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JP4210357B2 - Semiconductor device frame cutting method and frame cutting device - Google Patents
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JP4210357B2 - Semiconductor device frame cutting method and frame cutting device - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は樹脂モールド型の半導体装置の製造に使用する半導体装置のフレーム切断方法及びフレーム切断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図11は短冊状に形成した基板10上に複数個の樹脂モールド部12を設けたフレーム体14を示す。樹脂モールド型の半導体装置ではリードフレームあるいは図11に示す基板10のように短冊状に形成したフレームに半導体チップを搭載した後、樹脂モールド装置により各々の半導体チップを樹脂モールドする。そして、樹脂モールドした後、短冊状の基板から半導体装置を各々個片に分離する。
【0003】
最近は半導体装置の基板として樹脂基板あるいはTABテープのような樹脂フィルムが使用されており、このような半導体装置の製造にあっては、短冊状に形成された基板に半導体チップを搭載し、樹脂モールドした後、個々の樹脂モールド部の外形形状に沿って基板を切断することにより、個片に分離された半導体装置製品が得られる。
基板10から半導体装置を個片に分離するのは金型を用いた抜き加工による。図12はダイ16とパンチ18とで基板10から半導体装置20を抜き加工する従来方法を示す。ダイ16とパンチ18とで基板10をクランプし、パンチ1により打ち抜くことによって個片に分離する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図11に示すようなフレーム体14から半導体装置を個片に分離する場合は、樹脂モールド部12とパンチ18とが干渉しないように樹脂モールド部12の外側面とパンチ18との間隔を0.2〜0.3mm程度あけるようにする。これは、▲1▼フレーム体14に設けたパイロット穴15にダイのパイロットピンを挿入して位置決めするため、穴位置公差を生じること、▲2▼フレーム体14を樹脂モールドするモールドプレス型に寸法公差があること、▲3▼フレーム体14を樹脂モールドした後、樹脂モールド部12は収縮するため収縮差を生じることによるためであり、樹脂モールド部12とパンチとのクリアランスをとってこれらの誤差を吸収することが必要となっている。
【0005】
実際には上記寸法差を考慮し、樹脂モールド後のフレーム体のサンプルを計測してパンチ・ダイを設計しているが、半導体装置がますます小型化する傾向にあることから、より小さなクリアランス(たとえば、樹脂モールド部の外形線位置から0.05mm以内)で切断することが求められるようになってきた。従来の切断装置でこのような高精度の切断加工を確実に行うことは不可能であり、図13に示すように、切断加工の際に樹脂モールド部12をパンチ18で削ってしまうといった問題が生じる。
【0006】
そこで、本発明はこれらの問題点を解消すべくなされたものであり、樹脂モールド後のフレーム体から精度よく個片に半導体装置を分離することができ、またフレーム体の切断装置として容易に多種製品に対応することができる半導体装置のフレーム切断方法及びフレーム切断装置を提供することを目的としている。
【0007】
本発明は上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、基板上に所定間隔で複数の樹脂モールド部が形成されたフレーム体を切断加工用の金型のダイによる切断加工の加工位置に位置合わせしてピッチ送りするとともに、前記樹脂モールド部の外側面に沿って基板を切断して個片の半導体装置に形成する半導体装置のフレーム切断方法であって前記フレーム体は、1列に複数の樹脂モールド部が形成され、金型により、前記フレーム体を1列ごとに、当該列内の樹脂モールド部について全て個片に切断加工して個片の半導体装置を形成する方法において、加工平面内における前記ダイのセット位置と、前記フレーム体をピッチ送りするごとに、各列内における一つの樹脂モールド部のみの平面位置とを計測し、該計測結果に基づき、前記ピッチ送りの際に前記樹脂モールド部が前記加工位置に一致する位置まで前記フレーム体を移動させて切断加工することを特徴とする。
た、前記樹脂モールド部の平面配置位置の計測を、前記フレーム体が前記加工位置にピッチ送りされる1ピッチ分手前の位置で行うことにより、より高精度の切断加工が可能となる。
【0008】
また、基板上に所定間隔で複数の樹脂モールド部が形成されたフレーム体を切断加工用のパンチ・ダイユニットの加工位置に位置合わせしてピッチ送りするとともに、前記樹脂モールド部の外側面に沿って基板を切断して個片の半導体装置に形成する半導体装置のフレーム切断装置において、前記パンチ・ダイユニットは、1列に複数の樹脂モールド部が形成されたフレーム体から、1列ごと個々の樹脂モールド部ごとに分離可能に設けられ、加工平面内での前記ダイのセット位置を計測して検知するダイ位置検知部と、前記フレーム体がピッチ送りされるごとに、フレーム体の各列内における一つの樹脂モールド部のみについて加工平面内での配置位置を検知する被加工品位置検知部と、前記ダイ位置検知部と前記被加工品位置検知部の計測結果に基づいて、前記フレーム体を前記加工位置にまで移動するX−Y方向への移動量を演算する演算制御部と、該演算制御部の演算結果に基づいて、前記フレーム体を前記加工位置にまで移動させるX−Y搬送装置とを有することを特徴とする。
た、前記被加工品位置検知部が、前記フレーム体が前記加工位置にピッチ送りされる1ピッチ分手前の位置にある樹脂モールド部を検知するものであることを特徴とする。
た、前記フレーム体の品種を識別する識別手段と、前記ダイ位置検知部に設けられた前記パンチ・ダイユニットの種類を識別する識別手段とを備え前記演算制御部は、前記フレーム体の識別手段と、前記パンチ・ダイユニットの識別手段とによって識別された前記フレーム体とパンチ・ダイユニットとを比較して前記フレーム体の加工位置への供給を制御することを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る半導体装置のフレーム切断方法およびフレーム切断装置の実施形態について、添付図面とともに詳細に説明する。
図1はフレーム切断装置の一実施形態の概略構成を示す平面図である。このフレーム切断装置は、フレーム体14上での樹脂モールド部12の位置を画像認識によって正確に計測し、その計測結果に基づき樹脂モールド部12を抜き金型に正確に位置合わせして切断するように構成したものである。
【0010】
以下では、図11に示すような幅方向に3個の樹脂モールド部12を有するフレーム体14を被加工品とする例について説明する。
図1で22はフレーム体14を収納したマガジンの収納部、24はマガジンからフレーム体14を送り出す供給部、26は供給部24から送り出されたフレーム体14を支持する支持フレームである。この支持フレーム26は加工平面であるX−Y平面内で任意位置に支持フレーム26を移動させるX−Y搬送装置96に支持され、X−Y搬送装置96によって支持フレーム26が移動することによって、支持フレーム26に支持されたフレーム体14が金型の加工位置に合わせて移送される。
【0011】
X−Y搬送装置96は、Y軸移動用のモータ28、X軸移動用のモータ30およびこれらモータ28、30に連繋してX−Y方向に移動するジョイントプレート32を有する。34はジョイントプレート32のY軸方向の移動をガイドするガイドレールである。X軸方向の移動は僅かであって、モータ30がジョイントプレート32とともにY軸方向に移動し、その移動位置でモータ30によりジョイントプレート32がX軸方向に微動する。
支持フレーム26はこのジョイントプレート32に固定支持され、X−Y搬送装置96の制御により所定位置に搬送される。図1では左側から右側に向けてY軸方向にフレーム体14がピッチ送りされ、徐々に切断加工された後、加工後のフレーム体14が右側に排出される。
【0012】
36はマガジンからフレーム体14を引き出して支持フレーム26にセットするためのフレーム取出装置である。38は抜き加工が完了したフレーム体14を排出するためのフレーム排出装置で、フレーム排出装置38で引き出されたフレーム体14はダストシュート40内に投下されて排出される。
【0013】
42はフレーム体14から個片に半導体装置を抜き加工する抜き加工部である。抜き加工部42の上方にはフレーム体14から個片に分離された半導体装置製品をピックアップするピックアップ部44が配置されている。図1では抜き加工部42の上方にピックアップ部44がある状態を示す。46はピックアップ部44と対になって使用する他のピックアップ部を示す。本実施形態ではこの2つのピックアップ部44、46を使用することにより、半導体装置製品の搬出操作が効率的に行えるようにしている。
【0014】
48はピックアップ部44、46の移動をガイドするガイドレールである。ピップアップ部44、46は被加工品14のピッチ送り方向とは直交する方向に往復動して製品整列部50に個片に分離された半導体装置製品を搬出する。52は製品を収納する収納トレイの格納部である。
【0015】
フレーム体14は支持フレーム26に支持されて樹脂モールド部12が画像認識されるが、樹脂モールド部12を正確に画像認識して精度よく移送できるようにするため、フレーム体14を確実に支持フレーム26に支持する必要がある。図2は支持フレーム26の平面図、図3は支持フレーム26および抜き加工部42の側面図である。図3で42aはダイベッド、42bはパンチホルダー、42cはガイドポストである。
【0016】
図2に示すように、支持フレーム26はフレーム体14の側縁部分でクランプするヒンジ板60a、60bとフレーム体14の長手方向の先端位置を規定するストッパ62とを有する。ヒンジ板60a、60bはエアシリンダ63により押し上げプレート64を下方から押し上げ、押し上げピン64aで下方から突くことによって開く。その状態でフレーム取出装置36によりフレーム体14を引き出しヒンジ板60a、60bと支持枠との間に送入する。
【0017】
支持フレーム26にフレーム体14をセットする際は、フレーム体14の先端をストッパ62に当接させ、フレーム体14の側縁を一方のヒンジ板60a側に当接させて位置決めするようにする。フレーム取出装置36によりストッパ62に当接するまでフレーム体14を送入する一方、ヒンジ板60a、60bではさまれた状態でプッシャ66によりフレーム体14を幅方向に押すことにより一方のヒンジ板60a側にフレーム体14を突き当てることができる。この状態でヒンジ板60a、60bを閉じれば、常に支持フレーム26の所定位置にフレーム体14を支持することができる。
【0018】
プッシャ66はエアシリンダ68によって駆動され、ヒンジ板60a、60bはヒンジ板60a、60bと支持枠との間に装着されたスプリング69の付勢力によって閉じる。したがって、品種切り換えの際にフレーム体14の幅寸法が変わっても支持フレーム26を交換する必要がない。支持フレーム26の長手方向の両端には各々橋梁部60c、60cが設けられ、ヒンジ板60a、60bの端部を支持する。これによって、フレーム体14を支持する領域ではフレーム体14の側縁部をクランプする部位以外の領域は穴あきとなっている。支持フレーム26は抜き加工部42を通過するまで常にフレーム体14を支持しているから、フレーム体14の側縁部分を除いて穴あきとすることで支持フレーム26にフレーム体14を支持して抜き加工することが可能となる。
支持フレーム26は異種のフレーム体14に対して共通に使用するが、フレーム体14の幅が支持フレーム26よりも広いような場合には、ジョイントプレート32に支持フレーム26を交換して装着すればよい。
【0019】
画像認識によってフレーム体14の樹脂モールド部12を正確に金型に位置決めするには、金型のダイ位置を正確に認識し、これに対して樹脂モールド部12を正確に位置決めする必要がある。本実施形態ではこのため金型のダイ位置をあらかじめ画像認識により正確に計測しておき、フレーム体14上での樹脂モールド部12の位置を計測して、金型のダイに樹脂モールド部12の位置を一致させるようにしている。
【0020】
図4は抜き加工部42に設置されるダイベッド42aの平面図である。70はダイベッド42aに固定したダイである。72はダイ70を支持する可動ブロックで、フレーム体14から半導体装置を個片に分離する際に、突き上げ機構によりパンチホルダー42bに向けてダイ70を突き上げるように作用する。74は可動ブロック72を上下にガイドして支持するころ軸受けである。76は可動ブロック72を元位置に復帰させる戻しスプリングである。
【0021】
図5はダイ70の平面図を示す。本実施形態のフレーム切断装置はフレーム体14を1列ごと、すなわち一度に3個ずつ樹脂モールド部12を切断するよう構成されており、列内の樹脂モールド部12の配置位置に合わせて3つの切断突起部70a、70a、70aを設けている。これら3つの切断突起部70aは樹脂モールドされ収縮した基板10のサンプルを測定して位置決めされている。
【0022】
80はダイ70の品種の識別とダイ70のセット位置を計測するための画像計測領域である。この画像計測領域80にはダイ70がセットされている位置を計測するための位置計測孔81と品種判別孔82が設けられている。品種判別穴82は穴が開いているか閉じているかによってダイ70品種を判別する。品種判別穴82は4つの孔を2列に配置し、開孔と閉孔の組み合わせによって数十種類識別することができる。位置計測孔81は一つの孔からなり、品種判別孔82は8つの孔からなる。
位置計測孔81は孔位置を画像認識してそのX−Y位置を検知するためのものである。ダイ製作時に切断突起部70aと位置計測孔81との位置関係を正確に設定することはもちろんであるが、位置計測孔81を画像認識することにより、演算制御部94に切断突起部70aと位置計測孔81との位置関係を記憶させる。品種判別孔82は孔が開孔しているか閉じているかによってダイ70の品種を判別する。このダイ70の品種判別は、そのダイ70によっては加工できない異種製品を確実に事前に排除するためのものである。
【0023】
84の領域はパンチホルダー42b側から画像計測領域80を視認するため、パンチホルダー42bの逃げ孔を示している。この逃げ孔84の上方にCCDカメラが据えつけられて、画像計測領域80を視認している。
なお、この画像計測領域80は被加工品のフレーム体14での樹脂モールド部12の位置を計測する計測領域でもある。すなわち、ダイ70のセット位置とダイ70の判別は、装置に金型をセットして加工を開始する前に行って記憶しておけばよいから、実際に被加工品を搬送しながら抜き加工する際に画像計測領域80を視認するのは個々の樹脂モールド部12の位置を検知するためとなる。
【0024】
図6は画像計測領域80でフレーム体14の樹脂モールド部12を画像認識する状態を示す。本実施形態では1列に3個配置されている樹脂モールド部12のうち端部の一つの樹脂モールド部12aについて、その左下部分のコーナー部CのL形部分を認識して計測している。もちろん、樹脂モールド部12aの対角位置にあるコーナー部を合わせて計測すればさらに精度のよいX−Y位置の計測が可能である。
【0025】
なお、場合によっては列ごとに樹脂モールド部12の位置を計測するかわりに、フレーム体14の対角線位置にある一対の樹脂モールド部12のコーナー部を計測してフレーム体14の位置を計測する方法も可能である。たとえば、図11に示すフレーム体14で対角線位置にある樹脂モールド部12a1 と12j3 、樹脂モールド部12a3 と12j1 の外側のコーナー部を計測することでフレーム体14全体としての位置計測ができるから、フレーム体14全体の計測結果に基づいて順次ピッチ送りすることによって切断加工することも可能である。この方法は、列ごとに樹脂モールド部12の位置を計測しないから処理速度を速くすることができるという利点がある。
【0026】
本実施形態で列内の3つの樹脂モールド部のうちの一つの樹脂モールド部12についてのみX−Y位置を計測しているのは、樹脂モールド部12の全数位置計測時間よりも計測時間を短縮することによって加工処理速度を上げるられるようにするためである。また、樹脂モールド部12はあらかじめ収縮した基板10のサンプルを測定して列内の他の樹脂モールド部12についても正確に位置出しできるので、製作時および取り付け時に精度良く位置決めした切断突起部70aの位置を画像処理により演算制御部94に記憶させておき、樹脂モールド部12と位置合わせすることによって精度の良い切断加工が可能となる。
【0027】
前述したように、支持フレーム26にフレーム体14をセットする際に、フレーム体14をストッパ62と一方のヒンジ板60a側に当接させるようにして位置合わせし、支持フレーム26上で確実にフレーム体14を位置合わせしてセットすることによって、列内の一つの樹脂モールド部12aのみの位置計測だけで精度の良い切断加工が可能になる。
【0028】
図6で矢印Aで示す列位置は樹脂モールド部12aを計測する列位置であり、矢印Bで示す列位置はダイ70で樹脂モールド部12を切断加工する位置である。すなわち、A列の位置で樹脂モールド部12の位置を計測し、ダイ70の切断位置に対しフレーム体14をX−Y方向にどの程度移動するかを演算して求め、その演算結果に基づいてフレーム体14をX−Y方向にピッチ送りしてダイ70と樹脂モールド部12とを位置合わせする。
【0029】
画像計測領域80はダイ70での切断位置に対して1列分だけ手前の位置に配置されており、フレーム体14を1列ずつピッチ送りするごとに、次列の樹脂モールド部12が画像計測領域80に移動してくるから、送り操作ごとに樹脂モールド部12のコーナー部を画像認識し、当該列を次のピッチ送りでどのようにX−Y移動すべきかを演算して順次送りすることを繰り返すことによって切断加工する。
【0030】
なお、A列の位置で樹脂モールド部12の位置を検知する意味は金型の切断位置に正確に樹脂モールド部12を移送するため、X−Y平面内での樹脂モールド部12の位置を事前に正確に検知することに相当する。したがって、樹脂モールド部12の位置検出を行うのはつねに切断加工位置に移動する1ピッチ手前の位置である必要はなく、事前に樹脂モールド部12の位置検出ができればよい。しかし、X−Y搬送装置の移動誤差等を考慮すると、切断加工位置に移動する1ピッチ前の位置で樹脂モールド部12の位置を検出するのが最も正確である。
【0031】
図7は画像認識によってフレーム体14を抜き加工する制御系のブロック図を示す。ダイ位置検知部90は金型をセットした際にダイ70がX−Y平面でどの位置にセットされているかを検知する手段である。本実施形態ではダイ70に設けられた位置計測孔81を画像認識して検知している。被加工品位置検知部92は被加工品のフレーム体14での樹脂モールド部12のX−Y平面での位置を検知する手段であり、樹脂モールド部12のコーナー部を画像認識して検知している。
【0032】
演算制御部94はフレーム体14をダイ70とパンチによる切断位置にピッチ送りする際に、X−Y方向にどの程度移動させるかを演算する。そして、この演算結果に基づいてX−Y搬送装置96により支持フレーム26をX−Y方向に所定量移動させることにより、フレーム体14の樹脂モールド部12を正確にダイ70とパンチの抜き加工位置に一致させて加工することができる。
【0033】
本実施形態のフレーム切断装置はフレーム体14の全ての列について樹脂モールド部12の位置を検知し、樹脂モールド部12を切断加工位置に一致させて切断するから、樹脂モールド部12が位置ずれしているような場合でも位置ずれを補正して正確に切断することが可能となる。これによって、従来の位置合わせによる切断方法では不可能であった0.05mmといった高精度のクリアランスでの切断加工が可能となる。
【0034】
なお、本実施形態では1列内の樹脂モールド部12については1回の抜き加工で切断するようにしているから、1列内では1個の樹脂モールド部12についてのみ位置検出しているが、樹脂モールド部12を一つ一つ個別に切断する場合には、樹脂モールド部12の全数について位置検出して位置合わせするようにすればよい。たとえば、1列に複数個の樹脂モールド部を有するフレーム体で加工処理速度等についても問題がなければ、樹脂モールド部の全数について位置検出して個々に切断加工するように制御することも可能である。
【0035】
図8、9は本実施形態のフレーム切断装置で用いているダイ70とパンチ100の構成を示す。図8に示すように、ダイ70の上面には1列内の3つの樹脂モールド部12を抜き加工するための切断突起部70aが3個並設されている。切断突起部70aの上面にはフレーム体14の下面に接合されているはんだボールを逃がすための逃げ凹部が設けられている。また、パンチホルダー42bに支持されたパンチ100にはダイ70に設けられている切断突起部70aに対応して3つのパンチ孔100aが設けられる。
【0036】
図9で84はパンチプレート102を貫通して設けた逃げ孔であり、金型の上方から画像計測領域80を視認できるようになっている。104はダイ70を下向きに付勢するスプリングであり、可動ブロック72を突き上げてダイ70とパンチ100との間でフレーム体14から樹脂モールド部12を抜き加工した後、ダイ70を下位置に復帰させる作用をなす。
【0037】
なお、品種切り換えに応じてダイ70およびパンチ100を交換セットする際は、可動ブロック72を共通に使用してダイ70のみを交換できるようになっており、パンチホルダー42bを共通に使用してパンチ100のみを交換できるようになっている。これによって、多品種の被加工品についての切断加工に汎用的に使用することができる。
【0038】
106はダイ70とパンチ100とで樹脂モールド部12を個片に切断した半導体装置をエア吸着して支持する吸着パッドである。ダイ70とパンチ100とで半導体装置を個片に分離する際は、ダイ70で半導体装置を突き上げ、個片に分離された半導体装置を上方の吸着パッド106によりエア吸着して支持する。吸着パッド106はピックアップ部44、46に支持されており、吸着パッド106に支持された半導体装置は、図1に示したように製品整列部50側に搬出される。
【0039】
図10は画像計測領域80を視認して画像認識するCCDカメラの配置を示す。108は画像計測領域80を視認するための第1のCCDカメラ、110はフレーム体14の品種を判別するための第2のCCDカメラである。第1のCCDカメラ108は抜き加工部42の上方に配置され、第2のCCDカメラ110はフレーム体14の供給部24の出口位置の上方に配置される。112、114はリング照明部、116、118は支柱である。
【0040】
第1のCCDカメラ108は、1台のカメラでプログラムソフトを切り換えることにより、画像計測領域80を視認してダイ70のセット位置を検知するとともに、被加工品のフレーム体14の樹脂モールド部12の位置を検知する。第2のCCDカメラ110はフレーム体14の製品を判別するためのものである。本実施形態では樹脂モールド部12の外形寸法を検知して製品を判別する。第2のCCDカメラ110を用いて製品を判別するのは、装置にセットされているダイ70に合致しない製品が供給されないようにチェックするためである。フレーム切断装置ではダイ70とパンチ100が交換してセットされるから、金型と合致しない被加工品が供給されることがあり得る。本装置ではダイ70と被加工品とを加工前に比較し、合致しない被加工品が搬入された際には供給を停止して供給ミスが発生しないようにしている。
【0041】
なお、本実施形態では画像認識方法によってダイの配置位置や樹脂モールド部の位置を検知しているが、これらの位置検出には種々の方法が可能であり、上述した方法に限定されるものではない。また、被加工品の品種判別も実施形態の方法に限らず、被成形品に設けたマークを識別して判別するといった他の判別方法を利用することももちろん可能である。
【0042】
以上説明したように、本発明に係るフレームの切断方法は、被加工品であるフレーム体14上の樹脂モールド部12の配置位置を個々に検出し、その検出位置に基づいて樹脂モールド部を金型の切断位置に位置合わせして切断加工するものであり、したがって、フレーム体14上での樹脂モールド部12の配置が若干ずれていた場合、あるいはフレーム体14の送りに僅かな誤差があったような場合でも、被加工品を正確に切断することが可能となり、きわめて小さなクリアランスを設定しても確実な切断加工が可能となるものである。
【0043】
【発明の効果】
本発明に係る半導体装置のフレーム切断方法及び切断装置によれば、上述したように、加工平面内におけるダイのセット位置と、フレーム体の各列内における一つの樹脂モールド部のみについて配置位置を計測し、その計測結果に基づいて樹脂モールド部を金型の所定の切断位置に位置合わせして切断するから、フレーム体を高精度切断加工することができ、また樹脂モールド部を全数計測して加工する場合と比較して加工処理速度を上げることができる。これにより、樹脂モールド部とのクリアランスをきわめて小さく設定して個片の半導体装置に確実に切断することが可能となり、チップサイズパッケージのような小型の半導体装置の製造に好適に使用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】フレーム切断装置の一実施形態の全体構成を示す平面図である。
【図2】支持フレームの平面図である。
【図3】支持フレームおよび抜き加工部の側面図である。
【図4】ダイベッドの平面図である。
【図5】ダイの平面図である。
【図6】画像認識方法を示す説明図である。
【図7】フレーム体を抜き加工する制御系のブロック図である。
【図8】フレーム切断装置のダイおよびパンチの構成を示す側面断面図である。
【図9】フレーム切断装置のダイおよびパンチの構成を示す正面断面図である。
【図10】CCDカメラの配置を示す説明図である。
【図11】フレーム体の平面図である。
【図12】ダイおよびパンチによりフレーム体から半導体装置を個片に分離する方法を示す説明図である。
【図13】樹脂モールド部がパンチによって削られる状態を示す説明図である。
【符号の説明】
10 基板
12 樹脂モールド部
14 フレーム体
22 マガジンの収納部
24 供給部
26 支持フレーム
28、30 モータ
32 ジョイントプレート
36 フレーム取出装置
42 抜き加工部
42a ダイベッド
42b パンチホルダー
42c ガイドポスト
44、46 ピックアップ部
60a、60b ヒンジ板
62 ストッパ
66 プッシャ
70 ダイ
70a 切断突起部
72 可動ブロック
80 画像計測領域
81 位置計測孔
82 品種判別孔
84 逃げ孔
90 ダイ位置検知部
92 被加工品位置検知部
94 演算制御部
96 X−Y搬送装置
100 パンチ
108 第1のCCDカメラ
110 第2のCCDカメラ
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a frame cutting method and a frame cutting apparatus for a semiconductor device used for manufacturing a resin mold type semiconductor device.
[0002]
[Prior art]
FIG. 11 shows a frame body 14 in which a plurality of resin mold portions 12 are provided on a substrate 10 formed in a strip shape. In a resin mold type semiconductor device, after mounting a semiconductor chip on a lead frame or a frame formed like a strip like the substrate 10 shown in FIG. 11, each semiconductor chip is resin molded by a resin molding device. After the resin molding, the semiconductor devices are separated into individual pieces from the strip-shaped substrate.
[0003]
  Recently, a resin film such as a resin substrate or a TAB tape has been used as a substrate of a semiconductor device. In the manufacture of such a semiconductor device, a semiconductor chip is mounted on a substrate formed in a strip shape, After the molding, the substrate is cut along the outer shape of each resin mold part to obtain a semiconductor device product separated into individual pieces.
  The semiconductor device is separated into individual pieces from the substrate 10 by punching using a mold. FIG. 12 shows a conventional method of punching the semiconductor device 20 from the substrate 10 with the die 16 and the punch 18. The substrate 10 is clamped by the die 16 and the punch 18, and the punch 18It is separated into individual pieces by punching out.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, when the semiconductor device is separated from the frame body 14 as shown in FIG. 11, the distance between the outer surface of the resin mold portion 12 and the punch 18 is set so that the resin mold portion 12 and the punch 18 do not interfere with each other. Leave about 0.2 to 0.3 mm. This is because (1) the pilot pin of the die is inserted into the pilot hole 15 provided in the frame body 14 for positioning, so that a hole position tolerance is generated, and (2) the mold press die for resin molding the frame body 14 is dimensioned. This is because (3) the resin mold part 12 contracts after the frame body 14 is resin-molded, resulting in a contraction difference. The clearance between the resin mold part 12 and the punch is taken to obtain these errors. Must be absorbed.
[0005]
In actuality, the punch and die are designed by measuring the sample of the frame body after resin molding in consideration of the above dimensional difference. However, since semiconductor devices tend to become smaller and smaller, a smaller clearance ( For example, it has come to be required to cut within 0.05 mm from the position of the outline of the resin mold portion. It is impossible to reliably perform such high-accuracy cutting with a conventional cutting device, and there is a problem that the resin mold portion 12 is scraped with a punch 18 during cutting as shown in FIG. Arise.
[0006]
Therefore, the present invention has been made to solve these problems. The semiconductor device can be accurately separated into individual pieces from the frame body after resin molding, and various kinds of frame body cutting devices can be easily used. It is an object of the present invention to provide a frame cutting method and a frame cutting apparatus for a semiconductor device that can be applied to products.
[0007]
  In order to achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement.
  That is, a frame body in which a plurality of resin mold parts are formed at predetermined intervals on a substrate is cut into a mold for cutting.Cutting with a dieA frame cutting method for a semiconductor device in which a pitch is fed while being aligned with a processing position, and the substrate is cut along the outer surface of the resin mold portion to form a semiconductor device in a piece.Because,The frame body is formed with a plurality of resin mold portions in one row, and the frame body is cut into individual pieces for each row of the resin mold portions in the row by a mold. In a method of forming a device,In the processing planeDie set positionAnd the frame bodyEach time the pitch is fed, only one resin mold part in each rowPlane position andTotalMeasureBased on the measurement results,During the pitch feed,The resin mold portion is cut by moving the frame body to a position that coincides with the processing position.
MaFurther, the planar arrangement position of the resin mold partMeasurement ofBy performing the cutting at a position one pitch before the frame body is pitch-fed to the processing position, it is possible to perform cutting with higher accuracy.
[0008]
  In addition, the frame body in which a plurality of resin mold parts are formed on the substrate at predetermined intervals is aligned with the processing position of the punching and die unit for cutting, and is fed along the outer surface of the resin mold part. In a semiconductor device frame cutting device that cuts a substrate and forms it into a piece of semiconductor device,The punch / die unit is provided so as to be separable from the frame body in which a plurality of resin mold portions are formed in one row for each resin mold portion for each row,Of the die in the processing planeSet positionA die position detector for measuring and detectingEach time the frame body is pitch fed, only one resin mold part in each row of the frame bodyA workpiece position detection unit that detects an arrangement position in a processing plane, and the frame body is moved to the processing position based on measurement results of the die position detection unit and the workpiece position detection unit. An arithmetic control unit that calculates the amount of movement in the −Y direction, and an XY conveyance device that moves the frame body to the processing position based on the calculation result of the arithmetic control unit. .
MaThe processed productpositionThe detection unit detects a resin mold portion at a position one pitch before the frame body is pitch-fed to the processing position.
MaIn addition, the identification means for identifying the type of the frame body and the die position detection unitProvidedIdentification means for identifying the type of punch / die unitAnd with,The arithmetic control unit includes: an identification unit for the frame body; and the punch / die unit.Identification meansAnd byThe identified frame body is compared with the punch / die unit to control the supply of the frame body to the processing position.RukoAnd features.
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of a frame cutting method and a frame cutting apparatus for a semiconductor device according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of an embodiment of a frame cutting device. This frame cutting device accurately measures the position of the resin mold portion 12 on the frame body 14 by image recognition, and based on the measurement result, accurately positions the resin mold portion 12 on the die and cuts it. It is configured.
[0010]
Below, the example which makes the frame body 14 which has the three resin mold parts 12 in the width direction as shown in FIG. 11 to be processed is demonstrated.
In FIG. 1, reference numeral 22 denotes a magazine storage unit that stores the frame body 14, 24 denotes a supply unit that sends out the frame body 14 from the magazine, and 26 denotes a support frame that supports the frame body 14 sent out from the supply unit 24. The support frame 26 is supported by an XY transport device 96 that moves the support frame 26 to an arbitrary position in the XY plane, which is a processing plane, and the support frame 26 is moved by the XY transport device 96. The frame body 14 supported by the support frame 26 is transferred in accordance with the processing position of the mold.
[0011]
The XY transport device 96 includes a motor 28 for moving the Y axis, a motor 30 for moving the X axis, and a joint plate 32 that is connected to the motors 28 and 30 and moves in the XY direction. A guide rail 34 guides the movement of the joint plate 32 in the Y-axis direction. The movement in the X-axis direction is slight, and the motor 30 moves in the Y-axis direction together with the joint plate 32, and the joint plate 32 is slightly moved in the X-axis direction by the motor 30 at the moving position.
The support frame 26 is fixedly supported by the joint plate 32 and is transported to a predetermined position under the control of the XY transport device 96. In FIG. 1, the frame body 14 is pitch-fed in the Y-axis direction from the left side to the right side, and after being gradually cut, the processed frame body 14 is discharged to the right side.
[0012]
Reference numeral 36 denotes a frame take-out device for pulling out the frame body 14 from the magazine and setting it on the support frame 26. Reference numeral 38 denotes a frame discharge device for discharging the frame body 14 that has been punched. The frame body 14 drawn out by the frame discharge device 38 is dropped into the dust chute 40 and discharged.
[0013]
Reference numeral 42 denotes a punching unit for punching a semiconductor device into individual pieces from the frame body 14. Above the punching part 42, a pickup part 44 for picking up the semiconductor device product separated from the frame body 14 into individual pieces is arranged. FIG. 1 shows a state in which the pickup portion 44 is above the punching portion 42. Reference numeral 46 denotes another pickup unit used in combination with the pickup unit 44. In this embodiment, by using these two pickup parts 44 and 46, the semiconductor device product can be carried out efficiently.
[0014]
Reference numeral 48 denotes a guide rail that guides the movement of the pickup units 44 and 46. The pip-up portions 44 and 46 reciprocate in a direction perpendicular to the pitch feed direction of the workpiece 14 and carry the semiconductor device product separated into individual pieces to the product alignment portion 50. Reference numeral 52 denotes a storage unit of a storage tray for storing products.
[0015]
The frame body 14 is supported by the support frame 26 and the image of the resin mold portion 12 is recognized. However, in order to accurately recognize the resin mold portion 12 and transfer it, the frame body 14 is securely attached to the support frame. 26 needs to be supported. FIG. 2 is a plan view of the support frame 26, and FIG. 3 is a side view of the support frame 26 and the punching portion 42. In FIG. 3, 42a is a die bed, 42b is a punch holder, and 42c is a guide post.
[0016]
As shown in FIG. 2, the support frame 26 includes hinge plates 60 a and 60 b that are clamped at a side edge portion of the frame body 14 and a stopper 62 that defines the front end position of the frame body 14 in the longitudinal direction. The hinge plates 60a and 60b are opened by pushing up the push-up plate 64 from below by the air cylinder 63 and projecting from below by the push-up pin 64a. In this state, the frame body 14 is pulled out by the frame take-out device 36 and fed between the hinge plates 60a and 60b and the support frame.
[0017]
When the frame body 14 is set on the support frame 26, the front end of the frame body 14 is brought into contact with the stopper 62, and the side edge of the frame body 14 is brought into contact with the one hinge plate 60a to be positioned. While the frame body 14 is fed in until the frame 62 comes into contact with the stopper 62 by the frame take-out device 36, the frame body 14 is pushed in the width direction by the pusher 66 while being sandwiched between the hinge plates 60 a and 60 b, and the hinge plate 60 a side The frame body 14 can be brought into contact with the frame. If the hinge plates 60a and 60b are closed in this state, the frame body 14 can be supported at a predetermined position of the support frame 26 at all times.
[0018]
The pusher 66 is driven by an air cylinder 68, and the hinge plates 60a and 60b are closed by the urging force of a spring 69 mounted between the hinge plates 60a and 60b and the support frame. Therefore, it is not necessary to replace the support frame 26 even if the width dimension of the frame body 14 changes at the time of product type switching. Bridge portions 60c and 60c are provided at both ends in the longitudinal direction of the support frame 26, and support the end portions of the hinge plates 60a and 60b. Thereby, in the area | region which supports the frame body 14, areas other than the site | part which clamps the side edge part of the frame body 14 are perforated. Since the support frame 26 always supports the frame body 14 until it passes through the punching portion 42, the frame body 14 is supported by the support frame 26 by making holes except for the side edge portion of the frame body 14. It becomes possible to punch.
The support frame 26 is commonly used for different types of frame bodies 14, but if the width of the frame body 14 is wider than the support frame 26, the support frame 26 may be replaced and attached to the joint plate 32. Good.
[0019]
In order to accurately position the resin mold portion 12 of the frame body 14 on the mold by image recognition, it is necessary to accurately recognize the die position of the mold and accurately position the resin mold portion 12 with respect thereto. In this embodiment, therefore, the die position of the mold is accurately measured in advance by image recognition, the position of the resin mold portion 12 on the frame body 14 is measured, and the resin mold portion 12 is placed on the die of the mold. The positions are matched.
[0020]
FIG. 4 is a plan view of the die bed 42a installed in the punching section 42. FIG. Reference numeral 70 denotes a die fixed to the die bed 42a. A movable block 72 supports the die 70, and acts to push up the die 70 toward the punch holder 42b by a push-up mechanism when separating the semiconductor device from the frame body 14 into individual pieces. 74 is a roller bearing which guides and supports the movable block 72 up and down. Reference numeral 76 denotes a return spring for returning the movable block 72 to the original position.
[0021]
FIG. 5 shows a plan view of the die 70. The frame cutting device according to the present embodiment is configured to cut the resin mold parts 12 in one row, that is, three pieces at a time, in accordance with the arrangement position of the resin mold parts 12 in the row. Cutting protrusions 70a, 70a, 70a are provided. These three cutting projections 70a are positioned by measuring a sample of the substrate 10 that has been resin-molded and contracted.
[0022]
  Reference numeral 80 denotes an image measurement area for identifying the type of the die 70 and measuring the set position of the die 70. This image measurement area 80 is provided with a position measurement hole 81 and a product type determination hole 82 for measuring the position where the die 70 is set. The type identification hole 82 depends on whether the hole is opened or closed.ofIdentify the variety. The kind discrimination hole 82 has four holes arranged in two rows, and tens of kinds can be identified by a combination of the opening and the closing hole. The position measurement hole 81 consists of one hole, and the product type discrimination hole 82 consists of eight holes.
  The position measurement hole 81 is for recognizing the hole position and detecting its XY position. Of course, the positional relationship between the cutting projection 70a and the position measurement hole 81 is set accurately at the time of manufacturing the die. However, by recognizing the position measurement hole 81 as an image, the arithmetic control unit 94 can detect the position of the cutting projection 70a and the position. The positional relationship with the measurement hole 81 is stored. The product type discrimination hole 82 discriminates the product type of the die 70 depending on whether the hole is opened or closed. This type discrimination of the die 70 is for surely excluding in advance a dissimilar product that cannot be processed by the die 70.
[0023]
A region 84 indicates an escape hole of the punch holder 42b in order to visually recognize the image measurement region 80 from the punch holder 42b side. A CCD camera is installed above the escape hole 84 to visually recognize the image measurement area 80.
The image measurement area 80 is also a measurement area for measuring the position of the resin mold portion 12 in the frame body 14 of the workpiece. In other words, the setting position of the die 70 and the discrimination of the die 70 may be performed and stored before setting the mold in the apparatus and starting the processing, so that the workpiece is actually punched while being conveyed. At this time, the image measurement region 80 is visually recognized in order to detect the position of each resin mold portion 12.
[0024]
FIG. 6 shows a state where the image of the resin mold part 12 of the frame body 14 is recognized in the image measurement region 80. In the present embodiment, among the resin mold portions 12 arranged in three rows, one end of the resin mold portion 12a is measured by recognizing the L-shaped portion of the lower left corner portion C. Of course, if the corner portions at the diagonal positions of the resin mold portion 12a are combined and measured, the XY position can be measured with higher accuracy.
[0025]
In some cases, instead of measuring the position of the resin mold portion 12 for each row, a method of measuring the position of the frame body 14 by measuring the corner portions of the pair of resin mold portions 12 at the diagonal positions of the frame body 14. Is also possible. For example, the resin mold portion 12a at the diagonal position in the frame body 14 shown in FIG.1And 12jThreeResin mold part 12aThreeAnd 12j1Since the position of the entire frame body 14 can be measured by measuring the outer corner portion of the frame, cutting can be performed by sequentially feeding the pitch based on the measurement result of the entire frame body 14. This method has an advantage that the processing speed can be increased because the position of the resin mold portion 12 is not measured for each row.
[0026]
In this embodiment, the XY position is measured only for one resin mold portion 12 of the three resin mold portions in the row. The measurement time is shorter than the total position measurement time of the resin mold portion 12. This is because the processing speed can be increased. Further, since the resin mold part 12 can measure the sample of the substrate 10 contracted in advance and accurately position other resin mold parts 12 in the row, the cutting projection part 70a positioned with high precision at the time of manufacture and attachment can be obtained. The position is stored in the arithmetic control unit 94 by image processing and is aligned with the resin mold unit 12 so that cutting with high accuracy is possible.
[0027]
As described above, when the frame body 14 is set on the support frame 26, the frame body 14 is aligned with the stopper 62 and the one hinge plate 60 a so that the frame body 14 is securely mounted on the support frame 26. By aligning and setting the body 14, accurate cutting can be performed only by measuring the position of only one resin mold portion 12 a in the row.
[0028]
In FIG. 6, the row position indicated by the arrow A is a row position where the resin mold portion 12 a is measured, and the row position indicated by the arrow B is a position where the resin mold portion 12 is cut by the die 70. That is, the position of the resin mold portion 12 is measured at the position of the A row, and it is obtained by calculating how much the frame body 14 is moved in the XY direction with respect to the cutting position of the die 70, and based on the calculation result. The die body 70 and the resin mold part 12 are aligned by pitch-feeding the frame body 14 in the XY direction.
[0029]
The image measurement area 80 is disposed at a position one line ahead of the cutting position on the die 70, and the resin mold portion 12 in the next line performs image measurement each time the frame body 14 is pitch-feeded by one line. Since it moves to the area 80, the image of the corner part of the resin mold part 12 is recognized for each feeding operation, and it is calculated how to move the row in the next pitch feeding and sequentially sent. It cuts by repeating.
[0030]
The meaning of detecting the position of the resin mold portion 12 at the position of the A row is that the position of the resin mold portion 12 in the XY plane is determined in advance in order to accurately transfer the resin mold portion 12 to the cutting position of the mold. It corresponds to detecting accurately. Therefore, it is not always necessary to detect the position of the resin mold portion 12 at a position one pitch before the position where the resin mold portion 12 moves to the cutting position, and it is sufficient if the position of the resin mold portion 12 can be detected in advance. However, in consideration of the movement error of the XY transport device, it is most accurate to detect the position of the resin mold portion 12 at a position one pitch before moving to the cutting position.
[0031]
FIG. 7 shows a block diagram of a control system for cutting the frame body 14 by image recognition. The die position detection unit 90 is a means for detecting where the die 70 is set on the XY plane when the mold is set. In this embodiment, the position measurement hole 81 provided in the die 70 is recognized by image recognition. The workpiece position detection unit 92 is a means for detecting the position of the resin mold portion 12 in the XY plane of the workpiece 14 in the frame body 14, and detects and detects the corner portion of the resin mold portion 12. ing.
[0032]
The calculation control unit 94 calculates how much the frame body 14 is moved in the XY direction when the frame body 14 is pitch-fed to the cutting position by the die 70 and the punch. Then, based on the calculation result, the support frame 26 is moved in the XY direction by a predetermined amount by the XY transport device 96, so that the resin mold portion 12 of the frame body 14 is accurately placed in the die 70 and punch cutting position. Can be processed to match.
[0033]
Since the frame cutting device of this embodiment detects the position of the resin mold part 12 for all the rows of the frame body 14 and cuts the resin mold part 12 in accordance with the cutting processing position, the resin mold part 12 is displaced. Even in such a case, it is possible to accurately cut by correcting the positional deviation. As a result, it is possible to perform cutting with a highly accurate clearance of 0.05 mm, which is impossible with the conventional cutting method based on alignment.
[0034]
In this embodiment, since the resin mold portions 12 in one row are cut by one punching process, the position is detected only for one resin mold portion 12 in one row. When the resin mold parts 12 are cut individually one by one, the positions of all the resin mold parts 12 may be detected and aligned. For example, if there is no problem in processing speed and the like with a frame body having a plurality of resin mold portions in one row, it is possible to control the position of all the resin mold portions to be individually cut and processed. is there.
[0035]
8 and 9 show the configuration of the die 70 and the punch 100 used in the frame cutting apparatus of this embodiment. As shown in FIG. 8, on the upper surface of the die 70, three cutting projections 70a for punching out the three resin mold portions 12 in one row are arranged in parallel. An escape recess is provided on the upper surface of the cutting projection 70a to allow the solder balls joined to the lower surface of the frame body 14 to escape. The punch 100 supported by the punch holder 42b is provided with three punch holes 100a corresponding to the cutting projections 70a provided in the die 70.
[0036]
In FIG. 9, 84 is a relief hole provided through the punch plate 102 so that the image measurement region 80 can be viewed from above the mold. Reference numeral 104 denotes a spring that biases the die 70 downward. After the movable block 72 is pushed up to remove the resin mold portion 12 from the frame body 14 between the die 70 and the punch 100, the die 70 is returned to the lower position. To act.
[0037]
In addition, when the die 70 and the punch 100 are exchanged and set in accordance with the type change, only the die 70 can be exchanged using the movable block 72 in common, and the punch holder 42b is used in common for the punch. Only 100 can be exchanged. Thereby, it can be used universally for cutting processing of a wide variety of workpieces.
[0038]
Reference numeral 106 denotes a suction pad that supports the semiconductor device in which the resin mold portion 12 is cut into individual pieces by the die 70 and the punch 100 by air suction. When the semiconductor device is separated into individual pieces by the die 70 and the punch 100, the semiconductor device is pushed up by the die 70, and the semiconductor device separated into the individual pieces is supported by air suction by the upper suction pad 106. The suction pad 106 is supported by the pickup units 44 and 46, and the semiconductor device supported by the suction pad 106 is carried out to the product alignment unit 50 side as shown in FIG.
[0039]
FIG. 10 shows the arrangement of a CCD camera that recognizes an image by visually recognizing the image measurement area 80. Reference numeral 108 denotes a first CCD camera for visually recognizing the image measurement area 80, and reference numeral 110 denotes a second CCD camera for determining the type of the frame body 14. The first CCD camera 108 is disposed above the punching section 42, and the second CCD camera 110 is disposed above the exit position of the supply section 24 of the frame body 14. 112 and 114 are ring illumination units, and 116 and 118 are support columns.
[0040]
The first CCD camera 108 detects the set position of the die 70 by visually recognizing the image measurement area 80 by switching the program software with one camera, and at the same time, the resin mold portion 12 of the frame body 14 of the workpiece. The position of is detected. The second CCD camera 110 is for discriminating the product of the frame body 14. In the present embodiment, the product is identified by detecting the outer dimension of the resin mold portion 12. The reason why the product is discriminated using the second CCD camera 110 is to check that a product that does not match the die 70 set in the apparatus is not supplied. In the frame cutting apparatus, since the die 70 and the punch 100 are exchanged and set, a workpiece that does not match the mold may be supplied. In this apparatus, the die 70 and the workpiece are compared before processing, and when a workpiece that does not match is loaded, the supply is stopped so that a supply error does not occur.
[0041]
In this embodiment, the position of the die and the position of the resin mold portion are detected by the image recognition method. However, various methods are possible for detecting these positions, and the present invention is not limited to the above-described methods. Absent. Further, the type discrimination of the workpiece is not limited to the method of the embodiment, and other discrimination methods such as discriminating and discriminating marks provided on the workpiece can be used.
[0042]
As described above, in the frame cutting method according to the present invention, the arrangement position of the resin mold portion 12 on the frame body 14 which is a workpiece is individually detected, and the resin mold portion is made gold based on the detection position. Cutting is performed by aligning with the cutting position of the mold. Therefore, when the arrangement of the resin mold portion 12 on the frame body 14 is slightly shifted, or there is a slight error in feeding the frame body 14. Even in such a case, it is possible to accurately cut the workpiece, and even if an extremely small clearance is set, reliable cutting can be performed.
[0043]
【The invention's effect】
  According to the semiconductor device frame cutting method and cutting device according to the present invention, as described above, in the processing plane.Die set position and one in each row of frame bodyResin mold partAbout onlySince the placement position is measured and the resin mold part is aligned with the predetermined cutting position of the mold and cut based on the measurement result, the frame body is highly accurate.InCan be cutIn addition, the processing speed can be increased as compared with the case where all the resin mold parts are measured and processed.As a result, the clearance with the resin mold portion can be set to be extremely small, and it can be surely cut into individual semiconductor devices, which can be suitably used for manufacturing a small semiconductor device such as a chip size package.The
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing an overall configuration of an embodiment of a frame cutting device.
FIG. 2 is a plan view of a support frame.
FIG. 3 is a side view of a support frame and a punching portion.
FIG. 4 is a plan view of a die bed.
FIG. 5 is a plan view of a die.
FIG. 6 is an explanatory diagram showing an image recognition method.
FIG. 7 is a block diagram of a control system for punching a frame body.
FIG. 8 is a side sectional view showing a configuration of a die and a punch of the frame cutting device.
FIG. 9 is a front sectional view showing a configuration of a die and a punch of the frame cutting device.
FIG. 10 is an explanatory diagram showing the arrangement of a CCD camera.
FIG. 11 is a plan view of the frame body.
FIG. 12 is an explanatory view showing a method of separating a semiconductor device from a frame body into individual pieces by a die and a punch.
FIG. 13 is an explanatory view showing a state in which a resin mold portion is scraped by a punch.
[Explanation of symbols]
10 Substrate
12 Resin mold part
14 frame body
22 Magazine storage
24 Supply section
26 Support frame
28, 30 Motor
32 Joint plate
36 Frame extractor
42 Punching part
42a Die bed
42b Punch holder
42c guide post
44, 46 Pickup section
60a, 60b Hinge plate
62 Stopper
66 Pusher
70 dies
70a Cutting protrusion
72 Movable block
80 Image measurement area
81 Position measurement hole
82 Product identification hole
84 Escape hole
90 Die position detector
92 Workpiece position detector
94 Operation control unit
96 XY transport device
100 punches
108 First CCD camera
110 Second CCD camera

Claims (5)

基板上に所定間隔で複数の樹脂モールド部が形成されたフレーム体を切断加工用の金型のダイによる切断加工の加工位置に位置合わせしてピッチ送りするとともに、前記樹脂モールド部の外側面に沿って基板を切断して個片の半導体装置に形成する半導体装置のフレーム切断方法であって
前記フレーム体は、1列に複数の樹脂モールド部が形成され、金型により、前記フレーム体を1列ごとに、当該列内の樹脂モールド部について全て個片に切断加工して個片の半導体装置を形成する方法において、
加工平面内における前記ダイのセット位置と、前記フレーム体をピッチ送りするごとに、各列内における一つの樹脂モールド部のみの平面位置とを計測し、
該計測結果に基づき、前記ピッチ送りの際に前記樹脂モールド部が前記加工位置に一致する位置まで前記フレーム体を移動させて切断加工することを特徴とする半導体装置のフレーム切断方法。
A frame body in which a plurality of resin mold portions are formed at predetermined intervals on a substrate is positioned and fed to a cutting processing position by a die of a cutting die, and is sent to the outer surface of the resin mold portion. A method of cutting a frame of a semiconductor device, wherein the substrate is cut along the substrate and formed into individual semiconductor devices,
The frame body is formed with a plurality of resin mold portions in one row, and the frame body is cut into individual pieces for each row of the resin mold portions in the row by a mold. In a method of forming a device,
And set position of the die in the processing plane, every time pitch feeding said frame member, and a planar position of one resin mold portion only to measure total in each row,
Based on the measurement results, the during pitch feed, the frame cutting method of a semiconductor device in which the resin mold portion, characterized in that the cutting machining by moving the frame member to a position corresponding to the working position.
前記樹脂モールド部の平面配置位置の計測を、前記フレーム体が前記加工位置にピッチ送りされる1ピッチ分手前の位置で行うことを特徴とする請求項1記載の半導体装置のフレーム切断方法。2. The frame cutting method for a semiconductor device according to claim 1, wherein the measurement of the planar arrangement position of the resin mold part is performed at a position one pitch before the frame body is pitch-fed to the processing position. 基板上に所定間隔で複数の樹脂モールド部が形成されたフレーム体を切断加工用のパンチ・ダイユニットの加工位置に位置合わせしてピッチ送りするとともに、前記樹脂モールド部の外側面に沿って基板を切断して個片の半導体装置に形成する半導体装置のフレーム切断装置において、
前記パンチ・ダイユニットは、1列に複数の樹脂モールド部が形成されたフレーム体から、1列ごと個々の樹脂モールド部ごとに分離可能に設けられ、
加工平面内での前記ダイのセット位置を計測して検知するダイ位置検知部と、
前記フレーム体がピッチ送りされるごとに、フレーム体の各列内における一つの樹脂モールド部のみについて加工平面内での配置位置を検知する被加工品位置検知部と、
前記ダイ位置検知部と前記被加工品位置検知部の計測結果に基づいて、前記フレーム体を前記加工位置にまで移動するX−Y方向への移動量を演算する演算制御部と、
該演算制御部の演算結果に基づいて、前記フレーム体を前記加工位置にまで移動させるX−Y搬送装置とを有することを特徴とする半導体装置のフレーム切断装置。
A frame body in which a plurality of resin mold portions are formed at predetermined intervals on a substrate is positioned and fed to a processing position of a punch / die unit for cutting processing, and the substrate is disposed along the outer surface of the resin mold portion In a frame cutting device of a semiconductor device that forms a piece of semiconductor device by cutting
The punch / die unit is provided so as to be separable from the frame body in which a plurality of resin mold portions are formed in one row for each resin mold portion for each row,
A die position detector for measuring and detecting the set position of the die in a processing plane;
Each time the frame body is pitch-fed, a workpiece position detection unit that detects an arrangement position in the processing plane for only one resin mold part in each row of the frame body ,
Based on the measurement results of the die position detection unit and the workpiece position detection unit, an arithmetic control unit that calculates a movement amount in the XY direction for moving the frame body to the processing position;
An apparatus for cutting a frame of a semiconductor device, comprising: an XY transfer device that moves the frame body to the processing position based on a calculation result of the calculation control unit.
前記被加工品位置検知部が、前記フレーム体が前記加工位置にピッチ送りされる1ピッチ分手前の位置にある樹脂モールド部を検知するものであることを特徴とする請求項記載の半導体装置のフレーム切断装置。4. The semiconductor device according to claim 3 , wherein the workpiece position detecting unit detects a resin mold portion at a position one pitch before the frame body is pitch-fed to the processing position. Frame cutting device. 前記フレーム体の品種を識別する識別手段と、前記ダイ位置検知部に設けられた前記パンチ・ダイユニットの種類を識別する識別手段とを備え
前記演算制御部は、前記フレーム体の識別手段と、前記パンチ・ダイユニットの識別手段とによって識別された前記フレーム体とパンチ・ダイユニットとを比較して前記フレーム体の加工位置への供給を制御することを特徴とする請求項3または4記載の半導体装置のフレーム切断装置。
Identifying means for identifying varieties of the frame body, and a discrimination means for discriminating a type of the punch die unit provided on the die position detection unit,
The arithmetic control unit includes identification means of said frame body, the supply of comparing the punch die the frame body identified by the identification means of the unit and the punch-die unit to the machining position of the frame member frame cutting device as claimed in claim 3, wherein the control to Turkey.
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