JP4578698B2 - Metal electrode pattern forming method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、金属電極パターンの形成方法に関する。特に、ダイオード、トランジスタ、LSI等の半導体デバイス製造時における、金属電極パターンの形成方法に関するものである。より詳しくは、半導体デバイスの製造工程において、バンプ形成領域に金属膜(UBM;アンダーバンプメタル)を配置する技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体デバイスとしては、アルミ電極等の金属電極を備えたものが知られている。当該アルミ電極にはハンダなどによりバンプが形成されるが、ハンダとアルミ電極とは濡れ性がよくない。そのため、アルミ電極上には、さらにハンダなどとの濡れ性の良好な金属膜の電極パターンが形成されている。
【0003】
半導体デバイスの製造における前記金属電極パターンの形成は、一般にホトリソグラフィにおけるパターン形成法が行われている。しかしながら、前述のホトリソグラフィによるパターン形成は、ホトリソグラフィおよびエッチング工程における設備等のプロセスコストが非常に高く、またエッチング液等の廃液処理が煩わしく、作業環境を悪化させるという問題点がある。
【0004】
また最近では、前記金属電極パターンの形成方法として、半導体基板上に形成された絶縁部と電極部の表面に濡れ性の良好な金属膜を設け、この金属膜に対する絶縁部と電極部との接着性の差を利用して、接着シートにより絶縁部上の金属膜のみを剥離除去してパターンを形成する手法も提案されている(特開平10−64912号公報)。
【0005】
この金属膜剥離除去によるパターンの形成方法は、吸着ステージに置かれた前記半導体基板上の接着シートを引き剥すことにより行う。また、接着シートを剥離をスムースに行い、かつ半導体基板が引き剥がしの力で吸着ステージから外れることがないように、半導体基板上に貼付されている接着シートをロール状物品によって押さえ付けながら一定速度で移動させるとともに、接着シートをロール状物品に沿わせながら引き剥がす手法が用いられている。
【0006】
しかしながら、接着シートをロール状物品に沿わせながら剥離すると、剥離直後の半導体基板表面はロール状物品によりに覆われて見えない。そのため、接着シートの引き剥がしにより形成された金属膜パターンが完全でなかった場合には、再度、半導体基板全体に接着シートを貼付けた後、引き剥がす同様の操作を行い、1回目に剥離除去し残した金属膜部分を剥離除去する必要があった。このような操作を繰り返していては、時間あたりの処理能力(スループット)が下がり、また接着シートのコストも増大するという問題があった。また、ロール状物品では、接着シートの押さえ付けが不十分で金属膜部分の剥離除去が不均一になるおそれもある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、本発明は、基板上に形成された絶縁部と電極部の表面に設けた金属膜に、金属膜剥離除去用接着シートを貼り付けた後、当該接着シートを引き剥がして絶縁部表面の金属膜を剥離除去することにより、基板上の電極部に金属電極パターンを形成する方法において、接着シートによる前記金属膜の剥離除去を効率的に行いうる金属電極パターンの形成方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、上記問題点を解決するため鋭意検討した結果、接着シートを引き剥がす際に、ロール状物品の代わりに、板状物品を沿わせながら接着シートを引き剥がすことにより、上記問題点が解決され、金属電極パターンの形成に良好な結果をもたらすことを見出し、本発明を完成するに至った。
【0009】
すなわち、本発明は、基板上に形成された絶縁部と電極部の表面に設けた金属膜に、金属膜剥離除去用接着シートを貼り付けた後、当該接着シートを引き剥がして絶縁部表面の金属膜を剥離除去することにより、基板上の電極部に金属電極パターンを形成する方法において、前記接着シートを引き剥がす際、前記接着シートを透明板である板状物品に沿わせながら引き剥がすことを特徴とする金属電極パターン形成方法、に関する。
【0010】
板状物品に沿わせながら、接着シートの引き剥がしを行うと、接着シートによって剥離が行われた直後の基板上の様子を、接着シートが金属膜から離れた瞬間に容易かつ明確に観察、判別できる。このため、剥離されるべき絶縁膜上の金属膜の剥離除去が不完全だった場合、それを確認した時点で板状物品を引き剥がし方向とは逆方向にわずかに戻すことにより、直ちに不完全だった金属膜の剥離不良を解消することができる。このような本発明の手法を用いることで、金属膜の剥離除去が不完全だった場合にも、最初から同様の操作を再度繰り返さなくてもよくなり、ロール状物品に沿わせながら接着シートを引き剥がした場合に比べて作業効率を著しく向上させることができる。さらに、この方法によれば、接着シートを板状物品に沿わせながら引き剥がすため、引き剥がす際に接着シートにかかる力を均一にすることができる。したがって、より安定した金属膜の剥離除去が行える。
【0011】
前記金属電極パターン形成方法は、基板として半導体基板を用いた場合に特に有用である。
【0012】
前記金属電極パターン形成方法において、接着シート上に板状物品を設置するとともに、接着シートの端部を折り返し、板状物品を接着シート間に内持した状態で、折り返した接着シートを前記折り返し方向に引張ることにより、接着シートを板状物品に沿わせながら引き剥がすことが、好ましい一態様である。
【0013】
また、前記金属電極パターン形成方法において、接着シートの端部を折り返して接着シート上の板状物品に貼付した後、板状物品を前記折り返し方向に引張ることにより、接着シートを板状物品に沿わせながら引き剥がすことが、好ましい一態様である。
【0015】
透明板を使用すると、引き剥がし方向にある、剥離除去されていない金属膜を確認しながら、接着シートの引き剥がしを行うことができ、金属膜の剥離除去を確実に行うことができる。
【0016】
また前記金属電極パターン形成方法において、接着シートを引き剥がす際に、基板上の既に剥離された部分を押さえ付けながら、接着シートの引き剥がし方向に移動させることが好ましい。
【0017】
接着シートの引き剥がし時の応力が大きく、基板が吸着ステージから外れる危険性がある場合には、剥離された部分の基板を押さえ付けることにより、接着シートの引き剥がし時に、基板が吸着ステージから外れたり、基板が破損する等の不具合を防ぐことができる。
【0018】
前記金属電極パターン形成方法において、基板上の端部に形成されている絶縁部表面の少なくとも一部が、金属膜との剥離が容易になるように処理されており、当該端部を剥離起点として接着シートを引き剥がすことが好ましい。
【0019】
接着シートの引き剥がしの際に、基板上に事前に剥離起点を形成しておくことにより剥離を確実かつ容易に発生させることができる。
【0020】
前記剥離起点は、たとえば、基板上の端部に形成されている絶縁部表面の少なくとも一部に、金属膜との剥離が容易になる材料を成膜することにより行うことができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
本発明の金属電極パターン形成方法を、図面を参照しながら説明する。
図1は、基板1上に電極部4と絶縁部3が形成されたものの断面図であり、当該電極部4上に金属電極パターンが形成される。
【0022】
基板1としては各種基板を用いることができるが半導体基板に好ましく適用できる。半導体基板としては、シリコン基板等があげられる。また、半導体基板1上には、ダイオード、トランジスタ等の半導体素子領域2を形成することもできる。電極部4は半導体素子2との導通を得るためにパターン化されている。基板1上の電極部4と絶縁部3の形成方法は特に制限されず、各種の方法により形成することができる。たとえば、かかる電極部4と絶縁部3は、基板1上にCVD法などにより絶縁部3を形成した後、ホトリソグラフィ法を用いて、絶縁部3をパターン化し、その必要箇所にアルミ電極部4を形成する方法により形成される。電極部4としては、アルミ電極等が用いられ、絶縁部3としては、シリカ、BPSG(Bolon Phosphorus Silicate Glass ) 、PSG( Phosphorus Silicate Glass ) 、窒素化ケイ素、ポリイミド等が用いられる。
【0023】
また、図2に示すように、基板1の端部にある絶縁部3表面の少なくとも一部には、当該絶縁部上に形成される金属膜との剥離の確実性を高めるため、金属膜との剥離が容易になるように処理aを施すことが好ましい。前記処理方法としては、たとえばマスクスパッタ法により剥離性の高いAu膜を形成する方法等があげられる。
【0024】
図3は、基板1上に形成された絶縁部3と電極部4の表面に金属膜5が設けられたものの断面図であり、当該金属膜5が本発明の金属膜剥離除去用接着シートの被着部である。被着部となる金属膜5(5c)は、はんだ濡れ性の良好な膜であり、具体的には金、銅、銀、白金、鉄、錫、ニッケル、ニッケル−バナジウム合金等を用いて形成されている。これらのなかでも金を用いるのが好ましい。
【0025】
金属膜5は、図3に示すように金属膜5a,5b,5cを順次に形成した3層とするのが好ましい。第1層の金属膜5aは、電極部4と良好な接合を形成するための膜であり、具体的にはチタン、チタン、バナジウム、クロム、コバルト、ジルコニウム、アルミニウム、タンタル、タングステン、白金、これら金属の窒化物やこれら金属を主成分とする合金等の薄膜が用いられる。これらのなかでもチタン薄膜が好ましい。第2層の金属膜5bは、金属膜5aと絶縁部3との界面にかかる応力を調整するための膜であり、具体的にはニッケル、銅、パラジウム、これらの金属を主成分とする合金等の薄膜が用いられる。これらのなかでもニッケル薄膜が好ましい。第2層の金属膜5bの内部応力により、金属膜5aと絶縁部3との界面の接着性が低下し、本発明の接着シートによる金属膜の剥離除去がより容易になっている。そして、第3層として、本発明の接着シートの前記被着部となる、はんだ濡れ性の良好な金属膜5cが設けられている。
【0026】
本発明の金属電極パターン形成方法は、図5に示すように、基板1上に形成された絶縁部3と電極部4の表面に設けた金属膜5に、金属膜剥離除去用接着シート11の接着層を貼り付け、その後、当該接着シート11を引き剥がすことにより行う。図5は、図2のように基板1端部にある絶縁部3表面に処理aが施されているものを用いた場合の例である。この操作により、絶縁部3表面の金属膜5が選択的に剥離除去され、図4に示すように、基板1上の電極部4に所望の金属電極パターンが形成される。この剥離除去の際、電極部4と金属膜5との界面は接着性が良いため、接着シート11で剥離除去されることはない。なお、形成される金属電極パターンは、実用上問題ない程度であれば、絶縁部3と金属膜5の界面が100%パターニングされている必要はなく絶縁部3上に金属膜5の一部が剥離されずに残っていてよい。
【0027】
本発明で用いられる接着シート11としては、基材フィルム上に接着層が形成されている各種のものを特に制限なく使用できる。接着シートはシート状やロール状とすることもできる。基材フィルムとしては、厚さ10〜100μm程度のポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレートなどのプラスチックフィルムがあげられる。接着シートの接着層の種類に特に制限はなく、たとえば、一般の感圧接着剤に適用される公知の各種ポリマーをいずれも使用できるが、特に(メタ)アクリル酸アルキルエステルを主モノマーとしたアクリル系ポリマーを使用するのが好ましい。接着剤組成は、上記ポリマーに各種オリゴマー成分、粘着付与樹脂、必要に応じて多官能性化合物等を配合したものが好ましく用いられる。接着層の厚さは、通常、10〜180μm程度である。
【0028】
図6は、図5に示した接着シート11を貼り付けた基板1を、吸着ステージ21上に置き、前記接着シート11上には板状物品12を設置するとともに、接着シート11の端部を折り返し、板状物品12を接着シート間に内持した状態で、折り返した接着シート11を折り返し方向に引張ることにより、接着シート11を板状物品12に沿わせながら引き剥がしている状態を表すものである。吸着ステージ21としては、一般にアルミ板、鉄板等が好ましく用いられる。
【0029】
接着シート11の引き剥がしに用いられる板状物品12としては特に限定されないが、通常、厚さ0 .5mm〜50mm程度のプラスチック板または金属板が用いられ、好ましくは厚さ1mm〜10mmのプラスチック板が用いられる。板状物品は透明板が好ましく、たとえば、アクリル板、ポリカーボネート板等が好ましく用いられる。
【0030】
図6では基板1端部の処理aが施された絶縁部4を剥離起点としてスムースに剥離を開始でき、板状物品12に沿わせて接着シート11を引き剥がしているため、剥離除去されるべき絶縁膜3上の金属膜5の様子を剥離除去の直後に明確に観察できる。剥離除去が不完全だった場合には、板状物品12を逆方向に戻すことにより接着シート11により、剥離不良を直ちに解消することができる。
【0031】
接着シート11の引き剥がし手段は特に制限されないが、図6のように、巻取りロール22により行うことができる。接着シート11の引き剥がし速度は、特に制限されないが、金属膜の剥離除去状況を確認しながら行うことができるように、1〜10mm/sec 程度とするのが好ましい。また、接着シート11を引き剥がす際には、板状物品12は接着シート11の引き剥がしとともに引き剥がし方向に移動するが、板状物品12を別途引き剥がし方向に引張ることもできる。
さらに、板状物品12には、前記引張りのための手段を設けることができる他、剥離除去が不完全だった場合に板状物品12を逆方向に戻す手段を設けることもできる。
【0032】
また、接着シート11を引き剥がす際には、板状物品12上から基板1を押さえ付け(図示せず)、引き剥がし方向に移動させながら行うことにより、より安定した金属膜の剥離除去を行うことができる。基板1の押さえ付けは、たとえば、シリコンロール等により行うことができる。
【0033】
また、図7に示すように、接着シート11を引き剥がす際に、基板1上の既に剥離された部分を、押さえ付けながら、接着シートの引き剥がし方向に移動させることもできる。かかる押さえ付けは、接着テープの引き剥がし時の応力が大きく、基板1が吸着ステージ21から外れるおそれがある場合に有効である。押さえ付けは前記同様の板状物品やロール状物品が押さえ付け物品23として用いられる。
【0034】
図8は、図5に示した接着シート11を貼り付けた基板1を、吸着ステージ21上に置き、接着シート11の端部を折り返して接着シート11上の板状物品12に貼付した後、板状物品12を折り返し方向に引張ることにより、接着シート11を板状物品12に沿わせながら引き剥がしている状態を表すものである。
【0035】
かかる態様によっても、剥離除去が不完全だった場合には、板状物品12を逆方向に戻すことにより、前記同様剥離不良を直ちに解消することができる。図8において、接着シート11の引き剥がしは板状物品12を引張ることにより行うが、板状物品12の引き剥がし速度は、前記接着シート11の引き剥がし速度と同様である。その他、図8には図示していないが、前記同様に接着シートを引き剥がしていない基板1に押さえ付け手段を施したり、基板1上の既に剥離された部分に押さえ付け物品23を設置することがでる。さらには、板状物品12には前記引張り手段、逆方向に戻す手段を設けることもできる。
【0036】
【実施例】
以下に、実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明はこれら実施例によって何等限定されるものではない。
【0037】
実施例1
半導体基板上(絶縁部と電極部の表面が形成されている)に設けた金属膜上に、金属膜に対する剥離力5N/10mm(剥離確度180度、剥離速度300mm/sec )の金属膜除去用接着シートを、金属膜表面と接着シートの間に気泡が入らないように貼り付けた(図5)。半導体基板上に貼り付けられた接着シート上に、厚さ5mmの透明アクリル板を載せ、前記基板を押さえ付けた。接着シートの端部を折り返し、板状物品を接着シート間に内持した状態で、折り返した接着シートを折り返し方向に速度5mm/sec で移動させ、接着シートを透明アクリル板に沿わせて剥離した(図6)。接着シートを引き剥がす際、一部で絶縁膜上の金属膜が剥離されてない個所が発見された。発見直後に透明アクリル板を逆方向に5mmだけ移動させ、接着シートが引き剥がされた直後の半導体基板へ再度、接着テープを貼り付けた後、再度、接着シートを引き剥がした。その結果、前記剥離除去されなかった金属膜は容易に剥離された。このようにして、半導体基板全体について接着シートを引き剥がしを行い、絶縁膜上の金属膜はすべて剥離除去され、完全なパターン形成が行われた。半導体基板上は接着シートの引き剥がし時に、吸着ステージ上で安定していた。
【0038】
比較例1
実施例1において、透明アクリル板の代わりにシリコンゴムロール(直径50mm)を用いたこと以外は実施例1と同様にして接着シートを引き剥がした。接着シートを引き剥がす際、接着テープを引き剥した直後に、絶縁膜上の金属膜が剥離されなかった個所を発見することはできなかった。このため、一旦、半導体基板全体について接着シートを引き剥がしを行ったあとで、再度、接着テープを貼り付けた後、再度、接着シートを引き剥がしを行うことにより、絶縁膜上の金属膜はすべて剥離除去され、完全なパターン形成が行われた。半導体基板上は接着シートの引き剥がし時に、吸着ステージ上で不安定であった。
【0039】
実施例2
半導体基板上(絶縁部と電極部の表面が形成されている)に設けた金属膜上に、金属膜に対する剥離力10N/10mm(剥離確度180度、剥離速度300mm/sec )の金属膜除去用接着シートを、金属膜表面と接着シートの間に気泡が入らないように貼り付けた(図5)。半導体基板上に貼り付けられた接着シート上に、厚さ5mmの透明アクリル板を載せ、前記基板を押さえ付けた。接着シートの端部を折り返し、板状物品を接着シート間に内持した状態で、折り返した接着シートを折り返し方向に速度5mm/sec で移動させ、接着シートをアクリル板に沿わせて剥離した。この際、透明アクリル板の移動に合わせて、剥離直後の半導体基板上をロールで押さえ付けながら移動させた(図7)。接着シートを引き剥がす際、一部で絶縁膜上の金属膜が剥離されてない個所が発見された。発見直後に透明アクリル板を逆方向に5mmだけ移動させ、接着シートが引き剥がされた直後の半導体基板へ再度、接着テープを貼り付けた後、再度、接着シートを引き剥がした。その結果、前記剥離除去されなかった金属膜は容易に剥離された。このようにして、半導体基板全体について接着シートを引き剥がしを行い、絶縁膜上の金属膜はすべて剥離除去され、完全なパターン形成が行われた。半導体基板上は接着シートの接着力が実施例1に比べて大きいに拘わらず、引き剥がし時に吸着ステージ上で安定していた。
【0040】
実施例3
半導体基板上(絶縁部と電極部の表面が形成されている)に設けた金属膜上に、金属膜に対する剥離力5N/10mm(剥離確度180度、剥離速度300mm/sec )の金属膜除去用接着シートを、金属膜表面と接着シートの間に気泡が入らないように貼り付けた(図5)。接着シートの端部を折り返して、厚さ5mmの透明アクリル板に貼付した後、前記基板を押さえ付けた。透明アクリル板を接着シートの折り返し方向に速度5mm/sec で移動させ、接着シートを透明アクリル板に沿わせて剥離した(図8)。接着シートを引き剥がす際、一部で絶縁膜上の金属膜が剥離されてない個所が発見された。発見直後に透明アクリル板を逆方向に5mmだけ移動させ、接着シートが引き剥がされた直後の半導体基板へ再度、接着テープを貼り付けた後、再度、接着シートを引き剥がした。その結果、前記剥離除去されなかった金属膜は容易に剥離された。このようにして、半導体基板全体について接着シートを引き剥がしを行い、絶縁膜上の金属膜はすべて剥離除去され、完全なパターン形成が行われた。半導体基板上は接着シートの引き剥がし時に、吸着ステージ上で安定していた。
【図面の簡単な説明】
【図1】絶縁部と電極部を有する基板の断面図である。
【図2】図1に処理aを施した場合の基板の断面図である。
【図3】図1の絶縁部と電極部の表面に金属膜が設けられたもの断面図である。
【図4】図3の絶縁膜上の金属膜を剥離除去したものの断面図である。
【図5】図3の金属膜に金属膜剥離除去用接着シートを貼り付けた状態の断面図である。
【図6】図5で金属膜に貼り付けた金属膜剥離除去用接着シートを剥離除去する工程の一態様である。
【図7】図6において、押さえロールを用いた場合の例である。
【図8】図5で金属膜に貼り付けた金属膜剥離除去用接着シートを剥離除去する工程の一態様である。
【符号の説明】
1 基板(半導体基板)
3 絶縁部
4 電極部
5 金属膜
11 接着シート
12 板状物品
23 押さえロール[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for forming a metal electrode pattern. In particular, the present invention relates to a method for forming a metal electrode pattern when manufacturing semiconductor devices such as diodes, transistors, and LSIs. More specifically, the present invention relates to a technique for arranging a metal film (UBM; under bump metal) in a bump formation region in a semiconductor device manufacturing process.
[0002]
[Prior art]
A semiconductor device having a metal electrode such as an aluminum electrode is known. Bumps are formed on the aluminum electrode by solder or the like, but the solder and the aluminum electrode have poor wettability. Therefore, an electrode pattern of a metal film having good wettability with solder or the like is further formed on the aluminum electrode.
[0003]
The formation of the metal electrode pattern in the manufacture of a semiconductor device is generally performed by a pattern formation method in photolithography. However, the above-described pattern formation by photolithography has a problem that the process cost of equipment and the like in photolithography and etching processes is very high, and the waste liquid treatment such as an etching solution is troublesome and the working environment is deteriorated.
[0004]
Recently, as a method of forming the metal electrode pattern, a metal film having good wettability is provided on the surface of the insulating portion and the electrode portion formed on the semiconductor substrate, and the insulating portion and the electrode portion are bonded to the metal film. A method for forming a pattern by peeling and removing only the metal film on the insulating portion with an adhesive sheet using a difference in properties has been proposed (Japanese Patent Laid-Open No. 10-64912).
[0005]
This method of forming a pattern by peeling off the metal film is performed by peeling off the adhesive sheet on the semiconductor substrate placed on the suction stage. In addition, the adhesive sheet is peeled off smoothly, and the adhesive sheet affixed to the semiconductor substrate is pressed by a roll-shaped article so that the semiconductor substrate does not come off the adsorption stage due to the peeling force. And a method of peeling the adhesive sheet along the roll-shaped article.
[0006]
However, if the adhesive sheet is peeled off along the roll-shaped article, the surface of the semiconductor substrate immediately after peeling is covered with the roll-shaped article and cannot be seen. Therefore, when the metal film pattern formed by peeling off the adhesive sheet is not perfect, the adhesive sheet is pasted again on the entire semiconductor substrate, and then the same operation of peeling is performed to remove and remove the first time. It was necessary to peel and remove the remaining metal film portion. If such an operation is repeated, there is a problem that the processing capacity (throughput) per hour is lowered and the cost of the adhesive sheet is also increased. Moreover, in a roll-shaped article, pressing of the adhesive sheet is insufficient, and there is a possibility that peeling and removing of the metal film portion will be uneven.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
Therefore, the present invention attaches an adhesive sheet for removing the metal film to the metal film provided on the surface of the insulating part and the electrode part formed on the substrate, and then peels off the adhesive sheet to remove the surface of the insulating part. To provide a method of forming a metal electrode pattern that can efficiently remove and remove the metal film with an adhesive sheet in a method of forming a metal electrode pattern on an electrode portion on a substrate by peeling and removing the metal film. Objective.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
As a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, the present inventors have found that the above-mentioned problem is caused by peeling the adhesive sheet along with the plate-like article instead of the roll-like article when peeling the adhesive sheet. The point has been solved, and it has been found that the metal electrode pattern is formed with good results, and the present invention has been completed.
[0009]
That is, according to the present invention, after attaching an adhesive sheet for removing the metal film to the metal film provided on the surfaces of the insulating part and the electrode part formed on the substrate, the adhesive sheet is peeled off to remove the surface of the insulating part. In a method of forming a metal electrode pattern on an electrode part on a substrate by peeling and removing a metal film, when peeling off the adhesive sheet, the adhesive sheet is peeled off along a plate-like article which is a transparent plate. The metal electrode pattern formation method characterized by these.
[0010]
When the adhesive sheet is peeled off along the plate-shaped article, the state on the substrate immediately after the adhesive sheet is peeled off is easily and clearly observed and discriminated immediately after the adhesive sheet is separated from the metal film. it can. For this reason, if the removal of the metal film on the insulating film to be peeled is incomplete, when it is confirmed, the plate-shaped article is returned slightly in the direction opposite to the peeling direction, and immediately incomplete. It was possible to eliminate the metal film peeling failure. By using such a method of the present invention, even when the peeling removal of the metal film is incomplete, it is not necessary to repeat the same operation from the beginning again, and the adhesive sheet can be used while following the roll-shaped article. The working efficiency can be remarkably improved as compared with the case of peeling. Further, according to this method, the adhesive sheet is peeled off along the plate-like article, so that the force applied to the adhesive sheet when peeling off can be made uniform. Therefore, the metal film can be peeled and removed more stably.
[0011]
The metal electrode pattern forming method is particularly useful when a semiconductor substrate is used as the substrate.
[0012]
In the metal electrode pattern forming method, the plate-like article is installed on the adhesive sheet, the end of the adhesive sheet is folded, and the folded adhesive sheet is folded in the folded direction with the plate-like article held between the adhesive sheets. It is a preferable embodiment that the adhesive sheet is peeled off while being stretched along the plate-like article.
[0013]
Further, in the metal electrode pattern forming method, after the end of the adhesive sheet is folded and attached to the plate-like article on the adhesive sheet, the plate-like article is pulled in the folding direction, so that the adhesive sheet is aligned with the plate-like article. It is a preferable embodiment to peel it off.
[0015]
When the transparent plate is used, the adhesive sheet can be peeled off while confirming the metal film that has not been peeled and removed in the peeling direction, and the metal film can be peeled and removed reliably.
[0016]
Moreover, in the said metal electrode pattern formation method, when peeling an adhesive sheet, it is preferable to move to the peeling direction of an adhesive sheet, pressing down the already peeled part on a board | substrate.
[0017]
If there is a risk that the substrate will be detached from the suction stage when the adhesive sheet is peeled off, the substrate will be detached from the suction stage when the adhesive sheet is peeled off by pressing the peeled-off portion of the substrate. Or problems such as breakage of the substrate can be prevented.
[0018]
In the metal electrode pattern forming method, at least a part of the surface of the insulating portion formed at the end portion on the substrate is treated so as to be easily peeled off from the metal film, and the end portion is used as a peeling start point. It is preferable to peel off the adhesive sheet.
[0019]
When the adhesive sheet is peeled off, peeling can be reliably and easily generated by forming a peeling starting point on the substrate in advance.
[0020]
The peeling start point can be performed, for example, by forming a material that can be easily peeled off from the metal film on at least a part of the surface of the insulating part formed at the end on the substrate.
[0021]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The metal electrode pattern forming method of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a cross-sectional view of a
[0022]
Although various substrates can be used as the
[0023]
In addition, as shown in FIG. 2, at least a part of the surface of the
[0024]
FIG. 3 is a cross-sectional view of the
[0025]
The
[0026]
As shown in FIG. 5, the metal electrode pattern forming method of the present invention includes a
[0027]
As the
[0028]
6, the
[0029]
Although it does not specifically limit as the plate-shaped
[0030]
In FIG. 6, the peeling can be smoothly started with the insulating
[0031]
The means for peeling off the
Further, the plate-
[0032]
Further, when the
[0033]
Further, as shown in FIG. 7, when the
[0034]
8, after the
[0035]
Even in such an embodiment, when the peeling and removal are incomplete, the peeling defect can be immediately eliminated by returning the plate-
[0036]
【Example】
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
[0037]
Example 1
For removing a metal film having a peeling force of 5 N / 10 mm (peeling accuracy 180 degrees, peeling rate 300 mm / sec) on the metal film on the metal film provided on the semiconductor substrate (the surfaces of the insulating part and the electrode part are formed). The adhesive sheet was affixed so that air bubbles would not enter between the metal film surface and the adhesive sheet (FIG. 5). On the adhesive sheet affixed on the semiconductor substrate, a transparent acrylic plate having a thickness of 5 mm was placed, and the substrate was pressed. The edge of the adhesive sheet is folded back, and the folded adhesive sheet is moved at a speed of 5 mm / sec in the folding direction with the plate-shaped article held between the adhesive sheets, and the adhesive sheet is peeled off along the transparent acrylic plate. (FIG. 6). When the adhesive sheet was peeled off, a part where the metal film on the insulating film was not peeled was found. Immediately after the discovery, the transparent acrylic plate was moved in the reverse direction by 5 mm, the adhesive tape was again applied to the semiconductor substrate immediately after the adhesive sheet was peeled off, and then the adhesive sheet was peeled off again. As a result, the metal film that was not peeled and removed was easily peeled off. In this way, the adhesive sheet was peeled off from the entire semiconductor substrate, and the metal film on the insulating film was all peeled and removed, and a complete pattern was formed. The semiconductor substrate was stable on the suction stage when the adhesive sheet was peeled off.
[0038]
Comparative Example 1
In Example 1, the adhesive sheet was peeled off in the same manner as in Example 1 except that a silicon rubber roll (diameter 50 mm) was used instead of the transparent acrylic plate. When the adhesive sheet was peeled off, it was not possible to find a place where the metal film on the insulating film was not peeled off immediately after the adhesive tape was peeled off. For this reason, once the adhesive sheet is peeled off for the entire semiconductor substrate, the adhesive film is pasted again, and then the adhesive sheet is peeled off again so that the metal film on the insulating film is completely removed. The film was peeled off and a complete pattern was formed. The semiconductor substrate was unstable on the suction stage when the adhesive sheet was peeled off.
[0039]
Example 2
For removing a metal film having a peeling force of 10 N / 10 mm (a peeling accuracy of 180 degrees and a peeling speed of 300 mm / sec) with respect to the metal film on a metal film provided on the semiconductor substrate (the surfaces of the insulating part and the electrode part are formed). The adhesive sheet was affixed so that air bubbles would not enter between the metal film surface and the adhesive sheet (FIG. 5). On the adhesive sheet affixed on the semiconductor substrate, a transparent acrylic plate having a thickness of 5 mm was placed, and the substrate was pressed. The edge of the adhesive sheet was folded, and the folded adhesive sheet was moved at a speed of 5 mm / sec in the folding direction with the plate-shaped article held between the adhesive sheets, and the adhesive sheet was peeled along the acrylic plate. At this time, in accordance with the movement of the transparent acrylic plate, the semiconductor substrate immediately after peeling was moved while being pressed with a roll (FIG. 7). When the adhesive sheet was peeled off, a part where the metal film on the insulating film was not peeled was found. Immediately after the discovery, the transparent acrylic plate was moved in the reverse direction by 5 mm, the adhesive tape was again applied to the semiconductor substrate immediately after the adhesive sheet was peeled off, and then the adhesive sheet was peeled off again. As a result, the metal film that was not peeled and removed was easily peeled off. In this way, the adhesive sheet was peeled off from the entire semiconductor substrate, and the metal film on the insulating film was all peeled and removed, and a complete pattern was formed. Although the adhesive strength of the adhesive sheet was larger than that of Example 1 on the semiconductor substrate, it was stable on the suction stage at the time of peeling.
[0040]
Example 3
For removing a metal film having a peeling force of 5 N / 10 mm (peeling accuracy 180 degrees, peeling rate 300 mm / sec) on the metal film on the metal film provided on the semiconductor substrate (the surfaces of the insulating part and the electrode part are formed). The adhesive sheet was affixed so that air bubbles would not enter between the metal film surface and the adhesive sheet (FIG. 5). The end portion of the adhesive sheet was folded and pasted on a transparent acrylic plate having a thickness of 5 mm, and then the substrate was pressed. The transparent acrylic plate was moved at a speed of 5 mm / sec in the direction of folding the adhesive sheet, and the adhesive sheet was peeled along the transparent acrylic plate (FIG. 8). When the adhesive sheet was peeled off, a part where the metal film on the insulating film was not peeled was found. Immediately after the discovery, the transparent acrylic plate was moved in the reverse direction by 5 mm, the adhesive tape was again applied to the semiconductor substrate immediately after the adhesive sheet was peeled off, and then the adhesive sheet was peeled off again. As a result, the metal film that was not peeled and removed was easily peeled off. In this way, the adhesive sheet was peeled off from the entire semiconductor substrate, and the metal film on the insulating film was all peeled and removed, and a complete pattern was formed. The semiconductor substrate was stable on the suction stage when the adhesive sheet was peeled off.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a substrate having an insulating portion and an electrode portion.
FIG. 2 is a cross-sectional view of a substrate when processing a is performed in FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view in which a metal film is provided on the surfaces of the insulating portion and the electrode portion in FIG. 1;
4 is a cross-sectional view of the metal film on the insulating film of FIG.
5 is a cross-sectional view of a state in which a metal film peeling and removing adhesive sheet is attached to the metal film of FIG.
6 is an embodiment of a process of peeling and removing the metal film peeling and removing adhesive sheet attached to the metal film in FIG. 5. FIG.
FIG. 7 shows an example in which a pressing roll is used in FIG.
8 is an embodiment of a process of peeling and removing the metal film peeling and removing adhesive sheet attached to the metal film in FIG. 5. FIG.
[Explanation of symbols]
1 Substrate (semiconductor substrate)
3 Insulating
Claims (7)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001045962A JP4578698B2 (en) | 2001-02-22 | 2001-02-22 | Metal electrode pattern forming method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001045962A JP4578698B2 (en) | 2001-02-22 | 2001-02-22 | Metal electrode pattern forming method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002252183A JP2002252183A (en) | 2002-09-06 |
| JP4578698B2 true JP4578698B2 (en) | 2010-11-10 |
Family
ID=18907667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001045962A Expired - Fee Related JP4578698B2 (en) | 2001-02-22 | 2001-02-22 | Metal electrode pattern forming method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4578698B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI738568B (en) * | 2020-11-18 | 2021-09-01 | 汎銓科技股份有限公司 | A method of preparing a semiconductor specimen for failure analysis |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6393641U (en) * | 1986-12-05 | 1988-06-17 | ||
| JPH1064912A (en) * | 1996-08-20 | 1998-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for manufacturing semiconductor device |
| JP3504543B2 (en) * | 1999-03-03 | 2004-03-08 | 株式会社日立製作所 | Semiconductor device separation method and device, and semiconductor device mounting method |
| JP4788017B2 (en) * | 1999-05-17 | 2011-10-05 | 株式会社デンソー | Film forming method and electrode or wiring forming method |
-
2001
- 2001-02-22 JP JP2001045962A patent/JP4578698B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2002252183A (en) | 2002-09-06 |
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