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JP4585344B2 - Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method - Google Patents
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JP4585344B2 - Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method - Google Patents

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Description

本発明は、液晶ディスプレイパネル、ELディスプレイパネル等の種々の表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査装置、及び回路基板検査方法に関する。   The present invention relates to a circuit board inspection apparatus and a circuit board inspection method for inspecting a drive circuit board on which electronic components for driving various display panels such as a liquid crystal display panel and an EL display panel are mounted.

現在、表示機器に用いられる表示パネルとして液晶ディスプレイパネル、ELディスプレイパネル等、様々なものが開発されている。図4は、それら表示パネルの内、液晶表示パネルを用いて構成された液晶表示装置(完成品)の一例を示す上面図であり、ガラスやシリコンからなる2枚の基板1a、1b間に液晶を封入してなる液晶表示パネル1と、当該液晶表示パネル1の表示状態を制御する駆動回路が実装された駆動回路基板(以下、回路基板)2と、液晶表示パネル1と回路基板2とを電気的に接続するヒートシール3とで構成されている。   Currently, various types of display panels such as liquid crystal display panels and EL display panels have been developed as display panels used in display devices. FIG. 4 is a top view showing an example of a liquid crystal display device (finished product) constructed using a liquid crystal display panel among these display panels, and a liquid crystal between two substrates 1a and 1b made of glass or silicon. A liquid crystal display panel 1 encapsulating a liquid crystal display panel, a drive circuit board (hereinafter referred to as a circuit board) 2 on which a drive circuit for controlling the display state of the liquid crystal display panel 1 is mounted, and the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2 It is comprised with the heat seal 3 electrically connected.

液晶表示パネル1を構成する2枚の基板1a、1bは、少なくともその一部が互いにオフセットした状態となっており、そのオフセットした部位(オフセット部1c)に表示エリア1dの表示電極(不図示)より導出された制御信号入力用の電極端子(電極端子パターン)4がアレイ状に配設されている。   The two substrates 1a and 1b constituting the liquid crystal display panel 1 are at least partially offset from each other, and display electrodes (not shown) of the display area 1d are provided at the offset portions (offset portions 1c). The control signal input electrode terminals (electrode terminal patterns) 4 derived from the above are arranged in an array.

一方、回路基板2には、駆動回路を構成する各電子部品5を実装するための電子部品実装用の電極端子(以下、実装用端子)6が複数設けられており、それら実装用端子6上に各電子部品5がフリップチップボンディング実装やワイヤーボンディング実装されている。ここでいう電子部品5とは、液晶表示パネル1の制御データが記憶されたLCDドライバーチップ(駆動IC)やコンデンサ、トランジスタといった部品であり、特にLCDドライバーチップ5aは、回路基板2上にフリップチップボンディング実装されている。また、回路基板2の一端部には、実装された各電子部品5より導出された制御信号出力用の電極端子(電極端子パターン)7が前記液晶表示パネル1上に配設された制御信号出力用の電極端子4に対応したパターン形状にてアレイ状に配設されている。   On the other hand, the circuit board 2 is provided with a plurality of electronic component mounting electrode terminals (hereinafter referred to as mounting terminals) 6 for mounting the respective electronic components 5 constituting the drive circuit. Each electronic component 5 is mounted by flip chip bonding or wire bonding. Here, the electronic component 5 is a component such as an LCD driver chip (driving IC), a capacitor, or a transistor in which control data of the liquid crystal display panel 1 is stored. In particular, the LCD driver chip 5 a is flip-chip on the circuit board 2. Bonding is implemented. In addition, a control signal output electrode terminal (electrode terminal pattern) 7 derived from each mounted electronic component 5 is disposed on one end of the circuit board 2 on the liquid crystal display panel 1. Are arranged in an array with a pattern shape corresponding to the electrode terminals 4 for use.

また、液晶表示パネル1と回路基板2とを接続するヒートシール3は、シート状のコネクタ部材であり、液晶表示パネル1のオフセット部1cに配設された電極端子パターン4と回路基板2の一端部に配設された電極端子パターン7にそれぞれ熱圧着により固定されている。尚、このように液晶表示パネル1にヒートシール3を介して回路基板2が接続された状態が液晶表示装置の完成品としての状態である。   The heat seal 3 for connecting the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2 is a sheet-like connector member, and one end of the circuit board 2 and the electrode terminal pattern 4 disposed in the offset portion 1 c of the liquid crystal display panel 1. Each is fixed to the electrode terminal pattern 7 disposed in the portion by thermocompression bonding. The state in which the circuit board 2 is connected to the liquid crystal display panel 1 through the heat seal 3 in this way is a state as a finished product of the liquid crystal display device.

ところで、液晶表示装置の駆動回路が実装された回路基板2に対しては、その動作が正常に成されるかどうかを判定するための導通検査を行う必要がある。導通検査の方法としては、回路基板2にヒートシール3を介して正常な動作が保証された液晶表示パネル1を接続した状態、即ち液晶表示装置として完成した状態で回路基板2に電力を供給し、そこに実装された駆動回路を実際に作動させることで液晶表示パネル1を点灯させ、その液晶表示パネル1の表示状態に基づいて回路基板2の良否を判定する方法が挙げられる。この場合、液晶表示パネル1は、予め単体での検査を通過して良品として正常な動作が保証されているため、もし上記検査の結果、液晶表示パネル1に正常な映像が表示されなければ、それは回路基板2に欠陥があると判断できる。   By the way, it is necessary to perform a continuity test on the circuit board 2 on which the drive circuit of the liquid crystal display device is mounted to determine whether or not the operation is normally performed. As a continuity test method, power is supplied to the circuit board 2 in a state in which the liquid crystal display panel 1 that is guaranteed to operate normally is connected to the circuit board 2 via the heat seal 3, that is, in a state where the liquid crystal display device is completed. There is a method in which the liquid crystal display panel 1 is turned on by actually operating the drive circuit mounted thereon, and the quality of the circuit board 2 is determined based on the display state of the liquid crystal display panel 1. In this case, since the liquid crystal display panel 1 has passed a single inspection in advance and is normally operated as a non-defective product, if a normal image is not displayed on the liquid crystal display panel 1 as a result of the inspection, It can be determined that the circuit board 2 is defective.

しかしながら、上記の検査方法では回路基板2に液晶表示パネル1を接続した状態で検査を行っているため、検査の結果、回路基板2が不良として判定された場合には、回路基板2のみならず、そこに接続された液晶表示パネル1を含めた液晶表示装置全体を廃棄しなければならない。一度接続された回路基板2と液晶表示パネル1とを分解して互いを元の状態に戻すことは実質的に不可能である。そのため、回路基板2に液晶表示パネル1を接続していない回路基板2単体での導通検査を行うことで、不良判定時の液晶表示パネル1の廃棄損失を無くした回路基板2の検査方法が提案されている。   However, since the inspection is performed with the liquid crystal display panel 1 connected to the circuit board 2 in the above inspection method, if the circuit board 2 is determined to be defective as a result of the inspection, not only the circuit board 2 is used. The entire liquid crystal display device including the liquid crystal display panel 1 connected thereto must be discarded. It is virtually impossible to disassemble the circuit board 2 and the liquid crystal display panel 1 once connected and return them to the original state. Therefore, a method for inspecting the circuit board 2 that eliminates the loss of the liquid crystal display panel 1 at the time of defect determination by conducting a continuity test on the circuit board 2 alone without connecting the liquid crystal display panel 1 to the circuit board 2 is proposed. Has been.

図5は、上述した液晶表示パネルの廃棄損失を無くすべく提案された、回路基板を単体で導通検査する回路基板検査装置を示す模式図で、この検査装置(検査方法)は、液晶表示パネル11の垂直走査側の一端に当該液晶表示パネル11を駆動するためのドライバ回路12を実装すると共に、水平走査側の一端に配設された駆動信号入力用の各電極端子(不図示)に検査信号出力用のプローブ13を接続し、その一方で駆動回路を構成する全ての電子部品が実装された被検査対象である駆動回路基板14に検査信号を出力するための検査信号発生装置15を設置すると共に、そこに検査信号入力用のプローブ16を接続し、当該検査信号入力用のプローブ16と前記液晶表示パネル11に接続された検査信号出力用のプローブ13との間に前記駆動回路基板14を配置し、それぞれのプローブ13、16を駆動回路基板14上に配設された検査信号入・出力用の各電極端子(不図示)に接触させることで実際に液晶表示パネル11を点灯状態にし、その時点における液晶表示パネル11の表示状態に基づいて駆動回路基板14の良否を判定するものである。(特許文献1参照)   FIG. 5 is a schematic diagram showing a circuit board inspection apparatus for inspecting the continuity of a circuit board, which has been proposed to eliminate the above-described loss of liquid crystal display panel. A driver circuit 12 for driving the liquid crystal display panel 11 is mounted at one end on the vertical scanning side of the display, and an inspection signal is applied to each electrode terminal (not shown) for driving signal input disposed at one end on the horizontal scanning side. On the other hand, an inspection signal generator 15 for outputting an inspection signal is installed on the drive circuit board 14 to be inspected on which all the electronic components constituting the drive circuit are mounted. In addition, a test signal input probe 16 is connected thereto, and a test signal input probe 16 and a test signal output probe 13 connected to the liquid crystal display panel 11 are connected in front. The drive circuit board 14 is arranged, and the respective probes 13 and 16 are actually brought into contact with the respective test signal input / output electrode terminals (not shown) arranged on the drive circuit board 14 to actually make the liquid crystal display panel 11. Is turned on, and the quality of the drive circuit board 14 is determined based on the display state of the liquid crystal display panel 11 at that time. (See Patent Document 1)

以上の検査装置では、液晶表示パネル11と駆動回路基板14とを互いに接続していないため駆動回路基板14を単体で検査することが可能であり、不良判定時に廃棄されるのは駆動回路基板14だけとなって、少なくとも液晶表示パネル11の廃棄損失は免れる。   In the above inspection apparatus, since the liquid crystal display panel 11 and the drive circuit board 14 are not connected to each other, the drive circuit board 14 can be inspected as a single unit, and the drive circuit board 14 is discarded when a defect is determined. Thus, at least the disposal loss of the liquid crystal display panel 11 is avoided.

特開2000−35776号公報JP 2000-35776 A

上述した回路基板を単体で検査する回路基板検査装置によれば、回路基板が不良と判定されたとしても、少なくとも液晶表示パネルは廃棄せずに済む。しかしながら、回路基板が不良と判定された場合であっても、そこに実装されている全ての電子部品が欠陥、又は実装状態が不良というわけではなく、その内のごく一部に欠陥、不良があるのが通例であるため、上記検査装置の構成により液晶表示パネルの廃棄損失を免れたとしても、回路基板に実装された欠陥部品以外の正常な電子部品の廃棄損失は依然として免れない。また、それに伴って、それらの電子部品を実装するための工数が無駄となり、生産性の点からも不利益を被ることとなる。   According to the circuit board inspection apparatus that inspects the circuit board as described above, even if the circuit board is determined to be defective, at least the liquid crystal display panel does not have to be discarded. However, even if it is determined that the circuit board is defective, not all electronic components mounted on the circuit board are defective or poorly mounted, and only a small portion of them is defective or defective. Since there is a general case, even if the configuration of the inspection apparatus avoids the loss of the liquid crystal display panel, the loss of the normal electronic components other than the defective components mounted on the circuit board is still inevitable. Along with this, the man-hours for mounting those electronic components are wasted, and this is disadvantageous in terms of productivity.

特に液晶表示装置のLCDドライバーチップが回路基板上に実装される場合には、当該LCDドライバーチップの電極端子が多数あることに加え、それらの電極間ピッチは狭小であることから、その部分で導通不良が発生し易い。また、LCDドライバーチップは他の電子部品と比べて高価である。従って、不良判定時の廃棄損失を低減するという観点からは、回路基板にLCDドライバーチップを実装した段階で導通検査を行うのが望ましいといえるが、未だ有効な検査装置が考案されていない状況である。   In particular, when the LCD driver chip of a liquid crystal display device is mounted on a circuit board, in addition to the large number of electrode terminals of the LCD driver chip, the pitch between the electrodes is narrow, so that conduction is made at that part. Defects are likely to occur. Further, the LCD driver chip is more expensive than other electronic components. Therefore, from the viewpoint of reducing the loss of waste at the time of defect determination, it can be said that it is desirable to conduct the continuity test at the stage where the LCD driver chip is mounted on the circuit board, but an effective inspection device has not yet been devised. is there.

本発明は、以上のような問題点、状況に鑑みてなされたものであり、回路基板が不良と判定された場合であっても、部材廃棄による損失が少ない液晶表示装置の回路基板検査装置、及び回路基板検査方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems and situations, and even when a circuit board is determined to be defective, a circuit board inspection apparatus for a liquid crystal display device with little loss due to member disposal, It is another object of the present invention to provide a circuit board inspection method.

表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査装置であって、少なくとも、表示パネルを載置位置決めする表示パネル載置ステージと、当該表示パネル載置ステージに併設され、少なくとも1つの電子部品が実装された駆動回路基板を載置位置決めする駆動回路基板載置ステージと、前記駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板と、前記表示パネル載置ステージの上面及び前記駆動回路基板載置ステージの上面に対して進退可能に保持され、前記表示パネル載置ステージ上に載置位置決めされた前記表示パネルの電極端子と前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板の電極端子に当接して前記表示パネルと前記駆動回路基板とを導通させる第一の導通部材と、前記駆動回路基板載置ステージの上面に対して進退可能に保持されると共に前記ダミー回路基板と電気的に接続され、前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板の電極端子に当接して前記ダミー回路基板と前記駆動回路基板とを導通させる第二の導通部材、前記駆動回路基板を介して前記表示パネルに電力を供給する電力供給手段とを備え、前記表示パネルと前記駆動回路基板、ならびに前記駆動回路基板と前記ダミー回路基板とをそれぞれ互いに導通させた時点での前記表示パネルの表示状態に基づいて、前記駆動回路基板の良否を判定するようにした回路基板検査装置とする。 A circuit board inspection apparatus for inspecting a drive circuit board on which electronic components for driving a display panel are mounted, wherein at least a display panel placement stage for placing and positioning the display panel, and the display panel placement stage A drive circuit board mounting stage for mounting and positioning a drive circuit board on which at least one electronic component is mounted, and a dummy circuit board on which an electronic component other than the electronic component mounted on the drive circuit board is mounted And an electrode terminal of the display panel which is held so as to be movable back and forth with respect to the upper surface of the display panel mounting stage and the upper surface of the drive circuit board mounting stage, and is positioned and positioned on the display panel mounting stage, and the display panel to the electrode terminal of the drive circuit substrate placed positioned on the drive circuit board mounting stage in contact with the driving circuit board A first conductive member for conducting, the drive circuit is connected the dummy circuit board and electrically with the movably held against the upper surface of the substrate mounting stage, on the drive circuit board mounting stage a second conductive member to the electrode terminals of the drive circuit substrate placed positioned against through guide and said driving circuit board and the dummy circuit board, the power to the display panel through the driving circuit board Power supply means for supplying , based on the display state of the display panel when the display panel and the drive circuit board, and the drive circuit board and the dummy circuit board are electrically connected to each other, the drive The circuit board inspection apparatus is configured to determine whether the circuit board is good or bad.

前記第一の導通部材は、ゼブラゴムである回路基板検査装置とする。 It said first conductive member is a circuit board inspection device which is Zeburago beam.

前記第一の導通部材は、バネの付勢力に抗し前記駆動回路基板載置ステージの上面に対して進退可能な棒状の軸の一端に保持されている回路基板検査装置とする。 It said first conductive member is a retractable rod-shaped shaft the circuit board inspection apparatus one end that is held in the the upper surface of the driving circuit board mounting stage against the biasing force of the spring.

前記棒状の軸の他端当接して当該軸の一端に向かう押圧力を作用させる押圧部材備えた回路基板検査装置とする。 The circuit board inspection apparatus includes a pressing member that abuts on the other end of the rod-shaped shaft and applies a pressing force toward one end of the shaft.

前記第二の導通部材は、プローブである回路基板検査装置とする。 The second conductive member is a circuit board inspection device that is a probe .

前記表示パネル載置ステージは、前記駆動回路基板載置ステージと対向する方向とは直行する方向に水平移動可能である回路基板検査装置とする。   The display panel mounting stage is a circuit board inspection apparatus that can move horizontally in a direction perpendicular to the direction facing the driving circuit board mounting stage.

前記駆動回路基板載置ステージの面には、前記駆動回路基板に設けられた位置決め穴に嵌合する位置決めピンが設けられている回路基板検査装置とする。 Wherein the upper surface of the drive circuit substrate mounting stage, and the drive circuit are circuit board inspection apparatus for locating pins are provided which fits into positioning holes provided on the substrate.

表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査方法であって、
正常な動作が保証された表示パネルと少なくとも1つの電子部品が実装された駆動回路基板とを互いに導通させると共に、前記駆動回路基板と当該駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板とを互いに導通させて前記表示パネルを表示状態にし、当該表示パネルの表示状態に基づいて前記駆動回路基板の良否を判定する回路基板検査方法とする。
A circuit board inspection method for inspecting a drive circuit board on which electronic components for driving a display panel are mounted,
A display panel for which normal operation is guaranteed and a drive circuit board on which at least one electronic component is mounted are electrically connected to each other, and an electronic component other than the electronic component mounted on the drive circuit board and the drive circuit board is provided. A circuit board inspection method is provided in which the display panel is brought into a display state by electrically connecting the mounted dummy circuit board to each other, and the quality of the drive circuit board is determined based on the display state of the display panel.

本発明によれば、駆動回路基板に一部の電子部品(例えば、LCDドライバーチップ)を実装した段階で導通検査を行うことが可能となるため、検査の結果、駆動回路基板が不良として判定された場合であっても、廃棄されるのは実装された一部の電子部品だけ(但し、駆動回路基板本体含む)となり、本来不良ではないその他の構成部材を不良として廃棄してしまう損失を無くすことができるだけでなく、それに伴う生産性の向上が期待できる。   According to the present invention, since it is possible to perform a continuity test at the stage where some electronic components (for example, LCD driver chip) are mounted on the drive circuit board, the drive circuit board is determined to be defective as a result of the test. Even in such a case, only a part of the mounted electronic parts (however, including the drive circuit board main body) is discarded, and the loss of discarding other components that are not originally defective as defects is eliminated. In addition to this, productivity can be expected to increase.

図1は、本発明による回路基板検査装置の一実施例を示す図で、(a)上面図、(b)正面図、(c)側面図である。また、図2は、本発明による回路検査装置の液晶表示パネル載置ステージ及び駆動回路基板載置ステージ上にそれぞれ液晶表示パネルと駆動回路基板を載置した状態を示す上面図で、図3は、駆動回路基板の電極端子にゼブラゴムを当接させた状態を示す要部拡大正面図である。尚、図1(c)では説明の便宜上、一部の構成を省略してある。以下、図1〜3を参照して本発明による回路基板検査装置の一実施例について説明する。図1に示すように回路基板検査装置の下部には平板状のベース部21がその裏面側の四隅に配置された4つの脚部21aにより水平に支持されており、一方で表面側平坦面上の略中央には被検査対象である回路基板2を載置するための駆動回路基板載置ステージ22が設置されている。駆動回路基板載置ステージ(以下、基板載置ステージ)22と隣接する位置にはスライド機構を有する第一スライド部23が設置されており、その上部に液晶表示パネル1を載置するための液晶表示パネル載置ステージ24がスライド可能に保持されている。   FIG. 1 is a view showing an embodiment of a circuit board inspection apparatus according to the present invention, wherein (a) a top view, (b) a front view, and (c) a side view. FIG. 2 is a top view showing a state in which the liquid crystal display panel and the drive circuit board are respectively placed on the liquid crystal display panel placement stage and the drive circuit board placement stage of the circuit inspection apparatus according to the present invention. FIG. 3 is an enlarged front view of a main part showing a state in which zebra rubber is brought into contact with electrode terminals of a drive circuit board. In FIG. 1C, a part of the configuration is omitted for convenience of explanation. Hereinafter, an embodiment of a circuit board inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 1, a flat base portion 21 is horizontally supported at the bottom of the circuit board inspection apparatus by four leg portions 21a arranged at the four corners on the back surface side, on the front surface side flat surface. A drive circuit board mounting stage 22 for mounting the circuit board 2 to be inspected is installed at approximately the center of the circuit board. A first slide portion 23 having a slide mechanism is installed at a position adjacent to a drive circuit substrate placement stage (hereinafter referred to as a substrate placement stage) 22, and a liquid crystal for placing the liquid crystal display panel 1 on the top thereof. The display panel mounting stage 24 is slidably held.

基板載置ステージ22の平坦面上には、図2に示すように回路基板2を位置決めするための位置決めピン22aが設けられており、その位置決めピン22aを回路基板2本体に予め設けられている位置決め穴2aに嵌合させることで回路基板2の導通検査時における位置決めが成される。但し、回路基板2の位置決め方法に関してはこれに限定されるものではなく、回路基板2の確実な位置決めができるのであればその他の構成としてもよい。   Positioning pins 22a for positioning the circuit board 2 are provided on the flat surface of the substrate mounting stage 22, as shown in FIG. 2, and the positioning pins 22a are provided in the circuit board 2 main body in advance. By positioning the circuit board 2 in the positioning hole 2a, the circuit board 2 is positioned during the continuity test. However, the method for positioning the circuit board 2 is not limited to this, and other configurations may be used as long as the circuit board 2 can be reliably positioned.

図2に示すように液晶表示パネル載置ステージ(以下、パネル載置ステージ)24は、第一スライド部23(図2では不図示)が有する任意のスライド機構により、隣接する基板載置ステージ22と一定の間隔を保った状態で当該基板載置ステージ22と対向する方向とは直交する方向(パネル載置ステージ24の長手方向)に水平移動可能となっている。   As shown in FIG. 2, the liquid crystal display panel placement stage (hereinafter referred to as panel placement stage) 24 is adjacent to the substrate placement stage 22 by an arbitrary slide mechanism of the first slide portion 23 (not shown in FIG. 2). The horizontal movement is possible in a direction (longitudinal direction of the panel placement stage 24) orthogonal to the direction facing the substrate placement stage 22 with a certain interval maintained.

第一スライド部23が有するスライド機構は、第一スライド部23の一側端より突出したスライド操作部25をパネル載置ステージ24の長手方向に進退させることで、所定の可動範囲内においてパネル載置ステージ24を任意の位置に位置決めすることが可能である。導通検査時には、このスライド操作部25を操作することでパネル載置ステージ24に載置された液晶表示パネル1の電極端子パターン4と基板載置ステージ22に載置された回路基板2の電極端子パターン7とが水平方向にて互いに一致するように位置決めが成される。   The slide mechanism included in the first slide part 23 is configured such that the slide operation part 25 protruding from one side end of the first slide part 23 is moved forward and backward in the longitudinal direction of the panel placement stage 24, so that the panel mount is within a predetermined movable range. It is possible to position the mounting stage 24 at an arbitrary position. During the continuity test, the electrode terminal pattern 4 of the liquid crystal display panel 1 placed on the panel placement stage 24 and the electrode terminal of the circuit board 2 placed on the substrate placement stage 22 are operated by operating the slide operation unit 25. Positioning is performed so that the pattern 7 coincides with each other in the horizontal direction.

また、パネル載置ステージ24と基板載置ステージ22とは共に水平状態が保たれており、それぞれの平坦面の高さは、各々の載置ステージ24、22上に液晶表示パネル1と回路基板2をそれぞれ載置した時に液晶表示パネル1の電極端子4が形成された面と回路基板2の電極端子7が形成された面とが概ね同一平面となるように設定されている。   Further, both the panel placement stage 24 and the substrate placement stage 22 are kept in a horizontal state, and the height of the flat surfaces of the liquid crystal display panel 1 and the circuit board is set on each of the placement stages 24 and 22. 2 is set so that the surface of the liquid crystal display panel 1 where the electrode terminals 4 are formed and the surface of the circuit board 2 where the electrode terminals 7 are formed are substantially flush with each other.

基板載置ステージ22を挟んでパネル載置ステージ24と対向する位置には、上下方向にスライド可能な任意のスライド機構(昇降機構)を有する第二スライド部26が設置されており、その上端部には基板載置ステージ22上方に向けて迫り出したプローブホルダー27が設置されている。プローブホルダー27には、その直下に配置された基板載置ステージ22に向けて垂直に突出した複数のコンタクトプローブ(以下、プローブ)28が保持されており、尚且つ当該プローブホルダー27の上部にはL字型の固定具(ステー)29を介して回路基板2と同型のダミー回路基板30が直立した状態に固定され、更にプローブホルダー27の前方に向けて迫り出した先端部にはブロック状のゼブラゴム31を保持したフロート機構32が設置されている。   A second slide portion 26 having an arbitrary slide mechanism (elevating mechanism) that can slide in the vertical direction is installed at a position facing the panel placement stage 24 with the substrate placement stage 22 in between, and an upper end portion thereof. Is provided with a probe holder 27 protruding toward the upper side of the substrate mounting stage 22. The probe holder 27 holds a plurality of contact probes (hereinafter referred to as probes) 28 that protrude perpendicularly toward the substrate mounting stage 22 disposed immediately below the probe holder 27. A dummy circuit board 30 of the same type as the circuit board 2 is fixed in an upright state via an L-shaped fixture (stay) 29, and further, a block-like shape is formed at the tip of the probe holder 27 protruding forward. A float mechanism 32 holding a zebra rubber 31 is installed.

プローブホルダー32は、前述の第二スライド部26が有するスライド機構(昇降機構)によりその全体が回路基板2に対して平行姿勢を保ったまま昇降可能となっており、最下降した状態において各プローブ28先端が回路基板2表面に配設された電子部品実装用の実装用端子6に当接するように、その可動範囲が設定されている。   The probe holder 32 can be moved up and down while maintaining the parallel posture with respect to the circuit board 2 by the slide mechanism (elevating mechanism) of the second slide portion 26 described above. The movable range is set so that the tip of 28 is in contact with the mounting terminal 6 for mounting electronic components disposed on the surface of the circuit board 2.

ダミー回路基板30には、被検査対象である回路基板2に実装された電子部品5以外の電子部品(不図示)が実装されており、その一端部には前記回路基板2と同様の電極端子パターン(不図示)が配設されている。この電極端子パターンには、プローブホルダー27に保持されたプローブ28から導出されたリード線(不図示)が接続されており、これによりダミー回路基板30に実装された各電子部品とそれに対応した各プローブ28とが互いに導通した状態となっている。   An electronic component (not shown) other than the electronic component 5 mounted on the circuit board 2 to be inspected is mounted on the dummy circuit board 30, and an electrode terminal similar to the circuit board 2 is mounted on one end thereof. A pattern (not shown) is provided. Connected to the electrode terminal pattern are lead wires (not shown) derived from the probe 28 held by the probe holder 27, whereby each electronic component mounted on the dummy circuit board 30 and each corresponding to it. The probe 28 is electrically connected to each other.

尚、本発明の回路基板検査装置は、その趣旨から、被検査対象である回路基板2に全ての電子部品を実装する前に導通検査を行うものであり、上述のダミー回路基板30に実装される電子部品は、被検査対象の回路基板2に実装される電子部品に応じてその都度異なるものである。例えば、回路基板2にLCDドライバーチップ5aのみを実装した状態で導通検査を行いたい場合には、ダミー回路基板30に実装される電子部品は、LCDドライバーチップ5aを除くその他全ての電子部品となる。   Note that the circuit board inspection apparatus of the present invention performs continuity inspection before mounting all electronic components on the circuit board 2 to be inspected, and is mounted on the dummy circuit board 30 described above. The electronic component varies depending on the electronic component mounted on the circuit board 2 to be inspected. For example, when it is desired to conduct a continuity test with only the LCD driver chip 5a mounted on the circuit board 2, the electronic components mounted on the dummy circuit board 30 are all other electronic components except the LCD driver chip 5a. .

また、ダミー回路基板30と電気的に接続されたプローブ28は、その上端部がプローブホルダー27に貫入する形で保持されており、尚且つその先端(下端部)は、ダミー回路基板30に実装された各電子部品を本来実装すべき回路基板2の各実装用端子6に向くようにそれぞれが位置決めされている。   The probe 28 electrically connected to the dummy circuit board 30 is held such that the upper end of the probe 28 penetrates into the probe holder 27, and the tip (lower end) is mounted on the dummy circuit board 30. Each electronic component is positioned so as to face each mounting terminal 6 of the circuit board 2 to be originally mounted.

プローブホルダー27先端に設けられたフロート機構32は、プローブホルダー27本体に上下動可能に貫入された2本の棒状のフロート軸32aと、それら2本のフロート軸32aの下端部に共同で保持されたゼブラゴム31に付勢力を与えるコイルバネ32bとで構成されている。コイルバネ32bは、その中心にフロート軸32aが貫入することで水平方向の移動が規制され、更に上端部がプローブホルダー27に固定されると共に下端部がゼブラゴム31に固定されており、フロート機構32に外力が作用していない状態(非検査状態)では、ゼブラゴム31はそれを保持するフロート軸32aと共にプローブホルダー27下端部より吊り下げられた状態(フロート状態)となっている。従って、この状態では、ゼブラゴム31は液晶表示パネル1と回路基板2には接触していない。   The float mechanism 32 provided at the tip of the probe holder 27 is held together by two rod-like float shafts 32a penetrating the probe holder 27 main body so as to be movable up and down, and lower ends of the two float shafts 32a. And a coil spring 32b for applying an urging force to the zebra rubber 31. The movement of the coil spring 32b in the horizontal direction is restricted by the float shaft 32a penetrating into the center thereof, and the upper end is fixed to the probe holder 27 and the lower end is fixed to the zebra rubber 31. In a state where no external force is acting (non-inspection state), the zebra rubber 31 is suspended from the lower end of the probe holder 27 (float state) together with the float shaft 32a that holds the zebra rubber 31. Therefore, in this state, the zebra rubber 31 is not in contact with the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2.

ここで、ベース部21平坦面上のパネル載置ステージ24を挟んだ両端側には、図1(b)に示すように、上述のフロート機構32が有する2本のフロート軸32aを下方に向けて押圧するための2つのクランプ部33が互いに対向して設置されている。クランプ部33は、導通検査時にゼブラゴム31を液晶表示パネル1と回路基板2に対して確実に密着(当接)させるためのものであり、回動軸33aを支点として回動可能に保持された可動部33bと、当該可動部33bの後端部に連結軸33cを介して連結された操作レバー33dと、可動部33bの先端部にネジ留め固定された押圧部33eとで構成されるクランプ機構を有している。これにより、クランプ動作時に操作レバー33dを押し下げることで可動部33bが回動軸33aを中心に一定の可動範囲内で下方(パネル載置ステージ24上面方向)に向けて回動し、可動部33b先端に保持された押圧部33eがフロート軸32a上端部を押圧するようになっている。   Here, as shown in FIG. 1B, the two float shafts 32a of the above-described float mechanism 32 are directed downward at both ends of the base unit 21 between the panel placement stages 24 on the flat surface. The two clamp parts 33 for pressing are installed facing each other. The clamp portion 33 is for securely bringing the zebra rubber 31 into close contact (contact) with the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2 during a continuity test, and is held rotatably about the rotation shaft 33a. Clamp mechanism comprising a movable portion 33b, an operation lever 33d coupled to the rear end portion of the movable portion 33b via a coupling shaft 33c, and a pressing portion 33e fixed by screwing to the tip end portion of the movable portion 33b. have. Accordingly, when the operation lever 33d is pushed down during the clamping operation, the movable portion 33b is rotated downward (toward the upper surface of the panel mounting stage 24) within a certain movable range around the rotation shaft 33a, and the movable portion 33b. A pressing portion 33e held at the tip presses the upper end portion of the float shaft 32a.

フロート軸32a下端部に保持されたゼブラゴム31は、図3に示すように絶縁性ゴム31aと導電性ゴム31bを等間隔で積層させた一種のコネクタ部材である。本実施例では、回路基板2に配設された電極端子パターン7の幅と間隔に対して絶縁性ゴム/導電性ゴム間隔が極小のゼブラゴムを使用しており、例えば電極端子パターン7の幅及び間隔が0.2mmに対して、ゼブラゴム31の導電性ゴム31bの幅及び間隔を0.05mmとしている。これにより、導通検査時には常に2つ以上の導電性ゴム31bが回路基板2と液晶表示パネル1の各電極端子パターン4、7に当接することになり、少なくとも電極端子パターン4、7に対するゼブラゴム31の長手方向(絶縁性ゴム31aと導電性ゴム31bの積層方向)の厳密な位置調整をすることなく、確実に導通を図ることができる。   The zebra rubber 31 held at the lower end of the float shaft 32a is a kind of connector member in which an insulating rubber 31a and a conductive rubber 31b are laminated at equal intervals as shown in FIG. In the present embodiment, zebra rubber having a minimum insulating rubber / conductive rubber interval with respect to the width and interval of the electrode terminal pattern 7 disposed on the circuit board 2 is used. For the interval of 0.2 mm, the width and interval of the conductive rubber 31b of the zebra rubber 31 are set to 0.05 mm. Thereby, at the time of the continuity test, two or more conductive rubbers 31b always come into contact with the circuit board 2 and the electrode terminal patterns 4 and 7 of the liquid crystal display panel 1, and at least the zebra rubber 31 against the electrode terminal patterns 4 and 7 Conduction can be reliably achieved without strict position adjustment in the longitudinal direction (stacking direction of the insulating rubber 31a and the conductive rubber 31b).

以上、本発明の回路基板検査装置の構成について説明したが、以下に当該検査装置を用いた回路基板の検査方法について説明する。尚、以下の説明では被検査対象をLCDドライバーチップのみが実装された回路基板とし、LCDドライバーチップの実装状態を判定する趣旨で回路基板の導通検査を行うものとする。   While the configuration of the circuit board inspection apparatus of the present invention has been described above, a circuit board inspection method using the inspection apparatus will be described below. In the following description, it is assumed that the circuit board on which only the LCD driver chip is mounted is an object to be inspected, and that the circuit board is inspected for the purpose of determining the mounting state of the LCD driver chip.

まず、パネル載置ステージ24上に正常な動作が保証された液晶表示パネル1を位置決め固定した上で、第二スライド部26のスライド機構(昇降機構)を駆動させてプローブホルダー27を上方に退避させ、基板載置ステージ22上に被検査対象である回路基板2を載置する。この際、図2に示すように回路基板2に設けられた位置決め穴2aを基板載置ステージ22平坦面上の位置決めピン22aに嵌合させることで回路基板2の確実な位置決めが成される。   First, the liquid crystal display panel 1 that is guaranteed to operate normally is positioned and fixed on the panel placement stage 24, and then the slide mechanism (elevating mechanism) of the second slide portion 26 is driven to retract the probe holder 27 upward. The circuit board 2 to be inspected is placed on the substrate placement stage 22. At this time, as shown in FIG. 2, the positioning hole 2a provided in the circuit board 2 is fitted to the positioning pins 22a on the flat surface of the substrate mounting stage 22 so that the circuit board 2 is reliably positioned.

次に、第一スライド部23のスライド操作部25をパネル載置ステージ24の長手方向に進退させて、液晶表示パネル1の電極端子パターン4と回路基板2の電極端子パターン7とがパネル載置ステージ24の長手方向にて互いに一致するように位置決めする。   Next, the slide operation part 25 of the first slide part 23 is moved back and forth in the longitudinal direction of the panel placement stage 24 so that the electrode terminal pattern 4 of the liquid crystal display panel 1 and the electrode terminal pattern 7 of the circuit board 2 are placed on the panel. The stage 24 is positioned so as to coincide with each other in the longitudinal direction.

以上のようにして液晶表示パネル1と回路基板2の位置決めが完了したら、第二スライド部26のスライド機構を駆動してプローブホルダー27を下降させ、そこに保持された複数のプローブ28の先端を基板載置ステージ22に載置されている回路基板2の各実装用端子6にそれぞれ当接させる。プローブ28は、プローブホルダー27上部に固定されたダミー回路基板30に実装されている電子部品と導通しているため、以上のようにプローブ28が回路基板2の実装用端子6に当接した時点で、それら電子部品が仮に回路基板2に実装された状態となる。   When the positioning of the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2 is completed as described above, the slide mechanism of the second slide portion 26 is driven to lower the probe holder 27, and the tips of the plurality of probes 28 held there are moved. The circuit board 2 placed on the board placement stage 22 is brought into contact with each mounting terminal 6. Since the probe 28 is electrically connected to the electronic component mounted on the dummy circuit board 30 fixed to the upper part of the probe holder 27, when the probe 28 contacts the mounting terminal 6 of the circuit board 2 as described above. Thus, these electronic components are temporarily mounted on the circuit board 2.

また、プローブホルダー27の下降に伴ってプローブホルダー27先端に設置されたフロート機構32も同時に下降し、その下端部に保持されたゼブラゴム31が液晶表示パネル1と回路基板2の各電極端子パターン4、7間に橋渡し状態で当接する。これにより、ゼブラゴム31を介して液晶表示パネル1と回路基板2が互いに導通した状態となる。この際、ゼブラゴム31には上方からプローブホルダー27の下降に伴って圧縮状態となったコイルバネ33bの付勢力(伸長力)が掛かっているため、ゼブラゴム31は液晶表示パネル1と回路基板2に圧接した状態であり、これにより各電極端子パターン4、7間の確実な導通が成されている。   Further, as the probe holder 27 is lowered, the float mechanism 32 installed at the tip of the probe holder 27 is also lowered at the same time, and the zebra rubber 31 held at the lower ends thereof is the electrode terminal patterns 4 of the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2. , 7 in a bridging state. As a result, the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2 are electrically connected to each other via the zebra rubber 31. At this time, the zebra rubber 31 is pressed against the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2 because the urging force (extension force) of the coil spring 33b which is compressed as the probe holder 27 descends is applied to the zebra rubber 31 from above. Thus, reliable conduction between the electrode terminal patterns 4 and 7 is achieved.

次に、2つのクランプ部33が有する操作レバー33dをそれぞれ下方に押し下げ、フロート状態にあるフロート機構32の2本のフロート軸32a上端部にクランプ部33の押圧部33eをそれぞれ当接させる。この押圧部33eの当接力(押圧力)はフロート軸32aを介してその下端部のゼブラゴム31に作用し、これによりゼブラゴム31の液晶表示パネル1と回路基板2の各電極端子パターン4、7に対する圧接力が増大して各電極端子パターン4、7間の導通が更に確実なものとなる。   Next, the operation levers 33d of the two clamp portions 33 are respectively pressed down, and the pressing portions 33e of the clamp portions 33 are brought into contact with the upper ends of the two float shafts 32a of the float mechanism 32 in the float state. The abutting force (pressing force) of the pressing portion 33e acts on the zebra rubber 31 at the lower end portion thereof via the float shaft 32a, whereby the zebra rubber 31 is applied to the liquid crystal display panel 1 and the electrode terminal patterns 4 and 7 of the circuit board 2. The pressure contact force is increased, and conduction between the electrode terminal patterns 4 and 7 is further ensured.

そして最後に、この状態で回路基板2を通じて液晶表示パネル1に電力を供給すると共に液晶表示パネル1の点灯操作を行って実際に液晶表示パネル1を点灯させる。その結果、もし液晶表示パネル1の表示状態に異常(表示不良、不点灯等)があれば、それはLCDドライバーチップ5aの実装状態に欠陥があると判断されて回路基板は不良となる。尚、表示状態の確認は目視や撮像装置等を用いた自動認識によればよい。   Finally, in this state, power is supplied to the liquid crystal display panel 1 through the circuit board 2 and the liquid crystal display panel 1 is turned on to actually light the liquid crystal display panel 1. As a result, if the display state of the liquid crystal display panel 1 is abnormal (display failure, non-lighting, etc.), it is determined that the mounting state of the LCD driver chip 5a is defective and the circuit board becomes defective. The display state can be confirmed by visual recognition or automatic recognition using an imaging device or the like.

不良と判定された回路基板2は廃棄されることになるが、回路基板2にはLCDドライバーチップ5aのみが実装されており、その他の電子部品はダミー回路基板30に実装されているため、この際廃棄されるのは回路基板2本体とそこに実装されたLCDドライバーチップ5aのみとなる。従って、液晶表示パネル1を始め、その他多くの正常な電子部品を回路基板2と共に廃棄することがなくなる。   Although the circuit board 2 determined to be defective is discarded, only the LCD driver chip 5a is mounted on the circuit board 2 and the other electronic components are mounted on the dummy circuit board 30. Only the circuit board 2 main body and the LCD driver chip 5a mounted thereon are discarded. Therefore, the liquid crystal display panel 1 and many other normal electronic components are not discarded together with the circuit board 2.

検査終了後、次の検査に移る際には、まずクランプ部33のクランプ動作を解除すると共に下降状態のプローブホルダー27を上方に退避させて検査が終了した回路基板2を基板載置ステージ22から取り外し、続いて新たな回路基板2を前回検査時と同様に基板載置ステージ22上に位置決め固定する。この際、回路基板2と液晶表示パネル1とは、それぞれ基板載置ステージ22の位置決めピン22aとパネル載置ステージ24の前回検査時の位置決め位置によりお互いの位置再現性が確保されているので、回路基板2を検査毎に取り替えてもそれぞれの電極端子パターン4、7は常に一致する。そのため、検査毎に再度位置決めを行う必要がなく効率的に検査が行える。   When moving to the next inspection after completion of the inspection, first, the clamping operation of the clamp portion 33 is released and the lowered probe holder 27 is retracted upward, and the circuit board 2 that has been inspected is removed from the substrate mounting stage 22. Subsequently, the new circuit board 2 is positioned and fixed on the substrate mounting stage 22 as in the previous inspection. At this time, since the circuit board 2 and the liquid crystal display panel 1 are secured to each other by the positioning positions of the positioning pins 22a of the substrate mounting stage 22 and the positioning positions of the panel mounting stage 24 at the previous inspection, respectively. Even if the circuit board 2 is replaced for each inspection, the electrode terminal patterns 4 and 7 always match. Therefore, it is not necessary to perform positioning again for each inspection, and the inspection can be performed efficiently.

以上、本発明による回路基板検査装置、並びにそれを用いた回路基板検査方法について説明したが、被検査対象である回路基板2に実装する電子部品は、必ずしも上記実施例で述べたLCDドライバーチップ5aに限定されるものではなく、その他の電子部品を実装したあらゆる実装段階の回路基板に対して導通検査を実施することが可能である。即ち、その際には所望の電子部品が実装された段階の回路基板を被検査対象物とし、そこに実装されている電子部品以外を予めダミー回路基板30に実装しておけばよい。   The circuit board inspection apparatus according to the present invention and the circuit board inspection method using the circuit board inspection apparatus have been described above. However, the electronic component mounted on the circuit board 2 to be inspected is not necessarily the LCD driver chip 5a described in the above embodiment. However, the present invention is not limited to this, and it is possible to perform a continuity test on circuit boards at any mounting stage on which other electronic components are mounted. That is, in that case, a circuit board at a stage where a desired electronic component is mounted may be set as an object to be inspected, and the electronic components other than the electronic component mounted thereon may be mounted on the dummy circuit board 30 in advance.

また、本実施例ではプローブホルダー27にプローブ28とゼブラゴム31とを共に保持させる構成としているが、それぞれを別の保持部材で保持するようにしても良い。更に、本実施例では液晶表示パネル1と回路基板2、ならびに回路基板2とダミー回路基板30とを導通/非導通させる手段としてそれぞれゼブラゴム31とプローブ28を用いているが、導通状態と非導通状態とを切り替えられるものであればその他の手段を用いても構わない。また、第一スライド部と第二スライド部のスライド機構に関しては、所定のスライド動作が得られるのであれば、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内でどのような手段を用いても構わない。   In this embodiment, the probe holder 27 holds the probe 28 and the zebra rubber 31 together, but each may be held by separate holding members. Further, in this embodiment, the zebra rubber 31 and the probe 28 are used as means for conducting / non-conducting the liquid crystal display panel 1 and the circuit board 2 and between the circuit board 2 and the dummy circuit board 30, respectively. Other means may be used as long as the state can be switched. As for the slide mechanism of the first slide part and the second slide part, any means may be used as long as a predetermined slide operation can be obtained without departing from the gist of the present invention.

尚、本発明は回路基板を被検査対象物とする回路基板の検査装置であるが、予め回路基板載置ステージに正常な動作が保証された回路基板を設置しておくことで、液晶表示パネルを被検査対象物とする液晶表示パネルの検査装置として利用することも可能である。   The present invention is an apparatus for inspecting a circuit board having a circuit board as an object to be inspected, and a liquid crystal display panel can be obtained by previously installing a circuit board that ensures normal operation on a circuit board mounting stage. Can be used as an inspection apparatus for a liquid crystal display panel.

また、本明細書では表示パネルを液晶表示パネルとして説明しているが、当然これに限定されるものではなく、液晶表示パネルをELディスプレイパネル等に置き換えて実施することも可能である。   In this specification, the display panel is described as a liquid crystal display panel. However, the present invention is not limited to this, and the liquid crystal display panel can be replaced with an EL display panel or the like.

即ち、本発明の要旨は、表示パネルと、それを駆動するための駆動回路が実装された所定の実装段階の駆動回路基板と、駆動回路基板に実装された電子部品以外の電子部品を実装したダミー回路基板とをそれぞれ別体として配置すると共に、それらを互いに導通させて表示パネルを点灯状態にし、その時点での表示パネルの表示状態に基づいて駆動回路基板の良否を判定することであり、それらの具体的な構成についてはその他種々の形態をとり得るものである。   That is, the gist of the present invention is that a display panel, a drive circuit board at a predetermined mounting stage on which a drive circuit for driving the display panel is mounted, and an electronic component other than the electronic component mounted on the drive circuit board are mounted. The dummy circuit board is arranged separately from each other, and the display panel is turned on by making them mutually conductive, and the quality of the drive circuit board is determined based on the display state of the display panel at that time, The specific configuration can take other various forms.

本発明による回路基板検査装置の一実施例を示す図で、(a)上面図、(b)正面図、(c)側面図BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a figure which shows one Example of the circuit board inspection apparatus by this invention, (a) Top view, (b) Front view, (c) Side view 本発明に係る回路検査装置の液晶表示パネル載置ステージ及び駆動回路基板載置ステージ上にそれぞれ液晶表示パネルと駆動回路基板を載置した状態を示す上面図The top view which shows the state which each mounted the liquid crystal display panel and the drive circuit board | substrate on the liquid crystal display panel mounting stage and drive circuit board | substrate mounting stage of the circuit inspection apparatus which concerns on this invention 駆動回路基板の電極端子にゼブラゴムを当接させた状態を示す要部拡大正面図The principal part enlarged front view which shows the state which made the zebra rubber contact the electrode terminal of a drive circuit board 液晶表示装置(完成品)の一例を示す上面図Top view showing an example of a liquid crystal display (finished product) 回路基板を単体で導通検査する回路基板検査装置を示す模式図Schematic diagram showing a circuit board inspection device for inspecting continuity of a circuit board as a single unit

符号の説明Explanation of symbols

1 液晶表示パネル
1a パネル基板
1b パネル基板
1c オフセット部
1d 表示エリア
2 駆動回路基板
2a 位置決め穴
3 ヒートシール
4 電極端子パターン
5 電子部品
5a LCDドライバーチップ
6 電子部品実装用電極端子(実装用端子)
7 電極端子パターン
11 液晶表示パネル
12 ドライバ回路
13 検査信号出力用プローブ
14 電子部品
15 駆動回路基板
16 検査信号発生装置
17 検査信号入力用プローブ
21 ベース部
21a 脚部
22 駆動回路基板載置ステージ
22a 位置決めピン
23 第一スライド部
24 液晶表示パネル載置ステージ
25 スライド操作部
26 第二スライド部
27 プローブホルダー
28 コンタクトプローブ
29 ステー
30 ダミー回路基板
31 ゼブラゴム
31a 絶縁性ゴム
31b 導電性ゴム
32 フロート機構
32a フロート軸
32b コイルバネ
33 クランプ部
33a 回動軸
33b 可動部
33c 連結軸
33d 操作レバー
33e 押圧部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Liquid crystal display panel 1a Panel board | substrate 1b Panel board | substrate 1c Offset part 1d Display area 2 Drive circuit board 2a Positioning hole 3 Heat seal 4 Electrode terminal pattern 5 Electronic component 5a LCD driver chip 6 Electrode component mounting electrode terminal (mounting terminal)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 7 Electrode terminal pattern 11 Liquid crystal display panel 12 Driver circuit 13 Inspection signal output probe 14 Electronic component 15 Drive circuit board 16 Inspection signal generator 17 Inspection signal input probe 21 Base part 21a Leg part 22 Drive circuit board mounting stage 22a Positioning Pin 23 First slide part 24 Liquid crystal display panel mounting stage 25 Slide operation part 26 Second slide part 27 Probe holder 28 Contact probe 29 Stay 30 Dummy circuit board 31 Zebra rubber 31a Insulating rubber 31b Conductive rubber 32 Float mechanism 32a Float shaft 32b Coil spring 33 Clamp part 33a Rotating shaft 33b Movable part 33c Connection shaft 33d Operation lever 33e Press part

Claims (8)

表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査装置であって、
少なくとも、
表示パネルを載置位置決めする表示パネル載置ステージと、
当該表示パネル載置ステージに併設され、少なくとも1つの電子部品が実装された駆動回路基板を載置位置決めする駆動回路基板載置ステージと、
前記駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板と、
前記表示パネル載置ステージの上面及び前記駆動回路基板載置ステージの上面に対して進退可能に保持され、前記表示パネル載置ステージ上に載置位置決めされた前記表示パネルの電極端子と前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板の電極端子に当接して前記表示パネルと前記駆動回路基板とを導通させる第一の導通部材と、
前記駆動回路基板載置ステージの上面に対して進退可能に保持されると共に前記ダミー回路基板と電気的に接続され、前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板の電極端子に当接して前記ダミー回路基板と前記駆動回路基板とを導通させる第二の導通部材
前記駆動回路基板を介して前記表示パネルに電力を供給する電力供給手段とを備え、
前記表示パネルと前記駆動回路基板、ならびに前記駆動回路基板と前記ダミー回路基板とをそれぞれ互いに導通させた時点での前記表示パネルの表示状態に基づいて、前記駆動回路基板の良否を判定するようにしたことを特徴とする回路基板検査装置。
A circuit board inspection apparatus for inspecting a drive circuit board on which electronic components for driving a display panel are mounted,
at least,
A display panel mounting stage for mounting and positioning the display panel;
A driving circuit board mounting stage that is mounted on the display panel mounting stage and mounts and positions the driving circuit board on which at least one electronic component is mounted;
A dummy circuit board on which electronic parts other than the electronic parts mounted on the drive circuit board are mounted ;
The display panel is movably held against the upper surfaces of the driving circuit board mounting stage of the mounting stage, the display panel placed placed on the stage positioning has been electrode terminals and the drive circuit of the display panel A first conductive member that contacts the electrode terminal of the drive circuit board placed and positioned on the substrate placement stage to electrically connect the display panel and the drive circuit board ;
The dummy circuit board and is electrically connected to the driving circuit electrodes of the driving circuit substrate placed positioned on the substrate mounting stage while being movably held against the upper surface of the driving circuit board mounting stage a second conductive member that abuts the terminal to pass through guide and said driving circuit board and the dummy circuit board,
Power supply means for supplying power to the display panel via the drive circuit board ,
The quality of the drive circuit board is determined based on the display state of the display panel at the time when the display panel and the drive circuit board and the drive circuit board and the dummy circuit board are electrically connected to each other. A circuit board inspection apparatus characterized by that.
前記第一の導通部材は、ゼブラゴムであることを特徴とする請求項1に記載の回路基板検査装置。 Said first conductive member is a circuit board inspection apparatus according to claim 1, characterized in that the Zeburago beam. 前記第一の導通部材は、バネの付勢力に抗し前記駆動回路基板載置ステージの上面に対して進退可能な棒状の軸の一端に保持されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の回路基板検査装置。 Said first conductive member, according to claim 1 or, characterized that you have been retained to one end of the drive circuits axis of retractable rod-like with respect to the upper surface of the substrate mounting stage against the biasing force of the spring 2. The circuit board inspection apparatus according to 2. 前記棒状の軸の他端当接して当該軸の一端に向かう押圧力を作用させる押圧部材備えたことを特徴とする請求項3に記載の回路基板検査装置。 Circuit board inspection apparatus according to claim 3, characterized in that a pressing member for applying a pressing force toward the one end of the shaft abuts against the other end of the rod-shaped shaft. 前記第二の導通部材は、プローブであることを特徴とする請求項1〜4の何れか1つに記載の回路基板検査装置。The circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein the second conductive member is a probe. 前記表示パネル載置ステージは、前記駆動回路基板載置ステージと対向する方向とは直行する方向に水平移動可能であることを特徴とする請求項1〜5の何れか1つに記載の回路基板検査装置。6. The circuit board according to claim 1, wherein the display panel mounting stage is horizontally movable in a direction orthogonal to a direction facing the driving circuit board mounting stage. Inspection device. 前記駆動回路基板載置ステージの上面には、前記駆動回路基板に設けられた位置決め穴に嵌合する位置決めピンが設けられていることを特徴とする請求項1〜6の何れか1つに記載の回路基板検査装置。7. A positioning pin that fits into a positioning hole provided in the driving circuit board is provided on the upper surface of the driving circuit board mounting stage. Circuit board inspection equipment. 表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査方法であって、A circuit board inspection method for inspecting a drive circuit board on which electronic components for driving a display panel are mounted,
正常な動作が保証された表示パネルと少なくとも1つの電子部品が実装された駆動回路基板とを互いに導通させると共に、前記駆動回路基板と当該駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板とを互いに導通させて前記表示パネルを表示状態にし、当該表示パネルの表示状態に基づいて前記駆動回路基板の良否を判定すること特徴とする回路基板検査方法。A display panel for which normal operation is guaranteed and a drive circuit board on which at least one electronic component is mounted are electrically connected to each other, and an electronic component other than the electronic component mounted on the drive circuit board and the drive circuit board is provided. A circuit board inspection method comprising: bringing a display panel into a display state by electrically connecting a mounted dummy circuit board to each other; and determining whether the drive circuit board is good or bad based on a display state of the display panel.
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