JP4440415B2 - Substrate processing apparatus and processing method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は基板の上面と下面とを処理液によって処理するための基板の処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、液晶表示装置の製造工程においては、ガラス製の基板にフォトリソグラフィー技術によって回路パターンを形成するということが行われている。回路パターンを形成する場合、上記基板にレジストを塗布し、このレジスト上に回路パターンの露光、現像を行い、基板に対してエッチング及びレジストの除去を行うようにしている。
【0003】
回路パターンの現像、エッチング及びレジストの除去などを行う場合、現像液、エッチング液、剥離液などの反応用の処理液が用いられる。これらの処理液によって基板を処理する場合、その処理を所定時間行ったならば、基板にリンス液を散布して処理液を除去する。それによって、処理液による反応を所定の状態で停止し、基板に対する処理状態が最適な状態となるようにしている。
【0004】
このような基板に対する処理は、最近では生産性が高く、コスト的に有利な枚葉方式が採用されることが多くなってきている。枚葉方式の1つとして基板を搬送ローラで搬送しながらその上下面を処理液を散布して処理するという方式が採用されている。
【0005】
このような処理方式は、上記搬送ローラを基板の搬送方向に沿って所定間隔で配置し、この搬送ローラによって基板の幅方向両端部を保持して搬送するようになっている。
【0006】
ところで、最近は基板が大型化する傾向にある。基板が大型化すると、上記搬送ローラによって幅方向両端部が支持されて搬送される基板は、幅方向中央部分のたわみが大きくなるから、確実な搬送ができなくなるということがある。
【0007】
そこで、基板が大型化した場合には、搬送ローラによって基板を搬送せずに、1枚ずつ処理する、いわゆるバッチ方式の採用が検討されている。バッチ方式は周知のように処理槽内に処理液を収容し、この処理槽内に基板を浸漬することで、基板に所定の処理を行った後、基板を処理槽から引き上げ、次にリンス液で処理液を洗浄除去するようにしている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、基板を処理槽に単に浸漬するだけでは、基板に対して処理液が流動しないため、処理液が基板の全面に対して均一に反応しないということがあったり、反応時間が長くなるなどのことがある。
【0009】
さらに、基板を処理液に反応させたならば、その反応を止めるために処理槽から引き上げてリンス液で処理しなければならないため、作業性が悪いということがあるばかりか、処理液による処理が終わってからリンス液によってリンス処理するまでに時間が掛かるから、処理液が部分的に乾燥したり、処理液による反応を所定の状態で確実に止めることができないなどのことがあった。
【0010】
この発明は、処理液による基板の処理をバッチ方式で処理する場合に、基板の全面に対して処理液を均一に反応させることができるようにした基板の処理装置及び処理方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
この発明は、基板を処理液によって処理する基板の処理装置において、
上面が開口し内部に上記基板を着脱可能に保持する保持部が設けられた処理容器と、
この処理容器を一端部を支点として回動可能に支持した支持機構と、
上記処理容器内に上記基板を処理するための上記処理液を供給する処理液供給手段と、
上記処理容器内に保持されて上記処理液によって処理された基板の上下両面に向けてリンス液を供給するリンス液供給手段と、
上記処理液供給手段によって上記処理容器内に処理液を供給するときには上記処理液が上記処理容器内の基板の一端部から他端部に向かって浸漬するよう上記処理容器を他端部が上昇する方向に回動駆動し、所定量の処理液が供給されたならば上記他端部が下降する方向に回動駆動して処理容器から処理液を排出させる駆動機構と、
上記処理容器を上記駆動機構によって他端部が下降する方向に所定角度回動させたときに上記処理容器の他端部から排出される処理液を受ける第1の排液受け部と、
上記処理容器を上記所定角度と異なる角度で回動させて上記基板に上記リンス液供給手段によってリンス液を供給したときに、上記処理容器の他端部から排出されるリンス液を受ける第2の排液受け部と
を具備したことを特徴とする基板の処理装置にある。
【0012】
上記供給手段はアクアナイフであって、このアクアナイフは、上記基板の幅寸法と同等若しくはそれ以上の幅寸法のスリットを有し上記処理容器の一端部上方に配設されていることが好ましい。
【0015】
この発明は、基板を処理液によって処理する基板の処理方法において、
上面が開口した処理容器内に上記基板を供給してほぼ水平な状態で保持する工程と、
上記処理容器内に処理液を供給するときにこの処理容器の一端部を支点として他端部が上昇する方向に所定角度回動させ、上記処理容器内の基板を一端部から他端部に向かって上記処理液に浸漬させる工程と、
処理容器内に所定量の処理液を供給して上記基板を処理したならば、上記処理容器を他端部が下降する方向に回動させて上記処理容器から処理液を第1の排液受け部に排出させる工程と、
上記処理容器から上記処理液を排出したならば、上記処理容器を上記所定角度と異なる角度で回動させて上記基板にリンス液を供給するとともに、そのときに処理容器の他端部から排出されるリンス液を第2の排液受け部に排出させる工程と
を具備したことを特徴とする基板の処理方法にある。
【0018】
この発明によれば、処理容器を、処理液を供給するときには支持機構によって支持された一端部を支点として他端部が上昇する方向に回動し、所定量の処理液が供給されたならば他端部が低くなる方向に回動するようにしたことで、処理容器に処理液が所定量供給されるまでと、所定量供給された後で、それぞれ処理液が基板に対して流動するため、基板の全面をほぼ均一に処理することが可能となる。
【0021】
また、処理液とリンス液とを、処理容器の回動角度によって異なる箇所に排出できるようにしたことで、処理液を繰り返して使用することが可能となる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の一実施の形態を図面を参照して説明する。
【0023】
図1はこの発明の処理装置の概略的構成を示す斜視図であって、この処理装置は図中鎖線で示す箱型状の装置本体1を備えている。この装置本体1内には処理容器2が配設されている。この処理容器2は平面形状が矩形状で、上面が開口しし、一端部から他端部に向かって深さが次第に浅くなる箱型状に形成されている。
【0024】
上記処理容器2の一端部の外側面にはそれぞれ支軸3が設けられている。各支軸3は上記装置本体1の側壁に設けられた軸受4に回転自在に支持されている。それによって、処理容器2は装置本体1内に回動可能に配設されている。つまり、支軸3と軸受4とで処理容器2を回動可能に支持する支持機構を構成している。
【0025】
処理容器2の内底部には一対の短尺支持部材5と、一対の長尺支持部材6とが矩形状の基板7の四隅部を支持できる状態で立設されている。つまり、支持部材5,6の上端面には鉤型状の凹部5a,6aが形成され、上記基板7はこれらの凹部に四隅部を係合させて着脱可能に保持されるようになっている。
【0026】
処理容器2の底壁には複数の下部ノズル8が行列状に設けられている。これらのノズル8には純水などのリンス液が供給されるようになっている。それによって、処理容器2内に保持された基板7の下面をリンス処理できるようになっている。
【0027】
装置本体1内には、処理容器2に保持された基板7の対向して複数の上部ノズル9(図3(A)に示す)が配設されている。これら上部ノズル9からは基板7の上面にリンス液を供給するようになっている。
【0028】
さらに、装置本体1内には、処理容器2の一端部上方に対向してアクアナイフ11が配設されている。このアクアナイフ11は上記基板7の幅寸法と同等若しくはそれ以上の長さ寸法のスリット12が形成されていて、このスリット12から基板7の上面に向けて処理液が供給されるようになっている。つまり、アクアナイフ11は、基板7の幅方向全長に均一に処理液を噴射するようになっている。
【0029】
なお、処理液としては現像液、エッチング液、レジストの剥離液などである。
【0030】
上記処理容器2の側面に設けられた一方の支軸3は装置本体1の一側壁から外部に突出している。この支軸3の突出端にはアーム13の一端が連結固定されている。このアーム13の他端には駆動機構としてのリニアモータ14の駆動軸15が回動可能に連結されている。このリニアモータ14は適所(たとえば装置本体1が設置された図示しないベース板などの固定部16aに固定された取付け部材16に枢着されている。
【0031】
上記リニアモータ14の駆動軸15が没入方向のストロークエンドまで駆動された状態では、処理容器2は内部に保持された基板7がほぼ水平になっており、その状態から駆動軸15が突出方向に駆動されると、処理容器2は支軸3を支点として他端側が低く傾斜する方向に回動される。
【0032】
上記装置本体1の底部壁には排液受け部としての第1の排液口17と第2の排液口18とが形成されている。各排液口17,18は処理容器2の幅寸法と同等以上の流さ寸法を有し、第1の排液口17には第1の排液受け部21が接続され、第2の排液口18には第2の排液受け部22が接続されている。
【0033】
各排液受け部21,22は、図2に示すように漏斗部23と口体部24とを有し、耐食性を備えたフッ素樹脂などの合成樹脂によって上記漏斗部23と口体部24とがアール部25を介してたとえば真空成形などで一体成形されている。
【0034】
従来は漏斗部23と口体部24とを別々に成形し、これらを溶接によって一体化していた。そのため、溶接部分に応力が集中してクラックの発生原因となることがあった。
【0035】
これに対してこの発明では漏斗部23と口体部24とを一体成形するようにしているから、これらの境界部分に応力が集中し、クラックの発生を招くのを防止することができる。
【0036】
第1の排液受け部21の口体部24は、所定の処理液が貯蔵された第1の貯液タンク26に接続管27を介して配管接続されている。上記第1の貯液タンク26には図示しないポンプが接続され、このポンプによって第1の貯液タンク26内の処理液がアクアナイフ11に供給されるようになっている。
【0037】
上記第2の排液受け部22の口体部24は第2の貯液タンク28に接続管28aを介して接続されている。上記第2の貯液タンク28には図示しない排液管に接続され、この排液管を通じて後述するように第2の貯液タンク28に流入したリンス液を排出するようになっている。
【0038】
上記処理容器2の他端部に対向する上記装置本体1の一側壁には出し入れ口1aが形成されている。この出し入れ口1aと対向する装置本体1の外部にはスカラー型のロボット29が配設されている。このロボット29はハンド31を有し、このハンド31は上記出し入れ口1aから装置本体1内に進入できるようになっている。それによって、ロボット29は上記処理容器2に未処理の基板7を供給したり、処理された基板7を取り出すことができる。
【0039】
つぎに、上記構成の処理装置によって基板7を処理液で処理した後、リンス液でリンス処理する手順について図3(A)〜(E)を参照して説明する。
【0040】
まず、図3(A)に示すように、処理容器2をリニアモータ14によって基板7がほぼ水平になる角度に位置決めしたならば、ロボット29によって未処理の基板7を処理容器2へ供給し、その基板7の四隅部を支持部材5,6に係合させて処理容器2内に保持する。
【0041】
つぎに、図3(B)に示すように、処理容器2を一端部に設けられた支軸3を支点として他端部が上昇する方向に回動する。それと同時に貯液タンク26に貯えられた処理液L1 をアクアナイフ11に供給し、このアクアナイフ11から基板7の上面に噴射する。
【0042】
アクアナイフ11のスリット12の長さ寸法は、基板7の幅寸法と同等若しくはそれ以上であるから、基板7の幅方向に対して処理液L1 を均一に供給することができる。つまり、基板7の幅方向に、スリット12から供給される処理液によって処理むらが生じることがない。
【0043】
アクアナイフ11からの処理液L1 の供給を開始したならば、リニアモータ14によって処理容器2を支軸3に支持された一端部を支点として他端部が高くなる方向に傾けることで、基板7は水平状態から傾斜するとともに、処理液L1は処理容器2から流出せずに液面を上げてゆく。
【0044】
それによって、処理容器2内の基板7は、図3(B)に示すように一端部から他端部に向かって処理液L1 に徐々に浸漬する。そして、図3(C)に示すように処理容器2に所定量の処理液L1 が供給されることで、基板7は全体が処理液L1 に浸漬することになる。つまり、基板7は処理液L1 に埋没する。
【0045】
このように、基板7を傾斜させながら処理容器2内に処理液L1 を供給することで、処理容器2内の処理液L1 の液面は、基板7の上面と下面との一端から他端に沿って上昇(流動)するから、基板7と処理液L1 との反応が迅速かつほぼ均一に行われることになる。
【0046】
また、処理液L1 が基板7の下面に沿って液面を上昇させることで、基板7の下面に気泡が残留することがない。そのため、気泡の残留によって基板7の下面に処理液L1 との反応が確実に行われない個所が生じるのを防止できるから、そのことによっても、基板7の全面を処理液L1 と均一に反応させることが可能となる。
【0047】
基板7の全体が処理液L1 に浸漬したならば、図3(D)に示すように処理容器2を他端部が低くなる方向へ所定の角度で回動させる。つまり、処理容器2の下端が第1の排液口17に対向する角度に回動する。
【0048】
それによって、処理容器2内の処理液L1 は基板7の上面と下面とに沿って流動しながら処理容器2の他端部から流出し、装置本体1の底部に設けられた第1の排液口18及び第1の排液受け部22を通って第1の貯液タンク26へ排出される。
【0049】
処理容器2を傾斜させて処理液L1 を排出することで、処理液L1 は基板7の上面と下面とに沿って流動しながら流出する。このときの処理液L1 の流れ方向は、処理容器2に処理液L1 を貯えるときの液面の上昇方向と逆方向である。
【0050】
つまり、処理容器2に処理液L1 を貯えるときと、処理容器2から処理液L1 を排出するときとでは、基板7に対して処理液L1 が流動するばかりか、その流動方向が逆になる。
【0051】
そのため、処理容器2から処理液L1 を排出するときの処理液L1 の流動によって、基板7に対する処理液L1 の反応を迅速かつ均一に行うことができるばかりか、処理容器2から処理液L1 を排出するときの基板7に対する処理液L1 の流動方向は、処理液L1 を貯えるときと逆向きになるから、そのことによっても基板7に対する処理液L1 の反応状態の均一化を図ることができる。
【0052】
処理容器2から処理液L1 を排出し終えたならば、図3(E)に示すようにリニアモータ14によって処理容器2を図(3D)に示す所定角度からさらに下降方向に回動し、その下端を装置本体1の底部に設けられた第2の排液口18に対向させる。
【0053】
その状態で下部ノズル8と上部ノズル9とから基板7の下面と上面に向けてリンス液L2 を噴射する。それによって、基板7の上面と下面とに付着した処理液L1 が洗い流されるから、基板7が処理液L1 に反応するのを停止することができる。
【0054】
このように、処理容器2の傾斜角度を変えることで、処理液L1 による基板7の反応処理と、リンス液L2 によるリンス処理とを基板7の搬送を伴わずに連続的に行うことがことができるから、生産性の向上を図ることができるばかりか、リンス処理を行う前に基板7に付着した処理液L1 の一部が乾いてしみになり、リンス処理で除去できなくなるということもない。
【0055】
処理液L1 は第1の排液口17に排出され、リンス液L2 は第2の排液口18に排出される。そのため、処理液L1 にリンス液L2 が混合することがないから、処理液L1 を回収して再使用することができる。
【0056】
この発明は上記一実施の形態に限定されず、種々変形可能である。たとえば、処理容器を回動駆動する駆動手段はリニアモータに限られず、ロータリシリンダ、モータなどであってもよく、要は処理容器を支軸を介して所定の角度で回動駆動できる駆動源であればよい。
【0057】
【発明の効果】
この発明によれば、処理容器を、処理液を供給するときには支持機構によって一端部を支点として他端部が上昇する方向に回動し、所定量の処理液が供給されたならば他端部が低くなる方向に回動するようにした。
【0058】
そのため、処理容器に処理液Lが所定量供給されるまでと、所定量供給された後で、それぞれ処理液が基板に対して流動するため、基板の全面をほぼ均一に、しかも迅速に処理することが可能となる。しかも処理液の供給時と排出時とでは、基板に対する処理液Lの流動方向が逆向きになるから、そのことによっても基板に対して均一な処理を行うことが可能となる。
【0064】
また、処理液とリンス液とを、処理容器の回動角度によって異なる箇所に排出できるようにした。
【0065】
そのため、処理液にリンス液が混じるのを防止できるから、処理液を回収して繰り返し使用することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態の処理装置を示す概略的構成の斜視図。
【図2】第1、第2の排液受け部の断面図。
【図3】基板を処理する順序の説明図。
【符号の説明】
2…処理容器
3…支軸(支持機構)
7…基板
8…下部ノズル(リンス液供給手段)
9…上部ノズル(リンス液供給手段)
11…アクアナイフ(処理液供給手段)
12…スリット
14…リニアモータ(駆動機構)
17…第1の排液口(第1の排液受け部)
18…第2の排液口(第2の排液受け部)[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing an upper surface and a lower surface of a substrate with a processing liquid.
[0002]
[Prior art]
For example, in a manufacturing process of a liquid crystal display device, a circuit pattern is formed on a glass substrate by a photolithography technique. When forming a circuit pattern, a resist is applied to the substrate, the circuit pattern is exposed and developed on the resist, and etching and removal of the resist are performed on the substrate.
[0003]
When developing a circuit pattern, etching, removing a resist, and the like, a processing solution for reaction such as a developing solution, an etching solution, or a stripping solution is used. When a substrate is processed with these processing liquids, if the processing is performed for a predetermined time, a rinsing liquid is sprayed on the substrate to remove the processing liquid. Accordingly, the reaction by the processing liquid is stopped in a predetermined state so that the processing state for the substrate becomes an optimum state.
[0004]
In recent years, the processing for such a substrate has been increasingly adopted as a single wafer method which is highly productive and advantageous in terms of cost. As one of the single-wafer methods, a method is adopted in which a processing liquid is sprayed on the upper and lower surfaces of the substrate while being transported by a transport roller.
[0005]
In such a processing method, the transport rollers are arranged at predetermined intervals along the transport direction of the substrate, and the transport rollers are transported while holding both ends in the width direction of the substrate.
[0006]
By the way, recently, the size of the substrate tends to increase. When the substrate is increased in size, the substrate that is transported while being supported at both ends in the width direction by the transport roller may have a large deflection in the center portion in the width direction, and may not be reliably transported.
[0007]
In view of this, when a substrate becomes large, the adoption of a so-called batch method in which substrates are processed one by one without being transported by a transport roller is being studied. As is well known, the batch method contains a processing liquid in a processing tank, and after the substrate is immersed in the processing tank, a predetermined processing is performed on the substrate, and then the substrate is lifted from the processing tank and then rinsed. The cleaning solution is removed by washing.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, simply immersing the substrate in the processing tank does not cause the processing liquid to flow with respect to the substrate, so that the processing liquid may not react uniformly with the entire surface of the substrate, or the reaction time may increase. Sometimes.
[0009]
Furthermore, if the substrate is reacted with the processing liquid, it must be lifted from the processing tank and processed with the rinsing liquid in order to stop the reaction. Since it takes time until the rinsing treatment with the rinsing liquid after completion, the processing liquid may be partially dried or the reaction with the processing liquid may not be reliably stopped in a predetermined state.
[0010]
The present invention provides a substrate processing apparatus and a processing method capable of uniformly reacting a processing liquid over the entire surface of a substrate when processing the substrate with the processing liquid in a batch system. is there.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The present invention provides a substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid,
A processing container provided with a holding part that has an upper surface opened and detachably holds the substrate inside;
A support mechanism that rotatably supports the processing vessel with one end as a fulcrum;
A processing liquid supply means for supplying the processing liquid for processing the substrate into the processing container;
Rinsing liquid supply means for supplying a rinsing liquid toward the upper and lower surfaces of the substrate held in the processing container and processed by the processing liquid;
When the processing liquid is supplied into the processing container by the processing liquid supply means, the other end of the processing container is raised so that the processing liquid is immersed from one end of the substrate in the processing container toward the other end. A driving mechanism that rotates in the direction and rotates the second end when the predetermined amount of processing liquid is supplied to discharge the processing liquid from the processing container;
A first drain receiving part for receiving a processing liquid discharged from the other end of the processing container when the processing container is rotated by a predetermined angle in a direction in which the other end is lowered by the driving mechanism;
When the processing container is rotated at an angle different from the predetermined angle and the rinsing liquid is supplied to the substrate by the rinsing liquid supply means, a second liquid that receives the rinsing liquid discharged from the other end of the processing container is received. A substrate processing apparatus comprising a drainage receiving portion .
[0012]
Above Symbol supply means a aqua knife, the aqua knife, it is preferably disposed at one end above the processing container has a slit width dimension equal to or more the width of the substrate .
[0015]
The present invention provides a substrate processing method for processing a substrate with a processing liquid,
Supplying the substrate into a processing container having an open top surface and holding the substrate in a substantially horizontal state;
When supplying the processing liquid into the processing container, the processing container is rotated by a predetermined angle in a direction in which the other end rises with one end of the processing container as a fulcrum , and the substrate in the processing container is directed from the one end to the other end. Step of immersing in the treatment liquid,
When the substrate is processed by supplying a predetermined amount of the processing liquid into the processing container, the processing container is rotated in the direction in which the other end is lowered to receive the processing liquid from the processing container in the first drainage receptacle. The process of discharging the
When the processing liquid is discharged from the processing container, the processing container is rotated at an angle different from the predetermined angle to supply the rinsing liquid to the substrate, and at that time, the processing liquid is discharged from the other end of the processing container. And a step of discharging the rinsing liquid to the second drainage receiving part .
[0018]
According to this invention, when supplying the processing liquid, the processing container is rotated in the direction in which the other end rises with the one end supported by the support mechanism as a fulcrum, and a predetermined amount of processing liquid is supplied. By rotating the other end in a lowering direction, the processing liquid flows to the substrate until a predetermined amount of processing liquid is supplied to the processing container and after a predetermined amount is supplied. The entire surface of the substrate can be processed almost uniformly.
[0021]
In addition, since the processing liquid and the rinsing liquid can be discharged to different places depending on the rotation angle of the processing container, the processing liquid can be used repeatedly.
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0023]
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a processing apparatus of the present invention, and this processing apparatus includes a box-shaped apparatus
[0024]
A
[0025]
A pair of
[0026]
A plurality of
[0027]
In the apparatus
[0028]
Further, an
[0029]
The processing solution is a developer, an etching solution, a resist stripping solution, or the like.
[0030]
One
[0031]
In a state where the drive shaft 15 of the
[0032]
A
[0033]
As shown in FIG. 2, each
[0034]
Conventionally, the
[0035]
On the other hand, in this invention, since the
[0036]
The
[0037]
The
[0038]
A loading / unloading
[0039]
Next, a procedure for rinsing with the rinsing liquid after the
[0040]
First, as shown in FIG. 3A, when the
[0041]
Next, as shown in FIG. 3 (B), the
[0042]
Since the length dimension of the
[0043]
Once feed was started the treatment liquid L 1 from
[0044]
Thereby, the
[0045]
Thus, by supplying the processing liquid L 1 into the
[0046]
Further, since the processing liquid L 1 raises the liquid level along the lower surface of the
[0047]
If the whole of the
[0048]
Thereby, the processing liquid L 1 in the
[0049]
By discharging the treatment liquid L 1 by tilting the
[0050]
That is, when storing the processing liquid L 1 in the
[0051]
Therefore, the flow of the processing liquid L 1 when the processing liquid L 1 is discharged from the
[0052]
Once it finished discharging the processing liquid L 1 from the
[0053]
Injecting the rinsing liquid L 2 toward the the
[0054]
As described above, by changing the inclination angle of the
[0055]
The treatment liquid L 1 is discharged to the
[0056]
The present invention is not limited to the one embodiment described above and can be variously modified. For example, the driving means for rotationally driving the processing container is not limited to a linear motor, but may be a rotary cylinder, a motor, or the like. In short, it is a drive source that can rotationally drive the processing container at a predetermined angle via a support shaft. I just need it.
[0057]
【The invention's effect】
According to the present invention, the process vessel was rotated in a direction in which the other end is raised as a fulcrum an edge portion by the supporting mechanism when supplying the processing solution, if a predetermined amount of treatment liquid has been supplied The other end is rotated in a lowering direction.
[0058]
Therefore, since the processing liquid flows to the substrate until the predetermined amount of processing liquid L is supplied to the processing container and after the predetermined amount is supplied, the entire surface of the substrate is processed almost uniformly and quickly. It becomes possible. Moreover, since the flow direction of the processing liquid L with respect to the substrate is reversed between the time when the processing liquid is supplied and the time when the processing liquid is discharged, it is possible to perform uniform processing on the substrate.
[0064]
Further, the processing liquid and the rinsing liquid can be discharged to different locations depending on the rotation angle of the processing container.
[0065]
Therefore, since it is possible to prevent the rinse liquid from being mixed with the treatment liquid, the treatment liquid can be collected and used repeatedly.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view of a schematic configuration showing a processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view of first and second drainage receptacles.
FIG. 3 is an explanatory diagram of an order in which substrates are processed.
[Explanation of symbols]
2 ... Processing
7 ...
9 ... Upper nozzle (rinsing liquid supply means)
11 ... Aqua knife (treatment liquid supply means)
12 ...
17 ... 1st drainage port (1st drainage receiving part)
18 ... Second drainage port (second drainage receiving portion)
Claims (3)
上面が開口し内部に上記基板を着脱可能に保持する保持部が設けられた処理容器と、
この処理容器を一端部を支点として回動可能に支持した支持機構と、
上記処理容器内に上記基板を処理するための上記処理液を供給する処理液供給手段と、
上記処理容器内に保持されて上記処理液によって処理された基板の上下両面に向けてリンス液を供給するリンス液供給手段と、
上記処理液供給手段によって上記処理容器内に処理液を供給するときには上記処理液が上記処理容器内の基板の一端部から他端部に向かって浸漬するよう上記処理容器を他端部が上昇する方向に回動駆動し、所定量の処理液が供給されたならば上記他端部が下降する方向に回動駆動して処理容器から処理液を排出させる駆動機構と、
上記処理容器を上記駆動機構によって他端部が下降する方向に所定角度回動させたときに上記処理容器の他端部から排出される処理液を受ける第1の排液受け部と、
上記処理容器を上記所定角度と異なる角度で回動させて上記基板に上記リンス液供給手段によってリンス液を供給したときに、上記処理容器の他端部から排出されるリンス液を受ける第2の排液受け部と
を具備したことを特徴とする基板の処理装置。In a substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid,
A processing container provided with a holding portion for opening the upper surface and detachably holding the substrate inside;
A support mechanism that rotatably supports the processing container with one end serving as a fulcrum;
A processing liquid supply means for supplying the processing liquid for processing the substrate into the processing container;
Rinsing liquid supply means for supplying a rinsing liquid toward the upper and lower surfaces of the substrate held in the processing container and processed by the processing liquid;
When the processing liquid is supplied into the processing container by the processing liquid supply means, the other end of the processing container is raised so that the processing liquid is immersed from one end of the substrate in the processing container toward the other end. A driving mechanism that rotates in the direction and rotates the second end when the predetermined amount of processing liquid is supplied to discharge the processing liquid from the processing container;
A first drain receiving part for receiving a processing liquid discharged from the other end of the processing container when the processing container is rotated by a predetermined angle in a direction in which the other end is lowered by the driving mechanism;
When the processing container is rotated at an angle different from the predetermined angle and the rinsing liquid is supplied to the substrate by the rinsing liquid supply means, a second liquid that receives the rinsing liquid discharged from the other end of the processing container is received. An apparatus for processing a substrate, comprising: a drainage receiving unit .
上面が開口した処理容器内に上記基板を供給してほぼ水平な状態で保持する工程と、
上記処理容器内に処理液を供給するときにこの処理容器の一端部を支点として他端部が上昇する方向に所定角度回動させ、上記処理容器内の基板を一端部から他端部に向かって上記処理液に浸漬させる工程と、
処理容器内に所定量の処理液を供給して上記基板を処理したならば、上記処理容器を他端部が下降する方向に回動させて上記処理容器から処理液を第1の排液受け部に排出させる工程と、
上記処理容器から上記処理液を排出したならば、上記処理容器を上記所定角度と異なる角度で回動させて上記基板にリンス液を供給するとともに、そのときに処理容器の他端部から排出されるリンス液を第2の排液受け部に排出させる工程と
を具備したことを特徴とする基板の処理方法。In a substrate processing method of processing a substrate with a processing liquid,
Supplying the substrate into a processing container having an open top and holding the substrate in a substantially horizontal state;
When supplying the processing liquid into the processing container, the processing container is rotated by a predetermined angle in a direction in which the other end rises with one end of the processing container as a fulcrum , and the substrate in the processing container is directed from the one end to the other end. Step of immersing in the treatment liquid,
When the substrate is processed by supplying a predetermined amount of the processing liquid into the processing container, the processing container is rotated in the direction in which the other end is lowered to receive the processing liquid from the processing container in the first drainage receptacle. The process of discharging the
When the processing liquid is discharged from the processing container, the processing container is rotated at an angle different from the predetermined angle to supply the rinsing liquid to the substrate, and at that time, the processing liquid is discharged from the other end of the processing container. And a step of discharging the rinsing liquid to the second drainage receiving part .
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