JP4055489B2 - Manufacturing method of superconducting thin film wire - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、超電導薄膜線材の製造方法に関し、特に、多層積層して巻回するのに適した超電導薄膜線材の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
酸化物超電導線材は、液体窒素温度で超電導状態を示すことから、超電導ケーブルへの応用が期待され、その開発が進められている。この超電導ケーブルとして、図13に示すように、たとえばビスマス(Bi)系2223相の酸化物超電導体101が銀シース102によって被覆された線材(以下、Bi系銀シース超電導線材と称する)110を、フォーマ上にスパイラル状に多層積層したものがある。
【0003】
しかし、銀シース102を用いていることから、Bi系銀シース超電導線材110では線材コストの低減に限界がある。そこで、図14に示すように基板201上に超電導薄膜204を形成した超電導薄膜線材210を、フォーマ上にスパイラル状に多層積層した超電導ケーブルが用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この超電導薄膜線材210は、Bi系銀シース超電導線材110と構成が異なるため、超電導ケーブルを構成した場合に超電導薄膜204に傷が付き易いという問題点があった。以下、そのことを説明する。
【0005】
超電導ケーブルを構成した場合には、線材を多層積層する必要があるため、必然的に内周側の線材と外周側の線材とにこすれが生じる。Bi系銀シース超電導線材110では、図13に示すように線材外面の銀シース102が比較的柔らかいため、線材110同士がこすれても線材外面に傷は付きにくい。
【0006】
一方、超電導薄膜線材210では、図14に示すように硬い合金基板201上に10μm以下程度の薄い超電導薄膜204が形成された構成を有しており、線材210表面に基板201が剥き出しになる可能性がある。このため、図15に示すようにフォーマ220上に、超電導薄膜204を内周側として線材210を多層積層すると、内周側の線材210の基板201が外周側の線材210の超電導薄膜204にこすれる。これにより、図16に示すように超電導薄膜204の基板201とこすれる部分に傷が付き、この傷により超電導薄膜204の超電導特性が劣化する。
【0007】
それゆえ、本発明の目的は、超電導ケーブル導体としたときに線材外面に傷が付きにくく、それにより高い超電導特性を有する超電導薄膜線材の製造方法を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明の超電導薄膜線材の製造方法は、基板と、基板の表面上に形成された超電導薄膜とを有する超電導薄膜線材の製造方法であって、超電導薄膜の厚みをtとしたときに、基板の裏面側のエッジに、厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部がなくなるように面取り加工することを特徴とするものである。
【0015】
本発明の超電導薄膜線材の製造方法によれば、基板の裏面側エッジは、厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部を有しない、つまり厚みt以上の曲率半径Rを有する角部を有しているため、その裏面側エッジはなだらかな形状となるように面取り加工が行なわれる。このため、そのなだらかな形状の裏面側エッジが、他の線材の超電導薄膜にこすれたとしても、超電導薄膜には傷が付きにくくなる。よって、超電導薄膜に傷が付くことによる超電導特性の劣化を抑制することができる。
【0016】
上記の超電導薄膜線材の製造方法において好ましくは、面取り加工は、超電導薄膜の形成前に、基板を所定の曲率半径部分をもつスリット歯を用いてスリット加工することにより行なわれる。
【0017】
これにより、スリット加工と同時に所定の曲率半径となるように加工することができるため、加工工程を簡便にすることができる。
【0018】
上記の超電導薄膜線材の製造方法において好ましくは、面取り加工は、超電導薄膜の形成前であって基板のスリット加工後に、基板を研磨加工することにより行なわれる。
【0019】
これにより、超電導薄膜の形成前に裏面側エッジを容易に所定の曲率半径とすることができる。
【0020】
上記の超電導薄膜線材の製造方法において好ましくは、面取り加工は、超電導薄膜の形成前であって基板のスリット加工後に、基板をロール圧延加工することにより行なわれる。
【0021】
これにより、超電導薄膜の形成後に裏面側エッジを容易に所定の曲率半径とすることができる。
【0022】
上記の超電導薄膜線材の製造方法において好ましくは、面取り加工は、超電導薄膜の形成後に、基板と超電導薄膜とにロール圧延加工をすることにより行なわれる。
【0023】
これにより、裏面側エッジを容易に所定の曲率半径とすることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図に基づいて説明する。
【0025】
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の構成を示す概略断面図である。図1を参照して、本実施の形態の超電導薄膜線材10は、たとえばニッケル(Ni)合金などの高強度材料よりなる基板1と、その基板1上に順に積層された中間層2、キャップ層3、超電導薄膜4および保護層5とを有している。
【0026】
基板1の裏面側のエッジには、超電導薄膜4の厚みをtとしたときに、その厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部がない。つまり、基板1の裏面側のエッジは、超電導薄膜4の厚みt以上の曲率半径Rを有している。
【0027】
なお、以下においては中間層2、キャップ層3、超電導薄膜4および保護層5をまとめて超電導層6として説明する。しかし、この超電導層6には、超電導薄膜4が含まれていればよく、中間層2、キャップ層3および保護層5のいずれか若しくは全てがなくてもよい。
【0028】
次に、図1に示す超電導薄膜線材10を用いて構成される超電導ケーブル導体について説明する。
【0029】
図2は、フォーマに図1の超電導薄膜線材を巻回させる様子を示す概略斜視図である。また図3は本発明の実施の形態1における超電導ケーブル導体の構成を示す概略斜視図であり、図4は図3のIV−IV線に沿う概略断面図である。
【0030】
図2を参照して、超電導薄膜線材10が円筒状のフォーマ20の外周面にスパイラル状に巻回される。このようにして複数本の超電導薄膜線材10をフォーマ20上にスパイラル状に多層積層させることにより図3および図4に示す超電導ケーブル導体30が構成される。超電導薄膜線材10は、図5に示すように各超電導薄膜線材10の超電導層6が内周側に、基板1が外周側にそれぞれ位置するように多層積層される。なお、図5は図4の領域Pを拡大して示す概略断面図である。
【0031】
また、第1層10aは図中右巻き、第2層10bは図中左巻き、第3層10cは図中右巻き、第4層10dは図中左巻きというように、各層毎に交互に向きを変えて巻回されている。なお、この第1層10a〜第4層10dの巻回方向はこれに限定されるものではなく、如何なる方向に巻回されていてもよい。たとえば第1層10aおよび第2層10bが図中右巻きで、第3層10cおよび第4層10dが図中左巻きであってもよく、第1層10a〜第4層10dのすべてが同じ方向に巻回されていてもよい。
【0032】
本実施の形態によれば、基板1の裏面側エッジは、図1に示すように超電導薄膜4の厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部を有しない、つまり厚みt以上の曲率半径Rを有する角部を有しているため、その裏面側エッジはなだらかな形状となる。このため、そのなだらかな形状の裏面側エッジが、図5に示すように他の線材10の超電導層6にこすれたとしても、超電導層6には傷が付きにくくなる。よって、超電導層6に傷が付くことによる超電導特性の劣化を抑制することができる。
【0033】
次に、本実施の形態の超電導薄膜線材の製造方法について説明する。
図6は、本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第1の製造方法を示す概略断面図である。図6を参照して、基板1を準備する際には、基板1が所定の寸法になるようにスリット加工が施される。本方法では、このスリット加工において、所定の曲率半径部分40aをもつスリット歯40が用いられる。ここで、このスリット歯40の曲率半径部分40aの曲率半径は、超電導薄膜4の厚みt以上の曲率半径とされる。
【0034】
このようなスリット歯40を用いてスリット加工することにより、所定の寸法を有するとともに、裏面側のエッジ部に面取り加工を施された基板1を得ることができる。この面取り加工により、基板1の裏面側のエッジ部は、超電導薄膜4の厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部を有しない、つまり超電導薄膜4の厚みt以上の曲率半径をもつ角部を有することとなる。この後、基板1の表面上に超電導層6を形成することにより、図1に示す超電導薄膜線材が製造される。
【0035】
この方法によれば、基板1のスリット加工と同時に面取り加工を施すことが可能となるため、加工工程を簡略化することができる。
【0036】
図7は、本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第2の製造方法を示す概略断面図である。図7を参照して、基板1をスリット加工した後であって超電導層6を形成する前に、基板1の裏面側エッジ部に研磨シートによる研磨加工によって面取り加工が施される。この面取り加工により、基板1の裏面側のエッジ部は、超電導薄膜4の厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部を有しない、つまり超電導薄膜4の厚みt以上の曲率半径をもつ角部を有することとなる。この後、基板1の表面上に超電導層6を形成することにより、図1に示す超電導薄膜線材が製造される。
【0037】
また、この研磨加工は、図8に示すように超電導層6が基板1の表面上に形成された後に行なわれてもよい。
【0038】
図9および図10は、本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第4の製造方法を工程順に示す概略断面図である。まず図9を参照して、基板1の表面上に超電導層6が形成される。次に図10を参照して、基板の裏面エッジ部に、ロール圧延加工による曲げ加工を施すことにより面取りが行なわれる。この面取り加工により、基板1の裏面側のエッジ部は、超電導薄膜4の厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部を有しない、つまり超電導薄膜4の厚みt以上の曲率半径をもつ角部を有することとなる。
【0039】
なお、図9、図10においては基板1の表面上に超電導層6が形成された後に、曲げ加工による面取り加工を施したが、基板1にロール圧延加工による曲げ加工で面取りが施された後に、超電導層6が形成されてもよい。
【0040】
(実施の形態2)
図11は本発明の実施の形態2における超電導ケーブル導体の構成を示す概略斜視図であり、図12は図11のXII−XII線に沿う概略断面図である。
【0041】
図11および図12を参照して、本実施の形態の超電導ケーブル導体30では、多層積層される超電導薄膜線材10の第1層10aと第2層10bとの間、第2層10bと第3層10cとの間、第3層10cと第4層10dとの間というように、各層の間にクッション層11が設けられていてもよい。クッション層11としては、20μm〜超電導薄膜線材厚みのクラフト紙を用いることが望ましい。
【0042】
本実施の形態では、クッション層11を設けたことにより、内周側の線材10の基板1と外周側の線材10の超電導層6とが直接接することが防止できる。このため、内周側の線材10の基板1が外周側の線材10の超電導層6をこすることにより超電導層6に傷が生じることは防止でき、それによる超電導特性の劣化も生じない。
【0043】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【0044】
【発明の効果】
以上説明したように本発明の超電導薄膜線材の製造方法によれば、基板の裏面側エッジは、厚みtよりも小さい曲率半径Rを有する角部を有しない、つまり厚みt以上の曲率半径Rを有する角部を有しているため、その裏面側エッジはなだらかな形状となる。このため、そのなだらかな形状の裏面側エッジが、他の線材の超電導薄膜にこすれたとしても、超電導薄膜には傷が付きにくくなる。よって、超電導薄膜に傷が付くことによる超電導特性の劣化を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の構成を示す概略断面図である。
【図2】 フォーマに図1の超電導薄膜線材を巻回させる様子を示す概略斜視図である。
【図3】 本発明の実施の形態1における超電導ケーブル導体の構成を示す概略斜視図である。
【図4】 図3のIV−IV線に沿う概略断面図である。
【図5】 図4の領域Pを拡大して示す概略断面図である。
【図6】 本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第1の製造方法を示す概略断面図である。
【図7】 本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第2の製造方法を示す概略断面図である。
【図8】 本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第3の製造方法を示す概略断面図である。
【図9】 本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第4の製造方法の第1工程を示す概略断面図である。
【図10】 本発明の実施の形態1における超電導薄膜線材の第4の製造方法の第2工程を示す概略断面図である。
【図11】 本発明の実施の形態2における超電導ケーブル導体の構成を示す概略断面図である。
【図12】 本発明の実施の形態2における超電導ケーブル導体の構成を示す図11のXII−XII線に沿う概略断面図である。
【図13】 従来のBi系銀シース超電導線材の構成を示す概略断面図である。
【図14】 従来の超電導薄膜線材の構成を示す概略断面図である。
【図15】 従来の超電導薄膜線材を多層積層した様子を示す概略断面図である。
【図16】 従来の超電導薄膜線材の構成では、多層積層した場合に超電導層に傷が付きやすいことを説明するための概略断面図である。
【符号の説明】
1 基板、2 中間層、3 キャップ層、4 超電導薄膜、5 保護層、6 超電導層、10 超電導薄膜線材、10a 第1層、10b 第2層、10c 第3層、10d 第4層、11 クッション層、20 フォーマ、30 超電導ケーブル導体、40 スリット歯、40a 曲率半径部分。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to the production how superconducting thin film wire, and in particular relates to the production how superconducting thin film wire suitable for winding and multilayered.
[0002]
[Prior art]
Since the oxide superconducting wire exhibits a superconducting state at a liquid nitrogen temperature, it is expected to be applied to a superconducting cable and is being developed. As this superconducting cable, as shown in FIG. 13, for example, a wire 110 (hereinafter referred to as a Bi-based silver sheath superconducting wire) 110 in which a bismuth (Bi) -based 2223
[0003]
However, since the
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the superconducting
[0005]
When the superconducting cable is configured, it is necessary to laminate the wire rods in a multilayer manner, so that the inner peripheral wire rod and the outer peripheral wire rod inevitably rub. In the Bi-based silver sheath
[0006]
On the other hand, the superconducting
[0007]
It is therefore an object of the present invention is to provide a manufacturing how superconducting thin film wire having hardly scratch the wire outer surface, the thus high superconducting properties when the superconducting cable conductor.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
A method for producing a superconducting thin film wire according to the present invention is a method for producing a superconducting thin film wire having a substrate and a superconducting thin film formed on the surface of the substrate, wherein the thickness of the superconducting thin film is t. Chamfering is performed so that a corner having a radius of curvature R smaller than the thickness t is eliminated at the edge on the back surface side.
[0015]
According to the method for manufacturing a superconducting thin film wire of the present invention, the back side edge of the substrate does not have a corner having a radius of curvature R smaller than the thickness t, that is, has a corner having a radius of curvature R equal to or greater than the thickness t. Therefore, chamfering is performed so that the back side edge has a gentle shape. For this reason, even if the gently shaped back surface side edge is rubbed into the superconducting thin film of another wire, the superconducting thin film is hardly damaged. Therefore, it is possible to suppress deterioration of superconducting characteristics due to scratching on the superconducting thin film.
[0016]
Preferably, in the above method for manufacturing a superconducting thin film wire, the chamfering is performed by slitting the substrate using slit teeth having a predetermined radius of curvature before the formation of the superconducting thin film.
[0017]
Thereby, since it can process so that it may become a predetermined curvature radius simultaneously with slit processing, a manufacturing process can be simplified.
[0018]
Preferably, in the above method for producing a superconducting thin film wire, the chamfering is performed by polishing the substrate before the formation of the superconducting thin film and after the slit processing of the substrate.
[0019]
Thereby, the backside edge can be easily set to a predetermined radius of curvature before the formation of the superconducting thin film.
[0020]
Preferably, in the above-described superconducting thin film wire manufacturing method, the chamfering is performed by rolling the substrate before forming the superconducting thin film and after slitting the substrate.
[0021]
Thereby, a back surface side edge can be easily made into a predetermined curvature radius after formation of a superconducting thin film.
[0022]
Preferably, in the above method for manufacturing a superconducting thin film wire, the chamfering is performed by rolling the substrate and the superconducting thin film after the formation of the superconducting thin film.
[0023]
Thereby, a back surface side edge can be easily made into a predetermined curvature radius.
[0024]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0025]
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the superconducting thin film wire according to
[0026]
The edge on the back surface side of the
[0027]
In the following description, the
[0028]
Next, a superconducting cable conductor configured using the superconducting
[0029]
FIG. 2 is a schematic perspective view showing a state where the superconducting thin film wire of FIG. 1 is wound around the former. 3 is a schematic perspective view showing the configuration of the superconducting cable conductor according to
[0030]
With reference to FIG. 2, superconducting
[0031]
In addition, the
[0032]
According to the present embodiment, the back side edge of the
[0033]
Next, a method for manufacturing the superconducting thin film wire of the present embodiment will be described.
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a first method of manufacturing a superconducting thin film wire according to
[0034]
By performing slit processing using
[0035]
According to this method, the chamfering process can be performed simultaneously with the slit process of the
[0036]
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a second manufacturing method of the superconducting thin film wire according to
[0037]
Further, this polishing process may be performed after the
[0038]
9 and 10 are schematic cross-sectional views showing a fourth method of manufacturing a superconducting thin film wire according to
[0039]
In FIGS. 9 and 10, the
[0040]
(Embodiment 2)
FIG. 11 is a schematic perspective view showing the configuration of the superconducting cable conductor according to
[0041]
Referring to FIGS. 11 and 12, in
[0042]
In the present embodiment, by providing the
[0043]
The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.
[0044]
【The invention's effect】
According to the manufacturing how superconducting thin film wire of the present invention as described above, the back surface side edge of the substrate does not have a corner having a small radius of curvature R than the thickness t, i.e. the thickness t or radius of curvature R Therefore, the back side edge has a gentle shape. For this reason, even if the gently shaped back surface side edge is rubbed into the superconducting thin film of another wire, the superconducting thin film is hardly damaged. Therefore, it is possible to suppress deterioration of superconducting characteristics due to scratching on the superconducting thin film.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a configuration of a superconducting thin film wire according to
FIG. 2 is a schematic perspective view showing a state in which the superconducting thin film wire of FIG. 1 is wound around a former.
FIG. 3 is a schematic perspective view showing a configuration of a superconducting cable conductor according to
4 is a schematic sectional view taken along line IV-IV in FIG.
5 is an enlarged schematic sectional view showing a region P in FIG.
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a first manufacturing method of the superconducting thin film wire according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a second manufacturing method of the superconducting thin film wire according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a third method for manufacturing the superconducting thin film wire according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a schematic cross sectional view showing a first step of a fourth method for manufacturing a superconducting thin film wire according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a schematic cross sectional view showing a second step of the fourth manufacturing method of the superconducting thin film wire according to
FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing a configuration of a superconducting cable conductor according to
12 is a schematic cross-sectional view taken along line XII-XII in FIG. 11, showing the configuration of the superconducting cable conductor according to
FIG. 13 is a schematic cross-sectional view showing a configuration of a conventional Bi-based silver sheath superconducting wire.
FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing a configuration of a conventional superconducting thin film wire.
FIG. 15 is a schematic cross-sectional view showing a state in which multi-layered conventional superconducting thin film wires are laminated.
FIG. 16 is a schematic cross-sectional view for explaining that in the configuration of a conventional superconducting thin film wire, the superconducting layer is easily damaged when multilayered.
[Explanation of symbols]
1 substrate, 2 intermediate layer, 3 cap layer, 4 superconducting thin film, 5 protective layer, 6 superconducting layer, 10 superconducting thin film wire, 10a first layer, 10b second layer, 10c third layer, 10d fourth layer, 11 cushion Layer, 20 former, 30 superconducting cable conductor, 40 slit teeth, 40a radius of curvature.
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| JP2004031128A (en) | 2004-01-29 |
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