JP4581099B2 - Surface acoustic wave device - Google Patents
Surface acoustic wave device Download PDFInfo
- Publication number
- JP4581099B2 JP4581099B2 JP2007513554A JP2007513554A JP4581099B2 JP 4581099 B2 JP4581099 B2 JP 4581099B2 JP 2007513554 A JP2007513554 A JP 2007513554A JP 2007513554 A JP2007513554 A JP 2007513554A JP 4581099 B2 JP4581099 B2 JP 4581099B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surface acoustic
- acoustic wave
- wave device
- electrodes
- pair
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 title claims description 52
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims description 31
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 claims description 2
- 229920000052 poly(p-xylylene) Polymers 0.000 claims description 2
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 21
- 230000004044 response Effects 0.000 description 11
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 3
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02992—Details of bus bars, contact pads or other electrical connections for finger electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/125—Driving means, e.g. electrodes, coils
- H03H9/145—Driving means, e.g. electrodes, coils for networks using surface acoustic waves
- H03H9/14517—Means for weighting
- H03H9/14529—Distributed tap
- H03H9/14532—Series weighting; Transverse weighting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
本発明は、弾性表面波装置に関する。 The present invention relates to a surface acoustic wave device.
現在の通信システムでは、限られた周波数資源の中で高信頼性かつ高速な情報伝達を実現するために高選択性フィルタの利用を前提としており、このような用途に対して弾性表面波装置が多く利用されており、いまや通信機器の性能を支配する必要不可欠なものとなっているといっても過言ではない。 The current communication system is premised on the use of a highly selective filter in order to realize high-reliability and high-speed information transmission in a limited frequency resource. It is no exaggeration to say that it is used in large numbers and is now indispensable to dominate the performance of communication equipment.
一般的に弾性表面波装置は、一対の反射器と、この一対の反射器の間に配置されるすだれ変換子が圧電基板上に形成されたものであり、このすだれ変換子によって弾性表面波(Surface Acoustic Wave、以下「SAW」という。)を励起し、このSAWを一対の反射器の間で反射させて所望の周波数の共振波を発生させることができる。なおこの共振波は、圧電基板表面に対し平行な方向に発生するSAWである(Shear Horizontal型のSAW、以下「SH型SAW」という。)。 In general, a surface acoustic wave device has a pair of reflectors and an interdigital transducer disposed between the pair of reflectors formed on a piezoelectric substrate. A surface acoustic wave (hereinafter referred to as “SAW”) is excited, and the SAW is reflected between a pair of reflectors to generate a resonance wave having a desired frequency. This resonance wave is SAW generated in a direction parallel to the surface of the piezoelectric substrate (Shear Horizontal type SAW, hereinafter referred to as “SH type SAW”).
しかし、このような弾性表面波装置では所望の周波数の共振波を発生させることができるが、不要な応答がその特性を阻害してしまう場合がある。この不要な応答として、レーリー型のSAW(以下「レーリー型SAW」という。)がある。レーリー型のSAWとは、圧電基板表面に対し垂直な方向に発生、振動するSAWである。 However, such a surface acoustic wave device can generate a resonance wave having a desired frequency, but an unnecessary response may impede its characteristics. As this unnecessary response, there is a Rayleigh type SAW (hereinafter referred to as “Rayleigh type SAW”). A Rayleigh-type SAW is a SAW that is generated and vibrates in a direction perpendicular to the surface of the piezoelectric substrate.
レーリー型のSAWについては、圧電基板を切り出す際の向き、圧電基板上に形成する電極の厚さ等を適切に選択することで不要応答を抑圧することができる場合もある。しかしながら、フィルタ特性のために様々な共振周波数の弾性表面共振子を配置する場合、これらだけでは同時にレーリー型SAWを抑制することは困難である。また、弾性表面波装置の性能は利用する基板によって支配されるため、レーリー型SAWの抑制を目的のみで切り出す向きを決定してしまうと、SH型SAWに対して得られる性能が低下してしまうといった問題も生じさせてしまう場合がある。 In the case of a Rayleigh-type SAW, unnecessary responses may be suppressed by appropriately selecting the orientation when cutting out the piezoelectric substrate, the thickness of the electrode formed on the piezoelectric substrate, and the like. However, when the surface acoustic resonators having various resonance frequencies are arranged for the filter characteristics, it is difficult to suppress the Rayleigh type SAW at the same time only with these. In addition, since the performance of the surface acoustic wave device is governed by the substrate to be used, if the direction of cutting out only for the purpose of suppressing the Rayleigh SAW is determined, the performance obtained for the SH SAW is reduced. May also cause problems.
そこで、本発明は、上記課題を解決し、SH型SAWに対する影響を抑える一方、レーリー型SAWを効率よく抑制する弾性表面波装置を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a surface acoustic wave device that solves the above problems and suppresses the influence on the SH type SAW while efficiently suppressing the Rayleigh type SAW.
本発明者らは、上記課題について鋭意検討を行ったところ、弾性表面共振子の上に有機層を配置することでレーリー型SAWを抑制することができることに想到して本発明を完成するに至った。 As a result of intensive studies on the above problems, the present inventors have conceived that Rayleigh-type SAW can be suppressed by disposing an organic layer on an elastic surface resonator, and the present invention has been completed. It was.
すなわち、課題を解決する一手段としての弾性表面波装置は、複数の線状電極を有する一対の反射器と、一対の反射器の間に配置され、一対の共通電極とこの一対の共通電極のそれぞれに接続される複数の交差電極を有するすだれ変換子と、一対の反射器及びすだれ変換子の少なくともいずれかの上に配置される有機層と、を有することを特徴とする。 That is, a surface acoustic wave device as one means for solving the problem is arranged between a pair of reflectors having a plurality of linear electrodes and a pair of reflectors, and the pair of common electrodes and the pair of common electrodes. An interdigital transducer having a plurality of crossing electrodes connected to each other and an organic layer disposed on at least one of a pair of reflectors and interdigital transducers are provided.
またこの手段において、有機層の厚さはすだれ変換子の交差電極間の距離の半分以下であることが望ましく、また有機層の粘性は、0より大きく40cp以下の範囲にあることも望ましい。 In this means, the thickness of the organic layer is preferably less than half of the distance between the crossing electrodes of the interdigital transducer, and the viscosity of the organic layer is preferably in the range of more than 0 and not more than 40 cp.
また、上記課題を解決する他の手段としての弾性表面波装置は、複数の線状電極を有する一対の反射器と、この一対の反射器の間に配置され、一対の共通電極とこの一対の共通電極のそれぞれに接続される複数の交差電極を有するすだれ変換子と、反射器における複数の線状電極の間及びすだれ変換子における複数の交差電極の間に形成される無機層と、一対の反射器、すだれ変換子及び無機層の上に形成される有機層と、を有することを特徴とする。 In addition, a surface acoustic wave device as another means for solving the above-described problem includes a pair of reflectors having a plurality of linear electrodes and a pair of common electrodes and the pair of common electrodes disposed between the pair of reflectors. An interdigital transducer having a plurality of crossing electrodes connected to each of the common electrodes, an inorganic layer formed between the plurality of linear electrodes in the reflector and between the multiple crossing electrodes in the interdigital transducer, and a pair of And an organic layer formed on the reflector, the interdigital transducer and the inorganic layer.
またこの手段において有機層の厚さは、すだれ変換子の交差電極間の距離の半分以下であることが望ましく、また、有機層の粘性は、0より大きく40cp以下の範囲にあることも望ましい。 In this means, the thickness of the organic layer is preferably less than half of the distance between the crossing electrodes of the interdigital transducer, and the viscosity of the organic layer is preferably in the range of more than 0 and not more than 40 cp.
以上、本発明により、SH型SAWに対する影響を抑える一方、レーリー型SAWを効率よく抑制する弾性表面波装置を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a surface acoustic wave device that suppresses the influence on the SH type SAW while efficiently suppressing the Rayleigh type SAW.
以下、本発明の実施形態について図面を参照しつつ説明する。ただし、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、以下に示す実施形態に限定されるものではない。なお、本明細書においては同一又は同様の機能を有する部分には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, the present invention can be implemented in many different modes and is not limited to the embodiments shown below. Note that in this specification, portions having the same or similar functions are denoted by the same reference numerals, and repeated description thereof is omitted.
(実施形態1)
図1は、本実施形態に係る弾性表面波装置(以下「本弾性表面波装置」)1の上面図であり、図2は図1における弾性表面波装置のA−A線断面図である。(Embodiment 1)
FIG. 1 is a top view of a surface acoustic wave device (hereinafter referred to as “the present surface acoustic wave device”) 1 according to the present embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view of the surface acoustic wave device taken along line AA in FIG.
図1に示すとおり、本弾性表面波装置1は、圧電基板2上に一対の反射器3、この一対の反射器3の間に配置されるすだれ変換子(以下「IDT」という。)4を有し、さらに、図2で示されるとおり、反射器3及びIDT4の上に有機層5を有している。本弾性表面波装置1は、IDT4に電圧を印加して弾性表面波(以下「SAW」という。)を発生させ、一対の反射器3でこれら発生するSAWを反射させることで特定の周波数の波を共振波として取り出すことができる。
As shown in FIG. 1, the surface
本弾性表面波装置1における圧電基板2は、弾性表面波を発生させることができる限りにおいて特段限定されるわけではないが、圧電性が大きく温度安定性が良好な材料が好ましく、例えばLiNbO3基板、LiTaO基板等を好適に用いることができる。The piezoelectric substrate 2 in the surface
IDT4は、それぞれ複数の交差電極41が櫛歯状に接続された一対の共通電極42を有しており、これら一対の共通電極42は、接続される複数の交差電極41が他方の共通電極42の交差電極とかみ合うように配置されている。なお、隣り合う交差電極41同士の距離(電極の中心線間の距離をいい、以下「電極間距離」ともいう。図1中のd参照)がこの弾性表面波共振子から取り出される共振波の半波長に相当し、この距離は適宜調整が可能であって限定されるわけではないが、概ね0.5μm〜100μmが望ましい。またIDT4の共通電極には、対向する共通電極の交差電極41に向かい合うようにダミー電極43が形成されている。 The IDT 4 has a pair of common electrodes 42 each having a plurality of cross electrodes 41 connected in a comb-like shape. The pair of common electrodes 42 is connected to the other common electrode 42. Are arranged so as to mesh with each other. Note that the distance between adjacent crossing electrodes 41 (referred to as the distance between the center lines of the electrodes, hereinafter also referred to as “interelectrode distance”, see d in FIG. 1) is the resonance wave extracted from the surface acoustic wave resonator. This distance corresponds to a half wavelength, and this distance can be appropriately adjusted and is not limited, but it is preferably approximately 0.5 μm to 100 μm. Further, a dummy electrode 43 is formed on the common electrode of the IDT 4 so as to face the cross electrode 41 of the opposite common electrode.
一対の反射器3は、二つの反射器3が圧電基板上で対をなすように形成されており、各反射器3の構造は図1に示すとおりであって、略平行に配置された複数の線状電極31とこれら線状電極31を共通に接続する共通電極32を有しており、矩形状に形成されている。なお、これら複数の線状電極31は、他方の反射器3における複数の線状電極31とも略平行に配置されている。 The pair of reflectors 3 are formed such that two reflectors 3 form a pair on a piezoelectric substrate, and the structure of each reflector 3 is as shown in FIG. The linear electrode 31 and the common electrode 32 that commonly connects the linear electrodes 31 are formed in a rectangular shape. The plurality of linear electrodes 31 are also arranged substantially parallel to the plurality of linear electrodes 31 in the other reflector 3.
一対の反射器3及びIDT4は上記のとおり圧電基板2上に形成されるものであって、導電性の材質によって形成される。この導電性の材質としては特に制限なく様々採用することができ、例えばAl、Cu等の金属又はこれらの合金等を好適に用いることができる。一対の反射器3及びIDT4は、材料となる導電性の材質からなる薄膜を圧電基板2上に形成した後フォトリソグラフィーやエッチング等周知の方法を用いて作成できる。 The pair of reflectors 3 and IDT 4 are formed on the piezoelectric substrate 2 as described above, and are formed of a conductive material. There are no particular limitations on the conductive material, and for example, a metal such as Al or Cu or an alloy thereof can be suitably used. The pair of reflectors 3 and IDT 4 can be formed using a known method such as photolithography or etching after a thin film made of a conductive material is formed on the piezoelectric substrate 2.
また本弾性表面波装置は、図2で示すとおり、反射器3及びIDT4を覆う有機物を含む有機層5を有しており、これにより本弾性表面波装置はSH型SAWへの影響を抑えつつレーリー型SAWを抑制することができる。より具体的に説明すると、有機層5に含まれる有機物は一般に粘弾性を有するため、この粘弾性により圧電基板2の表面に対して垂直な方向の不要なSAWを減衰させることができる。一方、SH型SAWはレーリー型SAWに比べて表面の汚染の影響を受けにくく、有機層5を配置していても大きく減衰させられることはない。
In addition, as shown in FIG. 2, the surface acoustic wave device has an
有機層5としては、粘弾性を有することが必要である限り特段に制限はなく、例えばポリアミド、パリレン、レジスト材等を好適に用いることができる。有機層5の厚さの望ましい範囲としては、レーリー型SAWを減衰できる程度あれば特段に制限はないが、0より厚く電極間距離の1/2以下であることが望ましく、より望ましくは0より大きく1/4以下であり、さらに望ましくは1/8以下である。1/2より厚いとレーリー型SAWだけでなくSH型SAWをも減衰させてしまう虞がある。
The
また、有機層5の粘性の望ましい範囲は、有機層5の厚さにも依存するが、例えば0より大きく40cP以下の範囲内にあることが望ましく、より望ましくは20cP以下である。粘性が40cPよりも高い場合はやはりSH型SAWが必要以上に大きく減衰してしまう虞があるためである。
Moreover, although the desirable range of the viscosity of the
なお、有機層5の形成は、反射器3、IDT4上に均一に形成することができる限りにおいて種々の公知な方法を用いることができ、例えばスピンコート等をあげることができる。
The
以上のとおり、本弾性表面波装置によると、反射器3及びIDT4の上に粘弾性を有する有機層5を配置することで基板水平方向に進行するSH型SAWに対する影響を抑えることができる一方、基板垂直方向に発生するレーリー型SAWを効率よく抑制することができるようになる。
As described above, according to the surface acoustic wave device, the
(実施例)
ここで上記実施形態1に係る弾性表面波装置を実際に作成して効果を確認した。以下に示す。(Example)
Here, the surface acoustic wave device according to Embodiment 1 was actually created and the effect was confirmed. It is shown below.
本実施例に係る弾性表面波装置は、圧電基板としてLiNbO3を用い、反射器3及びIDT4には銅を用いた。また、この例において電極間距離は2μmとした。そして更に、スピンコートを用いてレジスト材(ZEP520、日本ゼオン株式会社製)からなる有機層5を0.2μm形成した。In the surface acoustic wave device according to this example, LiNbO 3 was used as the piezoelectric substrate, and copper was used for the reflector 3 and the IDT 4. In this example, the distance between the electrodes was 2 μm. Further, 0.2 μm of an
この弾性表面波装置を作成後、IDT4の一対の交差電極間に5dBm、0.5GHz〜1.5GHzの交流電圧を印加し、共振波の特性を評価した。この結果を図3に示す。なお、図4に、有機層5を形成していない以外はほぼ本実施例の弾性表面波装置と同じ構成の弾性表面波装置(比較例)について行った特性評価の結果を示す。
After creating this surface acoustic wave device, an AC voltage of 5 dBm and 0.5 GHz to 1.5 GHz was applied between a pair of crossing electrodes of IDT 4 to evaluate the characteristics of the resonant wave. The result is shown in FIG. FIG. 4 shows the results of characteristic evaluation performed on a surface acoustic wave device (comparative example) having substantially the same configuration as the surface acoustic wave device of the present example except that the
図3に示すとおり本弾性表面波装置は、図4における920MHz付近と1120MHz付近に観測されるレーリー型SAWによる非常に鋭いディップを抑制することができていることを確認した。なお、本弾性表面波装置は、有機層5による影響により25MHz程周波数特性全体が移動しているが、周波数帯域幅や損失に殆ど変化はなかった。この周波数低下については電極周期や膜圧の調節により補正を行うことができる。
As shown in FIG. 3, it was confirmed that the surface acoustic wave device was able to suppress very sharp dip due to Rayleigh-type SAW observed in the vicinity of 920 MHz and 1120 MHz in FIG. In the surface acoustic wave device, the entire frequency characteristic is shifted by about 25 MHz due to the influence of the
(実施形態2)
本実施形態は、ほぼ実施形態1と同様であるが、有機層5の構成が異なる。具体的には、反射器3の線状電極間、IDT4における交差電極41間に無機物からなる無機層6を配置し、その上に有機層5を配置している点が異なる。図5に本実施形態に係る弾性表面波装置(以下「本弾性表面波装置」という。)の断面図を示す(本弾性表面波装置の上面図はほぼ図1と同様であり、省略する。)。(Embodiment 2)
This embodiment is substantially the same as
本弾性表面波装置では、反射器3及びIDT4の上部に有機層5を配置して圧電基板に垂直な方向に発生するレーリー型SAWを抑制することができる一方で、反射器3の線状電極間、IDT4における交差電極間に無機層6を配置し、SH型SAWの減衰を抑えることができ、実施形態1よりも更に効果を高めることができる。なお、本弾性表面波装置では線状電極間等に無機層6を設けているため、線状電極等と圧電基板との段差を解消し、有機層5の厚さ制御の精度を向上させることができるという利点もある。
In the surface acoustic wave device, the Rayleigh type SAW generated in the direction perpendicular to the piezoelectric substrate can be suppressed by arranging the
なお、本実施形態に用いる無機層6としては、有機物の混入を抑え、SH型SAWの減衰を抑えることができる限りにおいて特段に制限されるものではないが、例えばSiN、SiO2等の無機絶縁膜などを好適に用いることができ、また、これら無機層はスパッタリングやCVD等の種々の方法で形成できる。As the inorganic layer 6 used in the present embodiment, to suppress the contamination of organic substances, but are not limited to particular as long as it is possible to suppress the attenuation of the SH type SAW, for example SiN, inorganic insulating such as SiO 2 A film or the like can be preferably used, and these inorganic layers can be formed by various methods such as sputtering and CVD.
(実施形態3)
本実施形態は、ほぼ実施形態1と同様であるが、有機層5の構成が異なる。具体的には、反射器3、IDT4の上部のみに有機層5を配置している点が異なる。図6に本実施形態に係る弾性表面波装置(以下「本弾性表面波装置」という。)の断面図を示す(本弾性表面波装置の上面図はほぼ図1と同様であり、省略する。)。(Embodiment 3)
This embodiment is substantially the same as
本弾性表面波装置では、反射器3の線状電極、IDT4の交差電極の上にのみ有機層5を設けているため、レーリー型SAWを効率よく減衰することができるとともにSH型SAWの減衰を抑制することができ、より効率のよい弾性表面波装置を提供することができる。
In the surface acoustic wave device, since the
(実施形態4)
本実施形態は、ほぼ実施形態1と同様であるが、IDT4の構成が異なる。図7に本実施形態に係る弾性表面波装置の上面図を示す(断面図については図2と同様である。)。具体的に説明すると、本弾性表面波装置におけるIDT4は複数の交差電極41が櫛歯状となるよう接続された一対の共通電極42を有しており、これら一対の共通電極42は、接続される複数の交差電極41が他方の共通電極42の交差電極とかみ合うように配置されている。またIDT4の共通電極には、対向する共通電極の交差電極41に向かい合うように形成されたダミー電極43が形成されている。そして更に、IDT4のダミー電極43の長さは、隣に配置されるダミー電極の長さと異なっている。(Embodiment 4)
The present embodiment is almost the same as the first embodiment, but the configuration of the IDT 4 is different. FIG. 7 shows a top view of the surface acoustic wave device according to this embodiment (the sectional view is the same as FIG. 2). More specifically, the IDT 4 in the surface acoustic wave device has a pair of common electrodes 42 to which a plurality of cross electrodes 41 are connected in a comb shape, and the pair of common electrodes 42 are connected. The plurality of cross electrodes 41 are arranged so as to mesh with the cross electrodes of the other common electrode 42. In addition, a dummy electrode 43 is formed on the common electrode of the IDT 4 so as to face the cross electrode 41 of the opposite common electrode. Furthermore, the length of the dummy electrode 43 of the IDT 4 is different from the length of the dummy electrode arranged next to it.
本実施形態は、このようにダミー電極43の長さを異ならせることにより、いわゆる横モードの共振による不要応答を抑えることができるようになる(例えば図4において890Hz〜1120Hzの範囲に現れる不要応答を抑えることができるようになる。)。特に、本実施形態に係る有機層5は、基板垂直方向の不要応答と水平方向の不要応答とを独立して抑制することが可能となるため、様々な不要応答手段とを同時に用いることが可能となる。したがって、より不要応答を抑制することができる弾性表面波装置とすることができるようになる。
In this embodiment, by making the lengths of the dummy electrodes 43 different in this way, it becomes possible to suppress unnecessary responses due to so-called transverse mode resonance (for example, unnecessary responses appearing in the range of 890 Hz to 1120 Hz in FIG. 4). Can be suppressed.) In particular, since the
なお、本実施形態の弾性表面波装置を用いて実施例1と同様の方法にて形成し、同様の測定を行った場合の結果を図8に示す。図8によると、上記実施例1の場合と同様に、920MHz付近と1120MHz(点線)の不要応答を抑えることができるとともに、横モードの不要応答も抑えることができることが確認できた。 FIG. 8 shows the result when the surface acoustic wave device according to this embodiment is formed by the same method as in Example 1 and the same measurement is performed. According to FIG. 8, it was confirmed that unnecessary responses in the vicinity of 920 MHz and 1120 MHz (dotted line) can be suppressed and unnecessary responses in the lateral mode can be suppressed as in the case of the first embodiment.
以上、本弾性表面波装置により、SH型SAWに対する影響を抑えつつも、レーリー型SAWを効率よく抑制することを確認した。 As described above, it was confirmed that the surface acoustic wave device efficiently suppresses the Rayleigh-type SAW while suppressing the influence on the SH-type SAW.
1…弾性表面波装置、2…圧電基板、3…反射器、4…すだれ変換子、5…有機層、6…無機層、31…線状電極、41…交差電極、42…共通電極、43…ダミー電極
DESCRIPTION OF
Claims (1)
該一対の反射器の間に配置され、一対の共通電極とこの一対の共通電極のそれぞれに接続される複数の交差電極を有するすだれ変換子と、
前記反射器における前記複数の線状電極の間及び前記すだれ変換子における前記複数の交差電極の間に形成される無機層と、
前記一対の反射器、前記すだれ変換子及び前記無機層の上に配置され、ポリアミド、パリレン、レジスト材の少なくともいずれかである有機層と、を有し、かつ、
前記有機層の厚さは、前記すだれ変換子の交差電極間の距離の半分以下である弾性表面波装置。A pair of reflectors having a plurality of linear electrodes;
An interdigital transducer having a plurality of crossing electrodes disposed between the pair of reflectors and connected to each of the pair of common electrodes and the pair of common electrodes;
An inorganic layer formed between the plurality of linear electrodes in the reflector and between the plurality of crossing electrodes in the interdigital transducer;
An organic layer that is disposed on the pair of reflectors, the interdigital transducer and the inorganic layer, and is at least one of polyamide, parylene, and a resist material , and
A surface acoustic wave device in which the thickness of the organic layer is not more than half of the distance between crossing electrodes of the interdigital transducer.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006023547 | 2006-01-31 | ||
| JP2006023547 | 2006-01-31 | ||
| PCT/JP2007/051267 WO2007088788A1 (en) | 2006-01-31 | 2007-01-26 | Elastic surface wave device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2007088788A1 JPWO2007088788A1 (en) | 2009-06-25 |
| JP4581099B2 true JP4581099B2 (en) | 2010-11-17 |
Family
ID=38327365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007513554A Active JP4581099B2 (en) | 2006-01-31 | 2007-01-26 | Surface acoustic wave device |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4581099B2 (en) |
| WO (1) | WO2007088788A1 (en) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61208916A (en) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Murata Mfg Co Ltd | Method for adjusting frequency of surface wave device |
| JPH11186866A (en) * | 1997-12-22 | 1999-07-09 | Kyocera Corp | Surface acoustic wave device and method of manufacturing the same |
| JP2000232333A (en) * | 1999-02-08 | 2000-08-22 | Murata Mfg Co Ltd | Surface wave device |
| JP2000278068A (en) * | 1999-01-22 | 2000-10-06 | Murata Mfg Co Ltd | Method for adjusting frequency of surface acoustic wave device |
| JP2001127580A (en) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Kyocera Corp | Surface acoustic wave device |
| WO2002056465A1 (en) * | 2001-01-15 | 2002-07-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Saw device and production method therefor |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000261283A (en) * | 1999-03-04 | 2000-09-22 | Kyocera Corp | Surface acoustic wave device |
| JP4158650B2 (en) * | 2003-08-20 | 2008-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | Surface acoustic wave device and manufacturing method thereof |
-
2007
- 2007-01-26 JP JP2007513554A patent/JP4581099B2/en active Active
- 2007-01-26 WO PCT/JP2007/051267 patent/WO2007088788A1/en not_active Ceased
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61208916A (en) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Murata Mfg Co Ltd | Method for adjusting frequency of surface wave device |
| JPH11186866A (en) * | 1997-12-22 | 1999-07-09 | Kyocera Corp | Surface acoustic wave device and method of manufacturing the same |
| JP2000278068A (en) * | 1999-01-22 | 2000-10-06 | Murata Mfg Co Ltd | Method for adjusting frequency of surface acoustic wave device |
| JP2000232333A (en) * | 1999-02-08 | 2000-08-22 | Murata Mfg Co Ltd | Surface wave device |
| JP2001127580A (en) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Kyocera Corp | Surface acoustic wave device |
| WO2002056465A1 (en) * | 2001-01-15 | 2002-07-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Saw device and production method therefor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPWO2007088788A1 (en) | 2009-06-25 |
| WO2007088788A1 (en) | 2007-08-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4569699B2 (en) | Surface acoustic wave resonator, surface acoustic wave filter and antenna duplexer using the same | |
| JP4760908B2 (en) | Surface acoustic wave device | |
| JP4841640B2 (en) | Elastic wave device and manufacturing method thereof | |
| CN106105031A (en) | Acoustic wave filter device | |
| CN108781068A (en) | SAW components with reduced interference due to transverse mode and SH mode and HF filters with SAW components | |
| JP6487458B2 (en) | Elastic wave element, filter element, and communication apparatus | |
| JP2006319796A (en) | Thin film bulk acoustic resonator | |
| US20080007139A1 (en) | Piezoelectric thin-film filter | |
| JP5817928B2 (en) | Elastic wave device | |
| KR20170087956A (en) | Acoustic wave device | |
| JPWO2019131530A1 (en) | Elastic wave filter | |
| JP5339582B2 (en) | Elastic wave device | |
| WO2010101166A1 (en) | Surface acoustic wave device and method for producing same | |
| JPWO2018003657A1 (en) | Elastic wave device | |
| JP5110091B2 (en) | Surface acoustic wave device | |
| JP2010103621A (en) | Elastic wave apparatus | |
| JP2001332953A (en) | Surface acoustic wave device | |
| JP4581099B2 (en) | Surface acoustic wave device | |
| JPH036912A (en) | Surface acoustic wave element | |
| US20250015776A1 (en) | Surface acoustic wave (saw) structures with transverse mode suppression | |
| CN116633305B (en) | Surface acoustic wave resonators, MEMS devices | |
| JP4995923B2 (en) | Boundary acoustic wave device and communication device using the same | |
| JP4370882B2 (en) | Frequency adjustment method for surface acoustic wave device | |
| JP2009147818A (en) | Elastic wave device, filter device, communication module, and communication device | |
| JP4671820B2 (en) | Surface acoustic wave device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091110 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100112 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100406 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100428 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100707 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100712 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100802 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |