JP4521682B2 - 晶析装置の結晶粒度制御装置 - Google Patents
晶析装置の結晶粒度制御装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4521682B2 JP4521682B2 JP2002214906A JP2002214906A JP4521682B2 JP 4521682 B2 JP4521682 B2 JP 4521682B2 JP 2002214906 A JP2002214906 A JP 2002214906A JP 2002214906 A JP2002214906 A JP 2002214906A JP 4521682 B2 JP4521682 B2 JP 4521682B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crystallization
- crystal
- grain size
- crystal grain
- crystallizer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、医療品関係、食品関係、光学品関係、電気デバイス素材、テープフィラー素材等の材料関係において適用される晶析装置の結晶粒度制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
この種の従来の晶析装置として、図10の如く上方に配設した蒸発部aと下方に配設した晶析部bとからなり、該晶析部bに、原料液を対流させて結晶の成長を促進させるための所定の固定速度で撹拌する撹拌手段cを設けたものが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
晶析の生成過程においては通常晶析の核となる初期の種晶過程から該種晶が基となって更に結晶が成長する結晶成長過程となって結晶が大きくなってゆくが、前記従来の晶析装置によれば、撹拌手段により過飽和状態の原料液に結晶の成長を促進させるための比較的速い一定の回転速度のまま撹拌を単に行うと、大きな結晶まで成長しても速い撹拌流によって結晶同士の衝突や撹拌翼、槽壁との衝突で破壊するものがあり、又速い撹拌流によって成長が促進状態のままであると前記の種晶過程と結晶成長過程とが分離せず同時に混在して生じ、かくて晶析された結晶の粒度は小さいものから大きいものまで多分散して巾広い分布形成となり、用途に適した粒度の揃った単峰性分布に晶析させることが困難な問題点があった。
【0004】
本発明はこれらの問題点を解消し、結晶粒径が揃った結晶粒度の単峰性分布形成を可能とする晶析装置の結晶粒度制御装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記の目的を達成すべく晶析装置の晶析部に回転速度可変可能な撹拌手段を設け、該晶析部内の溶液の濁度及び濃度の情報信号を入力し前記撹拌手段の回転速度を高速にして溶液の活性化により晶析の核となる種晶の発生を促進する過程と、該回転速度を高速から低速に下げて種晶の生成の割合を増加させる過程と、該回転速度を低速から中速に上げて種晶や成長結晶の成長を促進する過程の制御プログラムによって制御する制御手段を備えたことを特徴とする。
【0006】
【発明の実施の形態】
本発明の第1の実施の形態を図1により説明する。
【0007】
図1において、1は晶析装置の晶析部を示し、該晶析部1の容器1a内で原料液1bから晶析反応により結晶を生成し、又、図示していないが該晶析部1の上方に溶液濃度を高めるための蒸発部を設けているが、用途に応じて該蒸発部を設けなくてもよい。
【0008】
2は該晶析部1に設けられている撹拌手段を示し、該撹拌手段2は撹拌翼2aと、該撹拌翼2aを回転させる駆動モータ2bとその駆動回路部2cとからなり、該撹拌翼2aの回転速度を次に述べる制御手段の制御指令により可変させて撹拌流を可変させることができる。
【0009】
3はマイコンなどの制御ユニットからなる制御手段、4は前記晶析部1に設けられ発光部4aと受光部4bとの組合せの光センサからなる濁度検出手段を示し、該濁度検出手段4が検出する濁度は光センサ4a、4b間に通過する結晶の数によって電圧や電流の出力が変化して結晶の分散状態を検知することができるようになっている。
【0010】
5は前記晶析部1に設けられている電気伝導度計からなる電気伝導度検出手段を示し、該電気伝導度計により溶液の電気伝導度を検出することにより溶液濃度を検知することができる。
【0011】
6は制御プログラムを記憶する記憶部を示し、前記制御手段3は該記憶部6に接続されていると共に前記撹拌手段2の駆動回路部2cに接続されており、更に前記濁度検出手段4と電気伝導度検出手段5にも接続されている。
【0012】
7は前記晶析部1に設けられているサーミスタ温度センサー等からなる温度検出手段、8は電熱ヒータ等からなる温度調節手段を示し、これら温度検出手段7及び温度調節手段8は前記制御手段3に接続されている。
【0013】
次に本発明の第1の実施の形態の作用を図1乃至図6により説明する。
【0014】
晶析反応は前記図1に示す晶析部1の容器1a内の原料液1bを特定温度となる様に温度検出手段7と制御手段3と温度調節手段8との温度制御系により制御すると共に、溶質の濃度を上げて過飽和状態となって結晶が形成され、この結晶の粒度は撹拌速度と撹拌時間に大きく関係し、図2は前記撹拌手段2を制御する制御プログラムの1例を示し、縦軸に高速から低速までの回転速度を、横軸は飽和濃度や過飽和濃度などの濃度に応じた生成反応の各時点の時間軸を示し、前記制御手段3は前記濁度検出手段4及び電気伝導度検出手段5からの結晶の分散状態と溶質の濃度の情報を検知して該制御プログラムに沿うように前記撹拌手段2の回転速度と撹拌時間を可変制御して後述の図3に示す単峰性の結晶粒度分布を得ることができる。
【0015】
図3は結晶粒度分布のグラフを示し、縦軸に結晶粒径別の重量、横軸に結晶粒径をとり、図4は前記図2の制御プログラムによる制御時に対応する各時点の濁度のグラフを示し、図5は同じく各時点の電気伝導度を示す。
【0016】
尚、図6は晶析生成過程における溶質の溶解度曲線のグラフを示し、縦軸に濃度、横軸に時間軸をとり原点C0、飽和濃度C1のA、G点、核が自発的に生成される過飽和状態の自発的核生成濃度C2のB、E点、最大過飽和濃度C3に近いD点の各時点を示し、濃度がB点を超えると晶析の核となる種晶が発生し、B点からE点までは撹拌などの成長促進の条件により、種晶と核種晶を基に結晶が成長する成長過程とが同時に発生し、E点からはこれら種晶や成長結晶が更に大きくなり、溶質の濃度が飽和濃度C1に限りなく近いG点まで下がると晶析反応は終息する。
【0017】
ここで、前記図2に示す制御プログラムに沿う様に制御するために、制御手段3は前記図4及び図5に示す濁度検出手段4及び電気伝導度検出手段5の情報信号により前記図6に示すA、B、D、E、Gの各時点に見合う設定点を検知して、A、B間は撹拌の回転速度を高速にして溶液の活性化により種晶の発生を促進し、もしB、D間は高速のままであると種晶と該種晶を基に結晶が成長する過程が同時に進行するので高速から低速に下げて種晶の生成の割合を増加させ、D点からE点迄は低速として結晶粒の破損を抑え、E点からは低速から中速に上げて種晶や成長結晶の成長を促進させ、電気伝導度の数値の変化が殆ど無くなることにより飽和濃度C1に近づき晶析反応が終息するG点と定め、特に前記のB、D間及びD、E間の撹拌制御により前記図3に示す単峰性の結晶粒度分布を得ることができる。
【0018】
次に本発明の第2の実施の形態を図7及び図8により説明する。
【0019】
本発明の第2の実施の形態は、前記第1の実施の形態において単峰性の結晶粒度分布を得ることができたが、前記図6の晶析反応過程のグラフのB、E間で生成される結晶の核となる種晶生成過程と該種晶を基に結晶が成長する結晶成長過程を2段階の温度帯に分離して晶析制御することにより結晶の粒度の揃った用途に最適な結晶粒を得ることができることが特徴である。
【0020】
本発明の第2の実施の形態で使用する装置は前記図1に示したものと全く同様であり、晶析反応濃度を特定温度帯と該特定温度帯より例えば10℃低く冷却した冷却温度帯の2段階に調節して晶析する。
【0021】
先ず種晶生成のために、原料液を特定の温度に調節して前記第1の実施の形態の場合と同様に撹拌を制御して晶析反応させ、前記図6の晶析反応過程のグラフのB、D、E間においては晶析の核となる種晶と一部は核種晶を基に結晶が成長する成長結晶とが生成され、溶質の濃度が自発的核生成濃度C2に下がり、更に飽和濃度C1に近づくG点より手前の時点から、次は、例えば10℃温度が低くなる様に中高速から高速回転で撹拌しつつ冷却すると前記飽和濃度C1に近い濃度に下がった溶質の濃度は再び過飽和状態となり、前記図6に示すA、B、D、E、G点までの晶析反応過程を撹拌制御しつつ繰り返し、前記特定温度帯で形成された図7の結晶粒度分布のグラフに示す種晶と一部の成長結晶は、該冷却温度帯において、これらの種晶と成長結晶とを新たな種晶として図8に示す結晶粒度分布グラフの如く特に数本の粒径区分の結晶重量が増加した成長結晶となり、この2段階の温度帯に分離して晶析反応の制御を行うことにより結晶の粒度の揃った用途に適した結晶粒を得ることができる。
【0022】
更に、本発明の第3の実施の形態を図9により説明する。
【0023】
本発明の第3の実施の形態は、前記第1或いは第2の実施の形態において晶析反応が終息する溶液濃度になっても、この溶液の濃度を大にする制御を継続して結晶粒径をより大きくできることが特徴である。
【0024】
本発明の第3の実施の形態で使用する装置は前記図1に示したものと全く同様であり、晶析反応が終息する飽和濃度となっても晶析部1内の溶液温度
を低下させるか、或いは蒸発部が設けられている場合では溶剤を蒸発させることにより、再び濃度を晶析反応が可能な過飽和濃度とすることができ、前記図6の溶質の溶解度曲線グラフの飽和濃度C1のG点で一旦は晶析反応が終息するが、前記温度低下や蒸発により図9において追加したグラフの飽和濃度はC1´まで下がり、G´点が新しい飽和濃度となり、晶析された結晶は更にG´点まで粒径が大きく成長する。
【0025】
又、G´点まで行ったら、再び濃度を大にして新しい飽和濃度はC1´´まで下がってG´´点まで晶析反応が繰り返されて更に結晶粒が大きくなる。
【0026】
この様に濃度を高める制御を継続することにより更に結晶粒径を大きくすることができる。
【0027】
尚、濃度を高める制御は飽和濃度のG点のみでなく、A点からG点までの過飽和濃度状態の時点で行ってもよい。
【0028】
【発明の効果】
このように本発明によると、晶析部内の濁度と濃度の情報信号を入力し、制御手段が撹拌手段の回転速度と撹拌時間を制御することにより、単峰性分布の結晶粒度となり、結晶粒径が揃った結晶粒を得る効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態のシステム構成図である。
【図2】その撹拌手段の制御指令プログラムのグラフである。
【図3】結晶粒度の分布グラフである。
【図4】その濁度の検出信号のグラフである。
【図5】その電気伝導度の検出信号のグラフである。
【図6】晶析生成過程の溶質の溶解度曲線のグラフである。
【図7】本発明の第2の実施の形態の特定温度帯における晶析粒度の分布グラフである。
【図8】その冷却温度帯における結晶粒度の分布グラフである。
【図9】本発明の第3の実施の形態における溶質の溶解度曲線のグラフである。
【図10】従来の晶析装置の説明図である。
【符号の説明】
1 晶析部
1a 容器
1b 原料液
2 撹拌手段
2a 撹拌翼
2b 駆動モータ
2c 駆動回路部
3 制御手段
4 濁度検出手段
4a 発光部
4b 受光部
5 電気伝導度検出手段
6 記憶部
7 温度検出手段
8 加熱手段
Claims (5)
- 晶析装置の晶析部に回転速度可変可能な撹拌手段を設け、該晶析部内の溶液の濁度及び濃度の情報信号を入力し前記撹拌手段の回転速度を高速にして溶液の活性化により晶析の核となる種晶の発生を促進する過程と、該回転速度を高速から低速に下げて種晶の生成の割合を増加させる過程と、該回転速度を低速から中速に上げて種晶や成長結晶の成長を促進する過程の制御プログラムによって制御する制御手段を備えた晶析装置の結晶粒度制御装置。
- 前記晶析部に光センサからなる濁度検出手段を設けたことを特徴とする請求項1に記載の晶析装置の結晶粒度制御装置。
- 前記晶析部に電気伝導度検出手段を設け、前記制御手段は該電気伝導度検出手段の検出信号を入力して該晶析部内の溶液濃度を検知することを特徴とする請求項1に記載の晶析装置の結晶粒度制御装置。
- 前記晶析部に温度検出手段と温度調節手段とを設け、前記制御手段は、晶析の核となる種晶を生成する所定の種晶生成温度帯と該種晶を基に結晶を成長させる所定の結晶成長温度帯との二段階の異なる温度帯で分離晶析して結晶粒度を制御することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1に記載の晶析装置の結晶粒度制御装置。
- 前記制御手段は、前記晶析部内の溶液の濃度を温度調節或いは溶剤の蒸発により大にする制御を継続して晶析の結晶粒径を大にする制御を行うことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1に記載の晶析装置の結晶粒度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002214906A JP4521682B2 (ja) | 2002-07-24 | 2002-07-24 | 晶析装置の結晶粒度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002214906A JP4521682B2 (ja) | 2002-07-24 | 2002-07-24 | 晶析装置の結晶粒度制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004050147A JP2004050147A (ja) | 2004-02-19 |
| JP4521682B2 true JP4521682B2 (ja) | 2010-08-11 |
Family
ID=31937074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002214906A Expired - Fee Related JP4521682B2 (ja) | 2002-07-24 | 2002-07-24 | 晶析装置の結晶粒度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4521682B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008280292A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛋白質結晶作製装置及び蛋白質結晶作製方法 |
| CN102423542B (zh) * | 2011-08-29 | 2014-02-12 | 中北大学 | 一种熔融结晶器 |
| JP5941329B2 (ja) * | 2012-04-17 | 2016-06-29 | オルガノ株式会社 | 晶析反応装置及び晶析反応方法 |
| CN107112515B (zh) | 2014-10-28 | 2020-08-18 | 株式会社Lg 化学 | 锂二次电池用正极活性材料、其制备方法和包含其的锂二次电池 |
| CN116088382B (zh) * | 2023-01-14 | 2024-05-10 | 中国地质大学(武汉) | 一种可自主调整稳定输出浓度范围浊液的装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62292748A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-19 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | Edta溶液からのedtaの回収装置 |
| JPH0592102A (ja) * | 1991-09-30 | 1993-04-16 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | 有機酸または有機酸エステルの晶析方法 |
| JPH0611802U (ja) * | 1992-07-03 | 1994-02-15 | コニカ株式会社 | 晶析缶内の濃度測定装置 |
| JPH08192036A (ja) * | 1994-11-18 | 1996-07-30 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | 液状及びペースト状材料の撹拌混合制御方法及びその装置 |
| WO2002026709A1 (en) * | 2000-09-25 | 2002-04-04 | Eisai Co., Ltd. | Process for producing multiform crystal of donepezil hydrochloride |
-
2002
- 2002-07-24 JP JP2002214906A patent/JP4521682B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004050147A (ja) | 2004-02-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7611580B2 (en) | Controlling melt-solid interface shape of a growing silicon crystal using a variable magnetic field | |
| US10151045B2 (en) | Method for producing crystal | |
| US4973377A (en) | Crystal diameter controlling method | |
| US20080053365A1 (en) | Method and Apparatus of Growing Silicon Single Crystal and Silicon Wafer Fabricated Thereby | |
| JP4521682B2 (ja) | 晶析装置の結晶粒度制御装置 | |
| JPH05194083A (ja) | シリコン棒の製造方法 | |
| JPH10158088A (ja) | 固体材料の製造方法及びその製造装置 | |
| US4267154A (en) | Apparatus for manufacturing high quality crystals | |
| JP4894848B2 (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
| JP5117671B2 (ja) | 高品質単結晶及びその成長方法 | |
| US6554895B2 (en) | Crystallogenesis method with magnetic field | |
| US5476064A (en) | Pull method for growth of single crystal using density detector and apparatus therefor | |
| JPH04305091A (ja) | 単結晶引上方法及びその装置 | |
| CN113174626B (zh) | 一种碲锌镉单晶体的生长方法及装置 | |
| RU2209834C1 (ru) | Способ получения затравочной суспензии | |
| JP3203343B2 (ja) | 単結晶製造用冷却制御筒 | |
| CN115094518A (zh) | 一种控制大直径单晶硅棒直径的加热器、拉晶炉和方法 | |
| JP2018177542A (ja) | 酸化物単結晶の製造方法及び酸化物単結晶引き上げ装置 | |
| KR101379799B1 (ko) | 단결정 실리콘 잉곳 성장 장치 및 방법 | |
| JPH05105579A (ja) | 結晶育成方法 | |
| CN117822093A (zh) | 一种在直拉制备单晶过程中控制放肩降温的方法和系统 | |
| KR20130130962A (ko) | 단결정 실리콘 잉곳 성장 장치 및 방법 | |
| KR20130130964A (ko) | 반도체용 고품질 실리콘 단결정 잉곳 및 웨이퍼 | |
| JPH04164889A (ja) | 単結晶の製造方法 | |
| JP2009023870A (ja) | 単結晶製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050705 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080828 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081010 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100210 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100308 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100420 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100517 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |