて、基板の表面に高さの異なる平面部間を連絡する傾斜面を設け、傾斜面に導体を被覆して高さの異なる平面部の回路部を電気的に接続する接続回路部を形成してあるので、高さの異なる平面部の回路部を接続することができ、自由度の高い立体配線をすることができるものである。
【0116】
また請求項5の発明は、請求項1乃至4のいずれかにおいて、端部同士が対向する平面部の端部間に、これらの平面部より低い平面部を配置し、上記端部同士が対向する平面部に形成した回路部の端部間を電気的に接続するようにしたので、高さの異なる回路部を立体的に交差させて配線することができ、自由度の高い立体配線をすることができるものである。
【0117】
また請求項6の発明は、請求項5において、接続用部材によって、上記端部同士が対向する平面部に形成した回路部の端部間を電気的に接続するようにしたので、無理な回路の引き回しなどの必要なく、接続用部材を用いて回路部の端部間の接続を行なうことができるものである。
【0118】
また請求項7の発明は、請求項6において、接続用部材として、ワイヤーとジャンパー部品の少なくとも一方を用いるようにしたので、ワイヤーボンダーやジャンパー部品実装装置などを用いて、自動化工程で接続を行なうことが可能になるものである。
【0119】
また請求項8の発明は、請求項6において、上記端部同士が対向する平面部の各端部を基板の表面側へ下り傾斜する端部傾斜面として形成すると共に端部傾斜面に導体を被覆して平面部の回路部と電気的に接続された端部回路部を形成し、接続用部材として、両端面にこの各端部傾斜面と平行に傾斜する接合用傾斜面を設けると共に各接合用傾斜面及び表面に導通用回路部を形成したものを用い、上記端部同士が対向する平面部の端部間に接続用部材を配置すると共に端部傾斜面の端部回路部と接合用傾斜面の導通用回路部を接合させるようにしたので、端部傾斜面の端部回路部と接合用傾斜面の導通用回路部を面同士で接合した状態で、接続用部材によって回路路間の接続を行なうことができるものであり、接続信頼性を高く得ることができるものである。
【0120】
また請求項9の発明は、請求項6において、上記端部同士が対向する平面部の端部間に配置される高さの低い平面部を電気絶縁性の被覆材で被覆し、接続用部材として導電材料を用いると共に被覆材の表面に導電材料を設けることによって、上記端部同士が対向する平面部に形成した回路部の端部間を電気的に接続するようにしたので、接続用部材として接着性接着剤や半田などの安価なものを用いることができ、コスト安価に回路部の接続を行なうことができるものである。
【0121】
また請求項10の発明は、請求項1乃至4のいずれかにおいて、端部同士を対向させた平面部の端部間に、これらの平面部より低い平面部を配置し、上記端部同士を対向させた平面部に形成した回路部の各端部を電子部品実装端子部として、この端部同士を対向させた平面部の端部上に配置される電子部品を実装するようにしたので、回路部と電子部品を立体的に配置することができ、回路の配置密度を高くすることができるものである。
【0122】
また請求項11の発明は、請求項10において、上記電子部品実装端子部が形成された平面部より低い平面部の回路部に、他の電子部品実装端子部を形成し、上記実装された電子部品の下方に他の電子部品が重なるように、他の電子部品実装端子部に他の電子部品を実装するようにしたので、他の機構や部品を特に必要とせずに、立体回路の構造を利用して、異なる高さの平面部の回路部にそれぞれ電子部品実装端子部を設けるだけで、電子部品を上下に重ねた立体的な実装が簡単に行なえるものであり、実装の高密度化が容易となるとともに、実装端子部への回路配線の自由度が向上して回路配線のスペース削減の効果にもつながり、この立体回路板を用いた電子機器のより一層の小型化が低コストで実現できるものである。
【0123】
また請求項12の発明は、請求項1乃至11のいずれかにおいて、基板に基板の表裏に貫通するスルーホールを形成し、基板の表面側の平面部に形成した回路部と電気的に接続されるスルーホール回路部をスルーホールの内周に設け、基板の裏面に形成した裏面回路部とスルーホール回路部とを電気的に接続してあるので、基板の表面の回路部を基板の裏面の裏面回路部と接続することができ、基板の裏面回路部を介して基板の表面の回路部間の接続をすることが可能になるものである。
【0124】
また請求項13の発明は、請求項12において、回路部を形成した平面部の端部と、スルーホールを形成した基板の表面との間に、つづら折り状あるいは螺旋状に傾斜する屈曲傾斜面を形成し、回路部とスルーホール回路部とを電気的に接続する連絡用回路部を屈曲傾斜面に形成するようにしたので、回路部を形成した平面部とスルーホールとの間に高低差があっても、回路部とスルーホールの位置を接近して設けることができ、高密度な配置で配線することが容易になるものである。
【0125】
また請求項14の発明は、請求項12又は13において、スルーホール回路部と裏面回路部との接続部分に導電ペーストを塗布するようにしたので、スルーホール回路部と裏面回路部の間に隙間があっても導電ペーストで埋めて電気的な接続を確保することができ、導通不良が発生することを防ぐことができるものである。
【0126】
また請求項15の発明は、請求項1乃至14のいずれかにおいて、複数段の各平面部をメッキ用傾斜面を介してこれらの平面部より少なくとも高い段の平面部に連絡させ、この高い平面部及びメッキ用傾斜面に、上記の複数段の平面部に電気メッキをする際に通電を行なうためのメッキ通電用回路部を形成したので、メッキ通電用回路部への電源の接続で独立した各平面部の導体膜に一括して通電して、電気メッキを容易に行なうことができるものであり、しかもメッキ用の電源の接続は最も高い平面部のメッキ通電用回路部に行なうことができ、通電治具の接続が容易になるものである。
【0127】
また請求項16の発明は、請求項15において、メッキ通電用回路部は、電気メッキの後にエッチングして除去されるようにしてあるので、基板を研削等してメッキ通電用回路部を除去する場合に比べて、下地の基板にダメージを与えるようなことなく、メッキ通電用回路部の除去を行なうことができるものである。
また請求項17の発明は、請求項15において、基板のうちメッキ通電用回路部のより高い段の平面部に設けた部分は、電気メッキの後に研磨や切削などにより、少なくとも基板の一部とともに切除されるようにしたので、より低い位置の基板を研削等してメッキ通電用回路部を除去する場合に比べて、下地の基板にダメージを与えるようなことなく、メッキ通電用回路部の除去を簡単に行なうことができるものである。
【0128】
また請求項18の発明は、請求項1乃至17のいずれかにおいて、複数段の平面部のうち、高さの低い平面部に形成した回路部を電気絶縁性の被覆材で被覆すると共に高さの高い平面部に形成した回路部をこの被覆材の表面に露出させるようにしたので、部品実装や検査等に必要な回路部のみを露出させて、他の回路部は被覆材で保護することができ、回路の信頼性を向上させることができるものである。
【0129】
また請求項19の発明は、請求項1乃至18のいずれかにおいて、基板の表面の凹凸の凸部の頂面に平面部を形成し、凸部の頂面の角部をテーパ面あるいはアール面に形成したので、導体膜を被覆した後に電気メッキをして厚付けするにあたって、電気メッキを行なう際に平面部の角部の部分において電界集中が起こることを防止することができ、メッキの膜厚が部分的に厚くなって隣接する回路部との間で短絡が発生することを防ぐことができるものである。
【0131】
また請求項20の発明は、請求項1乃至19のいずれかにおいて、平面部にバンプ用凸部を突設し、バンプ用凸部に導体を被覆して電子部品実装用のバンプ端子を形成するようにしたので、このバンプ端子によって電子部品を実装することができるものである。
【0132】
また請求項21の発明は、請求項1乃至20のいずれかにおいて、段差側面部の表面を粗面に形成したので、段差側面部に形成される粗面の微細な凹凸において、微細な凹は微細な凸の陰になって、基板の表面にPVD法で導体を付着させる際に、導体が付着することを防ぐことができ、段差側面部への導体の付着で回路部間の絶縁不良が発生することを防止することができるものである。
【0133】
また請求項22の発明は、請求項1乃至21のいずれかにおいて、基板の表面に物理蒸着法で導体を付着させることによって、導体が付着し難い段差側面部に非回路部を形成すると共に、導体が付着し易い平面部に回路部を形成するようにしたので、基板の表面に形成した平面部の形状に沿って回路部を形成することができ、レーザー照射などの必要なく、回路のパターンニングを容易に行なうことができるものである。
【0134】
また請求項23の発明は、請求項22において、段差側面部に付着した導体をエッチング除去するようにしたので、段差側面部に付着した導体によって回路部間の絶縁不良が発生することを防止することができるものである。
【0135】
また請求項24の発明は、請求項1乃至23のいずれかにおいて、基板は、樹脂又はセラミックス材料を成形して形成されたものであるので、基板の表面に任意の凹凸を設けた立体形状に容易に形成することができ、また基板をコスト安価に形成することができるものである。
【0136】
また請求項25の発明は、請求項1乃至23のいずれかにおいて、基板は、金属材の表面に絶縁層をコーティングして形成されたものであるので、金属材で基板を形成することができ、金属材によって放熱効果や電気的シールド効果を得ることができると共に、強度の高い基板を得ることができるものである。
【0137】
また請求項26の発明は、請求項1乃至25のいずれかに記載の立体回路板を製造するにあたって、基板の表面に段差側面部を介して複数の高さに層別される複数段の平面部を設け、基板の表面に物理蒸着法で導体を付着させた後、段差側面部に付着した導体をエッチング除去することによって、段差側面部に導体が被覆されない非回路部を形成すると共に、導体が被覆された平面部に回路部を形成するようにしたので、基板の表面に形成した平面部の形状に沿って回路部を形成することができ、レーザー照射などの必要なく、回路のパターンニングを容易に行なうことができるものである。
【0138】
また請求項27の発明は、請求項26において、イオンビームスパッタリング法でターゲットから導体粒子をスパッタリングして基板の表面に付着させるようにしたので、イオンビームスパッタリング法では高真空雰囲気でスパッタリングを行なうことができるものであり、導体粒子がガス粒子などに衝突して散乱されることを低減することができ、導体粒子が散乱して基板の段差側面部に付着することを防止することができるものである。
【0139】
また請求項28の発明は、請求項26において、ターゲットからスパッタリングされた導体粒子によってこのターゲットをスパッタリングするセルフスパッタリング法で、ターゲットからスパッタリングされた導体粒子を基板の表面に付着させるようにしたので、セルフスパッタリング法では高真空雰囲気でスパッタリングを行なうことができるものであり、導体粒子がガス粒子などに衝突して散乱されることを低減することができ、導体粒子が散乱して基板の段差側面部に付着することを防止することができるものである。
【0140】
また請求項29の発明は、請求項26において、プラズマ生成ガスの雰囲気下でプラズマを発生させてスパッタリングを開始し、プラズマが発生した後にプラズマ生成ガスのガス圧を低くした状態で、ターゲットからスパッタリングされた導体粒子を基板の表面に付着させるようにしたので、導体粒子がガス粒子などに衝突して散乱されることを低減することができ、導体粒子が散乱して基板の段差面に付着することを防止することができるものである。
【0141】
また請求項30の発明は、請求項26において、強磁場を発生させたマグネトロンスパッタリング法でターゲットからスパッタリングされた導体粒子を基板の表面に付着させるようにしたので、強磁場を発生させたマグネトロンスパッタリング法では低いガス圧でスパッタリングを行なうことができるものであり、導体粒子がガス粒子などに衝突して散乱されることを低減することができ、導体粒子が散乱して基板の段差側面部に付着することを防止することができるものである。
【0142】
また請求項31の発明は、請求項26において、ターゲットから導体粒子をスパッタリングして立体基板の表面に付着させるにあたって、ターゲットと基板の間に、ターゲットと基板の方向に開口する多数の孔を有する多孔板を配置し、ターゲットから叩き出された導体粒子を多孔板の孔を通して基板に飛翔させて付着させるようにしたので、基板に対して垂直な方向に飛翔しない導体粒子は多孔板の孔を通過することができず、基板に対して垂直な方向に飛翔する導体粒子のみが多孔板の孔を通過するようにすることができ、基板に対して斜めの方向に飛翔する導体粒子が基板に付着することを防いで、導体粒子が基板の段差側面部に付着することを防止することができるものである。
【0143】
また請求項32の発明は、請求項31において、表面を粗化した多孔板を用いる用いるようにしたので、多孔板の孔を通過することができない導体粒子が多孔板の表面に付着し易くなり、基板に対して斜めの方向に飛翔する導体粒子を多孔板で確実に捕捉して、基板の凹凸の側面に導体が付着することを確実に防ぐことができるものである。
【0144】
また請求項33の発明は、請求項26乃至32のいずれかにおいて、ターゲットから導体粒子をスパッタリングして基板の表面に付着させるにあたって、基板を冷却するようにしたので、基板に付着した導体粒子のエネルギーを冷却によって吸収し、導体粒子が再蒸発することを防ぐことができるものであり、蒸発した導体粒子が基板の段差面に付着することを防止することができるものである。
【0145】
また請求項34の発明は、請求項26乃至33のいずれかにおいて、基板の表面に導体との密着性が悪い樹脂層を設け、これをプラズマエッチングして平面部の樹脂層を除去した後、基板の表面に物理蒸着法で導体を付着させるようにしたので、物理蒸着法で基板の表面に導体が付着させる際に段差側面部に導体が付着しても、樹脂層が被覆されている段差側面部から導体を簡単に剥がすことができ、段差側面部から導体を簡単に且つ確実に除去することができるものである。
【0146】
また請求項35の発明は、請求項26乃至33のいずれかにおいて、基板の表面に導体との密着性が悪い樹脂層を設け、これを酸素イオンビームエッチングして平面部の樹脂層を除去した後、基板の表面に物理蒸着法で導体を付着させるようにしたので、酸素イオンビームは直進性が高く、基板の表面に被覆された樹脂層のうち、平面部の樹脂層は完全にエッチング除去できると共に、段差側面部の樹脂層は殆どエッチングされないで残すようにすることができるものである。
【0147】
また請求項36の発明は、請求項26乃至35のいずれかにおいて、金属材を放電加工して表面に凹凸を形成すると共に凸部の側面にアンダーカット部を形成し、この金属材の表面を絶縁層で被覆して作製した基板を用いるようにしたので、段差側面部にアンダーカット部を形成する加工を容易に行なうことができるものである。
【0148】
また請求項37の発明は、請求項36において、金属材の表面に化学蒸着法で絶縁層を形成するようにしたので、アンダーカット部が埋められないよういに絶縁層を形成することができるものである。
【0149】
また請求項38の発明は、請求項26乃至35のいずれかにおいて、樹脂製の基板に設けられる凸部の頂部を加熱加圧することによって、凸部の頂部の側面に鍔部を張り出させると共にその下側にアンダーカット部を形成するようにしたので、段差側面部にアンダーカット部を形成する加工を容易に行なうことができるものである。
【0150】
また請求項39の発明は、樹脂成形品で表面に凹凸を有する基板を製造するにあたって、LIGAプロセスで基板の製造を行なうようにしたので、各段の平面部のピッチが狭い基板を安価に大量に製造することが可能になり、回路の配置密度が高い立体回路板を得ることができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図2】PVD法による導体の形成を示すものであり、(a),(b),(c)はそれぞれ概略図である。
【図3】(a)は段差被覆率を説明する正面図、(b)は凹部のアスペクト比を説明する正面図である。
【図4】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図5】本発明の実施の形態の一例を示す正面図である。
【図6】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図7】本発明の実施の形態の一例を示す斜視図である。
【図8】本発明の実施の形態の一例を示す正面図である。
【図9】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図10】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a)は斜視図、(b)は正面図である。
【図11】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a)は斜視図、(b)は断面図である。
【図12】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a)は斜視図、(b)は断面図、(c)は一部の斜視図である。
【図13】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ断面図である。
【図14】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ斜視図である。
【図15】本発明の実施の形態の一例を示す斜視図である。
【図16】本発明の実施の形態の一例を示す断面図である。
【図17】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a)〜(d)はそれぞれ正面図である。
【図18】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図19】本発明の実施の形態の一例を示す正面図である。
【図20】本発明の実施の形態の一例を示す正面図である。
【図21】本発明の実施の形態の一例を示す正面図である。
【図22】本発明の実施の形態の一例を示す概略図である。
【図23】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ概略図である。
【図24】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ概略図である。
【図25】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ概略図である。
【図26】本発明の実施の形態の一例を示す概略図である。
【図27】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a)〜(c)はそれぞれ正面図である。
【図28】本発明の実施の形態の一例を示す正面図である。
【図29】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図30】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図31】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【図32】従来の導体回路の形成を示すものであり、(a)乃至(e)はそれぞれ斜視図である。
【図33】従来の立体基板への導体回路の形成の一工程を示す一部破断した斜視図である。
【図34】従来の問題を示す正面図である。
【図35】他の従来例を示すものであり、(a),(b)はそれぞれ正面図である。
【符号の説明】
1 基板
2 段差側面部
3 非回路部
4 平面部
5 回路部
6 傾斜面
7 接続回路部
8 接続用部材
9 端部傾斜面
10 端部回路部
11 接合用傾斜面
12 導通用回路部
13 被覆材
14 電子部品実装端子部
15 電子部品
16 スルーホール
17 スルーホール回路部
18 裏面回路部
19 屈曲傾斜面
20 連絡用回路部
21 導電ペースト
22 メッキ用傾斜面
23 メッキ通電用回路部
24 凸部
25 アンダーカット部
26 バンプ用凸部
27 バンプ端子
28 粗面
29 金属材
30 絶縁層
31 ターゲット
32 多孔板
33 孔
34 樹脂層
35 鍔部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a three-dimensional circuit board formed by three-dimensionally providing a circuit on a surface of a substrate and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
In forming the
[0003]
Although FIG. 32 explained the
[0004]
Here, the above method is a method provided by Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 7-66532 and 7-66533. After the
[0005]
On the other hand, JP 2000-216504 A and JP 2000-216505 A provide a method of forming the
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in the methods provided in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-216504 and Japanese Patent Laid-Open No. 2000-216505, a laser is applied by attaching a conductor by the PVD method using the
[0007]
However, the
[0008]
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a three-dimensional circuit board capable of increasing the circuit arrangement density and a method for manufacturing the same.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The three-dimensional circuit board according to
According to the first aspect of the present invention, the
[0010]
The invention of
[0011]
The invention of
[0012]
According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects, the
[0013]
Further, the invention of
[0014]
According to a sixth aspect of the present invention, in the fifth aspect, the connecting
[0015]
The invention of
[0016]
According to an eighth aspect of the present invention, in the sixth aspect, each end portion of the
[0017]
Further, the invention of
[0018]
According to a tenth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, the
[0019]
The invention of
[0020]
According to a twelfth aspect of the present invention, in any one of the first to eleventh aspects, the through
[0021]
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the twelfth aspect, between the end of the
[0022]
The invention of
[0023]
According to a fifteenth aspect of the present invention, in any one of the first to fourteenth aspects, the plurality of
[0024]
The invention of
[0025]
According to a seventeenth aspect of the present invention, in the fifteenth aspect, the portion of the
[0026]
According to an eighteenth aspect of the present invention, in any one of the first to seventeenth aspects, the
[0027]
According to a nineteenth aspect of the present invention, in any one of the first to eighteenth aspects, the
[0029]
And claims20The invention of
[0030]
And claims21The invention of
[0031]
And claims22The invention of
And claims23The invention of claim22The conductor attached to the
[0032]
And claims24The invention of
[0033]
And claims25The invention of
[0034]
Claims related to the present invention26The manufacturing method of the three-dimensional circuit board of claim25When manufacturing the three-dimensional circuit board according to any one of the above, the surface of the
[0035]
And claims27The invention of claim26In the method, the conductive particles are sputtered from the
[0036]
And claims28The invention of claim261, the conductive particles sputtered from the
[0037]
And claims29The invention of claim26In the method, sputtering is started by generating plasma in the atmosphere of the plasma generating gas, and the conductive particles sputtered from the
[0038]
And claims30The invention of claim261, the conductive particles sputtered from the
[0039]
And claims31The invention of claim26In order to deposit the conductive particles from the
[0040]
And claims32The invention of claim31In this embodiment, a
[0041]
And claims33The invention of claim26Thru32In any of the above, the
[0042]
And claims34The invention of claim26Thru33In any of the above, a
[0043]
And claims35The invention of claim26Thru33In any of the above, a
[0044]
And claims36The invention of claim26Thru35In any of the above, the
[0045]
And claims37The invention of
[0046]
And claims38The invention of claim26Thru35In any of the above, by heating and pressurizing the top portion of the
[0047]
And claims39The invention of claim26Thru35In any of the above, in manufacturing the
[0048]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below.
[0049]
The
[0050]
A circuit is formed by attaching a conductor to the surface of the
[0051]
FIG. 2A shows an example of a method of attaching a conductor to the surface of the
[0052]
Here, if the inside of the
[0053]
FIG. 2B shows an example of a method of attaching a conductor to the surface of the
[0054]
Here, of the surface of the
[0055]
FIG. 2C shows an example of a method of attaching a conductor to the surface of the
[0056]
Here, of the surface of the
[0057]
By attaching a conductor to the surface of the
Step coverage = film thickness s at the side surface of the step / film thickness t of the conductor at the top of the convex portion
Then, the PVD method described above is a film forming method with a small step coverage and uses this. Further, when the
Coverage ratio of bottom surface = film thickness u of the conductor at the bottom of the concave / film thickness t of the conductor at the top of the convex
In order to increase the bottom surface coverage, it is preferable to reduce the aspect ratio = h / w of the
[0058]
Here, in the PVD method, it is difficult for the conductor to adhere to the
[0059]
In the three-dimensional circuit board manufactured in this way, as shown in FIG. 1 (b), it is formed on each of the
[0060]
FIG. 5 shows another example of the embodiment of the present invention. By forming the convex /
[0061]
FIG. 6 shows another example of the embodiment of the present invention. In forming the
[0062]
FIG. 7 shows another example of the embodiment of the present invention. A plurality of
[0063]
When connecting the
[0064]
When the two
[0065]
Here, in electrically connecting the
[0066]
FIG. 8 shows another embodiment of the connecting
[0067]
In this way, the
[0068]
FIG. 9 shows another embodiment of the
[0069]
FIG. 10 shows another example of the embodiment of the present invention, in which a plurality of pairs of
[0070]
Further, in addition to the
[0071]
As described above, the electronic component mounting
[0072]
FIG. 11 shows an example of still another embodiment of the present invention. A
[0073]
FIG. 12 shows an example of still another embodiment of the present invention. In the embodiment of FIG.Board 1When connecting the
[0074]
Therefore, in the embodiment shown in FIGS. 12A and 12B, the bending slope that inclines in a zigzag manner between the
[0075]
FIG. 13 shows an example of still another embodiment of the present invention. After electrically connecting the through-
[0076]
FIG. 14 shows an example of still another embodiment of the present invention. A plurality of
[0077]
When the process of adhering the
[0078]
After the electroplating as described above, as shown in FIG. 14B, the plating
[0079]
In the embodiment of FIG. 15, after electroplating as described above to form the
[0080]
FIG. 16 shows another example of the embodiment of the present invention, and the
[0081]
FIG. 17 shows another example of the embodiment of the present invention. When the
[0082]
Therefore, in the embodiment of FIG. 17A, the corner of the top surface of the
[0083]
FIG. 18 shows another example of the embodiment of the present invention. As described above, when the conductor is attached to the surface of the
[0084]
FIG. 19 shows another example of the embodiment of the present invention. A bump
[0085]
FIG. 20 shows another example of the embodiment of the present invention. The surface of the
[0086]
In each of the above-described embodiments, as the
[0087]
Further, the
[0088]
Next, when the conductor is attached to the surface of the
[0089]
FIG. 22 shows an example of an embodiment of the invention of
[0090]
Then, after reducing the pressure in the
[0091]
In such an ion beam sputtering method, since the generation of ions and the sputtering are performed at different places, the inside of the
[0092]
FIG. 23 shows an example of an embodiment of the invention of claim 28. Similar to the case of FIG. 22, a
[0093]
That is, with the
[0094]
In such a self-sputtering method, sputtering can be performed without introducing a plasma generating gas into the
[0095]
FIG. 24 shows an example of an embodiment of the invention of
[0096]
Then, with the
[0097]
Since sputtering is performed with the plasma P having such a low gas pressure, it is possible to reduce the scattering of the conductor particles hit from the
[0098]
The invention of
[0099]
FIG. 25 shows an example of the embodiment of the invention of
[0100]
A
[0101]
When depositing a conductor on the surface of the
[0102]
In the
[0103]
In the thirty-second aspect of the present invention, the surface of the porous plate 32 (including the inner periphery of the hole 33) is roughened by blasting or the like. Thus, by forming the surface of the
[0104]
FIG. 26 shows an example of an embodiment of the invention of
[0105]
In this way, while cooling the
[0106]
FIG. 27 shows an example of an embodiment of the invention of
[0107]
In the embodiment of FIG. 27, the
[0108]
FIG. 29 shows another example of the embodiment of the present invention. When the
[0109]
In the invention of
[0110]
FIG. 31 shows another example of the embodiment of the present invention, in which the
[0111]
According to the thirty-ninth aspect of the present invention, the
[0112]
【The invention's effect】
As described above, in the three-dimensional circuit board according to the first aspect of the present invention, the surface of the substrate is provided with a plurality of flat portions that are divided into a plurality of heights via the step side portions, and the step side portions are provided with conductors. As a non-circuit part that is not covered,By physical vapor depositionSince the circuit portion is formed by covering the conductor, the non-circuit portion formed on the side surface of the step is not represented as an area in the surface direction on the surface of the substrate. It is possible to form a three-dimensional circuit board having a high circuit arrangement density.
Further, the invention of
[0113]
The invention of
[0114]
Further, the invention of
[0115]
According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects, the surface of the substrate is provided with an inclined surface that communicates between the flat portions having different heights, and the inclined surface is covered with a conductor to provide a plane having different heights. Since the connection circuit part that electrically connects the circuit parts of the part is formed, the circuit part of the planar part having a different height can be connected, and a three-dimensional wiring with a high degree of freedom can be achieved. .
[0116]
According to a fifth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, a flat portion lower than these flat portions is disposed between the end portions of the flat portions facing each other, and the end portions are opposed to each other. Since the end portions of the circuit portions formed on the plane portion to be electrically connected are electrically connected, the circuit portions having different heights can be wired to cross three-dimensionally, and a three-dimensional wiring with a high degree of freedom is provided. It is something that can be done.
[0117]
Further, the invention of
[0118]
Further, in the invention of
[0119]
According to an eighth aspect of the present invention, in the sixth aspect, each end portion of the flat portion where the end portions face each other is formed as an end inclined surface that is inclined downward toward the surface of the substrate, and a conductor is provided on the end inclined surface. An end circuit portion that is covered and electrically connected to the circuit portion of the flat portion is formed, and a connecting inclined surface that is inclined in parallel to each of the end inclined surfaces is provided on each end surface as a connecting member. A connecting inclined surface and a conductive circuit portion formed on the surface are used, and a connecting member is disposed between the end portions of the flat portion where the end portions face each other, and the end circuit portion of the end inclined surface is contacted.TogetherSince the conductive circuit portion of the inclined surface for joining is joined, it is connected to the end circuit portion of the inclined portion of the end portion.TogetherIn the state where the conductive circuit portions of the inclined surfaces are joined to each other, the connection between the circuit paths can be performed by the connection member, and the connection reliability can be increased.
[0120]
A ninth aspect of the present invention is the connection member according to the sixth aspect, wherein the planar portion having a low height disposed between the end portions of the planar portions facing each other is covered with an electrically insulating coating material. Since the conductive material is used and the conductive material is provided on the surface of the covering material, the end portions of the circuit portions formed on the planar portions facing each other are electrically connected. As such, an inexpensive adhesive such as an adhesive or solder can be used, and the circuit portion can be connected at a low cost.
[0121]
According to a tenth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, a flat portion lower than these flat portions is disposed between the end portions of the flat portions which are opposed to each other, and the end portions are connected to each other. Since each end part of the circuit part formed on the opposed flat part is used as an electronic component mounting terminal part, the electronic parts arranged on the end part of the flat part opposed to each other are mounted. The circuit portion and the electronic component can be three-dimensionally arranged, and the circuit arrangement density can be increased.
[0122]
An eleventh aspect of the present invention is the electronic device according to the tenth aspect, in which another electronic component mounting terminal portion is formed on a circuit portion of a flat portion lower than the flat portion where the electronic component mounting terminal portion is formed, and the mounted electronic component is mounted. Since other electronic components are mounted on other electronic component mounting terminals so that other electronic components overlap below the components, the structure of the three-dimensional circuit can be improved without requiring any other mechanism or component. By simply using the electronic component mounting terminal sections on the circuit sections of the flat sections at different heights, the three-dimensional mounting can be easily performed by stacking the electronic components on top of each other. In addition, the degree of freedom of circuit wiring to the mounting terminal section is improved, leading to an effect of reducing the space for circuit wiring, and further downsizing of electronic devices using this three-dimensional circuit board is possible at low cost. It can be realized.
[0123]
According to a twelfth aspect of the present invention, in any one of the first to eleventh aspects, a through-hole penetrating the front and back sides of the substrate is formed in the substrate and electrically connected to the circuit portion formed in the flat portion on the surface side of the substrate. The through-hole circuit portion is provided on the inner periphery of the through-hole, and the back-side circuit portion formed on the back surface of the substrate is electrically connected to the through-hole circuit portion. The circuit can be connected to the back circuit part, and the circuit parts on the surface of the substrate can be connected via the back circuit part of the substrate.
[0124]
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the twelfth aspect, there is provided a bent inclined surface inclined in a zigzag shape or a spiral shape between the end portion of the flat surface portion on which the circuit portion is formed and the surface of the substrate on which the through hole is formed. Since the connecting circuit portion that electrically connects the circuit portion and the through-hole circuit portion is formed on the bent inclined surface, there is a difference in height between the flat portion on which the circuit portion is formed and the through-hole. Even if it exists, the position of a circuit part and a through hole can be provided close, and it becomes easy to wire by a high-density arrangement.
[0125]
In the fourteenth aspect of the present invention, since the conductive paste is applied to the connecting portion between the through-hole circuit portion and the back surface circuit portion in the twelfth or thirteenth aspect, there is a gap between the through-hole circuit portion and the back surface circuit portion. Even if there is, it is possible to ensure electrical connection by being filled with a conductive paste, and to prevent the occurrence of poor conduction.
[0126]
According to a fifteenth aspect of the present invention, in any one of the first to fourteenth aspects, each of the plurality of flat portions is connected to a flat portion of at least a step higher than these flat portions through the inclined surface for plating, and the high flat surface. Since the plating energization circuit unit for energizing the plate and the inclined surface for plating when performing electroplating on the above-described multi-level flat part is formed, the power supply to the plating energization circuit unit is independent. It is possible to easily conduct electroplating by energizing the conductor film of each flat part at once, and the power supply for plating can be connected to the circuit part for plating energization of the highest flat part. The connection of the energizing jig is facilitated.
[0127]
Further, the invention of
The invention according to
[0128]
According to an eighteenth aspect of the present invention, in any one of the first to seventeenth aspects, a circuit portion formed on a flat surface portion having a low height among the plurality of flat surface portions is covered with an electrically insulating coating material and has a height. Since the circuit part formed on the flat part with high height is exposed on the surface of this covering material, only the circuit part necessary for component mounting and inspection is exposed, and other circuit parts are protected with the covering material. Thus, the reliability of the circuit can be improved.
[0129]
According to a nineteenth aspect of the present invention, in any one of the first to eighteenth aspects, a flat portion is formed on the top surface of the convex and concave portions on the surface of the substrate, and a corner portion of the top surface of the convex portion is a tapered surface or a rounded surface. In the case of thickening by electroplating after covering the conductor film, it is possible to prevent electric field concentration from occurring in the corner portion of the flat portion when performing electroplating. It is possible to prevent the occurrence of a short circuit between adjacent circuit portions due to a partial increase in thickness.
[0131]
And claims20The invention of
[0132]
And claims21The invention of
[0133]
And claims22The invention of
[0134]
And claims23The invention of claim22Since the conductor attached to the step side portion is removed by etching, it is possible to prevent an insulation failure between the circuit portions due to the conductor attached to the step side portion.
[0135]
And claims24The invention of
[0136]
And claims25The invention of
[0137]
And claims26The invention of
[0138]
And claims27The invention of claim26In the above, the conductive particles are sputtered from the target by the ion beam sputtering method and adhered to the surface of the substrate. Therefore, the ion beam sputtering method can perform sputtering in a high vacuum atmosphere, and the conductive particles are gas particles. It can be reduced that the conductive particles are scattered and scattered, and the conductive particles can be prevented from scattering and adhering to the step side surface portion of the substrate.
[0139]
And claims28The invention of claim26In this method, the conductive particles sputtered from the target are adhered to the surface of the substrate by the self-sputtering method in which the target is sputtered by the conductive particles sputtered from the target. Therefore, in the self-sputtering method, sputtering is performed in a high vacuum atmosphere. It is possible to reduce the scattering of conductor particles that collide with gas particles, etc., and to prevent the conductor particles from scattering and adhering to the step side surface of the substrate. It is.
[0140]
And claims29The invention of claim26, Plasma is generated under the atmosphere of the plasma generation gas, and sputtering is started. After the plasma is generated, the conductive particles sputtered from the target are attached to the surface of the substrate in a state where the gas pressure of the plasma generation gas is lowered. Since it did in this way, it can reduce that a conductor particle collides with a gas particle etc. and is scattered, and can prevent that a conductor particle is scattered and adheres to the level | step difference surface of a board | substrate.
[0141]
And claims30The invention of claim26In the magnetron sputtering method in which a strong magnetic field is generated, the conductor particles sputtered from the target are attached to the surface of the substrate. Therefore, in the magnetron sputtering method in which a strong magnetic field is generated, sputtering can be performed at a low gas pressure. It is possible to reduce the scattering of the conductor particles by colliding with the gas particles, etc., and to prevent the conductor particles from scattering and adhering to the step side surface portion of the substrate. .
[0142]
And claims31The invention of claim26In order to deposit the conductive particles from the target on the surface of the three-dimensional substrate, a perforated plate having a large number of holes opened in the direction of the target and the substrate is disposed between the target and the substrate, and the target is knocked out of the target. The conductive particles that are not flying in the direction perpendicular to the substrate cannot pass through the holes of the porous plate and are attached to the substrate. Only the conductive particles flying in the vertical direction can pass through the holes of the perforated plate, preventing the conductive particles flying in the direction oblique to the substrate from adhering to the substrate, and the conductive particles are Can be prevented from adhering to the side surface of the step.
[0143]
And claims32The invention of claim31In this example, a porous plate having a roughened surface is used, so that conductive particles that cannot pass through the holes of the porous plate are likely to adhere to the surface of the porous plate and fly in an oblique direction with respect to the substrate. The conductive particles can be reliably captured by the perforated plate, and the conductor can be reliably prevented from adhering to the uneven side surfaces of the substrate.
[0144]
And claims33The invention of claim26Thru32ofIn eitherSince the substrate is cooled when the conductive particles are sputtered from the target and adhered to the surface of the substrate, the energy of the conductive particles adhering to the substrate is absorbed by cooling to prevent the conductive particles from re-evaporating. It is possible to prevent the evaporated conductive particles from adhering to the stepped surface of the substrate.
[0145]
And claims34The invention of claim26Thru33In any of the above, a resin layer having poor adhesion to the conductor is provided on the surface of the substrate, and after removing the resin layer in the flat portion by plasma etching, the conductor is attached to the surface of the substrate by physical vapor deposition. Therefore, even if the conductor adheres to the side surface of the step when the conductor adheres to the surface of the substrate by physical vapor deposition, the conductor can be easily peeled off from the side surface of the step covered with the resin layer. The conductor can be easily and reliably removed from the side surface.
[0146]
And claims35The invention of claim26Thru33In either of these, a resin layer having poor adhesion to the conductor is provided on the surface of the substrate, and this is removed by oxygen ion beam etching to remove the resin layer in the flat portion, and then the conductor is attached to the surface of the substrate by physical vapor deposition. As a result, the oxygen ion beam has high linearity, and of the resin layer coated on the surface of the substrate, the planar resin layer can be completely etched away and the stepped side resin layer is hardly etched. It can be left in.
[0147]
And claims36The invention of claim26Thru35In any of the above, a metal material is subjected to electric discharge machining to form irregularities on the surface and undercut portions are formed on the side surfaces of the convex portions, and a substrate prepared by covering the surface of the metal material with an insulating layer is used. Therefore, the process which forms an undercut part in a level | step difference side part can be performed easily.
[0148]
And claims37The invention of claim36In this case, since the insulating layer is formed on the surface of the metal material by chemical vapor deposition, the insulating layer can be formed so that the undercut portion is not filled.
[0149]
And claims38The invention of claim26Thru35In either of the above, by heating and pressurizing the top of the convex portion provided on the resin substrate, the flange is projected on the side surface of the top of the convex portion, and an undercut portion is formed on the lower side thereof. Therefore, the process which forms an undercut part in a level | step difference side part can be performed easily.
[0150]
And claims39In the present invention, since the substrate is manufactured by the LIGA process when manufacturing the substrate having the unevenness on the surface with the resin molded product, it is possible to manufacture a large number of substrates with a narrow pitch between the flat portions at each stage at a low cost. Thus, a three-dimensional circuit board having a high circuit arrangement density can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are front views, respectively.
FIG. 2 shows formation of a conductor by a PVD method, and (a), (b), and (c) are schematic views, respectively.
FIG. 3A is a front view for explaining a step coverage, and FIG. 3B is a front view for explaining an aspect ratio of a recess.
FIG. 4 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are front views, respectively.
FIG. 5 is a front view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIGS. 6A and 6B show an example of an embodiment of the present invention, and FIGS. 6A and 6B are front views, respectively. FIGS.
FIG. 7 is a perspective view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a front view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 9 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are front views, respectively.
FIGS. 10A and 10B show an example of an embodiment of the present invention, where FIG. 10A is a perspective view and FIG. 10B is a front view.
11A and 11B show an example of an embodiment of the present invention, where FIG. 11A is a perspective view and FIG. 11B is a cross-sectional view.
12A and 12B show an example of an embodiment of the present invention, in which FIG. 12A is a perspective view, FIG. 12B is a cross-sectional view, and FIG. 12C is a partial perspective view.
FIGS. 13A and 13B show an example of an embodiment of the present invention, and FIGS. 13A and 13B are cross-sectional views, respectively.
FIGS. 14A and 14B show an example of an embodiment of the present invention, and FIGS. 14A and 14B are perspective views.
FIG. 15 is a perspective view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 16 is a cross-sectional view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 17 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) to (d) are front views, respectively.
FIG. 18 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are front views, respectively.
FIG. 19 is a front view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 20 is a front view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 21 is a front view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 22 is a schematic diagram showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 23 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are schematic diagrams respectively.
FIG. 24 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are schematic diagrams respectively.
FIG. 25 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are schematic diagrams respectively.
FIG. 26 is a schematic diagram showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 27 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) to (c) are front views, respectively.
FIG. 28 is a front view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 29 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are front views, respectively.
FIG. 30 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are front views, respectively.
FIG. 31 shows an example of an embodiment of the present invention, and (a) and (b) are front views, respectively.
FIG. 32 shows the formation of a conventional conductor circuit, and (a) to (e) are perspective views, respectively.
FIG. 33 is a partially broken perspective view showing a step of forming a conductor circuit on a conventional three-dimensional board.
FIG. 34 is a front view showing a conventional problem.
FIG. 35 shows another conventional example, and (a) and (b) are front views, respectively.
[Explanation of symbols]
1 Substrate
2 Step side
3 Non-circuit part
4 Plane section
5 Circuit part
6 Inclined surface
7 Connection circuit
8 Connection members
9 End inclined surface
10 End circuit
11 Inclined surface for bonding
12 Circuit part for conduction
13 Coating material
14 Electronic component mounting terminal
15 Electronic components
16 Through hole
17 Through-hole circuit
18 Back circuit part
19 Bending inclined surface
20 Contact circuit
21 Conductive paste
22 Inclined surface for plating
23 Plating energization circuit
24 Convex
25 Undercut section
26 Bump convex part
27 Bump terminal
28 Rough surface
29 metal materials
30 Insulating layer
31 targets
32 perforated plate
33 holes
34 Resin layer
35 Buttocks
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