JP4456583B2

JP4456583B2 - 携帯端末用デバイス測定装置

Info

Publication number: JP4456583B2
Application number: JP2006185704A
Authority: JP
Inventors: 卓司古市; 英二竹田
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2006-07-05
Filing date: 2006-07-05
Publication date: 2010-04-28
Anticipated expiration: 2026-07-05
Also published as: JP2008017131A

Description

本発明は、携帯電話やＰＤＡ等の携帯端末に用いられるデバイスの測定を容易に行うための技術に関する。

携帯電話機やＰＤＡ等の携帯端末に用いられるデバイスは、年々高機能、集積化が進み、現在では、図１９に示すように、アンテナを送信用と受信用に切り換えるためのスイッチや送信信号を増幅するアンプ等で構成されたフロントエンド部１１と、ベースバンド信号を高周波信号に変換してフロントエンド部１１に出力し、フロントエンド部１１から出力された受信信号をベースバンド信号に変換する周波数変換部１２と、フロントエンド部１１及び周波数変換部１２を制御するとともに、音声やデータなどの情報を含む送信用のベースバンド信号を周波数変換部１２に与え、周波数変換部１２から出力されるベースバンド信号に基づいて音声やデータを復調するアプリケーション部１３との３チップ構成となっている。

ここで、周波数変換部１２は、携帯端末が使用する複数の周波数帯（８００ＭＨｚ、２ＧＨｚ、２．５ＧＨｚ等）および通信方式（ＷＣＤＭＡ、ＧＳＭ等）に対応できるように、マルチバンド化、マルチモード化されている。

また、今後はさらに集積化、小型化が進み、前記フロントエンド部１１と周波数変換部１２とが一体化されて、２チップ構成になることも予想されている。

ところで、上記のようなデバイスの開発部門では、各種パラメータを任意に変更しながら開発中のデバイスの特性を測定する必要がある。例えば、送信についてはパワー（Ｐｏｕｔ）、スプリアス、変調誤差（ＥＶＭ）、隣接チャネル漏洩電力（ＡＣＰＲ）、キャリアリーク等の測定項目があり、受信については、ゲイン、相互変調（ＩＭ）、ベースバンド変調誤差（ＩＱＥＶＭ）等の項目がある。

上記のようなデバイスに対して各種測定を行う場合、従来では、測定に必要な信号発生器、スペクトラムアナライザ、ベースバンド信号発生器、ベースバンド信号復調器、電源等を用意し、試験者がこれらの機器を手動操作したり、各機器を外部コンピュータからリモート制御している。

また、ＩＣ等のデバイスの試験を行うために専用化された装置としては、例えば特許文献１等が公知である。

特開平６−２７３４８８号公報

しかしながら、これまで実現されていた従来のデバイス測定装置では、被測定デバイスの制御やその手順等を分かりやすく且つ効率的に設定できるものがなく、専門知識を有していない者が使用するには、非常に不便であった。

本発明はこの問題を解決して、被測定デバイスの制御を容易に行うことができる携帯端末用デバイス測定装置を提供することを目的としている。

前記目的を達成するために、本発明の携帯端末用デバイス測定装置は、
携帯端末用の被測定デバイスに与えるための測定用信号を生成する測定用信号発生部（２１）と、
前記被測定デバイスに与えるための制御信号を生成する制御信号発生部（２２）と、
前記被測定デバイスの出力信号の解析処理を行う信号解析部（２３）と、
操作部（３１）と、
表示部（３２）と、
前記操作部に対する操作に応じて、前記測定用信号発生部および制御信号発生部を制御し、前記被測定デバイスに測定用信号および制御信号を与えるとともに、前記信号解析部の処理結果を前記表示部に表示させる制御部（３３）とを有する携帯端末用デバイス測定装置において、
前記制御部には、
被測定デバイスに対して定義されている制御コマンドを記憶している制御コマンド記憶手段（１１０ａ）と、前記制御コマンドの実行順を示す制御シーケンスを記憶するための制御シーケンス記憶手段（１１０ｃ）と、前記表示部の画面上で、前記制御コマンド記憶手段に記憶されている制御コマンドを任意順に選択指定させ、該選択指定された制御コマンド群を一つの制御シーケンスとして前記制御シーケンス記憶手段に記憶する制御シーケンス編集登録手段（１１０ｄ）とを有する制御シーケンス作成手段（１１０）が設けられており、
前記制御シーケンス記憶手段に記憶された制御シーケンスを前記操作部の操作で選択指定できるように前記表示部に表示し、前記操作部で指定された制御シーケンスを実行し、
さらに、前記制御シーケンス作成手段は、前記被測定デバイスに対する制御シーケンスが実行されている任意のタイミングに前記測定用信号発生部または前記信号解析部に対してトリガ信号を出力させるためのトリガ発生コマンドを、前記制御シーケンスに含むことができるように形成されていることを特徴としている。

また、本発明の請求項２の携帯端末用デバイス測定装置は、請求項１記載の携帯端末用デバイス測定装置において、
前記制御シーケンス編集登録手段は、前記制御シーケンスで実行される前記各制御コマンド間の実行間隔を任意に設定できるように構成されていることを特徴としている。

また、本発明の請求項３の携帯端末用デバイス測定装置は、請求項１または請求項２記載の携帯端末用デバイス測定装置において、
前記制御シーケンス編集登録手段は、
被測定デバイスに対して定義されている制御コマンドの編集が可能な制御コマンド表示欄と、所望制御シーケンスの名前と該所望制御シーケンスについて実行される複数の前記制御コマンドとがツリー状に且つ実行順に並んで表示される制御シーケンスツリー表示欄とを前記表示部の同一画面上に表示させ、
前記操作部からの操作によって、前記制御コマンド表示欄に表示された制御コマンドを前記制御シーケンスツリー表示欄に登録可能にされており、
前記制御シーケンスツリー表示欄に表示されている制御シーケンスが選択操作されたときに、該制御シーケンスを被測定デバイスに対して実行することを特徴としている。

上記のように、本発明の携帯端末用デバイス測定装置は、表示部の画面上で、制御コマンド記憶手段に記憶されている制御コマンドを任意順に選択指定するだけで制御シーケンスを作成することができ、その制御シーケンスを操作部の操作で選択指定することで実行できるので、専門知識を有していない者でも簡単に被測定デバイスに対する制御を実行できる。

また、トリガ発生コマンドを制御シーケンスに含めて作成できるので、デバイスの制御に関連づけて、測定用信号発生部や信号解析部の処理を連動させることができる。

また、制御シーケンスで実行される各制御コマンド間の実行間隔を任意に設定できるようにしたものでは、一連の制御シーケンス内で被測定デバイスに与える制御コマンドの間隔を任意に設定できるので、被測定デバイスの仕様に応じて正しい制御を行うことが可能であり、また、コマンドを与える間隔に対する被測定デバイスの耐力等を知ることができる。

また、被測定デバイスに対して定義されている制御コマンドの編集が可能な制御コマンド表示欄と、所望制御シーケンスの名前とその所望制御シーケンスについて実行される複数の制御コマンドとがツリー状に且つ実行順に並んだ制御シーケンスツリー表示欄とを表示部の同一画面上に表示させ、操作部からの操作によって、制御コマンド表示欄に表示された制御コマンドを制御シーケンスツリー表示欄に登録可能にし、その制御シーケンスツリー表示欄に表示されている制御シーケンスが選択操作されたときに、その制御シーケンスを被測定デバイスに対して実行するように構成されたものでは、同一画面上で所望の制御コマンドを選択して制御シーケンスツリー表示欄に登録するという極めて簡単で直感的な操作で任意の制御シーケンスを作成でき、また、その制御シーケンスを操作部により選択操作するだけで、その制御シーケンスを即時実行できる。

以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した携帯端末用デバイス測定装置２０（以下、単に測定装置２０と記す）の構成を示している。ここで、被測定デバイス１は、送信部と受信部の信号経路が独立しているマルチモードＩＣで、高周波信号入力端子１ａ、ベースバンド信号出力端子１ｂ、ベースバンド信号入力端子１ｃおよび高周波信号出力端子１ｄ、制御信号入力端子１ｅ、電源端子１ｆを有しているものとする。

この測定装置２０は、測定用信号発生部２１、制御信号発生部２２、信号解析部２３、電源部２４、外部インタフェース２５、操作部３１、表示部３２および制御部３３を有し、これらが一つの筐体（図示せず）内に収容された一体型のものである。

測定用信号発生部２１は、携帯端末用の被測定デバイス１に与えるための高周波（無線周波数）の測定信号Ｓrfを生成して出力端子２０ａから出力する高周波信号発生部２１ａと、ベースバンドの測定用信号Ｓbbを生成し出力端子２０ｂから出力するベースバンド信号発生部２１ｂとを有している。ここで、一方の出力端子２０ａは被測定デバイス１の高周波信号入力端子１ａに接続され、他方の出力端子２０ｂは、被測定デバイス１のベースバンド信号入力端子１ｃに接続されている。

高周波信号発生部２１ａが出力する測定信号Ｓrfのレベル、周波数、変調データおよび変調方式、ベースバンド信号発生部２１ｂが出力する測定用信号Ｓbbの変調データおよび変調方式は、制御部３３によって制御される。

制御信号発生部２２は、被測定デバイス１に与えるための制御信号を生成し、出力端子２０ｃに出力し、この出力端子２０ｃに接続されている被測定デバイス１の制御信号入力端子１ｅに入力させる。

例えば、被測定デバイス１の送受信周波数を決定するローカル周波数等を制御するための信号（アドレスとパラメータとで構成されるシリアルデータと、クロック信号およびイネーブル信号の３線式シリアル信号）を制御部３３の制御により出力する。

信号解析部２３は、被測定デバイス１から出力される高周波信号Ｒrfおよびベースバンド信号Ｒbbの解析処理を行うためのものであり、被測定デバイス１の高周波信号出力端子１ｄから無線周波数で出力される高周波信号Ｒrfを入力端子２０ｄで受けてスペクトラム解析処理やその高周波信号を復調して変調解析を行う高周波信号解析部２３ａと、被測定デバイス１のベースバンド信号出力端子１ｂから出力されるベースバンド信号Ｒbbを入力端子２０ｅで受けて解析処理を行うベースバンド信号解析部２３ｂとを有している。これらの各解析部２３ａ、２３ｂは制御部３３とバス接続されており、その解析処理に必要な各種パラメータが制御部３３により設定され、解析結果が制御部３３に送られる。

電源部２４は、被測定デバイス１が動作するのに必要な電源を生成して電源出力端子２０ｆから被測定デバイス１の電源端子１ｆに供給する。この電源部２４も制御部３３により制御される。

外部インタフェース２５は、例えば測定機器で汎用的に用いられているＧＰＩＢのインタフェース２５ａとイーサネット（登録商標）（ＬＡＮ）のインタフェース２５ｂとを有しており、上記した測定用信号発生部２１や信号解析部２３等の内蔵している測定機器だけでは困難な測定（例えば、周波数が異なる高周波信号を同時に必要とするＩＭ測定等）を行う際に、この外部インタフェース２５を介し別の機器を接続して、制御部３３により制御する。なお、外部インタフェース２５は、上記の他にＵＳＢを用いてもよい。

操作部３１は、図示しない多数のキー、ダイヤルおよび外部接続可能なキーボード、あるいはマウス等のように表示部３２の画面上に表示したボタンをカーソルで選択するためのポインティングデバイスを含んでおり、制御部３３により操作が検知される。

表示部３２は、波形等の画像表示が可能な表示器（ＬＣＤ、ＣＲＴ）であり、筐体に一体的に設けられているものの他に、外部接続可能なものであってもよい。

制御部３３は、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＣＰＵ、ＨＤＤ、インタフェース等を含むコンピュータにより構成され、操作部３２の操作に応じて、前記した測定用信号発生部２１、制御信号発生部２２、信号解析部２３、電源部２４、外部インタフェース２５を制御し、被測定デバイス１に対する測定を行わせ、その測定結果等を表示部３２に表示する。

ここで、制御部３３の処理には、上記した各部の動作に必要なパラメータを設定して測定を行う通常の測定モードの他に、被測定デバイス１に対する任意の制御シーケンスを作成、登録するための制御シーケンス作成モードと、この制御シーケンスを含め、上記した各部に対する一連の制御を行い、特定の測定を行わせるための測定シーケンスを作成、登録するための測定シーケンス作成モードと、外部インタフェース２５を介して接続される機器（外部接続機器）の制御操作を簡単に行えるようにするための外部機器制御パネル作成モードとを有しており、図１では、制御部３３のこれらの各モードに対応する測定制御手段１００、制御シーケンス作成手段１１０、測定シーケンス作成手段１２０及び外部機器制御パネル作成手段１３０をブロック化して示している。

測定制御手段１００には、各部のパラメータを個別に設定する機能だけでなく、測定項目毎に必要なパラメータの設定をだれでも容易に行えるように誘導するチュートリアル機能が設けられている。

チュートリアル機能は、操作部３１により所定操作を行うことで起動でき、例えば図２のような起動画面を表示して、設定処理を順番に行うことができる。

なお、この実施形態では、制御部３３の各処理がマイクロソフト（登録商標）社のＷｉｎｄｏｗｓ（登録商標）を基本ソフト（ＯＳ）とするアプリケーションソフトで実現されている場合について説明するが、Ｍａｃｉｎｔｏｓｈ（登録商標）、ＵＮＩＸ（登録商標）、Ｌｉｎｕｘ（登録商標）、ＴＲＯＮ（登録商標）等の他のアプリケーションとして実現されていてもよい。

図２の画面で「Ｓｙｓｔｅｍ」ボタン２００を選択操作（例えばマウスカーソルによるクリック操作）すると、図３のようなシステム設定画面が表示される。

このシステム画面では、ＷＣＤＭＡ、ＧＳＭ等の通信方式を選択する窓２１０、被測定デバイスのベースバンドのインタフェースのアナログ／デジタルを選択する窓２１１、測定項目（ＵｐｌｉｎｋＰｏｗｅｒ……）を選択する窓２１２、高周波信号発生部２１ａが出力する測定用信号Ｓｒｆの変調信号の形式を選択する窓２１３、ベースバンド信号発生部２１ｂが出力する測定用信号Ｓｂｂの形式を選択する窓２１４、被測定デバイスに対する電源のオンオフを選択する窓２１５等が表示される。

また、図３の画面で、「３−ＷｉｒｅＣｏｎｔｒｏｌｅＤａｔａ」の位置の「Ｎｅｗ」ボタン２１６をクリック操作すると制御シーケンス作成手段１１０が起動される。

制御シーケンス作成手段１１０は、図４に示しているように、被測定デバイス１毎に固有に定義されている制御コマンド（例えばアドレスデータとそのアドレスが示す部位の状態を決める設定データとからなるシリアルコード）とその制御コマンド名とを対応づけて記憶する制御コマンド記憶手段１１０ａ、任意の制御コマンドを制御コマンド記憶手段１１０ａに登録する制御コマンド登録手段１１０ｂと、一つあるいは複数の制御コマンドで実現される制御シーケンスの制御シーケンス名と、任意の制御シーケンスを記憶するための制御シーケンス記憶手段１１０ｃと、制御コマンド記憶手段１１０ａに記憶されている制御コマンドから、任意の制御シーケンス名で実行しようとする制御コマンドを任意に選択して、制御シーケンス記憶手段１１０ｃに登録させ、その登録された制御シーケンスに対する編集を行わせるための制御シーケンス登録編集手段１１０ｄと、制御信号波形生成手段１１０ｅとを有している。

なお、制御コマンド記憶手段１１０ａおよび制御シーケンス記憶手段１１０ｃは、装置内部の読み書き可能な不揮発性半導体メモリ、ディスク型記憶素子等の他に、着脱自在なメモリユニット（カード型、スティック型等）であってもよい。

制御シーケンス作成手段１１０が起動されると、例えば図５のような画面が表示される。図５の画面の右の窓２２０は制御コマンド表示欄であり、制御コマンド記憶手段１１０ａに記憶されている各制御コマンド（０と１のシリアルコード）と、「ＲＳＴ１」等のコマンド名とが対応付けされて表示され、操作部３１の操作によりその追加や変更等の編集操作が画面上で任意に行えるようになっている。

また、左の窓２２１は制御シーケンスツリー表示欄であり、「ＶＣＯＩｎｉｔ」、「ＴＸＦｒｅｑＳｅｔ」等の任意の制御シーケンス名（フォルダアイコン）と、そのシーケンス名で実行される制御コマンド名、例えば「ＲＳＴ１」、「ＴｘＳＨＤＮ１」、「ＴｘＤＬＥ１」、「ＴｘＦｒｅｑＩｎｉｔ１」が、ツリー状に且つ実行順に並んだ状態で編集可能に表示されている。

図５の中央の窓２２２はシーケンスの詳細欄であり、左の窓２２１に表示された制御シーケンスのうちの選択された制御シーケンスに含まれる制御コマンド名とパターンの他に、制御コマンドの実行間隔「Ｔｉｍｅ」が表示される。この実行間隔は、一つの制御コマンドが実行されてから次の制御コマンドが実行されるまでの時間を表しており、操作部３１の操作により任意に設定できるようになっている。なお、ここでは、実行間隔をμＳを単位とする時間で示しているがシステムクロック数で示してもよい。

この画面において、右の窓２２０に対する制御コマンドの編集操作、左の窓２２１に対する制御シーケンス名の入力操作およびシーケンス名に対する制御コマンドの登録操作、さらに、中央の窓２２２の実行間隔の入力操作等は、前記したように、マウスやキーの操作により任意に行えるようになっている。

また、「Ｃｏｎｔｒｏｌ１」、「Ｃｏｎｔｒｏｌ２」、……、「Ｃｏｎｔｒｏｌ４」のタブ２２３〜２２６のいずれかを選択することで、デバイスに複数の制御端子が設けられている場合に、それぞれの制御端子毎に制御シーケンスの登録操作が可能になっている。

また、図５で「ＡｌｌＬｉｓｔ」のタブ２２７をクリックすると、左の窓２２１の内容（制御シーケンス）が例えば図６のように一覧表示される。

また、「ＡｌｌＰａｔｔｅｒｎ」のタブ２２８をクリックすると、右の窓２２０の内容（制御コマンド）が例えば図７のように一覧表示される。

上記のような制御シーケンスを作成した後、その作成した制御シーケンスを選択して、上部の「Ｃｏｎｖｅｒｔ（コンバート）」ボタン２２９を操作すると、制御コマンドのデータだけでなく、そのデータを被測定デバイス１にシリアル転送するために必要なクロック信号およびイネーブル信号の波形データが制御信号波形生成手段１１０ｅにより作成されて、制御シーケンス記憶手段１１０ｃに登録される。

なお、この制御シーケンスには、図５の左の窓２２１の最下段に記載されているように、被測定デバイスに対する制御シーケンスが行われている間や終了したタイミングに、他の測定機器に対してトリガ信号を発生させるトリガ発生コマンド「ＴＲＩＧ」を登録することができる。

このトリガ発生コマンドを含む制御シーケンスは、登録されている制御コマンドを順番に実行し、トリガ発生コマンドの順番になると、そのトリガ発生コマンドについて設定された内容にしたがってトリガ信号を制御信号発生部２２から発生させる。

各測定機器は、このトリガ信号を受けて、例えば測定用信号を発生したり、解析処理を開始したりする。このように、制御コマンドに連動して、トリガ信号を出力させることができるので、各種の測定を効率的に且つ自動的に開始することができる。

なお、図５の画面で、左の窓２２１に表示された制御シーケンス名に対する所定の選択操作（例えばダブルクリック操作等）を行うことで、被測定デバイスに対してその選択された制御シーケンスを実行することができるようになっている。

上記のような制御シーケンスの作成処理が終了した後、図５の画面で「Ｅｘｉｔ」ボタン２３０をクリックすると、図３のシステム設定画面に戻り、所望の制御シーケンスを窓２１７に設定して、他のパラメータを設定した後、「Ｏｋ」ボタン２１８をクリックすると、図２のチュートリアル画面に戻る。

そして、「Ｔｒａｃｅ」ボタン２０１をクリック操作すれば、図８のように、画面レイアウトを示す窓２３１と、その表示内容を設定するための複数の窓２３２〜２３５が表示され、その窓に所望内容が選択指定されて、「Ｏｋ」ボタン２３６が操作されると、チュートリアル画面に戻る。

チュートリアル画面で、「Ｔｒｉｇｇｅｒ」ボタン２０２をクリックすれば、図９のように、トリガの送信元の指定、トリガの受信先の指定、トリガの種類、遅延時間、エッジ等が選択できる画面が表示される。この画面で「Ｏｋ」ボタン２３８がクリックされると、図２のチュートリアル画面に戻る。なお、図９の画面は、制御信号発生部２２からトリガ信号が出力されない場合の画面であり、前記したように制御信号発生部２２からトリガ信号を発生するように設定した場合にはそれについても表示される。

そして、チュートリアル画面で「Ｐａｒａｍａｔｅｒ」ボタン２０３をクリックすると、図１０のように被測定デバイスに対する入力信号の周波数等を設定するための画面が表示され、この画面で「Ａｄｖａｎｃｅｄ」ボタン２４０をクリックすれば、図１１のような、より詳細なパラメータ設定画面が表示され、図１０で「Ｃｏｍｍｏｎ」タブ２４１から「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」タブ２４２に切り換えると、図１２のようなパラメータ設定画面が表示される。

図１０〜図１２で「Ｏｋ」ボタン２４３をクリックすれば、図２のチュートリアル画面に戻り、このチュートリアル画面で、「Ｓｅｔ」ボタン２０４をクリックすれば、それまでに設定した各設定情報が必要な箇所にそれぞれ設定され、測定準備が完了する。

そして、最後に「Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ」ボタン２０５をクリックすれば、図１３のように、被測定デバイスの電源オンオフ、制御シーケンスの選択設定、ベースバンド信号のパターン形式等を設定する画面が表示され、この設定操作を行って測定を開始させて、「Ｃｌｏｓｅ」ボタン２４９をクリックすると、例えば図１４のような測定画面が表示される。

この図１４の測定画面の例では、４分割された画面の左上欄に、変調解析結果（Modulation Analysis）におけるパラメータ、測定結果等が数値表示され、右上欄には、変調解析結果ののうち変調誤差(RMS
EVM)の波形が表示され、左下欄には、送信出力(チャンネルパワー)のスペクトラムが表示され、右下欄には、復調されたベースバンド信号Ｉ、Ｑの波形が表示されている。

一方、測定シーケンス作成手段１２０は、図１５に示しているように、前記した各測定機器の制御に必要なコマンド（ＧＰＩＢコマンド）を予め記憶している測定コマンド記憶手段１２０ａと、一つあるいは複数の測定コマンドで実現される測定シーケンスのシーケンス名と、任意の測定シーケンスとを対応づけて記憶するための測定シーケンス記憶手段１２０ｂと、測定コマンド記憶手段１２０ａに記憶されている測定コマンドから、任意の測定シーケンス名で実行しようとする測定コマンドを任意に選択して、測定シーケンス記憶手段１２０ｂに登録させ、その登録された制御シーケンスに対する編集を行わせるための測定シーケンス登録編集手段１２０ｃとを有している。

この測定シーケンス作成手段１２０は、前記したチュートリアルで測定項目を新規登録する操作などを含めて操作部３１に対する所定操作で起動し、例えば、図１６のような画面を表示する。この図１６の右の窓２５０には、一つの測定シーケンス名について、内蔵している各機器および外部インタフェース２５を介して接続された各機器に対して行うコマンドが実行順に表示されている。

このコマンドは、「ＤＣ（電源）」、「ＳＧ（高周波信号発生器）」等の制御対象機器名（Ｔｙｐｅ欄）、試験者が任意に作成したコマンド名（Ｎａｍｅ欄）、そのコマンド名に対応したＧＰＩＢコマンド（Ｃｏｍｍａｎｄ欄）により構成されている。

なお、この測定シーケンスで、被測定デバイス１に制御コマンドを与える処理（例えば「Ｉｎｉｔｉａｌ」）は、転送コマンド「ＳＥＮＤＤＵＴＬＩＳＴ１」で実現している。

左上の窓２５１には、「ＳＧ」や「ＳＡ」等の制御対象機器名と、その機器に対して使用可能な、「ＦＲＥＱ１９００ＭＨｚ」、「ＬＥＶＥＬ −１０ｄＢｍ」等のＧＰＩＢコマンドが登録されており、この窓２５１から任意に選択したコマンドを右の窓２５０に挿入して測定シーケンスを作成できるようになっている。

このようにして右の窓２５０に作成された一連の測定シーケンスは、「Ｓａｖｅｆｉｌｅ」ボタン２５３をクリック操作し、測定シーケンス名を任意に設定することで、測定シーケンスファイルとして測定シーケンス記憶手段１２０ｂに登録することができる。また、その登録した測定シーケンスファイルを表示して、その任意のものを別の測定シーケンスを構成する部品として左下の窓２５２のように登録することができる。

さらに、「ＤｅｖｉｃｅＴｅｓｔｅｒ」タブ２５４から「ＥｘｔｅｒｎａｌＥｑｕｉｐｍｅｎｔ」タブ２５５に切り換えると、図１７のように、外部機器「６６１２ｃ」についての測定コマンド（図ではブランクになっている）が左の窓２５１に表示され、このコマンドのうちの任意のものを右の窓２５０の測定シーケンスに加えることができる。

上記した測定シーケンスを構成するコマンド（ＧＰＩＢコマンド）は、予め制御対象の機器毎に分類されて登録可能になっており、これを実行順に選択操作するだけで、被測定デバイスに対する任意の測定シーケンスを、プログラム言語などを意識することなく、だれでも容易に作成することができる。なお、測定シーケンスに用いるコマンドは、内蔵されている各機器については予め登録されている。また、外部接続される機器などについては、この画面上でリストを作成することができるようになっており、さらに、外部からファイル形式で登録することもできるようになっている。

また、実施形態の測定装置２０は、外部に接続される機器の制御をデバイス測定装置側から容易に行えるようにするための外部機器制御パネル作成手段１３０を有している。

この外部機器制御パネル作成手段１３０は、操作部３１に対して所定操作がなされると起動されて、例えば図１８の左側に示す画面を表示部３２に表示させる。

この画面左部の上欄２６０には、「ＭＧ３６８１Ａ」等の外部接続される機器名が入力され、それを選択できるようになっている。

下の欄には、その外部機器に対して実行可能な複数のコマンドボタン２６１〜２６５と、パラメータ窓２６６〜２６８が表示されている。

この例では、信号発生器ＭＧ３６８１Ａを初期化するコマンド「Ｉｎｉｔｉａｌ」のボタン２６１、周波数、出力レベルおよびオフセットを設定するための各「Ｓｅｎｄ」ボタン２６２〜２６３、信号を出力させるための「ＲＦＯＮ」ボタン２６４と、「ｆｒｅｑＭＨｚ」、「ＬｅｖｅｌｄＢｍ」、「ＯｆｆｓｅｔｄＢ」の各パラメータ窓２６６〜２６８を含む制御パネルが表示されている。

この左部の制御パネルの「Ｏｐｅｎ」ボタン２６９を操作すると、図１８の右部に示しているように、制御パネルを作成するためのパネル定義情報が表示される。

即ち、はじめに定義文、
No,ButtonName,ItemName,Control,Digit,Unit,Lower,Upper,Command
が表示され、その下段に現在設定されているパネル情報が表示されている。

ここで、定義文の「No」はボタン番号（画面の上から１で追番）、「ButtonName」は、ボタンに割り当てる名称、「ItemName」は、機能名称、「Control」はエディットボックス（Edit）、スピンボックス（Spin）等の画面の部品を決める。また、「Digit」は小数点以上、以下の桁数を定義する。例えば、120.00dBmで小数点以上３桁、小数点以下２桁の場合、「3.2」と定義する。「Unit」は単位を示し、「Lower」は数値を入力する場合の下限値を示し、「Upper」は数値を入力する場合の上限値を示す。また、「Command」はGPIBコマンドを定義する。

外部機器操作パネル作成手段１３０は、図１８の右部のパネル定義情報に基づいて、左部のような制御パネルを自動生成し、制御パネル上のボタンが操作されたとき、そのボタンに対応したＧＰＩＢコマンドを外部インタフェース２５を介して外部接続機器に転送し、その機器の制御を行えるようにしている。

つまり、ＧＰＩＢコマンドが既知の機器であれば、上記定義文にしたがって、図１７のようなパネル情報を作成することができ、その作成されたパネル情報に基づいて、左部の制御パネルが自動的に生成される。

したがって、一度制御パネルを作成した測定機器については、その制御パネルを操作するだけで、ＧＰＩＢコマンドを全く意識することなく、容易にリモート制御することができる。

詳述すれば、パネル定義情報は機器名毎に電子ファイル化され、制御部３３のＨＤＤ等の所定の場所に格納される。また、パネル定義情報は、電子ファイル化される際、ファイル名に機器名を含むようにされている。そして、外部機器制御パネル作成手段は、前述のように図１８の左側に示す画面を表示部３２に表示させるに当たり、上記所定の場所に格納されている電子ファイルのファイル名を参照し、参照したファイル名（又はその一部）を画面左部の上欄２６０に機器名として表示する。格納されている電子ファイルが複数であれば、プルダウンメニュー機能により機器名を選択可能なように表示され、操作部３１に対する操作により機器名が選択されると、その機器名に対応するパネル定義情報により制御パネルが生成される。

上記した制御シーケンス作成処理、測定シーケンス作成処理、外部機器制御パネル作成処理は、操作部３１に対する所定操作で任意のタイミング（測定中であっても）に起動できるようになっている。

また、図１４に示した測定画面の右側に表示された複数のファンクションキー３００〜３０７には、複数の被測定デバイスに対して設定可能な制御コマンドや各測定機器へのＧＰＩＢコマンド等が割付できるようになっている。また、測定画面の下段には、電源設定操作部３１０、デバイス制御操作部３２０、測定機器制御操作部３３０等が表示され、その下の最下段には、「メニュー」等のキーが表示される。上記した各作成処理への移行はこれらのキーの操作により行うことができる。

このように、実施形態の測定装置２０は、表示部３２の画面上で、制御コマンド記憶手段１１０ａに記憶されている制御コマンドを任意順に選択指定するだけで制御シーケンスを作成することができ、その制御シーケンスを操作部３１の操作で選択指定することで実行できるので、専門知識を有していない者でも簡単に被測定デバイスに対する制御を実行できる。

また、トリガ発生コマンドを制御シーケンスに含めて作成できるので、被測定デバイスの制御に関連づけて、測定用信号発生部２１や信号解析部２３の処理を連動させることができる。

また、制御シーケンスで実行される各制御コマンド間の実行間隔を任意に設定できるようにしているので、一連の制御シーケンス内で被測定デバイスに与える制御コマンドの間隔を任意に設定でき、被測定デバイスの仕様に応じて正しい制御を行うことが可能であり、また、コマンドを与える間隔に対する被測定デバイスの耐力等を知ることができる。

本発明の実施形態の全体構成を示す図実施形態の要部の動作を説明するための画面表示例を示す図システム設定画面の一例を示す図実施形態の要部の構成を示す図制御シーケンス作成画面の一例を示す図制御シーケンス作成画面の一例を示す図制御シーケンス作成画面の一例を示す図レイアウト設定画面の一例を示す図トリガ設定画面の一例を示す図パラメータ設定画面の一例を示す図パラメータ設定画面の一例を示す図パラメータ設定画面の一例を示す図オペレート画面の一例を示す図測定状態の画面の一例を示す図実施形態の要部の構成を示す図測定シーケンス作成画面の一例を示す図測定シーケンス作成画面の一例を示す図外部機器操作パネル作成画面の一例を示す図携帯端末用のデバイスの構成を示す図

符号の説明

１……被測定デバイス、２０……携帯端末用デバイス測定装置、２１……測定用信号発生部、２１ａ……高周波信号発生部、２１ｂ……ベースバンド信号発生部、２２……制御信号発生部、２３……信号解析部、２３ａ……高周波信号解析部、２３ｂ……ベースバンド信号解析部、２４……電源部、２５……外部インタフェース、３１……操作部、３２表示部、３３……制御部、１００……測定制御手段、１１０……制御シーケンス作成手段、１１０ａ……制御コマンド記憶手段、１１０ｂ……制御コマンド登録手段、１１０ｃ……制御シーケンス記憶手段、１１０ｄ……制御シーケンス登録編集手段、１１０ｅ……制御信号波形生成手段、１２０……測定シーケンス作成手段、１２０ａ……測定コマンド記憶手段、１２０ｂ……測定シーケンス記憶手段、１２０ｃ……測定シーケンス登録編集手段、１３０……外部機器制御パネル作成手段

Claims

携帯端末用の被測定デバイスに与えるための測定用信号を生成する測定用信号発生部（２１）と、
前記被測定デバイスに与えるための制御信号を生成する制御信号発生部（２２）と、
前記被測定デバイスの出力信号の解析処理を行う信号解析部（２３）と、
操作部（３１）と、
表示部（３２）と、
前記操作部に対する操作に応じて、前記測定用信号発生部および制御信号発生部を制御し、前記被測定デバイスに測定用信号および制御信号を与えるとともに、前記信号解析部の処理結果を前記表示部に表示させる制御部（３３）とを有する携帯端末用デバイス測定装置において、
前記制御部には、
被測定デバイスに対して定義されている制御コマンドを記憶している制御コマンド記憶手段（１１０ａ）と、前記制御コマンドの実行順を示す制御シーケンスを記憶するための制御シーケンス記憶手段（１１０ｃ）と、前記表示部の画面上で、前記制御コマンド記憶手段に記憶されている制御コマンドを任意順に選択指定させ、該選択指定された制御コマンド群を一つの制御シーケンスとして前記制御シーケンス記憶手段に記憶する制御シーケンス編集登録手段（１１０ｄ）とを有する制御シーケンス作成手段（１１０）が設けられており、
前記制御シーケンス記憶手段に記憶された制御シーケンスを前記操作部の操作で選択指定できるように前記表示部に表示し、前記操作部で指定された制御シーケンスを実行し、
さらに、前記制御シーケンス作成手段は、前記被測定デバイスに対する制御シーケンスが実行されている任意のタイミングに前記測定用信号発生部または前記信号解析部に対してトリガ信号を出力させるためのトリガ発生コマンドを、前記制御シーケンスに含むことができるように形成されていることを特徴とする携帯端末用デバイス測定装置。
前記制御シーケンス編集登録手段は、前記制御シーケンスで実行される前記各制御コマンド間の実行間隔を任意に設定できるように構成されていることを特徴とする請求項１記載の携帯端末用デバイス測定装置。
前記制御シーケンス編集登録手段は、
被測定デバイスに対して定義されている制御コマンドの編集が可能な制御コマンド表示欄と、所望制御シーケンスの名前と該所望制御シーケンスについて実行される複数の前記制御コマンドとがツリー状に且つ実行順に並んだ制御シーケンスツリー表示欄とを前記表示部の同一画面上に表示させ、
前記操作部からの操作によって、前記制御コマンド表示欄に表示された制御コマンドを前記制御シーケンスツリー表示欄に登録可能にされており、
前記制御シーケンスツリー表示欄に表示されている制御シーケンスが選択操作されたときに、該制御シーケンスを被測定デバイスに対して実行することを特徴とする請求項１または請求項２記載の携帯端末用デバイス測定装置。