JP4155271B2 - 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 - Google Patents
電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4155271B2 JP4155271B2 JP2005060350A JP2005060350A JP4155271B2 JP 4155271 B2 JP4155271 B2 JP 4155271B2 JP 2005060350 A JP2005060350 A JP 2005060350A JP 2005060350 A JP2005060350 A JP 2005060350A JP 4155271 B2 JP4155271 B2 JP 4155271B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- liquid crystal
- reflective
- substrate
- electro
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 21
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 282
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 190
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 416
- 239000010408 film Substances 0.000 description 75
- 239000000463 material Substances 0.000 description 71
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 26
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 25
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 25
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 15
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 13
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 12
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 12
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 11
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 9
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 9
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 9
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 8
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 8
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 8
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 7
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 6
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 6
- 239000004988 Nematic liquid crystal Substances 0.000 description 6
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 6
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 4
- 235000019646 color tone Nutrition 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 4
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 4
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 3
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 3
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001362 Ta alloys Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005282 brightening Methods 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N Trioxochromium Chemical compound O=[Cr](=O)=O WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 1
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910000423 chromium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N dysprosium atom Chemical compound [Dy] KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 1
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Description
1.8a≦b≦2.4a
の関係式が満足されることを特徴とする。
1.8a≦b≦2.4a
の関係式が満足されることを特徴とする。
1.8×Δn・a≦Δn・b≦2.4×Δn・a
の関係式が満足されることを特徴とする。
1.8×Δn・a≦Δn・b≦2.4×Δn・a
の関係式が満足されることが望ましい。
まず、図1から図4を参照して本発明の電気光学装置の一実施形態である液晶装置について説明する。図1は、本実施形態の液晶装置の外観構造を示している。図2は、その液晶装置の断面構造を示している。図3は、その液晶装置を構成する液晶装置用基板におけるいくつかの表示ドット部分を拡大して平面的に示している。図4は、図2の要部を拡大して示している。なお、ここに示す液晶装置1は、いわゆる半透過反射型のパッシブマトリクス方式の液晶装置である。
次に、図2、図3及び図4を参照して、液晶装置用基板10の構造について具体的に説明する。第1基材11の表面には、反射層12が形成されている。反射層12は、例えば、アルミニウム、銀若しくはこれらの合金、又はアルミニウム、銀若しくはこれらの合金と、チタン、窒化チタン、モリブデン、タンタル等との積層膜から構成される。
一方、液晶装置用基板10と対向する対向基板20は、第2基材21上に、反射層12に平面的に重なるように着色層14が設けられ、その上をアクリル樹脂やエポキシ樹脂等といった透明樹脂から成る表面保護層、すなわちオーバーコート層、15が被覆している。この構成により、コントラストに優れたフルカラー表示を実現することができる。
図4において、液晶装置用基板10と対向基板20との間には、液晶が充填されて液晶層42が形成されている。このとき、液晶装置用基板10の液晶層42に接する表面には、上述のように表示ドットD毎に凹部10aが形成されているので、液晶層42を構成する液晶はこの凹部10a内に入り込んだ状態、すなわち、絶縁層25の開口部25aの内側に入り込んだ状態になる。このため、反射層12の透過部12aに対応する位置の液晶層42の厚さ“b”は、反射層12の反射部12rに対応する位置の液晶層42の厚さ“a”よりも厚くなっている。
1.8Δn・a≦Δn・b≦2.4Δn・a
の関係式が満足されるように構成することで、透過型表示を行うときの透過部Raにおける透過率を90%以上とすることができ、それ故、明るい透過表示を行うことができることが判明した。
次に、図6から図8を参照して本発明に係る電気光学装置の他の実施形態である液晶装置について説明する。図6は、その液晶装置101の主要部の断面構造を示している。図7は、その液晶装置101を構成する液晶装置用基板を図6におけるZ軸の正方向から見た平面図である。図8は、その液晶装置101を構成する対向基板を図6におけるZ軸の正方向から見た平面である。なお、図6は、図7のX1−X1’線及び図8のX2−X2’線に従った断面図である。
1.8a≦b≦2.4a
の関係式が満足されるように形成されることが好ましい。
1.8Δn・a≦Δn・b≦2.4Δn・a
の関係式が満足されるように形成されることが好ましい。
次に、図9及び図10を参照して本発明に係る電気光学装置の他の実施形態である液晶装置について説明する。図9は、その液晶装置201の主要部の断面構造を示している。図10は、その液晶装置201を構成する対向基板220を図9におけるZ軸の負方向から見た平面構造を示している。この対向基板220は、カラーフィルタアレイ基板と呼ばれることもある。なお、図9は、図10のX3−X3’線に従った断面図である。本実施形態は、アクティブ素子(すなわち、能動素子)として3端子型の能動素子であるTFT(Thin Film Transistor)素子230を用いたアクティブマトリクス方式の液晶装置である。
1.8a≦b≦2.4a
の関係式が満足されるように形成されることが好ましい。
1.8Δn・a≦Δn・b≦2.4Δn・a
の関係式が満足されるように形成されることが好ましい。
次に、図11(a)〜(f)を参照して、本発明に係る電気光学装置用基板の製造方法の実施形態について、液晶装置用基板の製造方法を例にとって具体的に説明する。本実施形態は、図4に示した液晶装置1に用いられる液晶装置用基板10の製造方法に関するものである。
次に、図12及び図13を参照して、図4に示した液晶装置1の変形例について説明する。この変形例は、図12に示す液晶装置用基板310を除いて、図4の液晶装置1と同様に構成されるので、同様の部分には同一符号を付して、それらの説明は省略する。
次に、図14を参照して、液晶装置の他の変形例について説明する。この変形例は、対向基板420を除いて、図4に示した実施形態と同様に構成されているので、同様の部分には同一符号を付し、それらの説明は省略する。
次に、図15を参照して、液晶装置の他の変形例について説明する。この変形例は、図12に示した液晶装置用基板310と図14に示した対向基板420とを用いた液晶装置である。
次に、図16を参照して、液晶装置のさらに他の変形例について説明する。この変形例は、液晶装置用基板610の構造を除いて、上記の図4の実施形態と同様に構成されているので、同様の部分には同一符号を付し、それらの説明は省略する。
次に、今までに説明した液晶装置を表示部に用いた電子機器の実施形態について説明する。図17は、本実施形態の電子機器の全体構成をブロック図によって示している。ここに示す電子機器は、液晶装置1と、これを制御する制御手段700とを有する。液晶装置1は、パネル構造体701と、半導体IC等で構成される駆動回路702とを有する。また、制御手段700は、表示情報出力源703と、表示情報処理回路704と、電源回路706と、タイミングジェネレータ707とを有する。
本発明の電気光学装置は、上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。例えば、図1に示した液晶装置は、ICチップを基板上に直接に実装する構造、いわゆるCOG(Chip On Glass)方式の構造を有するが、これに代えて、例えば、フレキシブル配線基板やTAB基板を介してICチップを液晶装置に実装する構造を採用することもできる。さらに、本発明は、液晶以外の電気光学物質、例えば、EL発光素子等を電気光学物質として用いた電気光学装置にも適用できる。
Claims (2)
- 一対の基板に液晶層を挟持してなり、複数の表示ドットが配列されてなるとともに、前記表示ドット内に透過部と反射部とを備え、一方の前記基板が複数の着色層と、前記着色層間に形成された遮光膜と、を有する電気光学装置の製造方法であって、
他方の前記基板に前記反射部に反射層を形成する工程と、
前記反射層上に透光層を形成する工程と、
前記透光層をパターニングする工程と、
パターニングされた前記透光層をマスクにして、前記反射層を現像して該反射層に凹形状を形成して前記透過部を形成する工程と、
前記透光層上及び前記凹形状の領域に電極を形成する工程と、
を有し、
前記着色層は、前記反射層に平面的に重なるように形成され、
前記遮光膜は、第1の前記着色層側の端辺が前記第1の着色層に対応する前記反射層の端辺と合わされ、
前記透過部に対応する位置における前記液晶層の厚さは、前記反射部に対応する位置における前記液晶層の厚さよりも厚いことを特徴とする電気光学装置の製造方法。 - 一対の基板に液晶層を挟持してなり、複数の表示ドットが配列されてなるとともに、前記表示ドット内に透過部と反射部とを備える電気光学装置の製造方法であって、
一方の前記基板に前記反射部に反射層を形成する工程と、
前記反射層上に透光層を形成する工程と、
前記透光層をパターニングして前記反射層と重なる位置に前記透光層が設けられていない領域を形成する工程と、
パターニングされた前記透光層をマスクにして、前記反射層を現像して前記透光層が設けられていない領域に対応する位置の該反射層に凹形状を形成して前記透過部を形成する工程と、
前記透光層上及び前記反射層の凹形状の領域に電極を形成する工程と、
を有し、
前記電極は、前記透過部において前記反射層に置き換わるように、且つ前記反射層と接触するように形成され、
前記透過部に対応する位置における前記液晶層の厚さは、前記反射部に対応する位置における前記液晶層の厚さよりも厚いことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005060350A JP4155271B2 (ja) | 2001-12-17 | 2005-03-04 | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001383023 | 2001-12-17 | ||
| JP2005060350A JP4155271B2 (ja) | 2001-12-17 | 2005-03-04 | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002303217A Division JP4068942B2 (ja) | 2001-12-17 | 2002-10-17 | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008124346A Division JP4840405B2 (ja) | 2001-12-17 | 2008-05-12 | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005157408A JP2005157408A (ja) | 2005-06-16 |
| JP4155271B2 true JP4155271B2 (ja) | 2008-09-24 |
Family
ID=34740931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005060350A Expired - Lifetime JP4155271B2 (ja) | 2001-12-17 | 2005-03-04 | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4155271B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4840405B2 (ja) * | 2001-12-17 | 2011-12-21 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
-
2005
- 2005-03-04 JP JP2005060350A patent/JP4155271B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2005157408A (ja) | 2005-06-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4068942B2 (ja) | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 | |
| US7623206B2 (en) | Liquid crystal device board, liquid crystal device, and electronic apparatus | |
| CN101276087B (zh) | 液晶显示装置 | |
| KR20010087191A (ko) | 표시 장치용 기판 및 그 제조 방법, 및 액정 장치 및 전자기기 | |
| JP3283221B2 (ja) | 液晶表示素子 | |
| JP2005242302A (ja) | 液晶表示装置及び電子機器 | |
| KR101004468B1 (ko) | 반투과형 액정표시장치 및 그 제조 방법 | |
| JP4222272B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
| JP4155271B2 (ja) | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 | |
| JP4158478B2 (ja) | 電気光学装置用基板の製造方法及び電気光学装置の製造方法 | |
| JP4151700B2 (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
| JP4840405B2 (ja) | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 | |
| JP2007310152A (ja) | 電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び電子機器 | |
| JP4345263B2 (ja) | 液晶装置用基板、液晶装置用基板の製造方法、液晶装置、および電子機器 | |
| JP4370758B2 (ja) | 電気光学装置用基板、電気光学装置用基板の製造方法、電気光学装置、および電子機器 | |
| JP4292863B2 (ja) | 電気光学装置用基板、電気光学装置、電気光学装置の製造方法及び電子機器 | |
| JP4511248B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP4645327B2 (ja) | 液晶表示装置及び電子機器 | |
| JP2003107437A (ja) | 液晶装置用基板、液晶装置、及び、電子機器 | |
| JP2003302518A (ja) | 電気光学パネル用基板及びその製造方法、電気光学パネル並びに電子機器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070703 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070807 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071009 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080318 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20080407 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080514 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20080526 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080617 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080630 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110718 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4155271 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110718 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120718 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120718 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130718 Year of fee payment: 5 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |