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JP4133448B2 - Cleaning device and cleaning method - Google Patents
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JP4133448B2 - Cleaning device and cleaning method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、板状素子の表面に付着した微細なごみおよび埃などを除去し、板状素子の表面を清掃する清掃装置および清掃方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体装置や表示装置などを製造するとき、基板表面に付着した微細なごみおよび埃は、その大きさに拘わらず、装置の歩留まりおよび信頼性に影響を及ぼす。したがって、基板表面に付着したごみおよび埃は、除去する必要がある。たとえば、基板表面に機械的強度が乏しいナノ薄膜を有する板状素子の表面を清掃する従来の技術においては、有機溶剤および純水などの活性液中に板状素子を浸漬し、超音波振動および沸騰などによる外来刺激を板状素子表面に与える。これによって、板状素子表面に付着した微細なごみおよび埃を除去している。このように、基板表面などの清掃対象を清掃する技術が、第1〜第5の従来技術に示されている。
【0003】
第1の従来技術は、液晶ディスプレイ用のカラーフィルタ基板を製造するときの一工程において、搬送ローラ上にカラーフィルタ基板素材を載置し、搬送ローラを回転させて基板素材を搬送させながら、基板素材の樹脂保護膜上に非イオン界面活性剤溶液を均一に散布する。そして、基板素材の樹脂保護膜表面に、複数本の合成繊維が円周面に植設され、かつ搬送ローラによって回転されたブラシを接触させてブラシ洗浄を行う。次いで、ブラシ洗浄を行った基板素材の保護膜表面に純水を噴射して洗浄した後、この基板素材を洗浄槽に移送して、超音波発振器の駆動による極超音波洗浄を行う。第1の従来技術では、超音波洗浄を行う前に、ブラシ洗浄を行うことによって、超音波洗浄だけでは除去することができない微細なガラス片および樹脂片などを除去している(たとえば、特許文献1参照)。
【0004】
第2の従来技術は、半導体製造装置を製造するときの一工程において、単結晶シリコン表面のシリコン酸化物を融解した後に生じるシリコン析出微粒子を、超音波洗浄を行うことによって除去する。超音波洗浄を行うときの振動周波数が低いと、超音波による振動が単結晶シリコン表面を破壊し、かつ単結晶シリコン表面に欠陥を与えるおそれがあるので、第2の従来技術では、振動周波数を、0.4MHz以上4MHz未満の比較的高い周波数に設定して超音波洗浄を行うことによって、超音波による洗浄能力を高めている(たとえば、特許文献2参照)。
【0005】
第3の従来技術は、液晶ガラス基板などの薄板状体の表面を清掃する表面清掃装置において、粘着面を有する清掃用回転体が、清掃対象となる薄板状体の表面に押圧しながら転動することによって、薄板状体表面に付着した異物を粘着させて除去する。第3の従来技術において、薄板状体は、背後に配置された支持テーブルに安定して吸着保持されるので、清掃用回転体が局所的な加重によって薄板状体を押圧することはない。さらに、清掃用回転体が異物の付着に必要な押圧力を、薄板状体に十分に作用させたときでも、薄板状体を破損させることなく、薄板状体の表面を清掃することができる(たとえば、特許文献3参照)。
【0006】
第4の従来技術は、カラー画像形成装置において、転写ドラム上に付着したトナーを除去するときに、クリーナがファーブラシを介して転写ドラム上に当接することによって、ファーブラシが回転駆動される。そして、このファーブラシを介して、転写ドラム上に付着したトナーは、クリーナ本体内に引込まれる。クリーナ本体内に引込まれたトナーは、吸引ファンによって形成される空気流に沿ってダクトからフィルタが設置された方向へ送られて、フィルタによって捕集される(たとえば、特許文献4参照)。
【0007】
第5の従来技術は、エレベータに設けられ、投光器と受光器とを含む光電装置において、光電装置のレンズの表面に指向したパイプから空気を噴射することによって、レンズ表面に付着している塵埃を除去する構成になっている(たとえば、特許文献5参照)。
【0008】
【特許文献1】
特開平2−19831号公報
【特許文献2】
特開平2−27717号公報
【特許文献3】
特開平7−275805号公報
【特許文献4】
特開平4−340979号公報
【特許文献5】
特開平10−125188号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
第1および第2の従来技術は、基板素材の保護膜表面に付着したガラス片および単結晶シリコン表面のシリコン析出微粒子などの微細なごみを除去する清掃をするときには問題がないけれども、たとえば機械的強度が極めて乏しいナノ薄膜の表面を清掃するときには、超音波振動によってナノ薄膜が破壊および剥離される場合がある。したがって、前記ナノ薄膜表面の清掃を行うときには、第1および第2の従来技術を適用することができないという問題がある。また超音波洗浄を行うときは、清掃する基板素材を溶媒の中に浸漬するので、基板素材を構成する周辺の樹脂材料は、溶媒に対して不溶性の材料を用いる必要がある。したがって、基板素材を構成する樹脂材料が制限されてしまう。
【0010】
第3の従来技術は、ガラス基板のような薄板状体の表面に付着した微細なごみを除去するときには問題がないけれども、第3の従来技術を用いて、たとえば機械的強度が極めて乏しいナノ薄膜の表面を清掃すると、ナノ薄膜表面に直接、回転ブラシや粘着面を有する清掃用回転体が接触するので、ナノ薄膜が容易に破壊されてしまう。したがって、前記ナノ薄膜表面の清掃を行うときには、第3の従来技術を適用することができないという問題がある。
【0011】
第4の従来技術では、転写ドラム上のトナーをファーブラシで除去した後に、除去したトナーを回収するための吸引ファン、エアダクトおよびフィルタなどの装置が別途必要になる。さらに、超微細化したトナー粒子を確実に捕捉するためには、きめが細かなフィルタを用意する必要がある。したがって転写ドラム上に付着したトナーを除去するための準備が煩雑であるという問題がある。
【0012】
第5の従来技術では、空気を噴出することによって、レンズ表面に付着した塵埃を除去している。第5の従来技術は、直径が数十μmオーダーの比較的大きな塵埃を除去する場合には問題とならないが、直径が数μmまたは数百nm以下の比較的小さな塵埃を除去する場合には、塵埃とナノ薄膜との付着力が、塵埃の除去に必要な外力に対して著しく大きくなってしまう。これによって、塵埃の除去効率が低下するという問題がある。
【0013】
本発明の目的は、基板表面にナノ薄膜を有する板状素子の表面を、ナノ薄膜を破壊することなく、容易に清掃することができる清掃装置および清掃方法を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明は、多孔質シリコン層の最表面に形成された金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面を清掃する清掃装置であって、
熱硬化性樹脂を供給する樹脂供給手段と、
前記熱硬化性樹脂を加熱して硬化させるための加熱手段と、
前記加熱手段による加熱によって硬化した熱硬化性樹脂の被膜を剥離する剥離手段と、
前記樹脂供給手段、前記加熱手段および前記剥離手段を予め定める方向へ移動させる駆動手段とを含み、
前記加熱手段による加熱温度は、熱硬化性樹脂の被膜が可撓性および弾発性を有する硬さで硬化を止めることが可能なように、摂氏60度以上摂氏130度未満の範囲で設定され、
前記駆動手段は、板状素子表面の金属ナノ薄膜が堆積していない部分に形成された熱硬化性樹脂の被膜部分に、前記剥離手段を当接させた後、剥離手段を予め定める方向へ移動させるように構成されることを特徴とする清掃装置である。
【0015】
本発明に従えば、樹脂供給手段は、微細なごみおよび埃が付着した、多孔質シリコン層の最表面に形成された金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に、予め定める厚み、たとえば200μm程度の層厚になるように熱硬化性樹脂を均一に塗布する。板状素子表面に熱硬化性樹脂を塗布するときは、熱硬化性樹脂が板状素子の表面全体に行き渡るように、駆動手段によって樹脂供給手段を予め定める方向へ移動させながら行う。板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後は、加熱手段によって熱硬化性樹脂を、摂氏60度以上摂氏130度未満の範囲で加熱する。板状素子の表面に均一に塗布した熱硬化性樹脂を加熱するときは、熱硬化性樹脂全体が均等に加熱されるように、駆動手段によって加熱手段を予め定める方向へ移動させながら行う。加熱手段によって熱硬化性樹脂を加熱した後は、加熱によって硬化した熱硬化性樹脂の被膜を、剥離手段によって剥離する。熱硬化性樹脂の被膜を剥離するときは、板状素子表面の金属ナノ薄膜が堆積していない部分に塗布された熱硬化性樹脂の被膜に、適度の押圧力で剥離手段を当接させて、その後剥離手段を予め定める方向へ回転移動させながら行う。
【0016】
前述のように、微細なごみおよび埃が付着した板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後に、熱硬化性樹脂を加熱すると、加熱によって熱硬化性樹脂は硬化するとともに、硬化する過程でごみおよび埃と一体になる。なお、金属ナノ薄膜は、外部から与えられる力に対して弱く、多孔質シリコン層の最表面に堆積する金属ナノ薄膜の付着力は非常に小さい。熱硬化性樹脂を硬化させるときの加熱温度を摂氏60度以上摂氏130度未満の範囲に設定することによって、可撓性および弾発性を有する硬さで熱硬化性樹脂の硬化を止めることができる。このごみおよび埃と一体になった熱硬化性樹脂の被膜のうち、板状素子表面の金属ナノ薄膜が堆積していない部分に塗布された熱硬化性樹脂の被膜に、適度の押圧力で剥離手段を当接させて、剥離手段を回転移動させながら、熱硬化性樹脂の被膜を剥離する。これによって、板状素子の表面に直接、剥離手段が接触しないので、板状素子の多孔質シリコン層の最表面に堆積している機械的強度の乏しい金属ナノ薄膜に損傷を与えない。したがって、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を、金属ナノ薄膜を破壊および剥離することなく除去することができる。また、熱硬化性樹脂の被膜を剥離するだけで、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を除去することができるので、板状素子の表面を容易に清掃することができる。
【0017】
また本発明は、前記熱硬化性樹脂として、基板とその表面に堆積した金属ナノ薄膜との結合強度よりも、金属ナノ薄膜と熱硬化性樹脂との結合強度が弱い樹脂材料を用いることを特徴とする。
【0018】
本発明に従えば、板状素子表面に塗布する熱硬化性樹脂は、基板とその表面に堆積した金属ナノ薄膜との結合強度よりも、金属ナノ薄膜と熱硬化性樹脂との結合強度が弱くなるような樹脂材料を用いる。前述のような樹脂材料を基材とした熱硬化性樹脂を用いることによって、前記剥離手段によって熱硬化性樹脂の被膜を剥離するときに、金属ナノ薄膜を破壊および剥離することを防止することができるとともに、熱硬化性樹脂の被膜を容易に剥離することができる。
【0019】
また本発明は、前記樹脂材料がポリカーボネートであることを特徴とする。
本発明に従えば、熱硬化性樹脂をポリカーボネートにすることによって、金属ナノ薄膜と熱硬化性樹脂との結合強度を弱くすることができる。
【0020】
また本発明は、多孔質シリコン層の最表面に形成された金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面を清掃する清掃方法であって、
前記板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後、摂氏60度以上摂氏130度未満の温度範囲における加熱によって硬化した熱硬化性樹脂の被膜を形成し、
板状素子表面のうち前記金属ナノ薄膜が堆積されていない熱硬化性樹脂の被膜部分に、剥離手段を当接させた後、剥離手段を予め定める方向へ移動させて、熱硬化性樹脂の被膜を剥離することを特徴とする清掃方法である。
【0021】
本発明に従えば、微細なごみおよび埃が付着した、多孔質シリコン層の最表面に形成された金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に、予め定める厚み、たとえば200μm程度の層厚になるように熱硬化性樹脂を均一に塗布する。板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後は、熱硬化性樹脂を摂氏60度以上摂氏130度未満の温度範囲で加熱する。熱硬化性樹脂を加熱した後は、加熱によって硬化した熱硬化性樹脂の被膜を剥離する。熱硬化性樹脂の被膜を剥離するときは、板状素子表面のうち前記金属ナノ薄膜が堆積されていない熱硬化性樹脂の被膜部分に、剥離手段を当接させた後、剥離手段を予め定める方向へ移動させて行う。
【0022】
前述のように、微細なごみおよび埃が付着した板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後に、熱硬化性樹脂を加熱すると、加熱によって熱硬化性樹脂は硬化するとともに、硬化する過程でごみおよび埃と一体になる。このごみおよび埃と一体になった熱硬化性樹脂の被膜を剥離する。これによって、従来技術のように板状素子の表面に直接、たとえばブラシを接触させてごみおよび埃の除去を行わないので、板状素子の多孔質シリコン層の最表面に堆積している金属ナノ薄膜に損傷を与えない。したがって、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を、金属ナノ薄膜を破壊および剥離することなく除去することができる。また、熱硬化性樹脂の被膜を剥離するだけで、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を除去することができるので、板状素子の表面を容易に清掃することができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の実施の一形態である清掃装置1を簡略化して示す断面図である。半導体装置や表示装置などを製造するときは、基板表面に付着した微細なごみおよび埃は、その大きさに拘わらず、装置の歩留まりおよび信頼性に影響を及ぼすので、除去する必要がある。この微細なごみおよび埃を除去するときには、基板表面などの清掃対象を清掃する清掃装置1が用いられる。
【0024】
清掃装置1は、樹脂蓄積部2、樹脂配送管3、樹脂供給部4、加熱部5、剥離用リール6および駆動部7を含んで構成される。樹脂蓄積部2は、たとえば熱硬化性樹脂8を蓄積し、この蓄積した熱硬化性樹脂8を、樹脂配送管3を介して樹脂供給部4に送る。樹脂供給部4は、樹脂配送管3を介して樹脂蓄積部2から送られた熱硬化性樹脂8を、板状素子9の表面に塗布する。加熱部5は、板状素子9の表面に塗布された熱硬化性樹脂8を加熱する。剥離用リール6は、板状素子9の表面に塗布され、加熱によって硬化された熱硬化性樹脂8の被膜を剥離する。駆動部7は、樹脂供給部4、加熱部5および剥離用リール6を、予め定める方向へ移動させる。本実施形態において、樹脂供給部4は樹脂供給手段であり、加熱部5は加熱手段である。また剥離用リール6は剥離手段であり、駆動部7は駆動手段である。
【0025】
本実施形態における清掃対象は、多孔質シリコン(Porous Silicon;略称:ポーラスシリコン)層10の最表面に電極として形成される金属ナノ薄膜11を有する板状素子9の表面である。また本実施形態において、板状素子9表面に付着するごみおよび埃は、たとえば直径が数μm程度の微粒子および直径が数十μm以上数mm未満の不定形固体などである。
【0026】
ポーラスシリコンは、フッ酸とエチルアルコールとの混合溶液中で、シリコン基板を、たとえば2.5mA/cm以上25mA/cm未満の電流密度で電解反応させて、局所的な溶出反応を起こすことによって形成される多孔質状のシリコンである。本実施形態において、板状素子9に形成されるポーラスシリコン層10の表面は多孔質化され、無数の凹凸が形成されている。
【0027】
金属ナノ薄膜11は、5nm以上50nm未満の層厚から成る金属薄層であり、蒸着法またはスパッタ法を用いてポーラスシリコン層10の表面に形成される。本実施形態の金属ナノ薄膜11には、たとえば金およびアルミニウムが用いられる。金属ナノ薄膜11は、ポーラスシリコン層10と機械的に付着しているだけであるので、外部から与えられる力に対して非常に弱い。たとえば、旭化成株式会社製のベンコット(登録商標)などのセルロース繊維製の拭取りクロスに軽く触れただけでも、金属ナノ薄膜11は破壊されてしまう。
【0028】
ここで、金属ナノ薄膜11および板状素子9の表面性状について説明する。たとえば、蒸着法を用いて金のナノ薄膜を10nm以上20nm未満の厚さで形成すると、微視的にその表面は均一な金薄膜層とはならず、60nm程度の孤立した島状の塊が存在する状態となる。この島状の塊が存在する状態でも電気的には平面方向で導電状態である。前記ナノ薄膜の厚さが30nm程度になると、金薄膜層は均一な層状態となる。巨視的に評価すると板状素子9表面にはさらに大きな起伏が存在する。板状素子9表面には多結晶シリコン層のグレイン部(結晶部)の凹凸が現れており、その高低差は100nm以上200nm未満である。1つのグレインの大きさは、約1000nmである。
【0029】
本実施形態の板状素子9は、図1に示すように、半導電性基板12表面に形成される。板状素子9は、たとえば層厚が1.5μmの多結晶シリコン層によって実現され、半導電性基板12は、たとえば層厚が500μmの単結晶シリコン層によって実現される。
【0030】
樹脂供給部4は、半導電性基板12上に形成された板状素子9の表面に対向する位置に設けられる。樹脂供給部4には、たとえば熱硬化性樹脂8を噴射させるための複数の噴射孔が形成される。また樹脂供給部4は、この樹脂供給部4を、板状素子9表面に対して平行に、かつ予め定める方向へ移動させるためのガイド部13に取付けられる。
【0031】
樹脂供給部4では、板状素子9の表面に、樹脂蓄積部2から樹脂配送管3を介して配送される熱硬化性樹脂8を、たとえば200μm程度の層厚になるように均一に塗布する。熱硬化性樹脂8の塗布は、熱硬化性樹脂8が板状素子9の表面全体に行き渡るように、駆動部7によって樹脂供給部4を、ガイド部13に沿って予め定める方向、たとえば本実施形態では、図1に示す矢符の方向へ移動させながら行う。
【0032】
樹脂供給部4による板状素子9表面への熱硬化性樹脂8の塗布は、たとえばインクジェットプリンタに用いられているサーマル方式によるインク噴射技術、極細管からの滴下および押出しなどの技術を用いて行う。たとえば、サーマル方式によるインク噴射技術を用いるときは、樹脂配送管3を介して樹脂蓄積部2から配送された樹脂供給部4内の熱硬化性樹脂8を、ヒータによって熱して沸騰させて気泡を生じさせる。そして、この気泡によって樹脂供給部4内の圧力を増加させて、熱硬化性樹脂8を噴射孔から噴射させる。なお、図1において、樹脂供給部4から板状素子9表面に向けて示される破線は、樹脂供給部4の複数の噴射孔から噴射された粒状の熱硬化性樹脂8を表す。板状素子9の表面に熱硬化性樹脂8を塗布した後は、この塗布した熱硬化性樹脂8を、加熱部5によって加熱する。
【0033】
図2は、板状素子9表面に塗布した熱硬化性樹脂8を加熱するときの動作を説明するための図である。加熱部5は、半導電性基板12上に形成された板状素子9の表面に対向する位置で、かつ樹脂供給部4と動作空間が重ならないように設けられる。また加熱部5は、この加熱部5を、板状素子9表面に対して平行に、かつ予め定める方向へ移動させるためのガイド部13に取付けられる。
【0034】
加熱部5は、板状素子9の表面に塗布された熱硬化性樹脂8を、予め定める温度、たとえば摂氏120度で加熱する。板状素子9表面に均一に塗布した熱硬化性樹脂8の加熱は、熱硬化性樹脂8全体が均等に加熱されるように、駆動部7によって加熱部5を、ガイド部13に沿って予め定める方向、たとえば本実施形態では図2に示す矢符の方向へ移動させながら行う。
【0035】
加熱部5は、たとえば電熱線およびセラミックヒータなどによって実現され、加熱部に与える電力を制御することによって、樹脂の加熱温度を予め定める温度範囲、たとえば摂氏60度以上130度未満の範囲で任意に制御することができる。加熱部5による加熱によって硬化した熱硬化性樹脂8は、この熱硬化性樹脂8の加熱温度を、前述のように摂氏60度以上摂氏130度未満の範囲で任意に制御することによって、可撓性および弾発性を有する硬さで硬化を止めることができる。
【0036】
前述のように、板状素子9の表面に塗布された熱硬化性樹脂8は、加熱することによって硬化し、液状から可撓性および弾発性を有する状態になる。この液状から可撓性および弾発性を有する状態に変化する過程で、板状素子9の表面に付着していた微細なごみおよび埃と熱硬化性樹脂8とが一体になる。
【0037】
熱硬化性樹脂8を加熱した後は、加熱によって液状から可撓性および弾発性を有する硬さに硬化し、かつ板状素子9の表面に付着していた微細なごみおよび埃と一体になった熱硬化性樹脂8の被膜を、剥離用リール6によって板状素子9表面から剥離する。
【0038】
図3は、加熱によって硬化した熱硬化性樹脂8の被膜を剥離するときの動作を説明するための図である。図4は、図3のセクションAを拡大して示す断面図である。剥離用リール6は、円筒形状に形成されるとともに、その表面には粘着層14が形成される。剥離用リール6は、板状素子9の表面に対向する位置で、かつ樹脂供給部4および加熱部5と動作空間が重ならないように設けられる。また剥離用リール6は、この剥離用リール6を、板状素子9表面に対して平行に、かつ予め定める方向へ移動させるためのガイド部13に取付けられる。
【0039】
板状素子9の表面に塗布され、加熱によって硬化した熱硬化性樹脂8の被膜は、剥離用リール6によって剥離する。剥離用リール6によって、熱硬化性樹脂8の被膜を剥離するときは、まず剥離用リール6を、所定の押圧で可撓性および弾発性を有する硬さに硬化した熱硬化性樹脂8の被膜表面の一部で当接するようにする。この当接位置は、図4に示すように、剥離用リール6と熱硬化性樹脂8との当接部15である。つまり、金属ナノ薄膜11が堆積されていない板状素子9表面に塗布された熱硬化性樹脂8の被膜部分である。熱硬化性樹脂8の被膜の剥離は、剥離用リール6を、前記剥離用リール6と熱硬化性樹脂8との当接部15に、予め定める当接圧で接触させた後、駆動部7によって剥離用リール6を、ガイド部13に沿って予め定める方向、たとえば本実施形態では図3に示す矢符の方向へ移動させながら行う。前述のように剥離用リール6を移動させると、剥離用リール6は回転し、剥離用リール6の表面に形成される粘着層14が、熱硬化性樹脂8の被膜を巻取り、板状素子9の表面から剥離する。
【0040】
前述のように本実施形態によれば、微細なごみおよび埃が付着した、金属ナノ薄膜11を有する板状素子9の表面に、樹脂供給部4の噴射孔から熱硬化性樹脂8を均一に塗布する。板状素子9表面に熱硬化性樹脂8を塗布するときは、熱硬化性樹脂8が板状素子9の表面全体に行き渡るように、駆動部7によって樹脂供給部4を予め定める方向へ移動させながら行う。板状素子9の表面に熱硬化性樹脂8を塗布した後は、加熱部5によって熱硬化性樹脂8を、予め定める温度、たとえば摂氏120度で加熱する。板状素子9の表面に均一に塗布した熱硬化性樹脂8を加熱するときは、熱硬化性樹脂8全体が均等に加熱されるように、駆動部7によって加熱部5を予め定める方向へ移動させながら行う。加熱部5によって加熱されて硬化した熱硬化性樹脂8の被膜を、剥離用リール6によって剥離する。熱硬化性樹脂8の被膜を剥離するときは、板状素子9表面の金属ナノ薄膜11が堆積していない部分に塗布された熱硬化性樹脂8の被膜に、適度の押圧力で剥離用リール6を当接させて、剥離用リール6を予め定める方向へ回転移動させながら行う。
【0041】
このように、微細なごみおよび埃が付着した板状素子9の表面に熱硬化性樹脂8を塗布した後に、熱硬化性樹脂8を加熱すると、加熱によって熱硬化性樹脂8は硬化するとともに、硬化する過程で、板状素子9表面に付着していたごみおよび埃と一体になる。このごみおよび埃と一体になった熱硬化性樹脂8の被膜のうち、板状素子9表面の金属ナノ薄膜11が堆積していない部分に塗布された熱硬化性樹脂8の被膜に、適度の押圧力で剥離用リール6を当接させて、剥離用リール6を回転移動させながら、熱硬化性樹脂8の被膜を剥離する。これによって、板状素子9の表面に直接、剥離用リール6が接触しないので、板状素子9の表面に堆積している金属ナノ薄膜11に損傷を与えない。
【0042】
したがって、金属ナノ薄膜11を有する板状素子9の表面に付着したごみおよび埃を、金属ナノ薄膜11を破壊および剥離することなく除去することができる。また、熱硬化性樹脂8の被膜を剥離するだけで、金属ナノ薄膜11を有する板状素子9の表面に付着したごみおよび埃を除去することができるので、板状素子9の表面を容易に清掃することができる。
【0043】
本実施形態において、ポーラスシリコン基板10の表面に堆積する金属ナノ薄膜11の付着力は非常に小さいので、金属ナノ薄膜11を破壊させずに、板状素子9表面に付着したごみおよび埃を除去するには、板状素子9の表面に塗布する熱硬化性樹脂8の基材の選択が重要となる。そこで本実施形態では、板状素子9表面に塗布する熱硬化性樹脂8は、ポーラスシリコン基板10とその表面に堆積した金属ナノ薄膜11との結合強度よりも、金属ナノ薄膜11と熱硬化性樹脂8との結合強度が弱くなるような樹脂材料を用いる。熱硬化性樹脂8は、有機溶剤に樹脂を溶解させることによって生成する。本実施形態では、たとえば有機溶剤としてテトラヒドロフラン(略称:THF)、樹脂材料としてポリカーボネート(略称:PC)樹脂を用いる。
【0044】
前述のような樹脂材料を基材とした熱硬化性樹脂8を用いることによって、剥離用リール6によって熱硬化性樹脂8の被膜を剥離したときに、金属ナノ薄膜11を破壊および剥離することを防止することができるとともに、熱硬化性樹脂8の被膜を容易に剥離することができる。
【0045】
また本実施形態では、前述のように、駆動部7によって樹脂供給部4、加熱部5および剥離用リール6を、ガイド部13に沿って予め定める方向へ移動させることができる。これによって、ポーラスシリコン基板10表面に金属ナノ薄膜11を有する板状素子9の面積および形状に拘わらず、板状素子9の表面全体に熱硬化性樹脂8を均一に塗布して、この塗布した熱硬化性樹脂8を均等に加熱し、加熱によって硬化した熱硬化性樹脂8の被膜を、金属ナノ薄膜11を破壊および剥離することなく、容易に剥離することができる。
【0046】
また駆動部7によって、樹脂供給部4、加熱部5および剥離用リール6と板状素子9とを相対移動させる駆動機構は、たとえばねじを回転させてナットを直線的に駆動させるときに用いるねじ送り機構によって実現される。
【0047】
図5は、本発明の実施の他の形態における板状素子9表面に塗布した熱硬化性樹脂8を加熱するときの動作を説明するための図である。前述の実施形態では、板状素子9の表面に塗布された熱硬化性樹脂8の加熱は、加熱部5を、駆動部7によってガイド部13に沿って予め定める方向へ移動させながら行っているが、本発明の実施の他の形態として、図5に示すように、加熱部5自体が、半導電性基板12全体を覆って熱硬化性樹脂8を加熱するような構成にしてもよい。
【0048】
前述のような構成にすることによって、半導電性基板12上に形成された板状素子9の面積および形状に拘わらず、熱硬化性樹脂8を均等に加熱することができる。また、加熱部5自体が、半導電性基板12全体を覆って熱硬化性樹脂8を加熱することによって、加熱部5を移動させながら熱硬化性樹脂8を加熱するときに比べて、熱硬化性樹脂8を加熱して所定の硬さに硬化させるまでに要する時間を短縮することができる。これによって、板状素子9の表面を清掃する時間を短縮することができる。
【0049】
前述の実施形態は、本発明の例示に過ぎず、本発明の範囲内において構成を変更してもよい。たとえば、樹脂供給部4による熱硬化性樹脂8の塗布、加熱部5による熱硬化性樹脂8の加熱および剥離用リール6による熱硬化性樹脂8の被膜の剥離などの作業を、手作業によって行う構成にしてもよい。また前述の実施形態では、板状素子9の表面に塗布する樹脂として、熱硬化性樹脂8を用いているが、他の性質を有する樹脂、たとえば紫外線を照射することによって硬化する紫外線硬化性樹脂や、加熱によって軟化し、かつ冷却によって硬化する熱可塑性樹脂などを用いてもよい。
【0050】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、微細なごみおよび埃が付着した板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後に、熱硬化性樹脂を加熱すると、加熱によって熱硬化性樹脂は硬化するとともに、硬化する過程でごみおよび埃と一体になる。このとき、熱硬化性樹脂を硬化させるときの加熱温度を摂氏60度以上摂氏130度未満の範囲に設定することによって、可撓性および弾発性を有する硬さで熱硬化性樹脂の硬化を止めることができる。このごみおよび埃と一体になった熱硬化性樹脂の被膜のうち、板状素子表面の金属ナノ薄膜が堆積していない部分に塗布された熱硬化性樹脂の被膜に、適度の押圧力で剥離手段を当接させて、剥離手段を回転移動させながら、熱硬化性樹脂の被膜を剥離する。これによって、板状素子の表面に直接、剥離手段が接触しないので、板状素子の多孔質シリコン層の最表面に堆積している機械的強度の乏しい金属ナノ薄膜に損傷を与えない。したがって、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を、金属ナノ薄膜を破壊および剥離することなく除去することができる。また、熱硬化性樹脂の被膜を剥離するだけで、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を除去することができるので、板状素子の表面を容易に清掃することができる。
【0051】
また本発明によれば、基板とその表面に堆積した金属ナノ薄膜との結合強度よりも、金属ナノ薄膜と熱硬化性樹脂との結合強度が弱くなるような樹脂材料を基材とした熱硬化性樹脂を用いることによって、剥離手段によって熱硬化性樹脂の被膜を剥離したときに、金属ナノ薄膜を破壊および剥離することを防止することができるとともに、熱硬化性樹脂の被膜を容易に剥離することができる。
【0052】
また本発明によれば、熱硬化性樹脂をポリカーボネートにすることによって、金属ナノ薄膜と熱硬化性樹脂との結合強度を弱くすることができる。
【0053】
また本発明によれば、微細なごみおよび埃が付着した板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後に、熱硬化性樹脂を加熱すると、加熱によって熱硬化性樹脂は硬化するとともに、硬化する過程でごみおよび埃と一体になる。このごみおよび埃と一体になった熱硬化性樹脂の被膜を剥離する。これによって、従来技術のように板状素子の表面に直接、たとえばブラシを接触させてごみおよび埃の除去を行わないので、板状素子の多孔質シリコン層の最表面に堆積している金属ナノ薄膜に損傷を与えない。したがって、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を、金属ナノ薄膜を破壊および剥離することなく除去することができる。また、熱硬化性樹脂の被膜を剥離するだけで、金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面に付着したごみおよび埃を除去することができるので、板状素子の表面を容易に清掃することができる。
【0054】
また本発明によれば、加熱手段自体が、板状素子全体を覆って熱硬化性樹脂を加熱する構成にすることによって、板状素子の面積および形状に拘わらず、熱硬化性樹脂を均等に加熱することができる。また、加熱手段自体が、板状素子全体を覆って熱硬化性樹脂を加熱することによって、加熱手段を移動させながら熱硬化性樹脂を加熱するときに比べて、熱硬化性樹脂を加熱して所定の硬さに硬化させるまでに要する時間を短縮することができる。これによって、板状素子の表面を清掃する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態である清掃装置1を簡略化して示す断面図である。
【図2】板状素子9表面に塗布した熱硬化性樹脂8を加熱するときの動作を説明するための図である。
【図3】加熱によって硬化した熱硬化性樹脂8の被膜を剥離するときの動作を説明するための図である。
【図4】図3のセクションAを拡大して示す断面図である。
【図5】本発明の実施の他の形態における板状素子9表面に塗布した熱硬化性樹脂8を加熱するときの動作を説明するための図である。
【符号の説明】
1 清掃装置
2 樹脂蓄積部
3 樹脂配送管
4 樹脂供給部
5 加熱部
6 剥離用リール
7 駆動部
8 熱硬化性樹脂
9 板状素子
10 ポーラスシリコン層
11 金属ナノ薄膜
12 半導電性基板
13 ガイド部
14 粘着層
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a cleaning device and a cleaning method for removing fine dust and dust attached to the surface of a plate-like element and cleaning the surface of the plate-like element.
[0002]
[Prior art]
When manufacturing a semiconductor device, a display device, or the like, fine dust and dust adhering to the substrate surface affects the yield and reliability of the device regardless of its size. Therefore, it is necessary to remove dust and dust attached to the substrate surface. For example, in the conventional technique for cleaning the surface of a plate-like element having a nano thin film with poor mechanical strength on the substrate surface, the plate-like element is immersed in an active liquid such as an organic solvent and pure water, and ultrasonic vibration and An external stimulus such as boiling is given to the plate-like element surface. Thereby, fine dust and dust adhering to the surface of the plate-like element are removed. As described above, techniques for cleaning an object to be cleaned such as a substrate surface are shown in the first to fifth prior arts.
[0003]
In the first prior art, in a process of manufacturing a color filter substrate for a liquid crystal display, a color filter substrate material is placed on a conveyance roller, and the substrate material is conveyed while rotating the conveyance roller to convey the substrate material. A nonionic surfactant solution is uniformly sprayed on the resin protective film of the material. Then, a plurality of synthetic fibers are implanted on the circumferential surface of the resin protective film surface of the substrate material, and the brush rotated by the conveying roller is brought into contact with the surface to perform brush cleaning. Next, after cleaning by spraying pure water onto the surface of the protective film of the substrate material that has been subjected to brush cleaning, the substrate material is transferred to a cleaning tank, and ultra-ultrasonic cleaning is performed by driving an ultrasonic oscillator. In the first conventional technology, before performing ultrasonic cleaning, by performing brush cleaning, fine glass pieces and resin pieces that cannot be removed only by ultrasonic cleaning are removed (for example, Patent Documents). 1).
[0004]
In the second prior art, in one step when manufacturing a semiconductor manufacturing apparatus, silicon deposited fine particles generated after melting silicon oxide on the surface of single crystal silicon are removed by ultrasonic cleaning. If the vibration frequency when performing ultrasonic cleaning is low, the vibration due to ultrasonic waves may destroy the surface of the single crystal silicon and cause a defect on the surface of the single crystal silicon. The ultrasonic cleaning performance is enhanced by performing ultrasonic cleaning at a relatively high frequency of 0.4 MHz or more and less than 4 MHz (see, for example, Patent Document 2).
[0005]
The third prior art is a surface cleaning device for cleaning the surface of a thin plate-like body such as a liquid crystal glass substrate, and the cleaning rotary body having an adhesive surface rolls while pressing the surface of the thin plate-like body to be cleaned. By doing so, the foreign matter adhering to the surface of the thin plate-like body is adhered and removed. In the third prior art, since the thin plate-like body is stably sucked and held by the support table disposed behind, the cleaning rotary body does not press the thin plate-like body due to local load. Furthermore, the surface of the thin plate-like body can be cleaned without damaging the thin plate-like body even when the cleaning rotary body sufficiently exerts the pressing force necessary for adhering foreign substances on the thin plate-like body ( For example, see Patent Document 3).
[0006]
According to a fourth prior art, in the color image forming apparatus, when the toner attached on the transfer drum is removed, the cleaner is brought into contact with the transfer drum via the fur brush, so that the fur brush is rotationally driven. The toner adhering to the transfer drum is drawn into the cleaner body through the fur brush. The toner drawn into the cleaner body is sent along the air flow formed by the suction fan from the duct in the direction in which the filter is installed, and is collected by the filter (see, for example, Patent Document 4).
[0007]
The fifth prior art is a photoelectric device that is provided in an elevator and includes a projector and a light receiver. By ejecting air from a pipe directed to the surface of the lens of the photoelectric device, dust attached to the lens surface is removed. It is configured to be removed (see, for example, Patent Document 5).
[0008]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 2-19831
[Patent Document 2]
JP-A-2-27717
[Patent Document 3]
JP 7-275805 A
[Patent Document 4]
JP-A-4-340979
[Patent Document 5]
Japanese Patent Laid-Open No. 10-125188
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
The first and second prior arts have no problem when cleaning to remove fine dust such as glass pieces adhering to the protective film surface of the substrate material and silicon deposited fine particles on the surface of the single crystal silicon. When cleaning the surface of a nano thin film that is extremely poor, the nano thin film may be broken and peeled off by ultrasonic vibration. Therefore, when cleaning the surface of the nano thin film, there is a problem that the first and second conventional techniques cannot be applied. When performing ultrasonic cleaning, since the substrate material to be cleaned is immersed in a solvent, it is necessary to use a resin material that is insoluble in the solvent as the peripheral resin material constituting the substrate material. Therefore, the resin material constituting the substrate material is limited.
[0010]
The third prior art has no problem when removing fine dust attached to the surface of a thin plate-like body such as a glass substrate. However, the third prior art is used to form a nano-thin film having extremely low mechanical strength. When the surface is cleaned, the cleaning thin body having a rotating brush or an adhesive surface is in direct contact with the nano thin film surface, so that the nano thin film is easily destroyed. Therefore, there is a problem that the third conventional technique cannot be applied when cleaning the surface of the nano thin film.
[0011]
In the fourth prior art, after the toner on the transfer drum is removed with a fur brush, devices such as a suction fan, an air duct, and a filter for collecting the removed toner are separately required. Furthermore, in order to reliably capture the ultrafine toner particles, it is necessary to prepare a fine-grained filter. Therefore, there is a problem that preparation for removing the toner adhering to the transfer drum is complicated.
[0012]
In the fifth prior art, dust adhering to the lens surface is removed by blowing out air. The fifth prior art does not pose a problem when removing relatively large dust having a diameter of the order of several tens of μm, but when removing relatively small dust having a diameter of several μm or several hundreds of nm or less, The adhesion force between the dust and the nano thin film is remarkably increased with respect to the external force necessary for removing the dust. As a result, there is a problem that the dust removal efficiency is lowered.
[0013]
An object of the present invention is to provide a cleaning device and a cleaning method capable of easily cleaning the surface of a plate-like element having a nano thin film on a substrate surface without destroying the nano thin film.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
  The present inventionMetal formed on the outermost surface of the porous silicon layerA cleaning device for cleaning the surface of a plate-like element having a nano thin film,
  A resin supply means for supplying a thermosetting resin;
  Heating means for heating and curing the thermosetting resin;
  A peeling means for peeling the thermosetting resin film cured by heating by the heating means;
  Drive means for moving the resin supply means, the heating means and the peeling means in a predetermined direction.See
  The heating temperature by the heating means is set in a range of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees Celsius so that the thermosetting resin film can be cured with flexibility and elasticity. ,
  The driving means moves the peeling means in a predetermined direction after bringing the peeling means into contact with the thermosetting resin film formed on the surface of the plate-like element where the metal nano thin film is not deposited. Configured to letThis is a cleaning device.
[0015]
  According to the present invention, the resin supply means has fine dust and dust attached thereto.Metal formed on the outermost surface of the porous silicon layerA thermosetting resin is uniformly applied to the surface of the plate-like element having the nano thin film so as to have a predetermined thickness, for example, a layer thickness of about 200 μm. When the thermosetting resin is applied to the surface of the plate-like element, the resin supply means is moved in a predetermined direction by the driving means so that the thermosetting resin spreads over the entire surface of the plate-like element. After applying the thermosetting resin to the surface of the plate-like element, the thermosetting resin isRange of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees CelsiusHeat with. When the thermosetting resin uniformly applied to the surface of the plate-like element is heated, the heating means is moved in a predetermined direction by the driving means so that the entire thermosetting resin is uniformly heated. After the thermosetting resin is heated by the heating means, the thermosetting resin film cured by heating is peeled off by the peeling means. When peeling the thermosetting resin film,metalThe peeling means is brought into contact with the thermosetting resin coating applied to the portion where the nano thin film is not deposited with an appropriate pressing force,afterwardsThis is performed while rotating the peeling means in a predetermined direction.
[0016]
  As described above, when the thermosetting resin is heated after the thermosetting resin is applied to the surface of the plate-like element to which fine dust and dust are adhered, the thermosetting resin is cured by the heating and is cured. Integrated with garbage and dust.In addition, the metal nano thin film is weak against the force given from the outside, and the adhesion force of the metal nano thin film deposited on the outermost surface of the porous silicon layer is very small. By setting the heating temperature when curing the thermosetting resin to a range of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees Celsius, the curing of the thermosetting resin can be stopped with a hardness having flexibility and elasticity. it can.Of the thermosetting resin coating integrated with dust and dust,metalThe peeling means is brought into contact with the thermosetting resin coating applied to the portion where the nano thin film is not deposited with an appropriate pressing force, and the thermosetting resin coating is peeled off while rotating the peeling means. . As a result, the peeling means does not come into direct contact with the surface of the plate-like element.The porous silicon layerDeposited on the surfaceMetal with poor mechanical strengthDoes not damage the nano thin film. Therefore,metalDust and dust adhering to the surface of the plate-like element having a nano thin filmmetalThe nano thin film can be removed without breaking and peeling. Also, just peel off the thermosetting resin film,metalSince dust and dust attached to the surface of the plate-like element having the nano thin film can be removed, the surface of the plate-like element can be easily cleaned.
[0017]
  In the present invention, the thermosetting resin is deposited on the substrate and the surface thereof.metalRather than the bond strength with the nano thin film,metalA resin material having a low bond strength between the nano thin film and the thermosetting resin is used.
[0018]
  According to the present invention, the thermosetting resin applied to the surface of the plate-like element was deposited on the substrate and its surface.metalRather than the bond strength with the nano thin film,metalA resin material that weakens the bond strength between the nano thin film and the thermosetting resin is used. By using the thermosetting resin based on the resin material as described above, when peeling the thermosetting resin film by the peeling means,metalThe nanothin film can be prevented from being broken and peeled off, and the thermosetting resin film can be easily peeled off.
[0019]
  The present invention also providesThe resin material is polycarbonateIt is characterized by being.
  According to the present invention,By using polycarbonate as the thermosetting resin, the bond strength between the metal nano thin film and the thermosetting resin can be weakened.
[0020]
  The present invention also providesMetal formed on the outermost surface of the porous silicon layerA cleaning method for cleaning the surface of a plate-like element having a nano thin film,
  After applying a thermosetting resin to the surface of the plate-like elementIn a temperature range of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees CelsiusBy heating,Cured thermoset resin coatingForm the
  After the peeling means is brought into contact with the thermosetting resin film portion on which the metal nano thin film is not deposited on the surface of the plate-like element, the peeling means is moved in a predetermined direction to form a thermosetting resin film.It is the cleaning method characterized by peeling.
[0021]
  According to the present invention, fine dust and dust are attached,Metal formed on the outermost surface of the porous silicon layerA thermosetting resin is uniformly applied to the surface of the plate-like element having the nano thin film so as to have a predetermined thickness, for example, a layer thickness of about 200 μm. After applying the thermosetting resin to the surface of the plate-like element,Temperature range from 60 degrees Celsius to less than 130 degrees CelsiusHeat with. After heating the thermosetting resin, the thermosetting resin film cured by heating is peeled off.When the thermosetting resin film is peeled off, after the peeling means is brought into contact with the portion of the plate-like element on which the metal nano thin film is not deposited, the peeling means is determined in advance. Move in the direction.
[0022]
  As described above, when the thermosetting resin is heated after the thermosetting resin is applied to the surface of the plate-like element to which fine dust and dust are adhered, the thermosetting resin is cured by the heating and is cured. Integrated with garbage and dust. The film of the thermosetting resin integrated with the dust and dust is peeled off. Thus, as in the prior art, dust and dust are not removed by directly contacting the surface of the plate-like element, for example, with a brush.The porous silicon layerDeposited on the surfacemetalDoes not damage the nano thin film. Therefore,metalDust and dust adhering to the surface of the plate-like element having a nano thin filmmetalThe nano thin film can be removed without breaking and peeling. Also, just peel off the thermosetting resin film,metalSince dust and dust attached to the surface of the plate-like element having the nano thin film can be removed, the surface of the plate-like element can be easily cleaned.
[0023]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a simplified cross-sectional view showing a cleaning device 1 according to an embodiment of the present invention. When manufacturing a semiconductor device, a display device, or the like, fine dust and dust adhering to the substrate surface affects the yield and reliability of the device regardless of its size, and thus must be removed. When removing the fine dust and dust, a cleaning device 1 for cleaning a cleaning target such as a substrate surface is used.
[0024]
The cleaning device 1 includes a resin accumulation unit 2, a resin delivery pipe 3, a resin supply unit 4, a heating unit 5, a peeling reel 6 and a drive unit 7. The resin accumulation unit 2 accumulates, for example, a thermosetting resin 8 and sends the accumulated thermosetting resin 8 to the resin supply unit 4 through the resin delivery pipe 3. The resin supply unit 4 applies the thermosetting resin 8 sent from the resin storage unit 2 via the resin delivery pipe 3 to the surface of the plate-like element 9. The heating unit 5 heats the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9. The peeling reel 6 is applied to the surface of the plate-like element 9 and peels off the film of the thermosetting resin 8 cured by heating. The drive unit 7 moves the resin supply unit 4, the heating unit 5, and the peeling reel 6 in a predetermined direction. In this embodiment, the resin supply part 4 is a resin supply means, and the heating part 5 is a heating means. Further, the peeling reel 6 is a peeling means, and the driving unit 7 is a driving means.
[0025]
The object to be cleaned in the present embodiment is the surface of the plate-like element 9 having the metal nano thin film 11 formed as an electrode on the outermost surface of the porous silicon (Porous Silicon) layer 10. Further, in the present embodiment, dust and dust adhering to the surface of the plate-like element 9 are, for example, fine particles having a diameter of about several μm and irregular solids having a diameter of several tens of μm or more and less than several mm.
[0026]
Porous silicon is formed by mixing a silicon substrate in a mixed solution of hydrofluoric acid and ethyl alcohol, for example, 2.5 mA / cm.225 mA / cm2It is porous silicon formed by causing an electrolysis reaction at a current density of less than that to cause a local elution reaction. In the present embodiment, the surface of the porous silicon layer 10 formed on the plate-like element 9 is made porous and innumerable irregularities are formed.
[0027]
The metal nano thin film 11 is a metal thin layer having a layer thickness of 5 nm or more and less than 50 nm, and is formed on the surface of the porous silicon layer 10 by vapor deposition or sputtering. For example, gold and aluminum are used for the metal nano thin film 11 of the present embodiment. Since the metal nano thin film 11 is only mechanically attached to the porous silicon layer 10, it is very weak against externally applied forces. For example, the metal nano-thin film 11 is destroyed even if the cellulosic fiber wiping cloth such as Bencott (registered trademark) manufactured by Asahi Kasei Corporation is lightly touched.
[0028]
Here, the surface properties of the metal nano thin film 11 and the plate-like element 9 will be described. For example, when a gold nano thin film is formed with a thickness of 10 nm or more and less than 20 nm by vapor deposition, the surface is not microscopically uniform, but an isolated island-like lump of about 60 nm is formed. It exists. Even when this island-like lump exists, it is electrically conductive in the planar direction. When the thickness of the nano thin film is about 30 nm, the gold thin film layer is in a uniform layer state. When macroscopically evaluated, a larger undulation is present on the surface of the plate-like element 9. The surface of the plate-like element 9 has irregularities in the grain part (crystal part) of the polycrystalline silicon layer, and the height difference is not less than 100 nm and less than 200 nm. The size of one grain is about 1000 nm.
[0029]
The plate-like element 9 of the present embodiment is formed on the surface of the semiconductive substrate 12 as shown in FIG. The plate-like element 9 is realized by a polycrystalline silicon layer having a layer thickness of 1.5 μm, for example, and the semiconductive substrate 12 is realized by a single crystal silicon layer having a layer thickness of 500 μm, for example.
[0030]
The resin supply unit 4 is provided at a position facing the surface of the plate-like element 9 formed on the semiconductive substrate 12. The resin supply unit 4 is formed with a plurality of injection holes for injecting the thermosetting resin 8, for example. The resin supply unit 4 is attached to a guide unit 13 for moving the resin supply unit 4 in parallel to the surface of the plate-like element 9 and in a predetermined direction.
[0031]
In the resin supply unit 4, the thermosetting resin 8 delivered from the resin storage unit 2 through the resin delivery pipe 3 is uniformly applied to the surface of the plate-like element 9 so as to have a layer thickness of about 200 μm, for example. . Application of the thermosetting resin 8 is performed in a predetermined direction, for example, in the present embodiment, by the drive unit 7 so that the thermosetting resin 8 spreads over the entire surface of the plate-like element 9 along the guide unit 13. In the embodiment, it is performed while moving in the direction of the arrow shown in FIG.
[0032]
Application of the thermosetting resin 8 to the surface of the plate-like element 9 by the resin supply unit 4 is performed using a technique such as a thermal ink jet technique used in an ink jet printer, a technique such as dropping from an ultrathin tube and extrusion. . For example, when using a thermal ink jetting technique, the thermosetting resin 8 in the resin supply unit 4 delivered from the resin storage unit 2 via the resin delivery pipe 3 is heated by a heater to boil and bubbles are generated. Cause it to occur. And the pressure in the resin supply part 4 is increased by this bubble, and the thermosetting resin 8 is injected from an injection hole. In FIG. 1, a broken line shown from the resin supply unit 4 toward the surface of the plate-like element 9 represents the granular thermosetting resin 8 injected from the plurality of injection holes of the resin supply unit 4. After applying the thermosetting resin 8 to the surface of the plate-like element 9, the applied thermosetting resin 8 is heated by the heating unit 5.
[0033]
FIG. 2 is a view for explaining the operation when the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 is heated. The heating unit 5 is provided at a position facing the surface of the plate-like element 9 formed on the semiconductive substrate 12 so that the operation space does not overlap with the resin supply unit 4. The heating unit 5 is attached to a guide unit 13 for moving the heating unit 5 in parallel to the surface of the plate-like element 9 and in a predetermined direction.
[0034]
The heating unit 5 heats the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 at a predetermined temperature, for example, 120 degrees Celsius. The thermosetting resin 8 uniformly applied to the surface of the plate-like element 9 is heated in advance by the drive unit 7 along the guide unit 13 so that the entire thermosetting resin 8 is uniformly heated. It is performed while moving in a predetermined direction, for example, in the direction of the arrow shown in FIG.
[0035]
The heating unit 5 is realized by, for example, a heating wire, a ceramic heater, or the like, and arbitrarily controls the heating temperature of the resin within a predetermined temperature range, for example, a range of 60 degrees centigrade or more and less than 130 degrees centigrade by controlling the power applied to the heating section Can be controlled. The thermosetting resin 8 cured by heating by the heating unit 5 can be flexibly controlled by arbitrarily controlling the heating temperature of the thermosetting resin 8 in the range of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees Celsius as described above. Curing can be stopped with hardness and elasticity.
[0036]
As described above, the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 is cured by heating and changes from a liquid state to a flexible and elastic state. In the process of changing from the liquid state to the state having flexibility and elasticity, the fine dust and dust adhering to the surface of the plate-like element 9 and the thermosetting resin 8 are integrated.
[0037]
After the thermosetting resin 8 is heated, it is cured from a liquid to a flexible and elastic hardness by heating, and is integrated with fine dust and dust adhering to the surface of the plate-like element 9. The film of the thermosetting resin 8 is peeled off from the surface of the plate-like element 9 by the peeling reel 6.
[0038]
FIG. 3 is a view for explaining the operation when the coating of the thermosetting resin 8 cured by heating is peeled off. 4 is an enlarged cross-sectional view of section A of FIG. The peeling reel 6 is formed in a cylindrical shape, and an adhesive layer 14 is formed on the surface thereof. The peeling reel 6 is provided at a position facing the surface of the plate element 9 so that the operation space does not overlap the resin supply unit 4 and the heating unit 5. The peeling reel 6 is attached to a guide portion 13 for moving the peeling reel 6 in parallel to the surface of the plate-like element 9 and in a predetermined direction.
[0039]
The film of the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 and cured by heating is peeled off by the peeling reel 6. When the film of the thermosetting resin 8 is peeled off by the peeling reel 6, first, the peeling reel 6 is made of the thermosetting resin 8 cured to a hardness having flexibility and elasticity by a predetermined pressure. A part of the surface of the coating is brought into contact. This contact position is a contact portion 15 between the peeling reel 6 and the thermosetting resin 8 as shown in FIG. That is, it is a coating portion of the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 on which the metal nano thin film 11 is not deposited. The film of the thermosetting resin 8 is peeled by bringing the peeling reel 6 into contact with the contact portion 15 between the peeling reel 6 and the thermosetting resin 8 with a predetermined contact pressure, and then the driving unit 7. Is performed while moving the peeling reel 6 along the guide portion 13 in a predetermined direction, for example, in the direction of the arrow shown in FIG. When the peeling reel 6 is moved as described above, the peeling reel 6 rotates, and the adhesive layer 14 formed on the surface of the peeling reel 6 winds up the film of the thermosetting resin 8, and the plate-like element. Peel from the surface of 9.
[0040]
As described above, according to the present embodiment, the thermosetting resin 8 is uniformly applied from the spray holes of the resin supply unit 4 to the surface of the plate-like element 9 having the metal nano thin film 11 to which fine dust and dust are attached. To do. When applying the thermosetting resin 8 to the surface of the plate-like element 9, the drive unit 7 moves the resin supply unit 4 in a predetermined direction so that the thermosetting resin 8 spreads over the entire surface of the plate-like element 9. While doing. After applying the thermosetting resin 8 to the surface of the plate-like element 9, the thermosetting resin 8 is heated by the heating unit 5 at a predetermined temperature, for example, 120 degrees Celsius. When heating the thermosetting resin 8 uniformly applied to the surface of the plate-like element 9, the driving unit 7 moves the heating unit 5 in a predetermined direction so that the entire thermosetting resin 8 is uniformly heated. To do. The film of the thermosetting resin 8 heated and cured by the heating unit 5 is peeled off by the peeling reel 6. When peeling the film of the thermosetting resin 8, the peeling reel is applied to the film of the thermosetting resin 8 applied to the portion of the surface of the plate-like element 9 where the metal nano thin film 11 is not deposited with an appropriate pressing force. 6 is brought into contact with the peeling reel 6 while rotating in a predetermined direction.
[0041]
As described above, when the thermosetting resin 8 is heated after the thermosetting resin 8 is applied to the surface of the plate-like element 9 to which fine dust and dust are adhered, the thermosetting resin 8 is cured by the heating and cured. In the process, the dust and dirt adhering to the surface of the plate-like element 9 are integrated. Of the coating of the thermosetting resin 8 integrated with the dust and the dust, an appropriate coating is applied to the coating of the thermosetting resin 8 applied to the portion where the metal nano thin film 11 is not deposited on the surface of the plate-like element 9. The coating of the thermosetting resin 8 is peeled while the peeling reel 6 is brought into contact with the pressing force and the peeling reel 6 is rotated. As a result, the peeling reel 6 does not directly contact the surface of the plate-like element 9, so that the metal nanothin film 11 deposited on the surface of the plate-like element 9 is not damaged.
[0042]
Therefore, dust and dust attached to the surface of the plate-like element 9 having the metal nano thin film 11 can be removed without destroying and peeling the metal nano thin film 11. In addition, dust and dust attached to the surface of the plate-like element 9 having the metal nano thin film 11 can be removed simply by peeling off the film of the thermosetting resin 8, so that the surface of the plate-like element 9 can be easily formed. Can be cleaned.
[0043]
In this embodiment, since the adhesion force of the metal nano thin film 11 deposited on the surface of the porous silicon substrate 10 is very small, dust and dust attached to the surface of the plate-like element 9 are removed without destroying the metal nano thin film 11. For this purpose, the selection of the base material of the thermosetting resin 8 to be applied to the surface of the plate-like element 9 is important. Therefore, in the present embodiment, the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 is more thermosetting than the metal nanothin film 11 than the bonding strength between the porous silicon substrate 10 and the metal nanothin film 11 deposited on the surface. A resin material that weakens the bond strength with the resin 8 is used. The thermosetting resin 8 is produced by dissolving the resin in an organic solvent. In this embodiment, for example, tetrahydrofuran (abbreviation: THF) is used as the organic solvent, and polycarbonate (abbreviation: PC) resin is used as the resin material.
[0044]
By using the thermosetting resin 8 based on the resin material as described above, the metal nano thin film 11 is destroyed and peeled when the film of the thermosetting resin 8 is peeled off by the peeling reel 6. While being able to prevent, the film of the thermosetting resin 8 can be peeled easily.
[0045]
Further, in the present embodiment, as described above, the drive unit 7 can move the resin supply unit 4, the heating unit 5, and the peeling reel 6 along the guide unit 13 in a predetermined direction. Thus, the thermosetting resin 8 was uniformly applied to the entire surface of the plate-like element 9 regardless of the area and shape of the plate-like element 9 having the metal nano-thin film 11 on the surface of the porous silicon substrate 10. The thermosetting resin 8 is heated evenly, and the coating of the thermosetting resin 8 cured by heating can be easily peeled without destroying and peeling the metal nano thin film 11.
[0046]
In addition, the drive mechanism that relatively moves the resin supply unit 4, the heating unit 5, the peeling reel 6, and the plate element 9 by the drive unit 7 is a screw that is used when the nut is linearly driven by rotating the screw, for example. Realized by a feed mechanism.
[0047]
FIG. 5 is a diagram for explaining an operation when heating the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 in another embodiment of the present invention. In the above-described embodiment, the heating of the thermosetting resin 8 applied to the surface of the plate-like element 9 is performed while the heating unit 5 is moved in the predetermined direction along the guide unit 13 by the driving unit 7. However, as another embodiment of the present invention, as shown in FIG. 5, the heating unit 5 itself may cover the entire semiconductive substrate 12 and heat the thermosetting resin 8.
[0048]
With the above-described configuration, the thermosetting resin 8 can be heated evenly regardless of the area and shape of the plate-like element 9 formed on the semiconductive substrate 12. Further, the heating unit 5 itself covers the entire semiconductive substrate 12 and heats the thermosetting resin 8, so that the thermosetting resin 8 is heated while moving the heating unit 5, compared with the case where the heating unit 5 is moved. It is possible to shorten the time required for heating the functional resin 8 to cure it to a predetermined hardness. Thereby, the time for cleaning the surface of the plate-like element 9 can be shortened.
[0049]
The above-described embodiments are merely examples of the present invention, and the configuration may be changed within the scope of the present invention. For example, operations such as application of the thermosetting resin 8 by the resin supply unit 4, heating of the thermosetting resin 8 by the heating unit 5, and peeling of the film of the thermosetting resin 8 by the peeling reel 6 are performed manually. It may be configured. In the above-described embodiment, the thermosetting resin 8 is used as the resin to be applied to the surface of the plate-like element 9, but a resin having other properties, for example, an ultraviolet curable resin that is cured by irradiation with ultraviolet rays. Alternatively, a thermoplastic resin that is softened by heating and hardened by cooling may be used.
[0050]
【The invention's effect】
  As described above, according to the present invention, when the thermosetting resin is heated after the thermosetting resin is applied to the surface of the plate-like element to which fine dust and dust are adhered, the thermosetting resin is cured by the heating. In the process of curing, it becomes integrated with dust and dirt.At this time, by setting the heating temperature for curing the thermosetting resin within a range of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees Celsius, the thermosetting resin can be cured with hardness having flexibility and elasticity. Can be stopped.Of the thermosetting resin coating integrated with dust and dust,metalThe peeling means is brought into contact with the thermosetting resin coating applied to the portion where the nano thin film is not deposited with an appropriate pressing force, and the thermosetting resin coating is peeled off while rotating the peeling means. . As a result, the peeling means does not come into direct contact with the surface of the plate-like element.The porous silicon layerDeposited on the surfaceMetal with poor mechanical strengthDoes not damage the nano thin film. Therefore,metalDust and dust adhering to the surface of the plate-like element having a nano thin filmmetalThe nano thin film can be removed without breaking and peeling. Also, just peel off the thermosetting resin film,metalSince dust and dust attached to the surface of the plate-like element having the nano thin film can be removed, the surface of the plate-like element can be easily cleaned.
[0051]
  Also according to the present invention, the substrate and the surface thereof are deposited.metalRather than the bond strength with the nano thin film,metalBy using a thermosetting resin based on a resin material that weakens the bonding strength between the nano thin film and the thermosetting resin, when the thermosetting resin film is peeled off by the peeling means,metalThe nanothin film can be prevented from being broken and peeled off, and the thermosetting resin film can be easily peeled off.
[0052]
  Also according to the invention,By making the thermosetting resin polycarbonate, the bond strength between the metal nano thin film and the thermosetting resin is weakened.can do.
[0053]
  Further, according to the present invention, when the thermosetting resin is heated after applying the thermosetting resin to the surface of the plate-like element to which fine dust and dust are adhered, the thermosetting resin is cured and cured by heating. In the process, it becomes integrated with garbage and dust. The film of the thermosetting resin integrated with the dust and dust is peeled off. Thus, as in the prior art, dust and dust are not removed by directly contacting the surface of the plate-like element, for example, with a brush.The porous silicon layerDeposited on the surfacemetalDoes not damage the nano thin film. Therefore,metalDust and dust adhering to the surface of the plate-like element having a nano thin filmmetalThe nano thin film can be removed without breaking and peeling. Also, just peel off the thermosetting resin film,metalSince dust and dust attached to the surface of the plate-like element having the nano thin film can be removed, the surface of the plate-like element can be easily cleaned.
[0054]
According to the present invention, the heating means itself covers the whole plate-like element and heats the thermosetting resin, so that the thermosetting resin can be evenly distributed regardless of the area and shape of the plate-like element. Can be heated. Further, the heating means itself covers the entire plate-like element and heats the thermosetting resin, thereby heating the thermosetting resin compared to when heating the thermosetting resin while moving the heating means. The time required for curing to a predetermined hardness can be shortened. Thereby, the time for cleaning the surface of the plate-like element can be shortened.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a simplified cross-sectional view illustrating a cleaning device 1 according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a view for explaining an operation when heating a thermosetting resin 8 applied to the surface of a plate-like element 9;
FIG. 3 is a view for explaining an operation when a film of a thermosetting resin 8 cured by heating is peeled off.
4 is an enlarged cross-sectional view of section A of FIG.
FIG. 5 is a view for explaining an operation when heating a thermosetting resin 8 applied to the surface of a plate-like element 9 in another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 Cleaning device
2 Resin accumulation section
3 Resin delivery pipe
4 Resin supply section
5 Heating part
6 Reel for peeling
7 Drive unit
8 Thermosetting resin
9 Plate element
10 Porous silicon layer
11 Metal nano thin film
12 Semiconductive substrate
13 Guide section
14 Adhesive layer

Claims (4)

多孔質シリコン層の最表面に形成された金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面を清掃する清掃装置であって、
熱硬化性樹脂を供給する樹脂供給手段と、
前記熱硬化性樹脂を加熱して硬化させるための加熱手段と、
前記加熱手段による加熱によって硬化した熱硬化性樹脂の被膜を剥離する剥離手段と、
前記樹脂供給手段、前記加熱手段および前記剥離手段を予め定める方向へ移動させる駆動手段とを含み、
前記加熱手段による加熱温度は、熱硬化性樹脂の被膜が可撓性および弾発性を有する硬さで硬化を止めることが可能なように、摂氏60度以上摂氏130度未満の範囲で設定され、
前記駆動手段は、板状素子表面の金属ナノ薄膜が堆積していない部分に形成された熱硬化性樹脂の被膜部分に、前記剥離手段を当接させた後、剥離手段を予め定める方向へ移動させるように構成されることを特徴とする清掃装置。
A cleaning device for cleaning the surface of a plate-like element having a metal nano thin film formed on the outermost surface of a porous silicon layer ,
A resin supply means for supplying a thermosetting resin;
Heating means for heating and curing the thermosetting resin;
A peeling means for peeling the coating of the thermosetting resin cured by heating by the heating means;
The resin supply means, viewed contains a driving means for moving to said heating means and said direction defining the peeling means in advance,
The heating temperature by the heating means is set in a range of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees Celsius so that the thermosetting resin film can be cured with flexibility and elasticity. ,
The driving means moves the peeling means in a predetermined direction after bringing the peeling means into contact with the thermosetting resin film formed on the surface of the plate-like element where the metal nano thin film is not deposited. It is comprised so that it may cause. The cleaning apparatus characterized by the above-mentioned .
前記熱硬化性樹脂として、基板とその表面に堆積した金属ナノ薄膜との結合強度よりも、金属ナノ薄膜と熱硬化性樹脂との結合強度が弱い樹脂材料を用いることを特徴とする請求項1記載の清掃装置。2. The resin material having a bond strength between the metal nano thin film and the thermosetting resin lower than the bond strength between the substrate and the metal nano thin film deposited on the surface thereof as the thermosetting resin. The cleaning device described. 前記樹脂材料がポリカーボネートであることを特徴とする請求項記載の清掃装置。The cleaning apparatus according to claim 2 , wherein the resin material is polycarbonate . 多孔質シリコン層の最表面に形成された金属ナノ薄膜を有する板状素子の表面を清掃する清掃方法であって、
前記板状素子の表面に熱硬化性樹脂を塗布した後、摂氏60度以上摂氏130度未満の温度範囲における加熱によって硬化した熱硬化性樹脂の被膜を形成し、
板状素子表面のうち前記金属ナノ薄膜が堆積されていない熱硬化性樹脂の被膜部分に、剥離手段を当接させた後、剥離手段を予め定める方向へ移動させて、熱硬化性樹脂の被膜を剥離することを特徴とする清掃方法。
A cleaning method for cleaning the surface of a plate-like element having a metal nano thin film formed on the outermost surface of a porous silicon layer ,
After applying a thermosetting resin to the surface of the plate-like element , a cured thermosetting resin film is formed by heating in a temperature range of 60 degrees Celsius or more and less than 130 degrees Celsius ,
After the peeling means is brought into contact with the thermosetting resin film portion on which the metal nano thin film is not deposited on the surface of the plate-like element, the peeling means is moved in a predetermined direction to form a thermosetting resin film. A cleaning method characterized by peeling.
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