JP4085485B2 - Wafer transfer mechanism - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体製造装置におけるウェハ搬送機構に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造装置においてプロセス処理を行う場合、ウェハをむらなく加熱する必要がある。そのため、真空チャンバ内でウェハをヒータ上面に密着させ、ウェハ全体を加熱するようにしている。このような理由でヒータの上面は、ウェハの面に合わせて平面になっているが、ヒータの上面が全くの平面であるとウェハを搬送してくるフォークを抜くスペースが確保できないため、直接ウェハを受け渡しすることができない。そこで従来は、ウェハをヒータの上面に載置する際に、フォークを上下動させることによってウェハの受け渡しを行っていた。
図5に、従来のウェハ搬送機構を示す。
図5において、1は真空チャンバで、この真空チャンバー1の底部に滑り軸受2が取り付けられている。前記滑り軸受2には、図示しない駆動装置3によって矢印Aに示すように上下動する昇降シャフト4を通している。前記昇降シャフト4は、中心に図示しない貫通孔を形成するとともに、上端に平板部5を一体に形成している。前記平板部5は、上面にヒータ(図示しない)を有している。このヒータの配線は前記貫通孔内を通してなされている。6は複数個の、例えば3個のピン孔で、前記平板部5に上下方向に穿孔して形成されている。7は前記真空チャンバー1の底面に取り付けられた複数個のウェハ支えピンで、前記平板部5に設けたピン孔6に下方から貫通するように配設されている。8は前記真空チャンバ1の側面に形成された搬送口で、図示しないウェハ搬送ロボットのアーム先端に昇降可能に取り付けられたフォーク9が、ウェハ10を載置した状態で出入りするようになっている。
以下、このように構成されたウェハ搬送機構の動作について説明する。
まず、ウェハ10を載置したフォーク9が、搬送口8から真空チャンバ1内に進入し、設定された位置で停止する。フォーク9は停止すると同時に下降し、ウェハ10をウェハ支えピン7の上に載せる。
次に、フォーク9を前記搬送口8から出るように移動させると同時に、昇降シャフト4を上昇させてウェハ10を平板部5のヒータ上に載せる。
ウェハ10が平板部5に載ると、ヒータでウェハ10を加熱する。ウェハ10の加熱が終わると昇降シャフト4を下降させ、ウェハ10をウェハ支えピン7上に載せる。ウェハ10がウェハ支えピン7上に載ると、再度フォーク9が搬送口8から真空チャンバ1内に進入し、ウェハ10を掬い取って搬送口8から出て行く。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来技術においては、フォークの昇降機構を別個に設ける必要があるため、次のような問題があった。
(1) フォークに動作をさせることになり、フォークの位置精度が低下する。
(2) フォークに振動が生じるので、ウェハに損傷を与えるおそれがある。
(3) ウェハ搬送装置の機構部が大型化し、また、コストが増大する。
そこで、本発明は、フォークの位置精度を高く保つとともに、フォークに振動を与えることがなく、かつ、ウェハ搬送装置の機構部を小形にできるウェハ搬送機構を提供することを目的とするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】
上記問題を解決するため、本発明のウェハ搬送機構は、側部に搬送口を有するとともに、底部に上下方向に延びる滑り軸受を有する真空チャンバと、前記滑り軸受に摺動可能に嵌合されるとともに、真空チャンバ内に突出した上端部に、上下方向に穿孔した複数のピン孔を有する平板部を形成した昇降シャフトと、前記真空チャンバの底面に取り付けられた可動ウェハ支えピンとを有し、前記可動ウェハ支えピンが、前記真空チャンバの底面に取り付けられたベースと、前記ベースの上部に取り付けられ、中央部にピン貫通孔を形成するとともに、このピン貫通孔に滑り軸受を取り付け、前記滑り軸受の下面側に、ピン通し孔を有するストッパを取り付けているピン支持体と、耐熱材料からなり、前記昇降シャフトの平板部に形成されたピン孔内を上下動する小径部と、前記滑り軸受内を摺動し、外径が前記ピン孔の径よりも大きく形成されている中径部と、前記ストッパのピン通し孔よりも外径が大きい大径部とで構成されているピンと、前記ベースとピンとの間に介挿され、ピンを常に上方に押し上げている弾性体とで構成したものである。
これにより、昇降シャフトの上下動でフォークとウェハとの間に簡単に空間を形成することができ、ウェハをフォーク上から平板部の上面に移しかえるとき、あるいは平板部の上面からフォーク上に移しかえるときに、フォーク自体を上下動させる必要がなくなる。
【0005】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。
図1は本発明の実施例におけるウェハ搬送機構の要部を示す側断面図で、ウェハを真空チャンバ内に移送してきて停止した状態を示している。図2は可動ウェハ支えピンの詳細を示す拡大断面図、図3は本発明の実施例におけるウェハ搬送機構の要部を示す側断面図で、昇降シャフトを1段階上昇させてウェハをフォークから浮かせた状態を示している。図4は同じく側断面図で、昇降シャフトをもう1段階上昇させて、ウェハを昇降シャフトの平板部の上面に載置させた状態を示している。
本発明のウェハ搬送機構は、基本的には従来のウェハ搬送機構と同じであるが、ウェハ支えピンが可動可能に構成されている点が異なっている。
図1において、11は可動ウェハ支えピンで、真空チャンバ1の底面に取り付けられている。12は可動ウェハ支えピン11のベースで、前記真空チャンバ1の底面に取り付けられるとともに、上部に断面がコ字状のピン支持体13を取り付けている。前記ピン支持体13は、中央部にピン貫通孔14を形成し、このピン貫通孔14に滑り軸受15を取り付けるとともに、ピン支持体13の滑り軸受15の下面側に、滑り軸受15の内径よりも若干内径が大きいピン通し孔16を形成したストッパ17を取り付けている。18はピンで、セラミックス等の耐熱材料でできており、前記昇降シャフト4の平板部5に形成されたピン孔7内を上下動する小径部19と、前記滑り軸受15内を摺動し、外径が前記ピン孔7の径よりも大きく形成されている中径部20と、前記ストッパ17のピン通し孔16よりも外径が大きい大径部21とで構成され、先細り形状になっている。22は前記ベース13とピン19との間に介挿されたスプリング等の弾性体で、ピン18を常に上方に押し上げている。
以下、このように構成されたウェハ搬送機構の動作について説明する。
まず、図1に示すように、ウェハ10を載置したフォーク9が、搬送口8から真空チャンバ1内に進入し、設定された位置で停止する。この際、昇降シャフト4は最下部まで下降しており、平板部5の下面でピン19の中径部20の段部を押さえている。ピン19は、小径部20が平板部5のヒータの上面から突出しており、ピン18の先端からウェハ10の下面までの寸法l1 は、ストッパ17の下面からピン18の大径部21の段部までの寸法l2 よりも短くなるように設定されている。
次に、図3に示すように、昇降シャフト4を1段階つまり前記寸法l2 だけ上昇させてピン18の先端上にウェハ10を載せ、ウェハ10をl2 −l1 の寸法分フォーク9から浮かせる。この状態でフォーク9を引き戻して図示しない搬送口から真空チャンバ1外に移動させる。
次に、フォーク9を前記搬送口から出るように移動させると同時に、昇降シャフト4をもう1段階、つまり平板部5の上面から突出しているピン18の先端までの寸法L3 を越える寸法だけ上昇させて、ウェハ10を平板部5上に載せる。図4に示すように、ウェハ10が平板部5上に載ると、ヒータでウェハ11を加熱する。ウェハ10の加熱が終わると、今度は逆に、昇降シャフト4を1段階下降させ、ウェハ10をピン18上に載せる。ウェハ10がピン18上に載ると、再度フォーク9を搬送口から真空チャンバ1内に進入させ、ウェハ10と平板部5との間の空間で停止させる。
そして、この状態で、昇降シャフト4をもう1段階下降させウェハ10をフォーク9上に載置する。ウェハ10がフォーク9上に載置されると、フォーク9を真空チャンバ1の外部へ出すように移動させる。
このように、本発明のウェハ搬送機構は、ウェハ10をフォーク9上から平板部5上に移しかえるとき、あるいは平板部5上からフォーク9上に移しかえるときに、フォーク9自体を上下動させなくてすむので、フォーク9の位置精度を高く保つことができる。
また、フォーク9の昇降機構を設ける必要がないので、フォーク9に振動が生じることがなく、ウェハ10に損傷を与えることがない
さらに、ウェハ搬送装置における機構部が大型化することがなく、コストも削減することができる
【0006】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、フォークの昇降機構を設ける必要がないため、次のような効果がある。
(1) フォークに余計な動作をさせることがないので、フォークの位置精度を高く保つことができる。
(2) フォークに振動が生じないので、ウェハに損傷を与えることがない。
(3) ウェハ搬送装置の機構部が大型化することがなく、また、コストを削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例におけるウェハ搬送機構の要部を示す側断面図で、ウェハを真空チャンバ内に移送してきて停止した状態を示している。
【図2】 本発明の実施例における可動ウェハ支えピンの詳細を示す拡大断面図である。
【図3】 本発明の実施例におけるウェハ搬送機構の要部を示す側断面図で、昇降シャフトを1段階上昇させてウェハをフォークから浮かせた状態を示している。
【図4】 本発明の実施例におけるウェハ搬送機構の要部を示す側断面図で、昇降シャフトをもう1段階上昇させて、ウェハを昇降シャフトの平板部の上面に載置させた状態を示している。
【図5】 従来技術におけるウェハ搬送機構を示す側断面図である。
【符号の説明】
1 真空チャンバ、
2 滑り軸受、
3 駆動装置、
4 昇降シャフト、
5 平板部、
6 ピン孔、
7 ウェハ支えピン、
8 搬送口、
9 フォーク、
10 ウェハ、
11 可動ウェハ支えピン、
12 ベース、
13 ピン支持体、
14 ピン貫通孔、
15 滑り軸受、
16 ピン通し孔、
17 ストッパ、
18 ピン、
19 小径部、
20 中径部、
21 大径部、
22 弾性体[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a wafer transfer mechanism in a semiconductor manufacturing apparatus.
[0002]
[Prior art]
When performing a process in a semiconductor manufacturing apparatus, it is necessary to heat the wafer evenly. Therefore, the entire wafer is heated by bringing the wafer into close contact with the upper surface of the heater in the vacuum chamber. For this reason, the upper surface of the heater is flat to match the surface of the wafer. However, if the upper surface of the heater is completely flat, it is not possible to secure a space for removing the fork that carries the wafer. I can't deliver it. Therefore, conventionally, when the wafer is placed on the upper surface of the heater, the wafer is delivered by moving the fork up and down.
FIG. 5 shows a conventional wafer transfer mechanism.
In FIG. 5,
Hereinafter, the operation of the wafer transfer mechanism configured as described above will be described.
First, the fork 9 on which the
Next, the fork 9 is moved out of the
When the
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, in such a prior art, since it is necessary to provide the raising / lowering mechanism of a fork separately, there existed the following problems.
(1) This will cause the fork to move, reducing the position accuracy of the fork.
(2) Since the fork vibrates, the wafer may be damaged.
(3) The mechanism of the wafer transfer device becomes larger and the cost increases.
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a wafer transfer mechanism that keeps the position accuracy of the fork high, does not give vibration to the fork, and can reduce the size of the mechanism portion of the wafer transfer device. .
[0004]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problem, the wafer transfer mechanism of the present invention is slidably fitted to a vacuum chamber having a transfer port on the side and a slide bearing extending in the vertical direction on the bottom, and the slide bearing. And an elevating shaft formed with a flat plate portion having a plurality of pin holes drilled in the vertical direction at the upper end protruding into the vacuum chamber, and a movable wafer support pin attached to the bottom surface of the vacuum chamber, A movable wafer support pin is attached to a bottom surface of the vacuum chamber, and is attached to an upper portion of the base. A pin through hole is formed in a central portion, and a slide bearing is attached to the pin through hole. A pin support body having a stopper having a pin passage hole on the lower surface side of the pin and a pin formed of a heat-resistant material and formed on the flat plate portion of the lifting shaft A small-diameter portion that moves up and down, a medium-diameter portion that slides in the slide bearing and has an outer diameter larger than the diameter of the pin hole, and an outer diameter that is larger than the pin through hole of the stopper The pin is composed of a large-diameter portion, and an elastic body that is interposed between the base and the pin and constantly pushes the pin upward.
This makes it possible to easily form a space between the fork and the wafer by the vertical movement of the lifting shaft. When the wafer is transferred from the fork to the upper surface of the flat plate portion, or from the upper surface of the flat plate portion to the fork. When changing, it is not necessary to move the fork up and down.
[0005]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a side sectional view showing a main part of a wafer transfer mechanism in an embodiment of the present invention, and shows a state where a wafer has been transferred into a vacuum chamber and stopped. FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing details of the movable wafer support pins, and FIG. 3 is a side cross-sectional view showing the main part of the wafer transfer mechanism in the embodiment of the present invention. Shows the state. FIG. 4 is also a side sectional view showing a state where the lifting shaft is raised by another stage and the wafer is placed on the upper surface of the flat plate portion of the lifting shaft.
The wafer transfer mechanism of the present invention is basically the same as the conventional wafer transfer mechanism, except that the wafer support pins are configured to be movable.
In FIG. 1,
Hereinafter, the operation of the wafer transfer mechanism configured as described above will be described.
First, as shown in FIG. 1, the fork 9 on which the
Next, as shown in FIG. 3, the elevating shaft 4 is raised by one step, that is, the dimension l 2 , and the
Next, the fork 9 is moved out of the conveying port, and at the same time, the elevating shaft 4 is raised by another dimension, that is, a dimension exceeding the dimension L 3 from the upper surface of the
In this state, the elevating shaft 4 is lowered one more stage to place the
Thus, the wafer transfer mechanism of the present invention moves the fork 9 up and down when the
Further, since there is no need to provide an elevating mechanism for the fork 9, the fork 9 is not vibrated, the
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, since there is no need to provide a fork lifting mechanism, the following effects can be obtained.
(1) Since the fork does not cause any excessive movement, the position accuracy of the fork can be kept high.
(2) Since the fork does not vibrate, the wafer is not damaged.
(3) The mechanical part of the wafer transfer device is not increased in size and the cost can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a side sectional view showing a main part of a wafer transfer mechanism in an embodiment of the present invention, showing a state where a wafer has been transferred into a vacuum chamber and stopped.
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing details of a movable wafer support pin in an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a side sectional view showing a main part of a wafer transfer mechanism in an embodiment of the present invention, and shows a state in which a lift shaft is raised by one stage to lift a wafer from a fork.
FIG. 4 is a side sectional view showing the main part of the wafer transfer mechanism in an embodiment of the present invention, showing a state in which the lift shaft is raised by another stage and the wafer is placed on the upper surface of the flat plate portion of the lift shaft. ing.
FIG. 5 is a side sectional view showing a wafer transfer mechanism in the prior art.
[Explanation of symbols]
1 vacuum chamber,
2 plain bearings,
3 Drive unit,
4 Lifting shaft,
5 Flat plate part,
6 pin holes,
7 Wafer support pins,
8 Transport port,
9 Forks,
10 wafers,
11 Movable wafer support pins,
12 base,
13 pin support,
14 pin through hole,
15 plain bearing,
16 pin through hole,
17 stopper,
18 pins,
19 Small diameter part,
20 medium diameter part,
21 Large diameter part,
22 Elastic body
Claims (1)
前記滑り軸受に摺動可能に嵌合されるとともに、真空チャンバ内に突出した上端部に、上下方向に穿孔した複数のピン孔を有する平板部を形成した昇降シャフトと、
前記真空チャンバの底面に取り付けられた可動ウェハ支えピンとを有し、
前記可動ウェハ支えピンが、前記真空チャンバの底面に取り付けられたベースと、
前記ベースの上部に取り付けられ、中央部にピン貫通孔を形成するとともに、このピン貫通孔に滑り軸受を取り付け、前記滑り軸受の下面側に、ピン通し孔を有するストッパを取り付けているピン支持体と、
耐熱材料からなり、前記昇降シャフトの平板部に形成されたピン孔内を上下動する小径部と、前記滑り軸受内を摺動し、外径が前記ピン孔の径よりも大きく形成されている中径部と、前記ストッパのピン通し孔よりも外径が大きい大径部とで構成されているピンと、
前記ベースとピンとの間に介挿され、ピンを常に上方に押し上げている弾性体とからなっていることを特徴とするウェハ搬送機構。A vacuum chamber having a conveying port on the side and a sliding bearing extending in the vertical direction on the bottom;
An elevating shaft that is slidably fitted to the slide bearing and has a flat plate portion having a plurality of pin holes drilled in the vertical direction at the upper end protruding into the vacuum chamber;
A movable wafer support pin attached to the bottom surface of the vacuum chamber;
A base on which the movable wafer support pins are attached to the bottom surface of the vacuum chamber;
A pin support that is attached to the upper part of the base, has a pin through hole formed in the central portion thereof, a slide bearing is attached to the pin through hole, and a stopper having a pin through hole is attached to the lower surface side of the slide bearing. When,
It is made of a heat-resistant material, and has a small-diameter portion that moves up and down in the pin hole formed in the flat plate portion of the elevating shaft, and slides in the slide bearing and has an outer diameter larger than the diameter of the pin hole. A pin composed of a medium diameter part and a large diameter part having an outer diameter larger than the pin through hole of the stopper;
A wafer transfer mechanism comprising an elastic body interposed between the base and the pins and constantly pushing the pins upward.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26512398A JP4085485B2 (en) | 1998-09-18 | 1998-09-18 | Wafer transfer mechanism |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26512398A JP4085485B2 (en) | 1998-09-18 | 1998-09-18 | Wafer transfer mechanism |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000100908A JP2000100908A (en) | 2000-04-07 |
| JP4085485B2 true JP4085485B2 (en) | 2008-05-14 |
Family
ID=17412949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26512398A Expired - Fee Related JP4085485B2 (en) | 1998-09-18 | 1998-09-18 | Wafer transfer mechanism |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4085485B2 (en) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100894045B1 (en) * | 2002-11-07 | 2009-04-20 | 삼성전자주식회사 | Load lock chamber |
| CN112002658B (en) * | 2020-08-25 | 2024-06-21 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | Heaters and heated bases |
-
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- 1998-09-18 JP JP26512398A patent/JP4085485B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000100908A (en) | 2000-04-07 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
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