JP4175665B2 - Single crucible and effusion source using such crucible - Google Patents
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Description
発明の背景
1.発明の分野
本発明は一般的に混成(コンパウンド)半導体におけるコンポーネントを製造及び関連する産業において使用される装置に関する。特に、本発明は分子線エピタキシー(MBE)の流出セル又は流出源用の坩堝に関する。本発明は、また、かかる坩堝を利用した流出源をも含んでいる。
2.背景情報
分子線エピタキシーは、分子又は原子ビームを基板上に向けて真空中の基板上に物質の薄膜を成膜(沈積)することを含む成長プロセスである。成膜(沈積)された原子や分子は、加熱された基板上においてエネルギー的に好適な格子位置に移転し、高い結晶質で最適で均一な厚みの膜を生成する。MBEは、個々の半導体や金属や絶縁層の薄膜を成膜するため、混成半導体の研究や半導体装置製造産業において広く利用されている。
MBE成膜において利用される基本的な装置は、熱流出セルである。この熱流出セルは、例えばガリウム、砒素、あるいは他の元素や化合物の流出物質が入った坩堝を有する。この坩堝は抵抗性のフィラメントによって加熱され、加熱された物質がオリフィスから、そのチャンバー内に配置された基板上に成膜(沈積)するための超高真空の成長チャンバー内に流出される。典型的には、複数のセルがポートを介して成長チャンバー内に据え付けられる。一又はそれ以上のセルが作動され、基板ホルダー上に取り付けられた基板に向かって所定の角度に向けられてビームが発生される。ビームの制御は典型的にはシャッター及び/又はバルブ(弁)により実現される。使用の際には、種々の準備処理が基板上に施され、セルに電源が投入され、加熱されてシャッターが開かれ、そして、所望のエピタキシャル成膜が、加熱されて回転する基板上に完成される。成長の後は、形成されたウェハーは冷却されてチャンバーから取り出される。
流出源である坩堝は、高い流出温度でも安定な不活性の材質により作成されている。好適な材質としては、熱分解性の窒化硼素(ボロンナイトライド)(PBN)である。この坩堝は、典型的には、真空チャンバー内の形成用マンドレル(心棒)を利用した化学的な蒸着(CVD)方法によって形成される。過去においては、種々のデザイン形状の坩堝がMBEにおいて使用されていた。しかしながら、これらの従来技術には顕著な制限があった。当時の(従来の)坩堝における主要な問題点は、(1)容量が低い、(2)均一(画一)性が乏しい、(3)楕円欠陥の生成(オーヴァル・ディフェクト・プロダクション)、(4)短期の流束遷移現象(ショート・ターム・フラックス・トランジエンツ)、(5)長期の流束遷移現象(ロング・ターム・フラックス・トランジエンツ)などである。
容量は、特定のMBE処理のために必要な材質の量を保持する坩堝の能力に関連する。より大きな容量によれば、源物質の負荷に対する装置の数をより多くして構成することが可能になる。所望の容量は、直線壁や円筒の形状を利用した幾つかのデザインにより達成されていた。しかしながら、円筒形状を有する坩堝では、零ドラフト円筒形オリフィス(ゼロ・ドラフト・シリンドリカル・オリフィス)から放出されるビームがあまりにも堅く制限されることから、至る所で成膜が不均一になってしまう。
均一性は、主に、坩堝のオリフィスから放出された物質によってターゲットとなる基板領域上に成膜(沈積)された層の厚さの均一性に関連する。均一性は、また、複合的でもある。均一性は、円錐状に構成された坩堝体を使用した幾つかのデザインによる正のドラフトによって達成される。しかしながら、円錐形状を有する坩堝では、全体的に容量が制限され、空乏効果(ディプリーション・イフェクト)が表われ、そして流束の遷移現象を生じ易い。
楕円欠陥は形成された半導体装置上に現われる形態上の欠陥である。源に関連する楕円欠陥は、凝集された物質が坩堝のオリフィスに小滴を形成して溶融物質中に流れ落ちた時に生じる、坩堝の基部で溶融した物質からの吐出(スピッティング)によって起こるものと考えられている。物質は、オリフィス領域における温度の低下によってオリフィスに凝集する。楕円欠陥の生成は、オリフィス又は縁部(リップ)を加熱して物質の凝集を防止する幾つかのデザインによって低減されている。かかるデザインは、通常、「熱い縁部(ホット・リップ)」装置と称されている。幾つかのホット・リップ流出源のデザインによる問題点は、流体力学的に不安定な流束を生成し、好ましくないレベルの不純物を生成し易く、そして、しばしば空乏効果を生じることである。
短期の又はシャッターに関連する流束遷移現象とは、流出源のシャッターを作動することによる流出(エフュージョン)速度の時間における変化である。長期の流束過渡現象とは、溶融物質の表面積における減少による流出(エフュージョン)速度の時間における変化である。流束過渡現象は、特に、全体に円錐形の形状を有する坩堝のデザインにおいて問題となる。
短期及び長期の流束過渡現象は、直線壁やオリフィス端に挿入した円錐と組み合わせた円筒状の坩堝体に沿って、双(デュアル)フィラメント坩堝加熱システムを利用した本出願の譲受人により製造されたデザインにより低減されている。この双フィラメントシステムでは、一方のフィラメントは坩堝の基部を加熱し、独立に制御される他方のフィラメントは坩堝の縁部(リップ)を加熱する。これにより、「熱い縁部(ホット・リップ)」のシステムを生み出し、楕円欠陥の生成を低減し、また、流体力学的な不安定性を改良し、ホット・リップの坩堝デザインにおいて典型的に経験される急速な空乏効果を最小化している。さらに、挿入部と組み合わせた直線壁の坩堝により提供される大きな坩堝容積は、溶融物質とシャッターとの間に熱的隔壁(バッフル)を形成し、さらに、流体力学的な安定性を向上する。このデザインは、他の従来技術の坩堝に対して利点を示すが、欠点を有していることも明らかである。すなわち、縁部(リップ)を加熱するフィラメントは、円筒状の坩堝本体の外壁の存在により、円錐の挿入部に近接して最適に配置されているとは思われない。さらに、かかるセルが垂線からあまりに大きな角度で取り付けらると、源の物質が坩堝縁部(リップ)と挿入縁部(インサート・リップ)との間の接触点で漏れることがある。
MBEシステムで使用される他の普通の源はサーマル・クラッカーである。クラッカーは、典型的には、砒素などの物質に使用され、源物質の蒸発の後に源物質の分子を更にクラック(分解)することが望ましい。サーマル・クラッカーは、典型的には、二つあるいはそれ以上の熱領域(サーマル・ゾーン)を有している。双領域クラッカーの坩堝は、第1の低温領域(ゾーン)内に配置された大きな本体部と、第2の高温領域(ゾーン)を通過して延びた小径のクラッキング部とを有している。源物質は本体部の中に置かれ、そこで加熱されて物質を蒸発させる。蒸発された源物質は、それからクラッキング部内に流出される。第2の領域(ゾーン)におけるより高い温度が、源物質がクラッキング部を通過する際に源物質のクラッキング(分解)を生じる。そして、物質は出口オリフィスから流出し、そこで基板上に成膜(沈積)される。
かかるクラッカーに使用される坩堝の本体部とクラッキング部の間の内側に向かう通過領域のために、従来技術では、PBNからクラッカーのための坩堝を作るすることは不可能であった。代わりに、坩堝は、典型的には、タンタル等の溶接可能な金属によって作られていた。これにより、タンタルの坩堝は一般的に液体金属の源物質の使用には向かないことから、サーマル・クラッカーで使用され得る源物質の種類(タイプ)が厳しく限定される。
当該技術における流出(エフュージョン)源や、従来技術の不利益、欠点、そして制限を克服する坩堝のデザインに対するニーズにも拘わらず、現在まで知られているものでは、何らの発展も見られなかった。
発明の概要
本発明は、従来技術に関する上記に述べた欠点を克服するものである。
本発明は、基板上に成膜(沈積)される物質を加熱するための流出源を含んでいる。この流出源は、取り付けフランジを備えた支持組体と、そして、支持組体に連結された流出組体とを備えている。流出組体は、前記物質を保持する容器と、前記容器内の前記物質を加熱するため前記容器の少なくとも一部を取り囲む加熱器とを含んでいる。前記容器は、内部空間を囲む硬い壁構造体を含んでいる。この壁構造体は一片の物質により構成されかつ熱分解性窒化硼素から成る。この壁構造体は、基部と、前記基部に取り付けられたネック部を有している。このネック部は前記基部から延びてネックオリフィスに終る負のドラフト角を有している。この基部の外周幅はネックオリフィスの外周幅よりも大きい。
この流出源は流出セルでもよい。その場合、支持組体は、少なくとも1の、取り付けフランジから延びた支持ポストを含み、流出組体は、支持ポストに連結されたヘッド組体を含む。ヘッド組体は前記容器と前記加熱器を含んでいる。流出セルは、少なくともその一部が内側に延びてネックオリフィスの近傍で終端する熱シールディングを含んでもよい。
この流出源はクラッカーでもよい。その場合、壁構造体は、さらに、ネックオリフィスから延びてクラッキングオリフィスで終端するクラッキング部を含む。このクラッキング部は、前記ネックオリフィスのそれと実質的に同じ外周幅を有する。加熱器は、前記壁構造体の基部に隣接して配置した第1の加熱部材と、前記壁構造のクラッキング部に隣接して配置した第2の加熱部材とを含む。使用の際には、前記物質がクラッキング部を通過する時に、第2の加熱部材がクラッキング部を物質のクラッキング(分解)に十分な温度にまで加熱する。
本発明は、また、上記した容器の製造方法をも含んでいる。
【図面の簡単な説明】
図1は、円錐形状を有する従来技術の坩堝を備えたMBE流出セルの、部分的に切断した斜視図である。
図2は、直線壁、円筒状の本体、そして円錐の挿入部を備えた従来技術の坩堝を有する双(デュアル)フィラメント流出セルの断面図である。
図3は、本発明の、単一の一体型負ドラフト(モノリシック・ネガティブ・ドラフト)MBE坩堝の一実施例の斜視図である。
図4は、図3に示した坩堝の正面図である。
図5は、図3の線分5−5に沿った、坩堝の断面図である。
図6は、図4に示した坩堝の上面図である。
図7は、坩堝の底面図である。
図8は、部分的に切断した、単一坩堝を製造するために使用されるCVD用の心棒組体の側面図である。
図9は、部分的に切断した、心棒組体の頂部部材の側面図である。
図10は、部分的に切断した、心棒組体の底部部材の側面図である。
図11は、マンドレル(心棒)組体の中央鋲部材の側面図である。
図12は、CVDの間、心棒組体を動作方向に取り付けるために心棒組体に取り付けられるハンガー部材の側面図である。
図13は、本発明の他の実施例になる、単一の一体型負ドラフト(モノリシック・ネガティブ・ドラフト)MBE坩堝の、中心軸に沿った断面図である。
図14は、本発明により作られた流出セルと坩堝の一実施例の断面図である。
図15は、本発明により作られた流出セルと坩堝の他の実施例の断面図である。
図16は、本発明により作られた坩堝の一実施例の断面図である。
図17は、本発明により作られた、クラッキング源と共に使用させるように設計された坩堝の一実施例の断面図である。
図18は、図17に示された坩堝を採用したクラッキング源の断面図である。
好適な実施例の説明
1.流出セルデザイン
本発明の坩堝は、MBE用流出セルでの使用に良く適している。図1を参照し、例えば、米国ミネソタ州、セント・ポールのEPI MBE装置グループによって製造されたもの等、典型的なMBE流出セル10は、一般的に、ヘッド組体11と、組立てフランジと支持体との組体12を備えている。この組立てフランジと支持体との組体12は、MBE流出セル10をMBE成長チャンバー(図示せず)に連結している。この組体12は、さらに、ヘッド組体11を成長チャンバー内の所定の位置に保持している。組立てフランジと支持体との組体12は、所定径の円筒形状の封止フランジ21と、外部に向けられているネジ止めタイプの電力コネクター(接続部)19と、オメガ(商標)タイプの熱電対のコネクター(接続部)20とを含んでおり、これらコネクター(接続部)19、20は、それぞれフランジ21に接続されている。内部に向けられた所定の長さの支持部22は、フランジ21の対向する側に接続されている。電力の導線23及び熱電対のリード線24は、それぞれ、電力コネクター19及び熱電対のコネクター20から、フランジ21を通ってヘッド組体11へ延びている。ヘッド組体11は、中央内部に配置され、フィラメント14とヘッド・シールド15とにより取り囲まれた坩堝13を含んでいる。フィラメント14は、好ましくは、PBN絶縁物を含むタンタルから形成されている。ヘッド・シールド15は、好ましくは、高純度タンタル箔の多数の層から形成されている。帯状の熱電対16は、その基部において坩堝13の外部に接続されている。電力導線(コンダクター)23は、フィラメント14に接続され、そして、熱電対のリード線24は熱電対16へ接続されている。坩堝13は、環状の縁部(リップ)18を備えた所定の径の外側に向いたオリフィス17を備え、これにより、円錐の形状を有している。この坩堝13は、例えばPBNから形成されている。流出セル10は、一体シャッター、一体水冷却システム等の、種々の最適な特徴を含むことが出来る。
図2は、EPI MBE装置グループによって製造された他のヘッド組体の構造を示しており、改良されたデュアル・フィラメント・システムと、改良されたが、しかし多部品(多ピース)の坩堝のデザインを備えている。加熱システムは、坩堝27の底部又は基部領域を加熱するための第1のフィラメント28と、坩堝27の頭部又は先端領域を加熱するための第2のフィラメント29を含んでいる。フィラメント28と29は独立に制御されており、坩堝27の種々の部分を異なる温度で加熱することを可能にしている。加熱シールド30が坩堝27とフィラメント28と29を取り囲んでいる。この坩堝27は、円筒状の本体31と円錐状の挿入部32を備えている。円筒状の本体31は、僅かに正のドラフト(テーパ)を備え又はドラフトのない直線状又は実質的に直線状の壁を有しており、そして、負のドラフトは有していない。本体31の壁が、図1に示した円錐状の坩堝13の容積に比較し、相対的に大きな所定の内部容積を形成している。円錐状の挿入部分32は、明白な正のドラフトを有している。前述の構造は、楕円欠陥の生成を低減する「熱い縁部(ホット・リップ)」構造を提供する。加えて、デュアル・フィラメント28、29により提供されれる異なる温度での加熱により、他のホット・リップ源のデザインに共通する流体力学的な不安定性及び急速な空乏効果を最小にしている。
図2に示した坩堝のデザイン27は、図1に示した坩堝13に対して幾つかの利点を提供するが、それは重要な制限を有している。特に、坩堝本体31が、頭部のフィラメント29を円錐状の挿入部分33から分離し、ある程度の間隔まで分離する。この分離により、挿入部33が最適な温度以下に加熱されると信じられている。本発明は、負のドラフトの構造又はテーパ状の円錐挿入部を坩堝本体と統合して単一の坩堝本体を形成し、それによって、デュアル・フィラメント加熱システムの頂部のフィラメントが頭部に対して今や最適に配置され得ることとなる。加えて、円錐部分の寸法や形状も最適化され得る。この発明は、さらに、化学的な蒸着によって負のドラフト部分を有する一体型の単一の坩堝を形成するための方法及び装置を提供する。
2.坩堝構造
本発明の単一坩堝40の一実施例が図3〜7に示される。坩堝40は、一般的に、基部41と、円錐部42とを備えており、この円錐部42は、この円錐部42の一方の端部に配置されかつ坩堝40の外部に開口された第1又は外部オリフィス43を備えている。この基部41と円錐部42は、単一で一体の部品を形成している。坩堝40は、不活性で耐錆の物質から形成されている。好適な物質としては、例えば、ニューハンプシャー州、ハドソンのCVDプロダクツ会社により販売されるパイロサイル(商標)等のPBNである。坩堝40のためのPBNの好適な厚さは、約0.035インチ(0.08センチ)である。坩堝40は、以下に詳細を示す化学的な蒸着工程によって形成される。以下に詳細が述べられる基礎部材41と円錐部材42との間の全境界端は、好ましくは半円状に形成されている。示された実施例の坩堝40は、長さが約5.3インチ(13.4センチ)であり、しかしながら、その長さやその他の寸法は、本発明の基本的な教示内容に合致して変更されるであろう。
基部41は、側壁44、その側壁44の一端に配置された底部45、そして、その側壁44の対向端に配置されて負のドラフトのテーパ(勾配)を付けた壁又はネック46を備え、実質的に円筒状の形状を有している。側壁44は所定の実質的に一様な外周と所定の長さを有している。示された基部41の直径は、約1.4インチ(3.5センチ)である。基部41の長さは約2.9インチ(7.3センチ)である。負のドラフト壁46は内側(横方向)に、坩堝40(すなわち、側壁44)の中央部の縦方向軸(図示せず)に向かって、好ましくは、基部41外側の縦方向の面に対して約45度の角度でテーパ(勾配)が付けられている。この負のドラフト壁46は、第2のオリフィス、即ち、内側オリフィス47を形成するために、その外側端で終端している。この第2のオリフィス47は、坩堝40における最も小さな径の領域であり、この実施例では約0.6インチ(1.5センチ)である。
円錐部42は、第2のオリフィス47から第1のオリフィス43の周辺まで延びた坩堝の部分によって形成されている。円錐部42は、正のドラフト壁48と環状のリップ(縁部)49とを備えている。この実施例における円錐部の長さは約2.3インチ(5.8センチ)である。この壁48は外側(横方向)に、坩堝40中央部の縦方向の軸から、好ましくは中央の軸に対して測定して約9.0度の角度でテーパ(勾配)が付けられている。環状のリップ49は、壁48の終端から外側に向かって、好ましくはそれに対して直角に延びている。第1のオリフィスは、この示された実施例では、好ましくは約1.5インチ(3.8センチ)の径を有している。環状のリップ49は約0.8インチ(2.0センチ)の幅を有している。
図5に最も良く示されているように、坩堝40は典型的に、MBEのために、ある角度で上方に向けられている。例えば、元素や化合物が坩堝に添加されてデュアル・フィラメント・システムで加熱され、流出(エフージョン)源としての溶解物50を形成する。実用においては、坩堝40の円錐部42が、円錐形状の坩堝によって提供されるそれに適合する厚みの均一性のレベルを提供する。加えて、しかしながらこのようなデザイン(設計)は、空乏効果を最小にする。全てのタイプのセルでは、一定のセル温度におけるビーム相当圧力(イクイバレント・プレッシャー)は、源の溶融物質の空乏によって時間と共に減少する。この効果は、円錐形状の坩堝を使用したセルにおいて、これらセルにおける溶融物の表面積のより急速な減少によって、より大きくなる。この効果は、さらに、ホット・リップ・セルにおいて使用される物質によっては多少効率が低いために、さらに増大される。多分、これはホット・リップ領域からの再蒸発によるものであり、かかる再蒸発物は基板に向けられていないからである。本発明の坩堝40では、その寸法(面積)や形状を適合した溶融表面51を提供することにより、この空乏効果を事実上解消している。基板から「見える」溶融表面51の部分は、内部オリフィス47の寸法の均等物である。これに対して、全体に円錐状の坩堝では、坩堝のオリフィスと溶融表面との間の距離は増大し、溶融物の表面積は、溶融部の充填容積が欠乏するに従って減少し、もって、それらが空乏効果を示すようになる。本発明の坩堝40の他の利点は、円錐状の坩堝に比較して、有用な容量を増大する直線壁、円筒状の基部41によって提供される大きな坩堝容積である。更なる利点としては、一体の円錐部42により提供される内部オリフィス47が、溶融物50とシャッター(図示せず)との間に熱的な隔壁を形成して流体力学的な安定性を改良し、シャッターに関連する遷移現象を低減している。最後に、一体的に形成された円錐部42により、デュアル・フィラメント加熱システムの先端フィラメントを、楕円欠陥の生成が最小になるように最適に配置することを可能にしている。
単一坩堝90の他の実施例が図13に示されている。この一部品からなる坩堝90のデザインは円筒形状であり、一般的に、基部91と、円錐部92を備え、この円錐部92の一端に配置された第1の又は外部オリフィス98を備えている。坩堝90は、好ましくは蒸着法によってPBNで形成される。本実施例になる坩堝90は、長さが約8.1インチ(20.5センチ)で、基部91における最も幅広の径は2.9インチ(7.3センチ)で、内部オリフィス96における最も幅狭の径は0.9インチ(2.2センチ)である。
基部91は、直線状の側壁93と、一方の端に接した底壁面94とを有している。テーパ(勾配)を付けた壁95は、壁面93の対向する端部に配置されており、坩堝90の軸99に対して測定して約30°の負のドラフト角度「B」を有している。円錐部92は、約15°の正のドラフト角度「C」を有するテーパ(勾配)を付けた壁97を有している。重要なのは、図3〜7に示した坩堝40の円錐部42に比較して、円錐部92が十分に縮小された寸法(約0.3インチ(0.7センチ)の軸長)を有することである。単一のデザインにより、基本的には、小さなオリフィス又はノズルを有しかつ源物質又は溶融物に非常に近接して流出セル・シャッターを配置することを可能にする「実質上の(バーチャル)坩堝」である坩堝90の構造を可能にする。シャッターは、このことから、非常に小さくすることが出来る。これに対して、従来技術は大きなオリフィスを教示しており、シャッターが大きくて源から大きな距離離れて配置されたデザインを要求している。
図14は、本発明により作られた流出セル110と連結した坩堝100の更に他の実施例を示している。坩堝100は図13に示したものと同様であるが、しかし、図14の実施例では、正のドラフトの円錐部が全く除去されている。
流出セル110はヘッド組体111と、取付けフランジ支持組体112とを備えている。支持組体112は、成長チャンバー内の所定の位置にヘッド組体111を支持する。取付けフランジ支持組体112は、所定の径の円筒状封止フランジ121と、このフランジ121に連結された電力用のコネクター119と熱電対用コネクター120を含んでいる。所定の長さの内側に向う保持部122が、フランジ121の反対側に連結されている。電力用導体(コンダクター)123と熱電対用リード線124が、フランジ121を通ってヘッド組体111へ、それぞれ、電力用コネクター119と熱電対用コネクター120から延びている。ヘッド組体111は、ベース・フィラメント114とチップ(先端)フィラメント116により取り囲まれた坩堝100を含んでいる。このチップ・フィラメントは、坩堝100のネック・オリフィスに、直接、露出されており、これにより、この領域で坩堝を効果的に加熱している。
熱シールド115がフィラメント114と116を取り囲んでいる。この熱シールドは、流出セルの末端を覆って配置された熱シールド部材115aを有しており、この熱シールドはチップ・フィラメント116を超えて内側に延び、そして坩堝100の出口オリフィスに近接して終端している。この熱シールド部材115aは、フィラメントから成長チャンバー内への熱汚染を低減することから、非常に有利である。
図15は、図14と同様の流出セル110’であり、しかし「冷たい縁部(コールド・リップ)」としてデザインされた実施例を示している。この流出セル110’は、好ましくは坩堝100の基部の全長にわたって実質的に延びた単一フィラメント114だけを含んでいる。しかしながら、坩堝の内側に傾斜された部分の周囲ではフィラメントは使用されておらず、それ故、坩堝の端部は熱シールド115に直接的に露出している。この結果、坩堝の出口オリフィスは、坩堝の他の部分よりも実質的に冷たくなる。かかる「冷たい縁部(コールド・リップ)」セルは、特に、アルミニウムなど、坩堝の出口オリフィスの周辺で「クリープ」しやすい流出物質に有用である。
坩堝の勾配(テーパ)部分の加熱をさらに低減するために、第2の熱シールド115b’がフィラメント114の端部を超えて内側に突出している。また、複数の開口118がこの熱シールド115b’に形成されており、これらは坩堝の勾配(テーパ)部分を冷たく保つのに役立つ。
上述した坩堝のデザインは、短期そして長期の空乏効果の両方を低減するのに非常に効果的である。しかしながら、それらは、坩堝が空の状態に非常に近くなった時に、なお取るに足らない(マイナーな)長期の空乏効果を生じる。その理由の一つは、成長チャンバーに取り付けた時の坩堝は、図5に示されるように、典型的に垂線に対してある角度で方向付けられているからである。その結果、溶融した物質の表面積は、坩堝内の物質の量が少なくなった時には低下しやすい。この低下する面積により、時間における流束の漸進的な減少を生じる。
図16に示す坩堝140は、このような問題を解消するためにデザインされている。この坩堝140は、図14〜15に示したものと同様であり、実質的に直線の側壁を有する基部141と、勾配の付いた(テーパ)壁部145とを含んでいる。底壁144が基部の端部を閉じている。しかしながら、他の実施例におけると同様に、底壁144は、側壁に垂直であるよりも、むしろ側壁に対して鋭角を形成している。図16に示した本実施例では、角度146は40°である。この角度146は、流出セルが成長チャンバーに取り付けた時に、坩堝が図16に示されるように方向付けられるように、底壁が実質的に水平になるように選択されている。その結果、坩堝内の溶融物質の露出表面積は、坩堝が完全に空になるまで比較的一定になる。
本発明により達成される大幅に向上された均一性の利点の一つは、坩堝がより大きく出来、そして、実質的により大きな基板の面積を被覆(被膜)するのに使用できることである。すなわち、本発明になる坩堝は、MBE流出セルで一般的に使用される坩堝よりもほぼ100倍大きな、7500ccもの大きさにすることが可能になる。典型的な従来技術の流出セルは、一時に一枚の2インチ又は3インチのウェハーを被覆するのに使用される。しかしながら、本発明になる大きな流出セルと坩堝によれば、6枚又はそれ以上の3インチのウェハーを、実質的に均一性を損なうことなく、一度に被覆(被膜)するのに使用することが出来る。
本発明により作られた流出セルの性能に影響を及ぼすと思われる二つの要因は、負のドラフト坩堝壁のドラフト角度と、基部の幅に対する内部オリフィスの寸法である。すなわち、負のドラフト角(図13におけるB)は10°程度に小さくすることも、あるいは90°程度に大きくすることもが出来るが、一方、好ましい角度は30°〜45°の範囲である。内部オリフィス(図13の符号96)径の好適な範囲は、0.25インチ〜3インチの範囲であり、より好ましい範囲は0.25インチ〜1.5インチである。内部オリフィスの径に対する基部の径の比は、5:1以下にすべきであり、好ましくは2:1〜4:1の間である。
図17は、クラッキング(分解)流出源において使用されるように設計され、本発明により作られた坩堝160を示している。坩堝160は、ここで記載された他の坩堝と同様に、好ましくはPBNで作られている。この坩堝は、基部161、クラッキング(分解)部162、底壁163を含んでいる。負のドラフト遷移部164が、基部とクラッキング(分解)部との間に配置されている。このクラッキング(分解)部は出口オリフィス165内で終端している。基部とクラッキング(分解)部の両者は、好ましくは、円筒状で実質的に一定の径である。
この坩堝160は種々のクラッキング(分解)流出源と共に使用することができ、この特定的なデザインのクラッキング(分解)源だけが本発明の一部であるとは考えられない。かかるクラッキング(分解)源は、本発明の譲受人である、ミネソタ州、セント・ポールのEPI MBE装置グループを含め、種々の製造者から入手することが可能である。かかる可能なクラッカー源の一つが、図18に示されており、この図は、クラッキング(分解)流出源171内に配置された坩堝160を示している。かかるクラッカー(分解器)は、一般的に、成長チャンバーに取り付けられる取り付けフランジ173を含んでいる。この取り付けフランジに取り付けられるのは、蒸発ユニット176とクラッカー・ユニット177とから成るクラッカー(分解器)組体である。制御弁ユニット178は、クラッカー組体の一端に取り付けられている。
蒸発ユニットは、その内部に坩堝160の基部の周囲に配置された加熱(ヒーティング)部材180が設置されたハウジング179を含んでいる。真空取付部品181がハウジングに取り付けられており、蒸発ユニット内の圧力を低下させるためにポンプを取り付けることが出来る。このクラッカー(分解器)ユニットは、坩堝160のクラッキング(分解)部の周囲に配置された加熱部材182を含んでいる。使用に際しては、加熱部材180が比較的低い温度に加熱され、坩堝160の基部内の物質を蒸発してクラッキング(分解)部を通過させる。加熱部材182は実質的により高い温度に加熱され、物質がクラッキング(分解)部を通過する際に分解(クラック)される。この分解(クラック)された物質は、その後、出口オリフィスから流出する。
3.坩堝製造方法
上記した坩堝40、90、100、140及び160は化学蒸着により形成される。化学蒸着は、例えば、CVDプロダクト会社により実施されている。この例示された坩堝の形成に好適な物質はPBNである。化学蒸着では、PBNは、気体状の三塩化硼素(ボロン・トリクロライド)、アンモニアそして希釈剤をミリメータ以下(サブ・ミリメータ)の圧力と約1800℃の温度で成長チャンバー内に導入することにより製造される。しかしながら、この方法は、他の化学成分と関連して化学蒸着によって種々の物質を作るのにも使用することが出来る。
図8〜12を参照し、混合物の反応から製造されたこのPBNが心棒(マンドレル)55を形成する部材の上に沈積される。このCVD工程が完了した時、形成された構造物、この場合には坩堝が、以下に述べられる工程によって心棒55から分離される。この形成用の心棒55は、グラファイトから構成された4部の組体である。これは基本的には頭部部材56、底部材57、そして中央の支柱又はニップル58を備えている。頭部部材56と底部材57とは、中央の支柱58で連結された、個別の部品である。CVDチャンバー内では、形成用の心棒55が、頭部部材の上端の中心に配置されたねじ切り穴60に連結された頭部支柱50によって動作位置に保持される。
底部材57は、グラファイト、好ましくは、微細で高密度で前精錬されたグラファイトから形成され、中央部に中空の穴が開けられている。グラファイトは約300℃で酸化され始める。底部材57の寸法は、形成される坩堝の寸法に従っている。坩堝40の場合には、部材57は円筒形で約1.3インチの長さで、径が約1.3インチである。部材57の底の端部64は半円状になっている。重要なことは、頭部の端は、負のドラフトが形成された角度「A」の、好ましくは45度の勾配(テーパ)ネック65を有していることである。図10に最も良く示されるように、勾配(テーパ)部分又はネックの両方の端部66と67は半円状になっている。このネック65の上端部の径は、好ましくは約0.58インチである。底部材57内の軸穴68は、径が好ましくは5/16インチであり、深さが2と7/8(23/8)インチである。軸穴68は上部69がねじ切りされており、3/4インチの深さで、UNCは3/8−16である。
図9を参照し、頭部56もまた中空で、グラファイト、好ましくは微細で高密度で前精錬されたグラファイトから形成されている。この頭部56の寸法もまた形成される坩堝の寸法に従っている。重要なことは、部材56は正のドラフトを形成する勾配(テーパ)ネック73とリップ形成用の基部74とが曲線から形成されることである。坩堝40の場合には、部材56の勾配(テーパ)ネック73は約2.1インチの長さを有し、底の径は約0.58インチで、上部の径は約0.7インチである。ネック73と基部74の接合部は、好ましくは半円状にされている。頭部部材56内の軸穴75は、好ましくは、径が5/16インチであり、部材56の全長にわたって穴が開けられる。軸穴75は上部60がねじ切りされており、10インチの深さで、UNCは3/4−10であり、そして、ねじ切りした底部分76は深さが3/4インチでUNCは3/8−16である。
図11を参照し、中央支柱58もまた中空で、グラファイト、好ましくは微細で高密度で前精錬されたグラファイトから形成されている。この頭部58の寸法は形成される坩堝の寸法や形状、特に、それぞれ、頭部部材56や底部部材57におけるねじ切り穴69と76に従っている。上記で述べた好適な実施例に関し、支柱58は、好ましくは約1.5インチの長さを有し、3/8−16UNCでねじ切りした外周と、3/16インチの径の軸チャンネル80を有している。重要なことは、支柱58の壁厚(支柱58本体の外径から穴80の径を引いた半分に等しい)が、頭部部材56と底部部材57を一緒に締め付けることが可能な程に十分な厚さとなっていることであり、そして、支柱58が以下に述べる坩堝形成方法における冷却時に破砕可能な程に薄いことである。このような構造により、構造材料のタイプとの組み合わせにおいて、頭部部材56と底部部材とを確実かつぴったりと連結し、さらに良好に破損され得る支柱が製造される。
図12を参照し、頭部の又はハンガー支柱59は、好ましくは、硬く、好ましくは粗大な粒子で押し出し形成されたグラファイトの構造物である。支柱59の寸法は、形成される坩堝の寸法や形状に従っており、特にその寸法と頭部と底部材56におけるねじ切り穴60のタイプに依存する。上記に述べた坩堝40の実施例に関しては、支柱59は、好ましくは約4.5インチの長さと、ねじを切った3/4−10UNCの周囲を有している。支柱59は、一端に、3/16インチの径で1/2の深さの軸穴84を有している。径が1/8インチの横方向の穴85が支柱59の側面に配置され、軸穴84と互いに連結している。支柱59の左端は、図12に見られるように、上部部材56の開口60内に、横方向の穴85が心棒55の外部に残るような距離でねじ止めされている。穴84と85は、心棒55の内部空洞のための抜き穴手段を提供している。
本発明の坩堝を製造する方法は以下の工程を備えている。まず、頭部と底部の部材56、57が、中央支柱58により、これらを一緒にねじ止めによって一体にされる。次に、ハンガー支柱59が頭部部材56の穴60にねじ止めされる。重要なのは、ハンガー支柱59内部のチャンネル84と85が、組体55の並べた軸チャンネル75、68内に圧力を抜くように方向付けられていることである。結果として得られる心棒組体55はCVD成長チャンバー内に置かれる。PBNのCVD被覆(被膜)が、当該技術において一般的に知られた工程によって生成される。高温の成長工程が完了した後は、結果として得られた心棒/容器組体は冷却される。形成用の心棒55のグラファイト物質は、熱収縮係数における高い差異により、PBNが収縮するよりも高い率で収縮する。収縮する心棒材料が坩堝の低(小)径のネック領域における薄いPBN層の破損することから防止するため、心棒組体55の縦方向のアスペクトに沿った収縮によって中央支柱58が破砕するように設計されている。この破砕により心棒55の頭部と底部の部材56、57は、心棒組体55の外側に形成されたPBNシェルの内部で、坩堝40のネック領域47に近い部分での縦方向の収縮によってシェルを破損することなしに、独立に収縮する。冷却が完了した後には、組体は別の酸化室に移されて底面部材57が取り除かれる。空気インジェクターが心棒55の中央空洞内に挿入される。この組体は、約300℃の温度で、好ましくは750℃で、所定の時間、好ましくは約40時間、今では形成されたPBN坩堝40の「内部」の基部である底部部材57を酸化するために加熱する。加熱された底面部材57内での空気の流れは、酸化を最適にするためにインジェクターにより調整される。酸化により底面部材57は破壊されるが、この底面部材は、さもなければ、新たに形成される坩堝の基部41における壁46の負のドラフト角度により取り除くことが出来ない。PBNはより高い酸化温度を有しており、空気中では約1200℃まで安定であることから、この方法の加熱工程では酸化しない。続いて、残った心棒55の片、頭部部材56が、その正のドラフト角を利用して坩堝の円錐部42から抜け出る。この工程により、特にMBEでの使用に良く適した負のドラフト部分を備えた、単一で一体型の坩堝が製造される。
上記で述べた製造方法はMBE用の流出セル坩堝に関して述べたが、この方法は、種々の利用分野のために、単一で、硬い壁で囲まれた負のドラフト容器を製造するために使用することが出来るであろう。かかる構造は、化学蒸着により製造される種々の化合物から構成されるであろう。加えて、MBEにおける当業者であれば、両端が閉じられた側壁の所定の地点に開口を有する円筒形を含むが、しかしながらこれだけに限られず、円錐部分を備えあるいは備えていない他の坩堝のデザインにも上記の方法を利用して製造され得ることが認識されるであろう。
上記の説明及び添付した図面は説明のためと理解されるべきであり、これに限定されることはない。本発明は、その好適な実施例に関連して開示されたが、以下の特許請求の範囲で規定される発明の精神や範囲に入る他の実施例も存在することが理解される。そして、特許請求の範囲が特定の機能を行うための手段や工程として表現する場合、かかる特許請求の範囲は明細書中に記載された対応する構造、材料、又は行為は、その構造的な均等物及び均等な構造物の双方を含む均等物を含むように解釈されるべきことを意図している。 Background of the Invention
1.Field of Invention
The present invention relates generally to equipment used in the manufacture of components in hybrid semiconductors and related industries. In particular, the present invention relates to a molecular beam epitaxy (MBE) outflow cell or crucible for an outflow source. The present invention also includes an effluent source utilizing such a crucible.
2.Background information
Molecular beam epitaxy is a growth process that involves depositing a thin film of material onto a substrate in a vacuum with a molecular or atomic beam directed onto the substrate. The deposited atoms and molecules are transferred to a lattice position suitable in terms of energy on the heated substrate, and a highly crystalline film having an optimal and uniform thickness is generated. MBE is widely used in hybrid semiconductor research and semiconductor device manufacturing industries to form individual semiconductors, thin films of metals and insulating layers.
The basic equipment utilized in MBE deposition is a heat efflux cell. The heat outflow cell has a crucible containing outflow material of, for example, gallium, arsenic, or other elements or compounds. The crucible is heated by a resistive filament, and the heated material flows out of the orifice into an ultra-high vacuum growth chamber for deposition (deposition) on a substrate placed in the chamber. Typically, a plurality of cells are installed in the growth chamber via ports. One or more cells are activated to generate a beam that is directed at a predetermined angle toward the substrate mounted on the substrate holder. Beam control is typically achieved by shutters and / or valves. In use, various preparatory processes are performed on the substrate, the cell is powered on, heated to open the shutter, and the desired epitaxial film is completed on the heated rotating substrate. The After growth, the formed wafer is cooled and removed from the chamber.
The crucible, which is the outflow source, is made of an inert material that is stable even at high outflow temperatures. A preferred material is pyrolytic boron nitride (PBN). The crucible is typically formed by a chemical vapor deposition (CVD) method using a forming mandrel in a vacuum chamber. In the past, crucibles of various design shapes have been used in MBE. However, these prior arts have significant limitations. The main problems with the (conventional) crucibles at that time were (1) low capacity, (2) poor uniformity (uniformity), (3) generation of elliptical defects (Oval defect production), (4 ) Short-term flux transition phenomena (short term flux transients), and (5) long-term flux transition phenomena (long term flux flux transients).
The capacity is related to the ability of the crucible to hold the amount of material required for a particular MBE process. Larger capacities allow for a greater number of devices for source material loading. The desired volume has been achieved by several designs utilizing straight wall and cylindrical shapes. However, in a crucible having a cylindrical shape, the beam emitted from a zero-draft cylindrical orifice (zero-draft, cylindrical-orifice) is too tightly limited, so that the film formation becomes uneven everywhere. .
Uniformity is primarily related to the uniformity of the thickness of the layer deposited (deposited) on the target substrate area by the material released from the crucible orifice. Uniformity is also complex. Uniformity is achieved by a positive draft with several designs using a crucible body configured in a conical shape. However, in a crucible having a conical shape, the overall capacity is limited, a depletion effect (depletion effect) appears, and a flux transition phenomenon tends to occur.
An elliptic defect is a morphological defect that appears on a formed semiconductor device. The elliptical defect associated with the source is caused by spitting from the molten material at the base of the crucible, which occurs when the agglomerated material forms droplets in the crucible orifice and flows down into the molten material. It is considered. The material aggregates into the orifice due to a decrease in temperature in the orifice area. The generation of elliptical defects has been reduced by several designs that heat the orifice or lip to prevent material agglomeration. Such a design is commonly referred to as a “hot lip” device. The problem with some hot lip spill source designs is that they produce hydrodynamically unstable fluxes, are prone to produce undesirable levels of impurities, and often produce depletion effects.
A short-term or shutter-related flux transition is a change in effusion velocity over time due to the activation of the source shutter. A long-term flux transient is a change in effluent velocity over time due to a decrease in the surface area of the molten material. Flux transients are particularly problematic in the design of crucibles that have an overall conical shape.
Short-term and long-term flux transients are produced by the assignee of the present application utilizing a dual filament crucible heating system along a cylindrical crucible body combined with a straight wall or a cone inserted at the orifice end. Reduced by design. In this bifilament system, one filament heats the crucible base and the other, independently controlled, filament heats the crucible edge (lip). This creates a “hot lip” system, reduces the generation of elliptical defects, improves hydrodynamic instability, and is typically experienced in hot lip crucible designs. Minimizing rapid depletion effects. Furthermore, the large crucible volume provided by the straight wall crucible in combination with the insert forms a thermal partition (baffle) between the molten material and the shutter, further improving hydrodynamic stability. While this design has advantages over other prior art crucibles, it is also apparent to have drawbacks. That is, the filament that heats the edge (lip) does not appear to be optimally placed close to the cone insert due to the presence of the outer wall of the cylindrical crucible body. Furthermore, if such a cell is mounted at a too large angle from the normal, the source material may leak at the point of contact between the crucible edge (lip) and the insert edge (insert lip).
Another common source used in MBE systems is a thermal cracker. Crackers are typically used with materials such as arsenic, and it is desirable to further crack (decompose) the source material molecules after evaporation of the source material. Thermal crackers typically have two or more thermal zones. The crucible of the two-region cracker has a large main body portion disposed in the first low-temperature region (zone) and a small-diameter cracking portion extending through the second high-temperature region (zone). The source material is placed in the body where it is heated to evaporate the material. The evaporated source material is then discharged into the cracking section. The higher temperature in the second zone (zone) causes cracking (decomposition) of the source material as it passes through the cracking section. The material then flows out of the exit orifice where it is deposited (deposited) on the substrate.
Due to the inwardly passing region between the crucible body and cracking part used in such crackers, it was not possible in the prior art to make a crucible for crackers from PBN. Instead, the crucible was typically made of a weldable metal such as tantalum. This makes tantalum crucibles generally unsuitable for the use of liquid metal source materials, which severely limits the types of source materials that can be used in thermal crackers.
Despite the effusion sources in the technology and the need for crucible designs that overcome the disadvantages, drawbacks, and limitations of the prior art, there has been no development of what is known to date. .
Summary of the Invention
The present invention overcomes the above-mentioned drawbacks associated with the prior art.
The present invention includes an effluent source for heating the material deposited (deposited) on the substrate. The spill source includes a support assembly having a mounting flange and an spill assembly coupled to the support assembly. The outflow assembly includes a container that holds the substance and a heater that surrounds at least a portion of the container to heat the substance in the container. The container includes a hard wall structure surrounding the interior space. This wall structure is composed of a piece of material and consists of pyrolytic boron nitride. This wall structure has a base and a neck attached to the base. The neck has a negative draft angle extending from the base and ending at the neck orifice. The outer peripheral width of the base is larger than the outer peripheral width of the neck orifice.
The spill source may be an spill cell. In that case, the support assembly includes at least one support post extending from the mounting flange, and the outflow assembly includes a head assembly coupled to the support post. The head assembly includes the container and the heater. The outflow cell may include a heat shield that extends at least partially inwardly and terminates near the neck orifice.
This spill source may be a cracker. In that case, the wall structure further includes a cracking portion extending from the neck orifice and terminating at the cracking orifice. The cracking portion has substantially the same outer peripheral width as that of the neck orifice. The heater includes a first heating member disposed adjacent to a base portion of the wall structure and a second heating member disposed adjacent to a cracking portion of the wall structure. In use, when the substance passes through the cracking part, the second heating member heats the cracking part to a temperature sufficient for cracking (decomposition) of the substance.
The present invention also includes a method for manufacturing the container described above.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a partially cut perspective view of an MBE outflow cell with a prior art crucible having a conical shape.
FIG. 2 is a cross-sectional view of a dual (dual) filament outflow cell having a prior art crucible with a straight wall, a cylindrical body, and a conical insert.
FIG. 3 is a perspective view of one embodiment of a single integrated negative draft (monolithic negative draft) MBE crucible of the present invention.
FIG. 4 is a front view of the crucible shown in FIG.
FIG. 5 is a cross-sectional view of the crucible taken along line 5-5 in FIG.
6 is a top view of the crucible shown in FIG.
FIG. 7 is a bottom view of the crucible.
FIG. 8 is a side view of a CVD mandrel assembly used to produce a partially cut, single crucible.
FIG. 9 is a side view of the top member of the mandrel assembly, partially cut away.
FIG. 10 is a side view of the bottom member of the mandrel assembly, partially cut away.
FIG. 11 is a side view of the center rod member of the mandrel (mandrel) assembly.
FIG. 12 is a side view of a hanger member attached to the mandrel assembly to attach the mandrel assembly in the direction of motion during CVD.
FIG. 13 is a cross-sectional view along the central axis of a single integrated negative draft (monolithic negative draft) MBE crucible according to another embodiment of the present invention.
FIG. 14 is a cross-sectional view of one embodiment of an effluent cell and crucible made in accordance with the present invention.
FIG. 15 is a cross-sectional view of another embodiment of an effluent cell and crucible made in accordance with the present invention.
FIG. 16 is a cross-sectional view of one embodiment of a crucible made in accordance with the present invention.
FIG. 17 is a cross-sectional view of one embodiment of a crucible made in accordance with the present invention and designed to be used with a cracking source.
FIG. 18 is a cross-sectional view of a cracking source employing the crucible shown in FIG.
DESCRIPTION OF PREFERRED EMBODIMENTS
1.Spill cell design
The crucible of the present invention is well suited for use in MBE outflow cells. With reference to FIG. 1, a typical MBE effluent cell 10 such as that manufactured by the EPI MBE equipment group of St. Paul, Minnesota, USA, generally includes a head assembly 11, an assembly flange and support. An assembly 12 with the body is provided. This assembly flange and support assembly 12 connects the MBE outflow cell 10 to an MBE growth chamber (not shown). The assembly 12 further holds the head assembly 11 at a predetermined position in the growth chamber. The assembly 12 of the assembly flange and the support body includes a
FIG. 2 shows the structure of another head assembly manufactured by the EPI MBE equipment group, with an improved dual filament system and an improved but multi-part crucible design. It has. The heating system includes a
Although the crucible design 27 shown in FIG. 2 provides several advantages over the
2.Crucible structure
One embodiment of a
The
The
As best shown in FIG. 5, the
Another embodiment of a
The base 91 has a
FIG. 14 shows yet another embodiment of a
The
A
FIG. 15 shows an effluent cell 110 'similar to FIG. 14, but showing an embodiment designed as a "cold lip". The
In order to further reduce the heating of the gradient (taper) portion of the crucible, the
The crucible design described above is very effective in reducing both short-term and long-term depletion effects. However, they still produce a negligible (minor) long-term depletion effect when the crucible becomes very close to empty. One reason is that the crucible when attached to the growth chamber is typically oriented at an angle with respect to the normal, as shown in FIG. As a result, the surface area of the melted material tends to decrease when the amount of material in the crucible decreases. This decreasing area causes a gradual decrease in flux over time.
The
One of the benefits of greatly improved uniformity achieved by the present invention is that the crucible can be made larger and can be used to coat a substantially larger substrate area. That is, the crucible according to the present invention can be as large as 7500 cc, almost 100 times larger than the crucible generally used in MBE outflow cells. A typical prior art effluent cell is used to coat a single 2 inch or 3 inch wafer at a time. However, according to the large effluent cells and crucibles of the present invention, six or more 3 inch wafers can be used to coat (coat) at once without substantially compromising uniformity. I can do it.
Two factors that may affect the performance of effluent cells made according to the present invention are the draft angle of the negative draft crucible wall and the size of the internal orifice relative to the width of the base. That is, the negative draft angle (B in FIG. 13) can be as small as 10 ° or as large as 90 °, while the preferred angle is in the range of 30 ° to 45 °. A preferred range for the diameter of the internal orifice (
FIG. 17 shows a
The
The evaporation unit includes a
3.Crucible manufacturing method
The
With reference to FIGS. 8-12, this PBN produced from the reaction of the mixture is deposited on a member forming a
The
Referring to FIG. 9, the
Referring to FIG. 11, the
Referring to FIG. 12, the head or
The method for producing the crucible of the present invention includes the following steps. First, the head and
Although the manufacturing method described above has been described with reference to an outflow cell crucible for MBE, this method can be used to manufacture a single, hard-walled negative draft vessel for various applications. Would be able to do. Such structures will be composed of various compounds produced by chemical vapor deposition. In addition, those skilled in the art of MBE will recognize other crucible designs that include, but are not limited to, a cylindrical shape with openings at predetermined points on the sidewalls that are closed at both ends. It will also be appreciated that it can be manufactured using the above method.
The above description and the accompanying drawings should be understood to be illustrative and not limiting. Although the invention has been disclosed in connection with preferred embodiments thereof, it will be understood that there are other embodiments that fall within the spirit and scope of the invention as defined by the following claims. And when a claim expresses as a means or process for performing a specific function, this claim means that the corresponding structure, material, or act described in the specification is structurally equivalent. It is intended to be construed to include equivalents including both objects and equivalent structures.
Claims (28)
取り付けフランジを備えた支持組体と、
支持組体に連結された流出組体と、を備えており、
前記流出組体は、前記物質を保持する容器と、前記容器内の前記物質を加熱するため前記容器の少なくとも一部を取り囲む加熱器とを備えており、前記容器は、内部空間を囲む硬い壁構造体を含んでおり、熱分解性窒化硼素から成る一体に構成された当該壁構造体は、基部と、前記基部に設けられ、前記基部から延びてネックオリフィスに終る負のドラフト角を有するネック部と、前記ネックオリフィスから延びてクラッキングオリフィスに終わるクラッキング部と、を形成しており;
基部は第1の外周寸法を有し、前記ネックオリフィスは第2の外周寸法を有しており、第2の外周寸法は前記第1の外周寸法よりも小さくなっており;
前記加熱器は、前記壁構造体の基部に隣接して配置した第1の加熱部材と、前記壁構造のクラッキング部に隣接して配置した第2の加熱部材とを備え、前記第2の加熱部材は、物質がクラッキング部を通過する際に前記物質を分解するに十分な温度に前記クラッキング部を加熱し、
前記壁構造体の基部は側壁と底壁とを備え、前記底壁が前記側壁に対して鋭角を成している、
ことを特徴とする分解流出セル。A decomposition spill cell that heats and decomposes material deposited on a substrate is:
A support assembly with a mounting flange ;
Equipped with a outflow assembly body connected to the support assembly,
The outflow assembly includes a container that holds the substance, and a heater that surrounds at least a part of the container to heat the substance in the container, and the container has a hard wall that surrounds an internal space. The integrally constructed wall structure comprising a structure and made of pyrolytic boron nitride includes a base and a neck provided at the base and having a negative draft angle extending from the base and ending at a neck orifice And a cracking portion extending from the neck orifice and ending at the cracking orifice;
The base has a first outer dimension, the neck orifice has a second outer dimension, and the second outer dimension is smaller than the first outer dimension;
The heater includes a first heating member disposed adjacent to a base portion of the wall structure, and a second heating member disposed adjacent to a cracking portion of the wall structure, and the second heating member. The member heats the cracking part to a temperature sufficient to decompose the substance as the substance passes through the cracking part;
The base of the wall structure comprises a side wall and a bottom wall, the bottom wall forming an acute angle with respect to the side wall;
A decomposition spill cell characterized by that.
取り付けフランジと、前記フランジから延びた少なくとも1の支持ポストとを備えた支持組体と、
前記少なくとも1の支持ポストに連結されたヘッド組体と、
を備えており、
前記ヘッド組体は、前記物質を保持する容器と、前記容器内の前記物質を加熱するため前記容器の少なくとも一部を取り囲む加熱器とを備えており、前記容器は、内部空間を囲む硬い壁構造体を含んでおり、熱分解性窒化硼素から成る一体に構成された当該壁構造体は、基部と、前記基部に設けられたネック部とを有しており、
当該ネック部は負のドラフト角を有しかつ前記基部から延びてネックオリフィスに終り、前記基部は第1の外周寸法を有し、前記ネックオリフィスは第2の外周寸法を有しており、第2の外周寸法は前記第1の外周寸法よりも小さくなっており、
前記壁構造体の基部は側壁と底壁とを備え、前記底壁が前記側壁に対して鋭角を成している、
ことを特徴とする流出セル。The outflow cell that heats the material deposited on the substrate is:
A support assembly comprising a mounting flange and at least one support post extending from said flange;
A head assembly coupled to the at least one support post;
With
The head assembly includes a container that holds the substance, and a heater that surrounds at least a part of the container to heat the substance in the container, and the container has a hard wall that surrounds an internal space. includes a structure, pyrolytic nitride consisting boron integrally constructed the the wall structure has a base portion, a neck portion provided on the base,
The neck has a negative draft angle and extends from the base to the neck orifice, the base has a first outer dimension, the neck orifice has a second outer dimension, The outer peripheral dimension of 2 is smaller than the first outer peripheral dimension ,
The base of the wall structure comprises a side wall and a bottom wall, the bottom wall forming an acute angle with respect to the side wall;
An outflow cell characterized by that.
取り付けフランジを備えた支持組体と、A support assembly with a mounting flange;
支持組体に連結された流出組体と、を備えており、An outflow assembly coupled to the support assembly,
前記流出組体は、前記物質を保持する容器と、前記容器内の前記物質を加熱するため前記容器の少なくとも一部を取り囲む加熱器とを備えており、前記容器は、内部空間を囲む硬い壁構造体を含んでおり、熱分解性窒化硼素から成る一体に構成された当該壁構造体は、基部と、前記基部に設けられ、前記基部から延びてネックオリフィスに終る負のドラフト角を有するネック部と、前記ネックオリフィスから延びて出口オリフィスに終わるクラッキング部と、を形成しており;The outflow assembly includes a container that holds the substance and a heater that surrounds at least a part of the container to heat the substance in the container, and the container has a hard wall that surrounds an internal space. The integrally constructed wall structure comprising a structure and made of pyrolytic boron nitride has a base and a negative draft angle provided at the base and extending from the base to the neck orifice. And a cracking portion extending from the neck orifice and ending at the exit orifice;
基部は第1の外周寸法を有し、前記ネックオリフィスは第2の外周寸法を有しており、第2の外周寸法は前記第1の外周寸法よりも小さくなっており;The base has a first outer dimension, the neck orifice has a second outer dimension, and the second outer dimension is smaller than the first outer dimension;
前記加熱器は、前記壁構造体の基部に隣接して配置した第1の加熱部材と、前記壁構造のクラッキング部に隣接して配置した第2の加熱部材とを備え、前記第2の加熱部材は、物質がクラッキング部を通過する際に前記物質を分解するに十分な温度に前記クラッキング部を加熱し、The heater includes a first heating member disposed adjacent to a base portion of the wall structure, and a second heating member disposed adjacent to a cracking portion of the wall structure, and the second heating member. The member heats the cracking part to a temperature sufficient to decompose the substance as the substance passes through the cracking part;
前記壁構造体は縦方向の軸を有しており、前記ネック部が前記縦方向の軸に対して約30°から45°の角度を形成している、The wall structure has a longitudinal axis, and the neck portion forms an angle of about 30 ° to 45 ° with respect to the longitudinal axis.
ことを特徴とする分解流出セル。A decomposition spill cell characterized by that.
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