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JP4196010B2 - Method for bonding glass substrate and semiconductor substrate and method for manufacturing micro relay - Google Patents
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JP4196010B2 - Method for bonding glass substrate and semiconductor substrate and method for manufacturing micro relay - Google Patents

Method for bonding glass substrate and semiconductor substrate and method for manufacturing micro relay Download PDF

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Description

本発明は、ガラス基板と半導体基板とを接合する接合方法、並びに当該接合方法を用いたマイクロリレーの製造方法に関するものである。   The present invention relates to a bonding method for bonding a glass substrate and a semiconductor substrate, and a method for manufacturing a micro relay using the bonding method.

近年、半導体微細加工プロセスにより半導体基板を加工することによって形成される種々のマイクロマシンが提供されており、その一例としてマイクロリレーがある(例えば、特許文献1参照)。   In recent years, various micromachines formed by processing a semiconductor substrate by a semiconductor microfabrication process have been provided, and one example is a microrelay (see, for example, Patent Document 1).

特許文献1に記載されているマイクロリレーは、図8に示すようにガラス基板を加工してなるボディ1と、電磁石装置2と、シリコン基板のような半導体基板を半導体微細加工プロセスにより加工することで形成されるアーマチュアブロック3と、ガラス基板を加工してなるカバー4とを備える。ボディ1の中央部には厚み方向に貫通し電磁石装置2を収納する収納孔16が貫設され、シリコン薄膜(半導体基板)からなる蓋体17をボディ1の一表面側に接合することで収納孔16が閉塞され、収納孔16の内周面と蓋体17とで囲まれる空間に電磁石装置2が収納される。   The micro relay described in Patent Document 1 processes a body 1 formed by processing a glass substrate as shown in FIG. 8, an electromagnet device 2, and a semiconductor substrate such as a silicon substrate by a semiconductor fine processing process. The armature block 3 formed by (1) and the cover 4 formed by processing a glass substrate are provided. A storage hole 16 that penetrates in the thickness direction and stores the electromagnet device 2 penetrates in the center of the body 1, and is stored by bonding a lid body 17 made of a silicon thin film (semiconductor substrate) to one surface side of the body 1. The hole 16 is closed, and the electromagnet device 2 is stored in a space surrounded by the inner peripheral surface of the storage hole 16 and the lid body 17.

一方、アーマチュアブロック3は矩形枠状のフレーム部31と、複数の支持ばね部32を介してフレーム部31に揺動自在に支持されたアーマチュア30とを有し、アーマチュアブロック3を両側から挟むようにしてフレーム部31をボディ1及びカバー4に接合することでマイクロリレーが構成されている。ここで、蓋体17とボディ1、ボディ1及びカバー4とフレーム部31とは陽極接合によって接合される。陽極接合は可動イオンを含むガラスとシリコン基板を密着接合する方法として一般的に用いられており、重ね合わせた基板を加熱してガラス側を軟化させると同時にシリコン側を陽極として両者の間に高電圧を印加することで電気的二重層を発生させ、静電引力により基板同士を接合する方法である。特許文献1に記載されたマイクロリレーにおいては、ボディ1の一表面側全体にシリコン薄膜を陽極接合した後、蓋体17を残してシリコン薄膜を除去するというプロセスで蓋体17とボディ1とが接合される。
特開2005−50768号公報
On the other hand, the armature block 3 includes a frame portion 31 having a rectangular frame shape and an armature 30 supported by the frame portion 31 through a plurality of support spring portions 32 so as to be swingable. The armature block 3 is sandwiched from both sides. A micro relay is configured by joining the frame portion 31 to the body 1 and the cover 4. Here, the lid body 17 and the body 1, the body 1, the cover 4, and the frame portion 31 are joined by anodic bonding. Anodic bonding is generally used as a method for tightly bonding a glass containing mobile ions and a silicon substrate. The laminated substrate is heated to soften the glass side and at the same time use the silicon side as the anode to increase the height between the two. In this method, an electric double layer is generated by applying a voltage, and the substrates are joined together by electrostatic attraction. In the microrelay described in Patent Document 1, after the silicon thin film is anodically bonded to the entire surface of the body 1, the lid 17 and the body 1 are removed by the process of removing the silicon thin film while leaving the lid 17. Be joined.
JP-A-2005-50768

ところで、陽極接合はガラスに含まれる可動イオン(例えば、ナトリウムイオン)が表面に移動することで電気的二重層を発生させてガラスとシリコン基板を接合するものであるから、上記特許文献1に記載された従来例のように、1回目の接合時(蓋体17の接合時)にフレーム部31が接合される部位にもシリコン薄膜(半導体基板)が接合されてしまうと、例えフレーム部31が接合される部位のシリコン薄膜を除去したとしても当該部位において接合に寄与する可動イオンが減少してしまい、2回目の接合時(フレーム部31の接合時)にボディ1とフレーム部31との接合強度が低下するという問題があった。   By the way, since anodic bonding is one in which movable ions (for example, sodium ions) contained in glass move to the surface to generate an electric double layer and bond the glass and the silicon substrate. If the silicon thin film (semiconductor substrate) is also bonded to the portion where the frame portion 31 is bonded at the time of the first bonding (when the lid 17 is bonded) as in the conventional example, the frame portion 31 is Even if the silicon thin film at the part to be joined is removed, the movable ions contributing to the joining at the part are reduced, and the body 1 and the frame part 31 are joined at the second joining (when the frame part 31 is joined). There was a problem that the strength decreased.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、ガラス基板の同一表面に複数回に分けて半導体基板を接合する場合においても2回目以降の接合における接合強度の低下が防止できるガラス基板と半導体基板との接合方法並びにマイクロリレーの製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to prevent a decrease in bonding strength in the second and subsequent bondings even when the semiconductor substrate is bonded to the same surface of the glass substrate in a plurality of times. An object of the present invention is to provide a method for bonding a glass substrate and a semiconductor substrate and a method for manufacturing a microrelay.

請求項1の発明は、上記目的を達成するために、平坦なガラス基板の一表面側に半導体基板を複数回に分けて陽極接合する接合方法であって、第1の半導体基板をガラス基板に接合する前に、第1の半導体基板の一表面であってガラス基板の前記一表面に対向する表面をエッチングすることにより、第1の半導体基板のガラス基板と接合される部位以外の部位の厚みを薄くしてガラス基板の前記一表面との間に隙間を空け、当該隙間によりガラス基板の一表面側において後に別の半導体基板を陽極接合する部位を避けて第1の半導体基板を陽極接合し、当該陽極接合後に少なくとも前記隙間に対応する領域のエッチングを行うことにより第1の半導体基板を所望の形状に形成することを特徴とする。 In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is a bonding method in which a semiconductor substrate is anodically bonded to one surface side of a flat glass substrate in a plurality of times, the first semiconductor substrate being a glass substrate. Before bonding, the thickness of a portion of the first semiconductor substrate other than the portion to be bonded to the glass substrate is etched by etching the surface of the first semiconductor substrate facing the one surface of the glass substrate. the thinned with a gap between the one surface of the glass substrate, the first semiconductor substrate by anodic bonding while avoiding a site at which the anodically bonded to another semiconductor substrate after the one surface of the glass substrate by the gap The first semiconductor substrate is formed into a desired shape by etching at least a region corresponding to the gap after the anodic bonding .

請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記半導体基板のエッチングはドライエッチングとすることを特徴とする。 The invention of claim 2 is characterized in that, in the invention of claim 1, the etching of the semiconductor substrate is dry etching .

請求項3の発明は、上記目的を達成するために、コイルへの励磁電流に応じて磁気吸引力を発生する電磁石装置と、ガラス基板からなり電磁石装置を収納する収納部が設けられ且つ厚み方向の一表面側に固定接点が設けられたボディと、半導体基板からなりボディの前記一表面側に固着される枠状のフレーム部、及びフレーム部の内側に配置されフレーム部に対して揺動自在に支持されるアーマチュア、電磁石装置の磁気吸引力によってアーマチュアが揺動した際に固定接点と接離する可動接点を有するアーマチュアブロックと、ガラス基板からなりアーマチュアブロックにおけるボディとは反対側で周部がフレーム部に固着されるカバーとを備え、厚み方向に貫通する収納孔がボディに設けられ、半導体基板からなる蓋体でボディの前記一表面側から収納孔を塞ぐことにより電磁石装置を収納する収納部が設けられ、ボディの前記一表面側にフレーム部が陽極接合されるとともにフレーム部におけるボディとは反対側でカバーがフレーム部に陽極接合されるマイクロリレーの製造方法であって、蓋体の基礎となる半導体基板をボディに接合する前に、当該半導体基板の一表面であってボディの前記一表面に対向する表面をエッチングすることにより、前記半導体基板の蓋体となる部位以外の部位の厚みを薄くしてボディの前記一表面との間に隙間を空け、当該隙間によりボディの前記一表面側において後にフレーム部を陽極接合する部位を避けて前記半導体基板を陽極接合し、当該陽極接合後に少なくとも前記隙間に対応する領域のエッチングを行うことにより前記半導体基板を蓋体の形状に形成することを特徴とする。 In order to achieve the above object, the invention of claim 3 is provided with an electromagnet device that generates a magnetic attractive force in response to an exciting current to the coil, and a storage portion that is made of a glass substrate and houses the electromagnet device, and in the thickness direction. A body provided with a fixed contact on one surface side, a frame-shaped frame portion made of a semiconductor substrate and fixed to the one surface side of the body, and disposed on the inner side of the frame portion so as to be swingable with respect to the frame portion Armature block supported by the armature block, the armature block having a movable contact that contacts and separates from the fixed contact when the armature swings by the magnetic attraction force of the electromagnet device, and the peripheral portion on the opposite side of the body of the armature block made of a glass substrate A cover that is fixed to the frame portion, and a housing hole that penetrates in the thickness direction is provided in the body. A storage part for storing the electromagnet device is provided by closing the storage hole from the surface side, the frame part is anodically bonded to the one surface side of the body, and the cover is an anode on the side opposite to the body in the frame part. A method of manufacturing a microrelay to be bonded , wherein a surface of one surface of a semiconductor substrate opposite to the one surface of the body is etched before a semiconductor substrate serving as a base of a lid is bonded to the body. Accordingly, the thickness of the portion other than the portion serving as the lid of the semiconductor substrate is reduced to leave a gap with the one surface of the body, and the frame portion is anodically bonded later on the one surface side of the body by the gap. the semiconductor substrate by anodic bonding while avoiding the site, the semiconductor substrate by etching the region corresponding to at least the gap after the anodic bonding And forming the shape of the body.

請求項4の発明は、請求項3の発明において、蓋体の基礎となる前記半導体基板のエッチングはドライエッチングとすることを特徴とする。 The invention of claim 4 is characterized in that, in the invention of claim 3, the etching of the semiconductor substrate which is the basis of the lid is dry etching .

請求項1の発明によれば、ガラス基板の一表面側において後に半導体基板を陽極接合する部位を避けて半導体基板を陽極接合するから、ガラス基板の同一表面に複数回に分けて半導体基板を接合する場合においても2回目以降の接合における接合強度の低下が防止可能なガラス基板と半導体基板との接合方法が提供できる。   According to the first aspect of the present invention, since the semiconductor substrate is anodically bonded on the one surface side of the glass substrate while avoiding the portion where the semiconductor substrate is anodically bonded later, the semiconductor substrate is bonded to the same surface of the glass substrate in multiple times. Even in this case, it is possible to provide a method for bonding a glass substrate and a semiconductor substrate that can prevent a decrease in bonding strength in the second and subsequent bonding.

請求項2の発明によれば、他のエッチングに比べて隙間を形成する際に半導体基板の結晶方位による影響を受け難くなる。   According to the second aspect of the present invention, it is less likely to be affected by the crystal orientation of the semiconductor substrate when forming the gap as compared to other etching.

請求項3の発明によれば、ボディの前記一表面側において後にフレーム部を陽極接合する部位を避けて蓋体の基礎となる半導体基板を陽極接合するから、蓋体をボディに接合した後にフレーム部を接合する際にフレーム部とボディとの接合強度の低下が防止可能なマイクロリレーの製造方法が提供できる。   According to the invention of claim 3, since the semiconductor substrate which is the basis of the lid body is anodically bonded on the one surface side of the body while avoiding a portion where the frame portion is anodically bonded later, the frame is formed after the lid body is bonded to the body. It is possible to provide a method for manufacturing a microrelay that can prevent a decrease in bonding strength between the frame portion and the body when the portions are bonded.

請求項4の発明によれば、他のエッチングに比べて蓋体の基礎となる半導体基板に隙間を形成する際に半導体基板の結晶方位による影響を受け難くなる。   According to the invention of claim 4, compared to other etching, it is less likely to be affected by the crystal orientation of the semiconductor substrate when forming a gap in the semiconductor substrate serving as the base of the lid.

以下、従来技術で説明したマイクロリレーに本発明を適用した実施形態について図1〜図7を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, an embodiment in which the present invention is applied to a microrelay described in the prior art will be described in detail with reference to FIGS.

本実施形態のマイクロリレーは、シリコン基板をマイクロマシニング技術により加工して形成されるアーマチュア30、アーマチュア30により変位可能な可動接点39、可動接点39と接離する固定接点14を、ボディ1とカバー4とアーマチュアブロック3で構成される密閉空間に収納し、電磁石装置2の電磁力でアーマチュア30を駆動するものである。ボディ1は矩形板状のガラス基板からなり、厚み方向の一表面側において長手方向の両端部それぞれに各一対の固定接点14が設けられている。アーマチュアブロック3は、ボディ1の上記一表面側に固着される枠状(矩形枠状)のフレーム部31と、フレーム部31の内側に配置されて4本の支持ばね部32を介してフレーム部31に揺動自在に支持され、電磁石装置2が発生する電磁力により駆動されるアーマチュア30と、アーマチュア30にそれぞれ2本の接圧ばね部35を介して支持されそれぞれ可動接点39が設けられた2つの可動接点基台部34とを有する。また、カバー4は矩形板状のガラス基板からなり、アーマチュアブロック3におけるボディ1とは反対側で周部がフレーム部31に固着される。   The microrelay of this embodiment includes an armature 30 formed by processing a silicon substrate by a micromachining technique, a movable contact 39 that can be displaced by the armature 30, and a fixed contact 14 that contacts and separates from the movable contact 39. 4 and the armature block 3 are housed in a sealed space, and the armature 30 is driven by the electromagnetic force of the electromagnet device 2. The body 1 is made of a rectangular plate-like glass substrate, and a pair of fixed contacts 14 are provided at both ends in the longitudinal direction on one surface side in the thickness direction. The armature block 3 includes a frame-shaped (rectangular frame-shaped) frame portion 31 that is fixed to the one surface side of the body 1 and a frame portion that is disposed inside the frame portion 31 via four support spring portions 32. The armature 30 is swingably supported by the armature 31 and driven by the electromagnetic force generated by the electromagnet device 2, and the armature 30 is supported by two contact pressure spring portions 35, and the movable contact 39 is provided. And two movable contact bases 34. The cover 4 is made of a rectangular plate-shaped glass substrate, and the peripheral portion is fixed to the frame portion 31 on the side opposite to the body 1 in the armature block 3.

電磁石装置2はヨーク20に巻回されたコイル22,22への励磁電流に応じて磁束を発生するものである。ヨーク20は、2つのコイル22,22が直接巻回される細長の矩形板状のコイル巻回部20aと、コイル巻回部20aの長手方向の両端部それぞれからアーマチュア30に近づく向きに延設されコイル22,22への励磁電流に応じて互いの先端面が異極に励磁される一対の脚片20b,20bと、ヨーク20の両脚片20b,20bの間でコイル巻回部20aの長手方向の中央部に重ねて配置された矩形板状の永久磁石21と、細長の矩形板状であってヨーク20のコイル巻回部20aにおける永久磁石21との対向面とは反対側でコイル巻回部20aと直交するようにコイル巻回部20aに固着されるプリント基板23とを備えている。なお、ヨーク20は、電磁軟鉄などの鉄板を曲げ加工あるいは鋳造加工することにより形成されており、両脚片20b,20bの断面が矩形状に形成されている。   The electromagnet device 2 generates a magnetic flux in accordance with an exciting current applied to the coils 22 and 22 wound around the yoke 20. The yoke 20 extends in the direction of approaching the armature 30 from both ends of the coil winding portion 20a in the longitudinal direction of the elongated rectangular plate and the coil winding portion 20a in which the two coils 22 and 22 are directly wound. The length of the coil winding portion 20a between the pair of leg pieces 20b, 20b and the leg pieces 20b, 20b of the yoke 20 whose opposite end surfaces are excited with different polarities according to the excitation current to the coils 22, 22 is determined. A rectangular plate-shaped permanent magnet 21 arranged in the center of the direction, and an elongated rectangular plate-shaped coil winding on the opposite side of the coil winding portion 20a of the yoke 20 from the surface facing the permanent magnet 21. And a printed circuit board 23 fixed to the coil winding part 20a so as to be orthogonal to the turning part 20a. The yoke 20 is formed by bending or casting an iron plate such as electromagnetic soft iron, and the cross sections of both leg pieces 20b and 20b are formed in a rectangular shape.

永久磁石21は、コイル巻回部20aとの重ね方向(厚み方向)の両面それぞれの磁極面が異極に着磁されており、一方の磁極面がヨーク20のコイル巻回部20aに当接し、他方の磁極面がヨーク20の両脚片20b,20bの先端面と同一平面上に位置するように厚み寸法を設定してある。   The permanent magnet 21 is magnetized so that the magnetic pole surfaces of both surfaces in the overlapping direction (thickness direction) with the coil winding portion 20 a are different from each other, and one magnetic pole surface abuts on the coil winding portion 20 a of the yoke 20. The thickness dimension is set so that the other magnetic pole surface is located on the same plane as the tip surfaces of the leg pieces 20b, 20b of the yoke 20.

また、各コイル22,22はそれぞれ、永久磁石21とヨーク20の脚片20b,20bとによって長軸方向(つまり、コイル巻回部20aの長手方向)への移動が規制される。プリント基板23は、絶縁基板23aの一表面における長手方向の両端部に導電パターン23bが形成されており、各導電パターン23bにおいて円形状に形成された部位が外部接続用電極を構成し、矩形状に形成された部位がコイル接続部を構成している。ここにおいて、コイル接続部には、コイル22,22の端末が接続されるが、コイル22,22は、外部接続用電極間に電源を接続してコイル22,22へ励磁電流を流したときにヨーク20の両脚片20b,20bの先端面が互いに異なる磁極となるように接続されている。なお、各導電パターン23bにおける外部接続用電極には、導電性材料(例えば、Au,Ag,Cu,半田など)からなるバンプ24が適宜固着されるが、バンプ24を固着する代わりに、ボンディングワイヤをボンディングしてもよい。   Further, the movement of the coils 22 and 22 in the major axis direction (that is, the longitudinal direction of the coil winding portion 20a) is restricted by the permanent magnet 21 and the leg pieces 20b and 20b of the yoke 20, respectively. In the printed circuit board 23, conductive patterns 23b are formed at both ends in the longitudinal direction on one surface of the insulating substrate 23a, and the circularly formed portions of the conductive patterns 23b constitute external connection electrodes, and are rectangular. The site | part formed in comprises the coil connection part. Here, the terminals of the coils 22 and 22 are connected to the coil connecting portion, but the coils 22 and 22 are connected when a power source is connected between the external connection electrodes and an excitation current is passed through the coils 22 and 22. The leg surfaces 20b, 20b of the yoke 20 are connected so that the tip surfaces of the leg pieces 20b are different from each other. A bump 24 made of a conductive material (for example, Au, Ag, Cu, solder, etc.) is appropriately fixed to the external connection electrode in each conductive pattern 23b. Instead of fixing the bump 24, a bonding wire is used. May be bonded.

ボディ1は耐熱ガラスにより形成されており、外周形状が矩形状であって、中央部には厚み方向に貫通し電磁石装置2を収納する収納孔16が貫設され、四隅の各近傍と長手方向両端部の中央付近には厚み方向に貫通するスルーホール10が貫設されている。また、ボディ1の厚み方向の両面であって各スルーホール10それぞれの周縁にはランド12が形成されている。ここに、ボディ1の厚み方向において重なるランド12同士はスルーホール10の内周面を導電性材料(例えば、Cu,Cr,Ti,Pt,Co,Ni,Au,あるいはこれらの合金など)でめっきしてなるめっき層10aにより電気的に接続されている。また、ボディ1の厚み方向の他表面側の各ランド12にはバンプ13が適宜固着されており、バンプ13をランド12に固着することによって、ボディ1の上記他表面側ではスルーホール10の開口面がバンプ13により覆われる。スルーホール10の開口面は円形状であって、ボディ1の上記一表面には、それぞれスルーホール10の開口面を閉塞する導電パターン18が設けられている。   The body 1 is made of heat-resistant glass, the outer peripheral shape is rectangular, and a storage hole 16 that penetrates in the thickness direction and stores the electromagnet device 2 penetrates in the center, and the vicinity of each of the four corners and the longitudinal direction A through hole 10 penetrating in the thickness direction is provided near the center of both end portions. Further, lands 12 are formed on both sides in the thickness direction of the body 1 and on the periphery of each through hole 10. Here, the lands 12 that overlap in the thickness direction of the body 1 are plated with a conductive material (for example, Cu, Cr, Ti, Pt, Co, Ni, Au, or an alloy thereof) on the inner peripheral surface of the through hole 10. It is electrically connected by the plating layer 10a formed. Further, bumps 13 are appropriately fixed to the lands 12 on the other surface side in the thickness direction of the body 1. By fixing the bumps 13 to the lands 12, the through holes 10 are opened on the other surface side of the body 1. The surface is covered with bumps 13. The opening surface of the through hole 10 is circular, and a conductive pattern 18 that closes the opening surface of the through hole 10 is provided on the one surface of the body 1.

また、上述の各一対の固定接点14は、ボディ1の長手方向の両端部においてボディ1の短手方向に離間して形成された2つのスルーホール10の間で上記短手方向に並設されており、上記短手方向両端のスルーホール10の周縁に形成されたランド12と導電パターン18を介して電気的に接続されている。さらに、ボディ1の長手方向両端部における固定接点14の近傍には、上記短手方向に沿った幅細形状であって中央のスルーホール10の周縁に形成されたランド12と接続された接地用導電パターン18’が設けられており、中央のスルーホール10も接地用導電パターン18’によって閉塞されている。ここで、本実施形態においては、ボディの一表面側を導電材料で部分的にめっきすることで固定接点14及び導電パターン18が一体に形成されている。なお、固定接点14、導電パターン18,18’およびランド12の材料としては、例えば、Cr,Ti,Pt,Co,Cu,Ni,Au,あるいはこれらの合金などの導電性材料を採用すればよく、バンプ13の材料としては、例えば、Au,Ag,Cu,半田などの導電性材料を採用すればよい。また、上述のスルーホール10および収納孔16は、例えば、サンドブラスト法やエッチング法などによって形成すればよい。また、めっき層10aの代わりに、蒸着法やスパッタ法などによって導電層となる薄膜を形成してもよい。   Further, each of the pair of fixed contacts 14 described above is arranged in parallel in the short direction between two through-holes 10 that are spaced apart in the short direction of the body 1 at both ends in the longitudinal direction of the body 1. It is electrically connected to the lands 12 formed at the periphery of the through-holes 10 at both ends in the short-side direction via conductive patterns 18. Further, in the vicinity of the fixed contact 14 at both ends in the longitudinal direction of the body 1, the grounding is connected to a land 12 having a narrow shape along the short direction and formed at the periphery of the central through hole 10. A conductive pattern 18 'is provided, and the central through hole 10 is also closed by the grounding conductive pattern 18'. Here, in this embodiment, the fixed contact 14 and the conductive pattern 18 are integrally formed by partially plating one surface side of the body with a conductive material. In addition, as a material of the fixed contact 14, the conductive patterns 18, 18 ', and the land 12, for example, a conductive material such as Cr, Ti, Pt, Co, Cu, Ni, Au, or an alloy thereof may be employed. As the material of the bump 13, for example, a conductive material such as Au, Ag, Cu, or solder may be employed. The through hole 10 and the storage hole 16 described above may be formed by, for example, a sand blast method or an etching method. Moreover, you may form the thin film used as a conductive layer by the vapor deposition method, the sputtering method, etc. instead of the plating layer 10a.

また、収納孔16の開口面は十字状であって、ボディ1の上記一表面側には、収納孔16を閉塞するシリコン薄膜からなる蓋体17が接合されている。すなわち、電磁石装置2は、ヨーク20の両脚片20b,20cの各先端面が蓋体17と対向する形で収納孔16に挿入される。なお、本実施形態では、収納孔16の内周面と蓋体17とで囲まれる空間が電磁石装置2を収納する収納部を構成しており、電磁石装置2は、永久磁石21がボディ1の厚み寸法内でアーマチュア30とヨーク20とにより形成される磁路中に設けられ、プリント基板23における絶縁基板23aの表面がボディ1の上記他表面と略面一となっている。   The opening surface of the storage hole 16 has a cross shape, and a lid 17 made of a silicon thin film that closes the storage hole 16 is joined to the one surface side of the body 1. That is, the electromagnet device 2 is inserted into the storage hole 16 such that the front end surfaces of both leg pieces 20 b and 20 c of the yoke 20 face the lid body 17. In the present embodiment, the space surrounded by the inner peripheral surface of the storage hole 16 and the lid body 17 constitutes a storage unit that stores the electromagnet device 2, and the electromagnet device 2 includes the permanent magnet 21 of the body 1. Provided in the magnetic path formed by the armature 30 and the yoke 20 within the thickness dimension, the surface of the insulating substrate 23a in the printed circuit board 23 is substantially flush with the other surface of the body 1.

アーマチュアブロック3は、シリコン基板からなる半導体基板を半導体微細加工プロセスにより加工することによって、上述の矩形枠状のフレーム部31と、上述の4本の支持ばね部32と、フレーム部31の内側に配置されアーマチュア30の一部を構成する矩形板状の可動基台部30aと、上述の4本の接圧ばね35と、上述の2つの可動接点基台部34とを形成してあり、可動基台部30aと、可動基台部30aにおけるボディ1との対向面に固着された磁性体(例えば、軟鉄、電磁ステンレス、パーマロイなど)からなる矩形板状の磁性体部30bとでアーマチュア30を構成している。したがって、アーマチュア30が4本の支持ばね部32を介してフレーム部31に揺動自在に支持されている。なお、可動基台部30aはフレーム部31よりも薄肉であり、アーマチュア30の厚み寸法は、アーマチュアブロック3とボディ1とを接合した状態においてアーマチュア30の磁性体部30bと蓋体17との間に所定のギャップが形成されるように設定されている。   The armature block 3 is formed by processing a semiconductor substrate made of a silicon substrate by a semiconductor micromachining process so that the rectangular frame-shaped frame portion 31, the four support spring portions 32, and the frame portion 31 are placed inside the frame portion 31. A rectangular plate-shaped movable base 30a that is disposed and constitutes a part of the armature 30, the above-mentioned four contact pressure springs 35, and the above-mentioned two movable contact bases 34 are formed, and are movable. The armature 30 is composed of a base plate portion 30a and a rectangular plate-shaped magnetic body portion 30b made of a magnetic material (for example, soft iron, electromagnetic stainless steel, permalloy, etc.) fixed to the surface of the movable base portion 30a facing the body 1. It is composed. Accordingly, the armature 30 is swingably supported by the frame portion 31 via the four support spring portions 32. The movable base portion 30a is thinner than the frame portion 31, and the thickness of the armature 30 is between the magnetic body portion 30b of the armature 30 and the lid body 17 in a state where the armature block 3 and the body 1 are joined. Is set to form a predetermined gap.

上述の支持ばね部32は、可動基台部30aの短手方向の両側面側で可動基台部30aの長手方向に離間して2箇所に形成されている。各支持ばね部32は、一端部がフレーム部31に連続一体に連結され他端部が可動基台部30aに連続一体に連結されている。なお、各支持ばね部32は、平面形状において上記一端部と上記他端部との間の部位を同一面内で蛇行した形状に形成することにより長さ寸法を長くしてあり、アーマチュア30が揺動する際に各支持ばね部32にかかる応力を分散させることができ、各支持ばね部32が破損するのを防止することができる。   The above-described support spring portions 32 are formed at two locations on both sides in the short direction of the movable base portion 30a so as to be separated from each other in the longitudinal direction of the movable base portion 30a. Each support spring portion 32 has one end portion connected to the frame portion 31 continuously and integrally, and the other end portion connected to the movable base portion 30a continuously and integrally. In addition, each support spring part 32 is lengthened by forming the site | part between the said one end part and the said other end part in the planar shape in the meandering shape in the same surface, and the armature 30 is made into the shape. It is possible to disperse the stress applied to each support spring portion 32 when swinging, and to prevent each support spring portion 32 from being damaged.

また、可動基台部30aは、短手方向の両側縁の中央部から矩形状の突片36が連続一体に延設され、フレーム部31の内周面において突片36に対応する部位からも矩形状の突片37が連続一体に延設されている。すなわち、可動基台部30aから延設された突片36とフレーム部31から延設された突片37とは互いの先端面同士が対向している。ここに、可動基台部30aから延設された各突片36の先端面には凸部36aが形成されており、フレーム部31から延設された各突片37の先端面には、凸部36aが入り込む凹部37aが形成されている。したがって、凸部36aが凹部37aの内周面に当接することでフレーム部31の厚み方向に直交する面内におけるアーマチュア30の移動が規制される。なお、アーマチュア30の同一の側縁側に配設される2つの支持ばね部32は、突片36の両側に位置している。   In addition, the movable base portion 30a has a rectangular protruding piece 36 extending continuously and integrally from the center of both side edges in the lateral direction, and also from a portion corresponding to the protruding piece 36 on the inner peripheral surface of the frame portion 31. A rectangular projecting piece 37 is continuously extended. In other words, the projecting piece 36 extending from the movable base portion 30a and the projecting piece 37 extending from the frame portion 31 are opposed to each other at their front end surfaces. Here, a convex portion 36a is formed on the tip surface of each protruding piece 36 extending from the movable base portion 30a, and the protruding surface of each protruding piece 37 extended from the frame portion 31 is convex. A recess 37a into which the portion 36a enters is formed. Therefore, the movement of the armature 30 in the plane orthogonal to the thickness direction of the frame portion 31 is restricted by the convex portion 36a contacting the inner peripheral surface of the concave portion 37a. The two support spring portions 32 disposed on the same side edge side of the armature 30 are located on both sides of the projecting piece 36.

また各突片36におけるボディ1との対向面には支点突起40がそれぞれ突設されており、これら一対の支点突起40を設けることでアーマチュア30の揺動動作をより安定させることができる。なお、ボディ1に当接する支点突起40の先端部には、摩耗や割れあるいは欠けなどを低減するために、金属薄膜からなる保護膜41が形成されている。   Further, fulcrum protrusions 40 are respectively provided on the surfaces of the protrusions 36 facing the body 1, and by providing the pair of fulcrum protrusions 40, the swinging motion of the armature 30 can be further stabilized. A protective film 41 made of a metal thin film is formed at the tip of the fulcrum protrusion 40 that contacts the body 1 in order to reduce wear, cracks, or chipping.

また、アーマチュアブロック3は、アーマチュア30の長手方向においてアーマチュア30の両端部とフレーム部31との間にそれぞれ可動接点基台部34が配置されており、各可動接点基台部34におけるボディ1との対向面に導電性材料からなる可動接点39が固着されている。ここに、可動接点基台部34は上述の2本の接圧ばね部35を介して可動基台部30aに支持されている。なお、可動基台部30aは上述のように矩形板状に形成されており、磁性体部30bの変位量を制限するストッパ部33が四隅それぞれから連続一体に延設されており、接圧ばね部35の平面形状は、ストッパ部33の外周縁の3辺に沿ったコ字状に形成されている。このストッパ部33は、ボディ1の上記一表面と接触することにより磁性体部30bの変位量を制限する。なお、アーマチュアブロック3は、上述の説明から分かるように、フレーム部31、可動基台部30a、支持ばね部32、可動接点保持部34、接圧ばね部35が上述の半導体基板の一部により構成されている。   The armature block 3 has movable contact base portions 34 disposed between both end portions of the armature 30 and the frame portion 31 in the longitudinal direction of the armature 30, and the armature block 3 and the body 1 in each movable contact base portion 34. A movable contact 39 made of a conductive material is fixed to the opposite surface. Here, the movable contact base portion 34 is supported by the movable base portion 30a via the two contact pressure spring portions 35 described above. The movable base portion 30a is formed in a rectangular plate shape as described above, and the stopper portions 33 that limit the displacement amount of the magnetic body portion 30b are continuously extended from the four corners, and the contact pressure spring. The planar shape of the portion 35 is formed in a U shape along three sides of the outer peripheral edge of the stopper portion 33. The stopper portion 33 limits the amount of displacement of the magnetic body portion 30 b by contacting the one surface of the body 1. As can be seen from the above description, the armature block 3 includes the frame portion 31, the movable base portion 30a, the support spring portion 32, the movable contact holding portion 34, and the contact pressure spring portion 35, which are part of the semiconductor substrate described above. It is configured.

カバー4は耐熱ガラスにより構成されており、アーマチュアブロック3との対向面にアーマチュア30の揺動空間を確保する凹所(図示せず)が形成されている。   The cover 4 is made of heat-resistant glass, and a recess (not shown) that secures a swinging space for the armature 30 is formed on the surface facing the armature block 3.

次に、本実施形態のマイクロリレーの製造方法について簡単に説明する。   Next, a method for manufacturing the micro relay of this embodiment will be briefly described.

本実施形態のマイクロリレーの製造にあたっては、半導体基板たるシリコン基板をリソグラフィ技術、エッチング技術などの半導体微細加工プロセス(マイクロマシンニング技術)により加工してフレーム部31、支持ばね部32、接圧ばね部35、可動接点基台部34、アーマチュア30の一部を構成する可動基台部30aを形成した後で可動基台部30aにおいてボディ1側となる一面に磁性体からなる磁性体部30bを固着し且つ可動接点基台部34に可動接点39を固着することでアーマチュアブロック3を形成するアーマチュアブロック形成工程と、アーマチュアブロック形成工程にて形成したアーマチュアブロック3とボディ1およびカバー4を陽極接合することでボディ1とカバー4とアーマチュアブロック3のフレーム部31とで囲まれる空間を密封する密封工程と、密封工程の後でボディ1の収納部に電磁石装置2を収納してボディ1に固定する電磁石装置配設工程とを備えている。   In manufacturing the microrelay of this embodiment, a silicon substrate as a semiconductor substrate is processed by a semiconductor micromachining process (micromachining technology) such as a lithography technique and an etching technique to form a frame portion 31, a support spring portion 32, and a contact pressure spring portion. 35, after forming the movable contact base 34 and the movable base 30a constituting a part of the armature 30, the magnetic base 30b made of a magnetic material is fixed to one surface of the movable base 30a on the body 1 side. In addition, the armature block 3 is formed by fixing the movable contact 39 to the movable contact base 34, and the armature block 3 formed in the armature block forming process, the body 1 and the cover 4 are anodic bonded. The frame part 3 of the body 1, the cover 4, and the armature block 3 I have enclosed a sealing step of sealing the space are, and an electromagnet device disposing step after the sealing step accommodates the electromagnetic actuator 2 in the housing portion of the body 1 by fixing the body 1 in a.

ここにおいて、ボディ1の形成にあたっては、ボディ1となるガラス基板において収納部に対応する部位に厚み方向に貫通する収納孔16を形成するとともにガラス基板の四隅近傍並びに長手方向両端部の中央に厚み方向に貫通するスルーホール10を形成した後、上記ガラス基板において固定接点14を設けた側の表面に収納孔16を覆う薄膜(例えば、シリコン薄膜)を陽極接合し、当該薄膜をパターニングすることによって収納孔16の開口面を閉塞する蓋体17を形成してから、ボディ1の一表面側に導電材料を部分的にめっきすることでランド12、固定接点14、導電パターン18,18’、めっき層10aを一体に形成する。また、カバー4の形成にあたっては、カバー4となるガラス基板においてエッチング法やサンドブラスト法などにより凹所を形成した後、接合用金属薄膜を形成すればよい。   Here, in forming the body 1, the storage hole 16 penetrating in the thickness direction is formed in a portion corresponding to the storage portion in the glass substrate to be the body 1, and the thickness is in the vicinity of the four corners of the glass substrate and in the center of both ends in the longitudinal direction. After forming the through hole 10 penetrating in the direction, a thin film (for example, a silicon thin film) covering the accommodation hole 16 is anodically bonded to the surface of the glass substrate on the side where the fixed contact 14 is provided, and the thin film is patterned. After forming the lid 17 that closes the opening surface of the storage hole 16, the conductive material is partially plated on the one surface side of the body 1, whereby the land 12, the fixed contact 14, the conductive patterns 18, 18 ′, plating The layer 10a is integrally formed. In forming the cover 4, a bonding metal thin film may be formed after forming a recess in the glass substrate to be the cover 4 by an etching method or a sand blast method.

ここで、本発明の要旨であるボディ1と蓋体17及びフレーム部31との接合方法についてさらに詳しく説明する。   Here, the joining method of the body 1, the lid body 17, and the frame part 31, which is the gist of the present invention, will be described in more detail.

まず、図1(a)に示すようにシリコン基板(第1の半導体基板)100の一表面に蓋体17よりも一回り大きな形状及び寸法のエッチングマスク101を形成した後にドライエッチングを行い、エッチングマスク101を除く部位の厚みを薄くする(いわゆる、「座刳る」)ことによってシリコン基板100の一表面側における中央に突部102を形成する。そして、この突部102の先端面(図1(a)における上面)でボディ1の一表面側に開口する収納孔16を閉塞した状態でボディ1とシリコン基板100とを陽極接合する(図1(b)及び図7参照)。そして、シリコン基板100を研磨した後(図1(c)参照)、シリコン基板100の一表面に蓋体17の形状に合わせたエッチングマスク101を形成し(図1(d)参照)、ドライエッチングを行ってエッチングマスク101を除く部位のシリコン基板100を除去することで蓋体17を形成する(図1(e)参照)。その後、ボディ1の一表面側にアーマチュアブロック3のフレーム部31を陽極接合する(図1(f)参照)。 First, as shown in FIG. 1A, after forming an etching mask 101 having a shape and size that is slightly larger than the lid 17 on one surface of a silicon substrate (first semiconductor substrate) 100, dry etching is performed. The protrusion 102 is formed at the center on the one surface side of the silicon substrate 100 by reducing the thickness of the portion excluding the mask 101 (so-called “sitting down”). Then, the body 1 and the silicon substrate 100 are anodically bonded in a state in which the housing hole 16 opened to one surface side of the body 1 is closed at the front end surface (upper surface in FIG. 1A) of the protrusion 102 (FIG. 1). (See (b) and FIG. 7). Then, after polishing the silicon substrate 100 (see FIG. 1C), an etching mask 101 matching the shape of the lid 17 is formed on one surface of the silicon substrate 100 (see FIG. 1D), and dry etching is performed. The lid 17 is formed by removing the portion of the silicon substrate 100 excluding the etching mask 101 (see FIG. 1E). Thereafter, the frame portion 31 of the armature block 3 is anodically bonded to one surface side of the body 1 (see FIG. 1 (f)).

すなわち、上述の接合方法においては、蓋体17の基礎となるシリコン基板100をボディ1に接合する前に、シリコン基板100の一表面であってボディ1の一表面に対向する表面をドライエッチングで座刳ることにより、シリコン基板100の蓋体17となる部位以外の部位とボディ1の一表面との間に隙間d(図1(b)参照)を空けているから、ボディ1の一表面におけるフレーム部31が陽極接合される部分(図3(a)の一点破線より外側の部分)の可動イオンが減少せず、蓋体17をボディ1に接合した後にフレーム部31を接合する際にフレーム部31とボディ1とを十分な接合強度で接合することができるものである。ここで、ドライエッチングによってシリコン基板100をエッチングすれば、他のエッチングに比べて隙間dを形成する際にシリコン基板100の結晶方位による影響を受け難くなるという利点がある。なお、ボディ1の一表面側においては、1回目の接合時(ボディ1へのシリコン基板100の接合時)に陽極接合されない部分、つまり、フレーム部31が陽極接合される部分(図3(a)の一点破線より外側の部分)とシリコン基板100が陽極接合される部分(図3(a)の一点破線より内側の部分)との境界が視認できる。   That is, in the above-described bonding method, before bonding the silicon substrate 100 that is the basis of the lid body 17 to the body 1, one surface of the silicon substrate 100 that faces the one surface of the body 1 is dry-etched. By sitting down, a gap d (see FIG. 1B) is provided between a portion of the silicon substrate 100 other than the portion to be the lid 17 and one surface of the body 1, so that one surface of the body 1 When the frame part 31 is joined to the body 1 after joining the lid 17 to the body 1 without reducing the movable ions in the part where the frame part 31 is anodically joined (the part outside the dashed line in FIG. 3A). The frame part 31 and the body 1 can be joined with sufficient joining strength. Here, if the silicon substrate 100 is etched by dry etching, there is an advantage that it is less affected by the crystal orientation of the silicon substrate 100 when the gap d is formed compared to other etching. On the one surface side of the body 1, a portion that is not anodically bonded at the time of the first bonding (when the silicon substrate 100 is bonded to the body 1), that is, a portion where the frame portion 31 is anodically bonded (FIG. 3A). ) And the portion where the silicon substrate 100 is anodically bonded (the portion inside the dashed line in FIG. 3A) can be visually recognized.

本発明に係る接合方法の実施形態を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining embodiment of the joining method which concerns on this invention. 同上のマイクロリレーの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a micro relay same as the above. 同上のマイクロリレーにおけるボディを示し、(a)は正面図、(b)は同図(a)のX−X’線断面矢視図である。The body in a micro relay same as the above is shown, (a) is a front view, (b) is a sectional view taken along the line X-X 'in FIG. 同上におけるマイクロリレーの背面斜視図である。It is a back perspective view of the micro relay in the same as the above. (a)は同上のマイクロリレーにおけるアーマチュアブロックの正面図、(b)は同上のマイクロリレーにおけるアーマチュアブロックの背面図である。(A) is a front view of an armature block in the micro relay of the above, and (b) is a rear view of the armature block in the micro relay of the above. 同上のマイクロリレーにおけるアーマチュアブロックの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the armature block in a micro relay same as the above. 同上の1回目の接合後におけるボディとシリコン基板の斜視図である。It is a perspective view of a body and a silicon substrate after the 1st time joining same as the above. 従来のマイクロリレーの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the conventional micro relay.

符号の説明Explanation of symbols

1 ボディ
3 アーマチュアブロック
16 収納孔
17 蓋体
30 アーマチュア
31 フレーム部
100 シリコン基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Body 3 Armature block 16 Storage hole 17 Cover body 30 Armature 31 Frame part 100 Silicon substrate

Claims (4)

平坦なガラス基板の一表面側に半導体基板を複数回に分けて陽極接合する接合方法であって、第1の半導体基板をガラス基板に接合する前に、第1の半導体基板の一表面であってガラス基板の前記一表面に対向する表面をエッチングすることにより、第1の半導体基板のガラス基板と接合される部位以外の部位の厚みを薄くしてガラス基板の前記一表面との間に隙間を空け、当該隙間によりガラス基板の一表面側において後に別の半導体基板を陽極接合する部位を避けて第1の半導体基板を陽極接合し、当該陽極接合後に少なくとも前記隙間に対応する領域のエッチングを行うことにより第1の半導体基板を所望の形状に形成することを特徴とするガラス基板と半導体基板との接合方法。 A bonding method in which a semiconductor substrate is anodically bonded to one surface side of a flat glass substrate in a plurality of times, and is formed on the surface of the first semiconductor substrate before bonding the first semiconductor substrate to the glass substrate. Etching the surface of the glass substrate that opposes the one surface reduces the thickness of the first semiconductor substrate other than the portion to be bonded to the glass substrate, so that there is a gap between the glass substrate and the one surface. the spaced, the first semiconductor substrate to avoid the site of anodically bonding another semiconductor substrate after the one surface side of a glass substrate anodically bonded by the gap, the etching of the region corresponding to at least the gap after the anodic bonding A bonding method of a glass substrate and a semiconductor substrate , wherein the first semiconductor substrate is formed into a desired shape by performing . 前記半導体基板のエッチングはドライエッチングとすることを特徴とする請求項1記載のガラス基板と半導体基板との接合方法。 2. The method for bonding a glass substrate and a semiconductor substrate according to claim 1, wherein the etching of the semiconductor substrate is dry etching . コイルへの励磁電流に応じて磁気吸引力を発生する電磁石装置と、ガラス基板からなり電磁石装置を収納する収納部が設けられ且つ厚み方向の一表面側に固定接点が設けられたボディと、半導体基板からなりボディの前記一表面側に固着される枠状のフレーム部、及びフレーム部の内側に配置されフレーム部に対して揺動自在に支持されるアーマチュア、電磁石装置の磁気吸引力によってアーマチュアが揺動した際に固定接点と接離する可動接点を有するアーマチュアブロックと、ガラス基板からなりアーマチュアブロックにおけるボディとは反対側で周部がフレーム部に固着されるカバーとを備え、厚み方向に貫通する収納孔がボディに設けられ、半導体基板からなる蓋体でボディの前記一表面側から収納孔を塞ぐことにより電磁石装置を収納する収納部が設けられ、ボディの前記一表面側にフレーム部が陽極接合されるとともにフレーム部におけるボディとは反対側でカバーがフレーム部に陽極接合されるマイクロリレーの製造方法であって、蓋体の基礎となる半導体基板をボディに接合する前に、当該半導体基板の一表面であってボディの前記一表面に対向する表面をエッチングすることにより、前記半導体基板の蓋体となる部位以外の部位の厚みを薄くしてボディの前記一表面との間に隙間を空け、当該隙間によりボディの前記一表面側において後にフレーム部を陽極接合する部位を避けて前記半導体基板を陽極接合し、当該陽極接合後に少なくとも前記隙間に対応する領域のエッチングを行うことにより前記半導体基板を蓋体の形状に形成することを特徴とするマイクロリレーの製造方法。 An electromagnet device that generates a magnetic attractive force in response to an exciting current to the coil, a body that is made of a glass substrate and that houses the electromagnet device, and has a fixed contact on one surface side in the thickness direction; and a semiconductor A frame-shaped frame portion made of a substrate and fixed to the one surface side of the body, an armature disposed inside the frame portion and supported to be swingable with respect to the frame portion, and an armature by a magnetic attraction force of an electromagnet device It has an armature block with a movable contact that contacts and separates from the fixed contact when it swings, and a cover that is made of a glass substrate and has a peripheral part fixed to the frame part on the opposite side of the body of the armature block. The electromagnet device is formed by closing a housing hole from the one surface side of the body with a lid made of a semiconductor substrate. Housing part for pay is provided a method of manufacturing a micro relay cover on the opposite side is anodically bonded to the frame portion and the body in the frame part with the frame part on the one surface side of the body is anodically bonded, Before joining the semiconductor substrate serving as the base of the lid body to the body, by etching the surface of the semiconductor substrate that faces the one surface of the body, other than the portion that becomes the lid body of the semiconductor substrate by reducing the thickness a gap between the one surface of the body portion of the semiconductor substrate by anodic bonding while avoiding a site at which the anodically bonded frame portion after the said one surface of the body by the gap, micro, characterized by forming the semiconductor substrate in the shape of the lid by etching the region corresponding to at least the gap after the anodic bonding Method of manufacturing a laser. 蓋体の基礎となる前記半導体基板のエッチングはドライエッチングとすることを特徴とする請求項3記載のマイクロリレーの製造方法。 4. The method for manufacturing a micro relay according to claim 3, wherein the etching of the semiconductor substrate serving as a base of the lid is dry etching .
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