JP4090610B2 - Height measuring device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像対象の高さを測定する測定装置に関し、特には、基板上に形成されたパッド面に印刷されたクリーム半田の高さを測定するのに適した高さ測定装置に関する。
【0002】
従来、高さ測定装置には図5に示すようなものがあった。ここでは、特に基板上に形成されたパッド面に印刷されたクリーム半田の高さを測定するための高さ測定装置を説明する。所望の印刷装置によって基板1P上のパッド面2Pに長板形状をなすクリーム半田3Pが印刷されている。パッド面2Pのパターンは、印刷されるクリーム半田のパターンと同一パターンであり、印刷パターンによって種々異なった所望の形状を有している。
【0003】
投光手段10Pからはライン光11Pがクリーム半田3Pに向かって斜め上方から投光され、クリーム半田3Pの断面形状に沿ってできた像を垂直上方よりCCDカメラ12Pで撮影している。
CCDカメラ12Pで撮影した画像はCCDカメラ制御器20PでA/D変換され、画像取込み器21Pで取り込まれる。そして、その取り込まれた画像データは次の座標演算装置22Pによってクリーム半田3Pの三次元座標に変換され、これに基いてクリーム半田の高さが測定される。
【0004】
このような高さ測定装置は、例えばクリーム半田印刷装置に組み込まれて使用され、この場合、測定ユニット(図5の点線で囲まれた部分:投光手段10P、CCDカメラ12P、CCDカメラ制御器20P)が、図示しないX−Yガントリーに取り付けられて、基板1P上方の平行な平面上を自由に移動可能とされる。
【0005】
次に作用を説明する。基板1Pのパッド面2Pにクリーム半田3Pが印刷して印刷処理が終了すると、その後、印刷されたクリーム半田3Pの高さを測定する高さ測定処理が行なわれる。具体的には、X−Yガントリーによって測定ユニットが退避位置から目的とする測定位置まで移動される。
そして、投光手段10Pから測定対象であるクリーム半田3P上にライン光11Pを投光し、基板1Pのパット面2Pとクリーム半田3Pの形状に沿ってできたライン光11Pの像をCCDカメラ12Pによって撮像し、高さ測定が行なわれる。続いて、ライン光11Pを移動してCCDカメラ12Pの視野内の高さ測定を行うことによって、3次元形状を得る。この移動ピッチは、得ようとする3次元形状の解像度によって変わってくるが、例えば、従来の測定装置では50μmという微小幅である。これが終了すると、測定ユニットを基板1Pの他の測定箇所へと移動して再び同様の高さ測定を行う。これを順次繰り返して、測定が必要な全ての範囲で高さを測定し、再び退避位置へと退避する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、高さを測定するためには、投光されたライン光のクリーム半田の像を確実に撮像する必要がある。そこで、クリーム半田の像を確実に撮像するためには、投光手段の輝度を、クリーム半田で拡散反射されてCCDカメラへと届く光の輝度が、クリーム半田の像を確実に撮像するのに必要な輝度となるような強度としなければならない。
【0007】
ところが、パット面の拡散反射率がクリーム半田の拡散反射率よりも約8倍も大きいため、パット面で拡散反射されてCCDカメラへと届く光の輝度が強すぎて、ハレーションを起こしてしまい撮像対象の正確な像が得られず、正確な測定結果が得られないという問題があった。図2に示した図が正常な撮像状態であり、図3に示した図がハレーションを起こした撮像状態である。図2、3は基板上に左から右方向を長手方向とする長方形状のパット面が上から順に5つ並んで形成されており、パット面上に直方形状に設けられるクリーム半田を上から下へと向かうライン光で左右方向に位置をずらして3箇所切断したライン光を撮像したものである。
【0008】
図2において、逆コ字形状で示される部位がクリーム半田である。そして、逆コ字形状のそれぞれの両右端にパット面が写されている。そして、図3を見ると、明らかにパット面でハレーションが起こっていることがわかる。
【0009】
【発明を解決するための手段】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたもので、基板に印刷された半田に所定の角度から投光したライン光を撮像して半田の高さを測定する高さ測定装置において、レーザ光源と、レーザ光をライン光として測定対象へ投光する投光手段と、ライン光が投光される測定対象を投光軸と所定の角度で撮像する撮像手段とを備え、前記レーザ光源は直線偏光の光を発するレーザダイオードであり、該偏光方向がライン光の長手方向に対してほぼ平行となるように前記レーザダイオードの接合面を配置している。従って、投光手段から投光されたライン光は撮像対象上でほぼ正反射し、拡散反射光の光量が減る。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図1から図3により説明する。ここでは、特に基板上に形成されたパッド面に印刷されたクリーム半田の高さを測定するための高さ測定装置を説明する。
【0013】
【第1の実施の形態】
本発明の第1の実施の形態を図1を用いて説明する。図1は、第1の実施の形態の高さ測定装置の側面図である。
基板1上に所望の回路パターン形状に形成されたパット面2を形成し、クリーム半田印刷装置によってパット面2上に、パット面2よりも僅かに小さな面積で所望の高さを有するクリーム半田3を印刷している。そして、クリーム半田3の高さは、投光手段と撮像手段とライン光を平行に移動する手段とにより測定される。
【0014】
10aはレーザダイオードであり、直線偏光の光を、その偏向方向を基板1とほぼ平行にして発生する。具体的には、単一モード発振のレーザダイオードで、2つの接合面の間から、接合面と平行な方向の波を持つ直線偏光の光を発する。また、光軸が基板1と平行となるように配置されている。
レーザダイオード10aから発射された光は、コリメートレンズ10bを通り集光されて平行光となり、フォーカシングレンズ10cを通って基板1上でスポット光となるように絞り込まれ投光ミラー10dで反射され、ラインジェネレータレンズ10eを通して図1中の紙面表裏方向に延びるライン光とされて基板1上に投光される。フォーカシングレンズ10cとラインジェネレータ10eの作用により、光は基板1上で、幅14μm、長さ10mmのライン光とする。この幅は、測定対象によっても変わってくるがクリーム半田の高さ測定においては14から20μmの範囲であるのがよい。
【0015】
投光ミラー10dの配置は、反射面がレーザダイオード10aの光軸(基板1面と平行)に対して67.5度の角度であり、投光ミラー10dの反射面で反射した光を基板1上に45度の角度で投光する。
基板2の垂直上方には撮像手段としてのCCDカメラ20を設けており、基板1上の垂直上方でパット面2及びクリーム半田3によって反射した反射光を撮像している。CCDカメラ20の撮像視野は6mm×6mmで、ノンインターレースである。
【0016】
本実施の形態の高さ測定装置では、レーザダイオード10a、コリメートレンズ10b、フォーカシングレンズ10c、投光ミラー10d、ラインジェネレータレンズ10eにより投光手段が構成されている。
また、この内のフォーカシングレンズ10c、投光ミラー10d、ラインジェネレータレンズ10eは、投光ユニット30aに組み込まれている。投光ユニット30aはリニアアクチュエータ30bのシャフトに取付けられており、リニアアクチュエータ30bの作用によって、投光ユニット30aをレーザダイオード10aの光軸と平行な方向(矢符Xで示す方向)に10mmのストロークで往復直線運動をする。
【0017】
次に本実施の形態の上記の構成による作用を説明する。レーザダイオード10aからの光は、コリメートレンズ10bによって平行光とされ、フォーカシングレンズ10cによってスポット光とされる。レーザダイオード10aの接合面が基板1と平行となるように配置されているため、レーザダイオード10aから発射された光は、ライン光に平行な方向の波、つまり、図1における紙面表裏方向に振動する平面波として進行する。図4は、投光されるライン光の波の様子を示す概略斜視図である。
【0018】
フォーカシングレンズ10cからのスポット光は、投光ミラー10dで反射され、ラインジェネレータ10eによってライン光とされ、基板1上の測定対象であるパット面2及びクリーム半田3上に45度の角度で投光される。この時、ラインジェネレータ10eを通った光は、振動方向を図1における紙面表裏方向の平面波として進行するので、パット面2のような平らな面では正反射しやすい性質を持っている。従って、パット面2では多くの光が投光側とは反対側の45度の方向(図1中の二点鎖線で示す)に反射する。
【0019】
パット面2及びクリーム半田3上のライン光は測定対象の外郭線となって反射し、基板1の垂直上方に位置するCCDカメラ20によって撮像される。そして、基板1上のライン光は、リニアアクチュエータ30bの作用により4.8mm/secの一定速度で図2における右から左へと移動し、この間ライン光がCCDカメラ20の視野内において、レーザダイオード10aを50μmのピッチ毎に2msec点灯させて、CCDカメラ20の視野内に複数のライン光を形成する。撮像画像は、概略、図2に示すようになる。ただし、図2はCCDカメラ20の視野の一部を示したものであり、また、並列に並んだ5つのクリーム半田を撮像したものである。
【0020】
撮像された画像は、前記従来の技術で説明した方法で処理されて、クリーム半田の高さが求められる。
【0023】
本発明は、上述した第1の実施の形態に何ら制限を受けることはなく、要旨を逸脱しない範囲において自由に変更することができる。
【0024】
例えば、本発明の高さ測定装置をクリーム半田印刷装置に適用した場合、高さ測定だけでなく、クリーム半田を印刷する前のステンシルと基板の位置合わせに適用してもよい。つまり、印刷前に、印刷パターン形状に繰り抜かれた板状のステンシルと、印刷パターン形状に形成された基板上のパット面とを一致させる必要があるが、通常、一致させるためにステンシルの一部分に形成されたステンシルマークと基板の一部分に形成された基板マークを認識し、これらの相対位置を調節することによって一致させている。そして、この基板マークの認識には専用の装置を用いていた。そこで、高さ測定装置を基板マークの認識に適用することによって、基板マークの認識装置を無くすることができる。また、高さ測定のときと同様にマークあるいはマーク周辺の面からの拡散反射量を減らすことができるので基板マークの認識を確実に行うことができる。
【0025】
【発明の効果】
本発明によれば、迷光の無い画像が得られ画像処理が容易となる。従って測定精度を高めることが出来る。また、上記の効果に加えて、レーザダイオードからは直線偏光の光が発生するので、レーザダイオードを投光手段の光源として適用したため、新たに直線偏光とするための手段が必要ないから、装置自体を小型化することができる。
【0026】
更に、高さ測定装置を小型化することができるので、印刷装置に適用した場合でも印刷動作の邪魔になることなく限られた狭い空間に適用することができるので非常に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の高さ測定装置の側面図。
【図2】正常な撮像状態を示す図。
【図3】ハレーションを起こした撮像状態を示す図。
【図4】投光されるライン光の波の様子を示す概略斜視図。
【図5】従来の高さ測定装置を示す図。
【符号の説明】
1…基板
2…パット面
3…クリーム半田
10a…レーザダイオード(投光手段)
10b…コリメートレンズ(投光手段)
10c…フォーカシングレンズ(投光手段)
10d…投光ミラー(投光手段)
10e…ラインジェネレータ(投光手段)
20…CCDカメラ(撮像手段)
30a…投光ユニット
30b …リニアアクチュエータ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a measuring apparatus that measures the height of an imaging target, and more particularly, to a height measuring apparatus that is suitable for measuring the height of cream solder printed on a pad surface formed on a substrate.
[0002]
Conventionally, the height measuring device there is one as shown in FIG. Here, a height measuring apparatus for measuring the height of the cream solder printed on the pad surface formed on the substrate will be described. A cream solder 3P having a long plate shape is printed on the pad surface 2P on the substrate 1P by a desired printing apparatus. The pattern of the pad surface 2P is the same pattern as the pattern of the cream solder to be printed, and has various desired shapes depending on the printing pattern.
[0003]
The line light 11P is projected obliquely from above toward the cream solder 3P from the light projecting means 10P, and an image formed along the cross-sectional shape of the cream solder 3P is taken by the CCD camera 12P from above.
An image photographed by the CCD camera 12P is A / D converted by the CCD camera controller 20P and captured by the image capturing device 21P. The captured image data is converted into the three-dimensional coordinates of the cream solder 3P by the next coordinate calculation device 22P, and the height of the cream solder is measured based on this.
[0004]
Such a height measuring device is used by being incorporated in, for example, a cream solder printing device, and in this case, a measuring unit (portion surrounded by a dotted line in FIG. 5 : light projecting means 10P, CCD camera 12P, CCD camera controller). 20P) is attached to an XY gantry (not shown) and can freely move on a parallel plane above the substrate 1P.
[0005]
Next, the operation will be described. When the cream solder 3P is printed on the pad surface 2P of the substrate 1P and the printing process is completed, a height measurement process for measuring the height of the printed cream solder 3P is then performed. Specifically, the measurement unit is moved from the retracted position to the target measurement position by the XY gantry.
Then, the line light 11P is projected from the light projecting means 10P onto the cream solder 3P to be measured, and an image of the line light 11P formed along the shape of the pad surface 2P of the substrate 1P and the cream solder 3P is CCD camera 12P. The image is taken and the height is measured. Subsequently, a three-dimensional shape is obtained by moving the line light 11P and measuring the height in the field of view of the CCD camera 12P. The moving pitch varies depending on the resolution of the three-dimensional shape to be obtained. For example, in the conventional measuring apparatus, the moving pitch is as small as 50 μm. When this is completed, the measurement unit is moved to another measurement location on the substrate 1P, and the same height measurement is performed again. This is repeated sequentially to measure the height in the entire range that needs to be measured, and then retreats to the retreat position again.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in order to measure the height, it is necessary to reliably capture an image of the projected line light cream solder. Therefore, in order to reliably capture the image of cream solder, the brightness of the light projecting means is determined by the brightness of the light diffused and reflected by the cream solder and reaching the CCD camera. It must be strong enough to achieve the required brightness.
[0007]
However, since the diffuse reflectance of the pad surface is about 8 times larger than that of cream solder, the brightness of the light that is diffusely reflected on the pad surface and reaches the CCD camera is too strong, causing halation and imaging. There is a problem that an accurate image of the object cannot be obtained and an accurate measurement result cannot be obtained. The diagram shown in FIG. 2 is a normal imaging state, and the diagram shown in FIG. 3 is an imaging state in which halation has occurred. 2 and 3 , five rectangular pad surfaces having a longitudinal direction from left to right are formed on the substrate in order from the top, and cream solder provided in a rectangular shape on the pad surface is arranged from the top to the bottom. This is an image of line light that has been cut in three places by shifting the position in the left-right direction with the line light going to the right.
[0008]
In FIG. 2 , the portion indicated by the inverted U shape is cream solder. A pad surface is shown at each right end of each inverted U-shape. FIG. 3 clearly shows that halation is occurring on the pad surface.
[0009]
[Means for Solving the Invention]
The present invention has been made in view of the above problems, and in a height measuring device for measuring the height of solder by imaging line light projected from a predetermined angle onto solder printed on a substrate , a laser light source and A laser beam projecting means for projecting the laser beam as a line light onto a measurement target; and an imaging unit for imaging the measurement target projected with the line light at a predetermined angle with respect to the projecting axis. of a laser diode that emits light, polarization direction is arranged a bonding surface of said laser diode so as to be substantially parallel to the longitudinal direction of the line light. Accordingly, the line light projected from the light projecting means is substantially regularly reflected on the imaging target, and the amount of diffusely reflected light is reduced.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1-3. Here, a height measuring apparatus for measuring the height of the cream solder printed on the pad surface formed on the substrate will be described.
[0013]
[First Embodiment]
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a side view of the height measuring apparatus according to the first embodiment.
A
[0014]
A laser diode 10 a generates linearly polarized light with its deflection direction substantially parallel to the
The light emitted from the laser diode 10a is condensed through the collimating lens 10b to become parallel light, is narrowed down to become spot light on the
[0015]
The arrangement of the light projection mirror 10d is such that the reflection surface is at an angle of 67.5 degrees with respect to the optical axis of the laser diode 10a (parallel to the surface of the substrate 1), and the light reflected by the reflection surface of the light projection mirror 10d is the
A
[0016]
In the height measuring apparatus according to the present embodiment, the laser diode 10a, the collimating lens 10b, the focusing lens 10c, the light projecting mirror 10d, and the line generator lens 10e constitute light projecting means.
Among them, the focusing lens 10c, the light projecting mirror 10d, and the line generator lens 10e are incorporated in the light projecting unit 30a. The light projecting unit 30a is attached to the shaft of the linear actuator 30b. By the action of the linear actuator 30b, the light projecting unit 30a is moved in a direction parallel to the optical axis of the laser diode 10a (direction indicated by the arrow X) by 10 mm. Move back and forth in a straight line.
[0017]
Next, the effect | action by said structure of this Embodiment is demonstrated. The light from the laser diode 10a is converted into parallel light by the collimating lens 10b, and is converted into spot light by the focusing lens 10c. Since the joining surface of the laser diode 10a is arranged so as to be parallel to the
[0018]
The spot light from the focusing lens 10c is reflected by the light projection mirror 10d and converted into line light by the line generator 10e, and is projected onto the
[0019]
The line light on the
[0020]
The picked-up image is processed by the method described in the prior art, and the height of the cream solder is obtained.
[0023]
The present invention is not subject to a no limitation to the shape condition of the first embodiment described above, it can be freely changed without departing from the scope.
[0024]
For example , when the height measuring apparatus of the present invention is applied to a cream solder printing apparatus, it may be applied not only to height measurement but also to alignment of a stencil and a substrate before printing cream solder. In other words, before printing, it is necessary to match the plate-like stencil drawn out in the printed pattern shape with the pad surface on the substrate formed in the printed pattern shape. The formed stencil mark and the substrate mark formed on a part of the substrate are recognized and matched by adjusting their relative positions. A special device is used to recognize the substrate mark. Therefore, by applying the height measuring device to the recognition of the substrate mark, the substrate mark recognition device can be eliminated. In addition, since the amount of diffuse reflection from the mark or the surface around the mark can be reduced as in the height measurement, the substrate mark can be reliably recognized.
[0025]
【The invention's effect】
According to the onset bright, image processing becomes easy image without stray light can not be obtained. Therefore, measurement accuracy can be increased. Further, in addition to the effect of the above SL, the laser diode or colleagues is linearly polarized light is generated, because of applying the laser diode as a light source of the light projecting means, because there is no means necessary for a new linearly polarized light The device itself can be miniaturized.
[0026]
Furthermore, since the height measuring device can be reduced in size, it can be applied to a limited narrow space without obstructing the printing operation even when applied to a printing device, which is very effective.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a side view of a height measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a normal imaging state.
FIG. 3 is a diagram showing an imaging state in which halation has occurred.
FIG. 4 is a schematic perspective view showing a state of a wave of projected line light.
FIG. 5 is a view showing a conventional height measuring apparatus.
[Explanation of symbols]
1 ...
10b ... Collimating lens (light projection means)
10c: Focusing lens (light projection means)
10d ... Projection mirror (projection means)
10e ... line generator (light projection means)
20 ... CCD camera (imaging means)
30a: Projection unit 30b: Linear actuator
Claims (1)
レーザ光源と、
レーザ光をライン光として測定対象へ投光する投光手段と、
ライン光が投光される測定対象を投光軸と所定の角度で撮像する撮像手段とを備え、
前記レーザ光源は直線偏光の光を発するレーザダイオードであり、
該偏光方向がライン光の長手方向に対してほぼ平行となるように前記レーザダイオードの接合面を配置したことを特徴とする高さ測定装置。 In the height measuring device that measures the height of the solder by imaging the line light projected from a predetermined angle onto the solder printed on the substrate ,
A laser light source;
A light projecting means for projecting laser light as a line light onto a measurement object;
An imaging means for imaging the measurement target to which the line light is projected at a predetermined angle with the projection axis;
The laser light source is a laser diode that emits linearly polarized light;
Polarization direction height measurement apparatus characterized in that a bonding surface of said laser diode so as to be substantially parallel to the longitudinal direction of the line light.
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