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JP4094801B2 - Texturing liquid for magnetic disk substrate - Google Patents
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JP4094801B2 - Texturing liquid for magnetic disk substrate - Google Patents

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  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気ヘッドが近接した状態で対向させられる平坦な磁気記録面を少なくとも一面に有する磁気ディスクに同心円状の微小な条痕を形成するテクスチャリング加工に用いられるテクスチャリング加工液に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、ハードディスクドライブ(HDD)と称される記憶装置には、高速で回転させられる磁気ディスク基板と、その磁気ディスク基板の高速回転によりその一面に対して僅かに浮上させられた状態で対向する磁気ヘッドとが設けられている。この磁気ディスク基板は、一般に、軽金属製円板の一面上に、たとえばNi−Pメッキにより構成された下地層、蒸着或いはスパッタなどを用いて磁性金属から形成された磁性薄膜層、カーボンなどの固体潤滑剤から成る保護層が順次積層されたものであり、それら各層が積層されている磁気記録面は高精度な研磨によって可及的に平坦とされることにより鏡面状態とされる。
【0003】
しかしながら、上記磁気ディスク基板に対する記録密度が高くなるに伴って、その磁気ディスク基板の磁気記録面とそれに対向する磁気ヘッドとの間の間隔がたとえば1/10μm程度に小さくされる傾向にあることから、磁気ディスク基板の磁気記録面とそれに対向する磁気ヘッドとが相互に吸着する可能性が高くなり、ハードディスクドライブの起動が困難となるおそれがあった。
【0004】
これに対し、磁気ヘッドの吸着を防止するために十分な大きさではあるが、浮上中の磁気ヘッドと干渉するほど大きくはない高さたとえば10乃至50Å(オングストローム:10-8cm)の凹凸高さで周方向に同心円状に伸びる微小な条痕を、多結晶アルミナ焼結体から成る砥粒を用いてたとえば上記下地層の表面に形成する所謂テクスチャリング加工を行うことにより、磁気記録面への磁気ヘッドの吸着を防止する技術が知られている。たとえば、特開平6−176358号公報、特開平7−57253号公報、特開平4−214223号公報に記載された技術がそれである。これらによれば、回転駆動される磁気ディスク基板の一面に対して多結晶アルミナ焼結体から成る砥粒を含むスラリーすなわちテクスチャリング加工液を供給すると同時に、磁気ディスク基板よりも小径の摺接用パッドをその磁気ディスク基板の偏心位置に押し付けつつ磁気ディスク基板よりも大幅に低い回転速度で回転させることにより、或いは磁気ディスク基板の径よりも小幅の摺接用パッドを用いて磁気ディスク基板を挟圧しつつその磁気ディスク基板を回転させることにより、磁気ディスク基板の一面に設けられた下地層に円周方向の条痕が形成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記従来のテクスチャリング加工において用いられるテクスチャリング加工液には細かな砥粒(多結晶アルミナ焼結体から成る研磨剤)が用いられる。このため、より細かなテクスチャリング加工となるほどその極めて細かな砥粒が用いられて研磨加工能率が低くなるとともに、加工前の状態が残ってしまうという不都合があった。
【0006】
本発明は以上の事情を背景として為されたものであり、その目的とするところは、細かなテクスチャリング加工であっても高い加工能率が得られ条痕を能率良く得られるテクスチャリング加工液を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段
かかる目的を達成するための発明の要旨とするところは、磁気ディスク基板の一面に磁気ヘッドの吸着を防止するための同心円状の微小な条痕を設けるテクスチャリング加工のための水性の磁気ディスク基板用テクスチャリング加工液であって、界面活性剤として単独で0.01〜50重量%の炭素数が12のラウリン酸トリエタノールアミン塩と、0.01〜1重量%の中心粒径が0.01〜1μmのダイヤモンド粉とを含み、表面張力が23×10−3N/m以下であることにある。
【0008】
発明の効果】
このようにすれば、水性の磁気ディスク基板用テクスチャリング加工液には、界面活性剤として単独で0.01〜50重量%の炭素数が12のラウリン酸トリエタノールアミン塩と、0.01〜1重量%の中心粒径が0.01〜1μmのダイヤモンド粉とが含まれ、表面張力が23×10−3N/m以下とされているので、そのテクスチャリング加工液の表面張力が低くなってテクスチャリング加工に用いるたとえば布製研磨面への浸透性が高くなり、ダイヤモンド粉のうちの研磨に関与できる割合が高められるので、高い研磨能率が得られる。
【0013】
【発明の他の態様】
ここで、好適には、前記ダイヤモンド粉好適には多結晶ダイヤモンド粉である。また、そのダイヤモンド粉は0.01〜1μmの中心粒径を備え、0.01〜1重量%の割合で前記テクスチャリング加工液に含まれる。このようにすれば、磁気ディスク基板の表面に周方向に伸びるオングストロームオーダの同心円状の微小な条痕が好適に形成されるとともに、その微小な条痕を形成する研磨加工が能率よく行われる。テクスチャリング加工液に対するダイヤモンド粉の混合割合が0.01を下回る場合は、研磨能率が著しく低下して磁気ディスク基板の表面に条痕が形成されない部分が発生することがある一方で、1重量%を越える場合は、スクラッチが発生し易くなる。また、テクスチャリング加工液に含まれるダイヤモンド粉の中心粒径が0.01μmを下まわる場合は、条痕の凹凸が過少となって磁気ディスク基板の磁気記録面とそれに対向する磁気ヘッドとが相互に吸着する可能性が高くなり、ハードディスクドライブの起動が困難となるおそれがある一方で、1μmを越える場合は、条痕の凹凸が過大となって磁気ディスク基板の表面に磁気ヘッドが接触するおそれがある。
【0018】
【発明の好適な実施の形態】
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
【0019】
図1および図2は、本発明の一実施例のテクスチャリング加工液を用いてテクスチャリング加工を行うための磁気ディスク基板テクスチャリング加工装置(以下、テクスチャリング加工装置という)10を模式的に示す斜視図および平面図である。このテクスチャリング加工装置10は、磁気ディスク基板Pの径と同等或いはそれ以上の径方向の幅寸法を有する研磨パッドである環状研磨面16を備えて垂直な中心線Cまわりに回転可能に設けられた研磨テーブルである平面研磨工具12と、その平面研磨工具12を一回転方向Eにおいてたとえば3乃至10r.p.m 程度の一定の回転速度で回転駆動する平面研磨工具回転駆動装置14と、その平面研磨工具12よりも小径たとえば1/2以下の磁気ディスク基板Pを保持し、その平面研磨工具回転駆動装置14により上記平面研磨工具12と同じ方向Fに回転駆動される平面研磨工具12の環状研磨面16の一部に対して、その磁気ディスク基板Pの一面すなわち磁気記録面の全面を押し付ける磁気ディスク基板保持装置18と、その磁気ディスク基板保持装置18により環状研磨面16に一面が押し付けられている磁気ディスク基板Pを、その垂直な中心線Dまわりに平面研磨工具12よりも高い回転速度たとえば100乃至200r.p.m 程度の一定の回転速度で自転するように回転駆動する磁気ディスク基板回転駆動装置20と、上記環状研磨面16にスラリー状研磨用ルブリカントすなわち研磨液であるテクスチャリング加工液を連続的に供給するための研磨液供給装置21とを備えている。
【0020】
このテクスチャリング加工液は、水性であって、界面活性剤と0.01〜1重量%の研磨粉とが水に添加されたものであり50×10-3N/m以下の、表面張力を備えている。好適には、このテクスチャリング加工液は、0.01〜50重量%の炭素数が8〜18のカルボン酸塩と、0.01〜1重量%の中心粒径が0.01〜1μmのダイヤモンド粉とを含むものであり、そのカルボン酸塩は好適にはカルボン酸とのアルカノールアミン塩から成るものである。上記中心粒径とは、一般にはダイヤモンド粉の粒度分布に於ける中心値であって平均値(平均粒径)であるが、粒度分布に於ける最大ピーク値に対応する粒径であってもよい。
【0021】
上記平面研磨工具12の環状研磨面16は、たとえばポリエステル繊維製の糸が綾織り或いは平織りされ且つ表面に起毛処理が施された平坦な布から構成されている。また、上記磁気ディスク基板保持装置18は、位置固定のブラケット22に設けられた複数個(本実施例では3個)の保持ローラ24と、その保持ローラ24に当接することにより上記環状研磨面16上において中心軸まわりに回転可能に保持される保持リング部材26とを備えている。この保持リング部材26内には、磁気ディスク基板Pが丁度嵌め入れられる径寸法を備えており、図示しないウエイトがその磁気ディスク基板Pの上に載置されることにより、磁気ディスク基板Pが所定の荷重たとえば490Pa乃至49kPa程度の荷重で磁気ディスク基板Pの一面が前記環状研磨面16に押圧された状態で自転可能に保持されるようになっている。前記磁気ディスク基板回転駆動装置20によって上記保持ローラ24の1つが回転駆動されると、磁気ディスク基板Pが所定の荷重で環状研磨面16に押圧された状態で回転駆動させられる。
【0022】
上記磁気ディスク基板Pは、所謂ハードディスクドライブに用いられる所定径寸法たとえば3.3インチ径の円板状の記憶媒体であって、たとえば図3に示すような下地層形成工程、テクスチャリング加工工程、磁性層形成工程、保護層形成工程を経て構成されたものである。上記下地層形成工程では、たとえばアルミニウム合金製の基体30の一面上に、たとえばNi−Pメッキにより構成された下地層32が形成され(図3)、上記テクスチャリング加工工程では、前記テクスチャリング加工装置10において前記テクスチャリング加工液が研磨液供給装置21から連続的に供給される状態で研磨加工が施され、上記下地層32の表面に対してたとえばオングストローム・オーダの微小な凹凸であって周方向に伸びる条痕Aが形成され(図4)、上記磁性層形成工程では、その条痕Aが形成された下地層32の上に蒸着或いはスパッタなどを用いて磁性金属から形成された磁性薄膜層34が形成され、上記保護層形成工程では、上記磁性薄膜層34の上にカーボンなどの固体潤滑剤から成る保護層36が順次積層されたもの(図5)である。それら各層32、34、36が積層されている磁気ディスク基板Pの一面である磁気記録面は、基本的には高精度な研磨によって可及的に平坦とされることにより略鏡面状態とされているが、下地層32に形成された微小な条痕Aがそのまま保護層36の表面にも現れることにより、オングストローム・オーダの微小な条痕Aが周方向に形成される。図6は、本発明者が行った実験により得られた条痕Aの径方向におけるプロファイルを示す測定値である。
【0023】
以下、上記テクスチャリング加工工程においてテクスチャリング加工装置10によって下地層32の表面に対して微小な条痕Aを形成するテクスチャリング加工を説明する。先ず、下地層32が形成された面を環状研磨面16に対向させた状態で磁気ディスク基板Pが保持リング部材26内に嵌め入れられて図示しないウエイト板がその上に載置され、研磨液供給装置21から環状研磨面16に対してスラリー状のテクスチャリング加工液が連続供給されつつ(スラリー供給工程)、平面研磨工具回転駆動装置14および磁気ディスク基板回転駆動装置20が作動させられる。これにより、磁気ディスク基板Pよりも大径であって中心線Cまわりに回転させられる平面研磨工具12の環状研磨面16の一部に対して、磁気ディスク基板Pの下地層32が形成された面が全面的に押し付けられると同時に、その磁気ディスク基板Pがそれ自身の中心線Dまわりに上記平面研磨工具12よりも高い回転速度で回転(自転)させられるので、凹凸の最大振幅が30Å程度の微小な条痕Aが周方向に形成される。
【0024】
表1は、本発明者が種々のテクスチャリング加工液を用いてNi−Pメッキ鏡面仕上げ磁気ディスク基板Pのテクスチャリング研磨加工を以下の研磨試験条件にて行った実験結果を示している。
【0025】
研磨試験条件
・研磨パッド:千代田製1801−G(内径:20mmφ、外径:300mm φ)
・ディスク基板:Ni−Pメッキ鏡面仕上げ磁気ディスク基板(3.3 インチ φ)
・研磨テーブルの回転数:5 rpm
・ディスク基板の回転数:100 rpm
・ディスク基板の中心位置:研磨テーブル中心から90mm
・加圧面圧:250g/cm2
・スラリー供給量:5ml/min
・研磨時間:2 min
【0026】

Figure 0004094801
なお、表1において、表面張力は、滴下法により得られた値に毛細管法測定値への変換係数を掛けた値である。浸透性は、ポリエステル不織布にウレタン樹脂を含浸させた人工スウェード(研磨パッド)に各テクスチャリング加工液を30mg滴下し、それにしみ込むまでの時間を計測したものである。加工レートは、単位時間(1秒)当たりの被研磨材の除去量である。ダイヤモンド粉は、0.13μmφの中心粒径を有する多結晶ダイヤモンドである。各成分量の単位は重量%である。
【0027】
表1において、0.1重量%のダイヤモンド粉が含まれているにも係わらず、テクスチャリング加工液の残部が水だけである場合は、十分な加工レートが得られなかった。また、テクスチャリング加工液の残部がエチルアルコール(85%水溶液)だけである場合は、表面張力が低下しているにもかかわらず、界面活性剤が含まれていないために十分な加工レートが得られなかった。しかしながら、主として水から成るテクスチャリング加工液に1.0重量%の界面活性剤が添加されている場合は、表面張力が低下させられて研磨パッドへのしみ込みがよくなることから、ダイヤモンド砥粒も研磨パッドによくしみ込んで研磨に関与する割合が高められるので、高い研磨レートが得られる。これらの界面活性剤は炭素数が8〜18のカルボン酸と塩基性物質との塩であり、表1においては炭素数が12であるラウリン酸トリエタノールアミン塩である場合に特異的に研磨レートが高められる。このような特異的に研磨レートが高められる範囲は、炭素数が10〜14のカルボン酸と塩基性物質との塩であると考えられる。
【0028】
上述のように、本実施例のテクスチャリング加工液には、界面活性剤と、0.01〜1重量%の中心粒径が0.01〜1μmの研磨粉とが含まれ、表面張力が50×10-3N/m以下の水性とされているので、そのテクスチャリング加工液の表面張力が低くなってテクスチャリング加工に用いるたとえば布製研磨面への浸透性が高くなり、研磨粉のうちの研磨に関与できる割合が高められるので、高い研磨能率が得られる。
【0029】
また、本実施例のテクスチャリング加工液に含まれる界面活性剤は、0.01〜50重量%の炭素数が8〜18のカルボン酸塩、特に炭素数が8〜18のカルボン酸とのアルカノールアミン塩、たとえばカプリル酸トリエタノールアミン塩(炭素数C=8)、ラウリン酸トリエタノールアミン塩(炭素数C=12)、ステアリン酸トリエタノールアミン塩(炭素数C=18)、オレイン酸トリエタノールアミン塩(炭素数C=18)などから成るので、その界面活性剤或いはそれを含むテクスチャリング加工液の取扱いが簡単且つ容易となるとともに、高い研磨能率が得られる利点がある。
【0030】
また、本実施例のテクスチャリング加工液に含まれる研磨粉は、0.01〜1μmの中心粒径を備えた多結晶ダイヤモンド粉であって、0.01〜1重量%の割合でそのテクスチャリング加工液に含まれることから、磁気ディスク基板Pの表面に周方向に伸びるオングストロームオーダの同心円状の微小な条痕が好適に形成されるとともに、その微小な条痕を形成する研磨加工が能率よく行われる。テクスチャリング加工液に対するダイヤモンド粉の混合割合が0.01を下回る場合は、研磨能率が著しく低下して磁気ディスク基板の表面に条痕が形成されない部分が発生することがある一方で、1重量%を越える場合は、スクラッチが発生し易くなる。また、テクスチャリング加工液に含まれるダイヤモンド粉の中心粒径が0.01μmを下まわる場合は、条痕の凹凸が過少となって磁気ディスク基板Pの磁気記録面とそれに対向する磁気ヘッドとが相互に吸着する可能性が高くなり、ハードディスクドライブの起動が困難となるおそれがある一方で、1μmを越える場合は、条痕の凹凸が過大となって磁気ディスク基板Pの表面に磁気ヘッドが接触するおそれがある。
【0031】
以上、本発明の一実施例を図面を用いて説明したが、本発明はその他の態様においても適用される。
【0032】
たとえば、前述のテクスチャリング加工液に含まれる界面活性剤は、アニオン(陰イオン)系界面活性剤だけでなく、カチオン(陽イオン)系界面活性剤、ノニオン(非イオン)系界面活性剤であってもよい。要するに、水性の磁気ディスク基板用テクスチャリング加工液の表面張力を50×10-3N/m以下とする材料および割合であればよい。
【0033】
また、上記界面活性剤は、脂肪酸すなわちカルボン酸とのアルカリ塩、たとえば炭素数が8〜18のカルボン酸塩であり、その無機塩にはナトリウム塩、カリウム塩、アミン塩などであってもよい。
【0034】
また、前述のテクスチャリング加工液に含まれる研磨粉は、ダイヤモンド粉であったが、CBN砥粒のような超砥粒だけでなく、アルミナ質砥粒、炭化珪素質砥粒、シリカ質砥粒などの一般砥粒であってもよい。
【0035】
また、前述の実施例のテクスチャリング加工装置10において、平面研磨工具12の環状研磨面16は、ポリエステル繊維製の糸が綾織り或いは平織りされ且つ表面に起毛処理が施された平坦な布から構成されていたが、不織布やフェルト板などであってもよいし、合成樹脂ボンドなどにより砥粒を固定した固定砥粒型の砥石板が用いられてもよい。
【0036】
なお、上述したのはあくまでも本発明の一実施例であり、本発明はその主旨を逸脱しない範囲において種々の変更が加えられ得るものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のテクスチャリング加工装置の構成の要部を概略説明する斜視図である。
【図2】図1のテクスチャリング加工装置の平面図である。
【図3】図1の磁気ディスク基板Pの製造工程の要部を説明する図であって、下地層形成工程により下地層が形成された状態を示す要部断面図である。
【図4】図1の磁気ディスク基板Pの製造工程の要部を説明する図であって、テクスチャリング加工工程により下地層上に条痕跡Aが形成された状態を示す要部断面図である。
【図5】図1の磁気ディスク基板Pの製造工程の要部を説明する図であって、磁性薄膜形成工程および保護層形成工程によって下地層上に磁性薄膜および保護層が形成された状態を示す要部断面図である。
【図6】テクスチャリング加工により図4の下地層上に形成された条痕跡Aのプロファイルを径方向において測定したデータを示す図である。
【符号の説明】
16:環状研磨面(研磨パッド)
P:磁気ディスク基板[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a texturing liquid for use in texturing processing for forming concentric minute streaks on a magnetic disk having at least one flat magnetic recording surface opposed to a magnetic head in the close proximity. is there.
[0002]
[Prior art]
For example, in a storage device called a hard disk drive (HDD), a magnetic disk substrate that is rotated at high speed and a magnet that is opposed to the magnetic disk substrate in a state of being slightly levitated with respect to one surface by high-speed rotation of the magnetic disk substrate. And a head. This magnetic disk substrate is generally formed on one surface of a light metal disk, for example, an underlayer formed by Ni-P plating, a magnetic thin film layer formed from magnetic metal using vapor deposition or sputtering, and a solid such as carbon. A protective layer made of a lubricant is sequentially laminated, and a magnetic recording surface on which these layers are laminated is made as a mirror surface by being made as flat as possible by high-precision polishing.
[0003]
However, as the recording density on the magnetic disk substrate increases, the distance between the magnetic recording surface of the magnetic disk substrate and the magnetic head facing the magnetic recording substrate tends to be reduced to, for example, about 1/10 μm. In addition, there is a high possibility that the magnetic recording surface of the magnetic disk substrate and the magnetic head facing the magnetic recording surface are attracted to each other, which makes it difficult to start the hard disk drive.
[0004]
On the other hand, the height of the unevenness of, for example, 10 to 50 mm (angstrom: 10 −8 cm), which is large enough to prevent the magnetic head from being attracted but not so large as to interfere with the flying magnetic head. By applying so-called texturing processing, for example, on the surface of the underlayer using abrasive grains made of a polycrystalline alumina sintered body, fine streaks extending concentrically in the circumferential direction are applied to the magnetic recording surface. A technique for preventing the magnetic head from adsorbing is known. For example, the techniques described in JP-A-6-176358, JP-A-7-57253, and JP-A-4-214223 are examples thereof. According to these, a slurry containing abrasive grains made of a polycrystalline alumina sintered body, that is, a texturing process liquid, is supplied to one surface of a rotationally driven magnetic disk substrate, and at the same time, for sliding contact with a smaller diameter than the magnetic disk substrate. The pad is pressed against the eccentric position of the magnetic disk substrate and rotated at a rotational speed significantly lower than that of the magnetic disk substrate, or the magnetic disk substrate is sandwiched by using a sliding contact pad having a width smaller than the diameter of the magnetic disk substrate. By rotating the magnetic disk substrate while pressing, circumferential streaks are formed on the underlayer provided on one surface of the magnetic disk substrate.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, fine abrasive grains (abrasives made of a polycrystalline alumina sintered body) are used for the texturing liquid used in the conventional texturing. For this reason, as the finer texturing process is performed, the finer abrasive grains are used, and the polishing efficiency is lowered, and the state before processing remains.
[0006]
The present invention has been made against the background of the above circumstances, and the object of the present invention is to provide a texturing liquid that can achieve high processing efficiency even with fine texturing and can efficiently obtain streak. It is to provide.
[0007]
[ Means for Solving the Problems]
In order to achieve this object, the gist of the present invention is to provide an aqueous magnetic disk for texturing, in which concentric minute streaks for preventing magnetic head adsorption are provided on one surface of a magnetic disk substrate. a texturing solution for a substrate, and lauric acid triethanolamine salt of 0.01 to 50 wt% of the number of carbon alone as a surfactant 12, the center particle size of 0.01 to 1 wt% Is 0.01 to 1 μm of diamond powder, and the surface tension is 23 × 10 −3 N / m or less.
[0008]
[Effect of the invention ]
Thus, the texturing solution for a magnetic disk substrate Aqueous laurate triethanolamine salt of the carbon atoms of 0.01 to 50 wt% by itself as a surfactant 12, 0. Since the surface tension is 23 × 10 −3 N / m or less, the surface tension of the texturing liquid is 0.1 to 1% by weight , and the surface tension is 23 × 10 −3 N / m or less. Since it becomes lower and the permeability to, for example, a cloth-polished surface used for texturing is increased, and the proportion of diamond powder that can participate in polishing is increased, high polishing efficiency can be obtained.
[0013]
Other aspects of the invention
Here, preferably, the diamond powder is preferably polycrystalline diamond powder. The diamond powder has a center particle diameter of 0.01 to 1 μm and is contained in the texturing liquid at a ratio of 0.01 to 1% by weight. In this way, angstrom-order concentric minute streaks extending in the circumferential direction are suitably formed on the surface of the magnetic disk substrate, and the polishing process for forming the minute streaks is efficiently performed. When the mixing ratio of the diamond powder to the texturing liquid is less than 0.01, the polishing efficiency is remarkably lowered, and a portion where no streak is formed on the surface of the magnetic disk substrate may be generated. When the value exceeds the value, scratches are likely to occur. Further, when the center particle diameter of the diamond powder contained in the texturing liquid is less than 0.01 μm, the irregularities of the streaks are so small that the magnetic recording surface of the magnetic disk substrate and the magnetic head facing it are mutually connected. The hard disk drive may become difficult to start up, and if it exceeds 1 μm, the stripes may be excessively uneven and the magnetic head may come into contact with the surface of the magnetic disk substrate. There is.
[0018]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0019]
1 and 2 schematically show a magnetic disk substrate texturing apparatus (hereinafter referred to as a texturing apparatus) 10 for performing texturing using the texturing liquid of one embodiment of the present invention. It is a perspective view and a top view. This texturing apparatus 10 includes an annular polishing surface 16 which is a polishing pad having a radial width equal to or larger than the diameter of the magnetic disk substrate P, and is provided to be rotatable around a vertical center line C. A flat polishing tool 12, which is a polishing table, a flat polishing tool rotation driving device 14 for driving the flat polishing tool 12 at a constant rotation speed of about 3 to 10 rpm in one rotation direction E, and the flat polishing An annular polishing surface of the flat polishing tool 12 that holds a magnetic disk substrate P having a smaller diameter than the tool 12, for example, ½ or less, and is driven to rotate in the same direction F as the flat polishing tool 12 by the flat polishing tool rotation driving device 14. A magnetic disk substrate holding device 18 that presses one surface of the magnetic disk substrate P against the part of the magnetic disk substrate P, that is, the entire surface of the magnetic recording surface, and the magnetic The magnetic disk substrate P whose one surface is pressed against the annular polishing surface 16 by the disk substrate holding device 18 is rotated at a constant rotational speed around the vertical center line D higher than that of the planar polishing tool 12, for example, about 100 to 200 rpm. A magnetic disk substrate rotation driving device 20 that is driven to rotate so as to rotate at a rotational speed, and a polishing liquid supply for continuously supplying a slurry-like polishing lubricant, that is, a texturing processing liquid that is a polishing liquid, to the annular polishing surface 16. The apparatus 21 is provided.
[0020]
This texturing liquid is water-based and is obtained by adding a surfactant and 0.01 to 1% by weight of abrasive powder to water and has a surface tension of 50 × 10 −3 N / m or less. I have. Preferably, the texturing fluid comprises 0.01 to 50% by weight of a carboxylic acid salt having 8 to 18 carbon atoms and 0.01 to 1% by weight of a diamond having a central particle size of 0.01 to 1 μm. The carboxylic acid salt preferably comprises an alkanolamine salt with a carboxylic acid. The central particle size is generally a median value in the particle size distribution of diamond powder and an average value (average particle size), but it may be a particle size corresponding to the maximum peak value in the particle size distribution. Good.
[0021]
The annular polishing surface 16 of the flat polishing tool 12 is made of, for example, a flat cloth in which yarns made of polyester fiber are twilled or plain woven and the surface is subjected to raising treatment. The magnetic disk substrate holding device 18 includes a plurality of (three in this embodiment) holding rollers 24 provided on a position-fixed bracket 22 and the annular polishing surface 16 by contacting the holding rollers 24. And a holding ring member 26 that is rotatably held around the central axis. The holding ring member 26 is provided with a diameter that allows the magnetic disk substrate P to be exactly fitted therein. A weight (not shown) is placed on the magnetic disk substrate P, so that the magnetic disk substrate P is predetermined. With this load, for example, about 490 Pa to 49 kPa, one surface of the magnetic disk substrate P is held so as to be able to rotate while being pressed against the annular polishing surface 16. When one of the holding rollers 24 is rotationally driven by the magnetic disk substrate rotation driving device 20, the magnetic disk substrate P is rotationally driven while being pressed against the annular polishing surface 16 with a predetermined load.
[0022]
The magnetic disk substrate P is a disk-shaped storage medium having a predetermined diameter of, for example, 3.3 inches, used for a so-called hard disk drive. The magnetic layer is formed through a magnetic layer forming step and a protective layer forming step. In the underlayer forming step, an underlayer 32 made of, for example, Ni-P plating is formed on one surface of a base 30 made of, for example, an aluminum alloy (FIG. 3). In the texturing step, the texturing process is performed. In the apparatus 10, polishing is performed in a state in which the texturing processing liquid is continuously supplied from the polishing liquid supply apparatus 21, and the surface of the base layer 32 has minute irregularities on the order of, for example, angstroms. A streak A extending in the direction is formed (FIG. 4). In the magnetic layer forming step, a magnetic thin film formed from a magnetic metal by vapor deposition or sputtering on the underlayer 32 on which the streak A is formed. In the protective layer forming step, a protective layer 36 made of a solid lubricant such as carbon is sequentially laminated on the magnetic thin film layer 34. Is those (Fig. 5). The magnetic recording surface, which is one surface of the magnetic disk substrate P on which these layers 32, 34, and 36 are laminated, is basically made into a substantially mirror surface state by being made as flat as possible by high-precision polishing. However, the minute streak A formed on the underlayer 32 also appears on the surface of the protective layer 36 as it is, so that the minute streak A on the order of angstroms is formed in the circumferential direction. FIG. 6 is a measurement value showing a profile in the radial direction of the streak A obtained by an experiment conducted by the present inventor.
[0023]
Hereinafter, the texturing process in which the fine streak A is formed on the surface of the base layer 32 by the texturing apparatus 10 in the texturing process will be described. First, the magnetic disk substrate P is fitted into the holding ring member 26 with the surface on which the base layer 32 is formed facing the annular polishing surface 16, and a weight plate (not shown) is placed on the magnetic disk substrate P. While the slurry-like texturing processing liquid is continuously supplied from the supply device 21 to the annular polishing surface 16 (slurry supply step), the planar polishing tool rotation driving device 14 and the magnetic disk substrate rotation driving device 20 are operated. As a result, the base layer 32 of the magnetic disk substrate P was formed on a part of the annular polishing surface 16 of the flat polishing tool 12 having a larger diameter than the magnetic disk substrate P and rotated around the center line C. At the same time that the surface is pressed, the magnetic disk substrate P is rotated (rotated) around its own center line D at a higher rotational speed than the planar polishing tool 12, so that the maximum amplitude of the unevenness is about 30 mm. Are formed in the circumferential direction.
[0024]
Table 1 shows experimental results in which the present inventor performed texturing polishing of the Ni-P plated mirror-finished magnetic disk substrate P under the following polishing test conditions using various texturing liquids.
[0025]
Polishing test conditions and polishing pad: 1801-G manufactured by Chiyoda (inner diameter: 20 mmφ, outer diameter: 300 mm φ)
-Disk substrate: Ni-P plated mirror-finished magnetic disk substrate (3.3 inch φ)
・ Rotation speed of polishing table: 5 rpm
・ Rotation speed of disk substrate: 100 rpm
・ Center position of the disk substrate: 90 mm from the center of the polishing table
・ Pressure contact pressure: 250 g / cm 2
・ Slurry supply amount: 5ml / min
・ Polishing time: 2 min
[0026]
Figure 0004094801
In Table 1, the surface tension is a value obtained by multiplying a value obtained by the dropping method by a conversion coefficient to a capillary method measured value. The penetrability is obtained by dropping 30 mg of each texturing solution onto an artificial suede (polishing pad) in which a polyester nonwoven fabric is impregnated with a urethane resin, and measuring the time until it is soaked. The processing rate is the removal amount of the material to be polished per unit time (1 second). Diamond powder is polycrystalline diamond having a central particle size of 0.13 μmφ. The unit of each component amount is% by weight.
[0027]
In Table 1, when 0.1% by weight of diamond powder was contained, a sufficient processing rate could not be obtained when the rest of the texturing liquid was only water. In addition, when the rest of the texturing liquid is only ethyl alcohol (85% aqueous solution), a sufficient processing rate can be obtained because the surfactant is not included even though the surface tension is reduced. I couldn't. However, when 1.0% by weight of a surfactant is added to the texturing solution mainly composed of water, the surface tension is lowered and the penetration into the polishing pad is improved. A high polishing rate can be obtained because the proportion of the polishing pad that penetrates well and participates in polishing is increased. These surfactants are salts of a carboxylic acid having 8 to 18 carbon atoms and a basic substance. In Table 1, a specific polishing rate is obtained when it is a lauric acid triethanolamine salt having 12 carbon atoms. Is increased. Such a range in which the polishing rate can be specifically increased is considered to be a salt of a carboxylic acid having 10 to 14 carbon atoms and a basic substance.
[0028]
As described above, the texturing processing liquid of this example includes a surfactant and an abrasive powder having a central particle size of 0.01 to 1% by weight of 0.01 to 1 μm and a surface tension of 50. Since the surface tension of the texturing liquid is low and the permeability to, for example, a cloth-polished surface used for texturing is high, the water is less than 10-3 N / m. Since the ratio that can participate in polishing is increased, high polishing efficiency can be obtained.
[0029]
Further, the surfactant contained in the texturing liquid of this example is 0.01 to 50% by weight of a carboxylic acid salt having 8 to 18 carbon atoms, particularly an alkanol with a carboxylic acid having 8 to 18 carbon atoms Amine salts such as caprylic acid triethanolamine salt (carbon number C = 8), lauric acid triethanolamine salt (carbon number C = 12), stearic acid triethanolamine salt (carbon number C = 18), oleic acid triethanol Since it consists of an amine salt (carbon number C = 18) etc., it is easy and easy to handle the surfactant or the texturing processing liquid containing it, and there is an advantage that high polishing efficiency can be obtained.
[0030]
The polishing powder contained in the texturing liquid of this example is a polycrystalline diamond powder having a center particle diameter of 0.01 to 1 μm, and the texturing is performed at a ratio of 0.01 to 1% by weight. Since it is contained in the machining liquid, concentric ridges of angstrom order extending in the circumferential direction on the surface of the magnetic disk substrate P are suitably formed, and polishing processing for forming the tiny stripes is efficient. Done. When the mixing ratio of the diamond powder to the texturing liquid is less than 0.01, the polishing efficiency is remarkably lowered, and a portion where no streak is formed on the surface of the magnetic disk substrate may be generated. When the value exceeds the value, scratches are likely to occur. Further, when the center particle diameter of the diamond powder contained in the texturing liquid is less than 0.01 μm, the irregularities of the streaks are so small that the magnetic recording surface of the magnetic disk substrate P and the magnetic head opposed thereto are formed. There is a high possibility that they will stick to each other, and it may be difficult to start up the hard disk drive. On the other hand, if it exceeds 1 μm, the irregularities of the streaks become excessive and the magnetic head contacts the surface of the magnetic disk substrate P. There is a risk.
[0031]
As mentioned above, although one Example of this invention was described using drawing, this invention is applied also in another aspect.
[0032]
For example, the surfactants contained in the above-mentioned texturing liquid are not only anionic (anionic) surfactants, but also cationic (cationic) surfactants and nonionic (nonionic) surfactants. May be. In short, any material and ratio may be used as long as the surface tension of the aqueous texturing fluid for a magnetic disk substrate is 50 × 10 −3 N / m or less.
[0033]
The surfactant is an alkali salt with a fatty acid, that is, a carboxylic acid, such as a carboxylate having 8 to 18 carbon atoms, and the inorganic salt may be a sodium salt, a potassium salt, an amine salt, or the like. .
[0034]
Further, the polishing powder contained in the texturing liquid described above was diamond powder, but not only super abrasive grains such as CBN abrasive grains but also alumina abrasive grains, silicon carbide abrasive grains, siliceous abrasive grains. Ordinary abrasive grains such as
[0035]
In the texturing apparatus 10 of the above-described embodiment, the annular polishing surface 16 of the flat polishing tool 12 is composed of a flat cloth in which polyester fiber yarns are twilled or plain woven and the surface is subjected to raising treatment. However, a non-woven fabric or a felt plate may be used, or a fixed abrasive type grindstone plate in which abrasive grains are fixed by a synthetic resin bond or the like may be used.
[0036]
The above description is only an example of the present invention, and the present invention can be variously modified without departing from the gist of the present invention.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view schematically illustrating a main part of a configuration of a texturing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view of the texturing apparatus of FIG.
3 is a diagram for explaining a main part of a manufacturing process of the magnetic disk substrate P of FIG. 1, and is a main part sectional view showing a state in which a base layer is formed by a base layer forming process.
4 is a diagram for explaining a main part of a manufacturing process of the magnetic disk substrate P of FIG. 1, and is a main part cross-sectional view showing a state in which a streak A is formed on an underlayer by a texturing process. .
5 is a diagram for explaining a main part of the manufacturing process of the magnetic disk substrate P of FIG. 1, in which the magnetic thin film and the protective layer are formed on the underlayer by the magnetic thin film forming process and the protective layer forming process. It is a principal part sectional view shown.
6 is a diagram showing data obtained by measuring the profile of the trace A formed on the underlayer of FIG. 4 in the radial direction by texturing.
[Explanation of symbols]
16: Annular polishing surface (polishing pad)
P: Magnetic disk substrate

Claims (1)

磁気ディスク基板の一面に磁気ヘッドの吸着を防止するための同心円状の微小な条痕を設けるテクスチャリング加工のための水性の磁気ディスク基板用テクスチャリング加工液であって、
界面活性剤として単独で0.01〜50重量%の炭素数が12のラウリン酸トリエタノールアミン塩と、0.01〜1重量%の中心粒径が0.01〜1μmのダイヤモンド粉とを含み、表面張力が23×10−3N/m以下であることを特徴とする磁気ディスク基板用テクスチャリング加工液。
An aqueous texturing processing solution for a magnetic disk substrate for texturing processing in which concentric minute streaks for preventing magnetic head adsorption are provided on one surface of a magnetic disk substrate,
As a surfactant alone, 0.01 to 50% by weight of lauric acid triethanolamine salt having 12 carbon atoms and 0.01 to 1% by weight of diamond powder having a central particle diameter of 0.01 to 1 μm are included. A texturing processing liquid for a magnetic disk substrate, wherein the surface tension is 23 × 10 −3 N / m or less.
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