Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP4226839B2 - シート接着層における制御されないボイドを除去する方法 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP4226839B2 - シート接着層における制御されないボイドを除去する方法 - Google Patents

シート接着層における制御されないボイドを除去する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4226839B2
JP4226839B2 JP2002111961A JP2002111961A JP4226839B2 JP 4226839 B2 JP4226839 B2 JP 4226839B2 JP 2002111961 A JP2002111961 A JP 2002111961A JP 2002111961 A JP2002111961 A JP 2002111961A JP 4226839 B2 JP4226839 B2 JP 4226839B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive material
adhesive
material region
integrated circuit
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2002111961A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002329825A (ja
Inventor
エム. チュウ アンソニー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STMicroelectronics lnc USA
Original Assignee
STMicroelectronics lnc USA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by STMicroelectronics lnc USA filed Critical STMicroelectronics lnc USA
Publication of JP2002329825A publication Critical patent/JP2002329825A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4226839B2 publication Critical patent/JP4226839B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/073Connecting or disconnecting of die-attach connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/073Connecting or disconnecting of die-attach connectors
    • H10W72/07331Connecting techniques
    • H10W72/07337Connecting techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone or epoxy
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • H10W72/331Shapes of die-attach connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • H10W72/351Materials of die-attach connectors
    • H10W72/352Materials of die-attach connectors comprising metals or metalloids, e.g. solders
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors
    • H10W72/351Materials of die-attach connectors
    • H10W72/353Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
    • H10W72/354Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics comprising polymers

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、大略、集積回路パッケージに関するものであって、更に詳細には、パッケージコンポーネントを互いに接着させるためにプレフォームされた接着層を利用する集積回路パッケージに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半田ボールグリッドアレイ(BGA)集積回路パッケージは、例えばテレコミュニケーション装置等の種々の電子装置内におけるプリント回路基板(PCB)上に装着するために集積回路ダイを封止するために使用される。装着期間中に、パッケージングした集積回路への電気接続は、その上にパッケージが装着されるプリント回路基板上の対応する電気的トレースと接触した状態で半田ボールをリフローさせることによって行われる。オプションとしての薄い装着形状、高いパッケージ「ピン」数、及び装着の容易性は、汎用プロセッサ、デジタル信号プロセッサ(DSP)等を包含する多様の適用例に対してボールグリッドアレイパッケージを魅力的なものとしている特徴である。
【0003】
多数の密接された小さな特徴寸法のデバイスを具備する「高密度」の集積回路の場合には、集積回路の動作期間中に発生される熱を散逸させるためにボールグリッドアレイパッケージ内においてしばしば金属性の熱拡散器が使用される。図4に分解図で示したように、このタイプのボールグリッドアレイパッケージ400は、典型的に、その中にキャビティ402を具備しているプリント回路基板401を有しており、それはキャビティ402と寸法及び位置が対応する孔を具備するプレフォームされた接着層404を使用して金属熱拡散器403へ接着されている。集積回路ダイ(不図示)は該キャビティ内に装着され、熱拡散器403へ接着され、ワイヤボンド(不図示)が集積回路ダイにおけるボンドパッドを基板401上のボンディング箇所へ接続している。
【0004】
図示したタイプのパッケージにおいて一般的に見られる顕著な欠陥は、接着層404の表面と接着層404によって合体されているコンポーネント(この場合には基板401及び熱拡散器403)の表面との間においてのボイドの存在である。接着層404を使用してコンポーネントが接着される場合に、コンポーネントの表面と接着層404との表面との間にしばしば空気がランダムにトラップされる。接着層404が硬化する前に除去されない場合には、接着層404と隣接するコンポーネントとの間において完成したパッケージ内に制御されないボイド(トラップされた空気のポケット)が形成される。このようなボイドはプリント配線基板(PWB)の生産において一般的に使用される高真空及び高圧力環境によって除去することが可能であるが、かなりの産業設備を必要とする。
【0005】
接着層404における制御されないボイドの結果としてパッケージ400の組立及びマウント(装着)期間中に2つの問題がしばしば発生することが判明しており、即ち、パッケージ400用の封止体内のボイド及びダイ剥離である。ダイ剥離は接着層と隣接するコンポーネントとの間にトラップされた空気の膨張によって発生されるものであり、即ち、パッケージングした装置の製造期間中又はパッケージングした装置のシステム内へのその後の取付期間中にパッケージングした装置が加熱された場合に接着層404からパッケージコンポーネントの分離を発生させる内部圧力が付与される。
【0006】
封止体が硬化される間に(典型的に約175℃の温度において)、トラップされた空気が徐々に解放されることによってパッケージ封止体内のボイドが同様に発生される。これらのボイドが封止体の外側表面において発生する場合には、パッケージングされた装置は当然に拒否される。然しながら、気泡が封止体の表面に到達せず内側に止まって「埋込型」ボイドを形成する場合があり、それはダイに対して損傷を発生する場合があり又は封止体内側のボンディングワイヤに対して損傷を発生する場合がある。両方の場合において、封止体のボイドは製品の製造歩留まり及び長期の信頼性に影響を与える。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、以上の点に鑑みなされたものであって、上述した如き従来技術の欠点を解消し、プレフォームした接着層を使用する改良した集積回路パッケージング技術を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明の主要な目的とするところは、集積回路パッケージにおいて使用するために、組立てた集積回路パッケージ内のボイドの寸法及び位置を制御するための通気用スロットを有する集積回路パッケージング内のコンポーネントを合体するプレフォーム型接着層を提供することである。組立期間中に接着層と隣接するコンポーネントの表面の間にランダムにトラップされた空気は、パッケージコンポーネントの分離を発生させるか又は封止体内に解放する内部圧力を形成する代わりに、上昇させた温度において行われるその後の組立及び/又は装着期間中に通気用スロット内へ解放される。トラップされた空気の結果としてリフロー又はその他の組立及び装着プロセス期間中に発生するダイ剥離及び封止体ボイド問題は回避される。
【0009】
前述したことは、当業者が以下に続く発明の詳細な説明をより良く理解することが可能であるように本発明の特徴及び技術的利点をむしろ広義に概説したものである。本発明の付加的な特徴及び利点について以下に説明するが、それらは本発明の技術的範囲に包含されるものである。当業者によって理解されるように、本発明と同一の目的を達成するために修正を行ったりその他の構成を設計するための基礎として本発明の概念及び本明細書に開示した特定の実施例を使用することが可能である。更に当業者によって理解されるように、このような均等な構成は本発明の技術的範囲を逸脱するものではない。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下に説明する図1乃至3及び本明細書において本発明の原理を説明するために使用される種々の実施例は例示的なものであって本発明の範囲を制限するために解釈されるべきものではない。当業者が理解するように、本発明の原理は任意の適切な装置において実現することが可能である。
【0011】
図1は本発明の1実施例に基づいて通気用スロットを具備するプレフォーム型集積回路パッケージング接着層を示した概略平面図である。接着層100は、エポキシを含湿させたガラスファイバー担体又はB−ステージ型ポリイミド(B−staged polyimide)を付着させたポリイミド担体等のエポキシ又はポリイミド接着剤を具備しておりプリント回路基板を形成するために使用されるタイプの担体物質から形成されている。接着層100は例示的実施例においては約5ミルの厚さであり、且つキャビティ孔101を有している。
【0012】
本発明における接着層100は、更に、通気用スロット102−109を有しており、それらは接着層100の厚さを貫通して延在しており、且つ接着層100の打ち抜き又はレーザー切断のいずれかによって形成することが可能である。図示したように、例示的実施例における通気用スロット102−109は接着層100内においてキャビティ孔101の側部又は角部に近接した領域から接着層100の対応する周辺側部又は角部へ延在している。
【0013】
通気用スロット102−109は上述したランダムに発生するボイドの原因となる接着層100内の空気及び蒸発した(ガス状)湿気に対する通路として作用する。通気用スロット102−109は例示的実施例においては約105mmの幅であり、このような湿気をキャビティ領域101からパッケージの周辺部へ向かって導くためのチャンネルを提供している。このような空気及び湿気は、接着剤硬化プロセス期間中の真空影響下において組立てられたパッケージから吸い出させることが可能であり、及び/又はパッケージングした装置をシステム内に装着する期間中に半田ボールのリフローを行うために必要な加熱によって駆除させることが可能である。
【0014】
従って、接着層100の周辺部において通気用スロット102−109の終端部に位置されており且つ通気用スロット102−109を接着層100外側の大気環境から分離している接着層100の架橋部分110は、接着層100に対して構造的支持及び一体性を与えながら、それを介して空気及び湿気が拡散することを許容するのに充分に幅狭である。
【0015】
図示例においては、通気用スロット102−109はキャビティ孔101の周辺部周りに延長部111を有しており、且つ、全体として、キャビティ孔101の周りを実質的に完全に延在して接着層100からキャビティ孔101へ向かって拡散する湿気を捕捉する。通気用スロット102−109を分離する接着層100の部分112は、好適には、通気用スロット102−109からキャビティ孔101内への空気又は湿気の拡散を最小とするのに充分に幅広のものである。
【0016】
図2は本発明の1実施例に基づく通気用スロットを具備するプレフォーム型集積回路パッケージング接着層のシートを示した概略平面図である。接着層100は、単一のシート内にキャビティ孔と通気用スロットからなるパターンを複数回繰返して複製し、次いで個々の層を分離するか(例えば、レーザー切断によって)、又はプレフォーム型集積回路パッケージング接着層の該シートを具備する基板のパネル及びヒートシンク物質からなる大きなシートを使用してマスラミネーション(mass lamination)を実施し、切断(鋸又はレーザー)によってラミネ−ションの後に個々のパッケージに個別化することによって製造することが可能である。
【0017】
図3は本発明の1実施例に基づく空気用スロットを具備するプレフォーム型接着層を包含する集積回路パッケージの一部を示している。集積回路パッケージ300は基板301(例えば、プリント回路基板)を有しており、それを貫通してダイキャビティ302が設けられている。基板301は上述したタイプのプレフォーム型接着層100を使用して別のパッケージコンポーネント303へ接着されている。パッケージコンポーネント303は図示例においては金属製の熱拡散器であり、別法として、別の基板層又は何等かのその他のパッケージコンポーネントとすることが可能である。
【0018】
組立期間中に、接着層100に含湿されているエポキシ樹脂が硬化されて基板301がパッケージコンポーネント303へ接着される。集積回路ダイがダイキャビティ302内に装着されており、且つ、接着層100内のキャビティ孔101を介して、例えば樹脂等の従来の方法を使用してパッケージコンポーネント303の表面へ接着されている。次いで、ワイヤボンドを形成して集積回路ダイを基板301上の導電性トレースと接続させ、それは基板301上に形成されているボールグリッドアレイ内の半田ボールと接着する。組立てられたパッケージは半田ボールをリフローさせることによって装着され、該パッケージと該パッケージが装着される構成体との間に電気的接続を形成する。
【0019】
以上、本発明の具体的実施の態様について詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ制限されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱することなしに種々の変形が可能であることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の1実施例に基づく通気用スロットを具備するプレフォーム型集積回路パッケージング接着層を示した概略平面図。
【図2】 本発明の1実施例に基づく通気用スロットを具備するプレフォーム型集積回路パッケージング接着層からなるシートを示した概略平面図。
【図3】 本発明の1実施例に基づく通気用スロットを具備するプレフォーム型接着層を包含する集積回路パッケージの一部を示した概略図。
【図4】 接着層と隣接するコンポーネントとの間の制御されないボイドの高い発生率を有するプレフォーム型接着層を包含する集積回路の一部を示した概略図。
【符号の説明】
100 接着層
101 キャビティ孔
102−109 通気用スロット
110 架橋部分
111 延長部
300 集積回路パッケージ
301 基板
302 ダイキャビティ
303 パッケージコンポーネント

Claims (16)

  1. 集積回路パッケージにおいて使用するための1つのパッケージコンポーネントを別のパッケージコンポーネントへ接着させる接着層において、
    接着物質領域、
    パッケージング期間中に前記接着物質領域と前記接着物質領域によって合体されるコンポーネントとの間のボイドの寸法及び位置を制御するために前記接着物質領域内に延在する少なくとも1個の通気用スロット、
    を有しており、
    前記少なくとも1個の通気用スロットが、各々が前記接着物質領域内のキャビティ孔の側部又は角部に近接した領域から前記接着物質領域の周辺部の対応する側部又は角部へ向かって延在する複数個の通気用スロットを有しており、
    前記各通気用スロットが、それを介してガスの拡散を許容するのに充分に狭い接着物質の幅だけ前記接着物質領域の前記周辺部から離隔されている、
    ことを特徴とする接着層。
  2. 請求項において、前記各通気用スロットが、前記キャビティ孔の周辺部に沿って延在する延長部を有していることを特徴とする接着層。
  3. 請求項において、前記延長部が、前記通気用スロットから前記キャビティ孔へのガスの拡散を最小とするために充分に幅広の接着物質によって前記キャビティ孔から離隔されていることを特徴とする接着層。
  4. 請求項1において、前記接着物質領域がエポキシ樹脂を含湿したガラスファイバーから形成されていることを特徴とする接着層。
  5. 請求項1において、前記接着物質領域がB−ステージ型ポリイミド接着樹脂を具備するポリイミドフィルムから形成されていることを特徴とする接着層。
  6. 請求項1において、前記接着層が複数個の前記接着物質領域を形成するシートを有しており、各接着物質領域が前記少なくとも1個の通気用スロットを有していることを特徴とする接着層。
  7. 集積回路パッケージにおいて、
    第一パッケージコンポーネント、
    第二パッケージコンポーネント、
    前記第一及び第二パッケージコンポーネントを互いに接着させる接着層、
    を有しており、前記接着層が、
    接着物質領域、
    パッケージング期間中に前記接着層と前記第一又は第二コンポーネントとの間のボイドの寸法及び位置を制御するために前記接着物質領域内に延在する少なくとも1個の通気用スロット、
    を有しており、
    前記少なくとも1個の通気用スロットが、各々が前記接着物質領域内のキャビティ孔の側部又は角部に近接した領域から前記接着物質領域の周辺部の対応する側部又は角部へ向かって延在している複数個の通気用スロットを有しており、
    前記各通気用スロットが、それを介してのガスの拡散を許容するために充分に幅狭の接着物質の幅だけ前記接着物質領域の前記周辺部から離隔されている、
    ことを特徴とする集積回路パッケージ。
  8. 請求項において、前記各通気用スロットが、前記キャビティ孔の周辺部に沿って延在する延長部を有していることを特徴とする集積回路パッケージ。
  9. 請求項において、前記延長部が前記通気用スロットから前記キャビティ孔内へのガスの拡散を最小とするために充分な幅の接着物質によって前記キャビティ孔から離隔されていることを特徴とする集積回路パッケージ。
  10. 請求項において、前記接着物質領域がエポキシ樹脂を含湿させたガラスファイバーから形成されていることを特徴とする集積回路パッケージ。
  11. 請求項において、前記接着物質領域がB−ステージ型ポリイミド接着樹脂を具備するポリイミドフィルムから形成されていることを特徴とする集積回路パッケージ。
  12. 請求項において、更に、前記第一パッケージコンポーネント内のダイキャビティ内に装着されており且つ前記接着物質領域内のキャビティ孔を介して前記第二パッケージコンポーネントへ接着されている集積回路ダイ、を有していることを特徴とする集積回路パッケージ。
  13. 集積回路パッケージにおいて使用するための1つのパッケージコンポーネントを別のパッケージコンポーネントへ接着させる方法において、
    接着物質領域を形成し、
    パッケージング期間中に前記接着物質領域と前記接着層によって合体されているコンポーネントとの間のボイドの寸法及び位置を制御するために前記接着物質領域内に延在する少なくとも1個の通気用スロットを形成
    パッケージング期間中に前記接着物質領域と前記接着物質領域によって合体されたコンポーネントとの間のボイドの寸法及び位置を制御するために前記接着物質領域内に延在する少なくとも1個の通気用スロットを形成する場合に、各々が前記接着物質領域内のキャビティ孔の側部又は角部に近接した領域から前記接着物質領域の周辺部の対応する側部又は角部へ向かって延在する複数個の通気用スロットを形成し、
    各々が前記接着物質領域内のキャビティ孔の側部又は角部の近接した領域から前記接着物質領域の周辺部の対応する側部又は角部へ延在する複数個の通気用スロットを形成する場合に、
    それを介してのガスの拡散を許容するために充分に狭い接着物質の幅だけ前記接着物質領域の周辺部から離隔されている点へ延在させて各通気用スロットを形成し、
    前記キャビティ孔の周辺部に沿って延在する各通気用スロットの延長部を形成し、
    前記延長部が前記通気用スロットから前記キャビティ孔内へのガスの拡散を最小とさせるのに充分に広い接着物質によって前記キャビティ孔から離隔されている、
    ことを特徴とする方法。
  14. 請求項1において、更に、シート内に前記接着物質領域用の複数個のパターンを形成し、各パターンが少なくとも1個の通気用スロットを有していることを特徴とする方法。
  15. 請求項1において、更に、その中にダイキャビティを持っている基板を前記接着物質領域を利用して第二パッケージコンポーネントへ接着させることを特徴とする方法。
  16. 請求項15において、更に、
    前記ダイキャビティ内に集積回路ダイを装着し、
    前記集積回路ダイを前記キャビティ孔を介して前記第二パッケージコンポーネントへ接着し、
    前記集積回路ダイを前記基板上の導電性トレースへ電気的に接続させる、
    ことを特徴とする方法。
JP2002111961A 2001-04-13 2002-04-15 シート接着層における制御されないボイドを除去する方法 Expired - Lifetime JP4226839B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/835,306 US6707163B2 (en) 2001-04-13 2001-04-13 Method of eliminating uncontrolled voids in sheet adhesive layer
US09/835306 2001-04-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002329825A JP2002329825A (ja) 2002-11-15
JP4226839B2 true JP4226839B2 (ja) 2009-02-18

Family

ID=25269171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002111961A Expired - Lifetime JP4226839B2 (ja) 2001-04-13 2002-04-15 シート接着層における制御されないボイドを除去する方法

Country Status (2)

Country Link
US (2) US6707163B2 (ja)
JP (1) JP4226839B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7126210B2 (en) * 2003-04-02 2006-10-24 Stmicroelectronics, Inc. System and method for venting pressure from an integrated circuit package sealed with a lid
JP2006210852A (ja) * 2005-01-31 2006-08-10 Toshiba Corp 表面実装型回路部品を実装する回路基板及びその製造方法
KR100905786B1 (ko) 2006-06-29 2009-07-02 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자 및 이를 갖는 반도체 패키지
KR101615509B1 (ko) * 2008-09-18 2016-04-26 노드슨 코포레이션 자동화 진공 이용 밸브 프라이밍 시스템 및 사용 방법
US8193599B2 (en) * 2009-09-02 2012-06-05 Himax Semiconductor, Inc. Fabricating method and structure of a wafer level module
US8907465B2 (en) * 2013-03-29 2014-12-09 Stmicroelectronics Pte Ltd Methods and devices for packaging integrated circuits
KR102595896B1 (ko) * 2016-08-08 2023-10-30 삼성전자 주식회사 인쇄회로기판 및 이를 가지는 반도체 패키지
JP7135293B2 (ja) 2017-10-25 2022-09-13 富士電機株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03104263A (ja) * 1989-09-19 1991-05-01 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法およびその実施に用いる放熱部品
US5448450A (en) * 1991-08-15 1995-09-05 Staktek Corporation Lead-on-chip integrated circuit apparatus
US5391250A (en) * 1994-03-15 1995-02-21 Minimed Inc. Method of fabricating thin film sensors
SG60102A1 (en) * 1996-08-13 1999-02-22 Sony Corp Lead frame semiconductor package having the same and method for manufacturing the same
US6051888A (en) * 1997-04-07 2000-04-18 Texas Instruments Incorporated Semiconductor package and method for increased thermal dissipation of flip-chip semiconductor package
US5889321A (en) * 1997-06-17 1999-03-30 International Business Machines Corporation Stiffeners with improved adhesion to flexible substrates
KR100314773B1 (ko) * 1999-12-30 2001-11-22 윤종용 반도체 칩 패키지 및 이에 사용되는 리드프레임

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002329825A (ja) 2002-11-15
US20020149106A1 (en) 2002-10-17
US6707163B2 (en) 2004-03-16
US6919230B2 (en) 2005-07-19
US20040140574A1 (en) 2004-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3063032B2 (ja) ボ―ルグリッドアレイ型半導体パッケ―ジ及びその製造方法
US20080067666A1 (en) Circuit board structure with embedded semiconductor chip and method for fabricating the same
US9949372B2 (en) Printed wiring board and method for manufacturing the same
JP2010238731A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US20170127517A1 (en) Printed wiring board and method for manufacturing the same
CN103531548A (zh) 具有气隙的半导体封装结构及其形成方法
CN101360393B (zh) 嵌埋半导体芯片的电路板结构及其制法
JP4226839B2 (ja) シート接着層における制御されないボイドを除去する方法
JP2004528729A (ja) 複数の半導体チップ、および配線ボードを有する樹脂パッケージ、ならびにこの樹脂パッケージを射出成形用金型によって製作する方法
TWI417970B (zh) 封裝結構及其製法
KR100405771B1 (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
JP4992904B2 (ja) 半導体装置の製造方法
KR102087683B1 (ko) 반도체 장치의 제조 방법
JPWO2008038345A6 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2001217359A (ja) 放熱用フィン及びその製造方法並びに半導体装置
CN101083247B (zh) 板条和使用其制造半导体封装的方法
JP2006100666A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2003142632A (ja) 半導体装置
JP2011040640A (ja) 半導体装置の製造方法
JP3394875B2 (ja) 半導体装置用チップ支持基板
JP3398580B2 (ja) 半導体装置の製造方法及び基板フレーム
JPH118335A (ja) 回路基板及びその製造方法とこれを用いた半導体パッケージの製造方法
JP4332994B2 (ja) 実装用電子部品及びその製造方法
JPH08264910A (ja) 放熱板付きプリント配線板の作製方法及びプリント配線板へのハイパワー部品の実装方法
JPS58134450A (ja) 半導体装置およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050414

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080512

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080610

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080910

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080916

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081001

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081028

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081127

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4226839

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121205

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131205

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term