JP4450154B2 - Measurement processing equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、所定の物理量を測定するセンサの計測領域に複数の対象物を順に導いて、各対象物にそれぞれ所定の計測処理を実行する技術に関する。特に、この発明は、光電センサ、変位センサなど、出力信号のレベル変化によって対象物を検出するタイプのセンサからの出力を入力しながら、このセンサの検出領域に順に搬送される同一種の対象物に対する計測処理を順次実行して、その結果を上位機器に出力する計測処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
たとえば、工場の検査ラインでは、コンベアの近傍に測定用のセンサを設置し、順次搬送されるワークに対するセンサからの信号を処理して、ワークの良否を判別するようにしている。図17は、この種の検査の一例を示す。
【0003】
図示例は、蓋付きの瓶6を検査対象として、蓋部6aが傾いて装着されていたり、装着が不十分な状態になっていないかどうかを検査するもので、透過式の測長センサを2組使用する。各センサの投光部30A,30Bおよび受光部40A,40Bは、図示しない搬送コンベアを介して対向配備される。また、各投光部30Aと30B、受光部40Aと40Bは、それぞれ検査対象の瓶6の幅に対応する間隔を隔てて配備される。
【0004】
各投光部30A,30Bは、それぞれ瓶本体6bの肩部から蓋部6aまでの範囲にかかる帯状光70A,70Bを発するように構成されている。また、この図には示していないが、これら投受光部の配備位置の近傍には、計測のタイミングをはかるためのタイミングセンサ203(つぎの図18に示す。)が配備される。
【0005】
図18は、前記検査に使用されるシステムの概略構成を示す。
図中、検出部200Aは前記投光部30Aおよび受光部40Aにより、検出部200Bは前記投光部30Bおよび受光部40Bにより、それぞれ構成される。これらの検出部200A,200Bは、それぞれ信号処理部201A,201Bに接続される。各信号処理部201A,201Bは、前記タイミングセンサ203からのトリガ信号に応じて、受光部40A,40Bからの出力信号を取り込む。そして、この受光信号に増幅処理やA/D変換処理を施すことにより、受光量を示す測定データを生成する。各信号処理装置201A,202Bからの測定データは、PLC(プログラマブルコントローラ)などの上位機器204に入力され、検査のための演算処理や測定処理が行われる。
【0006】
上記の検査は、瓶6の両側部が各帯状光70A,70Bの照射エリアに入るタイミングで各センサで取得された受光量を処理することにより行われる。ここで、各受光部40A,40Bは、図19に示すように、瓶本体6bと蓋部6aとの間の空間を通過する光の量を前後位置で個別に測定するように設定される。ここで蓋部が傾いている場合には、図19に示すように、瓶本体6bと蓋部6aとの間の空間を通過する帯状光70A,70Bの量は、前方側と後方側とで異なるものとなる。前記上位機器204は、上記の原理に基づき、各受光部30A,30Bの受光量を相互に比較したり、各受光量を所定の基準値と比較することによって、蓋部6aに傾きや浮きが生じていないかどうかを判断する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上記の検査では、各検出部200A,200Bを瓶6の幅に応じた間隔をもって配備する必要があるため、幅の異なる複数種の瓶を検査対象とする場合、検査対象が替わる都度、検出部200A,200Bの間隔を調整しなければならない、という問題が生じる。
【0008】
透過式の測長センサを使用した検査以外でも、類似する問題が発生する。たとえば、変位センサを用いてワークの形状を検査する場合、従来の検査では、ワーク上の所定の検出範囲における検出距離の最大値や最小値を抽出するが、複数の段部間における段差を相互に比較したり、離れた段部間の距離を求めるのは困難である。また、このような検査のために複数のセンサを組み合わせると、前記図17の検査と同様に、各センサの位置決め調整に手間がかかり、検査対象のワークが替わる都度、調整を行わなければならなくなる。
【0009】
また、上位機器は、一般に、検査のための処理を行うだけでなく、種々の信号を入力したり、他の装置との通信を行いながら、複数の駆動系を制御する。このような装置では、検査以外の制御を行いながらセンサからの入力に速やかに応答するのは困難であり、多数のワークを高速で搬送しつつ計測処理を行う上で制約が生じる。
【0010】
この発明は上記問題点に着目してなされたもので、センサと上位機器との間に介在して、センサからの出力に高速で応答できるとともに、種々の目的に応じた計測処理を実行できるような装置を提供することを目的とする。
また、この発明は、計測対象が替わったり、複雑な形状の対象物を計測する場合でも、センサの位置決め調整にかかる時間や労力を省き、計測処理を迅速に再開できるようにすることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
この発明にかかる計測処理装置は、出力信号のレベル変化によって対象物を検出するタイプのセンサに接続され、このセンサの検出領域に所定の間隔をもって順に搬送される同一種の対象物に対し、前記センサからの出力信号を用いた計測処理を実行するもので、前記センサからの出力信号を入力するための入力回路と、入力回路が入力した信号が示す測定値データを蓄積するためのメモリと、計測処理のための演算回路と、前記演算回路の処理結果を外部に出力するための出力回路とが、単一の筐体内部に収容されるとともに、出力端子を含むコネクタまたは出力信号線を含むケーブルを前記筐体の外部に露出させて成る。また、この計測処理装置には、測定値データについて、前記メモリへのデータ蓄積期間の開始点および終了点を特定するためのトリガレベルの設定値が少なくとも1つ登録される第1の登録手段と、前記トリガレベルにより特定されるデータ蓄積期間の標準の長さが、当該データ蓄積期間中に生じた測定値データを一定の時間毎に前記メモリに蓄積した場合に蓄積されるデータ数Tにより登録されると共に、この標準の長さのデータ蓄積期間の中で計測対象の測定値データに対応する時点または計測対象の測定値データに対応する期間の開始点ならびに終了点が、前記データ蓄積期間の開始点から該当する時点までに前記メモリに蓄積されるデータ数により登録される第2の登録手段とが、さらに設けられる。前記演算回路は、毎時の測定値データを前記第1の登録手段に登録されたトリガレベルと比較することにより前記データ蓄積期間の開始点および終了点を判別しつつ、開始点から終了点までの間に生じた測定値データを前記一定の時間毎に前記メモリに蓄積するデータ蓄積手段と、前記データ蓄積手段によりメモリに蓄積されたデータ数T1と前記データ蓄積期間の標準の時間長さを示すデータ数Tとの比率に基づき、前記計測対象の測定値データに対応する時点または対応する期間の開始点ならびに終了点につき前記第2の登録手段に登録されたデータ数を調整し、その調整後のデータ数に対応する時点または期間の測定値データを前記メモリから読み出して、読み出したデータを用いた演算処理を実行する演算手段とを具備する。また、出力回路は、前記演算回路がデータ蓄積期間の開始点および終了点を判別して当該データ蓄積期間に蓄積された測定値データを用いた演算処理を終了する都度、その演算処理結果を前記出力端子または出力信号線に出力する。
【0012】
この発明で言うところの「センサ」は、光量、磁場の変化、電波の強さ、振動量など、種々の物理量を測定する機能を具備するものであり、単独の検出部、または前記透過式の測長センサの投受光部のように複数の検出部を具備するものである。前記検出部は、測定した物理量を電気信号に変換して出力することができる。また、前記電気信号をディジタル変換して出力することもできる。
【0013】
また、前記センサは、検出部と信号処理部とが分離したタイプに構成される場合もある。信号処理部は、検出部により測定された物理量を示す値(測定値)をディジタルデータとして出力する機能を具備するのが望ましい。さらに、この信号処理部は、測定値に所定の補正処理を施して出力したり、移動平均処理などにより平均化された測定値を出力するように構成することもできる。また、前記測定値を計測処理に使用するのに適した形態に変換することもできる。たとえば、光学式の変位センサにおいて、受光部からの信号を距離データに変換する処理がこれに相当する。
【0014】
上記の計測処理装置において、入力回路は、センサ側の出力形態に応じて、アナログ信号またはディジタル信号を入力するように構成することができる。また、どのようなセンサにも対応できるように、アナログ,ディジタル双方の入力回路を含ませることもできる。
【0015】
演算回路はコンピュータにより構成するのが望ましい。また前記メモリは、このコンピュータの内蔵メモリ領域に設定することができる。または、前記コンピュータの外付けのメモリ装置内に設定することもできる。なお、演算回路が実行する演算処理は、計測処理の目的に応じて種々設定することができるが、検査の目的で使用される場合には、対象物の良否を判別する処理まで含ませることができる。
【0016】
前記出力回路は、PLC、パーソナルコンピュータなどの上位機器への出力を行うものであるのが望ましい。これは、工場の製造ラインや検査ラインなどで、多数の対象物に対する計測処理を行いながら、その計測結果を上位機器で使用するようにしたシステムに対応できるようにするためである。
【0017】
前記コネクタまたはケーブルは、この計測処理装置を上位機器に接続するためのもの、と考えることができる。コネクタを使用する場合には、オプションのケーブルを介して前記上位機器に接続することができる。ケーブルを使用する場合には、そのケーブルを直接、または延長ケーブルを介して上位機器に接続することができる。
なお、前記コネクタには、出力端子のほか、上位機器からの信号を受ける入力端子を含ませることもできる。同様に、前記ケーブルには、出力信号線のほかに、上位機器からの信号を伝える入力信号線を含ませることができる。
【0018】
上記の計測処理装置によれば、前記入力回路を介してセンサからの出力を入力しつつ、対象物がセンサの検出領域を通過する間にセンサから入力した信号が示す測定値データを一定の時間毎にメモリに蓄積しておき、一対象物にかかるデータの蓄積が終了してから、蓄積された測定値データの中から計測対象の測定値データを読み出して詳細な計測処理を行うことができる。また、一対象物にかかる計測処理が終了する都度、その処理結果を上位機器に出力するので、前記図17に示したような蓋部の傾きや浮きを検出したり、対象物の形状の変化を検出するような場合でも、単独のセンサによる測定結果を用いて計測処理を行うことが可能となる。
【0019】
さらに上記の計測処理装置では、計測対象のデータに対応する時点または対応する期間の開始点ならびに終了点を、データ蓄積期間の開始点から該当する時点までにメモリに蓄積されるデータ数により第2の登録手段に登録し、このデータ数を、実際のデータ蓄積期間の長さを表すデータ数T1と第2の登録手段に登録された標準の長さを表すデータ数Tとの比率に基づき調整し、調整後のデータ数に対応する測定値データを用いた演算を実行するので、対象物の搬送速度が変化した場合でも、計測処理に適したデータによる演算を実行することができる。
【0020】
上記計測処理装置の好ましい態様では、演算手段は、前記計測対象の測定値データに対応する時点または対応する期間の開始点ならびに終了点を調整する処理として、該当する時点につき前記第2の登録手段に登録されたデータ数tに、データ蓄積期間の標準の長さを示すTに対するデータ数T1の比率(T1/T)を乗算する演算を実行する。
【0021】
たとえば、対象物の移動速度が変化して、データ蓄積期間の長さを示すデータ数が前記TからT1に変化し、この対象物について、前記期間の開始からx番目のデータが計測対象箇所に対応するものとすると、前記xは、下記の(A)式により算出することができる。
x=(T1/T)×t ・・・(A)
【0022】
よって、前記データ蓄積期間の長さが変化した場合には、演算手段は、上記(A)式を用いて算出したxの値に基づき計測対象の測定値データをメモリから読み出すことができる。また、所定期間内の測定値データを用いた演算を実行する場合にも、この期間の開始点および終了点につき、上記(A)式を適用して実際のデータ蓄積期間における対応点を示すデータ数を調整することによって、計測対象の測定値データをメモリから読み出すことができる。
【0023】
上記計測処理装置の他の態様では、第1の登録手段に登録されるトリガレベル、および第2の登録手段に登録される情報を入力するための入力手段が、さらに設けられる。
【0024】
トリガレベルの入力は、数値入力により行うことができる。または、モデルの対象物を測定した際のセンサからの信号が示す測定値データを表示し、その表示が所定の数値になったときの確定操作によって、前記表示された数値をトリガレベルとして入力することもできる。また第2の登録手段に登録される情報の入力も、モデルのワークに対する測定値データを表示しながら行うことができる。
【0025】
上記計測処理装置の他の態様では、データ蓄積手段によりデータ蓄積期間の終了点が判別されてからの経過時間を計測する計測手段と、この計測手段により計測された時間が所定の基準時間を超えたときにエラー情報を出力するエラー出力手段とが、さらに設けられる。
【0026】
上記の計測手段およびエラー出力手段によれば、対象物に異常が生じて測定値データがトリガレベルに到達しなかったために、データ蓄積期間の開始点を判別できなかった場合でも、異常を見逃されるのを防止することができる。
【0037】
【発明の実施の形態】
図1は、この発明が適用された検査システムの例を示す。
この検査は、蓋付きの瓶61,62・・・を検査対象として、蓋部6aが傾いて装着されている不良(傾き)や、蓋部6aが不十分な状態で装着されている不良(浮き)を検出するためのものである。図中の5は、検査対象の瓶61,62・・・(以下、「ワーク」という場合もある。)を搬送するコンベアである。このコンベア5の所定位置には、透過式の測長センサの検出部を構成する投光部3と受光部4とが幅方向に沿って対向配備される。なお、これらの投光部3、受光部4は、後記する信号処理部2に電気接続される。
【0038】
前記投光部3は、受光部4に向けて所定幅の帯状光7を発光しており、受光部4は、前記信号処理部2の制御を受けて、所定の時間間隔毎に受光量を取得する。前記帯状光7は、計測対象の瓶本体6bの肩部から蓋部6a全体にかかるように、出射位置および出射範囲が調整される。
【0039】
信号処理部2は、受光部4から受光量を示すアナログ信号を入力しつつ、この信号に増幅処理やディジタル変換処理を施すことによって、受光量を示すディジタルデータを生成する。以後、このディジタルデータのことを「受光データ」と呼び、受光データの示す値を「測定値」と呼ぶことにする。毎時の受光データは、この発明にかかる計測処理装置1に入力される。計測処理装置1は、蓋部6aの傾きや浮きの有無を判断するのに必要な計測処理をワーク毎に実行し、各ワークの良否を判断する。その判別結果や計測処理結果は、PLCやパーソナルコンピュータなどの上位機器(図示せず。)に出力される。上位機器は、この出力を受けて、後段の修正ラインに回収すべき不良ワークを報知したり、不良の内容を示す情報を出力するなどの処理を実行する。
【0040】
図2は、前記検査システムに用いられる計測処理装置1および信号処理部2の外観を示す。なお、信号処理部2は、一般に「アンプ部」と呼ばれるものである。
計測処理装置1、信号処理部2の機体は、同一規格の筐体10により構成される。各筐体10の内部には、マイクロコンピュータや外部機器に対する入出力回路などが搭載された基板が組み込まれ、上面には、後記する表示部102や入力部103が配備される。なお、この上面は、開放可能なカバー体11により保護されている。
【0041】
前記筐体10の両側面には、それぞれ開口部12が形成されている。これらの開口部12には、それぞれスライド式の蓋部13が設けられるとともに、その内部には、雌型のコネクタ14が配備される。
【0042】
計測処理装置1と信号処理部2とは、それぞれの側面の間に中継基板(図示せず。)を介在させた状態で接続される。この接続のために、中継基板の両面には、それぞれ各筐体10内のコネクタ14,14に係合する雄型のコネクタが設けられる。なお、各筐体10の中継基板に接続されない側の開口部12には、通常は前記蓋部13が被せられる。
【0043】
前記筐体10の各端面からは、それぞれ接続用のケーブル15,16a,16bが引き出しされる。計測処理装置1、信号処理部2に共通するケーブル15には、電源ラインのほか、後記するタイミング信号などにかかる外部入力ラインや、処理結果を出力するための出力ラインなどが含まれる。また、これらケーブル15の先端には、図3,4に示すコネクタ19が設けられる。
【0044】
他方の端面からのケーブルは、装置によって異なる。信号処理部2側のケーブル16bは、センサの検出部に接続するためのもので、先端にはセンサ用のコネクタ17が設けられる。なお、図1の投光部3および受光部4は、分岐コネクタを具備するケーブル(図示せず。)を介してこのコネクタ17に接続される。
他方、計測処理装置1側のケーブル16aは、前記した上位機器に接続するためのもので、先端には、RS−232C規格の接続コネクタ18が配備される。
【0045】
図3は、前記計測処理装置1の電気構成を示す。
この計測処理装置1は、制御主体であるCPU100に、EEPROM101、表示部102、入力部103、2個の通信処理回路104,104、検出部用処理回路105、外部入力回路106、アナログ出力回路107、ディジタル出力回路108、RS−232C規格のインターフェース回路109(以下、単に「インターフェース回路109」という。)、リセット回路110などが接続されて成る。
【0046】
前記CPU100は、プログラムなどが格納されたROM、および計測処理時に発生する作業用のデータを一時保存するためのRAMを含む。前記EEPROM101は、後記するトリガレベルなどの設定値を記憶するためのものである。また、前記CPU100の内蔵RAMには、受光データを蓄積するためのメモリ領域(以下、便宜上、「バッファ」という。)が設けられる。
入力部103は、前記設定値の入力などに使用される。また、表示部102は、この設定値の入力を支援する情報や設定内容を確認する情報を表示するほか、計測処理時にワーク毎の処理結果を表示することもできる。
【0047】
通信処理回路104は、前記CPU100とコネクタ14との間に介装されるもので、信号処理部2との間で前記受光データを入力するための通信を実行するのに用いられる。なお、この通信処理回路104には、電源非投入時の電流の流入を防止する回路が含まれる。また、インターフェース回路109は、前記上位機器との通信を行うためのもので、前記ケーブル16aを介してコネクタ18に接続される。
【0048】
検出部用処理回路105は、この計測処理装置1を前記光電センサの投受光部3,4に直接接続する際に使用されるもので、投光部3に対する駆動回路、受光部4からの信号を受ける増幅回路、増幅された受光信号をディジタル変換するためのA/D変換回路などが含まれる。
【0049】
外部入力回路106は、外部のタイミングセンサからトリガ信号を入力する際などに用いられる。アナログ出力回路107は、前記信号処理部2から受け入れた受光データやCPU100による計測処理の結果などをアナログ変換して出力するためのものである。ディジタル出力回路108は、CPU100の判別処理結果などを示すディジタルデータを出力するためのものである。なお、外部入力回路106、アナログ出力回路107、ディジタル出力回路108からの信号線は、前記ケーブル15内に含まれる。
【0050】
図4は、前記信号処理部2の電気構成を示す。
この信号処理部2は、前記上位機器へのインターフェース回路109が設けられていないが、その他は、計測処理装置1と同様の構成を具備する。よって図4では、各構成を、図3の対応する構成と同じ数字にAを付けた符号により示す。
【0051】
図1の検査システムでは、前記投受光部3,4は、信号処理部2側の検出部用処理回路105Aに接続される。計測処理装置1は、前記コネクタ14や通信処理回路104を介して、信号処理部2からの受光データを入力し、検査のための演算処理や判定処理を実行する。なお、以下では、この演算処理と判定処理とを一括して言う場合に「計測処理」という。
【0052】
前記計測処理の結果は、インターフェース回路109を介して上位機器に出力される。なお、アナログ出力回路107やディジタル出力回路108を介して、2台目の上位機器または上位機器以外の装置に計測処理結果を出力することもできる。信号処理部2でも、同様に、アナログ出力回路107Aやディジタル出力回路108Aを用いて、計測処理装置1以外の装置に測定データなどを出力することができる。
【0053】
また、計測処理装置1は、両側のコネクタ14,14を用いて2個の信号処理部2,2を接続し、これら信号処理部2,2に対する計測処理を個別に実行することができる。また、図1のような検査を行う場合には必要ないが、信号処理部2は、計測処理装置1に接続されたのとは反対側のコネクタ14を介して、他の信号処理部2を接続することができる。この場合の信号処理部2は、接続された他の信号処理部2からの測定データを入力して、この入力値と自装置での測定値とを用いた演算処理(たとえば差分演算や平均値の算出など)を実行し、その演算結果を計測処理装置1に送信することができる。
【0054】
また、前記計測処理装置1に信号処理部2を接続せずに、前記投光部3および受光部4を直接接続することもできる。この場合の計測処理装置1には、前記ケーブル16aに代えて、ケーブル16bを接続するので、上位機器への出力は、前記アナログ出力回路107やディジタル出力回路108を用いて行われるようになる。
【0055】
図5は、前記図1の検査における測定値の変化の例を、計測処理の方法とともに示す。
図1のような光学系の設定によれば、ワークが帯状光7に入るまでは、測定値は一定に維持され、ワークが帯状光7に入ると、蓋部6aや瓶本体6bにより帯状光7が遮光された分だけ、測定値が減少するようになる。この実施例では、前記ワークが帯状光7に入ってから帯状光7を通過し終わるまでの測定値の変化曲線の中から、瓶本体6bと蓋部6aとの間に空間が介在する部分とこの空間がなくなる部分との境界に対応する特徴点を抽出するようにしている。図中、Aは、前方側の境界に対応する特徴点であり、Bは、後方側の境界に対応する特徴点である。
【0056】
前記計測処理装置1には、あらかじめ、ワークが帯状光7に入った直後の測定値に対応するレベルL1がトリガレベルとして設定される。計測処理装置1のCPU100は、毎時の受光データを入力しつつ、測定値が前記トリガレベルL1以下となる期間をワークが前記帯状光7に入ってから帯状光7を通過し終わるまでの期間とする。そして、トリガレベルL1に基づき、この期間の開始点および終了点を判別しつつ、期間内の受光データを内蔵RAMに蓄積するようにしている(以下、この受光データを蓄積する期間を「データ蓄積期間」という。)。さらに、1ワークに対する受光データの蓄積が終了すると、蓄積された測定値の示す波形に微分処理を施すなどして、図中の特徴点A,Bを抽出する。
【0057】
さらにCPU100は、各特徴点A,Bに対応する測定値からそれぞれ所定の基準値を差し引く演算や、各測定値間の差を求める演算を実行する。ここで、蓋部6aに傾きや浮きがなければ、いずれの演算結果もゼロに近似する値になると考えられる
【0058】
なお、前記内蔵RAMには、前記受光データを蓄積するためのバッファが2つ設けられる。CPU100は、図6に示すように、各バッファに対するデータ蓄積処理を順に行うことにより、一方のバッファに受光データを蓄積する間に、他方のバッファに蓄積し終えた受光データを用いた計測処理を実行するようにしている。このように、データ蓄積処理と計測処理とを並列させて実行することにより、各ワークの間隔が短く設定されていたり、ワークが高速で搬送される場合にも、それぞれのワークに対する計測処理を問題なく進行させることができる。
【0059】
図7は、前記受光データに対するデータの蓄積期間の他の設定例を示す。これらの例は、前記ワークが帯状光7に入ってから帯状光7を通過し終わるまでの期間、言い換えれば、受光データを蓄積することが可能な期間中の一部の期間をデータ蓄積期間としたものである。
【0060】
図7(1)では、前記帯状光7をワークが通過する間に得られる測定値の変化の範囲に2つのトリガレベルL1,L2を設定し、測定値がこれらのトリガレベルL1,L2の間にある2つの期間TA,TBをデータ蓄積期間としている。第1のトリガレベルL1は、図5の例と同様に、ワークが帯状光7に入った直後または帯状光7を通過する直前の測定値に応じて設定される。また、第2のトリガレベルL2は、前記特徴点A,Bが取り得る最小の値とワークが帯状光7を通過する間に得られる最小の受光量L0との中間位置付近に設定される。よって期間TAには前記特徴点Aが、期間TBには前記特徴点Bが、それぞれ含まれるようになる。
【0061】
図7(2)では、図5の例と同様に、ワークが帯状光7に入った直後の測定レベルに基づき、単独のトリガレベルL1のみを設定する。ただし、この例では、測定値がトリガレベルL1以下となる期間内において、所定の時間間隔を隔てた2つの期間TA,TBをデータ蓄積期間とする。期間TAは、前記特徴点Aを含む期間に、期間TBは、前記特徴点Bを含む期間に、それぞれ相当する。これらの期間は、たとえば、モデルのワークを計測して、各特徴点A,Bに対応する測定データが得られる時点を抽出し、その時点を示すデータを入力部103から入力することにより設定される。なお、信号処理部2からの受光データは、一定の時間間隔毎に入力されるので、前記期間TA,TBの長さは入力されたデータ数に換算することができる。よって、CPU100は、前記測定値がトリガレベルL1に達した時点を起算点として毎時の入力データを計数し、この計数値が期間TAや期間TBに対応する数値範囲にあるときに前記入力データの蓄積処理を行うようにしている。
【0062】
上記図7(1)(2)の例によれば、ワークが帯状光7を通過する間に得られる受光データの中から、特徴点A,Bが含まれる期間を個別に絞り込んで受光データを蓄積することができる。よって、蓄積データ数を削減でき、バッファの容量を節約することができる。特に、口幅の狭い瓶から口幅の広い瓶に替わるなどした場合、前記図5の設定では、蓄積されるデータ数が大きくなるが、その増加分の大半は、特徴点A,Bの抽出に関係のない範囲(図7に符号Sにより示す範囲)に含まれるものとなる。これに対し、図7(1)(2)のような設定によれば、適正な設定値を設けることにより、計測に必要な変化が現れる期間を絞り込んで受光データを蓄積することができるから、範囲Sの長さが変化しても、蓄積データ数を大きく変化させることなく、効率の良いデータ処理を行うことができる。
【0063】
つぎの図8,9,10は、前記図5および図7(1)(2)の各方法を用いる場合の計測処理装置1の処理手順を示す。なお、計測処理装置1は、これら図8〜10のいずれかの手順を選択的に実行するものであるが、ここでは、ステップの混同を避けるために、図8の手順はステップ1から、図9の手順はステップ21から、図10の手順はステップ41から、それぞれ開始されるものとする。また、以下の説明および図では、ステップを「ST」として示す。
【0064】
まず、図5の方法に対応する図8の手順を実施する際には、受光データを蓄積するための配列D(i)と、毎時の受光データが示す測定値を一時保存するための変数Mとを用意する。なお、前記図6の処理を実行する場合には、前記配列D(i)は2つの配列により構成され、1ワークに対する処理が終了する都度、使用する配列が切り替えられることになる。これは、つぎの図9,10における配列D1(i),D2(j)についても同様である。
【0065】
図8のST1〜11は、ワーク毎に実行されるもので、最初に、ST1でiを初期値の「1」に設定した後、つぎのST2で測定値を取得し、前記変数Mに格納する。以下、このMを「測定値M」という。
【0066】
ST3では、前記測定値MをトリガレベルL1と比較する。ここで、測定値MがL1より大きければ、ST3が「NO」となってST2に戻り、つぎの測定値を取得する。以下同様にして、測定値MがL1以下になるまで、毎時の測定値を取得し続けることになる。
【0067】
測定値MがL1以下になると、ST4に進み、このMを最初の蓄積データ(D(1))として保存する。つぎにST5では、再び測定値を取得する。以後は、ST6からST7、ST8に順に進んでST5に戻ることにより、毎時の測定値を順に蓄積する。
【0068】
所定の時点で取得した測定値MがL1より大きくなると、ST6からST9に進み、前記蓄積された受光データを用いて、前記特徴点A,Bを抽出するための微分演算や、各特徴点A,Bに対応する測定値を用いた差分演算などを実行する。さらにつぎのST10では、差分演算の結果に基づき、ワークの良否を判別し、ST11でその判別結果を出力する。なお、ST10で「不良」と判別された場合には、ST11では、演算結果も合わせて出力することができる(図8,9,10の出力処理でも同様である。)
【0069】
図7(1)に対応する図9の手順を実行する場合には、前記期間TAにかかる受光データを蓄積するための配列D1(i)と、前記期間TBにかかる受光データを蓄積するための配列D2(j)とを用意する。最初のST21では、i,jを初期値の「1」に設定した後、つぎのST22で測定値を取得し、続くST23でその測定値MをトリガレベルL1,L2と比較する。そして、測定値MがL2≦M≦L1の条件を満たした時点を期間TAの開始点とみなして、受光データの蓄積を開始する(ST24)。以下、ST25〜28において、前記図8のST5〜8に準じる処理を実行することにより、期間TAにかかる受光データを蓄積する。
【0070】
期間TAにかかるデータ蓄積処理が終了すると、測定値Mが再びL2≦M≦L1の条件を満たすまで、ST29およびST30を繰り返し実行する。そして、測定値Mが前記の条件を満たすようになると、期間TBにかかる受光データを蓄積する(ST31〜35)。
【0071】
このようにして期間TA,TBにかかる受光データの蓄積が終了すると、以後は、蓄積された受光データを用いた演算処理(ST36)、演算結果に基づく判別処理(ST37)、判別結果の出力(ST38)を順に実行し、1ワークにかかる処理を終了する。
【0072】
つぎに図7(2)に対応する図10の手順を実行する際にも、図9の場合と同様に、期間TAにかかる受光データを蓄積するための配列D1(i)と、期間TBにかかる受光データを蓄積するための配列D2(j)とを用意する。
【0073】
この実施例では、ST41において、i,jの初期値を「0」に設定した後、測定値を取得するST42と、取得した測定値MをトリガレベルL1と比較するST43とを、繰り返し実行する。ここで、測定値MがトリガレベルL1以下となると、ST43からST44に進み、期間TAの開始点になったかどうかをチェックする。
【0074】
なお、ST44では、ST46の実行回数が前記期間TAの開始時点に対応するか否かを判断し、以下、期間TAの開始点に対応する値になるまで、測定値を取得するST46と前記ST44とを繰り返し実行する。そして、ST44が「YES」となると、以下、ST45〜49において、期間TA内の各受光データを順に蓄積する処理を実行する。なお、このST49では、前記ST44と同様に、ST48の実行回数に基づき、期間TAの終了時点を判断する。
【0075】
期間TAにかかるデータ蓄積処理が終了すると、同様の手順により、期間TBにかかるデータ蓄積処理を実行する(ST50〜55)。この後は、ST56〜58において、演算処理、判別処理、出力処理を順に実行し、1ワークにかかる処理を終了する。
【0076】
なお、図9,10の手順では、各期間TA,TB毎に配列D1(i),D2(j)を設定したが、これに限らず、1つの配列に両期間TA,TBの受光データを一連に格納してもよい。
つぎに、上記図8〜10の手順は、ワークが順調に搬送されることを前提とするものであり、ワークが搬送途中に停止する可能性がある場合には、つぎの図11に示すような処理を行うのが望ましい。
【0077】
図11は、前記図8と同様に、測定値がトリガレベルL1を下回る期間内にデータ蓄積処理を行うものであるが、データ蓄積期間中にワークが停止した場合には、蓄積処理を中断するようにしている。この図11では、図8との対比を簡単にし、また説明を簡単化するために、前記ST1〜11に対応するステップを、同様のST1〜11として示す。
【0078】
この実施例では、ST3とST4との間にST3−1が、ST6とST7との間にST6−1およびST6−2が、それぞれ付加される。
ここで付加された各ステップにおけるMbは、直前に取得した測定値を格納する変数である。ST3−1では、その前のST3の判定が「YES」、すなわちST2で取得した測定値Mが前記トリガレベルL1以下になったことに応じて、この測定値MをMbに格納する。なお、この測定値Mは、つぎのST4において、最初の蓄積データとして処理される。
【0079】
ST6−1では、ST5において取得した測定値Mと前回の測定値Mbとの差を求め、この差を所定のしきい値Thと比較する。ここでThは、ワークが移動している場合の測定値の変化量に対応するもので、前記トリガレベルL1と同様に、計測処理に先立ち、設定される。この実施例では、測定値MとMbとの差がしきい値Thより大きい場合のみ、測定データを蓄積し、前記の差がしきい値Th以下の場合には、測定データの蓄積処理を行わないようにしている。なお、測定データが蓄積される場合には、ST6−2において、その蓄積データにかかる測定値MによりMbの値が更新される。
【0080】
上記図11のような手順によれば、データ蓄積期間中にワークが停止した場合には、データ蓄積処理が中止されるので、不要なデータが増えるのを防止でき、蓄積処理後に効率の良いデータ処理を行うことができる。図9、10の手順についても同様に、図11に準じた変更を加えることにより、ワークの途中停止に対応することができる。
なお、ワークが移動しない状態(たとえば図11において、ST6−1が「NO」となる状態)が所定の時間続いた場合には、処理を中止して、警告情報を出力するようにしてもよい。
【0081】
つぎに、前記図8や図11の手順では、測定値がトリガレベルL1より大きい状態からL1以下の値に変化した時点をデータ蓄積期間の開始点としたが、このトリガレベルL1に代えて、タイミングセンサからのトリガ信号に基づき、データ蓄積期間の開始点を判断してもよい。この場合、ワークが一定速度で搬送されるのであれば、トリガ信号が入力されてからの時間経過に基づきデータ蓄積期間の終了点を判断することができるが、これに限らず、終了点については、トリガレベルに基づき判断してもよい。
また、蓄積データ数が多くなる可能性はあるが、トリガ信号が入力されてからつぎのトリガ信号が入力されるまでの期間を、データ蓄積期間としてもよい。
【0082】
つぎに、前記計測処理装置1では、常に一定数の受光データが蓄積されるようにしたり、蓄積データに一定レベル以上の分解能が確保されるように、設定することができる。
【0083】
まず、蓄積されるデータ数を一定数(以下、Nとする。)に維持する場合には、計測処理に先立ち、前記入力部103からデータ蓄積期間の長さTの入力を受け付ける。CPU100は、この入力された時間長さTと前記データ数Nとに基づき、受光データのサンプリング間隔t(t=T/N)を設定する。そして、計測処理では、図12に示すように、データ蓄積期間の開始後、前記サンプリング間隔t毎に受光データを取り込んで蓄積する。なお、上記の設定処理では、設定されたtの値、または所定の時間単位(たとえば1ミリ秒)毎のサンプリング数(データ数/msec)を表示部102に表示することにより、ユーザーが設定内容を確認できるようにするのが望ましい。
【0084】
分解能を一定にする場合には、計測処理に先立ち、分解能を示すデータ(所定の時間単位毎のサンプリング数またはサンプリング間隔t)の入力を受け付ける。これによりCPU100は、データ蓄積期間の開始後、一定の間隔t毎に受光データを取り込んで蓄積することができる。なお、前記計測処理前のデータ入力では、前記分解能を示すデータとともにデータ蓄積期間の長さTの入力も受け付け、この時間T内にサンプリングされるデータ数n(n=T/t)を表示部102に表示して、ユーザーに設定内容を確認させるのが望ましい。また、前記データ数nが計測処理に必要な最小のデータ数を下回る場合には、前記入力データによる設定をキャンセルするとともに、所定の警告情報を表示するなどして、ユーザーに入力データの不備を報知するのが望ましい。
【0085】
つぎに、ワークの搬送速度が変動する場合には、データ蓄積後に、蓄積された受光データに対する間引き処理を行うことにより、一定数の受光データを用いた計測処理を行うことができる。
【0086】
この調整に際しては、あらかじめモデルのワークを用いるなどして、データ蓄積期間の標準的な時間長さを求め、その時間長さや計測処理に必要なデータ数を設定する必要がある。これらの設定値は、たとえば、前記表示部102にモデルのワークに対する計測結果を表示しつつ、入力部103を用いて入力することができる。
【0087】
CPU100は、前記設定値に基づき、ワーク毎に蓄積された受光データを所定の間引き間隔をもってサンプリングした後、サンプリングされた受光データを用いて計測処理を実行する。
【0088】
信号処理部2からの毎時の受光データは、一定の時間間隔をもって入力されるから、CPU100は、前記標準のデータ蓄積期間の長さや間引き間隔を、データ数に換算することができる。同様に、蓄積処理の終了後には、蓄積された受光データの数をもってデータ蓄積時間の長さとみなすことができる。ここで、データ蓄積期間の標準の長さに対応するデータ数をD、実際に蓄積されたデータ数をD1、標準の間引き間隔をΔdとすると、つぎの(1)式により、蓄積データに対する間引き間隔Δd1を求めることができる。
Δd1=(D1/D)×Δd ・・・(1)
【0089】
図13は、データ蓄積期間の長さが標準の長さDの半分に変動した場合の間引き処理の例を示す。この場合、蓄積された受光データに対する間引き間隔Δd1は標準の間引き間隔Δdの半分になるため、標準の長さでデータが蓄積されたときと同数の受光データが抽出される。
【0090】
図14(1)は、ワークの搬送速度が変動する場合の他の処理方法を示す。なお、この実施例では、段差のあるワークを検査対象とするが、コンベア5により複数のワーク61,62,63・・・を帯状光7に向けて順に搬送しながら、所定のトリガレベルL1を下回る期間内の受光データを蓄積する点は、図1や図5に示した実施例と同様である。
【0091】
この実施例では、各ワークについて、蓄積された受光データが示す変化の中から特定の部位に対応する受光データを抽出するようにしている。各ワークの形状が適正であれば、前記特定の部位に対応する受光データが示す測定値は同値となるはずである。ただし、図示例のように、各ワークの移動速度が変化して、それぞれのデータ蓄積期間が異なるものとなると、特定の部位に対応する受光データが得られる時点も、当然ながら変化することになる。
【0092】
図14(2)は、上記図14(1)において、3つのワーク61,62,63を順に搬送したとき、各ワーク61,62,63にかかるデータ蓄積期間T1,T2,T3がしだいに短くなった例を示す。図中のp1,p2,p3は、それぞれワーク61,62,63について、前記特定の部位に対応する受光データに対応する点である。また、t1,t2,t3は、それぞれデータ蓄積期間が開始された時点から点p1,p2,p3に達するまでの時間長さを示す。
【0093】
ここで、1番目のワーク61について、データ蓄積期間の長さT1や点p1に達するまでの時間長さt1が標準データとして登録されているものとすると、他のワーク62,63について、前記点p2,p3に達するまでの時間長さt2,53は、それぞれつぎの(2)(3)式により求めることができる。なお、実際の演算では、T1,T2,T3,t1は、いずれもデータ数に換算することができる。
t2=(T2/T1)×t1 ・・・(2)
t3=(T3/T1)×t1 ・・・(3)
【0094】
なお、図14(2)では、ワーク61,62,63上の一点にかかる受光データを抽出する例を示したが、ワーク上の所定範囲にかかる受光データを抽出する場合にも、同様に、データ蓄積期間の標準の長さと実際のデータ蓄積期間の長さとの比に基づき、データの抽出範囲を調整することができる。
また、前記(2)(3)式は、各ワークが等速移動することを前提としているが、その前提による誤差が問題となる場合には、前記(2)(3)式により導かれる時点を中心とする所定範囲にかかる受光データを抽出するのが望ましい。
【0095】
ところで、トリガレベルによりデータ蓄積期間の開始点を判断する場合には、ワークの計測対象部位に異常が生じて帯状光7が遮光されなかった場合、その異常を検出できないまま、つぎのワークに対する処理に移行してしまうという不具合がある。
【0096】
図15は、上記の不具合が生じる具体例を示す。
この実施例は、前記図1に示したのと同様の検査を行うものであるが、図中の3番目に、蓋部6aが欠落したワーク63が搬送される。このワーク63については、帯状光7を通過する間の測定値がトリガレベルL1以下にならないことから、受光データが蓄積されないまま、つぎのワーク64に対する蓄積処理が開始されてしまう。したがって、ワーク63の蓋部6aの欠落は、見逃されてしまうことになる。
【0097】
このような問題に対応するために、計測処理装置1は、毎回のデータ蓄積期間が終了する毎に、その終了点からの経過時間を計測し、この時間が所定の基準時間を超えたときエラー情報を出力することができる。なお、基準時間は、ワークの通常の搬送間隔に対応する時間に基づいて設定されるが、ワークの搬送速度が変動する可能性がある場合には、その変動範囲に応じて基準時間を調整するのが望ましい。
【0098】
図16は、変位センサを用いた計測システムに前記計測処理装置1を適用した例を示す。図16(1)は、計測処理の具体例を示すもので、段差が設けられたワーク60の上方に変位センサの検出部8を配備している。なお、この図には示していないが、検出部8の位置は固定されており、その検出領域に対し、複数のワーク60が順次導かれるように設定されている。
【0099】
図16(2)は、上記の計測システムにおいて得られる測定データの変化を、計測処理の具体例とともに示す。
この実施例にかかる計測処理装置1は、前記検出部8に接続された信号処理部2から検出距離を示す測定データを入力しつつ、前記図7(2)と同様の方法により、測定値が所定のトリガレベルL3を下回る期間内において、所定時間を隔てた2つの期間TA,TBをデータ蓄積期間として設定するようにしている。なお、この実施例のトリガレベルL3は、ワーク60内の最も高い面に対応する測定値に基づき設定される。
【0100】
この実施例では、前記各データ蓄積期間TA,TB毎に、その期間内に蓄積されたデータの中から最大値と最小値とを求めている。図中、P1,B1は、それぞれ期間TAにおける最大値、最小値に対応する。また、P2,B2は、それぞれ期間TBにおける最大値、最小値に対応する。
【0101】
計測処理装置1は、各期間TA,TB毎に、その期間内の最大値と最小値との差を求めることができる。また、図16(2)に示すように、期間TAにおける最大値P1と期間TBにおける最小値B2との差hを求めるなど、期間TA,期間TBの双方のデータを用いた演算処理を実行することができる。
【0102】
従来の変位センサでは、所定の計測期間中に得た測定値の最大値や最小値をホールドする機能を具備するものの、複数の測定値を保持する機能を備えていないので、最も高い面と最も低い面との間の距離を計測できるに留まっていた。このため、図16(1)のようなワーク60について、各段差を詳細に計測するには、複数のセンサを使用する必要があった。これに対し、上記実施例によれば、ワーク60が検出部8の検出領域を通過する期間に得られる測定データの中から計測目的に応じた期間をデータ蓄積期間として設定することにより、目的とする計測処理を実行することができる。よって、単独の検出部8を用いて従来よりも詳細な計測処理を行うことができる。
【0103】
【発明の効果】
この発明にかかる計測処理装置によれば、センサからの出力に高速で応答できるとともに、対象物の搬送速度が変化した場合でも、計測対象の測定値データを用いて目的に応じた計測処理を実行し、その処理結果を上位機器に出力することができる。また、この発明にかかる計測処理装置によれば、対象物中に複数の測定対象部位がある場合でも、単独のセンサを用いた計測処理が可能であるので、センサの位置決めにかかる手間や時間を短縮することができる。対象物の種類が替わった場合にも、同様にセンサの位置決め調整に手間をかけることがないので、多品種少量生産の製造ラインや検査ラインにも容易に対応することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかる計測処理装置を用いた検査システムの概要を示す図である。
【図2】計測処理装置および信号処理部の外観を示す斜視図である。
【図3】計測処理装置のブロック図である。
【図4】信号処理部のブロック図である。
【図5】図1の検査にかかる測定データの変化と計測処理の方法とを示す図である。
【図6】データ蓄積処理と計測処理とのタイミングを示す図である。
【図7】データ蓄積期間の他の設定例を示す図である。
【図8】図5の方法に基づく処理手順を示すフローチャートである。
【図9】図7(1)の方法に基づく処理手順を示すフローチャートである。
【図10】図7(2)の方法に基づく処理手順を示すフローチャートである。
【図11】図8の手順に、ワークが停止した場合の対応を組み込んだ場合のフローチャートである。
【図12】受光データの蓄積数を一定数に維持するための方法を示す図である。
【図13】蓄積処理後のデータの間引き間隔の調整例を示す図である。
【図14】ワークの移動速度が変化した場合のデータの抽出の調整例を示す図である。
【図15】帯状光がワークにより遮光されなかった場合の問題点を示す図である。
【図16】この発明にかかる計測処理装置を適用した計測システムの概要と、測定データの変化およびその計測処理の具体例を示す図である。
【図17】従来の検査システムの例を示す図である。
【図18】従来の検査システムの構成を示すブロック図である。
【図19】図17,18のシステムにかかる検査の原理を示す図である。
【符号の説明】
1 計測処理装置
2 信号処理部
3 投光部
4 受光部
7 帯状光
8 検出部
10 筐体
14 コネクタ
100 CPU
101 EEPROM
104 通信処理回路
105 検出部用処理回路
106 外部入力回路
107 アナログ出力回路
103 ディジタル出力回路
109 インターフェース回路[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a technique for sequentially guiding a plurality of objects to a measurement region of a sensor that measures a predetermined physical quantity and executing a predetermined measurement process on each object. In particular, this inventionA type that detects an object by changing the level of the output signal, such as a photoelectric sensor or a displacement sensor.While inputting the output from the sensor,Of the same type that is transported sequentially to the detection area of this sensorThe present invention relates to a measurement processing apparatus that sequentially executes measurement processing on an object and outputs the result to a host device.
[0002]
[Prior art]
For example, in a factory inspection line, a sensor for measurement is installed in the vicinity of a conveyor, and signals from sensors for workpieces that are sequentially conveyed are processed to determine whether the workpiece is good or bad. FIG. 17 shows an example of this type of inspection.
[0003]
In the illustrated example, a
[0004]
Each of the
[0005]
FIG. 18 shows a schematic configuration of a system used for the inspection.
In the figure, the
[0006]
The above inspection is performed by processing the received light amount acquired by each sensor at the timing when both side portions of the
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
In the above inspection, since it is necessary to arrange the
[0008]
Similar problems occur in addition to inspection using a transmission type length measuring sensor. For example, when inspecting the shape of a workpiece using a displacement sensor, the conventional inspection extracts the maximum or minimum value of the detection distance in a predetermined detection range on the workpiece. It is difficult to compare to the above, or to obtain the distance between the separated steps. Further, when a plurality of sensors are combined for such an inspection, as in the inspection of FIG. 17, it takes time to adjust the positioning of each sensor, and the adjustment must be performed every time the workpiece to be inspected is changed. .
[0009]
In general, the host device not only performs processing for inspection, but also controls various drive systems while inputting various signals and communicating with other devices. In such an apparatus, it is difficult to quickly respond to an input from a sensor while performing control other than inspection, and there are limitations in performing measurement processing while conveying a large number of workpieces at high speed.
[0010]
The present invention has been made paying attention to the above-described problems, and is interposed between the sensor and the host device so that it can respond to the output from the sensor at high speed and can execute measurement processing according to various purposes. It is an object to provide a simple device.
Another object of the present invention is to reduce the time and labor required for the positioning adjustment of the sensor even when the object to be measured is changed or to measure an object having a complicated shape, and to enable the measurement process to be resumed quickly. To do.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The measurement processing apparatus according to the present invention is connected to a sensor of a type that detects an object by a change in the level of an output signal, and for the same type of object that is sequentially conveyed to the detection area of the sensor at a predetermined interval, It performs measurement processing using an output signal from the sensor, an input circuit for inputting the output signal from the sensor, a memory for storing measurement value data indicated by the signal input by the input circuit, An arithmetic circuit for measurement processing and an output circuit for outputting processing results of the arithmetic circuit to the outside are accommodated in a single housing and include a connector or an output signal line including an output terminal The cable is exposed to the outside of the housing. Further, the measurement processing apparatus includes a first registration unit that registers at least one set value of a trigger level for specifying a start point and an end point of a data accumulation period in the memory with respect to the measurement value data. The standard of the data accumulation period specified by the trigger levelThe length is registered by the number of data T stored when the measured value data generated during the data storage period is stored in the memory at regular intervals.The point in time corresponding to the measured value data in the data accumulation period orThe start point and end point of the period corresponding to the measurement value data to be measured depend on the number of data stored in the memory from the start point of the data storage period to the corresponding time point.Second registration means to be registered is further provided. The arithmetic circuit compares hourly measured value data with a trigger level registered in the first registration means.ByWhile determining the start point and end point of the data accumulation period,Between the start point and the end pointThe resulting measurement dataAt regular intervalsData storage means for storing in the memory, and the data storage meansNumber of data stored in memoryT1 andNumber of data indicating the standard time length of the data accumulation periodBased on the ratio with T,Measurement targetThe corresponding point in time or the corresponding periodThe number of data registered in the second registration means for the start point and end point ofAdjust and after that adjustmentThe number of dataCorresponding toOf time or periodAnd a calculation means for reading the measurement value data from the memory and executing a calculation process using the read data. Further, the output circuit is the same as the arithmetic circuit.Using the measured value data accumulated during the data accumulation period by determining the start and end points of the data accumulation periodEach time the arithmetic processing is finished, the arithmetic processing result is output to the output terminal or the output signal line.
[0012]
The “sensor” in the present invention has a function of measuring various physical quantities such as light quantity, magnetic field change, radio wave intensity, vibration amount, etc., and is a single detection unit or the transmission type. Like the light projecting / receiving unit of the length measurement sensor, it includes a plurality of detection units. The detection unit can convert the measured physical quantity into an electrical signal and output it. In addition, the electrical signal can be digitally converted and output.
[0013]
Further, the sensor may be configured as a type in which the detection unit and the signal processing unit are separated. The signal processing unit preferably has a function of outputting a value (measurement value) indicating the physical quantity measured by the detection unit as digital data. Further, the signal processing unit can be configured to output a measurement value subjected to a predetermined correction process or output a measurement value averaged by a moving average process or the like. In addition, the measurement value can be converted into a form suitable for use in measurement processing. For example, in an optical displacement sensor, processing for converting a signal from a light receiving unit into distance data corresponds to this.
[0014]
In the above measurement processing apparatus, the input circuit can be configured to input an analog signal or a digital signal according to the output form on the sensor side. In addition, both analog and digital input circuits can be included so that any sensor can be used.
[0015]
The arithmetic circuit is preferably configured by a computer. The memory can be set in a built-in memory area of the computer. Alternatively, it can be set in an external memory device of the computer. The arithmetic processing executed by the arithmetic circuit can be variously set according to the purpose of the measurement processing. However, when used for the purpose of inspection, the arithmetic processing may include processing for determining whether the object is good or bad. it can.
[0016]
The output circuit desirably outputs to a host device such as a PLC or a personal computer. This is to make it possible to cope with a system in which the measurement result is used in a host device while performing measurement processing on a large number of objects in a factory production line, an inspection line, or the like.
[0017]
The connector or cable can be considered to connect the measurement processing apparatus to a host device. When a connector is used, it can be connected to the host device via an optional cable. When a cable is used, the cable can be connected to the host device directly or via an extension cable.
In addition to the output terminal, the connector may include an input terminal that receives a signal from a host device. Similarly, in addition to the output signal line, the cable can include an input signal line for transmitting a signal from a host device.
[0018]
According to the measurement processing apparatus, the measurement value data indicated by the signal input from the sensor while the object passes through the detection region of the sensor while inputting the output from the sensor via the input circuit.In memory at regular intervalsAfter the accumulation of data related to one object is completed, the measurement value data of the measurement object can be read out from the accumulated measurement value data and a detailed measurement process can be performed. In addition, every time the measurement processing for one object is completed, the processing result is output to the host device, so that the inclination and floating of the lid as shown in FIG. 17 can be detected, or the shape of the object can be changed. Even in the case of detecting the measurement, the measurement process can be performed using the measurement result of the single sensor.
[0019]
Furthermore, in the above measurement processing device, the time point corresponding to the measurement target data or the corresponding periodAre registered in the second registration means by the number of data accumulated in the memory from the start point of the data accumulation period to the corresponding time point, and the number of data isThe length of the actual data storage periodNumber of data representingStandard registered in T1 and the second registration meansNumber of data representing lengthAdjusted based on the ratio with T, and after adjustmentCorresponding to the number of dataSince the calculation using the measurement value data is executed, the calculation using the data suitable for the measurement process can be executed even when the conveyance speed of the object changes.
[0020]
In a preferred aspect of the above-described measurement processing apparatus, the calculation means includes a time point corresponding to the measurement value data to be measured or a start point and an end point of the corresponding period.As a process for adjusting the data, the standard length of the data accumulation period is indicated by the number of data t registered in the second registration means at the corresponding time.Against TThe number of dataMultiplication by the ratio of T1 (T1 / T)Run.
[0021]
For example, if the moving speed of the object changes, the length of the data accumulation periodNumber of data indicatingChanges from T to T1, and for this object, x from the start of the periodThe second data is measuredIn the target areaWith correspondingThen, the x can be calculated by the following equation (A).
x = (T1 / T) × t (A)
[0022]
Therefore, when the length of the data accumulation period changes, the calculation means calculates the value of x calculated using the above equation (A).Read measurement data of measurement target from memorybe able to. In addition, when the calculation using the measured value data within the predetermined period is executed, the corresponding point in the actual data accumulation period is determined by applying the above equation (A) for the start point and the end point of this period.The number of dataBy adjusting, the measured value data of the measurement targetRead from memorybe able to.
[0023]
In another aspect of the measurement processing apparatus, an input unit for inputting a trigger level registered in the first registration unit and information registered in the second registration unit is further provided.
[0024]
The trigger level input isNumeric inputCan be performed. OrFrom the sensor when measuring the model objectMeasured value data indicated by the signalAnd when the display reaches a predetermined value, the displayNumberAs trigger levelinputYou can also.The information registered in the second registration means can also be input while displaying the measured value data for the model workpiece.
[0025]
In another aspect of the measurement processing apparatus, the measurement unit that measures an elapsed time after the end point of the data storage period is determined by the data storage unit, and the time measured by the measurement unit exceeds a predetermined reference time. And error output means for outputting error information when the error occurs.
[0026]
According to the measurement means and the error output means, the abnormality is overlooked even when the starting point of the data accumulation period cannot be determined because abnormality has occurred in the object and the measured value data has not reached the trigger level. Can be prevented.
[0037]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 shows an example of an inspection system to which the present invention is applied.
In this inspection, the
[0038]
The
[0039]
The
[0040]
FIG. 2 shows the appearance of the
The body of the
[0041]
[0042]
The
[0043]
[0044]
The cable from the other end surface differs depending on the device. The
On the other hand, the cable 16a on the
[0045]
FIG. 3 shows an electrical configuration of the
The
[0046]
The
The
[0047]
The
[0048]
The detection
[0049]
The
[0050]
FIG. 4 shows an electrical configuration of the
The
[0051]
In the inspection system of FIG. 1, the light projecting / receiving
[0052]
The result of the measurement process is output to the host device via the
[0053]
In addition, the
[0054]
In addition, the
[0055]
FIG. 5 shows an example of changes in measured values in the inspection of FIG. 1 together with the measurement processing method.
According to the setting of the optical system as shown in FIG. 1, the measured value is kept constant until the work enters the band-like light 7. The measured value is decreased by the amount 7 is shielded from light. In this embodiment, a portion in which a space is interposed between the
[0056]
In the
[0057]
Further, the
[0058]
The built-in RAM is provided with two buffers for storing the received light data. As shown in FIG. 6, the
[0059]
FIG. 7 shows another setting example of the data accumulation period for the received light data. In these examples, a period from when the workpiece enters the band light 7 until it finishes passing through the band light 7, in other words, a part of the period during which the received light data can be accumulated is defined as a data accumulation period. It is a thing.
[0060]
In FIG. 7 (1), two trigger levels L1 and L2 are set in the range of change in the measured value obtained while the work passes through the strip light 7, and the measured value is between these trigger levels L1 and L2. Two periods TA, TBIs the data accumulation period. As in the example of FIG. 5, the first trigger level L <b> 1 is set according to the measurement value immediately after the workpiece enters the band-shaped light 7 or immediately before passing the band-shaped light 7. The second trigger level L2 is set in the vicinity of an intermediate position between the minimum value that can be taken by the feature points A and B and the minimum received light amount L0 that can be obtained while the workpiece passes through the belt-like light 7. Therefore, period TAIncludes the feature point A in the period TBIncludes the feature points B, respectively.
[0061]
In FIG. 7B, as in the example of FIG. 5, only a single trigger level L1 is set based on the measurement level immediately after the work enters the strip light 7. However, in this example, two periods T separated by a predetermined time interval within a period in which the measured value is equal to or lower than the trigger level L1.A, TBIs a data accumulation period. Period TAIs a period T including a period including the feature point A.BCorresponds to a period including the feature point B, respectively. These periods are set by, for example, measuring a model workpiece, extracting a time point at which measurement data corresponding to each feature point A and B is obtained, and inputting data indicating the time point from the
[0062]
7 (1) and 2 (2) above, the light reception data obtained by narrowing down the periods including the feature points A and B individually from the light reception data obtained while the workpiece passes through the strip light 7 is used. Can be accumulated. Therefore, the number of accumulated data can be reduced and the buffer capacity can be saved. In particular, when the bottle with a narrow mouth width is replaced with a bottle with a wide mouth width, the number of data to be accumulated increases in the setting shown in FIG. 5, but most of the increase is extracted from the feature points A and B. Is not included in the range (the range indicated by the symbol S in FIG. 7). On the other hand, according to the settings as shown in FIGS. 7 (1) and (2), by providing appropriate setting values, it is possible to narrow down the period in which changes necessary for measurement appear and accumulate received light data. Even if the length of the range S changes, efficient data processing can be performed without greatly changing the number of accumulated data.
[0063]
Next, FIGS. 8, 9, and 10 show the processing procedure of the
[0064]
First, when the procedure of FIG. 8 corresponding to the method of FIG. 5 is performed, an array D (i) for accumulating received light data and a variable M for temporarily storing a measurement value indicated by the received light data every hour. And prepare. When the processing of FIG. 6 is executed, the array D (i) is composed of two arrays, and the array to be used is switched every time processing for one work is completed. The same applies to the arrays D1 (i) and D2 (j) in FIGS.
[0065]
8 are executed for each workpiece. First, after i is set to the initial value “1” in ST1, the measured value is acquired in the next ST2 and stored in the variable M. To do. Hereinafter, this M is referred to as “measured value M”.
[0066]
In ST3, the measured value M is compared with the trigger level L1. Here, if the measured value M is larger than L1, ST3 becomes “NO”, the process returns to ST2, and the next measured value is acquired. In the same manner, the measurement value for every hour is continuously acquired until the measurement value M becomes L1 or less.
[0067]
When the measured value M is equal to or less than L1, the process proceeds to ST4, where M is stored as the first accumulated data (D (1)). Next, in ST5, the measurement value is acquired again. Thereafter, the process advances from ST6 to ST7 and ST8 in order and returns to ST5, thereby accumulating the measured values every hour.
[0068]
When the measured value M acquired at a predetermined time becomes larger than L1, the process proceeds from ST6 to ST9, and using the accumulated received light data, a differential operation for extracting the feature points A and B, and each feature point A , B and the like using the measured values corresponding to B. In the next ST10, the quality of the work is determined based on the result of the difference calculation, and the determination result is output in ST11. If it is determined as “bad” in ST10, the calculation result can also be output together in ST11 (the same applies to the output processing of FIGS. 8, 9, and 10).
[0069]
When executing the procedure of FIG. 9 corresponding to FIG.AAn array D1 (i) for accumulating the received light data for the period T, and the period TBAnd an array D2 (j) for accumulating the received light data. In the first ST21, after setting i and j to the initial value “1”, the measurement value is acquired in the next ST22, and the measurement value M is compared with the trigger levels L1 and L2 in the next ST23. Then, the time point when the measured value M satisfies the condition of L2 ≦ M ≦ L1 is defined as the period TAThe accumulation of received light data is started (ST24). Thereafter, in ST25-28, by executing the processing according to ST5-8 of FIG.AThe received light data for is stored.
[0070]
Period TAWhen the data storage process is completed, ST29 and ST30 are repeatedly executed until the measured value M again satisfies the condition of L2 ≦ M ≦ L1. When the measured value M satisfies the above condition, the period TBIs received (ST31-35).
[0071]
In this way, the period TA, TBAfter the accumulation of the received light data is finished, the calculation process (ST36) using the accumulated received light data, the discrimination process based on the calculation result (ST37), and the output of the discrimination result (ST38) are executed in order. The processing related to the workpiece is terminated.
[0072]
Next, when the procedure of FIG. 10 corresponding to FIG. 7 (2) is executed, as in the case of FIG.AArray D1 (i) for accumulating the received light data according to the period TBAnd an array D2 (j) for accumulating the received light data.
[0073]
In this embodiment, after the initial values of i and j are set to “0” in ST41, ST42 for acquiring the measured value and ST43 for comparing the acquired measured value M with the trigger level L1 are repeatedly executed. . Here, when the measured value M becomes equal to or lower than the trigger level L1, the process proceeds from ST43 to ST44, whereACheck if it is the starting point of.
[0074]
In ST44, the number of executions of ST46 is equal to the period T.AWhether or not it corresponds to the start time ofAUntil the value corresponding to the starting point of ST46 is reached, ST46 and ST44 for obtaining the measurement value are repeated. Then, when ST44 becomes “YES”, in the following ST45 to 49, the period TAThe process of accumulating each received light data in sequence is executed. In ST49, similar to ST44, based on the number of executions of ST48, the period TADetermine the end point of.
[0075]
Period TAWhen the data storage process related to is completed, the period TBThe data accumulation process is executed (ST50 to 55). Thereafter, in ST56 to 58, the calculation process, the discrimination process, and the output process are sequentially executed, and the process for one work is ended.
[0076]
In the procedures of FIGS. 9 and 10, each period TA, TBAlthough the arrays D1 (i) and D2 (j) are set for each, the present invention is not limited to this.A, TBThe received light data may be stored in series.
Next, the procedure shown in FIGS. 8 to 10 is based on the premise that the workpiece is conveyed smoothly. If there is a possibility that the workpiece stops during the conveyance, the procedure shown in FIG. 11 is performed. It is desirable to perform appropriate processing.
[0077]
In FIG. 11, as in FIG. 8, the data accumulation process is performed within a period in which the measured value falls below the trigger level L1, but the accumulation process is interrupted when the work stops during the data accumulation period. I am doing so. In FIG. 11, in order to simplify the comparison with FIG. 8 and simplify the description, the steps corresponding to ST1 to ST11 are shown as ST1 to ST11.
[0078]
In this embodiment, ST3-1 is added between ST3 and ST4, and ST6-1 and ST6-2 are added between ST6 and ST7, respectively.
Mb in each step added here is a variable for storing the measurement value acquired immediately before. In ST 3-1, when the previous determination of
[0079]
In ST6-1, the difference between the measurement value M acquired in ST5 and the previous measurement value Mb is obtained, and this difference is compared with a predetermined threshold Th. Here, Th corresponds to the amount of change in the measured value when the workpiece is moving, and is set prior to the measurement process, similarly to the trigger level L1. In this embodiment, the measurement data is accumulated only when the difference between the measurement values M and Mb is larger than the threshold value Th, and when the difference is less than the threshold value Th, the measurement data is accumulated. I am trying not to. When measurement data is accumulated, in ST6-2, the value of Mb is updated with the measurement value M related to the accumulation data.
[0080]
According to the procedure as shown in FIG. 11, when the work is stopped during the data accumulation period, the data accumulation process is stopped. Therefore, unnecessary data can be prevented from increasing, and efficient data can be obtained after the accumulation process. Processing can be performed. Similarly, the procedure shown in FIGS. 9 and 10 can be handled in the middle of stopping the work by making a change according to FIG.
If a state in which the workpiece does not move (for example, a state in which ST6-1 is “NO” in FIG. 11) continues for a predetermined time, the processing may be stopped and warning information may be output. .
[0081]
Next, in the procedure of FIG. 8 or FIG. 11, the time point when the measured value has changed from a state greater than the trigger level L1 to a value less than or equal to L1 is set as the starting point of the data accumulation period, but instead of this trigger level L1, The starting point of the data accumulation period may be determined based on a trigger signal from the timing sensor. In this case, if the work is transported at a constant speed, the end point of the data accumulation period can be determined based on the passage of time after the trigger signal is input. The determination may be made based on the trigger level.
In addition, although there is a possibility that the number of accumulated data increases, a period from when a trigger signal is input to when the next trigger signal is input may be set as a data accumulation period.
[0082]
Next, the
[0083]
First, when the number of accumulated data is maintained at a fixed number (hereinafter referred to as “N”), an input of the length T of the data accumulation period is received from the
[0084]
When the resolution is made constant, input of data indicating the resolution (the number of samplings per predetermined time unit or the sampling interval t) is accepted prior to the measurement process. Thus, the
[0085]
Next, when the conveyance speed of the workpiece fluctuates, measurement processing using a certain number of received light data can be performed by performing thinning processing on the stored received light data after data storage.
[0086]
In this adjustment, it is necessary to obtain a standard time length of the data accumulation period by using a model work in advance and set the time length and the number of data necessary for the measurement process. These set values can be input using the
[0087]
Based on the set value, the
[0088]
Since the hourly received light data from the
Δd1 = (D1 / D) × Δd (1)
[0089]
FIG. 13 shows an example of thinning-out processing when the length of the data accumulation period changes to half of the standard length D. In this case, since the thinning interval Δd1 for the stored light reception data is half of the standard thinning interval Δd, the same number of light reception data as when the data is stored with the standard length is extracted.
[0090]
FIG. 14A shows another processing method when the workpiece conveyance speed fluctuates. In this embodiment, a workpiece having a step is an inspection target, but a predetermined trigger level L1 is set while a plurality of
[0091]
In this embodiment, for each workpiece, light reception data corresponding to a specific part is extracted from changes indicated by accumulated light reception data. If the shape of each workpiece is appropriate, the measured value indicated by the received light data corresponding to the specific part should be the same value. However, when the moving speed of each workpiece changes and the respective data accumulation periods differ as in the illustrated example, the time point at which the received light data corresponding to a specific part is obtained naturally also changes. .
[0092]
In FIG. 14 (2), when the three works 61, 62, and 63 are sequentially conveyed in FIG. 14 (1), the data accumulation periods T1, T2, and T3 for the
[0093]
Assuming that the length T1 of the data accumulation period and the time length t1 until reaching the point p1 are registered as standard data for the
t2 = (T2 / T1) × t1 (2)
t3 = (T3 / T1) × t1 (3)
[0094]
14 (2) shows an example in which the received light data for one point on the
In addition, the formulas (2) and (3) are based on the assumption that each workpiece moves at a constant speed. It is desirable to extract the received light data over a predetermined range centered at.
[0095]
By the way, when the start point of the data accumulation period is determined based on the trigger level, when an abnormality occurs in the measurement target portion of the workpiece and the strip light 7 is not shielded, the processing for the next workpiece is performed without detecting the abnormality. There is a problem that it will shift to.
[0096]
FIG. 15 shows a specific example in which the above problem occurs.
In this embodiment, the inspection similar to that shown in FIG. 1 is performed, but the
[0097]
In order to deal with such a problem, the
[0098]
FIG. 16 shows an example in which the
[0099]
FIG. 16 (2) shows a change in measurement data obtained in the above measurement system together with a specific example of measurement processing.
The
[0100]
In this embodiment, each data storage period TA, TBEvery time, the maximum value and the minimum value are obtained from the data accumulated in the period. In the figure, P1 and B1 are respectively periods TACorresponds to the maximum and minimum values. In addition, P2 and B2 are respectively periods TBCorresponds to the maximum and minimum values.
[0101]
The
[0102]
Although the conventional displacement sensor has a function to hold the maximum value and the minimum value of the measurement values obtained during a predetermined measurement period, it does not have a function to hold a plurality of measurement values. It was only possible to measure the distance to the lower surface. For this reason, in order to measure each level | step difference in detail about the workpiece | work 60 like FIG. 16 (1), it was necessary to use a some sensor. On the other hand, according to the above embodiment, by setting a period according to the measurement purpose from the measurement data obtained during the period when the workpiece 60 passes through the detection area of the detection unit 8, Measurement processing can be executed. Therefore, it is possible to perform more detailed measurement processing than before using the single detection unit 8.
[0103]
【The invention's effect】
According to the measurement processing device according to the present invention, it is possible to respond at high speed to the output from the sensor,Even if the conveyance speed of the object changes, the measured value data of the measurement object is used.Measurement processing according to the purpose can be executed, and the processing result can be output to the host device. In addition, according to the measurement processing apparatus according to the present invention, even when there are a plurality of measurement target parts in the object, measurement processing using a single sensor is possible. It can be shortened. Even when the type of the object is changed, it is not necessary to adjust the positioning of the sensor in the same manner, so that it is possible to easily cope with a production line and an inspection line for high-mix low-volume production.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an outline of an inspection system using a measurement processing apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a perspective view showing an external appearance of a measurement processing device and a signal processing unit.
FIG. 3 is a block diagram of a measurement processing apparatus.
FIG. 4 is a block diagram of a signal processing unit.
FIG. 5 is a diagram showing a change in measurement data and a measurement processing method according to the inspection of FIG. 1;
FIG. 6 is a diagram illustrating timings of data accumulation processing and measurement processing.
FIG. 7 is a diagram illustrating another setting example of the data accumulation period.
FIG. 8 is a flowchart showing a processing procedure based on the method of FIG. 5;
FIG. 9 is a flowchart showing a processing procedure based on the method of FIG.
FIG. 10 is a flowchart showing a processing procedure based on the method of FIG.
FIG. 11 is a flowchart in the case where a response when a workpiece is stopped is incorporated in the procedure of FIG.
FIG. 12 is a diagram illustrating a method for maintaining a constant number of received light data.
FIG. 13 is a diagram illustrating an example of adjusting the thinning interval of data after accumulation processing;
FIG. 14 is a diagram illustrating an example of adjustment of data extraction when the moving speed of the workpiece changes.
FIG. 15 is a diagram showing a problem when the belt-like light is not shielded by the work.
FIG. 16 is a diagram showing an outline of a measurement system to which the measurement processing apparatus according to the present invention is applied, a change in measurement data, and a specific example of the measurement process.
FIG. 17 is a diagram showing an example of a conventional inspection system.
FIG. 18 is a block diagram showing a configuration of a conventional inspection system.
FIG. 19 is a diagram showing the principle of inspection according to the system of FIGS.
[Explanation of symbols]
1 Measurement processing equipment
2 Signal processor
3 floodlight
4 Light receiver
7 Band light
8 detector
10 housing
14 Connector
100 CPU
101 EEPROM
104 Communication processing circuit
105 Processing Circuit for Detection Unit
106 External input circuit
107 Analog output circuit
103 Digital output circuit
109 Interface circuit
Claims (4)
前記センサからの出力信号を入力するための入力回路と、入力回路が入力した信号が示す測定値データを蓄積するためのメモリと、計測処理のための演算回路と、前記演算回路の処理結果を外部に出力するための出力回路とが、単一の筐体内部に収容されるとともに、出力端子を含むコネクタまたは出力信号線を含むケーブルを前記筐体の外部に露出させており、
前記測定値データについて、前記メモリへのデータ蓄積期間の開始点および終了点を特定するためのトリガレベルの設定値が少なくとも1つ登録される第1の登録手段と、前記トリガレベルにより特定されるデータ蓄積期間の標準の長さが、当該データ蓄積期間中に生じた測定値データを一定の時間毎に前記メモリに蓄積した場合に蓄積されるデータ数Tにより登録されると共に、この標準の長さのデータ蓄積期間の中で計測対象の測定値データに対応する時点または計測対象の測定値データに対応する期間の開始点ならびに終了点が、前記データ蓄積期間の開始点から該当する時点までに前記メモリに蓄積されるデータ数により登録される第2の登録手段とを、さらに具備し、
前記演算回路は、毎時の測定値データを前記第1の登録手段に登録されたトリガレベルと比較することにより前記データ蓄積期間の開始点および終了点を判別しつつ、開始点から終了点までの間に生じた測定値データを前記一定の時間毎に前記メモリに蓄積するデータ蓄積手段と、前記データ蓄積手段によりメモリに蓄積されたデータ数T1と前記データ蓄積期間の標準の長さを示すデータ数Tとの比率に基づき、前記計測対象の測定値データに対応する時点または対応する期間の開始点ならびに終了点につき前記第2の登録手段に登録されたデータ数を調整し、その調整後のデータ数に対応する時点または期間の測定値データを前記メモリから読み出して、読み出したデータを用いた演算処理を実行する演算手段とを具備し、
前記出力回路は、前記演算回路がデータ蓄積期間の開始点および終了点を判別して当該データ蓄積期間に蓄積された測定値データを用いた演算処理を終了する都度、その演算処理結果を前記出力端子または出力信号線に出力する計測処理装置。Measurement using the output signal from the sensor for the same type of object that is connected to a sensor of the type that detects the object by changing the level of the output signal and is sequentially conveyed to the detection area of the sensor at a predetermined interval. A device for executing processing,
An input circuit for inputting an output signal from the sensor, a memory for storing measured value data indicated by a signal input by the input circuit, an arithmetic circuit for measurement processing, and a processing result of the arithmetic circuit An output circuit for outputting to the outside is housed in a single casing, and a connector including an output terminal or a cable including an output signal line is exposed to the outside of the casing.
A first registration means for registering at least one set value of a trigger level for specifying a start point and an end point of a data accumulation period in the memory with respect to the measurement value data, and the trigger level. The standard length of the data storage period is registered by the number T of data stored when the measured value data generated during the data storage period is stored in the memory at regular intervals, and the standard length In the data accumulation period, the time point corresponding to the measurement value data to be measured or the start point and end point of the period corresponding to the measurement value data to be measured are from the start point of the data accumulation period to the corresponding time point. A second registration means registered according to the number of data stored in the memory ,
The arithmetic circuit compares the measured value data of each hour with the trigger level registered in the first registration means to determine the start point and end point of the data accumulation period, and from the start point to the end point. Data storage means for storing the measured value data generated between them in the memory at regular intervals; data indicating the number of data T1 stored in the memory by the data storage means and the standard length of the data storage period based on the ratio between the number T, the adjusting the number of data registered in the second registration means per start point and end point of the period in which the time or corresponding corresponding to the measured value data of the measurement object, after the adjustment Computation means for reading out the measured value data at the time or period corresponding to the number of data from the memory, and performing arithmetic processing using the read data,
The output circuit determines the start point and end point of the data accumulation period and ends the calculation process result using the measurement value data accumulated in the data accumulation period. Measurement processing device that outputs to terminals or output signal lines.
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