Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP4300783B2 - 半導体レーザ装置の加工位置教示方法 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP4300783B2 - 半導体レーザ装置の加工位置教示方法 - Google Patents

半導体レーザ装置の加工位置教示方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4300783B2
JP4300783B2 JP2002296201A JP2002296201A JP4300783B2 JP 4300783 B2 JP4300783 B2 JP 4300783B2 JP 2002296201 A JP2002296201 A JP 2002296201A JP 2002296201 A JP2002296201 A JP 2002296201A JP 4300783 B2 JP4300783 B2 JP 4300783B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
contact
welding torch
robot
laser welding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002296201A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004130334A (ja
Inventor
伸典 倉橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2002296201A priority Critical patent/JP4300783B2/ja
Publication of JP2004130334A publication Critical patent/JP2004130334A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4300783B2 publication Critical patent/JP4300783B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、板金の溶接等の加熱源として利用される半導体レーザ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
板金の溶接において溶接品質の向上が図られているが、その一つにロボットによる自動溶接がある。溶接用ロボットに対象物の溶接ポイントを教示することで、溶接位置が安定し、溶接品質のバラツキを少なくすることができる。
【0003】
従来の教示方法の一つに、教示部をカメラで観察し、映像上においてレーザ光ガイドスポット位置と溶接部の位置関係を求め、ロボットへの位置補正データを割りだして教示する方法がある。(例えば特許文献1参照。)
図2は上記従来のレーザ溶接の教示方法を示しており、12はレーザ溶接トーチ、13はテレビカメラ、14スポット光源、15はスポット点、16はモニタテレビ、17は制御装置、18及び19は被溶接物、20は溶接突合せ部を表す。
【0004】
以上のように構成されたレーザ溶接の教示方法について、その動作を説明する。被溶接物18と19の溶接突合せ部20の近傍に、スポット光源14からのスポット点15が照射される。テレビカメラ13にて溶接突合せ部20及びスポット点15の映像が取り込まれ、モニタテレビ16に映し出される。モニタテレビ上の溶接突合せ部20及びスポット点15の位置関係を制御装置17を介して求め、その座標データをレーザ溶接トーチ12を保持しているロボットに取り込み、突合せ部20の位置を教示する。
【0005】
【特許文献1】
特許第2669147号公報(第2−4頁、第1図)
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかし上記の従来の教示方法では、モニタテレビ上での映像情報による位置データであり、2次元データでの計算になるので、レーザ溶接トーチと突合せ部との距離データは算出できない課題がある。
【0007】
レーザ溶接では集光ビームの焦点位置が突合せ部に正確に合っていないと集光ビーム径が大きくなり、エネルギ密度が低下し、溶接品質の劣化を招く。
【0008】
本発明は、上記課題を解決する半導体レーザ装置の構成を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の半導体レーザ装置の加工位置教示方法は、上記課題を解決するために、電源部からエネルギーが供給されてレーザ光を出力する半導体レーザ手段と前記レーザ光を被加工物へ集光する集光手段とを有した半導体レーザ溶接トーチをロボットで保持し、先端が加工焦点距離の長さに調整した加工位置教示手段として接触式変位計を前記半導体レーザ溶接トーチの先端部に装着可能とし、映像焦点を前記接触式変位計の先端にあわせたカメラを前記半導体レーザ溶接トーチに取付けた半導体レーザ装置を用い、前記半導体レーザ溶接トーチに前記接触式変位計を装着してレーザ光を照射しない状態で、前記半導体レーザ溶接トーチをロボットで前記被加工物の溶接部近傍に移動し、前記カメラの映像により前記接触式変位計の先端が溶接部に接触するようにロボットを移動し、接触した変位量を差し引いた分の値でロボットの教示データを決定するものである。この方法により、実際の教示位置をレーザ照射なしに教示できる
【0011】
【発明の実施の形態】
(実施の形態)
図1において、1は半導体レーザ溶接トーチ、2は半導体レーザモジュール、3は集光レンズ、4は接触式変位計、5は加工焦点距離、6は制御装置、7はカメラ、8はモニタ、9及び10は被溶接物、 11は溶接突合せ部を示す。
【0012】
以上のように構成された半導体レーザ装置について、その動作を説明する。
【0013】
レーザ光を出力する半導体レーザ手段である半導体レーザモジュール2は半導体レーザ溶接トーチ1に内蔵されている。さらに半導体レーザ溶接トーチ1は、半導体レーザモジュール2から出たレーザ光を被加工物へ集光する手段である集光レンズ3を有している。
【0014】
半導体レーザ溶接トーチ1は、この先端部に加工焦点距離5の長さに調整された加工位置教示手段、例えば接触式変位計4を先端部に装着できる構造となっている。
【0015】
溶接位置を教示するときは、半導体レーザ溶接トーチ1の先端部に、接触式変位計4を変位0の状態で加工焦点距離5に等しい長さとなるように装着する。また半導体レーザ溶接トーチ1には、ブラケットを介してカメラ7を取付け、カメラ7の映像焦点は接触式変位計4の先端部となるように調整しておく。
【0016】
この状態の半導体レーザ溶接トーチ1をロボットに保持させ、被溶接物9及び10の溶接突合せ部11近傍に持ってくる。近傍に持ってくるときは、カメラ7の映像をモニタ8で確認しながら、ゆっくりとロボットを移動させる。
【0017】
そしてカメラ7の映像を見ながら、突合せ部11に、接触式変位計4の先端が、少し接触するところまで、ロボットを移動させる。
【0018】
このとき接触した変位量は、制御装置6に戻される。制御装置6は変位量を差し引いた分の値でロボットの教示データを決定する。
【0019】
この計算により、接触式変位計4の変位量に関わらず、ロボットの教示位置は、常に正確に加工焦点距離5とすることが可能となる。
【0020】
たとえば被溶接物9及び10が反っており、溶接突合せ部11が位置により上下方向に変化していても、接触式変位計4の変位量の変化に応じて、ロボットの教示位置は、常に正確に加工焦点距離5とすることが可能となる。
【0021】
その効果として、集光ビームの焦点位置が突合せ部の位置に関わらず常に正確に合うため、エネルギ密度の変動を抑えて溶接品質を安定させることができる。
【0022】
さらに、加工位置教示手段によってレーザ光を照射しないで半導体レーザ装置の加工位置を教示するため、ワークをロスすることなく、正確な教示が可能で、容易に教示位置の変更,修正,追加ができ、資源の無駄使いがなくなり、しいては環境に配慮した教示ができるものである。
【0023】
【発明の効果】
以上のように、本発明は、集光手段からの焦点距離に相当する装着可能な加工位置教示手段を備えたため、正確な教示が可能となり、実際にレーザ照射した際、レーザビームのエネルギ密度が安定し、良好な溶接品質を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における全体構成を示す図
【図2】従来におけるレーザ溶接における教示方法を示す図
【符号の説明】
1 半導体レーザ溶接トーチ
2 半導体レーザモジュール
3 集光レンズ
4 接触式変位計
5 加工焦点距離
6 制御装置
7 カメラ
8 モニタ
9,10 被溶接物
11 溶接突合せ部

Claims (1)

  1. 電源部からエネルギーが供給されてレーザ光を出力する半導体レーザ手段と前記レーザ光を被加工物へ集光する集光手段とを有した半導体レーザ溶接トーチをロボットで保持し、先端が加工焦点距離の長さに調整した加工位置教示手段として接触式変位計を前記半導体レーザ溶接トーチの先端部に装着可能とし、映像焦点を前記接触式変位計の先端にあわせたカメラを前記半導体レーザ溶接トーチに取付けた半導体レーザ装置を用い、前記半導体レーザ溶接トーチに前記接触式変位計を装着してレーザ光を照射しない状態で、前記半導体レーザ溶接トーチをロボットで前記被加工物の溶接部近傍に移動し、前記カメラの映像により前記接触式変位計の先端が溶接部に接触するようにロボットを移動し、接触した変位量を差し引いた分の値でロボットの教示データを決定する半導体レーザ装置の加工位置教示方法。
JP2002296201A 2002-10-09 2002-10-09 半導体レーザ装置の加工位置教示方法 Expired - Fee Related JP4300783B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002296201A JP4300783B2 (ja) 2002-10-09 2002-10-09 半導体レーザ装置の加工位置教示方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002296201A JP4300783B2 (ja) 2002-10-09 2002-10-09 半導体レーザ装置の加工位置教示方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004130334A JP2004130334A (ja) 2004-04-30
JP4300783B2 true JP4300783B2 (ja) 2009-07-22

Family

ID=32286241

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002296201A Expired - Fee Related JP4300783B2 (ja) 2002-10-09 2002-10-09 半導体レーザ装置の加工位置教示方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4300783B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5135672B2 (ja) 2005-09-30 2013-02-06 日産自動車株式会社 レーザ照射状態の検出方法およびレーザ照射状態検出システム
CN102430859B (zh) * 2011-10-28 2014-08-06 北京航天新风机械设备有限责任公司 一种激光焊接离焦量实时控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004130334A (ja) 2004-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5266647B2 (ja) レーザ溶接装置およびその調整方法
US20160311056A1 (en) Welding head and method for joining a workpiece
JP6253221B2 (ja) 接合継ぎ目を監視する光学測定装置、ならびに同測定装置を備える接合ヘッド及びレーザ溶接ヘッド
JPH06254691A (ja) レーザ加工機およびレーザ加工機の焦点設定方法
JP2008203434A (ja) 走査機構、被加工材の加工方法および加工装置
KR102770093B1 (ko) 위치 조정 방법 및 위치 조정 장치
CN213827594U (zh) 一种激光光路检偏装置及自动校正装置
JP2000042775A (ja) レーザ加工方法およびその装置
US20210023652A1 (en) Method for centering laser beam and laser processing machine
JP5495574B2 (ja) レーザはんだ付け方法
JP4300783B2 (ja) 半導体レーザ装置の加工位置教示方法
CN117047263A (zh) 激光加工机以及激光加工机的聚光直径校正方法
JP5389613B2 (ja) 切削装置における切削ブレードの消耗量管理方法
CN203471094U (zh) 一种全自动激光恒温钎焊机
JP5223537B2 (ja) レーザ溶接品質検査方法及び装置
CN110616427A (zh) 一种内孔激光熔覆高度控制系统及方法
US11852891B2 (en) Laser processing device and method for processing a workpiece
JP5238451B2 (ja) レーザ加工装置及びその位置検出方法
JPH04356389A (ja) レーザ加工機の加工ポイント補正方法及びその装置
JP4055649B2 (ja) 光加工装置
JP3464902B2 (ja) 開先倣い装置
JP2822698B2 (ja) 位置合わせ装置及びレーザ加工装置
JP5231753B2 (ja) レーザ加工方法
JPH01218788A (ja) レーザ加工機
JPH06246469A (ja) レーザー溶接加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041203

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20050707

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070724

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070921

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080617

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080806

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081216

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090331

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120501

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4300783

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090413

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120501

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120501

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130501

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees