JP4401828B2 - Glow discharge optical emission spectrometer - Google Patents
Glow discharge optical emission spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- JP4401828B2 JP4401828B2 JP2004070142A JP2004070142A JP4401828B2 JP 4401828 B2 JP4401828 B2 JP 4401828B2 JP 2004070142 A JP2004070142 A JP 2004070142A JP 2004070142 A JP2004070142 A JP 2004070142A JP 4401828 B2 JP4401828 B2 JP 4401828B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ring
- sample
- glow discharge
- gas
- support block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
本発明はグロー放電発光分光分析装置に係り、特にグロー放電部への外気・大気の侵入防止を図った高精度グロー放電発光分光分析装置に関する。 The present invention relates to a glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus, and more particularly to a high-precision glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus that prevents intrusion of outside air and air into a glow discharge section.
圧力500〜1300Pa程度のアルゴン等の不活性ガス雰囲気中でグロー放電を発生させ、生じたイオンを陰極である試料表面に衝突させることによって生ずるスパッタリング現象によって試料表面の原子をたたき出し、それをプラズマ中で励起させ、それが基底状態に戻る際に放出する元素固有の光を分光器で分光して元素を同定する分析法はグロー放電発光分光分析法と呼ばれている。この方法は試料表面の深さ方向分析に広く用いられている。 A glow discharge is generated in an inert gas atmosphere such as argon at a pressure of about 500 to 1300 Pa, and atoms on the surface of the sample are knocked out by a sputtering phenomenon caused by colliding the generated ions with the surface of the sample, which is a cathode. An analysis method for identifying an element by spectroscopically diffusing the light inherent to the element that is excited when it returns to the ground state with a spectroscope is called glow discharge emission spectroscopy. This method is widely used for analyzing the depth direction of the sample surface.
このグロー放電発光分光分析は典型的には図6に示すグリム放電管を有する装置によって行われる。しかし、例えば試料中の100mass ppm以下の微量酸素あるいは窒素を定量分析しようとした際、これらの元素のバックグランド強度が高く、正確な分析ができないという問題が発生していた。この問題は、図6に示す装置において、試料Sの表面と試料Sを保持する支持ブロック4の間を気密に保持するためのOリング8の僅かな隙間からグロー放電部に大気が侵入し、それにより窒素(N)や酸素(O)等の元素のバックグランド強度が上昇するために生ずるものである。特に、試料研磨を作業性の良い研磨材(例:JIS R6010:2000のP220よりも粗いもの)で研磨されるときには上記問題の発生は避けがたい。
This glow discharge emission spectroscopic analysis is typically performed by an apparatus having a Grimm discharge tube shown in FIG. However, for example, when trying to quantitatively analyze trace oxygen or nitrogen of 100 mass ppm or less in a sample, the background intensity of these elements is high, and there is a problem that accurate analysis cannot be performed. In the apparatus shown in FIG. 6, the problem is that the atmosphere enters the glow discharge portion through a slight gap between the O-
この問題を、回避するため、特許文献1には、試料台のシール(Oリング)を二重とし、その間を減圧もしくは放電ガス封入することにより、大気がプラズマ内に混入することを防ぐ技術が開示されている。また、特許文献2には、Oリング周囲に放電ガスを流し加圧状態とすることによってプラズマ内に大気が混入することを防ぐ技術が開示されている。さらに、特許文献3には、試料表面に凹凸がある、あるいは湾曲しているなどの理由でOリングシール部から放電管内に大気成分が侵入し、放電管内の真空が維持できない場合の対策として、試料全体を外気と遮断する試料装着装置を用い、その内部を排気する装置が開示されている。
In order to avoid this problem, Patent Document 1 discloses a technique for preventing the atmosphere from being mixed into the plasma by making the seal (O-ring) of the sample stage double and reducing the pressure between them or sealing the discharge gas. It is disclosed.
しかしながら、特許文献1に開示された手段では、従来のシール部の外側にさらにシール部を重ねるため、試料の最小径を従来に比べ約2倍(面積比では約4倍)にせざるを得なくなり、小さい試料しか準備できない場合はグロー放電発光分光分析を断念せざるを得ない場合が生ずる。また、二重Oリング間を減圧する場合には真空ポンプ等の排気設備が必要になり、一方二重Oリング間にガス封入を行なう場合には大気のプラズマ内への混入を完全に抑制できないという問題がある。特許文献2に開示された手段は、このような装置の大型化による問題はない。しかし、Oリングシール部周囲に均一に放電ガスを流すことは困難であり、そのためOリング周囲の一部から大気が混入することは避けられない。特許文献3に開示された手段は、大気の影響を抑制することが可能であるが、試料装着部内部の排気に時間がかかるほか、装着装置内部の圧力を最適値に維持するための吸排気設備が必要であり、装置コストが上がるという問題がある。
However, with the means disclosed in Patent Document 1, since the seal portion is further overlapped on the outside of the conventional seal portion, the minimum diameter of the sample has to be approximately twice as large as that of the conventional sample (area ratio is approximately four times). When only a small sample can be prepared, the glow discharge emission spectroscopic analysis must be abandoned. In addition, when reducing the pressure between the double O-rings, an exhaust facility such as a vacuum pump is required. On the other hand, when gas is sealed between the double O-rings, mixing of atmospheric air into the plasma cannot be completely suppressed. There is a problem. The means disclosed in
本発明は、上記課題を解決し、装置や試料の大型化を伴わず、迅速かつ確実に大気の侵入を防止することができる高精度のグロー放電発光分光分析装置を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide a high-precision glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus that can quickly and surely prevent air from entering without enlarging the size of the apparatus or sample. .
本発明に係るグロー放電発光分光分析装置は、陽極管と、陰極と、該陽極管と陰極の間に介在し試料が当接する支持ブロックを有し、該陽極管と陰極の間に直流電圧もしくは高周波電圧を印加して試料をスパッタリングする給電手段を備えるグロー放電発光分光分析装置において、前記支持ブロックの試料当接面に内側Oリングと該内側Oリングより径が大である外側Oリングとを設け、かつ、外気圧と同じ圧力のアルゴンガスを前記内側Oリングと外側Oリング間に流通させるために、前記内側Oリングと外側Oリング間に支持ブロック側から開口する開口部、該開口部に通ずるガス通路およびガス流量制御手段とからなるアルゴンガス連続供給手段を設けたものとして構成されている。
A glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus according to the present invention has an anode tube, a cathode, and a support block that is interposed between the anode tube and the cathode and contacts the sample. In a glow discharge optical emission spectrometer comprising a power supply means for sputtering a sample by applying a high-frequency voltage, an inner O-ring and an outer O-ring having a diameter larger than that of the inner O-ring are provided on a sample contact surface of the support block. An opening that opens from the support block side between the inner O-ring and the outer O-ring, in order to allow argon gas having the same pressure as the outer pressure to flow between the inner O-ring and the outer O-ring; The apparatus is configured to be provided with an argon gas continuous supply means composed of a gas passage communicating with the gas and a gas flow rate control means.
本発明のグロー放電発光分光分析装置は、従来から用いられていた支持ブロックの試料当接面上に外径の異なるOリングを二重に配設しかつ、当該二重のOリング間から不活性ガスを供給するという簡単な構成を有しているので、測定可能な試料形状の制約変更もなくグロー放電管のプラズマ内への大気の混入を遮断し、それにより大気成分である窒素、酸素等のバックグランドを大幅に低減でき、素材中に存在するこれらの元素の定量精度を大幅に改善することが可能となった。 The glow discharge optical emission spectrometer of the present invention has double O-rings with different outer diameters arranged on the sample contact surface of a support block that has been used in the past, and is not inserted between the double O-rings. Since it has a simple configuration of supplying an active gas, it prevents air from being mixed into the plasma of the glow discharge tube without changing the restrictions on the shape of the sample that can be measured. It has become possible to greatly reduce the background such as, and to greatly improve the quantitative accuracy of these elements present in the material.
図1は本発明の1実施形態を示す断面図であり、図2はそのA-A断面図である。ここに示すように、本発明では試料を当接する支持ブロック4の試料当接面に内側Oリング8と内側Oリング8より径が大である外側Oリング9とを設けかつ、前記内側Oリング8と外側Oリング9間に開口部11を設けている。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an AA sectional view thereof. As shown here, in the present invention, an inner O-
グロー放電発光分析装置は典型的なグリムグロー放電管として構成されている。ここに示す装置では、陰極プレートを兼ねる支持ブロック4と陽極ブロック2とが絶縁材5を介して接合されている。陽極ブロック2には陽極管26が一体形成されており、この陽極管21は支持ブロック4に挿通されて試料Sの分析面に近接して対向している。
The glow discharge emission spectrometer is configured as a typical grim glow discharge tube. In the apparatus shown here, a
支持ブロック4の試料当接面には内側Oリング8と前記した外側Oリング9が設けられておりまたこれらOリング間には環状の開口部11が設けられている。この環状の開口部11はガス通路12につながっており、さらにグロー放電発光分析装置の系外に設けた制御バルブ等から構成されるガス流量制御手段13につながっている。このガス流量制御手段13はさらに不活性ガス供給手段(図示しない)に接続されて不活性ガス供給手段を構成している。したがって本発明では、不活性ガス、たとえばアルゴンガスの流量を制御しながら、支持ブロック4に設けられた二重のOリング(8,9)の間の開口部11に送給することができる。
An inner O-
本発明に係るグロー放電発光分光分析装置は上記のとおり構成されているから、通常のとおり系内を排気後、所定流量のアルゴンガスを導入し、適当な電源により陽極管−陰極間に所定の電圧(直流電圧又は高周波電圧)を印加すると、グロー放電が起こり、生じたアルゴンガスイオンが高電界で加速され、陰極である試料表面に衝突してスパッタリング作用により分析試料成分原子をはじき出す。はじきだされた成分原子はさらに励起され、これが基底状態に戻る際に元素固有の光Lを放出する。この光Lを、窓板21を通して分光器25に導き、光Lの強度を測定するようになっている。
Since the glow discharge optical emission spectrometer according to the present invention is configured as described above, after evacuating the system as usual, a predetermined flow rate of argon gas is introduced, and a predetermined power source is connected between the anode tube and the cathode. When a voltage (DC voltage or high-frequency voltage) is applied, glow discharge occurs, and the generated argon gas ions are accelerated by a high electric field and collide with the sample surface, which is a cathode, to eject analytical sample component atoms by sputtering. The ejected component atoms are further excited and emit light L specific to the element when it returns to the ground state. The light L is guided to the
一般に試料は前記のP220番の研磨材で研磨された状態であり、そのため試料Sと支持ブロック4との間に僅かな隙間が存在し、従来技術に関して述べたようにその僅かな隙間から空気が侵入し正確な分析を阻害する。これに対し、本発明では、支持ブロック4に設けられた二重のOリング(8,9)間に開口した開口部11に制御された流量の不活性ガスが送給されているので、これらの隙間には絶えず新しい不活性ガスが流通し、外部から大気が侵入することがない。
In general, the sample is in a state of being polished by the above-mentioned P220 abrasive, and therefore there is a slight gap between the sample S and the
図3は内側Oリングと外側Oリング間の開口部に供給する不活性ガス(アルゴン)の流量と窒素の発光強度のばらつきとの関係を示すグラフである。ここに発光強度のばらつきは変動係数σ/xにより表示され、xは特定元素の分析値の平均値であり、σはその標準偏差である。したがって標準偏差σの平均値xに対する比変動係数σ/x(%)がばらつきの指標となる。 FIG. 3 is a graph showing the relationship between the flow rate of the inert gas (argon) supplied to the opening between the inner O-ring and the outer O-ring and the variation in the emission intensity of nitrogen. Here, the variation in emission intensity is represented by a variation coefficient σ / x, where x is an average value of analysis values of a specific element, and σ is a standard deviation thereof. Therefore, the relative variation coefficient σ / x (%) with respect to the average value x of the standard deviation σ is an indicator of variation.
不活性ガスとしては放電ガスと同一のアルゴンを用い、グロー放電条件は直流800V、放電ガスとして圧力300Paのアルゴンを用いた。図に示すように、内側Oリングと外側Oリング間の開口部に不活性ガス(アルゴン)を供給しない場合には、窒素(N)の発光強度のばらつきが大きいが、不活性ガスとして外気圧と同じ圧力のアルゴンガスを100ml/min以上供給すると窒素(N)の発光強度のばらつきが10%程度と小さくなり、バックグラウンドの影響が除去されていることがわかる。 The same argon as the discharge gas was used as the inert gas, the glow discharge conditions were DC 800V, and argon at a pressure of 300 Pa as the discharge gas. As shown in the figure, when the inert gas (argon) is not supplied to the opening between the inner O-ring and the outer O-ring, the emission intensity of nitrogen (N) varies greatly, but the atmospheric pressure is used as the inert gas. It can be seen that when the argon gas having the same pressure is supplied at 100 ml / min or more, the variation in emission intensity of nitrogen (N) becomes as small as about 10%, and the influence of the background is eliminated.
これは2つのOリング間に絶えず新しい不活性ガスが流通することにより、放電領域への大気の侵入がほぼ完全に抑制されているためであろうと考えられる。また、大気のプラズマ内混入の影響をほぼ完全に抑えることが可能であることは、グロー放電プラズマの安定化にも貢献する。それにより窒素、酸素のみならず、他の元素の分析精度向上にも寄与する。 This is considered to be because air intrusion into the discharge region is almost completely suppressed by the continuous flow of new inert gas between the two O-rings. In addition, being able to suppress the influence of atmospheric contamination in the plasma almost completely contributes to the stabilization of glow discharge plasma. This contributes to the improvement of the analysis accuracy of not only nitrogen and oxygen but also other elements.
不活性ガスとしては、アルゴン、ヘリウム、ネオン等あるいはこれらの混合ガスが利用可能であるが、一般に放電ガスに利用されるアルゴンを用いるのが望ましい。また、放電電源としては直流電源の他に高周波電源を用いることも可能である。後者の場合は非導電性物質についての分析が可能である。 As the inert gas, argon, helium, neon, or a mixed gas thereof can be used, but it is desirable to use argon which is generally used for a discharge gas. In addition to the direct current power source, a high frequency power source can be used as the discharge power source. In the latter case, analysis of non-conductive substances is possible.
なお、図3に示す例においては、内側Oリングと外側Oリング間の開口部は環状スリット状のものとしているが、必ずしもそれに限定される必要はなく、たとえば細いパイプ状の多孔ノズルを円周上に配設したものによることができる。要は内側Oリングと外側Oリング間の開口部に所要量の不活性ガスを供給できるものであればよい。 In the example shown in FIG. 3, the opening between the inner O-ring and the outer O-ring has an annular slit shape. However, the opening is not necessarily limited thereto. It can depend on what was arranged above. The point is that any inert gas can be supplied to the opening between the inner O-ring and the outer O-ring.
図1に例示した構造のグロー放電発光分光分析装置を用い、試料装着後、Oリング間に外気圧と同じ圧力のアルゴンガスを200ml/min割合で連続供給し、直流800V(定電圧)、放電時のアルゴンガス圧300Paの条件下で鉄鋼試料中の窒素および酸素含有量を分析した。得られた窒素および酸素の検量線を図4(酸素の場合)、図5(窒素の場合)に示す。なお、比較のため図6に示す構造を有する従来例による分析を行った。 Using the glow discharge optical emission spectrometer of the structure illustrated in FIG. 1, after mounting the sample, argon gas of the same pressure as the external pressure is continuously supplied between the O-rings at a rate of 200 ml / min. The nitrogen and oxygen contents in the steel samples were analyzed under the condition of the argon gas pressure of 300 Pa at the time. The obtained calibration curves of nitrogen and oxygen are shown in FIG. 4 (in the case of oxygen) and FIG. 5 (in the case of nitrogen). For comparison, an analysis using a conventional example having the structure shown in FIG. 6 was performed.
本発明による場合は、窒素及び酸素のバックグランドが低下し、定量下限(ばらつきσ/xが10%となる濃度)はそれぞれ30mass ppm、20mass ppmに改善することができた。これに対し、従来例によった場合はグロー放電領域内に大気が侵入するため、窒素及び酸素のバックグランドが高くなり、定量下限がそれぞれ100mass ppm、70mass ppmであった。 In the case of the present invention, the background of nitrogen and oxygen was lowered, and the lower limit of quantification (the concentration at which the variation σ / x was 10%) could be improved to 30 mass ppm and 20 mass ppm, respectively. On the other hand, in the case of the conventional example, since the atmosphere entered the glow discharge region, the background of nitrogen and oxygen was high, and the lower limit of quantification was 100 mass ppm and 70 mass ppm, respectively.
2:陽極ブロック
3:陰極(試料おさえ)
4:支持ブロック
5:絶縁材
8:内側Oリング
9:外側Oリング
11:開口部
12:ガス通路
13:ガス流量制御手段
21:窓板
22:アルゴン供給孔
23:排気孔
25:分光器
26:陽極管
S:試料
L:光路
2: Anode block
3: Cathode (sample hold down)
4: Support block
5: Insulation material
8: Inner O-ring
9: Outer O-ring
11: Opening
12: Gas passage
13: Gas flow control means
21: Window plate
22: Argon supply hole
23: Exhaust hole
25: Spectrometer
26: Anode tube
S: Sample
L: Light path
Claims (1)
前記支持ブロックの試料当接面に内側Oリングと該内側Oリングより径が大である外側Oリングとを設けかつ、外気圧と同じ圧力のアルゴンガスを前記内側Oリングと外側Oリング間に流通させるために、前記内側Oリングと外側Oリング間に支持ブロック側から開口する開口部、該開口部に通ずるガス通路およびガス流量制御手段とからなるアルゴンガス連続供給手段を設けたことを特徴とするグロー放電発光分光分析装置。 Power supply means having an anode tube, a cathode, a support block interposed between the anode tube and the cathode and in contact with the sample, and applying a DC voltage or a high frequency voltage between the anode tube and the cathode to sputter the sample In a glow discharge optical emission spectrometer comprising:
An inner O-ring and an outer O-ring having a diameter larger than that of the inner O-ring are provided on the sample contact surface of the support block, and argon gas having the same pressure as the outer air pressure is provided between the inner O-ring and the outer O-ring. In order to circulate, an argon gas continuous supply means comprising an opening opening from the support block side, a gas passage leading to the opening and a gas flow rate control means is provided between the inner O-ring and the outer O-ring. Glow discharge optical emission spectrometer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004070142A JP4401828B2 (en) | 2004-03-12 | 2004-03-12 | Glow discharge optical emission spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004070142A JP4401828B2 (en) | 2004-03-12 | 2004-03-12 | Glow discharge optical emission spectrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005257506A JP2005257506A (en) | 2005-09-22 |
| JP4401828B2 true JP4401828B2 (en) | 2010-01-20 |
Family
ID=35083362
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004070142A Expired - Lifetime JP4401828B2 (en) | 2004-03-12 | 2004-03-12 | Glow discharge optical emission spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4401828B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5445833B2 (en) * | 2009-07-15 | 2014-03-19 | 国立大学法人福井大学 | Hydrogen analysis apparatus and method for solid materials |
-
2004
- 2004-03-12 JP JP2004070142A patent/JP4401828B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2005257506A (en) | 2005-09-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR960016169B1 (en) | Glow-discharge lamp and its application | |
| US7893408B2 (en) | Methods and apparatus for ionization and desorption using a glow discharge | |
| Michels et al. | Spectroscopic characterization of a microplasma used as ionization source for ion mobility spectrometry | |
| US20060138325A1 (en) | X-ray detecting devices and apparatus for analyzing a sample using the same | |
| JP5454416B2 (en) | Mass spectrometer | |
| US7973279B2 (en) | Method and device for generating positively and/or negatively ionized gas analytes for gas analysis | |
| US20130032711A1 (en) | Mass Spectrometer | |
| US20210057203A1 (en) | Imr-ms reaction chamber | |
| WO2012165053A1 (en) | Mass spectrometry device | |
| US9343283B1 (en) | Internal standardization with enriched stable isotopes and cool plasma ICPMS | |
| KR102140711B1 (en) | A hi-vacuum plasma residual gas analizer and method for analysing residua gas of the same | |
| JP4401828B2 (en) | Glow discharge optical emission spectrometer | |
| US7812307B2 (en) | Microplasma-based sample ionizing device and methods of use thereof | |
| KR101273922B1 (en) | Self-plasma optical emission spectroscopy having active contamination preventing equipment and method of preventing contaminaion of plasma chamber | |
| US5172183A (en) | Glow discharge atomic emission spectroscopy and apparatus thereof | |
| US20200365360A1 (en) | Gas field ionization source | |
| US5763877A (en) | Analyzer using plasma and analysis method using plasma, interface used for the same and sample introducing component used for the same | |
| JP2004151042A (en) | Glow discharge emission spectrometer | |
| JPH01206237A (en) | Analyzing apparatus of glow-discharge emission spectrum | |
| EP0729174B1 (en) | Atmospheric seal and method for glow discharge analytical instrument | |
| JP3709993B2 (en) | Glow discharge emission spectroscopic analysis method and glow discharge emission spectroscopic analysis apparatus | |
| JP3398639B2 (en) | Electron beam excited plasma generator | |
| GB2345378A (en) | Ion source for elemental analysis | |
| JP2005030942A (en) | Glow discharge optical emission spectrometer | |
| JP3842437B2 (en) | Glow discharge optical emission spectrometer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070202 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080926 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081021 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081216 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20090116 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090414 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090608 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091027 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091028 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4401828 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121106 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131106 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |