JP4152167B2 - 液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこれに用いる電極構造 - Google Patents
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に係り、特に、導電性ビーズ等のトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた二枚のパネル基板に形成された電極の接続状態を検査するのに好適な液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、ＩＴＯ（酸化インジウムスズ）等からなる電極を備えた二枚のパネル基板が、シール材を介して互いに貼り合わされ、両パネル基板の間に液晶が封入された液晶表示パネルにおいては、前記シール材内にトランスファ材を混入させることによって両パネル基板の電極を互いに導通させるようになっていた。
【０００３】
図５は、このようなトランスファ材による電極の導通がなされた液晶表示パネルを示すものであり、この液晶表示パネル１は、ガラス基板の内側表面に縞状の電極２，３が形成された上下二枚のパネル基板５，６を有している。図５に示すように、下側のパネル基板６は、上側のパネル基板５よりも平面積が大きく形成されており、この大きく形成された部分は、複数本の端子４が整列形成された端子部６ａとされている。
【０００４】
これら二枚のパネル基板５，６は、平面枠形状のシール材７を介して互いに貼り合わされており、これら両パネル基板５，６および前記シール材７によって囲繞された空間内には、液晶が封入された液晶層８が形成されている。
【０００５】
そして、前記シール材７の内部には、導電性ビーズ等からなる図示しないトランスファ材が混入されており、このトランスファ材が混入されたシール材７と電極２，３との重なり部分からなるトランスファ部１０によって、上下のパネル基板５，６の電極２，３が互いに導通されるようになっている。
【０００６】
そして、従来から、このような液晶表示パネル１の製造に際しては、前記トランスファ部１０における接続状態を検査するようになっていた。
【０００７】
図６に示すように、前記トランスファ部１０のトランスファ材は、前記シール材７の内部に配置された抵抗１１とみることができ、その抵抗値は、断線が生じることによって大きくなると考えることができる。
【０００８】
トランスファ材は、本来、上下のパネル基板５，６の電極２，３を互いに導通させるものであるため、その抵抗値は低いことが望ましい。
【０００９】
しかし、断線によってトランスファ部１０の抵抗値が高くなった場合、このトランスファ部１０に接触する電極２，３と、この電極２，３に液晶層８を挟んで交差する電極２，３とからなる画素間にかかる電圧が低下し、これによって画素に点灯不良が生じてしまうのである。
【００１０】
従って、トランスファ部接続状態の検査は、常温湿度下で液晶表示パネル１を点灯させ、この点灯状態すなわち、液晶表示パネルの表示画素の点灯、不点灯を目視検査することによって、トランスファ部１０の断線の有無を判断するようになっていた。
【００１１】
【特許文献１】
特開２００１−１８８２１２号公報（第１図）
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、実際の液晶表示パネル１においては、１個のトランスファ部１０の内部に、複数個のトランスファ材が混入されており、これらのトランスファ材が電極２，３を介して互いに並列接続された状態になっているとみることができる。
【００１３】
すなわち、図７に示すように、トランスファ部１０の抵抗は、互いに並列接続された複数個の抵抗１１の合成抵抗と考えることができる。
【００１４】
そして、この並列接続される抵抗１１の数は、トランスファ部１０すなわち前記シール材７と前記電極２，３との重なり部分の平面積に比例して大きくなる。
【００１５】
従って、従来は、個々のトランスファ材による電気的接続状態が不良であっても、トランスファ部１０の合成抵抗が低減される結果、液晶表示に影響を与えるようなトランスファ部接続状態の不安定な液晶表示パネル１を識別することが困難であった。
【００１６】
本発明は、このような問題点に鑑みなされたもので、液晶表示に影響を与えるトランスファ部接続状態の不安定な液晶表示パネルを検査段階において適正に識別することのできるトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造を提供することを目的とするものである。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため本発明の請求項１に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て液晶層に臨む位置に至るまで、前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極を延出形成し、この小面積トランスファ部形成用電極に目視確認用パターンを連設し、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極を形成し、この小面積トランスファ部形成用対向電極と、前記目視確認用パターンとが前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンを連設し、その状態で前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認し、前記目視確認用画素が点灯しなければトランスファ部の接続状態が正常レベルと判定する点にある。
【００１８】
そして、このような方法を採用したことにより、断線の影響を反映し易い小面積トランスファ部に連なる目視確認用画素の点灯状態を確認することによってトランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となる。
【００１９】
また、請求項２に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、請求項１において、前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通された短絡用電極を形成し、前記目視確認用画素の点灯状態の確認の後に、この目視確認用画素が点灯する液晶表示パネルに対して、前記短絡用電極と前記端部端子とを互いに短絡させて、前記目視確認用画素の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判定する点にある。
【００２０】
そして、このような方法を採用したことにより、目視確認用画素の点灯する液晶表示パネルのうちトランスファ部の接続状態が正常レベルと判断し得るものを選別することが可能となる。
【００２１】
請求項３に係るトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て液晶層に臨む位置に至るまで延出形成された前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、この小面積トランスファ部形成用電極に連設された目視確認用パターンと、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に形成され、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極と、この小面積トランスファ部形成用対向電極に連設され、前記目視確認用パターンと前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンとを有する点にある。
【００２２】
そして、このような構成を採用したことにより、前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認することによって、トランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となる。
【００２３】
請求項４に係るトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、請求項３において、前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通するように形成され、前記端部端子と互いに短絡可能とされた短絡用電極を有する点にある。
【００２４】
そして、このような構成を採用したことにより、目視確認用画素の点灯状態の確認の後に、この目視確認用画素が点灯する液晶表示パネルに対して、前記短絡用電極と前記端部端子とを互いに短絡させて前記目視確認用画素の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判断することができ、これによって、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判断し得るものを選別することが可能となる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態について、図１乃至図４を参照して説明する。
【００２６】
なお、従来と基本的構成の同一もしくはこれに類する箇所については、同一の符号を用いて説明する。
【００２７】
図１に示すように、本実施形態におけるトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造１２は、液晶表示パネル１３の端子部６ａおよびその周辺に形成されている。
【００２８】
すなわち、図２および図３に示すように、前記端子部６ａに形成された複数本の端子４の両外側に位置する端部端子３ａであって、前記シール材７の形成部の外側位置には、前記端部端子３ａよりも幅が細く形成された小面積トランスファ部形成用電極１４，１５が延出形成されている。
前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５は、端部端子３ａからシール材７の形成部の外側に沿って平行に延出した後、液晶層８の側へ向かって斜めに屈折した状態で前記シール材７の形成部を通過し、その後、再度屈折して前記液晶層８に臨む所定位置に至るような平面形状に形成されている。
【００２９】
さらに、前記各小面積トランスファ部形成用電極１４，１５の先端部には、それぞれ目視確認用パターン１６が連設されている。
【００３０】
なお、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記目視確認用パターン１６，１７とは、前記端部端子３ａと同一の成膜材料によって一体的に形成するようにしてもよい。
【００３１】
一方、前記端子部６ａの側のパネル基板６に対向するパネル基板５における前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５に対向する位置には、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５とほぼ同じ幅に形成された小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０が形成されている。
【００３２】
この小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０は、前記パネル基板５の図２および図３における上端部から下方の液晶層８の側へ向かって前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記シール材７を挟んで互いに交差するように斜めに延出した後、屈折して前記目視確認用パターン１６，１７に対向する位置に至るような平面形状に形成されている。
【００３３】
そして、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との交差部によって、小面積トランスファ部２１が形成されるようになっている。
【００３４】
また、前記各小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０には、それぞれ目視確認用対向パターン２２，２３が、液晶層８を挟んだ状態で前記目視確認用パターン１６，１７と対向するように連設されている。前記目視確認用対向パターン２２，２３は、前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０と同一の成膜材料によって一体的に形成するようにしてもよい。
【００３５】
そして、前記目視確認用パターン１６，１７と前記目視確認対向パターン２２，２３との対向部によって、前記小面積トランスファ部２１の断線を目視によって確認するための目視確認用画素２５が構成されるようになっている。
【００３６】
この目視確認用画素２５は、前記端部端子３ａに交流電圧を印加した状態において、前記小面積トランスファ部２１に断線が生じておらず、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０とが同電位に保持されている場合は点灯しないようになっている。一方、前記小面積トランスファ部２１に断線が生じており、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との間に電位差が生じている場合は、点灯するようになっている。
【００３７】
ここで、前記小面積トランスファ部２１は、通常のトランスファ部１０と異なり、平面積が小さく、並列接続の合成抵抗が大きくなっているため、断線の影響を反映し易くなっている。
【００３８】
すなわち、小面積トランスファ部２１に断線が生じている場合は、この断線を、前記目視確認用画素２５が点灯することにより明確に確認することができるようになっている。
【００３９】
なお、前記目視確認用画素２５は、トランスファ部に断線が生じていない場合においても、小面積トランスファ部２１が高抵抗になるなどの小面積トランスファ部２１自体の不具合に起因して点灯する場合がある。
【００４０】
そこで、本実施形態においては、トランスファ部接続状態の検査後に再度、トランスファ部の接続状態を確認するための電極構造を有している。
【００４１】
すなわち、前記端部端子３ａの近傍位置には、短絡用電極２６，２７が、この端部端子３ａの近傍位置から前記シール材７の形成部に至る方向に延出形成されており、各短絡用電極２６は、トランスファ部１０を介して前記目視確認用対向パターン２２，２３および前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０と互いに導通されている。
【００４２】
なお、前記目視確認用対向パターン２２，２３とトランスファ部１０との間には、中継電極２８，２９が形成されており、この中継電極２８，２９によって、トランスファ部１０から目視確認用対向パターン２２，２３までの導通が図られるようになっている。
【００４３】
そして、前述のように、目視確認用画素２５が点灯する液晶表示パネルに対して、例えば導電性ゴム等を前記端部端子３ａと前記短絡用電極２６，２７との双方に跨るように載置することによって、端子３ａと短絡用電極２６，２７とを短絡させたとき、目視確認用画素２５の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素２５が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判定することができるようになっている。
【００４４】
次に、前記電極構造を適用した本発明に係るトランスファ部接続状態の検査方法について説明する。
【００４５】
本実施形態においては、前記シール材７を間に挟んだ前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との対向部からなる小面積トランスファ部２１と、前記液晶層８を間に挟んだ前記目視確認用パターン１６，１７と前記目視確認用対向パターン２２，２３との対向部からなる目視確認用画素２５と、前記短絡用電極２６，２７とが形成された液晶表示パネル１３を用意する。
【００４６】
そして、まず、セグメント端子と、共通電極端子（図示せず）との間に、交流電圧を印加して、表示部内の画素を点灯させる。
【００４７】
このとき、小面積トランスファ部２１の接続状態が正常で、断線が生じていない場合は、小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０とが互いに同電位になるため、小面積トランスファ部形成用電極１４，１５に連設された目視確認用パターン１６，１７と、小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０に連設された目視確認用対向パターン２２，２３も互いに同電位になる。
【００４８】
これにより、小面積トランスファ部２１の接続状態が正常である場合は、目視確認用パターン１６，１７と目視確認用対向パターン２２，２３との対向部の間に液晶層８を挟んでなる目視確認用画素２５は点灯しない。
【００４９】
そして、目視確認用画素２５の点灯が生じなかった液晶表示パネル１３は、適正品として次の製造工程に進める。
【００５０】
一方、小面積トランスファ部２１に断線が生じている場合は、小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との間に電位差が生じ、同様に、目視確認用パターン１６，１７と目視確認用対向パターン２２，２３との間にも電位差が生じる。
【００５１】
これにより、小面積トランスファ部２１に断線が生じている場合は、前記目視確認用画素２５が点灯する。
【００５２】
そして、目視確認用画素２５が点灯した液晶表示パネル１３は、不良品として次の製造工程には進めない。
【００５３】
ただし、目視確認用画素２５が点灯する液晶表示パネルに対して短絡用電極２６，２７と端子３ａとを短絡させて、目視確認用画素２５が消灯する場合は、トランスファ部１０の接続状態が正常レベルと判定し、この液晶表示パネル１３を次の製造工程に進める。
【００５４】
このとき、導電性ゴム等によって短絡用電極２６，２７と端子３ａとを短絡させることによって、目視確認用画素２５を消灯させる。
【００５５】
したがって、本実施形態によれば、断線の影響を反映させ易い小面積トランスファ部２１に連なる目視確認用画素２５の点灯状態を確認することによって、トランスファ部１０の断線の有無を簡便かつ適正に判断することができる。
【００５６】
なお、本発明は前記実施形態のものに限定されるものではなく、必要に応じて種々変更することが可能である。
【００５７】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこれに用いる電極構造によれば、トランスファ部の断線に基づく不良品の識別を簡便かつ適正に行うことができ、ひいては信頼性および製造効率の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態において、前記電極構造を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図２】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態を示す平面図
【図３】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態を示す図２と異なる平面図
【図４】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態において、端子部側のパネル基板の電極構造と、端子部に対向する側のパネル基板の電極構造とを示す平面図
【図５】 従来から採用されているトランスファ部を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図６】 トランスファ部の状態を模式的に示した図
【図７】 トランスファ部の状態を模式的に示した図６と異なる図
【符号の説明】
２，３ 電極
３ａ 端部端子
５，６ パネル基板
６ａ 端子部
７ シール材
８ 液晶層
１２ 電極構造
１３ 液晶表示パネル
１４，１５ 小面積トランスファ部形成用電極
１６，１７ 目視確認用パターン
１９，２０ 小面積トランスファ部形成用対向電極
２１ 小面積トランスファ部
２２，２３ 目視確認用対向パターン
２５ 目視確認用画素
２６，２７ 短絡用電極
【産業上の利用分野】
本発明は、液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に係り、特に、導電性ビーズ等のトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた二枚のパネル基板に形成された電極の接続状態を検査するのに好適な液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、ＩＴＯ（酸化インジウムスズ）等からなる電極を備えた二枚のパネル基板が、シール材を介して互いに貼り合わされ、両パネル基板の間に液晶が封入された液晶表示パネルにおいては、前記シール材内にトランスファ材を混入させることによって両パネル基板の電極を互いに導通させるようになっていた。
【０００３】
図５は、このようなトランスファ材による電極の導通がなされた液晶表示パネルを示すものであり、この液晶表示パネル１は、ガラス基板の内側表面に縞状の電極２，３が形成された上下二枚のパネル基板５，６を有している。図５に示すように、下側のパネル基板６は、上側のパネル基板５よりも平面積が大きく形成されており、この大きく形成された部分は、複数本の端子４が整列形成された端子部６ａとされている。
【０００４】
これら二枚のパネル基板５，６は、平面枠形状のシール材７を介して互いに貼り合わされており、これら両パネル基板５，６および前記シール材７によって囲繞された空間内には、液晶が封入された液晶層８が形成されている。
【０００５】
そして、前記シール材７の内部には、導電性ビーズ等からなる図示しないトランスファ材が混入されており、このトランスファ材が混入されたシール材７と電極２，３との重なり部分からなるトランスファ部１０によって、上下のパネル基板５，６の電極２，３が互いに導通されるようになっている。
【０００６】
そして、従来から、このような液晶表示パネル１の製造に際しては、前記トランスファ部１０における接続状態を検査するようになっていた。
【０００７】
図６に示すように、前記トランスファ部１０のトランスファ材は、前記シール材７の内部に配置された抵抗１１とみることができ、その抵抗値は、断線が生じることによって大きくなると考えることができる。
【０００８】
トランスファ材は、本来、上下のパネル基板５，６の電極２，３を互いに導通させるものであるため、その抵抗値は低いことが望ましい。
【０００９】
しかし、断線によってトランスファ部１０の抵抗値が高くなった場合、このトランスファ部１０に接触する電極２，３と、この電極２，３に液晶層８を挟んで交差する電極２，３とからなる画素間にかかる電圧が低下し、これによって画素に点灯不良が生じてしまうのである。
【００１０】
従って、トランスファ部接続状態の検査は、常温湿度下で液晶表示パネル１を点灯させ、この点灯状態すなわち、液晶表示パネルの表示画素の点灯、不点灯を目視検査することによって、トランスファ部１０の断線の有無を判断するようになっていた。
【００１１】
【特許文献１】
特開２００１−１８８２１２号公報（第１図）
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、実際の液晶表示パネル１においては、１個のトランスファ部１０の内部に、複数個のトランスファ材が混入されており、これらのトランスファ材が電極２，３を介して互いに並列接続された状態になっているとみることができる。
【００１３】
すなわち、図７に示すように、トランスファ部１０の抵抗は、互いに並列接続された複数個の抵抗１１の合成抵抗と考えることができる。
【００１４】
そして、この並列接続される抵抗１１の数は、トランスファ部１０すなわち前記シール材７と前記電極２，３との重なり部分の平面積に比例して大きくなる。
【００１５】
従って、従来は、個々のトランスファ材による電気的接続状態が不良であっても、トランスファ部１０の合成抵抗が低減される結果、液晶表示に影響を与えるようなトランスファ部接続状態の不安定な液晶表示パネル１を識別することが困難であった。
【００１６】
本発明は、このような問題点に鑑みなされたもので、液晶表示に影響を与えるトランスファ部接続状態の不安定な液晶表示パネルを検査段階において適正に識別することのできるトランスファ部接続状態の検査方法およびこの検査方法に用いる電極構造を提供することを目的とするものである。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため本発明の請求項１に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て液晶層に臨む位置に至るまで、前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極を延出形成し、この小面積トランスファ部形成用電極に目視確認用パターンを連設し、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極を形成し、この小面積トランスファ部形成用対向電極と、前記目視確認用パターンとが前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンを連設し、その状態で前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認し、前記目視確認用画素が点灯しなければトランスファ部の接続状態が正常レベルと判定する点にある。
【００１８】
そして、このような方法を採用したことにより、断線の影響を反映し易い小面積トランスファ部に連なる目視確認用画素の点灯状態を確認することによってトランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となる。
【００１９】
また、請求項２に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法の特徴は、請求項１において、前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通された短絡用電極を形成し、前記目視確認用画素の点灯状態の確認の後に、この目視確認用画素が点灯する液晶表示パネルに対して、前記短絡用電極と前記端部端子とを互いに短絡させて、前記目視確認用画素の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判定する点にある。
【００２０】
そして、このような方法を採用したことにより、目視確認用画素の点灯する液晶表示パネルのうちトランスファ部の接続状態が正常レベルと判断し得るものを選別することが可能となる。
【００２１】
請求項３に係るトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て液晶層に臨む位置に至るまで延出形成された前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、この小面積トランスファ部形成用電極に連設された目視確認用パターンと、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に形成され、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極と、この小面積トランスファ部形成用対向電極に連設され、前記目視確認用パターンと前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンとを有する点にある。
【００２２】
そして、このような構成を採用したことにより、前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認することによって、トランスファ部の断線の有無を簡便かつ適正に判断することが可能となる。
【００２３】
請求項４に係るトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の特徴は、請求項３において、前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通するように形成され、前記端部端子と互いに短絡可能とされた短絡用電極を有する点にある。
【００２４】
そして、このような構成を採用したことにより、目視確認用画素の点灯状態の確認の後に、この目視確認用画素が点灯する液晶表示パネルに対して、前記短絡用電極と前記端部端子とを互いに短絡させて前記目視確認用画素の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判断することができ、これによって、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判断し得るものを選別することが可能となる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態について、図１乃至図４を参照して説明する。
【００２６】
なお、従来と基本的構成の同一もしくはこれに類する箇所については、同一の符号を用いて説明する。
【００２７】
図１に示すように、本実施形態におけるトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造１２は、液晶表示パネル１３の端子部６ａおよびその周辺に形成されている。
【００２８】
すなわち、図２および図３に示すように、前記端子部６ａに形成された複数本の端子４の両外側に位置する端部端子３ａであって、前記シール材７の形成部の外側位置には、前記端部端子３ａよりも幅が細く形成された小面積トランスファ部形成用電極１４，１５が延出形成されている。
前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５は、端部端子３ａからシール材７の形成部の外側に沿って平行に延出した後、液晶層８の側へ向かって斜めに屈折した状態で前記シール材７の形成部を通過し、その後、再度屈折して前記液晶層８に臨む所定位置に至るような平面形状に形成されている。
【００２９】
さらに、前記各小面積トランスファ部形成用電極１４，１５の先端部には、それぞれ目視確認用パターン１６が連設されている。
【００３０】
なお、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記目視確認用パターン１６，１７とは、前記端部端子３ａと同一の成膜材料によって一体的に形成するようにしてもよい。
【００３１】
一方、前記端子部６ａの側のパネル基板６に対向するパネル基板５における前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５に対向する位置には、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５とほぼ同じ幅に形成された小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０が形成されている。
【００３２】
この小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０は、前記パネル基板５の図２および図３における上端部から下方の液晶層８の側へ向かって前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記シール材７を挟んで互いに交差するように斜めに延出した後、屈折して前記目視確認用パターン１６，１７に対向する位置に至るような平面形状に形成されている。
【００３３】
そして、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との交差部によって、小面積トランスファ部２１が形成されるようになっている。
【００３４】
また、前記各小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０には、それぞれ目視確認用対向パターン２２，２３が、液晶層８を挟んだ状態で前記目視確認用パターン１６，１７と対向するように連設されている。前記目視確認用対向パターン２２，２３は、前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０と同一の成膜材料によって一体的に形成するようにしてもよい。
【００３５】
そして、前記目視確認用パターン１６，１７と前記目視確認対向パターン２２，２３との対向部によって、前記小面積トランスファ部２１の断線を目視によって確認するための目視確認用画素２５が構成されるようになっている。
【００３６】
この目視確認用画素２５は、前記端部端子３ａに交流電圧を印加した状態において、前記小面積トランスファ部２１に断線が生じておらず、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０とが同電位に保持されている場合は点灯しないようになっている。一方、前記小面積トランスファ部２１に断線が生じており、前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との間に電位差が生じている場合は、点灯するようになっている。
【００３７】
ここで、前記小面積トランスファ部２１は、通常のトランスファ部１０と異なり、平面積が小さく、並列接続の合成抵抗が大きくなっているため、断線の影響を反映し易くなっている。
【００３８】
すなわち、小面積トランスファ部２１に断線が生じている場合は、この断線を、前記目視確認用画素２５が点灯することにより明確に確認することができるようになっている。
【００３９】
なお、前記目視確認用画素２５は、トランスファ部に断線が生じていない場合においても、小面積トランスファ部２１が高抵抗になるなどの小面積トランスファ部２１自体の不具合に起因して点灯する場合がある。
【００４０】
そこで、本実施形態においては、トランスファ部接続状態の検査後に再度、トランスファ部の接続状態を確認するための電極構造を有している。
【００４１】
すなわち、前記端部端子３ａの近傍位置には、短絡用電極２６，２７が、この端部端子３ａの近傍位置から前記シール材７の形成部に至る方向に延出形成されており、各短絡用電極２６は、トランスファ部１０を介して前記目視確認用対向パターン２２，２３および前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０と互いに導通されている。
【００４２】
なお、前記目視確認用対向パターン２２，２３とトランスファ部１０との間には、中継電極２８，２９が形成されており、この中継電極２８，２９によって、トランスファ部１０から目視確認用対向パターン２２，２３までの導通が図られるようになっている。
【００４３】
そして、前述のように、目視確認用画素２５が点灯する液晶表示パネルに対して、例えば導電性ゴム等を前記端部端子３ａと前記短絡用電極２６，２７との双方に跨るように載置することによって、端子３ａと短絡用電極２６，２７とを短絡させたとき、目視確認用画素２５の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素２５が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判定することができるようになっている。
【００４４】
次に、前記電極構造を適用した本発明に係るトランスファ部接続状態の検査方法について説明する。
【００４５】
本実施形態においては、前記シール材７を間に挟んだ前記小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と前記小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との対向部からなる小面積トランスファ部２１と、前記液晶層８を間に挟んだ前記目視確認用パターン１６，１７と前記目視確認用対向パターン２２，２３との対向部からなる目視確認用画素２５と、前記短絡用電極２６，２７とが形成された液晶表示パネル１３を用意する。
【００４６】
そして、まず、セグメント端子と、共通電極端子（図示せず）との間に、交流電圧を印加して、表示部内の画素を点灯させる。
【００４７】
このとき、小面積トランスファ部２１の接続状態が正常で、断線が生じていない場合は、小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０とが互いに同電位になるため、小面積トランスファ部形成用電極１４，１５に連設された目視確認用パターン１６，１７と、小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０に連設された目視確認用対向パターン２２，２３も互いに同電位になる。
【００４８】
これにより、小面積トランスファ部２１の接続状態が正常である場合は、目視確認用パターン１６，１７と目視確認用対向パターン２２，２３との対向部の間に液晶層８を挟んでなる目視確認用画素２５は点灯しない。
【００４９】
そして、目視確認用画素２５の点灯が生じなかった液晶表示パネル１３は、適正品として次の製造工程に進める。
【００５０】
一方、小面積トランスファ部２１に断線が生じている場合は、小面積トランスファ部形成用電極１４，１５と小面積トランスファ部形成用対向電極１９，２０との間に電位差が生じ、同様に、目視確認用パターン１６，１７と目視確認用対向パターン２２，２３との間にも電位差が生じる。
【００５１】
これにより、小面積トランスファ部２１に断線が生じている場合は、前記目視確認用画素２５が点灯する。
【００５２】
そして、目視確認用画素２５が点灯した液晶表示パネル１３は、不良品として次の製造工程には進めない。
【００５３】
ただし、目視確認用画素２５が点灯する液晶表示パネルに対して短絡用電極２６，２７と端子３ａとを短絡させて、目視確認用画素２５が消灯する場合は、トランスファ部１０の接続状態が正常レベルと判定し、この液晶表示パネル１３を次の製造工程に進める。
【００５４】
このとき、導電性ゴム等によって短絡用電極２６，２７と端子３ａとを短絡させることによって、目視確認用画素２５を消灯させる。
【００５５】
したがって、本実施形態によれば、断線の影響を反映させ易い小面積トランスファ部２１に連なる目視確認用画素２５の点灯状態を確認することによって、トランスファ部１０の断線の有無を簡便かつ適正に判断することができる。
【００５６】
なお、本発明は前記実施形態のものに限定されるものではなく、必要に応じて種々変更することが可能である。
【００５７】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法およびこれに用いる電極構造によれば、トランスファ部の断線に基づく不良品の識別を簡便かつ適正に行うことができ、ひいては信頼性および製造効率の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態において、前記電極構造を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図２】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態を示す平面図
【図３】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態を示す図２と異なる平面図
【図４】 本発明に係る液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造の実施形態において、端子部側のパネル基板の電極構造と、端子部に対向する側のパネル基板の電極構造とを示す平面図
【図５】 従来から採用されているトランスファ部を備えた液晶表示パネルを示す平面図
【図６】 トランスファ部の状態を模式的に示した図
【図７】 トランスファ部の状態を模式的に示した図６と異なる図
【符号の説明】
２，３ 電極
３ａ 端部端子
５，６ パネル基板
６ａ 端子部
７ シール材
８ 液晶層
１２ 電極構造
１３ 液晶表示パネル
１４，１５ 小面積トランスファ部形成用電極
１６，１７ 目視確認用パターン
１９，２０ 小面積トランスファ部形成用対向電極
２１ 小面積トランスファ部
２２，２３ 目視確認用対向パターン
２５ 目視確認用画素
２６，２７ 短絡用電極
Claims (4)
- 電極を備え、液晶層を挟んで互いに対向する二枚のパネル基板のうちの一方に、複数本の端子が整列形成された端子部を設け、これら二枚のパネル基板が、両パネル基板の電極を互いに電気的に接続するためのトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査方法において、
前記複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て前記液晶層に臨む位置に至るまで、前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極を延出形成し、この小面積トランスファ部形成用電極に目視確認用パターンを連設し、前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極を形成し、この小面積トランスファ部形成用対向電極と、前記目視確認用パターンとが前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンを連設し、その状態で前記端部端子に交流電圧を印加して前記目視確認用画素の点灯状態を確認し、前記目視確認用画素が点灯しなければトランスファ部の接続状態が正常レベルと判定することを特徴とするトランスファ部接続状態の検査方法。 - 前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通された短絡用電極を形成し、前記目視確認用画素の点灯状態の確認の後に、この目視確認用画素が点灯する液晶表示パネルに対して、前記短絡用電極と前記端部端子とを互いに短絡させて、前記目視確認用画素の点灯状態を再度確認し、前記目視確認用画素が消灯すれば、トランスファ部の接続状態が正常レベルと判定することを特徴とする請求項１に記載のトランスファ部接続状態の検査方法。
- 電極を備え、液晶層を挟んで互いに対向する二枚のパネル基板のうちの一方に、複数本の端子が整列形成された端子部を設け、これら二枚のパネル基板が、両パネル基板の電極を互いに電気的に接続するためのトランスファ材が混入されたシール材を介して互いに貼り合わされた液晶表示パネルのトランスファ部接続状態の検査に用いる電極構造において、
前記複数本の端子の両外側に位置する端部端子のうち少なくとも一方に、シール材の形成部を経て前記液晶層に臨む位置に至るまで延出形成された前記端部端子よりも細幅の小面積トランスファ部形成用電極と、
この小面積トランスファ部形成用電極に連設された目視確認用パターンと、
前記端子部側のパネル基板に対向するパネル基板における前記小面積トランスファ部形成用電極に対向する位置に形成され、前記シール材を挟んだ状態で前記小面積トランスファ部形成用電極と互いに交差することによって小面積トランスファ部を形成する小面積トランスファ部形成用対向電極と、
この小面積トランスファ部形成用対向電極に連設され、前記目視確認用パターンと前記液晶層を挟んだ状態で互いに対向することによって目視確認用画素を形成する目視確認用対向パターンと
を有することを特徴とする電極構造。 - 前記端部端子の近傍位置に、前記シール材内のトランスファ材を介して前記小面積トランスファ部形成用対向電極および前記目視確認用対向パターンと導通するように形成され、前記端部端子と互いに短絡可能とされた短絡用電極を有することを特徴とする請求項３に記載の電極構造。
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