JP4367239B2 - 混成集積回路装置 - Google Patents
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Description
図15に、この特許文献1に記載されている混成集積回路装置についてその概要を示す。なお、この混成集積回路装置も、パワー素子2を含む多種の電子部品が基板1上に混成して搭載されている。そして、この混成集積回路装置では、パワー素子2によって囲繞されるかたちで温度検出素子3を配設し、パワー素子2から基板1などを介して伝達される温度をこの温度検出素子3によって検出するようにしている。なお、この混成集積回路装置において、パワー素子2および温度検出素子3は、給電端子Tinを通じて電力の供給を受けている。
備え、前記演算素子は、前記温度検出素子にて検出される温度の前記発熱素子に対する電力供給が開始されたときからの経過時間毎の温度の上昇量を同温度検出素子による温度情報から得るとともに、この得られる温度の上昇量と、前記経過時間および前記発熱素子と前記温度検出素子との間の距離を含む熱伝達環境に基づいてその都度決定される前記発熱素子から前記温度検出素子への温度の伝達度合いの比率である伝達温度比とを除算することによって前記発熱素子の前記経過時間毎の温度の上昇量を演算する補正演算を通じて前記発熱素子の温度情報を検出することとした。
得られる温度の上昇量と、前記経過時間および前記熱伝達環境に基づいてその都度決定される前記発熱素子から前記温度検出素子への温度の伝達度合いの比率である伝達温度比とを除算することによって前記発熱素子の前記経過時間毎の温度の上昇量を演算するようにしたことによって、発熱素子の温度情報を容易に検出することができるようになる。
パワー素子11aに対する電力供給が開始されたときからの経過時間、すなわちパワー素子11aがオン状態にされたときからの経過時間毎の同パワー素子11aの温度の上昇量ΔPTと、上記経過時間毎の温度検出素子11cにて検出される温度の上昇量ΔSTとは、
ΔST=RT×ΔPT ・・・(1)
ただし、
RT:パワー素子から温度検出素子への温度の伝達度合いの比率(伝達温度比)
といった関係式にて表わされる。そして、この式(1)において、伝達温度比RTの値は、例えば実験等に基づいて上記経過時間毎に得ることができ、この実施の形態にかかる混成集積回路装置では、図2に示されるような結果が得られているとする。なお、この実施の形態において、パワー素子11aと温度検出素子11cとの間の熱伝達経路は上記アルミナ基板12、リードフレーム13、モールド材15、さらには上記接着剤14やはんだ16等によって形成される。
RT=B×LnT+A(ただし、RT≦1) ・・・(2)
ただし、
LnT:パワー素子がオン状態にされたときからの経過時間の常用対数
A:「T=1」のときの伝達温度比(以下、係数Aという)
B:パワー素子がオン状態にされたときからの経過時間の常用対数に対して伝達温度比が直線的に増加するときの傾き(以下、係数Bという)
といった関係式に基づいて得ることができる。このため、制御素子11bは、上記温度検出素子11cにより検出される温度情報の補正演算として、まず、式(2)に基づいて、上記経過時間T毎に伝達温度比RTを算出する。そして、上記式(1)に基づいて、上記経過時間T毎の温度検出素子11cにて検出される温度の上昇量ΔSTと、この算出された伝達温度比RTとを除算することによって、パワー素子11aの温度の上昇量ΔPTを演算する。制御素子11bによるこうした補正演算を通じて上記パワー素子11aの温度情報を検出することができるようになる。
A=C×LnL+D(ただし、A<1) ・・・(3)
ただし、
LnL:パワー素子と温度検出素子との距離の常用対数
C:パワー素子と温度検出素子との距離の常用対数に対して係数Aが直線的に減少するときの傾き(以下、係数Cという)
D:「L=1」のときの係数Aの値(以下、係数Dという)
といった特性がある。したがってこのような場合には、実験により再度得られる係数Aが、この式(3)の関係に合致するか否かを検討することで、この再度得られる係数Aの信頼性を判断することはできる。
すなわち、まず、上記ランプへの電力供給ラインを含め、導体パターンや抵抗体をアルミナ基板12の表面に焼成形成(印刷)する。そして、このアルミナ基板12の表面にはんだクリームを塗り、このはんだクリーム上にパワー素子11a、制御素子11b、温度検出素子11cなどの電子部品11を搭載する。そしてこの状態で、アルミナ基板12を加熱するリフロー工程を行う。こうしてアルミナ基板12に上記各電子部品11が搭載されると、次に、このアルミナ基板12とリードフレーム13とを接着剤14によって接着する。次いで、上記各電子部品11や、導体パターン、リードフレーム13などをボンディングワイヤWを介して電気的に接続するワイヤボンディング工程を行う。そして、モールド成形によりモールド材15を形成し、該モールド材15から外部に取り出されているリードフレーム13の先端の一部を切断することで、外部端子GTを形成する。
(1)温度検出素子11cにて検出される温度情報を取り込んで補正演算し、この補正演算を通じてパワー素子11aの温度情報を検出するようにしたため、より高い精度をもってパワー素子11aの温度検出を行うことができるようになる。
・パワー素子11aと温度検出素子11cとの関係の変形例を図6に示すように、パワー素子11aと温度検出素子11cとが搭載されているアルミナ基板12を、ヒートシンク113に直接接着して設けるようにしてもよい。このような関係によれば、パワー素子11aによる熱は、アルミナ基板12やヒートシンク113などを介して温度検出素子11cまで伝達されるようになる。しかも、ヒートシンク113によるパワー素子11aの冷却効果も期待できるようになる。なお、この図6に示す混成集積回路装置の製造工程は、基本的には、先の実施の形態にて示した工程と同様である。ただし、アルミナ基板12とヒートシンク113とを接着する工程では、ヒートシンク113と、後に外部端子GTとなるリードフレームとの位置関係が適宜固定された状態で、上記各電子部品11が搭載されているアルミナ基板12とヒートシンク113とを接着することとなる。
・温度検出素子は、サーミスタやダイオードなど、温度検出が可能な素子であればよい。
Claims (3)
- 発熱素子と、該発熱素子の近傍にて温度検出を行う温度検出素子とを含む多種の電子部品が搭載された基板を有して構成される混成集積回路装置において、
前記多種の電子部品の1つとして、前記温度検出素子により検出される温度情報を取り込んでこれを補正演算する演算素子を備え、前記演算素子は、前記温度検出素子にて検出される温度の前記発熱素子に対する電力供給が開始されたときからの経過時間毎の温度の上昇量を同温度検出素子による温度情報から得るとともに、この得られる温度の上昇量と、前記経過時間および前記発熱素子と前記温度検出素子との間の距離を含む熱伝達環境に基づいてその都度決定される前記発熱素子から前記温度検出素子への温度の伝達度合いの比率である伝達温度比とを除算することによって前記発熱素子の前記経過時間毎の温度の上昇量を演算する補正演算を通じて前記発熱素子の温度情報を検出する
ことを特徴とする混成集積回路装置。 - 前記演算素子は、前記発熱素子に対する電力制御を併せて行う制御素子として設けられ、前記温度検出素子により温度情報が取り込まれた時刻と前記発熱素子に対する電力供給を開始した時刻との差の演算によって前記経過時間を算出する
請求項1に記載の混成集積回路装置。 - 前記発熱素子が、電力供給素子であるパワー素子からなる
請求項1または2に記載の混成集積回路装置。
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