JP4090841B2 - Electrode for plasma CVD - Google Patents
Electrode for plasma CVD Download PDFInfo
- Publication number
- JP4090841B2 JP4090841B2 JP2002310478A JP2002310478A JP4090841B2 JP 4090841 B2 JP4090841 B2 JP 4090841B2 JP 2002310478 A JP2002310478 A JP 2002310478A JP 2002310478 A JP2002310478 A JP 2002310478A JP 4090841 B2 JP4090841 B2 JP 4090841B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- cathode
- anode
- plasma cvd
- work
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 title claims description 34
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 25
- 239000010408 film Substances 0.000 description 21
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 6
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 5
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- WFPZPJSADLPSON-UHFFFAOYSA-N dinitrogen tetroxide Inorganic materials [O-][N+](=O)[N+]([O-])=O WFPZPJSADLPSON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000012285 osmium tetroxide Substances 0.000 description 2
- 229910000489 osmium tetroxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000002040 relaxant effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プラズマCVD法によりワークの表面上に薄膜を形成する装置に関し、特にプラズマCVD法によりワークの円筒状等の立体表面に薄膜を形成するためのプラズマCVD用電極に関する。
【0002】
【従来の技術】
陰極と陽極との間の電界中で希薄な原料ガスを放電してプラズマ状態とすると、化学的に活性なイオンやラジカルな励起原子や励起分子が生成する。プラズマCVD法は、陰極と陽極との間に電圧を印加すると共に、その間に成膜材料となる希薄ガスを導入してプラズマとし、このプラズマ中で生成された活性な粒子により、固体表面で化学反応を促進し、薄膜を形成するものである。
【0003】
基本的なプラズマCVD装置の構成は、原料ガスの供給系、真空チャンバ、この真空チャンバ内に配置された平行平板型電極及びこの平行平板型電極に電圧を印加するための電源が主なものである。その他に排気系や排ガス処理系等を含んでいる。一般にこのようなプラズマCVD装置による固体表面への成膜は半導体ウエハ等の基板の平面に対してなされる。しかるに、円筒状の表面等のような立体表面に対しては、ワークの向きをかえながら電極に対して対向した面に順次表面処理を行う必要がある。
【0004】
【発明が解決しようとしている課題】
しかしながら、ワークの向きをかえながら電極に対して対向した面に順次表面処理を行うためには、ワークの向きを変える機構が必要となり、装置が複雑となる。しかも、真空チャンバ内でワークの向きを変えるためには、面倒な操作を必要とする。さらに、ワークの向きをかえながらその表面の処理を行う場合に、表面によって処理条件のバラツキ等が生じやすく、形成した薄膜の不均一性を生じやすい。
【0005】
本発明は、前記従来のプラズマCVD技術における課題に鑑み、プラズマCVD法により、円筒面等のワークの立体表面にも容易に均一な膜を成膜することが出来るプラズマCVD用電極を提供することを目的とする。さらにこの目的に加えて、ワークの立体表面をイオン衝撃によりエッチングして清浄化する機能を付加したものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明では、前記の目的を達成するため、プラズマCVD用の陽極2と陰極3とをリング形状としてそれらを交互に中心軸方向に並べて中心軸が一致するよう同軸上に配置し、その中心軸上にワーク9を置いて成膜するようにした。これにより、ワーク9の周りに均一な電界を形成し、均等なプラズマ条件を形成出来るようにしたものである。さらに、陽極2と陰極3とで囲まれた内側、つまりワーク9が配置された側に電界が形成されるように、陽極2と陰極3との間にそれらの電位に対して中立な浮遊電極4を配置し、浮遊電極4と陽極2、陰極3との間隔を適宜に設定した。
【0007】
すなわち、本発明によるプラズマCVD用電極は、陽極2と陰極3をリング状(或いはドーナツ状)とし、これらを中心軸が一致するように中心軸方向に交互に配置し、その中心軸上にワーク9を配置するものである。さらに、前記の陽極2と陰極3との間に、それらに印加する電圧に対して中立なリング状の浮遊電極4を配置する。
【0008】
このようなプラズマCVD用電極では、リング状の陽極2と陰極3の中心側に電界が形成されるため、その中心軸上にワーク9を配置すると共に、陽極2と陰極3とワーク9との間の空間に希薄な成膜用のガスを導入しながら、ワーク9の周囲でガス分子を放電させて、プラズマとすることが出来る。これにより、ワーク9の向きを変えずにその立体的な表面に均一な薄膜を形成することが可能となる。
【0009】
また、ワーク9の長さ(高さ)に応じて配置する陽極2と陰極3の数を適宜設定することにより、任意の長さのワーク9の表面に薄膜を形成することが出来る。
なおこの場合に、リング状の陽極2と陰極3の中心側に確実に電界が形成されるように、陽極2と浮遊電極4及び浮遊電極4と陰極3との間の間隙の幅gとその間隙の径方向の深さDとの比g/Dを1/2以下とするのがよい。
【0010】
さらに、ワーク9に導通するワーク接続電極7を設け、電源5の負側を陰極3と前記ワーク接続電極7との何れかに択一的に切り替える切替スイッチ6を設ける。これにより、プラズマCVDによりワーク9の表面に成膜するのに先だって、切替スイッチ6により電源5の負側をワーク接続電極7に接続し、ワーク接続電極7を負電位とした状態で、陽極2の内側にアルゴン等のガスを導入して電離し、発生したイオンをワーク9の表面に衝突させる。これにより、ワーク9の表面がイオン衝撃され、エッチングにより清浄化される。その後、切替スイッチ6を切り替えて電源5の負側を陰極3に接続し、前述するようにしてプラズマCVDにより成膜を行う。こうすることにより、切替スイッチ6の切替と導入するガスの種類を変えるだけで、ワーク9表面の前処理としての洗浄と目的とする膜の形成とが順次行える。
【0011】
【発明の実施の形態】
次に、図面を参照しながら、本発明の実施の形態について、具体的且つ詳細に説明する。
図1は、本発明によるプラズマCVD用電極の一実施形態を示す縦断側面図である。
【0012】
円盤状であって、中心に孔を有するリング状ないしはドーナツ状の複数の電極が用意され、これらの中心軸が一致するように等間隔で図1において上下に配列され、プラズマCVD用電極1が組み立てられている。このうち、一方の電極は陽極2であり、これらの両側にある電極は陰極3である。これら陽極2と陰極3は、それらの外周側においてスペーサを兼ねる絶縁材12を介して互いに絶縁され、且つ保持されている。図1の例では、陽極2が2つあり、その両側に3つの陰極3があるが、これらの数は後述するワーク9の高さ(長さ)により適宜変更される。
【0013】
さらに、これら上下に隣り合う陽極2と陰極3の間には、それらと別の浮遊電極4が挿入されている。図示した例における浮遊電極4は、前記陽極2と陰極3と内径は同じであるが、それら陽極2と陰極3より外径が小さく、且つ厚みのあるものである。この浮遊電極4は、その外周側が前記絶縁材12の内周に嵌め込まれた状態で陽極2と陰極3と同心上に配置され、且つ上下に隣り合う陽極2と陰極3の間に保持されている。この状態で浮遊電極4とその上下の陽極2及び陰極3との間に互いに等しい間隔の間隙が形成されている。なお、図1に示す例では、浮遊電極4は、陽極2と陰極3との間に上下に離して2枚挿入されている。
【0014】
このような複数ずつの陽極2、陰極3及び浮遊電極4が所定の状態で配列されてなるプラズマCVD用電極1は、図示してない真空チャンバの中に設置される。そして図1に示すように、これらの陽極2、陰極3及び浮遊電極4の中心軸上にワーク9が設置される。図1に示した例では、円柱形のワーク9が陽極2、陰極3及び浮遊電極4の中心軸上に配置されている。
【0015】
前記陽極2、陰極3及び浮遊電極4の中心軸上に設置されたワーク9の下端には、ワーク接触電極7が接触している。さらに、このワーク接触電極7を囲むようにリング状の反応ガス供給パイプ8が配置され、図示してない反応ガス供給源から供給されてくる反応ガスがこの反応ガス供給パイプ8の上側に開いた放出口から前記陽極2、陰極3及び浮遊電極4とワーク9との間の空間に供給される。他方、ワーク9の上端側には、前記陽極2、陰極3及び浮遊電極4とワーク9との間の真空度を測定する圧力計10が配置されている。
【0016】
図1には、これら陽極2、陰極3及びワーク接触電極7の電源5への電気的接続も示されている。図1に示すように、電源5の正側は陽極2に接続され、電源5の負側は切替スイッチ6の基部側接点に接続されている。この切替スイッチ6の2つの切替接点はそれぞれ前記陽極2の間にある陰極3とワーク9に接触したワーク接触電極7に接続されている。従って、電源5の負側は切替スイッチ6の切替動作により、陰極3とワーク接触電極7とに択一的に切替接続される。
【0017】
図2は、1組の陽極2、陰極3及び浮遊電極4の一部分を拡大した図である。浮遊電極4は導体からなり、陽極2と陰極3との間に上下に離して2枚挿入されている。
この浮遊電極4は、陽極2と陰極3との間に形成される電界が、その内周側へ向けて、すなわちワーク9の表面側に向けて形成されるように陽極2と陰極3との電位に対して中立な浮遊状態とする電極である。そのため、絶縁材12により陽極2と陰極3とに絶縁された状態で保持され、電気的に浮遊状態となっている。
【0018】
この浮遊電極4とその両側の陽極2と陰極3との間には、幅gの間隙が形成され、その間隙の深さ、すなわち浮遊電極4の内周縁から絶縁材12に埋め込まれた基部までの深さはDである。プラズマCVD法により成膜を行う場合、陽極2及び陰極3とワーク9との間の空間に例えばメタンとエチレンの混合ガス、アルゴンとナフタレンの混合ガス、アルゴン、或いは窒素と四酸化オスミウムの混合ガス等の成膜用素材ガスを供給しながら、陽極2と陰極3との間にプラズマ放電に適した電圧を印加し、プラズマを発生させる。この場合、陽極2と陰極3との間に形成される電界の緩和と異状放電及び電極側絶縁面のCVD膜の付着を避ける目的で浮遊電極4を配置し且つその間隔gは1mm〜5mmとするのがよい。
【0019】
このようなプラズマCVD用電極1を使用してワーク9の外周円筒面に成膜する場合の手順について次に説明する。
プラズマCVD法により、ワーク9の周面に成膜をする前に、まずその周面をエッチングし、清浄にする。
【0020】
プラズマCVD用電極1を収納した図示してない真空チャンバを予め1Pa以下の圧力に減圧する。切替スイッチ6により電源5の負側をワーク接触電極7側に切り替え、電源5の負側をワーク9に接続する。この状態で、反応ガス供給パイプ8から陽極2及び陰極3とワーク9との間の空間にアルゴンまたはアルゴンと酸素の混合ガスを導入し、圧力数Paないし数10Paの希薄ガス雰囲気とする。この状態でプラズマ放電を行うことにより、陽極2とワーク9との間の空間で前記ガス分子が電離し、そのイオンが発生する。このイオンは負電位に維持されたワーク9の表面に衝突し、ワーク9の表面に付着した不純物がイオン衝撃により取り除かれる。
【0021】
次に、この清浄化したワーク9の表面にプラズマCVD法で所要の薄膜を成膜する。
クリーニング用ガスの供給を停止した後、切替スイッチ6により電源5の負側を陰極3側に切り替え、電源5の負側を陰極3に接続する。この状態では、陽極2と陰極3との間に挿入された2枚の浮遊電極4が、それぞれ隣り合った電極の極性にチャージされる。
【0022】
真空チャンバ内を予め1Pa以下の圧力に減圧した状態で図示してないガスサーバから反応ガス供給パイプ8を通して例えばメタンとエチレンの混合ガス、アルゴンとナフタレンの混合ガス、アルゴン、或いは窒素と四酸化オスミウムの混合ガス等の成膜用素材ガスを陽極2及び陰極3とワーク9との間の空間に導入し、その空間をプラズマ放電に適した数Paないし数10Pa圧力の希薄ガス雰囲気に保つ。この状態で陽極2と陰極3との間に成膜に必要な電圧を印加し、プラズマを発生させると、ワーク9の周面に所要の膜が堆積、形成される。
【0023】
その後、切替スイッチ6により電源5を切断すると共に、成膜用素材ガスの供給を停止する。これにより、ワーク9の周面への成膜が完了する。周面に所要の薄膜を形成したワーク9は、図示してないトランスファーロッド等により真空チャンバから取り出す。
【0024】
前述のように、陽極2と陰極3との間に2枚の浮遊電極4を挿入し、それらをそれぞれ隣り合った電極の極性にチャージさせることにより、プラズマの生成が安定化する。また、これらの浮遊電極4の存在により、各陽極2、陰極3及び浮遊電極4を絶縁している絶縁材12の壁面が汚れにくく、電極のメンテナンスの間隔を長くすることが出来る。
【0025】
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によるプラズマCVD用電極では、リング状の陽極2と陰極3の中心軸上にワーク9を配置すると共に、陽極2と陰極3の中心側に成膜材料となる希薄なガスを導入することで、プラズマCVD法により、ワーク9の立体表面上に均一な薄膜を成膜することが可能となる。
【0026】
また、ワーク9の長さ(高さ)に応じて配置する陽極2と陰極3の数を適宜設定することにより、そのワーク9の長さ(高さ)に対応することが出来る。
さらに、ワーク9に導通するワーク接続電極7を設け、電源5の負側を陰極3と前記ワーク接続電極7との何れかに切り替える切替スイッチ6を設けることにより、プラズマCVDによりワーク9の表面に成膜するのに先だって、ワーク9の表面をイオン衝撃により清浄化することも出来る。この前処理工程とその後の成膜工程とは切替スイッチ6による電源5の切替と導入するガスの切替だけで順次行うことが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるプラズマCVD用電極の一実施形態を示す電極部分のみを縦断した側面図である。
【図2】前記のプラズマCVD用電極の1組の陽極、陰極及び浮遊電極の一部分を拡大した図である。
【符号の説明】
1 プラズマCVD用電極
2 陽極
3 陰極
4 浮遊電極
5 電源
6 切替スイッチ
7 ワーク接続電極
9 ワーク[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an apparatus for forming a thin film on the surface of a workpiece by plasma CVD, and more particularly to an electrode for plasma CVD for forming a thin film on a three-dimensional surface such as a cylindrical shape of the workpiece by plasma CVD.
[0002]
[Prior art]
When a dilute source gas is discharged in a plasma state in an electric field between the cathode and the anode, chemically active ions, radical excited atoms and excited molecules are generated. In the plasma CVD method, a voltage is applied between a cathode and an anode, and a dilute gas as a film forming material is introduced during that time to form a plasma, and active particles generated in the plasma are used for chemical reaction on a solid surface. It promotes the reaction and forms a thin film.
[0003]
The basic configuration of the plasma CVD apparatus mainly includes a source gas supply system, a vacuum chamber, parallel plate electrodes arranged in the vacuum chamber, and a power source for applying a voltage to the parallel plate electrodes. is there. In addition, an exhaust system and an exhaust gas treatment system are included. In general, film formation on a solid surface by such a plasma CVD apparatus is performed on a plane of a substrate such as a semiconductor wafer. However, for a three-dimensional surface such as a cylindrical surface, it is necessary to sequentially perform surface treatment on the surface facing the electrode while changing the orientation of the workpiece.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in order to sequentially perform the surface treatment on the surface facing the electrode while changing the orientation of the workpiece, a mechanism for changing the orientation of the workpiece is required, and the apparatus becomes complicated. Moreover, in order to change the direction of the workpiece in the vacuum chamber, a troublesome operation is required. Furthermore, when the surface is processed while changing the direction of the workpiece, the processing conditions are likely to vary depending on the surface, and non-uniformity of the formed thin film is likely to occur.
[0005]
In view of the problems in the conventional plasma CVD technique, the present invention provides a plasma CVD electrode capable of easily forming a uniform film on a three-dimensional surface of a workpiece such as a cylindrical surface by plasma CVD. With the goal. Furthermore, in addition to this purpose, a function for etching and cleaning the three-dimensional surface of the workpiece by ion bombardment is added.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In the present invention, in order to achieve the above object, the
[0007]
That is, in the plasma CVD electrode according to the present invention, the
[0008]
In such a plasma CVD electrode, since an electric field is formed on the center side of the ring-
[0009]
Moreover, a thin film can be formed on the surface of the
In this case, the width g of the gap between the
[0010]
Further, a work connection electrode 7 that conducts to the
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described specifically and in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a longitudinal side view showing an embodiment of an electrode for plasma CVD according to the present invention.
[0012]
A plurality of ring-shaped or donut-shaped electrodes having a disc shape and a hole in the center are prepared, and arranged vertically in FIG. 1 at equal intervals so that their central axes coincide with each other. It is assembled. Among these, one electrode is the
[0013]
Further, a floating electrode 4 is inserted between the
[0014]
Such a plasma CVD electrode 1 in which a plurality of
[0015]
A work contact electrode 7 is in contact with the lower end of the
[0016]
FIG. 1 also shows the electrical connection of the
[0017]
FIG. 2 is an enlarged view of a part of the pair of
The floating electrode 4 is formed between the
[0018]
A gap having a width g is formed between the floating electrode 4 and the
[0019]
Next, a procedure for forming a film on the outer peripheral cylindrical surface of the
Before forming a film on the peripheral surface of the
[0020]
A vacuum chamber (not shown) containing the plasma CVD electrode 1 is depressurized in advance to a pressure of 1 Pa or less. The negative side of the power source 5 is switched to the workpiece contact electrode 7 side by the
[0021]
Next, a required thin film is formed on the surface of the cleaned
After the supply of the cleaning gas is stopped, the negative side of the power source 5 is switched to the
[0022]
For example, a mixed gas of methane and ethylene, a mixed gas of argon and naphthalene, argon, or nitrogen and osmium tetroxide through a reaction
[0023]
Thereafter, the power source 5 is turned off by the
[0024]
As described above, plasma generation is stabilized by inserting two floating electrodes 4 between the
[0025]
【The invention's effect】
As described above, in the plasma CVD electrode according to the present invention, the
[0026]
Further, by appropriately setting the number of
Furthermore, by providing a work connection electrode 7 that conducts to the
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a side view in which only an electrode portion showing an embodiment of an electrode for plasma CVD according to the present invention is vertically cut.
FIG. 2 is an enlarged view of a part of one set of an anode, a cathode and a floating electrode of the plasma CVD electrode.
[Explanation of symbols]
1 Electrode for
Claims (4)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002310478A JP4090841B2 (en) | 2002-10-25 | 2002-10-25 | Electrode for plasma CVD |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002310478A JP4090841B2 (en) | 2002-10-25 | 2002-10-25 | Electrode for plasma CVD |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004143542A JP2004143542A (en) | 2004-05-20 |
| JP4090841B2 true JP4090841B2 (en) | 2008-05-28 |
Family
ID=32455959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002310478A Expired - Fee Related JP4090841B2 (en) | 2002-10-25 | 2002-10-25 | Electrode for plasma CVD |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4090841B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180074997A (en) * | 2016-12-26 | 2018-07-04 | 한국기초과학지원연구원 | Stacked type surface discharge plasma generating source |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5197036B2 (en) * | 2008-01-23 | 2013-05-15 | 株式会社ピュアロンジャパン | Plasma generator |
-
2002
- 2002-10-25 JP JP2002310478A patent/JP4090841B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180074997A (en) * | 2016-12-26 | 2018-07-04 | 한국기초과학지원연구원 | Stacked type surface discharge plasma generating source |
| KR101952484B1 (en) * | 2016-12-26 | 2019-05-10 | 한국기초과학지원연구원 | Stacked type surface discharge plasma generating source |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004143542A (en) | 2004-05-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20150170943A1 (en) | Semiconductor system assemblies and methods of operation | |
| JP4307628B2 (en) | Flat plate gas introduction device for CCP reaction vessel | |
| US8956512B2 (en) | Magnetron sputtering apparatus and film forming method | |
| JP2002502550A (en) | Apparatus for improving the coupling of power to a workpiece in a semiconductor wafer processing system | |
| JP2005223185A (en) | Electrostatic chuck and its manufacturing method | |
| JPH10270430A (en) | Plasma processing equipment | |
| US7142406B2 (en) | Electrostatic chuck of semiconductor fabrication equipment and method for chucking wafer using the same | |
| JP4090841B2 (en) | Electrode for plasma CVD | |
| TW202350020A (en) | Apparatus for generating etchants for remote plasma processes | |
| JP2006054334A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus, sputtering apparatus, dry etching apparatus, and semiconductor device manufacturing method | |
| JPS61187336A (en) | Plasma etching device | |
| KR101138609B1 (en) | Plasma generation apparatus for making radical effectively | |
| JP6019343B2 (en) | Plasma CVD apparatus, method for manufacturing magnetic recording medium, and film forming method | |
| JP2006339391A (en) | Dry etching equipment | |
| JP6735098B2 (en) | Dry etching apparatus and method | |
| JP2007031816A (en) | Sputtering apparatus and sputtering method | |
| JPH0425017A (en) | Vacuum film forming equipment | |
| JP4873718B2 (en) | Plasma processing apparatus and plasma processing method | |
| US10854432B2 (en) | Rotary plasma electrical feedthrough | |
| JP3208931B2 (en) | Plasma processing apparatus and plasma processing method using the same | |
| JP2005347545A (en) | Electrostatic chuck device | |
| JPH118225A (en) | Parallel plate electrode type plasma processing equipment | |
| JPH09241851A (en) | Thin film forming equipment | |
| JPH10303184A (en) | Parallel plate electrode type RIE system | |
| KR200263685Y1 (en) | plasma transaction apparatus |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050831 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080201 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080214 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080227 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140307 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |