JP4451970B2 - Dicing machine including workpiece contour recognition device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体ウエーハの如き平板状被加工物の輪郭を認識する被加工物輪郭認識装置を含むダイシング機に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、半導体チップ製造工程においては、略円形平板形状の半導体ウエーハをその表面に格子状に配列された切断ラインに沿って切断するダイシング機が使用されている。かかるダイシング機において被加工物である半導体ウエーハを切断する際には、半導体ウエーハを装着フレームに装着して被加工物組立体を構成している。装着フレームは中央部に円形装着開口を有し、半導体ウエーハは透明乃至半透明装着テープを介して装着フレームの装着開口中に装着される。そして、複数個の被加工物組立体をカセットに収容してダイシング機に供給している。ダイシング機には、カセット載置域、待機域、チャッキング域及び加工域が配置されており、複数個の被加工物組立体を収容したカセットは、カセット載置域に載置される。カセットから待機域に被加工物組立体が搬出され、次いでチャッキング域に搬送されてチャッキング手段上に被加工物組立体がチャックされる。被加工物組立体をチャックしたチャッキング手段は加工域に搬送され、そして加工域においては回転切断刃を備えた加工手段によって半導体ウエーハが切断ラインに沿って切断即ち加工される。被加工物組立体における装着テープは完全に切断されることはなく、従って半導体ウエーハが切断された後においても、被加工物組立体は一体に保持されている。しかる後に、必要に応じて半導体ウエーハが洗浄され、次いで被加工物組立体は待機域に搬送され、カセットに搬入される。
【0003】
特開平4−363047号公報には、上記ダイシング機における切断効率を向上せしめるために、半導体ウエーハを切断するのに先立って、被加工物組立体における被加工物即ち半導体ウエーハの輪郭を認識し、認識した半導体ウエーハの輪郭に基いて切断を制御することが開示されている。被加工物である半導体ウエーハの輪郭を認識するための被加工物輪郭認識装置は、相互に対向して配設された発光手段と撮像手段とを含んでいる。発光手段は、通常、蛍光灯の如き照明灯と照明灯からの光を散乱せしめる散乱板とから構成されている。撮像手段はCCDカメラから構成することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
而して、ダイシング機に上述したとおりの被加工物輪郭認識装置を装備する場合、被加工物輪郭認識装置、特にその発光手段が嵩高であることに起因して、ダイシング機に被加工物輪郭認識装置を装備する専用の領域、即ち被加工物輪郭認識域を追加することが必要であり、それ故にダイシング機が大型化する、という問題があった。
【0005】
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その技術的課題は特別な被加工物輪郭認識域を配置する必要がなく、被加工物組立体が待機域に存在している時に被加工物の輪郭を認識することができるように装備された被加工物輪郭認識装置を具備する新規且つ改良されたダイシング機を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明者等は、鋭意検討の結果、待機手段に配設され支持手段構成する一対の支持レール上に載置される被加工物の下方及び上方に夫々配置され且つ相互に対向する発光手段と撮像手段都から被加工物輪郭認識装置を構成し、かかる被加工物輪郭認識装置の発光手段を少なくとも一方は作用位置と非作用位置との間を移動自在である第一のエレクトロルミネッサンス素子と第二のエレクトロルミネッサンス素子とを含む独特な形態にせしめることによって上記技術的課題を達成することができることを見出した。
【0007】
本発明によれば、上記技術的課題を達成するダイシング機として、カセット載置域、待機域、チャッキング域及び加工域が配置されており、該カセット載置域には中央部に装着開口を有する装着フレームと該装着フレームの該装着開口中に透明乃至半透明テープを介して装着された平板状被加工物とから構成された被加工物組立体が複数個収容されたカセットが載置され、該待機域には該被加工物組立体を支持するための支持手段が配設されており、該チャッキング域と該加工域との間を移動自在にチャッキング手段が配設されており、該チャッキング手段にチャックされた該被加工物組立体における該被加工物を該加工域において加工するための加工手段が配設されており、そして更に該カセット載置域に載置された該カセットから該待機域に該被加工物組立体を搬出し、該待機域から該チャッキング域に該被加工物組立体を搬送し、該チャッキング域から該待機域に該被加工物組立体を搬送し、該待機域から該カセットに該被加工物組立体を搬入する搬送手段が配設されており、該支持手段は間隔をおいて配設された一対の支持レールから構成されており、該装着フレームの両側縁部が該一対の支持レール上に載置されることによって、該被加工物組立体が該支持手段に支持され、該搬送手段は該カセット載置域に載置された該カセットから該待機域に該被加工物組立体を搬出し且つ該待機域から該カセットに該被加工物組立体を搬入する搬出・搬入手段を含む、ダイシング機において、
該待機域には被加工物輪郭認識装置が配設されており、
該被加工物輪郭認識装置は、該一対の支持レール上に載置される該被加工物組立体の下方に配設された発光手段と該一対の支持レール上に載置される該被加工物組立体の上方に配設され且つ該発光手段に対向して位置する撮像手段とを具備し、
該発光手段は第一のエレクトロルミネッセンス素子と第二のエレクトロルミネッセンス素子とを含み、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方は作用位置と非作用位置との間を移動自在に装着されており、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方が該作用位置に位置せしめられると、該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁とが相互に近接乃至当接せしめられ、或いは該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁部と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁部とが相互に重合せしめられ、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子とが協働して該装着フレームの該装着開口に対応した平板形状を規定し、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方が該非作用位置に位置せしめられると、該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁とが相互に離隔せしめられ、
該搬出・搬入手段が該被加工物組立体を搬出及び搬入際には、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方が該非作用位置に位置せしめられ、該搬出・搬入手段の少なくとも一部が該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁との間を通して移動せしめられる、ことを特徴とするダイシング機が提供される。
【0008】
好適には、該発光手段からの光以外の光が該撮像手段に到達するのを少なくとも部分的に阻止する遮光手段を含む。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に従って構成されたダイシング機の好適実施形態を図示している添付図面を参照して、更に詳述する。
【0010】
図1を参照して説明すると、全体を番号2で示すダイシング機は全体として略直方体形状であるハウジング4を具備している。かかるハウジング4の外壁の主部は金属薄板で形成されているが、ハウジング4の外壁の一部はアクリル樹脂の如き合成樹脂から形成されている。更に詳述すると、ハウジング4内には実質上水平に延在する主支持基板6が配設されている。金属薄板から形成することができる主支持基板6の前片側部には矩形切欠き8が形成されている。ハウジング4の片側面を部分的に規定する金属薄板部材10の上縁及びハウジング4の前面を部分的に規定する金属薄板部材12の上縁は主支持基板6の上面と整合せしめられている。金属薄板部材10及び12の上端片側部には、夫々、上記主支持基板6の上記切欠き8に対応して矩形切欠き14及び16が形成されている。ハウジング4の上面においては、その片角部のみが金属薄板部材18によって規定されている。上記主支持基板6上には金属部材から形成することができる支持フレーム20が固定されており、この支持フレーム20にはハウジング4の片側面の一部を規定する平板状の部材22、並びにハウジング4の上面の一部を規定する平板状の部材24及び26が固定されている。上記金属薄板部材10及び支持フレーム20には、ハウジング4の片側面の一部と共にハウジング4の上面の一部を規定するL字形状の部材28が固定されている。そして、この部材28には平板状の部材30が一対のヒンジ連結手段32を介して開閉自在に連結されている。部材30には把持片34が配設されている。部材30が図1に示す閉位置に位置せしめられている時にはハウジング4の前面が閉ざされているが、部材30をヒンジ連結手段32を中心として旋回動せしめて開位置に位置せしめるとハウジン4の前面が部分的に開放される。上記支持フレーム20にはL字形状の部材36が一対のヒンジ連結手段38を介して開閉自在に装着され、上記部材18にはL字形状の部材40が一対のヒンジ連結手段42を介して開閉自在に装着されている。部材36及び40には夫々把持片44及び46が配設されている。部材36及び40が閉位置に位置せしめられている時にはハウジング4の上面及び前面は閉じられているが、部材36及び40が夫々ヒンジ連結手段38及び42を中心として旋回動せしめられて開位置に位置せしめられるとハウジング4の前面及び上面が部分的に開放される。上記部材22、24、26、28、30、36及び40の少なくとも幾つかは、ダイシング機2が装備されている室の照明灯の光がハウジング4内の特定領域(後述する待機域)に到達するのを部分的に阻止乃至抑制する遮光手段として機能することが望まれるが、一方ではこれらの部材22、24、26、28、30、36及び40を通してハウジング4内の種々の作業領域を目視することも望まれる。かような相反する二つの要望を満たすために、部材22、24、26、28、30、36及び40の少なくとも幾つかは、半透明の合成樹脂材料、例えば比較的濃く着色されたアクリル樹脂から形成されているのが好都合である。
【0011】
ハウジング4内には、カセット載置域50、待機域52、チャッキング域54、アライメント域56、加工域58及び洗浄・乾燥域60が配置されている。カセット載置域50には昇降テーブル62が配設されている。図1においては昇降テーブル62は最下位置に下降せしめられている。昇降テーブル62には複数個の被加工物組立体64(図2)が収容されているカセット64が載置される。
【0012】
図2に明確に図示する如く、被加工物組立体66は装着フレーム68を含んでいる。ステンレス鋼板の如き金属板或いは合成樹脂から形成することができる装着フレーム68は、その中央部に円形状でよい装着開口70を有する。装着フレーム68の装着開口70中には、被加工物である半導体ウエーハ72が装着テープ74を介して装着されている。透明乃至半透明の合成樹脂テープから形成することができる装着テープ74は、装着フレーム68及び半導体ウエーハ72の下面に沿って延在せしめられ、装着フレーム68の下面と半導体ウエーハ72の下面との双方に接着せしめられている。半導体ウエーハ72の表面上には切断ライン76が格子状に配列されており、多数のチップ78が規定されている。
【0013】
再び図1を参照して説明すると、待機域52には支持手段80が配設されている。図示の実施形態においては、支持手段80は所定間隔をおいて配設された一対の支持レール82から構成されている(図3及び図4も参照されたい)。チャッキング域54と加工域58との間をアライメント域56を通して適宜に移動せしめられるチャッキング手段84が配設されている。かかるチャッキング手段84は、被加工物組立体66における半導体ウエーハ72を真空吸着することができる吸着テーブル86を有する。アライメント域56に関連せしめて、被加工物組立体66における半導体ウエーハ72の表面を撮像するための撮像手段88が配設されている。この撮像手段88は顕微鏡が付設されているCCDカメラから構成されているのが好都合である。加工域58には加工手段90が配設されており、この加工手段90は高速回転せしめられる回転切断刃92を有する。洗浄・乾燥域60には洗浄・乾燥手段(図示していない)が配設されている。ダイシング機2は、更に、搬出・搬入手段94、第一の搬送手段96及び第二の搬送手段98を含む搬送手段も具備している。ハウジング4の上面には表示手段100が配設されている。
【0014】
図1と共に図3乃至図5を参照して説明すると、搬出・搬入手段94は可動ブロック102を含んでおり、この可動ブロック102の先端には一対の把持片104が配設されている。一対の把持片104は上下方向に離隔した非作用状態と相互に接近して両者間に被加工物組立体66における装着フレーム68の片縁部を把持する作用状態とに選択的に位置せしめられる。上記主支持基板6には待機域52を通って直線状に延びる溝106が形成されている。搬出・搬入手段94の可動ブロック102には、溝106を通って延びる連結部材108が固定されており、かかる連結部材108の下端部は溝106に沿って延びる静止案内レール110に滑動自在に支持されている。連結部材108の下端部には図5において紙面に垂直な方向に延びる貫通雌ねじ孔112が形成されており、案内レール110の上方を案内レール110と平行に延びる雄ねじロッド114が雌ねじ孔112に螺合せしめられている。雄ねじロッド114には電動モータ(図示していない)が駆動連結されており、電動モータによって雄ねじロッド114を回転せしめることによって搬出・搬入手段94が溝106を通って移動せしめられる。
【0015】
上述したとおりのダイシング機2においては、部材30を開位置に旋回動せしめて昇降テーブル62上にカセット64が載置される。カセット64内には、上下方向に幾分かの間隔をおいて複数個の被加工物組立体66が収容されている。昇降テーブル62は適宜に昇降動せしめられ、カセット64内に収容されている複数個の被加工物組立体66の各々が順次に所要高さに位置せしめられる。所要高さに位置せしめられた被加工物組立体66は、搬出・搬入手段94の作用によってカセット64から待機域52まで搬出されて、被加工物組立体66における装着フレーム68の両側縁部が支持手段80を構成する一対の支持レール82上に位置せしめられる。次いで、第一の搬送手段96が被加工物組立体66を待機域52からチャッキング域54に搬送し、チャッキング手段84上に位置せしめる。被加工物組立体66はチャッキング手段84上にチャッキングされ、チャッキング手段84と共にアライメント域56に移動せしめられる。アライメント域56においては、被加工物組立体66における半導体ウエーハ72の表面の拡大像が撮像手段88によって撮像され、これに基いて加工手段90の回転切断刃92に対して半導体ウエーハ72の表面における切断ライン76が所要とおりに充分精密に位置付けされる。しかる後に、被加工物組立体66がチャッキング手段84と共に加工域58に移動せしめられ、加工域58において半導体ウエーハ72がダイシングされる。即ち、回転切断刃92の作用によって半導体ウエーハ72が切断ライン76に沿って切断される。かかる切断は、例えば、半導体ウエーハ72は完全に切断するが、装着テープ74は完全に切断することなく厚さ方向に僅かだけ切断することによって遂行される。従って、半導体ウエーハ72の切断を遂行した後においても、半導体ウエーハ72は装着テープ74を介して装着フレーム68に装着され続け、被加工物組立体66は一体に維持される。加工域58において半導体ウエーハ72が所要とおりに切断されると、被加工物組立体66はチャッキング手段84と共にチャッキング域54に戻される。次いで、第二の搬送手段98が被加工物組立体66をチャッキング域54から洗浄・乾燥域60に搬送する。洗浄・乾燥域60においては、半導体ウエーハ74に純水でよい洗浄液が噴射されて半導体ウエーハ74が洗浄され、次いで例えば高速回転せしめることによって乾燥(所謂スピン乾燥)される。しかる後に、第一の搬送手段96が洗浄・乾燥域60から待機域52に被加工物組立体66を搬送し、被加工物組立体66を一対の支持レール82上に位置せしめる。次いで、搬送・搬入手段94が被加工物組立体66を昇降テーブル62上に載置されているカセット64内に搬入する。
【0016】
而して、図示のダイシング機2における上述したとおりの構成及び作用は、部材22、24、26、28、30、36及び40を半透明(乃至被透明)合成樹脂材料から構成して遮光手段として機能せしめる点を除いて、当業者には周知の適宜の形態でよく、本発明に従って構成されたダイシング機2における新規な特徴を構成するものではない。それ故に、図示のダイシング機2における上述したとおりの構成及び作用の詳細な説明は本明細書においては省略する。
【0017】
図3乃至図5を参照して説明すると、本発明に従って構成されたダイシング機2においては、上記待機域52に被加工物輪郭認識装置116が配設されていることが重要である。この被加工物輪郭認識装置116は上下方向に離隔して配置されていて相互に対向せしめられている発光手段118と撮像手段120から構成されている。発光手段118は平板状のエレクトロルミネッセンス素子から構成されていることが重要である。それ自体は周知のエレクトルミネッセンス素子は、発光層の裏面に背面電極を表面に透明電極を配設して構成される。図示の実施形態においては、発光手段118は第一のエレクトロルミネッセンス素子122と第二のエレクトロルミネッセンス素子124とから構成されている。上記主支持基板6には、溝106の片側に半円形状の凹部126が形成されており、第一のエレクトロルミネッセンス素子122は、凹部126の形状に対応した半円形状であり、凹部126内に固着せしめられている。凹部126及びこれに埋設されている第一のエレクトロルミネッセンス素子122の直線状に延びる先端縁は溝106の片側縁と合致せしめられている。第二のエレクトロルミネッセンス素子124も半円形状であるが、第二のエレクトロルミネッセンス素子124は、図3乃至図5に実線で示す非作用位置と二点鎖線で示す作用位置との間を溝106の長手方向に対して実質上垂直な方向に移動自在に主支持基板6上に装着されている。図3を参照することによって理解される如く、支持手段80を構成する一対の支持レール82の一方は、第二のエレクトロルミネッセンス素子124が上記作用位置から非作用位置へ移動するのを許容するために、その長手方向中央部の下部が切り欠かれていて間隙128が形成されている。主支持基板6には上記溝106に対して実質上垂直に延びる溝130も形成されており、第二のエレクトロルミネッセンス素子124の下面には、溝130を通って下方に延びる垂下片132が固定されている。主支持基板6の下方には溝130に沿って延びる空気圧シリンダ134が配設されている。かかる空気圧シリンダ134のシリンダは適宜の部材(図示していない)を介して主支持基板6に固定されており、空気圧シリンダ134のピストンは垂下片132に固定されている。空気圧シリンダ134を伸縮せしめることによって、第二のエレクトロルミネッセンス素子124が上記作用位置と非作用位置とに選択的に位置付けられる。
【0018】
第二のエレクトロルミネッセンス素子124が非作用位置に位置せしめられている時には、第二のエレクトロルミネッセンス素子124の直線状に延びる先端縁は溝106の他側縁と整合或いはこれより幾分後退して位置せしめられており、従って第一のエレクトロルミネッセンス122と第二のエレクトロルミネッセンス124とは相互に離隔せしめられており、両者間において溝106が露呈せしめられている。一方、移動自在に装着された第二のエレクトロルミネッセンス素子124が二点鎖線で示す作用位置に位置せしめられると、図4を参照することによって明確に理解される如く、第二のエレクトロルミネッセンス素子124の直線状に延びる先端縁部が溝106を跨ぎ、第一のエレクトロルミネッセンス素子122の先端縁部の上側に重合される。そして、第一のエレクトロルミネッセンス素子122と第二のエレクトロルミネッセンス素子124とが協働して、平面図において略円形を規定する。第一のエレクトロルミネッセンス素子122と第二のエレクトロルミネッセンス素子124とが規定する円形乃至略円形は、被加工物組立体66における装着フレーム68に形成されている装着開口70に対応せしめられている、換言すれば装着開口70と実質上同寸同形或いはこれより幾分大きい又は小さい円形である、のが好適である。図示の実施形態においては、第二のエレクトロルミネッセンス素子124のみを移動自在に装着しているが、所望ならば第一のエレクトロルミネッセンス素子122と第二のエレクトロルミネッセンス素子124との双方を移動自在に装着することもできる。また、図示の実施形態においては、第一のエレクトロルミネッセンス素子122と第二のエレクトロルミネッセンス素子124とを異なった高さに配置して、第二のエレクトロルメネッセンス素子124を作用位置に移動せしめた時に第二のエレクトロルミネッセンス素子124の先端縁部が第一のエレクトロルミネッセンス素子122の先端縁部に重合せしめられるが、所望ならば、第一のエレクトロルミネッセンス素子122と第二のエレクトロルミネッセンス素子124とを同高に配置し、第二のエレクトロルミネッセンス素子124を作用位置に移動せしめた時に、第一のエレクトロルミネッセンス素子122の先端縁と第二のエレクトロルミネッセンス素子124の先端縁とが近接乃至当接せしめられるようになすこともできる。発光手段118を構成する第一のエレクトロルミネッセンス素子122及び第二のエレクトロルミネッセンス素子124は著しく薄い平板形状であるので、支持手段80を構成する一対の支持レール82の間に必然的に存在する空間を利用して配設することができ、発光手段118を配設することによってダイシング機2が大型化することは実質上ないことが注目されるべきである。
【0019】
被加工物輪郭認識装置116の撮像手段120は、発光手段118から鉛直方向上方に離隔せしめられた所定位置に固定されている。この撮像手段120はそれ自体は周知のCCDカメラから構成することができる。
【0020】
上述したとおりの被加工物輪郭認識装置116の作用を要約して説明すると次のとおりである。上述したとおりにして、搬出・搬入手段94がカセット64から被加工物組立体66を搬出する際には、第二のエレクトロルミネッセンス素子124は非作用位置に位置せしめられており、第一のエレクトロルミネッセンス素子122の先端縁と第二のエレクトロルミネッセンス素子124の先端縁とは離隔されていて、両者間にて溝106が露呈されている。従って、搬出・搬入手段94の連結部材108は、第一のエレクトロルミネッセンス素子122の先端縁と第二のエレクトロルミネッセンス素子124の先端縁との間及び溝106を通って移動することができる。図3乃至図5に二点鎖線で示す如く、カセット64から待機域52に被加工物組立体66が搬出され、被加工物組立体66における装着フレーム68の両側縁部が一対の支持レール82上に載置されると、被加工物組立体66における被加工物即ち半導体ウエーハ72は、被加工物輪郭認識装置116における発光手段118と撮像手段120との間に位置せしめられる。しかる後に、第二のエレクトロルミネッセンス素子124が作用位置に移動せしめられる。そして、発光手段118が付勢されて撮像手段120に向けて投光される。被加工物組立体66における被加工物即ち半導体ウエーハ72(及び装着フレーム68)は光を透過せしめないが、装着テープ74は透明乃至半透明であるので光を透過せしめ、従って半導体ウエーハ72の周囲にて装着テープ74を透過した光が撮像手段120に入光する。かくして、撮像手段120は半導体ウエーハ72の輪郭に対応して明度が顕著に変化する像を撮像し、従って撮像手段120が撮像する像に基いて半導体ウエーハ72の輪郭を明確に認識することができる。上述したとおり、ハウジング4の外壁を規定している部材22、24、26、28、30、36及び40の少なくとも幾つかは半透明(乃至非透明)合成樹脂材料から形成されていて、ダイシング機2が装備されている室の照明灯からの光が待機域52に到達するのを少なくとも部分的に阻止乃至抑制される場合には、撮像手段120に撮像される像において半導体ウエーハ72の輪郭をより一層明確に認識することができる。半導体ウエーハ72の輪郭が認識された後に、第二のエレクトロルミネッセンス素子124は非作用位置に戻される。従って、待機域52からカセット64に被加工物組立体66を搬入する際にも、搬出・搬入手段94の連結部材108は、第一のエレクトロルミネッセンス素子122の先端縁と第二のエレクトロルミネッセンス素子124の先端縁との間及び溝106を通って移動することができる。
【0021】
【発明の効果】
本発明のダイシング機においては、特別な被加工物輪郭認識域を配置してダイシング機を大型化せしめる必要がなく、被加工物組立体が待機域に存在している時に被加工物の輪郭を認識することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明に従って構成されたダイシング機の一実施形態の全体を簡略に示す斜面図。
【図2】 図2は、図1に示すダイシング機においてダイシングされる半導体ウエーハを被加工物として含む被加工物組立体を示す斜面図。
【図3】 図3は、図1のダイシング機における、被加工物輪郭認識装置が装備された待機域近傍を示す部分斜面図。
【図4】 図4は、図1のダイシング機における、被加工物輪郭認識装置が装備された待機域近傍を示す部分平面図。
【図5】 図5は、図1のダイシング機における、被加工物輪郭認識装置が装備された待機域近傍を示す断面図。
【符号の説明】
2:ダイシング機
4:ハウジング
50:カセット載置域
52:待機域
54:チャッキング域
56:アライメント域
58:加工域
60:洗浄・乾燥域
62:昇降テーブル
64:カセット
66:被加工物組立体
68:装着フレーム
70:装着開口
72:半導体ウエーハ(被加工物)
74:装着テープ
80:支持手段
82:支持レール
84:チャッキング手段
88:アライメント域の撮像手段
90:加工手段
94:搬出・搬入手段
116:被加工物輪郭認識装置
118:発光手段
120:撮像手段
122:第一のエレクトロルミネッセンス素子
124:第二のエレクトロルミネッセンス素子[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a workpiece contour recognition apparatus for recognizing the contour of a flat workpiece such as a semiconductor wafer.Including dicingRelated to the machine.
[0002]
[Prior art]
For example, in a semiconductor chip manufacturing process, a substantially circular flat semiconductor wafer is cut along cutting lines arranged in a lattice pattern on the surface thereof.RuAn icing machine is used. When cutting a semiconductor wafer, which is a workpiece, in such a dicing machine, the workpiece assembly is configured by mounting the semiconductor wafer on a mounting frame. The mounting frame has a circular mounting opening at the center, and the semiconductor wafer is mounted in the mounting opening of the mounting frame via a transparent or translucent mounting tape. A plurality of workpiece assemblies are accommodated in a cassette and supplied to a dicing machine. The dicing machine is provided with a cassette placement area, a standby area, a chucking area, and a machining area, and a cassette containing a plurality of workpiece assemblies is placed in the cassette placement area. The workpiece assembly is unloaded from the cassette to the standby area, and is then transported to the chucking area where the workpiece assembly is chucked on the chucking means. The chucking means that chucks the workpiece assembly is transported to the processing area, and in the processing area, the semiconductor wafer is cut or processed along the cutting line by the processing means having a rotary cutting blade. The mounting tape in the workpiece assembly is not completely cut, so that the workpiece assembly is held together even after the semiconductor wafer is cut. Thereafter, the semiconductor wafer is cleaned as necessary, and then the workpiece assembly is transported to a standby area and loaded into a cassette.
[0003]
In Japanese Patent Laid-Open No. 4-363077, in order to improve the cutting efficiency in the dicing machine, prior to cutting the semiconductor wafer, the outline of the workpiece, that is, the semiconductor wafer in the workpiece assembly is recognized. It is disclosed to control cutting based on a recognized semiconductor wafer profile. A workpiece contour recognition apparatus for recognizing the contour of a semiconductor wafer, which is a workpiece, includes a light emitting means and an imaging means arranged to face each other. The light emitting means is usually composed of an illuminating lamp such as a fluorescent lamp and a scattering plate that scatters light from the illuminating lamp. The imaging means can be composed of a CCD camera.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Thus, dicingIn machineWhen equipped with the workpiece contour recognition device as described above, due to the fact that the workpiece contour recognition device, particularly its light emitting means, is bulky,DicingIt is necessary to add a dedicated area to equip the machine with the workpiece contour recognition device, i.e. the workpiece contour recognition area.DicingThere was a problem that the machine became larger.
[0005]
The present invention has been made in view of the above facts, and its technical problem.Is specialWork piece contour recognition equipped so that the contour of the work piece can be recognized when the work piece assembly is in the standby area, without the need for a separate work piece contour recognition area New and improved with equipmentDicingIs to provide a machine.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
As a result of intensive studies, the present inventors haveA workpiece contour recognition apparatus is provided from a light emitting means and an imaging means located respectively below and above a workpiece placed on a pair of support rails that are arranged in a waiting means and constitute a support means. And a unique light-emitting means of the workpiece contour recognition apparatus, wherein at least one of the light-emitting means includes a first electroluminescence element and a second electroluminescence element that are movable between an action position and a non-action position. The present inventors have found that the above technical problem can be achieved by adopting various forms.
[0007]
The present inventionAccording toAchieving the above technical issuesDicing machineAs shown, a cassette placement area, a standby area, a chucking area, and a processing area are arranged. The cassette placement area has a mounting frame having a mounting opening in the center, and is transparent or transparent in the mounting opening of the mounting frame. A cassette containing a plurality of workpiece assemblies each composed of a planar workpiece mounted via a translucent tape is placed, and the workpiece assembly is supported in the standby area. Supporting means is provided, chucking means is provided movably between the chucking area and the processing area, and the workpiece assembly is chucked by the chucking means Processing means for processing the workpiece in the processing area is disposed, and the workpiece assembly is further carried out from the cassette placed in the cassette placement area to the standby area. And the check from the standby area A conveying means for conveying the workpiece assembly to a gripping area, conveying the workpiece assembly from the chucking area to the standby area, and carrying the workpiece assembly from the standby area to the cassette. Is arrangedThe support means is composed of a pair of support rails arranged at an interval, and both side edges of the mounting frame are placed on the pair of support rails, whereby the workpiece The assembly is supported by the support means, and the transport means carries the workpiece assembly from the cassette placed in the cassette placement area to the standby area and from the standby area to the cassette. Dicing including unloading / loading means for loading the workpiece assemblyIn the machine
A workpiece contour recognition device is disposed in the standby area,
The workpiece contour recognition device includes: a light emitting unit disposed below the workpiece assembly placed on the pair of support rails; and the workpiece placed on the pair of support rails. An image pickup means disposed above the object assembly and facing the light emitting means,
The light emitting means includes a first electroluminescent element and a second electroluminescent element, and at least one of the first electroluminescent element and the second electroluminescent element is between an active position and a non-active position. When at least one of the first electroluminescent element and the second electroluminescent element is positioned at the working position, the leading edge of the first electroluminescent element and the The leading edge of the second electroluminescent element is brought close to or in contact with each other, or the leading edge of the first electroluminescent element and the leading edge of the second electroluminescent element are overlapped with each other. The first electroluminescent element and the second element. The troluminescent element cooperates to define a flat plate shape corresponding to the mounting opening of the mounting frame, and at least one of the first electroluminescent element and the second electroluminescent element is located at the non-operating position. The leading edge of the first electroluminescent element and the leading edge of the second electroluminescent element are separated from each other,
When the unloading / unloading means unloads and unloads the workpiece assembly, at least one of the first electroluminescent element and the second electroluminescent element is positioned at the non-operating position, At least a portion of the loading means is moved between the leading edge of the first electroluminescent element and the leading edge of the second electroluminescent element;It is characterized byDicingA machine is provided.
[0008]
PreferablyTheLight blocking means for at least partially blocking light other than light from the light emitting means from reaching the imaging meansincluding.
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The following is configured according to the present invention.DicingPreferred form of machineStateFurther details will be described with reference to the accompanying drawings.
[0010]
Referring to FIG. 1, a dicing machine generally designated by reference numeral 2 includes a housing 4 having a substantially rectangular parallelepiped shape as a whole. The main part of the outer wall of the housing 4 is formed of a thin metal plate, but a part of the outer wall of the housing 4 is formed of a synthetic resin such as an acrylic resin. More specifically, a
[0011]
In the housing 4, a
[0012]
As clearly shown in FIG. 2, the
[0013]
Referring back to FIG. 1, support means 80 is disposed in the
[0014]
Referring to FIGS. 3 to 5 together with FIG. 1, the carry-out / carry-in means 94 includes a
[0015]
In the dicing machine 2 as described above, the
[0016]
Thus, the configuration and operation of the dicing machine 2 shown in the figure as described above is that the
[0017]
3 to 5, in the dicing machine 2 configured according to the present invention, it is important that the workpiece
[0018]
When the
[0019]
The imaging means 120 of the workpiece
[0020]
The operation of the workpiece
[0021]
【The invention's effect】
BookInventionDicingThe machine has a special workpiece contour recognition areaDicingThere is no need to increase the size of the machine, and the contour of the workpiece can be recognized when the workpiece assembly is in the standby area.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is constructed in accordance with the present inventionDicingOne implementation of the machineStateThe slope figure which shows the whole simply.
FIG. 2 is a perspective view showing a workpiece assembly including a semiconductor wafer to be diced in the dicing machine shown in FIG. 1 as a workpiece.
FIG. 3 is a partial perspective view showing the vicinity of a standby area equipped with a workpiece contour recognition device in the dicing machine of FIG. 1;
FIG. 4 is a partial plan view showing the vicinity of a standby area equipped with a workpiece contour recognition device in the dicing machine of FIG. 1;
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the vicinity of a standby area equipped with a workpiece contour recognition device in the dicing machine of FIG. 1;
[Explanation of symbols]
2: Dicing machine
4: Housing
50: Cassette loading area
52: Standby area
54: Chucking area
56: Alignment area
58: Processing area
60: Cleaning / drying area
62: Lifting table
64: Cassette
66: Workpiece assembly
68: Installation frame
70: Installation opening
72: Semiconductor wafer (workpiece)
74: Mounting tape
80: Support means
82: Support rail
84: Chucking means
88: Imaging means for alignment area
90: Processing means
94: Unloading / loading means
116: Workpiece contour recognition apparatus
118: Light emitting means
120: Imaging means
122: First electroluminescence element
124: Second electroluminescence element
Claims (2)
該待機域には被加工物輪郭認識装置が配設されており、
該被加工物輪郭認識装置は、該一対の支持レール上に載置される該被加工物組立体の下方に配設された発光手段と該一対の支持レール上に載置される該被加工物組立体の上方に配設され且つ該発光手段に対向して位置する撮像手段とを具備し、
該発光手段は第一のエレクトロルミネッセンス素子と第二のエレクトロルミネッセンス素子とを含み、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方は作用位置と非作用位置との間を移動自在に装着されており、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方が該作用位置に位置せしめられると、該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁とが相互に近接乃至当接せしめられ、或いは該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁部と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁部とが相互に重合せしめられ、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子とが協働して該装着フレームの該装着開口に対応した平板形状を規定し、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方が該非作用位置に位置せしめられると、該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁とが相互に離隔せしめられ、
該搬出・搬入手段が該被加工物組立体を搬出及び搬入際には、該第一のエレクトロルミネッセンス素子と該第二のエレクトロルミネッセンス素子との少なくとも一方が該非作用位置に位置せしめられ、該搬出・搬入手段の少なくとも一部が該第一のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁と該第二のエレクトロルミネッセンス素子の先端縁との間を通して移動せしめられる、ことを特徴とするダイシング機。A cassette mounting area, a standby area, a chucking area, and a processing area are arranged. The cassette mounting area has a mounting frame having a mounting opening in the center, and is transparent or translucent in the mounting opening of the mounting frame. A cassette containing a plurality of workpiece assemblies each composed of a flat workpiece mounted via a tape is placed, and the standby area is for supporting the workpiece assembly. Support means is provided, chucking means is provided movably between the chucking area and the processing area, and the workpiece assembly in the workpiece assembly chucked by the chucking means Processing means for processing the workpiece in the processing area is disposed, and the workpiece assembly is further unloaded from the cassette placed in the cassette placement area to the standby area, From the waiting area to the chucking area Transport means is provided for transporting the workpiece assembly, transporting the workpiece assembly from the chucking area to the standby area, and loading the workpiece assembly from the standby area into the cassette. The support means is composed of a pair of support rails arranged at an interval, and both side edges of the mounting frame are placed on the pair of support rails, so that the workpiece is processed. The workpiece assembly is supported by the support means, and the conveying means carries the workpiece assembly from the cassette placed in the cassette placement area to the standby area and from the standby area to the cassette. In a dicing machine including unloading / loading means for loading a workpiece assembly ,
A workpiece contour recognition device is disposed in the standby area,
The workpiece contour recognition device includes: a light emitting unit disposed below the workpiece assembly placed on the pair of support rails; and the workpiece placed on the pair of support rails. An image pickup means disposed above the object assembly and facing the light emitting means,
The light emitting means includes a first electroluminescent element and a second electroluminescent element, and at least one of the first electroluminescent element and the second electroluminescent element is between an active position and a non-active position. When at least one of the first electroluminescent element and the second electroluminescent element is positioned at the working position, the leading edge of the first electroluminescent element and the The leading edge of the second electroluminescent element is brought close to or in contact with each other, or the leading edge of the first electroluminescent element and the leading edge of the second electroluminescent element are overlapped with each other. The first electroluminescent element and the second element. The troluminescent element cooperates to define a flat plate shape corresponding to the mounting opening of the mounting frame, and at least one of the first electroluminescent element and the second electroluminescent element is located at the non-operating position. The leading edge of the first electroluminescent element and the leading edge of the second electroluminescent element are separated from each other,
When the unloading / unloading means unloads and unloads the workpiece assembly, at least one of the first electroluminescence element and the second electroluminescence element is positioned at the non-operating position, A dicing machine characterized in that at least a part of the loading means is moved between the leading edge of the first electroluminescent element and the leading edge of the second electroluminescent element .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000226947A JP4451970B2 (en) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | Dicing machine including workpiece contour recognition device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000226947A JP4451970B2 (en) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | Dicing machine including workpiece contour recognition device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002039725A JP2002039725A (en) | 2002-02-06 |
| JP4451970B2 true JP4451970B2 (en) | 2010-04-14 |
Family
ID=18720478
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000226947A Expired - Lifetime JP4451970B2 (en) | 2000-07-27 | 2000-07-27 | Dicing machine including workpiece contour recognition device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4451970B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006214896A (en) * | 2005-02-04 | 2006-08-17 | Disco Abrasive Syst Ltd | Shape recognition device |
| JP6896337B2 (en) | 2017-06-01 | 2021-06-30 | 株式会社ディスコ | Processing method for fan-shaped wafer pieces |
| CN116190294B (en) * | 2023-04-24 | 2023-07-25 | 上海果纳半导体技术有限公司 | Crown block teaching method |
-
2000
- 2000-07-27 JP JP2000226947A patent/JP4451970B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002039725A (en) | 2002-02-06 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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