JP4397176B2 - Vibration damping at carrier head - Google Patents
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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Description
【0001】
【関連出願のクロスリファレンス】
この出願は、2001年10月10日に出願された、米国特許出願番号第09/975,196号明細書の一部継続出願であり、その優先権を主張する。
【0002】
【背景】
本発明は、全般的に、化学的機械的研磨システムとプロセスに関する。
【0003】
集積回路は、一般的に基板(特にシリコンウェーハ)上への、伝導、半導、絶縁層の一連の堆積によって形成される。一連の層が連続して堆積されてエッチングされると、基板の外部又は最上層、ますます非平坦化する。この非平坦化表面は、集積回路製作プロセスのホトリソグラフィックステップで問題を提示する。特に、非平坦化表面のピークと谷との間の最大高さの差が、装置の焦点深度を超えるならば、ホトリソグラフィック装置はフォトレジスト層の上で光イメージに焦点を合わせることができないだろう。従って、基板表面を定期的に平坦化する必要性がある。
【0004】
化学的機械的研磨(CMP)は、平坦化の1つの認められた方法である。化学的機械的研磨は、一般的に化学的に反応性の薬品を含むスラリーで基板を機械的に研磨することを必要とする。代表的なポリッシング操作中に、基板は、キャリヤヘッドによって回転研摩パッドに対して保持される。キャリヤヘッドは、また、基板を、研摩パッドに関して回転及び移動させるだろう。キャリヤヘッドと研摩パッドとの間の動きの結果、研摩パッドに埋め込まれ又はポリッシングスラリーで含まれる研磨材は、表面を研磨することによって、非平坦な基板表面を平坦化する。
【0005】
ポリッシングプロセスは振動を発生し、それは平坦化の品質を低減し、研摩装置にダメージを与えるだろう。更に、振動は迷惑なノイズを作成する可能性がある。
【0006】
【概要】
1つの見地で、本発明は基板をポリッシング表面に配置するためにキャリヤヘッドに向けられる。キャリヤヘッドは、基板サポート表面を有するバッキング組立体と、回転の軸を中心としてドライブシャフトと伴に回転する、ドライブシャフトに接続可能なハウジングと、バッキング組立体とハウジングとの間のロードパス内の緩衝材料とを備える。緩衝材料は、バッキング組立体からハウジングまで振動の伝達を低減する。
【0007】
本発明の実施形態は、1つ以上の特徴を含むだろう。キャリヤヘッドは、バッキング組立体とハウジングとの間にジンバル機構を含み、バッキング組立体がハウジングに関してジンバル運動することができるようにする。バッキング組立体は、硬いベースと、加圧可能なチャンバを定義するために硬いベースに固定されるフレキシブルメンブレンと、ベースの底面上で圧縮できるフィルムとを含むだろう。ハウジングは、ブッシングを提供するだろう。ジンバル機構は、ブッシングに延びるジンバルロッド含み、ジンバルロッドが横に移動するのを防止する一方、ブッシングはジンバルロッドが垂直に移動することをできるようにするだろう。
【0008】
ジンバル機構は、ハウジングに接続する頂部と、バッキング組立体に接続する底部とを含み、緩衝材料は底部から頂部を分離するだろう。緩衝材料は、感圧型接着剤を使用して、頂部と底部との少なくとも1つに取り付けられるだろう。緩衝材料は、全般的に環状の本体を形成するだろう。ジンバル機構は、たわみリングの平面に垂直な方向に曲がる実質的に平らなたわみリングを含み、ハウジングにバッキング組立体をジンバルし、緩衝材料はたわみリングに取り付けられる。
【0009】
緩衝材料は、ジンバル機構とバッキング組立体との間のロードパスに配置されるだろう。ジンバル機構は、実質的に平らなたわみリングを含み、たわみリングの平面方向に垂直に曲がり、ハウジングにバッキング組立体をジンバルし、緩衝材料がたわみリングに接する。たわみリングは、緩衝材料に延びる複数の突起物又はフランジを含むだろう。
【0010】
緩衝材料は、粘弾性を有するだろう。変形にされると、緩衝材料はその本来の形にリバウンドしないだろう。例えば、緩衝材料は変形の6パーセント未満のリバウンドであろう。
【0011】
他の見地で、本発明は、キャリヤヘッドを含む化学的機械的研磨装置に向けられる。
【0012】
本発明の1つ以上の実施形態の詳細を、添付図面と以下の説明で述べる。本発明の、他の特徴、目的及び利点は、説明と図面と請求項から明白である。
【0013】
種々の図面での同類参照記号は、同類部材を示す。
【0014】
図1について述べると、化学的機械的研磨(CMP)装置は、ポリッシング中の基板を保持するためのキャリヤヘッド100を含む。好適なCMP装置の説明は、米国特許第5,738,574号明細書において見いだされるだろう。その内容は全体として本明細書に援用されている。
【0015】
ポリッシング中の、キャリヤヘッド100は、所定のローディング力で研摩パッドに対して基板10を押す。同時に、モータが、基板を回転させるためにキャリヤヘッドを回転させる。更に、スライダーは研摩パッドの表面を横方向に基板及びキャリヤヘッド100を振動させることができる。
【0016】
キャリヤヘッド100は、隣接部分との間に振動エネルギーの伝達をかなり低減するための振動減衰材料を含み、ポリッシング中の振動を低減又は防止する。全般的に、緩衝材料は、研摩装置の両方の隣接部分よりかなり良い振動減衰性特性を有し、それは、硬い材料(例えば金属)から一般的に作られる。緩衝材料は、良好な振動減衰性特性を提供する、メモリをわずかに有する又は有さない粘性弾性材であり、それは、市販の絶縁緩衝材料、7911 ザイオンズビルロード、インディアナポリス、IN 46268のE−A−R特別複合物であるC−1002等によって製造される。
【0017】
図1で示すように、キャリヤヘッド100は、ハウジング102、ベース104、ジンバル機構106、リテーニングリング110と基板バッキング組立体112(それは、ベース104を含むと考えることもできる)を含む。ハウジング102は、実質的に円筒状で一組のボルト(図示せず)を使用してドライブシャフト74に接続されることができる。ドライブシャフトは、軸107を中心としてハウジングを回転させる。下で説明するように、通路126が、キャリヤヘッドの空気制御のためにハウジング102を通して延びる。ハウジング102は、ハウジングを通して垂直に続く垂直ボア124に適合される円筒状のブッシング122を有する。
【0018】
ジンバル機構106は、ジンバルロッド150とたわみリング152を含む。ジンバルロッド150は、ブッシング122にフィットし、ロッド150がボア内を垂直に自由に移動し、一方ブッシング122がジンバルロッド150の横方向の動きを防止するようになっている。たわみリング152が、緩衝材料230によってジンバルロッド150の下端で、フランジ220に取り付けられており、ジンバルリング220を通してたわみリング152からハウジング102まで振動エネルギーの伝達を防止又は低減するようになっている。緩衝材料230は、厚さ0.06インチである。感圧型接着剤(図示せず)は、ハウジング102とたわみリング152の両方に緩衝材料230を接着する。
【0019】
たわみリング152(それは全般的に平らな環状リングで)は、全般的にリング形状のベース104に取り付けられる。たわみリング152は、たわみリング152の平面と垂直の方向に曲がり、それによって、ジンバルロッド150とハウジング102と関連してベース104をジンバル運動する。ジンバルロッド150がボア122内を垂直に移動することができるようにすることによって、ジンバル機構も、ベースのいかなる横向移動も防止する一方、ベース104が上下に移動することをできるようにする。緩衝材料230は、ベース104からハウジング102へのジンバル機構106を通した振動エネルギーの伝達を低減又は防止する。
【0020】
外部のクランプリング164は、ベース104にローリングダイアフラム160の外部のエッジを固定し、一方、内部クランプリング162は、ハウジングにローリングダイアフラム160の内部エッジを固定する。従って、ローリングダイヤフラム160は、ハウジング102、ジンバルロッド106、ジンバルリング220、緩衝材料230、たわみリング152とベース104によって形成されるローディングチャンバ108を、チャンバ108に開口126を残してシールする。開口126は、ポンプ(図示せず)に接続され、それは、各々、チャンバ108へ又はチャンバから流体(例えば空気)を出し入れすることによってベースを上下する。ローディングチャンバ108に注入される流体の圧力を制御することによって、ポンプは、所望のローディング力でポリッシング表面の方に向かってベースを下へ押すことができる。
【0021】
リテーニングリング110は、ベース104に固定される全般的に環状のリングである。研磨中、流体がローディングチャンバ108に注入され、それによって圧力がチャンバ108内で生じる。発生された圧力は、ベース104への下への力を発揮し、それは次に、リテーニングリング110への下への力を発揮する。下への力は、研摩パッド32に対してリテーニングリング110を押す。
【0022】
基板バッキング組立体112は、たわみダイヤフラム116を含み、それは、リテーニングリング110とベース104との間に固定される。たわみダイヤフラム116の内部エッジは、支持構造体114の環状下部クランプ172と環状上部クランプ174との間に固定される。支持構造体114の支持板170は、下部クランプ172に取り付けられる。たわみダイヤフラムにより、ベース104に関する支持板170の垂直移動ができるようになる。支持板170は、それを通しての複数のアパーチャ176を有する全般的に円板形の硬い部材である(1つだけが図2に番号が付されている)。支持板170は、その外部のエッジで下方へ突き出したリップ178を有する。
【0023】
フレキシブルメンブレン118が、支持板170のリップ178のまわりに延び、支持板170と下部クランプ172との間に固定され、略ディスク形の下部表面120を形成している。フレキシブルメンブレンは、可撓性且つ弾性材料(例えばクロロプレン又はエチレンプロピレンゴム)から形成される。あるいは、たわみダイヤフラムと可撓性メンブレンは、単一部材のメンブレンで組み合わせられる可能性がある。柔軟なメンブレン118、支持構造体114、たわみダイヤフラム116、ベース104とたわみリング152との間にシールされたボリュームは、チャンバ190を規定し、開口250だけが、ジンバルロッド150を通して続いている。ポンプ(図示せず)が、開口250を通してチャンバに流体を注入することによってチャンバ190の圧力を制御するように、開口250に接続され、それによって、基板10へのメンブレン下面120への下向きの圧力を制御する。
【0024】
図2Aと図2Bに言及すると、他の実施形態で、ジンバルロッド150’とたわみリング152’は、単一パートとして形成される。更に、この実施形態は、支持構造体114又はたわみ116を含まない。むしろ、可撓性メンブレンは、直接ベース104に接続される。
【0025】
この実施形態で、緩衝材料230’が、たわみリング152とベース104’との間に置かれる。特に、たわみリング152’は、ベース104’内のスロット242に放射状に外方へ延びる複数のこぶのある突起物240を含む。スロット242は、粘弾性緩衝材料230’で充てんされ、スロットの頂部は、ベースl04’のレストに固定される環状リング244で閉じられる。例えば、緩衝材料は、突起物240とベースとの間に下部層を含むことができ、より少ない振動エネルギーが、ベース104からジンバル106に伝えられる。
【0026】
代替えとして、個々の突起物240ではなく、たわみリング152’は、放射状に外方に延びて、粘弾性緩衝材料230’でベース104’と環状リング244との間に閉じ込められる環状のフランジを含むことができる。
【0027】
本発明の多くの実現形態が、説明された。それにもかかわらず、種々の修正が精神と発明の範囲から離れることなく作られるだろうと理解される。例えば、緩衝材料は、当該技術に熟練する者に知られた他の種類の既知の研摩装置に使用することができるだろう。例えば、ポリッシングシステムは、回転パッドではなくリニアベルト型パッドを使用することができる。研磨装置は標準型非研磨材研摩パッド又は固定型研磨材パッドのいずれも使用可能であり、スラリーは、研摩粒子を有する又は有さないことができる。更に、緩衝材料はキャリヤヘッドの他の型で使用されることができる。キャリヤヘッドは、可撓性メンブレンの代わりに基板を保持する硬い支持構造体又はベースを使用することができる。圧縮できるキャリヤフィルムは、硬い支持構造体の底部に配置されるだろう。リテーニングリングは研摩パッドに接触する必要はない。
【0028】
振動減衰性材料は、また、キャリヤヘッドで他の位置、例えばリテーニングリングとベースとの間、又はベース内で使用され、可撓性メンブレンとハウジングとの間のロードバスである。好適な緩衝性質を有する他の材料が、材料の一端から他への振動エネルギーの伝達をかなり低減又は防止する限り振動を減衰させるために使用されるだろう。一般に、材料は粘弾性材であることができる。更に、緩衝材料は、変形させられたとき、その本来の形にリバウンドしないものから選ばれることができる。特に、変形にされるとき、緩衝材料は、変形の6パーセント未満のリバウンドが好まれるが、変形の10パーセント未満より少ないリバウンドをとらなければならない。例えば、緩衝材料は、E−A−R特別専門複合物によって製造された、いかなるイソダンプ(isodamp)C−1000シリーズ絶縁減衰材料、粘性−弾性材、軟かいプラスチック又は緩衝材料に直に隣接する材料よりも良好な振動減衰特性を有する他のどの材料もでもよい。
緩衝材料の厚さは、異なる負荷、キャリヤヘッド回転速度、研摩パッド回転速度、緩衝材料、その他を有する操作状態において、最適の結果を提供するために変化されるだろう。
【0029】
基板と研摩パッドの相対運動の貧弱な制御が、厚すぎる緩衝材料から生じるだろうが、より厚い緩衝材料が、振動減衰性を改良されるために使用することができる。緩衝材料があまりに薄すぎる場合、十分な振動エネルギーの伝達を低減又は防止しないだろうが、より薄い緩衝材料も使用することができる。
【0030】
従って、他の実施形態は、請求項の範囲にある。
【図面の簡単な説明】
【図1】キャリヤヘッドの断面図である。
【図2A】キャリヤヘッドの代替実施形態の断面図である。
【図2B】図2Aのキャリヤヘッドからの緩衝材料の展開図である。[0001]
[Cross-reference of related applications]
This application is a continuation-in-part of US patent application Ser. No. 09 / 975,196, filed Oct. 10, 2001, and claims its priority.
[0002]
【background】
The present invention relates generally to chemical mechanical polishing systems and processes.
[0003]
Integrated circuits are typically formed by a series of depositions of conductive, semiconductive, and insulating layers on a substrate (especially a silicon wafer). As a series of layers are successively deposited and etched, the exterior or top layer of the substrate becomes increasingly non-planar. This non-planarized surface presents a problem in the photolithographic step of the integrated circuit fabrication process. In particular, if the maximum height difference between the peak and valley of the non-planarized surface exceeds the depth of focus of the device, the photolithographic device cannot focus on the optical image on the photoresist layer. right. Therefore, there is a need to periodically planarize the substrate surface.
[0004]
Chemical mechanical polishing (CMP) is one accepted method of planarization. Chemical mechanical polishing generally requires mechanical polishing of the substrate with a slurry containing chemically reactive chemicals. During a typical polishing operation, the substrate is held against a rotating polishing pad by a carrier head. The carrier head will also rotate and move the substrate relative to the polishing pad. As a result of the movement between the carrier head and the polishing pad, the abrasive material embedded in the polishing pad or contained in the polishing slurry planarizes the non-planar substrate surface by polishing the surface.
[0005]
The polishing process generates vibrations that will reduce the quality of planarization and damage the polishing equipment. In addition, vibration can create annoying noise.
[0006]
【Overview】
In one aspect, the present invention is directed to a carrier head for placing a substrate on a polishing surface. The carrier head includes a backing assembly having a substrate support surface, a housing connectable to the drive shaft that rotates with the drive shaft about an axis of rotation, and a load path between the backing assembly and the housing. Buffer material. The cushioning material reduces the transmission of vibrations from the backing assembly to the housing.
[0007]
Embodiments of the invention will include one or more features. The carrier head includes a gimbal mechanism between the backing assembly and the housing to allow the backing assembly to perform gimbal movement with respect to the housing. The backing assembly will include a rigid base, a flexible membrane secured to the rigid base to define a pressurizable chamber, and a film that can be compressed on the bottom surface of the base. The housing will provide a bushing. The gimbal mechanism includes a gimbal rod that extends to the bushing and prevents the gimbal rod from moving sideways, while the bushing will allow the gimbal rod to move vertically.
[0008]
The gimbal mechanism includes a top that connects to the housing and a bottom that connects to the backing assembly, and the cushioning material will separate the top from the bottom. The cushioning material will be attached to at least one of the top and bottom using a pressure sensitive adhesive. The cushioning material will generally form an annular body. The gimbal mechanism includes a substantially flat flexible ring that bends in a direction perpendicular to the plane of the flexible ring, gimbals the backing assembly in the housing, and the cushioning material is attached to the flexible ring.
[0009]
The cushioning material will be placed in the load path between the gimbal mechanism and the backing assembly. The gimbal mechanism includes a substantially flat flexible ring that bends perpendicularly to the plane of the flexible ring, gimbals the backing assembly in the housing, and the cushioning material contacts the flexible ring. The flexure ring will include a plurality of protrusions or flanges that extend into the cushioning material.
[0010]
The cushioning material will have viscoelasticity. When deformed, the cushioning material will not rebound to its original shape. For example, the cushioning material will rebound less than 6 percent of deformation.
[0011]
In another aspect, the present invention is directed to a chemical mechanical polishing apparatus that includes a carrier head.
[0012]
The details of one or more embodiments of the invention are set forth in the accompanying drawings and the description below. Other features, objects, and advantages of the invention will be apparent from the description and drawings, and from the claims.
[0013]
Like reference symbols in the various drawings indicate like members.
[0014]
Referring to FIG. 1, a chemical mechanical polishing (CMP) apparatus includes a
[0015]
During polishing, the
[0016]
The
[0017]
As shown in FIG. 1, the
[0018]
The
[0019]
A flexible ring 152 (which is a generally flat annular ring) is attached to a generally ring-shaped
[0020]
The
[0021]
The retaining
[0022]
The
[0023]
A
[0024]
Referring to FIGS. 2A and 2B, in other embodiments, the
[0025]
In this embodiment, a cushioning material 230 'is placed between the
[0026]
Alternatively, rather than the
[0027]
A number of implementations of the invention have been described. Nevertheless, it will be understood that various modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention. For example, the cushioning material could be used in other types of known polishing equipment known to those skilled in the art. For example, the polishing system can use a linear belt type pad rather than a rotating pad. The polishing apparatus can use either a standard non-abrasive abrasive pad or a fixed abrasive pad, and the slurry can have or not have abrasive particles. In addition, the cushioning material can be used in other types of carrier heads. The carrier head can use a rigid support structure or base that holds the substrate instead of a flexible membrane. A compressible carrier film will be placed at the bottom of the rigid support structure. The retaining ring need not contact the polishing pad.
[0028]
The vibration dampening material is also a load bus used at other positions in the carrier head, such as between the retaining ring and the base, or within the base, between the flexible membrane and the housing. Other materials with suitable cushioning properties may be used to damp vibrations as long as they significantly reduce or prevent the transfer of vibration energy from one end of the material to the other. In general, the material can be a viscoelastic material. Further, the cushioning material can be selected from those that do not rebound to their original shape when deformed. In particular, when deformed, the cushioning material prefers less than 6 percent rebound of deformation, but must take less than 10 percent of rebound. For example, the cushioning material may be any isodamp C-1000 series insulating damping material, viscous-elastic material, soft plastic or material immediately adjacent to the cushioning material manufactured by the E-A-R Special Specialty Composite Any other material having better vibration damping characteristics may be used.
The thickness of the buffer material will be varied to provide optimum results in operating conditions with different loads, carrier head rotation speed, polishing pad rotation speed, buffer material, etc.
[0029]
Although poor control of the relative motion of the substrate and polishing pad will result from a buffer material that is too thick, thicker buffer materials can be used to improve vibration damping. If the buffer material is too thin, it will not reduce or prevent the transfer of sufficient vibrational energy, although thinner buffer materials can also be used.
[0030]
Accordingly, other embodiments are within the scope of the claims.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a carrier head.
FIG. 2A is a cross-sectional view of an alternative embodiment of a carrier head.
2B is an exploded view of the buffer material from the carrier head of FIG. 2A.
Claims (19)
回転の軸を中心としてドライブシャフトと伴に回転する、ドライブシャフトに接続可能なハウジングと、
バッキング組立体とハウジングとの間のロードパス内の緩衝材料であって、バッキング組立体からハウジングへの振動の伝達を低減する緩衝材料と、
を備え、
前記ロードパスは、前記バッキング組立体と前記ハウジングとの間において荷重を伝達する経路であり、
前記緩衝材料は、前記ロードパスのバッキング組立体側を前記ロードパスのハウジング側から分離している、
基板をポリッシング表面に配置するためのキャリヤヘッド。A backing assembly having a substrate support surface;
A housing connectable to the drive shaft that rotates with the drive shaft about the axis of rotation;
A buffer material in a load path between the backing assembly and the housing, the buffer material reducing transmission of vibrations from the backing assembly to the housing;
With
The load path is a path for transmitting a load between the backing assembly and the housing;
The buffer material separates a backing assembly side of the load path from a housing side of the load path;
A carrier head for placing a substrate on a polishing surface.
基板をポリッシング表面に配置するためのキャリヤヘッドと、
を含み、
前記キャリヤヘッドは、
基板サポート表面を有するバッキング組立体と、
回転軸を中心としてドライブシャフトと伴に回転するドライブシャフトに接続可能なハウジングと、
前記バッキング組立体と前記ハウジングとの間に設けられておりバッキング組立体がハウジングに関してジンバル運動することができるジンバル機構と、
バッキング組立体からハウジングへの振動の伝達を低減するための、前記バッキング組立体と前記ジンバル機構との間のロードパスでの緩衝材料と、
を含み、
前記ロードパスは、前記ジンバル機構と前記バッキング組立体との間において荷重を伝達する経路であり、
前記緩衝材料は、前記ロードパスのバッキング組立体側を前記ロードパスのジンバル側から分離している、
化学的機械的研磨装置。With a polishing pad,
A carrier head for placing the substrate on the polishing surface;
Including
The carrier head is
A backing assembly having a substrate support surface;
A housing connectable to the drive shaft that rotates with the drive shaft about the rotation axis;
A gimbal mechanism provided between the backing assembly and the housing, the backing assembly being capable of gimbal movement with respect to the housing;
Cushioning material in a load path between the backing assembly and the gimbal mechanism to reduce transmission of vibrations from the backing assembly to the housing;
Including
The load path is a path for transmitting a load between the gimbal mechanism and the backing assembly.
The buffer material separates the backing assembly side of the load path from the gimbal side of the load path;
Chemical mechanical polishing equipment.
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