JP4261762B2

JP4261762B2 - Magnetic data recording state inspection device

Info

Publication number: JP4261762B2
Application number: JP2000339203A
Authority: JP
Inventors: 明羽鳥; 良雄新藤
Original assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Current assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date: 2000-11-07
Filing date: 2000-11-07
Publication date: 2009-04-30
Anticipated expiration: 2020-11-07
Also published as: JP2002150501A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録媒体に設けられる記録領域に書込まれる磁気データの記録状態、とくにジッタやアジマス角を検査する磁気データ記録状態検査装置に関し、とくに持ち運びが容易な磁気データ記録状態検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、記録媒体に磁気データを書き込む書込装置においては、書込装置を生産する工場における出荷時や、あるいは書込装置を使用するフィールドにおける点検時において、書込装置が記録媒体に書込んだ磁気データのジッタやアジマス角が正常の範囲に収まっているかを検査する必要がある。こうした検査を行う装置として従来、特開平８−３６７０１号公報に開示されるものがある。
【０００３】
特開平８−３６７０１号公報に開示される検査装置は、磁気データが所定の記録領域に直線状に記録された媒体を位置決め支持する支持部を設け、媒体の記録領域に対向配置され、その記録領域に沿う基準線上を直線的に移動して磁気データを読取るように磁気ヘッドが設けられている。そして基準線上に設定した基準位置からの磁気ヘッドの移動距離を計測する計測部を有し、さらに磁気ヘッドの出力と計測部の出力とを受け入れて、基準位置を基点とした基準線上の磁気データの読取信号レベル変化を認識し、磁気データの記録密度を演算処理する演算部と演算部による演算処理結果を表示する表示部とを有するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記の磁気データ記録状態検査装置は、精度を要する機構可動部を備えた上、大型であるので、一定の場所に据え置きとなり、検査対象の装置によりデータを書込んだ媒体を検査装置のある場所にまで持ち運ぶ必要があった。とくにフィールドで検査を行う場合には、データを書込んだ媒体を持ち帰って検査を行うので、検査対象の装置に異常が発見された場合、その手当てに遅れが出る可能性が高いという問題があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明の磁気データ記録状態検査装置は、基準媒体の記録領域に記録されたデータを前記記録領域を相対的に移動することにより読取る第１の読取部と、前記第１の読取部に対向して配置され、検査対象である書込み装置により検査媒体の記録領域に書き込まれた磁気データを前記記録領域を相対的に移動することにより読取る第２の読取部とを具備した読取装置と、前記第１の読取部で読取られたデータと前記第２の読取部で読取られた磁気データとを演算処理する演算処理部と、該演算処理部で演算処理された結果を表示する表示部とを具備した演算処理装置とから成るものである。
【０００６】
前記第１の読取部と前記第２の読取部は同一の移動速度でそれぞれのデータを読取り、前記演算処理部は前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度を求め、求めた移動速度に基いて前記第１の読取部で読取ったデータの磁気極性反転間隔と前記第２の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔との差を求めることによりジッタを測定するようにする。
【０００７】
また前記第２の読取部を、前記移動方向に直交する方向に所定の間隔で互いにずらして配置した第３の読取部と第４の読取部とから成るようにし、前記演算処理部は前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度を求め、求めた移動速度に基いて前記第３の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔と前記第４の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔との差を求め、この差と前記所定の間隔の値とからアジマス角を測定するようにする。
【０００８】
また演算処理装置は、移動速度の許容値および移動速度変動の許容値を格納する記憶部を有し、演算処理部は、前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度および移動速度変動を求め、記憶部に格納してある移動速度の許容値および移動速度変動の許容値を逸脱している場合は表示部に再検査を促す表示をするようにしてもよい。
【０００９】
さらに、基準媒体の記録領域をホルダーに施された光学データとし、第１の読取部を光学データを読取る光学センサとし、演算処理部は光学センサで読取られたデータと第２の読取部で読取られた磁気データとを演算処理するようにしてジッタの測定とアジマス角の測定を行うようにしてもよい。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面にしたがって説明する。図１は本発明の第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図、図２は第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【００１１】
図１において、第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置１の読取ユニット２には、磁気データを読取る磁気ヘッド３、４が対向して設けられている。磁気ヘッド３、４は互いに退避可能に支持されるとともに、互いに接近する方向に図示しないバネ部材により付勢されている。両磁気ヘッド３、４の間には磁気カードが通過するガイド溝５が形成されている。また読取ユニット２には回路部６が設けられ、磁気ヘッド３、４はこの回路部６に接続されている。
【００１２】
読取ユニット２で読取られる磁気カードは、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を互いに背中合わせになるように重ね合わせたものである。即ち、検査用磁気カード７の磁気ストライプ９と基準磁気カード８の磁気ストライプ１０とがそれぞれ外側になるように、またガイド溝５に挿入されたときにそれぞれ磁気ヘッド３、４に対向するように重ね合わされている。
【００１３】
検査用磁気カード７の磁気ストライプ９のデータトラックには、検査対象となるカードリーダ・ライタ等の磁気データを書き込む装置により、任意の磁気データが書き込まれている。また基準磁気カード８の磁気ストライプ１０のデータトラックには、検査対象となる装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔で全てを構成するデータが、マスター装置により書込まれている。
【００１４】
図２において、検査用磁気カード７の磁気ストライプ９に対向する磁気ヘッド３には、２つの読取部１１、１２が設けられている。読取部１１、１２は、磁気カード７、８がガイド溝５を通過する方向に直交する方向に所定の間隔を置いて配設され、ともに磁気ストライプ９のデータトラックを読取る。また磁気ヘッド４には１つの読取部１３が設けられ、この読取部１３は磁気ストライプ１０を読取る。
【００１５】
読取ユニット２の回路部６には、増幅部１４、１５、１６およびＡ／Ｄ変換部１７が設けられ、各読取部１１、１２、１３はそれぞれ対応する増幅部１４、１５、１６に接続され、増幅部１４、１５、１６はＡ／Ｄ変換部１７に接続される。
【００１６】
磁気データ記録状態検査装置１は読取ユニット２とデータ処理ユニット１８とで構成され、Ａ／Ｄ変換部１７の出力がデータ処理ユニット１８へ送出される。データ処理ユニット１８は例えばこのユニット１８の各機能の動さを実行するプログラムを組み込んだノート型パーソナルコンピュータが使用される。データ処理ユニット１８には、データ処理部１９、演算部２０、演算結果編集部２１、表示制御部２２および表示部２３が具備されている。
【００１７】
データ処理部１９は読取ユニット２から受け取ったデータ信号を演算可能な値に変換する。演算部２０はデータ処理部１９で変換したデータを演算する。演算結果編集部２１はデータの演算結果を表やグラフの形で表示可能に編集する。表示制御部２２は編集したデータを表示部２３で表示するための制御を行う。
【００１８】
次に第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置１の動作を図３および図４にしたがって説明する。図３は第１の実施の形態の検査の流れを示すフローチャート、図４は第１の実施の形態の動作を説明するための動作説明図である。まず図３により磁気データ記録状態の検査の流れを説明する。
【００１９】
まずステップ１で、検査員が検査対象となる磁気データ書込装置から検査用磁気カード３に任意のデータを書き込み、次にステップ２で、データ処理ユニット１８に対するパラメータ設定として、検査対象となる磁気データ書込装置の規格であるデータビット間隔の最小ピッチのビット間隔の値を図示しない入力部から入力する。
【００２０】
次にステップ３で、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を互いの磁気ストライプ９、１０が背中合わせになるように重ね合わせ、ステップ４で、読取ユニット２のガイド溝５に挿入し、磁気ヘッド３と磁気ヘッド４の間を通過させて検査用磁気カード７と基準磁気カード８の磁気データを読取ユニット２に読取らせる。
【００２１】
次にステップ５で、データ処理ユニット１８において読取ユニット２で読取ったデータを演算可能な値に変換し、ステップ６で、演算と編集を行い、編集した結果を表示部２３に表示する。そしてステップ７で検査員が表示内容を確認して一連の検査の流れを終了する。
【００２２】
次に図４を用いて検査データの処理について詳細に説明する。図４において、基準磁気カード８のデータトラック２４には、検査対象となる書込装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔Ｌで全てを構成するデータが、マスター装置により書込まれており、このデータビットが整然と並び、このビットの中心、即ち、磁気極性の反転箇所が２５として示してある。このデータを基準磁気ヘッド８の読取部１３が読取る。
【００２３】
また検査用磁気カード７のデータトラック２６には、検査対象であるカード・リーダ等の書込装置により任意の磁気データが書き込まれており、このデータビットの中心、即ち、磁気極性の反転箇所が２７として示してある。このデータの図における下半分を読取部１１で読取り、上半分を読取部１２で読取る。読取部１１、１２、１３による読取結果は、各読取部の時間による出力電圧の変化として現れ、この時間による電圧変化の正のピークと負のピークの位置が、上述の磁気極性の反転箇所２５、２７の位置となる。
【００２４】
出力電圧のピーク信号が、読取ユニット２のＡ／Ｄ変換部１７からデータ処理ユニット１８のデータ処理部１９へ送られると、データ処理部１９において信号のピーク間隔が時間測定され、時間長として演算可能な値に変換される。図４に示すＴ、ｔ、ｔ´は時間長として変換された測定値である。
【００２５】
次にデータ処理ユニット１８の演算部２０において、データ処理部１９で変換された測定値に対して、以下の計算がなされる。以下にこの計算について説明するが、まず計算説明における符号の意味を説明する。まずＬは上述したように、検査対象の装置の規格データビット間隔の最小ピッチを示し、Ｔ１〜Ｔｎは読取部１３のビット間隔検出所要時間を示す。
【００２６】
ｔ１〜ｔｎはＴ１〜Ｔｎの起点から読取部１１がデータを検出するまでの時間を示し、ｔ´１〜ｔ´ｎはＴ１〜Ｔｎの起点から読取部１１がデータを検出するまでの時間を示す。ｔ、ｔ´は自らの前にある最寄りのＴの起点から測定した値である。
【００２７】
つぎにジッタの測定について説明する。ジッタは規格データビット間隔と検査用磁気カードの実データビット間隔の差であり、次の計算式で求められる。即ち、１ビット目を基準とした２ビット目のジッタは、Ｌ（ｔ２／Ｔ２）−Ｌ（ｔ１／Ｔ１）により求められる。
【００２８】
また３ビット目は、検査用磁気カード７のデータトラック２６には磁気極性斑点箇所がない。この場合はデータビット無しと判断する。
【００２９】
次に４ビット目のジッタは、２ビット目を基準にして、Ｌ（ｔ３／Ｔ４）−Ｌ（ｔ２／Ｔ２）により求められる。
【００３０】
同様にして計算を行い、ｎビット目のジッタは、Ｌ（ｔｎ／Ｔｎ）−Ｌ（ｔｎ−１／Ｔｎ−１）により求められる。
【００３１】
以上のジッタの測定計算においては、読取部１１の検出結果に基いてジッタを求めているが、読取部１２の検出結果（ｔ´）に基いて求めるようにしてもよく、あるいはｔとｔ´の平均値から求めるようにしてもよい。なおｔとｔ´の平均値から求めるようにした場合に、図４におけるｎビット目のように、ｔ´ｎがＴｎ＋１に掛かっている場合、ｔｎの基準であるＴｎの起点からｔ´ｎも測定すればよい。
【００３２】
次にアジマス角の測定について説明する。アジマス角は、データビットの並び軸と直交する軸に対するビットの傾きであり、次の計算式により求められる。即ち、磁気ヘッド３の読取部１１と読取部１２の間の距離をＰとすると、この距離Ｐは１ビット目を例にして計算すると、Ｌ（ｔ´１／Ｔ１）−Ｌ（ｔ１／Ｔ１）となり、これをＱとしてアジマス角θを求めると、θ＝ｔａｎ^-1（Ｑ／Ｐ）で求めることができる。他のビットのアジマス角θについても同様にして求めることができる。
【００３３】
以上の計算結果がデータ処理ユニット１８の演算結果編集部２１により編集され、表示制御部２２の制御により表示部２３に表やグラフの形で表示される。
【００３４】
以上のように第１の実施の形態においては、磁気データ記録状態検査装置１が小型になり、検査対象のカード・リーダ等の書込装置の設置場所へ容易に持ち込むことが可能になり、特にフィールドでの検査が容易になり、検査対象の装置における異常の有無が即座に判明する。そして異常が発見された場合には即座に対応することが可能になる。
【００３５】
次に本発明の第２の実施の形態を説明する。図５は第２の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図、図６は第２の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【００３６】
図５、図６において、第２の実施の形態は、前記第１の実施の形態の構成に対して、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を重ね合わせた状態で保持するためのホルダー３０を設けたものである。ホルダー３０は、重ね合わされる検査用磁気カード７と基準磁気カード８の両方の背面を支持する面支持部３１と、磁気カード７と基準磁気カード８の側端面を支持する側端面支持部３２および磁気カード７と基準磁気カード８の上端面を支持する上端面支持部３３とを有する。その他の構成は第１の実施の形態と同様である。
【００３７】
図７は第２の実施の形態における検査の流れを示すフローチャートである。図７において、まずステップ１１で、検査員が検査対象となる磁気データ書込装置から検査用磁気カード３に任意のデータを書き込み、次にステップ１２で、データ処理ユニット１８に対するパラメータ設定として、検査対象となる磁気データ書込装置の規格であるデータビット間隔の最小ピッチのビット間隔の値を図示しない入力部から入力する。
【００３８】
次にステップ１３で、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を互いに背中合わせになるように重ね合わせるが、検査用磁気カード７と基準磁気カード８をホルダー３０の側端面支持部３２と上端面支持部３３に合わせるようにするとともに、検査用磁気カード７と基準磁気カード８の背面が面支持部３１に密着するように重ね合わせる。次にステップ１４で、ホルダー３０にセットした状態で読取ユニット２のガイド溝５に挿入し、磁気ヘッド３と磁気ヘッド４の間を通過させて検査用磁気カード７と基準磁気カード８の磁気データを読取ユニット２に読取らせる。
【００３９】
以下のステップ１５、１６、１７は第１の実施の形態のステップ５、６、７と同様である。
【００４０】
以上のように第２の実施の形態によれば、ホルダー３０で検査用磁気カード７と基準磁気カード８が確実に支持されるので、例えばプリペイドカードのように薄手の媒体であっても安定した検査結果が得られる効果がある。またキャッシュカードのような厚手の媒体であっても、媒体として例えば滑りやすい材質を用いることが可能になり、材質の選択の自由度が増大する。
【００４１】
次に第３の実施の形態を説明する。図８は第３の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。図８において、データ処理ユニット３５には、媒体速度記憶部３６が設けられている。その他の構成は第１の実施の形態と同様である。
【００４２】
媒体速度記憶部３６は、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を磁気ヘッド３と磁気ヘッド４の間を通過させる際の通過速度および通過速度変動に対して許容範囲を設けており、その範囲の上限値と下限値を記憶している。許容範囲を設ける理由は、検査用磁気カード７と基準磁気カード８の通過により磁気ヘッド３と磁気ヘッド４から電流を発生させる構成となっていることから、電流波形の形成に通過速度が重要な要素となるからで、電流発生から演算可能な値に変換する過程で、この処理を実行する回路の処理において不具合が生じない電流波形が形成できるように通過速度および通過速度変動を管理するためである。
【００４３】
前記第１の実施の形態と異なる点は、通過速度および通過速度変動の許容範囲の上限値および下限値と、基準磁気カードから読み取り演算可能な値に変換したデータとを演算部２０で演算比較し、基準磁気カードのデータの値が許容範囲に収まらない場合は、その旨をメッセージとして表示部に表示するようにした点である。
【００４４】
データ処理ユニット１８をノート型パーソナルコンピュータとした場合は、上記の処理動作は動作プログラムとしてノート型パーソナルコンピュータに組み込まれる。
【００４５】
次に第３の実施の形態の動作をさらに図９に示すフローチャートと図４により説明する。図９は第３の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。まずフローチャートに示すステップ２１からステップ２５までの動作は図３の第１の実施の形態のステップ１からステップ５までの動作と同様である。
【００４６】
ステップ５´において、基準磁気カード８から得たＴ１〜Ｔｎの値と、媒体速度記憶部３６に記憶される値とが、演算部２０により比較演算される。通過速度については、Ｔ１〜Ｔｎの値を合計し、この合計値が媒体速度記憶部３６に記憶した上限値と下限値の間に収まるかどうか判断される。また通過速度変動については、Ｔ１とＴ２、Ｔ２とＴ３、Ｔ３とＴ４、…、Ｔｎ−１とＴｎというように、隣り合う値を随時比較し、隣り合う値の差がそれぞれ媒体速度記憶部３６に記憶した通過速度変動の上限値と下限値の間に収まるかどうか判断される。
【００４７】
何れかの場合に、あるいは両方の場合に上限値と下限値の間に収まらない場合は、ステップ２８において、例えば通過速度が下限値を下回る場合は「もう少しカードを速く移動してください」、また通過速度が上限値を上回る場合は「もう少しカードを遅く移動してください」などのメッセージを表示部２３に表示し、また通過速度変動が大きい場合は、例えば「一定の速度でカードを移動してください」などのメッセージを表示部２３に表示して、再検査を要求する。
【００４８】
通過速度も通過速度変動も許容範囲内に収まる場合は、ステップ２６において、測定した値の演算および編集を行い、編集した結果を表示部２３に表示する。ステップ２７において、検査員が再検査の要求を確認した場合はステップ２３からの動作を繰返し、再検査要求がない場合は表示内容を確認して一連の検査の流れを終了する。
【００４９】
以上のように第３の実施の形態においては、通過速度および通過速度変動が許容範囲内に収まる場合にのみジッタおよびアジマス角の測定を行うようにしたので、安定した電流波形を基として測定を行うことができ、検査結果の信頼性が向上する。
【００５０】
次に本発明の第４の実施の形態を説明する。図１０は第４の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。図１０において、読取ユニット２には、磁気ヘッド３に対向して光学センサ４０が設けられ、光学センサ４０の両側には、磁気ヘッド３のバネ付勢による力を受けるガイドローラ４１、４２が回転可能に設けられている。
【００５１】
本実施の形態ではホルダー４５が使用され、検査用磁気カード７がホルダー４５に保持されるとともに、ホルダー４５に光学データが書込まれる。図１１は第４の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【００５２】
図１１において、ホルダー４５には、面支持部４６、側端面支持部４７および上端面支持部４８が形成されており、これらの支持部は全て検査用磁気カード３のみを支持するようになっている。面支持部４６の、検査用磁気カード３を支持する面の反対側の面には、光学データ４４がバーコード状に付されている。光学データが付される位置は、ホルダー４５が読取ユニットのガイド溝を通過する際に光学センサ４０と対向する位置である。
【００５３】
バーコード状の光学データ４４の間隔は、検査対象となる書込装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔となっている。したがって、ホルダー４５の光学データ４４は光学センサ４０により読取られるが、読取った結果は第１の実施の形態における基準磁気カード８の磁気データを磁気ヘッド４が読取った結果と同等になる。即ち、本実施の形態ではホルダー４５が基準磁気カードの代用をする。
【００５４】
図１０において、検査用磁気カード７を重ね合わせたホルダー４５を、磁気ヘッド３と光学センサ４０との間を通過させる際、バネ付勢される磁気ヘッド３の押圧は検査用磁気カード７およびホルダー４５を介してガイドローラ４１、４２が受け止めるので、ホルダー４５が光学センサ４０に接触することはなく、光学センサ４０は非接触でホルダー４５の光学データ４４を読取る。
【００５５】
図１２は第４の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。フローチャートに示すステップ３３において、検査用磁気カード７のみをホルダー４５の側端面支持部４７および上端面支持部４８に位置合わせして面支持部４６に重ね合わせる。次のステップ３４では、検査用磁気カード７をホルダー４５にセットした状態で、磁気ヘッド３と光学センサ４０の間を通過させ、検査用磁気カード７のデータトラックを磁気ヘッド３により読取るとともに、光学センサ４０によりホルダー４５の光学データ４４を読取る。
【００５６】
以降のステップにおいて読取られた磁気データと光学データが処理され、第１の実施の形態で説明したと同様にジッタおよびアジマス角が測定され、測定結果が表示される。
【００５７】
以上のように第４の実施の形態においては、測定の基準となるデータが光学データであるので、光学センサにより非接触で読取ることが可能である。それゆえ基準媒体（ホルダー）の繰返し使用回数を増やすことができ、長期間に亘って使用が可能である。第４の実施の形態においては、前記各実施の形態と同様に専用の基準磁気媒体を使用することも勿論可能であり、この場合は基準磁気媒体に光学データを書込んでおくわけであるが、ホルダーに光学データを書き込むことにより、専用の磁気媒体が不要になるとともに、ホルダーに対して磁気カードを重ね合わせることが容易になる。
【００５８】
以上の各実施の形態においては、磁気カードを対象として磁気データ記録状態を検査する装置について説明したが、磁気データを保持する媒体として磁気カードのほかに例えば通帳や航空券を用いて磁気データの記録状態を検査する装置にも本発明は適用可能である。
【００５９】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように本発明によれば、磁気データ記録状態検査装置が小型になり、検査対象のカード・リーダ等の書込装置の設置場所へ容易に持ち込むことが可能になり、特にフィールドでの検査が容易になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図である。
【図２】第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【図３】第１の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。
【図４】第１の実施の形態の動作を説明するための動作説明図である。
【図５】第２の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図である。
【図６】第２の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【図７】第２の実施の形態における検査の流れを示すフローチャートである。
【図８】第３の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【図９】第３の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。
【図１０】第４の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【図１１】第４の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【図１２】第４の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１磁気データ記録状態検査装置
２読取ユニット
３、４磁気ヘッド
７検査用磁気カード
８基準磁気カード
１８データ処理ユニット
３０、４５ホルダー
４０光学センサ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a magnetic data recording state inspection apparatus for inspecting a recording state of magnetic data written in a recording area provided on a recording medium, particularly a jitter and an azimuth angle, and particularly to a magnetic data recording state inspection apparatus that is easy to carry.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in a writing apparatus for writing magnetic data on a recording medium, the writing apparatus writes the recording medium at the factory where the writing apparatus is produced or at the time of inspection in the field where the writing apparatus is used. It is necessary to check whether the jitter and azimuth angle of the magnetic data are within the normal range. Conventionally, an apparatus for performing such inspection is disclosed in JP-A-8-36701.
[0003]
The inspection apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-36701 is provided with a support portion for positioning and supporting a medium in which magnetic data is linearly recorded in a predetermined recording area, and is disposed opposite to the recording area of the medium. A magnetic head is provided so as to read magnetic data by linearly moving on a reference line along the region. And it has a measuring unit that measures the moving distance of the magnetic head from the reference position set on the reference line, and further accepts the output of the magnetic head and the output of the measuring unit, and magnetic data on the reference line with the reference position as the base point And a display unit for displaying the calculation processing result of the calculation unit.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, the above magnetic data recording state inspection apparatus has a movable mechanism that requires high accuracy and is large, so that the inspection apparatus has a medium in which data is written by an inspection target apparatus. I had to carry it to the place. In particular, when performing inspections in the field, since the inspection is performed by bringing back the medium on which the data has been written, there is a problem that if there is an abnormality in the inspection target device, there is a high possibility that the treatment will be delayed. It was.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, a magnetic data recording state inspection apparatus according to the present invention includes a first reading unit that reads data recorded in a recording area of a reference medium by relatively moving the recording area; A second reading unit which is arranged opposite to the first reading unit and reads magnetic data written in the recording area of the inspection medium by the writing device to be inspected by relatively moving the recording area. A reading device, an arithmetic processing unit for arithmetically processing the data read by the first reading unit and the magnetic data read by the second reading unit, and a result of the arithmetic processing by the arithmetic processing unit. And an arithmetic processing unit having a display unit for displaying.
[0006]
The first reading unit and the second reading unit read each data at the same moving speed, the arithmetic processing unit obtains a moving speed at the time of reading from the data read by the first reading unit, Jitter is measured by obtaining the difference between the magnetic polarity reversal interval of the data read by the first reading unit and the magnetic polarity reversal interval of the magnetic data read by the second reading unit based on the obtained moving speed. Like that.
[0007]
Further, the second reading unit is composed of a third reading unit and a fourth reading unit which are arranged at a predetermined interval in a direction orthogonal to the moving direction, and the arithmetic processing unit includes the first reading unit. The moving speed at the time of reading is obtained from the data read by the first reading section, and the magnetic polarity reversal interval of the magnetic data read by the third reading section and the fourth reading section are read based on the obtained moving speed. The difference between the magnetic data and the magnetic polarity reversal interval is obtained, and the azimuth angle is measured from the difference and the value of the predetermined interval.
[0008]
The arithmetic processing unit has a storage unit that stores an allowable value of the moving speed and an allowable value of fluctuation of the moving speed, and the arithmetic processing unit includes the moving speed at the time of reading from the data read by the first reading unit, and The movement speed fluctuation may be obtained, and if the movement speed allowable value stored in the storage unit and the movement speed fluctuation allowable value are deviated, a display for prompting re-examination may be displayed on the display unit.
[0009]
Further, the recording area of the reference medium is optical data applied to the holder, the first reading unit is an optical sensor that reads the optical data, and the arithmetic processing unit reads the data read by the optical sensor and the second reading unit. Jitter measurement and azimuth angle measurement may be performed by processing the obtained magnetic data.
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic perspective view showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing the magnetic data recording state inspection apparatus according to the first embodiment.
[0011]
In FIG. 1, the reading unit 2 of the magnetic data recording state inspection apparatus 1 according to the first embodiment is provided with magnetic heads 3 and 4 for reading magnetic data. The magnetic heads 3 and 4 are supported so as to be retractable from each other, and are urged by spring members (not shown) in directions approaching each other. A guide groove 5 through which the magnetic card passes is formed between the magnetic heads 3 and 4. The reading unit 2 is provided with a circuit unit 6, and the magnetic heads 3 and 4 are connected to the circuit unit 6.
[0012]
The magnetic card read by the reading unit 2 is obtained by superimposing the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 so as to be back to back. In other words, the magnetic stripe 9 of the inspection magnetic card 7 and the magnetic stripe 10 of the reference magnetic card 8 are on the outside, respectively, and are opposed to the magnetic heads 3 and 4 when inserted into the guide groove 5. It is superimposed.
[0013]
Arbitrary magnetic data is written in the data track of the magnetic stripe 9 of the magnetic card for inspection 7 by a device for writing magnetic data such as a card reader / writer to be inspected. In the data track of the magnetic stripe 10 of the reference magnetic card 8, data constituting all of the data bit intervals, which is the standard of the device to be inspected, with the minimum bit interval is written by the master device. .
[0014]
In FIG. 2, two reading units 11 and 12 are provided on the magnetic head 3 facing the magnetic stripe 9 of the inspection magnetic card 7. The reading units 11 and 12 are arranged at predetermined intervals in a direction orthogonal to the direction in which the magnetic cards 7 and 8 pass through the guide groove 5, and both read the data track of the magnetic stripe 9. The magnetic head 4 is provided with one reading unit 13, which reads the magnetic stripe 10.
[0015]
The circuit unit 6 of the reading unit 2 is provided with amplification units 14, 15, 16 and an A / D conversion unit 17, and each reading unit 11, 12, 13 is connected to a corresponding amplification unit 14, 15, 16 respectively. The amplification units 14, 15 and 16 are connected to the A / D conversion unit 17.
[0016]
The magnetic data recording state inspection device 1 includes a reading unit 2 and a data processing unit 18, and an output of the A / D conversion unit 17 is sent to the data processing unit 18. As the data processing unit 18, for example, a notebook personal computer incorporating a program for executing each function of the unit 18 is used. The data processing unit 18 includes a data processing unit 19, a calculation unit 20, a calculation result editing unit 21, a display control unit 22, and a display unit 23.
[0017]
The data processing unit 19 converts the data signal received from the reading unit 2 into a value that can be calculated. The calculation unit 20 calculates the data converted by the data processing unit 19. The calculation result editing unit 21 edits the calculation result of the data so that it can be displayed in the form of a table or a graph. The display control unit 22 performs control for displaying the edited data on the display unit 23.
[0018]
Next, the operation of the magnetic data recording state inspection apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is a flowchart showing a flow of inspection according to the first embodiment, and FIG. 4 is an operation explanatory diagram for explaining the operation of the first embodiment. First, the flow of inspection of the magnetic data recording state will be described with reference to FIG.
[0019]
First, in step 1, the inspector writes arbitrary data from the magnetic data writing device to be inspected to the inspection magnetic card 3, and then in step 2, the magnetic to be inspected is set as a parameter for the data processing unit 18. The value of the bit interval of the minimum pitch of the data bit interval, which is the standard of the data writing device, is input from an input unit (not shown).
[0020]
Next, in step 3, the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 are overlapped so that the magnetic stripes 9 and 10 are back-to-back, and in step 4, the magnetic card is inserted into the guide groove 5 of the reading unit 2. 3 and the magnetic head 4 are passed through and the reading unit 2 reads the magnetic data of the magnetic card for inspection 7 and the reference magnetic card 8.
[0021]
Next, in step 5, data read by the reading unit 2 is converted into a value that can be calculated in the data processing unit 18, and calculation and editing are performed in step 6, and the edited result is displayed on the display unit 23. Then, in step 7, the inspector confirms the display contents, and the series of inspection flows is completed.
[0022]
Next, the processing of the inspection data will be described in detail with reference to FIG. In FIG. 4, the data track 24 of the reference magnetic card 8 is written by the master device with all the data constituting the data bit interval, which is the standard of the writing device to be inspected, with the minimum pitch bit interval L. The data bits are neatly arranged, and the center of the bits, that is, the magnetic polarity reversal point is indicated as 25. The reading unit 13 of the reference magnetic head 8 reads this data.
[0023]
Arbitrary magnetic data is written on the data track 26 of the inspection magnetic card 7 by a writing device such as a card reader to be inspected. 27. The lower half of the data is read by the reading unit 11 and the upper half is read by the reading unit 12. The reading results by the reading units 11, 12, and 13 appear as changes in the output voltage depending on the time of each reading unit, and the positions of the positive peak and the negative peak of the voltage change due to this time are the above-described magnetic polarity reversal points 25. , 27 position.
[0024]
When the peak signal of the output voltage is sent from the A / D conversion unit 17 of the reading unit 2 to the data processing unit 19 of the data processing unit 18, the peak interval of the signal is measured in the data processing unit 19 and calculated as a time length. Converted to a possible value. T, t, and t ′ shown in FIG. 4 are measured values converted as time lengths.
[0025]
Next, the calculation unit 20 of the data processing unit 18 performs the following calculation on the measurement value converted by the data processing unit 19. This calculation will be described below. First, the meaning of the symbols in the calculation description will be described. First, as described above, L indicates the minimum pitch of the standard data bit interval of the device to be inspected, and T1 to Tn indicate the bit interval detection required time of the reading unit 13.
[0026]
t1 to tn indicate the time from the start point of T1 to Tn until the reading unit 11 detects data, and t′1 to t′n indicate the time from the start point of T1 to Tn until the reading unit 11 detects data. Show. t and t ′ are values measured from the starting point of the nearest T in front of itself.
[0027]
Next, jitter measurement will be described. Jitter is the difference between the standard data bit interval and the actual data bit interval of the magnetic card for inspection, and is obtained by the following calculation formula. That is, the jitter of the second bit based on the first bit is obtained by L (t2 / T2) −L (t1 / T1).
[0028]
In the third bit, the data track 26 of the inspection magnetic card 7 has no magnetic polarity spot. In this case, it is determined that there is no data bit.
[0029]
Next, the jitter of the fourth bit is obtained by L (t3 / T4) -L (t2 / T2) with the second bit as a reference.
[0030]
The calculation is performed in the same manner, and the jitter of the nth bit is obtained by L (tn / Tn) −L (tn−1 / Tn−1).
[0031]
In the jitter measurement calculation described above, the jitter is obtained based on the detection result of the reading unit 11, but may be obtained based on the detection result (t ′) of the reading unit 12, or t and t ′. You may make it obtain | require from the average value of. When the average value of t and t ′ is used and t′n is multiplied by Tn + 1 as in the nth bit in FIG. 4, t′n is also determined from the starting point of Tn which is the reference of tn. Just measure.
[0032]
Next, measurement of the azimuth angle will be described. The azimuth angle is a bit inclination with respect to an axis orthogonal to the data bit arrangement axis, and is obtained by the following calculation formula. That is, if the distance between the reading unit 11 and the reading unit 12 of the magnetic head 3 is P, the distance P is calculated by taking the first bit as an example, and L (t′1 / T1) −L (t1 / T1 When this is used as Q and the azimuth angle θ is obtained, it can be obtained by θ = tan ⁻¹ (Q / P). The azimuth angle θ of other bits can be obtained in the same manner.
[0033]
The above calculation results are edited by the calculation result editing unit 21 of the data processing unit 18 and are displayed on the display unit 23 in the form of a table or a graph under the control of the display control unit 22.
[0034]
As described above, in the first embodiment, the magnetic data recording state inspection device 1 is reduced in size and can be easily brought into the installation location of a writing device such as a card reader to be inspected. Inspection in the field becomes easy, and the presence or absence of an abnormality in the apparatus to be inspected can be immediately identified. And if an abnormality is discovered, it becomes possible to respond immediately.
[0035]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 5 is a schematic perspective view showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to the second embodiment, and FIG. 6 is a three-view drawing showing a holder according to the second embodiment.
[0036]
5 and 6, in the second embodiment, the holder 30 for holding the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 in an overlapped state with respect to the configuration of the first embodiment. Is provided. The holder 30 includes a surface support portion 31 that supports the back surfaces of both the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8, and a side end surface support portion 32 that supports the side end surfaces of the magnetic card 7 and the reference magnetic card 8. The magnetic card 7 and the upper end surface support portion 33 that supports the upper end surface of the reference magnetic card 8 are provided. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
[0037]
FIG. 7 is a flowchart showing a flow of inspection in the second embodiment. In FIG. 7, first, in step 11, the inspector writes arbitrary data from the magnetic data writing device to be inspected to the inspection magnetic card 3, and then in step 12, as parameter setting for the data processing unit 18, The bit interval value of the minimum pitch of the data bit interval, which is the standard of the target magnetic data writing apparatus, is input from an input unit (not shown).
[0038]
Next, in step 13, the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 are overlapped so as to be back-to-back, but the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 are supported on the side end surface support portion 32 and the upper end surface of the holder 30. The test magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 are overlapped so that the back surfaces of the test magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 are in close contact with the surface support portion 31. Next, in step 14, the magnetic data of the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 is inserted into the guide groove 5 of the reading unit 2 while being set in the holder 30 and passed between the magnetic head 3 and the magnetic head 4. Is read by the reading unit 2.
[0039]
The following steps 15, 16, and 17 are the same as steps 5, 6, and 7 in the first embodiment.
[0040]
As described above, according to the second embodiment, since the magnetic card for inspection 7 and the reference magnetic card 8 are securely supported by the holder 30, for example, even a thin medium such as a prepaid card is stable. There is an effect of obtaining a test result. In addition, even a thick medium such as a cash card can use, for example, a slippery material as the medium, increasing the degree of freedom in selecting the material.
[0041]
Next, a third embodiment will be described. FIG. 8 is a block diagram showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to the third embodiment. In FIG. 8, the data processing unit 35 is provided with a medium speed storage unit 36. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
[0042]
The medium speed storage unit 36 provides a permissible range for a passing speed and a passing speed fluctuation when the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8 are passed between the magnetic head 3 and the magnetic head 4. The upper and lower limit values are stored. The reason why the allowable range is provided is that a current is generated from the magnetic head 3 and the magnetic head 4 by passing through the inspection magnetic card 7 and the reference magnetic card 8, and thus the passage speed is important for forming a current waveform. Because it is an element, in the process of converting from current generation to a value that can be calculated, to manage the passing speed and the passing speed fluctuation so that a current waveform that does not cause a problem in the processing of the circuit that executes this process can be formed. is there.
[0043]
The difference from the first embodiment is that the operation unit 20 compares the upper limit value and lower limit value of the allowable range of the passing speed and the passing speed fluctuation with the data converted into a value that can be read and calculated from the reference magnetic card. However, when the data value of the reference magnetic card does not fall within the allowable range, that fact is displayed as a message on the display unit.
[0044]
When the data processing unit 18 is a notebook personal computer, the above processing operation is incorporated into the notebook personal computer as an operation program.
[0045]
Next, the operation of the third embodiment will be further described with reference to the flowchart shown in FIG. 9 and FIG. FIG. 9 is a flowchart showing a flow of inspection according to the third embodiment. First, the operations from step 21 to step 25 shown in the flowchart are the same as the operations from step 1 to step 5 in the first embodiment of FIG.
[0046]
In step 5 ′, the values T 1 to Tn obtained from the reference magnetic card 8 and the values stored in the medium speed storage unit 36 are compared and calculated by the calculation unit 20. As for the passing speed, the values of T1 to Tn are summed, and it is determined whether or not the total value falls between the upper limit value and the lower limit value stored in the medium speed storage unit 36. Regarding the passage speed fluctuation, adjacent values are compared as needed, such as T1 and T2, T2 and T3, T3 and T4,..., Tn-1 and Tn, and the difference between the adjacent values is the medium speed storage unit 36, respectively. It is determined whether it falls within the upper limit value and the lower limit value of the passing speed fluctuation stored in the above.
[0047]
In either case or both, if it does not fall between the upper limit and the lower limit, in step 28, for example, if the passing speed is lower than the lower limit, “Please move the card a little faster”, or If the passing speed exceeds the upper limit value, a message such as “Please move the card a little slower” is displayed on the display unit 23. If the passing speed fluctuation is large, for example, “Move the card at a constant speed. A message such as “Please” is displayed on the display unit 23 and a re-examination is requested.
[0048]
If the passing speed and the passing speed fluctuation are within the allowable range, the measured value is calculated and edited in step 26, and the edited result is displayed on the display unit 23. In step 27, when the inspector confirms the request for re-inspection, the operation from step 23 is repeated, and when there is no re-inspection request, the display content is confirmed and the series of inspection flows is completed.
[0049]
As described above, in the third embodiment, the jitter and the azimuth angle are measured only when the passing speed and the passing speed fluctuation are within the allowable range. Therefore, the measurement is performed based on the stable current waveform. This improves the reliability of the inspection result.
[0050]
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. FIG. 10 is a block diagram showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to the fourth embodiment. In FIG. 10, the reading unit 2 is provided with an optical sensor 40 facing the magnetic head 3, and guide rollers 41 and 42 that receive a force from the spring bias of the magnetic head 3 rotate on both sides of the optical sensor 40. It is provided as possible.
[0051]
In the present embodiment, the holder 45 is used, the magnetic card for inspection 7 is held by the holder 45, and optical data is written in the holder 45. FIG. 11 is a three-side view showing the holder of the fourth embodiment.
[0052]
In FIG. 11, the holder 45 is formed with a surface support portion 46, a side end surface support portion 47, and an upper end surface support portion 48, all of which support only the magnetic card 3 for inspection. Yes. Optical data 44 is attached to the surface of the surface support 46 opposite to the surface that supports the magnetic card for inspection 3 in the form of a barcode. The position where the optical data is attached is a position facing the optical sensor 40 when the holder 45 passes through the guide groove of the reading unit.
[0053]
The interval between the barcode-like optical data 44 is the bit interval of the minimum pitch of the data bit interval which is the standard of the writing device to be inspected. Accordingly, the optical data 44 of the holder 45 is read by the optical sensor 40, but the read result is equivalent to the result of the magnetic head 4 reading the magnetic data of the reference magnetic card 8 in the first embodiment. That is, in this embodiment, the holder 45 substitutes for the reference magnetic card.
[0054]
In FIG. 10, when the holder 45 on which the inspection magnetic card 7 is overlapped is passed between the magnetic head 3 and the optical sensor 40, the spring-biased magnetic head 3 is pressed by the inspection magnetic card 7 and the holder. Since the guide rollers 41 and 42 are received via 45, the holder 45 does not contact the optical sensor 40, and the optical sensor 40 reads the optical data 44 of the holder 45 without contact.
[0055]
FIG. 12 is a flowchart showing a flow of inspection according to the fourth embodiment. In step 33 shown in the flowchart, only the inspection magnetic card 7 is aligned with the side end surface support portion 47 and the upper end surface support portion 48 of the holder 45 and overlapped with the surface support portion 46. In the next step 34, the inspection magnetic card 7 is set in the holder 45 and passed between the magnetic head 3 and the optical sensor 40, the data track of the inspection magnetic card 7 is read by the magnetic head 3, and the optical The optical data 44 of the holder 45 is read by the sensor 40.
[0056]
The magnetic data and optical data read in the subsequent steps are processed, and the jitter and azimuth angle are measured as described in the first embodiment, and the measurement result is displayed.
[0057]
As described above, in the fourth embodiment, since the data serving as a measurement reference is optical data, it can be read by an optical sensor without contact. Therefore, the number of repeated use of the reference medium (holder) can be increased, and the reference medium (holder) can be used for a long period of time. In the fourth embodiment, it is of course possible to use a dedicated reference magnetic medium in the same manner as in the above embodiments. In this case, optical data is written in the reference magnetic medium. Writing optical data to the holder eliminates the need for a dedicated magnetic medium and facilitates superimposing the magnetic card on the holder.
[0058]
In each of the above embodiments, an apparatus for inspecting a magnetic data recording state for a magnetic card has been described. However, in addition to a magnetic card as a medium for storing magnetic data, for example, a bankbook or air ticket is used to store magnetic data. The present invention can also be applied to an apparatus for inspecting a recording state.
[0059]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, the magnetic data recording state inspection device is reduced in size and can be easily brought into the installation location of a writing device such as a card reader to be inspected. This has the effect of making the inspection easier.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic perspective view showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to a first embodiment.
FIG. 2 is a block diagram showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to the first embodiment.
FIG. 3 is a flowchart showing a flow of inspection according to the first embodiment.
FIG. 4 is an operation explanatory diagram for explaining the operation of the first embodiment;
FIG. 5 is a schematic perspective view showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to a second embodiment.
FIG. 6 is a three-side view showing a holder according to a second embodiment.
FIG. 7 is a flowchart showing a flow of inspection in the second embodiment.
FIG. 8 is a block diagram showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to a third embodiment.
FIG. 9 is a flowchart showing a flow of inspection according to the third embodiment;
FIG. 10 is a block diagram showing a magnetic data recording state inspection apparatus according to a fourth embodiment.
FIG. 11 is a three-side view showing a holder according to a fourth embodiment.
FIG. 12 is a flowchart showing a flow of inspection according to the fourth embodiment.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Magnetic data recording state inspection apparatus 2 Reading unit 3, 4 Magnetic head 7 Magnetic card 8 for inspection Reference magnetic card 18 Data processing unit 30, 45 Holder 40 Optical sensor

Claims

By moving the recording area relative to a reference medium having a storage area in which data constituting all of the data bit intervals of the minimum pitch of the data bit interval, which is the standard of the device to be inspected, is written. A first reading unit that reads written data and a magnetic data that is arranged to face the first reading unit and is written in a recording area of an inspection medium by the writing device that is the inspection target, A reading device comprising a second reading unit for reading by relatively moving
An arithmetic processing unit that performs arithmetic processing on the data read by the first reading unit and the magnetic data read by the second reading unit; and a display unit that displays a result of the arithmetic processing performed by the arithmetic processing unit; Comprising an arithmetic processing unit comprising
The reader and the reference medium and the test medium is passed through the first reading unit and the second reading unit are superimposed so that their storage area is back to back, the first reading unit the second reading unit reads the respective data of each recording area before Symbol reference medium with the test medium at the same traveling speed and,
The arithmetic processing unit obtains a moving speed at the time of reading from the data of the reference medium read by the first reading unit, and the data of the reference medium read by the first reading unit based on the obtained moving speed. magnetic data recording, characterized by measuring the jitter by determining the difference between the magnetic polarity inversion interval of the magnetic data of each recording area of the magnetic polarity inversion interval and the second of said test medium read by the reading portion of the Condition inspection device.

By moving the recording area relative to a reference medium having a storage area in which data constituting all of the data bit intervals of the minimum pitch of the data bit interval, which is the standard of the device to be inspected, is written. A first reading unit that reads written data and a magnetic data that is arranged to face the first reading unit and is written in a recording area of an inspection medium by the writing device that is the inspection target, A reading device comprising a second reading unit for reading by relatively moving
An arithmetic processing unit that performs arithmetic processing on the data read by the first reading unit and the magnetic data read by the second reading unit; and a display unit that displays a result of the arithmetic processing performed by the arithmetic processing unit; Comprising an arithmetic processing unit comprising
  The second reading unit includes a third reading unit and a fourth reading unit that are arranged to be shifted from each other at a predetermined interval in a direction orthogonal to the moving direction.
  The reading device superimposes the reference medium and the inspection medium so that their storage areas are back to back, and passes through the first reading unit and the second reading unit, and the first reading unit The second reading unit reads each data of the recording area of the reference medium and the inspection medium at the same moving speed,
  The arithmetic processing unit obtains a moving speed at the time of reading from the data read by the first reading unit, and based on the obtained moving speed, the magnetic polarity reversal interval of the magnetic data read by the third reading unit and the A magnetic data recording state inspection apparatus for obtaining a difference from a magnetic polarity reversal interval of magnetic data read by a fourth reading unit and measuring an azimuth angle from the difference and the value of the predetermined interval.

Magnetic data recording state inspection apparatus according to claim 1 or 2 wherein has a holder for holding a state superimposed with the test medium and the reference medium.

The arithmetic processing unit includes a storage unit that stores an allowable value of the moving speed and an allowable value of fluctuation of the moving speed, and the arithmetic processing unit moves at the time of reading from the data read by the first reading unit. 2. A speed and a moving speed fluctuation are obtained, and when the moving speed allowable value and the moving speed fluctuation allowable value stored in the storage unit are deviated, a display for prompting re-examination is displayed on the display unit. Or the magnetic data recording state inspection apparatus of 2 or 2 .

A holder for holding the inspection medium; a recording area of the reference medium is optical data applied to the holder; and the first reading unit is an optical sensor for reading the optical data; The magnetic data recording state inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein the magnetic data read by the optical sensor and the magnetic data read by the second reading unit are processed.

3. The magnetic data recording state inspection device according to claim 1, wherein the arithmetic processing unit is a notebook personal computer.