JP4489282B2 - Spectrometer - Google Patents
Spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- JP4489282B2 JP4489282B2 JP2000379889A JP2000379889A JP4489282B2 JP 4489282 B2 JP4489282 B2 JP 4489282B2 JP 2000379889 A JP2000379889 A JP 2000379889A JP 2000379889 A JP2000379889 A JP 2000379889A JP 4489282 B2 JP4489282 B2 JP 4489282B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- stripe
- dfb
- wavelength
- substance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Lasers (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、単一基板上に集積化された複数のストライプ構造を持つ分布帰還可変波長レーザーを応用した分光計測装置に係り、特に、マルチストライプ可変波長レーザーを用いた分光計測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
可変波長レーザーとは、外部から制御することによりその発振波長を広い範囲にわたって連続的に変化できるレーザーであり、色素レーザー・チタンサファイアレーザー・光パラメトリック発振器等がある。
図7は従来の可変波長レーザー及びそれを用いた分光計測装置の概略構成図である。
【0003】
この図において、101は励起光源、102はレーザー媒質、103,106は鏡、104は同調素子、105はその同調素子104の波長掃引制御装置、107は被測定物質、108は光検知器、109はスペクトル記録装置である。
その構造は、レーザー媒質102と、それを励起する光源101、2枚の鏡103,106よりなる光共振器、及び発振波長を制御する同調素子104よりなっている。このレーザーで物質の分光スペクトルを計測するには、レーザーの波長を時間的に掃引しながら、そのスペクトル応答を光検知器108で測定し、ペンレコーダー等の記録装置109で記録する。
【0004】
一方、集積型DFB(distributed feedback:分布帰還)可変波長レーザーの構造は、図8に示すように、基板201上に厚さ約数ミクロンのレーザー媒質で形成された平板導波路202を形成し、その導波路202に微小な周期的(回折格子)をつけることにより、特定の波長で分布帰還を得るもので、レーザー媒質・光共振器・同調素子を一体化して基板上に集積化できるため、従来より極めてコンパクトに可変波長レーザーを構成できる特徴を持っている。DFB発振波長λは媒質の等価屈折率をn、凹凸の周期をa、次数をmとすると次式で与えられる。なお、203は励起光、204は結合レンズ、205は光ファイバ、206は出力光である。
【0005】
λ=amn
DFBは現在、半導体レーザーの発振スペクトルを狭帯域化し、安定化する技術として広く使われ、また最近では、波長多重光ファイバー通信用の光源として、マルチストライプ型のDFB半導体レーザーが開発されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のレーザー分光計測方式では、掃引域は使用するレーザー媒体の持つ利得バンド幅内に限られ、自由な設定はできなかった。また、掃引は機械的な操作でなされるので、スペクトルの取得には数分の時間を要した。一方、上記の集積型DFB可変波長レーザーでは、作製時に分布帰還を与える凹凸の周期が決まってしまうので、発振波長の制御ができず、そのままでは分光計測の光源としては適していなかった。
【0007】
本発明は、上記状況に鑑みて、このような波長が固定されたDFBレーザーを、さらに多数同一基板上に集積化することによって、レーザー自体の波長掃引を行うことなく、これまでより広い自由度をもたせ、しかもナノ秒以下の極めて短時間の分光スペクトルの計測を可能にする分光計測装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するために以下の手段を用いる。
〔1〕分光計測装置において、励起用パルスレーザー(11)と、単一基板上に集積化され、発振波長を独立に設定した複数のストライプ構造をもつマルチストライプDFBレーザー(12)と、アレイ型光検知器(16)とを備え、前記励起用パルスレーザー(11)からのパルスレーザー光で前記マルチストライプDFBレーザー(12)の各ストライプを同時に励起させ、異なった波長で発振したDFBレーザー光を試料物質(14)に通し、それぞれの波長に対する前記試料物質(14)のスペクトル応答を空間的に分離して前記アレイ型光検知器(16)で検知することにより、前記試料物質(14)の吸収スペクトルを計測することを特徴とする。
【0009】
〔2〕分光計測装置において、励起用パルスレーザー(21)と、単一基板上に集積化され、発振波長を独立に設定した複数のストライプ構造をもつマルチストライプDFBレーザー(22)と、光検知器(25)と、オシロスコープ(26)とを備え、光学的に遅延させた前記励起用パルスレーザー(21)からのパルスレーザー光で前記マルチストライプDFBレーザー(22)の各ストライプを励起させ、時間的な波長掃引がかかったDFBレーザー光を試料物質(23)に通してその透過光強度を前記光検知器(25)で検知し、前記試料物質(23)のスペクトル応答の時間変化を前記オシロスコープ(26)で観測することにより、前記試料物質(23)の吸収スペクトルを計測することを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図面に従って詳細に説明する。
図1は本発明の実施例を示すDFBマルチストライプ集積型可変波長レーザーの模式図である。
この図において、1は基板、2は並列に並べられたDFB可変波長レーザー、3は結合レンズ、4は光ファイバー、5は出力光である。
【0011】
ここで可変波長レーザーとは、色素レーザー、アレキサンドライトレーザー、チタンサファイアレーザー、色中心レーザー、光パラメトリック発振器など、発振する光の波長を数10nm以上連続的に変化できるレーザーを総称している。長さ10〜20mmの基板1上に上記の可変波長レーザー媒質を幅10〜50μm、厚さ数μmのストライプ状に整形して数10〜数100本平行にならべ、それぞれに紫外レーザー光を2方向から照射して干渉による縞模様を作り、光エッチング法で周期的な凹凸(回折格子)を作る。その際、干渉縞の周期は露光用紫外レーザーのビーム入射角で変わるので、それぞれのストライプに違った周期の回折格子を付けることができる。
【0012】
励起光源には、Nd:YAGレーザーや半導体レーザーなどパルスレーザーが使われる。その際、図1に示したストライプ全体をカバーするように励起用レーザービームを照射すると、それぞれのストライプはあらかじめ設定した波長で同時に、かつ独立に発振する。
このようなマルチストライプDFB可変波長レーザーを用い、波長掃引なしに物質の吸収スペクトルを計測する具体例を図2に示す。
【0013】
図2において、11は励起用パルスレーザー、12はマルチストライプDFBレーザー、13,15はレンズ、14は試料物質、16はアレイ型光検出器、17はマイクロコンピュータである。
また、励起レーザー光を同時に照射すると、マルチストライプDFB可変波長レーザー2は上から下に向かって順次異なった波長で発振する。その光を試料物質を通した後、CCDカメラやフォトダイオードアレイのような場所を区別できるように受光し、コンピューターで画像処理すると、吸収スペクトルを計測することができる。
【0014】
この方法では、波長掃引が必要ないために単一レーザーショットでスペクトルの取得が可能である。したがって、励起レーザーにナノ秒オーダーのパルス幅を持つNd:YAGレーザーなどを用いれば、これまでになく非常に速い時間分解能で物質のスペクトル計測が可能となる。
一方、図3はマルチストライプDFBレーザーの励起に時間的な遅延をかける方法により物質の吸収スペクトルを計測する具体例である。
【0015】
この図において、21は励起用パルスレーザー、22はマルチストライプDFBレーザー、23は試料物質、24はレンズ、25は光検出器、26はオシロスコープである。
この場合には、励起レーザーのビームを上から下に向かって光学的に遅延させることで、マルチストライプDFBレーザーに時間的な波長掃引がかかる。したがって、その光を試料物質に通し、透過光強度を光電子倍増管やフォトダイオードのような光検知器で計測し、その強度の時間変化をオシロスコープ等で観測することにより、吸収スペクトルを計測することができる。
【0016】
上記の方法を可能にするためには、色素レーザーや色中心レーザー、セリウムLiSAFレーザーなどを用い、速い緩和時間をもつ可変波長レーザーの場合には、数10psのオーダーまで応答することが確かめられている。
図4はマルチストライプDFBレーザーによる励起パルスの光学的遅延を得る一方法を示す図である。
【0017】
この図において、31は励起用短パルスレーザー(パルス幅10〜100ps)、32は鏡、33はマルチストライプDFBレーザーである。
この図に示すように、遅延時間が100psの場合には、光学遅延をかけるための光路差は30mm程度で済むので、この図に示すように、単に鏡32を傾けるだけで達成できる。
【0018】
【実証実験例】
本発明に基づき試作したマルチストライプDFB可変波長レーザーの特性と、それを用いた分光計測の実施例を述べる。
レーザー媒質には、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)に有機色素ローダミン6Gをドープしたものを使用した。基盤もPMMAで、その上に厚さ3μmの膜をスピンコートしたとき、単一伝搬モードで動作した。導波路の長さは20mmとした。励起源はQスイッチNd:YAGレーザーの第2高調波(波長532nm、パルス幅6ns)である。
【0019】
DFB動作させるための回折格子パターニングは、Nd:YAGレーザーの第4高調波(波長266nm)光を2方向から導波路表面に入射させて露光後、ウエットエッチング法により作製した。凹凸は導波路の表面に付ける場合と、基盤表面に付ける場合とを試みたが、大きな差はなかった。
図5は本発明にかかる側面からNd:YAGレーザー光で励起したときのDFB色素レーザーの発振スペクトルの例である。図5において、横軸に波長(nm)、縦軸に分布帰還出力(相対単位)である。
【0020】
この場合には、レーザーはストライプ状にはなっておらず、励起ビームを20×0.5mmに整形して照射した。すると、図5のように、DFB動作によって、約0.1nmの狭いスペクトルで発振していることが確認された。しきい値エネルギーは40μJ、スロープ効率は36%であった。
次に、電子ビーム加工したフォトマスクを使って、ストライプの形式を試みた。作製したマルチストライプDFB色素レーザーは5種類でそのサイズは、表1に示す通りである。全体のサイズはいずれも20×0.5mmである。
【0021】
【表1】
このレーザーを側面からNd:YAGレーザーで励起すると、各ストライプは同時にDFBレーザーを発振し、そのスペクトルは図5と同様に狭帯域化しているのが確認された。ストライプ幅が狭まると著しく閾値は減少し、幅10mmの場合には0.4μJという極めて低い値になった。
【0022】
図6は本発明にかかるマルチストライプDFBレーザーを用いたナトリウム原子D線の蛍光スペクトルの計測例を示す図である。
図6において、41はNd:YAGレーザー(パルス幅5ns、第2高調波)、42はマルチストライプDFBレーザー、43は定温槽、44はレンズ、45はCCDカメラ、46はマイクロコンピュータである。
【0023】
図6に示した装置により、ナトリウム原子の蛍光スペクトルの取得を試みた。使用したマルチストライプDFB色素レーザーは、25ストライプでナトリウム原子のD線(波長約590nm)を横切るように作られている。励起源はパルスのNd:YAGレーザーで、パルス幅は5nsである。試料は金属ナトリウムを減圧したパイレックス容器に封じきったもので、このセルを70〜100℃に熱することで、108 〜109 /cm3 程度の金属蒸気を生成した。このセルに色素レーザー光を入射すると、ナトリウム原子は励起波長と同じ波長で蛍光(いわゆるレーザー誘起蛍光LIF)を発する。この蛍光を直角方向からCCDカメラで撮り、その画像をコンピューターで空間分解することによって、ナトリウムD線のスペクトルを単一レーザーショット(約5ns)で取得できた。
【0024】
同様の手法は可視・紫外部に吸収帯を有する分子原子のスペクトル観察に利用でき、たとえば、大気中のNOx 、SOx 等の高感度高速モニタリングに応用できる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
【0025】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、以下のような効果を奏することができる。
(A)本発明のマルチストライプ可変波長レーザーを用いた分光計測装置によれば、集積化されたマルチストライプDFB可変波長レーザーを用いるようにしたので、分光計測装置の大幅な小型化、低コスト化を図ることができる。
【0026】
(B)本発明によるスペクトル計測方法によれば、波長掃引をすることなく物質の分光スペクトルを計測することができ、パルスレーザーで励起すると、ナノ秒オーダーの短時間でスペクトルを得ることができる。
(C)これまでのスペクトル掃引域は、使用するレーザー媒質の利得バンド幅で制限されていたが、各ストライプに発振波長が大幅に異なる媒質をドープすることにより、例えば、可視部全域を瞬時にカバーできるような、従来にない広帯域スペクトルの取得が可能である。
【0027】
(D)励起時間をずらす方法〔図3及び図4参照〕を用いれば、ピコ秒オーダーでの高速掃引が可能となり、これまで計測できなかった短寿命の反応生成体の分析等にも応用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例を示すDFBマルチストライプ集積型可変波長レーザーの模式図である。
【図2】 本発明のマルチストライプDFB可変波長レーザーを用い、波長掃引なしに物質の吸収スペクトルを計測する具体例を示す図である。
【図3】 本発明のマルチストライプDFBレーザーの励起に時間的な遅延をかける方法により物質の吸収スペクトルを計測する具体例を示す図である。
【図4】 本発明のマルチストライプDFBレーザーによる励起パルスの光学的遅延を得る一方法を示す図である。
【図5】 本発明にかかる側面からNd:YAGレーザー光で励起したときのDFB色素レーザーの発振スペクトルの例である。
【図6】 本発明にかかるマルチストライプDFBレーザーを用いたナトリウム原子D線の蛍光スペクトルの計測例を示す図である。
【図7】 従来の可変波長レーザー及びそれを用いた分光計測装置の概略構成図である。
【図8】 従来のDFB集積型可変波長レーザーの概略構成図である。
【符号の説明】
1 基板
2 並列に並べられたDFB可変波長レーザー
3 結合レンズ
4 光ファイバー
5 出力光
11,21 励起用パルスレーザー
12,22,33,42 マルチストライプDFBレーザー
13,15,24,44 レンズ
14,23 試料物質
16 アレイ型光検出器
17,46 マイクロコンピュータ
25 光検出器
26 オシロスコープ
31 励起用短パルスレーザー(パルス幅10〜100ps)
32 鏡
41 Nd:YAGレーザー(パルス幅5ns、第2高調波)
43 定温槽
45 CCDカメラ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a spectroscopic measurement apparatus using a distributed feedback variable wavelength laser having a plurality of stripe structures integrated on a single substrate, and more particularly to a spectroscopic measurement apparatus using a multi-stripe variable wavelength laser. .
[0002]
[Prior art]
The variable wavelength laser is a laser whose oscillation wavelength can be continuously changed over a wide range by being controlled from the outside, and includes a dye laser, a titanium sapphire laser, an optical parametric oscillator, and the like.
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a conventional variable wavelength laser and a spectroscopic measurement apparatus using the same.
[0003]
In this figure, 101 is an excitation light source, 102 is a laser medium, 103 and 106 are mirrors, 104 is a tuning element, 105 is a wavelength sweep control device for the
The structure includes a
[0004]
On the other hand, the structure of an integrated DFB (distributed feedback) variable wavelength laser, as shown in FIG. 8, forms a
[0005]
λ = amn
At present, DFB is widely used as a technique for narrowing and stabilizing the oscillation spectrum of a semiconductor laser, and recently, a multi-stripe DFB semiconductor laser has been developed as a light source for wavelength division multiplexing optical fiber communication.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional laser spectroscopic measurement method, the sweep range is limited to the gain bandwidth of the laser medium to be used, and it has not been possible to set it freely. In addition, since the sweep is performed by a mechanical operation, it took several minutes to acquire the spectrum. On the other hand, in the integrated DFB variable wavelength laser, since the period of unevenness that gives distributed feedback is determined at the time of fabrication, the oscillation wavelength cannot be controlled, and it is not suitable as a light source for spectroscopic measurement.
[0007]
In view of the above situation, the present invention integrates a large number of DFB lasers having such fixed wavelengths on the same substrate, so that the laser itself has a wider degree of freedom without performing wavelength sweeping. In addition, an object of the present invention is to provide a spectroscopic measurement apparatus that enables measurement of a spectroscopic spectrum in a nanosecond or less.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention uses the following means.
[1] In a spectroscopic measurement apparatus, an excitation pulse laser (11), a multi-stripe DFB laser (12) integrated on a single substrate and having a plurality of stripe structures with independent oscillation wavelengths, and an array type An optical detector (16), which simultaneously excites each stripe of the multi-stripe DFB laser (12) with pulsed laser light from the excitation pulse laser (11), and oscillates DFB laser light oscillated at different wavelengths. The sample substance (14) is passed through the sample substance (14), and the spectral response of the sample substance (14) for each wavelength is spatially separated and detected by the array-type photodetector (16). The absorption spectrum is measured .
[0009]
[2] In the spectroscopic measurement apparatus, an excitation pulse laser (21), a multi-stripe DFB laser (22) having a plurality of stripe structures integrated on a single substrate and having oscillation wavelengths set independently, and light detection Each of the stripes of the multi-stripe DFB laser (22) is excited with a pulse laser beam from the excitation pulse laser (21) optically delayed. A DFB laser beam subjected to a wavelength sweep is passed through the sample material (23), the intensity of the transmitted light is detected by the photodetector (25), and the temporal change in the spectral response of the sample material (23) is detected by the oscilloscope. By observing in (26), the absorption spectrum of the sample substance (23) is measured .
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic diagram of a DFB multi-strip integrated variable wavelength laser showing an embodiment of the present invention.
In this figure, 1 is a substrate, 2 is a DFB variable wavelength laser arranged in parallel, 3 is a coupling lens, 4 is an optical fiber, and 5 is output light.
[0011]
Here, the variable wavelength laser is a generic term for lasers capable of continuously changing the wavelength of oscillating light by several tens of nanometers or more, such as dye laser, alexandrite laser, titanium sapphire laser, color center laser, and optical parametric oscillator. On the substrate 1 having a length of 10 to 20 mm, the above-mentioned variable wavelength laser medium is shaped into a stripe shape having a width of 10 to 50 μm and a thickness of several μm and arranged in parallel with several tens to several hundreds. Irradiate from the direction to create a striped pattern due to interference, and create periodic irregularities (diffraction grating) by photoetching. At this time, since the period of the interference fringes varies depending on the beam incident angle of the exposure ultraviolet laser, a diffraction grating having a different period can be attached to each stripe.
[0012]
For the excitation light source, a pulsed laser such as an Nd: YAG laser or a semiconductor laser is used. At this time, when the excitation laser beam is irradiated so as to cover the entire stripe shown in FIG. 1, each stripe oscillates simultaneously and independently at a preset wavelength.
A specific example of measuring the absorption spectrum of a substance without wavelength sweep using such a multi-stripe DFB variable wavelength laser is shown in FIG.
[0013]
In FIG. 2, 11 is a pulse laser for excitation, 12 is a multi-stripe DFB laser, 13 and 15 are lenses, 14 is a sample material, 16 is an array type photodetector, and 17 is a microcomputer.
Further, when the excitation laser light is irradiated simultaneously, the multi-striped DFB
[0014]
In this method, since a wavelength sweep is not required, a spectrum can be acquired with a single laser shot. Therefore, if an Nd: YAG laser or the like having a pulse width on the order of nanoseconds is used as the excitation laser, it is possible to measure the spectrum of a substance with a much faster time resolution than ever before.
On the other hand, FIG. 3 shows a specific example in which the absorption spectrum of a substance is measured by a method of applying a time delay to the excitation of the multi-stripe DFB laser.
[0015]
In this figure, 21 is a pulse laser for excitation, 22 is a multi-stripe DFB laser, 23 is a sample material, 24 is a lens, 25 is a photodetector, and 26 is an oscilloscope.
In this case, the multi-stripe DFB laser undergoes temporal wavelength sweep by optically delaying the excitation laser beam from top to bottom. Therefore, the absorption spectrum is measured by passing the light through the sample material, measuring the transmitted light intensity with a photo detector such as a photomultiplier tube or photodiode, and observing the temporal change of the intensity with an oscilloscope or the like. Can do.
[0016]
In order to make the above method possible , it has been confirmed that a dye laser, a color center laser, a cerium LiSAF laser or the like is used , and in the case of a variable wavelength laser having a fast relaxation time, it responds to the order of several tens of ps. Yes.
FIG. 4 is a diagram showing one method for obtaining the optical delay of the excitation pulse by the multi-stripe DFB laser.
[0017]
In this figure, 31 is a short pulse laser for excitation (pulse width 10 to 100 ps), 32 is a mirror, and 33 is a multi-stripe DFB laser.
As shown in this figure, when the delay time is 100 ps, the optical path difference for applying the optical delay is only about 30 mm. Therefore, as shown in this figure, this can be achieved by simply tilting the
[0018]
[Example of demonstration experiment]
The characteristics of the multi-stripe DFB variable wavelength laser prototyped based on the present invention and examples of spectroscopic measurement using it will be described.
As the laser medium, polymethyl methacrylate (PMMA) doped with the organic dye rhodamine 6G was used. The substrate was also PMMA and operated in single propagation mode when a 3 μm thick film was spin coated thereon. The length of the waveguide was 20 mm. The excitation source is the second harmonic (wavelength 532 nm, pulse width 6 ns) of a Q-switched Nd: YAG laser.
[0019]
The diffraction grating patterning for the DFB operation was produced by wet etching after exposure by allowing the fourth harmonic (wavelength 266 nm) light of an Nd: YAG laser to enter the waveguide surface from two directions. The unevenness was tried on the surface of the waveguide and on the surface of the substrate, but there was no big difference.
FIG. 5 is an example of an oscillation spectrum of a DFB dye laser when excited with Nd: YAG laser light from the aspect according to the present invention. In FIG. 5, the horizontal axis represents wavelength (nm) and the vertical axis represents distributed feedback output (relative unit).
[0020]
In this case, the laser was not striped, and the excitation beam was shaped to 20 × 0.5 mm and irradiated. Then, as shown in FIG. 5, it was confirmed that the oscillation occurred in a narrow spectrum of about 0.1 nm by the DFB operation. The threshold energy was 40 μJ and the slope efficiency was 36%.
Next, a striped pattern was attempted using a photomask processed with an electron beam. Five types of multi-stripe DFB dye lasers were produced, and their sizes are as shown in Table 1. The overall size is 20 × 0.5 mm.
[0021]
[Table 1]
When this laser was excited from the side by an Nd: YAG laser, each stripe simultaneously oscillated a DFB laser, and it was confirmed that the spectrum was narrowed as in FIG. When the stripe width is narrowed, the threshold value is remarkably reduced, and when the width is 10 mm, the value is as extremely low as 0.4 μJ.
[0022]
FIG. 6 is a diagram showing a measurement example of the fluorescence spectrum of sodium atom D-line using the multi-stripe DFB laser according to the present invention.
In FIG. 6, 41 is an Nd: YAG laser (pulse width 5 ns, second harmonic), 42 is a multi-stripe DFB laser, 43 is a constant temperature bath, 44 is a lens, 45 is a CCD camera, and 46 is a microcomputer.
[0023]
An attempt was made to obtain a fluorescence spectrum of sodium atoms using the apparatus shown in FIG. The multi-striped DFB dye laser used was made to cross the D line (wavelength of about 590 nm) of sodium atoms with 25 stripes. The excitation source is a pulsed Nd: YAG laser with a pulse width of 5 ns. The sample was completely sealed in a Pyrex container in which metallic sodium was decompressed. By heating the cell to 70 to 100 ° C., a metal vapor of about 10 8 to 10 9 / cm 3 was generated. When dye laser light is incident on this cell, sodium atoms emit fluorescence (so-called laser-induced fluorescence LIF) at the same wavelength as the excitation wavelength. This fluorescence was taken from a right angle with a CCD camera, and the image was spatially resolved with a computer, so that the spectrum of sodium D line could be acquired with a single laser shot (about 5 ns).
[0024]
A similar method can be used for spectrum observation of molecular atoms having absorption bands in the visible / ultraviolet region, and can be applied to high-sensitivity and high-speed monitoring of NO x , SO x, etc. in the atmosphere, for example.
In addition, this invention is not limited to the said Example, A various deformation | transformation is possible based on the meaning of this invention, and these are not excluded from the scope of the present invention.
[0025]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, the following effects can be obtained.
(A) According to the spectroscopic measurement apparatus using the multi-stripe variable wavelength laser of the present invention, since the integrated multi-stripe DFB variable wavelength laser is used, the spectroscopic measurement apparatus is significantly reduced in size and cost. Can be achieved.
[0026]
(B) According to the spectrum measurement method of the present invention, the spectrum of a substance can be measured without wavelength sweeping, and when excited with a pulse laser, the spectrum can be obtained in a short time on the order of nanoseconds.
(C) The spectral sweep range so far has been limited by the gain bandwidth of the laser medium used, but by doping each stripe with a medium having a significantly different oscillation wavelength, for example, the entire visible region can be instantaneously applied. It is possible to acquire an unprecedented broadband spectrum that can be covered.
[0027]
(D) If the method of shifting the excitation time (see FIGS. 3 and 4) is used, a high-speed sweep in the picosecond order becomes possible, and it can be applied to analysis of reaction products having a short life that could not be measured so far. .
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram of a DFB multi-strip integrated variable wavelength laser showing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a specific example of measuring the absorption spectrum of a substance without wavelength sweeping using the multi-stripe DFB variable wavelength laser of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing a specific example in which an absorption spectrum of a substance is measured by a method of applying a time delay to excitation of the multi-stripe DFB laser of the present invention.
FIG. 4 is a diagram illustrating one method for obtaining an optical delay of an excitation pulse by the multi-stripe DFB laser of the present invention.
FIG. 5 is an example of an oscillation spectrum of a DFB dye laser when excited with Nd: YAG laser light from the aspect according to the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing a measurement example of a fluorescence spectrum of sodium atom D-line using a multi-stripe DFB laser according to the present invention.
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a conventional variable wavelength laser and a spectroscopic measurement apparatus using the same.
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of a conventional DFB integrated variable wavelength laser.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board |
32 mirrors 41 Nd: YAG laser (pulse width 5 ns, second harmonic)
43
Claims (2)
(b)単一基板上に集積化され、発振波長を独立に設定した複数のストライプ構造をもつマルチストライプDFBレーザー(12)と、
(c)アレイ型光検知器(16)とを備え、
(d)前記励起用パルスレーザー(11)からのパルスレーザー光で前記マルチストライプDFBレーザー(12)の各ストライプを同時に励起させ、異なった波長で発振したDFBレーザー光を試料物質(14)に通し、それぞれの波長に対する前記試料物質(14)のスペクトル応答を空間的に分離して前記アレイ型光検知器(16)で検知することにより、前記試料物質(14)の吸収スペクトルを計測することを特徴とする分光計測装置。 (A) an excitation pulse laser (11);
(B) a multi-stripe DFB laser (12) integrated on a single substrate and having a plurality of stripe structures in which oscillation wavelengths are independently set;
(C) an array type photodetector (16),
(D) Simultaneously exciting each stripe of the multi-stripe DFB laser (12) with the pulse laser beam from the excitation pulse laser (11), and passing the DFB laser beam oscillated at different wavelengths through the sample substance (14). Measuring the absorption spectrum of the sample substance (14) by spatially separating the spectral response of the sample substance (14) for each wavelength and detecting it with the array-type photodetector (16). A spectroscopic measurement device.
(b)単一基板上に集積化され、発振波長を独立に設定した複数のストライプ構造をもつマルチストライプDFBレーザー(22)と、
(c)光検知器(25)と、
(d)オシロスコープ(26)とを備え、
(e)光学的に遅延させた前記励起用パルスレーザー(21)からのパルスレーザー光で前記マルチストライプDFBレーザー(22)の各ストライプを励起させ、時間的な波長掃引がかかったDFBレーザー光を試料物質(23)に通してその透過光強度を前記光検知器(25)で検知し、前記試料物質(23)のスペクトル応答の時間変化を前記オシロスコープ(26)で観測することにより、前記試料物質(23)の吸収スペクトルを計測することを特徴とする分光計測装置。 (A) an excitation pulse laser (21);
(B) a multi-stripe DFB laser (22) integrated on a single substrate and having a plurality of stripe structures in which oscillation wavelengths are independently set;
(C) a photodetector (25);
(D) an oscilloscope (26);
(E) Exciting each stripe of the multi-stripe DFB laser (22) with pulsed laser light from the excitation pulse laser (21) optically delayed, and applying DFB laser light subjected to temporal wavelength sweep. The sample material (23) is passed through the sample material, the transmitted light intensity is detected by the light detector (25), and the time change of the spectral response of the sample material (23) is observed by the oscilloscope (26), thereby the sample material. A spectroscopic measurement device for measuring an absorption spectrum of a substance (23) .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379889A JP4489282B2 (en) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379889A JP4489282B2 (en) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Spectrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002181705A JP2002181705A (en) | 2002-06-26 |
| JP4489282B2 true JP4489282B2 (en) | 2010-06-23 |
Family
ID=18848174
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000379889A Expired - Fee Related JP4489282B2 (en) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | Spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4489282B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5337953B2 (en) * | 2009-01-14 | 2013-11-06 | ゼネラルパッカー株式会社 | Gas concentration measuring method and gas concentration measuring device |
| CN113092411B (en) * | 2018-10-12 | 2022-11-11 | 上海禾赛科技有限公司 | Device and method for realizing self-stabilization of received light intensity based on laser array |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02110986A (en) * | 1988-10-19 | 1990-04-24 | Canon Inc | Multi-wavelength semiconductor laser |
| JPH0315742A (en) * | 1989-03-23 | 1991-01-24 | Anritsu Corp | Gas detector |
| JPH0682096B2 (en) * | 1990-11-26 | 1994-10-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | Method and apparatus for measuring concentration of light-absorbing substance in scattering medium |
| JPH05110187A (en) * | 1991-10-15 | 1993-04-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Array type semiconductor laser and manufacturing method thereof |
| US5394489A (en) * | 1993-07-27 | 1995-02-28 | At&T Corp. | Wavelength division multiplexed optical communication transmitters |
| JP3642602B2 (en) * | 1994-03-04 | 2005-04-27 | アークレイ株式会社 | Urine component measuring device |
| JPH09146136A (en) * | 1995-11-20 | 1997-06-06 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | Multiwavelength simultaneous oscillation laser light source and vegetable component measuring apparatus using the same |
| JPH09219563A (en) * | 1996-02-09 | 1997-08-19 | Hitachi Ltd | Semiconductor optical device and application system using the same |
| JP4038631B2 (en) * | 1998-08-28 | 2008-01-30 | 株式会社堀場製作所 | High-speed measurement method and system for temperature, concentration, and chemical species using semiconductor laser spectroscopy |
-
2000
- 2000-12-14 JP JP2000379889A patent/JP4489282B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002181705A (en) | 2002-06-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6667830B1 (en) | Super-resolution microscope system and method for illumination | |
| US8675699B2 (en) | Laser pulse synthesis system | |
| Maus et al. | New picosecond laser system for easy tunability over the whole ultraviolet/visible/near infrared wavelength range based on flexible harmonic generation and optical parametric oscillation | |
| KR102220081B1 (en) | System and method for reducing the bandwidth of a laser and an inspection system and method using a laser | |
| He et al. | Degenerate two-photon-absorption spectral studies of highly two-photon active organic chromophores | |
| US5138159A (en) | Scanning tunneling microscope | |
| JP2002516984A (en) | Apparatus and method for measuring properties of a structure | |
| US20010045529A1 (en) | Double-resonance-absorption microscope | |
| JP4862164B2 (en) | Pulse laser beam timing adjustment device, adjustment method, and optical microscope | |
| CA2114371C (en) | Method of spectrometry and apparatus therefor | |
| US20180252649A1 (en) | Method and apparatus for measuring raman spectrum | |
| JP6816037B2 (en) | How to tune one or more resonators | |
| JP4489282B2 (en) | Spectrometer | |
| JP4551528B2 (en) | Double resonance absorption microscope | |
| Hartsfield et al. | A comparison of Raman and pyrometry dynamic temperature measurements of shocked cyclohexane | |
| JP2004309458A (en) | Time-resolved fluorescence microscope | |
| Rubinov et al. | Holographic DFB dye lasers | |
| US20180180969A1 (en) | Generation of high energy mid-infrared continuum laser pulses | |
| KR100790707B1 (en) | Dispersion Controlled Confocal Laser Microscope | |
| JP4156534B2 (en) | Method and apparatus for measuring strain of thin film crystal layer | |
| Gordienko et al. | THG in dielectrics using low-energy tightly-focused IR femtosecond laser: third-order nonlinearity measurements and the evolution of laser-induced plasma | |
| JP2006300808A (en) | Raman spectrometry system | |
| JP2002329911A (en) | Laser device, amplifier, and ultraviolet laser device | |
| US20210239464A1 (en) | Scatterometry with High Harmonic Generation (HHG) Sources | |
| TWI846933B (en) | Method for generating vacuum ultraviolet light and device therefor |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20031031 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20040129 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071023 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091207 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100112 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100210 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100330 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100331 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140409 Year of fee payment: 4 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |