JP4154689B2

JP4154689B2 - Plastic reference material and method for producing the same

Info

Publication number: JP4154689B2
Application number: JP2003047422A
Authority: JP
Inventors: 利廣中村; 和彦中野
Original assignee: Meiji University
Current assignee: Meiji University
Priority date: 2003-02-25
Filing date: 2003-02-25
Publication date: 2008-09-24
Anticipated expiration: 2023-02-25
Also published as: JP2004257809A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、既知の元素がプラスチック基材中に既知量分散し、所定の厚さを有するプラスチック標準物質、およびその製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
重合を促進するため、あるいは物理的、化学的な特性を付与するため、プラスチックには微量の金属が添加されていることが多い。ところが、この金属が所定量を超えて添加されていると、添加された金属が、人体や環境にとって有害なものとして問題になる。そのため、今日では、プラスチック中に金属を所定量以上添加することを規制する動きが出てきており、これに伴い、プラスチック製品に含まれる金属元素の濃度を正確に求めることが望まれる。
【０００３】
ところで、従来より、プラスチック製品に含まれる金属元素の定量には、原子吸光光度法が用いられている。しかしながら、この原子吸光分析法では、試料が分析後に原形を留めておらず、また、前処理が煩雑である。
【０００４】
そこで、プラスチック製品に含まれる金属元素の定量に、前処理が比較的簡単で、試料が分析後でも原形を留めている蛍光Ｘ線分析法を用いることが考えられる。この蛍光Ｘ線分析法の中には、既知の標準試料から得た、分析元素の濃度とＸ線強度との対応関係を表す検量線を用いる検量線法や、既知の標準試料を測定することで得た測定Ｘ線強度と、その標準試料から理論的に算出した理論Ｘ線強度との比（装置感度係数）を用いるファンダメンタルパラメータ法（以下、ＦＰ法と称する）がある。これらいずれの方法においても、既知の標準試料、すなわち分析対象試料の基材と同じ基材に、分析元素を既知量添加した試料が必要になる。
【０００５】
既知の元素をプラスチック基材に既知量添加したプラスチック標準試料としては、ポリエチレンパウダーに分析元素を添加し、２００℃でポリエチレンパウダーを融解させながら混合、撹拌を行い、押出成型によって得られたブロック状のプラスチック標準試料が知られている（例えば、非特許文献１、非特許文献２参照）。
【０００６】
【非特許文献１】
エー・ラーンベルトリィ、ダブリュ・ヴァン・ボールムアンドピー・ケヴォーヴィエ（A. Lambertry, W. Van Borm and P. Que vauviller）著、「コラボレイティヴスタディトゥーインプルーヴザクオリティコントロールオブトレースエレメントデターミネーションズインポリマーズ。パート２。サーティフィケーションオブポリエチレンリファレンスマテリアルズ（ＣＭＲｓ６８０アンド６８１）フォーＡｓ、Ｂｒ、Ｃｄ、Ｃｌ、Ｃｒ、Ｈｇ、Ｐｂ、アンドＳコンテント（Collaborati ve study to improve the quality control of trace element determinations in polymers. Part 2. Certification of polyethylene reference materials (CRMs 680 and 681) for As, Br, Cd, Cl, Cr, Hg, Pb, and S content)」、フレズィーニオスジャーナルオブアナリティカルケミストリ、ベルリン、スプリンガー（Fresenius' journal of analytical chemistry, Berlin, Springer）、３７０、８１１−８１８（２００１）
【非特許文献２】
ピー・エイチ・ケヴォーヴィエ（Ph. Quevauviller）著、「サーティファイドオブリファレンスマテリアルズフォーザクオリティコントロールオブインオーガニックアナリシスオブマニュファクチュアドプロダクツ（グラス、ポリマーズ、ペイントコーティングズ）（Certified of reference materials for the quality control of inorganic analysis of manuf actured products (glass, polymers, paint coatings)）」、トレンズインアナリティカルケミストリ、アムステルダム、ザネザーランズ、エルゼヴィエサイエンティフィックパブシー・オー（trend's in analytical chemistry, Amsterdam, The Netherlands, Elsevier Scientific Pub. Co.）、ｖｏｌ．２０、ｎｏ．８４４６−４５６（２００１）
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ポリエチレンを融解状態にしてもある程度の粘度は残り、混合、撹拌を行っても添加した分析元素が均一に分散しにくい。そのため、これらの非特許文献に記載された標準試料から得た検量線は直線性が劣り、また装置感度係数には誤差が生じやすく、正確な分析結果を得られない恐れがある。
【０００８】
本発明は、上記事情に鑑み、正確な分析結果を得ることができるプラスチック標準物質、およびその製造方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明のうちのプラスチック標準物質は、プラスチック基材に既知の元素が既知量分散した薄膜からなるプラスチック標準物質において、
このプラスチック標準物質の複数箇所に所定の励起ビームを照射し前記元素から発生する蛍光Ｘ線のＸ線強度のばらつきが、相対標準偏差１０％以下に抑えられたものであることを特徴とする。
【００１０】
本発明のプラスチック標準物質によれば、上記相対標準偏差というパラメータを用いて、上記元素が均一に含まれていることを定義しており、このプラスチック標準物質を用いることで、良好な直線性を有する検量線や、ＦＰ法に用いる正確な装置感度係数を得ることができる。したがって、このプラスチック標準物質から得た検量線や装置感度係数を用いることで正確な分析結果を得ることができる。
【００１１】
ここで、本発明のプラスチック標準物質は、蛍光Ｘ線分析において試料の厚さの影響が出る有限厚の厚さであっても、試料の厚さの影響が出ない無限厚の厚さであってもよく、公的機関等で厚さの保証を得られる程度に厚さのバラツキが抑えられたものであることが好ましい。
【００１２】
また、本発明のプラスチック標準物質において、上記元素は、金属元素であってもよい。
【００１３】
上記元素が金属元素であることで、このプラスチック標準物質を、プラスチック製品に含まれる有害な金属元素の定量分析用の検量線や装置感度係数を求めるための標準試料として使うことができる。
【００１４】
上記目的を達成する本発明のうちのプラスチック標準物質の製造方法は、プラスチック基材中に既知の元素が既知量分散した薄膜からなるプラスチック標準物質の製造方法において、
常温下において液状のプラスチック基材、既知の元素を既知量含む標準溶液及び硬化剤を混合する混合工程と、
上記混合工程を実施することで得られた混合溶液が硬化する前に、その混合溶液から薄膜を形成する形成工程と、
上記形成工程を実施することで得られた薄膜を硬化させる硬化工程と、
硬化された薄膜の複数箇所に所定の励起ビームを照射し前記元素から発生する蛍光Ｘ線のＸ線強度のばらつきが、相対標準偏差１０％以下であるものを合格とする判断工程と
を有することを特徴とする。
【００１５】
本発明のプラスチック標準物質の製造方法によれば、上記プラスチック基材への上記元素の混合が、常温下において液状の状態で行われるため、上記元素の混合が均一に行われる。また、相対標準偏差１０％以下としたことによって、プラスチック標準物質の精度が大幅に改善される。したがって、本発明のプラスチック標準物質の製造方法によって製造したプラスチック標準物質から得た検量線や装置感度係数を用いることで正確な分析結果を得ることができる。また、上記形成工程では、有限厚の厚さに正確に調整することができる。したがって、本発明のプラスチック標準物質の製造方法によって製造されたプラスチック標準物質は、厚さについて正確であることが保証される。
【００１６】
ここで、上記混合工程が、金属塩類および有機金属化合物の少なくともいずれか一方を用いて調整された上記標準溶液を混合する工程であってもよい。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について説明する。
【００１８】
図１は、本発明のうちのプラスチック標準物質の製造方法の一実施形態を示すフローチャートである。
【００１９】
本実施形態のプラスチック標準物質の製造方法は、混合工程１１、形成工程１２、および硬化工程１３を、この記載順に実施する方法である。
【００２０】
まず、混合工程１１を実施する前に、常温下で液状のプラスチック基材と、既知の元素を既知量含む標準溶液と、液状の硬化剤との３つの溶液を用意する。標準溶液は、塩化カルシウムにより脱水処理を施したキシレンに、分析元素を含む試薬を溶解することで得る。分析元素を含む試薬をキシレンに溶解するにあたっては、標準溶液中の分析元素の濃度が把握できるよう、試薬を秤量してからキシレンに溶解する。この試薬としては、有機金属化合物あるいは金属塩類が用いられる。
【００２１】
混合工程１１では、液状のプラスチック基材に標準溶液を所定の濃度で添加し、３０秒程度の撹拌を行うことで、用意した液状のプラスチック基材と、標準溶液と、液状の硬化剤を混合し、混合溶液を得る。
【００２２】
形成工程１２では、混合工程１１を実施することで得られた混合溶液が硬化する前に、その混合溶液から所望の厚さの薄膜を形成する。
【００２３】
図２は、図１に示す形成工程で用いられる簡易型の形成器を示す図である。
【００２４】
図２に示す形成器２００は、表面が平坦なガラスプレート２１０と、アプリケータ２２０とを備えている。アプリケータ２２０は、ガラスプレート２１０の幅方向に延在する丸い棒体２２１と、その棒体２２１の両端に設けられたリング状の膜厚調整具２２２を有する。膜厚調整具２２２は、ガラスプレート２１０の上に載置されており、ガラスプレート２１０の表面と棒体２２１との間には隙間が生じている。まず、アプリケータ２２０を、ガラスプレート２１０の長手方向一端側に寄せてから、混合溶液をガラスプレート２１０の上に垂らす。次いで、膜厚調整具２２２をガラスプレート２１０に接触させた状態で、アプリケータ２２０をガラスプレート２１０の長手方向他端側に向かってスライドさせる。すると、ガラスプレート２１０上の混合溶液が棒体２２１によって掻き取られ、ガラスプレート２１０の表面には、その表面と棒体２２１との隙間分の厚さを有する薄膜が残る。この形成器２００では、リング状の膜厚調整具２２２の径を変更することで、所望の厚さの薄膜を得ることができる。蛍光Ｘ線分析では、試料の厚さがある一定未満の厚さになると測定Ｘ線強度に試料の厚さの影響が表れるため、試料の厚さを把握しておくことが重要になる。ここでは、試料の厚さの影響が出ない厚さを無限厚と称し、反対にその影響が出る厚さを有限厚と称することにする。ファンダメンタルパラメータ法（ＦＰ法）を用いた分析では、実際に測定した測定Ｘ線強度と理論的に算出した理論Ｘ線強度との比（装置感度係数）を得る際に、プラスチック標準試料の厚さを正確に把握しておくことができれば、厚さによる影響の補正が容易である。食品に触れるプラスチック製品にはシート状のものが多く、試料の厚さの影響が出やすい。シート状のプラスチック製品を分析するにあたり、プラスチック標準試料の正確な厚さが不明である場合には、無限厚のプラスチック標準試料（ブロック状のプラスチック標準試料）を作成し装置感度係数を求めてから、分析対象であるシート状のプラスチック製品を何枚も重ね無限厚にしてＸ線強度を測定する。一方、本実施形態のプラスチック標準物質の製造方法では、形成工程１２において、有限厚の厚さに正確に調整することができる。したがって、本実施形態のプラスチック標準物質の製造方法によって製造されたプラスチック標準物質は、厚さについて正確であることが保証され、シート状のプラスチック製品を何枚も重ねなくても、ＦＰ法を用いた分析によって、１枚のシート状のプラスチック製品から正確な分析結果を得ることができる。
【００２５】
図１に示す硬化工程１３では、形成工程１２を実施することで得られた薄膜を硬化させプラスチック標準物質を得る。薄膜の硬化は自然乾燥によって行う。
【００２６】
このようにして製造されたプラスチック標準物質は、既知の金属元素がプラスチック基材中に既知量分散し、所定の厚さを有するものであり、装置感度係数や、分析元素の濃度とＸ線強度との対応関係を表す検量線を得るために用いられる。
【００２７】
装置感度係数や検量線を得るためには、まず、このプラスチック標準物質を試料ホルダにセットし、プラスチック標準物質のＸ線強度を蛍光Ｘ線分析装置で測定する。
【００２８】
図３は、図１に示すフロチャートに従って製造されたプラスチック標準物質を試料ホルダにセットする様子を示す図である。
【００２９】
図３には、図１に示すフロチャートに従って製造されたプラスチック標準物質１と、試料ホルダ２と、ホルダマスク３と、アクリル板４が示されている。アクリル板４は、試料ホルダ２の中に挿入される。プラスチック標準物質１は、試料ホルダ２からの散乱を抑えるため、試料ホルダ２内のアクリル板３の上に載置され、試料ホルダ２にセットされる。プラスチック標準物質１のセットが完了すると、試料ホルダ２に上からホルダマスク３が嵌められる。
【００３０】
試料ホルダ２にセットされたプラスチック標準物質１は、不図示の蛍光Ｘ線分析装置によって、励起ビーム（Ｘ線ビーム）が照射され発生する蛍光Ｘ線強度が測定される。
【００３１】
以下、各種の実施例を用いて説明する。
【００３２】
まず、各溶液の調整について説明する。液状のプラスチック基材としては、エポック社製のクリアポリエステルを用いた。また、液状の硬化剤には、エポック社製のパーメックＮを１ｍｌ用いた。
【００３３】
標準溶液の調整では、分析元素を含む試薬を溶解するキシレン溶液として、純正化学社製の特級キシレンを塩化カルシウムによって脱水処理したものを用いた。
【００３４】
Ｃｒ（クロム）を含む試薬としては、ＡＣＲＯＳ社製のクロムアセチルアセトナト９７％（Ｃ₁₅Ｈ₂₁ＣｒＯ₆）を用いた。この試薬を１．２２８９ｇ秤り取り、常温下でキシレン１００１ｍｌに溶かし、Ｃｒ濃度が２０４４ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とした。
【００３５】
Ｃｏ（コバルト）を含む試薬としては、和光純薬社製のＴｒｉｓ２，４−ペンタンジオネートコバルト（ＩＩＩ）（Ｃ₁₅Ｈ₂₁ＣｏＯ₆）を用いた。この試薬を０．４０１３ｇ秤り取り、常温下でキシレン１００ｍ１に溶かし、Ｃｏ濃度が７５０ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とした。
【００３６】
Ｎｉ（ニッケル）を含む試薬としては、ＡＣＲＯＳ社製のニッケルアセチルアセトナト・二水和物９９％（Ｃ₁₀Ｈ₁₄Ｏ₄Ｎｉ・２Ｈ₂Ｏ）を用いた。この試薬を０．２１４５ｇ秤り取り、常温下でキシレン１００ｍｌに溶かし、Ｎｉ濃度が５００ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とした。
【００３７】
Ｇｅ（ゲルマニウム）を含む試薬としては、東京化成工業社製のテトラフェニルゲルマニウム（（Ｃ₆Ｈ₅）₄Ｇｅ）を用いた。この試薬を０．４３９０ｇ秤り取り、８０℃の湯浴中でキシレン１００ｍ１に溶かし、Ｇｅ濃度が１０００ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とした。
【００３８】
Ａｓ（ヒ素）を含む試薬としては、和光純薬社製のトリフェニルアルシン９５％（Ｃ₁₈Ｈ₁₅Ａｓ）を用いた。この試薬を０．２５８１ｇ秤り取り、常温下でキシレン１００ｍｌに溶かし、Ａｓ濃度が６９３．２ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とした。
【００３９】
Ｐｂ（鉛）を含む試薬としては、ＡＣＲＯＳ社製のテトラフェニル鉛９７％（Ｃ₁₅Ｈ₂₁ＣｒＯ₆）を用いた。この試薬を０．１４２６ｇ秤り取り、常温下でキシレン１００ｍｌに溶かし、Ｐｂ濃度が６４４１０ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とした。
【００４０】
Ｓｂ（アンチモン）を含む試薬としては、和光純薬社製の塩化アンチモン（ＳｂＣｌ₃）を用いた。この試薬を０．３９３５ｇ秤り取り、常温下でキシレン１００ｍｌに溶かし、Ｓｂ濃度が１９４７ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とした。
【００４１】
キシレン溶液、分析元素を含む試薬、および硬化剤の混合にあたっては、これら３つの溶液を混合することによって得られる混合溶液中に含まれる分析元素が所望の濃度になるように調整し、図１に示す混合工程１１において、これら３つの溶液を一つにして３０秒程度撹拌した。
【００４２】
次に、図２に示す形式器を用いて薄膜を形成し、図１に示す硬化工程１３を実施することでプラスチック標準物質を得た。分析元素を含む試薬は、１つのプラスチック標準物質を作製するにあたり１種類しか用いなかった。したがって、ここでは、Ｃｒ，Ｃｏ，Ｎｉ，Ｇｅ，Ａｓ，Ｐｂ，およびＳｂの７元素のうちのいずれか１つの元素を含む計７種類のプラスチック標準物質を得た。
【００４３】
まず、表１から表７に、これらのプラスチック標準物質の厚み再現性を確認した結果をＣｒ，Ｃｏ，Ｎｉ，Ｇｅ，Ａｓ，Ｐｂ，Ｓｂの順に示す。
【００４４】
【表１】

【００４５】
【表２】

【００４６】
【表３】

【００４７】
【表４】

【００４８】
【表５】

【００４９】
【表６】

【００５０】
【表７】

【００５１】
Ｓｂのプラスチック標準物質を除いた各プラスチック標準物質については、厚さが異なる５通りのサンプルを５つずつ作製し、Ｓｂのプラスチック標準物質については、厚さが異なる１０通りのサンプルを５つずつ作製した。作製したいずれのサンプルについても、マイクロメータを用いて厚さを測定した。各表には、横一列ごとにサンプルＮｏ，厚み（単位；μｍ），相対標準偏差（Ｒ．ｓ．ｄ（単位；％））が示されている。各表に示す相対標準偏差から、作製したサンプルの厚さのバラツキは、厚さ１０００ｕｍ程度のもので３％程度であり、厚さ１００ｕｍ程度のものでも５％程度に抑えられている。この結果から、本実施形態の形成工程１２において、有限厚の厚さに正確に調整することができることが確認された。
【００５２】
続いて、表８に、３種類のプラスチック標準物質それぞれにおける分析元素の分散具合を確認した結果を示す。
【００５３】
【表８】

【００５４】
ここでは、分析元素の分散具合は、プラスチック標準物質の厚さに関係ないことから、十分な蛍光Ｘ線強度を得るため、無限厚（５ｍ厚のブロック状）のプラスチック標準物質を作製した。このブロック状のプラスチック標準物質の作製では、図１に示す形成工程１２に代えて、混合溶液を、直径４５ｍｍ，深さ５ｍｍの鋳型に流し込む工程を実施し、その後６時間ほど放置して硬化させた。
【００５５】
分析元素の分散具合を確認する実験では、Ｃｒを４８．１ｍａｓｓｐｐｍ含むものと、Ｃｏを３７．５１ｍａｓｓｐｐｍ含むものと、Ｇｅを２３．７ｍａｓｓｐｐｍ含むものとの３種類のブロック状のプラスチック標準物質について元素マッピングを行った。ここでの元素マッピングでは、Ｘ線ビームを走査することで、１つのプラスチック標準物質につき１４５箇所にわたって分析元素から発生するＫα線を測定した。表８には、縦１列ごとに、測定したＫα線のＸ線強度が示されている。ここに示すＫα線のＸ線強度は、上から順に、平均Ｘ線強度，最大Ｘ線強度，最小Ｘ線強度（単位はいずれもｋｃｐｓ（ｃｏｕｎｔｓｐｅｒｓｅｃｏｎｄ））である。また、１４５箇所にわたって計測したＫα線のＸ線強度の分布は正規分布になったことから、これらのＸ線強度の下には、３σの値が示されている。さらに一番下には、相対標準偏差（Ｒ．ｓ．ｄ）（単位；％）の値が示されている。表８に示す相対標準偏差から、いずれのプラスチック標準物質においても、Ｋα線のＸ線強度のばらつきは、相対標準偏差１０％以下に抑えられていることがわかる。なお、ＣｒのＸ線強度とＣｏのＸ線強度に３σを超えるものがあったが、１４５箇所中いずれも１箇所のみであった。以上のことから、本実施形態のプラスチック標準物質の製法方法によって製造されたプラスチック標準物質には、分析元素が均一に含まれていることがわかる。
【００５６】
次に、Ｃｒ，Ｃｏ，Ｎｉ，Ｇｅ，Ａｓ，およびＰｂの各プラスチック標準物質については、分析元素の濃度が異なる５通りの薄膜状のサンプルを作製し、Ｓｂのプラスチック標準物質については、Ｓｂの濃度が異なる１０通りの薄膜状のサンプルを作製し、作製したサンプルに含まれる分析元素の濃度と、それぞれのＫα線の測定Ｘ線強度との関係を表す検量線を作成した。しかしながら、作製したプラスチック標準物質はいずれも有限厚（数μｍ）であり、このため、厚さの影響により検量線の直線性が劣っていた。そこで、作製したプラスチック標準物質の理論Ｘ線強度を公知の理論計算により算出し、測定Ｘ線強度と算出した理論Ｘ線強度との関係を表す感度校正曲線を作成した。
【００５７】
図４から図１０までは、それぞれ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｇｅ、Ａｓ、Ｓｂ、およびＰｂのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【００５８】
これらの各図には、左右それぞれに１つずつグラフが示されているが、左側に示すグラフは検量線のグラフであり、その縦軸は測定Ｘ線強度（単位；ｋｃｐｓ）を表し、その横軸は分析元素の濃度（単位；ｍａｓｓｐｐｍ）を表す。各図に示すように、いずれの検量線も直線性が悪いことがわかる。一方、右側に示すグラフは感度校正曲線のグラフであり、その縦軸は測定Ｘ線強度（単位；ｋｃｐｓ）を表し、その横軸は理論Ｘ線強度（単位；ｋｃｐｓ）を表す。各図に示すように、いずれの感度校正曲線も直線性が良好であり、この感度校正曲線の傾きを装置感度係数として、ＦＰ法を実施すれば、正確な分析結果を得ることができる。
【００５９】
最後に、本実施形態のプラスチック標準物質の製造方法によって製造したプラスチック標準物質の保存安定性について説明する。ここでは、Ｃｒの濃度が異なる１０通りのサンプルを作製しておき、２００日間にわたって計４２回、Ｋα線のＸ線強度を測定した。サンプルには、十分な蛍光Ｘ線強度を得るため、無限厚（５ｍ厚のブロック状）のプラスチック標準物質を用いた。
【００６０】
図１１は、Ｃｒのプラスチック標準物質の保存安定性を確認した結果を示すグラフである。
【００６１】
図１１に示すグラフの縦軸はＫα線の測定Ｘ線強度（単位；ｋｃｐｓ）を示し、横軸は時間（単位；日）を示す。また、図１１の右上の枠内に、各サンプルにおけるＣｒの濃度（単位；ｍａｓｓｐｐｍ）と、各サンプルごとの、計４２回の測定におけるＸ線強度の相対標準偏差（Ｒ．ｓ．ｄ）（単位；％）を上下２段に示す。図１１に示すように、Ｃｒの濃度が低いサンプルほど測定Ｘ線強度も低いが、２００日経過したサンプルでも測定Ｘ線強度はほとんど変化していない。また、各サンプルの相対標準偏差は０．９４％〜１．４％であり、Ｘ線計数の統計的な誤差範囲内に収まっている。さらに、サンプルには、Ｘ線ビームの照射による若干の変色は見られたものの、変形やひび割れなどの損傷は認められなかった。これらのことから、本実施形態のプラスチック標準物質の製造方法によって製造したプラスチック標準物質の保存安定性は良好であることが確認された。
【００６２】
なお、標準溶液の調整において、Ａｌ、Ｓｉ、またはＶを含む試薬を用いてもよい。Ａｌ（アルミニウム）を含む試薬としては、和光純薬社製のＴｒｉｓ２，４−ペンタンジオネートアルミニウム（Ｃ₁₀Ｈ₁₄Ｏ₅Ａｌ）を用い、この試薬を１．０３９７ｇ秤り取り、常温下でキシレン１００ｍｌに溶かし、Ａｌ濃度が１０００ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とすればよい。また、Ｖ（バナジウム）を含む試薬としては、純正化学社製のバナジルアセチルアセトナト９９％（Ｃ₁₀Ｈ₁₄Ｏ₅Ｖ）を用い、この試薬を０．２２６５ｇ秤り取り、７０℃の湯浴中でキシレン１００ｍｌに溶かし、Ｖ濃度が５００ｍ／ｍｐｐｍの標準溶液とすればよい。さらに、Ｓｉ（ケイ素）を含む試薬としては、東京化成工業社製のテトラエチルオルトクイ酸（（Ｃ₂Ｈ₅）₄Ｓｉ）を用いればよい。
【００６３】
【発明の効果】
以上、説明したように、本発明によれば、正確な分析結果を得ることができるプラスチック標準物質、およびその製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のうちのプラスチック標準物質の製造方法の一実施形態を示すフローチャートである。
【図２】図１に示す形成工程で用いられる簡易型の形成器を示す図である。
【図３】図１に示すフロチャートに従って製造されたプラスチック標準物質を試料ホルダにセットする様子を示す図である。
【図４】Ｃｒのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【図５】Ｃｏのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【図６】Ｎｉのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【図７】Ｇｅのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【図８】Ａｓのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【図９】Ｓｂのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【図１０】Ｐｂのプラスチック標準物質を用いて作成した検量線、および感度校正曲線を示す図である。
【図１１】Ｃｒのプラスチック標準物質の保存安定性を確認した結果を示すグラフである。
【符号の説明】
１プラスチック標準物質
２試料ホルダ
３ホルダマスク
４アクリル板[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a plastic standard substance having a predetermined thickness in which known elements are dispersed in a known amount in a plastic substrate, and a method for producing the same.
[0002]
[Prior art]
In order to promote polymerization or to impart physical and chemical properties, a small amount of metal is often added to plastics. However, if this metal is added in excess of a predetermined amount, the added metal becomes a problem as harmful to the human body and the environment. Therefore, today, there is a movement to regulate the addition of a predetermined amount or more of metal into plastic, and accordingly, it is desired to accurately determine the concentration of the metal element contained in the plastic product.
[0003]
By the way, conventionally, atomic absorption spectrophotometry has been used for quantification of metal elements contained in plastic products. However, in this atomic absorption spectrometry, the sample does not retain its original shape after analysis, and the pretreatment is complicated.
[0004]
Therefore, it is conceivable to use a fluorescent X-ray analysis method in which the pretreatment is relatively simple and the sample remains in its original form even after analysis for the determination of the metal element contained in the plastic product. In this fluorescent X-ray analysis method, a calibration curve method using a calibration curve obtained from a known standard sample and representing a correspondence relationship between the concentration of the analytical element and the X-ray intensity, or a known standard sample is measured. There is a fundamental parameter method (hereinafter referred to as FP method) using a ratio (apparatus sensitivity coefficient) between the measured X-ray intensity obtained in step 1 and the theoretical X-ray intensity theoretically calculated from the standard sample. In any of these methods, a known standard sample, that is, a sample obtained by adding a known amount of an analytical element to the same substrate as that of the sample to be analyzed is required.
[0005]
As a plastic standard sample with a known amount of a known element added to a plastic substrate, an analytical element is added to polyethylene powder, mixed and stirred while melting the polyethylene powder at 200 ° C., and a block shape obtained by extrusion molding Are known (for example, see Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2).
[0006]
[Non-Patent Document 1]
A. Lambertry, W. Van Borm and P. Que vauviller, “Collaborative Study to Improve the Quality Control of Trace Element Determinations Inn Polymers Part 2. Certification of Polyethylene Reference Materials (CMRs 680 and 681) for As, Br, Cd, Cl, Cr, Hg, Pb, and S Content (Collaborative study to improve the quality control of trace element determinations Part 2. Certification of polyethylene reference materials (CRMs 680 and 681) for As, Br, Cd, Cl, Cr, Hg, Pb, and S content) ”, Frezynius Journal of Analytical Chemistry, Berlin, Springer 'journal of analytical chemistry, Berlin, Springer), 370, 811-818 (2001)
[Non-Patent Document 2]
"Ph. Quevauviller", "Certified of reference materials for the quality control of (Qualified of reference materials for the quality control of)" inorganic analysis of manuf actured products (glass, polymers, paint coatings)) ”, Trends in analytical chemistry, Amsterdam, The Netherlands, Elsevier Scientific Pub., Amsterdam, The Netherlands, Elsevier Scientific Co.), vol. 20, no. 8 446-456 (2001)
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, even if polyethylene is melted, a certain amount of viscosity remains, and even if mixing and stirring are performed, the added analytical element is difficult to uniformly disperse. Therefore, the calibration curves obtained from the standard samples described in these non-patent documents are inferior in linearity, and an error is likely to occur in the device sensitivity coefficient, and there is a possibility that an accurate analysis result cannot be obtained.
[0008]
In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a plastic reference material capable of obtaining an accurate analysis result and a manufacturing method thereof.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The plastic standard material of the present invention that achieves the above object is a plastic standard material comprising a thin film in which a known amount of a known element is dispersed in a plastic substrate .
A variation in the X-ray intensity of fluorescent X-rays generated from the element by irradiating a predetermined excitation beam to a plurality of locations of the plastic standard material is suppressed to a relative standard deviation of 10% or less.
[0010]
According to the plastic standard material of the present invention, the parameter called relative standard deviation is used to define that the element is uniformly contained. By using this plastic standard material, good linearity is achieved. It is possible to obtain a calibration curve having an accurate apparatus sensitivity coefficient used in the FP method. Therefore, an accurate analysis result can be obtained by using a calibration curve or an instrument sensitivity coefficient obtained from this plastic reference material.
[0011]
Here, the plastic reference material of the present invention has an infinite thickness that does not affect the thickness of the sample even if it has a finite thickness that affects the thickness of the sample in fluorescent X-ray analysis. It is preferable that the thickness variation is suppressed to such an extent that the thickness can be guaranteed by a public institution or the like.
[0012]
In the plastic standard material of the present invention, the element may be a metal element.
[0013]
Since the element is a metal element, the plastic standard substance can be used as a standard sample for obtaining a calibration curve for quantitative analysis of harmful metal elements contained in plastic products and an apparatus sensitivity coefficient.
[0014]
The method for producing a plastic standard material of the present invention that achieves the above object is a method for producing a plastic standard material comprising a thin film in which a known amount of a known element is dispersed in a plastic substrate .
A mixing step of mixing a liquid plastic base material at room temperature, a standard solution containing a known amount of a known element, and a curing agent;
Before the mixed solution obtained by carrying out the mixing step is cured, a forming step of forming a thin film from the mixture,
A curing step of curing the thin film obtained by carrying out the formation step;
A determination step in which a plurality of portions of the cured thin film are irradiated with a predetermined excitation beam and the variation in X-ray intensity of fluorescent X-rays generated from the element is less than 10% relative standard deviation; >.
[0015]
According to the method for producing a plastic standard material of the present invention, the mixing of the elements is uniformly performed because the mixing of the elements with the plastic substrate is performed in a liquid state at room temperature. In addition, by setting the relative standard deviation to 10% or less, the accuracy of the plastic standard material is greatly improved. Therefore, an accurate analysis result can be obtained by using a calibration curve or a device sensitivity coefficient obtained from a plastic standard material produced by the method for producing a plastic standard material of the present invention. Moreover, in the said formation process, it can adjust correctly to the thickness of finite thickness. Therefore, it is guaranteed that the plastic reference material manufactured by the plastic reference material manufacturing method of the present invention is accurate in terms of thickness.
[0016]
Here, the mixing step may be a step of mixing the standard solution prepared using at least one of metal salts and organometallic compounds.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
[0018]
FIG. 1 is a flowchart showing an embodiment of a method for producing a plastic reference material of the present invention.
[0019]
The manufacturing method of the plastic reference material of this embodiment is a method of performing the mixing step 11, the forming step 12, and the curing step 13 in the order of description.
[0020]
First, before performing the mixing step 11, three solutions are prepared: a plastic substrate that is liquid at room temperature, a standard solution that contains a known amount of a known element, and a liquid curing agent. The standard solution is obtained by dissolving a reagent containing an analytical element in xylene that has been dehydrated with calcium chloride. In dissolving the reagent containing the analytical element in xylene, the reagent is weighed and then dissolved in xylene so that the concentration of the analytical element in the standard solution can be grasped. As this reagent, an organometallic compound or a metal salt is used.
[0021]
In the mixing step 11, the standard solution is added to the liquid plastic substrate at a predetermined concentration, and the prepared liquid plastic substrate, the standard solution, and the liquid curing agent are mixed by stirring for about 30 seconds. To obtain a mixed solution.
[0022]
In the forming step 12, a thin film having a desired thickness is formed from the mixed solution before the mixed solution obtained by performing the mixing step 11 is cured.
[0023]
FIG. 2 is a view showing a simple type forming device used in the forming step shown in FIG.
[0024]
A forming device 200 shown in FIG. 2 includes a glass plate 210 having a flat surface and an applicator 220. The applicator 220 has a round bar 221 extending in the width direction of the glass plate 210 and a ring-shaped film thickness adjusting tool 222 provided at both ends of the bar 221. The film thickness adjuster 222 is placed on the glass plate 210, and a gap is generated between the surface of the glass plate 210 and the rod 221. First, after the applicator 220 is brought closer to one end in the longitudinal direction of the glass plate 210, the mixed solution is dropped on the glass plate 210. Next, the applicator 220 is slid toward the other end in the longitudinal direction of the glass plate 210 while the film thickness adjuster 222 is in contact with the glass plate 210. Then, the mixed solution on the glass plate 210 is scraped off by the rod 221, and a thin film having a thickness corresponding to the gap between the surface and the rod 221 remains on the surface of the glass plate 210. In the former 200, a thin film having a desired thickness can be obtained by changing the diameter of the ring-shaped film thickness adjusting tool 222. In the fluorescent X-ray analysis, when the thickness of the sample is less than a certain thickness, the influence of the thickness of the sample appears on the measured X-ray intensity. Therefore, it is important to know the thickness of the sample. Here, the thickness that does not affect the thickness of the sample is referred to as infinite thickness, and the thickness that affects the thickness is referred to as finite thickness. In the analysis using the fundamental parameter method (FP method), the thickness of the plastic standard sample is obtained when obtaining the ratio (apparatus sensitivity coefficient) between the actually measured X-ray intensity and the theoretically calculated theoretical X-ray intensity. If it is possible to accurately grasp this, it is easy to correct the influence due to the thickness. Many plastic products that come into contact with food are in sheet form, and the thickness of the sample tends to be affected. If the exact thickness of the plastic standard sample is unknown when analyzing sheet plastic products, create an infinitely thick plastic standard sample (block-shaped plastic standard sample) and obtain the device sensitivity coefficient. The X-ray intensity is measured by stacking a number of sheet-like plastic products to be analyzed and making them infinite thickness. On the other hand, in the plastic reference material manufacturing method of the present embodiment, the forming step 12 can accurately adjust the thickness to a finite thickness. Therefore, the plastic reference material manufactured by the method for manufacturing a plastic reference material of the present embodiment is guaranteed to be accurate in terms of thickness, and the FP method can be used without stacking many sheet-like plastic products. According to the analysis, accurate analysis results can be obtained from one sheet of plastic product.
[0025]
In the curing step 13 shown in FIG. 1, the thin film obtained by performing the forming step 12 is cured to obtain a plastic standard material. The thin film is cured by natural drying.
[0026]
The plastic reference material produced in this way is a known standard in which a known amount of a metal element is dispersed in a plastic substrate and has a predetermined thickness. The instrument sensitivity coefficient, the concentration of the analytical element, and the X-ray intensity It is used to obtain a calibration curve representing the correspondence relationship between
[0027]
In order to obtain an instrument sensitivity coefficient and a calibration curve, first, this plastic standard material is set in a sample holder, and the X-ray intensity of the plastic standard material is measured with a fluorescent X-ray analyzer.
[0028]
FIG. 3 is a view showing a state in which a plastic standard material manufactured according to the flowchart shown in FIG. 1 is set in a sample holder.
[0029]
FIG. 3 shows a plastic reference material 1, a sample holder 2, a holder mask 3, and an acrylic plate 4 manufactured according to the flowchart shown in FIG. The acrylic plate 4 is inserted into the sample holder 2. The plastic standard 1 is placed on the acrylic plate 3 in the sample holder 2 and set on the sample holder 2 in order to suppress scattering from the sample holder 2. When the setting of the plastic reference material 1 is completed, the holder mask 3 is fitted onto the sample holder 2 from above.
[0030]
The plastic reference material 1 set in the sample holder 2 is measured by an X-ray fluorescence analyzer (not shown) to irradiate an excitation beam (X-ray beam) and the intensity of the generated fluorescent X-ray.
[0031]
Hereinafter, various examples will be described.
[0032]
First, the preparation of each solution will be described. As the liquid plastic substrate, clear polyester manufactured by Epoch Corporation was used. Further, 1 ml of Permec N manufactured by Epoch Company was used as the liquid curing agent.
[0033]
In the preparation of the standard solution, a xylene solution obtained by dehydrating special grade xylene manufactured by Pure Chemical Co., Ltd. with calcium chloride was used as a xylene solution for dissolving a reagent containing an analytical element.
[0034]
As a reagent containing Cr (chromium), 97% of chromium acetylacetonate (C ₁₅ H ₂₁ CrO ₆ ) manufactured by ACROS was used. 1.2289 g of this reagent was weighed and dissolved in 1001 ml of xylene at room temperature to obtain a standard solution having a Cr concentration of 2044 m / mppm.
[0035]
As a reagent containing Co (cobalt), Tris2,4-pentandionate cobalt (III) (C ₁₅ H ₂₁ CoO ₆ ) manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd. was used. 0.4013 g of this reagent was weighed and dissolved in 100 ml of xylene at room temperature to obtain a standard solution having a Co concentration of 750 m / mppm.
[0036]
As a reagent containing Ni (nickel), 99% nickel acetylacetonate dihydrate (C ₁₀ H ₁₄ O ₄ Ni.2H ₂ O) manufactured by ACROS was used. 0.2145 g of this reagent was weighed and dissolved in 100 ml of xylene at room temperature to obtain a standard solution having a Ni concentration of 500 m / mppm.
[0037]
Tetraphenyl germanium ((C ₆ H ₅ ) ₄ Ge) manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd. was used as a reagent containing Ge (germanium). 0.4390 g of this reagent was weighed and dissolved in 100 ml of xylene in a hot water bath at 80 ° C. to obtain a standard solution having a Ge concentration of 1000 m / mppm.
[0038]
Triphenylarsine 95% (C ₁₈ H ₁₅ As) manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd. was used as a reagent containing As (arsenic). 0.2581 g of this reagent was weighed and dissolved in 100 ml of xylene at room temperature to obtain a standard solution having an As concentration of 693.2 m / mppm.
[0039]
As a reagent containing Pb (lead), 97% tetraphenyllead (C ₁₅ H ₂₁ CrO ₆ ) manufactured by ACROS was used. 0.1426 g of this reagent was weighed and dissolved in 100 ml of xylene at room temperature to obtain a standard solution having a Pb concentration of 64410 m / mppm.
[0040]
As a reagent containing Sb (antimony), antimony chloride (SbCl ₃ ) manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd. was used. 0.3935 g of this reagent was weighed and dissolved in 100 ml of xylene at room temperature to obtain a standard solution having an Sb concentration of 1947 m / mppm.
[0041]
In mixing the xylene solution, the reagent containing the analytical element, and the curing agent, the analytical element contained in the mixed solution obtained by mixing these three solutions is adjusted so as to have a desired concentration. In the mixing step 11 shown, these three solutions were combined and stirred for about 30 seconds.
[0042]
Next, a plastic standard substance was obtained by forming a thin film using the formalizer shown in FIG. 2 and performing the curing step 13 shown in FIG. Only one reagent containing an analytical element was used to produce one plastic standard. Therefore, here, a total of seven types of plastic standard materials containing any one of the seven elements of Cr, Co, Ni, Ge, As, Pb, and Sb were obtained.
[0043]
First, Tables 1 to 7 show the results of confirming the thickness reproducibility of these plastic reference materials in the order of Cr, Co, Ni, Ge, As, Pb, and Sb.
[0044]
[Table 1]

[0045]
[Table 2]

[0046]
[Table 3]

[0047]
[Table 4]

[0048]
[Table 5]

[0049]
[Table 6]

[0050]
[Table 7]

[0051]
For each plastic reference material excluding the Sb plastic reference material, five samples with different thicknesses were prepared, and for the Sb plastic reference material, five samples with different thicknesses, five samples each. Produced. For any of the prepared samples, the thickness was measured using a micrometer. In each table, sample No., thickness (unit: μm), and relative standard deviation (Rsd (unit:%)) are shown for each horizontal row. From the relative standard deviation shown in each table, the variation in the thickness of the prepared sample is about 3% when the thickness is about 1000 μm, and is suppressed to about 5% even when the thickness is about 100 μm. From this result, it was confirmed that the thickness can be accurately adjusted to a finite thickness in the forming step 12 of the present embodiment.
[0052]
Subsequently, Table 8 shows the results of confirming the dispersion of the analytical elements in each of the three types of plastic standard materials.
[0053]
[Table 8]

[0054]
Here, since the dispersion degree of the analytical element is not related to the thickness of the plastic standard material, in order to obtain a sufficient fluorescent X-ray intensity, a plastic standard material of infinite thickness (5 m thick block shape) was prepared. In the production of this block-shaped plastic standard material, instead of the forming step 12 shown in FIG. 1, a step of pouring the mixed solution into a mold having a diameter of 45 mm and a depth of 5 mm is carried out, and then allowed to stand for 6 hours to be cured. It was.
[0055]
In the experiment to confirm the dispersion state of the analytical element, three types of block plastic standard materials including 48.1 mass ppm of Cr, 37.51 mass ppm of Co, and 23.7 mass ppm of Ge are included. Elemental mapping was performed. In the element mapping here, by scanning the X-ray beam, Kα rays generated from the analytical element were measured at 145 locations for one plastic standard material. Table 8 shows the measured X-ray intensity of the Kα ray for each vertical column. The X-ray intensity of the Kα ray shown here is an average X-ray intensity, a maximum X-ray intensity, and a minimum X-ray intensity (all units are kcps (counts per second)) in order from the top. In addition, since the distribution of the X-ray intensity of Kα rays measured over 145 locations is a normal distribution, a value of 3σ is shown below these X-ray intensities. Furthermore, the value of the relative standard deviation (Rsd) (unit:%) is shown at the bottom. From the relative standard deviation shown in Table 8, it can be seen that the variation in the X-ray intensity of the Kα ray is suppressed to a relative standard deviation of 10% or less in any plastic standard material. In addition, although the X-ray intensity of Cr and the X-ray intensity of Co exceeded 3σ, there were only one of 145 points. From the above, it can be seen that the analytical element is uniformly contained in the plastic standard material produced by the method for producing a plastic standard material of the present embodiment.
[0056]
Next, for each plastic standard material of Cr, Co, Ni, Ge, As, and Pb, five types of thin film samples having different concentrations of analytical elements were prepared. For a plastic standard material of Sb, Sb Ten thin film samples having different concentrations were prepared, and a calibration curve representing the relationship between the concentration of the analytical element contained in the prepared sample and the measured X-ray intensity of each Kα ray was prepared. However, all of the produced plastic standard materials have a finite thickness (several μm). Therefore, the linearity of the calibration curve was inferior due to the influence of the thickness. Therefore, the theoretical X-ray intensity of the produced plastic standard was calculated by a known theoretical calculation, and a sensitivity calibration curve representing the relationship between the measured X-ray intensity and the calculated theoretical X-ray intensity was created.
[0057]
FIGS. 4 to 10 are diagrams showing calibration curves and sensitivity calibration curves created using plastic standard materials of Cr, Co, Ni, Ge, As, Sb, and Pb, respectively.
[0058]
In each of these figures, one graph is shown on each of the left and right, but the graph shown on the left is a calibration curve, and the vertical axis represents the measured X-ray intensity (unit: kcps). The horizontal axis represents the concentration (unit; mass ppm) of the analytical element. As shown in each figure, it can be seen that any calibration curve has poor linearity. On the other hand, the graph shown on the right side is a graph of a sensitivity calibration curve, the vertical axis represents the measured X-ray intensity (unit: kcps), and the horizontal axis represents the theoretical X-ray intensity (unit: kcps). As shown in each figure, all the sensitivity calibration curves have good linearity, and an accurate analysis result can be obtained by performing the FP method using the slope of the sensitivity calibration curve as the apparatus sensitivity coefficient.
[0059]
Finally, the storage stability of the plastic standard material produced by the plastic standard material production method of the present embodiment will be described. Here, ten samples having different Cr concentrations were prepared, and the X-ray intensity of the Kα ray was measured 42 times over 200 days. In order to obtain a sufficient fluorescent X-ray intensity, a plastic standard material having an infinite thickness (5 m thick block) was used for the sample.
[0060]
FIG. 11 is a graph showing the results of confirming the storage stability of a Cr plastic reference material.
[0061]
The vertical axis of the graph shown in FIG. 11 indicates the measured X-ray intensity (unit: kcps) of the Kα ray, and the horizontal axis indicates time (unit: day). Further, in the upper right frame of FIG. 11, the Cr concentration (unit: mass ppm) in each sample and the relative standard deviation (Rsd) of the X-ray intensity in a total of 42 measurements for each sample. (Unit;%) is shown in the upper and lower two stages. As shown in FIG. 11, the lower the concentration of Cr, the lower the measured X-ray intensity, but the measured X-ray intensity hardly changes even in the sample after 200 days. Further, the relative standard deviation of each sample is 0.94% to 1.4%, which is within the statistical error range of the X-ray count. Further, although the sample was slightly discolored by irradiation with the X-ray beam, no damage such as deformation or cracking was observed. From these facts, it was confirmed that the storage stability of the plastic standard material produced by the method for producing a plastic standard material of this embodiment is good.
[0062]
In preparing the standard solution, a reagent containing Al, Si, or V may be used. Al Reagents containing (aluminum), using a Wako Junyaku Co. Tris2,4- pentanedionate aluminum _{_{_{(C 10 H 14 O 5 Al}}} ), xylene this reagent 1.0397g weighed, at room temperature A standard solution having an Al concentration of 1000 m / mppm may be used by dissolving in 100 ml. In addition, as a reagent containing V (vanadium), 99% vanadyl acetylacetonate (C ₁₀ H ₁₄ O ₅ V) manufactured by Pure Chemical Co., Ltd. was used, 0.2265 g of this reagent was weighed, and a 70 ° C. hot water bath was used. What is necessary is just to make it melt | dissolve in 100 ml of xylene in the inside, and let it be a standard solution with V concentration of 500 m / mppm. Furthermore, as a reagent containing Si (silicon), tetraethylorthoic acid ((C ₂ H ₅ ) ₄ Si) manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd. may be used.
[0063]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a plastic reference material capable of obtaining an accurate analysis result and a manufacturing method thereof.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a flowchart showing an embodiment of a method for producing a plastic reference material of the present invention.
FIG. 2 is a view showing a simple type forming device used in the forming step shown in FIG. 1;
FIG. 3 is a view showing a state in which a plastic reference material manufactured according to the flowchart shown in FIG. 1 is set in a sample holder.
FIG. 4 is a diagram showing a calibration curve prepared using a Cr plastic standard and a sensitivity calibration curve.
FIG. 5 is a diagram showing a calibration curve prepared using a Co plastic standard and a sensitivity calibration curve.
FIG. 6 is a diagram showing a calibration curve created using a Ni plastic standard and a sensitivity calibration curve.
FIG. 7 is a diagram showing a calibration curve created using a Ge plastic standard and a sensitivity calibration curve.
FIG. 8 is a diagram showing a calibration curve prepared using an As plastic standard and a sensitivity calibration curve.
FIG. 9 is a diagram showing a calibration curve and a sensitivity calibration curve created using a Sb plastic standard.
FIG. 10 is a diagram showing a calibration curve created using a Pb plastic standard and a sensitivity calibration curve.
FIG. 11 is a graph showing the results of confirming the storage stability of a Cr plastic standard.
[Explanation of symbols]
1 Plastic reference material 2 Sample holder 3 Holder mask 4 Acrylic plate

Claims

In a plastic reference material consisting of a thin film in which a known amount of a known element is dispersed in a plastic substrate ,
A plastic characterized in that variation in the X-ray intensity of fluorescent X-rays generated from the element by irradiating a predetermined excitation beam to a plurality of locations of the plastic standard material is suppressed to a relative standard deviation of 10% or less. Standard substance.

2. The plastic standard material according to claim 1, wherein the element is a metal element.

In a method for producing a plastic standard material comprising a thin film in which a known amount of a known element is dispersed in a plastic substrate ,
A mixing step of mixing a liquid plastic base material at room temperature, a standard solution containing a known amount of a known element, and a curing agent;
Before the mixed solution obtained by carrying out the mixing step is cured, so forming the mixed solution or al thin film,
A curing step of curing the thin film obtained by carrying out the forming step;
A determination step of irradiating a plurality of portions of the cured thin film with a predetermined excitation beam and passing an X-ray variation of the fluorescent X-rays generated from the element of 10% or less in relative standard deviation. A method for producing a plastic reference material, comprising:

The standard solution method of producing a plastics standard according to claim 3, wherein the kite is adjusted using at least one of metal salts and organometallic compounds.