JP4225713B2 - Image display inspection method and liquid crystal display device manufacturing method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、保持容量形成のための共通容量線を有し、フレキシブルプリント回路及び/またはICをガラス基板上に実装する構成を有する液晶表示装置を製造する液晶表示装置製造方法、及び液晶表示装置の画像表示検査を行う画像表示検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の液晶表示装置では、保持容量形成のための共通線と対向電極とはフレキシブルプリント回路や、駆動ICなどを実装する前のパネル状態でTFTアレイ基板内で電気的に接続されている構成となっていた。
【0003】
図3は、従来の液晶表示装置のパネル内回路図を示すものである。ゲート線1はゲート終端で検査用抵抗5を介して検査用ゲート信号端子3に一括接続しており、ソース線2は、ソース終端で検査用抵抗6を介して検査用ソース信号端子4に一括接続している。TFTアレイ基板上の共通容量線7と対向電極8とはアレイ基板上で電気的に接続され同電位となっている。アレイ基板上で接続された共通容量線7と対向電極8とは共通端子17を介してフレキシブルプリント回路基板18より外部回路に取り出される構成となっている。
【0004】
次に、このような従来の液晶表示装置の動作を説明する。
【0005】
工場で、液晶表示装置を製造する際、液晶表示装置にフレキシブルプリント回路18や駆動ICを実装する前のパネル状態で画像表示検査が行われる。そして、画像表示検査の結果異常なしと判定されたパネル状態の液晶表示装置には、フレキシブルプリント回路18や駆動ICなどが実装される。
【0006】
このような画像表示装置の検査は、次のように行う。すなわち、検査用ゲート信号端子3、検査用ソース信号端子4、及び共通端子17にそれぞれ検査用のゲート信号、検査用のソース信号、及び検査用の基準電圧を印加することにより、画像表示を行い、各画素が正常であるかどうかを検査する。
【0007】
また、液晶表示装置が製品として出荷される際に、検査用ゲート信号端子3、検査用抵抗5、検査用ソース信号端子4、及び検査用抵抗6など上記の画像表示検査に使用された回路部分は、レーザーなどにより切断することにより液晶表示装置から取り除かれる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記の従来例の構成では、フレキシブルプリント回路基板や駆動用IC実装前に検査用ゲート信号端子3、検査用ソース信号端子4、共通端子17より信号を入力し、画像表示検査を行った際に、TFTアレイ基板上でのソース線2と共通容量線7とのショートが発生した箇所9において、ソース線方向の線欠陥位置は表示上見えやすいが、ゲート線方向の線欠陥位置は表示上特定できない。従って、画像表示検査を行っても、ショートした箇所9のアドレス特定が不可能であり、リペアできないという問題点を有していた。
【0009】
通常、ソース線2と共通端子間には3V程度の電圧が印加されており、ソース信号は約10k〜100kΩの検査用抵抗6を介して入力され、ゲート方向の共通信号は共通容量線7の配線抵抗1kΩ以下を介して入力される。ショートした箇所9が発生した場合、ソース方向とゲート方向の抵抗比でソース信号とゲート方向の共通信号とが分圧され電圧降下が発生し表示上線欠陥として見えるが、抵抗比が数十倍以上になると抵抗値の小さいゲート方向の線欠陥が表示上見えなくなり、アドレス特定が不可能となる。
【0010】
すなわち、従来の液晶表示装置では、フレキシブルプリント回路基板や駆動用IC実装前に画像表示検査を行っても、ゲート方向の線欠陥を表示上見ることが出来ないので、ソース線と共通容量線との間でショートが発生した箇所を特定することが出来ないという課題がある。
【0011】
本発明は、上記従来の課題を考慮し、TFTアレイ基板上の配線を工夫し、フレキシブルプリント回路基板や駆動用IC実装前の画像表示検査でショートした箇所9のアドレス特定を可能とし、リペア可能になる液晶表示装置の製造方法、及び画像表示検査方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
【0015】
上述した課題を解決するために、第1の本発明は、
TFTアレイ基板上のゲート線方向に形成された保持容量形成のための共通容量線と、対向電極とを有し、前記共通容量線と前記対向電極とは、前記TFTアレイ基板上では電気的に分離されており、フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートICで電気的に短絡されている液晶表示装置の画像表示検査を前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装前に行う画像表示検査方法であって、
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法である。
また、第2の本発明は、
TFTアレイ基板上のゲート線方向に形成された保持容量形成のための共通容量線と、前記共通容量線に電気的に接続された共通容量線実装端子と、対向電極と、前記対向電極に電気的に接続された対向電極実装端子とを有し、前記共通容量線と前記対向電極とは、前記TFTアレイ基板上では電気的に分離されており、前記共通容量線実装端子と前記対向電極実装端子とは、前記TFTアレイ基板上に分離されて形成されており、前記共通容量線実装端子と前記対向電極実装端子とは、フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートICの内部配線によって接続され、その内部配線は、外部と接続するための共通端子に接続されている液晶表示装置の画像表示検査を前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装前に行う画像表示検査方法であって、
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法である。
また、第3の本発明は、
前記共通容量線を前記対向電極と互いに電気的に分離するように前記TFTアレイ基板上に形成し、
前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装前に、第1または第2の本発明の画像表示検査方法を用いて画像表示検査を行い、
前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装後に、前記共通容量線と前記対向電極とを前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートICで電気的に短絡する液晶表示装置の製造方法である。
【0019】
例えば、上記目的を達成するために本発明の液晶表示装置の画像表示検査方法は、一例として、フレキシブルプリント回路基板や駆動用IC実装前では、TFTアレイ基板上で共通容量線7と対向電極8を電気的に分離し、画像表示検査ではそれぞれ異電位の検査信号を入力することで、ゲート線方向の線欠陥位置も表示上見えやすくし、ショートした箇所9のアドレス特定を可能とした。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
【0021】
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1の液晶表示装置のパネル内回路図を示すものである。本実施の形態の液晶表示装置は、ゲート線1、ソース線2、ゲート一括検査線3、ソース一括検査線4、一括検査ゲート線入力抵抗5、一括検査ソース線入力抵抗6、共通容量線7、対向電極8、ソース線2と共通容量線7のショート箇所9、画素TFT10、保持容量11、液晶容量12、ゲート実装端子13、ソース実装端子14、共通容量線実装端子15、対向電極実装端子16、共通容量線と対向電極の共通線17、フレキシブルプリント回路基板18、及びフレキシブルプリント回路内配線19から構成される。
【0022】
ゲート線1は、図示していないゲートICによって駆動され、画素TFT10をオン/オフさせるためのゲート信号を各画素TFT10に印加する線である。
【0023】
ソース線2は、図示していないソースICによって駆動され、選択されたTFT10がオン状態になっている画素の液晶容量12及び保持容量11にソース信号を印加する線である。
【0024】
ゲート一括検査線3及びソース一括検査線4は、フレキシブルプリント回路基板18を実装する前に画像表示検査を行う場合にそれぞれゲート線1に一括して検査用のゲート信号を印加し、ソース線2に一括して検査用のソース信号を印加するための線であり、製品として出荷されるまでにレーザなどで焼き切ることにより取り除かれるものである。
【0025】
対向電極8は、各画素に形成された画素電極(図示せず)とで液晶層に信号電圧を印加するための電極である。
【0026】
画素TFT10は、画素毎に形成されており、ゲート線1から印加されるゲート信号によってソース線2と画素電極との間をオン/オフさせるスイッチング素子である。
【0027】
保持容量11は、次の走査期間までの間に液晶層に継続して信号電圧を印加出来るように、液晶容量12を補助する容量である。
【0028】
液晶容量12は、画素電極と対向電極8との間に形成される容量である。
【0029】
ゲート実装端子13は、ゲートICと接続され、ゲートICからゲート信号を供給する端子である。
【0030】
ソース実装端子14は、ソースICと接続され、ソースICからソース信号を供給する端子である。
【0031】
ゲート線1はゲート終端で検査用抵抗5を介して検査用ゲート信号端子3に一括接続しており、ソース線2はソース終端で検査用抵抗6を介して検査用ソース信号端子4に一括接続している。
【0032】
TFTアレイ基板上の共通容量線7と対向電極8はアレイ基板上で電気的に分離され異電位となっている。共通容量線実装端子15、対向電極実装端子16は分離された状態でアレイ基板上に有している。フレキシブルプリント回路基板18の内部配線19にて共通容量線実装端子15と対向電極実装端子16とは接続され外部回路には1本の共通端子17で取り出される構成となっている。
【0033】
従って、共通容量線7と対向電極8とは、フレキシブルプリント回路基板18が実装される前には電気的に分離されており、フレキシブルプリント回路基板18が実装された後には共通容量線7と対向電極8とは、電気的に短絡するような構造を有する。
【0034】
次に、このような本実施の形態の動作を説明する。
【0035】
なお、本実施の形態の液晶表示装置は、発明者が行った実験結果に基づいている。従って、まず、発明者が行った実験について説明し、その後、本実施の形態の液晶表示装置について説明する。
【0036】
まず、発明者は、図1の液晶表示装置のうちフレキシブルプリント基板18以外の部分を製作した。すなわち、図1に示すように対向電極8と共通容量線7とは分離して形成されている。さらに、レーザを照射することにより、ソース線2と共通容量線7との間をショートさせ、ショートした箇所9を形成した。
【0037】
次に、このような液晶表示装置に表示動作を行わせた。すなわち、対向電極実装端子16に0V電圧を印加し、ソース実装端子14に2Vの電圧を印加し、共通容量線実装端子15に20Vの電圧を印加し、さらにゲート実装端子13に15Vの電圧を印加してみた。
【0038】
そうすると、液晶表示装置は表示状態になり、ショートした箇所9を通りソース線方向と平行である線欠陥が表示されるとともに、ショートした箇所9を通りゲート線方向と平行である線欠陥が表示された。
【0039】
このように、液晶表示装置の各端子に上記のような電圧を印加した場合、ショートした箇所9が存在する場合には、ショートした箇所9を通る横方向の線欠陥と縦方向の線欠陥とが表示された。
【0040】
ショートした箇所9を通りソース線方向の線欠陥が表示されることは、従来の液晶表示装置でも確認出来ているが、ショートした箇所9を通りゲート線方向の線欠陥が表示されることは従来の液晶表示装置では確認出来ていないものである。
【0041】
このようなゲート方向の線欠陥が表示される理由は、以下のように推測することが出来る。すなわち、各共通容量線7はそれぞれ1KΩ程度の抵抗を持っているため、ショートした箇所9に接続している共通容量線7の電圧降下の程度は、他の共通容量線7の電圧降下の程度より大きくなる。このことによってゲート線方向の線欠陥が表示されるものと推測することが出来る。
【0042】
ところが、ショートした箇所9に接続している共通容量線7と接続する画素のうち、ショートした箇所9に対応する画素以外の画素に着目した場合、共通容量線7は、対向電極8とは絶縁状態にあり、また画素電極とも電気的に接続していないので、共通容量線7に電圧降下が発生しても、画素電極と対向電極との間の電圧に変化が生じず、従ってゲート線方向の線欠陥が表示されることはあり得ないように思われる。
【0043】
しかしながら、実際は、対向電極実装端子16、ソース実装端子14、共通容量線実装端子15、及びゲート実装端子13に電圧を印加するタイミングや、画素電極と対向電極8と共通容量線7などの構造的な位置関係による電荷の移動などの複雑な要因によりこのような現象が発生するものと推測することが出来る。
【0044】
次に、以上の事実に基づく画像表示検査について説明する。
【0045】
すなわち、上記のような構成でフレキシブルプリント回路基板や駆動用IC実装前に画像表示検査を行う際に、ソース信号は対向電位に対し2V程度の液晶駆動電圧を印加し、共通容量線は、ソースに対し数10Vの電圧を印加する。そうすることで、ソース線と共通容量線との間に、対向−ソース間電圧の10数倍の電圧を印加し表示することが可能となり、TFTアレイ基板上でのソース線2と共通容量線7がショートした箇所9において欠陥の発生ラインの他のラインに対する電圧降下はゲート線方向、ソース線方向ともに従来の液晶表示装置に対し十数倍の値が得られ欠陥アドレスを表示にて特定できリペアが可能となる。
【0046】
また、フレキシブルプリント回路基板実装後に共通容量線実装端子15と対向電極実装端子16とを接続し1本の共通端子17として外部回路に出力することで外部回路のコスト的負担も増加しない。
【0047】
以上のように、本発明では、外部回路にコスト的負担を与えずに、フレキシブルプリント回路基板や駆動用IC実装前の画像表示検査でソース−共通容量線ショート箇所を検出できる優れた液晶表示装置の画像表示検査方法を実現できる。
【0048】
なお、本発明の液晶表示装置は、本実施の形態のフレキシブルプリント回路基板が実装される前の液晶表示装置であってもよいし、フレキシブルプリント回路基板が実装された後の液晶表示装置であってもよい。
【0049】
さらに、本実施の形態のフレキシブルプリント回路基板は本発明のフレキシブルプリント回路の例である。
【0050】
(実施の形態2)
図2は、本発明の実施の形態2の液晶表示装置のパネル内回路図を示すもので、実施の形態1では、フレキシブルプリント回路基板18の内部配線19にて共通容量線実装端子15と対向電極実装端子16は接続され外部回路には1本の共通端子17で取り出される構成となっていたが、このかわりにソースIC20の内部配線21によってソースIC実装後に共通容量線実装端子15と対向電極実装端子16を接続し共通端子17として外部に出力することで発明の実施の形態1と同様の効果が得られる。
【0051】
また、ソースICの代わりにゲートICの内部配線で、ゲートIC実装後に共通容量線実装端子15と対向電極実装端子16を接続することも可能である。
【0052】
なお、本発明の液晶表示装置を製造する液晶表示装置製造方法であって、前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装前に、前記共通容量線と前記対向電極とを互いに電気的に分離するように形成し、前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装後に、前記共通容量線と前記対向電極とを電気的に短絡する液晶表示装置の製造方法も本発明に属する。
【0053】
さらに、情報を処理する情報処理手段と、処理された前記情報または処理される前記情報を表示する表示手段とを備え、前記表示手段には本発明の液晶表示装置が用いられている情報処理装置は本発明に関連する発明である。なお、本発明に関連する発明の情報処理装置とは、パーソナルコンピュータ、PDAなどを含む。要するに本発明に関連する発明の情報処理装置とは、ディスプレイに情報を表示する装置であって、そのディスプレイに本発明の液晶表示装置が用いられていさえすればよい。
【0054】
さらに、放送波を受信して復調した信号を出力する受信手段と、復調された前記信号を表示する表示手段とを備え、前記表示手段には本発明の液晶表示装置が用いられているテレビ受信装置も本発明に関連する発明である。
【0055】
さらに、無線通信を行う通信手段と、前記無線通信手段を制御するためのGUIを表示する表示手段とを備え、前記表示手段には本発明の液晶表示装置が用いられている無線通信装置も本発明に関連する発明である。なお、本発明に関連する発明の無線通信装置とは、携帯電話端末、PHS端末、自動車電話端末などの無線で通信する装置を含む。
【0056】
【発明の効果】
以上のように本発明は、液晶表示装置の製造コストを増やすことなく、ソース線と保持容量形成のための共通容量線の交差部の、行程中の不良によるショート箇所をフレキシブルプリント回路基板や駆動用IC実装前の画像表示検査でアドレス特定しリペアできる優れた液晶表示装置の製造方法、及び画像表示検査方法を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1における液晶表示装置のパネル内回路図
【図2】本発明の実施の形態2における液晶表示装置のパネル内回路図
【図3】従来の液晶表示装置における液晶表示装置のパネル内回路図
【符号の説明】
1 ゲート線
2 ソース線
3 ゲート一括検査線
4 ソース一括検査線
5 一括検査ゲート線入力抵抗
6 一括検査ソース線入力抵抗
7 共通容量線
8 対向電極
9 ソース線と共通容量線のショート箇所
10 画素TFT
11 保持容量
12 液晶容量
13 ゲート実装端子
14 ソース実装端子
15 共通容量線実装端子
16 対向電極実装端子
17 共通容量線と対向電極の共通線
18 フレキシブルプリント回路基板
19 フレキシブルプリント回路内配線
20 ソースIC
21 ソースIC内配線[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention has a common capacitance line for the storage capacitor forming, the liquid crystal display device manufacturing method for manufacturing a liquid crystal display device that have a configuration that implements a flexible printed circuit and / or IC on a glass substrate and, those related to the image display inspection how to perform image display inspection of a liquid crystal display device.
[0002]
[Prior art]
In a conventional liquid crystal display device, a common line for forming a storage capacitor and a counter electrode are electrically connected in a TFT array substrate in a panel state before mounting a flexible printed circuit or a driving IC. It was.
[0003]
FIG. 3 shows an in-panel circuit diagram of a conventional liquid crystal display device. The
[0004]
Next, the operation of such a conventional liquid crystal display device will be described.
[0005]
When a liquid crystal display device is manufactured at a factory, an image display inspection is performed in a panel state before the flexible printed
[0006]
The inspection of such an image display device is performed as follows. That is, an image is displayed by applying an inspection gate signal, an inspection source signal, and an inspection reference voltage to the inspection
[0007]
In addition, when the liquid crystal display device is shipped as a product, the circuit used for the above-mentioned image display inspection, such as the inspection
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described configuration of the conventional example, when the image is inspected by inputting signals from the inspection
[0009]
Usually, a voltage of about 3 V is applied between the
[0010]
That is, in a conventional liquid crystal display device, even if an image display inspection is performed before mounting a flexible printed circuit board or a driving IC, a line defect in the gate direction cannot be seen on the display. There is a problem that it is not possible to specify the location where a short circuit has occurred.
[0011]
In consideration of the above-described conventional problems, the present invention devise wiring on the TFT array substrate, and can specify the address of the shorted
[0012]
[Means for Solving the Problems ]
[0015]
To solve the above problems, the first of the onset Akira,
A common capacitor line for forming a storage capacitor formed in a gate line direction on the TFT array substrate; and a counter electrode. The common capacitor line and the counter electrode are electrically on the TFT array substrate. An image display inspection method for performing an image display inspection of a liquid crystal display device that is separated and electrically short-circuited by a flexible printed circuit, a source IC, or a gate IC before mounting the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC. And
Applying a predetermined liquid crystal driving voltage to the source line of the liquid crystal display device with respect to the potential of the counter electrode,
Applying a voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage with respect to the potential of the source line to the common capacitance line,
By identifying the line defect position in the gate direction and the line defect position in the source direction of the liquid crystal display device, the location where the source line and the common capacitance line of the liquid crystal display device are short-circuited,
In the image display inspection method, the voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage is a voltage at which a line defect position in the gate direction can be confirmed when the source line and the common capacitor line are short-circuited.
The second aspect of the present invention
A common capacitor line for forming a storage capacitor formed in the gate line direction on the TFT array substrate, a common capacitor line mounting terminal electrically connected to the common capacitor line, a counter electrode, and an electric power to the counter electrode The common capacitor line and the counter electrode are electrically separated on the TFT array substrate, and the common capacitor line mount terminal and the counter electrode mounting are connected to each other. The terminal is formed separately on the TFT array substrate, and the common capacitor line mounting terminal and the counter electrode mounting terminal are connected by an internal wiring of a flexible printed circuit or a source IC or a gate IC. For the internal wiring, the flexible printed circuit or the source IC or the gate is used for the image display inspection of the liquid crystal display device connected to the common terminal for connecting to the outside. An image display inspection method performed before C implementation,
Applying a predetermined liquid crystal driving voltage to the source line of the liquid crystal display device with respect to the potential of the counter electrode,
Applying a voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage with respect to the potential of the source line to the common capacitance line,
By identifying the line defect position in the gate direction and the line defect position in the source direction of the liquid crystal display device, the location where the source line and the common capacitance line of the liquid crystal display device are short-circuited,
In the image display inspection method, the voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage is a voltage at which a line defect position in the gate direction can be confirmed when the source line and the common capacitor line are short-circuited.
The third aspect of the present invention
Forming the common capacitance line on the TFT array substrate so as to be electrically separated from the counter electrode;
Before mounting the flexible printed circuit or source IC or gate IC, perform image display inspection using the image display inspection method of the first or second aspect of the present invention,
In the method of manufacturing a liquid crystal display device, the common capacitance line and the counter electrode are electrically short-circuited by the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC after the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC is mounted.
[0019]
For example, in order to achieve the above object, the image display inspection method of the liquid crystal display device of the present invention is, for example, the
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0021]
(Embodiment 1)
FIG. 1 shows an in-panel circuit diagram of the liquid crystal display device according to
[0022]
The
[0023]
The
[0024]
The gate
[0025]
The
[0026]
Pixel TFT10 is Ri Contact is formed for each pixel, a switching element for turning on / off between the
[0027]
The
[0028]
The
[0029]
The
[0030]
The
[0031]
The
[0032]
The
[0033]
Therefore, the
[0034]
Next, the operation of this embodiment will be described.
[0035]
Note that the liquid crystal display device of this embodiment is based on the results of experiments conducted by the inventors. Therefore, first, an experiment conducted by the inventor will be described, and then the liquid crystal display device of the present embodiment will be described.
[0036]
First, the inventor manufactured parts other than the flexible printed
[0037]
Next, a display operation was performed on such a liquid crystal display device. That is, a 0 V voltage is applied to the counter
[0038]
Then, the liquid crystal display device is in a display state, and a line defect that passes through the shorted
[0039]
As described above, when the voltage as described above is applied to each terminal of the liquid crystal display device, when the shorted
[0040]
Although it has been confirmed in the conventional liquid crystal display device that the line defect in the source line direction is displayed through the shorted
[0041]
The reason why such a line defect in the gate direction is displayed can be estimated as follows. That is, since each
[0042]
However, when attention is paid to pixels other than the pixel corresponding to the shorted
[0043]
However, in actuality, the timing of applying a voltage to the counter
[0044]
Next, an image display inspection based on the above facts will be described.
[0045]
That is, when an image display inspection is performed before mounting the flexible printed circuit board or the driving IC with the above-described configuration, the source signal applies a liquid crystal driving voltage of about 2 V with respect to the counter potential, and the common capacitance line is the source Is applied with a voltage of several tens of volts. By doing so, it becomes possible to display by applying a
[0046]
In addition, the common capacitance
[0047]
As described above, in the present invention, without causing cost burden to an external circuit, a flexible printed circuit board and a driving IC mounting source in front of the image display inspection - common capacitor line short position detection can Ru superior liquid crystal An image display inspection method for a display device can be realized.
[0048]
The liquid crystal display device of the present invention may be a liquid crystal display device before the flexible printed circuit board of the present embodiment is mounted, or a liquid crystal display device after the flexible printed circuit board is mounted. May be.
[0049]
Furthermore, the flexible printed circuit board of the present embodiment is an example of the flexible printed circuit of the present invention.
[0050]
(Embodiment 2)
FIG. 2 shows an in-panel circuit diagram of the liquid crystal display device according to the second embodiment of the present invention. In the first embodiment, the
[0051]
Further, instead of the source IC, it is also possible to connect the common capacitor
[0052]
In addition, in the liquid crystal display device manufacturing method for manufacturing the liquid crystal display device of the present invention, the common capacitor line and the counter electrode are electrically separated from each other before the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC is mounted. A method of manufacturing a liquid crystal display device in which the common capacitor line and the counter electrode are electrically short-circuited after the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC is mounted also belongs to the present invention.
[0053]
The information processing apparatus further includes an information processing means for processing information and a display means for displaying the processed information or the processed information, and the display means uses the liquid crystal display device of the present invention. Is an invention related to the present invention. The information processing apparatus related to the present invention includes a personal computer, a PDA, and the like. In short, the information processing apparatus of the invention related to the present invention is an apparatus for displaying information on a display, as long as the liquid crystal display device of the present invention is used for the display.
[0054]
The television receiver further includes receiving means for receiving a broadcast wave and outputting a demodulated signal, and display means for displaying the demodulated signal, wherein the display means uses the liquid crystal display device of the present invention. The apparatus is also an invention related to the present invention.
[0055]
The wireless communication apparatus further includes a communication unit that performs wireless communication and a display unit that displays a GUI for controlling the wireless communication unit. The wireless communication device in which the liquid crystal display device of the present invention is used as the display unit. It is an invention related to the invention . Note that the wireless communication device of the invention related to the present invention includes devices such as mobile phone terminals, PHS terminals, and automobile phone terminals that communicate wirelessly.
[0056]
【The invention's effect】
As described above, the present invention eliminates a short-circuited portion caused by a defect during a process at the intersection of a source line and a common capacitor line for forming a storage capacitor without increasing the manufacturing cost of a liquid crystal display device. excellent liquid crystal display equipment manufacturing method which addresses can be identified and repaired by the image display inspection before use IC implementation, and the image display inspection how it is possible to realize.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram within a panel of a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram within a panel of a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention. Circuit diagram in the panel of the liquid crystal display device [Description of symbols]
DESCRIPTION OF
21 Wiring in source IC
Claims (3)
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法。 A common capacitor line for forming a storage capacitor formed in a gate line direction on the TFT array substrate; and a counter electrode. The common capacitor line and the counter electrode are electrically on the TFT array substrate. An image display inspection method for performing an image display inspection of a liquid crystal display device that is separated and electrically short-circuited by a flexible printed circuit, a source IC, or a gate IC before mounting the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC. And
Applying a predetermined liquid crystal driving voltage to the source line of the liquid crystal display device with respect to the potential of the counter electrode,
Applying a voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage with respect to the potential of the source line to the common capacitance line,
By identifying the line defect position in the gate direction and the line defect position in the source direction of the liquid crystal display device, the location where the source line and the common capacitance line of the liquid crystal display device are short-circuited,
The image display inspection method, wherein the voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage is a voltage at which a line defect position in the gate direction can be confirmed when the source line and the common capacitance line are short-circuited.
量線実装端子と前記対向電極実装端子とは、フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートICの内部配線によって接続され、その内部配線は、外部と接続するための共通端子に接続されている液晶表示装置の画像表示検査を前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装前に行う画像表示検査方法であって、The quantity line mounting terminal and the counter electrode mounting terminal are connected by an internal wiring of a flexible printed circuit or a source IC or a gate IC, and the internal wiring is connected to a common terminal for connection to the outside. An image display inspection method in which the image display inspection is performed before mounting the flexible printed circuit or the source IC or the gate IC,
前記液晶表示装置のソース線に前記対向電極の電位に対し所定の液晶駆動電圧を印加し、 Applying a predetermined liquid crystal driving voltage to the source line of the liquid crystal display device with respect to the potential of the counter electrode,
前記共通容量線に前記ソース線の電位に対し前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧を印加し、 Applying a voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage with respect to the potential of the source line to the common capacitance line,
前記液晶表示装置の前記ゲート方向の線欠陥位置及び前記ソース方向の線欠陥位置を特定することによって、前記液晶表示装置の前記ソース線と前記共通容量線とがショートした箇所を特定し、 By identifying the line defect position in the gate direction and the line defect position in the source direction of the liquid crystal display device, the location where the source line and the common capacitance line of the liquid crystal display device are short-circuited,
前記所定の液晶駆動電圧より高い電圧は、前記ソース線と前記共通容量線とがショートした場合に、前記ゲート方向の線欠陥位置が確認できるような電圧である画像表示検査方法。 The image display inspection method, wherein the voltage higher than the predetermined liquid crystal driving voltage is a voltage at which a line defect position in the gate direction can be confirmed when the source line and the common capacitor line are short-circuited.
前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装前に、請求項1または請求項2に記載の画像表示検査方法を用いて画像表示検査を行い、
前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートIC実装後に、前記共通容量線と前記対向電極とを前記フレキシブルプリント回路またはソースICまたはゲートICで電気的に短絡する液晶表示装置の製造方法。 Wherein the common capacitor lines formed on the TFT array substrate so as to electrically isolate the counter electrode and each other physician,
Before the flexible printed circuit or the source IC or the gate IC is mounted, an image display inspection is performed using the image display inspection method according to claim 1 or 2,
A method of manufacturing a liquid crystal display device, wherein the common capacitance line and the counter electrode are electrically short-circuited by the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC after the flexible printed circuit, the source IC, or the gate IC is mounted.
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