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JP4322082B2 - Manufacturing method of solar cell - Google Patents
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Description

本発明は、太陽電池の製造方法に関し、特に高出力の太陽電池を製造することができる太陽電池の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a solar cell, and more particularly to a method for manufacturing a solar cell capable of manufacturing a high-power solar cell.

近年、エネルギ資源の枯渇の問題や大気中のCO2の増加のような地球環境問題等からクリーンなエネルギの開発が望まれている。特に、太陽電池を用いた太陽光発電が、上記地球環境問題等を解決することができる新しいエネルギ源として開発、実用化され、発展の道を歩んでいる。 In recent years, development of clean energy has been desired due to problems of depletion of energy resources and global environmental problems such as an increase in atmospheric CO 2 . In particular, solar power generation using solar cells has been developed and put into practical use as a new energy source that can solve the above-mentioned global environmental problems and the like, and is on the path of development.

図11の模式的断面図に従来の太陽電池の製造工程の一例の一連の流れを示す。まず、図11(A)において、p型のシリコン等からなる半導体基板101の製造時に生じる表面の加工変質層を除去し、半導体基板101の表面に微細なピラミッド状の凹凸を含むテクスチャ表面を形成するため、半導体基板101を水酸化ナトリウムを含む溶液(NaOH溶液)中に浸漬することによって、半導体基板101のエッチング処理を行なう。   A schematic cross-sectional view of FIG. 11 shows a series of flows of an example of a manufacturing process of a conventional solar cell. First, in FIG. 11A, a surface-affected layer formed during the manufacture of the semiconductor substrate 101 made of p-type silicon or the like is removed, and a textured surface including fine pyramidal irregularities is formed on the surface of the semiconductor substrate 101. Therefore, the semiconductor substrate 101 is etched by immersing the semiconductor substrate 101 in a solution (NaOH solution) containing sodium hydroxide.

次に、図11(B)に示すように、リン(P)等のn型の拡散源を含むドーパント液102を半導体基板101の表面に塗布する。   Next, as illustrated in FIG. 11B, a dopant liquid 102 containing an n-type diffusion source such as phosphorus (P) is applied to the surface of the semiconductor substrate 101.

そして、ドーパント液102が塗布された半導体基板101を拡散炉で熱処理することによって、図11(C)に示すように、半導体基板101の受光面側にn+層103が形成されてpn接合を生じさせる。 Then, by heat-treating the semiconductor substrate 101 coated with the dopant liquid 102 in a diffusion furnace, an n + layer 103 is formed on the light receiving surface side of the semiconductor substrate 101 to form a pn junction as shown in FIG. Cause it to occur.

その後、図11(D)に示すように窒化シリコンからなる反射防止膜104をプラズマCVD法等を用いてn+層103上に成膜する。 Thereafter, as shown in FIG. 11D, an antireflection film 104 made of silicon nitride is formed on the n + layer 103 by plasma CVD or the like.

次いで、図11(E)に示すように、半導体基板101の受光面側の表面(以下、「受光面」という)には表面電極105が形成され、半導体基板101の受光面の反対側の面(以下、「裏面」という)にはアルミニウム(Al)電極106aと銀(Ag)電極106bとからなる裏面電極106が形成される。ここで、表面電極105は、まず反射防止膜104上に表面電極105の材料となるAgを含む導電性ペーストがスクリーン印刷され、その後熱処理されることによって、印刷された導電性ペーストが反射防止膜104を突き抜けて、n+層103と接合する電極となったものである。なお、この熱処理の間にAlが半導体基板101中に拡散してp+層114が形成される。 Next, as shown in FIG. 11E, a surface electrode 105 is formed on the light receiving surface side surface of the semiconductor substrate 101 (hereinafter referred to as “light receiving surface”), and the surface opposite to the light receiving surface of the semiconductor substrate 101. A back electrode 106 made of an aluminum (Al) electrode 106a and a silver (Ag) electrode 106b is formed on the back surface (hereinafter referred to as “back surface”). Here, the surface electrode 105 is first screen-printed with a conductive paste containing Ag as a material of the surface electrode 105 on the antireflection film 104, and then heat-treated, so that the printed conductive paste becomes an antireflection film. This is an electrode that penetrates 104 and is joined to the n + layer 103. Note that during this heat treatment, Al diffuses into the semiconductor substrate 101 to form the p + layer 114.

このようにして得られた太陽電池の模式的な上面図を図12に示す。図12において、表面電極105は、反射防止膜104上で所定の方向に伸長しているバスバー電極112とバスバー電極112と交差している複数のフィンガー電極113とから構成されている。バスバー電極112は太陽電池同士を接続する場合にインターコネクタと呼ばれる銅線を半田付けすることを目的として設置されており、フィンガー電極113は太陽電池内の電流を収集することを目的として設置されている。   A schematic top view of the solar cell thus obtained is shown in FIG. In FIG. 12, the surface electrode 105 includes a bus bar electrode 112 extending in a predetermined direction on the antireflection film 104 and a plurality of finger electrodes 113 intersecting the bus bar electrode 112. The bus bar electrode 112 is installed for the purpose of soldering a copper wire called an interconnector when connecting solar cells, and the finger electrode 113 is installed for the purpose of collecting the current in the solar cell. Yes.

図13の模式的断面図に、表面電極105の材料となるAgを含む導電性ペーストをスクリーン印刷する従来の工程を示す。図13(A)に示すように、表面電極105に対応する部分に貫通孔が形成されているマスク107と、マスク107上に設置されたスクリーン紗108とからなるスクリーン109を反射防止膜104上に被せ、図13(B)に示すように、スクリーン紗108上に塗布された導電性ペースト110を、スキージ111を移動させることによって、反射防止膜104上の表面電極105に対応する部分に塗布する。そして、反射防止膜104上に被せられているスクリーン109を取り去ると、導電性ペースト110が反射防止膜104上に印刷されている。   A schematic cross-sectional view of FIG. 13 shows a conventional process of screen-printing a conductive paste containing Ag as a material of the surface electrode 105. As shown in FIG. 13A, a screen 109 made up of a mask 107 having a through-hole formed in a portion corresponding to the surface electrode 105 and a screen rod 108 placed on the mask 107 is placed on the antireflection film 104. As shown in FIG. 13B, the conductive paste 110 applied on the screen ridge 108 is applied to the portion corresponding to the surface electrode 105 on the antireflection film 104 by moving the squeegee 111. To do. Then, when the screen 109 covering the antireflection film 104 is removed, the conductive paste 110 is printed on the antireflection film 104.

スクリーン紗108を用いたスクリーン印刷においては、多彩な印刷が可能であり、また、スクリーン紗108の形状を変化させることによって導電性ペースト110の塗布量を変化させることができる点が利点である。   The screen printing using the screen ridge 108 is advantageous in that a variety of printing is possible and the amount of the conductive paste 110 applied can be changed by changing the shape of the screen ridge 108.

しかしながら、スクリーン紗108を用いたスクリーン印刷においては、スクリーン紗108の可撓性が要因となって、均一に背の高いフィンガー電極113を形成することができず、フィンガー電極113の背の高さにばらつきが生じてしまうという問題があった。背の高いフィンガー電極113は多くの電流量を収集できるが、背の低いフィンガー電極113は収集できる電流量が少なくなるため、フィンガー電極113の背の高さにばらつきが生じると太陽電池の出力電力量が低下する。   However, in screen printing using the screen ridge 108, due to the flexibility of the screen ridge 108, the finger electrodes 113 that are uniformly tall cannot be formed, and the height of the finger electrodes 113 is high. There was a problem that variation would occur. The tall finger electrode 113 can collect a large amount of current, but the short finger electrode 113 reduces the amount of current that can be collected. Therefore, if the height of the finger electrode 113 varies, the output power of the solar cell The amount is reduced.

また、スクリーン紗108の形状が要因となって、反射防止膜104上に導電性ペースト110が届いていない部分が生じ、フィンガー電極113が断線するという問題もあった。フィンガー電極113が断線した場合には、一旦フィンガー電極113に流入した電流がフィンガー電極113よりも電気抵抗率の大きいn+層中を流れてからバスバー電極112に流入することとなり、電流損失が大きくなる。 In addition, due to the shape of the screen rod 108, there is a problem that a portion where the conductive paste 110 does not reach is formed on the antireflection film 104 and the finger electrode 113 is disconnected. When the finger electrode 113 is disconnected, the current once flowing into the finger electrode 113 flows into the n + layer having a higher electrical resistivity than the finger electrode 113 and then flows into the bus bar electrode 112, resulting in a large current loss. Become.

また、特許文献1には、バスバー電極とフィンガー電極とを別々にスクリーン印刷する方法が開示されている。しかしながら、この方法においては、スクリーン印刷を2度行なう必要があるため製造工程数が増加し、さらにバスバー電極とフィンガー電極とが交差するように導電性ペーストをスクリーン印刷をする必要があるため、太陽電池の製造コストが増加するという問題があった。
特開昭62−156881号公報
Patent Document 1 discloses a method of separately screen-printing bus bar electrodes and finger electrodes. However, in this method, since it is necessary to perform screen printing twice, the number of manufacturing steps increases, and further, it is necessary to screen print the conductive paste so that the bus bar electrode and the finger electrode intersect. There was a problem that the manufacturing cost of the battery increased.
JP 62-156881 A

本発明の目的は、均一に背の高いフィンガー電極を形成することができ、高出力の太陽電池を効率的に製造することができる太陽電池の製造方法を提供することにある。   The objective of this invention is providing the manufacturing method of the solar cell which can form a tall finger electrode uniformly and can manufacture a high output solar cell efficiently.

本発明は、導電性ペーストをスクリーン印刷することにより電極を形成する工程を含む太陽電池の製造方法であって、スクリーン印刷は、スクリーン上に導電性ペーストを塗布した後に、導電性ペーストをスキージングすることにより行なわれ、電極は、所定の方向に伸長しているバスバー電極および前記バスバー電極と交差しているフィンガー電極からなり、スクリーンのバスバー電極に対応する部分であって所定の方向に伸張している領域内には複数の不連続な貫通孔が形成され、スクリーンにおけるフィンガー電極に対応する部分にはフィンガー電極の形状に対応したスリット形状の貫通孔が形成されている太陽電池の製造方法である。 The present invention is a conductive paste method for manufacturing a solar cell comprising a step of forming an electrode by screen-printing, screen printing, after applying a conductive paste on cleans, ski conductive paste The electrode is composed of a bus bar electrode extending in a predetermined direction and a finger electrode intersecting with the bus bar electrode. The electrode corresponds to the bus bar electrode of the screen and extends in the predetermined direction. to have a plurality of discrete through-hole is formed in the region, a method for manufacturing a solar cell in a portion corresponding to the finger electrodes that have through holes of the slit shape corresponding to the shape of the finger electrodes are formed in the screen It is.

また、本発明の太陽電池の製造方法においては、スクリーンにおけるバスバー電極に対応する部分の厚みが、スクリーンの他の部分よりも薄いことが好ましい。   Moreover, in the manufacturing method of the solar cell of this invention, it is preferable that the thickness of the part corresponding to the bus-bar electrode in a screen is thinner than the other part of a screen.

また、本発明の太陽電池の製造方法においては、スクリーンの一方の面におけるバスバー電極に対応する部分が窪んでおり、スクリーンの窪んでいる面と反対側の面に導電性ペーストが塗布されてスクリーン印刷が行なわれることが好ましい。   Further, in the method for manufacturing a solar cell of the present invention, a portion corresponding to the bus bar electrode on one surface of the screen is recessed, and a conductive paste is applied to the surface opposite to the recessed surface of the screen. Printing is preferably performed.

また、本発明の太陽電池の製造方法においては、バスバー電極に対応する部分以外のスクリーンの最大の厚みが、50μm以上150μm以下であることが好ましい。ここで、バスバー電極に対応する部分のスクリーンの最小の厚みが、バスバー電極に対応する部分以外のスクリーンの最大の厚みの1/2以下であることが好ましい。   Moreover, in the manufacturing method of the solar cell of this invention, it is preferable that the largest thickness of the screens other than the part corresponding to a bus-bar electrode is 50 micrometers or more and 150 micrometers or less. Here, the minimum thickness of the screen corresponding to the bus bar electrode is preferably ½ or less of the maximum thickness of the screen other than the portion corresponding to the bus bar electrode.

また、本発明の太陽電池の製造方法においては、複数の不連続な貫通孔の間隔が、10μm以上100μm以下であることが好ましい。 Moreover, in the manufacturing method of the solar cell of this invention, it is preferable that the space | interval of several discontinuous through-holes is 10 micrometers or more and 100 micrometers or less.

また、本発明の太陽電池の製造方法においては、複数の不連続な貫通孔の形状が、円形および半円形の少なくとも一方の形状であることが好ましい。 Moreover, in the manufacturing method of the solar cell of this invention, it is preferable that the shape of a some discontinuous through-hole is a shape of at least one of circular and semicircle.

また、本発明の太陽電池の製造方法において、スキージングはスリット形状の貫通孔の長手方向に行なわれることが好ましい。 In the method for producing a solar cell of the present invention, it is preferable that squeezing is performed in the longitudinal direction of the slit-shaped through hole.

また、本発明の太陽電池の製造方法において、スクリーンは金属からなることが好ましい。   In the method for manufacturing a solar cell of the present invention, the screen is preferably made of metal.

また、本発明の太陽電池の製造方法においては、導電性ペーストの粘度が30Pa・s以上340Pa・s以下であることが好ましい。   Moreover, in the manufacturing method of the solar cell of this invention, it is preferable that the viscosity of an electrically conductive paste is 30 Pa.s or more and 340 Pa.s or less.

本発明によれば、均一に背の高いフィンガー電極を形成することができ、高出力の太陽電池を効率的に製造することができる太陽電池の製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of the solar cell which can form a tall finger electrode uniformly and can manufacture a high output solar cell efficiently can be provided.

以下、本発明の実施の形態について説明する。なお、本願の図面において、同一の参照符号は、同一部分または相当部分を表わすものとする。   Embodiments of the present invention will be described below. In the drawings of the present application, the same reference numerals denote the same or corresponding parts.

図1の模式的断面図に本発明の太陽電池の製造工程の好ましい一例の一連の流れを示す。まず、図1(A)において、p型のシリコンからなる半導体基板1の製造時に生じる表面の加工変質層を除去し、半導体基板1の受光面に微細なピラミッド状の凹凸を含むテクスチャ構造を形成するため、半導体基板1の受光面をNaOH溶液中に浸漬することによって半導体基板1のエッチング処理を行なう。   A schematic cross-sectional view of FIG. 1 shows a series of flows of a preferable example of the manufacturing process of the solar cell of the present invention. First, in FIG. 1A, a surface-affected layer formed during the manufacture of a semiconductor substrate 1 made of p-type silicon is removed, and a texture structure including fine pyramidal irregularities on the light receiving surface of the semiconductor substrate 1 is formed. For this purpose, the semiconductor substrate 1 is etched by immersing the light receiving surface of the semiconductor substrate 1 in an NaOH solution.

次に、図1(B)に示すように、半導体基板1の受光面に、五酸化二リン(P25)をアルコールに溶解させたドーパント液2を塗布する。そして、ドーパント液2が塗布された半導体基板1を拡散炉で800℃以上900℃以下の温度で10分間以上30分間以下熱処理することによって、図1(C)に示すように、半導体基板1の受光面にn+層3が形成されてpn接合を生じさせる。ここで、n+層3は、半導体基板1を拡散炉に設置した後にオキシ塩化リン(POCl3)中で加熱すること等によって行なうこともできる。 Next, as shown in FIG. 1B, a dopant liquid 2 in which diphosphorus pentoxide (P 2 O 5 ) is dissolved in alcohol is applied to the light-receiving surface of the semiconductor substrate 1. Then, the semiconductor substrate 1 to which the dopant liquid 2 is applied is heat-treated at a temperature of 800 ° C. or higher and 900 ° C. or lower for 10 minutes to 30 minutes in a diffusion furnace, so that the semiconductor substrate 1 of the semiconductor substrate 1 is heated as shown in FIG. An n + layer 3 is formed on the light receiving surface to form a pn junction. Here, the n + layer 3 can also be performed by heating the semiconductor substrate 1 in phosphorus oxychloride (POCl 3 ) after the semiconductor substrate 1 is placed in a diffusion furnace.

その後、図1(D)に示すように、反射防止膜4として酸化チタンからなる膜をn+層3上にCVD法を用いて60nm以上90nm以下の厚みで成膜する。ここで、反射防止膜4としては、プラズマCVD法を用いて窒化シリコンからなる膜をn+層3上に80nm以上100nm以下の厚みで成膜することもできる。 Thereafter, as shown in FIG. 1D, a film made of titanium oxide is formed as an antireflection film 4 on the n + layer 3 with a thickness of 60 nm or more and 90 nm or less using the CVD method. Here, as the antireflection film 4, a film made of silicon nitride can be formed on the n + layer 3 with a thickness of 80 nm or more and 100 nm or less by using a plasma CVD method.

次いで、半導体基板1の裏面にAlを含む導電性ペーストおよびAgを含む導電性ペーストを印刷した後に印刷後の半導体基板1を600℃以上800℃以下の温度で焼成することによって、図1(E)に示すように、Al電極6aとAg電極6bとからなる裏面電極6が形成されると共に、Alが半導体基板1中に拡散することによってp+層16が形成される。 Next, after the conductive paste containing Al and the conductive paste containing Ag are printed on the back surface of the semiconductor substrate 1, the printed semiconductor substrate 1 is baked at a temperature of 600 ° C. to 800 ° C. to obtain FIG. ), A back electrode 6 composed of an Al electrode 6a and an Ag electrode 6b is formed, and Al diffuses into the semiconductor substrate 1 to form a p + layer 16.

そして、図1(F)に示すように、半導体基板1の受光面には表面電極5が形成される。   Then, as shown in FIG. 1F, a surface electrode 5 is formed on the light receiving surface of the semiconductor substrate 1.

ここで、本発明において表面電極5は、以下のようにして形成される。まず、図2の模式的上面図に示すスクリーン7を用意する。ここで、スクリーン7には、表面電極を構成するバスバー電極に対応する部分に貫通孔8が形成され、フィンガー電極に対応する部分に貫通孔9が形成されている。そして、図3の模式的側面図に示すように、このスクリーン7を反射防止膜4上に設置し、スクリーン7上にAgを含む導電性ペーストを塗布する。次いで、図4の模式的上面図に示す矢印10aまたは矢印10bで表わされているフィンガー電極に対応する貫通孔9の長手方向に導電性ペーストをスクリーン7上においてスキージを移動させることによってスキージングする。この方向にスキージを移動させることによって、より均一な量の導電性ペーストを印刷することができるようになる。そして、スクリーン7を取り去った後、半導体基板1を熱処理することによって、印刷された導電性ペーストが反射防止膜4を突き抜けて、半導体基板1と電気的に接続する表面電極5が形成される。ここで、図5の模式的上面図に示すように、反射防止膜4上の表面電極5は所定の方向に伸長しているバスバー電極12と、バスバー電極12と交差しているフィンガー電極13とから構成されている。   Here, in the present invention, the surface electrode 5 is formed as follows. First, the screen 7 shown in the schematic top view of FIG. 2 is prepared. Here, in the screen 7, a through hole 8 is formed in a portion corresponding to the bus bar electrode constituting the surface electrode, and a through hole 9 is formed in a portion corresponding to the finger electrode. Then, as shown in the schematic side view of FIG. 3, the screen 7 is placed on the antireflection film 4, and a conductive paste containing Ag is applied onto the screen 7. Next, the squeegee is moved by moving the conductive paste on the screen 7 in the longitudinal direction of the through hole 9 corresponding to the finger electrode represented by the arrow 10a or the arrow 10b shown in the schematic top view of FIG. To do. By moving the squeegee in this direction, a more uniform amount of conductive paste can be printed. Then, after removing the screen 7, the semiconductor substrate 1 is heat-treated, whereby the printed conductive paste penetrates the antireflection film 4 to form the surface electrode 5 that is electrically connected to the semiconductor substrate 1. Here, as shown in the schematic top view of FIG. 5, the surface electrode 5 on the antireflection film 4 includes a bus bar electrode 12 extending in a predetermined direction, and a finger electrode 13 intersecting with the bus bar electrode 12. It is composed of

最後に、図1(G)に示すように、この表面電極5上に半田11が被覆される。ここで、半田11の被覆は、表面電極5を溶融半田浴中に数分浸漬させた後、表面電極5を温水で洗浄することにより行なわれる。   Finally, as shown in FIG. 1G, the surface electrode 5 is covered with solder 11. Here, the coating of the solder 11 is performed by immersing the surface electrode 5 in a molten solder bath for several minutes and then washing the surface electrode 5 with warm water.

このように本発明においては、フィンガー電極の背の高さを不均一にし、さらにフィンガー電極の背の高さを低下させる原因となるスクリーン紗を用いることなく、導電性ペーストをスクリーン上に直接塗布することによってスクリーン印刷が行なわれるため、均一に背の高いフィンガー電極を形成することができる。また、本発明においては、バスバー電極とフィンガー電極とを1度にスクリーン印刷することができる。それゆえ、本発明においては、高出力の太陽電池を効率的に製造することができる。   As described above, in the present invention, the conductive paste is directly applied on the screen without using a screen ridge that causes the height of the finger electrode to be uneven and further reduces the height of the finger electrode. By doing so, screen printing is performed, so that uniform and tall finger electrodes can be formed. In the present invention, the bus bar electrode and the finger electrode can be screen-printed at a time. Therefore, in the present invention, a high-power solar cell can be efficiently manufactured.

図6に、本発明に用いられるスクリーンの他の好ましい一例の模式的な上面図を示す。このスクリーン7aにおいては、バスバー電極に対応する部分に複数の不連続な貫通孔8aが形成されていることに特徴がある。図2に示すスクリーン7の厚みがフィンガー電極の背の高さに好適な50μm以上150μm以下である場合には、スクリーン7の厚みが非常に薄すぎて、スクリーン7上に塗布された導電性ペーストをフィンガー電極に対応する貫通孔9の長手方向にスキージングする際にスクリーン7の突部14が上方に反り上がってしまうことがある。そこで、図6に示すスクリーン7aのように、バスバー電極に対応する貫通孔を複数の不連続な貫通孔8aとすることによって、図7の模式的上面図に示す矢印10aまたは矢印10bで表わされているフィンガー電極に対応する貫通孔9の長手方向に導電性ペーストをスキージングした場合であっても、スクリーン7aが上方に反り上がることがないことから、スクリーン7aの最大の厚みが50μm以上150μm以下という非常に薄い場合であっても、均一に背の高いフィンガー電極を形成することができる。ここで、フィンガー電極に対応する貫通孔9の長手方向の幅Wは50μm以上150μm以下である。   FIG. 6 shows a schematic top view of another preferred example of the screen used in the present invention. The screen 7a is characterized in that a plurality of discontinuous through holes 8a are formed in a portion corresponding to the bus bar electrode. When the thickness of the screen 7 shown in FIG. 2 is not less than 50 μm and not more than 150 μm suitable for the height of the finger electrode, the thickness of the screen 7 is too thin, and the conductive paste applied on the screen 7 When the squeegee is squeezed in the longitudinal direction of the through hole 9 corresponding to the finger electrode, the protrusion 14 of the screen 7 may warp upward. Therefore, like the screen 7a shown in FIG. 6, the through-hole corresponding to the bus bar electrode is a plurality of discontinuous through-holes 8a, and is represented by the arrow 10a or the arrow 10b shown in the schematic top view of FIG. Even when the conductive paste is squeezed in the longitudinal direction of the through-hole 9 corresponding to the finger electrode, the screen 7a does not warp upward, so that the maximum thickness of the screen 7a is 50 μm or more. Even in a very thin case of 150 μm or less, it is possible to form finger electrodes that are uniformly tall. Here, the width W in the longitudinal direction of the through hole 9 corresponding to the finger electrode is not less than 50 μm and not more than 150 μm.

図8(A)に、図6に示すスクリーン7aの模式的な拡大断面図を示す。図8(A)に示すように、スクリーン7aの一方の面のバスバー電極に対応する部分Yが窪んでおり、スクリーン7aにおけるバスバー電極に対応する部分Yの厚みが、スクリーン7aにおけるバスバー電極に対応する部分以外の部分Zよりも薄くなっている。   FIG. 8A shows a schematic enlarged sectional view of the screen 7a shown in FIG. As shown in FIG. 8A, the portion Y corresponding to the bus bar electrode on one surface of the screen 7a is depressed, and the thickness of the portion Y corresponding to the bus bar electrode on the screen 7a corresponds to the bus bar electrode on the screen 7a. It is thinner than the portion Z other than the portion to be.

ここで、スクリーン7aのバスバー電極に対応する部分以外の部分Zの最大の厚みT1が50μm以上150μm以下である場合には、スクリーン7aのバスバー電極に対応する部分Yの最小の厚みT2は、スクリーン7aのバスバー電極に対応する部分以外の部分Zの最大の厚みT1の1/2以下であることが好ましい。この場合には、図8(B)の模式的断面図に示すように、スキージ111を用いて導電性ペースト110をスキージングしたときに、貫通孔8aを通過してきた導電性ペースト110がスクリーン7aの窪みによって形成される空洞15において十分に広がるため、印刷される導電性ペースト110がドット状になりにくいことから、インターコネクタとバスバー電極との接触面積が減少せず、インターコネクタとバスバー電極との接合強度を向上させることができる傾向にある。   Here, when the maximum thickness T1 of the portion Z other than the portion corresponding to the bus bar electrode of the screen 7a is 50 μm or more and 150 μm or less, the minimum thickness T2 of the portion Y corresponding to the bus bar electrode of the screen 7a is It is preferably less than or equal to ½ of the maximum thickness T1 of the portion Z other than the portion corresponding to the bus bar electrode 7a. In this case, as shown in the schematic cross-sectional view of FIG. 8B, when the conductive paste 110 is squeezed using the squeegee 111, the conductive paste 110 that has passed through the through hole 8a becomes the screen 7a. Since the conductive paste 110 to be printed is not easily formed into dots, the contact area between the interconnector and the busbar electrode does not decrease, and the interconnector and the busbar electrode It tends to be possible to improve the bonding strength.

また、貫通孔8aは、円形および半円形の少なくとも一方の形状であることが好ましい。この場合には、より均一な導電性ペーストの印刷が可能となり、導電性ペーストの印刷が途切れにくくなることから、インターコネクタとバスバー電極との接合強度をさらに向上させることができる傾向にある。   The through hole 8a preferably has at least one of a circular shape and a semicircular shape. In this case, a more uniform conductive paste can be printed and the conductive paste can hardly be printed, so that the bonding strength between the interconnector and the bus bar electrode tends to be further improved.

また、図8に示すように、スクリーン7aに形成されているバスバー電極に対応する貫通孔8aの間隔Xは、10μm以上100μm以下であることが好ましい。貫通孔8aの間隔Xが10μm未満である場合には、エッチング等による貫通孔8aの形成が困難となる傾向にあり、貫通孔8aの間隔Xが100μmよりも広い場合には、スクリーン7aのバスバー電極に対応する部分に不連続な複数の貫通孔8aを形成することができない傾向にある。   Moreover, as shown in FIG. 8, it is preferable that the space | interval X of the through-hole 8a corresponding to the bus-bar electrode formed in the screen 7a is 10 micrometers or more and 100 micrometers or less. When the interval X between the through holes 8a is less than 10 μm, it tends to be difficult to form the through holes 8a by etching or the like. When the interval X between the through holes 8a is larger than 100 μm, the bus bar of the screen 7a There is a tendency that a plurality of discontinuous through holes 8a cannot be formed in a portion corresponding to the electrode.

また、本発明に用いられる導電性ペーストの粘度は、30Pa・s以上340Pa・s以下であることが好ましい。導電性ペーストの粘度が30Pa・s未満である場合には導電性ペーストの粘度が低すぎて印刷後に表面電極の形状が保持できない傾向にあり、導電性ペーストの粘度が340Pa・sよりも高い場合には導電性ペーストの粘度が高すぎてスキージングしにくい傾向にある。ここで、本発明に用いられる導電性ペーストには、表面電極の材料となるAgの他、有機溶剤およびガラスフリット等が含まれる。   Moreover, it is preferable that the viscosity of the electrically conductive paste used for this invention is 30 Pa.s or more and 340 Pa.s or less. When the viscosity of the conductive paste is less than 30 Pa · s, the viscosity of the conductive paste tends to be too low to maintain the shape of the surface electrode after printing, and the viscosity of the conductive paste is higher than 340 Pa · s However, the viscosity of the conductive paste is so high that it is difficult to squeeze. Here, the conductive paste used in the present invention includes an organic solvent, glass frit, and the like in addition to Ag as a material for the surface electrode.

また、本発明に用いられるスクリーン7、7aは金属からなることが好ましい。この場合には、導電性ペーストのスクリーン印刷の際にスクリーン7、7aが上方に反り上がったり、移動したりする傾向が少ないことから、安定して導電性ペーストのスクリーン印刷をすることができる。また、スクリーン7、7aに形成されている貫通孔の変形も少ないことから、スクリーン7、7aを長期間使用することが可能となる。ここで、スクリーン7、7aに用いられる金属としては、鉄またはステンレス等がある。   The screens 7 and 7a used in the present invention are preferably made of metal. In this case, since the screens 7 and 7a are less likely to warp upward or move during screen printing of the conductive paste, the screen printing of the conductive paste can be stably performed. In addition, since the deformation of the through holes formed in the screens 7 and 7a is small, the screens 7 and 7a can be used for a long period of time. Here, examples of the metal used for the screens 7 and 7a include iron and stainless steel.

(実施例1)
まず、電気抵抗率が3Ω・cmであって、厚み300μmのp型単結晶シリコン基板を洗浄した。そして、p型単結晶シリコン基板の受光面をNaOH溶液中に浸漬し、p型単結晶シリコン基板の受光面に微小ピラミッド状の凹凸を形成した。
Example 1
First, a p-type single crystal silicon substrate having an electrical resistivity of 3 Ω · cm and a thickness of 300 μm was washed. Then, the light-receiving surface of the p-type single crystal silicon substrate was immersed in an NaOH solution to form micropyramidal irregularities on the light-receiving surface of the p-type single crystal silicon substrate.

次に、P25をエタノールに溶解させたドーパント液をp型単結晶シリコン基板の受光面に塗布し、拡散炉内において800℃で15分間、p型単結晶シリコン基板の熱処理を行なって、p型単結晶シリコン基板の受光面から下方へ約0.5μmの領域にn+層を形成した。 Next, a dopant solution in which P 2 O 5 is dissolved in ethanol is applied to the light-receiving surface of the p-type single crystal silicon substrate, and the p-type single crystal silicon substrate is heat-treated in a diffusion furnace at 800 ° C. for 15 minutes. An n + layer was formed in a region of about 0.5 μm downward from the light receiving surface of the p-type single crystal silicon substrate.

そして、CVD法を用いて、p型単結晶シリコン基板の受光面上に反射防止膜として酸化チタンからなる膜を90nmの厚みで形成した。   Then, a film made of titanium oxide as an antireflection film was formed with a thickness of 90 nm on the light receiving surface of the p-type single crystal silicon substrate by using the CVD method.

次いで、p型単結晶シリコン基板の裏面にAlを含む導電性ペーストおよびAgを含む導電性ペーストをそれぞれスクリーン印刷した後に、p型単結晶シリコン基板を800℃で加熱することにより裏面電極を形成した。   Next, a conductive paste containing Al and a conductive paste containing Ag were respectively screen printed on the back surface of the p-type single crystal silicon substrate, and then the back electrode was formed by heating the p-type single crystal silicon substrate at 800 ° C. .

続いて、p型単結晶シリコン基板の受光面側にある反射防止膜上に図7に示すステンレス製のスクリーン7aを設置し、このスクリーン7a上にAgを含む導電性ペーストを塗布して、スクリーン7aのフィンガー電極に対応する貫通孔の長手方向にスキージングすることによりスクリーン印刷を行なった。ここで、スクリーン7aの一方の面のバスバー電極に対応する部分が窪んでスクリーン7aにおけるバスバー電極に対応する部分の厚みがスクリーン7aの他の部分よりも薄くなっており、スクリーン7aの窪んでいる面と反対側の面に導電性ペーストを塗布してスクリーン印刷を行なった。また、バスバー電極に対応する部分以外のスクリーン7aの厚みは50μmであって、バスバー電極に対応する部分のスクリーン7aの厚みは25μmであった。また、バスバー電極に対応する複数の不連続な円形状の貫通孔同士の間隔は50μmであった。また、導電性ペーストの粘度は100Pa・sであった。   Subsequently, a stainless steel screen 7a shown in FIG. 7 is placed on the antireflection film on the light receiving surface side of the p-type single crystal silicon substrate, and a conductive paste containing Ag is applied on the screen 7a. Screen printing was performed by squeezing in the longitudinal direction of the through hole corresponding to the finger electrode of 7a. Here, a portion corresponding to the bus bar electrode on one surface of the screen 7a is depressed, and a portion of the screen 7a corresponding to the bus bar electrode is thinner than the other portion of the screen 7a, and the screen 7a is depressed. A conductive paste was applied to the surface opposite to the surface and screen printing was performed. The thickness of the screen 7a other than the portion corresponding to the bus bar electrode was 50 μm, and the thickness of the screen 7a at the portion corresponding to the bus bar electrode was 25 μm. Moreover, the space | interval of several discontinuous circular through-holes corresponding to a bus-bar electrode was 50 micrometers. Moreover, the viscosity of the conductive paste was 100 Pa · s.

そして、スクリーン印刷後のp型単結晶シリコン基板を800℃で加熱することにより、印刷されたAgを含む導電性ペーストが反射防止膜を通過してp型単結晶シリコン基板と電気的に接続し、バスバー電極とフィンガー電極とからなる表面電極が形成された。   Then, by heating the p-type single crystal silicon substrate after screen printing at 800 ° C., the printed conductive paste containing Ag passes through the antireflection film and is electrically connected to the p-type single crystal silicon substrate. A surface electrode composed of a bus bar electrode and a finger electrode was formed.

図9に実施例1において形成されたフィンガー電極の背の高さの分布を示す。ここで、フィンガー電極の背の高さは、p型単結晶シリコン基板の表面からの高さを測定したものである。また、フィンガー電極の背の高さは、実施例1において形成されたフィンガー電極から任意の数のフィンガー電極を抽出してその背の高さを測定したものであるため、図9に示す分布においてフィンガー電極の背の高さを表わすピークが多数存在している。なお、図9の分布において、ピークの最高点がそれぞれのフィンガー電極の背の高さの最高点を表わしている。   FIG. 9 shows the height distribution of the finger electrodes formed in the first embodiment. Here, the height of the finger electrode is a height measured from the surface of the p-type single crystal silicon substrate. In addition, the height of the finger electrode is obtained by extracting an arbitrary number of finger electrodes from the finger electrode formed in Example 1 and measuring the height of the finger electrode. There are many peaks representing the height of the finger electrode. In the distribution of FIG. 9, the highest peak point represents the highest peak height of each finger electrode.

図9に示すように、実施例1において形成されたフィンガー電極の背の高さは35μm以上48μm以下であって、均一に背の高いフィンガー電極を形成できたことが確認できた。   As shown in FIG. 9, the height of the finger electrode formed in Example 1 was 35 μm or more and 48 μm or less, and it was confirmed that the finger electrode having a uniform height could be formed.

さらに、実施例1の表面電極を溶融半田浴中に5分間浸漬させた後、表面電極を温水で洗浄して実施例1の太陽電池を完成させた。そして、実施例1の太陽電池の電流−電圧曲線(I−V曲線)を作成し、実施例1の太陽電池のフィルファクター(F.F.)および最大電力(Pmax)を調査した。その結果を表1に示す。なお、表1において、Iscは短絡電流を示し、Vocは開放電圧を示す。 Further, the surface electrode of Example 1 was immersed in a molten solder bath for 5 minutes, and then the surface electrode was washed with warm water to complete the solar cell of Example 1. And the current-voltage curve (IV curve) of the solar cell of Example 1 was created, and the fill factor (F.F.) and the maximum power (P max ) of the solar cell of Example 1 were investigated. The results are shown in Table 1. In Table 1, Isc represents a short circuit current and Voc represents an open circuit voltage.

(比較例1)
スクリーン紗を図7に示すステンレス製のスクリーン7a上に設置してスクリーン印刷を行なったこと以外は実施例1と同様にして表面電極を形成し、フィンガー電極の背の高さを調査した。図10にフィンガー電極の背の高さの分布を示す。
(Comparative Example 1)
Surface electrodes were formed in the same manner as in Example 1 except that screen printing was performed by placing a screen cage on the stainless steel screen 7a shown in FIG. 7, and the height of the finger electrodes was examined. FIG. 10 shows the height distribution of the finger electrodes.

図10に示すように、比較例1において形成されたフィンガー電極の背の高さは12μm以上42μm以下であって、実施例1のフィンガー電極と比べて、背の高さにばらつきが生じていた。   As shown in FIG. 10, the height of the finger electrode formed in Comparative Example 1 was 12 μm or more and 42 μm or less, and the height of the finger electrode was varied as compared with the finger electrode of Example 1. .

さらに、比較例1の表面電極を溶融半田浴中に5分間浸漬させた後、表面電極を温水で洗浄して比較例1の太陽電池を完成させた。そして、比較例1の太陽電池のI−V曲線を作成し、比較例1の太陽電池のフィルファクター(F.F.)および最大電力(Pmax)を調査した。その結果を表1に示す。 Further, the surface electrode of Comparative Example 1 was immersed in a molten solder bath for 5 minutes, and then the surface electrode was washed with warm water to complete the solar cell of Comparative Example 1. And the IV curve of the solar cell of the comparative example 1 was created, and the fill factor (FF) and the maximum electric power ( Pmax ) of the solar cell of the comparative example 1 were investigated. The results are shown in Table 1.

Figure 0004322082
Figure 0004322082

表1に示すように、実施例1の太陽電池は、短絡電流(Isc)および開放電圧(Voc)においては比較例1の太陽電池とほとんど変わらなかったが、実施例1の太陽電池はフィルファクター(F.F.)および最大電力(Pmax)において比較例1の太陽電池よりも優れていた。これは、実施例1の太陽電池は比較例1の太陽電池よりも均一に背の高いフィンガー電極を形成することができたことから太陽電池の出力をより引き出すことができ、また、フィンガー電極の断線も生じなかったことから電流損失が低減されたためであると考えられる。 As shown in Table 1, the solar cell of Example 1 was almost the same as the solar cell of Comparative Example 1 in terms of short circuit current (Isc) and open circuit voltage (Voc), but the solar cell of Example 1 was a fill factor. It was superior to the solar cell of Comparative Example 1 in (F.F.) and maximum power (P max ). This is because the solar cell of Example 1 was able to form a finger electrode that was uniformly taller than the solar cell of Comparative Example 1, so that the output of the solar cell could be further extracted. This is probably because the current loss was reduced because no disconnection occurred.

今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   It should be understood that the embodiments and examples disclosed herein are illustrative and non-restrictive in every respect. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

本発明の太陽電池の製造方法においては、均一に背の高いフィンガー電極を形成することによって高出力の太陽電池を効率的に製造することができることから、本発明は太陽電池分野に好適に利用できる。   In the method for manufacturing a solar cell according to the present invention, a high-power solar cell can be efficiently manufactured by uniformly forming tall finger electrodes. Therefore, the present invention can be suitably used in the solar cell field. .

(A)は本発明で用いられる半導体基板の模式的な断面図であり、(B)はドーパント液塗布後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(C)はn+層形成後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(D)は反射防止膜形成後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(E)は裏面電極形成後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(F)は表面電極形成後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(G)は表面電極を半田で被覆した後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図である。(A) is typical sectional drawing of the semiconductor substrate used by this invention, (B) is typical sectional drawing of the semiconductor substrate shown to (A) after dopant liquid application | coating, (C) is n FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of the semiconductor substrate shown in FIG. 4A after forming the + layer, and FIG. 4D is a schematic cross-sectional view of the semiconductor substrate shown in FIG. Is a schematic cross-sectional view of the semiconductor substrate shown in (A) after the formation of the back electrode, (F) is a schematic cross-sectional view of the semiconductor substrate shown in (A) after the formation of the front electrode, and (G) FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the semiconductor substrate shown in (A) after the surface electrode is coated with solder. 本発明に用いられるスクリーンの好ましい一例の模式的な上面図である。It is a typical top view of a preferable example of the screen used for this invention. 本発明において図2に示すスクリーンを反射防止膜上に設置した後の半導体基板の模式的な側面図である。It is a typical side view of the semiconductor substrate after installing the screen shown in FIG. 2 on an antireflection film in the present invention. 図2に示すスクリーンを用いて導電性ペーストをスキージングする方向を示した図である。It is the figure which showed the direction which squeezes an electrically conductive paste using the screen shown in FIG. 本発明において表面電極が形成された後の半導体基板の模式的な上面図である。It is a typical top view of a semiconductor substrate after a surface electrode is formed in the present invention. 本発明に用いられるスクリーンの他の好ましい一例の模式的な上面図である。It is a typical top view of other preferable examples of a screen used for the present invention. 図6に示すスクリーンを用いて導電性ペーストをスキージングする方向を示した図である。It is the figure which showed the direction which squeezes an electrically conductive paste using the screen shown in FIG. (A)は図6に示すスクリーンの模式的な拡大断面図であり、(B)は導電性ペーストをスキージングする際の図6に示すスクリーンの模式的な拡大断面図である。(A) is a typical expanded sectional view of the screen shown in FIG. 6, (B) is a typical enlarged sectional view of the screen shown in FIG. 6 when squeezing a conductive paste. 実施例1において形成されたフィンガー電極の背の高さの分布を示した図である。It is the figure which showed distribution of the height of the finger electrode formed in Example 1. FIG. 比較例1において形成されたフィンガー電極の背の高さの分布を示した図である。It is the figure which showed distribution of the height of the finger electrode formed in the comparative example 1. (A)は従来の半導体基板の模式的な断面図であり、(B)はドーパント液塗布後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(C)はn+層形成後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(D)は反射防止膜形成後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図であり、(E)は表面電極および裏面電極形成後の(A)に示す半導体基板の模式的な断面図である。(A) is typical sectional drawing of the conventional semiconductor substrate, (B) is typical sectional drawing of the semiconductor substrate shown to (A) after dopant liquid application | coating, (C) is n <+> layer formation. It is typical sectional drawing of the semiconductor substrate shown to (A) after, (D) is typical sectional drawing of the semiconductor substrate shown to (A) after antireflection film formation, (E) is a surface electrode. It is typical sectional drawing of the semiconductor substrate shown to (A) after back electrode formation. 従来の太陽電池の模式的な上面図である。It is a typical top view of the conventional solar cell. (A)は反射防止膜上に設置された従来のスクリーンの模式的な断面図であり、(B)はスクリーン印刷が行なわれている際の(A)に示すスクリーンの模式的な断面図である。(A) is typical sectional drawing of the conventional screen installed on the anti-reflective film, (B) is typical sectional drawing of the screen shown to (A) when screen printing is performed. is there.

符号の説明Explanation of symbols

1,101 半導体基板、2,102 ドーパント液、3,103 n+層、4,104 反射防止膜、5,105 表面電極、6,106 裏面電極、6a,106a Al電極、6b,106b Ag電極、7,7a,109 スクリーン、8,8a,9 貫通孔、10a,10b 矢印、11 半田、12,112 バスバー電極、13,113 フィンガー電極、14 突部、15 空洞、16,114 p+層、107 マスク、108 スクリーン紗、110 導電性ペースト、111 スキージ。 1,101 semiconductor substrate, 2,102 dopant solution, 3,103 n + layer, 4,104 antireflection film, 5,105 surface electrode, 6,106 back electrode, 6a, 106a Al electrode, 6b, 106b Ag electrode, 7, 7a, 109 screen, 8, 8a, 9 through hole, 10a, 10b arrow, 11 solder, 12, 112 bus bar electrode, 13, 113 finger electrode, 14 protrusion, 15 cavity, 16, 114 p + layer, 107 Mask, 108 screen, 110 conductive paste, 111 squeegee.

Claims (10)

導電性ペーストをスクリーン印刷することにより電極を形成する工程を含む太陽電池の製造方法であって、
前記スクリーン印刷は、スクリーン上に前記導電性ペーストを塗布した後に、前記導電性ペーストをスキージングすることにより行なわれ
前記電極は、所定の方向に伸長しているバスバー電極および前記バスバー電極と交差しているフィンガー電極からなり、
前記スクリーンの前記バスバー電極に対応する部分であって前記所定の方向に伸張している領域内には複数の不連続な貫通孔が形成され、前記スクリーンにおける前記フィンガー電極に対応する部分には前記フィンガー電極の形状に対応したスリット形状の貫通孔が形成されていることを特徴とする、太陽電池の製造方法。
A method for producing a solar cell comprising a step of forming an electrode by screen printing a conductive paste,
The screen printing after coating the conductive paste on cleans, performed by squeegeeing said conductive paste,
The electrode comprises a bus bar electrode extending in a predetermined direction and a finger electrode intersecting the bus bar electrode,
A plurality of discontinuous through holes are formed in a portion corresponding to the bus bar electrode of the screen and extending in the predetermined direction, and a portion corresponding to the finger electrode in the screen is the through hole of the slit shape corresponding to the shape of the finger electrodes is characterized that you have been formed, the manufacturing method of the solar cell.
前記スクリーンにおける前記バスバー電極に対応する部分の厚みが、前記スクリーンの他の部分よりも薄いことを特徴とする、請求項に記載の太陽電池の製造方法。 The thickness of the portion corresponding to the bus bar electrode in the screen, and wherein the thinner than other portions of the screen, a method for manufacturing a solar cell according to claim 1. 前記スクリーンの一方の面における前記バスバー電極に対応する部分が窪んでおり、前記スクリーンの窪んでいる面と反対側の面に前記導電性ペーストが塗布されて前記スクリーン印刷が行なわれることを特徴とする、請求項に記載の太陽電池の製造方法。 A portion corresponding to the bus bar electrode on one surface of the screen is recessed, and the screen printing is performed by applying the conductive paste on a surface opposite to the surface where the screen is recessed. The method for manufacturing a solar cell according to claim 2 . 前記バスバー電極に対応する部分以外の前記スクリーンの最大の厚みが、50μm以上150μm以下であることを特徴とする、請求項またはに記載の太陽電池の製造方法。 The maximum thickness of the screen other than the portion corresponding to the bus bar electrode, characterized in that at 50μm or 150μm or less, producing a solar cell according to claim 2 or 3. 前記バスバー電極に対応する部分の前記スクリーンの最小の厚みが、前記バスバー電極に対応する部分以外の前記スクリーンの最大の厚みの1/2以下であることを特徴とする、請求項に記載の太陽電池の製造方法。 The minimum thickness of the screen of a portion corresponding to the bus bar electrode, wherein the bus bar electrode is 1/2 or less of the maximum thickness of the screen other than the portion corresponding, according to claim 4 A method for manufacturing a solar cell. 前記複数の不連続な貫通孔の間隔が、10μm以上100μm以下であることを特徴とする、請求項からのいずれかに記載の太陽電池の製造方法。 The spacing of the plurality of discrete through-holes, characterized in that at 10μm or 100μm or less, producing a solar cell according to any one of claims 1 to 5. 前記複数の不連続な貫通孔の形状が、円形および半円形の少なくとも一方の形状であることを特徴とする、請求項からのいずれかに記載の太陽電池の製造方法。 Wherein the plurality of the shape of the discontinuous through holes, circular and characterized in that it is a semi-circular at least one of shape, manufacturing a solar cell according to any one of claims 1 to 6. 前記スキージングは、前記スリット形状の貫通孔の長手方向に行なわれることを特徴とする、請求項からのいずれかに記載の太陽電池の製造方法。 The squeegeeing is characterized to be performed in the longitudinal direction of the through hole of the slit-shaped, producing a solar cell according to any one of claims 1 to 7. 前記スクリーンは金属からなることを特徴とする、請求項1からのいずれかに記載の太陽電池の製造方法。 The screen is characterized in that it consists of metal, for producing a solar cell according to any one of claims 1 to 8. 前記導電性ペーストの粘度が30Pa・S以上340Pa・S以下であることを特徴とする、請求項1からのいずれかに記載の太陽電池の製造方法。 Wherein the viscosity of the conductive paste is not more than 30 Pa · S or more 340 Pa · S, a method for manufacturing a solar cell according to any one of claims 1 to 9.
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JP4917278B2 (en) 2005-06-17 2012-04-18 信越半導体株式会社 Screen printing plate and screen printing device
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WO2009118861A1 (en) 2008-03-27 2009-10-01 三菱電機株式会社 Photovolatic power device and method for manufacturing the same
JP5570179B2 (en) * 2009-10-22 2014-08-13 京セラ株式会社 Level difference measuring method and level difference measuring apparatus
JP2011201055A (en) * 2010-03-24 2011-10-13 Panasonic Corp Device and method for printing screen
RU2597573C2 (en) * 2011-01-31 2016-09-10 Син-Эцу Кемикал Ко., Лтд. Stencil master for solar cell and method for printing electrode of solar cell
WO2012115006A1 (en) * 2011-02-21 2012-08-30 シャープ株式会社 Screen and method for manufacturing solar cell
KR101902809B1 (en) * 2017-10-20 2018-10-01 (주)이노페이스 Stencil Mask for Solar Cell
WO2019078598A1 (en) * 2017-10-20 2019-04-25 (주)이노페이스 Stencil mask for solar cell
KR102486697B1 (en) * 2020-06-09 2023-01-11 한빅솔라(주) Stencil mask for printing front electrode of solar cell
KR102518082B1 (en) * 2020-07-28 2023-04-05 한빅솔라(주) Stencil mask for printing electrode of solar cell
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