JP4195941B2 - Film forming apparatus, film forming method and film forming member - Google Patents
Film forming apparatus, film forming method and film forming member Download PDFInfo
- Publication number
- JP4195941B2 JP4195941B2 JP2006212173A JP2006212173A JP4195941B2 JP 4195941 B2 JP4195941 B2 JP 4195941B2 JP 2006212173 A JP2006212173 A JP 2006212173A JP 2006212173 A JP2006212173 A JP 2006212173A JP 4195941 B2 JP4195941 B2 JP 4195941B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- powder
- film forming
- film
- electrodes
- space
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 89
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 43
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 30
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 30
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 33
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 2
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003319 Araldite® Polymers 0.000 description 1
- 229920001342 Bakelite® Polymers 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002441 CoNi Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000684 Cobalt-chrome Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004166 TaN Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910034327 TiC Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010169 TiCr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010340 TiFe Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004637 bakelite Substances 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003738 black carbon Substances 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010952 cobalt-chrome Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 1
- 235000012489 doughnuts Nutrition 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910003465 moissanite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002843 nonmetals Chemical class 0.000 description 1
- 238000009206 nuclear medicine Methods 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JMANVNJQNLATNU-UHFFFAOYSA-N oxalonitrile Chemical compound N#CC#N JMANVNJQNLATNU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 1
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 1
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 description 1
- IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N rubidium atom Chemical compound [Rb] IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
Description
本発明は、被膜が形成された基板等の被膜形成部材、前記被膜形成部材の表面に被膜を
形成する(コーティングを行う)被膜形成装置および被膜形成方法に関し、特に、電極間
に高電圧を印加して粉体を電極間で往復動させることにより粉体材料の被膜が形成された
被膜形成部材、被膜形成装置および被膜形成方法に関する。
The present invention relates to a film forming member such as a substrate on which a film is formed, a film forming apparatus and a film forming method for forming a film on the surface of the film forming member, and in particular, a high voltage is applied between electrodes. The present invention relates to a film forming member, a film forming apparatus, and a film forming method in which a powder material film is formed by reciprocating powder between electrodes.
基板表面に電気回路を形成したり、部材表面の保護や潤滑性、磨耗性等の改質等するた
めに、部材表面に様々な材料の被膜を形成する(コーティングを行う)ことは従来から広
く行われている。前記被膜を形成する方法としては、電気鍍金(電気メッキ)や無電解メ
ッキ、真空蒸着等が主に行われている。
電気メッキや無電解メッキは、被膜材料が含まれる溶液中に被膜を形成したい被膜形成
部材(基板等)を浸漬して、金属を析出させて被膜を形成している(コーティングを行っ
ている)。しかし、この方法では、溶液を使用するため、溶液中に含まれる被膜材料の回
収、再使用が困難であり、また、有害なメッキ液を使用する場合、廃液の後処理の必要が
あり、公害の問題がある。また、電気メッキでは金属を析出させる際の消費電力が大きく
、大規模な施設も必要であるため、高コストであるという問題もある。
It has been widely used to form a coating of various materials on the surface of a member in order to form an electric circuit on the surface of the substrate, or to improve the protection, lubricity, and abrasion of the member surface. Has been done. As a method for forming the film, electroplating (electroplating), electroless plating, vacuum deposition, or the like is mainly performed.
In electroplating and electroless plating, a film-forming member (substrate, etc.) to form a film is immersed in a solution containing a film material, and a film is formed by depositing metal (coating is performed). . However, since this method uses a solution, it is difficult to recover and reuse the coating material contained in the solution. Also, when using a harmful plating solution, it is necessary to perform a post-treatment of the waste solution. There is a problem. In addition, electroplating consumes a large amount of power when depositing metal and requires a large-scale facility.
また、真空蒸着は、レーザー照射や熱源による加熱等により被膜材料を真空中に蒸発さ
せて、被膜形成部材に被膜材料を凝集、析出させてコーティングを行っているが、真空ポ
ンプのような動力や施設が必要となり、コストが高くなるという問題もある。さらに、電
気メッキや真空蒸着では被膜形成基板と被膜との密着性がそれほど高くないという問題も
ある。
このような問題を解決するために、下記の従来技術(J01)が公知である。
(J01)特許文献1(特開平6−158350号公報)、特許文献2(特開2000−1
7455号公報)記載の技術
特許文献1,2には、対向する一対の電極間に形成された密閉空間内に粉体を収容し、
密閉空間を真空排気した状態で、電極間に放電が発生せず且つ粉体が電極間で往復動する
高電圧(25kV程度)を印加することで、粉体が電極または電極表面に支持された被膜
形成部材に粉体を衝突させて粉体の一部を埋め込むことで、粉体材料の被膜を形成する技
術が記載されている。なお、特許文献2には、真空排気しなくても粉体を往復動させられ
ることが記載されている。
In vacuum deposition, the coating material is evaporated in vacuum by laser irradiation or heating with a heat source, and the coating material is aggregated and deposited on the coating forming member. There is also a problem that facilities are required and the cost becomes high. Furthermore, there is a problem that the adhesion between the film forming substrate and the film is not so high in electroplating or vacuum deposition.
In order to solve such a problem, the following prior art (J01) is known.
(J01) Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 6-158350), Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-1)
In the
The powder was supported on the electrode or the electrode surface by applying a high voltage (about 25 kV) in which the discharge was not generated between the electrodes while the sealed space was evacuated and the powder reciprocated between the electrodes. A technique is described in which a film of powder material is formed by embedding a part of the powder by colliding the powder with a film forming member.
(従来技術の問題点)
前記従来技術(J01)では、減圧する場合でもしない場合でも、形成される被膜は、粉
体材料の被膜に限定されるため、形成したい被膜の材料組成の粉体を準備する必要があり
、形成可能な被膜の材料が限定されるという問題があった。
(Problems of conventional technology)
In the prior art (J01), since the coating film to be formed is limited to the powder material film, whether or not the pressure is reduced, it is necessary to prepare a powder having the material composition of the coating film to be formed. There is a problem that the material of the possible coating is limited.
本発明は、前述の事情に鑑み、電極間で粉体を往復動させて被膜を形成する技術におい
て、使用する粉体の材料とは異なる材料製の被膜を形成することを技術的課題とする。
In view of the circumstances described above, the present invention has a technical problem of forming a film made of a material different from the powder material to be used in the technique of forming a film by reciprocating powder between electrodes. .
前記技術的課題に鑑み、本願発明者が鋭意実験、研究した結果、本願発明者が以前出願
した金属被膜の作成装置(特開平6−158350号公報、特開2000−17455号
公報参照)において、減圧していた空間にガスを供給して昇圧しても、連続的に放電が発
生しなければ、減圧していた場合と同様に被膜が形成できるとの知見および形成される被
膜の材料組成が変化するとの知見を得て、本発明をするに至った。
In view of the above technical problems, the inventors of the present application have conducted intensive experiments and studies, and as a result, the present inventors have previously filed a metal film creation device (see JP-A-6-158350 and JP-A-2000-17455). Even if gas is supplied to the decompressed space and the pressure is increased, if discharge does not occur continuously, the knowledge that the coating can be formed as in the case of decompression and the material composition of the formed coating The knowledge that it changed was obtained, and it came to make this invention.
(本発明)
(第1発明)
前記技術的課題を解決するために、第1発明の被膜形成装置は、
少なくとも一対の電極と、
前記電極間に配置された絶縁部材と、
前記電極および前記絶縁部材により形成された空間に収容された粉体と、
前記空間に大気圧よりも高いガス圧であり且つ粉体を変質させる媒質ガスを供給する前記ガス供給装置と、
前記電極に電圧を印加することにより、前記空間内で放電させずに、前記粉体を前記電極間で往復動させる電源装置と、
を備えたことを特徴とする。
(Invention)
(First invention)
In order to solve the above technical problem, the film forming apparatus of the first invention is:
At least a pair of electrodes;
An insulating member disposed between the electrodes;
Powder accommodated in a space formed by the electrode and the insulating member;
The gas supply device for supplying a medium gas having a gas pressure higher than atmospheric pressure and altering powder into the space;
A power supply device for reciprocating the powder between the electrodes without applying a voltage to the electrodes without discharging in the space ;
It is provided with.
(第1発明の作用)
前記構成要件を備えた第1発明の被膜形成装置では、少なくとも一対の電極と前記電極間に配置された絶縁部材とにより形成された空間には、粉体が収容されている。前記ガス供給装置は、前記空間に大気圧よりも高いガス圧であり且つ前記粉体を変質させる媒質ガスを供給する。電源装置は、前記電極に電圧を印加することにより、前記空間内で放電させずに、前記粉体を前記電極間で往復動させる。したがって、媒質ガスが供給された空間内で往復動する粉体が、衝突する際に埋め込まれる形で被膜が形成される。このとき、粉体の材料が媒質ガスにより変質するため、使用する粉体の材料とは異なる材料製の被膜を形成することができる。
(Operation of the first invention)
In the film forming apparatus according to the first aspect of the present invention having the above-described constituent elements, powder is accommodated in a space formed by at least a pair of electrodes and an insulating member disposed between the electrodes. The gas supply device supplies a medium gas having a gas pressure higher than atmospheric pressure and denatures the powder to the space. The power supply device applies a voltage to the electrodes to reciprocate the powder between the electrodes without discharging in the space . Accordingly, the coating film is formed in such a manner that the powder reciprocating in the space supplied with the medium gas is embedded when colliding. At this time, since the powder material is altered by the medium gas, a coating film made of a material different from the powder material to be used can be formed.
さらに、第1発明の被膜形成装置において、
前記電極どうしが対向する側の面に支持され、前記被膜が形成される被膜形成部材、
を備えることも可能である。
この場合、前記電極どうしが対向する側の面に支持された被膜形成部材に前記被膜を形
成できる。
Furthermore, in the film forming apparatus of the first invention,
A film-forming member on which the electrodes are supported, and the film is formed;
Can also be provided.
In this case, the coating film can be formed on the coating film forming member supported on the surface where the electrodes face each other.
また、前記第1発明の被膜形成装置において、
乾燥空気により構成された前記媒質ガスを供給するガス供給装置、
を備えることも可能である。
この場合、容易且つ低コストで入手できる乾燥空気を使用して被膜を形成することがで
きる。
In the film forming apparatus of the first invention,
A gas supply device for supplying the medium gas composed of dry air;
Can also be provided.
In this case, the coating can be formed using dry air that is easily available at low cost.
(第2発明)
前記技術的課題を解決するために第2発明の被膜形成方法は、
少なくとも一対の電極および前記電極間に配置された絶縁部材により形成された空間に、粉体および大気圧よりも高いガス圧であり且つ前記粉体を変質させる媒質ガスを収容して、前記電極間に、前記空間内で放電させずに前記粉体を往復動させる電圧を印加することにより、前記媒質ガスと化合した粉体材料の被膜を形成することを特徴とする。
(Second invention)
In order to solve the technical problem, the film forming method of the second invention comprises:
In a space formed by at least a pair of electrodes and an insulating member disposed between the electrodes, a medium gas having a gas pressure higher than atmospheric pressure and denatured the powder is accommodated between the electrodes. In addition, a film of powder material combined with the medium gas is formed by applying a voltage for reciprocating the powder without discharging in the space .
(第2発明の作用)
前記構成要件を備えた第2発明の被膜形成方法では、少なくとも一対の電極および前記電極間に配置された絶縁部材により形成された空間に、粉体および大気圧よりも高いガス圧であり且つ前記粉体を変質させる媒質ガスを収容して、前記電極間に、前記空間内で放電させずに前記粉体を往復動させる電圧を印加することにより、前記媒質ガスと化合した粉体材料の被膜を形成する。したがって、第2発明の被膜形成方法により、使用する粉体の材料とは異なる材料製の被膜を形成することができる。
(Operation of the second invention)
In the film forming method according to the second aspect of the present invention having the above structural requirements, the space formed by at least the pair of electrodes and the insulating member disposed between the electrodes has a gas pressure higher than the powder and atmospheric pressure and A coating of a powder material combined with the medium gas by containing a medium gas for modifying the powder and applying a voltage between the electrodes to reciprocate the powder without discharging in the space. Form. Accordingly, a film made of a material different from the powder material to be used can be formed by the film forming method of the second invention.
また、前記第2発明の被膜形成方法において、前記電極どうしが対向する側の面に支持
された被膜形成部材に被膜を形成することも可能である。
すなわち、電極そのものに被膜が形成されず、基板等の被膜を形成したい被膜形成部材
に、粉体材料とは異なる材料製の被膜を形成することができる。
In the film forming method of the second invention, it is also possible to form a film on a film forming member supported on the surface on which the electrodes face each other.
That is, no film is formed on the electrode itself, and a film made of a material different from the powder material can be formed on a film forming member on which a film such as a substrate is to be formed.
前述の本発明は、使用する粉体の材料とは異なる材料製の被膜を形成することができる
。
The above-mentioned present invention can form a film made of a material different from the material of the powder to be used.
次に図面を参照しながら、本発明の実施の形態の具体例(実施例)を説明するが、本発
明は以下の実施例に限定されるものではない。
なお、以下の図面を使用した説明において、理解の容易のために説明に必要な部材以外
の図示は適宜省略されている。
Next, specific examples (examples) of the embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited to the following examples.
In the following description using the drawings, illustrations other than members necessary for the description are omitted as appropriate for easy understanding.
図1は本発明の実施例1の被膜形成装置の全体説明図である。
図1において、本発明の実施例1の被膜形成装置1は、媒質ガスを供給するガス供給装
置D1と排気装置(真空ポンプ)D2とが接続された被膜形成室R内に支持された板状の
ベース2を有する。前記ベース2上には、第1電極部材3が支持されており、前記第1電
極部材3の上方には、第1電極部材3に対向して第2電極部材4が配置されている。なお
、実施例1では、前記電極部材3,4は、真鍮により構成されており、電極3,4間の距
離は10mm(=1cm)に設定されているが、前記材料や距離は設計や仕様等に応じて
任意に変更可能である。
前記一対の電極部材3,4には、電源装置Eが接続されている。前記各電極部材3,4
の対向する側の面には、非導電性の板状の被膜形成部材(被コーティング材)6,7が固
定支持されている。
FIG. 1 is an overall explanatory view of a film forming apparatus according to a first embodiment of the present invention.
In FIG. 1, a film forming apparatus 1 according to a first embodiment of the present invention is a plate-like member supported in a film forming chamber R to which a gas supply device D1 for supplying a medium gas and an exhaust device (vacuum pump) D2 are connected. The
A power supply device E is connected to the pair of
Non-conductive plate-like film forming members (materials to be coated) 6 and 7 are fixedly supported on the surfaces on the opposite sides.
前記一対の前記被膜形成部材6,7の内側にはリング状の絶縁部材8が挟持されている
。前記一対の電極部材3,4(より正確には被膜形成部材6,7)および絶縁部材8によ
り囲まれた空間により粉体Fが収容される粉体収容空間9が構成されている。なお、実施
例1では、前記絶縁部材8は、内周が直径25cmのリング状に形成されているが、直径
は設計等に応じて任意に変更可能である。また、前記絶縁部材8として、ガラスが使用さ
れているが、材料は特に限定されず、任意の絶縁性の部材(セラミック、樹脂等)を採用
可能である。
A ring-shaped insulating
前記ベース2の端部には、支柱11が支持されており、支柱11の先端部には第2電極
部材4側に延びるアーム12がネジ止めされている。前記アーム12の先端部には、軸部
材13が上下方向に移動可能に支持されている。軸部材13の下端には前記第2電極部材
4の上面に接触する板状の押圧部材14が支持されている。前記軸部材13には、前記押
圧部材14とアーム12との間にスプリング16が装着されており、押圧部材14を常時
下方に付勢する。したがって、前記押圧部材により第2電極部材4は第1電極部材3側に
押圧され、粉体Fが外部に漏出しないように粉体収容空間9が密閉される。
A
(実施例1の作用)
前記構成を備えた実施例1の被膜形成装置1では、粉体収容空間9に粉体Fを収容した
状態で、被膜形成室Rを排気装置D2により排気後、ガス供給装置D1によりガスを供給
して所定の圧力まで被膜形成室R、すなわち、粉体収容空間9の圧力を上昇させる。この
状態で、電源装置Eにより電極3,4間に、放電しない程度の所定の電圧値以上の高電圧
を印加して、電極3,4間で粉体Fを振動(往復動)させる。電極3,4で往復動する粉
体Fは、高いエネルギーを持って被膜形成部材6,7に衝突するため、衝突時に粉体Fが
被膜形成部材6,7表面に準融解状態で埋め込まれる。このとき、粉体Fは、電極3,4
間での往復動時に粉体どうしの衝突により、往復方向に垂直な面内の速度成分を有するた
め、速やかに粉体収容空間9内にほぼ均一に拡散する。
この結果、形成される被膜は、埋め込みによる高い密着力を持つとともに、粉体Fの対
向電極間での直進運動により被膜形成部材6,7の表面全面にほぼ均一な膜厚に形成され
る。なお、高電圧が印加されると粉体Fが振動し、被膜が形成される原理は、前記特許文
献1,2に記載されているように従来公知であるので、詳細な説明は省略する。また、前
記特許文献1,2に記載されているように、電源装置Eにより印加される電圧は、粉体F
の速度を加速していくために、少しずつ印加電圧を高めていく(例えば、1分につき0.
1kV/cm)ことが望ましい。
(Operation of Example 1)
In the film forming apparatus 1 according to the first embodiment having the above-described configuration, the film forming chamber R is evacuated by the exhaust apparatus D2 in a state where the powder F is accommodated in the powder
Due to the collision of the powders during reciprocation between them, the powder has a velocity component in a plane perpendicular to the reciprocating direction, and thus diffuses almost uniformly into the powder
As a result, the film to be formed has a high adhesion force due to embedding, and is formed to have a substantially uniform film thickness over the entire surface of the
The applied voltage is gradually increased in order to accelerate the speed (for example, 0. 1 per minute).
1 kV / cm) is desirable.
(実験例)
次に、実際に実施例1の被膜形成装置1を使用して得られる被膜について実験を行った
。
(実験例1)
実験例1では、実施例1の被膜形成装置1を使用し、試料(粉体F)としてクロム(C
r)金属を40mg使用した。また、媒質ガスとして3気圧の乾燥した空気を使用し、印
加電圧は24kVとした。そして、被膜形成装置1を25時間稼働させた。
(実験例2)
実験例2では、実験例1において、10−3torr程度に真空排気した以外は、実験例1
と同様の条件で実験を行った。
(実験例3)
実験例3では、使用する試料(粉体F)が炭素(C)粉末を10mgとし、装置1の稼
働時間が7時間である以外は、実験例1と同様の条件で実験を行った。
(実験例4)
実験例4では、実験例3において、10−3torrに真空排気した以外は、実験例3と同
様の条件で実験を行った。
(Experimental example)
Next, an experiment was conducted on a film actually obtained by using the film forming apparatus 1 of Example 1.
(Experimental example 1)
In Experimental Example 1, the coating film forming apparatus 1 of Example 1 was used, and chromium (C
r) 40 mg of metal was used. Further, dry air of 3 atm was used as the medium gas, and the applied voltage was 24 kV. And the film formation apparatus 1 was operated for 25 hours.
(Experimental example 2)
In Experimental Example 2, Experimental Example 1 was the same as Experimental Example 1 except that the vacuum was evacuated to about 10 −3 torr.
The experiment was carried out under the same conditions as above.
(Experimental example 3)
In Experimental Example 3, the experiment was performed under the same conditions as in Experimental Example 1 except that the sample (powder F) used was 10 mg of carbon (C) powder and the operation time of the apparatus 1 was 7 hours.
(Experimental example 4)
In Experimental Example 4, the experiment was performed under the same conditions as in Experimental Example 3, except that in Example 3, the vacuum was exhausted to 10 −3 torr.
図2は実験例1〜4の結果の一覧表である。
図2において、前記実験例1、2を比較すると、真空排気された場合には金属光沢を有
する金属クロム(Cr)の被膜が形成されたが、高圧媒質ガス(3気圧の乾燥空気)を使
用した場合では、紺色の被膜が観測された。前記紺色の被膜に、加速器からのαイオンビ
ームを照射し、発生したX線を高分解能Si半導体検出器で計測したところ、Cr(クロ
ム)と、O(酸素)と、N(窒素)の元素のピークスペクトルが観測され、これらの化合
物の被膜(あるいは、各元素が分散した被膜)であることが確認された。したがって、粉
体Fのクロムと、空気中の酸素(O2)や窒素(N2)が反応または含有された被膜が形
成されたものと考察される。
FIG. 2 is a list of results of Experimental Examples 1 to 4.
In FIG. 2, when the experimental examples 1 and 2 are compared, a metal chromium (Cr) film having a metallic luster is formed when evacuated, but a high-pressure medium gas (3 atmospheres of dry air) is used. In this case, a dark blue film was observed. The amber film is irradiated with an α ion beam from an accelerator, and the generated X-rays are measured with a high-resolution Si semiconductor detector. The elements of Cr (chromium), O (oxygen), and N (nitrogen) The peak spectrum was observed, and it was confirmed that the film was a film of these compounds (or a film in which each element was dispersed). Therefore, it is considered that a film in which chromium of powder F and oxygen (O 2 ) or nitrogen (N 2 ) in the air reacted or contained was formed.
また、実験例3,4を比較すると、真空排気された場合には黒色の炭素(カーボン、C
)の被膜が形成されたが、高圧媒質ガス(3気圧の乾燥空気)を使用した場合では、金属
光沢(メタル色)の被膜が形成された。前記被膜をシリコン半導体検出器で検出したとこ
ろ、C(炭素)と、O(酸素)と、N(窒素)が観測され、これらの化合物の被膜である
ことが確認された。
なお、実験例1〜4において、被膜表面に、フックを付けた1cm×1cm×1cmの
大きさのベークライト板を接着剤(アロンアルファ(登録商標)あるいはアラルダイト(
登録商標))で接着して、フックに70kgのおもりを付けて吊り下げたが、いずれの被
膜も剥離されず、高い密着性を示した。
また、実験例1,3で形成された被膜の表面の摩擦抵抗は、実験例2,4の場合に比べ
て摩擦抵抗が小さいことが確認され、また、耐摩耗性も実験例1,3の方が優れているこ
とが確認された。
In addition, when Experimental Examples 3 and 4 are compared, when evacuated, black carbon (carbon, C
When a high-pressure medium gas (3 atm dry air) was used, a metallic luster (metal color) film was formed. When the film was detected with a silicon semiconductor detector, C (carbon), O (oxygen), and N (nitrogen) were observed, and the film was confirmed to be a film of these compounds.
In Experimental Examples 1 to 4, a bakelite plate having a size of 1 cm × 1 cm × 1 cm with a hook attached to the surface of the coating was bonded with an adhesive (Aron Alpha (registered trademark) or Araldite (
(Registered Trademark))) and a hook with a weight of 70 kg was suspended, and none of the coating films were peeled off, showing high adhesion.
Further, it was confirmed that the frictional resistance of the surface of the coating formed in Experimental Examples 1 and 3 was smaller than that in Experimental Examples 2 and 4, and the wear resistance was also the same as in Experimental Examples 1 and 3. It was confirmed that it was better.
したがって、実施例1の被膜形成装置1では、高圧媒質ガスを使用することにより、粉
体材料Fに対する媒質ガスの作用により、粉体Fの材料とは異なる特性を有する材料組成
の被膜を形成することができる。
また、実施例1の被膜形成装置1では、電極3,4間での往復動により、被膜が形成さ
れるので、電気メッキのように溶液等が必要なく、環境に優しい。また、メッキを析出さ
せるための大電力が必要ないので省電力、低コスト化できる。さらに、粉体収容空間9が
密閉されているので、残った粉体Fも損失が少なく、室温で被膜が形成されるので、早く
容易に回収でき、再利用することも比較的容易にできる。また、実施例1の被膜形成装置
1では、粉体Fの衝突により、材料が埋め込まれるような状態で被膜が形成されるので、
高い密着性を有する被膜を形成することができる。特に、電極3,4間に電圧が印加され
、被膜形成部材6,7の材料は、導電性、非導電性等の限定がなく、任意の材料(金属、
非金属、樹脂、セラミック、木材、ゴム等)とすることができるので、任意の材料製の被
膜形成部材6,7表面に被膜を形成することができる。
Therefore, in the film forming apparatus 1 of Example 1, by using the high-pressure medium gas, a film having a material composition having characteristics different from the material of the powder F is formed by the action of the medium gas on the powder material F. be able to.
Moreover, in the film forming apparatus 1 of Example 1, since a film is formed by the reciprocation between the
A film having high adhesion can be formed. In particular, a voltage is applied between the
Non-metal, resin, ceramic, wood, rubber, etc.), and thus a film can be formed on the surface of the
また、実施例1の被膜形成装置1では、電極3,4間で粉体Fが往復動する際に、粉体
Fどうしの衝突や摩擦、被膜形成部材6,7との衝突により、粉体Fが変形したり角が取
れて、球状に加工できる。したがって、被膜を形成しつつ、残った粉体である球状の微粒
子を作成することも可能である。
Further, in the coating film forming apparatus 1 of Example 1, when the powder F reciprocates between the
図3は実施例2の被膜形成装置の説明図であり、図3Aは電源装置による電圧印加開始
前の状態の説明図、図3Bは電源装置による電圧印加開始後の状態の説明図である。
なお、この実施例2の説明において、前記実施例1の構成要素に対応する構成要素には
下一桁に同じ符号を付して、その詳細な説明を省略する。
この実施例2は、下記の点で前記実施例1と相違しているが、他の点では前記実施例1
と同様に構成されている。
FIG. 3 is an explanatory diagram of the film forming apparatus of Example 2, FIG. 3A is an explanatory diagram of a state before starting voltage application by the power supply device, and FIG. 3B is an explanatory diagram of a state after starting voltage application by the power device.
In the description of the second embodiment, components corresponding to the components of the first embodiment are denoted by the same reference numerals in the last digit, and detailed description thereof is omitted.
The second embodiment is different from the first embodiment in the following points, but in other points, the first embodiment.
It is configured in the same way.
図3において、実施例2の被膜形成装置21は、チューブ状(円筒状)の第1電極部材
22と、第1電極部材22の円筒の軸に沿って配置されたワイヤ状(円柱状)の第2電極
部材23とを有する。前記第1電極部材22の内周面および第2電極部材23の外周面に
は、それぞれ非導電性の被膜形成部材26,27が支持されている。前記電極部材22,
23の軸方向一端部には、絶縁部材としての一端壁28が固定支持されている。また、軸
方向他端部には、絶縁部材としての他端壁29が着脱可能に支持されており、他端壁29
と各電極部材22,23との接続部には、密閉用のパッキン31,32が配置されている
。前記第2電極部材23の他端部には、ネジが形成されており、他端壁29を貫通した第
2電極部材23の他端部のネジにナット33を着脱することで、他端壁29を着脱できる
。前記第1電極部材22と第2電極部材23には、電源装置Eが接続され、高電圧が印加
される。したがって、実施例2では、電極22,23は対向して配置されており、電極2
2,23(より正確には被膜形成部材26,27)および両端壁28,29により囲まれ
た空間により粉体Fを収容する粉体収容空間34が構成されている。
In FIG. 3, the
One
Sealing
2 and 23 (more precisely, the
(実施例2の作用)
前記構成を備えた実施例2の被膜形成装置21では、他端壁29を外して、粉体収容空
間34の他端部に粉体Fを収容した状態(図3A参照)で他端壁29を装着し、ガス供給
後、電源装置Eにより高電圧を印加すると、粉体Fが電極22,23の間で往復動を開始
する。このとき、粉体Fどうしの衝突等により、粉体Fはドーナツ状の粉体収容空間34
の軸方向および周方向に速やかに拡散していく。そして、粉体Fの被膜形成部材26,2
7への衝突により、被膜形成部材26,27に被膜を形成することができる。したがって
、実施例2の被膜形成装置21では、実施例1のような平板状の被膜形成部材6,7だけ
でなく、チューブ状の被膜形成部材26またはワイヤチューブ状の被膜形成部材27にも
被膜を形成することができる。その他、実施例2の被膜形成装置21は、実施例1の被膜
形成装置1と同様の作用、効果を有する。
(Operation of Example 2)
In the
It quickly diffuses in the axial direction and circumferential direction. And the
7, the film can be formed on the
(変更例)
以上、本発明の実施例を詳述したが、本発明は、前記実施例に限定されるものではなく
、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で、種々の変更を行うことが可能で
ある。本発明の変更例を下記に例示する。
(H01)前記実施例において、粉体収容空間9,34に、媒質ガスとして乾燥空気を供給
する場合を例示したが、乾燥空気に限定されず、粉体Fの材料に応じて、粉体Fと反応す
るガス(O2、N2、シアンガス、アンモニアガス等、または、これらの混合ガス)を供
給することも可能である。また、媒質ガスの圧力は、任意に変更可能であり、大気圧より
も低い圧力とすることも可能であるが、大気圧より高く、印加電圧との関係で放電しない
程度の圧力(例えば、15気圧程度)にすることができる。
(Example of change)
As mentioned above, although the Example of this invention was explained in full detail, this invention is not limited to the said Example, A various change is performed within the range of the summary of this invention described in the claim. It is possible. Examples of modifications of the present invention are illustrated below.
(H01) In the above-described embodiment, the case where dry air is supplied as the medium gas to the powder
(H02)前記実施例において、粉体としてCr(クロム)やC(炭素)を例示したが、こ
れに限定されず、任意の金属材料、金属化合物、非金属材料、非金属化合物、あるいは、
有機材料、樹脂材料、セラミックス等の電圧印加時に往復動する任意の材料を使用可能で
ある。例えば、Mo(モリブデン)、W(タングステン)、Hf(ハフニウム)、Ta(
タンタル)、Si(シリコン)、Ti(チタン)、Be(ベリリウム)、B(ホウ素)、
Al(アルミニウム)、V(バナジウム)、Mn(マンガン)、Fe(鉄)、Co(コバ
ルト)、Ni(ニッケル)、Cu(銅)、Ge(ゲルマニウム)、Rb(ルビジウム)、
Y(イットリウム)、Zr(ジルコニウム)、Nb(ニオブ)、Ru(ルテニウム)、R
h(ロジウム)、Pd(パラジウム)、Sn(スズ)、Re(レニウム)、Os(オスミ
ウム)、Ir(イリジウム)、Pb(鉛)、Bi(ビスマス)等が挙げられる。また、化
合物としては、ステンレス、Cr2N、TiN、TiC、CoCr、CoNi、Al2O
3、TaN、NiCr、SiC、TiCr、TiFe等が挙げられる。なお、これら複数
の材料を同時に使用し、複数の材料と媒質ガスの化合物や各材料が混合された層状の被膜
を形成することも可能である。
(H02) In the above examples, Cr (chromium) or C (carbon) is exemplified as the powder, but is not limited thereto, and any metal material, metal compound, nonmetal material, nonmetal compound, or
Any material that reciprocates when a voltage is applied, such as an organic material, a resin material, and ceramics, can be used. For example, Mo (molybdenum), W (tungsten), Hf (hafnium), Ta (
Tantalum), Si (silicon), Ti (titanium), Be (beryllium), B (boron),
Al (aluminum), V (vanadium), Mn (manganese), Fe (iron), Co (cobalt), Ni (nickel), Cu (copper), Ge (germanium), Rb (rubidium),
Y (yttrium), Zr (zirconium), Nb (niobium), Ru (ruthenium), R
Examples include h (rhodium), Pd (palladium), Sn (tin), Re (rhenium), Os (osmium), Ir (iridium), Pb (lead), Bi (bismuth), and the like. The compound, stainless, Cr 2 N, TiN, TiC , CoCr, CoNi, Al 2 O
3 , TaN, NiCr, SiC, TiCr, TiFe and the like. It is also possible to use a plurality of materials at the same time to form a layered film in which a plurality of materials and a medium gas compound or each material is mixed.
(H03)前記実施例において、被膜形成部材6,7,26,27は設けることが望ましい
が、省略することも可能である。即ち、電極部材そのものを被膜形成部材とすることも可
能である。
(H04)前記実施例において、粉体Fの大きさは、粉体Fの材料(比重等)により異なる
が、電圧印加により往復動可能な程度のサイズにすることができる。例えば、めのう乳鉢
等により粉体Fの大きさを500μm以下程度にすることができる。
(H05)前記実施例において、装置のサイズや印加する電圧は、実施例に例示した値に限
定されず、設計に応じて変更可能である。このとき、電極間の間隔と、電圧は、放電条件
や粉体の往復動と関連するため、放電せず且つ往復動可能な電圧および電極間間隔に設定
することができる。
(H03) In the above embodiment, the
(H04) In the above-described embodiment, the size of the powder F varies depending on the material (specific gravity, etc.) of the powder F, but can be made a size that can be reciprocated by applying a voltage. For example, the size of the powder F can be reduced to about 500 μm or less with an agate mortar or the like.
(H05) In the above embodiment, the size of the device and the voltage to be applied are not limited to the values exemplified in the embodiment, and can be changed according to the design. At this time, since the distance between the electrodes and the voltage are related to the discharge conditions and the reciprocating motion of the powder, it is possible to set the voltage and the distance between the electrodes so as not to discharge and reciprocating.
(H06)前記実施例において、電極部材3,4,22,23は、対向する一対の平板状ま
たはチューブとワイヤとの組み合わせにより構成したが、これに限定されず任意の形状と
することも可能である。例えば、チューブをドーナツ状に湾曲させたり、平板状の第1電
極部材と第2電極部材を交互に積み重ねていって、複数の粉体収容空間9,34を有する
多層構造とすることも可能である。これにより1枚の基板の両面に同時に被膜を形成する
ことも可能である。
(H07)前記実施例において、印加する電圧は直流電圧に交流電圧が重畳された電圧に限
定されず、交流電圧あるいは直流電圧のみとすることも可能である。
(H08)前記実施例において、排気装置は省略可能である。
(H06) In the above-described embodiment, the
(H07) In the above-described embodiment, the voltage to be applied is not limited to a voltage obtained by superimposing an AC voltage on a DC voltage, and may be only an AC voltage or a DC voltage.
(H08) In the above embodiment, the exhaust device can be omitted.
(H09)前記実施例において、単純なコーティングに限定されず、例えば、被膜形成部材
表面に電気回路のパターンのマスクを貼付した状態で、粉体Fによる被膜の形成を行うこ
とで、マスクのパターンに応じた電気回路を形成することも可能である。
(H010)前記実施例において、被膜形成部材としての薄いセラミック板の表面に導体の
被膜を形成し、絶縁体層と導体層を交互に積層することで、コンデンサーやトランス(変
圧器)のヨーク板(鉄心)にも使用することができる。また導体あるいはセラミック基板
上に高温超伝導体のコーティングを行うことも可能である。
(H09) In the above embodiment, the coating pattern is not limited to a simple coating. For example, a mask pattern is formed by forming a coating film with powder F in a state in which a mask for an electric circuit pattern is applied to the surface of the coating film forming member. It is also possible to form an electric circuit according to the above.
(H010) In the above embodiment, a conductor film is formed on the surface of a thin ceramic plate as a film forming member, and an insulator layer and a conductor layer are alternately laminated, so that a yoke plate of a capacitor or a transformer (transformer) It can also be used for (iron core). It is also possible to coat a high temperature superconductor on a conductor or ceramic substrate.
このような被膜形成装置は、一般的な錆防止用の高耐久性のコーティングや、耐摩耗性
等の高機能下のコーティング、あるいは、真空容器やパイプのコーティング、原子核、放
射光、核物性、核医学(放射線等を利用する医学)等に用いる化合物ターゲット等のコー
ティング等を行うために使用できる。
Such a film-forming device is a highly durable coating for general rust prevention, a coating under high functions such as wear resistance, or a coating for vacuum vessels or pipes, atomic nuclei, synchrotron radiation, nuclear physical properties, It can be used to coat a compound target or the like used in nuclear medicine (medicine using radiation or the like).
1,21…被膜形成装置
2…ベース
3,22…第1電極部材
4,23…第2電極部材
6,7,26,27…被膜形成部材
8,28,29…絶縁部材
9,34…粉体収容空間
11…支柱
12…アーム
13…軸部材
14…押圧部材
16…スプリング
31,32…パッキン
33…ナット
D1…ガス供給装置
D2…排気装置
F…粉体
R…被膜形成室
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記電極間に配置された絶縁部材と、
前記電極および前記絶縁部材により形成された空間に収容された粉体と、
前記空間に大気圧よりも高いガス圧であり且つ粉体を変質させる媒質ガスを供給する前記ガス供給装置と、
前記電極に電圧を印加することにより、前記空間内で放電させずに、前記粉体を前記電極間で往復動させる電源装置と、
を備えたことを特徴とする被膜形成装置。 At least a pair of electrodes;
An insulating member disposed between the electrodes;
Powder accommodated in a space formed by the electrode and the insulating member;
The gas supply device for supplying a medium gas having a gas pressure higher than atmospheric pressure and altering powder into the space;
A power supply device for reciprocating the powder between the electrodes without applying a voltage to the electrodes without discharging in the space ;
A film forming apparatus comprising:
を備えたことを特徴とする請求項1に記載の被膜形成装置。 A film-forming member on which the electrodes are supported, and the film is formed;
The film forming apparatus according to claim 1, further comprising:
を備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の被膜形成装置。 A gas supply device for supplying the medium gas composed of dry air;
The film forming apparatus according to claim 1, further comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006212173A JP4195941B2 (en) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | Film forming apparatus, film forming method and film forming member |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006212173A JP4195941B2 (en) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | Film forming apparatus, film forming method and film forming member |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008038186A JP2008038186A (en) | 2008-02-21 |
| JP4195941B2 true JP4195941B2 (en) | 2008-12-17 |
Family
ID=39173561
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006212173A Active JP4195941B2 (en) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | Film forming apparatus, film forming method and film forming member |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4195941B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5340824B2 (en) * | 2009-06-24 | 2013-11-13 | 多津男 庄司 | Fine particle coating apparatus and fine particle coating method |
-
2006
- 2006-08-03 JP JP2006212173A patent/JP4195941B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2008038186A (en) | 2008-02-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Exner et al. | What happens during thermal post‐treatment of powder aerosol deposited functional ceramic films? Explanations based on an experiment‐enhanced literature survey | |
| KR101932429B1 (en) | Plasma resistant coating layer, method of manufacturing the same and Plasma resistant unit | |
| TWI278523B (en) | Method for manufacturing porous getter devices with reduced particle loss and devices so manufactured | |
| US5486277A (en) | High performance capacitors using nano-structure multilayer materials fabrication | |
| JP6097701B2 (en) | Thermal spray material and method for forming yttrium oxide coating | |
| KR19990063955A (en) | Capacitive thin film using diamond-shaped nanocomposite material | |
| KR20050053629A (en) | Plasma processing container internal member and production method therefor | |
| KR20100101641A (en) | Electrostatic chuck and method of forming | |
| CN109716470A (en) | The manufacturing method of electric contact, connector and electric contact | |
| Shahmohammadi et al. | Transition metal phosphide/molybdenum disulfide heterostructures towards advanced electrochemical energy storage: recent progress and challenges | |
| JP4195941B2 (en) | Film forming apparatus, film forming method and film forming member | |
| Narayanan et al. | Scalable Plasma‐Processed NiMo Electrocatalysts for Efficient Hydrogen Evolution: Enhancement of Catalytic Efficiency through Plasma Surface Modification | |
| JP2000017455A (en) | Method for coating substrate | |
| TW201335393A (en) | Light-transmitting rigid thin film | |
| CN1332266A (en) | Vacuum arc evaporation source and film-forming device using it | |
| JP5578042B2 (en) | Conductive substrate and manufacturing method thereof | |
| JP4399611B2 (en) | Polishing method and polishing apparatus | |
| JP4431795B2 (en) | Spherical particle manufacturing method and spherical particle manufacturing apparatus | |
| JP4292574B2 (en) | Electrostatic chuck and manufacturing method thereof | |
| JP2002260942A (en) | Inorganic covering formation method to bond magnet surface | |
| US3307241A (en) | Process for making cathodes | |
| CN101563480A (en) | Process and apparatus for producing carbonaceous film | |
| RU2295448C2 (en) | Polyethylene terephthalate-based film material | |
| RU2190040C2 (en) | Apparatus for applying coating of powdered materials onto one of electrodes in electric field (variants) | |
| JPH07207449A (en) | Method for manufacturing laminated body |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080612 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080617 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080808 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080902 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |