JP4233679B2 - Displacement measuring device - Google Patents
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims description 38
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 36
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 5
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 13
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 7
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 6
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101100365384 Mus musculus Eefsec gene Proteins 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、測定対象の変位量に応じた絶対的な変位情報を得るアブソリュート型の変位測定装置に関し、特に長さ測定機の倣い測定時のピーク検出のように、高速サンプリングを必要とする用途に好適な変位測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
測定値を液晶表示装置等に表示するディジタルノギス、ディジタルマイクロメータ、ハイトゲージ等の小型計測器として、静電容量式の変位センサを利用したものが知られている。静電容量式変位センサは、メインスケール等の固定要素に対して相対移動するスライダ等の可動要素の移動に伴って電極パターン間に生じる周期的な容量変化の信号を取り出すことにより変位量検出を行うものである。
【0003】
このような変位センサには、その出力信号の形態によって、インクリメンタル(INC)型とアブソリュート(ABS)型の2種類がある。INC型は、スライダが基準位置から移動することにより生じる周期信号を連続的に計測することによって変位量を測定する。これに対しABS型は、例えば特願平2−132434号、特願平2−169454号等に記載されているように、粗スケール、中間スケール、密スケールのような密度が異なる複数種類のスケールから得られる周期信号を復調し、各復調信号から絶対位置に相当する位相情報をそれぞれ求めてこれらを合成することにより、可動要素の絶対的な変位量(位置)の検出を可能としたものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ABS型の測定システムは、電源を一時遮断しても、再投入により原点復帰が可能などの大きなメリットを有する反面、INCシステムよりも計算処理量が多く、測長計算にリアルタイム性が要求される用途に応用する場合、動作周波数を高くしなければならず、消費電流が増大するという問題点がある。また、INC型の測長システムでは、処理量が少なく高速に測長データを得ることができるという利点がある反面、電源断等によって原点が消失してしまうという問題がある。
【0005】
これに対して本出願人は、静電容量式のABS型変位測定器に、光電式のINC型変位測定器を組み合わせて、スケールが移動している間も絶対位置データを出力できるようにしたABSエンコーダを提案している(特開平5−71938号、特開平8−233602号等)。これは、電源投入時等に静止状態で測定される絶対位置データによりプリセットされる記憶手段を備えて、この記憶手段に保持された位置データの所定の下位桁を光電式変位変換器から得られるINC信号で更新するようにしたものである。換言すれば、スケール移動に伴ってリアルタイムに得られる光電式のINC信号をABSデータの一部として組み込むようにしたものである。
【0006】
しかし、静電容量式のABS型変位検出器と光電式のINC型変位検出器とを組み合わせることは、装置の体積増加や消費電力増大をもたらすことになるので、低消費電力が前提となる小型測定器に応用することはできない。
【0007】
そこで、本出願人は静電容量式のABSセンサの出力信号を処理して得られる絶対位置データがプリセットされる計数手段を備えると共に、ABSセンサの出力信号を処理してスケール移動に追従するインクリメント信号を得て、これにより計数手段の絶対位置データを更新することにより、リアルタイムで絶対位置データを出力できるようにした静電容量式変位測定装置も提案している(特開平9−21603号)。この方式では、密スケールの出力信号から生成された位相信号の基準信号に対する位相差を各基準信号の例えば立ち上がりエッジ毎に求め、前回の位相差と今回の位相差との差分に相当する量を計数手段のインクリメント又はデクリメント操作によって更新する。これにより、リアルタイムで絶対位置情報を得ることができる。
【0008】
本発明は、上述した従来のABS方式を基本とした変位測定装置において、更にリアルタイム性を向上させると同時に低消費電流及び低価格の変位測定装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る変位測定装置は、固定要素に対する可動要素の絶対位置情報を示す出力信号であって、少なくとも粗い位置を示す信号と細かい位置を示す信号とを出力する絶対型変位センサと、この絶対型変位センサの出力信号のうち前記粗い位置を示す信号を復調して粗い位置を示す第1の位相信号を生成する第1の復調手段と、前記絶対型変位センサの出力信号のうち前記細かい位置を示す信号を復調して前記細かい位置を示す第2の位相信号を生成する第2の復調手段と、前記第1の復調手段からの第1の位相信号を処理して絶対位置データの上位桁部分を生成する絶対データ演算手段と、前記第2の復調手段からの第2の位相信号と基準信号との位相差に応じた計数パルスとその計数方向を示す信号とを生成出力すると共に、前記基準信号の位相を前記第2の位相信号に同期させるように制御する位相同期・計数パルス生成手段と、この位相同期・計数パルス生成手段から出力される計数パルスを前記計数方向を示す信号に基づいて計数して前記絶対位置データの下位桁部分を生成する計数手段と、前記絶対データ演算手段で生成された上位桁部分と前記計数手段で生成された下位桁部分とを合成して前記絶対位置データを生成する合成演算手段とを備えてなることを特徴とする。
【0010】
本発明によれば、絶対型変位センサの出力信号のうち、細かい位置を示す信号に基づいて絶対位置データの下位桁部分を生成する際、細かい位置を示す第2の位相信号と基準信号との位相差に応じた計数パルスとその計数方向を生成され、これに基づいてインクリメント動作によって下位桁部分が生成される。これにより、ABSデータ合成のための複雑な演算が不要となり、計数パルス出力毎に測長値を更新することも可能になるので、倣い測定時のピーク検出等も可能になる。
【0011】
なお、この場合、基準信号の周期が一定であると、固定要素に対する可動要素の移動速度によっては、第2の位相信号と基準信号との位相が大きくずれて位相差が正しく検出されなくなる可能性があるが、基準信号を第2の位相信号に追従させるようにすれば、第2の位相信号と基準信号との位相差が大きくなりすぎることがなくなり、常に前回の位相差比較の時点からの位相差のずれ分だけが検出できるようになる。これにより、スケールの高速移動にも追従できるようになる。
【0012】
位相同期・計数パルス生成手段としては、例えば第2の位相信号と基準信号との位相差を検出する位相比較回路と、基準クロック信号を分周して基準信号を生成する分周回路と、位相比較回路で検出された位相差を吸収すべく分周回路の分周比を制御する分周切換回路とを備えて構成することができる。
【0013】
絶対型変位センサの出力信号の絶対的な位相を検出するための基準位相を与える基準位相信号を出力する基準位相信号出力手段と、基準位相信号と第2の位相信号のいずれか一方を位相同期・計数パルス生成手段に出力する選択手段とを更に備え、位相同期・計数パルス生成手段が、基準位相信号を入力した場合には、基準信号を前記基準位相信号に同期させるように制御するものであると、絶対位置の検証時に便利である。
【0014】
即ち、本発明の変位測定装置に絶対位置検証モードを備えるようにし、この絶対位置検証モードでは、位相同期・計数パルス生成手段に基準位相信号を導入して基準信号を基準位相信号と同期させたのち、計数手段をクリアして、位相同期・計数パルス生成手段に第2の位相信号を導入して絶対位置データを求めるようにすればよい。これにより、位相同期の過程で極めて簡単に絶対位置検証が行える。この絶対位置検証モードは、例えば電源投入時や固定要素に対する可動要素の移動速度が所定の計測可能速度を超えたときに移行されることが考えられる。
【0015】
また、本発明の変位測定装置は、計数測定モードを備えるようにしてもよい。計数測定モードでは、合成演算手段は、合成された絶対位置データをスタートデータとして記憶すると共に、計数手段をクリアして、以後、計数手段の計数値と前記スタートデータとを加算することにより絶対位置データを算出する。このような計数測定モードを備えることにより、上位桁の部分の合成処理が不要になるので、極めて高速な処理が可能になり、計測のリアルタイム性が更に向上する。この計数測定モードは、例えば、使用者がモード切換スイッチ等を切換操作したときに移行したり、固定要素に対する可動要素の移動速度が所定の速度を超えたときに移行すること等が考えられる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、この発明の好ましい実施の形態について説明する。
図1は、この発明の一実施例に係るABS/INC併用測長システムの構成を示すブロック図である。このシステムでは、ABSセンサ1として静電容量式センサが用いられる。ABSセンサ1は、後に詳細を説明するが、それぞれ所定パターンの電極が配列形成されて相対移動するメインスケールとスライダとを有し、それらの相対位置に応じて決まるメインスケールとスライダの容量結合を反映した粗スケール、中スケール及び密スケールの三種の絶対位置情報を含む出力信号を出力するものである。
【0017】
ABSセンサ1の出力信号のうち、絶対位置データの上位桁部分に相当する粗スケール及び中スケールの出力信号は復調回路2に入力され、密スケールの出力信号は復調回路3に入力される。復調回路2,3では、これらの出力信号に対してサンプリング、ミキシング、低域ろ波及び2値化処理等の各処理を施して、位相信号CMPを出力する。復調回路2から出力される粗スケール及び中スケール用の位相信号CMP Coa.,CMP Med.は、ABSデータ演算部4に供給され、ここで上位桁部分のABSデータが生成される。一方、復調回路3から出力される密スケール用の位相信号CMP Fin.は、セレクタ5の一方の入力として供給されている。セレクタ5の他方の入力には、ABSセンサ1の駆動信号Sdを生成するための基準カウンタ・センサ駆動回路6から出力される基準位相信号CPOが供給されている。セレクタ5は、これらの入力を選択して位相信号CMPとしてPLL・計数パルス生成部7に供給する。PLL・計数パルス生成部7は、入力された位相信号CMPと内部で生成された基準信号CNTの位相差に応じた計数用のパルス信号PULSEとアップ/ダウン信号U/Pとを生成すると共に、基準信号CNTを位相信号CMPに同期させるための位相同期制御を実行する。インクリメンタルU/Dカウンタ8は、PLL・計数パルス生成部7から供給されるアップ/ダウン信号U/Dで示す方向にパルス信号PULSEを計数する。ABSデータ演算部4からのデータDHとカウンタ8からのデータDLとは、マイコン9に供給され、ここで両データが合成されて絶対値データが求められる。求められた絶対値データは表示部10に表示される。
【0018】
図2は、この実施例に用いられるABSセンサ1の概略構成を示す図である。このABSセンサ1は、固定要素となるメインスケール22と、これに対して僅かの間隙を介して対向配置されて図中x方向にスライド自在な可動要素となるスライダ21とによって構成される。スライダ21には、送信電極23が所定ピッチPt0で配設されている。送信電極23は、メインスケール22上にピッチPrで配設された受信電極24a,24bと容量結合されている。これらの受信電極24a,24bは、その配列方向に隣接するピッチPt1,Pt2の伝達電極にそれぞれ1対1で接続されている。伝達電極25a,25bは、それぞれスライダ21側に設けられた検出電極26a,16b及び27a,27bと容量結合されている。
【0019】
送信電極は、7つおきに共通接続されて一群が8電極の複数の電極群を構成している。これらの電極群には、それぞれ位相がずれた8相の周期信号a,b,…,hが駆動信号Sdとして供給されている。これらの駆動信号Sdは、具体的には高周波パルスでチョップされた信号となっており、前述した基準カウンタ・センサ駆動回路6から供給されている。なお、駆動信号Sdの8相の周期信号は、粗スケール及び中スケール測定を行う場合と、密スケールの測定を行う場合とでは異なる位相関係となるように、基準カウンタ・センサ駆動回路6により制御される。
【0020】
送信電極23に駆動信号Sdが供給されることにより生じる電場パターンのピッチWtは、送信電極23のピッチPt0の8倍であり、このピッチWtは、受信電極24a,24bのピッチPrのN倍(例えば3倍)に設定されている。受信電極24a,24bは、三角形状又は正弦波状の電極を相互に噛み合う形で配設している。各受信電極24a,24bで受信される信号の位相は、送信電極23と受信電極24a,24bとの容量結合面積に応じて決定されるが、これはスライダ21とメインスケール22との相対位置により変化する。
【0021】
受信電極24a,24bと伝達電極25a,25bとが同一ピッチで形成されていれば、検出電極26a,26b,27a,27bには、単にメインスケール22のx方向位置がピッチPrだけ変化する毎に繰り返される周期信号を検出することになる。この実施例では、粗、中、密の3つのレベルの絶対位置を測定するために、伝達電極25a,25bを受信電極24a,24bに対してピッチを変えて、それぞれ基準位置x0から測定方向の距離xの関数である偏位D1(x),D2(x)を与えている。
【0022】
このような偏位D1(x),D2(x)を与え、且つ検出電極26a,26b及び27a,27bをそれぞれピッチWr1(=3Pt1),Wr2(=3Pt2)の波形パターンとすることにより、検出電極26a,26b及び検出電極27a,27bからは、偏位D1(x),D2(x)に応じた大きな周期に受信電極24a,24bのピッチで決まる小さな周期が重畳された出力信号B1,B2及びC1,C2が得られる。出力信号C1,C2の差を取ることにより、偏位D1(x)により決まる粗スケールの絶対位置情報を含む出力信号Ocが得られ、出力信号B1,B2の差を取ることにより、偏位D2(x)により決まる中スケールの絶対位置情報を含む出力信号Omが得られる。また、出力信号C1,C2の和と出力信号B1,B2の和の差を取ることにより、受信電極ピッチで決まる密スケールの絶対位置情報を含む出力信号Ofが得られる。
【0023】
そして、これら出力信号Oc,Omを復調回路2で復調処理し、出力信号Ofを復調回路3で復調処理することにより、エッジの位相に絶対位置情報が担われた位相信号CMP Coa.,CMP Med.,CMP Fin.が求められる。図3は、これらの位相信号CMPと基準位相信号CPOとの関係を示す波形図である。各スケールの絶対位置は、基準位相信号CPOを基準としたときの各位相信号CMPの位相として求めることができ、具体的には、基準位相信号CPOの立上りエッジから次の立上りエッジまで連続的にカウントアップされることにより得られる位相情報を、位相信号CMPの立上りでサンプリングすることにより求められる。求められた各スケールの絶対位置は、図4に示すように一定の重み付けを行って合成されて絶対位置データが求められる。
【0024】
この発明では、粗スケールと中スケールの位置情報DHは、ABSデータ演算部4で合成されるが、密スケールの位置情報DLは、カウンタ8により求められる。この密スケールでの位置情報DLは次のように算出される。
図5及び図6は、PLL・計数パルス生成部7の動作を説明するための各部の波形図である。PLL・計数パルス生成部7は、入力された位相信号CMPと内部で発生された基準信号CNTとの位相差に相当するパルス信号PULSEを生成してカウンタ8に供給する。図5の例は、位相信号CMPの位相が基準信号CNTに対して進んでいる場合を示しており、この場合、アップ/ダウン信号U/DはH(アップ)レベルとなる。また、図6の例は、位相信号CMPの位相が基準信号CNTに対して遅れている場合を示しており、この場合、アップ/ダウン信号U/DはL(ダウン)レベルとなる。いずれの図でも明らかなように、基準信号CNTは、位相信号CMPとの位相差を検出したのち、その位相差を解消するために位相制御されている。従って、絶対位置計数用のパルス信号PULSEが必要量だけ出力されたら、位相信号CMPと基準信号CNTの位相が揃えられるように制御される。
【0025】
このように機能するPLL・計数パルス生成部7は、例えば図7に示すように構成することができる。このPLL・計数パルス生成部7は、エッジ微分回路100、位相比較回路110、分周切換回路120及び分周回路130を備えて構成されている。
エッジ微分回路100は、入力された位相信号CMPの立ち下がりエッジを検出する。エッジ微分回路100では、フリップフロップ(以下、「FF」と表記する)101によって、位相信号CMPの立ち下がりをクロック信号CKの立上りで検出する。そして、このFF101の出力変化から、FF102及びNORゲート103によってクロック信号CKの1周期分のパルス幅の微分パルスP1を生成出力する。
【0026】
位相比較回路110では、この微分パルスP1で示される位相信号CMPの立下りエッジと、分周回路130から出力される基準信号CNTの立上りエッジとの位相差に対応したカウンタ用のパルス信号PULSEと、カウンタのアップ/ダウンを指示するアップ/ダウン信号U/Pとを出力する。即ち、微分パルスP1は、NANDゲート111でクロック信号CK(インバータ104による反転クロック信号)の1パルス幅分の立ち下がりパルスに変換されたのち、EX−NORゲート112で基準信号CNTと位相比較される。EX−NORゲート112の出力は、FF113で分周される。FF113の出力は、位相信号CMPの立ち下がりが基準信号CNTの立上りに対して先行している場合には、NANDゲート111の立ち下がりエッジで立ち下がり、基準信号CNTの立上りエッジで立ち上がる。また、FF113の出力は、基準信号の立上りが位相信号CMPの立ち下がりに対して先行している場合には、基準信号CNTの立上りで立ち下がり、NANDゲート111の立上りで立ち上がる。FF113の出力は、NORゲート114及びFF115によってクロック信号CKとの位相合わせがなされた後、パルスゲート信号PGとしてORゲート105の入力として与えられ、ORゲート105の他方の入力に与えられたクロック信号CKを、位相信号CMPと基準信号CNTの位相差に相当する時間だけゲートする。これによりパルス信号PULSEが得られる。
【0027】
一方、微分パルスP1は、FF116とORゲート117とによって後端エッジのタイミングがクロック信号CKの半周器分遅延される。そして、この微分パルスのタイミングとパルスゲート信号PGの位相の前後関係をFF118,119で検出して、アップ/ダウン信号U/Pを出力する。U/P信号は、位相信号CMPが基準信号CNTに対して位相が進んでいる場合には「H」、遅れている場合には「L」となる。
【0028】
分周切換回路120では、一対のFF121,122の入力を、4つの反転出力のマルチプレクサ(以下、「MPX」と表記する)123,124,125,126と、2つのインバータ127,128で切り替えて、分周回路130に導入される基準クロックRCKの周波数を決定する。MPX123,124は、切換信号SELa(=U/D)によって切り替えられ、MPX125,126は、切換信号SELb(=PG)によって切り替えられる。この実施例では、これらMPX123〜126の切換によって、次の3つの動作モードを実現している。
【0029】
【表1】
【0030】
ストップモードは、パルスゲート信号PG及びアップ/ダウン信号U/Dが共にLである場合、つまり位相信号CMPが基準信号CNTに対して遅れており、且つ遅れを修正するために計数パルスPULSEが出力されている間に実行されるモードである。ストップモードでは、MPX123,125が入力Aを選択するので、FF121→インバータ127→MPX123→MPX125→FF121のフィードバックループが形成され、FF121の/Q出力がHのとき、D端子へのフィードバック入力はLとなり、クロック信号の入力によってもその出力は変わらない。このため、分周回路130の分周動作は中断される。
【0031】
ノーマルモードは、パルスゲート信号PGがHのとき、つまり位相信号CMPと基準信号CNTとが完全に同期しているか、又はカウンタ7が計数動作をしていないときに実行されるモードである。ノーマルモードでは、MPX125,126が入力Bを選択するので、FF121→インバータ127→MPX126→FF122→MPX125→FF121のフィードバックループが形成される。この場合、FF121,122は、クロック信号CKの立上りエッジによって交互にその出力を反転させるので、基準クロックRCKは、クロック信号CKを4分周した信号となる。従って、4つのFF131,132,133,134を縦続接続してなる1/16分周の分周回路130からの最終段出力となる基準信号CNTの周期は、クロック信号CKの周期の64倍となる。
【0032】
1/2モードは、パルスゲート信号PGがL、アップ/ダウン信号U/DがHである場合、つまり位相信号CMPが基準信号CNTに対して進んでおり、且つ進みを修正するために計数パルスPULSEが出力されている間に実行されるモードである。1/2モードでは、MPX123が入力Bを選択し、MPX125が入力Aを選択するので、FF121→MPX123→MPX125→FF121のフィードバックループが形成される。この場合、このフィードバックループは、クロック信号CKを1/2分周する分周回路として機能するので、分周回路130からの最終段出力となる基準信号CNTの周期は、クロック信号CKの周期の32倍となる。1/2モードでは、基準信号CNTの周期がノーマルモードの周期の1/2となるので、基準信号CNTの位相が位相信号CMPのそれに速やかに追従する。
【0033】
以上の動作により、位相信号CMPと基準信号CNTとの位相差に応じたパルス信号PULSEの生成と、位相信号CMPと基準信号CNTとの同期合わせとが行われる。
【0034】
図8は、このABS/INC併用測長システムを用いた計測動作モードを示す状態遷移図である。まず、システムの動作をスタートさせると、カウンタ8のABS化の処理が実行される(S1)。この処理モードは、絶対位置検証モードであり、具体的には、セレクタ5の基準位相信号CPOの入力をアクティブにして、PLL・計数パルス生成部7に基準位相信号CPOを位相信号CMPとして導入する。これにより、基準信号CNTは、基準位相信号CPOに同期するので、同期が確立された時点でカウンタ8の値をクリアする。続いてセレクタ5の密スケールの位相信号CMP Fin.入力側をアクティブに切り替えることにより、位相信号CMPと基準信号CNTとの位相差に応じたパルス信号PULSEが出力されてカウンタ8の計数値が正しい絶対位置を示すことになる。
【0035】
カウンタ8のABS化処理が終了したら、次にノーマルモードに移行する(S2)。このモードでは、ABSデータ演算部4の出力データDHと、カウンタ8の計数値DLとを合成し、必要に応じてそれにオフセット値を加算することにより、絶対位置データを求め、これを表示部10で表示する。なお、オフセット値は、例えばプリセット操作がなされた場合に、そのプリセット値から現在の合成データの値を減算することにより求められる(S3)
【0036】
ノーマルモードの状態で、ピーク検出指示(PEAK ON)が入力された場合には、次のような処理を実行する。このピーク検出は、図9に示すように、測定対象31の表面を測定プローブ32で倣い測定して最も高い位置又は最も低い位置等を検出する測定モードで、測定にはリアルタイム性が要求される。この場合、まずマイコン9は、合成データにオフセット値を加算した値をスタートデータとして記憶し、カウンタ8をクリアする(S5)。そして、倣い検出モードに入る(S6)。このモードは計数(インクリメンタル)測定モードであり、カウンタ8のカウント動作によって逐次更新されるカウンタ値と記憶されたスタートデータとを加算することにより絶対位置データを算出する(S6)。この場合、絶対位置の算出に使用するデータがカウンタ値と記憶されたスタート値であり、ABSデータ演算部4からのデータDHは使用しないので、極めて高速な測定が可能である。ピーク検出では、逐次求められる絶対位置データの大小比較を行ってピーク値を検出し、これを表示する。ピーク検出が終了(PEAK OFF)したら、ステップS1と同様の処理によりカウンタ値をABS化してノーマルモードに戻る(S7)。
【0037】
なお、倣い検出モードのとき、メインスケール22に対するスライダ21の移動速度を監視して、この移動速度が測定不可能なオーバースピードを超えた場合には、ステップS1,S7のようなABS化処理を実行してからインクリメンタルモードに戻るという処理を実行するようにしても良い。また、移動速度が所定の速度を超えたら自動的にステップS5,S6のようなインクリメンタルモードに切り替わるようにすることも考えられる。
【0038】
この装置においては、インクリメンタルモード(計数測定モード)の処理量が小さいため、動作周波数を下げても十分なスピードを得ることができ、消費電流を大幅に低減することができる。更に、動作周波数を下げられることにより、低速で安価な4ビットマイコン等の使用が可能なため、その分、コスト低減を図ることもできる。インクリメンタルモードでは、オーバースピードが発生しても、絶対位置検証モード(S7)により正確な値に復帰できるので、極めてスムーズにABS測定に遷移することができ、ABSシステムのメリットを損なうこともない。
【0039】
【発明の効果】
以上述べたように、この発明によれば、計数測定モードによる極めて高速な測長更新が可能となり、これにより、スケールの高速移動にも追従でき、リアルタイム性も更に向上するので、倣い測定時のピーク検出等も可能になるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施例に係るABS/INC併用測長システムの構成を示すブロック図である。
【図2】 同システムにおけるABSセンサの詳細を示す図である。
【図3】 同システムにおける各スケールの位相信号CMPと基準位相信号CPOとの関係を示す波形図である。
【図4】 同システムにおける各スケールの合成処理の概念を説明するための図である。
【図5】 同システムにおけるPLL・計数パルス生成部の各部の波形図である。
【図6】 同システムにおけるPLL・計数パルス生成部の各部の波形図である。
【図7】 同システムにおけるPLL・計数パルス生成部のブロック図である。
【図8】 同システムにおける測定時の状態遷移図である。
【図9】 同システムにおける倣い測定モードを説明するための図である。
【符号の説明】
1…ABSセンサ、2,3…復調回路、4…ABSデータ演算部、5…セレクタ、6…基準カウンタ・センサ駆動回路、7…PLL・計数パルス生成部、8…インクリメンタルU/Dカウンタ、9…マイコン、10…表示部。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an absolute displacement measuring apparatus that obtains absolute displacement information according to the amount of displacement of a measurement object, and particularly for applications that require high-speed sampling, such as peak detection during scanning measurement of a length measuring machine. It is related with the displacement measuring apparatus suitable for.
[0002]
[Prior art]
As a small measuring instrument such as a digital caliper, a digital micrometer, or a height gauge for displaying a measured value on a liquid crystal display device or the like, a device using a capacitance type displacement sensor is known. The capacitance type displacement sensor detects the amount of displacement by taking out the signal of the periodic capacitance change that occurs between the electrode patterns as the movable element such as the slider moves relative to the fixed element such as the main scale. Is what you do.
[0003]
There are two types of such displacement sensors, an incremental (INC) type and an absolute (ABS) type, depending on the form of the output signal. The INC type measures the amount of displacement by continuously measuring a periodic signal generated when the slider moves from the reference position. On the other hand, the ABS type has a plurality of scales having different densities such as a coarse scale, an intermediate scale, and a dense scale, as described in, for example, Japanese Patent Application No. 2-132434 and Japanese Patent Application No. 2-169454. The absolute displacement (position) of the movable element can be detected by demodulating the periodic signal obtained from the above, and obtaining the phase information corresponding to the absolute position from each demodulated signal and combining them. is there.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
The ABS measurement system has the great merit of being able to return to the origin by turning it on again even if the power is temporarily turned off. However, it requires more calculation processing than the INC system, and requires real-time measurement for length measurement. When applied to applications, there is a problem that the operating frequency has to be increased and current consumption increases. In addition, the INC type length measurement system has an advantage that the length measurement data can be obtained at a high speed with a small amount of processing, but there is a problem that the origin is lost due to power interruption or the like.
[0005]
On the other hand, the applicant of the present invention combined a photoelectric type ABS displacement measuring instrument with a photoelectric INC type displacement measuring instrument so that absolute position data can be output even while the scale is moving. ABS encoders have been proposed (JP-A-5-71938, JP-A-8-233602, etc.). This comprises storage means preset by absolute position data measured in a stationary state when the power is turned on, etc., and a predetermined lower digit of the position data held in this storage means can be obtained from the photoelectric displacement converter. The update is performed with the INC signal. In other words, a photoelectric INC signal obtained in real time as the scale moves is incorporated as part of the ABS data.
[0006]
However, the combination of the capacitive ABS displacement detector and the photoelectric INC displacement detector increases the volume of the device and increases the power consumption. It cannot be applied to measuring instruments.
[0007]
Accordingly, the present applicant has counting means for presetting absolute position data obtained by processing the output signal of the capacitance type ABS sensor, and also increments the output signal of the ABS sensor to follow the scale movement. There is also proposed a capacitance type displacement measuring apparatus which obtains a signal and thereby outputs the absolute position data in real time by updating the absolute position data of the counting means (Japanese Patent Laid-Open No. 9-21603). . In this method, the phase difference of the phase signal generated from the fine scale output signal with respect to the reference signal is obtained for each rising edge of each reference signal, for example, and an amount corresponding to the difference between the previous phase difference and the current phase difference is obtained. It is updated by incrementing or decrementing the counting means. Thereby, absolute position information can be obtained in real time.
[0008]
It is an object of the present invention to provide a displacement measuring apparatus based on the above-described conventional ABS system, which further improves the real-time property and at the same time has a low current consumption and a low price.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The displacement measuring apparatus according to the present invention is an absolute displacement sensor that outputs an absolute position information of a movable element with respect to a fixed element, and outputs at least a signal indicating a rough position and a signal indicating a fine position, and the absolute displacement sensor. A first demodulating means for demodulating a signal indicating the rough position among the output signals of the mold displacement sensor to generate a first phase signal indicating the rough position; and the fine position among the output signals of the absolute displacement sensor. A second demodulator for demodulating the signal indicating the fine position to generate a second phase signal indicating the fine position, and processing the first phase signal from the first demodulator to perform the upper digit of the absolute position data Generating and outputting an absolute data calculating means for generating a portion, a counting pulse corresponding to the phase difference between the second phase signal from the second demodulating means and a reference signal, and a signal indicating the counting direction; Base Phase synchronization / counting pulse generating means for controlling the signal phase to be synchronized with the second phase signal, and counting pulses output from the phase synchronizing / counting pulse generating means based on the signal indicating the counting direction Counting means for counting and generating a lower digit part of the absolute position data; and combining the upper digit part generated by the absolute data calculating means and the lower digit part generated by the counting means to produce the absolute position data And a composing operation means for generating.
[0010]
According to the present invention, when the lower digit portion of the absolute position data is generated based on the signal indicating the fine position among the output signals of the absolute displacement sensor, the second phase signal indicating the fine position and the reference signal are generated. Count pulses corresponding to the phase difference and their count directions are generated, and based on this, the lower digit portion is generated by an increment operation. This eliminates the need for complicated calculations for the ABS data synthesis, and the length measurement value can be updated for each count pulse output, so that it is possible to detect a peak at the time of scanning measurement.
[0011]
In this case, if the cycle of the reference signal is constant, depending on the moving speed of the movable element relative to the fixed element, the phase difference between the second phase signal and the reference signal may be greatly shifted and the phase difference may not be detected correctly. However, if the reference signal is made to follow the second phase signal, the phase difference between the second phase signal and the reference signal can be prevented from becoming too large, and always from the time of the previous phase difference comparison. Only the amount of phase difference deviation can be detected. Thereby, it becomes possible to follow high-speed movement of the scale.
[0012]
As the phase synchronization / counting pulse generation means, for example, a phase comparison circuit that detects a phase difference between the second phase signal and the reference signal, a frequency dividing circuit that divides the reference clock signal to generate a reference signal, And a frequency division switching circuit that controls the frequency division ratio of the frequency divider circuit so as to absorb the phase difference detected by the comparison circuit.
[0013]
Reference phase signal output means for outputting a reference phase signal for providing a reference phase for detecting the absolute phase of the output signal of the absolute displacement sensor, and phase synchronization of either the reference phase signal or the second phase signal Selecting means for outputting to the counting pulse generating means, and controlling the phase synchronization / counting pulse generating means to synchronize the reference signal with the reference phase signal when the reference phase signal is input. This is useful when verifying absolute positions.
[0014]
That is, the displacement measuring apparatus of the present invention is provided with an absolute position verification mode. In this absolute position verification mode, the reference phase signal is synchronized with the reference phase signal by introducing the reference phase signal into the phase synchronization / counting pulse generation means. After that, the counting means is cleared, and the second phase signal is introduced into the phase synchronization / counting pulse generation means so as to obtain the absolute position data. This makes it possible to verify the absolute position very easily during the phase synchronization process. The absolute position verification mode may be shifted when the power is turned on or when the moving speed of the movable element with respect to the fixed element exceeds a predetermined measurable speed.
[0015]
The displacement measuring device of the present invention may be provided with a counting measurement mode. In the count measurement mode, the synthesis calculation means stores the synthesized absolute position data as start data, clears the count means, and thereafter adds the count value of the count means and the start data to thereby calculate the absolute position data. Calculate the data. By providing such a count measurement mode, the synthesis process for the upper digit part is not required, so that an extremely high-speed process is possible and the real-time property of the measurement is further improved. For example, the counting measurement mode may be changed when the user performs a switching operation of a mode changeover switch or the like, or may be changed when the moving speed of the movable element with respect to the fixed element exceeds a predetermined speed.
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an ABS / INC combined length measuring system according to an embodiment of the present invention. In this system, a capacitive sensor is used as the
[0017]
Among the output signals of the
[0018]
FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of the
[0019]
Transmitting electrodes are connected in common every seven, and one group constitutes a plurality of electrode groups of eight electrodes. These electrode groups are supplied with eight-phase periodic signals a, b,..., H that are out of phase as drive signals Sd. Specifically, these drive signals Sd are signals chopped by high-frequency pulses, and are supplied from the reference counter /
[0020]
The pitch Wt of the electric field pattern generated by supplying the drive signal Sd to the
[0021]
If the reception electrodes 24a, 24b and the
[0022]
Detection is performed by giving such deviations D1 (x) and D2 (x) and making the detection electrodes 26a, 26b and 27a, 27b have waveform patterns with pitches Wr1 (= 3Pt1) and Wr2 (= 3Pt2), respectively. From the electrodes 26a, 26b and the detection electrodes 27a, 27b, output signals B1, B2 in which a small period determined by the pitch of the receiving electrodes 24a, 24b is superimposed on a large period corresponding to the deviations D1 (x), D2 (x). And C1, C2. By taking the difference between the output signals C1 and C2, the output signal Oc including the absolute position information of the coarse scale determined by the deviation D1 (x) is obtained, and by taking the difference between the output signals B1 and B2, the deviation D2 An output signal Om including medium scale absolute position information determined by (x) is obtained. Further, by taking the difference between the sum of the output signals C1 and C2 and the sum of the output signals B1 and B2, an output signal Of including the absolute position information of the fine scale determined by the receiving electrode pitch is obtained.
[0023]
The output signals Oc and Om are demodulated by the
[0024]
In the present invention, the position information DH of the coarse scale and the medium scale is synthesized by the ABS data calculation unit 4, but the position information DL of the fine scale is obtained by the
5 and 6 are waveform diagrams of each part for explaining the operation of the PLL /
[0025]
The PLL /
The
[0026]
In the phase comparison circuit 110, a counter pulse signal PULSE corresponding to the phase difference between the falling edge of the phase signal CMP indicated by the differential pulse P1 and the rising edge of the reference signal CNT output from the frequency dividing circuit 130 The up / down signal U / P for instructing up / down of the counter is output. That is, the differential pulse P1 is converted into a falling pulse corresponding to one pulse width of the clock signal CK (inverted clock signal by the inverter 104) by the
[0027]
On the other hand, the timing of the trailing edge of the differential pulse P1 is delayed by the half frequency of the clock signal CK by the FF 116 and the
[0028]
In the frequency division switching circuit 120, the inputs of the pair of
[0029]
[Table 1]
[0030]
In the stop mode, when the pulse gate signal PG and the up / down signal U / D are both L, that is, the phase signal CMP is delayed with respect to the reference signal CNT, and the count pulse PULSE is output to correct the delay. This is the mode that will be executed while running. In the stop mode, since
[0031]
The normal mode is a mode that is executed when the pulse gate signal PG is H, that is, when the phase signal CMP and the reference signal CNT are completely synchronized, or when the
[0032]
In the 1/2 mode, when the pulse gate signal PG is L and the up / down signal U / D is H, that is, the phase signal CMP is advanced with respect to the reference signal CNT, and the count pulse is used to correct the advance. This mode is executed while PULSE is being output. In the ½ mode, the
[0033]
With the above operation, the generation of the pulse signal PULSE corresponding to the phase difference between the phase signal CMP and the reference signal CNT and the synchronization of the phase signal CMP and the reference signal CNT are performed.
[0034]
FIG. 8 is a state transition diagram showing a measurement operation mode using this ABS / INC combined length measurement system. First, when the operation of the system is started, the ABS processing of the
[0035]
When the ABS process of the
[0036]
When a peak detection instruction (PEAK ON) is input in the normal mode, the following processing is executed. As shown in FIG. 9, this peak detection is a measurement mode in which the surface of the
[0037]
In the scanning detection mode, the moving speed of the
[0038]
In this apparatus, since the amount of processing in the incremental mode (counting measurement mode) is small, a sufficient speed can be obtained even if the operating frequency is lowered, and the current consumption can be greatly reduced. Furthermore, since the operating frequency can be lowered, a low-speed and inexpensive 4-bit microcomputer or the like can be used, so that the cost can be reduced accordingly. In the incremental mode, even if an overspeed occurs, the absolute position verification mode (S7) can return to an accurate value, so that the transition to the ABS measurement can be performed very smoothly, and the merit of the ABS system is not impaired.
[0039]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to update the measurement speed at a very high speed in the count measurement mode, thereby following the high-speed movement of the scale and further improving the real-time property. There is an effect that peak detection and the like are possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an ABS / INC combined length measurement system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing details of an ABS sensor in the same system.
FIG. 3 is a waveform diagram showing a relationship between a phase signal CMP of each scale and a reference phase signal CPO in the system.
FIG. 4 is a diagram for explaining a concept of synthesis processing of each scale in the system.
FIG. 5 is a waveform diagram of each part of a PLL / counting pulse generation unit in the same system.
FIG. 6 is a waveform diagram of each unit of a PLL / counting pulse generation unit in the same system.
FIG. 7 is a block diagram of a PLL / counting pulse generator in the same system.
FIG. 8 is a state transition diagram during measurement in the system.
FIG. 9 is a diagram for explaining a scanning measurement mode in the system.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (7)
この絶対型変位センサの出力信号のうち前記粗い位置を示す信号を復調して粗い位置を示す第1の位相信号を生成する第1の復調手段と、
前記絶対型変位センサの出力信号のうち前記細かい位置を示す信号を復調して前記細かい位置を示す第2の位相信号を生成する第2の復調手段と、
前記第1の復調手段からの第1の位相信号を処理して絶対位置データの上位桁部分を生成する絶対データ演算手段と、
前記第2の復調手段からの第2の位相信号と基準信号との位相差に応じた計数パルスとその計数方向を示す信号とを生成出力すると共に、前記基準信号の位相を前記第2の位相信号に同期させるように制御する位相同期・計数パルス生成手段と、
この位相同期・計数パルス生成手段から出力される計数パルスを前記計数方向を示す信号に基づいて計数して前記絶対位置データの下位桁部分を生成する計数手段と、
前記絶対データ演算手段で生成された上位桁部分と前記計数手段で生成された下位桁部分とを合成して前記絶対位置データを生成する合成演算手段と
を備えてなることを特徴とする変位測定装置。An absolute displacement sensor that outputs absolute position information of the movable element with respect to the fixed element, and that outputs a signal indicating at least a coarse position and a signal indicating a fine position;
First demodulating means for demodulating the signal indicating the rough position among the output signals of the absolute displacement sensor to generate a first phase signal indicating the rough position;
Second demodulating means for demodulating a signal indicating the fine position among output signals of the absolute displacement sensor to generate a second phase signal indicating the fine position;
Absolute data computing means for processing the first phase signal from the first demodulating means to generate an upper digit portion of absolute position data;
A count pulse corresponding to the phase difference between the second phase signal from the second demodulator and the reference signal and a signal indicating the counting direction are generated and output, and the phase of the reference signal is set to the second phase. Phase-synchronizing / counting pulse generating means for controlling to synchronize with a signal;
Counting means for counting the counting pulses output from the phase synchronization / counting pulse generating means based on the signal indicating the counting direction to generate the lower digit part of the absolute position data;
Displacement measurement, comprising: a combination calculation means for generating the absolute position data by combining the upper digit part generated by the absolute data calculation means and the lower digit part generated by the counting means apparatus.
前記第2の位相信号と基準信号との位相差を検出する位相比較回路と、
基準クロック信号を分周して前記基準信号を生成する分周回路と、
前記位相比較回路で検出された位相差を吸収すべく前記分周回路の分周比を制御する分周切換回路と
を備えてなることを特徴とする請求項1記載の変位測定装置。The phase synchronization / counting pulse generating means includes
A phase comparison circuit for detecting a phase difference between the second phase signal and a reference signal;
A frequency dividing circuit for dividing the reference clock signal to generate the reference signal;
2. The displacement measuring apparatus according to claim 1, further comprising a frequency division switching circuit that controls a frequency division ratio of the frequency divider circuit so as to absorb the phase difference detected by the phase comparison circuit.
前記基準位相信号と前記第2の位相信号のいずれか一方を前記位相同期・計数パルス生成手段に出力する選択手段とを備え、
前記位相同期・計数パルス生成手段は、前記基準位相信号を入力した場合には、前記基準信号を前記基準位相信号に同期させるように制御するものである
ことを特徴とする請求項1又は2記載の変位測定装置。A reference phase signal output means for outputting a reference phase signal that gives a reference phase for detecting an absolute phase of an output signal of the absolute displacement sensor;
Selecting means for outputting either the reference phase signal or the second phase signal to the phase synchronization / counting pulse generating means;
3. The phase synchronization / counting pulse generation means controls to synchronize the reference signal with the reference phase signal when the reference phase signal is input. Displacement measuring device.
この絶対位置検証モードでは、前記位相同期・計数パルス生成手段に前記基準位相信号を導入して前記基準信号を前記基準位相信号と同期させたのち、前記計数手段をクリアして、前記位相同期・計数パルス生成手段に前記第2の位相信号を導入して絶対位置データを求めることを特徴とする請求項3記載の変位測定装置。It has an absolute position verification mode,
In this absolute position verification mode, the reference phase signal is introduced into the phase synchronization / counting pulse generation means to synchronize the reference signal with the reference phase signal, and then the counting means is cleared, 4. The displacement measuring apparatus according to claim 3, wherein the absolute position data is obtained by introducing the second phase signal into the counting pulse generating means.
この計数測定モードでは、前記合成演算手段は、合成された絶対位置データをスタートデータとして記憶すると共に、前記計数手段をクリアして、以後、前記計数手段の計数値と前記スタートデータとを加算することにより前記絶対位置データを算出するものである
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載の変位測定装置。 It has a counting measurement mode,
In the count measurement mode, the synthesis calculation means stores the synthesized absolute position data as start data, clears the count means, and thereafter adds the count value of the count means and the start data. The displacement measuring device according to any one of claims 1 to 4, wherein the absolute position data is calculated accordingly .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11859799A JP4233679B2 (en) | 1999-04-26 | 1999-04-26 | Displacement measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11859799A JP4233679B2 (en) | 1999-04-26 | 1999-04-26 | Displacement measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000310545A JP2000310545A (en) | 2000-11-07 |
| JP4233679B2 true JP4233679B2 (en) | 2009-03-04 |
Family
ID=14740527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11859799A Expired - Fee Related JP4233679B2 (en) | 1999-04-26 | 1999-04-26 | Displacement measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4233679B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5006752B2 (en) * | 2007-10-15 | 2012-08-22 | 株式会社ミツトヨ | Displacement detector |
| CN110388870B (en) * | 2018-04-23 | 2025-05-30 | 桂林市晶瑞传感技术有限公司 | Displacement measurement system and displacement measurement method for sensor device |
| JP7465071B2 (en) * | 2019-10-07 | 2024-04-10 | 株式会社ミツトヨ | Displacement measuring device, signal processing unit of the displacement measuring device and signal processing method thereof |
| JP7836493B2 (en) * | 2022-05-19 | 2026-03-27 | 株式会社デンソー | Rotation detection device |
-
1999
- 1999-04-26 JP JP11859799A patent/JP4233679B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000310545A (en) | 2000-11-07 |
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|
| A977 | Report on retrieval |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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