Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP4526653B2 - 帯状部品の処理タイミングの決定 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP4526653B2 - 帯状部品の処理タイミングの決定 - Google Patents

帯状部品の処理タイミングの決定 Download PDF

Info

Publication number
JP4526653B2
JP4526653B2 JP2000140026A JP2000140026A JP4526653B2 JP 4526653 B2 JP4526653 B2 JP 4526653B2 JP 2000140026 A JP2000140026 A JP 2000140026A JP 2000140026 A JP2000140026 A JP 2000140026A JP 4526653 B2 JP4526653 B2 JP 4526653B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output signal
change point
photoline
inspection
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2000140026A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001326233A (ja
Inventor
孝 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Kouatsu Electric Co
Original Assignee
Nippon Kouatsu Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kouatsu Electric Co filed Critical Nippon Kouatsu Electric Co
Priority to JP2000140026A priority Critical patent/JP4526653B2/ja
Publication of JP2001326233A publication Critical patent/JP2001326233A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4526653B2 publication Critical patent/JP4526653B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、帯状部品の検査や所定の処理の実行タイミングを決定する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
ICチップ(半導体集積回路)にリード(端子)を半田付けする際には、帯状のリードフレームと呼ばれる部品が用いられる。リードフレームには、多数の端子が周期的に繰り返し形成されており、リードフレームの側端部には搬送用のスプロケット穴が設けられている。
【0003】
リードフレームの検査を行う場合に、従来は、リードフレームをその長手方向に搬送しながらリードフレーム内の所定の検査対象領域の画像を撮像し、その画像を調べて各検査対象領域の良否を判定していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、リードフレームを搬送する際には、その長手方向に垂直な方向(リードフレームの幅方向)にリードフレームがぶれるので、検査対象領域の画像を撮像するタイミングをうまく決定することが困難であった。このような問題は、リードフレームの検査のみでなく、同一の平面形状が周期的に繰り返し現れる帯状部品に関して、検査や所定の処理を実行する場合に共通する問題であった。
【0005】
本発明は、上述した従来の課題を解決するためになされたものであり、帯状部品が搬送される際に、幅方向に帯状部品がぶれるときにも、その検査や処理のタイミングを精度良く決定することのできる技術を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段およびその作用・効果】
上記目的を達成するために、本発明は、同一の平面形状が周期的に繰り返し現れる略帯状の形状を有し、その長手方向に伸びる側端部よりも内側の所定の位置に特定の透過型形状が前記長手方向に沿って周期的に形成されている帯状部品を検査するための検査装置を提供する。この検査装置は、前記帯状部品の搬送路において前記帯状部品の長手方向とほぼ垂直な方向に沿って配置され、前記帯状部品の線状画像を所定の時間毎に取得するフォトラインセンサと、前記フォトラインセンサから出力された出力信号の変化点を分析することによって、前記側端部の位置に相当する第1の出力信号変化点を決定するとともに、前記第1の出力信号変化点から所定の範囲の中に前記特定の透過型形状に対応する第2の出力信号変化点が存在するか否かを判断し、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が発生したときに検査の実行タイミングを示すトリガ信号を生成するトリガ信号生成部と、前記トリガ信号に応じて前記検査を実行する検査実行部と、を備えることを特徴とする。
【0007】
この検査装置では、フォトラインセンサの出力信号の変化点を分析することによって、帯状部品の側端部から所定の範囲の中に特定の透過型形状が存在する状態が発生したときに検査のトリガ信号を生成するので、帯状部品の搬送時にその長手方向とは垂直な方向に帯状部品がぶれるときにも、その検査タイミングを精度良く決定することが可能である。
【0008】
なお、前記トリガ信号生成部は、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が継続しているときには前記トリガ信号の生成を中止するようにしてもよい。
【0009】
こうすれば、出力信号が特定の状態に変化したときにのみトリガ信号が発生するので、トリガ信号の発生タイミングをより好ましいものに設定することが可能である。
【0010】
この検査装置は、さらに、前記帯状部品を挟んで前記フォトラインセンサとは反対側に設けられ、前記フォトラインセンサに向けて光を照射する光源を備えるようにしてもよい。
【0011】
こうすれば、フォトラインセンサによって帯状部品の透過部分と非透過部分の明瞭な線状画像を取得することができ、従って、検査タイミングをより精度良く決定することが可能である。
【0012】
前記検査実行部は、前記トリガ信号に応答して前記帯状部品の特定の検査対象領域を包含する2次元画像を取得するカメラを含むようにしてもよい。
【0013】
このような検査装置では、検査タイミングが精度良く決定されているので、カメラとして比較的視野の狭いものを採用することが可能である。
【0014】
なお、本発明は、種々の態様で実現することが可能であり、例えば、帯状部品の検査方法および装置、帯状部品の処理タイミング決定方法および装置、それらの方法または装置の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体、そのコンピュータプログラムを含み搬送波内に具現化されたデータ信号、等の態様で実現することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を実施例に基づいて説明する。図1は、本発明の一実施例における検査の概要を示す概念図である。帯状の部品であるリードフレーム10は、所定の搬送路上を矢印の方向にほぼ一定速度で搬送されていく。検査装置は、この搬送路において、リードフレーム10の検査を実行する。この検査装置は、リードフレーム10の下方に設けられたフォトラインセンサ20と、リードフレーム10を挟んでフォトラインセンサ20とは反対側に設けられた点光源であるLED22と、リードフレーム10の所定の検査対象領域SAの2次元画像を取得するためのカメラ24と、制御装置30とを備えている。
【0016】
制御装置30は、フォトラインセンサ20やカメラ24とのインターフェイスボードが装着されたパーソナルコンピュータで構成されている。制御装置30は、
トリガ発生部32と、画像処理部34とを有している。トリガ発生部32は、フォトラインセンサ20からの出力信号Sphに応じてトリガ信号TGを生成してカメラ24に供給する。画像処理部34は、カメラ24で撮像された画像の画像信号IMを処理することによって、リードフレームの良否を判定する。例えば、画像処理部34は、検査対象領域SAの画像を処理することによって、リードピンに許容値以上の曲がりが発生していないか否かを検査することによってリードフレームの良否を判定することが可能である。なお、トリガ発生部32と画像処理部34の機能は、制御装置30内の図示しないCPUがコンピュータプログラムを実行することによって実現される。
【0017】
フォトラインセンサ20は、リードフレーム10の長手方向(搬送方向)とはほぼ垂直な方向(リードフレーム10の幅方向)に沿って配置されている。LED22は、フォトラインセンサ20の真上に配置されており、放射状の光をフォトラインセンサ20に向けて照射する。なお、光源としては、点光源であるLED22の代わりに、線状または面状の光源を用いることも可能である。また、十分な環境光が存在する場合には、フォトラインセンサ20のための光源を省略してもよい。
【0018】
リードフレーム10には、その長手方向に延びる一方の側端部12の内側の所定の位置に、スプロケット穴14が周期的に設けられている。スプロケット穴14は、図示しない搬送装置がスプロケットを使用してリードフレーム10を搬送する際に、その搬送装置のスプロケットの歯が差し込まれる穴である。LED22は、このスプロケット穴14が設けられている位置に向けて光を照射する。リードフレーム10の透過部を透過した光はフォトラインセンサ20で受光される。フォトラインセンサ20は、一定時間毎にリードフレーム10の線状画像を取得し、その線状画像を表す出力信号Sphをトリガ発生部32に供給する。トリガ発生部32は、リードフレーム10のスプロケット穴14を検出したときにトリガ信号TGを生成する。
【0019】
図2は、トリガ発生部32がトリガ信号TGを生成するタイミングを決定する様子を示す説明図である。図2(a)は、ある時刻t1におけるリードフレーム10とフォトラインセンサ20の位置関係と、フォトラインセンサ20からの出力信号Sphのレベル変化とを示している。また、図2(b)は、時刻t1から所定の時間間隔Δtだけ経過した時刻t2における状態を示している。なお、この時間間隔Δtの間に、リードフレーム10は矢印の方向(図中では上方向)に所定の距離だけ移動している。
【0020】
時刻t1では、フォトラインセンサ20の位置は1つのスプロケット穴14に懸かる直前の位置にある。図2(A)の下部には、このときのフォトラインセンサ20の出力信号Sphのグラフが示されている。このグラフの横軸xは、フォトラインセンサ20の一方の端部21から測った位置座標であり、出力信号Sphの値はこの座標xに応じて変化する。リードフレーム10によって遮光される位置では出力信号Sphの値は所定のLレベル(遮光レベル)を示し、リードフレーム10によって遮光されない位置では出力信号Sphの値は所定のHレベル(非遮光レベル)を示す。なお、実際にはフォトラインセンサ20の出力信号Sphは多値レベルを取りうるが、ここでは簡単のために、LレベルとHレベルの2つのレベルのみを取るものと考える。
【0021】
時刻t1においては、フォトラインセンサ20の出力信号Sphは、フォトラインセンサ20の端部21から座標x1までの範囲ではHレベルを取る。また、座標x1から座標x2までの範囲ではLレベルを取り、座標x2以降に再びHレベルとなる。なお、本明細書では、座標x1,x2のように、出力信号Sphのレベルが切り替わる点を「出力信号変化点」または単に「変化点」と呼ぶ。
【0022】
トリガ発生部32は、最初に信号レベルがHレベルからLレベルに切り替わる変化点x1を検出し、この変化点x1をリードフレーム10の側端部12の位置であると認識する。また、この最初の変化点x1の後で信号レベルがLレベルからHレベルに切り替わる変化点x2を検出し、これらの変化点x1,x2の座標値の差分Δx(=x2−x1)を算出する。さらに、この差分Δxが、予め設定されたしきい値D未満であるか否かを調べる。このしきい値Dは、フォトラインセンサ20がスプロケット穴14を通過する位置に来た状態において、リードフレーム10からスプロケット穴14までの距離に関連付けられた値であり、リードフレーム10毎に予め設定された値である。図2の例では、しきい値Dは、側端部12からスプロケット穴14の中央までの値に設定されている。
【0023】
時刻t1では、フォトラインセンサ20の撮像位置にスプロケット穴14が存在しないので、変化点座標の差分Δxはしきい値D以上となる。この場合にはトリガ発生部32はトリガ信号TGを発生しない。一方、時刻t2では、フォトラインセンサ20の撮像位置にスプロケット穴14が存在しており、この結果、変化点座標の差分Δxはしきい値D未満の値となる。このとき、トリガ発生部32はトリガ信号TGを発生して、カメラ24に2次元画像を撮像させる。
【0024】
なお、時刻t2以降は、Δx<Dの状態がしばらく継続するが、このような場合はトリガ信号TGの発生は中止される。すなわち、トリガ発生部32は、時刻t2の場合のように、その直前の時刻(時刻t1)において差分Δxがしきい値D以上の状態にあり、その状態が次にΔx<Dの状態に切り替わったときにのみトリガ信号TGを生成する。換言すれば、スプロケット穴14の前端部が検出されたときにのみ、トリガ信号TGを発生させる。こうすれば、1個のスプロケット穴14に対して1回だけトリガ信号TGを発生させることが可能である。
【0025】
図3は、トリガ発生部32による処理手順を示すフローチャートである。ステップS1では、フォトラインセンサ20が線状画像を撮像し、その出力信号Sphがトリガ発生部32に供給される。ステップS2では、出力信号Sphの最初の2つの変化点x1,x2の座標が検出されるとともに、その差分Δxが算出される。ステップS3では、差分Δxとしきい値Dとの大小関係が第1の状態(差分Δxがしきい値D以下)から第2の状態(差分Δxがしきい値D未満)に切り替わったか否かが判定される。大小関係が切り替わっていない場合には、ステップS1に戻り、所定の時間間隔の後に再度フォトラインセンサ20によって線状画像が撮像される。一方、大小関係が切り替わったときには、ステップS4においてトリガ信号TGが生成される。
【0026】
なお、ステップS3における判断基準としては、「Δx<Dに切り替わったか否か」の代わりに、「D1<Δx<D2に切り替わったか否か」(D1,D2は0でない所定の値)という判断基準を用いてもよい。すなわち、ステップS3では、差分Δxが所定の範囲内にあるか否かを判断するようにすればよい。
【0027】
また、図3の手順の代わりに、Δx<Dの状態のときには常にトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。このときには、Δx<Dの状態が継続しているときにはトリガ信号TGが連続して発生するので、カメラ24が、連続して発生しているトリガ信号TGのうちの2回目以降のトリガ信号TGを無視するようにすればよい。
【0028】
図4(A)は、本実施例の検査装置の機械的構成を示す正面図であり、図4(B)はその基台100の平面図である。リードフレームは、矢印で示す方向に(図中の右方向に)搬送される。基台100の両端には、リードフレームの側端部を案内するためのガイドプレート110,112が設けられている。各ガイドプレート110,112は、相対する案内面の距離を任意に変更可能である。また、基台100の上には、搬送台120,122,124が設けられている。中央の搬送台122は、カメラ24の下部位置に存在しており、カメラ24による撮像される画像のコントラストを向上させるために、吸光特性を有する材質(例えば黒い紙)によって表面が覆われている。
【0029】
また、基台100の右端部付近には、2つのフォトラインセンサ20a,20bが設けられている。図4(B)に示すように、これらの2つのフォトラインセンサ20a,20bは、搬送方向とは垂直な方向に沿って互いにずれた位置に配置されている。2つのフォトラインセンサ20a,20bを設けるようにした理由は、スプロケット穴がリードフレームの2つの側端部のうちのいずれの側に存在する場合にも、検査タイミングをうまく決定できるようにするためである。なお、リードフレームとしては、2つの側端部の両方にスプロケット穴が設けられているものも存在する。この場合には、そのうちの一方の側端部の近傍に存在するスプロケット穴のみを利用して検査タイミングを決定することができる。
【0030】
フォトラインセンサ20が存在する側の基台100の一端には、柱状アーム200が垂直に設けられている。なお、柱状アーム200の下部は、一部切り欠かれた状態で図示されている。柱状アーム200の上部には、2つのフォトラインセンサ20a,20bの真上の位置に、2つのLED22a,22bが設けられている。柱状アーム200の上端部は略直角に屈曲しており、水平に延びた水平アーム202を構成している。
【0031】
水平アーム202の先端には、上下移動プレート210が設けられており、上下移動プレート210の先には左右移動プレート220が設けられている。左右移動プレート220には、カメラ24が取り付けられている。上下移動プレート210は、上下移動調節ねじ212の回転に応じて上下に移動する。また、左右移動プレート220は、左右移動調節ねじ222の回転に応じて左右に移動する。これらの調節ねじ212,222を用いて、カメラ24の上下左右の位置を、所望の撮像位置に設定することが可能である。
【0032】
以上説明したように、本実施例では、フォトラインセンサ20の出力信号Sphから、リードフレーム10の側端部12の位置x1を検出するとともに、その側端部から所定の距離Dの範囲内にスプロケット穴14が存在するか否かを検出しているので、リードフレーム10が長手方向(搬送方向)と垂直な方向(リードフレームの幅方向)に多少ぶれた場合にも、スプロケット穴14が存在するか否か(すなわち検査タイミング)を精度良く判定することができる。また、検査タイミングを精度良く判定できるので、カメラ24によって撮像される検査対象領域SA(図1)を従来よりも小さく設定することが可能である。検査対象領域SAが小さくなると、画像処理部34による処理量が低減されるので、検査に要する時間を短縮できるという利点がある。
【0033】
なお、この発明は上記の実施例や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
【0034】
(1)上記実施例において、ハードウェアによって実現されていた構成の一部をソフトウェアに置き換えるようにしてもよく、逆に、ソフトウェアによって実現されていた構成の一部をハードウェアに置き換えるようにしてもよい。例えば、制御装置30(図1)の各部の機能の一部を専用のハードウェア回路が実行するようにすることもできる。
【0035】
(2)上記実施例では、スプロケット穴14の前端部を検出したときに直ちにトリガ信号TGを発生させていたが、所定の時間遅れの後にトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。
【0036】
(3)上記実施例ではスプロケット穴14の前端部においてトリガ信号TGを発生させていたが、この代わりに、後端部でトリガ信号TGを発生させるようにしても良い。
【0037】
また、1つのスプロケット穴14毎にトリガ信号TGを発生させる代わりに、複数個のスプロケット穴14に1回の割合でトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。従って、一般には、N個(Nは1以上の所定の整数)のスプロケット穴14毎に1回の割合でトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。
【0038】
なお、上記実施例では、トリガ信号TGを発生させるタイミングを規定する特定の形状としてスプロケット穴14を用いていたが、スプロケット穴14以外の他の特定の形状を用いてトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。ただし、トリガ信号TGの発生に使用される特定の形状としては、光を透過する部分と光を透過しない部分とを有する形状(「透過型形状」と呼ぶ)を利用することが好ましい。
【0039】
(4)上記実施例では、帯状のリードフレーム10内の所定の検査対象領域の画像を取得して検査を行う検査装置について説明したが、本発明は、リードフレーム以外の他の帯状部品の検査装置にも適用可能である。また、帯状部品の検査装置ではなく、帯状部品に関して特定の処理を行うための処理装置にも適用可能である。帯状部品に関する特定の処理としては、例えば帯状部品の一部に薬品を塗布する処理などがある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における検査の概要を示す概念図。
【図2】トリガ発生部32がトリガ信号TGを生成するタイミングを決定する様子を示す説明図。
【図3】トリガ発生部32による処理手順を示すフローチャート。
【図4】本実施例の検査装置の機械的構成を示す図。
【符号の説明】
10…リードフレーム
12…側端部
14…スプロケット穴
20,20a,20b…フォトラインセンサ
21…端部
22,22a,22b…LED
24…カメラ
30…制御装置
32…トリガ発生部
34…画像処理部
40…制御回路
88…ホストコンピュータ
100…基台
110,112…ガイドプレート
120,122,124…搬送台
200…柱状アーム
202…水平アーム
210…上下移動プレート
212…上下移動調節ねじ
220…左右移動プレート
222…左右移動調節ねじ

Claims (5)

  1. 同一の平面形状が周期的に繰り返し現れる略帯状の形状を有し、その長手方向に伸びる側端部よりも内側の所定の位置に特定の透過型形状が前記長手方向に沿って周期的に形成されている帯状部品を検査するための検査装置であって、
    前記帯状部品の搬送路において前記帯状部品の長手方向とほぼ垂直な方向に沿って配置され、前記帯状部品の線状画像を所定の時間毎に取得するフォトラインセンサと、
    前記フォトラインセンサから出力された出力信号の変化点を分析することによって、前記側端部の位置に相当する第1の出力信号変化点を決定するとともに、前記第1の出力信号変化点から所定の範囲の中に前記特定の透過型形状に対応する第2の出力信号変化点が存在するか否かを判断し、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が発生したときに検査の実行タイミングを示すトリガ信号を生成するトリガ信号生成部と、
    前記トリガ信号に応じて前記検査を実行する検査実行部と、
    を備えることを特徴とする帯状部品の検査装置。
  2. 請求項1記載の装置であって、
    前記トリガ信号生成部は、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が継続しているときには前記トリガ信号の生成を中止する、帯状部品の検査装置。
  3. 請求項1または2記載の装置であって、さらに、
    前記帯状部品を挟んで前記フォトラインセンサとは反対側に設けられ、前記フォトラインセンサに向けて光を照射する光源を備える、帯状部品の検査装置。
  4. 請求項1ないし3のいずれかに記載の装置であって、
    前記検査実行部は、前記トリガ信号に応答して前記帯状部品の特定の検査対象領域を包含する2次元画像を取得するカメラを含む、帯状部品の検査装置。
  5. 同一の平面形状が周期的に繰り返し現れる略帯状の形状を有し、その長手方向に伸びる側端部よりも内側の所定の位置に特定の透過型形状が前記長手方向に沿って周期的に形成されている帯状部品に関して、所定の処理を実行するための処理タイミングを決定する装置であって、
    前記帯状部品の搬送路において前記帯状部品の長手方向とはほぼ垂直な方向に沿って配置され、前記帯状部品の線状画像を所定の時間毎に取得するフォトラインセンサと、
    前記フォトラインセンサから出力された出力信号の変化点を分析することによって、前記側端部の位置に相当する第1の出力信号変化点を決定するとともに、前記第1の出力信号変化点から所定の範囲の中に前記特定の透過型形状に対応する第2の出力信号変化点が存在するか否かを判断し、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が発生したときに前記所定の処理の実行タイミングを示すトリガ信号を生成するトリガ信号生成部と、
    を備えることを特徴とする処理タイミング決定装置。
JP2000140026A 2000-05-12 2000-05-12 帯状部品の処理タイミングの決定 Expired - Lifetime JP4526653B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000140026A JP4526653B2 (ja) 2000-05-12 2000-05-12 帯状部品の処理タイミングの決定

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000140026A JP4526653B2 (ja) 2000-05-12 2000-05-12 帯状部品の処理タイミングの決定

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001326233A JP2001326233A (ja) 2001-11-22
JP4526653B2 true JP4526653B2 (ja) 2010-08-18

Family

ID=18647382

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000140026A Expired - Lifetime JP4526653B2 (ja) 2000-05-12 2000-05-12 帯状部品の処理タイミングの決定

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4526653B2 (ja)

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62150841A (ja) * 1985-12-25 1987-07-04 Nec Corp フイルム状集積回路素子の個数計数回路
JPH06232183A (ja) * 1993-01-29 1994-08-19 Sony Corp リードフレームを用いた情報伝達方法
JP3751660B2 (ja) * 1995-06-15 2006-03-01 浜松ホトニクス株式会社 規則的パターンの欠陥検査装置
JP3534583B2 (ja) * 1997-01-07 2004-06-07 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置の製造方法
JPH10256278A (ja) * 1997-03-07 1998-09-25 Hitachi Ltd テープ搬送機構を有する装置
JP3065288B2 (ja) * 1997-10-29 2000-07-17 日本電気株式会社 半導体ベアチップの封止方法、半導体集積回路装置、および半導体集積回路装置の製造方法
DE19815066B4 (de) * 1998-04-03 2006-11-23 Bts Holding International Bv Filmabtaster mit Bildstandsfehlerkorrektur
JP2001076148A (ja) * 1999-09-03 2001-03-23 Canon Inc 物体表面の欠陥検査方法および装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001326233A (ja) 2001-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110402076B (zh) 部件安装线、部件安装方法以及质量管理系统
JP2009168581A (ja) 被検査体の検査装置
US20150243012A1 (en) X-ray inspection method and device
EP3454004B1 (en) Shape measurement device and shape measurement method
JP4434417B2 (ja) プリント配線板の検査装置
WO2021124602A1 (ja) 統計データ生成方法、切断装置及びシステム
CN114450582A (zh) 外观检查装置及不良检查方法
JP4008168B2 (ja) プリント基板検査装置
WO2025138831A1 (zh) 光学检测装置和光学检测方法
JP4526653B2 (ja) 帯状部品の処理タイミングの決定
TWM470256U (zh) 光學式瑕疵檢測裝置
TWI629473B (zh) 組裝電路板檢測系統及組裝電路板檢測方法
JP2023039754A (ja) メンテナンス方法、及び電子部品の製造方法
US20130168538A1 (en) Light source determining apparatus, light source determining method and optical tracking apparatus
JP2000101298A (ja) 部品位置整合装置及びこれを用いた部品位置整合方法
JP7122456B2 (ja) 計測装置および表面実装機
KR102940727B1 (ko) 교정 방법 및 전자 부품의 제조 방법
JP2009168580A (ja) 被検査体の検査装置
KR100689850B1 (ko) 기판검사장치
JP3645340B2 (ja) フラットパッケージのピン曲がりの検出装置
JP7582507B2 (ja) X線検査装置及びx線検査方法
JP2020107623A (ja) 3次元計測装置
JP3720476B2 (ja) 部品検出方法
KR20100006830A (ko) 범퍼 검사장치
KR200176154Y1 (ko) 3디센서를 이용한 아이시 및 패턴드 웨이퍼의 3차원 외관검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070509

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20090706

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090910

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20100114

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100511

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100602

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130611

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4526653

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term