JP4134002B2 - 検査方法、検査装置及び検査プログラム - Google Patents

Description

本発明は、電子機器の製品製造検査において検査時間を短縮する検査方法、検査装置及び検査プログラムに関する。

近年、職場や家庭において携帯電話を始めとする電子機器の使用頻度が上がっており、増大する電子機器の需要に対応するため、電子機器の生産量を如何にしてあげるかが課題となっており、課題解決のため、製品製造検査の時間短縮が必要となっている。

従来の製品製造検査技術として、次のような無線特性検査装置がある。この無線特性検査装置は、自動車電話に対する任意の検査項目を自動測定するためのプログラムを記憶したＩＣカードを測定器に設け、制御部から順次出力される測定開始要求コマンドによりＩＣカードのプログラムを起動する。そして、自動車電話の測定データを得た後、測定終了コマンドと測定データを上記制御部に送出し、制御部は測定終了コマンドを受けた後、測定データに基づいて自動車電話の検査の合否判定を行う（特許文献１参照）。

しかし、上記の従来技術ではＩＣカードを備える測定器にしか適用できないという問題がある。
また、上記の従来技術では複数の同じ検査を同時に実行可能な場合において有効であるが、同時に検査できない異なる検査間においては測定器のレンジ切り替え時間が発生する。

なお、測定器側の計測レンジ切り替えが不要である処理装置を実回路にて提供する従来技術もあるが、この従来技術では、特別な測定装置を必要とする（特許文献２参照）。

実開平５−１５５４５ 特開２００２−１６２２５１

本発明の目的は、電子機器の製品製造検査において測定器のレンジ切り替え時間を削除して検査時間を短縮する検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供することである。
本発明の他の目的は、特別な測定装置を用いることなく、検査する検査装置を制御することにより計測レンジ切り替え不要とする検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供することである。
本発明の他の目的は、従来のものと比較して、高分解能及び高ダイナミックレンジを両立できる検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供することである。
本発明の他の目的は、製品製造検査の時間短縮により、電子機器の生産量を向上することができる検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供することである。

以下に、［発明を実施するための最良の形態］で使用される番号を括弧付きで用いて、課題を解決するための手段を説明する。これらの番号は、［特許請求の範囲］の記載と［発明を実施するための最良の形態］との対応関係を明らかにするために付加されたものである。但し、それらの番号を、［特許請求の範囲］に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いてはならない。

本発明の検査方法は、電子装置（１０００）の第１音声増幅部（３２３）からの出力信号を第１電圧レンジ（高電圧レンジＨ）で測定するステップと、
前記測定後、前記電子装置（１０００）に制御コマンドを送信し、前記電子装置（１０００）の第２音声増幅部（３５０）のゲインを変更するステップと、
前記変更されたゲインを保持しつつ、前記第２音声増幅部（３５０）からの出力信号を前記第１電圧レンジ（高電圧レンジＨ）で測定するステップとを具備する。

本発明の他の検査方法は、電子装置（１０００）の第１音声増幅部（３２３）又は第２音声増幅部（３５０）の出力電圧が、閾値以上であれば前記電子装置（１０００）は正常に回路接続されていると判定するステップと、前記閾値未満であれば前記電子装置（１０００）は正常に回路接続されていないと判定するステップとを具備する。

本発明の全ての検査方法において、前記第１音声増幅部（３２３）は音声通信回路（５００）の増幅部であり、前記第２音声増幅部（３５０）は音響再生回路（７００）の増幅部である。

本発明の検査装置（３０００）は、電子装置（１０００）からの複数の出力信号のうち２つを選択するスイッチ部（１０３０）と、前記選択された出力信号を加算し出力する差動加算回路（１０４０）と、前記差動加算回路（１０４０）から出力された信号電圧レベルを測定する測定部（１０２０）とを具備する。
また、前記測定部（１０２０）の測定レンジを固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信して、前記電子装置（１０００）の出力回路のゲインの設定を変更する。

本発明の他の検査装置（３０００）は、電子装置（１０００）からの複数の出力信号のうち２つを選択するスイッチ部（１０３０）と、前記選択された出力信号を加算し出力する差動加算回路（１０４０）と、前記差動加算回路（１０４０）の出力電圧を入力として、前記出力電圧が閾値以上であれば、第１電圧（ｈｉｇｈ電圧：論理「１」）から第２電圧（ｌｏｗ電圧：論理「０」）に論理が切り替わったことで回路接続されていると判定し、前記閾値未満であれば、前記第１電圧の状態を維持し、論理の切り替わりがないことから回路接続がされていないと判定する電圧検出回路（１１００）とを具備する。

本発明の他の検査装置（３０００）において、前記電圧検出回路（１１００）は、前記差動加算回路（１０４０）の出力の正弦波信号のプラス側電圧分を除き、マイナス側電圧をプラス出力に反転する反転型・半波整流回路（１５１０）と、前記反転型・半波整流回路（１５１０）の出力の正弦波信号から直流分を除くカップリングコンデンサと、前記直流分を除いたプラス電圧の半波整流信号を入力として、前記入力の信号レベルが前記閾値以上なら前記第２電圧（ｌｏｗ電圧：論理「０」）、前記閾値未満なら前記第１電圧（ｈｉｇｈ電圧：論理「１」）を出力するＤｅｔｅｃｔｏｒ回路（１５２０）と、前記Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路（１５２０）の出力を入力として、前記第１電圧を受けた場合、出力状態を第１電圧で出力し続け、前記第２電圧を受けた場合、出力状態を第１電圧から第２電圧に変更し、その状態を保持するラッチ回路（１５３０）とを具備する。

本発明の全ての検査装置（３０００）は、正弦波信号を出力する機能を持つ低周波発生部（１０１０）と、前記低周波発生部（１０１０）の出力信号を入力とする差動入力回路（１０５０）とを具備する。
また、前記差動入力回路（１０５０）が、前記差動入力回路（１０５０）の出力信号を前記電子装置（１０００）の音声入力部に入力する。

本発明の検査プログラムは、電子装置（１０００）の第１音声増幅部（３２３）からの出力信号を第１電圧レンジ（高電圧レンジＨ）で測定するステップと、
前記測定後、前記電子装置（１０００）に制御コマンドを送信し、前記電子装置（１０００）の第２音声増幅部（３５０）のゲインを変更するステップと、
前記変更されたゲインを保持しつつ、前記第２音声増幅部（３５０）からの出力信号を前記第１電圧レンジ（高電圧レンジＨ）で測定するステップとを具備する。

本発明の他の検査プログラムは、電子装置（１０００）の第１音声増幅部（３２３）又は第２音声増幅部（３５０）の出力電圧が、閾値以上であれば前記電子装置（１０００）は正常に回路接続されていると判定するステップと、前記閾値未満であれば前記電子装置（１０００）は正常に回路接続されていないと判定するステップとを具備する。

本発明の全ての検査プログラムにおいて、前記第１音声増幅部（３２３）は音声通信回路（５００）の増幅部であり、前記第２音声増幅部（３５０）は音響再生回路（７００）の増幅部である。

本発明によりある検査工程の総合検査時間の短縮をすることが可能となり、同じ検査時間でより多くの製造製品の検査を可能とできる。
音声通信回路や音響再生回路の検査にあたって、通常検査と同様な設備でかつ新たな回路を追加することなく検査時間の短縮ができるため、より安価に製造できる。

本発明は、音声通信機能かつＦＭ音源等の音響再生機能を有する電子機器の製品製造検査における全ての接続箇所の半田付けに問題がないか否かの確認を容易にする。
例えば、音声通信回路出力信号レベルや各種音響再生回路出力信号レベルを電圧計で測定することを、異なる複数の検査方法にて製造検査する場合、つまり、複数の検査におけるそれぞれ信号レベルの測定にて全ての接続箇所の半田付けに問題がないか否かを製造検査する場合に、前記の全接続ポイントを半田付け確認するため、それぞれの検査における音声・音響出力回路出力検査項目の信号レベル測定を行う際に必要なレベル測定を実施する電圧計の測定レンジを切り替える制御をなくす。そして、それら出力回路のゲイン設定値を制御コマンド使用して初期設定値から変更することで、測定レンジ切り替え時間を削除することで総合検査時間を短縮する。

本発明では、半田付け接続確認する音声通信回路出力信号レベルや各種音響再生回路出力信号レベルを電圧計でそのまま測定するのではなく、出力電圧を入力としてある閾値電圧以上であれば論理電圧が「１」（ｈｉｇｈ電圧）から「０」（ｌｏｗ電圧）に論理が切り替わったことで問題なく回路接続されていると判定する。逆に、ある閾値電圧未満であれば論理電圧が「１」（ｈｉｇｈ電圧）の状態を維持し、論理の切り替わりがないことから正常に回路接続されていないと判定する機能を持つ電圧検出回路を使用して論理判定することで、電圧計による出力信号電圧をそのまま測定するより短い時間で測定することで検査の検査時間を短縮する。

以下に本発明の第１実施形態について添付図面を参照して説明する。
図１を基に本発明の構成要素を説明する。ここでは具体的な電子機器として携帯電話を例にする。但し、実際には、電子機器は携帯電話に限定されるものではない。
本発明の第１実施形態では、携帯電話１０００、制御ＰＣ２０００、検査治具３０００が用いられる。

携帯電話１０００は音声信号を送受信及び着信音を出力する機能を備え、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１００、ＦＭ音源ＬＳＩ２００、オーディオＩＣ３００、音声入力部４００、音声出力部５００、ヘッドホンジャック６００、スピーカ７００、メモリＬＳＩ８００、無線部９００を備える。

制御ＰＣ２０００は携帯電話１０００と検査治具３０００との間に製品製造検査する上で必要な制御コマンドを送受信する制御信号ライン及び検査用プログラム（検査用ソフト）を備える。
なお、制御ＰＣ２０００はＰＣに限定されるものではなく、検査治具３０００から出力信号を受け取り、携帯電話１０００に制御コマンドを送信することができる装置であれば良い。

検査治具３０００は低周波発生部１０１０、電圧計１０２０、リレースイッチ１０３０、差動加算回路１０４０、差動入力回路１０５０を備える。

携帯電話１０００の構成について説明する。
ＣＰＵ（中央演算処理装置）１００は、音声を送受信できるよう接続先ＬＳＩを制御するなど携帯電話１０００の制御全般を司る。また、ＣＰＵ１００は、オーディオＩＣ３００内部の各種ＡＭＰのゲインをシリアルＩ／Ｆ（インターフェース）により設定する機能、発信音声（上り音声）信号パスを応答音声（下り音声）信号パスに接続可能とするスイッチ、音声信号をソフトウェアでデジタル処理するためのＳｐｅｅｃｈ ＤＳＰ＿Ｉ／Ｆ（インターフェース）を備える。ここで、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）とは、音声や画像などの処理に特化したマイクロプロセッサのことである。

ＦＭ音源ＬＳＩ２００は、着信音のメロディー音データを出力する。
オーディオＩＣ３００は、上りパスゲイン設定部３１０、下りパスゲイン設定部３２０やオーディオ回路ゲイン設定部３３０、スピーカＡＭＰ（ｓｐｅａｋｅｒ ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）部３５０、ヘッドホンＡＭＰ（ｈｅａｄｐｈｏｎｅ ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）部３４０及びレジスタ部３６０を備え、そのレジスタ部３６０の設定値によりデジタルゲイン設定部のゲインあるいはスピーカＡＭＰ部３５０のようなアナログＡＭＰのゲインを設定変更可能な機能を有する。

音声入力部４００は、通信相手へ送信する音声を入力するための機能を有する。
音声出力部５００は、通信相手先から受信した音声を出力する。
ヘッドホンジャック６００は、音声信号を入出力可能なイヤホンマイク及び着信音を出力可能なイヤホンレシーバを接続するためのインターフェースを備える。
スピーカ７００は、ヘッドホンジャック６００と同様に着信音を出力する。
無線部９００は、音声信号を送受信するための無線信号に変換する機能を備える。
メモリＬＳＩ８００は、初期設定の設定値を保存している。

オーディオＩＣ３００の内部ブロックの構成について説明する。
上りパスゲイン設定部３１０は、通信相手への発信音声（上り側）信号のゲインをアナログＡＭＰ３１３、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部３１２及びデジタルゲイン設定部３１１により設定する。

下りパスゲイン設定部３２０は、通信相手からの応答音声（下り側）信号のゲインをデジタルゲイン設定部３２１、Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）変換部３２２及びアナログＡＭＰ３２３により設定する。

オーディオ回路ゲイン設定部３３０は、デジタルゲイン設定部３３１、Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）変換部３３２によりＦＭ音源ＬＳＩ２００の出力データやゲインを設定する。

ヘッドホンＡＭＰ部３４０は、Ｌｃｈ（Ｌｅｆｔ ｃｈａｎｎｅｌ）及びＲｃｈ（Ｒｉｇｈｔ ｃｈａｎｎｅｌ）出力用アナログＡＭＰ部であり、ヘッドホンジャック６００と接続する。

スピーカＡＭＰ部３５０は、ｓｐｅａｋｅｒ＿ｐｌｕｓ出力であるＳＰＫＯＰ（ｓｐｅａｋｅｒ ｏｕｔｐｕｔ ｐｏｓｉｔｉｖｅ）及びｓｐｅａｋｅｒ＿ｍｉｎｕｓ出力であるＳＰＫＯＮ（ｓｐｅａｋｅｒ ｏｕｔｐｕｔ ｎｅｇａｔｉｖｅ）用アナログＡＭＰ部であり、スピーカ７００と接続する。

レジスタ部３６０は、演算や実行状態の保持に用いる記憶素子であり、ＣＰＵ１００からオーディオ回路ゲイン設定部３３０内部の各種ＡＭＰのゲインの設定値をシリアルＩ／Ｆ（インタフェース）信号で受け取る。図１では、レジスタ部３６０は、上り／下りパスゲイン設定部３１０、３２０、オーディオ回路ゲイン設定部３３０、スピーカＡＭＰ部３５０及びヘッドホンＡＭＰ部３４０と接続されている。

なお、図１に記載されているテストポイント（以下ＴＰ）１０〜８０は、音声通信回路（音声入力部４００及び音声出力部５００から入出力される上下音声信号回路ブロック）及び音響再生回路（ＦＭ音源ＬＳＩ２００出力データ（着信音のメロディーデータ）再生回路ブロック）を検査するためのテストポイントである。

ＴＰ１０はＨＰＯＬ（ｈｅａｄｐｈｏｎｅ ｏｕｔｐｕｔ ｌｅｆｔ）端子ライン、ＴＰ２０はＭＩＣＰ（ｍｉｃｒｏｐｈｏｎｅ ｐｏｓｉｔｉｖｅ）端子ライン、ＴＰ３０はＲＥＣＯＰ（ｒｅｃｅｉｖｅｒ ｏｕｔｐｕｔ ｐｏｓｉｔｉｖｅ）端子ライン、ＴＰ４０はＭＩＣＮ（ｍｉｃｒｏｐｈｏｎｅ ｎｅｇａｔｉｖｅ）端子ライン、ＴＰ５０はＲＥＣＯＮ（ｒｅｃｅｉｖｅｒ ｏｕｔｐｕｔ ｎｅｇａｔｉｖｅ）端子ライン、ＴＰ６０はＳＰＫＯＰ端子ライン、ＴＰ７０はＳＰＫＯＮ端子ライン、ＴＰ８０はＨＰＯＲ（ｈｅａｄｐｈｏｎｅ ｏｕｔｐｕｔ ｒｉｇｈｔ）端子ラインに接続されて携帯電話１０００内部の各種部品搭載用基板に備えられる。

検査治具３０００の構成について説明する。
低周波発生部１０１０は、１ＫＨＺ程度の正弦波信号出力機能を持つ。
電圧計１０２０は、信号レベル測定装置である。
リレースイッチ１０３０は、ＴＰ１０、ＴＰ３０、ＴＰ５０〜８０からの出力信号のうちどの信号を差動加算回路１０４０に入力するか切り替えるスイッチング機能を持つ。
差動加算回路１０４０は、リレースイッチ１０３０からの２つの出力信号を差動入力として合成出力する。
差動入力回路１０５０は、ＴＰ２０及びＴＰ４０へ差動信号を出力する。

図２Ａを参照して差動加算回路１０４０の概要を説明する。
当該回路はリレースイッチ１０３０から負極入力信号と正極入力信号、２つの入力信号を受け取る。負極入力信号は直列に接続されたコンデンサＣ１と抵抗Ｒ１を経由し、正極入力信号は直列に接続されたコンデンサＣ２と抵抗Ｒ２を経由して差動増幅器、ここではオペアンプ（Ｏｐｅｒａｔｉｏｎａｌ ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）の負極と正極にそれぞれ入力される。
オペアンプの出力はコンデンサＣ３を経由して出力される。ここで、抵抗Ｒ１とオペアンプの間のノードは、オペアンプとコンデンサＣ３の間のノードと、抵抗Ｒ３を介して接続されている。
また、一方が接地されたコンデンサＣ４の他方は、抵抗Ｒ２とオペアンプの間のノードと抵抗Ｒ６を介して接続されている。更に、コンデンサＣ４と抵抗Ｒ２の間のノードは、抵抗Ｒ４を介して電源と接続され、抵抗Ｒ５を介して接地されている。
なお、オペアンプは差動増幅器の例であり、実際にはオペアンプに限定されるものではない。

図２Ｂを参照して差動入力回路１０５０の概要を説明する。
当該回路は低周波発生部１０１０から負極入力信号を受け取る。その入力信号は直列に接続されたコンデンサＣ１と抵抗Ｒ１を経由して第１オペアンプの負極に入力され、コンデンサＣ２を経由して第２オペアンプの正極に入力される。
第１オペアンプの出力はコンデンサＣ３を経由して負極出力信号として出力される。ここで、抵抗Ｒ１と第１オペアンプの間のノードは、第１オペアンプとコンデンサＣ３の間のノードと、抵抗Ｒ２を介して接続されている。
また、一方が接地されたコンデンサＣ４の他方は、抵抗Ｒ５を介して、コンデンサＣ２と第２オペアンプの正極の間のノードに接続されている。コンデンサＣ４と抵抗Ｒ５の間の第１ノードは第１オペアンプの正極に接続されている。コンデンサＣ４と第１ノードの間の第２ノードは抵抗Ｒ３を介して電源と接続され、抵抗Ｒ４を介して接地されている。
第２オペアンプの出力はコンデンサＣ５を経由して正極出力信号として出力される。ここで、第２オペアンプの負極は、第２オペアンプと出力側コンデンサの間のノードと接続されている。
なお、第１、第２オペアンプは差動増幅器の例であり、実際にはオペアンプに限定されるものではない。

図３は音声通信回路及び音響再生回路の検査検査方法を説明するための図である。
基本的に図１の構成と構成上の異なる部分は存在しない。しかし、レジスタ部３６０と上り／下りパスゲイン設定部３１０、３２０、オーディオ回路ゲイン設定部３３０、スピーカＡＭＰ部３５０及びヘッドホンＡＭＰ部３４０との接続線を記述しないことで、従来の検査では音声通信出力信号や、音響再生出力信号であるスピーカ出力信号及びヘッドホン出力信号の出力レベルをＣＰＵ１００からシリアルＩ／Ｆを使用してオーディオＩＣ３００にメモリＬＳＩ８００に保存されている初期値を展開して、それぞれの回路のゲイン設定が初期値として設定されたまま検査することを示している。

第１実施形態の動作について図４Ａのフローチャートを基に説明する。ここで先に図３に関する製品検査、言い換えると各種接続される回路パターン接続及び半田付け確認に関する一般的な音声通信機能回路の検査（音声入力部４００と音声出力部５００に接続するラインの接続確認）と音響再生回路の検査（ＦＭ音源ＬＳＩ２００の出力データをスピーカ７００にて出力するスピーカ７００に接続するラインの接続確認及びＦＭ音源ＬＳＩ２００の出力データをヘッドホンジャック６００にて出力するヘッドホンジャック６００に接続するラインの接続確認）について説明しておく。

一般的に、音声通信機能回路の検査と音響再生機能回路検査をそれぞれ実際の通信や音響再生に適する設定値として設定される初期設定のままで検査している。
音声通信出力信号レベルＡ、音響再生回路であるスピーカ出力信号レベルＢ及びヘッドホン出力信号レベルＣの信号レベルをそれぞれ電圧計で測定するにあたって、各出力信号Ａ、Ｂ、Ｃの出力信号レベル最大値が電圧計１０２０のある１レンジのみで測定できるとは限らなかった。そのため、初期設定の如何によっては出力信号Ａ、Ｂ、Ｃのいずれかを計測するにあたって測定レンジの切り替えをする必要がある場合が存在し、１台の携帯電話の製造検査にあたって各種出力信号Ａ、Ｂ、Ｃを測定するために電圧計１０２０の測定レンジを切り替えるという無駄な時間が存在していた。

従って、総合検査時間の短縮には、単純に実際の検査に無関係な上述のレンジ切り替えの時間のような無駄時間を減らすことで実現可能であることがわかる。ここで、図４Ａを用いて上記レンジ切り替え時間をなくす本発明の動作についてフローチャートで説明する。

この時、出力信号Ａ、Ｂ、Ｃの信号レベルはそれぞれ初期設定値により信号Ａと信号Ｃの信号レベルは電圧計１０２０の高電圧レンジＨ（ｈｉｇｈレンジ）で測定しなければならないと仮定する。
言い換えると、出力信号Ａ、Ｃの電圧レベル最低値が低電圧レンジ（ｌｏｗレンジ）で測定できる最大値より高い信号レベルであり、出力信号Ｂの測定では電圧計１０２０の測定レンジを低電圧レンジＬで測定しなければならないと仮定する。

そこで、信号Ａ〜Ｃまでを検査する検査順序を信号Ｃ（ヘッドホン出力：高電圧レンジＨで測定）→Ａ（音声通信回路出力：高電圧レンジＨで測定）→Ｂ（スピーカ出力：低電圧レンジＬで測定）であるとする。

ＣＰＵ１００からヘッドホン出力するようにＦＭ音源ＬＳＩ２００とオーディオＩＣ３００を制御し、ヘッドホン出力信号Ｃを高電圧レンジＨでレベル測定する（ステップＳ４１１）。

同様に、ＣＰＵ１００から音声通信出力するようにオーディオＩＣ３００を制御し、差動入力回路１０５０出力信号をＴＰ２０とＴＰ４０に入力し、ＣＰＵ１００内部で電気的に上り音声パスと下り音声パスが接続するようにスイッチングして、下り音声パスを経由した音声通信出力信号Ａを高電圧レンジＨでレベル測定する（ステップＳ４１２）。

電圧測定レンジの切り替え動作を削除するために、ＰＣからＣＰＵ１００へＣＰＵ１００よりスピーカＡＭＰ部３５０のゲインを初期値より高く設定するような制御コマンドを送信しスピーカＡＭＰ部３５０のゲインを変更する（ステップＳ４１３）。

ステップＳ３で設定したゲインを保持しつつ、ＣＰＵ１００からスピーカ出力するようにＦＭ音源ＬＳＩ２００とオーディオＩＣ３００を制御し、スピーカ出力信号Ｂを高電圧レンジＨでレベル測定する（ステップＳ４１４）。

なお、ステップＳ４１１〜ステップＳ４１４において、出力信号Ａ、Ｂ、Ｃを高電圧レンジＨでレベル測定したのは、上記の仮定のもとでの一例に過ぎず、実際には、低電圧レンジＬに固定してレベル測定しても良い。

ここで、図４Ｂに従来の検査手順概要を記述する。
なお、ここでは図４Ａと同様に、音声通信出力信号レベルＡ、音響再生回路であるスピーカ出力信号レベルＢ及びヘッドホン出力信号レベルＣの信号レベルをそれぞれ電圧計で測定するにあたって、出力信号Ａ、Ｃの電圧レベル最低値が低電圧レンジ（ｌｏｗレンジ）で測定できる最大値より高い信号レベルであり、出力信号Ｂの測定では電圧計１０２０の測定レンジを低電圧レンジＬで測定しなければならないと仮定する。
図４Ｂが図４Ａと異なる点は、Ｓ４２３における処理だけである。
Ｓ４２１、Ｓ４２２、Ｓ４２４については、それぞれＳ４１１、Ｓ４１２、Ｓ４１４と同様である。
従って、従来の検査手順では、電圧計レンジを高電圧レンジＨから低電圧レンジＬに変更する（ステップＳ４２３）という処理が、前記（ステップＳ４１３）の代わりに実行されている。
この処理の違いにより、本発明は従来の検査手順より検査時間の短縮ができる。
例えば、従来の検査手順では、測定用の電圧計１０２０での電圧レンジの切り替え時間がおよそ０．５ｓｅｃ程度必要であったとする。他方、本発明のスピーカＡＭＰ部３５０のゲインを変更する制御コマンドの送受信（応答）時間はおよそ０．１ｓｅｃ程度であり、差分として１台につき約０．４ｓｅｃ検査時間の短縮ができることになる。

本発明の第２実施形態について図５Ａ、図５Ｂを基に説明する。
図５Ａにおいて、図１と大きく異なる点は検査冶具３０００の構成部で電圧検出回路１５００を備えること、電圧計１０２０が不要であることである。
この電圧検出回路１５００は図５Ｂの通りの回路構成となっており、反転型・半波整流回路１５１０と、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０と、ラッチ回路１５３０とを備える。

反転型・半波整流回路１５１０は、測定する差動加算回路１０４０出力の正弦波信号のプラス側電圧分をカットし、マイナス側電圧をプラス出力に反転する。

ここで、反転型・半波整流回路１５１０とＤｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０との間に、カップリングコンデンサ及びプルダウン抵抗がある。
カップリングコンデンサは、前記反転型・半波整流回路１５１０出力の正弦波信号から直流分をカットする。
プルダウン抵抗は、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０の電圧検出部を論理不定とせぬための抵抗である。

Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０は、直流分をカットしたプラス電圧の半波整流信号を入力として、その信号レベルがある閾値電圧Ｄ以上であることを検出した場合、検出出力として「ｌｏｗ電圧」（論理「０」）を出力する。
逆に、ある閾値電圧Ｄ未満で電圧検出した場合、検出出力として「ｈｉｇｈ電圧」（論理「１」）を出力する。

ラッチ回路１５３０は、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０出力を入力として、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０出力が「ｈｉｇｈ電圧」（論理「１」でＤｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０である閾値Ｄ未満で電圧検出した状態）を受けた場合、出力状態を「ｈｉｇｈ電圧」（論理「１」）で出力し続ける。逆に「ｌｏｗ電圧」（論理「０」で、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０である閾値Ｄ以上を検出した状態）を受けた場合、出力状態を「ｈｉｇｈ電圧」（論理「１」）から「ｌｏｗ電圧」（論理「０」）に変更し、その状態を保持する。

ここで、前記閾値電圧Ｄは音声出力部５００に接続する音声通信回路出力信号及びヘッドホンジャック６００に接続するヘッドホン出力である音響再生出力信号、並びにスピーカ７００に接続するスピーカ出力である音響再生回路出力信号レベルの最低レベル電圧として設定しておく。

本発明の第２実施形態の動作について図６のフローチャートをもとに説明する。
ここで第１実施形態と異なる点について概要説明する。第１実施形態では、音声通信機能回路の検査（音声入力部４００と音声出力部５００に接続するラインの接続確認）と音響再生回路の検査（ＦＭ音源ＬＳＩ２００の出力データをスピーカ７００にて出力するスピーカ７００に接続するラインの接続確認及びＦＭ音源ＬＳＩ２００の出力データをヘッドホンジャック６００にて出力するヘッドホンジャック６００に接続するラインの接続確認）について、それら３つの出力信号レベルを電圧計１０２０で測定し、測定にあたって電圧計１０２０の測定レンジ切り替え時間を不要にするためＣＰＵ１００からオーディオＩＣ３００に対してシリアルＩ／Ｆ信号を用いてゲイン変更するブロックのゲイン変更（先例では、スピーカＡＭＰ部３５０のゲインを初期値より高く設定）することにより実現し、結果として総合の検査時間を短縮していた。

ここで述べる第２実施形態は測定する信号レベルをそのまま電圧計１０２０で測定せず、測定する信号レベルが最低出力レベルを満足しているかをラッチ回路１５３０の論理出力「０」、「１」判定から回路パターン接続及び半田付け確認し、電圧計１０２０で電圧が規格範囲内におさまる電圧レベルであるか電圧測定する時間を省くことにより検査時間を短縮するものである。

ここで説明のために、音声通信出力信号レベルＡ、及び音響再生回路であるスピーカ出力信号レベルＢの出力最低レベル電圧は同電位であり、その最低レベル電圧を閾値電圧Ｄと仮定、ヘッドホン出力信号レベルＣの出力最低レベル電圧は電圧Ｅであり、電圧Ｅ＜閾値電圧Ｄであると仮定する。

ここで音響再生回路出力であるヘッドホン出力回路の接続確認、すなわちヘッドホン出力信号レベルＣを測定することで第２実施形態の動作説明をする。
ＣＰＵ１００からヘッドホン出力するようにＦＭ音源ＬＳＩ２００とオーディオＩＣ３００を制御し、ヘッドホン出力信号Ｃが出力されるよう設定する（ステップＳ６０１）。

続いてヘッドホン出力信号Ｃ出力電圧が正常に接続していた場合に出力されうる最低電圧Ｅの電位をＤｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０で検出できる閾値電圧Ｄ以上に設定すべくＣＰＵ１００からオーディオＩＣ３００を制御してヘッドホンＡＭＰ部３４０のゲインを初期値より高く設定する（ステップＳ６０２）。

ＴＰ１０及びＴＰ８０出力が差動加算回路１０４０に入力されるようリレースイッチ１０３０を制御し、差動加算回路１０４０出力を反転型・半波整流回路１５１０に入力する（ステップＳ６０３）。

Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０は反転型・半波整流回路１５１０出力のプラス電位の半波正弦波整流電圧を閾値電圧Ｄ以上として検出し、検出出力として「ｌｏｗ電圧」（論理「０」）を出力した場合（ステップＳ６０４）、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０の「ｌｏｗ電圧」を入力したラッチ回路１５３０は出力している論理レベルを「１」（ｈｉｇｈ）から「０」（ｌｏｗ）に変更して、以後本検査終了までその出力状態を保持する（ステップＳ６０５）。

ラッチ回路１５３０の出力論理が「１」から「０」に変化したことを制御ＰＣ２０００で検出することで、問題なく正常に回路が半田付け接続されている（ＯＫ）と判定する（ステップＳ６０６）。
ここで、前記（ステップＳ６０２）の設定から、正常に回路が半田付け接続されている場合、反転型・半波整流回路１５１０から出力されるプラス電位の正弦波整流電圧は確実に閾値電圧Ｄ以上としてＤｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０で検出される。

逆に、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０は反転型・半波整流回路１５１０出力のプラス電位の半波正弦波整流電圧を閾値電圧Ｄ未満として検出し、検出出力として「ｈｉｇｈ電圧」（論理「１」）を出力し続けた場合（ステップＳ６０７）、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０の「ｈｉｇｈ電圧」を入力され続けるラッチ回路１５３０は出力している論理レベルを「１」（ｈｉｇｈ）のまま維持し続ける（ステップＳ６０８）。

ラッチ回路１５３０の出力論理が「１」のまま変化しないことを制御ＰＣ２０００で検出することで、該当回路の半田付けが正常接続されていない（ＮＧ）と判定する（ステップＳ６０９）。
ここで、前記（ステップＳ６０２）の設定から、正常に回路が半田付け接続されていない場合、反転型・半波整流回路１５１０から出力されるプラス電位の正弦波整流電圧は確実に閾値電圧Ｄ未満であるためＤｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０で閾値電圧Ｄ以上として検出されない。

音声通信出力信号レベルＡ、及び音響再生回路であるスピーカ出力信号レベルＢも前記（ステップＳ６０２）を除く上記ヘッドホン出力信号レベルＣ測定とほぼ全く同様な方法で測定することで回路接続確認をできることになる。上記ヘッドホン出力信号レベルＣ測定のみの検査時間を第１実施形態によるヘッドホン出力信号レベルＣ測定のみ検査時間と比較した場合、電圧計の設定に依存するが、ヘッドホン出力信号レベルＣをそのまま電圧計で測定した場合に要する時間は測定電圧の安定に要する時間などを考慮して、仮に約１ｓｅｃで電圧測定完了するとした場合、この第２実施形態による手法を用いれば、検査時間は主に反転型・半波整流回路１５１０、Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路１５２０及びラッチ回路１５３０の応答時間に依存することになり、これら回路の応答時間は一般的にも数十〜数百ｕｓｅｃオーダーであるため、検査時間を概算数字で約０．１ｓｅｃ程度と考えられるため、１つの検査で約０．９ｓｅｃほど検査時間短縮できることとなる。

なお、本発明の各実施形態において、「ｌｏｗ電圧」（論理「０」）と「ｈｉｇｈ電圧」（論理「１」）は、互いに異なる出力信号レベルであることを示すものであるため、実際には、「ｌｏｗ電圧」（論理「０」）と「ｈｉｇｈ電圧」（論理「１」）を置き換えて実施しても良い。

なお、本発明の各実施形態において、制御ＰＣ２０００と検査治具３０００を一体化しても良い。すなわち、検査治具３０００が直接携帯端末装置１０００に検査上必要な制御コマンドを送信できるようにしても良い。

また、本発明の各実施形態において、制御ＰＣ２０００と携帯端末装置１０００を一体化しても良い。すなわち、検査治具３０００からの出力信号を、携帯端末装置１０００にて検査上必要な制御コマンドに変換できるようにしても良い。あるいは、検査治具３０００からの出力信号を直接制御コマンドとして認識するようにしても良い。

図１は、本発明の構成を示すブロック図である。 図２Ａは、差動加算回路を示すブロック図である。 図２Ｂは、差動入力回路を示すブロック図である。 図３は、音声通信回路及び音響再生回路の検査方法を説明するためのブロック図である。 図４Ａは、本発明の動作を示すフローチャート図である。 図４Ｂは、従来の検査の動作を示すフローチャート図である。 図５Ａは、本発明の第２実施形態の構成を示すブロック図である。 図５Ｂは、本発明の構成を示すブロック図である。 図６は、本発明の第２実施形態の動作を示すフローチャート図である。

符号の説明

１０… ＴＰ（テストポイント）
２０… ＴＰ（テストポイント）
３０… ＴＰ（テストポイント）
４０… ＴＰ（テストポイント）
５０… ＴＰ（テストポイント）
６０… ＴＰ（テストポイント）
７０… ＴＰ（テストポイント）
８０… ＴＰ（テストポイント）
１００… ＣＰＵ
２００… ＦＭ音源ＬＳＩ
３００… オーディオＩＣ
３１０… 上りパスゲイン設定部
３１１… デジタルゲイン設定部
３１２… Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部
３１３… アナログＡＭＰ部
３２０… 下りパスゲイン設定部
３２１… デジタルゲイン設定部
３２２… Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部
３２３… アナログＡＭＰ部
３３０… オーディオ回路ゲイン設定部
３３１… デジタルゲイン設定部
３３２… Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部
３４０… ヘッドホンＡＭＰ（ＨＰＡＭＰ）
３５０… スピーカＡＭＰ（ＳＰＫＡＭＰ）
３６０… レジスタ部
４００… 音声入力部
５００… 音声出力部
６００… ヘッドホンジャック
７００… スピーカ
８００… メモリＬＳＩ
９００… 無線部
１０００… 携帯電話
１０１０… 低周波発生部
１０２０… 電圧計
１０３０… リレースイッチ
１０４０… 差動加算回路
１０５０… 差動入力回路
１５００… 電圧検出回路
１５１０… 反転型・半波整流回路
１５２０… Ｄｅｔｅｃｔｏｒ回路
１５３０… ラッチ回路
２０００… 制御ＰＣ
３０００… 検査治具

Claims (10)

1. 電子装置の第１音声増幅手段からの出力信号の電圧を所定の電圧レンジで測定する電圧測定手段と、
   前記電圧測定手段での測定レンジを前記所定の電圧レンジに固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信し、前記電子装置の第２音声増幅手段のゲインを調整し、測定レンジ切り替え時間を削減することを図る制御手段と
   を具備し、
   前記電圧測定手段は、前記調整されたゲインを保持しつつ、前記第２音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定する
   検査装置。
2. 請求項１に記載の検査装置であって、
   前記電圧測定手段は、前記電子装置からの出力信号を入力とし、前記出力信号の電圧レベルが閾値以上であれば、現在の第１論理レベルから第２論理レベルに論理が切り替わるため、正常に回路接続されていると判定し、前記出力信号の電圧レベルが閾値未満であれば、前記第１論理レベルの状態を維持し、論理の切り替わりがないため、正常に回路接続されていないと判定する
   検査装置。
3. 請求項２に記載の検査装置であって、
   前記電圧測定手段は、
   前記電子装置からの複数の出力信号のうち２つを選択する選択手段と、
   前記選択された出力信号を加算し出力する差動加算手段と、
   前記差動加算手段の出力の正弦波信号のプラス側電圧分を除き、マイナス側電圧をプラス出力に反転する反転型・半波整流手段と、
   前記反転型・半波整流手段の出力の正弦波信号から直流分を除く直流分除外手段と、
   前記直流分を除いたプラス電圧の半波整流信号を入力として、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値未満なら第１信号、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値以上なら第２信号を出力する検出手段と、
   前記検出手段の出力を入力として、前記第１信号を受けた場合、出力状態を前記第１論理レベルで出力し続け、前記第２信号を受けた場合、出力状態を前記第１論理レベルから前記第２論理レベルに変更し、変更後の状態を保持するラッチ手段と
   を具備する
   検査装置。
4. 請求項３に記載の検査装置であって、
   前記電子装置は、内部のＣＰＵからシリアルＩ／Ｆ（インターフェース）信号を使用して前記第１音声増幅手段及び前記第２音声増幅手段のゲインを調整し、音響再生出力信号を、前記第１音声増幅手段に接続されたスピーカ、及び前記第２音声増幅手段に接続されたヘッドホンから出力し、
   前記電圧測定手段は、前記電子装置からの音声通信出力信号の電圧レベル、音響再生出力信号であるスピーカ出力信号の電圧レベル、及びヘッドホン出力信号の電圧レベルをそれぞれ測定する際に出力レベルをそのまま測定せず、出力ＯＦＦ状態から出力ＯＮ状態での出力論理の切り替わりを確認し、前記切り替わりに応じて検査の合否判定を行う
   検査装置。
5. 電子装置の第１音声増幅手段からの出力信号の電圧を所定の電圧レンジで測定するステップと、
   測定レンジを前記所定の電圧レンジに固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信し、前記電子装置の第２音声増幅手段のゲインを調整し、測定レンジ切り替え時間を削減することを図るステップと、
   前記調整されたゲインを保持しつつ、前記第２音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定するステップと
   を含む
   検査方法。
6. 請求項５に記載の検査方法であって、
   前記電子装置からの出力信号を入力とし、前記出力信号の電圧レベルが閾値以上であれば、現在の第１論理レベルから第２論理レベルに論理が切り替わるため、正常に回路接続されていると判定し、前記出力信号の電圧レベルが閾値未満であれば、前記第１論理レベルの状態を維持し、論理の切り替わりがないため、正常に回路接続されていないと判定するステップ
   を更に含む
   検査方法。
7. 請求項６に記載の検査方法であって、
   前記第２音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定する際に、
   前記電子装置からの複数の出力信号のうち２つを選択するステップと、
   前記選択された出力信号を加算し出力するステップと、
   前記加算された出力信号のうち正弦波信号のプラス側電圧分を除き、マイナス側電圧をプラス出力に反転するステップと、
   前記正弦波信号から直流分を除く直流分除外手段と、
   前記直流分を除いたプラス電圧の半波整流信号の電圧レベルが閾値未満なら第１信号、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値以上なら第２信号を出力するステップと、
   前記第１信号を受けた場合、出力状態を前記第１論理レベルで出力し続け、前記第２信号を受けた場合、出力状態を前記第１論理レベルから前記第２論理レベルに変更し、変更後の状態を保持するステップと
   を更に含む
   検査方法。
8. 電子装置の第１音声増幅手段からの出力信号の電圧を所定の電圧レンジで測定するステップと、
   測定レンジを前記所定の電圧レンジに固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信し、前記電子装置の第２音声増幅手段のゲインを調整し、測定レンジ切り替え時間を削減することを図るステップと、
   前記調整されたゲインを保持しつつ、前記第２音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定するステップと
   を検査装置に実行させるための
   検査プログラム。
9. 請求項８に記載の検査プログラムであって、
   前記電子装置からの出力信号を入力とし、前記出力信号の電圧レベルが閾値以上であれば、現在の第１論理レベルから第２論理レベルに論理が切り替わるため、正常に回路接続されていると判定し、前記出力信号の電圧レベルが閾値未満であれば、前記第１論理レベルの状態を維持し、論理の切り替わりがないため、正常に回路接続されていないと判定するステップ
   を更に検査装置に実行させるための
   検査プログラム。
10. 請求項９に記載の検査プログラムであって、
    前記第２音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定する際に、
    前記電子装置からの複数の出力信号のうち２つを選択するステップと、
    前記選択された出力信号を加算し出力するステップと、
    前記加算された出力信号のうち正弦波信号のプラス側電圧分を除き、マイナス側電圧をプラス出力に反転するステップと、
    前記正弦波信号から直流分を除く直流分除外手段と、
    前記直流分を除いたプラス電圧の半波整流信号の電圧レベルが閾値未満なら第１信号、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値以上なら第２信号を出力するステップと、
    前記第１信号を受けた場合、出力状態を前記第１論理レベルで出力し続け、前記第２信号を受けた場合、出力状態を前記第１論理レベルから前記第２論理レベルに変更し、変更後の状態を保持するステップと
    を更に検査装置に実行させるための
    検査プログラム。

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