JP4226971B2 - パワーオンリセット回路とその方法 - Google Patents
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Description
Claims (37)
- パワーオンリセット回路において、
電源供給電圧の増加に応答して第1信号電圧を発生する第1信号発生器と、
前記電源供給電圧の増加に応答して第2信号電圧を発生する第2信号発生器と、
前記第1信号電圧と前記第2信号電圧とを比較してパワーオンリセット信号を活性化させる比較器とを具備し、
前記第1信号電圧は前記電源供給電圧が第1しきい値電圧以上に増加した後に接地電圧から増加し、前記第2信号電圧は前記電源供給電圧が第2しきい値電圧以上に増加するまで前記電源供給電圧とともに増加した後に前記電源供給電圧が続けて増加することによって減少し、
前記第1信号電圧の増加の傾きは前記電源供給電圧の増加の傾きより大きいことを特徴とするパワーオンリセット回路。 - 前記第1信号電圧の増加の傾きを前記電源供給電圧の増加の傾きより大きくするために、前記パワーオンリセット回路は、
前記第1信号電圧が出力される第1ノードと、
前記第1ノードと第2ノードとの間に連結された第1抵抗と、
前記第2ノードと接地との間に連結された第2抵抗と、
前記電源供給電圧が供給されるソース、前記第2ノードに連結されたドレイン及び前記第1ノードに連結されたゲートを有するトランジスタとを含むことを特徴とする請求項1に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記比較器が、前記第1信号電圧を入力する第1入力ターミナルと、前記第2信号電圧を入力する第2入力ターミナルとを具備することを特徴とする請求項1に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第1入力ターミナルが非反転入力ターミナルであり、前記第2入力ターミナルが反転入力ターミナルであることを特徴とする請求項3に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第1信号発生器が、前記電源供給電圧と前記第1入力ターミナルとの間に直列連結された複数個のPMOSトランジスタを具備することを特徴とする請求項3に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第1信号発生器が、前記第1入力ターミナルと接地との間に直列連結された複数個の抵抗を具備することを特徴とする請求項3に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第1信号発生器は、
前記第1入力ターミナルに接続されたゲートと、前記電源供給電圧に連結された第1ソース/ドレインと、前記第1入力ターミナルと接地との間に直列連結された2個の前記抵抗の連結点に接続された第2ソース/ドレインとを有するNMOSトランジスタ、
を具備することを特徴とする請求項6に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記第2信号発生器は、前記第2入力ターミナルと接地との間に直列連結された複数個のNMOSトランジスタを具備することを特徴とする請求項3に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第2信号発生器は、前記電源供給電圧と前記第2入力ターミナルとの間に直列連結された複数個の抵抗を具備することを特徴とする請求項3に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第2信号発生器は、
前記第2入力ターミナルに接続されたゲートと、前記電源供給電圧と前記第2入力ターミナルとの間に直列連結された2個の前記抵抗の連結点に接続された第1ソース/ドレインと、接地に連結された第1ソース/ドレインとを有するPMOSトランジスタ、
を具備することを特徴とする請求項3に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記パワーオンリセット信号の活性化に応答して前記第1及び第2信号発生器を非活性化させる非活性化回路をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記非活性化回路が前記パワーオンリセット回路の活性化に応答して前記活性化されたパワーオンリセット信号をラッチすることを特徴とする請求項11に記載のパワーオンリセット回路。
- 制御回路において、
電源供給電圧の増加に応答してパワーオンリセット信号を活性化させるパワーオンリセット回路と、
前記パワーオンリセット信号の活性化に応答して前記活性化されたパワーオンリセット信号を保存するラッチと、
前記パワーオンリセット信号の活性化に応答して前記パワーオンリセット回路を非活性化させる非活性化回路とを具備し、
前記パワーオンリセット回路は、
電源供給電圧の増加に応答して第1信号電圧を発生する第1信号発生器と、
前記電源供給電圧の増加に応答して第2信号電圧を発生する第2信号発生器と、
前記第1信号電圧と前記第2信号電圧とを比較してパワーオンリセット回路を活性化させる比較器とを具備し、
前記第1信号電圧は前記電源供給電圧が第1しきい値電圧以上に増加した後に接地電圧から増加し、前記第2信号電圧は前記電源供給電圧が第2しきい値電圧以上に増加するまで前記電源供給電圧とともに増加した後に前記電源供給電圧が続けて増加することによって減少し、
前記パワーオンリセット信号は、前記第1信号電圧が増加するとともに前記第2信号電圧が減少して前記第1信号電圧が前記第2信号電圧よりも高くなったことに応じて活性化され、
前記第1信号電圧の増加の傾きは前記電源供給電圧の増加の傾きより大きいことを特徴とする制御回路。 - パワーオンリセット信号を発生するパワーオンリセット回路において、
第1信号電圧を発生する第1信号発生器と、
第2信号電圧を発生する第2信号発生器と、
前記第1信号電圧と前記第2信号電圧との比較結果に応答して前記パワーオンリセット信号を活性化させる比較器とを具備し、
前記第1信号電圧は電源供給電圧が第1しきい値電圧に到逹した時に接地電圧から増加し、前記第2信号電圧は前記電源供給電圧が第2しきい値電圧に到逹した時に前記電源供給電圧から減少し、
前記第1信号電圧の増加の傾きは前記電源供給電圧の増加の傾きより大きいことを特徴とするパワーオンリセット回路。 - 前記第1信号電圧の増加の傾きを前記電源供給電圧の増加の傾きより大きくするために、前記パワーオンリセット回路は、
前記第1信号電圧が出力される第1ノードと、
前記第1ノードと第2ノードとの間に連結された第1抵抗と、
前記第2ノードと接地との間に連結された第2抵抗と、
前記電源供給電圧が供給されるソース、前記第2ノードに連結されたドレイン及び前記第1ノードに連結されたゲートを有するトランジスタとを含むことを特徴とする請求項14に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記第1信号電圧は、前記電源供給電圧が第1しきい値電圧に到逹した後に前記電源供給電圧より大きい傾きで変化することを特徴とする請求項14に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記比較器は、前記第1信号電圧を入力する非反転入力ターミナルと、前記第2信号電圧を入力する反転入力ターミナルと、前記パワーオンリセット信号を発生する出力ターミナルとを具備することを特徴とする請求項14に記載のパワーオンリセット回路。
- 出力ノードを通じてパワーオンリセット信号を出力するパワーオンリセット回路において、
非反転入力ターミナルと、反転入力ターミナルと、前記出力ノードに連結された出力ターミナルを有する比較器と、
電源供給電圧と前記比較器の前記非反転入力ターミナルと間に連結され、前記電源供給電圧が第1しきい値電圧より高い時に前記非反転入力ターミナルに印加される電圧を増加させる第1しきい値手段と、
前記比較器の前記非反転入力ターミナルに連結され、前記非反転入力ターミナルの電圧が第2しきい値電圧に到逹した時に前記非反転入力ターミナルに印加される電圧の増加率を向上させる第2しきい値装置と、
前記電源供給電圧と前記比較器の前記反転入力ターミナルに連結されて、前記電源供給電圧の増加に応じて前記反転入力ターミナルの電圧を増加させる電圧増加手段と、
前記比較器の反転入力ターミナルに連結されて、前記反転入力ターミナルの電圧が第3しきい値電圧に到逹した時に前記反転入力ターミナルの電圧上昇率を反転させる第3しきい値手段とを具備し、
前記非反転入力ターミナルに印加される電圧の増加率は前記電源供給電圧の増加率より大きいことを特徴とするパワーオンリセット回路。 - 前記第1信号電圧の増加の傾きを前記電源供給電圧の増加の傾きより大きくするために、前記パワーオンリセット回路は、
前記第1信号電圧が出力される第1ノードと、
前記第1ノードと第2ノードとの間に連結された第1抵抗と、
前記第2ノードと接地との間に連結された第2抵抗と、
前記電源供給電圧が供給されるソース、前記第2ノードに連結されたドレイン及び前記第1ノードに連結されたゲートを有するトランジスタとを含むことを特徴とする請求項18に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記第1しきい値電圧が前記PMOSトランジスタのしきい値電圧であることを特徴とする請求項18に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第2しきい値装置は、
前記比較器の前記反転入力ターミナルと接地電圧との間に直列連結された二つの抵抗と、
前記電源供給電圧に連結されたドレインと、前記抵抗の連結点に連結されたソースと、前記非反転入力ターミナルに連結されたゲートとを有するNMOSトランジスタと、
を具備することを特徴とする請求項18に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記第2しきい値電圧は、前記第2しきい値装置にある前記NMOSトランジスタのしきい値電圧であることを特徴とする請求項21に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記電圧増加装置は、前記電源供給電圧と前記比較器の反転入力ターミナルとの間に連結された二つの抵抗を具備することを特徴とする請求項18に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第3しきい値装置は、
前記比較器の反転入力ターミナルと接地電圧との間に直列連結され、ゲートが前記反転入力ターミナルに共通に接続された複数個のNMOSトランジスタと、
前記抵抗の連結点に接続されたソースと、接地されたドレインと、前記比較器の反転入力ターミナルに連結されたゲートとを有するPMOSトランジスタと、
を具備することを特徴とする請求項23に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記第3しきい値電圧が前記NMOSトランジスタのしきい値電圧であることを特徴とする請求項18に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第1及び第2しきい値装置は第1信号電圧上の第1信号を共に出力し、前記電圧増加装置及び前記第3しきい値装置は第2信号電圧上の第2信号を共に出力し、前記比較器の非反転入力ターミナルは前記第1信号電圧を入力し、前記反転入力ターミナルは前記第2信号電圧を入力することを特徴とする請求項18に記載のパワーオンリセット回路。
- 出力ノードを通じてパワーオンリセット信号を出力するパワーオンリセット回路において、
電源供給電圧が第1しきい値電圧に到逹した時に接地電圧から増加する第1信号電圧を発生する第1信号発生器と、
前記電源供給電圧が第2しきい値電圧に到逹した時に前記電源供給電圧から減少する第2信号電圧を発生する第2信号発生器と、
前記第1信号電圧が前記第2信号電圧より高い時に比較信号を活性化させる比較器と、
前記比較信号の活性化に応答して前記パワーオンリセット信号を活性化させて前記第1及び第2信号発生器と前記比較器とを非活性化させる非活性化回路とを具備し、
前記第1信号電圧の増加の傾きは前記電源供給電圧の増加の傾きより大きいことを特徴とするパワーオンリセット回路。 - 前記第1信号電圧の増加の傾きを前記電源供給電圧の増加の傾きより大きくするために、前記パワーオンリセット回路は、
前記第1信号電圧が出力される第1ノードと、
前記第1ノードと第2ノードとの間に連結された第1抵抗と、
前記第2ノードと接地との間に連結された第2抵抗と、
前記電源供給電圧が供給されるソース、前記第2ノードに連結されたドレイン及び前記第1ノードに連結されたゲートを有するトランジスタとを含むことを特徴とする請求項27に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記非活性化回路は、
前記比較器から前記比較信号をラッチし、非活性化信号を出力するラッチと、
前記比較器と前記ラッチとの間に連結され、前記非活性化信号に応答して前記比較信号を前記ラッチに伝送する第1スイッチと、
前記ラッチから前記非活性化信号を入力して前記パワーオンリセット信号を出力するインバータとを具備することを特徴とする請求項27に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記比較器は、前記第1信号電圧を入力する非反転入力ターミナルと、前記第2信号電圧を入力する反転ターミナルと、前記比較信号を出力する出力ターミナルとを有することを特徴とする請求項29に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記非活性化信号に応答して前記電源供給電圧を前記比較器に供給する第2スイッチと、前記非活性化信号に応答して前記接地電圧を前記比較器に供給する第3スイッチとをさらに具備することを特徴とする請求項30に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記第1信号発生器は、
前記電源供給電圧に連結されたソースと、ドレインと、前記パワーオンリセット信号に連結されたゲートとを有する第1非活性化トランジスタと、
前記第1非活性化トランジスタの前記ドレインと前記比較器の非反転入力ターミナルとの間に直列連結され、ゲートが前記比較器の非反転入力ターミナルに共通に接続された複数のPMOSトランジスタと、
前記非反転入力ターミナルと前記接地電圧との間に連結された複数の抵抗と、
前記抵抗の連結点と前記電源供給電圧との間に連結され、ゲートが前記比較器の非反転入力ターミナルに接続されたNMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項29に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記第2信号発生器は、
前記電源供給電圧と前記比較器の前記反転入力ターミナルとの間に連結された複数の抵抗と、
前記接地電圧に連結されたソースと、前記パワーオンリセット信号に連結されたゲートと、ドレインとを有する第2非活性化トランジスタと、
前記比較器の反転入力ターミナルと前記非活性化トランジスタの前記ドレインとの間に直列連結され、ゲートが前記反転入力ターミナルに共通に接続された複数のNMOSトランジスタと、
前記抵抗の連結点と前記接地電圧との間に連結され、ゲートが前記反転入力ターミナルに接続されたPMOSトランジスタとを具備することを特徴とする請求項29に記載のパワーオンリセット回路。 - 前記非活性化回路は前記比較器からの前記比較信号が活性化された時に活性化されることを特徴とする請求項31に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記非活性化信号を遅延させて前記第2及び第3スイッチに出力する第1遅延回路と、前記パワーオンリセット信号を遅延させて前記第1及び第2非活性化トランジスタに出力する第2遅延回路とをさらに具備することを特徴とする請求項33に記載のパワーオンリセット回路。
- パワーオンリセット信号を発生する方法において、
電源供給電圧の増加に応答して第1信号電圧を発生する段階と、
前記電源供給電圧の増加に応答して第2信号電圧を発生する段階と、
前記第1信号電圧と前記第2信号電圧との比較結果に応答して前記パワーオンリセット信号を活性化させる段階とを具備し、
前記第1信号電圧は前記電源供給電圧が第1しきい値電圧以上に増加した時に接地電圧から増加し、前記第2信号電圧は前記電源供給電圧が第2しきい値電圧以上に増加するまで前記電源供給電圧に従って増加した後に前記電源供給電圧が続けて増加することによって減少し、
前記第1信号電圧の増加の傾きは前記電源供給電圧の増加の傾きより大きいことを特徴とする方法。 - パワーオンリセット信号を発生する方法において、
電源供給電圧の増加に応答してパワーオンリセット信号を活性化させる段階と、
前記パワーオンリセット信号の活性化に応答して前記活性化されたパワーオンリセット信号をラッチする段階と、
前記パワーオンリセット信号の活性化に応答して前記パワーオンリセット信号を非活性化させる段階とを具備し、
前記パワーオンリセット信号を活性化させる段階は、
電源供給電圧の増加に応答して第1信号電圧を発生する段階と、
前記電源供給電圧の増加に応答して第2信号電圧を発生する段階と、
前記第1信号電圧と前記第2信号電圧との比較結果に応答して前記パワーオンリセット信号を活性化させる段階とを具備し、
前記第1信号電圧は前記電源供給電圧が第1しきい値電圧以上に増加した時に接地電圧から増加し、前記第2信号電圧は前記電源供給電圧が第2しきい値電圧以上に増加するまで前記電源供給電圧に従って増加した後に前記電源供給電圧が続けて増加することによって減少し、
前記パワーオンリセット信号は、前記第1信号電圧が増加するとともに前記第2信号電圧が減少して前記第1信号電圧が前記第2信号電圧よりも高くなったことに応じて活性化され、
前記第1信号電圧の増加の傾きは前記電源供給電圧の増加の傾きより大きいことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0049136A KR100487536B1 (ko) | 2002-08-20 | 2002-08-20 | 파워-온 리셋 회로 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004080772A JP2004080772A (ja) | 2004-03-11 |
| JP2004080772A5 JP2004080772A5 (ja) | 2006-03-09 |
| JP4226971B2 true JP4226971B2 (ja) | 2009-02-18 |
Family
ID=31884917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003281985A Expired - Fee Related JP4226971B2 (ja) | 2002-08-20 | 2003-07-29 | パワーオンリセット回路とその方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6914461B2 (ja) |
| JP (1) | JP4226971B2 (ja) |
| KR (1) | KR100487536B1 (ja) |
| CN (1) | CN100593907C (ja) |
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| KR19990009451A (ko) * | 1997-07-09 | 1999-02-05 | 윤종용 | 전압검출기 이용한 파워온리셋장치 |
| JPH1131956A (ja) * | 1997-07-10 | 1999-02-02 | Toshiba Corp | リセット信号発生回路 |
| KR100301368B1 (ko) * | 1998-06-12 | 2001-10-27 | 윤종용 | 파워온리셋회로 |
| US6160429A (en) * | 1998-11-12 | 2000-12-12 | Fairchild Semiconductor Corporation | Power-on reset circuit |
-
2002
- 2002-08-20 KR KR10-2002-0049136A patent/KR100487536B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-03-28 US US10/402,641 patent/US6914461B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-07-29 JP JP2003281985A patent/JP4226971B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-08-19 CN CN03154574A patent/CN100593907C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004080772A (ja) | 2004-03-11 |
| CN1485984A (zh) | 2004-03-31 |
| US20040036514A1 (en) | 2004-02-26 |
| KR100487536B1 (ko) | 2005-05-03 |
| US6914461B2 (en) | 2005-07-05 |
| CN100593907C (zh) | 2010-03-10 |
| KR20040017043A (ko) | 2004-02-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060116 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060116 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070702 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070806 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071031 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20080201 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080408 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20080616 |
|
| A521 | Written amendment |
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|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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