JP4204238B2 - Substrate processing equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、2種類もしくはそれ以上の種類の液体が混合された処理液中に半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、電子部品などの基板を浸漬させて処理する基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば半導体デバイスの製造プロセスにおいて、基板、例えばシリコンウエハの表面上からレジストを除去したり、ウエハ表面に付着したパーティクルや有機物を除去したり、ウエハ表面に付着した金属物質を除去したりする場合などには、硫酸と過酸化水素水と純水との混合溶液、アンモニア水と過酸化水素水と純水との混合溶液、塩酸と過酸化水素水と純水との混合溶液などを処理液として使用し、その処理液中にウエハを浸漬させて洗浄することが行われている。この場合において、混合溶液を調製する各液体、例えば硫酸、過酸化水素水および純水は、それぞれの液体供給源から液体供給管を通して処理槽へ個別に供給され、処理槽内で混合されて、硫酸および過酸化水素の各濃度がそれぞれ所定範囲に調整された処理液が得られるようにしている。そして、処理槽への各液体の供給および停止は、それぞれの液体供給管に介挿されたエア制御弁等の開閉制御弁を開閉操作することにより行われる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、図3に概略図を示すように、液体供給管1を通して処理槽2へ液体を供給している状態から、液体供給管1に介挿された開閉制御弁3を閉じて処理槽2への液体の供給を停止させたときに、開閉制御弁3より下流側における液体供給管1の内部に液体4が残留するといったことが起こる。この液体供給管1内の残留液体4は、次に開閉制御弁3を開いて処理槽2への液体の供給を再開させたときに、液体供給管1内から押し出されて処理槽2内へ流入することになる。この場合、処理槽2内の処理液(混合溶液)5は、各薬液の高濃度原液または純水の供給量を調整し制御することにより、混合溶液中の各薬液成分の濃度がそれぞれ一定範囲となるように管理されている。ところが、残留液体4が処理槽2内へ流入すると、管理されている薬液成分の濃度が変化することになる。また、処理槽2内の処理液(混合溶液)5は、通常、加熱され温度調節されて使用されるが、液体供給管1内の残留液体4は、液体供給管1内に留まっている間に温度が下降している。このため、残留液体4が処理槽2内へ流入すると、処理槽4内の処理液の温度が一時的に低下することになる。さらに、液体供給管1内に液体が留まっている間に薬液成分の劣化が起こることも考えられ、その残留液体4が処理槽2内へ流入すると、処理槽4内の処理液5を汚染することになる。
【0004】
このように、残留液体4が処理槽2内へ流入して処理槽4内の処理液5の薬液成分の濃度や処理液5の温度が変化したり処理液5を汚染したりすると、処理槽4内の処理液5の管理精度が低下して、ウエハの処理品質に影響が出ることになる。
【0005】
この発明は、以上のような事情に鑑みてなされたものであり、処理槽内へ液体を供給する液体供給経路内の、その液体供給経路に介挿された開閉弁より下流側において、開閉弁を閉じたときに液体が残留することをなくし、処理槽内の処理液の管理精度を向上させて、基板の処理品質に影響が出るのを防止することができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る発明は、処理液が収容されその処理液中に基板が浸漬されて処理される、溢流液受け部を有する処理槽と、それぞれ開閉弁が介挿され前記処理槽の溢流液受け部内へ異なる種類の液体をそれぞれ供給する少なくとも2つの液体供給経路と、を備えた基板処理装置において、一端が前記液体供給経路を構成する配管の内部であって前記開閉弁より下流側でかつ開閉弁付近に挿入され、他端が前記配管の外部であって前記処理槽の溢流液受け部上で開口した大気連通細管により構成され、前記各液体供給経路の前記開閉弁より下流側の配管内の残留液体を液体供給経路を構成する配管の先端吐出口から前記処理槽の溢流液受け部内へそれぞれ排出させる残留液体排出手段を設けたことを特徴とする。
【0007】
請求項1に係る発明の基板処理装置においては、液体供給経路に介挿された開閉弁を閉じたときに、開閉弁より下流側における液体供給路内に存在する液体は、残留液体排出手段によって液体供給経路の先端吐出口から処理槽内へ排出させられる。したがって、開閉弁より下流側において液体供給経路内に液体が残留することはない。
【0008】
そして、請求項1に係る発明の基板処理装置では、液体供給経路に介挿された開閉弁を閉じたときに、一端が液体供給経路を構成する配管の内部であって開閉弁より下流側でかつ開閉弁付近に挿入された大気連通細管を通じて配管内部が大気に開放される。これにより、開閉弁より下流側における配管内に存在する液体が配管内を先端吐出口に向かって流動し先端吐出口から処理槽の溢流液受け部内へ流出する。一方、液体供給経路に介挿された開閉弁が開かれて、液体供給経路を通して処理槽内へ液体が供給されているときに、大気連通細管の内部を液体が流れることがあっても、配管の外部に配置された大気連通細管の他端は処理槽の溢流液受け部上で開口しているので、大気連通細管から流出した液体は処理槽の溢流液受け部内へ流れ込む。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の好適な実施形態について図1および図2を参照しながら説明する。
【0010】
図1は、この発明の実施形態の1例を示し、基板処理装置の概略構成を示す模式図である。この基板処理装置は、底部に液導入口12を有し内部に処理液14が収容される処理槽10を備えている。そして、基板、例えばシリコンウエハは、ウエハホルダ(図示せず)に複数枚収納されて処理槽10内へ投入され、処理液14中に浸漬させられて処理される。
【0011】
処理槽10は、溢流液受け部16を備えており、処理槽10の上部から溢れ出た処理液14が溢流液受け部16内へ流入するようになっている。溢流液受け部16には、液循環用配管18の一端が流路接続されており、液循環用配管18の他端は、処理槽10の液導入口12に連通して接続されている。液循環用配管18には、循環ポンプ20、ヒータ22およびフィルタ24が介挿されており、処理液14は、処理槽10、溢流液受け部16および液循環用配管18で構成された循環経路を循環させられる。
【0012】
処理液14は、例えば硫酸と過酸化水素水と純水とを混合して調製される。このために、硫酸供給源、例えば硫酸の高濃度原液が貯留された薬液タンクに流路接続され開閉制御弁26が介挿された硫酸供給用配管28、過酸化水素水供給源、例えば過酸化水素水の高濃度原液が貯留された薬液タンクに流路接続され開閉制御弁30が介挿された過酸化水素水供給用配管32、および、純水供給源に流路接続され開閉制御弁34が介挿された純水供給用配管36がそれぞれ設置され、その各先端吐出口が処理槽10の溢流液受け部16内にそれぞれ挿入されている。そして、図示しないコントローラによって各開閉制御弁26、30、34をそれぞれ制御し、各開閉制御弁26、30、34をそれぞれ開閉動作させて、各配管28、32、36を通して硫酸、過酸化水素水および純水を処理槽10の溢流液受け部16内へそれぞれ投入し適宜補充して処理槽10内で混合させることにより、硫酸成分および過酸化水素成分の各濃度がそれぞれ所定範囲に調整された処理液14を調製するようにしている。
【0013】
以上の構成は、従来の装置と同様であるが、この基板処理装置では、図2にその配管系の一部を模式的に示すように、硫酸供給用配管28、過酸化水素水供給用配管32および純水供給用配管36のそれぞれ(以下、単に「配管28」として説明する)において、配管28の内部の、開閉制御弁26より下流側であって開閉制御弁26付近に、配管28の外部から大気連通細管62の一端が挿入されている。大気連通細管62の他端は、配管28の外部に配置されて大気に開放されている。また、大気連通細管62の他端は、図示していないが処理槽10の溢流液受け部16上で開口している。
【0014】
このような配管構成を有する基板処理装置においては、配管28、32、36に介挿された開閉制御弁26、30、34を閉じたとき、開閉制御弁26より下流側における配管28の内部は、大気連通細管62を通じて大気に開放された状態となっている。このため、開閉制御弁26より下流側における配管28内に存在する硫酸は、配管28内を先端吐出口に向かって流動し先端吐出口から処理槽10の溢流液受け部16内へ流出する。したがって、開閉制御弁26、30、34より下流側において配管28、32、36内に硫酸、過酸化水素水または純水が残留することがなくなる。このため、配管28、32、36内の残留液体が、次に開閉制御弁26、30、34を開いて処理槽10への液体の供給を再開させたときに配管28、32、36内から押し出されて処理槽10内へ流入して、硫酸成分や過酸化水素成分の各濃度が変化したり処理液14の温度が一時的に低下したりする、といったことが防止される。一方、開閉制御弁26が開かれて、配管28を通して処理槽10へ硫酸が供給されているときに、大気連通細管62の内部を硫酸が流れることがあっても、大気連通細管62の他端は処理槽10の溢流液受け部16上で開口しているので、大気連通細管62から流出した硫酸は溢流液受け部16内へ流下することになる。
【0015】
【発明の効果】
請求項1に係る発明の基板処理装置を使用すると、処理槽内へ液体を供給する液体供給経路内の、その液体供給経路に介挿された開閉弁より下流側において、開閉弁を閉じたときに液体が残留することをなくすことができるので、処理槽内の処理液の管理精度が向上して、基板の処理品質の低下を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施形態の1例を示し、基板処理装置の概略構成を示す模式図である。
【図2】 図1に示した基板処理装置の配管系の一部を示す模式図である。
【図3】 従来の基板処理装置における問題点を説明するための概略図である。
【符号の説明】
10 処理槽
14 処理液
16 処理槽の溢流液受け部
18 液循環用配管
26、30、34 開閉制御弁
28 硫酸供給用配管
32 過酸化水素水供給用配管
36 純水供給用配管
62 大気連通細管 [0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing by immersing a substrate such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display device, or an electronic component in a processing liquid in which two or more types of liquids are mixed.
[0002]
[Prior art]
For example, in a semiconductor device manufacturing process, when removing a resist from the surface of a substrate, for example, a silicon wafer, removing particles or organic substances adhering to the wafer surface, or removing a metal substance adhering to the wafer surface, etc. As a processing solution, a mixed solution of sulfuric acid, hydrogen peroxide solution and pure water, a mixed solution of ammonia water, hydrogen peroxide solution and pure water, a mixed solution of hydrochloric acid, hydrogen peroxide solution and pure water, etc. The wafer is used and cleaned by immersing it in the processing solution. In this case, each liquid for preparing the mixed solution, for example, sulfuric acid, hydrogen peroxide water and pure water, is individually supplied from the respective liquid supply source to the treatment tank through the liquid supply pipe, mixed in the treatment tank, A treatment liquid in which each concentration of sulfuric acid and hydrogen peroxide is adjusted to a predetermined range is obtained. Then, supply and stop of each liquid to the processing tank are performed by opening and closing an open / close control valve such as an air control valve inserted in each liquid supply pipe.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, as shown schematically in FIG . 3 , from the state where the liquid is supplied to the
[0004]
Thus, when the
[0005]
The present invention has been made in view of the circumstances as described above. In the liquid supply path for supplying the liquid into the processing tank, the open / close valve is located downstream of the open / close valve inserted in the liquid supply path. To provide a substrate processing apparatus capable of preventing the liquid from remaining when the substrate is closed, improving the management accuracy of the processing liquid in the processing tank, and preventing the processing quality of the substrate from being affected. Objective.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
According to the first aspect of the present invention, there is provided a processing tank having an overflow liquid receiving portion in which a processing liquid is stored and a substrate is immersed in the processing liquid, and an overflow valve is inserted in each of the processing tanks . in the substrate processing apparatus having at least two liquid supply path for supplying different kinds of liquid to flow liquid receiving section, respectively, the downstream from said on-off valve or an internal pipe having one end constituting said liquid supply path is inserted in the vicinity of the side a and closing valve, the other end is constituted by the air communication tubules open on overflow liquid receiving portion of the treatment tank an externally of the pipe, wherein the opening and closing valves of the liquid supply path characterized in that a more downstream side of the residual liquid discharge means from the tip end outlet of the pipe is discharged respectively to the processing bath overflow liquid receiving portion of the remaining liquid constituting the liquid supply path in the pipe.
[0007]
In engaging Ru inventions of the substrate processing apparatus in
[0008]
In the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, when the on-off valve inserted in the liquid supply path is closed, one end is inside the pipe constituting the liquid supply path and is downstream of the on-off valve. and inside pipes it is opened to the atmosphere through the atmosphere communicating tubules that are inserted in the vicinity of the opening and closing valve. Thus, the liquid present in the pipe at the downstream side of the on-off valve flows out from the fluid to the tip end outlet toward the tip end outlet of the pipe to the treatment tank overflow liquid receiving portion. On the other hand, when the on-off valve inserted in the liquid supply path is opened and the liquid is supplied into the treatment tank through the liquid supply path, the pipe may be connected even if the liquid flows inside the atmospheric communication thin tube. since the other end of the externally arranged air communicating tubules open at the overflow liquid receiving portion of the processing tank, the liquid flowing out of the air communicating tubules flows into overflow liquid receiving portion of the processing tank.
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, it will be described with reference to FIGS. 1 and 2 the preferred embodiment of the present invention.
[0010]
FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. The substrate processing apparatus includes a
[0011]
The
[0012]
The
[0013]
The above-described configuration is the same as that of the conventional apparatus. In this substrate processing apparatus, as shown schematically in FIG. 2, a part of the piping system is shown in FIG. 32 and pure water supply pipe 36 (hereinafter simply referred to as “
[0014]
In the substrate processing apparatus having such a pipe configuration, when the open /
[0015]
【The invention's effect】
With
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram showing a part of a piping system of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1;
FIG. 3 is a schematic diagram for explaining a problem in a conventional substrate processing apparatus.
[Explanation of symbols]
10
Claims (1)
それぞれ開閉弁が介挿され前記処理槽の溢流液受け部内へ異なる種類の液体をそれぞれ供給する少なくとも2つの液体供給経路と、
を備えた基板処理装置において、
一端が前記液体供給経路を構成する配管の内部であって前記開閉弁より下流側でかつ開閉弁付近に挿入され、他端が前記配管の外部であって前記処理槽の溢流液受け部上で開口した大気連通細管により構成され、前記各液体供給経路の前記開閉弁より下流側の配管内の残留液体を液体供給経路を構成する配管の先端吐出口から前記処理槽の溢流液受け部内へそれぞれ排出させる残留液体排出手段を設けたことを特徴とする基板処理装置。 A treatment tank having an overflow liquid receiving portion in which the treatment liquid is contained and the substrate is immersed in the treatment liquid to be treated;
Each at least two liquid supply path on-off valve is interposed respectively supply different to overflow liquid receiving unit type of liquid in the treatment tank,
In a substrate processing apparatus comprising:
One end is the be inserted in the vicinity of the downstream side in and closing valve from the on-off valve or an internal pipe that constitutes the liquid supply path, overflow liquid receiving portion of the treatment tank an external other end the pipe It is constituted by an atmospheric communication thin tube opened above , and the residual liquid in the pipe downstream of the on-off valve of each liquid supply path receives overflow liquid in the processing tank from the discharge outlet of the pipe constituting the liquid supply path. substrate processing apparatus is characterized by providing the residual liquid discharge means for discharging respectively into parts.
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