JP4482716B2 - Pattern correction device and tape cassette - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、カラーフィルタ基板やフォトマスク基板に存在する欠陥を修正するパターン修正装置に関するものである。
さらに、本発明は、パターン修正装置に用いられる修正テープ(転写テープ)を収納したテープカセットに関するものである。
The present invention relates to a pattern correction apparatus for correcting defects existing in a color filter substrate or a photomask substrate.
Furthermore, the present invention relates to a tape cassette containing a correction tape (transfer tape) used in a pattern correction device.
液晶表示装置に用いられるカラーフィルタの製造工程においては、一旦製造されたカラーフィルタ基板について欠陥検査を行い、検出された欠陥を修正することにより製造の歩留りが改善されている。カラーフィルタの欠陥として、カラーフィルタ素子の一部が欠けている白抜け欠陥がある。白抜け欠陥を修正する場合、感光性着色層を含む転写フィルムを用い、熱転写方式により着色剤を欠陥の欠落部に埋め込むことにより修正する方式が既知である(例えば、特許文献1参照)。 In the manufacturing process of the color filter used in the liquid crystal display device, the manufacturing yield is improved by performing defect inspection on the color filter substrate once manufactured and correcting the detected defect. As a defect of the color filter, there is a white defect in which a part of the color filter element is missing. When correcting a white defect, a method is known in which a transfer film including a photosensitive colored layer is used and a colorant is embedded in a defective portion by a thermal transfer method (see, for example, Patent Document 1).
上記特許文献に記載されたカラーフィルタ修正装置では、RGB及びK(黒)の4色の転写フィルムを用い、各転写フィルムを供給リールと巻取リールとの間に装着し、4つのリール組を単一のカセット内に収納している。そして、ヘッド側に設けた1本の駆動軸により4つのリール組全体を駆動すると共に1本の熱転写ロッドを用いて4つの転写フィルムに対応させている。そして、固定配置した1本の熱転写ロッドに対してカセットを転写フィルムの走行方向と直交する方向に相対的に移動させて所望のカラーの転写フィルムを熱転写ロッドの真下に位置させ、熱転写ロッドの昇降移動により熱転写処理が行われている。カラーフィルタの1カ所についての熱転写処理が終了すると、4個の巻取リール全体が所定の長さだけ転写フィルムを巻取り、その後次の欠陥修正が行われている。
現在液晶表示装置用のカラーフィルタの需要が急増しており、カラーフィルタ修正装置に対して、修正作業の高速性が要求されると共に欠陥部分に着色剤を正確に埋め込むことが強く要請されている。しかしながら、上記特許文献に記載されたカラーフィルタ修正装置では、転写フィルムの着色剤をカラーフィルタの基板側に転写させるために相当な時間を必要とし、ユーザが要求している処理速度に対応できないのが実情である。また、リペア工程において、着色剤が欠落部内に均一に埋め込まれず、部分的な白抜けが発生したり、着色剤が突起状に転写される不具合も生じている。このような不正確な熱転写が行われると、再度修正処理を行う必要があり、カラーフィルタの製造の歩留りを悪くする原因となっていた。 Currently, the demand for color filters for liquid crystal display devices is rapidly increasing, and high speed correction work is required for color filter correction devices, and there is a strong demand for accurately embedding colorants in defective portions. . However, the color filter correction apparatus described in the above patent document requires a considerable time to transfer the colorant of the transfer film to the substrate side of the color filter, and cannot cope with the processing speed requested by the user. Is the actual situation. Further, in the repairing process, the colorant is not uniformly embedded in the missing part, and partial white spots are generated or the colorant is transferred in a protruding shape. When such inaccurate thermal transfer is performed, it is necessary to perform correction processing again, which causes a decrease in the yield of color filter manufacturing.
本発明の目的は、各種基板に存在する欠陥を一層高速で修正することができるパターン修正装置を実現することにある。
さらに、本発明の別の目的は、各種基板に存在する欠陥を一層高い修正精度で修正することができるパターン修正装置を提供することにある。
さらに、本発明の別の目的は、熱転写方式により欠陥を修正するパターン修正装置に用いられるテープカセットを提供することにある。
An object of the present invention is to realize a pattern correction apparatus capable of correcting defects existing on various substrates at higher speed.
Furthermore, another object of the present invention is to provide a pattern correction apparatus capable of correcting defects present on various substrates with higher correction accuracy.
Furthermore, another object of the present invention is to provide a tape cassette used in a pattern correcting apparatus for correcting defects by a thermal transfer method.
本発明による欠陥修正装置は、走行する研磨テープによりワークの表面に存在する突起欠陥を修正又は除去する欠陥修正装置であって、
ワークを保持するステージと、
ワークに対して研磨処理を行う研磨ユニットと、
研磨ユニットを、ステージ上のワークに対して、研磨テープの走行方向であるテープ走行方向と直交する第1の方向に相対移動させる第1の移動手段とを具え、前記研磨ユニットは、
前記研磨テープを走行させる研磨テープ走行手段と、
前記研磨ユニットに対して前記第1の方向に相対移動可能に装着され、前記研磨テープをワーク表面に対して当接させるヘッドチップと、
前記ヘッドチップを、研磨ユニットに対して前記第1の方向に沿って相対移動させる第2の移動手段とを有することを特徴とする。
A defect correction apparatus according to the present invention is a defect correction apparatus that corrects or removes a protrusion defect existing on the surface of a workpiece by a traveling polishing tape,
A stage to hold the workpiece,
A polishing unit for polishing the workpiece;
First polishing means for moving the polishing unit relative to the workpiece on the stage in a first direction orthogonal to the tape traveling direction, which is the traveling direction of the polishing tape, the polishing unit comprises:
Abrasive tape running means for running the abrasive tape;
A head chip which is mounted so as to be relatively movable in the first direction with respect to the polishing unit, and which makes the polishing tape contact the work surface;
And a second moving means for moving the head chip relative to the polishing unit along the first direction.
本発明者が熱転写方式のカラーフィルタ修正装置について種々の実験及び解析を行った結果、修正処理の高速化を図るためには、修正テープを予備加熱することが極めて重要である事が判明した。すなわち、マスクテープにマスキング開口を形成し、マスキング開口の内部を着色剤及びクッション層で埋め込む修正方法においては、クッション層をガラス転移点以上に加熱して軟化させてから熱転写ロッドによる圧着を行う必要がある。一方、R,G,B,Kの4個の修正テープについて1個の熱転写ロッドを用いたのでは、修正テープについて熱転写ロッドにより予備加熱することができないため、クッション層を軟化させるまでに相当な時間がかかってしまう。また、熱転写ロッドとは別に修正テープを予備加熱する加熱手段を設けるのでは、構造的に複雑化する不具合が発生する。さらに、R,G,B,Kの修正テープごとに最適熱転写温度が相違するため、単一の熱転写ロッドを用いて修正するには限界がある。 As a result of various experiments and analyzes by the inventor of the thermal transfer type color filter correction device, it has been found that preheating the correction tape is extremely important in order to speed up the correction process. That is, in the correction method in which a masking opening is formed in the mask tape and the inside of the masking opening is embedded with the colorant and the cushion layer, it is necessary to heat and soften the cushion layer to a temperature higher than the glass transition point and then perform crimping with the thermal transfer rod. There is. On the other hand, if one thermal transfer rod is used for the four correction tapes R, G, B, and K, the correction tape cannot be pre-heated by the thermal transfer rod, so that it is considerable until the cushion layer is softened. It takes time. In addition, if a heating means for preheating the correction tape is provided separately from the thermal transfer rod, there is a problem that the structure becomes complicated. Furthermore, since the optimum thermal transfer temperature differs for each of the R, G, B, and K correction tapes, there is a limit to the correction using a single thermal transfer rod.
そこで、本発明では、4色の修正テープについてそれぞれ熱転写ロッドを設け、修正テープユニットと熱転写ロッドとを一体化し、カセット化する。各修正テープユニット毎に熱転写ロッドユニットを設けることにより、各修正テープの最適熱転写温度に設定された熱転写ロッドにより修正テープを予備加熱することができるため、予備加熱の時間が不要になり、修正処理の高速化が図られる。しかも、各カラーの修正テープごとに最適熱転写温度で修正処理が行われるため、修正処理の精度も格段に向上する。 Therefore, in the present invention, a thermal transfer rod is provided for each of the four color correction tapes, and the correction tape unit and the thermal transfer rod are integrated into a cassette. By providing a thermal transfer rod unit for each correction tape unit, it is possible to preheat the correction tape with the thermal transfer rod set to the optimum thermal transfer temperature of each correction tape, eliminating the need for preheating time and correction processing. Speeding up. Moreover, since the correction processing is performed at the optimum thermal transfer temperature for each color correction tape, the accuracy of the correction processing is also greatly improved.
本発明による別の欠陥修正装置は、走行する研磨テープによりワークの表面に存在する突起欠陥を修正又は除去する欠陥修正装置であって、
ワークを保持するステージと、
ステージに対して一方向に沿って相対移動するガントリー構造体と、
ガントリー構造体を移動させる第1の移動手段と、
ガントリー構造体に、その移動方向と直交する方向に移動可能に装着された修正ヘッドと、
修正ヘッドを移動させる第2の移動手段とを具え、前記修正ヘッドは、
ワークに対して研磨処理を行う研磨ユニットと、ワークに存在する欠陥を観察する光学ヘッドとを有し、前記研磨ユニットは、
前記研磨テープを走行させる研磨テープ走行手段と、
前記研磨テープをワーク表面に対して当接させるヘッドチップと
前記ヘッドチップを、研磨テープの走行方向であるテープ走行方向と直交する方向にガイドするガイド手段と、
ヘッドチップを前記ガイド手段に沿って研磨ユニットに対して相対移動させる第3の移動手段とを有し、
研磨処理中に、研磨ユニットは、前記第1の移動手段又は第2の移動手段により研磨テープの走行方向と直交する第1の方向に移動し、前記ヘッドチップは、前記第3の移動手段により、研磨ユニットに対して前記第1の方向に沿って研磨ユニットの移動方向とは反対向きの方向に相対移動し、
研磨処理中、前記ヘッドチップは修正されるべき欠陥に対してほぼ静止状態に維持されることを特徴とする。
Another defect correction apparatus according to the present invention is a defect correction apparatus that corrects or removes a protrusion defect existing on the surface of a workpiece by a traveling polishing tape,
A stage to hold the workpiece,
A gantry structure that moves relative to the stage in one direction;
First moving means for moving the gantry structure;
A correction head mounted on the gantry structure so as to be movable in a direction perpendicular to the moving direction;
Second correction means for moving the correction head, the correction head comprising:
A polishing unit that performs a polishing process on a workpiece, and an optical head that observes defects present in the workpiece, the polishing unit includes:
Abrasive tape running means for running the abrasive tape;
A head chip for bringing the polishing tape into contact with the work surface; and a guide means for guiding the head chip in a direction orthogonal to a tape traveling direction which is a traveling direction of the polishing tape;
Third moving means for moving the head chip relative to the polishing unit along the guide means;
During the polishing process, the polishing unit is moved in the first direction orthogonal to the traveling direction of the polishing tape by the first moving means or the second moving means, and the head chip is moved by the third moving means. , relative movement in the direction opposite direction to the direction of movement of the polishing unit along the first direction with respect to the polishing unit,
During polishing process, characterized in that it is maintained substantially stationary relative to the defect to the head chip is fixed.
本発明による別の欠陥修正装置は、走行する研磨テープによりワークの表面に存在する突起欠陥を修正又は除去する欠陥修正装置であって、
ワークを保持するステージと、
ステージに対して一方向に相対移動するガントリー構造体と、
ガントリー構造体に対して相対移動可能に装着された修正ヘッドとを具え、前記修正ヘッドは、
ワークに対して研磨処理を行う研磨ユニットと、研磨ユニットを第1の方向に沿って移動させる第1の移動機構とを有し、前記研磨ユニットは、
前記研磨テープを前記第1の方向と直交する第2の方向に沿って走行させる研磨テープ走行手段と、
研磨ユニットに前記第1の方向に相対移動可能に装着され、前記研磨テープをワーク表面に対して当接させるヘッドチップと
前記ヘッドチップを、第1の方向に沿って研磨ユニットに対して相対移動させる第2の移動機構とを有し、
研磨処理中に、研磨テープは第2の方向に走行し、研磨ユニットは第1の方向に移動すると共にヘッドチップは第1の方向に沿って研磨ユニットの移動方向とは反対向きの方向に相対移動し、当該ヘッドチップは、修正されるべき欠陥に対してほぼ静止状態に維持されることを特徴とする。
Another defect correction apparatus according to the present invention is a defect correction apparatus that corrects or removes a protrusion defect existing on the surface of a workpiece by a traveling polishing tape,
A stage to hold the workpiece,
A gantry structure that moves relative to the stage in one direction;
A correction head mounted to be movable relative to the gantry structure, the correction head comprising:
A polishing unit that performs a polishing process on the workpiece; and a first moving mechanism that moves the polishing unit along a first direction.
Abrasive tape running means for running the abrasive tape along a second direction orthogonal to the first direction;
Is relatively movably attached to the to the polishing unit first direction, relative movement the polishing tape head chip and the head chip to contact the workpiece surface, the polishing unit along a first direction A second moving mechanism
During the polishing process, the polishing tape travels in the second direction, the polishing unit moves in the first direction, and the head chip moves relative to the direction opposite to the moving direction of the polishing unit along the first direction. Moving, the head chip is characterized in that it remains substantially stationary with respect to the defect to be corrected.
本発明によるテープ研磨装置は、走行する研磨テープによりワークの表面に存在する突起欠陥を修正又は除去する欠陥修正装置に用いられるテープ研磨装置であって、
研磨テープを巻き上げる巻き上げリールと、研磨テープが収納されている供給リールと、前記巻き上げリールを研磨テープを巻き上げる方向に駆動して研磨テープを巻き上げながら走行させる第1の回転駆動手段と、前記供給リールを巻き上げ方向と反対の巻き戻し方向に駆動する第2の回転駆動手段と、研磨テープをワークの表面に当接させるヘッドチップと、ヘッドチップをテープ走行方向と直交する方向に沿って移動させるヘッドチップ移動手段とを具えることを特徴とする。
A tape polishing apparatus according to the present invention is a tape polishing apparatus used in a defect correction apparatus that corrects or removes a protrusion defect existing on the surface of a workpiece by a traveling polishing tape,
A winding reel that winds up the polishing tape, a supply reel that stores the polishing tape, a first rotation driving means that drives the winding reel in a direction to wind up the polishing tape and rolls up the polishing tape, and the supply reel Second rotation driving means for driving the tape in a rewinding direction opposite to the winding direction, a head chip for bringing the polishing tape into contact with the surface of the work, and a head for moving the head chip in a direction orthogonal to the tape running direction And a chip moving means.
本発明による欠陥修正方法は、走行する研磨テープによりワークの表面に存在する突起欠陥を修正又は除去する欠陥修正方法であって、
研磨テープを走行させる研磨テープ走行手段、研磨テープをワーク表面に存在する突起欠陥に当接させるヘッドチップ、ヘッドチップを研磨テープの走行方向であるテープ走行方向と直交する第1の方向に移動させるヘッドチップ移動手段が搭載されている研磨ユニットを降下させ、研磨テープを突起欠陥に当接させる工程と、
研磨テープを走行させてワーク表面の突起欠陥を修正する工程と、
前記研磨テープの走行中に、前記研磨ユニットを前記第1の方向に移動させると共に、前記ヘッドチップを前記第1の方向に沿って研磨ユニットに対してその移動方向とは反対向きの方向に相対移動させる工程と、
研磨処理が終了した後、前記研磨ユニットを所定の位置まで上昇させる工程とを具えることを特徴とする。
The defect correction method according to the present invention is a defect correction method for correcting or removing a protrusion defect existing on the surface of a workpiece by a traveling polishing tape,
Abrasive tape running means for running the abrasive tape, a head chip for bringing the abrasive tape into contact with a projection defect existing on the work surface, and a head chip is moved in a first direction orthogonal to the tape running direction which is the running direction of the abrasive tape. Lowering the polishing unit on which the head chip moving means is mounted and bringing the polishing tape into contact with the protrusion defect;
A process of running a polishing tape to correct a protrusion defect on the workpiece surface;
While the polishing tape is running, the polishing unit is moved in the first direction, and the head chip is moved relative to the polishing unit in the direction opposite to the moving direction along the first direction. A process of moving;
And a step of raising the polishing unit to a predetermined position after the polishing process is completed.
本発明によるパターン修正装置の別の好適実施例は、修正テープはX−Z軸面内で移動し、前記マスクテープはX−Z軸面と直交するY−Z軸面内を移動し、欠陥を修正する欠陥修正位置において修正テープとマスクテープとが、Z軸方向に見て、互いにほぼ直交するように重なり合うことを特徴とする。本例では、修正テープとマスクテープとを互いに直交する面内で移動するように駆動制御するため、欠陥を修正する欠陥修正位置において、2つのテープが重なり合うように構成することが可能である。 In another preferred embodiment of the pattern correcting apparatus according to the present invention, the correction tape moves in the XZ axis plane, the mask tape moves in the YZ axis plane orthogonal to the XZ axis plane, The correction tape and the mask tape are overlapped so as to be substantially orthogonal to each other when viewed in the Z-axis direction at a defect correction position for correcting the above. In this example, since the correction tape and the mask tape are driven and controlled to move in planes orthogonal to each other, it is possible to configure the two tapes to overlap at a defect correction position where the defect is corrected.
本発明によるパターン修正装置の別の好適実施例は、基板の表面上にマスクテープが位置し、その後前記レーザ加工装置によりマスクテープにマスキング開口が形成され、その後選択されたカラーの修正テープを収納したテープカセットがX方向に移動し、修正テープがマスクテープ上に位置し、その後熱転写ロッドが下降してマスクテープに対して修正テープを圧着することを特徴とする。 In another preferred embodiment of the pattern correction device according to the present invention, a mask tape is positioned on the surface of the substrate, and then a masking opening is formed in the mask tape by the laser processing device, and then the correction tape of the selected color is accommodated. The tape cassette is moved in the X direction, the correction tape is positioned on the mask tape, and then the thermal transfer rod is lowered to press the correction tape against the mask tape.
本発明によるパターン修正装置の別の好適実施例は、修正ヘッドには、マスクテープを基板の表面に対して密着させるためのスキージが搭載され、当該スキージをマスクテープに対して圧接移動させて、基板表面とマスクテープとの間の空気層が除去されるように構成したことを特徴とする。マスクテープと基板表面との間に空気層が介在すると、レーザ加工処理において正確なマスキング開口が形成されない不具合が発生する。そこで、本例では、基板表面上に位置するマスクテープの表面をスキージにより圧接移動させ、マスクテープと基板との間に介在する空気層を除去する。これにより、一層正確なマスキング開口が形成され、修正精度が向上する。 In another preferred embodiment of the pattern correction apparatus according to the present invention, the correction head is equipped with a squeegee for bringing the mask tape into close contact with the surface of the substrate, and the squeegee is moved in pressure contact with the mask tape. An air layer between the substrate surface and the mask tape is configured to be removed. When an air layer is interposed between the mask tape and the substrate surface, there is a problem that an accurate masking opening is not formed in the laser processing. Therefore, in this example, the surface of the mask tape located on the substrate surface is moved in pressure contact with the squeegee to remove the air layer interposed between the mask tape and the substrate. Thereby, a more accurate masking opening is formed, and the correction accuracy is improved.
本発明によるパターン修正装置において、欠陥修正すべき基板としてカラーフィルタ基板を用い、R,G,B,Kの修正テープをそれぞれ収納した4個のテープカラーを用いることにより、カラーフィルタ修正装置が実現される。 In the pattern correction apparatus according to the present invention, a color filter substrate is used as a substrate to be corrected for defects, and a color filter correction apparatus is realized by using four tape colors each storing R, G, B, and K correction tapes. Is done.
本発明によるテープカセットは、基板上に形成された各種パターンの欠陥を、熱転写方式により修正するパターン修正装置又はカラーフィルタ修正装置に用いられる修正テープを収納したテープカセットであって、
感光性着色層を含む修正テープを収納した供給リールと、修正テープを巻き取る第1の巻取リールと、修正テープを所定の経路に沿って移動させるテープ移動機構とを含むテープユニット、
修正テープの感光性着色層を基板の欠陥部に熱転写させる熱転写ロッドと、熱転写ロッドを所定の温度に加熱するヒータと、熱転写ロッドを、感光性着色剤を基板に転写させる転写位置と退避位置との間で上下動させるロッド駆動機構とを含む熱転写ユニット、及び
前記テープユニットと熱転写ユニットとを収納するカセットを具え、
前記熱転写ロッドは転写テープの移動経路中に配置され、熱転写ロッドが退避位置に位置する期間中に修正テープが熱転写ロッドと接触し、修正テープが熱転写ロッドにより予備加熱されるように構成したことを特徴とする。
A tape cassette according to the present invention is a tape cassette containing a correction tape used in a pattern correction device or a color filter correction device for correcting defects in various patterns formed on a substrate by a thermal transfer method,
A tape unit including a supply reel storing a correction tape including a photosensitive colored layer, a first take-up reel for winding the correction tape, and a tape moving mechanism for moving the correction tape along a predetermined path;
A thermal transfer rod for thermally transferring the photosensitive colored layer of the correction tape to a defective portion of the substrate, a heater for heating the thermal transfer rod to a predetermined temperature, a transfer position for transferring the photosensitive colorant to the substrate, and a retracted position; A thermal transfer unit including a rod drive mechanism that moves up and down between, and a cassette for storing the tape unit and the thermal transfer unit,
The thermal transfer rod is disposed in a transfer path of the transfer tape, and the correction tape is in contact with the thermal transfer rod during a period in which the thermal transfer rod is located at the retracted position, and the correction tape is preheated by the thermal transfer rod. Features.
本発明では、修正色の数に対応した数のテープカセットを用い、修正テープユニットと熱転写ユニットとを一体的にカセット化しているので、修正テープを予備加熱することができると共に、各カラーの修正テープごとに最適な熱転写温度で修正処理を行うことが可能となる。この結果、高速化が可能になると共に修正精度も向上する。 In the present invention, the number of tape cassettes corresponding to the number of correction colors is used, and the correction tape unit and the thermal transfer unit are integrally formed into a cassette, so that the correction tape can be preheated and the correction of each color can be performed. Correction processing can be performed at the optimum thermal transfer temperature for each tape. As a result, the speed can be increased and the correction accuracy is improved.
図1は本発明によるパターン修正装置の全体構成を示す線図であり、図1Aは線図的平面図及び図1Bは線図的側面図である。本例では、修正すべきパターン基板としてカラーフィルタ基板を用い、カラーフィルタ基板の欠陥を修正する装置について説明する。パターン修正装置は、ベースとなる基台1を有し、基台1上に光学的透明材料から成るステージ2を固定配置する。ステージ2上に修正すべきカラーフィルタ基板3が配置され、例えば真空吸着等により保持する。さらに、基台1の側部にY方向に延在する2本のYレール4a及び4bを平行に配置する。2本のYレール上にガントリー構造のXレール5を移動可能に配置する。Xレール5に、カラーフィルタ基板に存在する欠陥を修正する修正ヘッド6を移動可能に装着する。Yレールに対するXレールの移動機構及び修正ヘッド6のX方向の駆動機構として、例えばリニアモータやACサーボモータが用いられる。修正ヘッド6は、検出された欠陥のアドレス情報に基づいて、XY駆動機構によりX及びY方向に移動して修正すべき欠陥の真上に位置することができる。尚、修正ヘッドをX及びY方向に移動させるXY駆動機構は各種の周知の駆動機構を用いることができるので、詳細な説明は省略する。ステージ2の下側には、カラーフィルタ基板に熱転写された感光性着色剤を硬化させるための紫外線光源7を配置する。この紫外線光源7は、修正ヘッド6と同様にXY駆動機構(図示せず)により駆動され、欠陥のアド情報に応じて修正ヘッド6と同期してX及びY方向に移動する。
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a pattern correction apparatus according to the present invention, FIG. 1A is a diagrammatic plan view, and FIG. 1B is a diagrammatic side view. In this example, an apparatus for correcting a defect in a color filter substrate using a color filter substrate as a pattern substrate to be corrected will be described. The pattern correction apparatus includes a base 1 serving as a base, and a
図2は、修正ヘッド6の一例の構成を線図的に示す平面図である。修正ヘッド6は、テープカセットユニット10と、マスクテープユニット20と、光学系ユニット30とを有する。
FIG. 2 is a plan view schematically showing the configuration of an example of the
テープカセットユニット10は、R,G,B,K(黒)の転写テープがそれぞれ収納されている直方体の4個のテープカセット11a〜11dを含み、これら4個のテープカセット11a〜11dは、Y方向に平行に配置されると共に、駆動プレート(図示せず)に連結され、駆動プレートに装着したサーボモータ12によりY方向に一体的に移動する。また、各テープカセット11a〜11dは、それぞれサーボモータ12a〜12dが連結され、駆動プレートに対してX方向に個別に移動する。各テープカセットの駆動系は、例えばサーボモータと、ボールネジと、駆動プレートに設けた案内レールとにより構成される。
The
テープカセットユニット10と隣接するように、マスクテープユニット20を配置する。マスクテープユニット20は、マスクテープ21が収納されているマスクテープ供給リール22と、修正処理後のマスクテープを巻き取る巻取リール23と、1対のガイドローラ24a及び24bを有する。これら供給リール22及び巻取リール22は、支持プレート25に回転自在に設けた2本の回転軸に着脱自在に装着される。巻取リール23が装着される回転軸にはサーボモータ26が連結され、1回の修正処理ごとに所定の長さのマスクテープ21が巻き取られる。また、2本のガイドローラ24a及び24bは支持プレート25に回転可能に装着する。マスクテープ21として、例えば厚さ10μm程度のポリイミドフィルムやアラミドフィルムが用いられる。尚、ポリイミドフィルム及びアラミドフィルムは光学的に透明であるから、これらのフィルムを介してカラーフィルタの欠陥を観察することができる。
The
支持プレート25は、修正ヘッドに設けた駆動機構(図示せず)によりX方向及びZ方向に移動可能に構成する。従って、マスクテープユニット20は、X方向に離間した2つの位置である修正位置と退避位置の2つの位置の間で往復移動する。例えば、図2の位置は退避位置とし、マスクテープ及び修正テープを用いて修正処理を行う修正工程中は、図面の右側の修正位置(欠陥のアドレス情報により指定された欠陥位置)に移動し、修正すべき欠陥の真上に位置する。修正工程が終了した後は左側の退避位置に移動する。また、レーザ加工処理によりマスクテープにマスキング開口を形成する工程中及び修正工程中にマスクテープユニットがZ方向に下降し、マスクテープをカラーフィルタ基板表面に圧接させる。
The
後述するように、マスクテープユニット20は、Z軸方向に見てテープカセットユニット10よりも下側に位置する。そして、修正工程中、指定されたテープカセット(図2において、テープカセット11cが対応する)がX方向に(図面の右側に向けて)移動し、テープカセットの一部部分がマスクテープの上方に位置し、修正テープとマスクテープとが重なり合うように構成する。すなわち、修正テープはX−Z面内で移動し、マスクテープはX−Z面と直交するY−Z面内で移動し、欠陥修正位置において修正テープとマスクテープとはZ軸方向において互いに直交して重なり合うように位置決めされる。
As will be described later, the
マスクテープユニット20をはさんで、テープカセットユニット10とは反対側に光学系ユニット30を設ける。この光学系ユニット30は、修正すべき欠陥を観察すると共に、観察された欠陥の形状や大きさに基づいてマスクテープにマスキング開口を形成するレーザ加工処理を行う。光学系ユニット30は、異なる倍率の対物レンズが装着されているレンズステージ31と、欠陥を観察するための観察光学系32と、マスクテープに所望の形状のマスキング開口を形成するためレーザ加工装置33と、対物レンズと観察光学系又はレーザ加工装置とを光学的に結合するカップリング光学系(図示せず)とを含む。光学系ユニット30は、倍率の異なる例えば6個の対物レンズが装着されているレンズステージ31を有する。このレンズステージ31は、X及びY方向に移動可能に構成され、当該レンズステージをX−Y面内で駆動することにより所望の倍率の対物レンズを修正すべき欠陥の真上に位置させて欠陥の画像をモニタ上に表示することができる。さらに、レンズステージ31はZ軸方向にも移動可能に設定され、欠陥を観察する際及びレーザ加工する際に対物レンズを光軸方向に移動して焦点を合わせることも可能である。さらに、レンズステージ31は、X方向に離間した観察及びレーザ加工位置と退避位置との2つの位置間で往復移動する。すなわち、修正すべき欠陥を観察する観察工程及びレーザ加工工程中は、観察及びレーザ加工位置に位置し、修正テープを用いて欠陥を修正する修正工程中は、X方向(図面の右側)に移動して退避位置に位置する。従って、修正工程中においては、マスクテープユニット20が欠陥の真上に位置すると共に指定されたカラーのテープカセットも欠陥の真上に位置する。
An
図3は光学系ユニット30の全体構成を示す線図である。尚、図面を明瞭にするため、主要な構成要素だけを図示し、レンズ素子等の光学素子は省略した。観察光学系32は、照明光源34を有する。照明光源34から出射した照明光は、ハーフミラー35で反射し、ダイクロイックミラー36を透過し、レンズステージ31の対物レンズ及びマスクテープ21を経てカラーフィルタ3に入射する。カラーフィルタからの反射光は、再び対物レンズで集光され、ダイクロイックミラー36及びハーフミラー35を経て2次元CCDカメラ37に結像する。よって、2次元CCDカメラからのビデオ信号をモニタに供給することにより、モニタ上にカラーフィルタの欠陥画像が表示される。操作者は、モニタ上の欠陥画像を観察することにより、修正すべきカラーフィルタ素子のカラーを特定することができ、モニタ上に表示された欠陥の大きさ及び形状に基づいてマスキング開口の形状及びその大きさを決定することができる。さらに、低倍率の対物レンズから高倍率の対物レンズに交換することにより、欠陥の観察を一層詳細に行うことができる。尚、マスクテープユニット20を退避位置に位置させ、カラーフィルタ3の表面を直接観察することも可能である。
FIG. 3 is a diagram showing the overall configuration of the
レーザ加工装置33は、マスクテープ21にマスキング開口を形成するためのレーザ38を有する。このレーザ38は、例えば355nmの波長光を発生するQスイッチYAGレーザとする。レーザ38から出射したレーザ光は、ビーム成形装置39により、欠陥の大きさや形状等に基づき操作者により決定されたビーム径のレーザ光に成形される。ビーム成形装置から出射したレーザ光は、ダイクロイックミラー36で反射し、対物レンズを介してマスクテープ21に入射する。マスクテープに短パルスレーザ光が入射すると、マスクテープに対してレーザアブレーション作用が生じ、マスクテープに短パルスレーザ光の形状に対応した開口が形成される。同時に、下地のカラーフィルタ素子も除去されるので、パルスレーザ光の形状に対応した形状の白抜け欠陥部が形成される。
The
レンズステージ31とダイクロイックミラー36及びハーフミラー35との間の光路長は相当長い距離に設定し、ダイクロイックミラー36とマスクテープユニットとの間にテープカセット11a〜11dが挿入される程度の光路長に設定する。尚、図3において、観察光学系とレーザ加工装置とが同一の側に配置されるように図示したが、図2に示すようにこれらの光軸が互いに直交するように配置する。
The optical path length between the
レーザ加工工程中、マスクテープユニットが下降し、マスクテープ21はカラーフィルタ基板の表面と接触する。しかし、マスクテープとカラーフィルタ基板との接触が不十分な場合、マスクテープと基板との間に微小な空気層が形成されてしまう。このような場合、マスクテープにマスキング開口が正確に形成されず、例えば所定の寸法の開口よりも大きな開口が形成される不具合が生じてしまう。この不具合を解消するため、図4に示すように、スキージ27を用いてマスクテープを基板の表面に対して圧接させ空気層の形成を防止することができる。すなわち、スキージ27をマスクテープに圧接移動させ、マスクテープの移動方向に沿って移動させると、マスクテープが基板表面の形状に対応して変形するため、空気層が除去され、マスクテープの基板表面に対する密着性が改善される。尚、スキージとして、例えばフッ素樹脂のような不活性樹脂の円筒体に支持部材を設けたものを用いることができる。
During the laser processing step, the mask tape unit is lowered and the
図5は本発明によるテープカセットの構成を示す線図である。テープカセット40は、ほぼ直方体のケース構造を有し、例えば鉄、ステンレス、アルミニウム、カーボンフィバ材、PET等の紫外線を遮断する材料で構成される。テープカセット40内部には、修正テープ(転写テープ)41が収納されている供給リール42と修正処理が終了した修正テープを巻き取る第1の巻取リール43とを収納する。供給リール42から巻き出された修正テープは、エンコーダ44により巻き出し量が検出され、さらに2個のローラ45と46との間を通過する間に修正テープからカバーフィルムが分離され、分離されたカバーフィルムは第2の巻取リール47に巻き取られ、カバーフィルムが除去された修正テープは、カラーフィルタ基板の白抜け欠陥を修正する修正位置に到達する。修正位置には、熱転写ロッド装置60が配置され、当該熱転写ロッド装置によりカラーフィルタ基板の白抜け欠陥が修正される。修正処理が終了した修正テープは、3個のガイドローラ48〜50を経て第1の巻取リール43に巻き取られる。
FIG. 5 is a diagram showing the structure of a tape cassette according to the present invention. The
供給リール並びに第1及び第2の巻取リールは、支持プレート(図示せず)に回転自在に装着した回転軸に着脱自在に装着され、交換可能な構成とする。また、巻取リールが装着される回転軸にはサーボモータ(図示せず)が連結され、サーボモータの回転トルクにより修正テープの巻取り制御が行われ、各修正処理毎にエンコーダからの出力信号を用いて所定長の修正テープを巻き取る。さらに、当該サーボモータは、修正テープに対して常時巻取りトルクを作用し、修正テープに所定のテンションを作用させる。また、ガイドローラも支持プレートに回転自在に取り付ける。尚、カバーフィルムを巻き取る第2の巻取リール47が装着される回転軸は、第1の巻取リールのサーボモータと連結してカバーフィルムを巻き取ってもよく、別のサーボモータにより駆動する構成とすることもできる。
The supply reel and the first and second take-up reels are detachably mounted on a rotating shaft that is rotatably mounted on a support plate (not shown), and can be replaced. In addition, a servo motor (not shown) is connected to the rotary shaft on which the take-up reel is mounted, and correction tape winding control is performed by the rotational torque of the servo motor, and an output signal from the encoder for each correction process. The correction tape of a predetermined length is wound up using. Further, the servo motor always applies a winding torque to the correction tape, and applies a predetermined tension to the correction tape. A guide roller is also rotatably attached to the support plate. The rotary shaft on which the second take-
熱転写ロッド装置60は、ガイドブロック61を有し、当該ガイドブロックは熱転写ロッド62を上下動可能に支持する。ガイドブロック61は、支持部材を介してカセット40に対して上下動可能に支持され、モータ63により昇降し、欠陥を修正する修正位置と退避位置との2つの位置の間で移動する。ガイドブロック61には、2個のガイドローラ64及び65を回転可能に取り付ける。これらガイドローラは修正テープを案内する作用を果たす。2個のガイドローラ64と65との間に熱転写ロッド62が位置する。熱転写ロッド62の内部にヒータ(図示せず)が内蔵され、先端に設けたヒータチィップ66を所定の温度に昇温させ、修正テープの着色層の最適な熱転写温度に維持する。すなわち、各カラーの修正テープごとに最適な熱転写温度(修正温度)が相違するため、本発明では、各テープカセットに搭載されている熱転写ロッドの温度を当該カセットに収納されている修正テープの着色層の最適な熱転写温度に設定し、各カラーごとにそれぞれ最適な熱転写温度で修正処理(熱転写処理)を行う。
The thermal transfer rod device 60 includes a guide block 61, and the guide block supports the
熱転写ロッド62のヒータチィップ66が装着されている側とは反対側に圧力センサ67及びモータ68を取り付ける。このモータ68の駆動力により熱転写ロッド62熱転写位置と退避位置との間で上下動する。尚、熱転写ロッドが下降した際、修正テープ41に対する圧着力を圧力センサ67により検出し、その検出結果に基づいて熱転写ロッドの下降量を制御する。熱転写ロッド62は、その先端に設けたヒータチィップ66が2個のガイドローラ64及び65を結ぶ線よりも下方に突出するように設定する。従って、修正テープ41は常時熱転写ロッド62の先端に設けたヒータチィップ66と接触し、予備加熱されることになる。
A pressure sensor 67 and a
修正処理に際し、モータ63が駆動してガイドブロック61及び熱転写ロッド62をカラーフィルタ基板に近づくように下方に移動させる。そして、2個のガイドローラ64及び65が修正テープ41を介して下側に位置するカラーフィルタ基板と当接して修正テープをカラーフィルタ基板に対して圧接する。その時点で下降を停止する。次に、モータ68が駆動して熱転写ロッド62を降下させて圧着動作が行われる。この圧着動作の間に熱転写ロッドから供給される熱が修正テープに伝達され、修正テープの着色層がマスキング開口を介してカラーフィルタ基板へ転写される。圧着動作が終了すると、熱転写ロッドが及びガイドブロックが上昇して退避位置で停止する。そして、巻取リール43を駆動するサーボモータが駆動を開始して所定長の修正テープが巻取リール43に巻き取られる。この状態において、熱転写ローラの先端は、2個のガイドローラ64と65とを結ぶ線分より下方に位置し、修正テープと接触して予備加熱が行われる。
In the correction process, the
図6は修正テープ(転写フィルム)41の一例を示す線図的断面図である。修正テープ41は、ベースフィルム41aを有し、このベースフィルム上に、クッション層41b、感光性着色層41c、カバーフィルム41dを順次形成する。ベースフィルム41aは、例えば厚さ75μmのPETで構成する。クッション層41bは、例えば厚さ20μmの熱可塑性樹脂層により構成され、熱転写ロッドにより際予備加熱されることにより軟化し、クッション材料層として機能する。すなわち、熱転写ロッドを用いて熱転写する際、マスクテープに形成したマスキング開口内に着色剤を均一に埋め込むためのクッション層として機能する。感光性着色層41cは、例えば紫外光により感光する感光性樹脂中に各種カラーの顔料が添加された着色層であり、例えば2.0μmの厚さに形成する。最後に、カバーフィルム41dは、周囲環境(湿度等)により感光性着色層の特性が劣化するのを防止する作用を果たし、例えば厚さ1.2μmのポリプロピレンで構成する。
FIG. 6 is a diagrammatic sectional view showing an example of the correction tape (transfer film) 41. The
感光性着色層41cは、顔料との関係において、ガラス転移点がそれぞれ相違するため、熱転写する際の熱転写ロッドの温度をそれぞれ最適な熱転写温度に設定する必要がある。例えば、一例としてR,G,B,Kの修正テープの熱転写ロッドの最適設定温度は、R(140℃),G(130℃),B(110℃),及びK(110℃)に設定する。例えば、熱転写ロッドの温度が最適熱転写よりも高い温度に設定されると、修正テープの着色剤が溶融し過ぎてしまい、マスクテープを剥がす際、埋め込まれた着色剤の表面に突起が形成されてしまう。一方、最適熱転写温度よりも低温の場合、修正テープの着色剤が十分に溶融せず、着色剤が均一に埋め込まれず、修正が失敗してしまう。このような不具合を解消するため、本発明では、各修正テープごとに熱転写ロッドを設け、各熱転写ロッドを最適な熱転写温度に設定する。
Since the
次に、図7及び図8を参照しながら、一連の修正処理工程について説明する。図8Aは、カラーフィルタ基板3の構成を示し、カラーフィルタ基板3は、ガラス基板70を有し、その上にブラックマトリックス(BM)71が碁盤の目状に形成されている。BM71により囲まれた領域内にR,G,Bのカラーフィルタの着色素子が所定の順序で形成されている。本例では、Bの着色素子に白抜け欠陥72が存在し、当該白抜け欠陥72を修正するものとする。
Next, a series of correction processing steps will be described with reference to FIGS. FIG. 8A shows the configuration of the
前段の欠陥検査装置により、当該白抜け欠陥及びその位置(ガラス基板上の座標)が検出され、当該欠陥のアドレス情報が修正装置に送られてくる。修正装置では、修正されるべき欠陥のアドレス情報に基づき、修正ヘッド駆動機構を駆動して修正ヘッド6をX及びY方向に移動させ、修正ヘッド6を欠陥の真上に位置させる。ここで、修正ヘッド側の基準位置として、例えば観察モード位置に位置するレンズステージ31の低倍率対物レンズの位置を基準位置として設定する。
The preceding defect inspection apparatus detects the white defect and its position (coordinates on the glass substrate), and sends address information of the defect to the correction apparatus. In the correction device, based on the address information of the defect to be corrected, the correction head driving mechanism is driven to move the
修正ヘッドが欠陥位置に移動すると、操作者は、観察モードにあるレンズステージ31の低倍率対物レンズ(例えば、5倍)を介して欠陥の位置を特定する。次に、レンズステージ31を駆動して、高倍率の対物レンズ(例えば、20倍)を観察光学系内に位置させ、高倍率モードで欠陥を観察する。この欠陥観察により、操作者は、修正すべきカラーフィルタ素子のカラーを特定すると共に、修正すべき領域を設定する。この領域設定では、レーザ加工によりマスクテープ21に形成するマスキング開口の形状を設定する。このマスキング開口は、修正される白抜け欠陥よりも大きな領域とする。
When the correction head moves to the defect position, the operator specifies the position of the defect via the low-magnification objective lens (for example, 5 times) of the
次に、図8Bに示すように、マスクテープユニットをX方向に移動させ、マスクテープ21を欠陥の真上に位置させる。さらに、マスクテープユニットをZ軸方向に下降させ、マスクテープをカラーフィルタ基板の表面に当接させる。
Next, as shown in FIG. 8B, the mask tape unit is moved in the X direction, and the
次に、図8Cに示すように、スキージ27をマスクテープ21に圧接させると共にマスクテープの延在方向に沿って移動させ、マスクテープとカラーフィルタとの間に存在する空気層を除去して互いに密着させる。
Next, as shown in FIG. 8C, the
次に、図8Dに示すように、レーザ加工処理を行う。レーザ加工処理工程においては、欠陥観察工程で用いた対物レンズを共用する。まず、レーザ加工装置33を駆動し、マスクテープ21に向けて所定のパルス数のレーザ光を照射する。所定のパルス数のレーザ光を照射すると、レーザアブレーションによりレーザ光の形状に対応した開口がマスクテープに形成されると共に下地の(B)の着色素子も除去される。この結果、マスクテープ21には、操作者により設定された形状のマスキング開口が形成されると共に下地の着色素子も除去され、図8Eに示す形状の開口部73が形成される。
Next, as shown in FIG. 8D, laser processing is performed. In the laser processing process, the objective lens used in the defect observation process is shared. First, the
次に、熱転写処理を行って開口部73内にBの着色剤を埋め込む。初めに、レンズステージ31が図2の右側に移動して退避する。次に、Bの修正テープを収納したテープカセット11bが選択され、当該テープカセット11bはY方向に移動し、さらにX方向に移動し、図8Aに示すように、マスクテープの真上に位置する。この時、図2に示す状態となり、Bの修正テープが収納されているテープカセット11cの先端側がマスクテープユニット20とZ軸方向に重なるように位置する。
Next, a thermal transfer process is performed to embed the B colorant in the
その後、熱転写ロッド装置60が降下し、熱転写ロッド装置に設けた2個のガイドローラにより修正テープ41がマスクテープ21に対して圧接する。この状態において、熱転写ロッドが修正テープをマスクテープに対して押圧する。修正テープ41は、熱転写ロッドにより予備加熱されているから、修正テープのクッション層は軟化している。この結果、所定の温度の熱転写ロッドの押圧力により、クッション層の軟化した熱可塑性樹脂及びその表面側に形成されている感光性着色層が開口部73内に圧入される。さらに、熱転写ロッドから伝達される熱により感光性着色剤が溶融し、ガラス基板の表面に対して接着された状態となる。この状態において、ガラス基板70の裏面側より透明な支持ステージ2を介して紫外光を照射する。この紫外光照射により、溶融した感光性着色剤が硬化し感光性着色剤のガラス基板に対する接着が完了する。
Thereafter, the thermal transfer rod device 60 is lowered, and the
その後、熱転写ロッド装置を上方に退避させ、その後マスクテープ21及び修正テープ41を共にカラーフィルタ基板から引き離す。その際、硬化した感光性着色層がガラス基板70に接着された状態となっているため、感光性着色層だけがカラーフィルタ基板側に残り、欠陥修正が完了する。尚、修正テープの感光性着色層の厚さは、カラーフィルタ基板に形成されている着色素子の厚さにほぼ等しいため、カラーフィルタ基板は、全体として均一な高さに修正される。
Thereafter, the thermal transfer rod device is retracted upward, and then both the
図9は、マスクテープにマスキング開口を形成する例を示す線図である。1回のレーザ加工処理を行った後、マスクテープ21を1ピッチY方向に移動させることにより、順次新しいマスクテープを使用することができる。しかし、マスクテープに形成されるマスキング開口は数100μm程度の微小な開口でるから、1回のレーザ加工処理が終了した後、マスクテープを1ピッチY方向に移動させたのでは、マスクテープを無駄に消費する不都合が生じてしまう。そこで、本発明では、マスクテープユニットはX方向に移動可能に構成されていることを利用し、1回のレーザ加工処理が終了した後、マスクテープを1ピッチだけX方向に移動させ、2回のレーザ加工処理が終了した後マスクテープを1ピッチだけY方向に移動させる。このように構成すれば、図10に示すように、マスクテープの幅方向に2個のマスキング開口が形成されるので、マスクテープの有効利用が図られる、カラーフィルタ修正装置のランニングコストを低減することができる。
FIG. 9 is a diagram showing an example of forming a masking opening in a mask tape. After performing the laser processing once, new mask tapes can be used sequentially by moving the
本発明は上述した実施例だけに限定されず、種々の変形や変更が可能である。例えば、上述した実施例では、カラーフィルタ基板に存在する白抜け欠陥を修正する例について説明したが、異物付着による黒欠陥を修正する場合にも適用される。黒欠陥を修正する場合、異物を含む領域についてレーザ加工処理を行ってマスキング開口を形成すると共に下地の着色層も除去して開口部を形成し、当該開口部内に当該カラーの着色剤を埋め込むことにより修正される。
また、修正の対象は、カラーフィルタ基板に限定されず、フォトマスク等の種々の基板に形成されているパターンを修正する場合にも適用される。
さらに、上述した実施例では、複数のテープカセットを用いて修正する態様について説明したが、基板上に形成されているパターンを単一カラーの1つのテープカセットを用いて修正する場合にも適用することが可能である。
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and changes can be made. For example, in the above-described embodiment, the example of correcting the white defect existing in the color filter substrate has been described. When correcting a black defect, a laser processing process is performed on a region including a foreign substance to form a masking opening and an underlying color layer is also removed to form an opening, and the colorant of the color is embedded in the opening. It is corrected by.
Further, the correction target is not limited to the color filter substrate, and is applied to the case of correcting patterns formed on various substrates such as a photomask.
Further, in the above-described embodiment, the aspect of correcting using a plurality of tape cassettes has been described. However, the present invention is also applicable to a case where a pattern formed on a substrate is corrected using a single tape cassette of a single color. It is possible.
1 基台
2 ステージ
3 カラーフィルタ基板
4a,4b Yレール
5 Xレール
6 修正ヘッド
7 紫外線光源
10 テープカセットユニット
11a〜11d テープカセット
12,13a〜13d モータ
20 マスクテープユニット
21 マスクテープ
22 供給リール
23 巻取リール
24a,24b ガイドローラ
25 支持プレート
26 モータ
27 スキージ
30 光学系ユニット
31 レンズステージ
32 観察光学系
33 レーザ加工装置
38 レーザ
39 ビーム成形装置
40 カセット
41 修正テープ
42 供給リール
43 巻取リール
44 エンコーダ
60 熱転写装置
61 ガイドブロック
62 熱転写ロッド
70 基板
71 ブラックマトリックス
72 白抜け欠陥
73 開口部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
12, 13a to
Claims (15)
基板上に存在する欠陥を、熱転写方式により修正する修正ヘッドと、
修正ヘッドをX方向及びこれと直交するY方向に駆動する修正ヘッド駆動機構とを具えるパターン修正装置において、
前記修正ヘッドは、異なるカラーの修正テープをそれぞれ収納した複数のテープカセットと、テープカセットを移動させるカセット移動機構とを有し、
前記テープカセットは、
修正テープを収納した供給リール、修正テープを巻き取る巻取リール、及び、修正テープを所定の経路に沿って移動させるテープ移動機構を含むテープユニットと、
修正テープの着色層を基板の欠陥部に熱転写させる熱転写ロッド、熱転写ロッドに内蔵され熱転写ロッドを所定の温度に加熱するヒータ、及び、熱転写ロッドを転写位置と退避位置との間で上下動させるロッド駆動機構を含む熱転写ユニットと、
前記テープユニットと熱転写ユニットとを収納するカセットとを具えることを特徴とするパターン修正装置。 A stage that supports the substrate to be defect corrected;
A correction head for correcting defects existing on the substrate by a thermal transfer method;
In a pattern correction apparatus comprising a correction head drive mechanism for driving the correction head in the X direction and the Y direction perpendicular thereto,
The correction head has a plurality of tape cassettes each storing correction tapes of different colors, and a cassette moving mechanism for moving the tape cassette,
The tape cassette is
A tape unit including a supply reel storing the correction tape, a take-up reel for winding the correction tape, and a tape moving mechanism for moving the correction tape along a predetermined path;
Thermal transfer rod for thermally transferring the colored layer of the correction tape to the defective portion of the substrate, a heater built in the thermal transfer rod for heating the thermal transfer rod to a predetermined temperature, and a rod for moving the thermal transfer rod up and down between the transfer position and the retracted position A thermal transfer unit including a drive mechanism;
A pattern correcting apparatus comprising a cassette for storing the tape unit and the thermal transfer unit.
基板上に存在する欠陥を、熱転写方式により修正する修正ヘッドと、
修正ヘッドをX方向及びこれと直交するY方向に駆動する修正ヘッド駆動機構とを具え、
前記修正ヘッドは、
異なるカラーの修正テープをそれぞれ収納した複数のテープカセット、及び、テープカセットを移動させるカセット移動機構を有するテープカセットユニットと、
修正すべき欠陥の周囲をマスキングするマスクテープ、及び、マスクテープを駆動する駆動機構を有するマスクテープユニットと、
欠陥を観察する観察光学系と、
前記マスクテープにマスキング開口を形成するレーザ加工装置とを含み、
前記テープカセットは、
修正テープを収納した供給リール、修正テープを巻き取る巻取リール、修正テープを所定の経路に沿って移動させるテープ移動機構を含むテープユニットと、
修正テープの着色層を基板の欠陥部に熱転写させる熱転写ロッド、熱転写ロッドに内蔵され熱転写ロッドを所定の温度に加熱するヒータ、及び、熱転写ロッドを転写位置と退避位置との間で上下動させるロッド駆動機構を含む熱転写ユニットと、
前記テープユニットと熱転写ユニットとを収納するカセットとを具えることを特徴とするパターン修正装置。 A stage placed on a base and supporting a substrate to be defect corrected;
A correction head for correcting defects existing on the substrate by a thermal transfer method;
A correction head drive mechanism for driving the correction head in the X direction and the Y direction orthogonal thereto,
The correction head is
A plurality of tape cassettes each storing correction tapes of different colors, and a tape cassette unit having a cassette moving mechanism for moving the tape cassette;
A mask tape for masking around the defect to be corrected, and a mask tape unit having a drive mechanism for driving the mask tape;
An observation optical system for observing defects;
A laser processing device for forming a masking opening in the mask tape,
The tape cassette is
A tape unit including a supply reel storing the correction tape, a take-up reel for winding the correction tape, and a tape moving mechanism for moving the correction tape along a predetermined path;
Thermal transfer rod for thermally transferring the colored layer of the correction tape to the defective portion of the substrate, a heater built in the thermal transfer rod for heating the thermal transfer rod to a predetermined temperature, and a rod for moving the thermal transfer rod up and down between the transfer position and the retracted position A thermal transfer unit including a drive mechanism;
A pattern correcting apparatus comprising a cassette for storing the tape unit and the thermal transfer unit.
前記修正ヘッドは、R,G,B,Kの修正テープをそれぞれ収納した4個のテープカセットを有することを特徴とするパターン修正装置。 The pattern correction apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the substrate to be corrected for defects is a color filter substrate.
The correction head has four tape cassettes each containing R, G, B, and K correction tapes.
感光性着色層を含む修正テープを収納した供給リールと、修正テープを巻き取る第1の巻取リールと、修正テープを所定の経路に沿って移動させるテープ移動機構とを含むテープユニット、
修正テープの感光性着色層を基板の欠陥部に熱転写させる熱転写ロッドと、熱転写ロッドを所定の温度に加熱するヒータと、熱転写ロッドを、感光性着色剤を基板に転写させる転写位置と退避位置との間で上下動させるロッド駆動機構とを含む熱転写ユニット、及び
前記テープユニットと熱転写ユニットとを収納するカセットを具え、
前記熱転写ロッドは修正テープの移動経路中に配置され、熱転写ロッドが退避位置に位置する期間中に修正テープが熱転写ロッドと接触し、修正テープが熱転写ロッドにより予備加熱されるように構成したことを特徴とするテープカセット。 A tape cassette containing a correction tape used for a pattern correction device or a color filter correction device for correcting defects of various patterns formed on a substrate by a thermal transfer method,
A tape unit including a supply reel storing a correction tape including a photosensitive colored layer, a first take-up reel for winding the correction tape, and a tape moving mechanism for moving the correction tape along a predetermined path;
A thermal transfer rod for thermally transferring the photosensitive colored layer of the correction tape to a defective portion of the substrate, a heater for heating the thermal transfer rod to a predetermined temperature, a transfer position for transferring the photosensitive colorant to the substrate, and a retracted position; A thermal transfer unit including a rod drive mechanism that moves up and down between, and a cassette for storing the tape unit and the thermal transfer unit,
The thermal transfer rod is arranged in the movement path of the correction tape, and the correction tape is in contact with the thermal transfer rod during a period in which the thermal transfer rod is located at the retracted position, and the correction tape is preheated by the thermal transfer rod. A featured tape cassette.
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|---|---|---|---|
| JP2007037287A JP4482716B2 (en) | 2007-02-19 | 2007-02-19 | Pattern correction device and tape cassette |
| TW096151425A TWI440901B (en) | 2007-02-19 | 2007-12-31 | Pattern correction device and cassette |
| KR1020080012423A KR101344956B1 (en) | 2007-02-19 | 2008-02-12 | Pattern repairing apparatus and tape cassette |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007037287A JP4482716B2 (en) | 2007-02-19 | 2007-02-19 | Pattern correction device and tape cassette |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008203380A JP2008203380A (en) | 2008-09-04 |
| JP2008203380A5 JP2008203380A5 (en) | 2010-03-11 |
| JP4482716B2 true JP4482716B2 (en) | 2010-06-16 |
Family
ID=39780987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007037287A Expired - Fee Related JP4482716B2 (en) | 2007-02-19 | 2007-02-19 | Pattern correction device and tape cassette |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4482716B2 (en) |
| KR (1) | KR101344956B1 (en) |
| TW (1) | TWI440901B (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021142766A1 (en) * | 2020-01-17 | 2021-07-22 | Tianjin Laird Technologies Limited | Systems for applying materials to components |
-
2007
- 2007-02-19 JP JP2007037287A patent/JP4482716B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-12-31 TW TW096151425A patent/TWI440901B/en not_active IP Right Cessation
-
2008
- 2008-02-12 KR KR1020080012423A patent/KR101344956B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20080077324A (en) | 2008-08-22 |
| KR101344956B1 (en) | 2013-12-24 |
| JP2008203380A (en) | 2008-09-04 |
| TW200839312A (en) | 2008-10-01 |
| TWI440901B (en) | 2014-06-11 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| A521 | Request for written amendment filed |
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| A621 | Written request for application examination |
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| A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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| S633 | Written request for registration of reclamation of name |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |