JP4480644B2 - Optical recording method, optical recording apparatus, one-chip CPU element, and computer program - Google Patents
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Description
本発明は、複数の記録層を有する光記録媒体への情報の記録に関するもので、特に、情報書き込み時のテスト時間を短縮可能な光記録方法、光記録装置、マイクロCPU素子、及びコンピュータプログラムに関するものである。 The present invention relates to information recording on an optical recording medium having a plurality of recording layers, and more particularly to an optical recording method, an optical recording apparatus, a micro CPU element, and a computer program capable of shortening a test time during information writing. Is.
従来、レーザ光を用いて周知のDVD等の光記録メディア(光記録媒体)にデータを記録する光記録装置において、所定の記録メディアに情報の記録を行う場合、一般的には、実際の情報記録に先立って、記録メディア内に設けられたテスト記録領域を用いたテスト記録によって、記録メディアに適した記録条件を求めることがなされている。 2. Description of the Related Art Conventionally, in an optical recording apparatus that records data on a well-known optical recording medium (optical recording medium) such as a DVD using laser light, when information is recorded on a predetermined recording medium, generally, actual information is recorded. Prior to recording, a recording condition suitable for the recording medium is obtained by test recording using a test recording area provided in the recording medium.
しかし、高速および大容量記録要求の高まる光記録装置において、複数の記録層を有する多層型光記録メディアに情報の記録を行う際、各記録層によって記録感度、光の反射率、熱伝導率等の記録特性が異なるため、該各記録層に応じた記録パルス条件を求める必要がある。 However, when recording information on a multi-layer optical recording medium having a plurality of recording layers in an optical recording apparatus in which the demand for high-speed and large-capacity recording increases, recording sensitivity, light reflectance, thermal conductivity, etc. Therefore, it is necessary to obtain a recording pulse condition corresponding to each recording layer.
このような記録パルス条件を求める従来技術としては、図19及び図20に示すように、各記録メディアの種類毎に記録速度等の条件に応じて、各記録層毎に良好な記が可能な記録パルス条件を記録したデータテーブルを記録ドライブ(光記録装置)のメモリに予め持たせておき、実際に記録メディアに情報の記録を行う際には、記録メディア種別、記録層、記録速度に応じた記録パルス条件を上記データテーブルから読み出して、これを設定し、データの記録を行うといった方法が一般的に用いられている。 As a conventional technique for obtaining such a recording pulse condition, as shown in FIGS. 19 and 20, good recording can be made for each recording layer in accordance with conditions such as recording speed for each type of recording medium. A data table in which recording pulse conditions are recorded is stored in advance in a memory of a recording drive (optical recording device), and when information is actually recorded on a recording medium, it depends on the recording medium type, recording layer, and recording speed. A method is generally used in which the recording pulse conditions are read from the data table, set, and recorded.
また、記録ドライブ自体の個体差やバラツキ或いはレーザの温度依存性等を考慮し、記録レーザパワーの条件のみを情報の記録に先立って行われるテスト記録において調整を行うといった方法も一般的に用いられている。
しかしながら、上記従来技術においては、有限である記録ドライブのメモリ容量への負担が大きく、高容量のメモリーを用いた場合は記録ドライブのコストアップに繋がるため、対応できる記録メディアの数が制限されるといった第1の課題点を有する。 However, in the above prior art, the burden on the memory capacity of the finite recording drive is large, and the use of a high-capacity memory leads to an increase in the cost of the recording drive. The first problem is as follows.
また記録レーザパワーのみで補えない記録メディアおよび記録ドライブの持つ特性バラツキに十分に対応できず、さらには記録ドライブのメモリに予め記憶されなかった記録メディアおよび記録ドライブが発売された後に発売された記録メディア等の「未知の種類の光記録メディア」に対しても、一部ではファームアップという形で対応しているが、十分な対応ができないといった第2の課題点を有する。 In addition, recording media and recording drives that cannot be compensated for by recording laser power alone cannot be fully dealt with, and recording media and recording drives that were not previously stored in the memory of the recording drive were released after the release. Some of the “unknown types of optical recording media” such as media are also supported in the form of firmware upgrades, but have a second problem that they cannot be adequately handled.
さらには、複数層におけるテスト記録により情報記録以外の所要時間が増加するといった第3の課題点を有する。 Furthermore, there is a third problem that a required time other than information recording increases due to test recording in a plurality of layers.
上記3つの課題に対応する多層型光ディスクの記録条件最適化手法の構築が求められている。 There is a demand for the construction of a recording condition optimization method for a multi-layered optical disk corresponding to the above three problems.
本発明は前記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、光記録装置、ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide an optical recording method, an optical recording apparatus, and a one-chip CPU capable of recording information in a short time by shortening a test time before information recording. It is to provide an element and a computer program.
本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。 In order to achieve the above object, the present invention provides an optical recording apparatus for recording information by irradiating a laser beam pulse onto a recording medium composed of a plurality of layers including one recording layer and another recording layer. An optical recording method for recording and reproducing test data in a test area of the recording layer to derive a recording pulse condition and irradiating the recording medium with a laser light pulse based on the recording pulse condition to record information The optical recording apparatus records test data having a predetermined data pattern on one recording layer prior to actual information recording and reproduces the test data, and is suitable for one recording layer by the test recording. First recording step for deriving the recording pulse condition and test recording in the other recording layer using a data pattern in which only signals having a short pulse width are arranged to derive the recording pulse condition for the other recording layer Do We propose an optical recording method of performing a 2 derivation step.
本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件が導出される。さらに、前記他の記録層においては、パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、前記他の記録層の記録パルス条件が導出される。 According to the optical recording method of the present invention, test data having a predetermined data pattern is recorded on one recording layer prior to actual information recording, and this is reproduced, and this test recording is suitable for one recording layer. A recording pulse condition is derived. Further, in the other recording layer, test recording is performed using test data having a data pattern in which only signals having a short pulse width are arranged, and the recording pulse condition of the other recording layer is derived.
本発明は、上記の目的を達成するために、上記光記録方法における各処理ステップを実行する手段を備えた光記録装置と、該光記録装置に用いるワンチップCPU素子、及び前記光記録装置に用いるCPUを駆動して前記光記録方法を実行するコンピュータプログラムを提案する。 In order to achieve the above object, the present invention provides an optical recording apparatus having means for executing each processing step in the optical recording method, a one-chip CPU element used in the optical recording apparatus, and the optical recording apparatus. A computer program for executing the optical recording method by driving a CPU to be used is proposed.
本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、さらに、他の記録層においては、パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、他の記録層の記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。 According to the optical recording method of the present invention, test data having a predetermined data pattern is recorded on one recording layer prior to actual information recording, and this is reproduced, and this test recording is suitable for one recording layer. The recording pulse condition is derived, and in the other recording layer, test recording is performed using test data having a data pattern in which only signals having a short pulse width are arranged, and the recording pulse condition of the other recording layer is derived. Therefore, the test time for deriving the recording pulse conditions of the other recording layers can be shortened, and the test time before information recording can be shortened to record information in a short time. Furthermore, the recording area used for test recording can be reduced as compared with the conventional case.
また、本発明の光記録装置によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。 Moreover, according to the optical recording apparatus of the present invention, the above optical recording method can be easily realized.
さらに、本発明のマイクロCPU素子によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。 Furthermore, according to the micro CPU element of the present invention, the above optical recording method can be easily realized.
また、本発明のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録方法を容易に実現することができる。 In addition, according to the computer program of the present invention, the optical recording method can be easily realized using an arbitrary CPU.
以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は本発明の第1実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図である。図において、10は光ディスクで、周知のDVD、HD−DVD、Blu−rayディスク等の多層型光記録媒体であり、本実施形態ではレーザ光照射面から最も離れた位置から第1記録層11、第2記録層12の順で2つの記録層を有する光記録媒体である。尚、本実施形態では2つの記録層を有する光記録媒体を用いて説明するが、3層以上の記録層を有する光記録媒体を光ディスク10として光記録装置100によって情報の記録再生を行うことができる。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an optical recording apparatus and a configuration of an optical disc in the first embodiment of the present invention. In the figure,
100は光記録装置で、光ピックアップ110と、レーザダイオード(以下、LDと称する)ドライバ121、スライサ122、データ復調回路123、特性値検出部124、ワンチップCPU素子(以下、CPUと称する)125、メモリ127、インタフェース(以下、I/Fと称する)128とを備えている。尚、ここでは、本発明に特に関係する構成部分のみを記載して説明する。
An
また、光記録装置100には、パーソナルコンピュータやディスプレイ等からなる表示部131と、キーボード等からなる操作部132が接続されている。
Further, the
光ピックアップ110は、レーザダイオード(以下、LDと称する)111と、フォトディテクタ(以下、PDと称する)112、コリメートレンズ113、対物レンズ114、検出レンズ115、ビームスプリッタ116を有している。LD111から射出されたレーザ光はコリメートレンズ113とビームスプリッタ116と対物レンズ114を透過して光ディスク10に照射される。また、光ディスク10によって反射されたレーザ光は対物レンズ114を透過した後にビームスプリッタ116によって反射され、検出レンズ115を介してPD112に入射される。PD112は入射した光の光量に対応した値の電流を出力する。
The
LDドライバ121はCPU素子125から入力した記録信号に基づいてLD111に駆動電流を供給してLD111を発光させる。
The
スライサ122は、PD112から出力電流を所定の閾値でスライスして2値化電圧信号に変換して出力する。
The
データ復調回路123は、スライサ122から出力される符号化されている2値化信号を復調してCPU125に出力する回路であり、例えば、スライサ122から出力された2値化電圧信号である3T〜11Tのパルス幅でEFM変調されて符号化された信号を復調したディジタル信号をCPU125に出力する。
The
特性値検出部124は、PD112から出力された電流信号を入力し、この電流値に基づいて光ディスク10からの反射光から特性値を検出してディジタル情報としてCPU125に出力する。この反射光から検出する特性値としては、例えば、記録レーザパワーや記録パルス条件に依存し、且つ記録パルス条件を最適化するのに相応しい特性値であればよく、本実施形態では、β、アシンメトリ(Asymmetry)、位相、振幅等を検出している。
The
CPU125は、周知のワンチップCPU素子で、内部にCPUをどうさせるためのコンピュータプログラムが格納されているメモリ回路126を備えている。また、CPU125は、駆動機構部(図示せず)を制御して光りピックアップ110の位置、トラッキング、フォーカスの調整及び光ディスク10の回転駆動制御を行うと共に、メモリ127に蓄積されているデータテーブルに基づいて外部から入力されたデータを光ディスク10に記録する(書き込む)、或いは光ディスク10に記録されているデータを読み出して外部装置に出力する。また、後述する処理によって光ディスク10への情報の記録時におけるテストを行い最適なレーザ好条件を求めて、データの記録を行えるようにしている。
The
メモリ回路127は、CPU125に接続され、内部には従来例と同様のストラテジテーブルとして他種類の光ディスクに対応したデータがデータテーブルに記録されている。
The
I/F128はCPUと外部の表示部131及び操作部132を接続するためのインタフェースであると共に、外部装置とCPU125との間の記録・再生データの転送を行う。
The I /
上記構成では、LD111から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク10に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との間でデータの送受信を行う。尚、光記録装置100は、光ディスク10へデータを記録するときに、第1記録層11、第2記録12の順に情報の記録を行うものである。
In the above configuration, information is recorded on and reproduced from the
光ディスク10に対して情報の記録を行う場合は、記録データを符号化し、この符号化した記録データをCPU125で処理することで、光ディスク10に対する記録条件となるストラデジを決定し、このストラテジをLDドライバ121で記録パルスに変換し、この記録パルスに基づいてパルス化されたレーザ光をLD111から出力する。
When recording information on the
LDドライバ121は、入力された記録パルスに基づいてLD111を駆動し、LD111はこの記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメートレンズ113、ビームスプリッタ116、対物レンズ114を介して、線速度一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク10に照射し、これにより光ディスク10に、所望の記録データに対応したピットとスペース列からなる記録パターンが記録される。
The
また、光ディスク10にデータを記録する際には、周知のように光ディスク10のテスト領域にテストデータの記録及びその再生を行って最適なレーザ光の照射条件を決定する。本実施形態の光記録装置100では、このレーザ光の照射条件を決定するテスト時間を従来よりも短縮することができる。
Further, when data is recorded on the
以下に、本実施形態におけるレーザ光の照射条件を決定する方法に関して詳細に説明する。 Hereinafter, a method for determining the irradiation condition of the laser beam in the present embodiment will be described in detail.
図2は第1実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
FIG. 2 is a flowchart for explaining a recording process on the recording layer in the first embodiment. A computer program for executing this processing is stored in advance in the
即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図2に示す処理を実行する。処理を開始すると、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SA1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSA9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様の記録レーザ光強度最適化(OPC:Optimum Power Control ,以下OPCと称する)によって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定回数行い、記録した情報を再生して(SA2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SA3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
That is, when data is recorded on the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SA4)。この特性関係式としては、例えば、図4のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式、図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図6のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテストデータから2種類のパラメータ、すなわち図4のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式と、図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。 Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SA4). As this characteristic relational expression, for example, a characteristic relational expression expressing the relationship between the laser power (Wrigte PW) and β as shown in the graph of FIG. 4, and a laser power (Wrigte PW) as shown in the graph of FIG. A characteristic relational expression representing a phase correction parameter in relation to the pulse phase, and a pulse phase in relation to a pulse phase difference (Pluse (Topr, Tlast)) as shown in the graph of FIG. A characteristic relational expression representing the correction parameter is derived. Here, from the test data recorded by changing the laser power stepwise, two types of parameters, that is, a characteristic relational expression expressing the relationship between the laser power (Wrigte PW) and β as shown in the graph of FIG. A characteristic relational expression representing a phase correction parameter in the relationship between the laser power (Wrigte PW) and the pulse phase as shown in the graph of FIG. 5 is derived.
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SA5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SA6)。
Thereafter, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained (SA5), and the actual recording on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SA7)、記録層の変更を必要とするときは前記SA1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SA8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SA6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SA7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SA1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the processing has been completed (SA8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SA6. If recording of information has ended, the process ends.
一方、前記SA1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第1記録層11における回数よりも少ない回数だけ行い、記録した情報を再生して(SA9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SA10)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。
On the other hand, when information is recorded on a recording layer other than the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SA11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SA11). As this characteristic relational expression, for example, a characteristic relational expression representing a phase correction parameter in the relation between the laser power (Wrigte PW) and the pulse phase as shown in the graph of FIG. 7 is derived. As described above, when recording on the
この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SA12)。
Thereafter, using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above and the characteristic relational expression obtained in the
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SA13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SA6)。
Next, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the above characteristic relational expression (SA13). Thereafter, information is recorded on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SA7)、記録層の変更を必要とするときは前記SA1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SA8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SA6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SA7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SA1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the processing has been completed (SA8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SA6. If recording of information has ended, the process ends.
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11にテスト記録が行われて第1記録層11に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト時間よりも少ない時間内に記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
According to the above embodiment, test recording is performed on the
上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関してはレーザパワー調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。
As described above, in the normal test recording, the characteristic relationship between the laser power and β is obtained in the laser power adjustment test, the optimum laser power is derived from this characteristic relationship, and the pulse-to-phase deviation is determined in the pulse width adjustment test. In this embodiment, only the laser power adjustment test is performed for the recording layers other than the
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
Further, according to the
尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク10としてHD−DVDを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。また、光ディスク10として周知のBlu−rayディスクを用いる場合はDVDとは規格が異なるため、第1記録層においては、図9のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)とアシンメトリー(Asymmetry)との関係を表した特性関係式と、図10のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式と、図11のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出し、第1記録層以外の記録層においては、テストによって図12のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を求め、これらの特性関係式の相関関係から他の記録層における図13のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測して、他の記録層における最適値を求めることができる。また、パルス幅調整用パラメータ(評価指標)とは、位相ずれ、長さずれ、振幅ずれを意味するものである。
In the above embodiment, an example using a well-known multilayer DVD as the
次に、本発明の第2実施形態を説明する。 Next, a second embodiment of the present invention will be described.
本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第2実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
The apparatus configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above. The difference from the first embodiment is that the second embodiment uses a
以下に、本実施形態におけるレーザ光の記録パルス条件を決定する方法に関して詳細に説明する。 Hereinafter, a method for determining the recording pulse condition of the laser beam in the present embodiment will be described in detail.
図14は第2実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
FIG. 14 is a flowchart for explaining the recording process to the recording layer in the second embodiment. A computer program for executing this processing is stored in advance in the
即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図14に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SB1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSB9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定の使用領域内で行い、記録した情報を再生して(SB2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SB3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
That is, when data is recorded on the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SB4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。 Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SB4). This characteristic relational expression is the same as in the first embodiment.
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SB5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SB6)。
Thereafter, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above (SB5), and the actual recording on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SB7)、記録層の変更を必要とするときは前記SB1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SB8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SB6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed during the data recording (SB7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SB1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the processing has been completed (SB8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to step SB6. If recording of information has ended, the process ends.
一方、前記SB1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第1記録層11における使用領域よりも少ない使用領域を用いて行い、記録した情報を再生して(SB9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SB10)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。
On the other hand, when the information is recorded on the recording layer other than the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SB11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SB11). As this characteristic relational expression, for example, a characteristic relational expression representing a pulse phase correction parameter in the relationship between the laser power (Wrigte PW) and the pulse phase as shown in the graph of FIG. 7 is derived. As described above, when recording on the
この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SB12)。
Thereafter, using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above and the characteristic relational expression obtained in the
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SB13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SB6)。
Next, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the above characteristic relational expression (SB13). Thereafter, information is recorded on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SB7)、記録層の変更を必要とするときは前記SB1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SB8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SB6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed during the data recording (SB7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SB1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the processing has been completed (SB8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to step SB6. If recording of information has ended, the process ends.
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に所定のテスト使用領域にテスト記録が行われて第1記録層11に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録が行われ記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
According to the embodiment, test recording is performed in a predetermined test use area on the
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
Further, according to the
尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
In the above embodiment, an example using a known multi-layer DVD as the
次に、本発明の第3実施形態を説明する。 Next, a third embodiment of the present invention will be described.
本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第3実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
The apparatus configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above. The difference from the first embodiment is that the third embodiment uses a
図15は第3実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
FIG. 15 is a flowchart for explaining a recording process to the recording layer in the third embodiment. A computer program for executing this processing is stored in advance in the
即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図15に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SC1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSC9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定の記録時間で行い、記録した情報を再生して(SC2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SC3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
That is, when data is recorded on the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SC4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。 Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SC4). This characteristic relational expression is the same as in the first embodiment.
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SC5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SC6)。
Thereafter, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above (SC5), and the actual recording on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SC7)、記録層の変更を必要とするときは前記SC1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SC8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SC6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of the data recording (SC7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SC1. It is determined whether or not the processing has been completed (SC8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SC6. If recording of information has ended, the process ends.
一方、前記SC1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第1記録層11における記録時間よりも少ない記録時間で行い、記録した情報を再生して(SC9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SC10)。この際、テストデータの再生に要する時間も第1記録層11における再生時間よりも短くなる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。
On the other hand, when the information is recorded on the recording layer other than the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SC11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SC11). As this characteristic relational expression, for example, a characteristic relational expression representing a pulse phase correction parameter in the relationship between the laser power (Wrigte PW) and the pulse phase as shown in the graph of FIG. 7 is derived. As described above, when recording on the
この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SC12)。
Thereafter, using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above and the characteristic relational expression obtained in the
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SC13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SC6)。
Next, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the above characteristic relational expression (SC13). Thereafter, information is recorded on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SC7)、記録層の変更を必要とするときは前記SC1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SC8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SC6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of the data recording (SC7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SC1. It is determined whether or not the processing has been completed (SC8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SC6. If recording of information has ended, the process ends.
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、テストデータが所定の記録時間内で記録されると共に所定の再生時間内でテストデータが再生されて、第1記録層11に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および第1記録層11におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
According to the above embodiment, the test data is recorded on the
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
Further, according to the
尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
In the above embodiment, an example using a known multi-layer DVD as the
次に、本発明の第4実施形態を説明する。 Next, a fourth embodiment of the present invention will be described.
本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第4実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
The apparatus configuration in the present embodiment is the same as that of the first embodiment described above, and the difference from the first embodiment is that the fourth embodiment uses a
図16は第4実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
FIG. 16 is a flowchart for explaining the recording process to the recording layer in the fourth embodiment. A computer program for executing this processing is stored in advance in the
即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図16に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SD1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSD9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって所定記録長の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して(SD2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SD3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
That is, when data is recorded on the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SD4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。 Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SD4). This characteristic relational expression is the same as in the first embodiment.
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SD5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SD6)。
Thereafter, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above (SD5), and the actual recording on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SD7)、記録層の変更を必要とするときは前記SD1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SD8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SD6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SD7). If the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SD1. It is determined whether or not the processing has been completed (SD8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SD6. If recording of information has ended, the process ends.
一方、前記SD1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いた調整用データパターンの記録長よりも短い記録長の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して(SD9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SD10)。この際、テストデータの記録及び再生に要する時間は第1記録層11における記録時間及び再生時間よりも短くなる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。
On the other hand, when the information is recorded on the recording layer other than the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SD11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SD11). As this characteristic relational expression, for example, a characteristic relational expression representing a phase correction parameter in the relation between the laser power (Wrigte PW) and the pulse phase as shown in the graph of FIG. 7 is derived. As described above, when recording on the
この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SD12)。
Thereafter, using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above and the characteristic relational expression obtained in the
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SD13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SD6)。
Next, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the above characteristic relational expression (SD13). Thereafter, information is recorded on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SD7)、記録層の変更を必要とするときは前記SD1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SD8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SD6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SD7). If the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SD1. It is determined whether or not the processing has been completed (SD8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SD6. If recording of information has ended, the process ends.
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、所定の情報記録長内のテストデータの記録が行われると共に所定の情報再生長内のテストデータの再生が行われて、第1記録層11に適した記録パルス条件が導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および第1記録層11におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように第2記録層12にテストデータの記録及び再生が行われて記録パルス条件が導出されるので、第2記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
According to the above embodiment, test data within a predetermined information recording length is recorded on the
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
Further, according to the
尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
In the above embodiment, an example using a known multi-layer DVD as the
次に、本発明の第5実施形態を説明する。 Next, a fifth embodiment of the present invention will be described.
本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第5実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
The apparatus configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above. The difference from the first embodiment is that the fifth embodiment uses a
図17は第5実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
FIG. 17 is a flowchart for explaining the recording process to the recording layer in the fifth embodiment. A computer program for executing this processing is stored in advance in the
即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図17に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SE1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSE9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって所定の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して(SE2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SE3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
That is, when data is recorded on the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SE4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。 Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SE4). This characteristic relational expression is the same as in the first embodiment.
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SE5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SE6)。
Thereafter, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained (SE5), and the actual recording on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SE7)、記録層の変更を必要とするときは前記SE1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SE8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SE6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SE7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SE1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the processing has been completed (SE8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SE6. If recording of information has ended, the process ends.
一方、前記SE1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いた調整用データパターンとは異なる調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して(SE9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SE10)。この際、第2記録層12において用いる調整用データパターンとしては、例えば、パルス幅の変動が顕著に現れる短いパルス幅の信号を並べたデータパターンを用いている。このようにパルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いるので、第1記録層11のテストに比べてデータパターンの記録及び再生に要する時間を短縮することができる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。
On the other hand, when the information is recorded on the recording layer other than the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SE11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SE11). As this characteristic relational expression, for example, a characteristic relational expression representing a pulse phase correction parameter in the relationship between the laser power (Wrigte PW) and the pulse phase as shown in the graph of FIG. 7 is derived. As described above, when recording on the
この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SE12)。
Thereafter, using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above and the characteristic relational expression obtained in the
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SE13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SE6)。
Next, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the above characteristic relational expression (SE13). Thereafter, information is recorded on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SE7)、記録層の変更を必要とするときは前記SE1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SE8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SE6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SE7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SE1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the processing has been completed (SE8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SE6. If recording of information has ended, the process ends.
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により第1記録層11に適した記録パルス条件が導出されと共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、第2記録層12の記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
According to the above-described embodiment, test data having a predetermined data pattern is recorded on the
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
Further, according to the
尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
In the above embodiment, an example using a known multi-layer DVD as the
次に、本発明の第6実施形態を説明する。 Next, a sixth embodiment of the present invention will be described.
本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第6実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。
The apparatus configuration in the present embodiment is the same as that of the first embodiment described above. The difference from the first embodiment is that the sixth embodiment uses a
図18は第6実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。
FIG. 18 is a flowchart for explaining the recording process on the recording layer in the sixth embodiment. A computer program for executing this processing is stored in advance in the
即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図18に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SF1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSF9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって所定の複数種類の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して(SF2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SF3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。
That is, when data is recorded on the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SF4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。 Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SF4). This characteristic relational expression is the same as in the first embodiment.
この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SF5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SF6)。
Thereafter, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above (SF5), and the actual recording on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SF7)、記録層の変更を必要とするときは前記SF1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SF8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SF6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SF7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SF1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the process has been completed (SF8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SF6. If recording of information has ended, the process ends.
一方、前記SF1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いた複数種類の調整用データパターンのうちの一部の種類の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して(SF9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SF10)。この際、第2記録層12において用いる調整用データパターンとしては、第1記録層11において用いた複数種類のデータパターンのうちの一部の種類のみを用いるので、第1記録層11のテストに比べてデータパターンの記録及び再生に要する時間を短縮することができる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。
On the other hand, when the information is recorded on the recording layer other than the
次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SF11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。
Next, a characteristic relational expression is derived from the obtained parameters (SF11). As this characteristic relational expression, for example, a characteristic relational expression representing a phase correction parameter in the relation between the laser power (Wrigte PW) and the pulse phase as shown in the graph of FIG. 7 is derived. As described above, when recording on the
この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SF12)。
Thereafter, using the parameters obtained from the characteristic relational expression obtained above and the characteristic relational expression obtained in the
次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SF13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SF6)。
Next, the optimum recording pulse condition of the laser power and the pulse width is derived using the above characteristic relational expression (SF13). Thereafter, information is recorded on the
次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SF7)、記録層の変更を必要とするときは前記SF1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SF8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SF6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。 Next, it is determined whether or not the recording layer needs to be changed in the middle of data recording (SF7). When the recording layer needs to be changed, the process proceeds to SF1, and when it is not necessary, the information is recorded. It is determined whether or not the process has been completed (SF8). If the result of this determination is that recording of information has not ended, the process proceeds to SF6. If recording of information has ended, the process ends.
上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、複数種の所定のデータパターンを含むテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により第1記録層11に適した記録パルス条件が導出されと共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11における複数種データパターンのうちの一部の種類のデータパターンをを用いてテスト記録が行われ、第2記録層12の記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。
According to the above-described embodiment, test data including a plurality of types of predetermined data patterns is recorded on the
また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。
Further, according to the
尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。
In the above embodiment, an example using a known multi-layer DVD as the
また、上記実施形態は、本発明の一具体例にすぎず、本発明が上記実施形態の構成のみに限定されることはない。例えば、上記実施形態では2層の記録層11,12を有する光ディスク10を用いて説明したが、3層以上の記録層を有する光ディスクへの情報の記録においても同様の効果を得ることができることは言うまでもない。
Moreover, the said embodiment is only a specific example of this invention, and this invention is not limited only to the structure of the said embodiment. For example, in the above embodiment, the
また、上記各実施形態では、第1記録層11を基準として他の記録層12への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしたが、第1記録層以外の記録層を基準として他の記録層への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしても良い。また、上記各実施形態ではレーザ光照射面から離れた位置にある第1記録層11から順に照射面に近い位置にある第2記録層12へと順に情報記録を行うようにしたがこれに限定されることはなく、第1記録層11以外の記録層を初めとして情報記録を行うようにしても良い。
In each of the above embodiments, the optimum value of the laser beam irradiated to the
10…光ディスク(記録媒体)、11…第1記録層(一の記録層)、12…第2記録層(他の記録層)、100…光記録装置、110…光ピックアップ、111…レーザダイオード(LD)、112…フォトディテクタ(PD)、113…コリメートレンズ、114…対物レンズ、115…検出レンズ、116…ビームスプリッタ、121…LDドライバ、122…スライサ、123…データ復調回路、124…特性値検出部、125…ワンチップCPU素子(CPU)、126…メモリ回路、127…メモリ、128…インタフェース(I/F)、131…表示部、132…操作部。
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記光記録装置は、
実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、
パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する
ことを特徴とする光記録方法。 When an optical recording apparatus records information by irradiating a laser beam pulse onto a recording medium composed of a plurality of layers including one recording layer and another recording layer, test data is recorded in the test area of the recording layer. And reproducing to derive a recording pulse condition, and irradiating the recording medium with a laser light pulse based on the recording pulse condition to record information,
The optical recording device comprises:
Prior to the actual information recording, test data having a predetermined data pattern is recorded on one recording layer and reproduced, and a recording pulse condition suitable for the one recording layer is derived by the test recording. Steps,
Performing a second recording step of deriving a recording pulse condition of the other recording layer by performing test recording in the other recording layer using a data pattern in which only signals having a short pulse width are arranged. Optical recording method.
前記他の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーのみを変化させる
ことを特徴とする請求項1に記載の光記録方法。 In the test recording in the one recording layer, the laser irradiation power and the pulse phase are changed,
The optical recording method according to claim 1, wherein only the laser irradiation power is changed in the test recording in the other recording layer.
実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出手段と、
パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えている
ことを特徴とする光記録装置。 When recording information by irradiating a laser beam pulse to a recording medium composed of a plurality of layers including one recording layer and another recording layer, the test data is recorded and reproduced in the test area of the recording layer. An optical recording apparatus for deriving a recording pulse condition and irradiating the recording medium with a laser light pulse based on the recording pulse condition to record information,
Prior to the actual information recording, test data having a predetermined data pattern is recorded on one recording layer and reproduced, and a recording pulse condition suitable for the one recording layer is derived by the test recording. Means,
And a second derivation means for deriving a recording pulse condition of the other recording layer by performing test recording in the other recording layer using a data pattern in which only signals having a short pulse width are arranged. An optical recording apparatus.
前記他の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーのみを変化させる
ことを特徴とする請求項3に記載の光記録装置。 In the test recording in the one recording layer, the laser irradiation power and the pulse phase are changed,
The optical recording apparatus according to claim 3, wherein only the laser irradiation power is changed in the test recording in the other recording layer.
動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストを所定の評価パラメータを用いて行い、該テストの結果に基づいて前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、
パルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いて前記他の記録層におけるテストを行い、該テストの結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されている
ことを特徴とするワンチップCPU素子。 When recording information by irradiating a laser beam pulse to a recording medium composed of a plurality of layers including one recording layer and another recording layer, the test data is recorded and reproduced in the test area of the recording layer. A one-chip CPU element used in an optical recording apparatus for deriving a recording pulse condition and irradiating the recording medium with a laser beam pulse based on the recording pulse condition to record information,
A memory circuit in which a computer program for controlling the operation is recorded, and a test for recording and reproducing predetermined test data on one recording layer prior to actual information recording is stored in the memory circuit; A first derivation step for deriving a recording pulse condition suitable for the one recording layer based on the result of the test,
A second derivation step of performing a test in the other recording layer using a data pattern in which only signals having a short pulse width are arranged, and deriving a recording pulse condition of the other recording layer based on a result of the test. A one-chip CPU element, wherein a computer program is stored.
前記他の記録層におけるテスト記録ではレーザー照射パワーのみを変化させる
ことを特徴とする請求項5に記載のワンチップCPU素子。 In the test recording in the one recording layer, the laser irradiation power and the pulse phase are changed,
The one-chip CPU element according to claim 5, wherein only the laser irradiation power is changed in the test recording in the other recording layer.
請求項1,2,5又は6の何れかに記載の処理ステップを含むことを特徴とするコンピュータプログラム。 When recording information by irradiating a laser beam pulse to a recording medium composed of a plurality of layers including one recording layer and another recording layer, the test data is recorded and reproduced in the test area of the recording layer. A computer program for deriving a recording pulse condition and operating a CPU element used in an optical recording apparatus that records information by irradiating the recording medium with a laser light pulse based on the recording pulse condition,
A computer program comprising the processing steps according to claim 1, 2, 5 or 6 .
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