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JP4456301B2 - Particle size distribution measuring device - Google Patents
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JP4456301B2 JP2001218381A JP2001218381A JP4456301B2 JP 4456301 B2 JP4456301 B2 JP 4456301B2 JP 2001218381 A JP2001218381 A JP 2001218381A JP 2001218381 A JP2001218381 A JP 2001218381A JP 4456301 B2 JP4456301 B2 JP 4456301B2
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  • Optical Measuring Cells (AREA)
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光回折/散乱式粒子径分布測定装置などの粒子径分布測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
粒子の測定技術は、薬品、食品、セラミックス、化粧品、塗料、色素など広い分野にわたって、粉粒体の性能を決定し、また、評価する上で不可欠であり、その重要性は日増しに高まっている。このような粉粒体の粒子径の分布を測定する装置の一つに、レーザ光回折/散乱式粒子径分布測定装置がある。
【0003】
そして、前記レーザ光回折/散乱式粒子径分布測定装置として、サンプルを挟んだ状態で保持される光透過性を有する二枚の板状体からなるペースト式セルと、このセルに対して光を照射する照射部と、この光源からの光が前記サンプルに照射されることよって生じる二次光を検出する検出手段とを備えたものがある。
【0004】
上記の構成からなる粒子径分布測定装置では、前記ペースト式セルにレーザ光を照射し、ペースト式セル内のサンプル粒子によって回折および/または散乱されたレーザ光を検出手段によって検出し、これによって得られる回折および/または散乱光の強度分布を、フランホーファ回折やミー散乱理論に基づいて処理し、サンプル粒子の粒子径分布を求めるのである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来の粒子径分布測定装置では、以下の問題があった。すなわち、前記ペースト式セル内では、大きい粒子と小さい粒子とが完全にランダムに混ざっていないため、光が当たる領域によって異なった粒子径分布が測定されるのであるが、前記粒子径分布測定装置では、粒子径分布の測定中に前記ペースト式セルを移動させることができなかったことから、光源からの光をペースト式セルの特定の位置にしか当てることができず、その領域内にあるサンプル粒子の粒子径分布のみしか測定することができなかった。そのため、再現性が悪く、正確な測定を行えなかった。
【0006】
本発明は、上述のような課題を考慮に入れてなされたものであって、その目的は、ペースト式セル内のより多くの領域を対象として測定を行え、正確な粒子径分布を測定できる粒子径分布測定装置を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の粒子径分布測定装置は、サンプルを挟んだ状態で保持される光透過性を有する二枚の板状体からなるペースト式セルと、このペースト式セルに対して光を照射する照射部と、この照射部からの光が前記サンプルに照射されることよって生じる二次光を検出する検出手段とを備えた粒子径分布測定装置であって、前記ペースト式セルを、前記照射部から照射される光の光軸を法線とする面上で移動させるための移動機構を設け
前記ペースト式セルは、該ペースト式セルの異なる領域にわたって前記照射部からの光が照射されるように前記移動機構によって間欠的に動かされ、
前記ペースト式セルが止まっている間に測定を行い、測定を開始する前に、前記照射部から照射されるレーザ光の光軸のずれの有無を自動的に判断する(請求項1)。
【0008】
上記の構成からなる本発明では、ペースト式セル内のより多くの領域を対象として測定を行え、正確な粒子径分布を測定できる粒子径分布測定装置を提供することが可能となる。
【0009】
また、測定者が粒子径の測定を開始するために測定開始操作をすると、測定を開始する前に、前記照射部から照射されるレーザ光の光軸のずれの有無を自動的に判断し、光軸ずれが無ければ測定を開始し、光軸ずれが有れば光軸調整を行った後に測定を開始する光軸調整機能を有しているので、光軸が合っていることが確認できれば光軸調整作業を行わないため、不要な光軸調整作業にかける無駄な時間をなくすことができ、また、測定開始操作をすると、光軸ずれの有無の判断が自動的に行われるように構成されていることから、測定者が光軸調整を行うことを忘れて、不正確な測定データを得てしまうということを確実に防止することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を、図を参照しながら説明する。
図1は、本発明の一実施例に係るレーザ光回折/散乱式粒子径分布測定装置Dの構成を概略的に示す説明図である。
粒子径分布測定装置Dは、サンプルSを挟んだ状態で保持される光透過性を有する二枚の板状体1,1からなるペースト式セル2(以下、セルという)と、このセル2に対して光を照射する照射部3と、この照射部3からの光が前記サンプルSに照射されることよって生じる二次光(回折光および/または散乱光)を検出する検出手段4とを備えている。
【0011】
なお、上記粒子径分布測定装置Dは、前記セル2内のサンプルSにレーザ光を照射し、サンプルSによって回折および/または散乱されたレーザ光を検出手段4によって検出し、これによって得られる回折および/または散乱光の強度分布を、フランホーファ回折やミー散乱理論に基づいて処理し、サンプルSの粒子径分布を求めるレーザー回折/散乱式粒子径分布測定装置である。
【0012】
前記板状体1は、例えば、ほぼ矩形状をしたガラス板からなる。
【0013】
前記照射部3は、レーザ光を水平方向に発するレーザ光源5と、このレーザ光源5から発せられる発散性のレーザ光を収斂する集光レンズ6と、この集光レンズを経て収斂されたレーザ光(以下、集光レーザ光という)を90度曲げて前記セル2に照射するミラー7と、このミラー7を保持し、自動制御されるレーザ光軸調整機構8とを有している。
【0014】
前記検出手段4は、光検出器9(リングディテクタ)と、広角散乱光用検出群10とを有している。
【0015】
前記光検出器9は、前記セル2を通過した集光レーザ光が焦点を結ぶ位置に設けられており、図2に示すように、集光レンズ光の光軸を中心として互いに半径の異なるリング状または半リング状の受光面をもつフォトセンサ11を複数個同心状に配列したもので、セル2内のサンプルSによって回折および/または散乱した集光レーザ光のうち、比較的小さい角度で回折/散乱した光を各散乱角ごとにそれぞれ受光して、それらの光強度を測定するものである。
【0016】
そして、前記光検出器9を構成する各フォトセンサ11には、その出力を増幅するプリアンプ12が接続されている。
【0017】
前記広角散乱光用検出群10は、前記セル2の近傍に設けられており、セル2内のサンプルSによって回折および/または散乱した集光レーザ光のうち比較的大きい角度で回折および/または散乱した光を、各散乱角ごとに個別に検出するものである。
【0018】
そして、前記広角散乱光検出群10は、光検出器9と異なる角度で設けられる複数のフォトセンサ13〜18からなり、それぞれの配設角度に応じて、セル2内のサンプルSによる所定角度の散乱光を検出する。すなわち、フォトセンサ13〜16は前方散乱光を、フォトセンサ17は側方散乱光を、フォトセンサ18は後方散乱光をそれぞれ検出する。
【0019】
前記フォトセンサ13〜18にはそれぞれ、各フォトセンサ13〜18の出力を増幅するプリアンプ19が接続されている。
【0020】
また、前記広角散乱光検出群10(フォトセンサ13〜18)の前面側(光入射側)には、互いに平行である2枚の光遮蔽板20,21が立設されており、これらの光遮蔽板20,21には、フォトセンサ13〜18に対して特定の散乱角度の散乱光のみを通過させるための複数の開口,例えばスリット22,23が、エッチングなどの手法によってそれぞれ開設されている。
【0021】
なお、例えば、前方散乱光を検出する一つのフォトセンサ13に対応するスリット22,23は、必ずしも同じ形状,大きさでなく、セル2からの前方散乱光のうち、所定の散乱角の散乱光のみをフォトセンサ13に入射するように相互の位置が設定されている。このことは、他のフォトセンサ14〜18に対応するスリット22,23についても同様である。
【0022】
前記プリアンプ12,19には、プリアンプ12,19からの出力を順次取り込み、AD変換器25に順次送出するマルチプレクサ24が接続されており、前記AD変換器25には、AD変換器25の出力が入力される演算処理装置としてのコンピュータ26が接続されている。
【0023】
前記コンピュータ26は、デジタル信号に変換された光検出器9およびフォトセンサ13〜18の出力(光強度に関するデジタルデータ)を、フラウンホーファ回折理論やミー散乱理論に基づいて処理し、粒子群における粒子径分布を求めるプログラムが格納されている。また、コンピュータ26には、演算結果などを表示するカラーディスプレイ27が接続されている。
【0024】
上述のように構成された粒子径分布測定装置Dでは、セル2内のサンプルSに照射された集光レーザ光は、セル2内のサンプルSによって回折および/または散乱し、その回折光および/または散乱光のうち、比較的散乱角の小さい光は光検出器9上に結像される。
【0025】
この際、光検出器9のうち、外周側のフォトセンサ11が散乱角の大きい光を受光し、内周側のフォトセンサ11が散乱角の小さい光を受光する。従って、外周側のフォトセンサ11の検出する光強度は粒子径のより小さいサンプル粒子の量を反映しており、内周側のフォトセンサ11の検出する光強度は粒子径のより大きいサンプル粒子の量を反映していることになる。これらの各フォトセンサ11が検出した光強度はアナログ電気信号に変換され、さらにプリアンプ12を経てマルチプレクサ24に入力される。
【0026】
一方、前記サンプル粒子によって回折および/または散乱した集光レーザ光のうち、比較的散乱角の大きい光は、光遮蔽板20,21にそれぞれ形成されたスリット22,23によって制限され、特定の散乱角度の散乱光のみがフォトセンサ13〜18にそれぞれ入射し、その光強度分布が測定される。
【0027】
この際、前方散乱光用フォトセンサ13〜16、側方用散乱光フォトセンサ17、後方散乱光用フォトセンサ18の順に、粒子径の大きいサンプル粒子からの散乱光を検出する。そして、これらの各フォトセンサ13〜18が検出した光強度はアナログ電気信号に変換され、さらにプリアンプ19を経てマルチプレクサ24に入力される。
【0028】
そして、マルチプレクサ24においては、光検出器9およびフォトセンサ13〜18からの測定データ、つまりアナログ電気信号が所定の順序で順次取り込まれ、かつ、直列信号にされて、AD変換器24で順次デジタル信号に変換され、さらにコンピュータ26に入力されて、光検出器9およびフォトセンサ13〜18によってそれぞれ得られた各散乱角ごとの光強度データが、フラウンホーファ回折理論やミー散乱理論に基づいて処理され、その処理結果がカラーディスプレイ27に表示されるのである。
【0029】
このように、上記粒子径分布測定装置Dにおいては、粒子径の大きい粒子径範囲についての散乱光の光強度分布については、光検出器9によって測定し、粒子径の小さい粒子径範囲についての広角の散乱光の光強度分布については、フォトセンサ13〜18によって測定し、これらの光検出器9およびフォトセンサ13〜18の出力をコンピュータ26において処理しているので、粒子群における粒子径分布を、粒子径の比較的大きなものから微小なものまで広い範囲にわたって一挙に求めることができる。
【0030】
図3は、セルホルダ30の構成を概略的に示す斜視図である。
前記粒子径分布測定装置Dには、前記セル2を保持する保持部28と、前記セル2を保持部28とともに、前記照射部3から照射される光の光軸を法線とする平面上で移動させるための移動機構29とを有するセルホルダ30が設けられている。なお、前記セルホルダ30は、光学ベンチベース31(図1参照)の上面に立設保持されている。
【0031】
前記保持部28は、断面がコの字形状、正面視がL字形状をしており、前記セル2が載置される載置部分32と、前記セル2にその一方側から当接する3つの当接体33,33,33とを備えている。
【0032】
前記載置部分32は、互いに平行に設けられ、それぞれの正面視がほぼL字形状をしている2つの側壁部32a,32aと、これら2つの側壁部32a,32aの間に設けられる隙間形成部32bとからなる。
【0033】
前記当接体33は、前記載置部分32の一方の側壁部32aに形成された雌ねじ孔32cに螺合する雄ねじ部(図示せず)を有しており、当接体33のハンドル部33aを一方に回転させることで、当接体33を他方の側壁部32aに対して近づく方向に移動させることができ、また、ハンドル部33aを他方に回転させることで、当接体33を他方の側壁部32aから遠ざかる方向に移動させることができる。
【0034】
前記3つの当接体33は、全て一方の側壁部32aに対して設けられており、例えば、一方の側壁部32aの両端部と中央部とに配置されている。
【0035】
上記の構成からなる保持部28に対してセル2を固定するには、まず、セル2を載置部分32に載置し、この状態で、セル2に対して3つの当接体33,33,33が当接するように移動させればよく、これによって、セル2は、載置部分32において、3つの当接体33,33,33と他方の側壁部32aとで挟まれた状態となって保持されることになる。
【0036】
前記移動機構29は、前記セル2を、前記照射部3から照射される光の光軸を法線とする平面上において一方向(例えば、上下方向または鉛直方向、以下、X方向という)に移動させるための第一機構34と、前記セル2を、前記照射部3から照射される光の光軸を法線とする平面上において前記X方向と垂直な他方向(例えば、セル2の左右・幅方向または水平方向、以下Y方向という)に移動させるための第二機構35とからなる。
【0037】
前記第一機構34は、前記保持部28に突設され、前記X方向に設けられた雌ねじ孔36aおよび貫通孔36bを有する突設部36と、前記雌ねじ孔36aに螺合する雄ねじ体37と、前記貫通孔36bを挿通するガイド体38と、このガイド体38の外周に保持され、前記突設部36をガイド体38の長さ方向に付勢する付勢手段(例えば、スプリング)39と、前記雄ねじ体37をその軸心回りに回転させるための駆動手段(例えば、ステッピングモータ)40と、前記ガイド体38の両端が連結されるとともに、前記雄ねじ体37をその軸心回りに回転可能に保持する本体41とからなる。なお、前記本体41には、駆動手段40も固定されている。
【0038】
前記第二機構35は、前記第一機構34の本体41に突設され、前記Y方向に設けられた雌ねじ孔42aおよび貫通孔42bを有する突設部42と、前記雌ねじ孔42aに螺合する雄ねじ体43と、前記貫通孔42bを挿通するガイド体44と、このガイド体44の外周に保持され、前記突設部42をガイド体44の長さ方向に付勢する付勢手段(例えば、スプリング)45と、前記雄ねじ体43をその軸心回りに回転させるための駆動手段(例えば、ステッピングモータ)46と、前記ガイド体44の両端が連結されるとともに、前記雄ねじ体43をその軸心回りに回転可能に保持し、かつセルガイド30の架台部ともなる本体47とからなる。なお、前記本体47には、駆動手段46も固定されている。
【0039】
上記の構成からなる移動機構29では、前記駆動手段40によって雄ねじ体37をその軸心回りに回転させることで、突設部36を有する保持部28を雄ねじ体37の軸心方向、すなわちX方向に動かすことができる。このとき、前記突設部36は、前記ガイド体38によってガイドされ、かつ前記付勢手段39によって付勢されてバックラッシュが生じない状態となっていることから、がたついたりすることなく、滑らかにX方向に動くことになる。
【0040】
また、前記駆動手段46によって雄ねじ体43をその軸心回りに回転させることで、突設部42を有する第一機構34,保持部28およびセル2を雄ねじ体43の軸心方向、すなわちY方向に動かすことができる。このとき、前記突設部42は、前記ガイド体44によってガイドされ、かつ前記付勢手段45によって付勢されてバックラッシュが生じない状態となっていることから、がたついたりすることなく、滑らかにY方向に動くことになる。
【0041】
上記の構成からなるセルホルダ30では、セル2を、その左右辺部のいずれか一方と上辺部とを挟まない状態で保持することができるので、セル2の広い領域に対して集光レーザ光を照射させて測定することが可能となる。
【0042】
そして、上記の構成からなる粒子径分布測定装置Dでは、測定開始と同時に、前記セル2を動かし始めるのであり、測定終了までに、セル2の測定可能な領域全体にわたって偏ることなく集光レーザ光を照射するように、セル2が動かされ続けることになる。
【0043】
ここで、前記セル2の動かし方としては、例えば、図4(A)に示すように、集光レーザ光がセル2に対してジグザグ状に照射されるように動かしてもよいし、図4(B)に示すように、集光レーザ光がセル2に対してほぼ渦巻き状に照射されるように動かしてもよい。
【0044】
そして、上記のように集光レーザ光をセル2に照射することで蓄積されたデータを、最後に平均化することで粒子径分布の値を得るようにすればよい。
【0045】
上記の構成からなる粒子径分布測定装置Dでは、セル2の広い領域に対して集光レーザ光を照射して測定することができ、得られる測定データの量も多くなることから、測定データを平均化して得られる粒子径分布の正確性が上昇し、測定の再現性を向上させることが可能となる。
【0046】
なお、測定開始から測定終了までセル2を動かし続けずに、セル2を間欠的に動かし、セル2が動いている間は測定を行わず、止まっている間のみ測定を行うようにしてもよい。
【0047】
また、上記実施例では、セル2をX方向およびY方向に動かすようにしているが、前記セル2の動かしかたはこのような構成に限られず、例えば、前記セル2を、前記照射部3から照射される光の光軸と平行な軸の回りに回転させるようにしてもよい。
【0048】
上記の構成からなる粒子径分布測定装置Dは、測定者が粒子径の測定を開始するために測定開始ボタン(図示せず)を押す、すなわち測定開始操作をすると、測定を開始する前に、前記照射部3から照射されるレーザ光の光軸の位置・方向が合っているかどうかを自動的に判断し、光軸が合っていれば測定を開始し、光軸が合っていなければその調整を行った後に測定を開始するという光軸調整機能を有している。
【0049】
すなわち、粒子径分布測定装置Dは、前記光検出器9の光軸中心まわりに配置される光軸調整用の透過光検出器(例えば、4個の受光素子によるチェックパターン、図2参照)48と、測定者が測定開始ボタンを押したときに、前記透過光検出器48からの出力をもとに光軸ずれを判断し、光軸ずれが無ければ測定を開始させ、光軸ずれが有れば光軸調整を行わせ、その後に測定を開始させるためのソフトウエア(図示せず)と、前記コンピュータ26から発せられる制御信号に基づいてミラー7の向きや位置などを変更するためのアクチュエータ(図示せず)とを有している。なお、前記アクチュエータは、前記レーザ光軸調整機構8に組み込まれている。
【0050】
そして、前記粒子径分布測定装置Dでは、測定者が粒子径の測定を開始するために測定開始ボタンを押すと、まず、前記透過光検出器48からの出力をもとに光軸ずれが判断される。この光軸ずれの判断は、例えば、前記透過光検出器48の4つの受光素子のうち、対向する2つの受光素子の出力値の差が一定値以内であるかどうかを基準として行わせることができる。なお、光軸ずれの有無の判断を容易にするために、例えば、光軸測定時や光軸調整時に、光軸上にピンホールを挿入し、形成される回折縞を用いて判断するようにしてもよい。
【0051】
上記のように光軸ずれの有無を判断し、光軸ずれが無いと認められれば、測定が開始され、光軸ずれが有ると判断されれば、前記レーザ光軸調整機構8に制御信号が送られ、この制御信号に基づいて前記アクチェエータが作動されて、ミラー7を反射した集光レーザ光が光検出器9の中心に到達するように、すなわち、前記透過光検出器48の4個の受光素子による受光強度がほぼ等しくなるように、ミラー7の角度などが調整されるのである。
【0052】
従来の粒子径分布測定装置として、光軸の調整を自動で行う自動光軸調整機能を有しているものはあったが、実際に光軸調整を行う必要があるのかどうかを確認する機能を備えていなかったことから、測定者は測定前に必ず光軸調整作業を行わなければならず、光軸が合っているときであっても、不要な光軸調整作業を行っていたことから、無駄な時間がかかることとなっていたのである。また、例えば、測定時間を短縮しようとして、光軸調整作業を行わなかったり、忘れたりすると、正確な測定データを得ることができなかったのである。
【0053】
しかし、上記のように、測定者が粒子径の測定を開始するために測定開始ボタン(図示せず)を押すと、測定を開始する前に、前記照射部3から照射されるレーザ光の光軸の位置・方向が合っているかどうかを自動的に判断し、光軸が合っていれば測定を開始し、光軸が合っていなければその調整を行った後に測定を開始するという光軸調整機能を有する前記粒子径分布測定装置Dでは、光軸が合っていることが確認できれば光軸調整作業を行わないため、不要な光軸調整作業にかける無駄な時間をなくすことができ、また、測定開始ボタンを押すと、光軸ずれの有無の判断が自動的に行われるように構成されていることから、測定者が光軸調整を行うことを忘れて、不正確な測定データを得てしまうということを確実に防止することができるのである。
【0054】
なお、上述した光軸調整機能を、上記のようにセル2を測定中に動かす構成を採用した粒子径分布測定装置Dに付加することは特に有効であるが、上記光軸調整機能は、上記粒子径分布測定装置D以外の粒子径分布測定装置にも付加することができることはいうまでもない。
【0055】
【発明の効果】
上記の構成からなる本発明によれば、ペースト式セル内のより多くの領域を対象として測定を行え、正確な粒子径分布を測定できる粒子径分布測定装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る粒子径分布測定装置の構成を概略的に示す説明図である。
【図2】上記実施例における光検出器の構成を概略的に示す斜視図である。
【図3】上記実施例におけるセルホルダの構成を概略的に示す斜視図である。
【図4】(A)および(B)は、上記実施例におけるセルに照射される集光レーザ光の軌跡の一例および他の例を概略的に示す説明図である。
【符号の説明】
1…板状体、2…ペースト式セル、3…照射部、4…検出手段、29…移動機構、D…粒子径分布測定装置、S…サンプル。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a particle size distribution measuring device such as a laser beam diffraction / scattering particle size distribution measuring device.
[0002]
[Prior art]
Particle measurement technology is indispensable for determining and evaluating the performance of powders in a wide range of fields such as medicine, food, ceramics, cosmetics, paints, and pigments, and its importance is increasing day by day. Yes. One of the devices for measuring the particle size distribution of such a granular material is a laser beam diffraction / scattering particle size distribution measuring device.
[0003]
Then, as the laser beam diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus, a paste type cell composed of two plate-like bodies having light permeability held with a sample sandwiched therebetween, and light is applied to this cell. Some include an irradiating unit for irradiating and a detecting unit for detecting secondary light generated by irradiating the sample with light from the light source.
[0004]
In the particle size distribution measuring apparatus having the above-described configuration, the paste type cell is irradiated with laser light, and the laser light diffracted and / or scattered by the sample particles in the paste type cell is detected by a detection means, and thereby obtained. The intensity distribution of the diffracted and / or scattered light is processed on the basis of Franhofer diffraction and Mie scattering theory to determine the particle size distribution of the sample particles.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional particle size distribution measuring apparatus has the following problems. That is, in the paste-type cell, large particles and small particles are not mixed completely at random, so that different particle size distributions are measured depending on the area exposed to light. Since the paste type cell could not be moved during the measurement of the particle size distribution, the light from the light source could only be applied to a specific position of the paste type cell, and the sample particles in that region Only the particle size distribution could be measured. Therefore, reproducibility was poor and accurate measurement could not be performed.
[0006]
The present invention has been made in consideration of the problems as described above, and its purpose is to measure a larger area in the paste-type cell, and to measure particles with an accurate particle size distribution. It is to provide a diameter distribution measuring device.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the particle size distribution measuring apparatus of the present invention includes a paste type cell composed of two plate-like bodies having optical transparency held with a sample sandwiched therebetween, and the paste type cell. A particle size distribution measuring apparatus comprising: an irradiating unit that irradiates light to the sample; and a detecting unit that detects secondary light generated by irradiating the sample with light from the irradiating unit. A moving mechanism is provided for moving the cell on a plane whose normal is the optical axis of the light emitted from the irradiation unit ,
The paste type cell is intermittently moved by the moving mechanism so that light from the irradiation unit is irradiated over different areas of the paste type cell,
Measurement is performed while the paste-type cell is stopped, and before starting the measurement, it is automatically determined whether or not there is a deviation of the optical axis of the laser beam irradiated from the irradiation unit (Claim 1).
[0008]
According to the present invention having the above-described configuration, it is possible to provide a particle size distribution measuring apparatus capable of measuring a larger area in the paste type cell and measuring an accurate particle size distribution.
[0009]
In addition, when the measurer performs a measurement start operation to start the measurement of the particle diameter, before starting the measurement, it automatically determines whether there is a deviation of the optical axis of the laser light emitted from the irradiation unit, without the optical axis deviation to start the measurement, the optical axis misalignment has an optical axis adjusting function to start the measurement after the optical axis adjustment if any, if it is confirmed that the optical axis is correct Since no optical axis adjustment work is performed, unnecessary time spent on the optical axis adjustment work can be eliminated, and when a measurement start operation is performed, the presence or absence of optical axis deviation is automatically determined. Therefore, it is possible to reliably prevent the measurer from forgetting to adjust the optical axis and obtaining inaccurate measurement data.
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is an explanatory diagram schematically showing the configuration of a laser beam diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus D according to an embodiment of the present invention.
The particle size distribution measuring device D includes a paste-type cell 2 (hereinafter referred to as a cell) made up of two plate-like bodies 1 and 1 having light transmittance, which is held with a sample S interposed therebetween, and An irradiation unit 3 that irradiates light to the sample S and a detection unit 4 that detects secondary light (diffracted light and / or scattered light) generated when the sample S is irradiated with light from the irradiation unit 3 are provided. ing.
[0011]
The particle size distribution measuring apparatus D irradiates the sample S in the cell 2 with laser light, detects the laser light diffracted and / or scattered by the sample S by the detection means 4, and obtains the diffraction obtained thereby. And / or a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus for processing the intensity distribution of scattered light based on the Franhofer diffraction or Mie scattering theory to obtain the particle size distribution of the sample S.
[0012]
The said plate-shaped body 1 consists of a glass plate made into the substantially rectangular shape, for example.
[0013]
The irradiation unit 3 includes a laser light source 5 that emits laser light in a horizontal direction, a condensing lens 6 that converges divergent laser light emitted from the laser light source 5, and a laser light that is converged through the condensing lens. It has a mirror 7 that irradiates the cell 2 with 90 degrees of bending (hereinafter referred to as a condensed laser beam), and a laser optical axis adjustment mechanism 8 that holds the mirror 7 and is automatically controlled.
[0014]
The detection means 4 includes a photodetector 9 (ring detector) and a wide-angle scattered light detection group 10.
[0015]
The photodetector 9 is provided at a position where the condensed laser light that has passed through the cell 2 is focused, and as shown in FIG. 2, rings having different radii around the optical axis of the condensed lens light. A plurality of photosensors 11 having a light receiving surface in the shape of a ring or a semi-ring are arranged concentrically, and are diffracted at a relatively small angle out of the condensed laser light diffracted and / or scattered by the sample S in the cell 2. / The scattered light is received at each scattering angle and the light intensity is measured.
[0016]
A preamplifier 12 for amplifying the output is connected to each photosensor 11 constituting the photodetector 9.
[0017]
The wide-angle scattered light detection group 10 is provided in the vicinity of the cell 2, and is diffracted and / or scattered at a relatively large angle out of the condensed laser light diffracted and / or scattered by the sample S in the cell 2. The detected light is individually detected for each scattering angle.
[0018]
The wide-angle scattered light detection group 10 includes a plurality of photosensors 13 to 18 provided at different angles with respect to the photodetector 9, and has a predetermined angle according to the sample S in the cell 2 according to each arrangement angle. Detects scattered light. That is, the photosensors 13 to 16 detect forward scattered light, the photosensor 17 detects side scattered light, and the photosensor 18 detects backscattered light.
[0019]
A preamplifier 19 for amplifying the output of each photosensor 13 to 18 is connected to each of the photosensors 13 to 18.
[0020]
In addition, two light shielding plates 20 and 21 that are parallel to each other are erected on the front side (light incident side) of the wide-angle scattered light detection group 10 (photosensors 13 to 18). In the shielding plates 20 and 21, a plurality of openings, for example, slits 22 and 23 for allowing only the scattered light having a specific scattering angle to pass through the photosensors 13 to 18 are opened by a technique such as etching. .
[0021]
Note that, for example, the slits 22 and 23 corresponding to one photosensor 13 that detects forward scattered light are not necessarily the same shape and size, and among the forward scattered light from the cell 2, scattered light having a predetermined scattering angle. The mutual positions are set so that only the light enters the photosensor 13. The same applies to the slits 22 and 23 corresponding to the other photosensors 14 to 18.
[0022]
The preamplifiers 12 and 19 are connected to a multiplexer 24 that sequentially captures the outputs from the preamplifiers 12 and 19 and sequentially sends them to the AD converter 25. The AD converter 25 receives the output of the AD converter 25. A computer 26 as an arithmetic processing unit to be input is connected.
[0023]
The computer 26 processes the outputs of the photodetector 9 and the photosensors 13 to 18 (digital data relating to the light intensity) converted into digital signals based on Fraunhofer diffraction theory and Mie scattering theory, and the particle diameter in the particle group Stores a program for obtaining the distribution. The computer 26 is connected to a color display 27 for displaying calculation results and the like.
[0024]
In the particle size distribution measuring apparatus D configured as described above, the condensed laser light applied to the sample S in the cell 2 is diffracted and / or scattered by the sample S in the cell 2, and the diffracted light and / or Alternatively, light having a relatively small scattering angle among the scattered light is imaged on the photodetector 9.
[0025]
At this time, in the photodetector 9, the photosensor 11 on the outer peripheral side receives light with a large scattering angle, and the photosensor 11 on the inner peripheral side receives light with a small scattering angle. Therefore, the light intensity detected by the outer photosensor 11 reflects the amount of sample particles having a smaller particle diameter, and the light intensity detected by the inner photosensor 11 is larger than that of the sample particles having a larger particle diameter. It reflects the amount. The light intensity detected by each of the photosensors 11 is converted into an analog electric signal, and further input to the multiplexer 24 via the preamplifier 12.
[0026]
On the other hand, among the condensed laser light diffracted and / or scattered by the sample particles, the light having a relatively large scattering angle is limited by the slits 22 and 23 formed in the light shielding plates 20 and 21 respectively, and the specific scattered light. Only angle scattered light is incident on the photosensors 13 to 18 respectively, and the light intensity distribution is measured.
[0027]
At this time, scattered light from sample particles having a large particle diameter is detected in the order of the forward scattered light photosensors 13 to 16, the side scattered light photosensor 17, and the backscattered light photosensor 18. The light intensity detected by each of the photosensors 13 to 18 is converted into an analog electric signal, and further input to the multiplexer 24 via the preamplifier 19.
[0028]
In the multiplexer 24, the measurement data from the photodetector 9 and the photosensors 13 to 18, that is, analog electric signals are sequentially taken in a predetermined order and converted into a serial signal, which is sequentially digitalized by the AD converter 24. The light intensity data for each scattering angle that is converted into a signal and further input to the computer 26 and obtained by the photodetector 9 and the photosensors 13 to 18 is processed based on Fraunhofer diffraction theory and Mie scattering theory. The processing result is displayed on the color display 27.
[0029]
As described above, in the particle size distribution measuring apparatus D, the light intensity distribution of the scattered light with respect to the large particle size range is measured by the photodetector 9, and the wide angle with respect to the small particle size range is measured. Since the light intensity distribution of the scattered light is measured by the photosensors 13 to 18 and the outputs of the photodetector 9 and the photosensors 13 to 18 are processed by the computer 26, the particle size distribution in the particle group is determined. It can be obtained all at once over a wide range from a relatively large particle size to a very small particle size.
[0030]
FIG. 3 is a perspective view schematically showing the configuration of the cell holder 30.
The particle size distribution measuring apparatus D includes a holding unit 28 that holds the cell 2 and a plane that uses the cell 2 together with the holding unit 28 and the optical axis of light emitted from the irradiation unit 3 as a normal line. A cell holder 30 having a moving mechanism 29 for moving is provided. The cell holder 30 is held upright on the upper surface of the optical bench base 31 (see FIG. 1).
[0031]
The holding portion 28 has a U-shaped cross section and an L shape in front view, and has a placement portion 32 on which the cell 2 is placed and three abutting on the cell 2 from one side. Abutting bodies 33, 33, 33 are provided.
[0032]
The mounting portion 32 is provided in parallel with each other, and each side wall portion 32a, 32a having a substantially L-shape in front view, and a gap formed between the two side wall portions 32a, 32a. Part 32b.
[0033]
The contact body 33 has a male screw portion (not shown) that is screwed into a female screw hole 32 c formed in one side wall portion 32 a of the mounting portion 32, and a handle portion 33 a of the contact body 33. , The contact body 33 can be moved in a direction approaching the other side wall portion 32a, and the handle portion 33a is rotated in the other direction to move the contact body 33 to the other side wall portion 32a. It can be moved in a direction away from the side wall 32a.
[0034]
The three contact bodies 33 are all provided for one side wall portion 32a, and are disposed, for example, at both ends and the center portion of the one side wall portion 32a.
[0035]
In order to fix the cell 2 to the holding portion 28 having the above-described configuration, first, the cell 2 is placed on the placement portion 32, and in this state, the three contact bodies 33, 33 with respect to the cell 2. , 33 may be moved so as to contact each other, whereby the cell 2 is sandwiched between the three contact bodies 33, 33, 33 and the other side wall 32a in the mounting portion 32. Will be held.
[0036]
The moving mechanism 29 moves the cell 2 in one direction (for example, the vertical direction or the vertical direction, hereinafter referred to as the X direction) on a plane whose normal is the optical axis of the light emitted from the irradiation unit 3. The first mechanism 34 for causing the cell 2 to move in the other direction perpendicular to the X direction (for example, left and right of the cell 2) And a second mechanism 35 for moving in the width direction or horizontal direction (hereinafter referred to as Y direction).
[0037]
The first mechanism 34 protrudes from the holding portion 28 and has a protruding portion 36 having a female screw hole 36a and a through hole 36b provided in the X direction, and a male screw body 37 screwed into the female screw hole 36a. A guide body 38 that is inserted through the through hole 36b, and a biasing means (for example, a spring) 39 that is held on the outer periphery of the guide body 38 and biases the protruding portion 36 in the length direction of the guide body 38; A driving means (for example, a stepping motor) 40 for rotating the male screw body 37 about its axis is connected to both ends of the guide body 38, and the male screw body 37 can be rotated about its axis. And a main body 41 to be held. The driving means 40 is also fixed to the main body 41.
[0038]
The second mechanism 35 protrudes from the main body 41 of the first mechanism 34 and is screwed into the female screw hole 42a and a protruding portion 42 having a female screw hole 42a and a through hole 42b provided in the Y direction. A male screw body 43, a guide body 44 that is inserted through the through hole 42b, and a biasing means that is held on the outer periphery of the guide body 44 and biases the protruding portion 42 in the length direction of the guide body 44 (for example, A spring) 45, a driving means (for example, a stepping motor) 46 for rotating the male screw body 43 about its axis, and both ends of the guide body 44 are connected, and the male screw body 43 is connected to its axis. It consists of a main body 47 that holds the cell guide 30 in a rotatable manner and also serves as a gantry for the cell guide 30. The drive means 46 is also fixed to the main body 47.
[0039]
In the moving mechanism 29 having the above-described configuration, the male screw body 37 is rotated around its axis by the driving means 40, whereby the holding part 28 having the projecting portion 36 is moved in the axial direction of the male screw body 37, that is, in the X direction. Can be moved to. At this time, the projecting portion 36 is guided by the guide body 38 and is urged by the urging means 39 so that backlash does not occur. It will move smoothly in the X direction.
[0040]
Further, by rotating the male screw body 43 around its axis by the driving means 46, the first mechanism 34 having the projecting portion 42, the holding part 28, and the cell 2 are moved in the axial direction of the male screw body 43, that is, in the Y direction. Can be moved to. At this time, the projecting portion 42 is guided by the guide body 44 and is urged by the urging means 45 so that backlash does not occur. It will move smoothly in the Y direction.
[0041]
In the cell holder 30 having the above-described configuration, the cell 2 can be held without sandwiching either one of the left and right side portions and the upper side portion. Irradiation allows measurement.
[0042]
In the particle size distribution measuring apparatus D having the above-described configuration, the cell 2 starts to be moved simultaneously with the start of measurement, and the focused laser beam is not biased over the entire measurable region of the cell 2 until the end of the measurement. The cell 2 will continue to be moved so as to irradiate.
[0043]
Here, as a method of moving the cell 2, for example, as shown in FIG. 4A, the cell 2 may be moved so that the focused laser beam is irradiated in a zigzag shape. As shown to (B), you may move so that a condensing laser beam may be irradiated with respect to the cell 2 substantially spirally.
[0044]
Then, the data accumulated by irradiating the cell 2 with the focused laser beam as described above may be averaged lastly to obtain the value of the particle size distribution.
[0045]
In the particle size distribution measuring apparatus D having the above-described configuration, measurement can be performed by irradiating a wide area of the cell 2 with a focused laser beam, and the amount of measurement data to be obtained increases. The accuracy of the particle size distribution obtained by averaging increases, and the reproducibility of the measurement can be improved.
[0046]
Note that the cell 2 may be moved intermittently without continuing to move from the start of measurement to the end of measurement, and measurement may not be performed while the cell 2 is moving, but may be performed only while the cell 2 is stopped. .
[0047]
In the above embodiment, the cell 2 is moved in the X direction and the Y direction. However, the movement of the cell 2 is not limited to such a configuration. For example, the cell 2 is irradiated from the irradiation unit 3. You may make it rotate around the axis | shaft parallel to the optical axis of the light to be performed.
[0048]
In the particle size distribution measuring apparatus D having the above configuration, when the measurer presses a measurement start button (not shown) to start the measurement of the particle size, that is, when a measurement start operation is performed, before starting the measurement, It is automatically determined whether or not the position and direction of the optical axis of the laser light emitted from the irradiation unit 3 is correct. If the optical axis is correct, the measurement is started. If the optical axis is not correct, the adjustment is made. It has an optical axis adjustment function of starting measurement after performing.
[0049]
That is, the particle size distribution measuring apparatus D is a transmission light detector for adjusting an optical axis (for example, a check pattern by four light receiving elements, see FIG. 2) 48 arranged around the optical axis center of the photodetector 9. When the measurer presses the measurement start button, the optical axis deviation is determined based on the output from the transmitted light detector 48. If there is no optical axis deviation, the measurement is started, and there is an optical axis deviation. If so, software (not shown) for adjusting the optical axis and thereafter starting measurement, and an actuator for changing the orientation and position of the mirror 7 based on a control signal generated from the computer 26 (Not shown). The actuator is incorporated in the laser optical axis adjusting mechanism 8.
[0050]
In the particle size distribution measuring apparatus D, when the measurer presses the measurement start button to start measuring the particle diameter, first, the optical axis deviation is determined based on the output from the transmitted light detector 48. Is done. The determination of the optical axis deviation may be performed based on, for example, whether the difference between the output values of the two light receiving elements facing each other among the four light receiving elements of the transmitted light detector 48 is within a certain value. it can. In order to facilitate the determination of the presence or absence of optical axis deviation, for example, when measuring the optical axis or adjusting the optical axis, a pinhole is inserted on the optical axis and the determination is made using the formed diffraction fringes. May be.
[0051]
As described above, it is determined whether or not there is an optical axis shift. If it is determined that there is no optical axis shift, measurement is started. If it is determined that there is an optical axis shift, a control signal is sent to the laser optical axis adjustment mechanism 8. The actuator is actuated based on this control signal, so that the condensed laser light reflected from the mirror 7 reaches the center of the photodetector 9, that is, the four transmitted light detectors 48 The angle of the mirror 7 and the like are adjusted so that the received light intensity by the light receiving element becomes substantially equal.
[0052]
Some conventional particle size distribution measuring devices have an automatic optical axis adjustment function that automatically adjusts the optical axis, but they have a function to confirm whether or not optical axis adjustment is actually required. Because it was not equipped, the measurer must always perform the optical axis adjustment work before the measurement, and even when the optical axis was in alignment, the measurer was performing unnecessary optical axis adjustment work. It was wasted time. For example, if the optical axis adjustment work is not performed or forgotten in order to shorten the measurement time, accurate measurement data cannot be obtained.
[0053]
However, as described above, when the measurer presses a measurement start button (not shown) to start the measurement of the particle diameter, the light of the laser beam emitted from the irradiation unit 3 before starting the measurement. Optical axis adjustment that automatically determines whether the position and direction of the axis are correct, starts measurement if the optical axis is correct, and starts measurement after adjusting if the optical axis is not correct In the particle size distribution measuring device D having a function, since it is not possible to perform the optical axis adjustment work if it can be confirmed that the optical axis is aligned, it is possible to eliminate wasted time for unnecessary optical axis adjustment work, When the measurement start button is pressed, it is configured to automatically determine whether there is an optical axis misalignment, so the measurer forgets to adjust the optical axis and obtains inaccurate measurement data. Can be surely prevented Than is.
[0054]
Note that it is particularly effective to add the above-described optical axis adjustment function to the particle size distribution measuring apparatus D adopting the configuration in which the cell 2 is moved during measurement as described above. Needless to say, the present invention can be applied to a particle size distribution measuring device other than the particle size distribution measuring device D.
[0055]
【The invention's effect】
According to the present invention having the above-described configuration, it is possible to provide a particle size distribution measuring apparatus capable of measuring a larger area in the paste type cell and measuring an accurate particle size distribution.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory view schematically showing the configuration of a particle size distribution measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view schematically showing a configuration of a photodetector in the embodiment.
FIG. 3 is a perspective view schematically showing a configuration of a cell holder in the embodiment.
FIGS. 4A and 4B are explanatory views schematically showing an example of a locus of focused laser light irradiated on a cell in the embodiment and another example. FIGS.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Plate-shaped body, 2 ... Paste type cell, 3 ... Irradiation part, 4 ... Detection means, 29 ... Moving mechanism, D ... Particle size distribution measuring apparatus, S ... Sample.

Claims (1)

サンプルを挟んだ状態で保持される光透過性を有する二枚の板状体からなるペースト式セルと、このペースト式セルに対して光を照射する照射部と、この照射部からの光が前記サンプルに照射されることよって生じる二次光を検出する検出手段とを備えた粒子径分布測定装置であって、前記ペースト式セルを、前記照射部から照射される光の光軸を法線とする面上で移動させるための移動機構を設け
前記ペースト式セルは、該ペースト式セルの異なる領域にわたって前記照射部からの光が照射されるように前記移動機構によって間欠的に動かされ、
前記ペースト式セルが止まっている間に測定を行い、測定を開始する前に、前記照射部から照射されるレーザ光の光軸のずれの有無を自動的に判断することを特徴とする粒子径分布測定装置。
A paste-type cell composed of two plate-like bodies having light permeability held with a sample sandwiched therebetween, an irradiation unit for irradiating light to the paste-type cell, and light from the irradiation unit A particle size distribution measuring apparatus comprising a detecting means for detecting secondary light generated by irradiating the sample, wherein the paste-type cell is the normal axis of the optical axis of the light irradiated from the irradiating unit the moving mechanism for moving on the surface to be provided,
The paste type cell is intermittently moved by the moving mechanism so that light from the irradiation unit is irradiated over different areas of the paste type cell,
Particle size, characterized in that measurement is performed while the paste type cell is stopped, and whether or not there is a deviation of the optical axis of the laser beam irradiated from the irradiation unit before starting the measurement. Distribution measuring device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP5152803B2 (en) * 2008-09-24 2013-02-27 倉敷紡績株式会社 Liquid concentration meter
WO2012172330A1 (en) 2011-06-15 2012-12-20 Malvern Instruments Limited Surface charge measurement
JP6567281B2 (en) * 2015-01-30 2019-08-28 株式会社堀場製作所 Optical analysis cell and particle size distribution measuring apparatus using the same
JP7498093B2 (en) * 2020-11-17 2024-06-11 大塚電子株式会社 Light scattering measuring device and measuring tool

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210117763A (en) * 2020-03-20 2021-09-29 김진형 Optical Sensor for Long-Distance Measuring Instrument Focus-Aligned by Zig, Long-Distance Measuring Instrument having the Same and Method of Fabricating the Same
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