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JP4479619B2 - Circuit diagram creation support device and circuit layout verification device - Google Patents
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JP4479619B2 - Circuit diagram creation support device and circuit layout verification device - Google Patents

Circuit diagram creation support device and circuit layout verification device Download PDF

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Description

本発明は、回路図を作成支援するための回路図作成支援装置並びに回路図およびレイアウト図を照合して検証するための回路レイアウト検証装置に関する。 The present invention relates to a circuit layout verification apparatus for verifying by checking the circuit diagram creation support apparatus and circuit diagram and layout diagram for creating supporting schematics.

ICやLSI等の半導体集積回路を設計する場合、システム設計、機能設計等を行った後、回路設計を行い、回路図を回路図作成支援装置により作成すると共に例えば回路図を元にしてレイアウト設計を行いレイアウト作成支援装置によりレイアウト図を作成する。このような回路図やレイアウト図を作成するとき、PCやEWS等のコンピュータにインストールされたCADツールが使用される。このような回路図とレイアウト図との整合性を検証するために回路レイアウト検証装置が開発されている。このレイアウト検証装置の一例が特許文献1に開示されている。   When designing a semiconductor integrated circuit such as an IC or LSI, system design, functional design, etc. are performed, then circuit design is performed, and a circuit diagram is created by a circuit diagram creation support device, and layout design is performed based on the circuit diagram, for example. And a layout diagram is created by the layout creation support device. When creating such a circuit diagram or layout diagram, a CAD tool installed in a computer such as a PC or EWS is used. In order to verify the consistency between the circuit diagram and the layout diagram, a circuit layout verification device has been developed. An example of this layout verification apparatus is disclosed in Patent Document 1.

特許文献1によれば、LVS(Layout Versus Schematic)検証を行うと共に配線部の等電位追跡を行い抽出された結果により導体図形のリストをブロック毎に作成しこのリストを比較して分岐配線のショートや断線を自動的に検証している。
特開2004−118348号公報
According to Patent Document 1, LVS (Layout Versus Schematic) verification is performed, and equipotential tracking of the wiring portion is performed, and a list of conductor figures is created for each block based on the extracted results. And the wire breakage is automatically verified.
JP 2004-118348 A

上記特許文献1においては、配線の等電位追跡を実施するため、検証者は各端子の位置座標や端子座標等を正しく指示する必要がある。この場合、ICやLSI等の半導体集積回路内においてこの検証方法を適用すると多数の位置座標や端子座標等を正しく指示する必要があるため、検証者が位置座標や端子座標を誤って指示してしまう虞もある。一つでも位置座標や端子座標等が正しく指示できていないと検証処理が正しく判断されないという不具合を生じている。
すなわち、位置座標や端子座標等を正しく指示しなければならないものの、多数の位置座標等を正しく指示するために時間を要してしまい効率が悪い。さらに、LVS検証の他に特許文献1に開示されている他の検証処理を行わなければ回路図とレイアウト図との整合性を確認することができないため、さらに膨大な時間を要している。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、回路図やレイアウト図を作成もしくは検証するときに作業時間を大幅に短縮できるようにした回路図作成支援装置、レイアウト図作成支援装置および回路レイアウト検証装置を提供することにある。
In Patent Document 1, in order to perform equipotential tracking of wiring, the verifier needs to correctly indicate the position coordinates and terminal coordinates of each terminal. In this case, if this verification method is applied in a semiconductor integrated circuit such as an IC or LSI, it is necessary to correctly specify a large number of position coordinates, terminal coordinates, etc., so that the verifier incorrectly specifies the position coordinates and terminal coordinates. There is also a risk of it. If at least one of the position coordinates, terminal coordinates, etc. is not correctly indicated, there is a problem that the verification process cannot be correctly determined.
That is, although it is necessary to correctly indicate position coordinates, terminal coordinates, etc., it takes time to correctly specify a large number of position coordinates, etc., which is inefficient. Furthermore, since the consistency between the circuit diagram and the layout diagram cannot be confirmed without performing other verification processing disclosed in Patent Document 1 in addition to LVS verification, it takes much longer time.
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a circuit diagram creation support apparatus and layout diagram creation support that can greatly reduce the work time when creating or verifying a circuit diagram or layout diagram. An apparatus and a circuit layout verification apparatus are provided.

請求項1記載の発明は、ICやLSI等の半導体集積回路内における回路図を作成支援するための回路図作成支援装置を対象としている。この請求項1記載の発明によれば次のように作用する。回路シンボル間の配線要素として機能する分岐シンボルが回路図作成支援装置に入力されると、受付手段は当該分岐シンボルを受付ける。すると、回路図作成支援装置は、回路図として回路シンボル間に分岐シンボルが配設されているときには回路シンボル間のノードを分岐シンボルにより分割された複数のノードとみなす。   The invention described in claim 1 is directed to a circuit diagram creation support apparatus for supporting creation of a circuit diagram in a semiconductor integrated circuit such as an IC or LSI. The first aspect of the invention operates as follows. When a branch symbol that functions as a wiring element between circuit symbols is input to the circuit diagram creation support apparatus, the accepting unit accepts the branch symbol. Then, the circuit diagram creation support apparatus regards a node between circuit symbols as a plurality of nodes divided by the branch symbol when a branch symbol is arranged between circuit symbols as a circuit diagram.

回路レイアウト検証装置が、回路図とレイアウト図との間の検証を行うときには、回路シンボル間に分岐シンボルが配設されていると当該複数の回路シンボル間のノードを分岐シンボルにより分割された複数のノードとみなした状態で検証を行う。したがって、検証者が位置座標や端子座標を指定する必要がなくなるため、位置座標や端子座標を誤って指示することがなくなる。これにより、回路図やレイアウト図を作成もしくは検証するときの作業時間を大幅に削減することができる。しかも、LVS検証の他の検証処理を行う必要がなくなり、回路レイアウト検証装置に別検証用のプログラムを設ける必要がない。   When the circuit layout verification apparatus performs verification between a circuit diagram and a layout diagram, if a branch symbol is arranged between circuit symbols, a node between the plurality of circuit symbols is divided into a plurality of branch symbols. Verification is performed in a state regarded as a node. Therefore, it is not necessary for the verifier to specify the position coordinates and the terminal coordinates, so that the position coordinates and the terminal coordinates are not erroneously designated. As a result, the working time when creating or verifying a circuit diagram or layout diagram can be greatly reduced. In addition, it is not necessary to perform another verification process for LVS verification, and it is not necessary to provide a separate verification program in the circuit layout verification apparatus.

回路設計者やレイアウト設計者が回路を設計するときには、電流が比較的多く流れる電流容量の大きなノードの場合には配線幅を比較的太く指定し逆の場合には比較的細く指定して設計することが多い。しかし、一般に回路設計者とレイアウト設計者とは別人であることが多く、回路設計者が回路図を作成したときには半導体集積回路内において配線幅まで指定することができず、回路図とは別に配線幅を指定する必要が生ずる。そこで、受付手段を、回路図上の分岐シンボルに対して設定された配線幅情報を受付けるようにすることが望ましい。すなわち、配線幅情報が分岐シンボルに対して設定されていれば、回路設計者の意図をレイアウト設計者に対して伝達することができる。 When a circuit designer or layout designer designs a circuit, specify a relatively wide wiring width for a node with a large current capacity through which a relatively large amount of current flows, and specify a relatively thin pattern in the opposite case. There are many cases. However, in general, the circuit designer and layout designer are often different persons, and when the circuit designer creates a circuit diagram, the wiring width cannot be specified in the semiconductor integrated circuit, and wiring is performed separately from the circuit diagram. It becomes necessary to specify the width. Therefore, a means Receptionist, it is desirable to accept a wire width information set for the branch symbol on the circuit diagram. That is, if the wiring width information is set for the branch symbol, the intention of the circuit designer can be transmitted to the layout designer.

このとき、回路レイアウト検証装置が、回路図とレイアウト図との間の検証を行うときには、レイアウトシンボル間に分岐シンボルが配設されていると当該複数のレイアウトシンボル間のノードを分岐シンボルにより分割された複数のノードとみなした状態で検証処理を行う。したがって、検証者が位置座標や端子座標を指定する必要がなくなるため、位置座標や端子座標を誤って指示することがなくなる。これにより、回路図とレイアウト図とを検証するときの作業時間を大幅に削減することができる。しかも、LVS検証の他の検証処理を行う必要がなくなり、回路レイアウト検証装置に別検証用のプログラムを必要としない。   At this time, when the circuit layout verification apparatus performs verification between the circuit diagram and the layout diagram, if a branch symbol is provided between the layout symbols, a node between the plurality of layout symbols is divided by the branch symbol. The verification process is performed in a state that the nodes are regarded as a plurality of nodes. Therefore, it is not necessary for the verifier to specify the position coordinates and the terminal coordinates, so that the position coordinates and the terminal coordinates are not erroneously designated. As a result, the work time for verifying the circuit diagram and the layout diagram can be greatly reduced. In addition, it is not necessary to perform another verification process for the LVS verification, and the circuit layout verification apparatus does not need a separate verification program.

また、レイアウトシンボル間の分岐シンボルの長さをレイアウトシンボルを構成する配線要素の予め設定された単位幅の長さに設定することが望ましい。この場合、分岐シンボルの長さがレイアウトシンボルの単位幅の最短長になるため、レイアウト設計者はレイアウトを設計しやすくなる。 Further, it is desirable to set the length of the branch symbol between the layout symbols to the length of the preset unit width of the wiring elements constituting the layout symbol. In this case, since the length of the branch symbol becomes the shortest length of the unit width of the layout symbol, the layout designer can easily design the layout.

請求項2記載の発明は、予め設計されたICやLSI等の半導体集積回路内の回路図およびレイアウト図を検証すると共に回路図を構成する回路シンボルおよびレイアウト図を構成するレイアウトシンボルのノードの接続状態の整合性を検証する検証手段を備えた回路レイアウト検証装置を対象としている。この請求項2記載の発明によれば、検証手段が、回路シンボルもしくはレイアウトシンボル間に分岐シンボルが介在しているときには分岐シンボルにより複数のノードとみなされている状態で回路シンボルおよびレイアウトシンボル間のノードの接続状態の整合性を検証するため、検証者が位置座標や端子座標を指定する必要がなくなる。これにより、回路図とレイアウト図とを検証するときの作業時間を大幅に削減することができる。しかも、LVS検証の他の検証処理を行う必要がなくなり、回路レイアウト検証装置に検証用のプログラムを別途必要としない。 The invention according to claim 2 verifies a circuit diagram and a layout diagram in a semiconductor integrated circuit such as an IC and an LSI designed in advance, and connects a circuit symbol constituting the circuit diagram and a layout symbol node constituting the layout diagram. It is intended for a circuit layout verification apparatus provided with verification means for verifying state consistency. According to the second aspect of the present invention, when the verification means includes a branch symbol between the circuit symbols or the layout symbols, the verification means determines that a plurality of nodes are regarded as a plurality of nodes by the branch symbols. Since the consistency of the connection state of the nodes is verified, it is not necessary for the verifier to specify the position coordinates and the terminal coordinates. As a result, the work time for verifying the circuit diagram and the layout diagram can be greatly reduced. In addition, it is not necessary to perform another verification process for the LVS verification, and a verification program is not required for the circuit layout verification apparatus.

以下、本発明の回路図作成支援装置、レイアウト作成支援装置、回路レイアウト検証装置の機能を全て備えた設計支援装置に適用した一実施形態について、図1ないし図4を参照しながら説明する。尚、回路図やレイアウト図は別人が設計することが多いが、本実施形態においては同一の装置において回路図作成、レイアウト作成、回路レイアウト検証の全てを実行する実施形態について説明を行う。図4は、設計支援装置の概略的構成と回路図の一例を示している。   Hereinafter, an embodiment applied to a design support apparatus having all the functions of a circuit diagram creation support apparatus, a layout creation support apparatus, and a circuit layout verification apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. Although circuit diagrams and layout diagrams are often designed by another person, in this embodiment, an embodiment in which all of circuit diagram creation, layout creation, and circuit layout verification are executed in the same apparatus will be described. FIG. 4 shows an example of a schematic configuration and a circuit diagram of the design support apparatus.

この図4に示すように、設計支援装置1は、半導体集積回路2を設計支援するための装置であり、例えばPC(Personal Computer)やEWS(Engineering WorkStation)等のコンピュータにより構成されている。半導体集積回路2は、多層構造(例えば3層構造)のものを対象としており、設計支援装置1にはCAD(Computer Aided Design)ツールが組込まれている。   As shown in FIG. 4, the design support apparatus 1 is an apparatus for supporting the design of the semiconductor integrated circuit 2, and is composed of a computer such as a PC (Personal Computer) or an EWS (Engineering WorkStation). The semiconductor integrated circuit 2 is intended for a multilayer structure (for example, a three-layer structure), and a CAD (Computer Aided Design) tool is incorporated in the design support apparatus 1.

回路設計支援機能やレイアウト設計支援機能や回路レイアウト検証機能は、設計支援装置1に組込まれたプログラムにより実現されている。この設計支援装置1は、回路シンボル5(図2参照)を回路図として受け付ける機能を備えていると共に、レイアウトシンボル6(図3参照)をレイアウト図として受け付ける機能を備えている。   The circuit design support function, the layout design support function, and the circuit layout verification function are realized by a program incorporated in the design support apparatus 1. The design support apparatus 1 has a function of accepting a circuit symbol 5 (see FIG. 2) as a circuit diagram and a function of accepting a layout symbol 6 (see FIG. 3) as a layout diagram.

設計支援装置1は、例えばキーボードやマウス、デジタイザ等により構成される入力装置3と、例えば液晶ディスプレイにより構成される表示装置4とを備えている。
入力装置3は、設計者が回路シンボル5を結合して設計するときの電気的な接続情報を入力したり、半導体集積回路2を構成するレイアウトシンボル6の相対的配置関係を示すレイアウト情報を入力するために設けられている。
The design support apparatus 1 includes an input device 3 configured by, for example, a keyboard, a mouse, a digitizer, and a display device 4 configured by, for example, a liquid crystal display.
The input device 3 inputs electrical connection information when the designer combines and designs the circuit symbols 5 or inputs layout information indicating the relative arrangement relationship of the layout symbols 6 constituting the semiconductor integrated circuit 2. Is provided to do.

尚、回路シンボル5やレイアウトシンボル6としては、例えばFETやバイポーラ型のトランジスタ、抵抗やコンデンサ等の回路素子や当該回路素子の端子、GND端子、電源供給端子、テスト端子等のシンボルが対応している。   The circuit symbols 5 and layout symbols 6 correspond to symbols such as circuit elements such as FETs, bipolar transistors, resistors and capacitors, terminals of the circuit elements, GND terminals, power supply terminals, test terminals, and the like. Yes.

回路設計者は、システム設計および機能設計を行い、この設計内容から回路設計を行い回路図A(図2参照)を作成する。レイアウト設計者は、作成された回路図からレイアウト設計を行いレイアウト図B(図3参照)を作成する。この一連の作業を行うのに上述した設計支援装置1が使用される。   The circuit designer performs system design and functional design, designs a circuit from the design contents, and creates a circuit diagram A (see FIG. 2). The layout designer performs layout design from the created circuit diagram and creates a layout diagram B (see FIG. 3). The design support apparatus 1 described above is used to perform this series of operations.

以下、回路設計者やレイアウト設計者、検証者により行われる一連の設計作業を説明する。回路設計者は、設計支援装置1を使用して回路設計を行う。図2は回路設計を行うときに表示装置4に対して表示される画面例を示している。この図2において、回路設計者は、設計支援装置1に対して入力端子シンボルIN1や出力端子シンボルOUT1〜OUT4を表示装置4の画面上に配設すると共に、トランジスタシンボルTr1、抵抗シンボルR1およびR2を画面上に配設する。このうち、入力端子シンボルIN1や出力端子シンボルOUT1〜OUT4は、1端子を有するシンボルを示している。またトランジスタシンボルTr1は、3端子のBJTトランジスタのシンボルを示している。また、抵抗シンボルR1およびR2は、2端子の抵抗のシンボルを示している。   A series of design work performed by a circuit designer, layout designer, and verifier will be described below. A circuit designer performs circuit design using the design support apparatus 1. FIG. 2 shows an example of a screen displayed on the display device 4 when circuit design is performed. In FIG. 2, the circuit designer arranges the input terminal symbol IN1 and the output terminal symbols OUT1 to OUT4 on the screen of the display device 4 with respect to the design support apparatus 1, and also includes the transistor symbol Tr1 and the resistance symbols R1 and R2. Is arranged on the screen. Among these, the input terminal symbol IN1 and the output terminal symbols OUT1 to OUT4 are symbols having one terminal. A transistor symbol Tr1 indicates a symbol of a three-terminal BJT transistor. Resistance symbols R1 and R2 are two-terminal resistance symbols.

分岐シンボルV1〜V3は、2端子のノードのシンボルであり、設計支援装置1内においては配線要素として例えば微弱抵抗として扱われる。この分岐シンボルV1〜V3は、図3に示すように、レイアウト図B上では配線間に対して配設され、実際の半導体集積回路2の内部設計には影響を与えない程度に分岐シンボルV1〜V3の長さd(図3の横方向の長さ)が短く設定されている。分岐シンボルV1〜V3は、その長さdが例えば配線の単位幅(グリッド幅:例えばパターン幅)の長さに固定的に設定されており、抵抗シンボルR1およびR2よりも極端に長さが短く、さらに実際に集積回路2内に配設される配線よりも極端に長さが短い。尚、この分岐シンボルV1〜V3は、配線とは別レイヤで構成されている。   The branch symbols V <b> 1 to V <b> 3 are two-terminal node symbols, and are treated as, for example, weak resistances as wiring elements in the design support apparatus 1. As shown in FIG. 3, the branch symbols V1 to V3 are arranged between the wirings on the layout diagram B, and the branch symbols V1 to V3 are not affected to the actual internal design of the semiconductor integrated circuit 2. The length d of V3 (the length in the horizontal direction in FIG. 3) is set short. The lengths d of the branch symbols V1 to V3 are fixedly set to, for example, the unit width of the wiring (grid width: for example, pattern width), and are extremely shorter than the resistance symbols R1 and R2. Furthermore, the length is extremely shorter than the wiring actually disposed in the integrated circuit 2. The branch symbols V1 to V3 are configured in a layer different from the wiring.

回路設計者がこの分岐シンボルV1〜V3を使用するときには、半導体集積回路2内のレイアウト設計を行う上で配線パターン幅等を特徴的に変更したい場合に用いる。この事例を図2に示すように、トランジスタシンボルTr1のベースが接続されるノードN2や、抵抗シンボルR1が接続されるノードN3や、抵抗シンボルR2が接続されるノードN4に対して、入力端子シンボルIN1から流れる電流の許容量(配線幅)を変更、指定したい場合には分岐シンボルV1〜V3を用いる。このとき、分岐シンボルV1〜V3の長さが配線の最小線幅に固定的に設定されているため、レイアウト図B上にも配設しやすい。   When the circuit designer uses the branch symbols V1 to V3, it is used when the layout pattern in the semiconductor integrated circuit 2 is designed and the wiring pattern width or the like is characteristically changed. As shown in FIG. 2, the input terminal symbol is connected to the node N2 to which the base of the transistor symbol Tr1 is connected, the node N3 to which the resistance symbol R1 is connected, and the node N4 to which the resistance symbol R2 is connected. Branch symbols V1 to V3 are used when it is desired to change or specify the allowable amount (wiring width) of the current flowing from IN1. At this time, since the lengths of the branch symbols V1 to V3 are fixedly set to the minimum line width of the wiring, they are easily arranged on the layout diagram B.

図2においては、次のように分岐シンボルV1〜V3が配設されている。入力端子ノードIN1とトランジスタシンボルTr1のベースのノードN2との間には、分岐シンボルV1が配設されている。また、入力端子ノードIN1と抵抗シンボルR1が接続されたノードN3には分岐シンボルV2が配設されている。また、入力端子ノードIN1と抵抗シンボルR2が接続されたノードN4には分岐シンボルV3が配設される。設計支援装置1はこれらの分岐シンボルV1〜V3を回路図Aとして受付けるようになっている。   In FIG. 2, branch symbols V1 to V3 are arranged as follows. A branch symbol V1 is arranged between the input terminal node IN1 and the base node N2 of the transistor symbol Tr1. A branch symbol V2 is disposed at a node N3 where the input terminal node IN1 and the resistance symbol R1 are connected. A branch symbol V3 is arranged at a node N4 to which the input terminal node IN1 and the resistance symbol R2 are connected. The design support apparatus 1 accepts these branch symbols V1 to V3 as a circuit diagram A.

これらの分岐シンボルV1〜V3には、それぞれ配線幅情報が付されている。この配線幅情報は、半導体集積回路装置内部の配線として機能する金属膜(アルミ配線)の相対的な幅もしくは絶対的な幅の情報を示している。例えば図2に示すように、分岐シンボルV1に対して「20」、分岐シンボルV2に対して「40」と設定されているときには、分岐シンボルV2の配線幅を分岐シンボルV1の配線幅に対して相対的に2倍の割合の配線幅を必要とすることを容易に把握できる。さらに、分岐シンボルV3に対して「100」と付されているときには、分岐シンボルV3の配線幅を分岐シンボルV1の配線幅に対して相対的に5倍の割合の配線幅を必要とすることを容易に把握できる。   These branch symbols V1 to V3 are respectively attached with wiring width information. The wiring width information indicates information on a relative width or an absolute width of a metal film (aluminum wiring) functioning as a wiring inside the semiconductor integrated circuit device. For example, as shown in FIG. 2, when “20” is set for the branch symbol V1 and “40” is set for the branch symbol V2, the wiring width of the branch symbol V2 is set to the wiring width of the branch symbol V1. It can be easily grasped that the wiring width of the ratio twice is relatively required. Further, when “100” is assigned to the branch symbol V3, it is necessary that the wiring width of the branch symbol V3 is five times as large as the wiring width of the branch symbol V1. Easy to grasp.

図1は、回路図作成、レイアウト図作成、検証の流れを概略的に示している。回路設計者は、設計支援装置1により回路図Aを完成すると回路図データD1として保存する。このとき、設計支援装置1に内蔵されたネットリスタNによりネットリストL1を作成する。このネットリストL1には、各回路シンボル5の端子に対応したノードの情報が記憶される。例えば、分岐シンボルV1はノードN1およびN2間に配設されているため、ネットリストL1には分岐シンボルV1に対応してノードN1およびN2の情報が記憶される。   FIG. 1 schematically shows a flow of circuit diagram creation, layout diagram creation, and verification. When the circuit designer A completes the circuit diagram A by the design support apparatus 1, the circuit designer stores it as circuit diagram data D1. At this time, the net list L1 is created by the net lister N built in the design support apparatus 1. In the net list L1, information on nodes corresponding to the terminals of the circuit symbols 5 is stored. For example, since the branch symbol V1 is arranged between the nodes N1 and N2, information of the nodes N1 and N2 is stored in the netlist L1 corresponding to the branch symbol V1.

さらに、トランジスタシンボルTr1は、そのベースがノードN2、エミッタがノードN5、コレクタがノードN6に対応しているため、トランジスタシンボルTr1の各端子に対応してノードN2、N5、N6が記憶される。   Further, since the transistor symbol Tr1 has a base corresponding to the node N2, an emitter corresponding to the node N5, and a collector corresponding to the node N6, the nodes N2, N5 and N6 are stored corresponding to the respective terminals of the transistor symbol Tr1.

抵抗シンボルR1は、ノードN3およびN7間に配設されているため、ネットリストL1には、抵抗シンボルR1に対応してノードN3およびN7が記憶される。抵抗シンボルR2は、ノードN4およびN8間に配設されているため、ネットリストL1には、抵抗シンボルR1に対応してノードN4およびN8が記憶される。同様に、ネットリストL1には、入力端子シンボルIN1に対応してノードN1が記憶される。さらに、出力端子シンボルOUT1〜OUT4のそれぞれに対応して各ノードN5〜N8が記憶される。   Since resistance symbol R1 is arranged between nodes N3 and N7, nodes N3 and N7 are stored in netlist L1 corresponding to resistance symbol R1. Since resistance symbol R2 is arranged between nodes N4 and N8, nodes N4 and N8 are stored in netlist L1 corresponding to resistance symbol R1. Similarly, node N1 is stored in netlist L1 corresponding to input terminal symbol IN1. Further, the nodes N5 to N8 are stored corresponding to the output terminal symbols OUT1 to OUT4, respectively.

その後、この回路設計者が描いた回路図Aを基にしてレイアウト設計者がレイアウトBを作成する。レイアウト設計者がレイアウトBを作成するときには設計支援装置1を用いる。尚、実質的には、従来より設計支援装置1には回路−レイアウト作成補助支援機能が設けられている。このため、回路設計者により回路図Aが作成された後、レイアウト設計者がレイアウト図Bを作成するときには、設計支援装置1はレイアウト設計者の指示にしたがって回路図データD1からレイアウト図B(レイアウトデータD2)を補助的に作成する。具体的には、設計支援装置1が回路図データD1からレイアウトデータD2を自動的に作成するときには、回路図データD1に基づいて作成されたネットリストL1に基づいてレイアウト図B(レイアウトデータD2)を作成する。   Thereafter, the layout designer creates a layout B based on the circuit diagram A drawn by the circuit designer. When the layout designer creates the layout B, the design support apparatus 1 is used. In practice, the design support apparatus 1 has been provided with a circuit-layout creation support function. For this reason, when the layout designer creates the layout diagram B after the circuit diagram A is created by the circuit designer, the design support apparatus 1 uses the layout diagram B (layout) from the circuit diagram data D1 according to the layout designer's instruction. Data D2) is created as an auxiliary. Specifically, when the design support apparatus 1 automatically creates the layout data D2 from the circuit diagram data D1, the layout diagram B (layout data D2) based on the netlist L1 created based on the circuit diagram data D1. Create

しかし、レイアウト設計者が、設計支援装置1による回路−レイアウト作成補助支援機能を使用したとしても、実際の半導体集積回路2の内部状態まで詳細に設計できるわけではないため、レイアウト設計者がこの補助的に作成されたレイアウト図を訂正してレイアウト図Bを完成させる。   However, even if the layout designer uses the circuit-layout creation assistance function by the design assistance apparatus 1, it cannot be designed in detail up to the actual internal state of the semiconductor integrated circuit 2. The layout diagram B created is corrected to correct the layout diagram B.

このとき、レイアウト設計者は、図2に示す回路図Aに基づいてレイアウト設計を行うが、配線幅情報が分岐シンボルV1〜V3に付されているため、図3に示すように、分岐シンボルV1〜V3周辺の配線幅を設定しやすい。すなわち、レイアウト設計者は、分岐シンボルV1〜V3を配線幅情報に対応した幅に設定しレイアウト図Bを容易に作成できる。   At this time, the layout designer performs the layout design based on the circuit diagram A shown in FIG. 2, but since the wiring width information is attached to the branch symbols V1 to V3, the branch symbol V1 as shown in FIG. It is easy to set the wiring width around V3. That is, the layout designer can easily create the layout diagram B by setting the branch symbols V1 to V3 to widths corresponding to the wiring width information.

もし仮に、設計支援装置1が分岐シンボルV1〜V3を受け付けない設定になっている場合には、回路図AにおいてノードN1とノードN2〜N4とが同一のノードとなる。このとき、レイアウト設計者がたとえこの回路図Aを基にしてレイアウト図Bを作成したとしても回路設計者からレイアウト設計者に対して配線幅の情報が適切に伝達されていない場合には、レイアウト設計者は配線幅を把握することができないため、適当な配線幅でレイアウト図Bを設計してしまう。   If the design support apparatus 1 is set not to accept the branch symbols V1 to V3, the node N1 and the nodes N2 to N4 in the circuit diagram A are the same node. At this time, even if the layout designer creates the layout diagram B based on the circuit diagram A, if the wiring width information is not properly transmitted from the circuit designer to the layout designer, the layout designer Since the designer cannot grasp the wiring width, the layout diagram B is designed with an appropriate wiring width.

すると特に、グランドや電源線の配線幅が適当に設定されていないときには、デジタル系のノイズが周辺に影響したり様々な不具合が実際の回路に引き起こされる虞がある。この場合、例えば回路設計者とレイアウト設計者との再打合せが必要となり作業効率が低下してしまう。本実施形態によれば、レイアウト設計者が分岐シンボルV1〜V3を配線幅情報に対応した幅に設定してレイアウト図B(レイアウトデータD2)を作成できるため、作業効率を向上することができる。   In particular, when the wiring width of the ground and the power supply line is not set appropriately, there is a risk that digital noise may affect the surroundings and cause various problems in the actual circuit. In this case, for example, a reconsideration between the circuit designer and the layout designer is required, and work efficiency is lowered. According to this embodiment, the layout designer can set the branch symbols V1 to V3 to a width corresponding to the wiring width information and create the layout diagram B (layout data D2), so that work efficiency can be improved.

レイアウトデータD2は、複数のレイヤに分割された状態でレイアウトが記憶されているデータであり、トランジスタシンボルTr1や抵抗シンボルR1およびR2を形成するためのレイヤや、分岐シンボルV1〜V3を形成するための配線ダミーレイヤ毎に各シンボルが記憶されている。このレイアウトデータD2は、回路図Aに対応したレイアウトを示す図形データ(GDS2データ等)を示している。   The layout data D2 is data in which the layout is stored in a state of being divided into a plurality of layers, and is used for forming the layers for forming the transistor symbol Tr1 and the resistance symbols R1 and R2 and the branch symbols V1 to V3. Each symbol is stored for each wiring dummy layer. The layout data D2 is graphic data (GDS2 data or the like) indicating a layout corresponding to the circuit diagram A.

レイアウト設計者がレイアウト図B(レイアウトデータD2)を設計完了すると、設計支援装置1は、このレイアウトデータD2を基にして回路接続情報を抽出する(図1のS参照)。次に、設計支援装置1はネットリスタNによりネットリストL2を作成する。このとき作成されるネットリストL2は、レイアウトデータD2を基にして作成されたものであるため、レイアウト設計者が設計したレイアウトが反映されている。   When the layout designer completes the design of the layout diagram B (layout data D2), the design support apparatus 1 extracts circuit connection information based on the layout data D2 (see S in FIG. 1). Next, the design support apparatus 1 creates a net list L2 using the net lister N. Since the net list L2 created at this time is created based on the layout data D2, the layout designed by the layout designer is reflected.

他方、前述したように、ネットリストL1は、回路設計者の設計した回路図Aが反映されている。この後、設計支援装置1は、検証者の指示によりLVS検証を行う。すると、設計支援装置1は、LVS検証によりネットリストL1およびL2の照合を行う(図1のK参照)。   On the other hand, as described above, the netlist L1 reflects the circuit diagram A designed by the circuit designer. Thereafter, the design support apparatus 1 performs LVS verification according to the instruction of the verifier. Then, the design support apparatus 1 collates the netlists L1 and L2 by LVS verification (see K in FIG. 1).

LVS検証処理時には、設計支援装置1は、ネットリストL1およびL2間において対応するノードの電位が等電位となるか否かを判定する。したがって、設計支援装置1は、LVS検証において物理的に接続されているノードが同一電位となるためOKと判定する。例えば、図2において、分岐シンボルV1〜V3を設けていない回路の場合には、ノードが同一の配線についてどのような配線接続状態であっても照合結果はOKとなる。すなわち、配線幅がどのような形態となっていたとしても照合結果はOKと判定される。しかし、本実施形態においては、分岐シンボルV1〜V3が設けられているため、回路図Aやレイアウト図Bのノードを区別できノードN1〜N8毎にLVS検証が行われるようになる。   During the LVS verification process, the design support apparatus 1 determines whether or not the potentials of the corresponding nodes between the netlists L1 and L2 are equal. Therefore, the design support apparatus 1 determines that the nodes that are physically connected in the LVS verification have the same potential, and thus is determined to be OK. For example, in FIG. 2, in the case of a circuit not provided with the branch symbols V1 to V3, the collation result is OK regardless of the wiring connection state for the same node. That is, the collation result is determined to be OK regardless of the form of the wiring width. However, in this embodiment, since the branch symbols V1 to V3 are provided, the nodes of the circuit diagram A and the layout diagram B can be distinguished, and the LVS verification is performed for each of the nodes N1 to N8.

設計支援装置1は、LVS検証によりネットリストL1およびL2の照合を行った結果、照合できればOKと報知する。設計支援装置1は、照合できていなければ照合エラーを外部に報知する。
例えば、回路設計者が分岐シンボルV1〜V3を使用し、正常に回路図A中のノードN2〜N4を分割して回路配置していたにも拘らず、レイアウト設計者がレイアウト図BのノードN2a〜N4a(回路図A中のノードN2〜N4)を短絡(ショート)するように配線していたときには照合エラーが報知される。
The design support apparatus 1 informs that the netlists L1 and L2 are collated by the LVS verification and, if the collation is possible, “OK”. If the design support apparatus 1 cannot collate, the design support apparatus 1 notifies the collation error to the outside.
For example, although the circuit designer has used the branch symbols V1 to V3 to normally divide the nodes N2 to N4 in the circuit diagram A and arrange the circuits, the layout designer can use the node N2a in the layout diagram B. When N4a (nodes N2 to N4 in the circuit diagram A) is wired so as to be short-circuited, a verification error is notified.

また例えば、逆に回路設計者が回路図A中のノードN2〜N4を短絡(ショート)するように配線していると共に、レイアウト設計者が分岐シンボルV1〜V3を使用しレイアウト図BのノードN2a〜N4を正常に分割していたときにも照合エラーが報知される。回路設計者やレイアウト設計者はこの照合結果をフィードバックして設計しなおすことができる。
また、設計支援装置1は、LVS検証によりネットリストL1およびL2の照合を行うときに、分岐シンボルV1〜V3に設定された相対的もしくは絶対的な配線幅情報も照合する。すなわち、回路図Aの分岐シンボルV1〜V3に設定された配線幅情報と、レイアウト図Bの分岐シンボルV1〜V3の幅(図3では縦方向の長さ)とが、所定の誤差範囲に収まっているか否かを照合する。実際には誤差範囲に収まっていない場合には、フィードバックして設計を繰り返す。
この照合結果がOKの場合には、このレイアウト図Bを元にして半導体パッケージ内に回路が製造される。この場合、分岐シンボルV1〜V3は、その長さd(図3では横方向の長さd)がアルミ配線の最小線幅の長さ(レイアウト図Bの設計用のグリッド幅)に固定的に設定されており、レイアウト図B内でアルミ配線として配設される長さよりも極端に短いため、レイアウト設計者が実際のレイアウト図Bを作成する上で都合が良くなる。
Further, for example, the circuit designer conversely wires the nodes N2 to N4 in the circuit diagram A so as to short-circuit (short), and the layout designer uses the branch symbols V1 to V3 to use the node N2a in the layout diagram B. The collation error is also notified when .about.N4 is normally divided. Circuit designers and layout designers can feed back the collation results and redesign.
In addition, when the netlists L1 and L2 are collated by the LVS verification, the design support apparatus 1 also collates relative or absolute wiring width information set in the branch symbols V1 to V3. That is, the wiring width information set for the branch symbols V1 to V3 in the circuit diagram A and the widths of the branch symbols V1 to V3 in the layout diagram B (length in the vertical direction in FIG. 3) fall within a predetermined error range. Check whether or not If it is not actually within the error range, the design is repeated with feedback.
When the collation result is OK, a circuit is manufactured in the semiconductor package based on the layout diagram B. In this case, the branch symbols V1 to V3 have a length d (lateral length d in FIG. 3) fixed to the minimum line width of the aluminum wiring (grid width for design in layout diagram B). Since it is set and is extremely shorter than the length arranged as the aluminum wiring in the layout diagram B, it is convenient for the layout designer to create the actual layout diagram B.

これまでの技術では、回路設計者が回路設計段階で回路図を作成し当該回路図内で素子間に配線を結線するときに回路図上で配線方法を指示する手法が確立されていなかったため、電気的に同電位となる等電位配線を物理的に複数分割する必要がある場合にもレイアウト設計者が回路図Aを意識しながらレイアウト配線する必要があった。しかも自動検証することもできないため、回路図Aおよびレイアウト図Bを目視確認する必要があった。しかし近年、回路の大規模化、多層配線化の流れがあるため膨大な配線に対応することができず大変時間もかかることから見落としも生じる虞があり多大な処理時間を要していた。
本実施形態によれば、複数の分岐シンボルV1〜V3が、回路図A上ではノードN1とノードN2〜N4との間の配線要素としてそれぞれ配設されており、設計支援装置1が、内部的にノードN1とノードN2〜N4とを分岐シンボルV1〜V3により分割された別体のノードとして受付けるため、レイアウト設計者は、この回路図Aを参考にしてレイアウト設計を容易に行うことができる。これにより、作業時間を大幅に削減することができる。
In the technology so far, since a circuit designer created a circuit diagram at the circuit design stage and connected wiring between elements in the circuit diagram, a method for instructing a wiring method on the circuit diagram has not been established. When it is necessary to physically divide a plurality of equipotential wirings having the same electrical potential, it is necessary for the layout designer to perform layout wiring while being aware of the circuit diagram A. Moreover, since automatic verification cannot be performed, it is necessary to visually check the circuit diagram A and the layout diagram B. However, in recent years, there has been a trend toward large-scale circuits and multi-layered wiring, so that it is not possible to deal with a huge amount of wiring, and it takes a very long time.
According to the present embodiment, a plurality of branch symbols V1 to V3 are arranged as wiring elements between the node N1 and the nodes N2 to N4 on the circuit diagram A, respectively. Since the node N1 and the nodes N2 to N4 are received as separate nodes divided by the branch symbols V1 to V3, the layout designer can easily perform the layout design with reference to the circuit diagram A. Thereby, work time can be reduced significantly.

さらに、複数の分岐シンボルV1〜V3が設計支援装置1内に複数のレイアウトシンボル6間に配線要素として配設されており、同様に設計支援装置1が、内部的にノードN1とノードN2〜N4とを分岐シンボルV1〜V3により分割された別体のノードとして受付けるため、回路図データD1を基にして作成されたネットリストL1とレイアウトデータD2を基にして作成されたネットリストL2とをLVS検証により照合するだけで検証処理を行うことができる。したがって、設計支援装置1にLVS検証処理のほかに別途プログラムを用意する必要がなくなる。検証者がわざわざ座標を指定する必要がないため、人的なミスを極力低減することができる。   Further, a plurality of branch symbols V1 to V3 are arranged as wiring elements between the plurality of layout symbols 6 in the design support apparatus 1, and similarly, the design support apparatus 1 internally includes the node N1 and the nodes N2 to N4. Are received as separate nodes divided by the branch symbols V1 to V3, the netlist L1 created based on the circuit diagram data D1 and the netlist L2 created based on the layout data D2 are LVS. Verification processing can be performed simply by verification. Therefore, it is not necessary to prepare a separate program in the design support apparatus 1 in addition to the LVS verification process. Since it is not necessary for the verifier to specify the coordinates, human errors can be reduced as much as possible.

レイアウト設計者がレイアウト設計を行うときには回路図Aの配線幅情報を確認しながらレイアウト図Bを作成することができるため作業効率が向上する。   When the layout designer performs the layout design, the layout diagram B can be created while confirming the wiring width information of the circuit diagram A, so that the work efficiency is improved.

<分岐シンボルの使用形態>
図5(a)および図5(b)は、分岐シンボルの他の使用形態を示している。
例えば、半導体集積回路の外部から到来した瞬時的な電圧および電流から回路を保護するため、サージ電流を吸収するためのサージ吸収回路を配設する場合がある。このとき、半導体集積回路内の回路ブロックのレイアウト(物理的な配設状態)が悪いと、当該回路ブロックを構成する素子が破壊される可能性が高くなる。しかし、回路設計者が回路図のみを設計したときには、回路設計思想がレイアウト設計者に伝達されないことも多く、レイアウト設計者がレイアウトを設計したときに回路設計者による回路設計思想が半導体集積回路2内の実質的な回路に反映されない虞もある。回路設計者が、電気的に導通接続されたノードであったとしても物理的に離間して配設したい場合があるためである。
<Usage of branch symbols>
FIG. 5A and FIG. 5B show another usage pattern of the branch symbol.
For example, in order to protect the circuit from instantaneous voltage and current coming from the outside of the semiconductor integrated circuit, a surge absorption circuit for absorbing surge current may be provided. At this time, if the layout (physical arrangement state) of the circuit block in the semiconductor integrated circuit is poor, there is a high possibility that elements constituting the circuit block are destroyed. However, when the circuit designer designs only the circuit diagram, the circuit design philosophy is often not transmitted to the layout designer, and when the layout designer designs the layout, the circuit design philosophy by the circuit designer is the semiconductor integrated circuit 2. There is also a possibility that it is not reflected in the substantial circuit. This is because the circuit designer may want to arrange the nodes physically separated even if the nodes are electrically connected.

そこで、回路設計者は、レイアウト設計者に対して回路ブロックのレイアウトを指示するため、前述説明した分岐シンボルVを図5(a)に示すように配設する。図5(a)は、回路図Aの一例を示している。また図5(b)はレイアウト図Bの一例を示している。
図5(a)に示すように、回路ブロック11〜13は互いに配線により電気的に導通接続されている。これらの回路ブロック11〜13は、互いに独立した回路を備えている。尚、回路ブロック11〜13に適用した実施形態を示すがこれらは素子単体でも良い。
Therefore, the circuit designer arranges the branch symbols V described above as shown in FIG. 5A in order to instruct the layout designer to lay out the circuit blocks. FIG. 5A shows an example of a circuit diagram A. FIG. 5B shows an example of the layout diagram B.
As shown in FIG. 5A, the circuit blocks 11 to 13 are electrically connected to each other by wiring. These circuit blocks 11 to 13 are provided with mutually independent circuits. In addition, although embodiment applied to the circuit blocks 11-13 is shown, these may be a single element.

回路ブロック11は、半導体集積回路に対する入力回路であり半導体集積回路の外部から入力信号を受付ける回路ブロックである。回路ブロック12は、回路ブロック11を通じて流れるサージ電流を吸収するためのサージ吸収回路ブロックである。回路ブロック13は、回路ブロック11からの信号を入力して所定の処理後に出力する出力回路を示している。
これらの回路ブロック11〜13のうち、回路ブロック11および12間には分岐シンボルVが1個介在するように配設されている。回路ブロック12および13間には分岐シンボルVが1個介在するように配設されている。さらに、回路ブロック11および13間には分岐シンボルVが2個介在するように配設されている。
The circuit block 11 is an input circuit for the semiconductor integrated circuit, and is a circuit block that receives an input signal from the outside of the semiconductor integrated circuit. The circuit block 12 is a surge absorbing circuit block for absorbing a surge current flowing through the circuit block 11. The circuit block 13 is an output circuit that receives a signal from the circuit block 11 and outputs the signal after predetermined processing.
Among these circuit blocks 11 to 13, one branch symbol V is arranged between the circuit blocks 11 and 12. One branch symbol V is arranged between the circuit blocks 12 and 13. Further, two branch symbols V are arranged between the circuit blocks 11 and 13.

回路設計者は図5(a)の回路図Aを設計しレイアウト設計者に渡す。すると、レイアウト設計者は、この回路図Aを基にして図5(b)に示すレイアウト図Bを設計する。尚、図5(b)は模式的なレイアウト図を示しており、実際の回路ブロックの配置関係とは異なることに留意する必要がある。   The circuit designer designs the circuit diagram A in FIG. 5A and gives it to the layout designer. Then, the layout designer designs the layout diagram B shown in FIG. 5B based on the circuit diagram A. Note that FIG. 5B is a schematic layout diagram, and it should be noted that this is different from an actual circuit block arrangement relationship.

このとき、レイアウト設計者は、この回路図Aを参考にすることで回路ブロック11および12を近接した位置に配設し、回路ブロック12および13を近接した位置に意識して配設することができる。すなわち、レイアウト設計者は、たとえ回路ブロック12がサージ吸収回路であることを把握していなくても回路設計者の回路設計思想がレイアウト設計者に伝達されるようになり作業効率を向上できる。   At this time, the layout designer can arrange the circuit blocks 11 and 12 at positions close to each other by referring to the circuit diagram A, and can arrange the circuit blocks 12 and 13 at positions close to each other. it can. That is, even if the layout designer does not know that the circuit block 12 is a surge absorbing circuit, the circuit designer's circuit design concept can be transmitted to the layout designer, and work efficiency can be improved.

(他の実施形態)
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下に示す変形もしくは拡張が可能である。
入力端子シンボルIN1と、トランジスタシンボルTr1や抵抗シンボルR1およびR2との間に介在して分岐シンボルV1〜V3が配設されている実施形態を示したが、これに限定されるものではなく、他の様々な回路に適用が可能である。例えば、半導体集積回路2の外部電源接続端子と機能ブロックの電源端子ノードや、半導体集積回路2の外部グランド接続端子と機能ブロックのグランドノード、さらに周波数が比較的高いクロック信号等による高調波ノイズを受けやすい当該クロック信号の流れる配線周辺の配線等に対しても適用することができる。さらに、精度が必要とされる素子について専用配線を配設したいときにも分岐シンボルV1〜V3を適用することが可能である。
(Other embodiments)
The present invention is not limited to the above embodiment, and for example, the following modifications or expansions are possible.
Although the embodiment in which the branch symbols V1 to V3 are arranged between the input terminal symbol IN1 and the transistor symbol Tr1 and the resistance symbols R1 and R2 is shown, the present invention is not limited to this. It can be applied to various circuits. For example, the external power connection terminal of the semiconductor integrated circuit 2 and the power supply terminal node of the functional block, the external ground connection terminal of the semiconductor integrated circuit 2 and the ground node of the functional block, and harmonic noise caused by a clock signal having a relatively high frequency are generated. The present invention can also be applied to wiring around the wiring through which the clock signal easily flows. Furthermore, it is possible to apply the branch symbols V1 to V3 when it is desired to provide a dedicated wiring for an element that requires accuracy.

例えば、アナログ回路系やデジタル回路系のグランドは、配線接続状態が悪いと様々なノイズの影響を受けやすい回路となる。この場合、たとえ回路設計者が回路図を描いたとしてもグランド設計についてはなされていない場合が多いため、レイアウト設計者はレイアウト図を描く段階で効率よく作業を行うことができない。そこで、設計支援装置1が分岐シンボルV1からV3を受け付けるようになれば、グランドや電源線の配線幅を容易に変更することができるようになる。パワー系回路のグランドについても同様に適用できる。
分岐シンボルV1〜V3を2端子とした実施形態を示したが、これに限定されるものではなく、3端子以上の多端子の分岐シンボルであっても良い。前述実施形態においては、分岐シンボルV1〜V3には配線幅情報が付されていたが、これに限定されるものではなく、配線幅情報が付されていないものに適用しても良いし、配線幅情報に代えたり加えたりして配線の厚さ情報が付されているものに適用しても良い。
For example, a ground of an analog circuit system or a digital circuit system is a circuit that is easily affected by various noises when the wiring connection state is poor. In this case, even if the circuit designer draws a circuit diagram, the ground design is often not done, so the layout designer cannot efficiently work at the stage of drawing the layout diagram. Therefore, if the design support apparatus 1 accepts the branch symbols V1 to V3, the wiring width of the ground and the power supply line can be easily changed. The same applies to the ground of the power system circuit.
Although the embodiment in which the branch symbols V1 to V3 are two terminals has been described, the present invention is not limited to this, and may be a branch symbol having three or more terminals. In the above-described embodiment, the wiring width information is attached to the branch symbols V1 to V3. However, the present invention is not limited to this, and the branch symbols V1 to V3 may be applied to those having no wiring width information. The present invention may be applied to a case in which wiring thickness information is attached instead of or in addition to width information.

本発明の一実施形態に係る回路図およびレイアウト図の検証の流れ図Flowchart of verification of circuit diagram and layout diagram according to one embodiment of the present invention 回路図の一例を示す図Diagram showing an example of a circuit diagram レイアウト図の一例を示す図Diagram showing an example of layout diagram 設計支援装置の構成と回路図の表示態様を示す図The figure which shows the display aspect of a structure and circuit diagram of a design support apparatus (a)および(b)は使用形態例を示す図(A) And (b) is a figure which shows the example of usage

符号の説明Explanation of symbols

図面中、1は設計支援装置(回路図作成支援装置、レイアウト作成支援装置、回路レイアウト検証装置、受付手段、検証手段)を示す。   In the drawings, reference numeral 1 denotes a design support device (circuit diagram creation support device, layout creation support device, circuit layout verification device, reception unit, verification unit).

Claims (2)

ICやLSI等の半導体集積回路内における回路図を、所定の機能が定められると共に1または複数のノードを備えた回路シンボルを結合して作成するための回路図作成支援装置であって、
前記回路シンボルを前記回路図として受付可能な受付手段を備え、
前記受付手段は、複数のノードを備え前記回路図上では複数の前記回路シンボル間の配線要素として機能する分岐シンボルを受け付けるように構成されると共に、前記回路シンボル間に前記分岐シンボルが配設されているときには、前記回路シンボル間のノードを当該分岐シンボルにより分割された複数のノードとみなし、
前記受付手段は、前記回路図上の分岐シンボルに対して設定された配線幅情報を受付け、回路設計者の意図をレイアウト設計者に伝達することを特徴とする回路図作成支援装置。
A circuit diagram creation support device for creating a circuit diagram in a semiconductor integrated circuit such as an IC or LSI by combining a circuit symbol having a predetermined function and having one or more nodes,
Receiving means capable of receiving the circuit symbol as the circuit diagram;
The receiving means is configured to receive a branch symbol that has a plurality of nodes and functions as a wiring element between the plurality of circuit symbols on the circuit diagram, and the branch symbols are arranged between the circuit symbols. The nodes between the circuit symbols are regarded as a plurality of nodes divided by the branch symbols,
The accepting means accepts wiring width information set for a branch symbol on the circuit diagram , and transmits the intention of the circuit designer to the layout designer .
予め設計されたICやLSI等の半導体集積回路内の回路図およびレイアウト図を検証すると共に前記回路図を構成する回路シンボルおよび前記レイアウト図を構成するレイアウトシンボルのノードの接続状態の整合性を検証する検証手段を備えた回路レイアウト検証装置において、
前記検証手段は、回路シンボル間もしくはレイアウトシンボル間に分岐シンボルが配設されているときには前記分岐シンボルにより複数のノードとみなされている状態で前記回路シンボルおよびレイアウトシンボル間のノードの接続状態の整合性を検証し、
前記検証手段は、前記回路図の分岐シンボルに設定された配線情報と前記レイアウト図の分岐シンボルの幅を所定の誤差範囲に収まっているか否かを照合することを特徴とする回路レイアウト検証装置。
Validate circuit diagrams and layout diagrams in semiconductor integrated circuits such as ICs and LSIs designed in advance, and verify the consistency of the connection status of the circuit symbols constituting the circuit diagrams and the nodes of the layout symbols constituting the layout diagrams. In a circuit layout verification apparatus provided with verification means for
The verification means matches the connection state of the node between the circuit symbol and the layout symbol in a state in which the branch symbol is regarded as a plurality of nodes when the branch symbol is arranged between the circuit symbols or between the layout symbols. Verify the sex,
The circuit verification apparatus according to claim 1, wherein the verification means collates the wiring information set in the branch symbol of the circuit diagram and the width of the branch symbol of the layout diagram within a predetermined error range .
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